JP4732238B2

JP4732238B2 - Test apparatus and test method

Info

Publication number: JP4732238B2
Application number: JP2006146728A
Authority: JP
Inventors: 幸司浅見
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 2006-05-26
Filing date: 2006-05-26
Publication date: 2011-07-27
Anticipated expiration: 2026-05-26
Also published as: JP2007318505A

Description

本発明は、試験装置および試験方法に関する。特に本発明は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置および試験方法に関する。 The present invention relates to a test apparatus and a test method. In particular, the present invention relates to a test apparatus and a test method for testing a device under test that outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals of the same frequency or a device under test that outputs a plurality of baseband signals.

無線通信の空間多重伝送技術として、ＭＩＭＯ（ＭｕｌｔｉｐｌｅＩｎｐｕｔＭｕｌｔｉｐｌｅＯｕｔｐｕｔ）が知られている。ＭＩＭＯを利用した通信装置は、同一のキャリア周波数の複数の変調信号を同時に無線送信する。ＭＩＭＯは、例えば、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎ等への採用が予定されている。 MIMO (Multiple Input Multiple Output) is known as a spatial multiplexing transmission technique for wireless communication. A communication apparatus using MIMO wirelessly transmits a plurality of modulated signals having the same carrier frequency at the same time. MIMO is planned to be adopted in, for example, IEEE 802.11n.

また、特許文献１には、空間内の電波到来方向探索を計測することを目的として、複数のアンテナで受信した同一周波数の信号のうち、ある一つの信号を基準信号として、他の信号の振幅および位相を測定する測定方法が記載されている。
特許第３６９６３７９号公報 Further, in Patent Document 1, for the purpose of measuring a radio wave arrival direction search in space, among signals of the same frequency received by a plurality of antennas, one signal is used as a reference signal, and the amplitude of another signal And a measurement method for measuring the phase is described.
Japanese Patent No. 3696379

ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する試験装置は、当該通信装置から複数の変調信号を同時に出力させ、これら複数の変調信号を同時に復調およびアナログデジタル変換して良否判定する。従って、当該試験装置は、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数の復調器および複数のアナログデジタル変換器を備えなければならなかった。これにより、ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する従来の試験装置は、構成が大きくなり、高価となっていた。 A test apparatus that tests a communication apparatus using MIMO outputs a plurality of modulation signals from the communication apparatus at the same time, and simultaneously performs demodulation and analog-digital conversion on the plurality of modulation signals to determine pass / fail. Therefore, the test apparatus must include a plurality of demodulators and a plurality of analog-digital converters corresponding to the plurality of modulation signals. As a result, a conventional test apparatus for testing a communication apparatus using MIMO has a large configuration and is expensive.

そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置および試験方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a test apparatus and a test method that can solve the above-described problems. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.

上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部とを備え、ＡＤ変換部は、混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力するＡＤ変換器と、デジタル混合信号における複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力するデジタルフィルタ部と、複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力する周波数変換部と、を有する試験装置を提供する。 In order to solve the above problems, in the first embodiment of the present invention, a test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency, the plurality of modulated signals Corresponding local signal generators for generating a plurality of local signals having different frequencies, and multiplying each of the plurality of modulated signals by the corresponding local signal, thereby causing the plurality of modulated signals to have different frequency bands. Output by a frequency converter that converts to a plurality of intermediate signals, a mixer that outputs a mixed signal obtained by mixing a plurality of intermediate signals, an AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and an AD converter based on the digital signal, and a plurality of modulated signals a quality determination unit for the device under test is output, AD conversion unit, the mixed signal sampling The digital converter outputs the digital mixed signal, and the signal components in each frequency band corresponding to the multiple intermediate signals in the digital mixed signal are extracted, thereby supporting the multiple intermediate signals. A test apparatus comprising: a digital filter unit that outputs a plurality of digital intermediate signals; and a frequency conversion unit that outputs a plurality of digital output signals obtained by frequency-converting each of the plurality of digital intermediate signals as digital signals corresponding to the mixed signal. I will provide a.

ＡＤ変換部は、デジタル出力信号のデータ値を間引きすることにより、デジタル出力信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有してよい。The AD conversion unit may further include a decimation filter unit that reduces the sampling frequency of the digital output signal by thinning out the data value of the digital output signal.

本発明の第２形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部と、良否判定の対象外の変調信号に対応したローカル信号の周波数変換部に対する供給を、停止させる供給停止部とを備え、判定部は、良否判定の対象外の変調信号を除く変調信号を良否判定する試験装置を提供する。 In the second embodiment of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals having the same frequency, and a plurality of different frequencies corresponding to the plurality of modulated signals. The local signal generation unit that generates the local signal and the frequency at which each of the plurality of modulated signals is multiplied by the corresponding local signal to convert the plurality of modulated signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands. Based on the conversion unit, the mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing a plurality of intermediate signals, the AD conversion unit that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and the digital signal output by the AD conversion unit a plurality of modulated signals a quality determination unit that the device has output, the frequency converter of the local signal corresponding to the target outside the modulated signal quality decision The supply of, e Bei the supply stop section for stopping, the determination unit is configured to provide a test apparatus for determining the quality of the modulated signals other than the exempt modulated signals quality decision.

本発明の第３形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部と、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、被試験デバイスを再試験する場合において、異常と判定された変調信号に対して前試験時より低い周波数のローカル信号を対応させるように、切替部による切り替えを制御する切替制御部とを備える試験装置を提供する。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals having the same frequency, and a plurality of different frequencies corresponding to the plurality of modulated signals. The local signal generation unit that generates the local signal and the frequency at which each of the plurality of modulated signals is multiplied by the corresponding local signal to convert the plurality of modulated signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands. Based on the conversion unit, the mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing a plurality of intermediate signals, the AD conversion unit that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and the digital signal output by the AD conversion unit a plurality of modulated signals a quality determination unit that the device has output pairs between each of the respective plurality of modulation signals of a plurality of local signals And a switching control for controlling switching by the switching unit so that a modulated signal determined to be abnormal corresponds to a local signal having a frequency lower than that in the previous test when the device under test is retested. a Department provides Bei example Ru testing device.

本発明の第４形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部と、複数のローカル信号のそれぞれと前記複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、複数のローカル信号のそれぞれと前記複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替えた場合における、対応する変調信号が同一の切替前後の前記デジタル信号の差に基づいて、前記デジタル信号の振幅および位相の少なくとも一方の補正値を算出する補正値算出部とを備え、判定部は、補正値に応じて補正したデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する試験装置を提供する。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals having the same frequency, and a plurality of different frequencies corresponding to the plurality of modulated signals. The local signal generation unit that generates the local signal and the frequency at which each of the plurality of modulated signals is multiplied by the corresponding local signal to convert the plurality of modulated signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands. Based on the conversion unit, the mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing a plurality of intermediate signals, the AD conversion unit that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and the digital signal output by the AD conversion unit during a plurality of modulated signals the device has the output of the acceptability determining unit, and each of the respective said plurality of modulation signals of a plurality of local signals Based on the difference between the digital signals before and after the same switching when the switching unit for switching the correspondence and the correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals are switched the example Bei the correction value calculation unit for calculating at least one of the correction values of the digital signal amplitude and phase, the determination unit based on the digital signal corrected according to the correction value, a plurality of devices under test is output Provided is a test apparatus for judging whether or not a modulated signal is good.

本発明の第５形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号を良否判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 In a fifth aspect of the present invention, a test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of baseband signals, which generates a plurality of local signals having different frequencies corresponding to the plurality of baseband signals. A signal generation unit, a frequency conversion unit that converts a plurality of baseband signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by orthogonally modulating a plurality of baseband signals to corresponding local signals, and a plurality of baseband signals A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the intermediate signals, an AD conversion unit that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and a plurality of devices output by the device under test based on the digital signal output by the AD conversion unit Provided is a test apparatus including a determination unit that determines whether a baseband signal is good or bad.

本発明の第６形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定段階とを備え、ＡＤ変換段階は、混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力するＡＤ変換段階と、デジタル混合信号における複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力するデジタルフィルタ段階と、複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力する周波数変換段階と、を有する試験方法を提供する。 According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a test method for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals having the same frequency, and a plurality of different frequencies corresponding to the plurality of modulated signals. A local signal generating stage for generating a local signal and a frequency for converting the plurality of modulated signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by multiplying each of the plurality of modulated signals by a corresponding local signal Based on the conversion stage, the mixing stage for outputting a mixed signal obtained by mixing a plurality of intermediate signals, the AD conversion stage for outputting a digital signal corresponding to the mixed signal, and the digital signal output by the AD conversion stage and a plurality of modulated signals the quality determination step that the device has output, AD conversion step, digital and mixed signal by sampling By extracting the signal components of each frequency band corresponding to a plurality of intermediate signals in the digital mixed signal, a plurality of digital signals corresponding to the plurality of intermediate signals are extracted. There is provided a test method comprising: a digital filter stage for outputting an intermediate signal; and a frequency conversion stage for outputting a plurality of digital output signals obtained by frequency-converting each of the plurality of digital intermediate signals as digital signals corresponding to the mixed signal. .

本発明の第７形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号を良否判定する判定段階とを備える試験方法を提供する。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a test method for testing a device under test that outputs a plurality of baseband signals, which generates a plurality of local signals having different frequencies corresponding to the plurality of baseband signals. A signal generation stage, a frequency conversion stage for converting a plurality of baseband signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by orthogonally modulating a plurality of baseband signals to corresponding local signals, and a plurality of baseband signals A mixing stage that outputs a mixed signal obtained by mixing the intermediate signals, an AD conversion stage that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal, and a plurality of devices output by the device under test based on the digital signal output by the AD conversion stage There is provided a test method including a determination step for determining pass / fail of a baseband signal.

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。 The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and sub-combinations of these feature groups can also be the invention.

本発明によれば、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験することができる。 According to the present invention, a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency or a device under test that outputs a plurality of baseband signals can be tested with a simple configuration.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention. However, the following embodiments do not limit the invention according to the scope of claims, and all combinations of features described in the embodiments are included. It is not necessarily essential for the solution of the invention.

図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。試験装置１０は、被試験デバイス１００を試験する。被試験デバイス１００は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する。本実施形態において、被試験デバイス１００は、複数の出力データを同一周波数のキャリア信号に対してそれぞれ直交変調して複数の変調信号を生成し、生成したこれら複数の変調信号を受信側の機器に対して出力する。被試験デバイス１００は、一例として、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎにおいて採用されるＭＩＭＯ方式に対応した複数の変調信号（例えば、キャリア周波数ｆｃが５．２ＧＨｚ、帯域幅が２０ＭＨｚまたは４０ＭＨｚの信号）を、それぞれ異なるアンテナから出力してよい。 FIG. 1 shows a configuration of a test apparatus 10 according to this embodiment together with a device under test 100. The test apparatus 10 tests the device under test 100. The device under test 100 outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals having the same frequency. In the present embodiment, the device under test 100 generates a plurality of modulation signals by orthogonally modulating a plurality of output data with respect to a carrier signal having the same frequency, and the generated modulation signals are transmitted to a receiving device. Output. As an example, the device under test 100 uses a plurality of modulation signals (for example, signals having a carrier frequency fc of 5.2 GHz and a bandwidth of 20 MHz or 40 MHz) corresponding to the MIMO system adopted in IEEE802.11n as different antennas. May be output from.

試験装置１０は、試験信号発生部１２と、ローカル信号生成部１４と、混合部１８と、ＡＤ変換部２０と、判定部２２とを備える。試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数の変調信号を同時出力させる。ローカル信号生成部１４は、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の正弦波の複数のローカル信号を生成する。 The test apparatus 10 includes a test signal generation unit 12, a local signal generation unit 14, a mixing unit 18, an AD conversion unit 20, and a determination unit 22. The test signal generator 12 supplies a test signal to the device under test 100 and causes the device under test 100 to simultaneously output a plurality of modulation signals. The local signal generator 14 generates a plurality of local signals of sine waves having different frequencies corresponding to the plurality of modulation signals output from the device under test 100.

周波数変換部１６は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数の変調信号を入力する。そして、周波数変換部１６は、複数の変調信号のそれぞれに対して、ローカル信号生成部１４により生成された対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する。周波数変換部１６は、一例として、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号に対応した、複数の乗算器３０を有してよい。複数の乗算器３０のそれぞれは、対応する変調信号に対して、対応する周波数のローカル信号を乗算して出力する。 The frequency conversion unit 16 inputs a plurality of modulation signals output by the device under test 100 according to the test signal. Then, the frequency conversion unit 16 multiplies each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal generated by the local signal generation unit 14, thereby converting the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate frequencies having different frequency bands. Convert to signal. For example, the frequency converter 16 may include a plurality of multipliers 30 corresponding to a plurality of modulation signals output from the device under test 100. Each of the plurality of multipliers 30 multiplies a corresponding modulation signal by a local signal having a corresponding frequency and outputs the result.

混合部１８は、周波数変換部１６により生成された複数の中間信号を入力する。そして、混合部１８は、入力した複数の中間信号を１つの信号に混合し、混合した混合信号を出力する。本実施形態において、混合部１８は、複数の変調信号を加算する加算器３２を有してよい。加算器３２は、複数の変調信号を加算することにより混合信号を生成する。このような混合部１８によれば、複数の変調信号に対応する各信号成分が異なる周波数帯域に含まれた混合信号を生成することができる。なお、混合部１８は、周波数変換部１６により生成された複数の中間信号に含まれるエイリアスを除去するアンチエイリアシングフィルタを更に有してよい。当該アンチエイリアシングフィルタは、一例として、加算器３２の後段に有してよい。 The mixing unit 18 inputs a plurality of intermediate signals generated by the frequency conversion unit 16. Then, the mixing unit 18 mixes the plurality of input intermediate signals into one signal, and outputs the mixed signal. In the present embodiment, the mixing unit 18 may include an adder 32 that adds a plurality of modulation signals. The adder 32 generates a mixed signal by adding a plurality of modulation signals. According to such a mixing unit 18, it is possible to generate a mixed signal in which signal components corresponding to a plurality of modulation signals are included in different frequency bands. The mixing unit 18 may further include an anti-aliasing filter that removes aliases included in the plurality of intermediate signals generated by the frequency conversion unit 16. As an example, the anti-aliasing filter may be provided in the subsequent stage of the adder 32.

ＡＤ変換部２０は、混合信号をサンプリングして混合信号に応じたデジタル信号を出力する。ＡＤ変換部２０は、一例として、混合信号をデジタル化し、デジタル化した混合信号から複数の変調信号を抽出する。そして、ＡＤ変換部２０は、抽出した複数の変調信号のそれぞれを復調した複数のベースバンド信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力してよい。これに代えて、ＡＤ変換部２０は、抽出した複数の変調信号のそれぞれを所定の周波数に周波数変換した中間周波数信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力してよい。 The AD converter 20 samples the mixed signal and outputs a digital signal corresponding to the mixed signal. As an example, the AD converter 20 digitizes the mixed signal and extracts a plurality of modulated signals from the digitized mixed signal. Then, the AD conversion unit 20 may output a plurality of baseband signals obtained by demodulating each of the extracted plurality of modulation signals as digital signals corresponding to the mixed signal. Instead, the AD conversion unit 20 may output an intermediate frequency signal obtained by frequency-converting each of the extracted plurality of modulation signals to a predetermined frequency as a digital signal corresponding to the mixed signal.

判定部２２は、ＡＤ変換部２０により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号を良否判定する。そして、判定部２２は、良否判定結果を外部に出力する。判定部２２は、一例として、デジタル信号記憶部３４と、期待値記憶部３６と、演算部３８とを有してよい。デジタル信号記憶部３４は、ＡＤ変換部２０から出力されたデジタル信号を記憶する。期待値記憶部３６は、デジタル信号として取得されるべき期待値信号を記憶する。期待値記憶部３６は、一例として、ＡＤ変換部２０が複数の変調信号を復調してベースバンド信号を出力する場合には、出力されるべきベースバンド信号を期待値信号として記憶してよい。また他の一例として、期待値記憶部３６は、ＡＤ変換部２０が複数の変調信号を所定の周波数に周波数変換して中間周波数信号を出力する場合には、出力されるべき中間周波数信号を期待値信号として記憶してよい。演算部３８は、デジタル信号記憶部３４に記憶されたデジタル信号と、期待値記憶部３６に記憶された期待値信号とを比較して、被試験デバイス１００から出力された複数の変調信号を良否判定する。 The determination unit 22 determines pass / fail of the plurality of modulation signals output from the device under test 100 based on the digital signal output from the AD conversion unit 20. Then, the determination unit 22 outputs the pass / fail determination result to the outside. For example, the determination unit 22 may include a digital signal storage unit 34, an expected value storage unit 36, and a calculation unit 38. The digital signal storage unit 34 stores the digital signal output from the AD conversion unit 20. The expected value storage unit 36 stores an expected value signal to be acquired as a digital signal. As an example, the expected value storage unit 36 may store a baseband signal to be output as an expected value signal when the AD conversion unit 20 demodulates a plurality of modulated signals and outputs a baseband signal. As another example, the expected value storage unit 36 expects an intermediate frequency signal to be output when the AD conversion unit 20 converts a plurality of modulated signals to a predetermined frequency and outputs an intermediate frequency signal. It may be stored as a value signal. The arithmetic unit 38 compares the digital signal stored in the digital signal storage unit 34 with the expected value signal stored in the expected value storage unit 36, and determines whether the plurality of modulated signals output from the device under test 100 are acceptable. judge.

このような試験装置１０によれば、混合した複数の変調信号に対して良否判定するので、アナログデジタル変換処理および復調または周波数変換に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、複数のアナログデジタル変換処理回路等の間の特性を合せる作業を不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。 According to such a test apparatus 10, the quality of the mixed modulation signals is determined. Therefore, the scale of the circuit required for the analog-digital conversion process and demodulation or frequency conversion can be reduced, and the cost can be reduced. it can. Further, according to such a test apparatus 10, it is not necessary to perform the work of combining characteristics between a plurality of analog-digital conversion processing circuits and the like, and therefore it is possible to make a quality determination with high accuracy.

図２（Ａ）は変調信号の周波数特性を示し、図２（Ｂ）は混合信号の周波数特性を示す。ローカル信号生成部１４は、同一のキャリア信号（例えばｆｃ＝５．２ＧＨｚ）の所定の信号帯域（例えば２０ＭＨｚ）を有する複数の変調信号を周波数変換部１６が周波数変換して複数の中間信号を生成する場合に、これら複数の中間信号の信号帯域が互いに重複しないような複数のローカル信号を生成する。すなわち、ローカル信号生成部１４は、周波数変換部１６により生成された中間信号の信号帯域が重複しないような周波数間隔に設定された複数のローカル信号を生成する。一例として、ローカル信号生成部１４は、各変調信号の信号帯域が２０ＭＨｚであれば、隣接する中間信号の中心周波数の距離が、少なくとも信号帯域（２０ＭＨｚ）より大きくなるように設定された複数のローカル信号を生成する。 2A shows the frequency characteristic of the modulated signal, and FIG. 2B shows the frequency characteristic of the mixed signal. The local signal generation unit 14 generates a plurality of intermediate signals by the frequency conversion unit 16 frequency-converting a plurality of modulation signals having a predetermined signal band (for example, 20 MHz) of the same carrier signal (for example, fc = 5.2 GHz). In this case, a plurality of local signals are generated so that the signal bands of the plurality of intermediate signals do not overlap each other. That is, the local signal generation unit 14 generates a plurality of local signals set at frequency intervals such that the signal bands of the intermediate signals generated by the frequency conversion unit 16 do not overlap. As an example, if the signal band of each modulation signal is 20 MHz, the local signal generation unit 14 has a plurality of local signals set so that the distance between the center frequencies of adjacent intermediate signals is at least larger than the signal band (20 MHz). Generate a signal.

さらに、ローカル信号生成部１４は、複数の中間信号のうちの最も低い周波数の中間信号における、信号帯域の最低周波数（ｆ_Ｌ）が０よりも大きくなるように周波数が設定された、複数のローカル信号を生成する。ローカル信号生成部１４がこのような複数のローカル信号を生成することにより、試験装置１０によれば、混合信号から複数の変調信号に対応した信号成分を抽出することができる。この結果、試験装置１０によれば、複数の変調信号のそれぞれを良否判定することができる。 Further, the local signal generation unit 14 has a plurality of local signals whose frequencies are set such that the lowest frequency (f _L ) of the signal band in the intermediate signal having the lowest frequency among the plurality of intermediate signals is greater than zero. Generate a signal. When the local signal generator 14 generates such a plurality of local signals, the test apparatus 10 can extract signal components corresponding to the plurality of modulated signals from the mixed signal. As a result, according to the test apparatus 10, it is possible to determine whether each of the plurality of modulation signals is acceptable.

図３は、ＡＤ変換部２０の構成の一例を示す。乗算器３０は、一例として、ＡＤ変換器４２と、デジタルフィルタ部４４と、周波数変換器４６と、デシメーションフィルタ部４８とを有してよい。ＡＤ変換器４２は、混合部１８により生成された混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力する。 FIG. 3 shows an example of the configuration of the AD conversion unit 20. For example, the multiplier 30 may include an AD converter 42, a digital filter unit 44, a frequency converter 46, and a decimation filter unit 48. The AD converter 42 outputs a digital mixed signal by sampling and digitizing the mixed signal generated by the mixing unit 18.

デジタルフィルタ部４４は、ＡＤ変換器４２により出力されたデジタル混合信号における複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力する。デジタルフィルタ部４４は、一例として、複数の中間信号に対応して設けられた、複数のバンドパスフィルタ５０を含んでよい。複数のバンドパスフィルタ５０のそれぞれは、対応する中間信号を通過し、対応する中間信号以外の中間信号を除去する。これにより、複数のバンドパスフィルタ５０のそれぞれは、デジタル混合信号から対応する中間信号の信号成分を抽出したデジタル中間信号を出力することができる。 The digital filter unit 44 extracts a plurality of digital intermediate signals corresponding to the plurality of intermediate signals by extracting signal components in each frequency band corresponding to the plurality of intermediate signals in the digital mixed signal output from the AD converter 42. Output. As an example, the digital filter unit 44 may include a plurality of band-pass filters 50 provided corresponding to a plurality of intermediate signals. Each of the plurality of bandpass filters 50 passes the corresponding intermediate signal and removes intermediate signals other than the corresponding intermediate signal. As a result, each of the plurality of bandpass filters 50 can output a digital intermediate signal obtained by extracting the signal component of the corresponding intermediate signal from the digital mixed signal.

周波数変換器４６は、複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力する。周波数変換器４６は、一例として、複数のデジタル中間信号のそれぞれに対応して設けられた、複数の直交復調器５２と、複数の第１フィルタ５４と、複数の第２フィルタ５６とを含んでよい。複数の直交復調器５２のそれぞれは、対応するデジタル中間信号をデジタル直交復調してベースバンドのデジタル出力信号（Ｉ，Ｑ）を出力する。複数の第１フィルタ５４のそれぞれは、対応するベースバンドのデジタル出力信号の同相成分（Ｉ）に含まれるエイリアスを除去する。複数の第２フィルタ５６のそれぞれは、対応するベースバンドのデジタル出力信号の直交成分（Ｑ）に含まれるエイリアスを除去する。このような構成の周波数変換器４６によれば、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数のベースバンド信号を出力することができる。 The frequency converter 46 outputs a plurality of digital output signals obtained by frequency-converting each of the plurality of digital intermediate signals as digital signals corresponding to the mixed signal. As an example, the frequency converter 46 includes a plurality of quadrature demodulators 52, a plurality of first filters 54, and a plurality of second filters 56 provided corresponding to each of the plurality of digital intermediate signals. Good. Each of the plurality of quadrature demodulators 52 performs digital quadrature demodulation on the corresponding digital intermediate signal and outputs a baseband digital output signal (I, Q). Each of the plurality of first filters 54 removes an alias included in the in-phase component (I) of the corresponding baseband digital output signal. Each of the plurality of second filters 56 removes an alias included in the orthogonal component (Q) of the corresponding baseband digital output signal. According to the frequency converter 46 having such a configuration, it is possible to output a plurality of baseband signals corresponding to each of the plurality of modulation signals.

デシメーションフィルタ部４８は、周波数変換器４６から出力されたデジタル出力信号のデータ値を間引きすることにより、デジタル出力信号のサンプリング周波数を低下させる。以上の構成のＡＤ変換部２０によれば、混合信号に応じたデジタル信号（例えば、複数の変調信号に変調されたベースバンド信号）を出力することができる。 The decimation filter unit 48 reduces the sampling frequency of the digital output signal by thinning out the data value of the digital output signal output from the frequency converter 46. According to the AD converter 20 having the above configuration, a digital signal corresponding to the mixed signal (for example, a baseband signal modulated into a plurality of modulation signals) can be output.

図４は、周波数変換器４６の構成の一例を示す。周波数変換器４６は、一例として、複数のデジタル中間信号のそれぞれに対応して設けられた、複数のダウンコンバータ５８と、複数の第３フィルタ６０とを含んでよい。複数のダウンコンバータ５８のそれぞれは、対応するデジタル中間信号をそれぞれ所定の中心周波数に周波数をダウンコンバートした中間周波数のデジタル出力信号として出力する。複数の第３フィルタ６０のそれぞれは、対応する中間周波数のデジタル出力信号に含まれるエイリアスを除去する。このような構成の周波数変換器４６によれば、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数の中間周波数信号を出力することができる。 FIG. 4 shows an example of the configuration of the frequency converter 46. As an example, the frequency converter 46 may include a plurality of down converters 58 and a plurality of third filters 60 provided corresponding to the plurality of digital intermediate signals. Each of the plurality of down converters 58 outputs a corresponding digital intermediate signal as a digital output signal having an intermediate frequency obtained by down-converting the frequency to a predetermined center frequency. Each of the plurality of third filters 60 removes an alias included in the corresponding digital output signal of intermediate frequency. According to the frequency converter 46 having such a configuration, it is possible to output a plurality of intermediate frequency signals corresponding to each of the plurality of modulation signals.

図５は、本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第１変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。 FIG. 5 shows the configuration of the test apparatus 10 according to the first modification of the present embodiment, together with the device under test 100. Since the test apparatus 10 according to the first modification adopts substantially the same function and configuration as the test apparatus 10 shown in FIG. 1, the description thereof will be omitted below except for the difference from the test apparatus 10 shown in FIG. To do.

本変形例に係る試験装置１０は、供給停止部７２と、供給制御部７４とを更に備える。供給停止部７２は、ローカル信号生成部１４により生成される複数の変調信号のうち、良否判定の対象外の変調信号に対応したローカル信号の周波数変換部１６に対する供給を、停止させる。供給停止部７２は、一例として、対応するローカル信号の周波数を０（直流）にすることにより、周波数変換部１６に対するローカル信号の供給を停止してよい。 The test apparatus 10 according to this modification further includes a supply stop unit 72 and a supply control unit 74. The supply stop unit 72 stops the supply of the local signal corresponding to the modulation signal that is not subject to the pass / fail determination among the plurality of modulation signals generated by the local signal generation unit 14 to the frequency conversion unit 16. For example, the supply stop unit 72 may stop the supply of the local signal to the frequency conversion unit 16 by setting the frequency of the corresponding local signal to 0 (direct current).

供給制御部７４は、判定部２２による良否判定の結果に基づき供給を停止させるローカル信号を決定し、決定したローカル信号の供給を停止させるように供給停止部７２を制御する。供給制御部７４は、一例として、被試験デバイス１００に対して再試験を行う場合、前試験において正常と判定された変調信号に対応するローカル信号を停止させてよい。そして、本変形例において判定部２２は、良否判定の対象外の変調信号を除く変調信号を良否判定する。 The supply control unit 74 determines a local signal for stopping supply based on the result of pass / fail determination by the determination unit 22, and controls the supply stop unit 72 to stop supply of the determined local signal. For example, when the retest is performed on the device under test 100, the supply control unit 74 may stop the local signal corresponding to the modulation signal determined to be normal in the previous test. In the present modification, the determination unit 22 determines the quality of the modulation signals excluding the modulation signals that are not subject to the quality determination.

このような本変形例に係る試験装置１０によれば、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号のうち、良否判定の対象外の変調信号を混合信号に含めずに試験することができる。例えば、本変形例に係る試験装置１０によれば、既に試験をした被試験デバイス１００に対して再試験を行う場合、前の試験において異常と判定された変調信号のみを混合信号に含めることができる。これにより、本変形例に係る試験装置１０によれば、被試験デバイス１００から出力された複数の変調信号のうち、良否判定の対象となる変調信号をより精密に良否判定することができる。 According to such a test apparatus 10 according to this modification, it is possible to perform a test without including, in the mixed signal, a modulation signal that is not subject to pass / fail judgment among a plurality of modulation signals output from the device under test 100. . For example, according to the test apparatus 10 according to this modification, when a retest is performed on the device under test 100 that has already been tested, only the modulation signal determined to be abnormal in the previous test can be included in the mixed signal. it can. Thereby, according to the test apparatus 10 which concerns on this modification, the quality determination of the modulation signal used as the quality determination object can be performed more precisely among the plurality of modulation signals output from the device under test 100.

図６は、本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第２変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。 FIG. 6 shows the configuration of the test apparatus 10 according to the second modification of the present embodiment, together with the device under test 100. The test apparatus 10 according to the second modification adopts substantially the same function and configuration as the test apparatus 10 shown in FIG. 1, and hence the description thereof is omitted except for the difference from the test apparatus 10 shown in FIG. To do.

本変形例に係る試験装置１０は、切替部７６と、切替制御部７８とを更に備える。切替部７６は、ローカル信号生成部１４に生成された複数の変調信号のそれぞれと、被試験デバイス１００から出力された複数のローカル信号のそれぞれとの間の対応を切り替える。切替制御部７８は、被試験デバイス１００を再試験する場合において、異常と判定された変調信号に対して前試験時より低い周波数のローカル信号を対応させるように、切替部７６による切り替えを制御する。 The test apparatus 10 according to this modification further includes a switching unit 76 and a switching control unit 78. The switching unit 76 switches the correspondence between each of the plurality of modulation signals generated by the local signal generation unit 14 and each of the plurality of local signals output from the device under test 100. When the device under test 100 is retested, the switching control unit 78 controls switching by the switching unit 76 so that the modulation signal determined to be abnormal corresponds to a local signal having a frequency lower than that in the previous test. .

このような第２変形例に係る試験装置１０によれば、異常と判定された変調信号を混合信号における低周波数側の帯域に周波数変換することができる。高周波数側よりも低周波数側の信号成分の方がより精度良くデジタル化することができ、デジタルフィルタ部４４の特性がより良好な部分を用いることができるので、試験装置１０によれば、異常と判定された変調信号を精度良く再試験することができる。 According to such a test apparatus 10 according to the second modification, the modulation signal determined to be abnormal can be frequency-converted to a low frequency band in the mixed signal. Since the signal component on the low frequency side can be digitized with higher accuracy than on the high frequency side, and a portion with better characteristics of the digital filter unit 44 can be used. It is possible to re-test the modulation signal determined to be accurate.

図７は、本実施形態の第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第３変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。 FIG. 7 shows a configuration of a test apparatus 10 according to a third modification of the present embodiment, together with a device under test 100. The test apparatus 10 according to the third modified example adopts substantially the same function and configuration as the test apparatus 10 shown in FIG. 1, and hence the description thereof will be omitted except for the difference from the test apparatus 10 shown in FIG. To do.

本変形例に係る試験装置１０は、切替部７６と、補正値算出部８０とを更に備える。切替部７６は、ローカル信号生成部１４に生成された複数の変調信号のそれぞれと、被試験デバイス１００から出力された複数のローカル信号のそれぞれとの間の対応を切り替える。一例として、試験信号発生部１２が被試験デバイス１００から所定の変調信号を出力させている場合において、切替部７６は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を、第１切替状態から、当該第１切替状態と異なる第２切替状態へ切り替えてよい。 The test apparatus 10 according to this modification further includes a switching unit 76 and a correction value calculation unit 80. The switching unit 76 switches the correspondence between each of the plurality of modulation signals generated by the local signal generation unit 14 and each of the plurality of local signals output from the device under test 100. As an example, when the test signal generation unit 12 outputs a predetermined modulation signal from the device under test 100, the switching unit 76 performs correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals. The first switching state may be switched to a second switching state different from the first switching state.

補正値算出部８０は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替えた場合における、対応する変調信号が同一の切替前後の前記デジタル信号の差に基づいて、デジタル信号の振幅および位相の少なくとも一方の補正値を算出する。補正値算出部８０は、一例として、第１切替状態におけるデジタル信号と第２切替状態におけるデジタル信号との間の、対応する変調信号が同一の信号成分の差を、検出してよい。さらに、補正値算出部８０は、一例として、デジタル信号を補正した場合に、第１切替状態におけるデジタル信号および第２切替状態におけるデジタル信号の間の対応する変調信号が同一の信号成分の差が０となるような補正値を算出してよい。 The correction value calculating unit 80, when switching the correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals, based on the difference between the digital signals before and after the corresponding modulation signal is the same, A correction value of at least one of the amplitude and phase of the digital signal is calculated. As an example, the correction value calculation unit 80 may detect a difference between signal components having the same corresponding modulation signal between the digital signal in the first switching state and the digital signal in the second switching state. Further, as an example, when the correction value calculation unit 80 corrects the digital signal, there is a difference between the signal components having the same modulation signal between the digital signal in the first switching state and the digital signal in the second switching state. A correction value such as 0 may be calculated.

判定部２２は、被試験デバイス１００の試験において、補正値算出部８０により算出された補正値に応じてＡＤ変換部２０から出力されたデジタル信号を補正する。そして、判定部２２は、補正したデジタル信号に基づいて被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号を良否判定する。このような本変形例に係る試験装置１０によれば、変調信号を入力して当該変調信号を判定するまでの通過経路の特性のばらつきを、補正することができる。この結果、本変形例に係る試験装置１０によれば、精度良く被試験デバイス１００を良否判定することができる。 In the test of the device under test 100, the determination unit 22 corrects the digital signal output from the AD conversion unit 20 according to the correction value calculated by the correction value calculation unit 80. Then, the determination unit 22 determines pass / fail of the plurality of modulated signals output from the device under test 100 based on the corrected digital signal. According to such a test apparatus 10 according to this modification, it is possible to correct variations in the characteristics of the passage path from when a modulation signal is input until the modulation signal is determined. As a result, according to the test apparatus 10 according to the present modification, it is possible to determine whether the device under test 100 is good or not with high accuracy.

図８は、本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第４変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。 FIG. 8 shows the configuration of a test apparatus 10 according to a fourth modification of the present embodiment, together with the device under test 100. Since the test apparatus 10 according to the fourth modification adopts substantially the same function and configuration as the test apparatus 10 shown in FIG. 1, the description is omitted except for the difference from the test apparatus 10 shown in FIG. To do.

本変形例において、被試験デバイス１００は、複数の変調信号に代えて、同相成分（Ｉ）および直交成分（Ｑ）を含む複数のベースバンド信号を出力する。本変形例に係る試験装置１０は、複数の変調信号に代えて複数のベースバンド信号を入力して、被試験デバイス１００を試験する。試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数のベースバンド信号を同時出力させる。 In this modification, the device under test 100 outputs a plurality of baseband signals including the in-phase component (I) and the quadrature component (Q) instead of the plurality of modulation signals. The test apparatus 10 according to this modified example tests the device under test 100 by inputting a plurality of baseband signals instead of a plurality of modulation signals. The test signal generator 12 supplies a test signal to the device under test 100 and causes the device under test 100 to simultaneously output a plurality of baseband signals.

周波数変換部１６は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数のベースバンド信号を入力する。そして、周波数変換部１６は、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する。周波数変換部１６は、一例として、被試験デバイス１００から出力される複数のベースバンド信号に対応した、複数の直交変調器８２を有してよい。複数の直交変調器８２のそれぞれは、対応するベースバンド信号に対して、対応する周波数のローカル信号を直交変調して出力する。 The frequency conversion unit 16 inputs a plurality of baseband signals output by the device under test 100 according to the test signal. Then, the frequency conversion unit 16 converts the plurality of baseband signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands from each other by orthogonally modulating the plurality of baseband signals with respect to the corresponding local signals. For example, the frequency converter 16 may include a plurality of quadrature modulators 82 corresponding to a plurality of baseband signals output from the device under test 100. Each of the plurality of quadrature modulators 82 performs quadrature modulation on a corresponding baseband signal and outputs a local signal having a corresponding frequency.

このような本変形例に係る試験装置１０によれば、複数のベースバンド信号を中心周波数が異なる中間信号に周波数変換したのち、これら中間信号を混合した複数の変調信号に対して良否判定するので、アナログデジタル変換処理に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、アナログデジタル変換処理回路の間の特性を合せる作業を不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。 According to such a test apparatus 10 according to this modification, after frequency-converting a plurality of baseband signals into intermediate signals having different center frequencies, it is determined whether the plurality of modulation signals obtained by mixing these intermediate signals are acceptable. The cost of the circuit can be reduced by reducing the scale of the circuit required for the analog-digital conversion process. Further, according to such a test apparatus 10, it is not necessary to perform the work of matching the characteristics between the analog-digital conversion processing circuits, and therefore it is possible to make a quality determination with high accuracy.

図９は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。 FIG. 9 shows an example of a hardware configuration of a computer 1900 according to the present embodiment. A computer 1900 according to this embodiment is connected to a CPU peripheral unit having a CPU 2000, a RAM 2020, a graphic controller 2075, and a display device 2080 that are connected to each other by a host controller 2082, and to the host controller 2082 by an input / output controller 2084. Input / output unit having communication interface 2030, hard disk drive 2040, and CD-ROM drive 2060, and legacy input / output unit having ROM 2010, flexible disk drive 2050, and input / output chip 2070 connected to input / output controller 2084 With.

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。 The host controller 2082 connects the RAM 2020 to the CPU 2000 and the graphic controller 2075 that access the RAM 2020 at a high transfer rate. The CPU 2000 operates based on programs stored in the ROM 2010 and the RAM 2020 and controls each unit. The graphic controller 2075 acquires image data generated by the CPU 2000 or the like on a frame buffer provided in the RAM 2020 and displays it on the display device 2080. Instead of this, the graphic controller 2075 may include a frame buffer for storing image data generated by the CPU 2000 or the like.

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。 The input / output controller 2084 connects the host controller 2082 to the communication interface 2030, the hard disk drive 2040, and the CD-ROM drive 2060 which are relatively high-speed input / output devices. The communication interface 2030 communicates with other devices via a network. The hard disk drive 2040 stores programs and data used by the CPU 2000 in the computer 1900. The CD-ROM drive 2060 reads a program or data from the CD-ROM 2095 and provides it to the hard disk drive 2040 via the RAM 2020.

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。 The input / output controller 2084 is connected to the ROM 2010, the flexible disk drive 2050, and the relatively low-speed input / output device of the input / output chip 2070. The ROM 2010 stores a boot program that the computer 1900 executes at startup, a program that depends on the hardware of the computer 1900, and the like. The flexible disk drive 2050 reads a program or data from the flexible disk 2090 and provides it to the hard disk drive 2040 via the RAM 2020. The input / output chip 2070 connects various input / output devices via a flexible disk drive 2050 and, for example, a parallel port, a serial port, a keyboard port, a mouse port, and the like.

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。 A program provided to the hard disk drive 2040 via the RAM 2020 is stored in a recording medium such as the flexible disk 2090, the CD-ROM 2095, or an IC card and provided by the user. The program is read from the recording medium, installed in the hard disk drive 2040 in the computer 1900 via the RAM 2020, and executed by the CPU 2000.

コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験装置１０として機能させるプログラムは、試験信号発生部モジュールと、ローカル信号生成部モジュールと、周波数変換部モジュールと、混合部モジュールと、ＡＤ変換部モジュールと、判定部モジュールとを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、試験信号発生部１２、ローカル信号生成部１４、周波数変換部１６、混合部１８、ＡＤ変換部２０および判定部２２としてそれぞれ機能させる。 A program that is installed in the computer 1900 and causes the computer 1900 to function as the test apparatus 10 includes a test signal generator module, a local signal generator module, a frequency converter module, a mixer module, and an AD converter module. Module. These programs or modules work on the CPU 2000 or the like to cause the computer 1900 to function as the test signal generation unit 12, the local signal generation unit 14, the frequency conversion unit 16, the mixing unit 18, the AD conversion unit 20, and the determination unit 22, respectively. .

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤやＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。 The program or module shown above may be stored in an external storage medium. As the storage medium, in addition to the flexible disk 2090 and the CD-ROM 2095, an optical recording medium such as DVD or CD, a magneto-optical recording medium such as MO, a tape medium, a semiconductor memory such as an IC card, or the like can be used. Further, a storage device such as a hard disk or a RAM provided in a server system connected to a dedicated communication network or the Internet may be used as a recording medium, and the program may be provided to the computer 1900 via the network.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。 As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。1 shows a configuration of a test apparatus 10 according to an embodiment of the present invention, together with a device under test 100. （Ａ）は変調信号の周波数特性を示し、（Ｂ）は混合信号の周波数特性を示す。(A) shows the frequency characteristic of the modulated signal, and (B) shows the frequency characteristic of the mixed signal. ＡＤ変換部２０の構成の一例を示す。An example of the configuration of the AD conversion unit 20 is shown. 周波数変換器４６の構成の一例を示す。An example of the configuration of the frequency converter 46 is shown. 本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。1 shows a configuration of a test apparatus 10 according to a first modification of the present embodiment, together with a device under test 100. 本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。The structure of the test apparatus 10 which concerns on the 2nd modification of this embodiment is shown with the to-be-tested device 100. FIG. 本実施形態の第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。The structure of the test apparatus 10 which concerns on the 3rd modification of this embodiment is shown with the to-be-tested device 100. FIG. 本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。The structure of the test apparatus 10 which concerns on the 4th modification of this embodiment is shown with the to-be-tested device 100. FIG. 本発明の実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。2 shows an exemplary hardware configuration of a computer 1900 according to an embodiment of the present invention.

Explanation of symbols

１０試験装置
１２試験信号発生部
１４ローカル信号生成部
１６周波数変換部
１８混合部
２０ＡＤ変換部
２２判定部
３０乗算器
３２加算器
３４デジタル信号記憶部
３６期待値記憶部
３８演算部
４２ＡＤ変換器
４４デジタルフィルタ部
４６周波数変換器
４８デシメーションフィルタ部
５０バンドパスフィルタ
５２直交復調器
５４第１フィルタ
５６第２フィルタ
５８ダウンコンバータ
６０第３フィルタ
７２供給停止部
７４供給制御部
７６切替部
７８切替制御部
８０補正値算出部
８２直交変調器
１００被試験デバイス
１９００コンピュータ
２０００ＣＰＵ
２０１０ＲＯＭ
２０２０ＲＡＭ
２０３０通信インターフェイス
２０４０ハードディスクドライブ
２０５０フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０入出力チップ
２０７５グラフィック・コントローラ
２０８０表示装置
２０８２ホスト・コントローラ
２０８４入出力コントローラ
２０９０フレキシブルディスク
２０９５ＣＤ−ＲＯＭ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Test apparatus 12 Test signal generation part 14 Local signal generation part 16 Frequency conversion part 18 Mixing part 20 AD conversion part 22 Determination part 30 Multiplier 32 Adder 34 Digital signal memory | storage part 36 Expected value memory | storage part 38 Calculation part 42 AD converter 44 digital filter unit 46 frequency converter 48 decimation filter unit 50 band pass filter 52 quadrature demodulator 54 first filter 56 second filter 58 down converter 60 third filter 72 supply stop unit 74 supply control unit 76 switching unit 78 switching control unit 80 Correction Value Calculation Unit 82 Quadrature Modulator 100 Device Under Test 1900 Computer 2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 Communication interface 2040 Hard disk drive 2050 Flexible disk drive 2060 CD-ROM drive 2070 Input / output chip 2075 Graphic controller 2080 Display device 2082 Host controller 2084 Input / output controller 2090 Flexible disk 2095 CD-ROM

Claims

A test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency,
A local signal generation unit that generates a plurality of local signals of different frequencies corresponding to the plurality of modulation signals;
A frequency converter that converts each of the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by multiplying each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal;
A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal;
A determination unit for determining pass / fail of the plurality of modulation signals output by the device under test based on the digital signal output by the AD conversion unit ;
The AD converter is
An AD converter that outputs a digital mixed signal by sampling and digitizing the mixed signal;
A digital filter unit that outputs a plurality of digital intermediate signals corresponding to the plurality of intermediate signals by extracting signal components of each frequency band corresponding to the plurality of intermediate signals in the digital mixed signal;
A plurality of digital output signals obtained by frequency-converting each of the plurality of digital intermediate signals, and a frequency conversion unit that outputs the digital signals corresponding to the mixed signals;
Test apparatus having.

The test apparatus according to claim 1 , wherein the AD conversion unit further includes a decimation filter unit that reduces a sampling frequency of the digital output signal by thinning out a data value of the digital output signal.

A switching unit that switches correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals;
When retesting the device under test, a switching control unit that controls switching by the switching unit so that the modulation signal determined to be abnormal corresponds to the local signal having a frequency lower than that during the previous test; further comprising testing apparatus according to claim 1 or 2.

A switching unit that switches correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals;
When the correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals is switched, the amplitude of the digital signal is based on the difference between the digital signals before and after the same modulation signal is switched. And a correction value calculation unit for calculating a correction value of at least one of the phases,
The determination unit, on the basis of the digital signal corrected according to the correction value, the according to any one of the plurality of modulated signals the device under test is outputted from claim 1, further comprising the acceptability determining 3 Testing equipment.

A supply stop unit that stops the supply of the local signal corresponding to the modulation signal that is not subject to pass / fail judgment to the frequency conversion unit;
The determination unit, the test device according to the modulation signal, except for exempt modulated signals quality determination on acceptability determining claim 1 or 2.

A test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency,
A local signal generation unit that generates a plurality of local signals of different frequencies corresponding to the plurality of modulation signals;
A frequency converter that converts each of the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by multiplying each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal;
A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal;
Based on the digital signal output by the AD conversion unit, a determination unit for determining pass / fail of the plurality of modulation signals output by the device under test;
A supply stop unit for stopping the supply of the local signal corresponding to the modulation signal that is not subject to the pass / fail judgment to the frequency conversion unit;
With
The determination unit is a test apparatus that determines pass / fail of modulated signals excluding modulated signals that are not subject to pass / fail determination.

A test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency,
A local signal generation unit that generates a plurality of local signals of different frequencies corresponding to the plurality of modulation signals;
A frequency converter that converts each of the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by multiplying each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal;
A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal;
Based on the digital signal output by the AD conversion unit, a determination unit for determining pass / fail of the plurality of modulation signals output by the device under test;
A switching unit that switches correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals;
When retesting the device under test, a switching control unit that controls switching by the switching unit so that the modulation signal determined to be abnormal corresponds to the local signal having a frequency lower than that during the previous test;
A test apparatus comprising:

A test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency,
A local signal generation unit that generates a plurality of local signals of different frequencies corresponding to the plurality of modulation signals;
A frequency converter that converts each of the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by multiplying each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal;
A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal;
Based on the digital signal output by the AD conversion unit, a determination unit for determining pass / fail of the plurality of modulation signals output by the device under test;
A switching unit that switches correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals;
When the correspondence between each of the plurality of local signals and each of the plurality of modulation signals is switched, the amplitude of the digital signal is based on the difference between the digital signals before and after the same modulation signal is switched. And a correction value calculation unit for calculating a correction value of at least one of the phase and
With
The determination unit is a test apparatus that determines pass / fail of the plurality of modulation signals output from the device under test based on a digital signal corrected according to the correction value.

A test apparatus for testing a device under test that outputs a plurality of baseband signals,
A local signal generation unit that generates a plurality of local signals having different frequencies corresponding to the plurality of baseband signals;
A frequency conversion unit that converts the plurality of baseband signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by orthogonally modulating the plurality of baseband signals with respect to the corresponding local signal;
A mixing unit that outputs a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD converter that outputs a digital signal corresponding to the mixed signal;
A test apparatus comprising: a determination unit that determines pass / fail of the plurality of baseband signals output from the device under test based on a digital signal output from the AD conversion unit.

A test method for testing a device under test that outputs a plurality of modulated signals modulated by carrier signals of the same frequency,
A local signal generating step for generating a plurality of local signals of different frequencies corresponding to the plurality of modulated signals;
A frequency conversion step of converting the plurality of modulation signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands from each other by multiplying each of the plurality of modulation signals by the corresponding local signal;
A mixing step of outputting a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD conversion stage for outputting a digital signal corresponding to the mixed signal;
A determination step for determining pass / fail of the plurality of modulation signals output by the device under test based on the digital signal output by the AD conversion step ;
The AD conversion stage includes
An AD conversion stage for outputting a digital mixed signal by sampling and digitizing the mixed signal;
A digital filter stage for outputting a plurality of digital intermediate signals corresponding to the plurality of intermediate signals by extracting signal components of respective frequency bands corresponding to the plurality of intermediate signals in the digital mixed signal;
A frequency conversion step of outputting a plurality of digital output signals obtained by frequency-converting each of the plurality of digital intermediate signals as the digital signals corresponding to the mixed signals;
A test method having :

A test method for testing a device under test that outputs a plurality of baseband signals,
Generating a plurality of local signals having different frequencies corresponding to the plurality of baseband signals;
A frequency conversion step of converting the plurality of baseband signals into a plurality of intermediate signals having different frequency bands by orthogonally modulating the plurality of baseband signals with respect to the corresponding local signal;
A mixing step of outputting a mixed signal obtained by mixing the plurality of intermediate signals;
An AD conversion stage for outputting a digital signal corresponding to the mixed signal;
And a determination step of determining pass / fail of the plurality of baseband signals output by the device under test based on the digital signal output by the AD conversion step.