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JP4711263B2 - Image data processing method, image data processing device, image display method, image display device, and charged particle beam device - Google Patents
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JP4711263B2 - Image data processing method, image data processing device, image display method, image display device, and charged particle beam device - Google Patents

Image data processing method, image data processing device, image display method, image display device, and charged particle beam device Download PDF

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本発明は、画像データ処理方法、画像データ処理装置、画像表示方法、画像表示装置、粒子ビーム装置に係り、特にn×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を得る画像データ処理方法、画像データ処理装置、画像表示方法、画像表示装置、及び、荷電粒子ビーム装置に関する。   The present invention relates to an image data processing method, an image data processing device, an image display method, an image display device, and a particle beam device, and more particularly, from an original image arranged in an n × n orthogonal matrix and having a square outline, Pixels placed in a square area that is inscribed in the contour and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged, rotated 45 degrees with respect to the original image, and rotated into an n × n orthogonal matrix The present invention relates to an image data processing method, an image data processing device, an image display method, an image display device, and a charged particle beam device for obtaining an expanded image.

従来、走査型電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置10は、図12に示すように、鏡筒20及び試料室30を備えてなる。鏡筒20内には、電子線を発生する電子線源21、電子線源21からの電子線を所定の方向に偏向する偏向器22,22、図示しない収束レンズ、及び反射電子線、二次電子線、荷電粒子を検出する検出器23を備える。また、試料室30には、試料台が配置され試料31が載置されている。   Conventionally, a charged particle beam apparatus 10 such as a scanning electron microscope includes a lens barrel 20 and a sample chamber 30 as shown in FIG. In the lens barrel 20, an electron beam source 21 that generates an electron beam, deflectors 22 and 22 that deflect the electron beam from the electron beam source 21 in a predetermined direction, a converging lens (not shown), a reflected electron beam, A detector 23 for detecting electron beams and charged particles is provided. In the sample chamber 30, a sample stage is arranged and a sample 31 is placed.

このような荷電粒子ビーム装置10において、試料室30に配置される試料31がシリコンウエハの場合には、観察位置の特定が容易なように、このシリコンウエハに設けられた切欠31a等を荷電粒子ビーム装置10の試料室30の基準位置に合わせ、試料が荷電粒子ビーム装置10に対して定めた方向に向くようにして配置される。そして、電子線の走査は、図11及び図12に示すように、上記荷電粒子ビーム装置10の基準位置に対して平行な四角形の領域33を選定して、この領域に平行に行われる。   In such a charged particle beam apparatus 10, when the sample 31 placed in the sample chamber 30 is a silicon wafer, the notch 31 a and the like provided on the silicon wafer are charged to the charged particles so that the observation position can be easily specified. The sample is arranged so as to be oriented in a predetermined direction with respect to the charged particle beam device 10 in accordance with the reference position of the sample chamber 30 of the beam device 10. Then, as shown in FIGS. 11 and 12, the scanning of the electron beam is performed in parallel with this region by selecting a rectangular region 33 parallel to the reference position of the charged particle beam apparatus 10.

ところで、試料31のパターン32も集積回路など幾何学的な形状をなしたものでは前記試料の切欠などを基準として作成されることから、試料のパターン32と電子線の走査方向とが同一又は垂直になることが多い。   By the way, in the case where the pattern 32 of the sample 31 has a geometric shape such as an integrated circuit, the pattern 32 of the sample 31 is created based on the notch or the like of the sample. Therefore, the scanning direction of the sample pattern 32 and the electron beam is the same or perpendicular. Often becomes.

このような荷電粒子ビーム装置10で得られる電子線像は、試料を電子線で走査することで得られた二次電子等を検出器で検出し、検出した二次電子線の数などの数値を明度とした像である。そのため、走査方向に対して平行な直線を持つパターン32aと、垂直なパターン32bとでは、走査方向に対するパターンの配置方向によって、二次電子線の発生量に差がでてしまい、図14に示すように像71に明度の差が生じてしまう。同図に示した例では、試料31のパターン32aに対応する像71aは暗く(細く表示されている)、パターン32bに対応する像71bは明るく(太く表示されている)なる。なお、図中符号70は、領域33の輪郭を示している。   An electron beam image obtained by such a charged particle beam apparatus 10 is a numerical value such as the number of secondary electron beams detected by detecting secondary electrons obtained by scanning a sample with an electron beam with a detector. It is an image with the brightness. For this reason, the pattern 32a having a straight line parallel to the scanning direction and the vertical pattern 32b have a difference in the amount of secondary electron beams generated depending on the pattern arrangement direction with respect to the scanning direction, as shown in FIG. Thus, a difference in brightness occurs in the image 71. In the example shown in the figure, the image 71a corresponding to the pattern 32a of the sample 31 is dark (displayed thinly), and the image 71b corresponding to the pattern 32b is bright (displayed thickly). Note that reference numeral 70 in the drawing indicates the outline of the region 33.

このように、得られた像に明度に差があると、計測を目的とした荷電粒子ビーム装置10では計測誤差が大きいものとなる。そこで、図15に示すように、電子線の走査方向を上述の方向に対して45度傾けた四角形の領域34とし、電子線を同じ45度傾けた方向に走査することがある。このような場合、電子線源21は、図16に示すように、パターン32の各線を斜めに横切ることとなり、二次電子線の発生量が均等となり、像を均等な明度とすることができる(例えば、特許文献1段落0131〜0135参照)。   Thus, if there is a difference in brightness between the obtained images, the charged particle beam apparatus 10 for measurement has a large measurement error. Therefore, as shown in FIG. 15, the scanning direction of the electron beam may be a rectangular region 34 inclined by 45 degrees with respect to the above-described direction, and the electron beam may be scanned in the same inclined direction of 45 degrees. In such a case, as shown in FIG. 16, the electron beam source 21 crosses each line of the pattern 32 obliquely, and the amount of secondary electron beams generated becomes equal, and the image can have uniform brightness. (For example, see Patent Document 1, paragraphs 0131 to 0135).

このようにすると、得られる像81は、図17(a)に示すように、パターンの配置方向にかかわらず均一なものとなる。ここで電子線を走査した領域は荷電粒子ビーム装置10の基準線に対して45度傾斜したものであるが、得られる像は電子線の走査方向を考慮していないため、像81が傾きのない輪郭80内で45度傾いたものとして表示されることとなる。   In this way, the obtained image 81 is uniform regardless of the pattern arrangement direction, as shown in FIG. Here, the scanning area of the electron beam is inclined 45 degrees with respect to the reference line of the charged particle beam apparatus 10, but the obtained image does not consider the scanning direction of the electron beam, so the image 81 is inclined. It will be displayed as being inclined 45 degrees within the non-contour 80.

上述のように、このようにして得られた像は、本来のパターン像を45度に回転した像に相当するため、これを試料31のパターン32に対応するようにするためには、得られた像を図17(B)に示すように逆方向に45度回転するように並び替える必要がある。   As described above, the image obtained in this way corresponds to an image obtained by rotating the original pattern image by 45 degrees, so that it can be obtained in order to correspond to the pattern 32 of the sample 31. It is necessary to rearrange the obtained images so as to rotate 45 degrees in the reverse direction as shown in FIG.

特許文献2には、このような並べ替え処理が示されている。この例では、画像処理装置に並べ替え用のワークRAMを備え、このワークRAMに画像データを書き換えることにより、上述した並び替を行うようにしている。
特開2005−277395号公報 特願平2−148369号公報
Patent Document 2 shows such a rearrangement process. In this example, the image processing apparatus is provided with a work RAM for rearrangement, and the above-described rearrangement is performed by rewriting image data in the work RAM.
JP 2005-277395 A Japanese Patent Application No. 2-148369

ところで、近年画像解像度が向上している他、撮像すべき領域も広くなってきており、処理すべき画像のデータサイズが増大化している。また、観察画面を動画でリアルタイムに表示することが求められるため、上述した並べ替えに要する時間を電子線が次の走査がなされるまでの間に行うことが必要となってきている。   By the way, in recent years, image resolution has been improved, and the area to be imaged has become wider, and the data size of the image to be processed has increased. Moreover, since it is required to display the observation screen in real time as a moving image, it is necessary to perform the time required for the rearrangement described above until the next scanning of the electron beam.

しかしながら、上述した従来の方法で並び替えるには、大きなサイズのメモリを準備しなければならない他、異なるメモリ間でのデータのやりとりに時間がかかるという問題がある。   However, rearranging by the above-described conventional method has a problem that it is necessary to prepare a large-sized memory and that it takes time to exchange data between different memories.

そこで、本発明は、新たに大きなサイズのメモリを追加することなく、画像データが格納されたメモリ領域と同一のメモリ領域を用いて次の電子線の走査よりも速く並び替えが終了し、高速な並べ替えができる画像データ処理方法、画像データ処理装置、画像表示方法、画像表示装置、荷電粒子ビーム装置を提供することを目的とする。 Therefore, according to the present invention, the rearrangement is completed faster than the next electron beam scanning using the same memory area as the image data stored without adding a new large-sized memory, and the high-speed An object of the present invention is to provide an image data processing method, an image data processing device, an image display method, an image display device, and a charged particle beam device that can be rearranged.

請求項1の発明は、n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を得るに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理方法であって以下の処理を含むことを特徴とする。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定処理。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動処理。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開処理。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完処理。
According to the first aspect of the present invention, pixels arranged in an n × n orthogonal matrix and arranged in a square region inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image from the original image having a square outline Are extracted, rearranged, and rotated to 45 degrees with respect to the original image, to obtain a rotated and expanded image expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image has an address corresponding to each pixel data. The image data processing method is arranged in the attached n × n memory space, and the rotated / expanded image is rearranged in the memory space, and includes the following processing.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation process.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. Is performed for all pixels in the extraction region, and the pixel data movement processing is performed in which all pixel data is arranged without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion process in which empty pixels are arranged in the pixel and these processes are performed on all the oblique pixel data.
d. A blank pixel complementing process for calculating and storing a complement value from surrounding pixels for a blank pixel in the expanded pixel data.

請求項2の発明は、n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を得るに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理装置であって以下の手段を含むことを特徴とする。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定手段。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動手段。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開手段。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完手段。
According to a second aspect of the present invention, pixels arranged in an n × n orthogonal matrix and arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image from the original image having a square outline. Are extracted, rearranged, and rotated to 45 degrees with respect to the original image, to obtain a rotated and expanded image expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image has an address corresponding to each pixel data. The image data processing apparatus is arranged in the attached n × n memory space, and the rotation / expansion image is rearranged in the memory space, and includes the following means.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation means.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. The skew pixel data moving means for performing all the above processing on all the pixels in the extraction region and arranging all the pixel data without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion unit that arranges empty pixels and performs these processes on all the oblique pixel data.
d. Sky pixel complementing means for computing and storing a complement value from surrounding pixels for the blank pixel in the developed pixel data.

請求項3の発明は、n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を表示するに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理方法であって以下の処理を含むことを特徴とする。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定処理。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動処理。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開処理。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完処理。
According to a third aspect of the present invention, pixels arranged in an n × n orthogonal matrix and arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image from an original image having a square outline When the rotated and expanded image rotated 45 degrees with respect to the original image and expanded to an n × n orthogonal matrix is displayed, each pixel data forming the original image has an address corresponding to each pixel data. Is a processing method of image data that is arranged in an n × n memory space to which a rotation and decompression image is rearranged in the memory space, and includes the following processing.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation process.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. Is performed for all pixels in the extraction region, and the pixel data movement processing is performed in which all pixel data is arranged without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion process in which empty pixels are arranged in the pixel and these processes are performed on all the oblique pixel data.
d. A blank pixel complementing process for calculating and storing a complement value from surrounding pixels for the blank pixel in the developed pixel data.

請求項4の発明は、画像データの表示装置において、n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を表示するに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理装置であって以下の手段を含むことを特徴とする。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定手段。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動手段。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開手段。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完手段。
According to a fourth aspect of the present invention, in the image data display device, a square that is arranged in an n × n orthogonal matrix and that is inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image from an original image having a square outline. When the pixel arranged in the area is taken out and rearranged, and the rotated and expanded image rotated 45 degrees with respect to the original image and expanded to the n × n orthogonal matrix is displayed, each pixel data constituting the original image is displayed. An image data processing apparatus which is arranged in an n × n memory space to which an address corresponding to each pixel data is assigned, and in which a rotated and expanded image is rearranged in the memory space, and includes the following means: It is characterized by.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation means.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. The skew pixel data moving means for performing all the above processing on all the pixels in the extraction region and arranging all the pixel data without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion unit that arranges empty pixels and performs these processes on all the oblique pixel data.
d. Sky pixel complementing means for computing and storing a complement value from surrounding pixels for the blank pixel in the developed pixel data.

請求項5の発明は、電子線源からの電子線を試料の所定範囲を走査して照射する電子光学系と、試料から発生する荷電粒子ビームを受け前記電子線の走査に対応させて試料の画像情報を得る演算処理装置とを備えた荷電粒子ビーム装置において、前記請求項2記載の画像処理装置、又は、請求項4記載の画像表示装置を備えると共に、前記演算処理装置には、前記n×nのメモリ空間を備えた画像メモリを備え、前記画像処理装置又は画像表示装置は、画像メモリに格納された画像を原画像として処理を行うことを特徴とする荷電粒子ビーム装置である。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an electron optical system that irradiates an electron beam from an electron beam source while scanning a predetermined range of the sample, and a charged particle beam generated from the sample is received to correspond to the scanning of the electron beam. A charged particle beam device including an arithmetic processing device that obtains image information includes the image processing device according to claim 2 or the image display device according to claim 4, and the arithmetic processing device includes the n The charged particle beam apparatus includes an image memory having an xn memory space, and the image processing apparatus or the image display apparatus performs processing using an image stored in the image memory as an original image.

本発明によれば、新たに大きなサイズのメモリを追加することなく、短時間で画像を45度回転させる並び替えを行うことができる。 According to the present invention, it is possible to perform rearrangement for rotating an image by 45 degrees in a short time without adding a new large-sized memory.

以下、本発明に係る荷電粒子ビーム装置の実施の形態について説明する。図1は第1の実施の形態に係る荷電粒子ビーム装置の構造を示す断面図である。 Hereinafter, embodiments of the charged particle beam apparatus according to the present invention will be described. FIG. 1 is a cross-sectional view showing the structure of a charged particle beam apparatus according to the first embodiment.

本例に係る荷電粒子ビーム装置10は、鏡筒20、試料室30及び制御手段40を備えてなる。鏡筒20内には、電子線を発生する電子線源21、電子線源21からの電子線を所定の方向に偏向する2台の偏向器22,22、図示しない収束レンズ、及び反射電子線、二次電子線、荷電粒子を検出する検出器23を備える。また、試料室30には、試料台が配置され試料31が載置されている。   The charged particle beam apparatus 10 according to this example includes a lens barrel 20, a sample chamber 30, and control means 40. In the lens barrel 20, an electron beam source 21 that generates an electron beam, two deflectors 22 and 22 that deflect the electron beam from the electron beam source 21 in a predetermined direction, a converging lens (not shown), and a reflected electron beam And a detector 23 for detecting secondary electron beams and charged particles. In the sample chamber 30, a sample stage is arranged and a sample 31 is placed.

制御手段40は、偏向器22,22での電子線の偏向状態を制御する偏向制御装置44、検出器23からの信号と偏向制御装置44からの走査信号とに基づいて画像信号を作成する演算処理装置41、CRTやLCDからなり演算処理装置41からの信号に基づいて観察像を表示する画像表示装置42を備えている。本例では、演算処理装置41は、図示しないCPU、ROM,RAMを備え、予め格納されたプログラムに基づいて、前記基板電流の信号から観察画像を獲得して、画像メモリ43に格納する。また、偏向制御装置44は、偏向器22,22を制御して、電子線の走査範囲、電子線の走査方向を設定することができるものである。また、演算処理装置41には、画像メモリ43が内蔵されており、本例ではこの画像メモリ43に設定されたn×nのメモリ空間60において所定の画像処理を行う。   The control means 40 generates an image signal based on the deflection control device 44 for controlling the deflection state of the electron beam in the deflectors 22 and 22, the signal from the detector 23 and the scanning signal from the deflection control device 44. The image processing apparatus 41 includes an image display apparatus 42 that includes a CRT or an LCD and displays an observation image based on a signal from the arithmetic processing apparatus 41. In this example, the arithmetic processing unit 41 includes a CPU, a ROM, and a RAM (not shown), acquires an observation image from the substrate current signal based on a program stored in advance, and stores it in the image memory 43. The deflection control device 44 can control the deflectors 22 and 22 to set an electron beam scanning range and an electron beam scanning direction. In addition, the arithmetic processing device 41 includes an image memory 43, and in this example, predetermined image processing is performed in an n × n memory space 60 set in the image memory 43.

また、本例では、画像メモリ43には画像データ処理装置50が接続されており、画像データ処理装置50は、この画像メモリ43以外のメモリを使用することなく、n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を作成する。   In this example, the image data processing device 50 is connected to the image memory 43, and the image data processing device 50 is arranged in an n × n orthogonal matrix without using any memory other than the image memory 43. From the original image having a square outline, pixels placed in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged, and 45 degrees with respect to the original image. A rotated and expanded image that is rotated and expanded to an n × n orthogonal matrix is created.

以下本例に係る荷電粒子ビーム装置10の画像データ処理装置50について説明する。図2は図1に示した画像処理装置の構成を示すブロック図である。なお、本例では、画像データ処理装置50は図示しないCPU、ROM,RAMを備え、予め格納されたプログラムに基づいて以下の処理を実行する。   Hereinafter, the image data processing apparatus 50 of the charged particle beam apparatus 10 according to the present example will be described. FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of the image processing apparatus shown in FIG. In this example, the image data processing device 50 includes a CPU, ROM, and RAM (not shown), and executes the following processing based on a program stored in advance.

本例では、画像データ処理装置50は、抽出領域確定手段51と斜行画素データ移動手段52と、画素データ展開手段53と、空画素補完手段54とを備えてなる。   In this example, the image data processing device 50 includes an extraction area determination unit 51, an oblique pixel data movement unit 52, a pixel data expansion unit 53, and an empty pixel complementing unit 54.

抽出領域確定手段51は、原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする。   The extraction area determination means 51 determines pixels included in a square extraction area that is inscribed in the original image and is inclined 45 degrees with respect to the original image, and can store pixel data in areas other than the extraction area A free area.

斜行画素データ移動手段52は、前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する。   The skew pixel data moving means 52 converts a skew pixel data string arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction area into one of the memory areas of the empty area of the memory space. Moving to the empty area on the side, the moved pixel area is made an empty area, and a skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string Moving to the empty area, this movement is performed for all the pixels in the extraction area, and all the pixel data is arranged without a gap on one side of the memory space.

画素データ展開手段53は、移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う。   The pixel data expansion means 53 is arranged in one row for each oblique pixel data column on the side opposite to the side where the pixel data is placed in the memory space in the reverse order of the moved pixel data sequence. At this time, empty pixels are arranged between the pixels, and these processes are performed on all the oblique pixel data.

空画素補完手段54は、前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する。   The empty pixel complementing unit 54 calculates and stores a complementary value from surrounding pixels for the empty pixel in the expanded pixel data.

画像データ処理装置50はこれらの構成により、画像メモリ43のメモリ空間60と画像データを授受し画像処理を実行する。以下画像データ処理装置50の動作について説明する。   With these configurations, the image data processing device 50 exchanges image data with the memory space 60 of the image memory 43 and executes image processing. The operation of the image data processing device 50 will be described below.

図3は図1に示した画像処理装置の作動を示すフローチャート、図4は図1に示した画像処理装置の作動における画素データの移動状態を示す該略図である。   FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the image processing apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a schematic diagram showing the movement state of pixel data in the operation of the image processing apparatus shown in FIG.

まず、抽出領域確定手段51で抽出領域の確定を行う(ST1)。この処理では、荷電粒子ビーム装置10において、試料31の領域所定領域を走査し、図4(a)に示すようにn×nマトリクス状のメモリ空間60に画像データを展開しこれを原画像とする。次に、図4(b)に示すように、メモリ空間60において原画像の輪郭に内接し45度傾斜した正方形の領域を設定し、この抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域61とする(ST1)。また、抽出領域61以外の領域をデータ書き込み可能な空量域とする。   First, the extraction area confirmation means 51 confirms the extraction area (ST1). In this process, the charged particle beam apparatus 10 scans a predetermined region of the sample 31 and develops image data in an n × n matrix memory space 60 as shown in FIG. To do. Next, as shown in FIG. 4B, a square area inscribed in the outline of the original image in the memory space 60 and inclined by 45 degrees is set, and the pixels included in the extraction area are determined and the extraction area 61 is defined. (ST1). Further, an area other than the extraction area 61 is an empty area where data can be written.

次に斜行画素データ移動手段52で斜行画素データ列の移動を行う(ST2)。この処理は、図4(c)に示すように、前記抽出領域61を形成する4辺のうちの所定の1辺(この例では右下の1辺)に45度方向に配置される斜行画素データ列70を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域60の空量域下辺側に隙間なく移動するものである。この際原画像に対して抽出領域61は45度傾斜しているから、画素は斜め方向に連続することとなり、この斜めに並んだ斜行画素データを順次移動していく。この際、斜行画素データ列70のうち奇数番(例えば図4(c)中データ列70−1,70−3…)の列は、メモリ空間60の一方側(右側データ列80a側(図4e参照))、偶数番(例えば図4(c)中データ列10−2…)の列はメモリ空間60の他方(左側データ列80b側(図4e参照))に移動して新たにデータ列80を形成する。図4(c)、(d)に示した例では、斜行データ列70−1はデータ列80−1a、斜行データ列70−2はデータ列80−1bを形成する。このとき、メモリ空間60に配置されている斜行画素データ列70が順次データ列80に変換されるとき、斜行画素データ列70は順次空画素とされていき、順次データ列80が格納される領域に原画像が残っていることはない。   Next, the skew pixel data moving means 52 moves the skew pixel data string (ST2). In this process, as shown in FIG. 4C, skew is arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region 61 (in this example, the lower right side). The pixel data string 70 is moved without any gap to the lower side of the empty area of the memory area 60 in the empty area of the memory space. At this time, since the extraction region 61 is inclined by 45 degrees with respect to the original image, the pixels are continuous in an oblique direction, and the oblique pixel data arranged in the oblique direction are sequentially moved. In this case, odd-numbered columns (for example, the data columns 70-1, 70-3,... In FIG. 4C) of the oblique pixel data column 70 are on one side of the memory space 60 (the right data column 80a side (FIG. 4e)), even numbered columns (for example, the data string 10-2 in FIG. 4C) are moved to the other side of the memory space 60 (the left data string 80b side (see FIG. 4e)) and a new data string is created. 80 is formed. In the example shown in FIGS. 4C and 4D, the oblique data string 70-1 forms a data string 80-1a, and the oblique data string 70-2 forms a data string 80-1b. At this time, when the diagonal pixel data string 70 arranged in the memory space 60 is sequentially converted into the data string 80, the diagonal pixel data string 70 is sequentially set to empty pixels, and the data string 80 is sequentially stored. The original image is never left in the area.

このような処理をすべての斜行データ列70に行うと、図4(e)に示すように、メモリ空間60の下側半分に、データ列80a,80bが形成される。この際、移動した斜行データ列の画素領域を空領域とする。   When such processing is performed on all the oblique data strings 70, data strings 80a and 80b are formed in the lower half of the memory space 60 as shown in FIG. At this time, the pixel area of the shifted oblique data string is set as an empty area.

次に画素データ展開手段53で画素データの展開を行う(ST3)。この処理は、図4(f)に示すように、データ列80a,80bのデータを移動した順と逆の順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺即ち上辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置するものである。   Next, the pixel data expansion means 53 expands the pixel data (ST3). As shown in FIG. 4 (f), this processing is performed on the side opposite to the side where the pixel data is placed in the memory space in the reverse order of the movement of the data in the data strings 80a and 80b, that is, on the upper side. Each oblique pixel data column is arranged in one column, and at this time, empty pixels are arranged between the pixels.

即ち、1列のデータ列の画素間に空画素を挿入し、メモリ空間60の上側から1列ずつ配置していくのである。例えば図4(f)に示すように、データ列80−mbの画素間に空画素データを挿入し、これを新たなデータ列90mとしてメモリ空間60に配置する。次に、データ列80−m−1の画素間に空画素データを挿入し、データ90−m−1として、上記データ列90−mの下ラインに格納する。以下順次、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う。このとき空画素を配置して伸張したデータは、本画像の配置を配慮して空画素が隣り合うデータ列で千鳥状に配置されるようにする必要がある。これにより、図4(g)に示すように、抽出領域61の画素データは、各画素間に空画素が市松模様状に配置された状態ですべてメモリ空間60に展開される。   That is, empty pixels are inserted between pixels of one data row, and are arranged one by one from the upper side of the memory space 60. For example, as shown in FIG. 4F, empty pixel data is inserted between the pixels of the data string 80-mb, and this is arranged in the memory space 60 as a new data string 90m. Next, empty pixel data is inserted between the pixels of the data string 80-m-1, and stored in the lower line of the data string 90-m as data 90-m-1. Thereafter, these processes are sequentially performed on all the oblique pixel data. At this time, the data expanded by arranging the empty pixels needs to be arranged in a zigzag manner in adjacent data strings in consideration of the arrangement of the main image. As a result, as shown in FIG. 4G, the pixel data of the extraction area 61 are all expanded in the memory space 60 with empty pixels arranged in a checkered pattern between the pixels.

そして、空画素補完手段54で前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する(ST4)。この処理は、前の処理(ST3)で市松模様状に配置した空画素に周囲に配置された画素の平均値を算出して入力するものである。空画素としては、周囲にデータを有する画素が4つある場合、3つある場合、2つある場合がある。それぞれの場合において空画素には、4つの画素の平均値、3つの画素の平均値、2つの画素の平均値を書き込むようにする。これにより、図4(h)に示すようにメモリ空間60に画素列100が書き込まれることとなる。   The empty pixel complementing unit 54 calculates and stores a complementary value from surrounding pixels for the empty pixel in the developed pixel data (ST4). In this process, an average value of pixels arranged around the empty pixels arranged in a checkered pattern in the previous process (ST3) is calculated and inputted. As empty pixels, there are four pixels having data in the surroundings, there are three cases, and there are two cases. In each case, an average value of four pixels, an average value of three pixels, and an average value of two pixels are written in the empty pixel. As a result, the pixel column 100 is written in the memory space 60 as shown in FIG.

この処理をメモリ空間60が8×8の場合で示すと以下の通りである。この例では、メモリ空間60には、荷電粒子ビーム装置10で走査した画像(グラデーション像)が格納されており、この像を元画像とする。この元画像に内接する正方形の領域を45度並び替え目的画像を得る。   This process is as follows when the memory space 60 is 8 × 8. In this example, an image (gradation image) scanned by the charged particle beam device 10 is stored in the memory space 60, and this image is used as an original image. A square image inscribed in the original image is rearranged 45 degrees to obtain a target image.

まず、抽出領域を確定する(ST1)。この例では、図5に示すように、元画像を構成する画素に1から64と番号をつけることができ、上記傾斜した正方形の領域には、左上左斜め方向に4、11、18、25、左下右斜め方向に33、42、51、60、右下右斜め方向に61、54、47、40、右上左斜め方向に32、23、14、5の画素で囲まれた内側の画素が抽出される。このように、nを偶数とすると、抽出される画素は偶数となり、第1行では2画素、第2行では4画素、第3行では6画素、第4行では8画素、第5行では6画素、第6行では、4画素、第7行では2画素、第8行では0画素となる。   First, an extraction area is determined (ST1). In this example, as shown in FIG. 5, the pixels constituting the original image can be numbered 1 to 64, and the above-mentioned inclined square areas are 4, 11, 18, 25 in the upper left and left diagonal directions. The inner pixels surrounded by 33, 42, 51, 60 in the lower left and right diagonal directions, 61, 54, 47, 40 in the lower right and right diagonal directions, and 32, 23, 14, and 5 in the upper right and left diagonal directions Extracted. Thus, when n is an even number, the number of pixels to be extracted is an even number, 2 pixels in the first row, 4 pixels in the second row, 6 pixels in the third row, 8 pixels in the fourth row, and 8 pixels in the fifth row. 6 pixels, 6 pixels in the 6th row, 2 pixels in the 7th row, 0 pixels in the 8th row.

次に、斜行データを移動する(ST2)。まず、目的の像の末尾ラインを画像空間の末尾から下に格納していく。図6に示すように、画素53を61の画像空間に、画素46を62の画像空間に、画素39を63の画像空間に、画素32を64の画像空間に格納する。   Next, the skew data is moved (ST2). First, the end line of the target image is stored from the end to the bottom of the image space. As shown in FIG. 6, the pixel 53 is stored in 61 image space, the pixel 46 is stored in 62 image space, the pixel 39 is stored in 63 image space, and the pixel 32 is stored in 64 image space.

次に画素52を57の画像空間に、画素45を58の画像空間に、画素38を59の画像空間に、画素31を60の画像空間に並び替える。   Next, the pixel 52 is rearranged in the 57 image space, the pixel 45 is rearranged in the 58 image space, the pixel 38 is rearranged in the 59 image space, and the pixel 31 is rearranged in the 60 image space.

このような移動を順次行い、偶数ライン、奇数ラインの処理を抽出されたすべての斜行データに対し行うと下記図8に示すように、抽出された画素が領域の下方に隙間なく配置されたものが得られる。
本例では、画素44を53の画像空間に、画素37を54の画像空間に、画素30を55の画像空間に、画素23を56の画像空間に並び替え(第2の偶数ライン)、画素43を49の画像空間に、画素36を50の画像空間に、画素29を51の画像空間に、画素22を52の画像空間に並び替え(第2の奇数ライン)、画素35を45の画像空間に、画素28を46の画像空間に、画素21を47の画像空間に、画素14を48の画像空間に並び替え(第3の偶数ライン)、画素34を41の画像空間に、画素27を42の画像空間に、画素20を43の画像空間に、画素13を44の画像空間に並び替え(第3の奇数ライン)、画素26を37の画像空間に、画素19を38の画像空間に、画素12を39の画像空間に、画素5を40の画像空間に並び替え(第4の偶数ライン)、
画素25を33の画像空間に、画素18を34の画像空間に、画素11を35の画像空間に、画素4を36の画像空間に並び替ている(第4の奇数ライン)。
When such movement is performed sequentially, and even line and odd line processing is performed on all the extracted skew data, the extracted pixels are arranged below the area with no gap as shown in FIG. Things are obtained.
In this example, the pixel 44 is rearranged in the 53 image space, the pixel 37 is rearranged in the 54 image space, the pixel 30 is rearranged in the 55 image space, and the pixel 23 is rearranged in the 56 image space (second even line). 43 is rearranged in 49 image space, pixel 36 is rearranged in 50 image space, pixel 29 is rearranged in 51 image space, pixel 22 is rearranged in 52 image space (second odd line), and pixel 35 is rearranged in 45 image space. In the space, the pixel 28 is rearranged in the 46 image space, the pixel 21 is rearranged in the 47 image space, the pixel 14 is rearranged in the 48 image space (third even line), the pixel 34 is replaced in the 41 image space, and the pixel 27 To the image space of 42, the pixel 20 to the image space of 43, the pixel 13 to the image space of 44 (third odd line), the pixel 26 to the image space of 37, and the pixel 19 to the image space of 38 Pixel 12 in 39 image spaces and pixel 5 in 40 Sort in image space (the fourth of the even-numbered lines),
The pixel 25 is rearranged in the 33 image space, the pixel 18 is rearranged in the 34 image space, the pixel 11 is rearranged in the 35 image space, and the pixel 4 is rearranged in the 36 image space (fourth odd line).

次に、画素データの展開を行う(ST3)。本例では、下方に格納したデータから、奇数ライン・偶数ラインそれぞれ間に空画素を挿入しながら画素データを展開する。本例では、奇数ラインと偶数ラインとでは展開の内容を異なるものとしている。これは、抽出した領域は原画像の1/2の面積であるため、抽出した領域の画像を拡大すると共に、隣接するライン間での1/2画素の位相差を補正するためである。   Next, pixel data is developed (ST3). In this example, the pixel data is expanded from the data stored below while inserting empty pixels between the odd lines and the even lines. In this example, the development contents are different between the odd lines and the even lines. This is because the extracted area has a half area of the original image, so that the image of the extracted area is enlarged and the phase difference of 1/2 pixel between adjacent lines is corrected.

奇数ラインの展開は、次のように行う。図9に示すように、第4の奇数ラインにある画素25、18、11、4を第1行の画像空間に1番目の画素から格納し、1画素ごと空けて奇数番目に順に格納する。   The development of odd lines is performed as follows. As shown in FIG. 9, the pixels 25, 18, 11, and 4 on the fourth odd-numbered line are stored from the first pixel in the image space of the first row, and each pixel is stored in order in an odd-numbered order.

次に、偶数ラインの展開は、次のように行う。図10に示すように、第4の偶数ラインにある画素26、19、12、5を第2行の画像空間に最初に1画素空けて、偶数番目に順に格納する。
なお、図9、図10で空画素とした画像空間を、A、B、C、D、E、F、G、H、・・・で示す。
Next, the development of the even lines is performed as follows. As shown in FIG. 10, the pixels 26, 19, 12, and 5 in the fourth even line are first stored in the even-numbered order by leaving one pixel first in the image space of the second row.
9 and FIG. 10, the image spaces defined as empty pixels are indicated by A, B, C, D, E, F, G, H,.

そして、空画素の補完を行う(ST4)。この処理では、図9及び図10にA、B、C、D、E、F、G、H、・・・として示した画像空間に、その点の4方(3方、または2方)の平均値を格納する。像をすべて展開すると図11に示す像が得られる。   Then, the blank pixels are complemented (ST4). In this processing, the image space shown as A, B, C, D, E, F, G, H,... In FIGS. Stores the average value. When all the images are developed, an image shown in FIG. 11 is obtained.

即ち、図11において、例えば図10の画素Aに該当する画像空間には、その画素の3方(下左右の画像空間)に格納された画素25、18、26の平均値(この例では25,18,26の平均値23を記載してある)を格納し、図10の画素Fに該当する画像空間には、その画素の4方(上下左右)の画像空間に格納された画素18、27、26、19の平均値(この例18,27,26,19の平均値23.5の四捨五入値24が記入してある)を格納する。この演算を画像空間A、B、D、E、F、G、H、・・・で行い、演算された画素を画像空間に格納し、画素を展開することができる   That is, in FIG. 11, for example, in an image space corresponding to the pixel A in FIG. 10, an average value of pixels 25, 18, and 26 stored in three directions (lower and left and right image spaces) of the pixel (25 in this example). , 18, and 26), and the image space corresponding to the pixel F in FIG. 10 includes the pixel 18 stored in the image space in the four directions (up, down, left and right) of the pixel, The average value of 27, 26, 19 (the rounded value 24 of the average value 23.5 of this example 18, 27, 26, 19 is entered) is stored. This calculation can be performed in the image spaces A, B, D, E, F, G, H,..., The calculated pixels can be stored in the image space, and the pixels can be expanded.

このように、本例に係る荷電粒子ビーム装置10によれば、演算処理装置41に配置した画像メモリ43内でのデータ移動で45度に傾けた画像を逆回転して試料の配置方向に沿った画像を高速に並べ替えることができる。なお本例では、最終的に得られた像(図17(b))は元の像の√2倍の大きさになる。このため、このような処理を行う場合は、変換された像で得られた結果を(1/√2)倍するか、元画像を予め(1/√2)倍とする調整を行う必要がある。   As described above, according to the charged particle beam apparatus 10 according to the present example, the image tilted at 45 degrees by the data movement in the image memory 43 arranged in the arithmetic processing unit 41 is reversely rotated along the sample arrangement direction. Images can be rearranged at high speed. In this example, the finally obtained image (FIG. 17B) is √2 times larger than the original image. For this reason, when such processing is performed, it is necessary to adjust the result obtained with the converted image by (1 / √2) times or to adjust the original image to (1 / √2) times in advance. is there.

以上説明したように、本例に係る荷電粒子ビーム装置によれば、他のワークメモリを必要とすることなく、1つの画像メモリだけで処理を行うことができる他、処理が高速に実行されるため、オペレータに試料に対して電子線を45度の角度で走査していることを意識させることなく試料の配置に対応した動画及び静止画を表示し、そのまま調整及び計測が可能となる。   As described above, according to the charged particle beam apparatus according to the present example, it is possible to perform processing with only one image memory without requiring another work memory, and the processing is executed at high speed. Therefore, a moving image and a still image corresponding to the arrangement of the sample are displayed without making the operator aware of scanning the sample with an electron beam at an angle of 45 degrees, and adjustment and measurement can be performed as they are.

なお、上記例において画素の並び替えは、抽出した画像空間を右下から左上に向かって、画素の並び替えを行ったが、この画素の並び替えはこれに限定されず、抽出した画像空間の右上から左下に向かって画素の並び替えを行ってもよく、任意の画素から並び替えを行ってもよい。   In the above example, the pixel rearrangement is performed by rearranging the pixels in the extracted image space from the lower right to the upper left. However, the pixel rearrangement is not limited to this, and the pixel rearrangement is not limited to this. The pixels may be rearranged from the upper right to the lower left, or may be rearranged from an arbitrary pixel.

また、斜行画素データ移動における画像データの移動、画素データ展開における画像展開を、水平方向の行ごとに移動、展開を行ったが、これに限定されず、垂直方向の列ごとに移動、展開を行ってもよい。   In addition, the movement of image data in moving oblique pixel data and the image expansion in pixel data expansion were moved and expanded for each row in the horizontal direction. However, the present invention is not limited to this. May be performed.

また、上記実施の形態では、荷電粒子ビーム装置を例として説明したが、これに限定されず、ビデオ画像、テレビジョン画像、携帯電話の表示画面に写し出される画像、パソコン画面に写し出される画像など様々な画像信号を処理する画像データ処理装置、画像表示装置にも適用することができる。   In the above embodiment, the charged particle beam device has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and there are various video images, television images, images projected on a mobile phone display screen, images projected on a personal computer screen, and the like. The present invention can also be applied to an image data processing apparatus and an image display apparatus that process various image signals.

そして、上記例においては、画素データの展開処理(ST3)と空画素の補完処理(ST4)は別のステップで行うようにしたが、これらの処理は同じステップで行うことができる。   In the above example, the pixel data expansion process (ST3) and the empty pixel complement process (ST4) are performed in separate steps, but these processes can be performed in the same step.

実施例に係る荷電粒子ビーム装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the charged particle beam apparatus which concerns on an Example. 図1に示した画像処理装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の作動を示すフローチャートである。2 is a flowchart illustrating an operation of the image processing apparatus illustrated in FIG. 1. 図1に示した画像処理装置の作動における画素データの移動状態を示す該略図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a movement state of pixel data in the operation of the image processing apparatus shown in FIG. 1. 図1に示した画像処理装置の抽出領域の確定動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the determination operation | movement of the extraction area | region of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の抽出領域の確定動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the determination operation | movement of the extraction area | region of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の斜行画素データ列の移動動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the movement operation | movement of the skew pixel data sequence of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の斜行画素データ列の移動結果を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the movement result of the skew pixel data sequence of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の画素データ展開動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the pixel data expansion | deployment operation | movement of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の画素データ展開動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the pixel data expansion | deployment operation | movement of the image processing apparatus shown in FIG. 図1に示した画像処理装置の空画素補完動作の完了状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the completion state of the empty pixel complementation operation | movement of the image processing apparatus shown in FIG. 従来の荷電粒子ビーム装置とその試料の走査範囲を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the scanning range of the conventional charged particle beam apparatus and its sample. 図11に示した試料の走査状態を示す図である。It is a figure which shows the scanning state of the sample shown in FIG. 図11に示した荷電粒子ビーム装置で得られる画像を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the image obtained with the charged particle beam apparatus shown in FIG. 従来の荷電粒子ビーム装置とその試料の走査範囲を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the scanning range of the conventional charged particle beam apparatus and its sample. 図14に示した試料の走査状態を示す図である。It is a figure which shows the scanning state of the sample shown in FIG. 図14に示した荷電粒子ビーム装置で得られる画像を示す図であり、(a)は得られた画像を示す模式図、(B)は画素の並べ替え後の画像を示す模式図である。It is a figure which shows the image obtained with the charged particle beam apparatus shown in FIG. 14, (a) is a schematic diagram which shows the obtained image, (B) is a schematic diagram which shows the image after rearrangement of a pixel.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・荷電粒子ビーム装置
20・・・鏡筒
20・・・画素
21・・・電子線源
22・・・偏向器
23・・・検出器
30・・・試料室
31・・・試料
40・・・制御手段
41・・・演算処理装置
42・・・画像表示装置
43・・・画像メモリ
50・・・画像データ処理装置
51・・・抽出領域確定手段
52・・・斜行画素データ移動手段
53・・・画素データ展開手段
54・・・空画素補完手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Charged particle beam apparatus 20 ... Lens barrel 20 ... Pixel 21 ... Electron beam source 22 ... Deflector 23 ... Detector 30 ... Sample chamber 31 ... Sample 40 ... Control means 41 ... Arithmetic processing device 42 ... Image display device 43 ... Image memory 50 ... Image data processing device 51 ... Extraction area determination means 52 ... Skew pixel data movement Means 53 ... Pixel data expansion means 54 ... Empty pixel complementing means

Claims (5)

n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を得るに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理方法であって以下の処理を含むことを特徴とする画像データの処理方法。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定処理。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動処理。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開処理。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完処理。
From an original image arranged in an n × n orthogonal matrix and having a square outline, pixels arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged. When obtaining a rotated and expanded image rotated by 45 degrees with respect to the original image and expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image has n × n pixels to which addresses corresponding to the pixel data are attached. A method for processing image data, which is arranged in a memory space and in which a rotated and expanded image is rearranged in the memory space, and includes the following processing.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation process.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. Is performed for all pixels in the extraction region, and the pixel data movement processing is performed in which all pixel data is arranged without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion process in which empty pixels are arranged in the pixel and these processes are performed on all the oblique pixel data.
d. A blank pixel complementing process for calculating and storing a complement value from surrounding pixels for a blank pixel in the expanded pixel data.
n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を得るに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理装置であって以下の手段を含むことを特徴とする画像データの処理装置。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定手段。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動手段。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開手段。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完手段。
From an original image arranged in an n × n orthogonal matrix and having a square outline, pixels arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged. When obtaining a rotated and expanded image rotated by 45 degrees with respect to the original image and expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image has n × n pixels to which addresses corresponding to the pixel data are attached. An image data processing apparatus which is arranged in a memory space and in which a rotation / expansion image is rearranged in the memory space, and includes the following means.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation means.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. The skew pixel data moving means for performing all the above processing on all the pixels in the extraction region and arranging all the pixel data without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion unit that arranges empty pixels and performs these processes on all the oblique pixel data.
d. Sky pixel complementing means for computing and storing a complement value from surrounding pixels for the blank pixel in the developed pixel data.
n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を表示するに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理方法であって以下の処理を含むことを特徴とする画像データの表示方法。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定処理。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動処理。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開処理。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完処理。
From an original image arranged in an n × n orthogonal matrix and having a square outline, pixels arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged. When displaying a rotated and expanded image rotated by 45 degrees with respect to the original image and expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image is assigned an address corresponding to each pixel data. An image data processing method in which a rotationally expanded image is rearranged in the memory space, and includes the following processing.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation process.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. Is performed for all pixels in the extraction region, and the pixel data movement processing is performed in which all pixel data is arranged without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion process in which empty pixels are arranged in the pixel and these processes are performed on all the oblique pixel data.
d. A blank pixel complementing process for calculating and storing a complement value from surrounding pixels for a blank pixel in the expanded pixel data.
n×n直交マトリクスに配置され、輪郭が正方形をなす原画像から、原画像の輪郭に内接し原画像に対して45度傾斜させた正方形の領域に配置された画素を取り出して再配置し、前記原画像に対して45度回転され、n×n直交マトリクスに伸張された回転伸張画像を表示するに際し、前記原画をなす各画素データが各画素データに対応するアドレスが付されたn×nのメモリ空間内に配置されてなり、回転伸張画像が前記メモリ空間に再配置される画像データの処理装置であって以下の手段を含むことを特徴とする画像データの表示装置。
a.原画像に内接し、原画像に対して45度傾斜した正方形の抽出領域に含まれる画素を確定して抽出領域とすると共に、抽出領域以外の領域を画素データ格納可能な空領域とする抽出領域確定手段。
b.前記抽出領域を形成する4辺のうちの所定の1辺に45度方向に配置される斜行画素データ列を前記メモリ空間の空領域のうちメモリ領域の1辺側の空量域に移動して、移動した画素領域を空領域とすると共に、次の画素データ列として移動された斜行画素データ列に隣接した画素により形成される斜行画素データ列を前記空領域に移動し、この移動を前記抽出領域のすべての画素について行い、前記メモリ空間の1辺側にすべて画素データを隙間なく配置する斜行画素データ移動手段。
c.移動された画素データ列を移動した順と逆順に前記メモリ空間のうち前記画素データがよせられた辺と対向する辺側に斜行画素データ列ごとに1列に配置し、このとき各画素間に空画素を配置し、すべての斜行画素データについてこれらの処理を行う画素データ展開手段。
d.前記展開された画素データのうち空画素について周囲の画素から補完値を演算して格納する空画素補完手段。
From an original image arranged in an n × n orthogonal matrix and having a square outline, pixels arranged in a square area inscribed in the outline of the original image and inclined by 45 degrees with respect to the original image are taken out and rearranged. When displaying a rotated and expanded image rotated by 45 degrees with respect to the original image and expanded to an n × n orthogonal matrix, each pixel data forming the original image is assigned an address corresponding to each pixel data. An image data processing apparatus in which a rotation / expansion image is rearranged in the memory space, and includes the following means.
a. An extraction area that is inscribed in the original image and that defines a pixel included in a square extraction area inclined by 45 degrees with respect to the original image as an extraction area, and that an area other than the extraction area is an empty area in which pixel data can be stored Confirmation means.
b. The oblique pixel data sequence arranged in a 45-degree direction on a predetermined one of the four sides forming the extraction region is moved to an empty region on one side of the memory region in the empty region of the memory space. The moved pixel area is set as an empty area, and the skewed pixel data string formed by pixels adjacent to the skewed pixel data string moved as the next pixel data string is moved to the empty area. The skew pixel data moving means for performing all the above processing on all the pixels in the extraction region and arranging all the pixel data without gaps on one side of the memory space.
c. The pixel data strings that have been moved are arranged in a row for each oblique pixel data string on the side of the memory space opposite to the side to which the pixel data is assigned in the reverse order of movement. A pixel data expansion unit that arranges empty pixels and performs these processes on all the oblique pixel data.
d. Sky pixel complementing means for computing and storing a complement value from surrounding pixels for the blank pixel in the developed pixel data.
電子線源からの電子線を試料の所定範囲を走査して照射する電子光学系と、試料から発生する荷電粒子ビームを受け前記電子線の走査に対応させて試料の画像情報を得る演算処理装置とを備えた荷電粒子ビーム装置において、
前記請求項2記載の画像処理装置、又は、請求項4記載の画像表示装置を備えると共に、
前記演算処理装置には、前記n×nのメモリ空間を備えた画像メモリを備え、
前記画像処理装置又は画像表示装置は、画像メモリに格納された画像を原画像として処理を行うことを特徴とする荷電粒子ビーム装置。
An electron optical system that scans and irradiates a predetermined range of a sample with an electron beam from an electron beam source, and an arithmetic processing unit that receives a charged particle beam generated from the sample and obtains image information of the sample corresponding to the scanning of the electron beam In a charged particle beam device comprising:
The image processing apparatus according to claim 2 or the image display apparatus according to claim 4 is provided.
The arithmetic processing unit includes an image memory having the n × n memory space,
The charged particle beam apparatus, wherein the image processing apparatus or the image display apparatus performs processing using an image stored in an image memory as an original image.
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