JP4682082B2 - X線集光装置 - Google Patents
X線集光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4682082B2 JP4682082B2 JP2006124378A JP2006124378A JP4682082B2 JP 4682082 B2 JP4682082 B2 JP 4682082B2 JP 2006124378 A JP2006124378 A JP 2006124378A JP 2006124378 A JP2006124378 A JP 2006124378A JP 4682082 B2 JP4682082 B2 JP 4682082B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- incident
- ray
- stage
- reference plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Particle Accelerators (AREA)
Description
ここで、dは矩形開口に基づく回折波の第一極小点間距離、λはX線の波長、fは焦点距離、Dはミラー開口を示している。
S スリット
L X線
A、A1、A2 入射角調節機構
B 垂直度調節機構
1 第1ミラー(垂直方向集光ミラー)
2 第2ミラー(水平方向集光ミラー)
3 基台部
4 ミラー保持部
5 ベース板
6 XYステージ
7 Zステージ
8 下基準板
9 Xステージ
10 Yステージ
11 支柱
12 上基準板
13 オートコリメータ
14 オートコリメータ
15 傾斜ステージ
16 傾斜ステージ
17 マイクロメータ
18 マイクロメータ
19 平面ミラー
20 支持部材
21 光路変更機構
22 固定柱
23 可動柱
24 弾性ヒンジ
25 支持板
26 押圧板
27 リニアアクチュエータ
28 傾動板
29 弾性ヒンジ
30 マイクロメータ
31 弾性付勢具
32 開口
33 開口
34 位置決め部
35 マイクロメータ
36 固定板
37 固定柱
38 可動柱
39 弾性ヒンジ
40 支持板
41 押圧板
42 リニアアクチュエータ
43 保持板
44 Zステージ
45 受け部材
46 当止部材
47 押圧板
48 押圧具
49 付勢ピン
50 マイクロメータ
51 ペンタプリズム
52 回転ステージ
53 昇降具
54 保持板
Claims (5)
- 放射光施設で用いられる硬X線、軟X線を集光スポットが100nm以下の空間分解能で集光させるためのX線集光装置であって、光源と集光点を焦点とする楕円の形状が作り込まれた2枚の全反射ミラーからなる第1ミラーと第2ミラーを互に垂直に配置したK−B(Kirkpatrick and Baez)ミラー配置とし、2本の平行なレーザービームの一方を、水平に配した前記第1ミラーに垂直に入射し、他方を垂直に配した前記第2ミラーに90°方向を変換して垂直に入射し、両ミラーからの反射ビームが入射ビームと重なるように調節することを特徴とするX線集光装置。
- アライメント用のレーザービームを発生する2つのオートコリメータを、互いの相対角度を調節可能な傾斜ステージ上に設け、その2本のレーザービームを予め平行に調節し、前記第1ミラーを水平に配し、前記第2ミラーを垂直に配するとともに、該第2ミラーの法線方向の近傍に光路を90°方向変換可能なペンタプリズムを配し、一方のレーザービームを前記第1ミラーに垂直に入射し、他方のレーザービームを前記ペンタプリズムを通して前記第2ミラーに垂直に入射し、両ミラーからの反射ビームが入射ビームと重なるように調節可能とすべく、前記第1ミラーと第2ミラーの何れか一方の保持部にX線の入射角調節機能に加え光軸周りにミラーを回転させる機能を有するとともに、2本のレーザービームを平行に維持した状態で前記2つのオートコリメータを全方向に傾斜可能な機能を有する請求項1記載のX線集光装置。
- 下基準板の上面に入射角調節機構を介して前記第1ミラーを保持するとともに、別の入射角調節機構を介して前記第2ミラーを保持し、前記下基準板の上方に複数の支柱で支持された上基準板を設け、該上基準板の上に設けた傾斜ステージに、第1のオートコリメータを装着するとともに、第2の傾斜ステージを設け、該第2の傾斜ステージ上に第2のオートコリメータを装着してなる請求項2記載のX線集光装置。
- 前記上基準板の下面側には、平面ミラーを該上基準板に下設した支持部材で着脱可能に配し、前記2つのオートコリメータから発生した2本のレーザービームを前記平面ミラーで同時に反射させて、その反射ビームが入射ビームと重なるように前記傾斜ステージを調節する請求項3記載のX線集光装置。
- 前記入射角調節機構は、弾性ヒンジによって第1ミラー及び第2ミラーの入射角を、角度ステップが0.5μrad以下の精度で調節可能とした請求項3記載のX線集光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006124378A JP4682082B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | X線集光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006124378A JP4682082B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | X線集光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007271595A JP2007271595A (ja) | 2007-10-18 |
| JP4682082B2 true JP4682082B2 (ja) | 2011-05-11 |
Family
ID=38674525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006124378A Expired - Lifetime JP4682082B2 (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | X線集光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4682082B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2348347A3 (en) | 2009-08-28 | 2012-07-04 | European Space Agency | Method for assembling two or more mirror plate stacks into a rigid unit |
| JP5475495B2 (ja) * | 2010-02-19 | 2014-04-16 | キヤノン株式会社 | 調整方法 |
| JP6048867B2 (ja) * | 2012-04-17 | 2016-12-21 | 国立大学法人大阪大学 | X線光学システム |
| JP5942190B2 (ja) * | 2012-06-27 | 2016-06-29 | 株式会社ジェイテック | 二重反射型x線ミラーを用いた斜入射x線結像光学装置 |
| KR101963760B1 (ko) * | 2017-07-11 | 2019-03-29 | (주)하이비젼시스템 | 카메라 모듈에 사용되는 프리즘 렌즈의 위치 조정 방법 |
| JP7417027B2 (ja) * | 2020-02-10 | 2024-01-18 | 国立大学法人 東京大学 | 反射型x線光学素子、該反射型x線光学素子を用いたx線集光システム、および該反射型x線光学素子の製造方法 |
| CN116665927A (zh) * | 2023-06-12 | 2023-08-29 | 核工业西南物理研究院 | 适用于核聚变装置弯晶谱仪诊断的调节系统 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5549298U (ja) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | ||
| JP3138027B2 (ja) * | 1991-10-08 | 2001-02-26 | キヤノン株式会社 | Sr−x線ミラーの位置決め装置 |
| JPH08211197A (ja) * | 1995-02-02 | 1996-08-20 | Mac Sci:Kk | 湾曲全反射ミラー装置 |
| JPH1138193A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-12 | Canon Inc | X線照明光学系とx線露光装置 |
-
2006
- 2006-03-31 JP JP2006124378A patent/JP4682082B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2007271595A (ja) | 2007-10-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3697246B2 (ja) | X線回折装置 | |
| JP2752003B2 (ja) | 走査機能を備えた検査干渉計 | |
| Hignette et al. | Submicron focusing of hard x rays with reflecting surfaces at the ESRF | |
| JP6048867B2 (ja) | X線光学システム | |
| JP5522443B2 (ja) | 走査型共焦点顕微鏡検査の改善、およびその関連技術 | |
| CN106166643B (zh) | 一种提高飞秒激光加工精度的方法 | |
| KR102774265B1 (ko) | Euv 반사계 | |
| CN105890875B (zh) | 一种基于掩模板的投影物镜性能测试装置以及方法 | |
| Cocco et al. | Advances in X-ray optics: From metrology characterization to wavefront sensing-based optimization of active optics | |
| JP4682082B2 (ja) | X線集光装置 | |
| US20110261348A1 (en) | Optical Calibration and Testing Device for Machine Tools | |
| US6023379A (en) | Method and apparatus for aligning an objective lens | |
| JP6051361B2 (ja) | 形状可変x線ミラーシステム | |
| US20100135571A1 (en) | Method for Evaluating Microstructures on a Workpiece Based on the Orientation of a Grating on the Workpiece | |
| JP6368971B2 (ja) | 超精密形状測定装置 | |
| WO2008010491A1 (en) | High precision posture control method of x-ray mirror | |
| TWI753254B (zh) | 對焦裝置及具有其之極紫外光輻射產生設備 | |
| KR102060906B1 (ko) | 광정렬을 위한 3차원 측정 및 정렬시스템 | |
| Yumoto et al. | Stitching-angle measurable microscopic-interferometer: Surface-figure metrology tool for hard X-ray nanofocusing mirrors with large curvature | |
| US8130902B2 (en) | High-resolution, active-optic X-ray fluorescence analyzer | |
| JPH05215898A (ja) | X線コリメータ | |
| Matsuyama et al. | Textbook for hard X-ray focusing with Kirkpatrick-Baez optics | |
| US12553838B2 (en) | High resolution x-ray reflectometer | |
| JP2026504557A (ja) | 指向性ビーム源のアラインメントエラーを測定する装置及び方法 | |
| JP7792637B2 (ja) | 対向型x線複合ミラーのアライメント方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090317 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090317 |
|
| A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20101112 |
|
| A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20101222 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110111 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110111 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110131 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110207 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4682082 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |