JP4627744B2 - Time-of-flight mass spectrometer - Google Patents
Time-of-flight mass spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- JP4627744B2 JP4627744B2 JP2006147562A JP2006147562A JP4627744B2 JP 4627744 B2 JP4627744 B2 JP 4627744B2 JP 2006147562 A JP2006147562 A JP 2006147562A JP 2006147562 A JP2006147562 A JP 2006147562A JP 4627744 B2 JP4627744 B2 JP 4627744B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- mass spectrometer
- time
- flight mass
- electrode plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
本発明は、飛行時間型質量分析計に係り、特に低コストで製造可能でかつ高い分解能を備えた飛行時間型質量分析計に関する。 The present invention relates to a time-of-flight mass spectrometer, and more particularly to a time-of-flight mass spectrometer that can be manufactured at low cost and has high resolution.
近年のテーラーメード医療への研究を進めるには、遺伝情報を用いて生成されるたんぱく質や、たんぱく質をもとに細胞内で翻訳後修飾され機能する高分子物質の構造解析が重要になってくる。これらの物質の構造解析を行う方法の1つとして、質量分析法がある。質量分析法とは、質量数(m/Z:mは質量、Zは電荷)を調べることによって物質の同定を行う方法であり、質量数を調べる装置には質量分析計がある。質量分析計はイオン化した試料を真空中で飛行させ、飛行の過程で質量の異なるイオンを分離して、スペクトルとして記録する装置である。これを実現する質量分析計には様々な種類があるが、分子量が大きく複雑なたんぱく質等の高分子物質の構造,配列を調べることのできる質量分析計には、飛行時間型質量分析計が適している。図1は飛行時間型質量分析計の構成例を模式的に表したものである。図1において、1のイオン源にて大気圧下で発生したイオンを、高真空に保たれた質量分析計内に導くため、壁面の2つのオリフィスによって排気を規制される2の差動排気空間を通る。その後、イオンは3のリングレンズによって飛行軌道の収束を受け、4の電極プレートによりエネルギを与えられ今までの進行方向と直角方向に加速されて射出される。イオンの軌道は5のグリッド電極や6のリフレクタにより制御され、最終的にイオンは7の検知器により検出される。イオンの飛行において、イオンはその質量の大小に関わらず、等電圧を受けて加速を始めるため、軽いイオンほど速度が速く、遅いイオンほど速度が遅くなる。その結果、イオンは質量の違いにより分離され、電極プレートにより射出されて飛行開始してから検出器7に到達するまでの時間に差が生じる。この到達時間を検出しマススペクトルとして記録する。測定可能な質量数領域が、従来の四重極質量分析計などに比べ広いため、近年たんぱく質のような質量数の大きい試料の測定に広く利用されている。そして飛行時間型の質量分析計において、より大きな分子を高い分解能で測定するための様々な開発が行われている。特許文献1では、イオンにエネルギを与える電極プレートに中間電極を加えることで、イオン軌道の広がりを抑え分解能を向上する手法が考案されている。特許文献2では、電極プレートまたは、グリッド電極,レンズ等に加熱手段を有し、測定サンプルの残骸を加熱することで、電界の影響による帯電を防ぎ、イオン軌道を安定させ分解能を向上する手法等が考案されている。また、飛行時間型質量分析計の前段に四重極質量分析計または、イオントラップ型質量分析計などの質量分析計を備えることで、精度を向上するタンデム型質量分析計もある。
In order to advance research into tailor-made medicine in recent years, structural analysis of proteins that are generated using genetic information and high-molecular substances that are functionally modified after translation in cells based on proteins becomes important. One of the methods for structural analysis of these substances is mass spectrometry. The mass spectrometry is a method of identifying a substance by examining a mass number (m / Z: m is mass and Z is electric charge), and an apparatus for examining the mass number includes a mass spectrometer. A mass spectrometer is a device that flies an ionized sample in a vacuum, separates ions having different masses in the course of flight, and records them as a spectrum. There are various types of mass spectrometers that realize this, but time-of-flight mass spectrometers are suitable for mass spectrometers that can examine the structure and arrangement of high molecular weight and high-molecular substances such as proteins. ing. FIG. 1 schematically shows a configuration example of a time-of-flight mass spectrometer. In FIG. 1, two differential exhaust spaces in which exhaust is regulated by two orifices on the wall surface in order to guide ions generated at atmospheric pressure from one ion source into a mass spectrometer maintained at a high vacuum. Pass through. Thereafter, the ions are converged on the flight trajectory by the
特許文献1および特許文献2に記載されたような質量分析装置では、イオンが垂直加速を受ける際、各電極プレートの取り付け角度はイオン軌道を制御する上で非常に重要となる。高分解能を得るためは、イオンの軌道は理想軌道を描く必要がある。理想軌道から大きく外れた場合、イオンが検出器に効率よく入射されないため、分析感度が低下するか、最悪測定が行えなくなる可能性がある。従来の質量分析装置のグリッド電極,プレート電極は図5に示すように支柱9に複数のプレート電極板4,グリッド電極板5を寸法誤差の小さい高精度スペーサを挿入し、積層して取り付ける構造になっていた。しかし、図5の構造では電極の積層数が大きくなるにつれ、部品が持つ寸法誤差も蓄積されていく。従来の構造では寸法誤差の積み重ねへの対処としては、電極プレートまたはグリッド電極および、スペーサを積み上げる際に寸法誤差を相殺するように組み立てる必要があるが、その方法は現実には困難であり、生産性が悪いという問題があった。
In the mass spectrometers described in
本発明の目的は、スペーサ,電極板等の寸法誤差があっても高い精度でイオンの軌道を確保できる構造を備えた質量分析計を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a mass spectrometer having a structure capable of ensuring the trajectory of ions with high accuracy even if there is a dimensional error in spacers, electrode plates, and the like.
上記目的を達成するための本発明の構成は以下の通りである。 The configuration of the present invention for achieving the above object is as follows.
イオン化した試料を射出し、射出されたイオンの飛行時間を計測して質量を分析する飛行時間型質量分析計において、イオンを射出するために、測定対象イオンに電位差を与え加速させる電極プレート、当該電極プレートにより射出されたイオンの射出方向を制御するグリッド電極、がそれぞれ別の支持体で支持されている飛行時間型質量分析装置。 In a time-of-flight mass spectrometer that ejects an ionized sample and measures the time of flight of the ejected ions to analyze the mass, in order to eject the ions, an electrode plate that accelerates by applying a potential difference to the ions to be measured, A time-of-flight mass spectrometer in which grid electrodes for controlling the direction of emission of ions emitted by an electrode plate are supported by different supports.
試料のイオン化には、大気圧化学イオン化法(APCI),エレクトロスプレー(ESI)など周知の技術を用いることができる。イオンの射出方向はイオンの導入方向に対し垂直方向に射出することが好ましいが、質量の違いによって飛行時間の違いを測定できるものであればどのような方向に射出するものでも良い。電極プレート,グリッド電極は、中心部にイオンを通過させる穴が開いている板状部材からなる。外形形状は円状,角状など任意の形が選択できる。支持体は、プレート電極板,グリッド電極板の位置を固定するための部材である。形状はどのようなものでも位置が固定できれば良いが、プレート電極板,グリッド電極板に垂直方向に延在する棒状部材であることが好ましい。棒の断面は円状,角状などどのような形状でも良い。 A known technique such as atmospheric pressure chemical ionization (APCI) or electrospray (ESI) can be used for ionization of the sample. The ions are preferably ejected in a direction perpendicular to the ion introduction direction, but may be ejected in any direction as long as the difference in flight time can be measured by the difference in mass. The electrode plate and the grid electrode are each made of a plate-like member having a hole through which ions pass at the center. The outer shape can be any shape such as a circle or square. The support is a member for fixing the positions of the plate electrode plate and the grid electrode plate. Any shape can be used as long as the position can be fixed, but it is preferably a rod-like member extending in a direction perpendicular to the plate electrode plate and the grid electrode plate. The cross section of the rod may be any shape such as circular or square.
以上述べたごとく、本発明により、イオン溜内部のイオンを射出するために、測定対象イオンに電位差を与え加速させる電極プレートおよび、当該電極プレートにより射出されたイオンの射出方向を制御するグリッド電極を有する質量分析計において、電極プレートまたはグリッド電極の設置において、支柱を分割し、独立して設置することで、電極プレートまたはグリッド電極および、スペーサの持つ寸法誤差は積算されなくなり、電極プレートまたは、グリッド電極をマイクロメートルオーダーの精密な平行度にて組み付けることが可能となる。積み上げ式のスタック構造では困難だったマイクロメートルオーダーの平行度を容易に実現し、イオンの入射方向に対して対称に電圧を印加することが可能となる。ゆえにイオンエネルギの空間への広がりも低減し、正確なイオン軌道が実現可能となり、分解能が向上する。 As described above, according to the present invention, in order to eject ions inside the ion reservoir, an electrode plate that accelerates by applying a potential difference to ions to be measured and a grid electrode that controls the ejection direction of the ions ejected by the electrode plate are provided. When installing the electrode plate or grid electrode in the mass spectrometer, the dimensional error of the electrode plate or grid electrode and the spacer is not accumulated by dividing the column and installing it independently, and the electrode plate or grid It is possible to assemble the electrodes with a precision parallelism of micrometer order. The parallelism on the order of micrometers, which was difficult with a stacked stack structure, can be easily realized, and a voltage can be applied symmetrically with respect to the incident direction of ions. Therefore, the spread of ion energy into the space is reduced, and an accurate ion trajectory can be realized, thereby improving the resolution.
さらに、厳しいプレート面精度の緩和や、組立て性向上によるコストダウンといった効果も得られる。 In addition, the effect of stricter plate surface accuracy relaxation and cost reduction by improving the assemblability can be obtained.
飛行時間型質量分析装置において、電極プレート,グリッド電極が傾いて取り付けられた場合、非対称な電圧分布が生じ、イオン軌道の曲げや、イオンの空間への広がりの原因となる。図2に示すように電極プレートが数十ミクロンの傾きを有して取り付けられたときの分解能をシミュレーションした。電位差を与える2枚の電極プレートのうち、高電位のものを電極プレート1,電極プレート1に比べて低電位のものを電極プレート2として、結果を図3および図4に示す。これらより、電極プレートの傾きがイオン軌道に影響を与え、質量分析の測定分解能を悪化させる要因となることがわかる。よって電極プレートは正確にイオンの打ち出し方向に垂直に取り付けられる必要があり、その取り付けにおいては各電極プレートの平行度はマイクロメートルオーダーの精度で取り付けされることが要求される。
In the time-of-flight mass spectrometer, when the electrode plate and the grid electrode are mounted with an inclination, an asymmetric voltage distribution is generated, which causes bending of the ion trajectory and spreading of the ions into the space. As shown in FIG. 2, the resolution was simulated when the electrode plate was mounted with an inclination of several tens of microns. Of the two electrode plates that give the potential difference, the one with the higher potential is the
一般的に採用されている電極プレート構造を図5に示す。図5は、複数の電極板からなるプレート電極,複数の電極板からなるグリッド電極が、各電極板を所定の間隔で離間して配置されるように寸法誤差の小さい高精度スペーサ8を挿入し、電極板間の平行度を規定している。しかし、図5の形状では積層段数が多くなるにつれて部品が持つ寸法誤差も蓄積されていく。電極プレートの傾きの主な原因は、電極プレートまたはグリッド電極の寸法誤差および、スペーサの寸法誤差が積算されるためである。寸法誤差の積み重ねへの対処方法には、電極プレートまたはグリッド電極および、スペーサを積み上げる際に寸法誤差を相殺するように組み立てる必要があるが、その方法は現実には困難であり、生産性が悪い。図6は本発明に関わる第1の実施例を示したものである。本実施例はイオン溜内部のイオン射出するために、測定対称のイオンに電位差を与え加速させる電極プレートおよび当該電極プレートにより射出されたイオンの射出方向を制御するグリッド電極を有する質量分析計において、支柱の種類を3種類とした場合についてのものである。電極プレートの2枚をそれぞれ別の独立の支柱に接合し、さらにグリッド電極を第3の支柱に設置する。2枚の電極プレート間には中間電極を有する場合もある。中間電極を有する場合、中間電極を電極プレートの1枚または、2枚と同じ種類の支柱に接合することが可能であり、また中間電極のみを別体として独立させることも可能である。中間電極と電極プレートをそれぞれ独立した支柱に設置することも可能である。実施例1において、グリッド電極は1枚以上とし、グリッド電極を取り付ける支柱の種類も1種類以上に増やすことができる。矢印はイオンの打ち出し方向を表す。また、実施例1において、イオンの打ち出し方向が逆の上向きとなる場合は、4の電極プレートと5のグリッド電極の位置を逆に配置する構造となり、このとき中間電極やグリッド電極の枚数,支柱の種類は前記と同様である。
A generally adopted electrode plate structure is shown in FIG. FIG. 5 shows that a high-
本発明の第2の実施例を図7に示す。本実施例はイオン溜内部のイオン射出するために、測定対称のイオンに電位差を与え加速させる電極プレートおよび当該電極プレートにより射出されたイオンの射出方向を制御するグリッド電極を有する質量分析計において、図7は支柱の種類を2種類とした場合の実施例である。電極プレートは2枚で、同じ支柱に接合されている。電極プレート間に中間電極をもつ場合もある。中間電極を有する場合、中間電極を電極プレートの1枚または、2枚と同じ種類の支柱に接合することもできるし、中間電極のみを別体として独立させることも可能である。また、2枚の電極プレートと中間電極のそれぞれを独立した別の支柱に設置することもできる。グリッド電極は1枚以上とする。実施例2においてイオンの打ち出し方向が逆の上向きとなる場合は、4の電極プレートを下部に配置し、5のグリッド電極が上部に配置する構造となる。このとき、中間電極やグリッド電極の枚数,支柱の種類は前記と同様である。 A second embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, in order to eject ions inside the ion reservoir, a mass spectrometer having an electrode plate that accelerates by applying a potential difference to ions that are symmetrical to the measurement and a grid electrode that controls the ejection direction of the ions ejected by the electrode plate, FIG. 7 shows an embodiment in which two types of support columns are used. Two electrode plates are joined to the same column. There may be an intermediate electrode between the electrode plates. In the case of having an intermediate electrode, the intermediate electrode can be joined to one or two of the electrode plates and the same type of support, or only the intermediate electrode can be made independent as a separate body. Also, each of the two electrode plates and the intermediate electrode can be installed on separate independent columns. One or more grid electrodes are used. In the second embodiment, when the ion launching direction is reversed upward, 4 electrode plates are arranged in the lower part, and 5 grid electrodes are arranged in the upper part. At this time, the number of intermediate electrodes and grid electrodes and the type of support are the same as described above.
上記の実施例の他にも、本発明の実施形態は様々な変形例が可能である。例えば、電圧プレートの1枚のみを別の支柱に接合する場合がある。このとき別体とする電圧プレートは電位差を与える2枚の電極プレートのうち電圧が高い電極プレートでも、低い電極プレートでもよい。また、同様にグリッド電極1枚もしくは2枚以上を別の支柱に接合する場合がある。このとき任意のグリッド電極を別体とすることができる。 In addition to the above-described embodiments, various modifications can be made to the embodiment of the present invention. For example, only one of the voltage plates may be joined to another column. At this time, the separate voltage plate may be an electrode plate having a high voltage or a low electrode plate among the two electrode plates giving a potential difference. Similarly, one grid electrode or two or more grid electrodes may be joined to another support. At this time, an arbitrary grid electrode can be separated.
このように、部品の寸法誤差の積み重ねを防ぎ、マイクロメートルオーダーでの電極プレートまたは、グリッド電極の取り付けを容易に実現する方法は様々な場合がある。 As described above, there are various methods for preventing the accumulation of dimensional errors of components and easily realizing the attachment of the electrode plate or the grid electrode in the micrometer order.
1…イオン源、2…オリフィスにて規制される作動排気空間、3…リングレンズ、4…電極プレート、5…グリッド電極、6…リフレクタ、7…検知器、8…スペーサ、9…支柱。
DESCRIPTION OF
Claims (10)
イオンを射出するために、測定対象イオンに電位差を与え加速させる電極プレートと、
当該電極プレートにより射出されたイオンの射出方向を制御するグリッド電極と、
前記電極プレートを支持する第1の支持体と、
前記グリッド電極を支持する第2の支持体とを備えていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 In a time-of-flight mass spectrometer that injects an ionized sample, measures the time of flight of the ejected ions, and analyzes the mass,
In order to eject ions, an electrode plate that accelerates by applying a potential difference to ions to be measured ;
A grid electrode for controlling the emission direction of ions emitted by the electrode plate;
A first support for supporting the electrode plate;
A time-of-flight mass spectrometer comprising a second support for supporting the grid electrode.
前記電極プレートは、複数の電極から構成されていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 In claim 1,
The said electrode plate is comprised from the some electrode, The time-of-flight mass spectrometer characterized by the above-mentioned.
前記第1の支持体が2種類以上設けられていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 In claim 2 ,
A time-of-flight mass spectrometer having two or more types of the first support.
前記第1の支持体は、前記複数の電極毎に設けられていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。The time-of-flight mass spectrometer according to claim 1, wherein the first support is provided for each of the plurality of electrodes.
前記グリッド電極は、複数の電極から構成されていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。The said grid electrode is comprised from the some electrode, The time-of-flight mass spectrometer characterized by the above-mentioned.
前記第2の支持体が2種類以上設けられていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。A time-of-flight mass spectrometer characterized in that two or more types of the second support are provided.
前記第2の支持体は、前記複数の電極毎に設けられていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。The time-of-flight mass spectrometer is characterized in that the second support is provided for each of the plurality of electrodes.
前記電極間に、中間電極を有することを特徴とする飛行時間型質量分析装置。A time-of-flight mass spectrometer having an intermediate electrode between the electrodes.
前記中間電極は、前記第1の支持体で支持されていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。The intermediate electrode is supported by the first support, and a time-of-flight mass spectrometer.
前記中間電極を支持する第3の支持体をさらに備えていることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。A time-of-flight mass spectrometer further comprising a third support for supporting the intermediate electrode.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006147562A JP4627744B2 (en) | 2006-05-29 | 2006-05-29 | Time-of-flight mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006147562A JP4627744B2 (en) | 2006-05-29 | 2006-05-29 | Time-of-flight mass spectrometer |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007317584A JP2007317584A (en) | 2007-12-06 |
| JP2007317584A5 JP2007317584A5 (en) | 2008-12-18 |
| JP4627744B2 true JP4627744B2 (en) | 2011-02-09 |
Family
ID=38851258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006147562A Expired - Fee Related JP4627744B2 (en) | 2006-05-29 | 2006-05-29 | Time-of-flight mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4627744B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB201104310D0 (en) * | 2011-03-15 | 2011-04-27 | Micromass Ltd | Electrostatic gimbal for correction of errors in time of flight mass spectrometers |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06111743A (en) * | 1992-08-07 | 1994-04-22 | Topcon Corp | Electron gun |
| ATE460744T1 (en) * | 1998-09-25 | 2010-03-15 | Oregon State | TANDEM FLIGHT TIME MASS SPECTROMETER |
| JP3581269B2 (en) * | 1999-03-11 | 2004-10-27 | 日本電子株式会社 | Vertical acceleration time-of-flight mass spectrometer |
| JP2004172070A (en) * | 2002-11-22 | 2004-06-17 | Jeol Ltd | Vertical acceleration time-of-flight mass spectrometer |
-
2006
- 2006-05-29 JP JP2006147562A patent/JP4627744B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2007317584A (en) | 2007-12-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7888635B2 (en) | Ion funnel ion trap and process | |
| JP6430531B2 (en) | GC-TOF MS with improved detection limit | |
| CN103268851B (en) | Thermal ionization time-of-flight mass spectrometer and thermal ionization flying time mass spectrum analysis method | |
| CN111354620A (en) | Multi-reflection mass spectrometer | |
| US20150048245A1 (en) | Ion Optical System For MALDI-TOF Mass Spectrometer | |
| US11201046B2 (en) | Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometer and lead-in electrode for the same | |
| US11056327B2 (en) | Inorganic and organic mass spectrometry systems and methods of using them | |
| US7075065B2 (en) | Time of flight mass spectrometry apparatus | |
| JP4627744B2 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| JP5922750B2 (en) | Ion axial spatial distribution convergence method and apparatus | |
| JP6257609B2 (en) | Compact time-of-flight mass spectrometer | |
| JP4665517B2 (en) | Mass spectrometer | |
| JP6962460B2 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| US7824920B2 (en) | Method of mass spectrometric analysis from closely packed microspots by their simultaneous laser irradiation | |
| CN115692160B (en) | Orthogonal accelerated flight time-type mass analysis device | |
| CN207834250U (en) | A kind of multiple reflections mass spectrograph with array ion mechanism of diaphragm | |
| GB2361806A (en) | Time of flight mass spectrometry apparatus | |
| Li | Development of High-resolution Tandem Mass Spectrometer with Floated Collision Cell and Curved-field Reflectron | |
| Coles et al. | for time-of-flight mass spectrometry: fast, sensitive mass analysis for continuous ion |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080926 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080926 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080926 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101027 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101102 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101108 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4627744 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |