JP4683752B2 - Ceramic substrate having dividing grooves - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ抵抗器等のチップ状電子部品を多数個取りにより製造する際に用いる分割溝を有するセラミック基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、セラミックスからなる小基板に電極と抵抗体を備えたチップ状の抵抗器が広く使用されており、例えば、ハイブリッドIC基板(HIC基板)等に搭載される抵抗器にあっては、HIC基板の配線の微細化やHIC基板の小型化に伴い、その寸法が、3.2mm×1.6mmから2.0mm×1.25mm、1.6mm×0.8mm、1.0mm×0.5mmと小型化されている。
【0003】
そして、このような抵抗器等のチップ状電子部品を製造する際には、図7に示すように、複数の縦横の分割溝21,22を片面又は両面に有し、隣り合う分割溝21,22によって区画される部位を製品部23とした分割溝を有するセラミック基板20が用いられている。
【0004】
このような分割溝を有するセラミック基板20は、ドクターブレード法等を用いてセラミック原料を含んだスラリーをグリーンシートに成形した後、このグリーンシートの片面又は両面に、複数のスリット刃を備えた金型を押し付けて縦横の分割溝を形成するとともに、ダイスによってセラミック基板20の大きさに打ち抜いた後、焼成することによって製造されており、このセラミック基板20よりチップ抵抗器を製作する場合、隣り合う分割溝21,22によって区画された部位に電極や抵抗体を印刷焼き付けした後、一次側の分割溝21に沿って分割することにより短冊状基板を取り出した後、分割した端面に電極を印刷焼き付けし、その後、二次側の分割溝22に沿って分割することにより製品としてのチップ抵抗器を得るようになっていた。なお、チップコンデンサーやチップインダクターなどの他のチップ状電子部品も図7に示すような分割溝を有するセラミック基板20を用いて製造されていた。
【0005】
しかしながら、図7に示すセラミック基板20のように、分割溝21,22の端部がセラミック基板20の最外辺にまで達していると、電極や抵抗体の実装時や印刷時に加えられる荷重によって分割溝21,22にクラックが発生し、分割する前に割れてしまったり、あるいはセラミック基板20の取り扱い時にぶつけたり、撓ませたりしても分割溝21,22にクラックが発生し、分割する前に割れてしまうといった課題があった。
【0006】
その為、このような問題を解決するものとして、特開平10−264130号公報には、製品領域の外側に、製品領域に形成されている縦横の分割溝が延設されたダミー領域を設け、このダミー領域の分割溝の深さを製品領域の分割溝より浅くしたセラミック基板が開示されており、また、特開平9−11221号公報には、製品領域の外側に、製品領域に形成されている縦横の分割溝が延設されたダミー領域を設け、このダミー領域の分割溝の端部がセラミック基板の最外辺にまで達しないようにしたセラミック基板が開示されている。
【0007】
これらのセラミック基板はいずれもダミー領域を有し、このダミー領域の強度が大きいため、電極や抵抗体の実装時や印刷時あるいはセラミック基板の取り扱い時に荷重が加わったとしてもセラミック基板の割れを防止できるといった利点があった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、昨今チップ状電子部品の小型化が進み、1.0mm×0.5mm以下の寸法を有するものが求められており、例えば0.6mm×0.3mmといった極めて小さな寸法を有するものが要求されているのであるが、1.0mm×0.5mm以下の寸法を有する製品を製作する場合、特開平10−264130号公報に開示されたセラミック基板や、特開平9−11221号公報に開示されたセラミック基板を用いることができなかった。
【0009】
即ち、製品寸法が1.0mm×0.5mm以下と、分割溝間のピッチPが狭くなると、図8に示すように、スリット刃により分割溝を形成する際、製品領域にかかる圧縮応力がダミー領域より強く、製品領域とダミー領域でのグリーンシートの密度差が大きくなるため、製品領域とダミー領域を区画する分割溝にクラックが発生するといった課題があった。
【0010】
また、特開平9−11221号公報に開示されたセラミック基板のように、ダミー領域が、製品領域における縦横の分割溝によって区画される製品の面積に対して広すぎると、グリーンシートを焼成する際に製品領域とダミー領域とで収縮差が発生し、セラミック基板が変形するといった課題もあった。
【0011】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明の分割溝を有するセラミック基板は上記課題に鑑み、内側に製品領域と、前記製品領域を囲んで配置されたダミー領域とを有するとともに、前記製品領域の表面に形成された複数の縦横の分割溝によって複数の製品部が区画されている分割溝を有するセラミック基板であって、前記ダミー領域は、前記製品領域側を囲んで配置された第1ダミー領域と、該第1ダミー領域の外側を囲んで配置された第2ダミー領域とからなり、前記第1ダミー領域の表面には縦横の分割溝を形成されており、かつ前記第2ダミー領域の表面には、前記第1ダミー領域と前記第2ダミー領域とを区画する境界の延長線上で外辺に達する縦及び/又は横の切断溝を形成されているとともに、前記第1ダミー領域の表面に形成した縦横の分割溝間のピッチが、前記製品領域から前記第2ダミー領域に向かって順次広くなっていることを特徴とする。
【0012】
また、本発明の分割溝を有するセラミック基板は、前記第2ダミー領域の表面に、外辺に未達の縦横の分割溝を形成されていることを特徴とする。
【0013】
さらに、本発明の分割溝を有するセラミック基板は、前記製品領域における縦横の分割溝間のピッチ(P)が、上記第1ダミー領域の表面に形成した縦横の分割溝間のピッチ(Q)に対し、1<Q/P<4であることを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を説明する。
【0015】
図1は本発明に係る分割溝を有するセラミック基板の一例を示す平面図である。
【0016】
このセラミック基板1は、その平面形状が略長方形をした板状体からなり、この内側には横方向の分割溝4及び縦方向の分割溝5によって区画される製品領域Sを有し、この製品領域Sには複数の縦横の分割溝2,3を形成してある。この製品領域Sにおいて隣り合う分割溝2,3により区画される製品部6は、その平面形状が長方形をなし、縦方向の分割溝3間のピッチP2、及び横方向の分割溝2間のピッチP1はそれぞれ同一ピッチとなるように構成してある。
【0017】
また、製品領域Sの外側を囲んでダミー領域Rを有し、このダミー領域Rは製品領域近傍にある第1ダミー領域Tと、この第1ダミー領域Tの外側にある第2ダミー領域Uとからなり、製品領域Sと第1ダミー領域Tとは分割溝4,5によって区画され、また、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとは切断溝9,10によって区画され、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとを区画する縦方向の切断溝10の端部のみセラミック基板1の最外辺にまで達するようになっている。
【0018】
さらに、第1ダミー領域Tには複数の縦横の分割溝7,8を有し、この分割溝7,8の端部は第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uを区画する切断溝9,10にまで達するように構成してある。
【0019】
また、第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5は、製品領域Sにおける縦方向の分割溝3間のピッチP2よりも大きく、かつ製品領域側から外側に向かって順次広くなるように構成してあり、図1ではQ4<Q5のように二段階で広くなるようにしてあり、また、第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3は、製品領域Sにおける横方向の分割溝2間のピッチP1よりも大きく、かつ製品領域側から外側に向かって順次広くなるように構成してあり、図1ではQ1<Q2<Q3のように三段階で広くなるようにしてある。なお、本発明において順次広くなるとは、徐々に広くなるものや段階的に広くなるものを指す。
【0020】
また、セラミック基板1に形成する分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の断面形状はV字状をなしている。
【0021】
そして、例えば、このセラミック基板1を用いてチップ抵抗器を取り出すには、セラミック基板1の製品領域Sにおける製品部6に電極と抵抗器を印刷焼き付けした後、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uを区画する縦方向の切断溝10で割って縦の第2ダミー領域U2を取り除くとともに、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uを区画する横方向の切断溝9で割って横の第2ダミー領域U1を取り除き、さらに製品領域Sと第1ダミー領域Tとを区画する横方向の分割溝4に沿って横の第一ダミー部T1を取り除いた後、例えば、図3に示すようなローラ間に搬送し、横方向の分割溝2,7に沿って割ることにより、短冊状基板を取り出す。この時、セラミック基板1の横方向の分割溝2,7が搬送方向に対して垂直に位置するように送れば良い。
【0022】
次に、得られた短冊状基板の製品領域Sにおける分割端面に電極を印刷焼き付けした後、短冊状基板の縦方向の分割溝3,8が搬送方向に対して垂直となるように、再度、図3のローラ間に搬送し、縦方向の分割溝3,8に沿って割ることにより、チップ抵抗器を製造することができる。
【0023】
そして、本発明のセラミック基板1によれば、製品領域Sの外側を囲んでダミー領域Rを有し、その最外部にある第2ダミー領域Uには、端部が最外辺にまで達した分割溝を持たないことから、製品領域Sや第1ダミー領域Tよりも大きな強度を有し、電極や抵抗体の実装時や印刷時あるいはセラミック基板1の取り扱い時に荷重が加わったとしてもセラミック基板1の割れを効果的に防止することができる。
【0024】
また、図1では、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uを区画する縦方向の切断溝10の端部のみ最外辺にまで達するようにようにした例を示したが、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとを区画する横方向の切断溝9の端部のみ最外辺にまで達するようにしても良く、さらには第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとを区画する縦横両方の切断溝9,10の端部がそれぞれ最外辺にまで達しても構わない。ただし、切断溝9,10の端部が最外辺にまで達していると、その部分を起点としてセラミック基板1にクラックが発生し易くなるため、第1ダミー領域Tの分割を容易にするため、縦又は横のいずれか一方の切断溝9,10の端部のみが最外辺にまで達するようにしておくことが好ましい。
【0025】
さらに、本発明のセラミック基板1によれば、製品領域Sと第2ダミー領域Uの間に第1ダミー領域Tを設け、この第1ダミー領域Tの両面には製品領域Sと同様に複数の縦横の分割溝7,8を形成するようにしたことから、スリット刃により分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を形成する際、製品領域Sにかかる圧縮応力と第1ダミー領域Tにかかる圧縮応力を近似させ、グリーンシートにおける製品領域Sと第1ダミー領域Tにおける密度差を小さくすることができるため、製品領域Sの中央部における製品部6と製品領域Sの外周部における製品部6の寸法バラツキを抑えることができるとともに、製品領域Sと第1ダミー領域Tとを区画する分割溝4,5にクラックが発生することを防ぐことができる。
【0026】
その為、安定した寸法精度を持った製品を取り出すことができる分割溝を有するセラミック基板1を提供することができる。
【0027】
なお、第1ダミー領域Tに形成する分割溝7,8は、前述したように、第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5を、製品領域Sにおける縦方向の分割溝2間のピッチP2よりも大きく、かつ製品領域側から外側に向かって徐々に又は段階的に広くなるように構成するとともに、第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1,Q2,Q3を、製品領域Sにおける横方向の分割溝7間のピッチP1よりも大きく、かつ製品領域側から外側に向かって徐々に又は段階的に広くなるように構成することが好ましい。
【0028】
なぜなら、第1ダミー領域Tにおける分割溝7,8間のピッチQ1〜Q5が、製品領域Sにおける分割溝2,3間のピッチP1,P2と同一又は若干大きいだけであると、スリット刃により分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を形成する際、グリーンシートの第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとの間に大きな密度差が発生し、第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uを区画する切断溝9,10にクラックが発生する恐れがあるからで、第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5を、製品領域側から縦の第2ダミー領域U2に向かって徐々に又は段階的に広くなるように構成するとともに、第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3を、製品領域側から横の第2ダミー領域U1に向かって徐々に又は段階的に広くなるように構成することで、スリット刃により分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を形成する際に製品領域Sに発生する寸法バラツキを抑えるとともに、製品領域Sと第1ダミー領域Tとを区画する分割溝4,5や第1ダミー領域Tと第2ダミー領域Uとを区画する切断溝9,10にクラックが発生することを防止することができる。
【0029】
ただし、このような効果を奏するためには、製品領域Sにおける縦方向の分割溝3間のピッチP2に対する第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5の比(Q4,Q5/P2)は、1<Q4,Q5/P2<4とするとともに、製品領域Sにおける横方向の分割溝2間のピッチP1に対する第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3の比(Q1〜Q3/P1)は、1<Q1〜Q3/P1<4とすることが好ましい。
【0030】
即ち、製品領域Sにおける縦方向の分割溝3間のピッチP2に対する第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5の比が1より小さい、及び/又は製品領域Sにおける横方向の分割溝2間のピッチP1に対する第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3の比が1より小さいと、セラミック基板1を分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10に沿って分割した時に製品部6とダミー部11との区別がつかなくなるからであり、逆に製品領域Sにおける縦方向の分割溝3間のピッチP2に対する第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5の比が4以上、及び/又は製品領域Sにおける横方向の分割溝2間のピッチP1に対する第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3の比が4以上となると、スリット刃により分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を形成する際に、グリーンシートの製品領域Sと第1ダミー領域Tにおける密度差が大きくなり過ぎるため、製品領域Sと第1ダミー領域Tとを区画する分割溝4,5にクラックが発生するからである。
【0031】
なお、図1では、第1ダミー領域Tにおける縦方向の分割溝8間のピッチQ4,Q5が二段階にわたって広くなり、また、第1ダミー領域Tにおける横方向の分割溝7間のピッチQ1〜Q3が三段階にわたって広くなるように構成した例を示したが、分割溝7,8間のピッチQ1〜Q5を広げていく度合いについては、製品領域Sから第2ダミー領域Uまでの距離に応じ適宜選定すれば良い。
【0032】
ところで、図1のセラミック基板1には、図2にその部分斜視図を示すように、前述した分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を両面に形成してあり、印刷面側における横の分割溝2,4,7及び切断溝9とその裏面側における横の分割溝2,4,7及び切断溝9の合計深さは、印刷面側における縦の分割溝3,5,8及び切断溝10とその裏面側における縦の分割溝3,5,8及び切断溝10の合計深さよりも深く形成してある。これは、一次分割を行うため、横方向の分割溝2,4,7及び切断溝9に沿って割る際、縦方向の分割溝部における強度がないと、一次分割時に作用する荷重等によって縦方向の分割溝3,5,8及び切断溝10にも割れが発生してしまうからである。
【0033】
なお、印刷面側と裏面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の深さについては、分割時に押圧力を加える印刷面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を深くし、裏面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の深さは、分割時の破断方向が基板1の厚み方向に対して垂直方向に向かうようにするために、その分割方向の誘導ができる程度の深さであれば良い。その為、印刷面側の縦横の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10は共に裏面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10よりも深く形成しておくことが好ましい。
【0034】
また、縦横の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の開き角θ1,θ2は、印刷面側における縦横の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10は共に25±10°、裏面側における縦横の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10は共に40±5°が好ましい。
【0035】
ここで、印刷面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の開き角θ1を、裏面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の開き角θ2より狭くするのは、図4に示すように、スリット刃Aをグリーンシートに押し当てたとき、グリーンシートへ押し込まれるスリット刃Aの体積が大きいと、グリーンシートの分割溝周縁に盛り上がり部Dができ、後工程において電極や抵抗体を精度良く印刷できなくなるとともに、V字状をした分割溝の先端からグリーンシート内にクラックが発生し易くなるからであり、また、裏面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の開き角θ2を、印刷面側の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10の開き角θ1より広くするのは、セラミック基板1を量産性良く製造するにあたり、スリット刃の強度を確保するためである。
【0036】
一方、このようなセラミック基板1を形成するセラミックスとしては、Al2O3含有率が93.0〜99.6重量%のアルミナ質焼結体が種に用いられているが、この他、窒化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、フォルステライト質焼結体、ステアタイト質焼結体、ガラスセラミック等様々なセラミックスを用いることがき、また、このようなセラミック基板1を製造するには、上述した各種セラミック原料に対し、溶剤や有機バインダー等を混練して泥漿を作製し、ドクターブレード法等のテープ成形法にてグリーンシートを製作した後、このグリーンシートの両面又は片面に、図1に示すセラミック基板1の分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10に対応したスリット刃を備える金型を所定の深さまで押し付けて分割溝2〜5,7,8及び切断溝9,10を形成した後、各種セラミック原料を焼結させることができる温度にて焼成することにより得ることがきる。
【0037】
以上、本発明の実施形態について示したが、本発明は前述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で改良や変更したものであっても良いことは言う迄もない。
【0038】
【実施例】
ここで、図1に示す本発明のセラミック基板1と、図5に示す比較例としてのセラミック基板15をそれぞれ製作した時のクラックの有無と寸法精度について調べる実験を行った。
【0039】
実験にあたり、いずれのセラミック基板1,15もAl2O3含有率が96.0重量%のアルミナ質焼結体により形成し、外辺寸法が60.0mm×49.5mm、厚みが0.2mmの板状体とした。また、製品領域Sにおける製品寸法は0.58mm×0.29mmとし、製品領域内における製品数は3500個とした。
【0040】
そして、本発明のセラミック基板1にあっては、製品領域Sの外側に、縦横の分割溝7,8を有する第1ダミー領域Tと、その外側に第2ダミー領域Uを有する構造とし、また、比較例のセラミック基板にあっては、製品領域Sの外側に、分割溝を持たないダミー領域Wを有する構造とし、それぞれ20枚ずつ製作した。
【0041】
なお、本発明のセラミック基板1において、第1ダミー領域Tの各分割溝7,8間のピッチは、Q1を0.37mm、Q2を0.50mm、Q3を1.00mm、Q4を0.90mm、Q5を1.25mmとした。
【0042】
そして、得られた20枚の本発明のセラミック基板1と、20枚の比較例のセラミック基板15の外観検査を施し、ヒビの入っているものをクラックありとし、全枚数に対する割合をクラック発生比率として求め、また、寸法精度の測定にあたっては、直角度、平行度、直線度をそれぞれ測定した。
【0043】
結果は表1に示す通りである。
【0044】
なお、直角度の測定は、例えば図6(a)に示すように、セラミック基板1,15のコーナー部C1における直角度を調べる場合、図6(b)に示すように、セラミック基板1,15の長辺を基準とし、その端部より垂直に引いた仮想線と短辺との最大幅Bを直角度とし、同様にして他のコーナー部C2〜C4の直角度を測定した。
【0045】
平行度の測定にあたっては、図6(c)に示すように、セラミック基板1,15の上部にある横方向の第2ダミー領域U1の幅をW1、下部にある横方向の第2ダミー領域U1の幅をW2、左部にある縦方向の第2ダミー領域U2の幅をL1、右部にある縦方向の第2ダミー領域U2の幅をL2とした時、平行度Lは、L=(W1−W2)によって算出し、平行度Wは、W=(L1−L2)によって算出した。
【0046】
直線度の測定については、例えば図6(d)に示すようにセラミック基板の製品領域Sを区画する分割溝4,5と、その交点を直線的に結ぶ仮想線を引き、この仮想線と分割溝4,5との最大幅Cを直線度とした。
【0047】
【表1】
【0048】
この結果、本発明のセラミック基板1は、クラック発生率が1.0%と低く、また、セラミック基板1の変形度合いを示す直角度、直線度、平行度の平均値が0.01以下とバラツキを小さくすることができ、優れていた。
【0049】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、内側に製品領域と、前記製品領域を囲んで配置されたダミー領域とを有するとともに、前記製品領域の表面に形成された複数の縦横の分割溝によって複数の製品部が区画されている分割溝を有するセラミック基板であって、前記ダミー領域は、前記製品領域側を囲んで配置された第1ダミー領域と、該第1ダミー領域の外側を囲んで配置された第2ダミー領域とからなり、前記第1ダミー領域の表面には縦横の分割溝を形成されており、かつ前第2ダミー領域の表面には、前記第1ダミー領域と前記第2ダミー領域とを区画する境界の延長線上で外辺に達する縦及び/又は横の切断溝を形成されているとともに、前記第1ダミー領域の表面に形成した縦横の分割溝間のピッチが、前記製品領域から前記第2ダミー領域に向かって順次広くなっていることによって、電極や抵抗体の実装時や印刷時あるいはセラミック基板の取り扱い時に荷重が加わったとしてもセラミック基板の割れを効果的に防止することができるとともに、各分割溝にはクラックがなく、かつ安定した寸法精度を有する製品を切り出すことができ、特に1.0mm×0.5mm以下の寸法を有する製品を多数切り出すことが可能な分割溝を有するセラミック基板を提供することができる。
【0050】
なお、前記セラミック基板は、前記第2ダミー領域の表面に、外辺に未達の縦横の分割溝があっても構わない。
【0051】
さらに、本発明は、前記製品領域における縦横の分割溝間のピッチ(P)が、前記第1ダミー領域の表面に形成した縦横の分割溝間のピッチ(Q)に対し、1<Q/P<4であるように構成したことによって、1.0mm×0.5mmよりさらに小さな0.6mm×0.3mm以下の寸法を有する製品を多数切り出すことが可能な分割溝を有するセラミック基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る分割溝を有するセラミック基板の一例を示す平面図である。
【図2】図1に示すセラミック基板の部分斜視図である。
【図3】セラミック基板の分割状態を示す模式図である。
【図4】グリーンシートに大きな体積を有するスリット刃を押し当てた時の状態を示す模式断面図である。
【図5】実験に使用する比較例としてのセラミック基板を示す平面図である。
【図6】(a)〜(d)は、実施にあたっての測定方法を説明するための模式図である。
【図7】従来の分割溝を有するセラミック基板を示す平面図である。
【図8】グリーンシートの製品領域とダミー領域とに密度差が発生した時の状態を示す模式断面図である。
【符号の説明】
1:セラミック基板
2:製品領域における横方向の分割溝
3:製品領域における横方向の分割溝
4:製品領域と第1ダミー領域を区画する横方向の分割溝
5:製品領域と第1ダミー領域を区画する縦方向の分割溝
6:製品部
7:第1ダミー領域における横方向の分割溝
8:第1ダミー領域における縦方向の分割溝
9:第1ダミー領域と第2ダミー領域を区画する横方向の切断溝
10:第1ダミー領域と第2ダミー領域を区画する縦方向の切断溝
11:ダミー部
S:製品領域
T:第1ダミー領域
U:第2ダミー領域
R:ダミー領域[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a ceramic substrate having divided grooves used when a large number of chip-shaped electronic components such as chip resistors are manufactured.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, chip resistors having electrodes and resistors on a small substrate made of ceramics have been widely used. For example, in a resistor mounted on a hybrid IC substrate (HIC substrate) or the like, an HIC substrate With the miniaturization of wiring and miniaturization of the HIC substrate, the dimensions are changed from 3.2 mm × 1.6 mm to 2.0 mm × 1.25 mm, 1.6 mm × 0.8 mm, 1.0 mm × 0.5 mm. It is downsized.
[0003]
And when manufacturing such chip-like electronic components such as resistors, as shown in FIG. 7, the plurality of vertical and horizontal dividing
[0004]
The
[0005]
However, when the end portions of the dividing
[0006]
Therefore, as a solution to such a problem, Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-264130 provides a dummy region in which vertical and horizontal dividing grooves formed in the product region are extended outside the product region, A ceramic substrate in which the depth of the dividing groove in the dummy region is shallower than the dividing groove in the product region is disclosed, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-11221 discloses a ceramic substrate formed in the product region outside the product region. A ceramic substrate is disclosed in which a dummy region is provided in which vertical and horizontal dividing grooves are extended, and an end portion of the dividing groove in the dummy region does not reach the outermost side of the ceramic substrate.
[0007]
Each of these ceramic substrates has a dummy area, and since the strength of this dummy area is high, cracking of the ceramic substrate is prevented even when a load is applied when mounting electrodes, resistors, printing, or handling the ceramic substrate. There was an advantage of being able to.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, with the recent progress of miniaturization of chip-shaped electronic components, there is a demand for one having a size of 1.0 mm × 0.5 mm or less, for example, one having an extremely small size of 0.6 mm × 0.3 mm is required. However, when manufacturing a product having a size of 1.0 mm × 0.5 mm or less, the ceramic substrate disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-264130 or the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-11221 is disclosed. A ceramic substrate could not be used.
[0009]
That is, when the product dimension is 1.0 mm × 0.5 mm or less and the pitch P between the divided grooves is narrow, as shown in FIG. 8, when the divided grooves are formed by the slit blade, the compressive stress applied to the product region is a dummy. Since the green sheet density difference between the product region and the dummy region is larger than that in the region, the cracks are generated in the dividing grooves that divide the product region and the dummy region.
[0010]
Further, as in the ceramic substrate disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-11221, if the dummy region is too wide for the product area defined by the vertical and horizontal dividing grooves in the product region, the green sheet is fired. In addition, there is a problem that a shrinkage difference occurs between the product region and the dummy region, and the ceramic substrate is deformed.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, a ceramic substrate having a splitting groove of the present invention has been made in view of the above problems, and product area inside, which has a dummy region disposed surrounding the product region, a plurality of which are formed on the surface of the product region met ceramic substrate having a splitting groove in which a plurality of product portions by vertical and horizontal dividing grooves are partitioned, before Symbol dummy region includes a first dummy area that is disposed to surround the front SL product region side, said first It consists of a second dummy area that is disposed to surround the outer dummy region, in the prior SL on the surface of the first dummy region is formed dividing grooves aspect, and before Symbol surface of the second dummy region, together they are formed the longitudinal and / or transverse cutting grooves reaching to the outer sides in the extension of the boundary that divides the second dummy area and the first dummy area, formed on the surface of the first dummy area vertically and horizontally Between the split grooves Ji, characterized in that the are from the product area is successively wider toward the second dummy area.
[0012]
Further, a ceramic substrate having a splitting groove of the present invention, prior Symbol surface of the second dummy area, characterized in that it is formed dividing grooves of unreached aspect the perimeter.
[0013]
Furthermore, a ceramic substrate having a splitting groove of the present invention, prior Symbol pitch between vertical and horizontal dividing grooves in the product region (P) is, pitch between the first aspect formed on the surface of the dummy region dividing groove (Q) to, wherein the
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below.
[0015]
FIG. 1 is a plan view showing an example of a ceramic substrate having divided grooves according to the present invention.
[0016]
The
[0017]
In addition, a dummy region R is surrounded by the product region S. The dummy region R includes a first dummy region T near the product region and a second dummy region U outside the first dummy region T. The product region S and the first dummy region T are partitioned by the dividing
[0018]
Further, the first dummy region T has a plurality of vertical and horizontal dividing grooves 7, 8, and the end portions of the dividing grooves 7, 8 are cutting
[0019]
Further, the pitches Q4 and Q5 between the vertical division grooves 8 in the first dummy region T are larger than the pitch P2 between the
[0020]
Further, the sectional shapes of the dividing
[0021]
For example, in order to take out the chip resistor using the
[0022]
Next, after printing and printing an electrode on the divided end face in the product region S of the obtained strip-shaped substrate, again so that the vertical divided
[0023]
And according to the
[0024]
FIG. 1 shows an example in which only the end of the
[0025]
Furthermore, according to the
[0026]
Therefore, it is possible to provide the
[0027]
As described above, the dividing grooves 7 and 8 formed in the first dummy region T have the pitches Q4 and Q5 between the vertical dividing grooves 8 in the first dummy region T and the vertical divisions in the product region S. The pitch Q1 is larger than the pitch P2 between the
[0028]
Because the pitches Q1 to Q5 between the dividing grooves 7 and 8 in the first dummy region T are the same as or slightly larger than the pitches P1 and P2 between the dividing
[0029]
However, in order to achieve such an effect, the ratio of the pitches Q4 and Q5 between the vertical division grooves 8 in the first dummy region T to the pitch P2 between the
[0030]
That is, the ratio of the pitches Q4 and Q5 between the vertical dividing grooves 8 in the first dummy region T to the pitch P2 between the
[0031]
In FIG. 1, the pitches Q4 and Q5 between the vertical division grooves 8 in the first dummy region T are widened in two steps, and the pitches Q1 to Q1 between the horizontal division grooves 7 in the first dummy region T are widened. Although an example is shown in which Q3 is widened in three stages, the degree to which the pitches Q1 to Q5 between the dividing grooves 7 and 8 are widened depends on the distance from the product region S to the second dummy region U. What is necessary is just to select suitably.
[0032]
By the way, the
[0033]
In addition, about the depth of the dividing grooves 2-5,7,8 and the cutting
[0034]
Further, the opening angles θ1 and θ2 of the vertical and
[0035]
Here, the opening angle θ1 of the dividing
[0036]
On the other hand, as a ceramic for forming such a
[0037]
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be improved or changed without departing from the gist of the present invention. Nor.
[0038]
【Example】
Here, an experiment was conducted to examine the presence or absence of cracks and dimensional accuracy when the
[0039]
In the experiment, each of the
[0040]
The
[0041]
In the
[0042]
Then, the obtained 20
[0043]
The results are as shown in Table 1.
[0044]
For example, as shown in FIG. 6A, when measuring the perpendicularity at the corner portion C1 of the
[0045]
In measuring the parallelism, as shown in FIG. 6C, the width of the second horizontal dummy area U1 in the upper part of the
[0046]
For the measurement of the linearity, for example, as shown in FIG. 6 (d), a virtual line that linearly connects the dividing
[0047]
[Table 1]
[0048]
As a result, the
[0049]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a plurality and product areas inside, by the conjunction and a dummy area disposed to surround the product region, the product region dividing groove of a plurality of vertical and horizontal formed on the surface of met ceramic substrate having a splitting groove products of are partitioned, before Symbol dummy region, surrounded a first dummy area that is disposed to surround the front SL product region side, the outer side of the first dummy area in it and a deployed second dummy area, before SL on the surface of the first dummy region is formed dividing grooves aspect, and on the surface before the second dummy region, wherein the first dummy area A vertical and / or horizontal cutting groove reaching the outer side is formed on an extended line of a boundary partitioning the second dummy area, and a pitch between vertical and horizontal dividing grooves formed on the surface of the first dummy area is , From the product area to the second da By that is successively wider towards the chromatography region, it is possible to prevent cracking of the ceramic substrate effectively even load is applied at the electrode and resistor of the mounting or during printing or when the ceramic substrate handling, Each divided groove has no cracks and can cut out a product having stable dimensional accuracy, and in particular, a ceramic substrate having a divided groove capable of cutting out a large number of products having a size of 1.0 mm × 0.5 mm or less. Can be provided.
[0050]
Incidentally, before Symbol ceramic substrate, before Symbol surface of the second dummy area, there may be a division groove in the unreached aspect the perimeter.
[0051]
Furthermore, the present invention is, before Symbol pitch between vertical and horizontal dividing grooves in the product region (P) is, over the previous SL pitch between the divided grooves aspect formed on the surface of the first dummy area (Q), 1 <Q by thus constructed is / P <4, a ceramic substrate having a splitting groove capable of cutting a large number of products having the following dimensions smaller 0.6 mm × 0.3 mm than 1.0 mm × 0.5 mm Can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing an example of a ceramic substrate having divided grooves according to the present invention.
FIG. 2 is a partial perspective view of the ceramic substrate shown in FIG.
FIG. 3 is a schematic diagram showing a divided state of a ceramic substrate.
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a state when a slit blade having a large volume is pressed against a green sheet.
FIG. 5 is a plan view showing a ceramic substrate as a comparative example used in the experiment.
FIGS. 6A to 6D are schematic views for explaining a measurement method in carrying out. FIG.
FIG. 7 is a plan view showing a ceramic substrate having a conventional dividing groove.
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a state when a density difference occurs between a product area and a dummy area of a green sheet.
[Explanation of symbols]
1: Ceramic substrate 2:
10: Longitudinal cutting groove that divides the first dummy area and the second dummy area
11: Dummy part S: Product area T: First dummy area U: Second dummy area R: Dummy area
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