JP4636714B2

JP4636714B2 - Signal processing method, image reading apparatus, program, and medium

Info

Publication number: JP4636714B2
Application number: JP2001074324A
Authority: JP
Inventors: 謙悟絹村; 貢英; 勉高山; 敦子柏崎
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2001-03-15
Filing date: 2001-03-15
Publication date: 2011-02-23
Anticipated expiration: 2021-03-15
Also published as: CN1829278A; CN100459656C; JP2002279414A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、信号処理方法、画像読取装置プログラムおよび媒体に関し、更に詳しくは原稿上のゴミやキズによる欠陥部分等を補正する信号処理方法、画像読取装置、プログラムおよび媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の例えば透過原稿の画像読取装置における概略構成を図１３に示す。図１３において、原稿台ガラス１４１上に載置されたポジ、ネガ等の透過原稿１４２を、さらにその上部に設置された拡散板１４３を介して透過原稿照明用ランプ１４４で照明し、透過原稿１４２からの透過光を、ミラー１４７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を介してＣＣＤ１５０に送り、多数の単位個体撮像素子がライン状に配置されたＣＣＤ１５０にて電気信号に変換することにより主走査方向の画像を形成する。
【０００３】
この場合の副走査方向の画像形成は、透過原稿１４２に対して透過原稿照明用ランプ１４４、ミラー１４７を同一速度、同一位相を保ったまま、副走査方向に機械的に移動させ、ハノ字ミラー１４８を同方向に走査速度２分の１で追従させ、透過原稿１４２からＣＣＤ１５０までの光路長（共役関係）を一定に保ちながら行い、主走査と合わせてトータルで２次元の画像を形成する。
【０００４】
また、上記のような透過原稿の画像読取装置において、不透明の用紙に記載された原稿に光を照射して前記用紙から反射する光が処理されるタイプの所謂、反射原稿を読み取ることも可能である。その場合は、透過原稿１４２の代わりに反射原稿を載置し、透過原稿照明用ランプ１４４を消灯し、反射原稿照明用ランプ１４５を点灯させて反射原稿照明用ランプ１４５による直接光束と反射笠１４６による反射光束とにより照明し、反射原稿からの反射光をＣＣＤ１５０にて読み取れば、透過原稿の場合と同様に、主走査方向の画像を形成することができる。
【０００５】
特にカラー読み取り方式では、反射原稿照明用ランプ１４５に白色の分光特性を持つランプを用い、且つＣＣＤ１５０に、ＲＧＢそれぞれの色のフィルタを有する３ラインタイプＣＣＤを用いて、１回の走査にてＲＧＢの各色の画像情報を同時に読み、画像処理回路上にて、同一ライン上のＲＧＢの各色の信号を重ね合わせることによってカラー画像を形成する３ラインカラー画像読み取り方式が一般に知られている。
【０００６】
ところで、上記のような透過原稿の画像読取装置において、透過原稿上のゴミ・キズなどによる画像上の欠陥部分を補正するためには、画像読取後に画像編集ソフトによりレタッチ修正する以外に有効な方法がなかった。そのために、欠陥部分の補正には非常に時間を要していた。
【０００７】
近年、このような透過原稿用の画像読取装置において、透過原稿上に存在する埃などのゴミや、フィルム面の損傷（キズ）を検知し（以下、この検知を「ゴミ・キズ検知」という）、読み取られた画像から、これらのゴミやキズの影響を画像処理にて取り除く、いわゆるゴミ・キズ除去のための機能を備えた画像読取装置が開発されてきている。
【０００８】
図１４は、従来のゴミ・キズ検知用の機能を有する画像読取装置１を示す図であり、図１３に示した画像処理装置と同一の構成部分には同一の参照符号を付して、その説明を省略する。
【０００９】
図１４において、１５１は波長約８８０ｎｍに発光強度のピークを有するＬＥＤから成る赤外光ランプである。
【００１０】
また、図１５は、画像読取装置１により得られる画像データを用いて、ゴミ・キズ除去を行うゴミ・キズ除去部２の機能構成を示すブロック図である。図１５において、２１は画像読み取り装置１により読み込んだ画像データを入力するためのインターフェース（Ｉ／Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４４または反射原稿照明用ランプ１４５を用いて読み込んだ画像（以下、「普通画像」と呼ぶ。）を記憶するための画像メモリ、２３は赤外光ランプ１５１を用いて読み込んだ画像（以下、「赤外光画像」と呼ぶ。）を記憶するための赤外光画像メモリ、２４は予め決められた閾値を保持する閾値保持部、２５はゴミ・キズ検知部、２６はゴミ・キズ補正部である。
【００１１】
図１６は、透過原稿照明用ランプ１４４及び赤外光ランプ１５１の分光強度分布を示す図であり、各ランプの特性を実線、一点鎖線によってそれぞれ示す。また、図１７は一般的なネガ、ポジカラーフィルムのシアン色、イエロー色、マゼンタ色の各色素の分光透過率特性と、赤外光ランプ１５１の分光強度分布のピーク波長（約８８０ｍｍ）を示したものである。図１７にて明らかなように、一般的なカラーフィルムの場合には、どの色素であっても約８８０ｎｍにおける透過率は非常に高いため、フィルム上の画像によらず赤外光ランプの光束はほとんど通過することになる。
【００１２】
以下、ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透過原稿読取動作について、図１８に示すフローチャートに従って詳細に説明する。
【００１３】
先ず、ステップＳ１０において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。このとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／Ｆ２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。ここで、透過原稿がネガフィルムの場合には、反転処理でポジ画像を得てから画像メモリ２２に一時記憶される。
【００１４】
次に、ステップＳ２０において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図１６に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光はＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１７に示すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ・キズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された赤外光画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／Ｆ２１を介して赤外光画像メモリ２３に一時記憶される。
【００１５】
次にステップＳ３０以降の工程でゴミ・キズの検出及び補正を行うが、ゴミ・キズ検知の原理についてここで詳しく説明する。
【００１６】
図１９は、透過原稿照明用ランプ１４４及び赤外光ランプ１５１による読取画像の階調レベルを主走査方向にプロットしたものと、ゴミなどの関係をわかりやすく図示したものである。図１９（ａ）において、１８１はポジフィルム、１８２はポジフィルム１８１上のゴミである。図１９（ｂ）は図１９（ａ）の部分を透過原稿照明用ランプ１４４で読み取った場合の階調レベルであり、暗い部分ほど階調レベルは低い値を示しており、ゴミ１８２の部分の階調レベルは、ポジフィルム上の画像によらずに当然低くなっている。図１９（ｃ）は同じく図１９（ａ）の部分を赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベルであり、ゴミ１８２の部分の階調レベルは赤外光も通過しないために低くなり、ゴミ１８２以外の部分は赤外光が通過してしまうためにほぼ一定のレベル１８３となる。そこでレベル１８３よりも低い階調レベルに閾値１８４を設定し、閾値１８４以下の部分を抽出することでゴミによる欠陥領域１８５の検出が可能となる。
【００１７】
この閾値１８４は閾値保持部２４に予め保持されており、従って、ステップＳ３０において、ゴミ・キズ検知部２５は閾値保持部２４からこの閾値１８４を読み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像データを読み出して、順次赤外光画像データと閾値１８４とを比較することで、欠陥領域１８５を検出する。
【００１８】
赤外光画像データが閾値１８４よりも小さい場合は（ステップＳ３０でＮＯ）、ステップＳ４０でこの欠陥領域１８５を欠陥領域１８５の周囲の正常な領域から補間処理などを行うことにより、ゴミ１８２による影響を軽減する。上記比較動作を全ての赤外光画像データについて行い、欠陥領域が検出されると、対応する普通画像のデータに対して補間処理を行う（ステップＳ５０）。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、非可視光画像を用いてゴミ・キズの検知を行うためには、同じ原稿を非可視光による走査読取りと可視光による走査読取りというように2回読まなくてはならない。そのために光電変換手段、光学系、及びその処理回路の少なくとも一部を含む走査部にて原稿を走査する必要がある。すると、ゴミ・キズを検出するための非可視光走査読取りによる画像と、実際の画像情報を得るための可視光走査読取りによる画像との間に走査部の動作精度の問題等によるずれが生じ、結果的にゴミ・キズの除去が満足には出来ないという問題があった。
【００２０】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、原稿を読み取ってゴミ・キズを補正する場合に、複数回の走査動作の繰り返しのずれが生じても、適切なゴミ・キズ検出と補正を安定して行うことを目的とする。
【００２１】
さらに、照明、光センサおよび原稿の波長特性が必ずしも理想的な特性ではないために非可視光画像に可視光画像の影響が及ぶことがあり、また、フィルムホルダの影が非可視光画像に影響を及ぼすこともあり、ゴミ・キズによる欠陥ではない可視光画像を誤って補正するという問題があった。
【００２２】
本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、波長特性の理想からのずれや、フィルムホルダの影等による影響を軽減することを目的とする。
【００２３】
また、高い指定解像度で読とられた場合、画像データが多くなるため、普通画像と赤外光画像のゴミ・キズ位置検出するのに非常に長い時間を要することになるという問題があった。
【００２４】
本発明はさらに、上記問題点を鑑みてなされたものであり、ゴミ・キズ修復効果を低下させることなく、ゴミ・キズ除去処理を高速化することを目的とする。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、以下の様に構成される。
【００２６】
可視光を照射する可視光照射手段と、非可視光を照射する非可視光照射手段とによりそれぞれ原稿を照射し、原稿の光学像を光電変換して得られる可視光画像信号および非可視光画像信号を処理する信号処理方法であって、前記非可視光画像信号から第一のゴミ・キズ画像信号を生成する工程と、前記可視光画像信号において、前記第一のゴミ・キズ画像信号のゴミ・キズ位置に対応する画素を、所定画素ずつずらして、各ずらし量毎にゴミ・キズ位置に対応する画素の信号値の和を算出する算出工程を含む相関演算を行い、前記可視光画像と前記第一のゴミ・キズ画像とのズレ量を求めるズレ量検出工程と、前記ズレ量検出工程で検出されたズレ量と、前記非可視光画像信号を用いて前記可視光画像信号を補正する補正工程とを有し、前記補正工程は、前記非可視光画像信号から第二の閾値を用いて第二のゴミ・キズ画像信号を生成する工程を有し、前記ズレ量と第二のゴミ・キズ画像信号を用いて前記可視光画像信号を補正することを特徴とする信号処理方法。
【００４８】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００４９】
＜第一の実施形態＞
第一の実施の形態を図１から図３を用いて説明する。なお、画像読み取り装置の構成は図１４に示すものと同様であるので、説明を省略する。また図１は、本第一の実施形態の画像読取装置１から出力される画像信号に対してゴミ・キズ除去を行うゴミ・キズ除去部３の機能構成を示すブロック図である。なお、図１では、ゴミ・キズ除去部３は画像読み取り装置１とは別の装置として示されているが、画像読み取り装置１内部に構成しても構わない。
【００５０】
図１において、２１は画像読み取り装置１により読み込んだ画像データを入力するためのインターフェース（Ｉ／Ｆ）、２２は透過原稿照明用ランプ１４４または反射原稿照明用ランプ１４５を用いて読み込んだ画像を記憶するための画像メモリ、２３は赤外光ランプ１５１を用いて読み込んだ画像や、ゴミ・キズ位置を示す画像を記憶するための赤外光画像メモリ、２５はゴミ・キズ検知部、２６はゴミ・キズ補正部、３１はヒストグラム生成部、３２は閾値決定・保存部、３３は位置ずれ量検出部である。
【００５１】
次に、図２のフローチャートを参照しながら、本第一の実施形態におけるゴミ・キズ除去動作を行う場合の透過原稿読取動作について詳細に説明する。
【００５２】
先ず、ステップＳ２０１において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。このとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された画像は電気信号に変換され、図１のＩ／Ｆ２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。ここで、透過原稿がネガフィルムの場合、反転処理を行いポジ画像を得てから画像メモリ２２に一時記憶する（以下、「普通画像」と呼ぶ。）。透過原稿がネガフィルムであるか、ポジフィルムであるかは、予めユーザが指定する。
【００５３】
次に、ステップＳ２０２において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図１５に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光はＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１６に示すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ・キズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された赤外光画像は電気信号に変換され、図１のＩ／Ｆ２１を介して赤外光画像メモリ２３に一時記憶される（以下、「赤外光画像」と呼ぶ。）。
【００５４】
次に、ステップＳ２０３において、赤外光画像メモリ２３に一時記憶された赤外光画像データを用いて、３２の閾値決定・保持部にてステップＳ２０４で用いる閾値Laを算出し、保持する。この算出方法について後程説明する。
【００５５】
次に、ステップＳ２０４において、ゴミ・キズ検知部２５は閾値決定・保持部３２から閾値Ｌaを読み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像データを読み出して、順次赤外光画像データと閾値Ｌaとを比較することで、ゴミ・キズを検出し、第一ゴミ・キズ位置画像を生成し、赤外光画像メモリ２３に一時追加記憶する。
【００５６】
次にステップＳ２０５において、位置ずれ量検出部３３は、画像メモリ２２に記憶されている普通画像と赤外光画像メモリ２３に記憶されている第一ゴミ・キズ位置画像との位置ずれ量を検出する。検出の詳細は、後程説明する。
【００５７】
次にステップ２０６において、赤外光画像メモリ２３に一時記憶された赤外光画像データを用いて、３２の閾値決定・保持部にてステップＳ２０７で用いる閾値Ｌbを算出し、保持する。このＬｂの算出方法についても後程説明する。
【００５８】
次にステップＳ２０７において、ゴミ・キズ検知部２５は閾値決定・保持部３２から閾値Ｌbを読み出し、赤外光画像メモリ２３から赤外光画像データを読み出して、順次赤外光画像データと閾値Ｌbとを比較することで、ゴミ・キズを検出し、第二ゴミ・キズ位置画像を生成し、赤外光画像メモリ２３に一時追加記憶する。
【００５９】
次にステップＳ２０８において、補正部２６は、赤外光画像メモリ２３に記憶されている第二ゴミ・キズ位置画像からゴミ・キズ位置を読み出して、ステップ２０５で検出した位置ずれ量だけずらす。このずらした位置に対応する画像メモリ２２に記憶されている普通画像の画像データは、ゴミ・キズにより欠損が生じた欠陥領域のデータであると判断する。この普通画像の欠陥領域のデータを欠陥領域の周囲の正常な領域から補間処理などを行うことにより、ゴミ・キズによる影響を軽減する。第二ゴミ・キズ位置画像のゴミ・キズ位置の全てに対して、ステップ２０５で検出した位置ずれ量だけずらした位置に対応する普通画像の画像データを補正処理することにより、ゴミ・キズの影響の軽減された普通画像を得ることが出来る。
【００６０】
＜第二の実施形態＞
第二の実施の形態を図８から図１０を用いて説明する。図８（ａ）は、ポジフィルム１０１上にゴミ１０２がある状態を示し、図８の（ｂ）は図８（ａ）の部分を図１４に示す透過原稿照明用ランプ１４４で指定解像度によって読み取った場合の階調レベルを示す。ゴミ上での階調レベルは、光が透過しないため下に凸となった階調レベル分布が得られる。また、図８（ｃ）は同じく図８（ａ）の部分を図１４に示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベルを示し、特に指定解像度より大幅に低解像度で読み取った場合を示している。この場合、ゴミ・キズ情報をより低解像度で読み取ったために階調レベルが緩やかに変化する。赤外光画像図８（ｃ）のゴミ・キズの影響を受けていない階調レベルＬ１に対して、所定レベルΔＬ12として予め設定された閾値（あるいはヒストグラム及び階調レベル解析によって定められた閾値）だけ差を持つ階調レベルＬ２を設定し、階調レベルＬ２にて２値化処理し、ゴミ・キズ検知情報を確定する。図８（ｂ）で、ゴミ・キズによって影響を受けたゴミ・キズ幅をＰ１とし、図８（ｃ）でゴミ・キズ検知情報として確定されたゴミ・キズ幅をＰ２とすれば、図８（ｃ）ではより低解像度で読み取ったためにＰ1より大きいＰ2なる幅で検出されることになり、正しくゴミ・キズ位置を特定するには不十分である場合を意味している。
【００６１】
図８（ｄ）は、同じく図８（ａ）の部分を図１４に示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベルを示し、特に指定解像度で読み取った場合を示している。この場合、ゴミ・キズ情報をより高解像度で読み取ったために階調レベルが緻密に変化している。この場合のゴミ・キズの影響を受けていない階調レベルＬ３に対して、赤外光画像を所定レベルΔＬ３４として予め設定された閾値（あるいはヒストグラム及び階調レベル解析によって定められた閾値）だけ差を持つ階調レベルＬ４を設定し、階調レベルＬ４にて２値化処理し、ゴミ・キズ検知情報を確定する。図８（ｄ）でゴミ・キズ検知情報として確定されたゴミ・キズ幅をＰ３とすれば、図８（ｄ）では指定解像度で読み取ったためにＰ1とほぼ等しいＰ３なる幅で検出されることになり、正しくゴミ・キズ位置を特定することが出来ることを意味している。
【００６２】
図８（ｃ）、（ｄ）で説明したように、赤外光画像で得たい情報は、解像度や階調分布ではなくゴミ・キズ幅である。つまりは、指定解像度より低い解像度であってもゴミ・キズ幅を特定できれば良いことを意味しており、例えば指定解像度より約1／2の低い解像度で読みこんだ場合でも、所定の閾値を設けてやることで、ほぼ正確にゴミ・キズ幅を特定できる。
【００６３】
図８（e）は、同じく図８（ａ）の部分を図１４に示す赤外光ランプ１５１で読み取った場合の階調レベルを示し、特に指定解像度の1／2の解像度で読み取った場合を示している。この場合にも、ゴミ・キズ情報をより指定解像度で読み取った場合と酷似して階調レベルが緻密に変化している。この場合のゴミ・キズの影響を受けていない階調レベルＬ５に対して、赤外光画像を所定レベルΔＬ５６として予め設定された閾値（あるいはヒストグラム及び階調レベル解析によって定められた閾値）だけ差を持つ階調レベルＬ６を設定し、階調レベルＬ６にて２値化処理し、ゴミ・キズ検知情報を確定する。図８（e）でゴミ・キズ検知情報として確定されたゴミ・キズ幅をＰ4とすれば、図８（e）では指定解像度の１／２の解像度で読み取っても、Ｐ1とほぼ等しいＰ4なる幅で検出されることになり、正しくゴミ・キズ位置を特定することが出来ることを意味している。
【００６４】
つまり、図８（e）で赤外光画像を読み取っても、正しくゴミ・キズ位置を特定できる効果としては、指定解像度より1／2の解像度で赤外光画像を読みこんだ場合でもゴミ・キズ除去性能を低下させることなく、高速化が図られることになる。
【００６５】
図１０に読取り画像の模式図を示す。画像読取装置１で読み取った画像例として、ゴミ・キズを含むポジフィルムを読み取った場合の普通画像を図１０（ａ）、（ｃ）に、赤外光画像を図１０（ｂ），（ｄ）に示した。図１０（ａ）、（ｂ）は、低解像度で普通画像と赤外光画像を読取った画像を示す。また、図１０（ｃ）、（ｄ）は高解像度の2倍の指定解像度で読み取った場合を示し、画素幅Rv'、副走査画素幅ＲL として空間的に示した図である。また、図１０（ｄ）は、（ｂ）を２倍に拡大した図としての説明にも使用する。図１０（ａ）、（ｃ）の普通画像ではゴミ・キズのあるところでは暗い濃度レベルの画素情報となり、図１０（ｂ），（ｄ）の赤外光画像ではゴミ・キズ検出処理により2値化されゴミ・キズ位置が明確化されている。
【００６６】
以下、ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透過原稿読取動作について、図９に示すフローチャートに従って詳細に説明する。
【００６７】
先ず、ステップＳ３０１において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５及び赤外光ランプ１５１を消灯し、透過原稿照明用ランプ１４４を点灯させる。このとき透過原稿照明用ランプ１４４の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過する。この透過光束がミラー１４７、ハノ字ミラー１４８を通過し、さらに結像レンズ１４９を通過し、ＣＣＤ１５０に投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／Ｆ２１を介して画像メモリ２２に一時記憶される。このとき、指定解像度Rsで読み取られた普通画像が得られたことになる。
【００６８】
次に、ステップＳ３０２において、図１４の反射原稿照明用ランプ１４５と透過原稿照明用ランプ１４４とを消灯し、赤外光ランプ１５１を点灯させる。図１６に示すような特性を備えた赤外光ランプ１５１の照明光束は拡散板１４３によって斑なく拡散され、その拡散光束が透過原稿１４２を透過し、更にミラー１４７、ハノ字ミラー１４８、結像レンズ１４９を通過した光はＣＣＤ１５０に投影される。従って、透過原稿１４２を透過した赤外光ランプ１５１の照明光束は、図１７に示すようにネガ、ポジ等の透過原稿１４２の画像（感光像）によらず透過し、物理的に光路を遮る埃、ゴミ、キズ等の像がＣＣＤ１５０上に蔭として投影される。ＣＣＤ１５０上に投影された赤外線画像は電気信号に変換され、図１５のＩ／Ｆ２１を介して赤外線画像メモリ２３に一時記憶される。このときは指定解像度より低い所定解像度Rnで読み取られた赤外光画像が得られる。
【００６９】
次にステップＳ３０３では、ステップS３０２で得られた赤外光画像を所定解像度Rnから指定解像度RsにＭ倍の変倍処理を加える。なおＭ＝Ｒｓ／Ｒｎ。ここで、赤外光画像は指定解像度と同じ画素単位で空間距離を扱えるようになる。
【００７０】
次にステップS３０４の工程で、ゴミ・キズの普通画像中の位置検出のために、図１２で示すように普通画像と赤外光画像とでＳ３０１とＳ３０２の走査の精度に伴いゴミ・キズ位置がずれて得られる場合の、位置ずれ量の検知を普通画像のＭ画素毎に行う。位置ずれ量検出の詳細は、後程説明する。例えば、図１０（ｂ）のゴミ・キズ位置画像と図１０（ｄ）の様に変倍率が2倍であれば、２画素毎にずれ量の検出を行う。Ｍ画素毎に行ったずれ量検出の総和から画像全体のずれ量を検出する。
【００７１】
次にステップＳ３０５にて、普通画像中のゴミ・キズ画像を修復する。ここでは、普通画像において、赤外光画像から得られたゴミ・キズ位置をステップＳ３０４で得られたズレ量だけずらした位置に対応する画像のゴミ・キズ画像を修復する。そして、ゴミ・キズ除去処理を終了する。本フローチャートに従えば、赤外光画像の読み取り速度を速めることができ、結果としてゴミ・キズ除去性能を低下させることなく高速化が図れることになる。
【００７２】
＜第三の実施形態＞
図１０、図１１を用いて、第三の実施形態を説明する。図１０は第二の実施の形態で説明した。ゴミ・キズ除去動作を行う場合の透過原稿読取動作について、図１1に示すフローチャートに従って詳細に説明する。
【００７３】
先ず、ステップＳ１０１、Ｓ１０２は第二の実施形態で説明したステップＳ３０１、Ｓ３０２と同様であるが、ステップＳ１０２では、解像度がＳ１０１と同じＲｓで読取る。ここで、ステップS１０１、S１０２の解像度が非常に高い場合には、第１の実施形態の図８で説明した様に、ゴミ・キズ位置を特定するに、ある解像度以上の高解像度で赤外光画像を読み取らずとも良い場合がある。普通画像と赤外光画像の位置合わせを行う際にも同様の効果が得られる。この境の解像度を、予め定められた所定解像度Rdとして設定しておく。
【００７４】
次にステップＳ１０３では、ステップS１０２で得られた赤外光画像が、予め定められた所定解像度Rdより低いかどうかを判定し、低い場合にはステップS104、ステップS106を経由し、一画素毎にゴミ・キズの位置ズレ量を検出する。S103で所定解像度Rdと同じ、もしくは高い解像度であった場合、ステップS105、ステップS106を経由する。このとき、図２で示されるような指定解像度が非常に高解像度である場合、普通画像と赤外光画像とではS101とS102のステップに伴うゴミ・キズ位置がずれて得られる場合の位置ずれ量検出を、Ｍ（＝Rs／Rn）画素毎にゴミ・キズ位置ずれ量検出を行うことで高速化することが可能となる。ステップS106で検出した位置ずれ量でゴミ・キズ位置を補正して、普通画像中のゴミ・キズ画像を修復し、ゴミ・キズ除去処理を終了する。本フローチャートに従えば、指定解像度が非常に高解像度である場合、普通画像と赤外光画像のゴミ・キズ位置合わせ処理を速めることができ、結果としてゴミ・キズ除去性能を低下させることなく高速化が図れることになる。
【００７５】
以下に、本実施形態に共通の、位置ずれ量検知と閾値Ｌａ、Ｌｂの検出について説明する。
【００７６】
＜位置ずれ量検出＞
以下、図３、４、５を参照して、位置ずれ量検出部３３による普通画像と第一ゴミ・キズ位置画像との位置ずれ量の検出について説明する。
【００７７】
図３に位置ずれ量検出を示すフローチャートを示し、図４に本実施形態の位置ずれ補正を説明した模式図を示す。図４において図示する通り、下方向を副走査方向、横方向を主走査方向とする。図４において４０１，４０２は(a)の赤外光画像でゴミ・キズと検出された画素であり、(b)の普通画像における４０３，４０４の画素座標はそれぞれ４０１，４０２の座標に対応している。しかし、実際は赤外光画像と普通画像間には前述の通り位置ずれが発生しており、４０１のゴミ・キズ画素は４０３の画素の上下数ピクセルにずれている可能性がある。ゴミ・キズ位置画像データは普通画像において、ポジフィルムの場合はそのまま低い濃度値として、ネガフィルムの場合は反転されて高い濃度値として普通画像に表現される。そこで、赤外上のゴミ・キズ座標４０１に対応する可視上のゴミ・キズ座標４０３から副走査方向±Npixelの範囲の画素の濃度値を求める。求めた(2N+1)画素の中でポジフィルムの場合は一番低い濃度値、ネガフィルムの場合は一番高い濃度値の画素が実際に普通画像上でゴミ・キズに対応する画素として、普通画像と赤外光画像のずれ量がわかる（ステップＳ３０１）。しかし、1つの画素だけで、ずれ量を判定すると誤った位置ずれ判定をしてゴミ・キズ画素で検出もれが発生する可能性がある。そこで、ずれ量毎の普通画像における濃度値の合計量を求めることにより位置ずれ判定の精度を上げる。図5にその例を示す。図５（ａ）はずれを検出する範囲をN=10とした場合のポジフィルムにおける例を表す。画素▲１▼,▲２▼,▲３▼,・・・は赤外光画像においてゴミ・キズと判定された全ての画素であり、各画素毎に±10pixelの範囲の濃度値を求め、ずれ量毎にその濃度値の合計を求める（ステップ３０２）。図５（ａ）の例においては、ずれ量+1pixelの合計値が最小値となっているので、この場合は赤外光画像と普通画像のずれ量を副走査方向+1pixelとして、ゴミ・キズ検出時に補正を行うことになる（ステップ３０３）。なお、濃度値の合計値でなく平均値を用いても同様の結果を得ることが出来る。図３のステップ３０４に示すとおり、主走査方向に対しても同様のずれ補正量決定を行う。なお、図５（ｂ）で、赤外光画像においてゴミ・キズと判定された全ての画素▲１▼,▲２▼,▲３▼,・・・でのずれ量毎の普通画素における濃度値の合計量を求めたが、計算時間短縮のために、図５（ｂ）に示すように、画素▲１▼、▲３▼、▲５▼、・・・のように二画素毎におこなうこともできる。また、第三の実施形態の図１１のステップＳ１０５で、Ｍが２の場合、図１０（ｃ）、（ｄ）に示すように２画素毎に位置ズレ検出を行う。この場合主走査、副走査方向ともに２画素毎に位置ズレ量を検出するので図５（ｃ）に示すような計算を行って、ズレ量を検出する。図５（ｃ）は図５（ａ）と比べて、計算量が１／４になっている。
【００７８】
＜閾値Ｌａ，Ｌｂの算出＞
以下、閾値決定・保存部３２による、赤外光画像からゴミ・キズ位置検知を行う場合に用いる閾値Ｌａ，Ｌｂの算出について説明する。
【００７９】
赤外光による透過原稿の読取によって、ゴミ・キズの位置を検出する場合、赤外光画像のヒストグラムを用いてそこから閾値を求め、閾値以下の画素をゴミ・キズと判定して、その画素に対応する普通画像中の画素の補正をする。
【００８０】
閾値を決定する方法としては、赤外画像のヒストグラムから算出された平均値から、標準偏差の値をn倍したものを引いた値を閾値とする。式(１)に、この方法を表す。
Threshold = Average - SD x n (１)
Threshold ：閾値
Average ：赤外画像の平均値
SD ：赤外画像の標準偏差
n ：係数n
図１６は可視光、及び赤外光(ピーク波長880nm)の分光強度分布を示した図であり、図１７は一般的なネガ・ポジカラーフィルムのイエロー色、マゼンダ色、シアン色の透過率を示した図である。
【００８１】
図１７で明らかなように一般的なカラーフィルムの場合、どのような色素であっても赤外光付近の透過率は非常に高いので、赤外光ランプの光束はほとんど透過する。しかし、透過率が高いと言っても100%に達していない。また、フィルムの成分によっては赤外光付近の透過率が低いものもある。そのようなフィルムを赤外光でスキャンした場合など特に上記の理由から、ゴミ・キズだけでなく、本来可視光で得られる画像情報も赤外光画像に写り込んでしまう可能性がある。
赤外光画像と普通画像のずれ量を求める時に、普通画像情報まで写り込んでしまうと、ずれ補正量の計算に誤差の発生をもたらす。そこで、図２の位置ずれ補正のための第一のゴミ・キズ検出２０４とゴミ・キズ補正のための第二のゴミ・キズ検出２０７とで異なる閾値を用いる。
【００８２】
図６は赤外光画像のヒストグラムの例を表したもので、Ta６０２は第一の閾値を、Tb６０３は第二の閾値を表す。第一の閾値Taは、ずれ補正量を測定するためのものであり、ゴミ・キズ以外の写り込みがないようなレベルに比較的低めに設定する。一方、第二の閾値Tbは、ずれ補正後に除去すべきゴミ・キズの判定に用いるためのものであり、そのレベルは写り込みが赤外光画像に残ったとしても、ゴミ・キズに検出漏れが無いように設定する。
【００８３】
前述の式(１)において、係数nの設定によりゴミ・キズ検出の強弱を調整することができる。ｎを大きくしすぎると検出漏れが発生する可能性があり、逆にｎを小さくすると検出漏れは減るが、写り込みが発生する可能性が高くなる。
【００８４】
ゴミ・キズ検出のための第二の閾値Tbの時係数nをn=bと設定し、第一の閾値Taの時の係数n=aは、2つの係数の関係をa>bと設定することにより位置ずれ補正の閾値が常に一定値低くなるので、写り込みの影響を少なくすることが可能である。
【００８５】
図７は赤外光画像にフィルムホルダの枠が写り込んだ場合のヒストグラムの例を示す。透過原稿を画像読取装置に載置する際にフィルムを固定するためにフィルムホルダを使用する。フィルムホルダは通常プラスチック等で形成され、赤外光画像を読み込んだ時に読取領域にフィルムホルダが写り込んでいると、フィルムホルダは光を通さないのでフィルムホルダ部(以降ホルダシャドウと言う)は通常のゴミ・キズよりも非常に低い濃度値となる。すると赤外光画像の濃度平均値は図５の５０１にあるようにホルダシャドウが無い場合よりも低くなり、同時に標準偏差も大きくなる。すると前記式(１)は次に示す式(２)のようになるので、Thresholdが低くなり、第一の閾値Ta'、第二の閾値Tb'も図７の７０２，７０３のように低くなる。
Threshold(↓↓) = Average(↓) − SD(↑) × n (２)
この場合、ホルダシャドウの入りこむ大きさによっては図７の７０２，７０３のように閾値が下がりすぎてしまい、ゴミ・キズ判定、及び位置ずれ判定に誤りを及ぼす恐れがある。また、ホルダシャドウは入っていなくても、写り込みが原因で同様の現象が起こる可能性がある。そこで標準偏差SDに最大リミット値を設けて計算した標準偏差がリミットよりも大きい場合はホルダシャドウ、あるいは写り込みの影響があるとして、あらかじめ設定する固定値に置き換える。
【００８６】
〔他の実施形態〕
本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用しても、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
【００８７】
また、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【００８８】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【００８９】
【発明の効果】
以上説明したように、画像読取装置において、可視光による可視光画像と非可視光画像に位置ずれが発生した場合でも、ずれ量の検出をすることによりずれ補正を行い、支障無くゴミ・キズ補正を行うことが可能となる。
【００９０】
また、非可視光画像への可視光の影響を除去し、必要以上の画像補正を防止することが可能となる。
【００９１】
また、画像読取装置において、可視光にて読み取った画像の解像度と異なる解像度で非可視光で読み取った画像にてゴミ・キズ除去を行った場合でもゴミ・キズ除去性能を低下させることなくゴミ・キズ位置を特定できるため、非可視光での読み取り速度を最適化でき、ゴミ・キズ除去機能の高速化が可能となる。
【００９２】
また、ゴミ・キズの大きさに対し非常に高解像度で読み取った場合には、可視光にて読み取った画像のゴミ・キズ位置を特定するのに、ゴミ・キズ除去性能を低下させることなく非可視光と可視光で読み取った画像を処理する画素単位を間引くことができるため、ゴミ・キズ位置の特定処理を早めることができるため、ゴミ・キズ除去機能の高速化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施の形態における画像読み取りシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施の形態におけるゴミ・キズ除去部での処理を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量検出部での処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量の検出を説明する図である。
【図５】本発明の第一の実施の形態における位置ずれ量検出部での位置ずれ検出計算の例を示す図である。
【図６】本発明の第一の実施の形態における閾値決定・保存部での2つの閾値の設定を表す図である。
【図７】本発明の第一の実施の形態における閾値決定・保存部でのホルダシャドウが写り込んだ場合のヒストグラム、閾値設定を表す図である。
【図８】本発明の第二の実施の形態を説明する模式図である。
【図９】本発明の第二の実施の形態における画像読取装置における処理を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の第二と第三の実施の形態を説明する模式図である。
【図１１】本発明の第三の実施の形態における画像読取装置における処理を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の第三の実施の形態における解像度が低い場合の模式図である。
【図１３】従来の画像読取装置の構成図である。
【図１４】透過原稿上のゴミ・キズによる欠陥領域を検出する従来の画像読取装置の構成図である。
【図１５】従来の画像読み取りシステムの構成を示すブロック図である。
【図１６】透過原稿照明用ランプと、赤外光ランプの分光強度分布を示す図である。
【図１７】一般のカラーフィルムにおける３色の色素の分光透過率特性と、赤外光ランプの分光強度分布のピーク波長を示す図である。
【図１８】ゴミ・キズ除去部での従来の処理を示すフローチャートである。
【図１９】従来例における、フィルム上のゴミと、透過原稿照明用ランプ及び赤外光ランプによりフィルムを読み込んで得た階調レベルとの関係を示す図である。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a signal processing method, an image reading apparatus program, and a medium, and more particularly to a signal processing method, an image reading apparatus, a program, and a medium for correcting a defective portion due to dust or scratches on a document.
[0002]
[Prior art]
FIG. 13 shows a schematic configuration of a conventional image reading apparatus for a transparent original, for example. In FIG. 13, a positive or negative transparent original 142 placed on an original platen glass 141 is further illuminated by a transparent original illumination lamp 144 via a diffusion plate 143 installed on the upper part thereof. Is transmitted to the CCD 150 through the mirror 147, the scalloped mirror 148, and the imaging lens 149, and converted into an electrical signal by the CCD 150 in which a large number of unit individual image sensors are arranged in a line. A directional image is formed.
[0003]
In this case, image formation in the sub-scanning direction is performed by mechanically moving the transmission original illumination lamp 144 and the mirror 147 with respect to the transmission original 142 in the sub-scanning direction while maintaining the same speed and phase. 148 is made to follow in the same direction at a scanning speed of ½, and the optical path length (conjugate relationship) from the transmission original 142 to the CCD 150 is kept constant, and a total two-dimensional image is formed together with the main scanning.
[0004]
Further, in the transparent original image reading apparatus as described above, it is also possible to read a so-called reflective original of a type in which light reflected on the original is processed by irradiating light on the original described on the opaque paper. is there. In this case, a reflective original is placed instead of the transparent original 142, the transparent original illumination lamp 144 is turned off, the reflective original illumination lamp 145 is turned on, and the direct luminous flux and the reflective shade 146 are reflected by the reflective original illumination lamp 145. By illuminating with the reflected light flux of and reflecting the reflected light from the reflected original with the CCD 150, an image in the main scanning direction can be formed as in the case of the transmissive original.
[0005]
In particular, in the color reading method, a lamp having white spectral characteristics is used as the reflective document illumination lamp 145, and a three-line type CCD having RGB color filters is used as the CCD 150. A three-line color image reading method is generally known in which image information of each color is simultaneously read and a color image is formed by superimposing RGB signals on the same line on an image processing circuit.
[0006]
By the way, in the image reading apparatus for a transparent document as described above, in order to correct a defective portion on an image due to dust or scratches on the transparent document, an effective method other than retouch correction by image editing software after image reading is performed. There was no. Therefore, it takes a very long time to correct the defective portion.
[0007]
In recent years, in such an image reading apparatus for a transparent document, dust such as dust existing on the transparent document or damage (scratches) on the film surface is detected (hereinafter, this detection is referred to as “dust / scratch detection”). An image reading apparatus having a function for removing so-called dust / scratches, which removes the influence of dust and scratches from the read image by image processing, has been developed.
[0008]
FIG. 14 is a diagram showing an image reading apparatus 1 having a conventional dust / scratch detection function. The same components as those of the image processing apparatus shown in FIG. Description is omitted.
[0009]
In FIG. 14, reference numeral 151 denotes an infrared lamp composed of an LED having a light emission intensity peak at a wavelength of about 880 nm.
[0010]
FIG. 15 is a block diagram illustrating a functional configuration of a dust / scratch removal unit 2 that performs dust / scratch removal using image data obtained by the image reading apparatus 1. In FIG. 15, 21 is an interface (I / F) for inputting image data read by the image reading apparatus 1, and 22 is an image read using a transparent document illumination lamp 144 or a reflective document illumination lamp 145 (hereinafter, referred to as “image data read”). , Called an “ordinary image”), and an infrared memory 23 for storing an image read using the infrared lamp 151 (hereinafter referred to as “infrared light image”). An optical image memory, 24 is a threshold holding unit that holds a predetermined threshold, 25 is a dust / scratch detection unit, and 26 is a dust / scratch correction unit.
[0011]
FIG. 16 is a diagram showing the spectral intensity distribution of the transparent original illumination lamp 144 and the infrared light lamp 151, and the characteristics of each lamp are indicated by a solid line and a one-dot chain line, respectively. FIG. 17 shows spectral transmittance characteristics of cyan, yellow, and magenta dyes of a general negative and positive color film, and the peak wavelength (about 880 mm) of the spectral intensity distribution of the infrared lamp 151. It is a thing. As can be seen from FIG. 17, in the case of a general color film, the transmittance at about 880 nm is very high for any dye, so the luminous flux of the infrared lamp is not dependent on the image on the film. You will almost pass.
[0012]
Hereinafter, the transparent document reading operation when the dust / scratch removing operation is performed will be described in detail with reference to the flowchart shown in FIG.
[0013]
First, in step S10, the reflective original illumination lamp 145 and the infrared light lamp 151 in FIG. 14 are turned off, and the transparent original illumination lamp 144 is turned on. At this time, the illuminating light beam of the transmissive original illumination lamp 144 is diffused by the diffusing plate 143 so that the diffused light beam passes through the transmissive original 142. This transmitted light beam passes through the mirror 147 and the Hanano mirror 148, further passes through the imaging lens 149, and is projected onto the CCD 150. The image projected on the CCD 150 is converted into an electrical signal and temporarily stored in the image memory 22 via the I / F 21 in FIG. Here, if the transparent original is a negative film, a positive image is obtained by reversal processing and then temporarily stored in the image memory 22.
[0014]
Next, in step S20, the reflective document illumination lamp 145 and the transparent document illumination lamp 144 in FIG. 14 are turned off, and the infrared light lamp 151 is turned on. The illumination light beam of the infrared light lamp 151 having the characteristics shown in FIG. 16 is diffused by the diffusing plate 143, and the diffused light beam passes through the transmission original 142. Further, the mirror 147, the han-shaped mirror 148, and the image are formed. The light that has passed through the lens 149 is projected onto the CCD 150. Therefore, as shown in FIG. 17, the illumination light flux of the infrared light lamp 151 transmitted through the transmission original 142 is transmitted regardless of the image (photosensitive image) of the transmission original 142 such as negative or positive, and physically blocks the optical path. An image of dust, dust, scratches, etc. is projected as a ridge on the CCD 150. The infrared light image projected on the CCD 150 is converted into an electrical signal and temporarily stored in the infrared light image memory 23 via the I / F 21 in FIG.
[0015]
Next, dust and scratch detection and correction are performed in the steps after step S30. The principle of dust and scratch detection will be described in detail here.
[0016]
FIG. 19 illustrates the relationship between dust and the like in which the gradation level of the read image obtained by the transparent document illumination lamp 144 and the infrared light lamp 151 is plotted in the main scanning direction. In FIG. 19A, 181 is a positive film and 182 is dust on the positive film 181. FIG. 19B shows the gradation level when the portion of FIG. 19A is read by the transparent original illumination lamp 144. The darker the gradation level, the lower the gradation level, and the dust 182 portion. The gradation level is naturally low regardless of the image on the positive film. FIG. 19C shows the gradation level when the portion of FIG. 19A is read by the infrared lamp 151, and the gradation level of the dust 182 portion is low because infrared light does not pass through. Since the infrared light passes through the part other than the dust 182, the level is almost constant 183. Therefore, by setting the threshold value 184 to a gradation level lower than the level 183 and extracting the portion below the threshold value 184, it is possible to detect the defective area 185 due to dust.
[0017]
The threshold value 184 is held in advance in the threshold value holding unit 24. Accordingly, in step S30, the dust / scratch detection unit 25 reads the threshold value 184 from the threshold value holding unit 24, and the infrared light image memory 23 reads the infrared light image. The defect area 185 is detected by reading the data and sequentially comparing the infrared light image data with the threshold value 184.
[0018]
If the infrared light image data is smaller than the threshold value 184 (NO in step S30), the defect region 185 is interpolated from a normal region around the defect region 185 in step S40, thereby causing the influence of dust 182. Reduce. The comparison operation is performed on all infrared image data, and when a defective area is detected, interpolation processing is performed on the corresponding normal image data (step S50).
[0019]
[Problems to be solved by the invention]
However, in order to detect dust and scratches using a non-visible light image, the same document must be read twice, such as scanning reading using non-visible light and scanning reading using visible light. Therefore, it is necessary to scan the original with a scanning unit including at least a part of the photoelectric conversion means, the optical system, and the processing circuit. Then, a deviation due to a problem of the operation accuracy of the scanning unit occurs between an image by non-visible light scanning reading for detecting dust and scratches and an image by visible light scanning reading for obtaining actual image information, As a result, there was a problem that removal of dust and scratches was not satisfactory.
[0020]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems. When a document is scanned to correct dust / scratches, even if a plurality of scanning operations are repeatedly deviated, appropriate dust / scratch detection and correction are performed. The purpose is to perform stably.
[0021]
In addition, the wavelength characteristics of the illumination, light sensor, and document are not necessarily ideal, so the visible light image may affect the non-visible light image, and the shadow of the film holder may affect the non-visible light image. There is a problem that a visible light image that is not a defect due to dust and scratches is erroneously corrected.
[0022]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to reduce the influence of deviation from ideal wavelength characteristics, shadow of a film holder, and the like.
[0023]
In addition, there is a problem that it takes a very long time to detect dust / scratch positions of a normal image and an infrared light image because image data increases when read at a high specified resolution.
[0024]
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to speed up the dust / scratch removal process without deteriorating the dust / scratch repair effect.
[0025]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has been made to solve the above problems, and is configured as follows.
[0026]
A visible light image signal and a non-visible light image obtained by irradiating an original with a visible light irradiating means for irradiating visible light and an invisible light irradiating means for irradiating invisible light, respectively, and photoelectrically converting the optical image of the original. A signal processing method for processing a signal, the step of generating a first dust / scratch image signal from the non-visible light image signal, and the first dust / scratch image signal in the visible light image signal. And calculating a sum of signal values of the pixels corresponding to the dust / scratch position for each shift amount by shifting the pixels corresponding to the dust / scratch position by a predetermined pixel. Correlation calculation Using a displacement amount detection step for obtaining a displacement amount between the visible light image and the first dust / scratch image, a displacement amount detected in the displacement amount detection step, and the invisible light image signal. A correction step of correcting the visible light image signal, and the correction step includes a step of generating a second dust / scratch image signal from the non-visible light image signal using a second threshold, The visible light image signal is corrected using the deviation amount and the second dust / scratch image signal. And a signal processing method.
[0048]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0049]
<First embodiment>
A first embodiment will be described with reference to FIGS. The configuration of the image reading apparatus is the same as that shown in FIG. FIG. 1 is a block diagram illustrating a functional configuration of a dust / scratch removal unit 3 that performs dust / scratch removal on an image signal output from the image reading apparatus 1 according to the first embodiment. In FIG. 1, the dust / scratch removal unit 3 is illustrated as a device separate from the image reading device 1, but may be configured inside the image reading device 1.
[0050]
In FIG. 1, reference numeral 21 denotes an interface (I / F) for inputting image data read by the image reading apparatus 1, and 22 stores an image read using a transparent original illumination lamp 144 or a reflective original illumination lamp 145. Image memory 23 for storing images read using the infrared lamp 151 and images indicating positions of dust and scratches, 25 for dust and scratch detection units, and 26 for dust. A scratch correction unit, 31 is a histogram generation unit, 32 is a threshold value determination / storage unit, and 33 is a misregistration amount detection unit.
[0051]
Next, the transparent original reading operation when the dust / scratch removing operation in the first embodiment is performed will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
[0052]
First, in step S201, the reflection original illumination lamp 145 and the infrared light lamp 151 in FIG. 14 are turned off, and the transmission original illumination lamp 144 is turned on. At this time, the illuminating light beam of the transmissive original illumination lamp 144 is diffused by the diffusing plate 143 so that the diffused light beam passes through the transmissive original 142. This transmitted light beam passes through the mirror 147 and the Hanano mirror 148, further passes through the imaging lens 149, and is projected onto the CCD 150. The image projected on the CCD 150 is converted into an electric signal and temporarily stored in the image memory 22 via the I / F 21 in FIG. Here, when the transparent original is a negative film, a reversal process is performed to obtain a positive image and then temporarily stored in the image memory 22 (hereinafter referred to as “normal image”). The user designates in advance whether the transparent original is a negative film or a positive film.
[0053]
Next, in step S202, the reflective document illumination lamp 145 and the transparent document illumination lamp 144 in FIG. 14 are turned off, and the infrared light lamp 151 is turned on. The illumination light beam of the infrared light lamp 151 having the characteristics as shown in FIG. 15 is diffused by the diffuser plate 143 without any spots, and the diffused light beam passes through the transmission original 142, and further includes a mirror 147, a scalloped mirror 148, and an image. The light that has passed through the lens 149 is projected onto the CCD 150. Therefore, as shown in FIG. 16, the illumination light flux of the infrared lamp 151 transmitted through the transmission original 142 is transmitted regardless of the image (photosensitive image) of the transmission original 142 such as negative or positive, and physically blocks the optical path. An image of dust, dust, scratches, etc. is projected as a ridge on the CCD 150. The infrared light image projected on the CCD 150 is converted into an electrical signal and temporarily stored in the infrared light image memory 23 via the I / F 21 in FIG. 1 (hereinafter referred to as “infrared light image”). .
[0054]
Next, in step S203, using the infrared light image data temporarily stored in the infrared light image memory 23, the threshold value determination / holding unit 32 calculates and holds the threshold value La used in step S204. This calculation method will be described later.
[0055]
Next, in step S204, the dust / scratch detection unit 25 reads the threshold value La from the threshold value determination / holding unit 32, reads infrared light image data from the infrared light image memory 23, and sequentially sets the infrared light image data and the threshold value. By comparing with La, dust / scratches are detected, a first dust / scratch position image is generated, and temporarily stored in the infrared image memory 23.
[0056]
In step S <b> 205, the displacement amount detection unit 33 detects the displacement amount between the normal image stored in the image memory 22 and the first dust / scratch position image stored in the infrared light image memory 23. To do. Details of the detection will be described later.
[0057]
Next, in step 206, using the infrared light image data temporarily stored in the infrared light image memory 23, the threshold value Lb used in step S207 is calculated and held in the 32 threshold value determination / holding unit. This Lb calculation method will also be described later.
[0058]
In step S207, the dust / scratch detection unit 25 reads the threshold value Lb from the threshold value determination / holding unit 32, reads the infrared light image data from the infrared light image memory 23, and sequentially stores the infrared light image data and the threshold value Lb. Are detected, dust / scratches are detected, a second dust / scratch position image is generated, and temporarily stored in the infrared light image memory 23.
[0059]
In step S <b> 208, the correction unit 26 reads out the dust / scratch position from the second dust / scratch position image stored in the infrared light image memory 23, and shifts it by the misalignment amount detected in step 205. It is determined that the image data of the normal image stored in the image memory 22 corresponding to the shifted position is data of a defective area in which a defect has occurred due to dust / scratches. The influence of dust and scratches is reduced by interpolating the defect area data of the normal image from the normal area around the defect area. The effect of dust / scratches is obtained by correcting the image data of the normal image corresponding to the position shifted by the amount of displacement detected in step 205 for all dust / scratch positions in the second dust / scratch position image. Can be obtained.
[0060]
<Second Embodiment>
A second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 8A shows a state where dust 102 is present on the positive film 101, and FIG. 8B shows the portion shown in FIG. 8A read by the transparent original illumination lamp 144 shown in FIG. In this case, the gradation level is shown. The gradation level distribution on the dust can be obtained as a gradation level distribution that protrudes downward because light does not transmit. FIG. 8C shows the gradation level when the portion of FIG. 8A is read by the infrared lamp 151 shown in FIG. 14, and particularly when the reading is performed at a resolution significantly lower than the designated resolution. Show. In this case, since the dust / scratch information is read at a lower resolution, the gradation level gradually changes. Infrared light image A threshold value preset as a predetermined level ΔL12 (or a threshold value determined by histogram and tone level analysis) for the tone level L1 not affected by dust and scratches in FIG. 8C. A gradation level L2 having a difference only is set, binarization processing is performed at the gradation level L2, and dust / scratch detection information is determined. 8B, if the dust / scratch width affected by the dust / scratch is P1, and the dust / scratch width determined as the dust / scratch detection information in FIG. 8C is P2, FIG. In (c), since it is read at a lower resolution, it is detected with a width of P2 that is larger than P1, which means that it is insufficient to correctly identify the dust / flaw position.
[0061]
FIG. 8D shows the gradation level when the portion of FIG. 8A is read with the infrared lamp 151 shown in FIG. 14, and particularly shows the case where it is read with the specified resolution. In this case, since the dust / scratch information is read at a higher resolution, the gradation level changes precisely. In this case, the difference between the gradation level L3 not affected by dust and scratches by a threshold (or a threshold determined by histogram and gradation level analysis) set in advance as the predetermined level ΔL34 for the infrared light image. Is set, and binarization processing is performed at the gradation level L4 to determine dust / scratch detection information. If the dust / scratch width determined as dust / scratch detection information in FIG. 8 (d) is P3, since it is read at the designated resolution in FIG. 8 (d), it is detected with a width of P3 that is substantially equal to P1. This means that the garbage / scratch position can be specified correctly.
[0062]
As described in FIGS. 8C and 8D, the information desired to be obtained from the infrared light image is not the resolution or the gradation distribution but the dust / flaw width. This means that even if the resolution is lower than the specified resolution, it is sufficient if the dust / scratch width can be specified. For example, even when reading at a resolution about 1/2 lower than the specified resolution, a predetermined threshold is set. By doing so, it is possible to specify the width of dust and scratches almost accurately.
[0063]
FIG. 8 (e) shows the gradation level when the portion of FIG. 8 (a) is read with the infrared lamp 151 shown in FIG. 14, and in particular, the case where it is read with a resolution of 1/2 of the designated resolution. Show. In this case as well, the gradation level changes precisely, much like the case where dust / scratch information is read at a specified resolution. In this case, the difference between the gradation level L5 not affected by dust and scratches by a threshold (or a threshold determined by histogram and gradation level analysis) set in advance as the predetermined level ΔL56 for the infrared light image. Is set, and binarization processing is performed at the gradation level L6 to determine dust / scratch detection information. If the dust / scratch width determined as dust / scratch detection information in FIG. 8 (e) is P4, even if it is read at half the specified resolution in FIG. 8 (e), P4 is almost equal to P1. This means that the dust / scratch position can be correctly identified.
[0064]
In other words, even if the infrared light image is read in FIG. 8 (e), the dust / scratch position can be correctly specified even if the infrared light image is read at a resolution 1/2 that of the specified resolution. The speed can be increased without reducing the scratch removal performance.
[0065]
FIG. 10 shows a schematic diagram of the read image. As an example of an image read by the image reading apparatus 1, FIGS. 10A and 10C show normal images when a positive film containing dust and scratches is read, and FIGS. 10B and 10D show infrared images. )Pointing out toungue. FIGS. 10A and 10B show images obtained by reading a normal image and an infrared light image at a low resolution. FIGS. 10C and 10D show a case of reading at a designated resolution twice as high as the high resolution, and are spatially shown as a pixel width Rv ′ and a sub-scanning pixel width RL. FIG. 10D is also used for explanation as a diagram in which (b) is doubled. In the normal images in FIGS. 10A and 10C, the pixel information is dark density level where dust / scratch is present, and in the infrared light images in FIGS. 10B and 10D, 2 is obtained by dust / scratch detection processing. It is priced and the location of garbage and scratches is clarified.
[0066]
Hereinafter, the transparent document reading operation when the dust / scratch removing operation is performed will be described in detail with reference to the flowchart shown in FIG.
[0067]
First, in step S301, the reflective original illumination lamp 145 and the infrared light lamp 151 in FIG. 14 are turned off, and the transparent original illumination lamp 144 is turned on. At this time, the illuminating light beam of the transmissive original illumination lamp 144 is diffused by the diffusing plate 143 so that the diffused light beam passes through the transmissive original 142. This transmitted light beam passes through the mirror 147 and the Hanano mirror 148, further passes through the imaging lens 149, and is projected onto the CCD 150. The image projected on the CCD 150 is converted into an electrical signal and temporarily stored in the image memory 22 via the I / F 21 in FIG. At this time, a normal image read at the designated resolution Rs is obtained.
[0068]
Next, in step S302, the reflective document illumination lamp 145 and the transparent document illumination lamp 144 in FIG. 14 are turned off, and the infrared light lamp 151 is turned on. The illumination light beam of the infrared light lamp 151 having the characteristics shown in FIG. 16 is diffused by the diffusing plate 143, and the diffused light beam passes through the transmission original 142. Further, the mirror 147, the han-shaped mirror 148, and the image are formed. The light that has passed through the lens 149 is projected onto the CCD 150. Therefore, as shown in FIG. 17, the illumination light flux of the infrared light lamp 151 transmitted through the transmission original 142 is transmitted regardless of the image (photosensitive image) of the transmission original 142 such as negative or positive, and physically blocks the optical path. An image of dust, dirt, scratches, etc. is projected as a ridge on the CCD 150. The infrared image projected on the CCD 150 is converted into an electrical signal and temporarily stored in the infrared image memory 23 via the I / F 21 in FIG. At this time, an infrared light image read at a predetermined resolution Rn lower than the designated resolution is obtained.
[0069]
In step S303, the infrared light image obtained in step S302 is subjected to a magnification process of M times from the predetermined resolution Rn to the specified resolution Rs. M = Rs / Rn. Here, the infrared light image can handle the spatial distance in the same pixel unit as the designated resolution.
[0070]
Next, in step S304, in order to detect the position of the dust / scratch in the normal image, the position of the dust / scratch in accordance with the scanning accuracy of S301 and S302 for the normal image and the infrared image as shown in FIG. When the difference is obtained, the amount of misalignment is detected for each M pixel of the normal image. Details of the positional deviation amount detection will be described later. For example, if the zoom ratio is double as shown in FIG. 10B and the dust / scratch position image in FIG. 10B, the amount of deviation is detected every two pixels. The shift amount of the entire image is detected from the sum of the shift amount detection performed for each M pixel.
[0071]
In step S305, the dust / scratch image in the normal image is repaired. Here, in the normal image, the dust / scratch image of the image corresponding to the position where the dust / scratch position obtained from the infrared light image is shifted by the shift amount obtained in step S304 is repaired. Then, the dust / scratch removal process ends. According to this flowchart, the reading speed of the infrared light image can be increased, and as a result, the speed can be increased without deteriorating the dust / scratch removal performance.
[0072]
<Third embodiment>
A third embodiment will be described with reference to FIGS. 10 and 11. FIG. 10 has been described in the second embodiment. The transparent original reading operation when the dust / scratch removing operation is performed will be described in detail with reference to the flowchart shown in FIG.
[0073]
First, Steps S101 and S102 are the same as Steps S301 and S302 described in the second embodiment, but in Step S102, the resolution is read with the same Rs as S101. Here, when the resolutions of steps S101 and S102 are very high, as described with reference to FIG. 8 of the first embodiment, in order to specify the dust / scratch position, infrared light with a higher resolution than a certain resolution is used. There are cases where it is not necessary to read an image. The same effect can be obtained when aligning the normal image and the infrared light image. The resolution at this boundary is set as a predetermined resolution Rd.
[0074]
Next, in step S103, it is determined whether or not the infrared light image obtained in step S102 is lower than a predetermined resolution Rd. If lower than the predetermined resolution Rd, step S104 and step S106 are used for each pixel. Detects the amount of dust and scratch displacement. If the resolution is the same as or higher than the predetermined resolution Rd in S103, the process goes through steps S105 and S106. At this time, when the designated resolution as shown in FIG. 2 is very high, the positional deviation in the case where the dust / flaw position associated with the steps of S101 and S102 is shifted between the normal image and the infrared light image. The amount detection can be speeded up by detecting the amount of dust / scratch displacement for each M (= Rs / Rn) pixels. The dust / scratch position is corrected with the amount of displacement detected in step S106, the dust / scratch image in the normal image is repaired, and the dust / scratch removal process ends. According to this flowchart, if the specified resolution is very high, the dust / scratch alignment processing of the normal image and the infrared light image can be accelerated, and as a result, the dust / scratch removal performance is reduced without degrading. Can be achieved.
[0075]
Hereinafter, detection of the amount of misalignment and detection of the threshold values La and Lb, which are common to this embodiment, will be described.
[0076]
<Position detection>
Hereinafter, with reference to FIGS. 3, 4, and 5, detection of the displacement amount between the normal image and the first dust / scratch position image by the displacement amount detector 33 will be described.
[0077]
FIG. 3 shows a flowchart showing the positional deviation amount detection, and FIG. 4 shows a schematic diagram explaining the positional deviation correction of the present embodiment. As shown in FIG. 4, the downward direction is the sub-scanning direction and the horizontal direction is the main scanning direction. In FIG. 4, 401 and 402 are pixels detected as dust / scratches in the infrared light image of (a), and the pixel coordinates of 403 and 404 in the normal image of (b) correspond to the coordinates of 401 and 402, respectively. ing. However, in actuality, there is a positional shift between the infrared light image and the normal image as described above, and there is a possibility that the dust / flaw pixel 401 is shifted to several pixels above and below the 403 pixel. The dust / scratch position image data is represented in a normal image as a low density value as it is in the case of a positive film and as a high density value in the case of a negative film. Therefore, the density value of the pixel in the range of ± Npixel in the sub-scanning direction is obtained from the visible dust / scratch coordinate 403 corresponding to the dust / scratch coordinate 401 on the infrared. Among the obtained (2N + 1) pixels, the pixel with the lowest density value in the case of positive film and the pixel with the highest density value in the case of negative film are actually pixels corresponding to dust and scratches on the normal image. The amount of deviation between the normal image and the infrared light image is known (step S301). However, if the amount of deviation is determined with only one pixel, there is a possibility that a misplaced determination is made and detection leakage occurs at the dust / flaw pixel. Therefore, the accuracy of the positional deviation determination is improved by obtaining the total amount of density values in the normal image for each deviation amount. An example is shown in FIG. FIG. 5A shows an example of a positive film in a case where the range for detecting the deviation is N = 10. Pixels (1), (2), (3),... Are all pixels determined to be dust / scratches in the infrared light image. For each pixel, a density value in a range of ± 10 pixels is obtained and shifted. The sum of the density values is obtained for each amount (step 302). In the example of FIG. 5A, since the total value of the deviation amount + 1 pixel is the minimum value, in this case, the deviation amount between the infrared light image and the normal image is assumed to be +1 pixel in the sub-scanning direction, thereby causing dust / scratches. Correction is performed at the time of detection (step 303). The same result can be obtained even if an average value is used instead of the total density value. As shown in step 304 in FIG. 3, the same shift correction amount determination is performed also in the main scanning direction. It should be noted that in FIG. 5B, the density value in the normal pixel for each deviation amount in all the pixels (1), (2), (3),. In order to shorten the calculation time, as shown in FIG. 5 (b), it is necessary to perform every two pixels as shown in pixel (1), (3), (5),. You can also. Further, in step S105 of FIG. 11 of the third embodiment, when M is 2, as shown in FIGS. 10C and 10D, position shift detection is performed every two pixels. In this case, since the amount of positional deviation is detected every two pixels in both the main scanning direction and the sub-scanning direction, calculation as shown in FIG. 5C is performed to detect the amount of deviation. Compared with FIG. 5A, the calculation amount of FIG. 5C is ¼.
[0078]
<Calculation of threshold values La and Lb>
Hereinafter, calculation of the threshold values La and Lb used when the threshold value determination / storage unit 32 performs dust / scratch position detection from an infrared light image will be described.
[0079]
When the position of dust / scratches is detected by reading a transparent original using infrared light, a threshold value is obtained from the infrared image histogram, and pixels below the threshold value are determined as dust / scratches. The pixel in the normal image corresponding to is corrected.
[0080]
As a method for determining the threshold value, a value obtained by subtracting n times the standard deviation value from the average value calculated from the histogram of the infrared image is used as the threshold value. Formula (1) represents this method.
Threshold = Average-SD xn (1)
Threshold: Threshold
Average: Average value of infrared image
SD: Standard deviation of infrared image
n: coefficient n
FIG. 16 is a diagram showing spectral intensity distributions of visible light and infrared light (peak wavelength: 880 nm), and FIG. 17 shows transmittances of yellow, magenta, and cyan colors of a general negative / positive color film. FIG.
[0081]
As is apparent from FIG. 17, in the case of a general color film, the transmittance in the vicinity of infrared light is very high for any pigment, so that the luminous flux of the infrared light lamp is almost transmitted. However, even if the transmittance is high, it has not reached 100%. Some film components have low transmittance near infrared light. For example, when such a film is scanned with infrared light, not only dust and scratches but also image information originally obtained with visible light may be reflected in the infrared light image.
If normal image information is captured when obtaining the amount of deviation between the infrared light image and the normal image, an error occurs in the calculation of the amount of deviation correction. Therefore, different threshold values are used for the first dust / scratch detection 204 for correcting the misalignment in FIG. 2 and the second dust / scratch detection 207 for dust / scratch correction.
[0082]
FIG. 6 illustrates an example of a histogram of an infrared light image, where Ta 602 represents a first threshold value and Tb 603 represents a second threshold value. The first threshold value Ta is for measuring the shift correction amount, and is set to a relatively low level so that there is no reflection other than dust and scratches. On the other hand, the second threshold value Tb is used to determine dust / scratches to be removed after correcting the deviation, and the level is not detected due to dust / scratches even if the reflection remains in the infrared image. Set so that there is no.
[0083]
In the above equation (1), the intensity of dust / scratch detection can be adjusted by setting the coefficient n. If n is excessively increased, detection failure may occur. Conversely, if n is decreased, detection failure is reduced, but the possibility of occurrence of reflection increases.
[0084]
The time coefficient n for the second threshold Tb for dust / scratch detection is set to n = b, and the coefficient n = a for the first threshold Ta sets the relationship between the two coefficients as a> b As a result, the threshold value for misregistration correction is always reduced by a certain value, so that the influence of reflection can be reduced.
[0085]
FIG. 7 shows an example of a histogram when the frame of the film holder is reflected in the infrared light image. A film holder is used to fix the film when the transparent original is placed on the image reading apparatus. The film holder is usually formed of plastic or the like, and when the infrared light image is read, if the film holder is reflected in the reading area, the film holder does not transmit light, so the film holder part (hereinafter referred to as holder shadow) is usually The density value is much lower than that of trash and scratches. Then, the density average value of the infrared light image is lower than that in the case where there is no holder shadow as indicated by 501 in FIG. 5, and at the same time, the standard deviation is also increased. Then, since the equation (1) becomes the following equation (2), the threshold value is lowered, and the first threshold value Ta ′ and the second threshold value Tb ′ are also lowered as shown by 702 and 703 in FIG. .
Threshold (↓↓) = Average (↓) − SD (↑) × n (2)
In this case, depending on the size of the holder shadow, the threshold value may decrease too much as indicated by reference numerals 702 and 703 in FIG. 7, which may cause an error in dust / scratch determination and misalignment determination. Even if the holder shadow is not included, the same phenomenon may occur due to the reflection. Therefore, if the standard deviation calculated by providing a maximum limit value for the standard deviation SD is larger than the limit, it is assumed that there is an influence of holder shadow or reflection, and is replaced with a preset fixed value.
[0086]
[Other Embodiments]
The present invention may be applied to a system composed of a plurality of devices or an apparatus composed of a single device.
[0087]
Another object of the present invention is to supply a storage medium (or recording medium) in which a program code of software that realizes the functions of the above-described embodiments is recorded to a system or apparatus, and the computer (or CPU or CPU) of the system or apparatus. Needless to say, this can also be achieved by the MPU) reading and executing the program code stored in the storage medium. In this case, the program code itself read from the storage medium realizes the functions of the above-described embodiments, and the storage medium storing the program code constitutes the present invention. Further, by executing the program code read by the computer, not only the functions of the above-described embodiments are realized, but also an operating system (OS) running on the computer based on the instruction of the program code. It goes without saying that a case where the function of the above-described embodiment is realized by performing part or all of the actual processing and the processing is included.
[0088]
Furthermore, after the program code read from the storage medium is written into a memory provided in a function expansion card inserted into the computer or a function expansion unit connected to the computer, the function is determined based on the instruction of the program code. It goes without saying that the CPU or the like provided in the expansion card or the function expansion unit performs part or all of the actual processing and the functions of the above-described embodiments are realized by the processing.
[0089]
【The invention's effect】
As described above, in the image reading apparatus, even when a positional deviation occurs between a visible light image and a non-visible light image due to visible light, the deviation correction is performed by detecting the deviation amount, and dust / scratch correction is performed without any problem. Can be performed.
[0090]
In addition, it is possible to remove the influence of visible light on the invisible light image and prevent unnecessary image correction.
[0091]
In addition, in the image reading apparatus, even if dust / scratch removal is performed on an image read with invisible light at a resolution different from the resolution of the image read with visible light, dust / scratch removal performance is not deteriorated. Since the scratch position can be specified, the reading speed with invisible light can be optimized, and the dust / scratch removal function can be accelerated.
[0092]
Also, when scanning at very high resolution relative to the size of dust / scratches, it is possible to identify dust / scratch positions in images scanned with visible light without degrading dust / scratch removal performance. Since the pixel unit for processing the image read with visible light and visible light can be thinned out, it is possible to speed up the dust / scratch position specifying process, so that the dust / scratch removal function can be speeded up.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an image reading system according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing a process in a dust / scratch removal unit in the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a flowchart showing processing in a misregistration amount detection unit in the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a diagram for explaining detection of a displacement amount in the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of misregistration detection calculation in a misregistration amount detection unit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating setting of two threshold values in a threshold value determining / storing unit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a diagram illustrating a histogram and threshold setting when a holder shadow is reflected in a threshold determination / storing unit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a schematic diagram for explaining a second embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a flowchart showing processing in the image reading apparatus according to the second embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a schematic diagram for explaining second and third embodiments of the present invention.
FIG. 11 is a flowchart showing processing in the image reading apparatus according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a schematic diagram when the resolution is low in the third exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 13 is a configuration diagram of a conventional image reading apparatus.
FIG. 14 is a configuration diagram of a conventional image reading apparatus that detects a defective area due to dust and scratches on a transparent original.
FIG. 15 is a block diagram illustrating a configuration of a conventional image reading system.
FIG. 16 is a diagram showing spectral intensity distributions of a transparent document illumination lamp and an infrared lamp.
FIG. 17 is a diagram showing the spectral transmittance characteristics of three color pigments in a general color film and the peak wavelength of the spectral intensity distribution of an infrared light lamp.
FIG. 18 is a flowchart showing a conventional process in a dust / scratch removal unit.
FIG. 19 is a diagram showing a relationship between dust on a film and gradation levels obtained by reading the film with a transparent document illumination lamp and an infrared lamp in a conventional example.

Claims

A visible light image signal and a non-visible light image obtained by irradiating an original with a visible light irradiating means for irradiating visible light and an invisible light irradiating means for irradiating invisible light, respectively, and photoelectrically converting the optical image of the original. A signal processing method for processing a signal, comprising:
Generating a first dust / scratch image signal from the invisible light image signal;
In the visible light image signal, the pixel corresponding to the dust / scratch position of the first dust / scratch image signal is shifted by a predetermined pixel, and the signal value of the pixel corresponding to the dust / scratch position for each shift amount. A shift amount detection step of performing a correlation operation including a calculation step of calculating a sum and obtaining a shift amount between the visible light image and the first dust / scratch image;
A correction step of correcting the visible light image signal using the deviation amount detected in the deviation amount detection step and the non-visible light image signal,
The correction step includes a step of generating a second dust / scratch image signal from the non-visible light image signal using a second threshold, and using the shift amount and the second dust / scratch image signal. A signal processing method comprising correcting the visible light image signal.

The signal processing method according to claim 1, further comprising a threshold setting step of setting the second threshold higher than the first threshold.

In the threshold setting step, the first threshold is set to a gradation level lower by a times the standard deviation of the invisible light image than the histogram average value of the invisible light image, and the second threshold is the histogram of the invisible light image. 3. The signal processing method according to claim 2, wherein the level is set to a level that is lower by b times smaller than a of the standard deviation of the invisible light image from the average value.

4. The signal processing method according to claim 3, wherein the threshold value setting step sets the first and second threshold values by replacing with a predetermined value when the standard deviation exceeds a predetermined value.

An image reading apparatus having irradiation means for selectively irradiating visible light and invisible light, and an imaging optical system for forming an optical image of the original by irradiating the original with each light, An image reading apparatus comprising control means for executing the signal processing method according to claim 1.

The program for making a computer implement | achieve the signal processing method in any one of Claims 1 thru | or 4 .

A recording medium recording a program for causing a computer to realize the signal processing method according to claim 6.