JP4587594B2 - X線ct装置およびその制御方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線CT(Computerized Tomography)システムにおけるガントリ装置およびその制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線CTシステムは、X線管より発生するX線を患者(被検体)に複数方向から照射するスキャンを行い、患者を透過した各方向からのX線より得られる投影データに基づいて画像再構成処理を行うことによって、診断部位の断層像を提供するものである。
【0003】
従来より、被検体に照射するX線量を決定するX線管の管電流値を被検体のスキャン位置に応じてスキャン中に変化させる、いわゆるAuto mAという技術が知られている。この技術を用いると、X線減衰量が異なる被検体の部位に応じた適切なX線量を設定することができ、無駄な被曝を抑えつつ、良好なS/Nを有する断層像を得ることができる。さらに、X線管の寿命の延長にも寄与するという利点も有する。かかる技術の詳細は例えば、特開平1−293844号公報、特開平11−104121号公報に記載されている。
【0004】
従来のAuto mAの実現において、被検体のスキャン位置に応じた管電流を算定するためには、まず、スカウトスキャンを実施する必要がある。スカウトスキャンとは、X線管を所定位置に固定したまま(すなわち、一定の投影角度に固定したまま)、被検体を乗せたテーブルを徐々に搬送しながらX線を連続的に照射して得た投影データより、1枚の被検体透視像(スカウト画像)を得るものである。
【0005】
特に、上記した特開平11−104121号公報においては、互いに直交する方向からの2回のスカウトスキャンを行うことを開示している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、スカウトスキャンのためにとられる時間は少なくない。特に、集団検診時には患者スループットの観点から大きな問題となる。また、スカウトスキャンによって被曝量が増えるという問題もある。このことから、スカウトスキャンを行う必要のないAuto mA技術の実現が望まれている。
【0007】
つまり、本発明は、スカウトスキャンを行うことなしに、X線管の管電流値を被検体のスキャン位置に応じて自動制御することの可能なX線CT装置およびその制御方法を提供し、もって患者スループットの改善および被曝量の低減を実現することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、例えば本発明のX線CT装置は、以下の構成を備える。すなわち、
X線を発生するX線管と、該X線管に対向して設けられたX線検出部とが一体となって被検体の周りを回転し、当該回転運動中に、異なる投影角度で該被検体を透過したX線を前記X線検出部で検出することで投影データを収集するスキャンを行い、該被検体の断層像を再構成するX線CT装置であって、
前記回転運動中の前記X線管のX線量の制御値を決定する決定手段と、
該決定手段で決定された前記制御値に従ってスキャンを行わせるスキャン制御手段と、を備え、
前記決定手段は、
現在の前記回転運動中に収集された所定の投影角度の投影データに基づいて、後続する前記回転運動における前記制御値を決定する
ことを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施形態について詳細に説明する。
【0010】
(構成)
図1は、実施形態のX線CTシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのX線照射と被検体を透過したX線を検出するためのX線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置100と、ガントリ装置100に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置100から出力されたデータに基づいてX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール200により構成されている。
【0011】
ガントリ装置100は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ1をはじめ、以下の構成を備える。
【0012】
2は操作コンソール200との通信を行うためのインタフェース、3はテーブル12上に横たえた被検体(患者)を搬送(図面に垂直な方向で以下、z軸ともいう)するための空洞部を有するガントリであり、内部には、X線発生源であるX線管4、X線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ6、コリメータ6のX線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ7aが設けられている。X線管4は、X線管コントローラ5によって駆動制御され、このX線管コントローラ5はメインコントローラ1からの制御信号に従って管電流、管電圧といったX線管4に与える負荷を制御することが可能である。モータ7aの駆動はコリメータコントローラ7により制御される。
【0013】
また、ガントリ3には、被検体を透過したX線を検出するX線検出部8、およびX線検出部8で得た透過X線より得られる投影データを収集するデータ収集部9も備えられている。X線管4およびコリメータ6と、X線検出部8とは互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態で被検体の周りを回転するようになっている。この回転は、モータコントローラ11からの駆動信号により駆動される回転モータ10によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル12は、z軸方向への搬送がなされるが、その駆動は、テーブルモータコントローラ14からの駆動信号により駆動されるテーブルモータ13によって行われる。
【0014】
メインコントローラ1は、ガントリ装置100の全体の制御をつかさどるプロセッサであって、インタフェース2を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のX線管コントローラ5、コリメータコントローラ7、モータコントローラ11、テーブルモータコントローラ14、そして、データ収集部9に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ1は、データ収集部9で収集された投影データを、インタフェース2を介して操作コンソール200に送出する処理も行う。
【0015】
操作コンソール200は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるCPU51、ブートプログラム等を記憶しているROM52、主記憶装置として機能するRAM53をはじめ、以下の構成を備える。
【0016】
HDD54は、ハードディスク装置であって、ここにOSのほか、ガントリ装置100に各種指示を与えたり、ガントリ装置100より受信したデータに基づいてX線断層像を再構成するための診断プログラム等が格納されている。また、VRAM55は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでCRT56に表示させることができる。57および58は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、59はガントリ装置100と通信を行うためのインタフェースである。
【0017】
実施形態におけるX線CTシステムの構成は概ね上記のとおりであるが、次にX線管4、コリメータ6、X線検出部8の構造を図2を用いて、より詳しく説明する。
【0018】
図2はX線管4、コリメータ6、X線検出部8の要部構成図である。図示はしないが、これらの構成要素はガントリ3の所定の基部に支持されている。なお、同図中、矢印zはz軸方向を示している。z軸方向は、本実施形態では、先述したとおりテーブル12の搬送方向であるが、これは被検体の体軸方向に一致し、ガントリ13とテーブル12との相対的な移動方向を示している。
【0019】
同図において、X線管4はハウジング41に、集束電極およびフィラメントを内蔵する陰極スリーブ42と、回転するターゲット43とを内蔵した構造であり、焦点fからX線を放射する。
【0020】
コリメータ6は鉛等のX線遮蔽材質の部材で構成され、図示の如く、X線管4より放射されたX線のz軸方向におけるX線照射範囲を画定するコリメータ6a(アパーチャともよばれる)と、コリメータ6aとX線管4との間にあって、ガントリ3の回転方向に沿う方向の照射範囲(ファン角とよばれる。例えば60°)を画定する、2枚の固定された遮蔽板からなるコリメータ6bを備える。かかる配置によって、X線の照射範囲を画定するためのスリット15を形成している。
【0021】
実施形態におけるX線検出部8の詳細な構成は次のとおりである。ファン角に依存した長さにわたる複数(例えば、1000個)の検出チャネルからなる検出器列が、R1およびR2で示されるz軸方向に沿う2列のアレイ構成により配列されている。これにより、いわゆる2列マルチスライスCTを実現する。もっとも、本発明は特定の検出アレイのサイズによって限定されているものではない。
【0022】
(処理)
上記した構成において、実施形態におけるスキャンは次のように行われる。テーブル12に被検体を横たえた状態でガントリ3を回転させることでX線管4とX線検出部8を被検体の周囲を回転させながら(すなわち、投影角度を変化させながら)、かつ、その投影角度の変化に同期してテーブル12をz軸方向(本実施形態では被検体の体軸方向に一致する方向)に移動させながら、被検体にX線を照射すること(X線の投影)を、360°分行う。これを1つの単位として1スキャンとよぶ。検出された各透過X線は、データ収集部9でディジタル値に変換されて投影データとしてメインコントローラ1を介して操作コンソール200に転送される。このスキャンを連続的に繰り返すと、X線管4の軌跡は図3に示すように、らせん状に周回することになる。このことから、かかるスキャンはヘリカルスキャンとよばれている。
【0023】
なお、このようならせん状の周回運動は、図4に示すような、投影角度βに係る、z軸に沿うサインカーブとして描くこともできることは理解されよう。また、図3および図4は、X線管4の軌跡として描いたが、X線検出部8の軌跡も当然、同様のものとなる。
【0024】
スキャンの概要は上記のとおりであるが、本発明の実施形態は、スカウトスキャンを行わずにスキャンを行い、1スキャン毎、すなわち、ガントリ3の一回転毎に、リアルタイムに次の一回転におけるX線管4に与える管電流を決定し、制御するところに特徴がある。図5は、実施形態におけるスキャン制御処理を示すフローチャートである。フローチャートは、操作コンソール200で行う処理(a)と、ガントリ装置100で行う処理(b)とに分けて描かれている。
【0025】
まず、操作コンソール200において、スキャン計画を立てる(ステップS501)。スキャン計画の内容としては、例えば、スキャン開始位置および終了位置、スライス厚といったスキャンの基本的項目の他、Auto mA の設定が含まれる。このAuto mA の設定には、例えば、Auto mA のON/OFFをはじめ、高画質の断層像を得るための高画質モード、標準的に推奨されるノーマルモード、最も低い被曝量でスキャンするための低被曝モードといった、Auto mA のモードの選択も含まれる。
【0026】
スキャン計画を終えると、オペレータはスキャン計画の各項目をパラメータとするスキャン実行指示を出すことができる。そして、操作コンソール200は、ガントリ装置100より転送されてきた投影データに基づきX線断層画像を再構成し(ステップS503)、CRT56に表示出力することになる(ステップS504)。
【0027】
一方、ガントリ装置100では、まず、メインコントローラ1は、X線管コントローラ5を介してX線管4に与える管電流を初期値A0に設定する(ステップS601)。その後、上記した操作コンソール200からのスキャン実行指示(ステップS502)を受けて、被検体を乗せたテーブル12をスキャン開始位置まで搬送した後(ステップS602)、ヘリカルスキャンを実施する(ステップS603)。データ収集部9で収集された投影データはスキャンの進行に応じて、メインコントローラ1およびインタフェース2を介して操作コンソール200に転送される。
【0028】
続いて、ステップS604に進み、メインコントローラ1は、スキャン終了位置に達したか否かを判断する。未だスキャン終了位置に達していなければ、ステップS605に進む。ここで、実施形態におけるスキャンでは、z軸方向におけるX線検出部8のテーブル12に対する相対移動の先頭列が図2に示したR1であるとする。この場合、メインコントローラ1は、所定の投影角度(例えば0°および90°)での先頭列R1における検出チャネルで検出された投影データに基づき、ガントリ3の後続の一回転におけるX線管4の管電流を算定し、これにより、X線管コントローラ5を介してX線管4に当該算定された管電流を与えるよう制御する。
【0029】
管電流の算定は、例えば次のように行われる。上記投影角度(0°および90°)で得られた2種類の投影データを用いて、まず被検体の各スキャン位置における体幅および体厚情報を得る。被検体の断面は一般に円形とはいえず、むしろ楕円に近いことから、形状によるノイズが発生する。そこで、上記の体幅/体厚情報に基づいて、各スキャン位置における楕円率を算出するとともに、X線減衰量に基づいて、各スキャン位置におけるスライス面の断面積を算出することで、ノイズが所定の範囲となるように、次のスキャンの管電流を算定する。
【0030】
ステップS604で、スキャン終了位置に達した判断されたときは、処理を終了する。
【0031】
上述した処理によれば、所定の投影角度でのX線検出部8の先頭列R1で検出された投影データに基づいて、ガントリ3の後続の一回転におけるX線管4に与えるべき管電流を算定し、X線管4の管電流を当該算定値にリアルタイムに制御するようにした。この結果、従来必要であった、スキャン位置に応じた管電流をあらかじめ算定するためのスカウトスキャンを行う必要はなくなることになる。
【0032】
近年のプロセッサの演算能力、X線管の速応性によれば、上記スキャン制御のリアルタイム性を確保することは可能である。また、実際のX線管の管電流が目標管電流値に収束するまでの整定時間(過渡時間)内における管電流の変動は、リファレンスチャネル(図示は省略したが、一般にはX線検出部8における各検出器列の一端もしくは両端の検出チャネルであって、被検体を透過することなくX線ビームが直接入射するようになっている)を用いて補正されることになるので問題とはならず、データに矛盾を生じることなく画像再構成を行うことが可能である。
【0033】
なお、上記した後続のガントリ回転における管電流の算定に用いる投影データは、一例として0°および90°の投影角度のものを用いることとしたが、これに限らず異なる2つの投影角度の投影データを用いることができる。その他、例えば0°、90°、180°、270°等のうちいずれか1つだけの投影角度における投影データを用いて算定するようにしてもよい。
【0034】
図6は、上述の処理による検出器列R1およびR2の軌跡を、図4の表示態様にならって示した図である。2列目の検出器列R2はR1の後を追って周回するから、R2の軌跡はR1の軌跡に対して、z軸方向における検出チャネル幅分の位相遅れをもって描かれることになる。
【0035】
実施形態によれば、同図(a)において、検出器列R1の、投影角度0°の位置Saおよび、投影角度90°の位置Sbにおける投影データが、上述のステップS605で後続の一回転における管電流の算定に利用される。当該算定結果によって管電流が制御される後続の一回転は、太線で示されたR1の軌跡MA1および、R2の軌跡MA2で示される。位置SaおよびSbを通過する当該回転における管電流も、過去の回転における位置Sa’およびSb’の投影データに基づいて定められたものである。
【0036】
同図(b)は、投影角度270°の位置Sにおける投影データのみが、上述のステップS605で後続の一回転における管電流の算定に利用される場合を示したものである。
【0037】
これにより、例えば同図(a)においては、スキャン位置SaおよびSbにおける投影データに基づき管電流が制御される後続の一回転におけるスキャン範囲は、MA1とMA2とがカバーする範囲Aとなる。
【0038】
ここで、スキャン範囲Aの始点がスキャン位置Saより手前のz軸位置にあることに着目されたい。実際には、z軸方向における検出チャネル幅(すなわち、位相差)やヘリカルピッチの大きさによってAの始点位置は変化するものの、少なくともスキャン位置Sbより手前のz軸位置に位置することになる。つまり、マルチスライスの場合、当該スキャンにおける管電流の算定は、所定位置(Sa、Sb)における先頭列(R1)の投影データを用いて行われ、これに基づく管電流の制御は後続の一回転における先頭列以外の検出器列(R2)にも及ぶので、その結果として、管電流の制御は少なくとも位置Sbよりも遡った位置からなされることになる。この点で、検出器列が1列だけのシングルスライスよりマルチスライスのほうが有利である。
【0039】
すなわち、マルチスライスの場合にはシングルスライスに比べて、管電流制御のレスポンスが速くなるといえよう。これによって、より好適なX線量でスキャンが行われるので、無駄な被曝を抑え、かつ、再構成される断層像の画質の向上にも寄与することになる。
【0040】
このマルチスライスによる効果については、図7に示す、横軸をz軸、縦軸を投影角度としたときの、上述したスキャン制御処理に従うヘリカルスキャンによるX線検出部8の軌跡を描いた図を用いて説明することもできる。同図において、第1回転(rot.1)における検出器列R1の、投影角度0°の位置Saおよび、投影角度90°の位置Sbにおける投影データが、上述のステップS605で管電流の算定に用いられ、これにより後続の一回転(すなわち、rot.1の90°から第2回転(rot.2)の90°までの、太線矢印)の管電流が制御される。この管電流の制御は、管電流算定位置Sbよりも遡った位置にある検出器列R2によるスキャンにも及ぶことが理解されよう。
【0041】
シングルスライスの場合には、このように、管電流算定位置よりも遡った位置に管電流の制御を及ぼすことはできない。もっとも、スカウトスキャンを実施する必要がなくなるという有益な効果を奏することには変わりはない。
【0042】
また、本実施形態においては、一回転毎に管電流を制御する例を示したが、所定の投影角度の投影データに基づいて、複数回転の管電流を制御するようにすることも可能であることは言うまでもない。
【0043】
以上説明した実施形態によれば、スキャン中に、リアルタイムにガントリ3の次の一回転の管電流を決定し、制御するようにしたので、スカウトスキャンを行う必要がなくなる。その結果、検査時間を大幅に短縮することができ、集団検診のように同一の検査を多数行う場合に特に有効である。また、スカウトスキャンを行わない分、被曝量を減らすことができるという効果も奏する。
【0044】
なお、上述した実施形態は、スキャン方式としてヘリカルスキャン方式によりスキャンを行うこととしたが、テーブル12の位置を固定したままスキャンを行い、順次、z軸方向にテーブル12の位置を所定量移動した後にその位置で次のスキャンを行う、いわゆるアキシャルスキャンであってもよい。
【0045】
また、上述した実施形態では、位置を固定したガントリ3に対してテーブル12を搬送することでスキャン位置と被検体との相対位置を変えながらスキャンを行うようにしたが、逆に、テーブル位置を固定してガントリ3をz軸方向に移動させることでスキャン位置と被検体との相対位置を変えながらスキャンを行うようにしてもよい。
【0046】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、スカウトスキャンを行うことなしに、X線管の管電流値を被検体のスキャン位置に応じて自動制御することの可能なX線CT装置およびその制御方法を提供し、もって患者スループットの改善および被曝量の低減を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態におけるX線CTシステムのブロック構成図である。
【図2】実施形態におけるX線管4、コリメータ6、およびX線検出部8の要部構成図である。
【図3】実施形態におけるヘリカルスキャンを説明するための図である。
【図4】実施形態におけるヘリカルスキャンを説明するための図である。
【図5】実施形態におけるスキャン制御処理を示すフローチャートである。
【図6】実施形態のスキャンによるX線検出部8の軌跡を示す図である。
【図7】実施形態のスキャンによるX線検出部8の軌跡を示す図である。
Claims (8)
- X線を発生するX線管と、該X線管に対向して設けられた被検体の体軸方向に配される複数列の検出器アレイで構成されるX線検出部とが一体となって被検体の周りを回転し、当該回転運動中に、異なる投影角度で該被検体を透過したX線を前記X線検出部で検出することで投影データを収集するスキャンであって前記回転運動中にスキャン位置と前記被検体との相対位置を被検体の体軸方向に所定の速度で移動させながら投影データを収集するヘリカルスキャンを行うスキャン手段を有し、前記スキャン手段において収集された投影データを用いて前記被検体の断層像を再構成するX線CT装置であって、
前記回転運動中の前記X線管のX線量の制御値を決定する決定手段と、
該決定手段で決定された前記制御値に従ってスキャンを行わせるスキャン制御手段と、を備え、
前記決定手段は、前記回転運動中に前記断層像を再構成するために収集された投影データのうちの1つの投影角度の投影データ又は互いに90°異なる2つの投影角度の投影データに基づいて求めた、断面が楕円に近い被検体の互いに90°異なる体幅および体厚情報を用いて、後続する前記回転運動における前記制御値を算出して決定するものである
ことを特徴とするX線CT装置。 - 前記決定手段は、前記制御値を、断面が楕円に近い被検体の互いに90°異なる体幅および体厚情報に基づいて求めた楕円率を用いて算出するものである
請求項1に記載のX線CT装置。 - 前記制御値は、ノイズが所定の範囲となるように算出されたものであることを特徴とする請求項1または2に記載のX線CT装置。
- 前記決定手段は、前記制御値を、前記移動方向における先頭列の前記検出器アレイで検出され収集された投影データに基づいて算出して決定するものであることを特徴とする請求項1から請求項3の何れか一項に記載のX線CT装置。
- 前記後続する回転運動における制御値は、前記制御値を算出するのに用いた投影データを収集した前記被検体の体軸方向の位置よりも遡った位置の投影データの収集に用いられることを特徴とする請求項1から請求項4の何れか一項に記載のX線CT装置。
- 前記後続する回転運動における制御値は、一回転における制御値であることを特徴とする請求項1から請求項5の何れか一項に記載のX線CT装置。
- 前記制御値は、前記X線管に与える管電流値とすることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか一項に記載のX線CT装置。
- X線を発生するX線管と、該X線管に対向して設けられた被検体の体軸方向に配される複数列の検出器アレイで構成されるX線検出部とが一体となって被検体の周りを回転しながらスキャン位置と前記被検体との相対位置を被検体の体軸方向に所定の速度で移動させながら、当該回転運動中に、異なる投影角度で該被検体を透過したX線を前記X線検出部で検出することで投影データを収集するヘリカルスキャンを行い、該被検体の断層像を再構成するX線CT装置の制御方法であって、現在の前記回転運動中に前記断層像を再構成するために収集された投影データのうちの1つの投影角度の投影データ又は互いに90°異なる2つの投影角度の投影データに基づいて求めた、断面が楕円に近い被検体の互いに90°異なる体幅および体厚情報を用いて、後続する前記回転運動における前記制御値を算出して決定する決定工程と、該決定工程で決定された前記制御値に従って前記後続する前記回転運動におけるスキャンを行わせるスキャン制御工程と、を有することを特徴とするX線CT装置の制御方法。
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