JP4604533B2 - 座標精度確認方法、および電気光学装置の製造方法 - Google Patents
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インクジェット式で液滴を吐出する装置のヘッドは、たとえば記録紙のようなワークに対してインクを吐出する形式のものがある(たとえば特許文献1)。
ところが、ヘッドの移動軸とワークの移動軸との相対的な位置精度が正しく設定されていないと、ワークに対する印字精度に大きく影響を与えることになる。
そこで本発明は上記課題を解消し、あらかじめワークに対して液滴を吐出する精度の把握をすることができ、実際のワークに対する液滴の吐出実験を減らして装置の調整期間を短縮することができる座標精度確認装置を有する液滴吐出装置、座標装置確認方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器を提供することを目的としている。
本発明の電気光学装置の製造方法は、ヘッドからテーブルにあるワークに対して液滴を与えて電気光学装置を製造する電気光学装置の製造方法であって、座標精度の確認を行うステップと、前記座標精度を確認した結果に基づいて液滴吐出装置の位置調整を行うステップと、前記位置調整をした後に、ヘッドからテーブルにあるワークに対して液滴を与えるステップと、を備え、座標精度の確認を行うステップは、撮像素子を用いて、確認用部材に設けられ且つ互いに隣り合う複数のマークを撮像するステップと、前記撮像素子を用いて撮像された前記複数のマークから、前記複数のマークの仮想中心を算出するステップと、前記確認用部材の前記仮想中心に向けて液滴を吐出するステップと、前記確認用部材上に吐出された前記液滴及び前記複数のマークを前記撮像素子により撮像し、撮像された前記液滴の中心と前記仮想中心とから誤差を検出するステップと、を有することを特徴とする
上記目的は、第1の発明にあっては、液滴をワークに吐出する際の座標精度を確認するための座標精度確認装置を有する液滴吐出装置であって、前記座標精度確認装置は、液滴を吐き出すヘッドを第1移動軸に沿って移動させる第1操作部と、前記ヘッドからワークに対して前記液滴を与える際に前記ワークを保持するためのテーブルを有しており、前記テーブルを前記第1移動軸とは直交する第2移動軸に沿って移動させる第2操作部と、前記テーブルに保持される座標精度確認用部材であって、前記第1移動軸と前記第2移動軸に沿って所定のピッチで配列された複数のマークからなるパターンを有している前記座標精度確認用部材と、前記第1移動軸に沿って移動する撮像素子であって、前記テーブルに保持された前記座標精度確認用部材の前記マークを撮像する前記撮像素子と、前記撮像素子の移動と前記座標精度確認用部材を保持した前記テーブルの移動により、前記撮像素子から得られる撮像画像における前記マークの中心位置と、前記撮像画像内の対象との間の前記第1移動軸と前記第2移動軸に沿った誤差を得ることで座標精度を確認する制御部と
、を備えることを特徴とする液滴吐出装置により、達成される。
座標精度確認用部材は、テーブルに保持されるものである。この座標精度確認用部材は、第1移動軸と第2移動軸に沿って所定のピッチで配列された複数のマークからなるパターンを有している。
制御部は、撮像素子の移動と座標精度確認用部材を保持したテーブルの移動により、撮像素子から得られる撮像画像におけるマークの中心位置と、撮像画像内の対象との間の第1移動軸と第2移動軸に沿った誤差を得ることで座標精度を確認する。
第2の発明の構成によれば、制御部は、マークの中心位置と撮像素子の中心位置との間の誤差により座標精度を得る。
これにより、マークの中心位置と撮像素子の中心位置との間の誤差を撮像素子から得ることにより、座標精度を確認することができる。
第3の発明の構成によれば、制御部は、マークから得られる中心位置とヘッドが座標精度確認用部材の上に吐き出した液滴の中心位置との間の誤差により座標精度を得ることができる。
これにより、ヘッドが座標精度確認用部材の上に試験的に液滴を吐き出すだけで、液滴の中心位置とマークから得られる中心位置との間の誤差により座標精度を確認することができる。
第4の発明の構成によれば、撮像素子は、キャリッジとは別の部位に搭載することができる。
これによって、撮像素子はヘッドを搭載しているキャリッジに搭載する必要が無くなり、キャリッジの小型化が図れる。
そして、このような座標精度を確認した後に電気光学装置を製造することにより、電気光学装置の製造におけるコストダウンを図ることができる。
そして、このような座標精度確認をした後に得られる電気光学装置は、コストダウンを図ることができる。
図1は、本発明の座標精度確認装置を有する液滴吐出装置の好ましい実施形態を示す平面図である。図1に示す液滴吐出装置10は、座標精度確認装置100を有している。この液滴吐出装置10は、描画システムとして用いることができる。この描画システムは、いわゆるフラットパネルディスプレイの一種であるたとえば有機EL(エレクトロルミネッセンス)装置の製造ラインに組み込まれるものである。この液滴吐出装置10は、有機EL装置の各画素となる発光素子を形成することができる。
液滴吐出装置10はたとえば2台用意することにより、1台目の液滴吐出装置10が正孔注入/輸送層を形成し、もう1台の液滴吐出装置10はR(赤),G(緑),B(青)の3色の発光層を形成することができる。
回収部16は、たとえば液滴を回収する液滴回収系とワイピングの後に用いる洗浄用の溶剤を供給する洗浄液供給系を有している。
チャンバ12の中には、フレーム20、ヘッド11、キャリッジ19、第1操作部21、第2操作部22、テーブル30、マスク40、撮像素子51、ガイド基台17を収容している。
図1のフレーム20はX軸方向に沿って水平に設けられている。ガイド基台17はY軸に沿って設けられている。フレーム20はガイド基台17の上方にある。X軸は第1移動軸に相当し、Y軸は第2移動軸に相当する。X軸とY軸は直交しており、Z軸に対しても直交している。Z軸は、図1において紙面垂直方向である。
座標精度確認装置100は、第1操作部21、第2操作部22、マスク40、撮像素子(カメラともいう)51および制御部200により構成されている。制御部200はチャンバ12の外に設けられている。
第1操作部21は、フレーム20に沿ってキャリッジ19とヘッド11および撮像素子51を、X軸方向に沿って直線往復移動および位置決めするためのものである。
第2操作部22は、テーブル30を有している。このテーブル30は、図1に示すようなマスク40を着脱可能に搭載することもできるし、このマスク40に代えてワークを搭載することができる。この第2操作部22のテーブル30は、ヘッド11からワークに対して液滴を与える際に、ワークを保持する。そして第2操作部22は、ワークをY軸に沿ってガイド基台17上を直線移動して位置決めすることができる。
マスク40は、例えば長方形状のガラスマスクを用いることができる。マスク40は、パターン41を有している。このパターン41は、撮像素子51により撮像するための目標を有している。パターン41は、例えば図2に示すように、複数の基準線Lと複数の基準線Hから構成されている。基準線Lは、X軸に平行な方向に形成されている。基準線HはY軸方向に平行に形成されている。したがって複数の基準線Lと複数の基準線Hはマトリクス状に形成されている。図2で例示するように、基準線Lと基準線Hが交わる交差点は、目標の中心位置を示すマークMである。
これによって、マスク40には、複数のマークMがX軸とY軸に沿って複数個、等しいピッチで形成されている。したがって、このマークMは、図2における左上のマークMLから右上のマークMR、右下のマークMと、そして左下のマークMTまでの複数のマークを有していることになる。各マークMは撮像素子51により得る撮像画像内に入れる目標でもある。特にマークMの交差点は、目標の中心位置あるいは指令位置ともいう。
図2に示す基準線Lは、例えばマスク40の長辺部40Aに平行である。基準線Hはマスク40の短辺部40Bに平行である。
図3はキャリッジ19とヘッド11および撮像素子51の周りの形状例を示す斜視図であり、図4は、図3のE方向から見た正面図の例である。
キャリッジ19は、図1に示すモータ21AによりX軸方向に移動して位置決め可能である。キャリッジ19はヘッドホルダ61を用いてヘッド11を着脱可能に保持している。
図3と図4では、撮像素子51はキャリッジ19に対して保持されている。しかしこれに限らず、撮像素子51はキャリッジ19以外の別軸の他の部分に保持することもできる。撮像素子51は、例えばCCD(電荷結合素子)カメラを用いることができる。
図5は、撮像画像群Gの一例であり、図5に示すように撮像素子51の中心位置CPと、マークMの中心位置CMとの間の誤差(エラー)を用いることにより、装置におけるX・Y座標の精度確認を行う例である。
マークM10ないしマークM12は、それぞれ十字形状の中心位置CMを有している。これに対して、図5において破線で示すのは撮像素子51の中心位置CPである。撮像素子51の中心位置CPは、各撮像画像群Gにおける対象の一例である。図5において水平方向がX軸方向(第1移動軸)であり、垂直方向がY軸(第2移動軸)である。
このようなマークM10ないしマークM12の中心位置CM(目標)と、撮像素子51の中心位置CP(対象)を用いて、撮像素子51のX軸への移動と、マスク40のY軸への移動とにより、図2に示す制御部200は、撮像素子51から得られる撮像画像群Gにおけるマークの中心位置CMと撮像素子51の中心位置CPとの間におけるX軸に沿った誤差とY軸に沿った誤差を得る。これによって、制御部200は、あらかじめX軸とY軸に関する相対的な座標精度を確認するようになっている。
図6のマスク設定ステップST1は、図2に示すように、テーブル30の上にマスク40をセットする。
図1に示すようにマスク40がテーブル30に対してセットされる際には、吸着部30Bがマスク40の裏面に位置している。
図6のマスクのアライメントステップST2では、マスクのアライメントが自動的に行われる。つまりマスク40とテーブル軸であるY軸とを合わせる。その後マスク40は吸着によりテーブル30の搭載面30Aに固定される。
図6の誤差検出ステップST4では、X軸(キャリッジ軸)上の撮像素子により、マークM10の中心位置CMを観測して、図5の撮像画像G1として取り込む。これによって、マークM10の中心位置CMと撮像素子51の中心位置CPとの間の誤差ΔX1,誤差ΔY1を検出する。誤差ΔX1は、X軸方向に沿った誤差であり、誤差ΔY1はY軸方向に沿った誤差である。
これによって、誤差検出ステップST6では撮像素子がマークM12の中心位置CMを観測して撮像画像G3を得る。これによって、マークM12の中心位置CMと撮像素子51の中心位置CPとの誤差ΔX3と誤差ΔY3を得る。
このようにして、図2に示すキャリッジ19とヘッド11とともに撮像素子51がX軸方向に移動しながら、複数のマークの中心位置CMと撮像素子51の中心位置CPとの間のX軸に沿った誤差ΔXとY軸に沿った誤差ΔYを取得することで、座標の精度をあらかじめ確認することができる。
しかし、これに代えて全てのマークに対して座標確認を行うのではなくマスク40の一部のマークに対して座標位置確認を行うようにしても勿論構わない。
図7は撮像画像群Fを示しており、例えば8つの目標としてのマークM20〜マークM27までを示している。
図7の実施形態では、図2に示すヘッド11のノズル開口から精度確認の対象となるインク滴(液滴の一例)を、実際にマスク40の上に吐き出して形成することにより、座標精度を確認する方法である。
図7の例では、例えば隣接する4つのマークM20,M21,M24,M25が用いられ、M20,M21,M24,M25から仮想的に検出する中心位置CPを、制御部200が撮像素子51の撮像画像F1から得る。図7ではこの中心位置CPは破線で示している。このように隣接する4つのマークMを用いて破線で示す仮想の中心位置CPを利用するのは、もしマークMの上にインク滴が着弾すると、インク滴とそのマークMとの誤差が確認しにくくなるからである。このため、仮想の中心位置CPを用いている。
これに対してインク滴1000はこの中心位置CPの付近に吐き出されることで着弾する。
このようなインク滴1000を着弾して座標精度を確認する方法について、図8を参照しながら説明する。
図1に示すようにマスク40がテーブル30に対してセットされる際には、吸着部30Bがマスク40の裏面に位置される。
図8のマスクのアライメントステップST1では、マスクのアライメントが自動的に行われる。つまりマスク40とテーブル軸であるY軸とを合わせる。その後マスク40は吸着によりテーブル30の搭載面30Aに固定される。
ただし液滴であるインク滴の吐出は、全エリアでなくても一部エリアであっても勿論構わない。
このようにインク滴がパターン41の各マークMの領域に対応して吐き出される場合には、図2に示すヘッド11がキャリッジ19とともにX軸に1ピッチずつ移動し、しかも必要に応じてテーブル30がY軸に沿ってやはり1ピッチずつ移動することにより行われる。
カメラ送りステップST3では、キャリッジ19とヘッド11とともに撮像素子51がX軸(キャリッジ軸)に沿ってパターン41のマークの1ピッチ分ずつ送られる。例えば図7に示すように、撮像素子51は、誤差検出ステップST4において4つのマークM20,M21,M24,M25の仮想の中心位置CP(目標)と、インク滴1000(対象)を観測する。これによって、インク滴1000の中心位置と中心位置CPとの間に生じている誤差ΔX1,ΔY1を検出する。誤差ΔX1はX軸方向の誤差であり、誤差ΔY1はY軸方向の誤差である。
誤差検出ステップST6では、撮像素子が、中心位置CPとインク滴1001の中心位置との間の誤差ΔX2と誤差ΔY2を得る。
このようにして、例えば図2に示すパターン41の全領域にわたって行った後に、座標精度確認作業が終了する。
図9に示す実施形態が、図2に示す実施形態と異なるのは、撮像素子51の設けられている箇所である。
この撮像素子51は、図2の実施形態ではヘッド11とともにキャリッジ19に固定されている。これに対して図9に示す実施形態では撮像素子51は、キャリッジ19とは別軸、すなわち別部材の搭載部材170に設けられている。この搭載部材170は、キャリッジ19とは別の部材であり、モータ21Aの作動によりX軸方向に移動して位置決め可能である。このように撮像素子51を別部材である搭載部材170に搭載しても勿論構わない。図9に示す他の構成要素は、図2に示す対応する構成要素と同じであるのでその符号を記してその説明を用いる。
なお、図7のようにインク滴1000〜1002を印字したマスク40は、テーブルから外して他の計測機器を用いて、インク滴の中心位置とマークの中心位置との誤差を計測しても勿論よい。
実際に液滴吐出装置におけるXY座標系の相対的な位置調整は、上述したように座標精度を確認した結果に基づいて行う。
すなわち、有機EL素子702は、予め回路素子部721および画素電極731が形成された基板711(ワークW)の所定位置にバンク部741を形成した後、プラズマ処理、発光素子751および陰極761(対向電極)の形成を順に行い、さらに、封止用基板771を陰極761上に積層して封止することにより製造される。なお、有機EL素子702は、大気中の水分等の影響を受けて劣化しやすいため、有機EL素子702の製造は、ドライエアーまたは不活性ガス(窒素、アルゴン、ヘリウム等)雰囲気で行うことが好ましい。
有機EL装置701は、有機EL素子702を製造した後、有機EL素子702の陰極761にフレキシブル基板の配線を接続するとともに、駆動ICに回路素子部721の配線を接続することにより製造される。
図11は、液晶表示装置801の断面構造を表している。液晶表示装置801は、カラーフィルタ802と、対向基板803と、カラーフィルタ802と対向基板803との間に封入された液晶組成物804と、バックライト(図示省略)と、で構成されている。対向基板803の内側の面には、画素電極805と、TFT(薄膜トランジスタ)素子(図示省略)とがマトリクス状に形成されている。画素電極805に対向する位置に、カラーフィルタ802の赤、緑、青の着色層813が配列するようになっている。カラーフィルタ802および対向基板803のそれぞれ内側の面には、液晶分子を一定方向に配列させる配向膜806が形成されており、カラーフィルタ802および対向基板803のそれぞれ外側の面には、偏光板807が接着されている。
また、他の電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光拡散体形成等の他、プレパラート形成を包含する装置が考えられる。上記した液滴吐出装置を各種の電気光学装置(デバイス)の製造に用いることにより、各種の電気光学装置を効率的に製造することが可能である。
マークの中心位置(目標)と撮像素子の中心位置(対象)との間の誤差を撮像素子から得ることにより、確実に座標精度を確認することができる。
ヘッドが座標精度確認用部材の上に試験的に液滴を吐き出すだけで、液滴の中心位置(対象)とマークの中心位置(目標)との間の誤差により座標精度を確実に得ることができる。
Claims (2)
- ヘッドからテーブルにあるワークに対して液滴を与えるのに先立って行う座標精度確認方法であって、
撮像素子を用いて、確認用部材に設けられ且つ互いに隣り合う複数のマークを撮像するステップと、
前記撮像素子を用いて撮像された前記複数のマークから、前記複数のマークの仮想中心を算出するステップと、
前記確認用部材の前記仮想中心に向けて液滴を吐出するステップと、
前記確認用部材上に吐出された前記液滴及び前記複数のマークを前記撮像素子により撮像し、撮像された前記液滴の中心及び前記仮想中心から誤差を検出するステップと、を有することを特徴とする座標精度確認方法。 - ヘッドからテーブルにあるワークに対して液滴を与えて電気光学装置を製造する電気光学装置の製造方法であって、
座標精度の確認を行うステップと、
前記座標精度を確認した結果に基づいて液滴吐出装置の位置調整を行うステップと、
前記位置調整をした後に、ヘッドからテーブルにあるワークに対して液滴を与えるステップと、
を備え、
座標精度の確認を行うステップは、
撮像素子を用いて、確認用部材に設けられ且つ互いに隣り合う複数のマークを撮像するステップと、
前記撮像素子を用いて撮像された前記複数のマークから、前記複数のマークの仮想中心を算出するステップと、
前記確認用部材の前記仮想中心に向けて液滴を吐出するステップと、
前記確認用部材上に吐出された前記液滴及び前記複数のマークを前記撮像素子により撮像し、撮像された前記液滴の中心と前記仮想中心とから誤差を検出するステップと、を有することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004087621A JP4604533B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | 座標精度確認方法、および電気光学装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004087621A JP4604533B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | 座標精度確認方法、および電気光学装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005270800A JP2005270800A (ja) | 2005-10-06 |
| JP4604533B2 true JP4604533B2 (ja) | 2011-01-05 |
Family
ID=35171016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004087621A Expired - Fee Related JP4604533B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | 座標精度確認方法、および電気光学装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4604533B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4534546B2 (ja) * | 2004-03-24 | 2010-09-01 | セイコーエプソン株式会社 | 液滴吐出装置、位置調整方法、電気光学装置の製造方法 |
| KR101129193B1 (ko) * | 2009-12-01 | 2012-03-26 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 페이스트 디스펜서의 제어방법 |
| JP6918657B2 (ja) * | 2017-09-15 | 2021-08-11 | Ntn株式会社 | 基板観察装置、塗布装置および位置決め方法 |
| JP7472596B2 (ja) | 2020-03-30 | 2024-04-23 | セイコーエプソン株式会社 | 印刷装置及び調整方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01261886A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 厚膜描画方法 |
| JPH0886913A (ja) * | 1994-09-20 | 1996-04-02 | Asahi Glass Co Ltd | カラーフィルターの形成方法及びインクジェット描画装置 |
| GB2379413A (en) * | 2001-09-10 | 2003-03-12 | Seiko Epson Corp | Printhead alignment method |
| JP3807490B2 (ja) * | 2001-11-28 | 2006-08-09 | 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ | 部品認識カメラ位置オフセット教示方法及び教示装置 |
| JP4333074B2 (ja) * | 2002-03-07 | 2009-09-16 | 東レ株式会社 | 塗布装置および塗布方法ならびにプラズマディスプレイ部材の製造装置および製造方法 |
| KR100437799B1 (ko) * | 2002-04-08 | 2004-06-30 | 엘지전자 주식회사 | 디스플레이 패널 제작을 위한 잉크젯 얼라인 장치 |
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2004
- 2004-03-24 JP JP2004087621A patent/JP4604533B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005270800A (ja) | 2005-10-06 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070130 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090827 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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| S531 | Written request for registration of change of domicile |
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