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JP4629764B2 - Wiring board non-contact transfer device and method, and resin wiring board manufacturing method - Google Patents
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Wiring board non-contact transfer device and method, and resin wiring board manufacturing method Download PDF

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Description

本発明は、被搬送物である配線基板を、気流の作用を利用して搬送する配線基板の非接触搬送装置及び方法、非接触搬送装置を用いた樹脂製配線基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a non-contact transfer apparatus and method for a wiring board that transfers a wiring board that is an object to be transferred using the action of an air current, and a method for manufacturing a resin wiring board using the non-contact transfer apparatus. .

従来より、配線基板は、複数の製造工程を経て製造され、導通検査を行う検査工程を受けた後に出荷される。また、配線基板は、製造工程が終了する度に、次の工程を行うためのラインに搬送されるようになっている。なお、従来の搬送方法としては、エア吸着穴が開口された吸着ヘッドの下面に配線基板の表面を負圧で吸着し、この状態で、配線基板を吸着ヘッドとともに搬送する方法などが提案されている。しかし、吸着ヘッドで配線基板を搬送すると、吸着ヘッドの汚れや磨耗によって生じた異物(粉塵)が配線基板に付着するなどの問題がある。   Conventionally, a wiring board is manufactured through a plurality of manufacturing processes, and is shipped after undergoing an inspection process for conducting a continuity test. The wiring board is transported to a line for performing the next process every time the manufacturing process is completed. As a conventional transport method, a method has been proposed in which the surface of the wiring board is sucked with a negative pressure on the lower surface of the suction head having an air suction hole and the wiring board is transported together with the suction head in this state. Yes. However, when the wiring board is transported by the suction head, there is a problem that foreign matter (dust) generated by dirt or wear of the suction head adheres to the wiring board.

そこで、配線基板などの被搬送物を非接触状態で吸引しながら搬送することにより、配線基板への異物の付着を少なくした搬送装置が提案されている(例えば特許文献1参照)。かかる搬送装置は、搬送ヘッド、搬送ヘッドの先端面(吸引面)にて開口する気体供給孔、及び、搬送ヘッドに装着されるとともに円板部を有するノズルなどを備えている。そして、搬送ヘッドの吸引面を配線基板に接近させ、気体供給孔から供給されたエアを吸引面と円板部との間に形成されたスリットを介して外部に導出すると、エアが搬送ヘッドの外側に放射状に放出される。これにより、ノズル付近と配線基板との空間が負圧となり、配線基板が搬送ヘッドに吸引保持される。この状態において、ロボットアームなどを用いて搬送ヘッドを搬送すれば、配線基板を非接触状態で搬送することができる。
特開2005−219922号公報(図1〜図5など)
In view of this, there has been proposed a transfer device that reduces the adhesion of foreign matter to the wiring board by transferring the object to be transferred such as the wiring board while sucking in a non-contact state (see, for example, Patent Document 1). Such a transport apparatus includes a transport head, a gas supply hole that opens at the front end surface (suction surface) of the transport head, and a nozzle that is attached to the transport head and has a disk portion. Then, when the suction surface of the transport head is brought close to the wiring board and the air supplied from the gas supply hole is led out to the outside through a slit formed between the suction surface and the disk portion, the air is transferred to the transport head. Radiated outwards. As a result, the space between the nozzle and the wiring board becomes negative pressure, and the wiring board is sucked and held by the transport head. In this state, if the transfer head is transferred using a robot arm or the like, the wiring board can be transferred in a non-contact state.
Japanese Patent Laying-Open No. 2005-219922 (FIGS. 1 to 5 etc.)

ところが、放出されたエアの一部が配線基板に衝突するため、エアと配線基板との摩擦によって静電気が発生し、配線基板が帯電してしまう。このとき、配線基板の表面には周囲に浮遊している異物が付着しやすくなっており、一旦付着すると異物の除去が困難である。また、配線基板搬送後に実施される上記の検査工程では、配線基板の表面上のはんだバンプに対してプローブなどの検査用治具を当接させることにより、配線基板の導通検査を行っている。従って、はんだバンプの表面に異物が付着した状態で導通検査を行うと、プローブとはんだバンプとの間に導通しない異物が噛み込んでしまうため、本来良品であるにもかかわらず、検査工程において不良品であると判定される可能性がある。   However, since a part of the released air collides with the wiring board, static electricity is generated due to friction between the air and the wiring board, and the wiring board is charged. At this time, foreign matters floating around the surface of the wiring board are likely to adhere to the surface of the wiring board. Once attached, it is difficult to remove the foreign matters. Further, in the above-described inspection process performed after the wiring board is transported, the wiring board is inspected for continuity by bringing an inspection jig such as a probe into contact with the solder bump on the surface of the wiring board. Therefore, if a continuity test is performed with foreign matter adhering to the surface of the solder bumps, foreign matter that does not conduct will be caught between the probe and the solder bumps. There is a possibility that it is determined to be a non-defective product.

本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その第1の目的は、被搬送物である配線基板への異物の付着を防止することにより、配線基板の歩留まりを向上することができる配線基板の非接触搬送装置及び方法を提供することにある。また、第2の目的は、上記の非接触搬送装置を用いた好適な樹脂製配線基板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and a first object of the present invention is to improve the yield of the wiring board by preventing the adhesion of foreign matters to the wiring board as a transported object. An object of the present invention is to provide a non-contact transfer apparatus and method for a wiring board. A second object is to provide a suitable method for manufacturing a resin wiring board using the non-contact transfer device.

そして上記課題を解決するための手段(手段1)としては、吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記凹部の中心には除塵用ノズルが突設され、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴よりも前記凹部の中心に近接した位置に設けるべく、前記第2エア吹出穴が前記除塵用ノズルの先端にて開口するように配置されていることを特徴とする配線基板の非接触搬送装置がある。 And as a means (means 1) for solving the above-mentioned subject, it comprises a suction part provided with a first air blowing hole which is provided with a concave part on the suction surface and is opened on the inner peripheral surface of the concave part, Non-contact transport that transports the substrate main surface of the circuit board that is the object to be transported while being sucked and held by the negative pressure generated by the air blown from the first air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess. in the device, the at the center of the concave portion is protruded nozzle for dust removal, a second air blowing port for blowing air to the substrate main surface, the center of the recess than the first air blowing port in the recess there are Rubeku, non-contact transport apparatus of the wiring substrate on which the second air-blowing holes is characterized in that it is arranged to open at the end of the nozzle for the dust provided in close proximity to the position.

従って、上記手段1の非接触搬送装置によると、第2エア吹出穴から配線基板の基板主面に向けてエアを吹き付けることで、基板主面上の異物をエアで吹き飛ばして除去することができる。ゆえに、例えば搬送後の導通検査において、異物の付着に起因して配線基板が不良品であると判定されにくくなるため、配線基板の歩留まりを向上することができる。   Therefore, according to the non-contact conveyance device of the means 1, the foreign matter on the main surface of the substrate can be removed by blowing off the air by blowing air from the second air blowing hole toward the main surface of the wiring board. . Therefore, for example, in the continuity inspection after the conveyance, it is difficult to determine that the wiring board is defective due to the adhesion of foreign matter, so that the yield of the wiring board can be improved.

なお、「配線基板」は、単一製品の配線基板だけでなく、配線基板となるべき基板形成領域が平面方向に沿って複数配置された多数個取り用配線基板も含むものとする。上記配線基板の形成材料としては、セラミック、金属、半導体などの無機材料や、樹脂などの有機材料を挙げることができ、コスト性、加工性、絶縁性、機械的強度などを考慮してそれらの中から適宜選択することができる。セラミック材料の好適例としては、例えばアルミナ、ガラスセラミック、結晶化ガラス等の低温焼成材料、窒化アルミニウム、炭化珪素、窒化珪素などがある。金属材料の好適例としては、銅、銅合金、鉄ニッケル合金などがある。半導体材料の好適例としては、例えばシリコンなどがある。そして、樹脂材料の好適例としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂などがある。そのほか、これらの樹脂とガラス繊維(ガラス織布やガラス不織布)やポリアミド繊維等の有機繊維との複合材料を使用してもよい。あるいは、連続多孔質PTFE等の三次元網目状フッ素系樹脂基材にエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂を含浸させた樹脂−樹脂複合材料等を使用してもよい。特に、低コスト化などの観点からすれば、配線基板の形成材料として樹脂材料などの有機材料を選択することが好ましい。このような配線基板であれば、微細な導体層を比較的簡単にかつ正確に形成することができる。   The “wiring board” includes not only a single product wiring board but also a multi-cavity wiring board in which a plurality of substrate forming regions to be wiring boards are arranged along the plane direction. Examples of the material for forming the wiring board include inorganic materials such as ceramics, metals, and semiconductors, and organic materials such as resins. These materials are considered in consideration of cost, workability, insulation, mechanical strength, and the like. It can be suitably selected from the inside. Preferable examples of the ceramic material include low-temperature fired materials such as alumina, glass ceramic, and crystallized glass, aluminum nitride, silicon carbide, and silicon nitride. Suitable examples of the metal material include copper, a copper alloy, and an iron nickel alloy. A preferred example of the semiconductor material is silicon. Preferred examples of the resin material include polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide-triazine resin, polyphenylene ether resin, and the like. In addition, composite materials of these resins and glass fibers (glass woven fabric or glass nonwoven fabric) or organic fibers such as polyamide fibers may be used. Alternatively, a resin-resin composite material obtained by impregnating a thermosetting resin such as an epoxy resin with a three-dimensional network fluorine-based resin base material such as continuous porous PTFE may be used. In particular, from the viewpoint of cost reduction, it is preferable to select an organic material such as a resin material as a wiring board forming material. With such a wiring board, a fine conductor layer can be formed relatively easily and accurately.

また、配線基板の形成材料は樹脂材料などの有機材料であることが好ましいが、特に、前記配線基板は、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板であることが好ましい。その理由は、配線基板を接触状態で搬送しようとする場合に、配線基板の基板主面に形成された突起電極が吸引部に押し潰されて変形するという問題が起こり、これを解決するうえで上記手段の非接触搬送装置を採用する意義が発生するからである。また、樹脂製配線基板には静電気が溜まりやすく、異物が付着しやすいという問題があるため、これを解決するうえで上記手段を採用する意義が大きいからである。   The wiring board forming material is preferably an organic material such as a resin material. In particular, the wiring board has a resin wiring having an electrode forming area in which a plurality of protruding electrodes are arranged on the main surface of the board. A substrate is preferred. The reason for this is that when the wiring board is to be transported in a contact state, there is a problem that the protruding electrode formed on the main surface of the wiring board is crushed by the suction portion and deformed. This is because the significance of adopting the non-contact conveyance device of the above means occurs. Further, since the resin wiring board has a problem that static electricity is likely to be accumulated and foreign matters are likely to adhere to it, it is significant to adopt the above means for solving this problem.

ここで、前記吸引部は、吸引面に設けられた凹部や、凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴や、凹部内において第1エア吹出穴とは異なる位置に設けられた第2エア吹出穴などを有する。第1エア吹出穴の数は特に限定されないが、例えば2つであることが好ましい。仮に、吸引部が第1エア吹出穴を多数有している場合、吸引部の加工コストが高くなるという問題がある。一方、吸引部が第1エア吹出穴を1つしか有していない場合、第1エア吹出穴から凹部の内周面に沿ってエアを噴出したとしても、噴出したエアは真っ直ぐ流れる可能性が高いため、例えば旋回流などを形成することが困難になる。また、第2エア吹出穴の数も特に限定されないが、例えば1つであることが好ましい。仮に、吸引部が第2エア吹出穴を複数有している場合、第2エア吹出穴から噴出するエアの勢いが強くなり過ぎて配線基板を吸引する力を相殺してしまうため、第1エア吹出穴から噴出したエアにより発生する負圧によって配線基板を吸引保持できなくなる。また、第2エア吹出穴が複数あると、吸引部の加工コストが高くなるという問題もある。   Here, the suction portion is a recess provided in the suction surface, a first air blowing hole opening in the inner peripheral surface of the recess, or a first position provided in a position different from the first air blowing hole in the recess. 2 Has an air outlet hole. Although the number of 1st air blowing holes is not specifically limited, For example, it is preferable that it is two. If the suction part has many first air blowing holes, there is a problem that the processing cost of the suction part becomes high. On the other hand, when the suction part has only one first air blowing hole, even if the air is blown out along the inner peripheral surface of the recess from the first air blowing hole, the blown air may flow straight. Since it is high, for example, it becomes difficult to form a swirl flow. Further, the number of the second air blowing holes is not particularly limited, but is preferably one, for example. If the suction part has a plurality of second air blowing holes, the force of the air ejected from the second air blowing holes becomes too strong to cancel the force for sucking the wiring board. The wiring board cannot be sucked and held by the negative pressure generated by the air ejected from the blowout hole. Moreover, when there are a plurality of second air blowing holes, there is also a problem that the processing cost of the suction part increases.

なお、前記第2エア吹出穴は、前記第1エア吹出穴よりも前記凹部の中心に近接して配置されてい。この場合、第2エア吹出穴から噴出したエアが、第1エア吹出穴から噴出したエアに衝突しにくくなる。その結果、第1エア吹出穴から噴出したエアの流れが乱れにくくなるため、例えば旋回流などを確実に形成することができ、ひいては、旋回流などにより発生する負圧によって配線基板を確実に吸引することができる。また、第2エア吹出穴から噴出したエアの流れも乱れにくくなるため、第2エア吹出穴から噴出したエアによって基板主面上の異物を確実に除去することができる。 Incidentally, the second air-blowing holes than said first air blowing port that are located in proximity to the center of the recess. In this case , the air ejected from the second air blowing hole is less likely to collide with the air ejected from the first air blowing hole. As a result, the flow of air ejected from the first air blowing hole is less likely to be disturbed, so that, for example, a swirl flow can be reliably formed, and the wiring board is reliably sucked by the negative pressure generated by the swirl flow, etc. can do. In addition, since the flow of air ejected from the second air blowing hole is not easily disturbed, foreign matter on the main surface of the substrate can be reliably removed by the air ejected from the second air blowing hole.

さらに、前記凹部の中心には除塵用ノズルが突設され、前記第2エア吹出穴は前記除塵用ノズルの先端にて開口するように配置されてい。この場合、第2エア吹出穴から噴出するエアの流れが整えられるため、第2エア吹出穴からエアを吹き付けることで、基板主面上の異物を確実に除去することができる。また、第2エア吹出穴と配線基板との距離が短くなるため、第2エア吹出穴から噴出するエアによって基板主面上の異物を確実に除去することができる。さらに、第2エア吹出穴が除塵用ノズルの先端にて開口しているため、第2エア吹出穴から噴出したエアはすぐに凹部の外側に放出される。よって、第2エア吹出穴から噴出したエアと第1エア吹出穴から噴出したエアとが凹部の内部で混ざりにくくなる。 Moreover, it said the central recess projecting nozzle for dust removal, the second air-blowing holes that are arranged so as to open at the end of the nozzle for the dust removal. In this case , since the flow of air ejected from the second air blowing hole is adjusted, the foreign matter on the main surface of the substrate can be reliably removed by blowing air from the second air blowing hole. In addition, since the distance between the second air blowing hole and the wiring board is shortened, the foreign matter on the main surface of the board can be reliably removed by the air blown from the second air blowing hole. Further, since the second air blowing hole is opened at the tip of the dust removal nozzle, the air blown out from the second air blowing hole is immediately discharged outside the recess. Therefore, the air ejected from the second air blowing hole and the air ejected from the first air blowing hole are less likely to be mixed inside the recess.

また、第2エア吹出穴の形状等は特に限定されないが、例えば、前記第2エア吹出穴の中心軸線は、前記配線基板の前記基板主面に対して垂直に配置されていることが好ましい。このようにすれば、第2エア吹出穴から基板主面に向けて垂直にエアを吹き付けることができる。その結果、基板主面に向けて斜めにエアを吹き付ける場合よりも、エアが基板主面に衝突する勢いが強くなるため、基板主面上の異物をより確実に除去することができる。   The shape of the second air blowing hole is not particularly limited. For example, the central axis of the second air blowing hole is preferably arranged perpendicular to the main surface of the wiring board. In this way, air can be blown vertically from the second air blowing hole toward the main surface of the substrate. As a result, since the momentum of air colliding with the substrate main surface is stronger than when air is blown obliquely toward the substrate main surface, the foreign matter on the substrate main surface can be more reliably removed.

なお、前記吸引部の構造は特に限定されないが、例えば、金属材料からなる吸引部本体に樹脂製パッドを取り付けた構造であり、前記樹脂製パッドの正面が前記吸引面となっていることが好ましい。このようにすれば、配線基板の基板主面が吸引部の吸引面に接触したとしても、配線基板を傷付けなくても済む。   The structure of the suction part is not particularly limited. For example, it is preferable that a resin pad is attached to a suction part body made of a metal material, and the front surface of the resin pad is the suction surface. . In this way, even if the board main surface of the wiring board comes into contact with the suction surface of the suction part, the wiring board does not need to be damaged.

また、前記吸引部は、前記第1エア吹出穴及び前記第2エア吹出穴にそれぞれのエアを供給する共通の流路をその内部に有することが好ましい。このようにすれば、第1エア吹出穴にエアを供給する流路と第2エア吹出穴にエアを供給する流路とを別々に形成する場合に比べて、吸引部の小型化、軽量化、構成の簡略化を図ることができる。   Moreover, it is preferable that the said suction part has a common flow path which supplies each air to the said 1st air blowing hole and the said 2nd air blowing hole in the inside. In this way, the suction part can be made smaller and lighter than when the flow path for supplying air to the first air blowing hole and the flow path for supplying air to the second air blowing hole are formed separately. Therefore, the configuration can be simplified.

また、上記課題を解決するための別の手段(手段2)としては、吸引部の吸引面に設けられた凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴を設け、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生した負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する方法において、前記凹部内において前記第1エア吹出穴よりも前記凹部の中心に近接した位置に設けるべく、前記凹部の中心に突設された除塵用ノズルの先端にて開口するように配置された第2エア吹出穴から前記配線基板の前記基板主面に向けてエアを吹き付けることで、前記基板主面上の異物を除去するようにしたことを特徴とする配線基板の非接触搬送方法がある。 Further, as another means (means 2) for solving the above-described problem, a first air blowing hole is provided that opens at an inner peripheral surface of a recess provided in the suction surface of the suction portion, and the first air blowing is performed. In the method of transporting the substrate main surface of the wiring board, which is an object to be transported, sucked and held by the suction surface by the negative pressure generated by the air ejected from the hole along the inner peripheral surface of the recess. Rubeku provided at a position close to the center of the recess than the first air blowing port, the second air blowing holes arranged so as to open at the tip of the dust nozzle projecting from the center of the recess by blowing air toward the substrate main surface of the wiring board, there is a non-contact transfer method of the wiring board, characterized in that so as to remove foreign substances on the substrate main surface.

従って、上記手段2の非接触搬送方法によると、第2エア吹出穴から配線基板の基板主面に向けてエアを吹き付けることで、基板主面上の異物をエアで吹き飛ばして除去している。ゆえに、例えば搬送後の導通検査において、異物の付着に起因して配線基板が不良品であると判定されにくくなるため、配線基板の歩留まりを向上することができる。   Therefore, according to the non-contact conveyance method of the above means 2, the foreign matter on the main surface of the substrate is blown away by air by blowing air from the second air blowing hole toward the main surface of the wiring board. Therefore, for example, in the continuity inspection after the conveyance, it is difficult to determine that the wiring board is defective due to the adhesion of foreign matter, so that the yield of the wiring board can be improved.

また、上記課題を解決するための別の手段(手段3)としては、上記手段1に記載の非接触搬送装置を用いて、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板を搬送する搬送工程を行うことにより、前記樹脂製配線基板を製造する方法であって、前記第2エア吹出穴から前記基板主面に向けてエアを吹き付けることで前記基板主面上の異物を除去する除塵工程を、前記搬送工程と同時に行うことを特徴とする樹脂製配線基板の製造方法がある。   Further, as another means (means 3) for solving the above-described problems, the non-contact transfer device described in the above means 1 is used, and an electrode forming region in which a plurality of protruding electrodes are arranged on the main surface of the substrate. A method of manufacturing the resin wiring substrate by performing a transporting process of transporting the resin wiring substrate having the substrate, wherein the substrate is formed by blowing air from the second air blowing hole toward the main surface of the substrate. There is a method of manufacturing a resin wiring board, wherein a dust removing process for removing foreign matter on a main surface is performed simultaneously with the transporting process.

従って、上記手段3の製造方法によると、上記手段1の非接触搬送装置を用いて異物を除去しやすい樹脂製配線基板を製造することができる。ゆえに、例えば搬送工程後及び除塵工程後の導通検査において、異物の付着に起因して樹脂製配線基板が不良品であると判定されにくくなるため、樹脂製配線基板の歩留まりを向上することができる。また、除塵工程を搬送工程と同時に行うため、樹脂製配線基板を効率良く製造することができる。   Therefore, according to the manufacturing method of the means 3, it is possible to manufacture a resin wiring board that easily removes foreign matters using the non-contact transfer device of the means 1. Therefore, for example, in the continuity inspection after the transport process and after the dust removal process, it is difficult to determine that the resin wiring board is defective due to the adhesion of foreign matter, so that the yield of the resin wiring board can be improved. . Moreover, since the dust removal step is performed simultaneously with the transport step, the resin wiring board can be efficiently manufactured.

以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に基づき詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment embodying the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1に示されるように、非接触搬送装置1は、搬送用多関節ロボット2及び搬送ヘッド11を備え、被搬送物である配線基板110を気流の作用を利用して搬送するものである。   As shown in FIG. 1, the non-contact transfer device 1 includes a transfer multi-joint robot 2 and a transfer head 11, and transfers a wiring board 110 that is a transfer object using the action of an air current.

図2に示されるように、本実施形態の配線基板110は、ICチップ搭載用のオーガニック・パッケージ(樹脂製配線基板)であり、複数の製造工程後であって検査工程前の状態を示している。配線基板110は、略矩形板状のコア基板111と、コア基板111のコア主面112(図2では上面)上に形成される第1ビルドアップ層114と、コア基板111のコア裏面113(図2では下面)上に形成される第2ビルドアップ層115とからなる。ビルドアップ層114,115は、熱硬化性樹脂(エポキシ樹脂)からなる樹脂絶縁層と、銅からなる導体層とを交互に積層した構造を有している。また、配線基板110の基板主面120上(第1ビルドアップ層114の上面上)における複数箇所には、端子パッド116(突起電極)がアレイ状に形成され、配線基板110の基板裏面121上(第2ビルドアップ層115の下面上)における複数箇所には、BGA用パッド117がアレイ状に形成されている。さらに、端子パッド116の表面上には、複数のはんだバンプ118(突起電極)が配設されている。各はんだバンプ118には、矩形平板状をなすICチップの端子が接続されるようになっている。なお、各端子パッド116及び各はんだバンプ118からなる領域は、ICチップを搭載可能な電極形成領域119である。   As shown in FIG. 2, the wiring board 110 of this embodiment is an organic package (resin wiring board) for mounting an IC chip, and shows a state after a plurality of manufacturing steps and before an inspection step. Yes. The wiring substrate 110 includes a substantially rectangular plate-shaped core substrate 111, a first buildup layer 114 formed on a core main surface 112 (upper surface in FIG. 2) of the core substrate 111, and a core back surface 113 ( The second buildup layer 115 is formed on the lower surface in FIG. The build-up layers 114 and 115 have a structure in which a resin insulating layer made of a thermosetting resin (epoxy resin) and a conductor layer made of copper are alternately laminated. In addition, terminal pads 116 (projection electrodes) are formed in an array at a plurality of locations on the substrate main surface 120 (on the upper surface of the first buildup layer 114) of the wiring substrate 110, and on the substrate back surface 121 of the wiring substrate 110. BGA pads 117 are formed in an array at a plurality of locations (on the lower surface of the second buildup layer 115). Further, a plurality of solder bumps 118 (protruding electrodes) are disposed on the surface of the terminal pad 116. Each solder bump 118 is connected to a terminal of an IC chip having a rectangular flat plate shape. Note that an area formed by each terminal pad 116 and each solder bump 118 is an electrode forming area 119 on which an IC chip can be mounted.

図1,図3,図4に示されるように、前記搬送ヘッド11は、前記搬送用多関節ロボット2のアーム3の先端に装着されている。搬送ヘッド11は、アーム3の先端に接続される接続板12と、4本の連結棒13を介して接続板12に連結される支持板14と、支持板14に支持される流体圧アクチュエータであるエアシリンダ15と、上端部において支持板14に連結されるとともに互いに離間した状態で下方に延びる一対の腕部16とを備えている。エアシリンダ15は、箱状をなすシリンダ本体17と、シリンダ本体17内に上下動可能に収容されたピストン(図示略)と、ピストンに連結された可動部であるロッド(図示略)とを有している。ロッドは、シリンダ本体17内にエアが供給されてピストンが下方に移動したときにシリンダ本体17の下端部から突出し、シリンダ本体17内からエアが排出されてピストンが上方に移動したときにシリンダ本体17内に後退するようになっている。また、ロッドの先端には、配線基板110を吸引する吸引部20が取り付けられている。吸引部20は、ロッドによって支持されており、吸引面21を配線基板110に向けた状態で配線基板110に対して接近及び離間するようになっている。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the transfer head 11 is attached to the tip of the arm 3 of the transfer articulated robot 2. The transport head 11 is a connection plate 12 connected to the tip of the arm 3, a support plate 14 connected to the connection plate 12 via four connection rods 13, and a fluid pressure actuator supported by the support plate 14. There is provided an air cylinder 15 and a pair of arm portions 16 which are connected to the support plate 14 at the upper end portion and extend downward while being separated from each other. The air cylinder 15 has a box-shaped cylinder body 17, a piston (not shown) accommodated in the cylinder body 17 so as to be movable up and down, and a rod (not shown) that is a movable part connected to the piston. is doing. The rod protrudes from the lower end of the cylinder body 17 when air is supplied into the cylinder body 17 and the piston moves downward. When the air is discharged from the cylinder body 17 and the piston moves upward, the cylinder body. 17 is configured to retreat inside. A suction part 20 for sucking the wiring board 110 is attached to the tip of the rod. The suction unit 20 is supported by a rod, and approaches and separates from the wiring board 110 with the suction surface 21 facing the wiring board 110.

また図1,図3,図4に示されるように、搬送ヘッド11は、配線基板110を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材181を備えている。基板保持部材181は、2本のネジ182を介して各腕部16に固定される部材本体183と、上端部において部材本体183に接続されるとともに互いに離間した状態で下方に延びる4つの接触部184とを備えている。各接触部184は、吸引面21を構成する四辺の外側から吸引部20の吸引面21を包囲するように配置されている。なお、各接触部184は、配線基板110よりも硬度が低い樹脂(本実施形態ではポリエチレン樹脂)によって形成されている。また、各接触部184は、下端部内側にそれぞれ面取り部185を有している。各面取り部185は、エアシリンダ15のロッドを後退させることで配線基板110を基板保持部材181に近づけた基板保持固定時に、配線基板110の外周縁に接触するようになっている(図24参照)。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the transport head 11 includes a substrate holding member 181 that holds and fixes the wiring substrate 110 so as not to be misaligned. The substrate holding member 181 includes a member main body 183 that is fixed to each arm portion 16 via two screws 182 and four contact portions that are connected to the member main body 183 at the upper end portion and extend downward while being separated from each other. 184. Each contact portion 184 is arranged so as to surround the suction surface 21 of the suction portion 20 from the outside of the four sides constituting the suction surface 21. Each contact portion 184 is formed of a resin (polyethylene resin in this embodiment) having a hardness lower than that of the wiring board 110. Each contact portion 184 has a chamfered portion 185 inside the lower end portion. Each chamfered portion 185 contacts the outer peripheral edge of the wiring board 110 when the board of the wiring board 110 is moved close to the board holding member 181 by moving the rod of the air cylinder 15 backward (see FIG. 24). ).

図5〜図8に示されるように、前記吸引部20は、上蓋部31、吸引部本体22、ノズル支持体51、ノズル本体61及び樹脂製パッド40を備えている。図9に示されるように、上蓋部31は、金属材料(本実施形態では、プラチナを含有するアルミニウム合金)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ6mmの略矩形板状をなしている。上蓋部31の4つの角部のうち3つの角部にはネジ挿通孔32が設けられ、残り1つの角部には第1ポート取付孔33が設けられている。また、上蓋部31の中央部には、直径7mmの第1ノズル挿通孔34が設けられている。そして、3つのネジ挿通孔32のうち2つのネジ挿通孔32と第1ノズル挿通孔34との間にはシャフト取付孔35が設けられ、残り1つのネジ挿通孔32と第1ノズル挿通孔34との間には第3ポート取付孔36が設けられている。   As shown in FIGS. 5 to 8, the suction part 20 includes an upper lid part 31, a suction part body 22, a nozzle support 51, a nozzle body 61, and a resin pad 40. As shown in FIG. 9, the upper lid portion 31 is made of a metal material (in this embodiment, an aluminum alloy containing platinum) and has a substantially rectangular plate shape of 35 mm long × 35 mm wide × 6 mm high. . Screw insertion holes 32 are provided at three corners of the four corners of the upper lid portion 31, and first port mounting holes 33 are provided at the remaining one corner. In addition, a first nozzle insertion hole 34 having a diameter of 7 mm is provided at the center of the upper lid portion 31. A shaft mounting hole 35 is provided between two of the three screw insertion holes 32 and the first nozzle insertion hole 34, and the remaining one screw insertion hole 32 and the first nozzle insertion hole 34. A third port mounting hole 36 is provided between the first and second ports.

図5,図6,図8に示されるように、第1ポート取付孔33には第1ポート91が取り付けられ、第3ポート取付孔36には第3ポート93が取り付けられている。また、上蓋部31の中央部には、金属材料(本実施形態ではSUJ2)によって形成されたシャフト94が取り付けられている。シャフト94は、棒状の円管部95と、円管部95の下端部に一体形成された略矩形板状の支持板96とを有している。円管部95には、第1ノズル挿通孔34に連通する貫通孔97が設けられ、円管部95の上端部には、貫通孔97に連通する第2ポート取付孔98が設けられている。さらに、第2ポート取付孔98には第2ポート92が取り付けられている。なお、各ポート91〜93は、導電性金属によって形成され、各ポート91〜93には帯電防止チューブ99が接続されている。また、支持板96の両端部には一対のネジ孔(図示略)が設けられている。従って、両ネジ孔にネジ100を挿通し、挿通したネジ100をシャフト取付孔35に螺着させることにより、シャフト94が上蓋部31に固定される。   As shown in FIGS. 5, 6, and 8, the first port 91 is attached to the first port attachment hole 33, and the third port 93 is attached to the third port attachment hole 36. A shaft 94 made of a metal material (SUJ2 in the present embodiment) is attached to the central portion of the upper lid portion 31. The shaft 94 includes a rod-shaped circular pipe portion 95 and a substantially rectangular plate-shaped support plate 96 integrally formed at the lower end portion of the circular pipe portion 95. The circular pipe part 95 is provided with a through hole 97 that communicates with the first nozzle insertion hole 34, and a second port attachment hole 98 that communicates with the through hole 97 is provided at the upper end part of the circular pipe part 95. . Further, the second port 92 is attached to the second port attachment hole 98. Each port 91 to 93 is made of a conductive metal, and an antistatic tube 99 is connected to each port 91 to 93. In addition, a pair of screw holes (not shown) are provided at both ends of the support plate 96. Therefore, the shaft 94 is fixed to the upper lid portion 31 by inserting the screw 100 into both screw holes and screwing the inserted screw 100 into the shaft mounting hole 35.

図10〜図12に示されるように、前記吸引部本体22は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ18.5mmの略直方体状をなしている。吸引部本体22には、同吸引部本体22の下面24にて開口する収容凹部25が設けられている。本実施形態の収容凹部25は、内径18mm、深さ12.5mmに設定されている。また、吸引部本体22の中央部には、直径7mmの第2ノズル挿通孔26が設けられている。第2ノズル挿通孔26は、上蓋部31の第1ノズル挿通孔34に連通するとともに、吸引部本体22の上面23及び収容凹部25の底面を貫通している。さらに、吸引部本体22において第2ノズル挿通孔26の両側には、上面23及び収容凹部25の底面を貫通する支持体取付孔27が設けられている。   As shown in FIGS. 10 to 12, the suction part main body 22 is formed of a metal material (aluminum in the present embodiment) and has a substantially rectangular parallelepiped shape with a length of 35 mm × width of 35 mm × height of 18.5 mm. . The suction part main body 22 is provided with an accommodation recess 25 that opens at the lower surface 24 of the suction part main body 22. The housing recess 25 of this embodiment is set to have an inner diameter of 18 mm and a depth of 12.5 mm. In addition, a second nozzle insertion hole 26 having a diameter of 7 mm is provided in the central portion of the suction unit body 22. The second nozzle insertion hole 26 communicates with the first nozzle insertion hole 34 of the upper lid part 31 and penetrates the upper surface 23 of the suction part main body 22 and the bottom surface of the housing recess 25. Further, on the both sides of the second nozzle insertion hole 26 in the suction part main body 22, support body mounting holes 27 penetrating the upper surface 23 and the bottom surface of the accommodating recess 25 are provided.

また、吸引部本体22には、上面23及び下面24を貫通する12個の集塵流路191が設けられている。各集塵流路191は、吸引部本体22における収容凹部25の外側領域に配置されるとともに、第2ノズル挿通孔26の中心軸線を基準として等角度(30°)間隔で配置されている。さらに、吸引部本体22の上面23には、エアが流通可能な共通集塵流路192が円形状に形成されている。共通集塵流路192には、吸引部本体22の内部にて個々の集塵流路191が合流するようになっている。そして、共通集塵流路192は、上蓋部31の前記第3ポート取付孔36に連通し、真空引き手段である集塵ユニット151(図22参照)に接続されている。   The suction body 22 is provided with twelve dust collecting channels 191 that penetrate the upper surface 23 and the lower surface 24. The dust collecting channels 191 are arranged in an outer region of the housing recess 25 in the suction unit main body 22 and are arranged at equiangular (30 °) intervals with reference to the central axis of the second nozzle insertion hole 26. Furthermore, a common dust collection channel 192 through which air can flow is formed in a circular shape on the upper surface 23 of the suction unit body 22. The individual dust collection channels 191 join the common dust collection channel 192 inside the suction unit main body 22. The common dust collecting flow path 192 communicates with the third port mounting hole 36 of the upper lid portion 31 and is connected to a dust collecting unit 151 (see FIG. 22) that is a vacuum evacuation means.

図10に示されるように、吸引部本体22の4つの角部のうち3つの角部には蓋部取付穴28が設けられている。よって、前記ネジ挿通孔32にネジ29(図8参照)を挿通し、挿通したネジ29を蓋部取付穴28に螺着させることにより、上蓋部31が吸引部本体22に固定される。また、上記4つの角部のうち残り1つの角部には、前記第1ポート取付孔33に連通し、上面23及び下面24を貫通する吸着流路195が設けられている。図11,図12に示されるように、吸引部本体22の下面24には、エアが流通可能な共通吸着流路196が略正方形状に形成されている。そして、共通吸着流路196は、上蓋部31の前記第1ポート取付孔33に連通し、真空引き手段である吸着ユニット161(図22参照)に接続されている。   As shown in FIG. 10, lid mounting holes 28 are provided in three of the four corners of the suction unit body 22. Therefore, by inserting the screw 29 (see FIG. 8) through the screw insertion hole 32 and screwing the inserted screw 29 into the lid mounting hole 28, the upper lid portion 31 is fixed to the suction portion main body 22. In addition, an adsorption channel 195 that communicates with the first port mounting hole 33 and penetrates the upper surface 23 and the lower surface 24 is provided in the remaining one of the four corners. As shown in FIGS. 11 and 12, a common adsorption channel 196 through which air can flow is formed in a substantially square shape on the lower surface 24 of the suction portion main body 22. The common adsorption flow path 196 communicates with the first port mounting hole 33 of the upper lid portion 31 and is connected to an adsorption unit 161 (see FIG. 22) that is a vacuum evacuation means.

図13,図14に示されるように、前記ノズル支持体51は、吸引部本体22の前記収容凹部25に収容されている。ノズル支持体51は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、直径18mm×高さ14mmの略円柱状をなしている。ノズル支持体51には、同ノズル支持体51の下面53にて開口する収容部54が設けられている。本実施形態の収容部54は、内径16mm、深さ7.5mmに設定されている。また、ノズル支持体51の中央部には、直径7mmの第3ノズル挿通孔55が設けられている。第3ノズル挿通孔55は、吸引部本体22の前記第2ノズル挿通孔26に連通するとともに、ノズル支持体51の上面52及び収容部54の底面を貫通している。さらに、ノズル支持体51において第3ノズル挿通孔55の両側には、上面52及び収容部54の底面を貫通するノズル取付孔57が設けられている。また、ノズル支持体51において第3ノズル挿通孔55の両側には、上面52にて開口するネジ取付穴56が設けられている。よって、前記支持体取付孔27にネジ30(図8参照)を挿通し、挿通したネジ30をネジ取付穴56に螺着させることにより、ノズル支持体51が吸引部本体22に固定される。   As shown in FIGS. 13 and 14, the nozzle support 51 is housed in the housing recess 25 of the suction body 22. The nozzle support 51 is made of a metal material (aluminum in this embodiment) and has a substantially cylindrical shape with a diameter of 18 mm and a height of 14 mm. The nozzle support 51 is provided with an accommodating portion 54 that opens at the lower surface 53 of the nozzle support 51. The accommodating part 54 of this embodiment is set to an inner diameter of 16 mm and a depth of 7.5 mm. Further, a third nozzle insertion hole 55 having a diameter of 7 mm is provided at the center of the nozzle support 51. The third nozzle insertion hole 55 communicates with the second nozzle insertion hole 26 of the suction portion main body 22 and penetrates the upper surface 52 of the nozzle support 51 and the bottom surface of the accommodating portion 54. Furthermore, nozzle attachment holes 57 penetrating the upper surface 52 and the bottom surface of the accommodating portion 54 are provided on both sides of the third nozzle insertion hole 55 in the nozzle support 51. In addition, screw attachment holes 56 that open on the upper surface 52 are provided on both sides of the third nozzle insertion hole 55 in the nozzle support 51. Therefore, the nozzle support 51 is fixed to the suction portion main body 22 by inserting the screw 30 (see FIG. 8) through the support attachment hole 27 and screwing the inserted screw 30 into the screw attachment hole 56.

図15〜図18に示されるように、前記ノズル本体61は、金属材料(本実施形態ではアルミニウム)によって形成され、前記吸引面21の一部を構成する下端面62を有している。また、ノズル本体61は、棒状の軸部63と、軸部63の下端部に形成された本体部64とを有している。軸部63は、直径7mm×高さ15.2mmの略円柱状をなし、第3ノズル挿通孔55、第2ノズル挿通孔26及び前記第1ノズル挿通孔34に挿入されている。なお、第1ノズル挿通孔34には、第1ノズル挿通孔34と軸部63との隙間を塞ぐOリング60(図8参照)が軸部63の上端面に接触した状態で取り付けられている。   As shown in FIGS. 15 to 18, the nozzle body 61 is made of a metal material (aluminum in this embodiment) and has a lower end surface 62 that constitutes a part of the suction surface 21. The nozzle body 61 includes a rod-shaped shaft portion 63 and a body portion 64 formed at the lower end portion of the shaft portion 63. The shaft portion 63 has a substantially cylindrical shape with a diameter of 7 mm and a height of 15.2 mm, and is inserted into the third nozzle insertion hole 55, the second nozzle insertion hole 26, and the first nozzle insertion hole 34. Note that an O-ring 60 (see FIG. 8) that closes the gap between the first nozzle insertion hole 34 and the shaft portion 63 is attached to the first nozzle insertion hole 34 in contact with the upper end surface of the shaft portion 63. .

一方、本体部64は、直径15mm×高さ8.6mmの略円柱状をなし、ノズル支持体51の収容部54に収容されている。本体部64において軸部63の両側には、本体部64の上面にて開口するネジ取付穴65が設けられている。よって、前記ノズル取付孔57にネジ58(図8参照)を挿通し、挿通したネジ58をネジ取付穴65に螺着させることにより、ノズル本体61がノズル支持体51に固定される。また、本体部64の上端部における外周面には、高さ0.5mmの上側張出部66が突設されている。これにより、本体部64の上端部の直径が16mmとなるため、本体部64の上端部は収容部54の内側面に接触するようになる(図8参照)。一方、本体部64の下端部における外周面には、高さ1.5mmの下側張出部67が突設されている。これにより、本体部64の下端部の直径が18mmとなり、下側張出部67はノズル支持体51の前記下面53に接触するようになる(図8参照)。その結果、本体部64の外周面と収容部54の内側面との間には、空間S(図8参照)が生じるようになる。   On the other hand, the main body 64 has a substantially cylindrical shape with a diameter of 15 mm and a height of 8.6 mm, and is accommodated in the accommodating portion 54 of the nozzle support 51. On the both sides of the shaft portion 63 in the main body portion 64, screw mounting holes 65 that open on the upper surface of the main body portion 64 are provided. Therefore, the nozzle body 61 is fixed to the nozzle support 51 by inserting the screw 58 (see FIG. 8) through the nozzle mounting hole 57 and screwing the inserted screw 58 into the screw mounting hole 65. Further, an upper projecting portion 66 having a height of 0.5 mm is projected from the outer peripheral surface of the upper end portion of the main body portion 64. Thereby, since the diameter of the upper end part of the main-body part 64 will be 16 mm, the upper-end part of the main-body part 64 comes to contact the inner surface of the accommodating part 54 (refer FIG. 8). On the other hand, a lower projecting portion 67 having a height of 1.5 mm protrudes from the outer peripheral surface of the lower end portion of the main body portion 64. Thereby, the diameter of the lower end part of the main-body part 64 becomes 18 mm, and the lower side overhang | projection part 67 comes to contact the said lower surface 53 of the nozzle support body 51 (refer FIG. 8). As a result, a space S (see FIG. 8) is generated between the outer peripheral surface of the main body portion 64 and the inner side surface of the accommodating portion 54.

図15,図16,図18に示されるように、ノズル本体61の内部には、イオンエアを供給するエア流路71が設けられている。また、ノズル本体61には、エア流路71の内壁面及びノズル本体61の外周面を貫通する迂回流路72が設けられている。なお、迂回流路72を通過したイオンエアは、上記の空間Sに導かれる。   As shown in FIGS. 15, 16, and 18, an air flow path 71 that supplies ion air is provided inside the nozzle body 61. The nozzle body 61 is provided with a bypass flow path 72 that penetrates the inner wall surface of the air flow path 71 and the outer peripheral surface of the nozzle body 61. The ion air that has passed through the bypass flow path 72 is guided to the space S described above.

図15,図17,図18に示されるように、ノズル本体61の下端面62には下方から見て円形状をなす凹部73が設けられている。凹部73の開口部分には、凹部73内で発生した旋回流F1(図23,図24参照)を効率良く凹部73の外部に放出するための面取り部74が設けられている。また、凹部73の中心には、断面略台形状であって下方から見て円形状をなす除塵用ノズル75が突設されている。ここで、凹部73の底面に対する除塵用ノズル75の外周面の傾斜角度は60°に設定されており、凹部73の底面に対する凹部73の内壁面76の傾斜角度は60°に設定されている。即ち、除塵用ノズル75の外周面の角度は、凹部73の内壁面76の角度と等しくなっている。また、凹部73の底面からの除塵用ノズル75の突出量は2.5mmに設定され、除塵用ノズル75の先端面は、ノズル本体61の下端面62よりも0.5mmだけ上方に位置している。仮に、除塵用ノズル75の突出量が小さ過ぎると、第1エア吹出穴81から噴出したイオンエアが除塵用ノズル75の先端に到達する可能性がある。この場合、除塵用ノズル75の先端に到達したイオンエアが、除塵用ノズル75の先端にて開口する第2エア吹出穴82から噴出したイオンエアに衝突して流れを乱してしまう。一方、除塵用ノズル75の突出量が大き過ぎると、吸引部20の吸引面21を配線基板110の基板主面120に近づけた際に、除塵用ノズル75の先端が配線基板110に接触してしまい、配線基板110を傷付けるおそれがある。   As shown in FIGS. 15, 17, and 18, the lower end surface 62 of the nozzle body 61 is provided with a concave portion 73 having a circular shape when viewed from below. A chamfered portion 74 for efficiently discharging the swirl flow F <b> 1 (see FIGS. 23 and 24) generated in the concave portion 73 is provided at the opening portion of the concave portion 73. Further, a dust removal nozzle 75 having a substantially trapezoidal cross section and a circular shape when viewed from below is projected from the center of the recess 73. Here, the inclination angle of the outer peripheral surface of the dust removing nozzle 75 with respect to the bottom surface of the recess 73 is set to 60 °, and the inclination angle of the inner wall surface 76 of the recess 73 with respect to the bottom surface of the recess 73 is set to 60 °. That is, the angle of the outer peripheral surface of the dust removal nozzle 75 is equal to the angle of the inner wall surface 76 of the recess 73. Further, the projection amount of the dust removal nozzle 75 from the bottom surface of the recess 73 is set to 2.5 mm, and the tip end surface of the dust removal nozzle 75 is positioned 0.5 mm above the lower end surface 62 of the nozzle body 61. Yes. If the protrusion amount of the dust removal nozzle 75 is too small, ion air ejected from the first air blowing hole 81 may reach the tip of the dust removal nozzle 75. In this case, the ion air that has reached the tip of the dust removal nozzle 75 collides with the ion air ejected from the second air blowing hole 82 that opens at the tip of the dust removal nozzle 75 and disturbs the flow. On the other hand, if the protruding amount of the dust removal nozzle 75 is too large, the tip of the dust removal nozzle 75 comes into contact with the wiring board 110 when the suction surface 21 of the suction part 20 is brought close to the board main surface 120 of the wiring board 110. As a result, the wiring board 110 may be damaged.

図15,図17,図18に示されるように、ノズル本体61には、凹部73の内壁面76(内周面)及び前記本体部64の外周面にて開口する第1エア吹出穴81が2箇所に設けられている。各第1エア吹出穴81は、除塵用ノズル75の中心軸線を基準としたときに点対称となるように配置されており、内壁面76において凹部73の周方向に沿って開口している。各第1エア吹出穴81は、空間Sに導かれたイオンエアを凹部73内に噴出するようになっている。そして、それぞれの第1エア吹出穴81から噴出されるイオンエアは、凹部73の周方向に沿って導かれ、旋回流F1を形成するようになっている。即ち、本実施形態の吸引部20は、吸引部本体22と配線基板110との間に発生する空気流によって生じるベルヌーイ効果を利用して配線基板110を保持するようにしたベルヌーイチャックである。   As shown in FIGS. 15, 17, and 18, the nozzle body 61 has a first air blowing hole 81 that opens at the inner wall surface 76 (inner circumferential surface) of the recess 73 and the outer circumferential surface of the body portion 64. It is provided in two places. The first air blowing holes 81 are arranged so as to be point-symmetrical with respect to the central axis of the dust removal nozzle 75 and open along the circumferential direction of the recess 73 on the inner wall surface 76. Each first air blowing hole 81 is configured to jet ion air guided to the space S into the recess 73. And the ion air ejected from each 1st air blowing hole 81 is guide | induced along the circumferential direction of the recessed part 73, and forms the swirl | vortex flow F1. In other words, the suction unit 20 of the present embodiment is a Bernoulli chuck that holds the wiring board 110 by using the Bernoulli effect generated by the air flow generated between the suction part main body 22 and the wiring board 110.

図15〜図18に示されるように、凹部73内において第1エア吹出穴81とは異なる位置には、前記エア流路71に連通する第2エア吹出穴82が設けられている。即ち、エア流路71は、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82のそれぞれにイオンエアを供給する共通の流路である。また、第2エア吹出穴82は、第1エア吹出穴81よりも凹部73の中心に近接して配置されている。具体的に言うと、第2エア吹出穴82は、除塵用ノズル75の先端にて開口するように配置されている。そして、第2エア吹出穴82は、中心軸線が前記配線基板110の基板主面120に対して垂直に配置されており、エア流路71を流れるイオンエアを基板主面120に向けて垂直に吹き付けるようになっている。なお、第2エア吹出穴82の内径は、噴出するイオンエアによって基板主面120上の異物を除去でき、かつ配線基板110を持ち上げる力を相殺しない程度の大きさに設定されることが好ましい。仮に、第2エア吹出穴82の内径が小さ過ぎると、第2エア吹出穴82から噴出するイオンエアの勢いが小さくなり過ぎるため、イオンエアが配線基板110の基板主面120に届きにくくなる。一方、第2エア吹出穴82の内径が大き過ぎると、第2エア吹出穴82から噴出するイオンエアの勢いが大きくなり過ぎて配線基板110を持ち上げる力を相殺してしまうため、配線基板110が持ち上がらなくなる。   As shown in FIGS. 15 to 18, a second air blowing hole 82 communicating with the air flow path 71 is provided in a position different from the first air blowing hole 81 in the recess 73. That is, the air flow path 71 is a common flow path for supplying ion air to each of the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82. Further, the second air blowing hole 82 is arranged closer to the center of the recess 73 than the first air blowing hole 81. Specifically, the second air blowing hole 82 is disposed so as to open at the tip of the dust removal nozzle 75. The second air blowing hole 82 has a central axis perpendicular to the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110, and blows ion air flowing through the air flow path 71 toward the substrate main surface 120 vertically. It is like that. In addition, it is preferable that the inner diameter of the second air blowing hole 82 is set to such a size that foreign matter on the substrate main surface 120 can be removed by the blown ion air and the force for lifting the wiring substrate 110 is not offset. If the inner diameter of the second air blowing hole 82 is too small, the momentum of the ion air ejected from the second air blowing hole 82 becomes too small, so that the ion air is difficult to reach the substrate main surface 120 of the wiring board 110. On the other hand, if the inner diameter of the second air blowing hole 82 is too large, the momentum of the ion air ejected from the second air blowing hole 82 becomes too large to cancel the force for lifting the wiring board 110, so that the wiring board 110 is lifted. Disappear.

図19〜図21に示されるように、前記樹脂製パッド40は、前記吸引部本体22に取り付けられ、正面(下面)が前記吸引面21となっている。樹脂製パッド40は、樹脂材料(本実施形態ではエーテル系ウレタン)によって形成され、縦35mm×横35mm×高さ2.5mmの略矩形板状をなしている。また、樹脂製パッド40の中央部には、直径18.3mmの貫通孔41が設けられている。貫通孔41は、前記本体部64の凹部73等を露出させるようになっている(図7参照)。さらに、樹脂製パッド40には、前記集塵流路191に連通する12個の集塵穴42が設けられている。各集塵穴42は、貫通孔41及び凹部73の外側領域にて開口するように配設され、凹部73を包囲するように凹部外周縁に沿って複数箇所に配設されている(図7参照)。具体的に言うと、各集塵穴42は、貫通孔41の中心軸線を基準として等角度(30°)間隔で配置されている。また、吸引面21において各集塵穴42の外側領域には、各集塵穴42を包囲する集塵防壁43が突設されている。集塵防壁43は、内径が26mmであって外径が29mmの円環状をなし、高さが1.2mmに設定されている。   As shown in FIGS. 19 to 21, the resin pad 40 is attached to the suction unit body 22, and the front surface (lower surface) is the suction surface 21. The resin pad 40 is made of a resin material (ether urethane in this embodiment) and has a substantially rectangular plate shape of 35 mm long × 35 mm wide × 2.5 mm high. Further, a through hole 41 having a diameter of 18.3 mm is provided at the center of the resin pad 40. The through hole 41 exposes the recess 73 and the like of the main body 64 (see FIG. 7). Further, the resin pad 40 is provided with twelve dust collecting holes 42 communicating with the dust collecting channel 191. Each dust collection hole 42 is disposed so as to open in the outer region of the through hole 41 and the recess 73, and is disposed at a plurality of locations along the outer periphery of the recess so as to surround the recess 73 (FIG. 7). reference). More specifically, the dust collecting holes 42 are arranged at equiangular (30 °) intervals with the central axis of the through hole 41 as a reference. In addition, a dust collection barrier 43 that surrounds each dust collection hole 42 protrudes from an outer region of each dust collection hole 42 on the suction surface 21. The dust collecting barrier 43 has an annular shape with an inner diameter of 26 mm and an outer diameter of 29 mm, and the height is set to 1.2 mm.

図19,図21に示されるように、吸引面21の最外周部、即ち、樹脂製パッド40の4つの角部には、吸引面21より1.5mmだけ突出した凸部44が形成されている。さらに、樹脂製パッド40には、4個の真空吸着穴45がそれぞれの凸部44にて開口するように配設されている。即ち、各真空吸着穴45は、貫通孔41及び凹部73の外側領域にて開口するように配設されている。そして、各真空吸着穴45は、樹脂製パッド40を貫通する吸着流路46に連通しており、個々の吸着流路46は、吸引部本体22の前記共通吸着流路196に合流している(図8参照)。   As shown in FIGS. 19 and 21, the outermost peripheral portion of the suction surface 21, that is, the four corners of the resin pad 40, are formed with convex portions 44 that protrude by 1.5 mm from the suction surface 21. Yes. Further, four vacuum suction holes 45 are arranged in the resin pad 40 so as to open at the respective convex portions 44. That is, each vacuum suction hole 45 is disposed so as to open in the outer region of the through hole 41 and the recess 73. Each vacuum suction hole 45 communicates with a suction flow path 46 that penetrates the resin pad 40, and each suction flow path 46 joins the common suction flow path 196 of the suction unit body 22. (See FIG. 8).

なお、前記基板保持部材181の接触部184には、静電電位センサ105(図22,図23参照)が設置されている。静電電位センサ105は、接触部184内に埋設されており、接触部184の面取り部185から露出するように配置されている。つまり、静電電位センサ105は、前記配線基板110の外周縁に接触する位置に設けられている。静電電位センサ105は、配線基板110に帯電した静電気を測定して、静電気測定信号を出力するようになっている。   An electrostatic potential sensor 105 (see FIGS. 22 and 23) is installed on the contact portion 184 of the substrate holding member 181. The electrostatic potential sensor 105 is embedded in the contact portion 184 and is disposed so as to be exposed from the chamfered portion 185 of the contact portion 184. That is, the electrostatic potential sensor 105 is provided at a position in contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110. The electrostatic potential sensor 105 measures static electricity charged on the wiring board 110 and outputs a static electricity measurement signal.

次に、非接触搬送装置1のシステム構成について説明する。   Next, the system configuration of the non-contact conveyance device 1 will be described.

図22に示されるように、非接触搬送装置1は、加圧エアを送り出すエア供給源131を備えている。また、非接触搬送装置1は、エア供給源131と吸引部20との間を連通しうるエア供給経路を構成するエア供給流路130を備えている。エア供給流路130は、下流側において、旋回流形成経路を構成する第1エア流路140と、集塵経路を構成する第2エア流路150と、真空引き経路を構成する第3エア流路160とに分岐している。第1エア流路140は、帯電防止チューブ99(図6参照)及び第2ポート92(図5,図22のb参照)を介して吸引部20のエア流路71に連通している。第2エア流路150は、帯電防止チューブ99及び第3ポート93(図5,図22のc参照)を介して吸引部20の集塵流路191に連通している。第3エア流路160は、帯電防止チューブ99及び第1ポート91(図5,図22のa参照)を介して吸引部20の吸着流路195に連通している。   As shown in FIG. 22, the non-contact conveyance device 1 includes an air supply source 131 that sends out pressurized air. Further, the non-contact conveyance device 1 includes an air supply flow path 130 that constitutes an air supply path capable of communicating between the air supply source 131 and the suction unit 20. On the downstream side, the air supply flow path 130 includes a first air flow path 140 that forms a swirl flow forming path, a second air flow path 150 that forms a dust collection path, and a third air flow that forms a vacuum suction path. Branches to the road 160. The first air flow path 140 communicates with the air flow path 71 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 (see FIG. 6) and the second port 92 (see b in FIGS. 5 and 22). The second air flow path 150 communicates with the dust collection flow path 191 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 and the third port 93 (see c in FIGS. 5 and 22). The third air flow path 160 communicates with the suction flow path 195 of the suction unit 20 via the antistatic tube 99 and the first port 91 (see a in FIGS. 5 and 22).

図22に示されるように、エア供給流路130上にはエア供給バルブ132が設置されている。エア供給バルブ132は、エア供給源131の下流側に配置されており、エア供給流路130を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。エア供給バルブ132は、開状態に切り替えられた際に、下流側にエアを供給可能とするようになっている。なお、本実施形態のエア供給バルブ132は、図示しないソレノイドにより作動する電磁弁である。   As shown in FIG. 22, an air supply valve 132 is installed on the air supply channel 130. The air supply valve 132 is disposed on the downstream side of the air supply source 131, and switches the air supply flow path 130 between an open state and a closed state. The air supply valve 132 is configured to be able to supply air to the downstream side when switched to the open state. Note that the air supply valve 132 of the present embodiment is an electromagnetic valve that is operated by a solenoid (not shown).

また、エア供給流路130上には、エア供給流路130内のエア圧力を一定値に調整する空気圧調整ユニット133が設置されている。即ち、空気圧調整ユニット133は、エア供給流路130を介してエア供給バルブ132及びエア供給源131と流路的に接続されている。空気圧調整ユニット133は、エアフィルタ134、圧力計135及び減圧弁136を備えている。エアフィルタ134は、エア供給バルブ132の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアに含まれる異物を除去するようになっている。また、圧力計135は、エアフィルタ134の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアの圧力を計測するようになっている。さらに、減圧弁136は、圧力計135の下流側に配置されており、エア供給流路130内を通過するエアの減圧を行い、減圧したエアを下流側に供給するようになっている。   An air pressure adjusting unit 133 that adjusts the air pressure in the air supply channel 130 to a constant value is installed on the air supply channel 130. That is, the air pressure adjustment unit 133 is connected to the air supply valve 132 and the air supply source 131 through the air supply flow path 130 in a flow path. The air pressure adjustment unit 133 includes an air filter 134, a pressure gauge 135, and a pressure reducing valve 136. The air filter 134 is disposed on the downstream side of the air supply valve 132, and removes foreign matters contained in the air passing through the air supply flow path 130. The pressure gauge 135 is disposed downstream of the air filter 134 and measures the pressure of air passing through the air supply flow path 130. Further, the pressure reducing valve 136 is disposed on the downstream side of the pressure gauge 135, performs pressure reduction of the air passing through the air supply flow path 130, and supplies the reduced air to the downstream side.

図22に示されるように、前記第1エア流路140上には、DC方式のイオナイザ141が設置されている。イオナイザ141は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、第1エア流路140と連通するイオナイザ本体142と、イオナイザ本体142内に突出する2本の放電針(正極側及び負極側の放電針)と、各放電針に直流電圧を印加する高圧電源とを備えている。各放電針は、直流電圧が印加された際にコロナ放電を行うことにより、先端部分の周囲にイオンを発生させるようになっている。詳述すると、正極側の放電針は、印加する直流電圧の極性が正(+)である場合に陽イオンを発生させ、負極側の放電針は、印加する直流電圧の極性が負(−)である場合に陰イオンを発生させるようになっている。そして、イオナイザ141は、イオナイザ本体142内に導かれてきたエアに発生させたイオンを混合させることにより、イオンエアを生成するようになっている。さらに、イオナイザ141は、生成したイオンエアを第1エア流路140の下流側に放出するようになっている。   As shown in FIG. 22, a DC ionizer 141 is installed on the first air flow path 140. The ionizer 141 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and has an ionizer body 142 that communicates with the first air flow path 140, and two discharge needles that protrude into the ionizer body 142 (on the positive electrode side and the negative electrode side). Discharge needle) and a high-voltage power source for applying a DC voltage to each discharge needle. Each discharge needle generates ions around the tip by performing corona discharge when a DC voltage is applied. More specifically, the positive electrode discharge needle generates positive ions when the polarity of the applied DC voltage is positive (+), and the negative electrode discharge needle has a negative (-) polarity of the applied DC voltage. In this case, anions are generated. The ionizer 141 generates ion air by mixing the generated ions with the air guided into the ionizer body 142. Further, the ionizer 141 discharges the generated ion air to the downstream side of the first air flow path 140.

また図22に示されるように、第1エア流路140上には、電磁弁143及びエアフィルタ144が設置されている。電磁弁143は、イオナイザ141の下流側に配置されており、第1エア流路140を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。電磁弁143は、開状態に切り替えられた際に、下流側にイオンエアを供給可能とするとともに、イオンエアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の電磁弁143は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、後述する制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。また、エアフィルタ144は、電磁弁143の下流側に配置されており、第1エア流路140内を通過するイオンエアに含まれる異物を除去するようになっている。   As shown in FIG. 22, an electromagnetic valve 143 and an air filter 144 are installed on the first air flow path 140. The electromagnetic valve 143 is disposed on the downstream side of the ionizer 141, and switches the first air flow path 140 to an open state or a closed state. When the solenoid valve 143 is switched to the open state, the ion air can be supplied to the downstream side, and the ion pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The electromagnetic valve 143 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101 described later. The air filter 144 is disposed on the downstream side of the electromagnetic valve 143, and removes foreign matters contained in ion air passing through the first air flow path 140.

なお、エアフィルタ144を通過したイオンエアは、前記帯電防止チューブ99及び前記第2ポート92を介して吸引部20のエア流路71に導かれる。ここで、イオナイザ141から吸引部20に至るまでの機器は、導電性を付与した帯電防止材料を用いて構成されている。具体的に言うと、電磁弁143及びエアフィルタ144は、導電性金属によって形成されている。また、イオナイザ141と電磁弁143とをつなぐ流路、電磁弁143とエアフィルタ144とをつなぐ流路、及び、エアフィルタ144と吸引部20とをつなぐ流路は、ポリウレタンにカーボンブラックを混入させた材料からなる帯電防止チューブ99を用いて形成されている。   The ion air that has passed through the air filter 144 is guided to the air flow path 71 of the suction unit 20 through the antistatic tube 99 and the second port 92. Here, the equipment from the ionizer 141 to the suction unit 20 is configured using an antistatic material imparted with conductivity. Specifically, the electromagnetic valve 143 and the air filter 144 are made of a conductive metal. In addition, the flow path connecting the ionizer 141 and the electromagnetic valve 143, the flow path connecting the electromagnetic valve 143 and the air filter 144, and the flow path connecting the air filter 144 and the suction unit 20 are mixed with carbon black in polyurethane. It is formed using an antistatic tube 99 made of the same material.

図22に示されるように、前記第2エア流路150上には集塵ユニット151が設置されている。集塵ユニット151は、電磁弁152、エジェクタ153,154、サイレンサ155、逆止弁156及びエアフィルタ157を備えている。電磁弁152は、前記空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、第2エア流路150を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。電磁弁152は、開状態に切り替えられた際に、エジェクタ153にエアを供給可能とするとともに、エアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の電磁弁152は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。エジェクタ153は、電磁弁152及びエアフィルタ157の下流側に配置されている。エジェクタ153は、吸引部20の集塵穴42近傍にあるエアを、集塵流路191、第3ポート93及びエアフィルタ157等を介して吸引するようになっている。そして、エジェクタ153に吸引されたエアは、エジェクタ154に流れるようになっている。また、エジェクタ154は、エジェクタ153、エアフィルタ157及び逆止弁156の下流側に配置されている。エジェクタ154は、集塵穴42近傍にあるエアを、集塵流路191、第3ポート93、エアフィルタ157及び逆止弁156等を介して吸引するようになっている。そして、エジェクタ154の下流側にはサイレンサ155が配置され、サイレンサ155は、エジェクタ154から流れてきたエアを排気するとともに、エアの排気音を小さくするようになっている。また、逆止弁156は、エジェクタ154とエアフィルタ157との間に配置されており、エアがエアフィルタ157からエジェクタ154に流れるようにする一方、エアがエジェクタ154からエアフィルタ157に流れるのを防止するようになっている。   As shown in FIG. 22, a dust collection unit 151 is installed on the second air flow path 150. The dust collection unit 151 includes an electromagnetic valve 152, ejectors 153 and 154, a silencer 155, a check valve 156, and an air filter 157. The electromagnetic valve 152 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the second air flow path 150 between an open state and a closed state. When the solenoid valve 152 is switched to the open state, the air can be supplied to the ejector 153 and the air pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The electromagnetic valve 152 of this embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The ejector 153 is disposed on the downstream side of the electromagnetic valve 152 and the air filter 157. The ejector 153 sucks air in the vicinity of the dust collection hole 42 of the suction unit 20 through the dust collection channel 191, the third port 93, the air filter 157, and the like. The air sucked into the ejector 153 flows into the ejector 154. The ejector 154 is disposed on the downstream side of the ejector 153, the air filter 157, and the check valve 156. The ejector 154 sucks air in the vicinity of the dust collection hole 42 through the dust collection flow path 191, the third port 93, the air filter 157, the check valve 156, and the like. A silencer 155 is disposed on the downstream side of the ejector 154, and the silencer 155 exhausts air flowing from the ejector 154 and reduces the exhaust sound of the air. The check valve 156 is disposed between the ejector 154 and the air filter 157 so that air flows from the air filter 157 to the ejector 154, while the air flows from the ejector 154 to the air filter 157. It comes to prevent.

図22に示されるように、前記第3エア流路160上には吸着ユニット161が設置されている。また、第3エア流路160は、基板吸着流路158と真空破壊流路159とに分岐している。   As shown in FIG. 22, an adsorption unit 161 is installed on the third air flow path 160. The third air flow path 160 branches into a substrate adsorption flow path 158 and a vacuum break flow path 159.

基板吸着流路158上には、第1電磁弁162、エジェクタ163,164、サイレンサ165、逆止弁166及びエアフィルタ167が設置されている。第1電磁弁162は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、基板吸着流路158を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。第1電磁弁162は、開状態に切り替えられた際に、エジェクタ163にエアを供給可能とするとともに、エアを適宜排気してエア圧力を減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の第1電磁弁162は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。エジェクタ163は、第1電磁弁162及びエアフィルタ167の下流側に配置されている。エジェクタ163は、吸引部20の真空吸着穴45近傍にあるエアを、吸着流路195、第1ポート91及びエアフィルタ167等を介して真空引きするようになっている。そして、エジェクタ163に吸引されたエアは、エジェクタ164に流れるようになっている。また、エジェクタ164は、エジェクタ163、エアフィルタ167及び逆止弁166の下流側に配置されている。エジェクタ164は、真空吸着穴45近傍にあるエアを、吸着流路195、第1ポート91、エアフィルタ167及び逆止弁166等を介して真空引きするようになっている。そして、エジェクタ164の下流側にはサイレンサ165が配置され、サイレンサ165は、エジェクタ164から流れてきたエアを排気するとともに、エアの排気音を小さくするようになっている。また、逆止弁166は、エジェクタ164とエアフィルタ167との間に配置されており、エアがエアフィルタ167からエジェクタ164に流れるようにする一方、エアがエジェクタ164からエアフィルタ167に流れるのを防止するようになっている。   On the substrate adsorption flow path 158, a first electromagnetic valve 162, ejectors 163 and 164, a silencer 165, a check valve 166, and an air filter 167 are installed. The first electromagnetic valve 162 is arranged on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the substrate adsorption flow path 158 to an open state or a closed state. When the first solenoid valve 162 is switched to the open state, the air can be supplied to the ejector 163, and the air pressure is appropriately discharged to adjust the air pressure to a reduced pressure. The first electromagnetic valve 162 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The ejector 163 is disposed on the downstream side of the first electromagnetic valve 162 and the air filter 167. The ejector 163 evacuates the air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 of the suction unit 20 through the suction flow path 195, the first port 91, the air filter 167, and the like. The air sucked into the ejector 163 flows into the ejector 164. Further, the ejector 164 is disposed on the downstream side of the ejector 163, the air filter 167, and the check valve 166. The ejector 164 evacuates air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 through the suction flow path 195, the first port 91, the air filter 167, the check valve 166, and the like. A silencer 165 is disposed on the downstream side of the ejector 164. The silencer 165 exhausts air flowing from the ejector 164 and reduces the exhaust sound of the air. The check valve 166 is disposed between the ejector 164 and the air filter 167 so that air flows from the air filter 167 to the ejector 164, while the air flows from the ejector 164 to the air filter 167. It comes to prevent.

図22に示されるように、前記真空破壊流路159上には、第2電磁弁168、流量調整弁169及び圧力スイッチ170が設置されている。第2電磁弁168は、空気圧調整ユニット133の下流側に配置されており、真空破壊流路159を開状態または閉状態に切り替えるようになっている。第2電磁弁168は、開状態に切り替えられた際に、エアフィルタ167と吸引部20とをつなぐ接続流路にエアを供給して、その接続流路の真空度を弱めるようになっている。それとともに、第2電磁弁168は、開状態に切り替えられた際に、真空破壊流路159を流れるエアを適宜排気して減圧調整するようになっている。なお、本実施形態の第2電磁弁168は、単動ソレノイドによって作動する2位置、直動ノーマルクローズの電磁弁であり、制御装置101から出力される制御信号に基づいて開状態に切り替えられる。また、流量調整弁169は、第2電磁弁168と圧力スイッチ170とをつなぐ流路の途中に配置されており、真空破壊流路159を流れるエアを定量的に排気してそのエアの圧力が一定値となるよう減圧調整する絞り弁である。圧力スイッチ170は、流量調整弁169及びエアフィルタ167の下流側に配置されている。圧力スイッチ170は、真空破壊流路159内の圧力が所定値を超えたこと(即ち、真空破壊されていること)を契機としてオン状態となり、真空破壊信号を制御装置101のCPU102に対して出力するようになっている。   As shown in FIG. 22, a second electromagnetic valve 168, a flow rate adjustment valve 169, and a pressure switch 170 are installed on the vacuum breaking channel 159. The second electromagnetic valve 168 is disposed on the downstream side of the air pressure adjustment unit 133, and switches the vacuum break channel 159 to an open state or a closed state. When the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, the second electromagnetic valve 168 supplies air to the connection flow path connecting the air filter 167 and the suction unit 20 to weaken the degree of vacuum of the connection flow path. . At the same time, when the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, the air flowing through the vacuum breaking flow path 159 is appropriately discharged to adjust the pressure reduction. Note that the second electromagnetic valve 168 of the present embodiment is a two-position, direct-acting normally closed electromagnetic valve that is operated by a single-action solenoid, and is switched to an open state based on a control signal output from the control device 101. The flow rate adjusting valve 169 is disposed in the middle of the flow path connecting the second electromagnetic valve 168 and the pressure switch 170, and the air flowing through the vacuum breaking flow path 159 is quantitatively exhausted to reduce the pressure of the air. This is a throttle valve that adjusts the pressure to a constant value. The pressure switch 170 is disposed on the downstream side of the flow rate adjustment valve 169 and the air filter 167. The pressure switch 170 is turned on when the pressure in the vacuum break channel 159 exceeds a predetermined value (that is, vacuum break), and outputs a vacuum break signal to the CPU 102 of the control device 101. It is supposed to be.

次に、非接触搬送装置1の電気的構成について説明する。   Next, the electrical configuration of the non-contact transport apparatus 1 will be described.

図22に示されるように、非接触搬送装置1は、装置全体を制御する制御装置101を備えている。制御装置101は、CPU102、ROM103、RAM104及び入出力回路等により構成されている。CPU102は、エア供給バルブ132、イオナイザ141、電磁弁143,152、第1電磁弁162及び第2電磁弁168に電気的に接続されており、各種の駆動信号によってそれらを制御する。   As shown in FIG. 22, the non-contact conveyance device 1 includes a control device 101 that controls the entire device. The control device 101 includes a CPU 102, a ROM 103, a RAM 104, an input / output circuit, and the like. The CPU 102 is electrically connected to the air supply valve 132, the ionizer 141, the electromagnetic valves 143 and 152, the first electromagnetic valve 162, and the second electromagnetic valve 168, and controls them by various driving signals.

また、CPU102には、前記静電電位センサ105から出力された静電気測定信号が入力されるようになっている。そして、CPU102は、静電気測定信号が示す静電気の電荷の極性に基づいて、前記吸引部20によって吸引される配線基板110が正(+)に帯電しているか負(−)に帯電しているかを判定するようになっている。配線基板110が正に帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、直流電圧を印加して負極側の放電針に陰イオンを発生させる制御を行うようになっている。一方、配線基板110が負に帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、直流電圧を印加して正極側の放電針に陽イオンを発生させる制御を行うようになっている。このような制御によれば、配線基板110に帯電した静電気を確実に中和させることができる。   Further, the CPU 102 is inputted with an electrostatic measurement signal outputted from the electrostatic potential sensor 105. Then, the CPU 102 determines whether the wiring board 110 sucked by the suction unit 20 is positively (+) or negatively (−) based on the polarity of the electrostatic charge indicated by the electrostatic measurement signal. It comes to judge. When it is determined that the wiring board 110 is positively charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and applies a DC voltage to perform control to generate negative ions on the discharge needle on the negative electrode side. It has become. On the other hand, when it is determined that the wiring board 110 is negatively charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and applies a DC voltage to generate positive ions on the discharge needle on the positive electrode side. It is like that. According to such control, static electricity charged on the wiring board 110 can be reliably neutralized.

なお本実施形態では、DC方式のイオナイザ141を用いているが、それに代えてAC方式のイオナイザを用いてもよい。AC方式のイオナイザは、イオナイザ本体と、イオナイザ本体内に突出する1本の放電針と、放電針に交流電圧を印加する高圧電源とを備えている。放電針は、交流電圧が印加された際に、印加する交流電圧の極性に応じて陽イオンまたは陰イオンを発生させるようになっている。この場合、CPU102は、静電電位センサ105から出力された静電気測定信号が入力されると、静電気測定信号が示す静電気の電荷量に基づいて配線基板110が帯電しているか否かを判定する。配線基板110が帯電していると判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、イオナイザ141の出力を強くする制御を行う。一方、配線基板110が帯電していないと判定された場合、CPU102は、イオナイザ141に駆動信号を出力し、イオナイザ141の出力を弱くする制御を行う。このような制御によれば、配線基板110の帯電を確実に防止することができる。また、イオナイザ141が必要以上に作動することを防止することができる。   In this embodiment, although the DC ionizer 141 is used, an AC ionizer may be used instead. The AC type ionizer includes an ionizer body, one discharge needle protruding into the ionizer body, and a high-voltage power source that applies an AC voltage to the discharge needle. When an alternating voltage is applied, the discharge needle generates a cation or an anion according to the polarity of the applied alternating voltage. In this case, when the electrostatic measurement signal output from the electrostatic potential sensor 105 is input, the CPU 102 determines whether or not the wiring board 110 is charged based on the electrostatic charge amount indicated by the electrostatic measurement signal. When it is determined that the wiring board 110 is charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and performs control to increase the output of the ionizer 141. On the other hand, when it is determined that the wiring board 110 is not charged, the CPU 102 outputs a drive signal to the ionizer 141 and performs control to weaken the output of the ionizer 141. Such control can reliably prevent the wiring board 110 from being charged. Further, it is possible to prevent the ionizer 141 from operating more than necessary.

次に、配線基板110の非接触搬送方法を説明する。   Next, a non-contact conveyance method for the wiring board 110 will be described.

本実施形態の配線基板110は、複数の製造工程を経て製造され、導通検査を行う検査工程を受けた後に出荷される。なお、配線基板110は、製造工程が終了する度に基板支持台171上に配置される(図23参照)。この状態において、非接触搬送装置1を用いて配線基板110を搬送する搬送工程を行う。詳述すると、搬送用多関節ロボット2のアーム3を駆動して搬送ヘッド11を下降させる。さらに、エアシリンダ15を駆動してロッドを突出させ、配線基板110の基板主面120に吸引部20の吸引面21を接近させる。   The wiring board 110 of the present embodiment is manufactured through a plurality of manufacturing processes, and is shipped after undergoing an inspection process for conducting a continuity test. The wiring board 110 is arranged on the board support 171 every time the manufacturing process is completed (see FIG. 23). In this state, the conveyance process which conveys the wiring board 110 using the non-contact conveyance apparatus 1 is performed. More specifically, the arm 3 of the transfer articulated robot 2 is driven to lower the transfer head 11. Further, the air cylinder 15 is driven to project the rod, and the suction surface 21 of the suction unit 20 is brought close to the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110.

この状態において、CPU102は、エア供給バルブ132、イオナイザ141及び電磁弁143,152に駆動信号を出力する。これにより、エア供給バルブ132及び電磁弁143,152が開状態に切り替わるとともに、イオナイザ141が作動する。その結果、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130を通過して第1エア流路140上のイオナイザ141に流入する。イオナイザ141は、イオナイザ本体142内に導かれてきたエアにイオンを混合させることにより、イオンエアを生成する。そして、イオナイザ141は、生成したイオンエアをイオナイザ141の下流側に放出する。さらに、イオナイザ141から放出されたイオンエアが、第1エア流路140及び第2ポート92(図5,図22のb参照)を介して吸引部20内に流入し、ノズル本体61のエア流路71に導かれる。   In this state, the CPU 102 outputs drive signals to the air supply valve 132, the ionizer 141, and the electromagnetic valves 143 and 152. As a result, the air supply valve 132 and the electromagnetic valves 143 and 152 are switched to the open state, and the ionizer 141 is activated. As a result, the pressurized air sent out from the air supply source 131 passes through the air supply passage 130 and flows into the ionizer 141 on the first air passage 140. The ionizer 141 generates ion air by mixing ions with the air introduced into the ionizer body 142. The ionizer 141 releases the generated ion air to the downstream side of the ionizer 141. Further, the ion air discharged from the ionizer 141 flows into the suction unit 20 via the first air flow path 140 and the second port 92 (see b in FIGS. 5 and 22), and the air flow path of the nozzle body 61. 71.

そして、エア流路71に導かれたイオンエアは、迂回流路72、空間S及び第1エア吹出穴81を順番に通過し、第1エア吹出穴81から凹部73の内周面に沿って噴出する。さらに、第1エア吹出穴81から噴出されたイオンエアは、凹部73の周方向に沿って流れて旋回流F1を形成する。その後、旋回流F1の流速が遠心力で高められることにより、旋回流F1が高速流となる。さらに、旋回流F1を形成したイオンエアの一部は、凹部73外に流出して吸引面21と基板主面120との隙間を通過し、この際に高速流となって吸引部20の外側に放出される(図23の矢印F2参照)。その結果、吸引面21と基板主面120との間に生じた空間が負圧となり、配線基板110の基板主面120が吸引面21に吸引保持される。   The ion air guided to the air flow path 71 sequentially passes through the bypass flow path 72, the space S, and the first air blowing hole 81, and is ejected from the first air blowing hole 81 along the inner peripheral surface of the recess 73. To do. Further, the ion air ejected from the first air blowing hole 81 flows along the circumferential direction of the recess 73 to form a swirling flow F1. Thereafter, the flow velocity of the swirl flow F1 is increased by centrifugal force, so that the swirl flow F1 becomes a high-speed flow. Further, a part of the ion air that forms the swirl flow F1 flows out of the recess 73 and passes through the gap between the suction surface 21 and the substrate main surface 120. At this time, a high-speed flow is generated outside the suction unit 20. Released (see arrow F2 in FIG. 23). As a result, the space generated between the suction surface 21 and the substrate main surface 120 becomes negative pressure, and the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is sucked and held by the suction surface 21.

また、本実施形態の搬送工程では、第2エア吹出穴82から基板主面120に向けてイオンエアを吹き付けることで基板主面120上の異物を除去する除塵工程を同時に行う。詳述すると、エア流路71に導かれたイオンエアを、第2エア吹出穴82に流入させ、第2エア吹出穴82から配線基板110の基板主面120に向けて垂直に吹き付ける。これにより、基板主面120上の異物が、吹き飛ばされて除去される。   Further, in the transporting process of the present embodiment, a dust removing process for removing foreign matter on the substrate main surface 120 by blowing ion air from the second air blowing hole 82 toward the substrate main surface 120 is simultaneously performed. More specifically, ion air guided to the air flow path 71 is caused to flow into the second air blowing hole 82 and blown vertically from the second air blowing hole 82 toward the board main surface 120 of the wiring board 110. As a result, the foreign matter on the substrate main surface 120 is blown off and removed.

さらに、エア供給源131から送り出された加圧エアは、エア供給流路130を通過して第2エア流路150上のエジェクタ153,154に流入する。なお、エジェクタ153,154は、吸引部20の集塵穴42近傍にあるイオンエア(即ち、旋回流F1を形成したイオンエアの大部分)を、集塵流路191、第3ポート93(図5,図22のc参照)を介して吸引する。これにより、配線基板110の基板主面120上に付着している異物がイオンエアとともに回収される。なお、集塵穴42から吸引されるイオンエアの総流量は、第1エア吹出穴81から噴出されるイオンエアの総流量よりも大きくなるように設定されている。   Further, the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply flow path 130 and flows into the ejectors 153 and 154 on the second air flow path 150. The ejectors 153 and 154 send ion air (that is, most of the ion air that forms the swirl flow F1) in the vicinity of the dust collection hole 42 of the suction unit 20 to the dust collection passage 191 and the third port 93 (FIG. 5). (See FIG. 22c). Thereby, the foreign material adhering on the board | substrate main surface 120 of the wiring board 110 is collect | recovered with ion air. Note that the total flow rate of ion air sucked from the dust collection holes 42 is set to be larger than the total flow rate of ion air ejected from the first air blowing holes 81.

次に、エアシリンダ15を駆動してロッドを後退させ、吸引部20を配線基板110と共に上昇させる。なお、吸引部20を上昇させる前の段階では、ロッドが下方に突出しているため、基板保持部材181の接触部184の先端面が吸引部20の吸引面21よりも上方に位置している。このとき、配線基板110に接触部184が接触しないため、配線基板110を傷付ける心配がない。そして、配線基板110を、基板支持台171から離間させるとともに、基板保持部材181の接触部184に近づける。その結果、各接触部184の面取り部185が配線基板110の外周縁(四辺)に接触し、配線基板110が位置ずれ不能に保持固定される(図24参照)。なお図24では、説明の便宜上、吸引面21と基板主面120との隙間を大きくしているが、実際の隙間はもっと狭く(例えば1mm以下)になっている。   Next, the air cylinder 15 is driven to retract the rod, and the suction unit 20 is raised together with the wiring board 110. In the stage before raising the suction part 20, the rod projects downward, so that the tip surface of the contact part 184 of the substrate holding member 181 is located above the suction surface 21 of the suction part 20. At this time, since the contact portion 184 does not contact the wiring board 110, there is no fear of damaging the wiring board 110. Then, the wiring substrate 110 is separated from the substrate support 171 and brought close to the contact portion 184 of the substrate holding member 181. As a result, the chamfered portion 185 of each contact portion 184 comes into contact with the outer peripheral edge (four sides) of the wiring board 110, and the wiring board 110 is held and fixed so that it cannot be displaced (see FIG. 24). In FIG. 24, for convenience of explanation, the gap between the suction surface 21 and the substrate main surface 120 is enlarged, but the actual gap is narrower (for example, 1 mm or less).

この状態において、CPU102は、第1電磁弁162に駆動信号を出力する。これにより、第1電磁弁162が開状態に切り替わり、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130及び第3エア流路160を通過して基板吸着流路158上のエジェクタ163,164に流入する。なお、エジェクタ163,164は、吸引部20の真空吸着穴45近傍にあるイオンエアを、吸着流路195、第1ポート91(図5,図22のa参照)を介して真空引きする。その結果、ベルヌーイ効果による吸引力と真空引きによる吸着力とによって、配線基板110の基板主面120が吸引面21により安定的に吸引保持される。なお本実施形態では、ベルヌーイ効果を利用して配線基板110を吸引する力よりも、真空引きによって配線基板110を吸着する力のほうが大きくなっている。   In this state, the CPU 102 outputs a drive signal to the first electromagnetic valve 162. As a result, the first electromagnetic valve 162 is switched to the open state, and the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply channel 130 and the third air channel 160 on the substrate adsorption channel 158. It flows into the ejectors 163 and 164. The ejectors 163 and 164 evacuate the ion air in the vicinity of the vacuum suction hole 45 of the suction unit 20 through the suction flow path 195 and the first port 91 (see a in FIGS. 5 and 22). As a result, the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is stably held by the suction surface 21 by the suction force by the Bernoulli effect and the suction force by vacuuming. In the present embodiment, the force for attracting the wiring board 110 by vacuuming is greater than the force for attracting the wiring board 110 using the Bernoulli effect.

次に、搬送用多関節ロボット2のアーム3を駆動し、検査工程用のラインに配線基板110を搬送する。そして、検査工程用のラインにおいて配線基板110の釈放を行い、検査工程用のラインの基板支持台上に配線基板110を配置する。具体的に言うと、CPU102は、第2電磁弁168に駆動信号を出力する。これにより、第2電磁弁168が開状態に切り替わり、エア供給源131から送り出された加圧エアが、エア供給流路130及び第3エア流路160を通過して真空破壊流路159に導かれ、エアフィルタ167と吸引部20とをつなぐ接続流路に供給される。その結果、接続流路の真空破壊が行われ、接続流路の真空度が弱められ、配線基板110を吸引する力が弱くなる。   Next, the arm 3 of the transfer articulated robot 2 is driven to transfer the wiring board 110 to the inspection process line. Then, the wiring substrate 110 is released in the inspection process line, and the wiring substrate 110 is placed on the substrate support of the inspection process line. Specifically, the CPU 102 outputs a drive signal to the second electromagnetic valve 168. As a result, the second electromagnetic valve 168 is switched to the open state, and the pressurized air sent from the air supply source 131 passes through the air supply flow path 130 and the third air flow path 160 and is guided to the vacuum break flow path 159. Then, the air is supplied to the connection flow path connecting the air filter 167 and the suction unit 20. As a result, the vacuum of the connection channel is performed, the degree of vacuum of the connection channel is weakened, and the force for sucking the wiring board 110 is weakened.

次に、エアシリンダ15を駆動してロッドを突出させることにより、吸引部20を下降させる。これにより、配線基板110の基板主面120に吸引部20の吸引面21が接近するとともに、配線基板110が基板保持部材181から遠ざけられて各接触部184と非接触の状態となる。そして、CPU102は、電磁弁143を閉状態に切り替える制御を行い、第1エア流路140を遮断する。それと同時に、CPU102は、電磁弁152を閉状態に切り替える制御を行って第2エア流路150を遮断するとともに、第1電磁弁162及び第2電磁弁168を閉状態に切り替える制御を行って第3エア流路160を遮断する。これにより、吸引部20へのイオンエアの供給が停止され、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82からのイオンエアの噴出が終了する。また、集塵穴42からのイオンエアの吸引が終了するとともに、真空吸着穴45からのイオンエアの真空引きが終了する。その結果、搬送工程が終了し、配線基板110が検査工程用のラインの基板支持台上に配置される。   Next, the suction portion 20 is lowered by driving the air cylinder 15 to project the rod. As a result, the suction surface 21 of the suction portion 20 approaches the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110, and the wiring substrate 110 is moved away from the substrate holding member 181 and is not in contact with each contact portion 184. And CPU102 performs control which switches the solenoid valve 143 to a closed state, and interrupts | blocks the 1st air flow path 140. FIG. At the same time, the CPU 102 performs control for switching the electromagnetic valve 152 to the closed state to shut off the second air flow path 150 and performs control to switch the first electromagnetic valve 162 and the second electromagnetic valve 168 to the closed state. 3 Shut off the air flow path 160. Thereby, the supply of ion air to the suction unit 20 is stopped, and the ejection of ion air from the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82 is completed. Further, the suction of ion air from the dust collection hole 42 is completed, and the evacuation of ion air from the vacuum suction hole 45 is completed. As a result, the transfer process is completed, and the wiring board 110 is placed on the board support base of the inspection process line.

従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。   Therefore, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態の非接触搬送装置1では、第2エア吹出穴82から配線基板110の基板主面120に向けてイオンエアを吹き付けることで、基板主面120上の異物をエアで吹き飛ばして除去することができる。ゆえに、搬送後の導通検査において、基板主面120上のはんだバンプ118に対してプローブ(図示略)を当接させた際に、プローブとはんだバンプ118との間に導通しない異物が噛み込むことが防止される。その結果、配線基板110が異物の存在に起因して不良品であると判定されにくくなるため、配線基板110の歩留まりを向上することができる。   (1) In the non-contact conveyance device 1 of the present embodiment, by blowing ion air from the second air blowing hole 82 toward the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110, foreign matter on the substrate main surface 120 is blown away with air. Can be removed. Therefore, in the continuity inspection after conveyance, when a probe (not shown) is brought into contact with the solder bump 118 on the substrate main surface 120, foreign matter that does not conduct is caught between the probe and the solder bump 118. Is prevented. As a result, it is difficult to determine that the wiring board 110 is a defective product due to the presence of foreign matter, so that the yield of the wiring board 110 can be improved.

(2)例えば、第1エア吹出穴81から噴出するイオンエアの一部を配線基板110の基板主面120に向けて吹き付けることで、基板主面120上の異物を除去することが考えられる。しかし、第1エア吹出穴81から噴出するイオンエアは凹部73の内周面に沿って流れるため、イオンエアの一部は基板主面120に対して斜めに吹き付けられるようになる。その結果、イオンエアが基板主面120に衝突する勢いが弱くなるため、基板主面120上の異物を除去し切れない可能性がある。しかも、第1エア吹出穴81から噴出するイオンエアの一部を異物の除去のために用いると、その分だけ旋回流F1を形成するために用いられるイオンエアの量が減ってしまう。その結果、大きな旋回流F1の形成が困難になり、旋回流F1によって配線基板110の吸引に必要な負圧を発生させることが困難になることにより、配線基板110を吸引できなくなる可能性もある。   (2) For example, it is conceivable to remove foreign substances on the substrate main surface 120 by blowing a part of ion air ejected from the first air blowing holes 81 toward the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110. However, since the ionic air ejected from the first air blowing hole 81 flows along the inner peripheral surface of the recess 73, a part of the ionic air is blown obliquely with respect to the substrate main surface 120. As a result, the momentum of the ion air colliding with the substrate main surface 120 is weakened, so that there is a possibility that foreign matter on the substrate main surface 120 cannot be completely removed. In addition, if a part of the ion air ejected from the first air blowing hole 81 is used for removing foreign substances, the amount of ion air used to form the swirl flow F1 is reduced accordingly. As a result, it becomes difficult to form a large swirling flow F1, and it becomes difficult to generate a negative pressure necessary for sucking the wiring board 110 by the swirling flow F1, and thus the wiring board 110 may not be sucked. .

そこで本実施形態では、旋回流形成用のイオンエアを噴出する第1エア吹出穴81とは別に、異物除去用のイオンエアを噴出する第2エア吹出穴82を設けている。しかも本実施形態では、第2エア吹出穴82から基板主面120に向けて垂直にイオンエアを吹き付けている。その結果、基板主面120に向けて斜めにイオンエアを吹き付ける場合よりも、イオンエアが基板主面120に衝突する勢いが強くなるため、基板主面120上の異物をより確実に除去することができる。また、第1エア吹出穴81から噴出するイオンエアの全てを旋回流形成用のイオンエアとしているため、大きな旋回流F1を形成することができ、旋回流F1により発生する負圧によって配線基板110を確実に吸引することができる。   Therefore, in the present embodiment, a second air blowing hole 82 for ejecting ion air for removing foreign matter is provided separately from the first air blowing hole 81 for ejecting ion air for forming a swirling flow. In addition, in the present embodiment, ion air is blown vertically from the second air blowing hole 82 toward the substrate main surface 120. As a result, since the moment of collision of ion air against the substrate main surface 120 is stronger than when ion air is blown obliquely toward the substrate main surface 120, foreign matter on the substrate main surface 120 can be more reliably removed. . In addition, since all of the ion air ejected from the first air blowing holes 81 is ion air for forming the swirl flow, a large swirl flow F1 can be formed, and the wiring board 110 is reliably secured by the negative pressure generated by the swirl flow F1. Can be aspirated.

(3)本実施形態では、第1エア吹出穴81から噴出して旋回流F1を形成するエアをイオンエアとしているため、イオンエアを噴出するエア吹出穴を第1エア吹出穴81とは別々に設ける必要がない。しかも、第1エア吹出穴81から噴出されるエアだけでなく、第2エア吹出穴82から噴出されるエアもイオンエアである。このため、第2エア吹出穴82から噴出されるエアに、基板主面120上の異物を除去する機能だけでなく、静電気を中和させる機能も持たせることができる。従って、配線基板110に帯電した静電気を効率良く中和させることができる。しかも、本実施形態の吸引部20では、旋回流F1を形成するエアと異物を除去するエアとが共通の流路を介して供給され、ノズル本体61内において第1エア吹出穴81と第2エア吹出穴82とに振り分けられている。このため、旋回流形成用のエアが流れる旋回流形成流路と異物除去用のエアが流れる異物除去流路とを別々に形成する場合に比べて、吸引部20の小型化、軽量化、構成の簡略化を図ることができる。   (3) In the present embodiment, since the air that is ejected from the first air blowing hole 81 to form the swirl flow F1 is ionized air, the air blowing hole for ejecting ionized air is provided separately from the first air blowing hole 81. There is no need. Moreover, not only the air ejected from the first air blowing hole 81 but also the air ejected from the second air blowing hole 82 is ion air. For this reason, the air ejected from the second air blowing hole 82 can have a function of neutralizing static electricity as well as a function of removing foreign matter on the substrate main surface 120. Therefore, static electricity charged on the wiring board 110 can be neutralized efficiently. Moreover, in the suction unit 20 of the present embodiment, the air that forms the swirling flow F1 and the air that removes the foreign matter are supplied through a common flow path, and the first air blowing hole 81 and the second air in the nozzle body 61 are supplied. The air is distributed to the air blowing holes 82. For this reason, compared with the case where the swirl flow forming flow path through which the air for forming the swirl flow flows and the foreign substance removal flow path through which the air for removing the foreign substances are separately formed, the suction unit 20 is reduced in size, weight, and configuration. Can be simplified.

(4)本実施形態では、凹部73の内周面にて開口する第1エア吹出穴81が設けられるとともに、凹部73の中心に除塵用ノズル75が突設されている。このため、第1エア吹出穴81から噴出したイオンエアは、凹部73の内壁面76と除塵用ノズル75の外周面との間の空間(案内流路)内を流れる。なお、案内流路は円形状をなしているため(図7,図17参照)、第1エア吹出穴81から噴出したイオンエアは、案内流路内を流れることによって確実に旋回流F1となる。ゆえに、第1エア吹出穴81から噴出したイオンエアが、凹部73の内周面の中心に向かって流れたり、旋回流F1とならずに凹部73外に放出されたりすることを防止できるため、イオンエアの無駄をなくすことができる。   (4) In the present embodiment, a first air blowing hole 81 that opens on the inner peripheral surface of the recess 73 is provided, and a dust removal nozzle 75 is provided in the center of the recess 73. For this reason, the ion air ejected from the first air blowing hole 81 flows in the space (guide flow path) between the inner wall surface 76 of the recess 73 and the outer peripheral surface of the dust removal nozzle 75. Since the guide channel has a circular shape (see FIGS. 7 and 17), the ion air ejected from the first air blowing hole 81 surely becomes the swirl flow F1 by flowing in the guide channel. Therefore, the ion air ejected from the first air blowing hole 81 can be prevented from flowing toward the center of the inner peripheral surface of the recess 73 or being discharged outside the recess 73 without being the swirl flow F1. Can eliminate waste.

(5)従来の搬送方法として、エア吸着穴が開口された吸着ヘッドの下面に配線基板110の基板主面120を負圧で吸着し、この状態で、配線基板110を吸着ヘッドとともに搬送する技術が提案されている。しかし、吸着ヘッドで配線基板110を搬送すると、基板主面120上に配置された突起電極(端子パッド116及びはんだバンプ118)が吸着ヘッドに押し潰されて変形してしまう可能性がある。   (5) As a conventional transfer method, the main surface 120 of the wiring board 110 is sucked with a negative pressure on the lower surface of the suction head having an air suction hole, and the wiring board 110 is transported together with the suction head in this state. Has been proposed. However, when the wiring substrate 110 is transported by the suction head, the protruding electrodes (terminal pads 116 and solder bumps 118) arranged on the substrate main surface 120 may be crushed by the suction head and deformed.

そこで本実施形態では、基板保持固定時に、基板保持部材181の接触部184に設けられた面取り部185を配線基板110の外周縁に接触させている。これにより、基板主面120の吸引面21への接触が避けられるため、基板主面120上の突起電極を傷付けなくて済むようになる。また、面取り部185が配線基板110の外周縁に接触することで、配線基板110と接触部184との接触面積が小さくなるため、配線基板110が傷付くことを確実に防止できる。   Therefore, in the present embodiment, the chamfered portion 185 provided on the contact portion 184 of the substrate holding member 181 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110 when the substrate is held and fixed. As a result, contact of the substrate main surface 120 with the suction surface 21 can be avoided, so that the protruding electrodes on the substrate main surface 120 need not be damaged. Further, since the contact area between the wiring substrate 110 and the contact portion 184 is reduced by the chamfered portion 185 coming into contact with the outer peripheral edge of the wiring substrate 110, the wiring substrate 110 can be reliably prevented from being damaged.

なお、本実施形態を以下のように変更してもよい。   In addition, you may change this embodiment as follows.

・上記実施形態の第2エア吹出穴82は、凹部73の中心(具体的には除塵用ノズル75の先端)にて開口するように配置されていた。しかし、第2エア吹出穴82は、例えば、除塵用ノズル75の外周面にて開口するように配置されていてもよいし、凹部73の内周面の外周部にて開口するように配置されていてもよい。即ち、第2エア吹出穴82は、凹部73内にて開口するのであれば、どの部分に配置されていてもよい。しかし、第2エア吹出穴82は、凹部73の中心にて開口するように配置されることが好ましい。仮に、第2エア吹出穴82を凹部73の中心にて開口させなければ、第2エア吹出穴82から噴出したイオンエアが旋回流F1に衝突して流れを乱してしまうおそれがある。   -The 2nd air blowing hole 82 of the said embodiment was arrange | positioned so that it might open in the center of the recessed part 73 (specifically front-end | tip of the dust removal nozzle 75). However, the second air blowing hole 82 may be disposed so as to be opened at the outer peripheral surface of the dust removal nozzle 75 or may be disposed so as to be opened at the outer peripheral portion of the inner peripheral surface of the recess 73. It may be. That is, the second air blowing hole 82 may be disposed in any portion as long as it opens in the recess 73. However, the second air blowing hole 82 is preferably arranged so as to open at the center of the recess 73. If the second air blowing hole 82 is not opened at the center of the recess 73, ion air ejected from the second air blowing hole 82 may collide with the swirling flow F1 and disturb the flow.

・上記実施形態において、凹部73の中心に突設されている除塵用ノズル75を省略し、第2エア吹出穴82を凹部73の内周面にて開口させるようにしてもよい。   In the above embodiment, the dust removal nozzle 75 protruding from the center of the recess 73 may be omitted, and the second air blowing hole 82 may be opened on the inner peripheral surface of the recess 73.

・上記実施形態では、第1エア吹出穴81及び第2エア吹出穴82から噴出されるエアとして、イオナイザ141から放出されるイオンエアが用いられていた。しかし、エア吹出穴81,82から噴出されるエアは、イオンエアに限定される訳ではなく、イオンが混合されていない通常のエアであってもよい。   In the above-described embodiment, ion air discharged from the ionizer 141 is used as the air discharged from the first air blowing hole 81 and the second air blowing hole 82. However, the air ejected from the air blowing holes 81 and 82 is not limited to ion air, and may be normal air in which ions are not mixed.

・上記実施形態において、集塵ユニット151及び吸着ユニット161の少なくとも一方を省略してもよい。また、吸着ユニット161を省略しない場合、吸着ユニット161の真空破壊流路159上に設置された機器(第2電磁弁168、流量調整弁169及び圧力スイッチ170)を省略してもよい。   In the above embodiment, at least one of the dust collection unit 151 and the adsorption unit 161 may be omitted. Further, when the adsorption unit 161 is not omitted, the devices (second electromagnetic valve 168, flow rate adjustment valve 169, and pressure switch 170) installed on the vacuum breaking channel 159 of the adsorption unit 161 may be omitted.

・上記実施形態では、基板保持部材181の接触部184に静電電位センサ105が設置されていたが、静電電位センサ105は、基板支持台171などの他の場所に設置されていてもよい。   In the above embodiment, the electrostatic potential sensor 105 is installed at the contact portion 184 of the substrate holding member 181, but the electrostatic potential sensor 105 may be installed at another location such as the substrate support 171. .

・上記実施形態では、エア供給バルブ132、イオナイザ141、電磁弁143、電磁弁152、第1電磁弁162及び第2電磁弁168の制御を1つのCPU102で制御するようにしたが、各制御を別々のCPUで行うように構成してもよい。   In the above embodiment, the control of the air supply valve 132, the ionizer 141, the electromagnetic valve 143, the electromagnetic valve 152, the first electromagnetic valve 162, and the second electromagnetic valve 168 is controlled by one CPU 102. You may comprise so that it may be performed by a separate CPU.

・上記実施形態では、配線基板110の基板主面120を吸引面21に吸引保持した後、ロッドを後退させて吸引部20を配線基板110と共に上昇させることにより、基板保持部材181の接触部184を配線基板110の外周縁に接触させて、配線基板110を位置ずれ不能に保持固定していた。しかし、ロッドが後退した状態の搬送ヘッド11を下降させて吸引部20を配線基板110に接近させると同時に、接触部184を配線基板110の外周縁に接触させ、その後に吸引部20によって配線基板110を吸引保持してもよい。   In the above embodiment, the substrate main surface 120 of the wiring substrate 110 is sucked and held by the suction surface 21, and then the rod is moved backward to raise the suction portion 20 together with the wiring substrate 110, whereby the contact portion 184 of the substrate holding member 181. Is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110, and the wiring board 110 is held and fixed so that it cannot be displaced. However, the transport head 11 with the rod retracted is lowered to bring the suction part 20 closer to the wiring board 110, and at the same time, the contact part 184 is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board 110. 110 may be sucked and held.

・上記実施形態の非接触搬送装置1は、単一製品の配線基板110を搬送するようになっていたが、例えば、配線基板110となるべき基板形成領域が平面方向に沿って複数配置された多数個取り用配線基板を搬送するようにしてもよい。   -Although the non-contact conveyance apparatus 1 of the said embodiment was designed to convey the wiring board 110 of a single product, for example, a plurality of board formation regions which should become the wiring board 110 were arranged along the plane direction. A multi-piece wiring board may be transported.

・上記実施形態では、吸引部20を装着した搬送用多関節ロボット2を用いて配線基板110を搬送していたが、吸引部20を装着したコンベアなどの搬送手段を用いて配線基板110を搬送してもよい。   In the above embodiment, the wiring board 110 is transported using the transporting articulated robot 2 equipped with the suction unit 20, but the wiring board 110 is transported using transporting means such as a conveyor equipped with the suction unit 20. May be.

次に、前述した実施形態によって把握される技術的思想を以下に列挙する。   Next, the technical ideas grasped by the embodiment described above are listed below.

(1)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴とは異なる位置に設け、前記吸引部とは別体にイオナイザを設け、前記イオナイザから放出されるイオンエアを前記エア吹出穴から噴出するエアとして用いることを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (1) The suction surface is provided with a concave portion, and has a suction portion provided with a first air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the concave portion, from the first air blowing hole to the inner peripheral surface of the concave portion. In a non-contact transfer device that transports the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred by sucking and holding the substrate main surface to the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along, for blowing air to the substrate main surface A second air blowing hole is provided in the recess at a position different from the first air blowing hole, an ionizer is provided separately from the suction portion, and ion air discharged from the ionizer is jetted from the air blowing hole. A non-contact transfer device for a wiring board, which is used as air.

(2)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴とは異なる位置に設け、前記基板主面上の異物を回収する集塵穴を前記吸引面における前記凹部の外側領域にて開口するように配設したことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (2) The suction surface is provided with a recess, and has a suction portion provided with a first air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the recess, and the first air blowing hole extends from the first air blowing hole to the inner peripheral surface of the recess. In a non-contact transfer device that transports the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred by sucking and holding the substrate main surface to the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along, for blowing air to the substrate main surface A second air blowing hole is provided in the recess at a position different from the first air blowing hole, and a dust collecting hole for collecting foreign matter on the main surface of the substrate is opened in an outer region of the recess on the suction surface. A non-contact transfer device for a wiring board, which is arranged as described above.

(3)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴とは異なる位置に設け、前記基板主面を前記吸引面に吸引保持した際に前記配線基板の外周縁に接触させて、前記配線基板を位置ずれ不能に保持固定する基板保持部材を設けたことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (3) The suction surface is provided with a recess, and has a suction portion provided with a first air blowing hole that opens at the inner circumferential surface of the recess, and the first air blowing hole extends from the first air blowing hole to the inner circumferential surface of the recess. In a non-contact transfer device that transports the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred by sucking and holding the substrate main surface to the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along, for blowing air to the substrate main surface A second air blowing hole is provided in the recess at a position different from the first air blowing hole, and the wiring board is brought into contact with the outer peripheral edge of the wiring board when the board main surface is sucked and held by the suction face. A non-contact transfer device for a wiring board, comprising a board holding member for holding and fixing the board so that the board cannot be displaced.

(4)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴とは異なる位置に設け、真空引きするための真空吸着穴を、前記凹部の外側領域にて開口するように配設したことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (4) The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with a first air blowing hole that opens at the inner circumferential surface of the recess, and the first air blowing hole is provided on the inner circumferential surface of the recess. In a non-contact transfer device that transports the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transferred by sucking and holding the substrate main surface to the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along, for blowing air to the substrate main surface A second air blowing hole is provided in a position different from the first air blowing hole in the recess, and a vacuum suction hole for evacuating is disposed so as to open in an outer region of the recess. Wiring board non-contact transfer device.

(5)吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、前記吸引部は、金属材料からなる吸引部本体と、前記吸引部本体の下面にて開口する収容凹部に収容された筒状のノズル本体と、前記収容凹部の開口端面に取り付けられる樹脂製パッドとを備え、前記吸引面の一部を構成する前記ノズル本体の下端面に凹部を設け、前記凹部の中心に除塵用ノズルを突設し、前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記除塵用ノズルの先端にて開口するように設け、前記ノズル本体の内部に、前記第1エア吹出穴及び前記第2エア吹出穴の両方にエアを供給する共通のエア流路を設け、前記エア流路の内壁面及び前記ノズル本体の外周面にて開口する迂回流路を設け、前記迂回流路を通過して前記ノズル本体の外周面と前記収容凹部の内周面側との間に生じる空間に導かれたエアを、前記ノズル本体の外周面にて開口する前記第1エア吹出穴に導くようにし、前記基板主面上の異物を回収する集塵穴を、前記吸引面における前記凹部を包囲するように凹部外周縁に沿って複数箇所にて開口するように複数配設し、真空引きするための真空吸着穴を、前記凹部の外側領域にて開口するように複数配設し、複数の前記真空吸着穴に連通する個々の吸着流路を前記吸引部本体の内部にて共通吸着流路に合流させ、複数の前記集塵穴に連通する個々の集塵流路を前記吸引部本体の内部にて共通集塵流路に合流させるとともに、前記共通吸着流路及び前記共通集塵流路を真空引き手段に接続することを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。   (5) The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with a first air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the recess, and is provided from the first air blowing hole to the inner peripheral surface of the recess. In the non-contact transfer device that holds the substrate main surface of the wiring board, which is a transfer object, by sucking and holding the suction surface by the negative pressure generated by the air jetted along, the suction portion is a suction made of a metal material A main body, a cylindrical nozzle body housed in a housing recess opened at the lower surface of the suction body, and a resin pad attached to the opening end surface of the housing recess, and a part of the suction surface A concave portion is provided in the lower end surface of the nozzle body to be configured, a dust removal nozzle is projected from the center of the concave portion, and a second air blowing hole for blowing air to the substrate main surface is formed at the tip of the dust removal nozzle. Provided to open, said nose A common air flow path for supplying air to both the first air blowing hole and the second air blowing hole is provided inside the main body, and is opened at the inner wall surface of the air flow path and the outer peripheral surface of the nozzle main body. Air that is passed through the bypass flow path and is generated between the outer peripheral surface of the nozzle body and the inner peripheral surface side of the housing recess is provided on the outer peripheral surface of the nozzle body. The dust collecting holes for collecting foreign matter on the main surface of the substrate are arranged at a plurality of locations along the outer peripheral edge of the recess so as to surround the recess on the suction surface. A plurality of vacuum suction holes are provided so as to be opened, and a plurality of vacuum suction holes for evacuation are provided so as to open in an outer region of the recess, and individual suction flow paths communicating with the plurality of vacuum suction holes are provided. Combined with the common adsorption flow path inside the suction unit body, a plurality of front The individual dust collecting channels communicating with the dust collecting holes are joined to the common dust collecting channel inside the suction unit main body, and the common adsorption channel and the common dust collecting channel are connected to the vacuum drawing means. A non-contact transfer device for a wiring board.

本発明を具体化した一実施形態の非接触搬送装置を示す概略図。Schematic which shows the non-contact conveying apparatus of one Embodiment which actualized this invention. 配線基板の概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of a wiring board. 搬送ヘッドの概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of a conveyance head. 搬送ヘッドの概略構成を示す側面図。The side view which shows schematic structure of a conveyance head. 吸引部を示す正面図。The front view which shows a suction part. 吸引部を示す上面図。The top view which shows a suction part. 吸引部を示す下面図。The bottom view which shows a suction part. 図6のA−A線断面図。AA line sectional view of Drawing 6. 上蓋部を示す上面図。The top view which shows an upper cover part. 吸引部本体を示す上面図。The top view which shows a suction part main body. 図10のB−B線断面図。BB sectional drawing of FIG. 吸引部本体を示す下面図。The bottom view which shows a suction part main body. ノズル支持体を示す上面図。The top view which shows a nozzle support body. 図13のC−C線断面図。CC sectional view taken on the line of FIG. ノズル本体を示す正面図。The front view which shows a nozzle main body. ノズル本体を示す上面図。The top view which shows a nozzle main body. ノズル本体を示す下面図。The bottom view which shows a nozzle main body. 図16のD−D線断面図。The DD sectional view taken on the line of FIG. 樹脂製パッドを示す上面図。The top view which shows resin-made pads. 図19のE−E線断面図。EE sectional view taken on the line of FIG. 図19のF−F線断面図。FF sectional view taken on the line of FIG. 非接触搬送装置を示す回路図。The circuit diagram which shows a non-contact conveying apparatus. 配線基板の非接触搬送方法を示す説明図。Explanatory drawing which shows the non-contact conveyance method of a wiring board. 配線基板の非接触搬送方法を示す説明図。Explanatory drawing which shows the non-contact conveyance method of a wiring board.

符号の説明Explanation of symbols

1…非接触搬送装置
20…吸引部
21…吸引面
71…共通の流路としてのエア流路
73…凹部
75…除塵用ノズル
81…第1エア吹出穴
82…第2エア吹出穴
110…被搬送物としての配線基板
116…突起電極としての端子パッド
118…突起電極としてのはんだバンプ
119…電極形成領域
120…基板主面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Non-contact conveying apparatus 20 ... Suction part 21 ... Suction surface 71 ... Air flow path 73 as a common flow path ... Recess 75 ... Dust removal nozzle 81 ... 1st air blowing hole 82 ... 2nd air blowing hole 110 ... Covered Wiring substrate 116 as a transported object ... Terminal pad 118 as a protruding electrode ... Solder bump 119 as a protruding electrode ... Electrode forming region 120 ... Main surface of substrate

Claims (6)

吸引面に凹部が設けられるとともに、前記凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴が設けられた吸引部を備え、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生する負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する非接触搬送装置において、
前記凹部の中心には除塵用ノズルが突設され、
前記基板主面にエアを吹き付けるための第2エア吹出穴を前記凹部内において前記第1エア吹出穴よりも前記凹部の中心に近接した位置に設けるべく、前記第2エア吹出穴が前記除塵用ノズルの先端にて開口するように配置されている
ことを特徴とする配線基板の非接触搬送装置。
The suction surface is provided with a recess, and is provided with a suction portion provided with a first air outlet hole that opens at the inner peripheral surface of the recess, and is ejected from the first air outlet hole along the inner peripheral surface of the recess. In the non-contact transport device that transports the substrate main surface of the wiring substrate that is the object to be transported by sucking and holding the suction surface by the negative pressure generated by the air,
A dust removal nozzle projects from the center of the recess,
The second air blowing port for blowing air to the substrate main surface, Rubeku provided at a position close to the center of the recess than the first air blowing port in the recess, said second air blowing port the A non-contact transfer device for a wiring board, wherein the non-contact transfer device is arranged to open at a tip of a dust removal nozzle .
前記第2エア吹出穴の中心軸線は、前記配線基板の前記基板主面に対して垂直に配置されていることを特徴とする請求項に記載の配線基板の非接触搬送装置。 It said second central axis of the air blowing holes, non-contact transport apparatus of the wiring substrate according to claim 1, characterized in that it is arranged perpendicular to the substrate main surface of the wiring board. 前記吸引部は、前記第1エア吹出穴及び前記第2エア吹出穴にそれぞれのエアを供給する共通の流路をその内部に有することを特徴とする請求項1または2に記載の配線基板の非接触搬送装置。 3. The wiring board according to claim 1, wherein the suction portion includes a common flow path for supplying air to the first air blowing hole and the second air blowing hole. Non-contact transfer device. 前記配線基板は、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板であることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の配線基板の非接触搬送装置。 The wiring board, the wiring board according to the plurality of projecting electrodes are electrodes formed areas arranged in any one of claims 1 to 3, characterized in that a resin wiring board having on the substrate main surface Non-contact transfer device. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の非接触搬送装置を用いて、複数の突起電極が配置された電極形成領域を前記基板主面上に有する樹脂製配線基板を搬送する搬送工程を行うことにより、前記樹脂製配線基板を製造する方法であって、
前記第2エア吹出穴から前記基板主面に向けてエアを吹き付けることで前記基板主面上の異物を除去する除塵工程を、前記搬送工程と同時に行う
ことを特徴とする樹脂製配線基板の製造方法。
Using the non-contact transfer device according to any one of claims 1 to 4 , a transfer step of transferring a resin wiring board having an electrode forming region on which the plurality of protruding electrodes are arranged on the substrate main surface. A method of manufacturing the resin wiring board by performing:
Manufacturing a resin wiring board, wherein a dust removing step of removing foreign matter on the main surface of the substrate by blowing air from the second air blowing hole toward the main surface of the substrate is performed simultaneously with the transporting step. Method.
吸引部の吸引面に設けられた凹部の内周面にて開口する第1エア吹出穴を設け、前記第1エア吹出穴から前記凹部の内周面に沿って噴出したエアにより発生した負圧によって、被搬送物である配線基板の基板主面を前記吸引面に吸引保持して搬送する方法において、
前記凹部内において前記第1エア吹出穴よりも前記凹部の中心に近接した位置に設けるべく、前記凹部の中心に突設された除塵用ノズルの先端にて開口するように配置された第2エア吹出穴から前記配線基板の前記基板主面に向けてエアを吹き付けることで、前記基板主面上の異物を除去するようにしたことを特徴とする配線基板の非接触搬送方法。
A negative pressure generated by air ejected from the first air blowing hole along the inner peripheral surface of the recess is provided with a first air blowing hole that opens at the inner peripheral surface of the concave portion provided on the suction surface of the suction portion. By the method of transporting the substrate main surface of the wiring board that is the object to be transported by suction holding the suction surface,
Rubeku provided at a position close to the center of the recess than the first air blowing port in the recess, the second arranged to open at the tip of the dust nozzle projecting from the center of the recess A non-contact conveyance method of a wiring board, wherein foreign matter on the main surface of the substrate is removed by blowing air toward the main surface of the wiring substrate from an air blowing hole.
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