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JP4777814B2 - Multilayer conductive glass lining, multilayer conductive glass lining structure, and multilayer conductive glass lining construction method - Google Patents
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Multilayer conductive glass lining, multilayer conductive glass lining structure, and multilayer conductive glass lining construction method Download PDF

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JP4777814B2 JP2006098583A JP2006098583A JP4777814B2 JP 4777814 B2 JP4777814 B2 JP 4777814B2 JP 2006098583 A JP2006098583 A JP 2006098583A JP 2006098583 A JP2006098583 A JP 2006098583A JP 4777814 B2 JP4777814 B2 JP 4777814B2
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Description

本発明は、化学工業、医薬品工業、食品工業等で使用される耐食性を有し、導電性を有しない下引きグラスライニング層、導電性を有しない上引きグラスライニング層、第一の上引き導電性グラスライニング層及び最表層の第二の上引き導電性グラスライニング層の少なくとも四層のグラスライニング層を備える多層導電性グラスライニング、該多層導電性グラスライニングから構成されるグラスライニング製構造物、及び多層導電性グラスライニングの施工方法に関するものである。   The present invention has corrosion resistance used in the chemical industry, pharmaceutical industry, food industry, etc., and has a non-conductive undercoat glass lining layer, a non-conductive overcoat glass lining layer, a first overcoat conductive A multilayer conductive glass lining comprising at least four glass lining layers of a conductive glass lining layer and an outermost second conductive conductive glass lining layer; a glass lining structure comprising the multilayer conductive glass lining; And a method for constructing a multilayer conductive glass lining.

シリカ質(SiO2)とアルミナ質(Al2O3)からなるガラス層を金属表面に強固に焼成結合したものが琺瑯で、そのうち、特に耐酸性、耐アルカリ性、耐熱性に優れているものをグラスライニング(GL)と呼ぶ。GL機器等に用いられるGLは、低炭素鋼板又はステンレス鋼板等の金属基材に下引き釉薬を焼き付けた後、高耐食性の上引き釉薬を焼き付けて製造される。 A glass layer composed of siliceous (SiO 2 ) and alumina (Al 2 O 3 ) is strongly fired and bonded to the metal surface, and of these, it is particularly excellent in acid resistance, alkali resistance, and heat resistance. This is called glass lining (GL). GL used for GL devices and the like is manufactured by baking an undercoat glaze on a metal substrate such as a low-carbon steel plate or a stainless steel plate, and then baking an overcoat glaze with high corrosion resistance.

GL素材は、表面抵抗率が1×1013〜1014Ω/sq.程度の絶縁材料であるため、GL機器等の内部で非水系有機溶媒等を撹拌すると、ときには高電圧の静電気が帯電し、GL機器等にアースを施していても静電気によるGLの絶縁破壊が起こりうるという問題が顕在していた。 Since GL material is an insulating material with a surface resistivity of about 1 × 10 13 to 10 14 Ω / sq., When a non-aqueous organic solvent is stirred inside the GL device, sometimes high voltage static electricity is charged. However, even when the GL device or the like is grounded, there has been a problem that GL dielectric breakdown can occur due to static electricity.

この問題を解決する手段として、導電性物質をガラスフリットに添加して焼成し、導電性GL層を形成させることが知られている。例えば、特許文献1には、組成物であって、直径0.01〜0.5ミクロン、長さ0.5〜1500ミクロン、長さ/直径の形状比50以上の金属繊維を、前記フリット100重量部に対して0.001〜0.05重量部含有することを特徴とし、体積方向(金属基材方向)へ帯電荷を逃がす上引きGL層と下引きGL層からなる二層構造の導電性GLが開示されている。   As means for solving this problem, it is known that a conductive substance is added to a glass frit and fired to form a conductive GL layer. For example, Patent Document 1 discloses a composition comprising metal fibers having a diameter of 0.01 to 0.5 microns, a length of 0.5 to 1500 microns, and a length / diameter shape ratio of 50 or more to 100 parts by weight of the frit. A conductive GL having a two-layer structure comprising an upper GL layer and an undercoat GL layer, which is characterized by containing ˜0.05 parts by weight and releases the charge in the volume direction (metal substrate direction), is disclosed.

また、フリットを含むGL組成物であって、直径0.1〜30ミクロン、長さ0.005〜3mm、長さ/直径の形状比50以上のセラミックス繊維を前記フリット100重量部に対して0.05〜1.5重量部含有することを特徴とし、体積方向へ帯電荷を逃がす上引きGL層と下引きGL層からなる二層構造の導電性GLが特許文献2に開示されている。   Also, a GL composition containing a frit, 0.05 to 1.5 parts by weight of ceramic fiber having a diameter of 0.1 to 30 microns, a length of 0.005 to 3 mm, and a length / diameter shape ratio of 50 or more with respect to 100 parts by weight of the frit Patent Document 2 discloses a conductive GL having a two-layer structure comprising an overlying GL layer and a subbing GL layer, which is characterized by being contained and releases a charge in the volume direction.

また、ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した下引きGL層及び上引きGL層と、ガラスフリットに導電性物質を添加して焼成した上引き導電性GL層の少なくとも三層のGL層から構成され、上引き導電性GL層が最表層である導電性GLが特許文献3に開示されている。   In addition, at least three layers of GL including an undercoat GL layer and an overcoat GL layer fired without adding a conductive material to the glass frit, and an overcoat GL layer fired by adding a conductive material to the glass frit. Patent Document 3 discloses a conductive GL that is composed of layers and the upper conductive GL layer is the outermost layer.

さらに、導電性酸化物セラミックとして、針状導電性アンチモン含有酸化スズ粉末をガラスフリットに添加したGL組成物が、特許文献4に開示されている。
特開平11−116273号公報 特開平11−189431号公報 特開2005−314791号公報 特開2005−314194号公報
Furthermore, Patent Document 4 discloses a GL composition in which acicular conductive antimony-containing tin oxide powder is added to a glass frit as a conductive oxide ceramic.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-116273 JP-A-11-189431 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-314791 JP 2005-314194 A

しかし、特許文献1及び特許文献2に開示される導電性GLには、実際に高電圧静電気放電が発生した場合には、高電圧の帯電荷がGL層を通過して金属基材へと流れるためにGL層が絶縁破壊されやすいという問題点があった。また、GL層全体に導電性物質を含有しているために放電試験によるノーピンホール確認試験が実施できないという品質管理上の問題点、さらに導電性物質の使用量が多く、高価な導電性物質を使用すると製造コストが高くなるという経済上の問題点も存在した。   However, in the conductive GL disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2, when a high-voltage electrostatic discharge actually occurs, a high-voltage charge flows through the GL layer to the metal substrate. Therefore, there is a problem that the GL layer is easily broken down. Moreover, since the entire GL layer contains a conductive material, there is a problem in quality control that a no-pinhole confirmation test cannot be performed by a discharge test, and there is a large amount of conductive material used, which is an expensive conductive material. There was also an economic problem that the production cost would be higher when using.

一方、特許文献3に開示されている導電性GLは、表面方向(沿面方向)に帯電荷を逃がすことを特徴としているため、導電性の高い貴金属又は貴金属化合物等をガラスフリットに添加する必要がある。しかし、貴金属又は貴金属化合物は非常に高価であるため、GLの耐久性を向上させるために最表層の上引き導電性GL層の厚みを増すと、製造コストが高くなるという問題があった。   On the other hand, the conductive GL disclosed in Patent Document 3 is characterized in that the charge is released in the surface direction (the creeping direction), and therefore it is necessary to add a highly conductive noble metal or noble metal compound to the glass frit. is there. However, since noble metals or noble metal compounds are very expensive, there is a problem that if the thickness of the uppermost conductive GL layer is increased in order to improve the durability of the GL, the manufacturing cost increases.

また、特許文献4に開示されているGLでは、アンチモン含有酸化スズの含有量が低いため、十分な帯電防止効果を得ることは困難である。また、全層に導電性物質を添加するため、特許文献1及び特許文献2に開示されている導電性GLと同様の欠点を有している。   In addition, in the GL disclosed in Patent Document 4, since the content of antimony-containing tin oxide is low, it is difficult to obtain a sufficient antistatic effect. Moreover, since a conductive substance is added to all layers, it has the same defects as the conductive GL disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2.

さらに、貴金属又は貴金属化合物の粉末等をガラスフリットに添加して焼成すると、GL層が黒色に近い暗色となってしまう。このため、より明るい色で構造物内部を点検しやすい導電性グラスライニング構造物が望まれていた。   Furthermore, when a noble metal or noble metal compound powder is added to the glass frit and baked, the GL layer becomes a dark color close to black. For this reason, there has been a demand for a conductive glass lining structure that is easier to inspect the inside of the structure with a brighter color.

そこで本発明は、製造コストを抑えながらGL表面の導電性を維持し、かつ、黒色又は紺色のGL層を保持するGL製構造物に比べ、内部を観察しやすいように導電性GL層の色相を保持した多層導電性GL及びGL製構造物を提供することを目的とする。また、そのような多層導電性GLの施工方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention maintains the conductivity of the GL surface while suppressing the manufacturing cost, and the hue of the conductive GL layer so that the inside can be observed more easily than a GL structure that holds a black or amber GL layer. It is an object to provide a multi-layered conductive GL and a structure made of GL that retain the above. Moreover, it aims at providing the construction method of such a multilayer electroconductive GL.

本発明は、導電性を有しない下引きGL層及び上引きGL層と、異なる導電性物質を含有する2種類の上引き導電性GL層とを少なくとも備えることを特徴とする導電性GLに関する。また、本発明は、前記多層導電性GLから構成されるGL製機器、GL製容器等のGL製構造物、及びその施工方法に関する。   The present invention relates to a conductive GL comprising at least an undercoat GL layer and an overcoat GL layer having no conductivity, and at least two types of overcoat GL layers containing different conductive substances. Further, the present invention relates to a GL device constituted by the multilayer conductive GL, a GL structure such as a GL container, and a construction method thereof.

具体的に、本発明は、
金属基材上に、ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した下引き通常GL層と、
ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した上引き通常GL層と、
ガラスフリットに第一の導電性物質を添加して焼成した第一の上引き導電性GL層と、
ガラスフリットに前記第一の導電性物質と異なる第二の導電性物質を添加して焼成した第二の上引き導電性GL層との少なくとも四層のGL層を備えることを特徴とする多層導電性GLに関する(請求項1)。
Specifically, the present invention
An undercoat normal GL layer fired without adding a conductive material to a glass frit on a metal substrate;
An overlying normal GL layer fired without adding a conductive material to the glass frit;
A first overlying conductive GL layer fired by adding a first conductive material to a glass frit;
A multilayer conductive film comprising at least four GL layers including a second overlying conductive GL layer obtained by adding a second conductive material different from the first conductive material to a glass frit and firing the glass frit. It relates to sex GL (Claim 1).

また、本発明は、
ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した下引き通常GL層と、
ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した上引き通常GL層と、
ガラスフリットに第一の導電性物質を添加して焼成した第一の上引き導電性GL層と、
ガラスフリットに前記第一の導電性物質とは異なる第二の導電性物質を添加して焼成した第二の上引き導電性GL層との少なくとも四層のGL層を金属基材上に施工する多層導電性GLの施工方法に関する(請求項9)。
The present invention also provides:
A subbing normal GL layer fired without adding a conductive material to the glass frit;
An overlying normal GL layer fired without adding a conductive material to the glass frit;
A first overlying conductive GL layer fired by adding a first conductive material to a glass frit;
At least four GL layers including a second overlying conductive GL layer obtained by adding a second conductive material different from the first conductive material to the glass frit and firing are applied on the metal substrate. It is related with the construction method of multilayer electroconductive GL (Claim 9).

前記第一の導電性物質は、インジウム化合物、アンチモン化合物、貴金属又は貴金属化合物であることが好ましく、前記第二の導電性物質は、アンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン、酸化スズ、アンチモン含有酸化スズをコートした硫酸バリウム、リン含有酸化スズ又は酸化スズをコートした硫酸バリウムのいずれかであることが好ましい(請求項2,10)。   The first conductive material is preferably an indium compound, an antimony compound, a noble metal, or a noble metal compound, and the second conductive material is titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide, tin oxide, or antimony-containing oxide. It is preferably any one of barium sulfate coated with tin, phosphorus-containing tin oxide, or barium sulfate coated with tin oxide (claims 2 and 10).

前記インジウム化合物は、酸化インジウム又は酸化スズ含有酸化インジウムであることが好ましく、前記アンチモン化合物は、酸化アンチモン、又は酸化アンチモン含有酸化スズであることが好ましく、前記貴金属又は貴金属化合物は、白金、銀、二酸化ルテニウム又は二酸化イリジウムのいずれかであることが好ましい(請求項3,11)。   The indium compound is preferably indium oxide or tin oxide-containing indium oxide, the antimony compound is preferably antimony oxide, or antimony oxide-containing tin oxide, and the noble metal or noble metal compound is platinum, silver, It is preferably either ruthenium dioxide or iridium dioxide (claims 3 and 11).

特に、前記第一の導電性物質が二酸化ルテニウムであり、前記第二の導電性物質がアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン又は酸化スズであることが好ましい(請求項4,12)。   In particular, the first conductive material is preferably ruthenium dioxide, and the second conductive material is preferably titanium oxide or tin oxide coated with antimony-containing tin oxide (claims 4 and 12).

この場合、ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対するアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタンの添加量が6重量%以上30重量%以下であることが好ましい(請求項5,13)。   In this case, the amount of ruthenium dioxide added to the glass frit is 2 to 15% by weight, and the amount of titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide to the glass frit is 6 to 30% by weight. (Claims 5 and 13).

また、ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対する酸化スズの添加量が10重量%以上20重量%以下であることが好ましい(請求項6,14)。   Further, the amount of ruthenium dioxide added to the glass frit is preferably 2% by weight to 15% by weight, and the amount of tin oxide added to the glass frit is preferably 10% by weight to 20% by weight. ).

表層側の前記第二の上引き導電性GL層の厚みは、下層側の前記第一の上引き導電性GL層の厚みよりも大きいことが好ましい(請求項7,15)。   The thickness of the second overlying conductive GL layer on the surface layer side is preferably larger than the thickness of the first overlying conductive GL layer on the lower layer side (Claims 7 and 15).

また、本発明は、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の多層導電性GLから構成される多層導電性GL製構造物に関する(請求項8)。   Moreover, this invention relates to the structure made from multilayer conductive GL comprised from the multilayer conductive GL of any one of Claims 1 thru | or 7. (Claim 8).

ガラスフリットに添加する前記第一の導電性物質の平均粒子径は、0.2μm以下であることが好ましい(請求項16)。   The average particle diameter of the first conductive material added to the glass frit is preferably 0.2 μm or less (claim 16).

本発明の多層導電性GLは、異なる導電性物質を含有する導電性GL層を多層にすることで、用途に応じた導電性物質の組合せが可能となり、帯電防止性能と耐久性を高めることができる。   In the multilayer conductive GL of the present invention, the conductive GL layer containing different conductive substances is made into a multilayer, so that combinations of conductive substances according to the application are possible, and antistatic performance and durability can be improved. it can.

また、本発明の多層導電性GLは、導電性は高いが高価である貴金属若しくは貴金属化合物、又は導電性は高いが耐食性に難のあるインジウム化合物若しくはアンチモン化合物を導電性物質(第一の導電性物質)として含有する第一の上引き導電性GL層の上に、安価な導電性物質を含有する第二の上引き導電性GL層を施工することによって、帯電防止効果と耐久性と製造コストの全てにおいて優れている。   In addition, the multilayer conductive GL of the present invention includes a noble metal or a noble metal compound that has high conductivity but is expensive, or an indium compound or antimony compound that has high conductivity but has poor corrosion resistance. Antistatic effect, durability and manufacturing cost by constructing the second overlying conductive GL layer containing an inexpensive conductive material on the first overlying conductive GL layer contained as a material) All of them are excellent.

また、本発明の多層導電性GLは、最表層となる第二の上引き導電性GL層に色調が薄色である導電性物質(第二の導電性物質)を使用することにより、GL製構造物の内部を目視で点検しやすいという、従来の導電性GLにない特徴を有する。   In addition, the multilayer conductive GL of the present invention is made of GL by using a conductive material (second conductive material) having a light color for the second overlying conductive GL layer as the outermost layer. It has a feature not found in the conventional conductive GL that it is easy to visually check the inside of the structure.

さらに、本発明の多層導電性GLは、第一の上引き導電性GL層を形成する前に一次検査を行えば、ピンホールの発生を放電試験により検査することが可能であり、製品の品質管理の質を向上させることも可能である。   Furthermore, the multilayer conductive GL of the present invention can be inspected for the occurrence of pinholes by a discharge test if a primary inspection is performed before the first overlying conductive GL layer is formed. It is also possible to improve the quality of management.

以下に、本発明の実施の形態について、適宜図面を参照しながら説明する。なお、本発明は、これらに限定されない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings as appropriate. The present invention is not limited to these.

本発明の多層導電性GLの断面図を、図1に示す。本発明の多層導電性GLは、金属基材の上に、導電性物質を含まない下引きGL層(下引き通常GL層)、導電性物質を含まない上引きGL層(上引き通常GL層)、第一の導電性物質としてインジウム化合物、アンチモン化合物、貴金属又は貴金属化合物をガラスフリットに添加して焼成した第一の上引き導電性GL層、及び第二の導電性物質としてアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン、酸化スズ、リン含有酸化スズ又は酸化スズをコートした硫酸バリウム、アンチモン含有酸化スズをコートした硫酸バリウムのうちいずれかをガラスフリットに添加して焼成した第二の上引き導電性GL層の少なくとも四層のグラスライニング層をこの順に備える。   A cross-sectional view of the multilayer conductive GL of the present invention is shown in FIG. The multi-layer conductive GL of the present invention has an undercoat GL layer that does not contain a conductive material (undercoat normal GL layer) and an overcoat GL layer that does not contain a conductive material (overcoat normal GL layer) on a metal substrate. ), An indium compound, an antimony compound, a noble metal or a noble metal compound added to a glass frit and fired as a first conductive material, and an antimony-containing tin oxide as a second conductive material Second over-conductive film fired by adding any of titanium oxide coated with tin, tin oxide, phosphorus-containing tin oxide, tin oxide-coated barium sulfate, antimony-containing tin oxide coated barium sulfate to a glass frit At least four glass lining layers of the sex GL layer are provided in this order.

第一の導電性物質は、高い導電性を有するものであることが好ましい。さらに、第一の導電性物質を添加した第一の上引き導電性GL層の上に、第二の導電性物質を添加した第二の上引き導電性GL層を形成するため、第一の導電性物質は酸やアルカリに対する耐食性が低いものであってもよい。さらに、第一の上引き導電性GL層は、どのような色であっても構わない。   The first conductive material preferably has high conductivity. Furthermore, the first overlying conductive GL layer added with the second conductive material is formed on the first overlaid conductive GL layer added with the first conductive material. The conductive substance may have low corrosion resistance against acids and alkalis. Further, the first overlying conductive GL layer may have any color.

一方、第二の導電性物質を添加した第二の上引き導電性GL層は、耐食性が高いものであることが好ましい。また、表層に施工されるGL層であるために、色は薄色であることが好ましい。さらに、本発明の多層導電性GLは、第一の上引き導電性GL層と、第二の上引き導電性GL層とを利用し、帯電荷を沿面方向に逃す構造であるため、第二の上引き導電性GL層の導電性は、第一の導電性グラスライニング層よりも低くてもよい。   On the other hand, it is preferable that the second overlying conductive GL layer to which the second conductive material is added has high corrosion resistance. Moreover, since it is a GL layer constructed on the surface layer, the color is preferably light. Furthermore, the multilayer conductive GL of the present invention has a structure that uses the first overlying conductive GL layer and the second overlying conductive GL layer to release the charged charges in the creeping direction. The conductivity of the overlying conductive GL layer may be lower than that of the first conductive glass lining layer.

上引き通常GL層、第一の上引き導電性GL層又は第二の上引き導電性GL層は、図1の例では各一層であるが、二層以上としてもよい。   The overlying normal GL layer, the first overlying conductive GL layer, or the second overlying conductive GL layer is one layer in the example of FIG. 1, but may be two or more layers.

本発明の多層導電性GLは、最表層が導電性GL層であるため、特許文献3に開示されている導電性GLと同様、表面方向(沿面方向)に帯電荷を逃がすことができる。ここで、本発明の導電性グラスライニングを施工した機器が使用される分野では、良好な帯電防止性能に加えて耐放電破壊電圧が高いことが求められる。   Since the outermost layer of the multilayer conductive GL of the present invention is a conductive GL layer, it is possible to release the charge in the surface direction (creeping direction) as in the case of the conductive GL disclosed in Patent Document 3. Here, in the field | area where the apparatus which constructed the electrically conductive glass lining of this invention is used, in addition to favorable antistatic performance, it is calculated | required that a discharge breakdown voltage is high.

これはGL層に導電性を付与することでGLの帯電を防止したとしても(帯電防止)、機器内部では引続き絶縁性の内容物が撹拌等により摩擦し合い、常に帯電が発生している状態であるため、内容物の帯電が大きくなると、たとえGLが導電性であっても放電が発生し、グラスが破壊されてしまうという状況が起こるためである。   Even if the GL layer is prevented from being charged by imparting electrical conductivity to the GL layer (antistatic), the insulating contents continue to rub against each other by stirring, etc. inside the device, and charging is always generated. For this reason, when the charge of the contents increases, even if GL is conductive, a discharge occurs and the glass is broken.

本発明の多層導電性GLにおいては、表面(沿面)方向へ帯電荷を逃すとともに、金属基材と導電性GL層との間に絶縁性の高い通常GL層を保持するため、上記の両方の性能を満たすことができる。   In the multi-layer conductive GL of the present invention, both the above-described both are provided in order to release the electric charges in the surface (creeping) direction and hold a normal GL layer having high insulation between the metal substrate and the conductive GL layer. The performance can be satisfied.

特許文献3に開示されている導電性GLでは、高い帯電防止効果を得るために、導電性物質として貴金属又は貴金属化合物を使用するため、GLの耐久性及び耐摩耗性を向上させるために最表層の上引き導電性GL層の厚みを増すと、製造コストが高くなってしまう。このため、製造コストを下げるためには、上引き導電性GL層を、その下層に施工する上引き通常GLと比較して薄く施工せざるを得ず、製造当初のGL製構造物の帯電防止効果は非常に高い一方、長寿命化のために厚く施工することは困難であった。   In the conductive GL disclosed in Patent Document 3, in order to obtain a high antistatic effect, a noble metal or a noble metal compound is used as a conductive substance, so that the outermost layer is used to improve the durability and wear resistance of the GL. Increasing the thickness of the overlying conductive GL layer increases the manufacturing cost. For this reason, in order to reduce the manufacturing cost, the overlying conductive GL layer has to be applied thinner than the overlying normal GL applied to the lower layer, and the GL structure at the beginning of manufacture is prevented from being charged. While the effect was very high, it was difficult to construct thickly for long life.

しかし、本発明の多層導電性GLは、導電性の高い物質を添加した第一の上引き導電性GL層(高導電性GL層)の上に、導電性では若干劣るが、安価な導電性物質を使用した第二の上引き導電性GL層を施工し、多層導電性GL層を形成することを特徴とする。このため、GL表面の帯電防止効果を維持し、かつ、製造コストを抑制しながら、GLの耐食性を向上させ、その結果、寿命を長くさせることが可能である。   However, the multi-layer conductive GL of the present invention has a low conductivity but is slightly inferior to the first overlying conductive GL layer (high conductive GL layer) to which a highly conductive substance is added. A second overlying conductive GL layer using a material is applied to form a multilayer conductive GL layer. For this reason, it is possible to improve the corrosion resistance of the GL while maintaining the antistatic effect on the GL surface and suppressing the manufacturing cost, thereby extending the life.

すなわち、高価で導電性の高い第一の上引き導電性GL層と、安価で導電性が中程度である第二の上引き導電性GL層とを積層することにより、高い帯電防止効果と長寿命化とを両立させることが可能である。   That is, by laminating an expensive and highly conductive first overlying conductive GL layer and a second inexpensive overlying conductive GL layer that is moderately conductive, a high antistatic effect and a long It is possible to achieve both life extension.

最表層となる第二の上引き導電性GL層は、第一の上引き導電性GL層よりも厚く施工することが好ましい。最表層が薄ければ十分に長寿命化させることができないためである。   The second overlying conductive GL layer, which is the outermost layer, is preferably constructed thicker than the first overlying conductive GL layer. This is because if the outermost layer is thin, it is not possible to sufficiently extend the life.

また、最表層となる第二の上引きGL層は、導電性物質をガラスフリットに添加して焼成した際に、導電性グラスライニングの色が薄色であれば色は特に限定されないが、マンセル表色系で色相が赤(R)、黄(Y)、緑(G)、紫(P)、黄赤(YR)、黄緑(GY)、青緑(BG)、青紫(PB)、赤紫(PR)となる場合は、明度7〜9.5となる導電性物質を選択することが好ましい。また、マンセル表色系で色相が青(B)となる場合は、明度6〜9.5、かつ、彩度0〜6となる導電性物質を選択することが好ましい。導電性能を保持しつつ、GL構造物の内部を観察しやすくするためである。   The second overcoat GL layer, which is the outermost layer, is not particularly limited as long as the color of the conductive glass lining is light when the conductive material is added to the glass frit and baked. In the color system, the hue is red (R), yellow (Y), green (G), purple (P), yellow-red (YR), yellow-green (GY), blue-green (BG), blue-violet (PB), red In the case of purple (PR), it is preferable to select a conductive substance having a brightness of 7 to 9.5. Moreover, when the hue is blue (B) in the Munsell color system, it is preferable to select a conductive substance having a lightness of 6 to 9.5 and a saturation of 0 to 6. This is to facilitate observation of the inside of the GL structure while maintaining the conductive performance.

第一の上引き導電性GL層のガラスフリットに添加する導電性物質(第一の導電性物質)としては、貴金属又は貴金属化合物が好ましい。これらは、導電性が高いためである。貴金属化合物として酸化ルテニウム又は酸化イリジウム(IrO2)を添加する場合、その添加量は、2重量%以上15重量%以下であることが好ましい。2重量%未満では帯電防止性能が低く、15重量%を超えても帯電防止性能は変わらず、施工コストだけが上昇することになるためである。 As a conductive substance (first conductive substance) added to the glass frit of the first overlying conductive GL layer, a noble metal or a noble metal compound is preferable. These are because of high conductivity. When ruthenium oxide or iridium oxide (IrO 2 ) is added as the noble metal compound, the addition amount is preferably 2 wt% or more and 15 wt% or less. If it is less than 2% by weight, the antistatic performance is low, and if it exceeds 15% by weight, the antistatic performance does not change and only the construction cost increases.

また、第一の導電性GL層のガラスフリットに添加する導電性物質(第一の導電性物質)としては、インジウム化合物又はアンチモン化合物も利用できる。ガラスフリットに対する添加量は、酸化スズ含有酸化インジウム(ITO)を用いる場合11重量%以上25重量%以下、アンチモン含有酸化スズ(ATO)を用いる場合15重量%以上30重量%以下とすることが好ましい。   Moreover, an indium compound or an antimony compound can also be used as a conductive substance (first conductive substance) added to the glass frit of the first conductive GL layer. The amount added to the glass frit is preferably 11% by weight to 25% by weight when using tin oxide-containing indium oxide (ITO), and 15% by weight to 30% by weight when using antimony-containing tin oxide (ATO). .

貴金属としては、Ru、Rh、Pd、Ag、Os、Ir、Pt又はAuを用いることができ、これらの1種又は2種以上を用いてもよい。また、これらの合金であってもよい。なお、銀(Ag)を用いる場合、ガラスフリットへの添加量は、30重量%以上70重量%以下とすることが好ましい。   As the noble metal, Ru, Rh, Pd, Ag, Os, Ir, Pt or Au can be used, and one or more of these may be used. Moreover, these alloys may be sufficient. In addition, when using silver (Ag), it is preferable that the addition amount to a glass frit shall be 30 to 70 weight%.

貴金属化合物は、耐腐食性の観点から貴金属酸化物が好ましく、焼成後に複合酸化物を形成することによる導電性向上の観点からは、二酸化ルテニウム(RuO2)がより好ましい。なお、導電性物質として二酸化ルテニウムを用いる場合、上引き高導電性GL層の焼成温度は、880℃以下でなくてはならない。 The noble metal compound is preferably a noble metal oxide from the viewpoint of corrosion resistance, and more preferably ruthenium dioxide (RuO 2 ) from the viewpoint of improving the conductivity by forming a composite oxide after firing. When ruthenium dioxide is used as the conductive material, the firing temperature of the overlying highly conductive GL layer must be 880 ° C. or lower.

一方、第二の上引き導電性GL層のガラスフリットに添加する導電性物質(第二の導電性物質)は、アンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン、酸化スズ、リン含有酸化スズ又は酸化スズをコートした硫酸バリウム、アンチモン含有酸化スズをコートした酸化バリウムであることが好ましく、これらの1種又は2種以上を用いてもよい。これらは安価であり、かつ、焼成後のガラスフリットの色調が薄色となるためである。   On the other hand, the conductive material (second conductive material) added to the glass frit of the second overlying conductive GL layer is titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide, tin oxide, phosphorus-containing tin oxide or tin oxide. Are preferably barium sulfate coated with antimony and tin oxide coated with antimony-containing tin oxide, and one or more of these may be used. This is because they are inexpensive and the color tone of the glass frit after firing is light.

第二の導電性物質としては、ガラスフリットに添加してGL層を焼成すると、薄色のグラス色調となり、導電性を有すると共に耐食性も良好である点から、アンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン又は酸化スズが特に好ましい。   The second conductive material is titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide because it has a light glass color tone when added to a glass frit and fires the GL layer, and has good conductivity and corrosion resistance. Or tin oxide is particularly preferable.

第二の導電性物質が酸化スズをコートした酸化チタンである場合、導電性を確保する観点からガラスフリットへの添加量は、6重量%以上であることが好ましく、15重量%以上であることがより好ましい。一方、添加量が多すぎると焼成後にガラスフリットがガラス状とならないため、30重量%未満であることが好ましく、25重量%未満であることがより好ましい。   When the second conductive material is titanium oxide coated with tin oxide, the amount added to the glass frit is preferably 6% by weight or more, and 15% by weight or more from the viewpoint of ensuring conductivity. Is more preferable. On the other hand, if the amount added is too large, the glass frit does not become glassy after firing, and therefore it is preferably less than 30% by weight and more preferably less than 25% by weight.

第二の導電性物質が酸化スズである場合、ガラスフリットへの添加量は、10重量%以上であることが好ましく、20重量%以下であることが好ましい。通常、酸化スズのみを単独で導電性物質として利用した場合、酸化スズを20重量%以上ガラスフリットに添加しても良好な導電性は得られないが、本発明のように多層構造とすることで、導電性が低く単独では使用できないような導電性物質であっても利用することができる。   When the second conductive material is tin oxide, the amount added to the glass frit is preferably 10% by weight or more, and preferably 20% by weight or less. Normally, when only tin oxide is used alone as a conductive material, good conductivity cannot be obtained even if tin oxide is added to a glass frit of 20% by weight or more. Thus, even a conductive material that has low conductivity and cannot be used alone can be used.

なお、図1に示したGL例において、第二の上引き導電性GL層の厚みは、0.1mm以上0.6mm以下とすることが好ましい。0.1mm未満では導電性が高い反面、施工コストが高い上引き高導電性GL層を保護する効果が低く、耐腐食性を向上させるには不十分であるためであり、一方、0.6mm超ではそれに応じて通常GL層の厚みを小さくする必要があることから、耐放電破壊電圧性能が低下してしまう。   In the GL example shown in FIG. 1, the thickness of the second overlying conductive GL layer is preferably 0.1 mm or more and 0.6 mm or less. If the thickness is less than 0.1 mm, the conductivity is high, but the construction cost is high, and the effect of protecting the overlying highly conductive GL layer is low, which is insufficient to improve the corrosion resistance. Accordingly, it is usually necessary to reduce the thickness of the GL layer, so that the discharge breakdown voltage performance is degraded.

さらに、GLはその施工性から全体の厚みが決まっているため、第二の上引き導電性GL層を厚くしすぎると、これに合わせて第一の上引き導電性GL層、通常上引きGL層及び下引き通常GL層の厚みを薄くする必要があり、その結果、耐放電破壊電圧が低下するおそれがある。   Furthermore, since the overall thickness of the GL is determined from its workability, if the second overlying conductive GL layer is made too thick, the first overlying conductive GL layer, usually the overlying GL, is adjusted accordingly. It is necessary to reduce the thickness of the layer and the subbing normal GL layer, and as a result, the discharge breakdown voltage may be reduced.

また、GLタンク等の内部を観察し易くするという観点からも、第二の上引き導電性GL層の厚みは0.1mm以上であることが好ましい。0.1mm未満であると、第一の上引き導電性GL層が透けてしまい、タンク内部を観察しにくくなるおそれがでるためである。   Also, from the viewpoint of facilitating observation of the inside of the GL tank or the like, the thickness of the second overlying conductive GL layer is preferably 0.1 mm or more. This is because if the thickness is less than 0.1 mm, the first overlying conductive GL layer can be seen through, making it difficult to observe the inside of the tank.

上述したように、第二の上引き導電性GL層は、薄色であれば色相は特に限定されないが、マンセル表色系で色相が赤(R)、黄(Y)、緑(G)、紫(P)、黄赤(YR)、黄緑(GY)、青緑(BG)、青紫(PB)、赤紫(PR)の場合には明度7〜9.5であることが好ましく、色相が青(B)の場合には明度6〜9.5、かつ、彩度が0〜6であることが好ましい。なお、GL層の色調は、市販の色彩色差計を利用して測定することができる。   As described above, the hue of the second overlying conductive GL layer is not particularly limited as long as it is a light color, but in the Munsell color system, the hue is red (R), yellow (Y), green (G), In the case of purple (P), yellow-red (YR), yellow-green (GY), blue-green (BG), blue-purple (PB), and red-purple (PR), the lightness is preferably 7 to 9.5, and the hue is blue In the case of (B), it is preferable that the lightness is 6 to 9.5 and the saturation is 0 to 6. The color tone of the GL layer can be measured using a commercially available color difference meter.

(スリップ作製)
上記四層構造の薄色導電性GLの製造に使用したガラスフリットの組成を、表1に示した。本発明の多層導電性GLの下引きGL層及び上引きGL層の製造に使用できるガラスフリットは、表1に限定されるものではなく、慣用的に使用されている任意のものを使用可能である。そして、上引きGL用ガラスフリットに第一の導電性物質として二酸化ルテニウム、第二の導電性物質としてアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン(ATO-TiO2、石原産業製ET-300W)を添加した。
(Slip production)
Table 1 shows the composition of the glass frit used in the production of the light-colored conductive GL having the four-layer structure. The glass frit that can be used for the production of the undercoat GL layer and the overcoat GL layer of the multilayer conductive GL of the present invention is not limited to Table 1, and any commonly used one can be used. is there. Addition of ruthenium dioxide as the first conductive material and titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide as the second conductive material (ATO-TiO 2 , Ishihara Sangyo ET-300W) did.

上記ガラスフリット(及び導電性物質)をポットミルに投入した後、さらに水を投入し、施釉ができる状態になるまでフリットを粉砕した。粉砕終了後、ガラス粒子の粒度分布を、日機装製マイクロトラック粒度計Micro Track Series 9200 FRAを用いて測定し、ガラス粒子の平均粒子径(重量累積粒度分布の50%径)が20〜40μmであることを確認した。そして、粒度分布が上記範囲内であればスリップ完成とした。   After the glass frit (and the conductive material) was put into a pot mill, water was further added and the frit was pulverized until it was ready for glazing. After pulverization, the particle size distribution of the glass particles is measured using a Nikkiso Microtrack Series 9200 FRA, and the average particle size of the glass particles (50% of the weight cumulative particle size distribution) is 20 to 40 μm. It was confirmed. If the particle size distribution is within the above range, the slip is completed.

スリップ中のガラス粒子の平均粒子径は、1〜100μm、特に10〜60μmであることがスリップ吹き付け作業及び焼成後のGLの品質の観点から好ましい。   The average particle diameter of the glass particles in the slip is preferably 1 to 100 μm, particularly 10 to 60 μm from the viewpoint of slip spraying work and GL quality after firing.

第二の上引き導電性GL層中に導電性物質を均等に分散させ、また第二の上引き導電性GL層の表面を平滑にするためには、ガラスフリットと混合する導電性物質(第二の導電性物質)は、微細な粉末状であることが好ましい。具体的には、粉末状の導電性物質の平均粒子径(重量累積粒度分布の50%径)は、0.2μm以下であることが好ましい。   In order to evenly disperse the conductive material in the second overlying conductive GL layer and to smooth the surface of the second overlying conductive GL layer, a conductive material (first material mixed with the glass frit) is used. The second conductive material) is preferably in the form of a fine powder. Specifically, the average particle diameter (50% diameter of the weight cumulative particle size distribution) of the conductive powder material is preferably 0.2 μm or less.

また、粉末状である第二の導電性物質の比表面積は、5m2/g以上、好ましくは10m2/g以上、さらに好ましくは20m2/g以上である。また、第二の上引き導電性GL層の表面を平滑にすることにより、第二の上引き導電性GL層表面への処理物の付着を低減できる。第二の上引き導電性GL層3の表面は、平均粗度(Ra)を0.05〜0.09μm程度とすることが好ましい。 In addition, the specific surface area of the second conductive substance in powder form is 5 m 2 / g or more, preferably 10 m 2 / g or more, more preferably 20 m 2 / g or more. Further, by smoothing the surface of the second overlying conductive GL layer, adhesion of the processed material to the surface of the second overlying conductive GL layer can be reduced. The surface of the second overlying conductive GL layer 3 preferably has an average roughness (Ra) of about 0.05 to 0.09 μm.

なお、表面平滑度を問題としない用途においては、第二の導電性物質が繊維状又は針状であってもよい。
(金属基材への施釉と焼成)
金属基材としては、低炭素鋼やステンレス鋼のような慣用される金属基材を用いることが可能であるが、ここでは、1辺100mmの正方形の軟鋼を用いた。なお、スプレーを用いるという周知の方法で下引きGL層及び上引きGL層のスリップを、金属基材上に順に施釉し、焼成した。
In applications where surface smoothness is not a problem, the second conductive material may be in the form of fibers or needles.
(Glazing and firing on metal substrates)
As the metal substrate, a commonly used metal substrate such as low carbon steel or stainless steel can be used. Here, a square mild steel having a side of 100 mm was used. In addition, the slip of the undercoat GL layer and the overcoat GL layer was applied on the metal base material in order by a well-known method of using a spray and fired.

まず、金属基材に下引き通常GL層を0.2mmの厚みでスプレーを用いて施釉し、920℃で焼成した。   First, a subbing normal GL layer was applied to a metal substrate with a thickness of 0.2 mm using a spray and fired at 920 ° C.

次に、下引き通常GL層の上に、0.7mmの上引き通常GL層を施工すべく、スプレーによる施釉及び850℃の焼成を複数回繰り返し行った。なお、本発明の多層導電性GLにおいては、下引き通常GL層+上引き通常GL層の厚みを0.4mm〜1.0mmとすることが望ましい。   Next, glazing by spraying and baking at 850 ° C. were repeated a plurality of times in order to construct a 0.7 mm upper normal GL layer on the lower normal GL layer. In the multilayer conductive GL of the present invention, it is desirable that the thickness of the undercoat normal GL layer + the overcoat normal GL layer is 0.4 mm to 1.0 mm.

ここで、非導電性GLは、直流又は交流の高電圧を印加したブラシや針状電極を被験試料に当て、短絡や放電の集中によってGL層のピンホールの有無を検査するノンピンホール性確認試験により、製品の品質管理を行うことができた。しかし、従来の全層導電性GLでは、上引きGL層及び下引きGL層のいずれもが導電性物質を含有していたため、GL層を施釉・焼成した後は、放電によるノンピンホール性確認試験によってピンホールの有無を検査することができなかった。このため、ノンピンホール性の確認は、肉眼による検査で行っており、現実的に目視検査等でGL層全面の検査を行うのは不可能といってよく、品質管理上の大きな問題となっていた。   Here, the non-conductive GL is a non-pinhole confirmation in which a brush or needle-like electrode to which a high voltage of direct current or alternating current is applied is applied to the test sample, and the presence or absence of pinholes in the GL layer is inspected by concentration of short circuit or discharge. The quality control of the product was able to be performed by the test. However, in the conventional all-layer conductive GL, both the overcoat GL layer and the undercoat GL layer contain a conductive material. Therefore, after glazing and firing the GL layer, non-pinhole property confirmation by discharge is performed. The test could not check for the presence of pinholes. For this reason, the non-pinhole property is confirmed by inspection with the naked eye, and it can be said that it is impossible to actually inspect the entire surface of the GL layer by visual inspection or the like, which is a big problem in quality control. It was.

一方、本発明の多層導電性GLでは、下引き通常GL層及び上引き通常GL層は導電性物質を含有しないため、下引き通常GL層及び上引き通常GL層を金属基材の上に施釉及び焼成した後であっても、ピンホールの有無を直流又は交流による高電圧印加によるノンピンホール性確認試験により検査することが可能である。このように、第一の上引き導電性GL層及び第二の上引き導電性GL層を施釉・焼成する前の段階で、製品(仕掛品)の一次検査としてピンホールの発生をチェックすることができるため、万一、最終製品の第一の上引き導電性GL層及び第二の上引き導電性GL層にピンホールが存在していても、金属基材と第二の上引き導電性GL層との間に、ピンホールのない下引き通常GL層及び上引き通常GL層が存在するため、最表層の第二の上引き導電性GL層及びその下層である第一の上引き導電性GL層に存在するピンホールからの浸食により、金属基材が腐食・溶出することを効果的に防止することができる。   On the other hand, in the multi-layer conductive GL of the present invention, the undercoat normal GL layer and the overcoat normal GL layer do not contain a conductive material, so that the undercoat normal GL layer and the overcoat normal GL layer are coated on a metal substrate. Even after firing, the presence or absence of pinholes can be inspected by a non-pinhole property confirmation test by applying a high voltage by direct current or alternating current. Thus, before the first overlying conductive GL layer and the second overlying conductive GL layer are glazed and fired, the occurrence of pinholes is checked as a primary inspection of the product (work-in-process). In the unlikely event that pinholes exist in the first overlying conductive GL layer and the second overlying conductive GL layer of the final product, the metal substrate and the second overlying conductive material Since there is an underlayer normal GL layer and an overlayer normal GL layer without a pinhole between the GL layer, the second uppermost conductive layer GL which is the outermost layer and the first upper conductive layer which is the lower layer. Corrosion / elution of the metal substrate can be effectively prevented by erosion from the pinholes present in the conductive GL layer.

次に、上引き通常GL層の上に、第一の上引き導電性GL層を0.1mm〜0.2mmの厚みでスプレーを用いて施釉し、850℃で焼成した。その上に第二の上引き導電性GL層を0.1mm〜0.6mmの厚みでスプレーを用いて施釉し、830℃で焼成して二層の導電性GL層を施工した。   Next, on the overlying normal GL layer, the first overlying conductive GL layer was applied with a spray with a thickness of 0.1 mm to 0.2 mm and baked at 850 ° C. A second overlying conductive GL layer was applied thereon with a spray having a thickness of 0.1 mm to 0.6 mm, and baked at 830 ° C. to form two conductive GL layers.

[実施例]
上記施工方法によって、上引き通常GL層まで施工した後、二酸化ルテニウム(RuO2)を導電性物質(第一の導電性物質)としてガラスフリットに4〜6重量%添加したスリップを、0.1mm厚みでスプレーを用いて施釉し、850℃で焼成し、第一の上引き導電性GL層(黒色)を施工した。
[Example]
After applying up to the normal GL layer by the above construction method, a slip with 4 to 6% by weight of ruthenium dioxide (RuO 2 ) added to the glass frit as a conductive material (first conductive material) is 0.1 mm thick And baked at 850 ° C., and applied the first overlying conductive GL layer (black).

その上に、上記施工方法によって、ATO-TiO2を導電性物質(第二の導電性物質)としてガラスフリットに25重量%添加したスリップを、0.3mmの厚みでスプレーを用いて施釉し、830℃で焼成し、第二の上引き導電性GL層を施工した。 On top of that, a slip of 25% by weight of ATO-TiO 2 added to a glass frit as a conductive material (second conductive material) was applied using a spray with a thickness of 0.3 mm by the above construction method. Firing was performed at 0 ° C., and a second overlying conductive GL layer was applied.

このようにして作製された四層のGL層を備えるGL(1辺100mmの正方形)を、本発明の実施例とした。なお、下引き通常GL層の厚みは0.2mmであり、通常上引きGL層の厚みは0.6mmとし、GL層全体の厚みを1.2mmとした。   A GL (a square with a side of 100 mm) provided with four GL layers thus produced was used as an example of the present invention. In addition, the thickness of the undercoat normal GL layer was 0.2 mm, the thickness of the normal overcoat GL layer was 0.6 mm, and the total thickness of the GL layer was 1.2 mm.

[比較例1]
実施例と同じ金属基材上に、ガラスフリットに導電性物質を添加せず下引き通常GL層0.2mm及び上引き通常GL層1.0mmの二層を、上記施工方法によって施工した導電性のない通常GL(1辺100mmの正方形)を、本発明の比較例1とした。
[Comparative Example 1]
On the same metal substrate as in the example, without adding a conductive substance to the glass frit, two layers of a subbing normal GL layer 0.2 mm and a subbing normal GL layer 1.0 mm were applied by the above-mentioned construction method and had no conductivity. Usually, GL (a square with a side of 100 mm) was used as Comparative Example 1 of the present invention.

[比較例2]
第一の上引き導電性GL層を施工せず、第二の上引き導電性GL層を0.3mmとすること以外、すべて実施例と同様に作製した導電性GLを、本発明の比較例2とした。
[Comparative Example 2]
A conductive GL produced in the same manner as in the example, except that the first overlying conductive GL layer was not applied and the second overlying conductive GL layer was 0.3 mm, Comparative Example 2 of the present invention. It was.

[比較例3]
GL層の全層を導電性GLとするために、下引き用ガラスフリットに導電性物質としてATO-TiO2を25重量%添加して0.2mmの厚みで下引きGL層を施工し、上引き用ガラスフリットにも導電性物質としてATO-TiO2を25重量%添加して1.0mmの厚みで上引きGL層を施工した。このようにして作製した導電性GLを、本発明の比較例3とした。
[Comparative Example 3]
In order to make the entire GL layer conductive GL, 25% by weight of ATO-TiO 2 as a conductive material is added to the glass frit for subbing, and the subbing GL layer is constructed with a thickness of 0.2 mm. As a conductive material, 25% by weight of ATO-TiO 2 was added to the glass frit for coating, and an overcoat GL layer was applied with a thickness of 1.0 mm. The conductive GL produced in this manner was used as Comparative Example 3 of the present invention.

[比較例4]
GL層の全層を導電性GLとするために、下引き用ガラスフリットに導電性物質として二酸化ルテニウムを4〜6重量%添加して0.2mmの厚みで下引きGL層を施工し、上引き用ガラスフリットにも導電性物質として二酸化ルテニウムを4〜6重量%添加して1.0mmの厚みで上引きGL層を施工した。このようにして作製した導電性GLを、本発明の比較例4とした。
[Comparative Example 4]
To make the entire GL layer conductive GL, add 4 to 6% by weight of ruthenium dioxide as a conductive material to the glass frit for subbing, and apply the subbing GL layer to a thickness of 0.2 mm. The glass frit for use was added with 4 to 6% by weight of ruthenium dioxide as a conductive material, and an overcoat GL layer was applied to a thickness of 1.0 mm. The conductive GL produced in this manner was used as Comparative Example 4 of the present invention.

[比較例5]
実施例と同じ金属基材上に、ガラスフリットに導電性物質を添加せず下引き通常GL層0.2mm及び上引き通常GL層0.9mmの二層を施工した。その上に、ガラスフリットに導電性物質として二酸化ルテニウムを4〜6重量%添加して0.1mmの厚みで上引きGL層を施工した。このようにして作製した導電性GLを、本発明の比較例5とした。
[Comparative Example 5]
On the same metal substrate as in the example, two layers of a subbing normal GL layer 0.2 mm and a subbing normal GL layer 0.9 mm were applied without adding a conductive substance to the glass frit. Further, 4 to 6% by weight of ruthenium dioxide as a conductive material was added to the glass frit, and an overcoat GL layer was applied to a thickness of 0.1 mm. The conductive GL thus produced was used as Comparative Example 5 of the present invention.

実施例、比較例1〜5の6種類のGL試料について、帯電圧及び高電圧パルス破壊電圧を測定した。   With respect to the six types of GL samples of Examples and Comparative Examples 1 to 5, the charged voltage and the high voltage pulse breakdown voltage were measured.

(帯電圧確認試験)
上記GLの金属基材部分にアースを施し、さらにGL層端部から断面を介して金属基材にアースを施した。このGL試料を湿度10%以下の雰囲気に12時間以上保持した後、その雰囲気中で針電極をGL表面から1.5cm離して設置し、この状態で針電極に15kVを印加してコロナ放電を起こし、GL試料に30秒間帯電させ、30秒間印加した直後の帯電圧(V)を測定した。また、測定した帯電圧が半分になるまでの時間(帯電圧半減時間:秒)を測定した。
(Battery voltage confirmation test)
The metal base portion of the GL was grounded, and further grounded from the end of the GL layer through the cross section. After holding this GL sample in an atmosphere with a humidity of 10% or less for 12 hours or more, the needle electrode is placed 1.5 cm away from the GL surface in that atmosphere, and in this state, 15 kV is applied to the needle electrode to cause corona discharge. The GL sample was charged for 30 seconds, and the charged voltage (V) immediately after application for 30 seconds was measured. Further, the time until the measured charged voltage was halved (charged voltage half time: second) was measured.

(高電圧パルスを用いた破壊試験)
静電気放電が発生した状態を想定して、高電圧パルスを用いた破壊試験を行った。すなわち、実施例及び比較例1〜5のGL試料に、任意の電圧値に調整した正又は負の高電圧パルス(パルス半減時間約20μsec)を印加して、GL層が深さ方向に素地金属(金属基材)まで貫通して破壊されるかを確認し、破壊が起こる印加パルス電圧を把握した。
(Destructive testing using high voltage pulses)
A destructive test using a high voltage pulse was performed assuming that electrostatic discharge was generated. That is, a positive or negative high voltage pulse (pulse half-time of about 20 μsec) adjusted to an arbitrary voltage value is applied to the GL samples of Examples and Comparative Examples 1 to 5, and the GL layer is a base metal in the depth direction. It was confirmed whether it was penetrated to (metal substrate) and destroyed, and the applied pulse voltage at which the destruction occurred was grasped.

帯電圧試験及び破壊試験の結果、並びに帯電圧半減時間の測定結果を、表2に示す。   Table 2 shows the results of the charged voltage test and the destructive test, and the measured results of the charged voltage half time.

帯電圧試験の結果、比較例1〜比較例3のGL試料は、帯電圧が非常に高く帯電しやすいGLであったのに対し、実施例のGL試料は、電圧を印加しても52.5 kVしか帯電せず、帯電しにくいGLであった。さらに、高電圧パルス破壊電圧についても、比較例1及び比較例3には約30kV印加時にGL表面にピンホールが発生し、絶縁破壊が生じた。   As a result of the charged voltage test, the GL samples of Comparative Examples 1 to 3 had a very high charged voltage and were easily charged. On the other hand, the GL sample of the example was 52.5 kV even when a voltage was applied. It was a GL that was only charged and difficult to charge. Further, as for the high voltage pulse breakdown voltage, in Comparative Example 1 and Comparative Example 3, a pinhole was generated on the GL surface when about 30 kV was applied, and dielectric breakdown occurred.

また、帯電圧半減時間についても、比較例1のGL試料と比較して、実施例のGL試料は帯電しにくく、かつ、帯電した電荷が逃げやすいことが確認された。   Further, it was confirmed that the half-life of the charged voltage was less likely to charge the GL sample of the example and the charged charge was more likely to escape than the GL sample of Comparative Example 1.

なお、比較例3のGL試料は、実施例に比べ半減時間が大幅に小さいが、これは初期の帯電圧が高いためであると考えられる。   Note that the GL sample of Comparative Example 3 has a significantly shorter half-life than that of the Example, which is considered to be due to the high initial voltage.

比較例2は、高電圧パルス破壊電圧は比較例1及び比較例3に比べると高かったが、帯電圧が高く帯電しやすい傾向が認められた。   In Comparative Example 2, the high voltage pulse breakdown voltage was higher than that in Comparative Example 1 and Comparative Example 3, but a tendency was found that the charged voltage was high and it was easily charged.

比較例4は、帯電圧が最も低く、帯電しにくいGLであることが確認されたが、高電圧パルス破壊試験では最も低い電圧でGL表面にピンホールが生じ、絶縁破壊が生じた。   In Comparative Example 4, it was confirmed that the GL had the lowest charged voltage and was difficult to be charged. However, in the high voltage pulse breakdown test, a pinhole was generated on the GL surface at the lowest voltage, and dielectric breakdown occurred.

比較例5は、帯電圧も低く、高電圧パルス破壊試験も高い値を示した。   In Comparative Example 5, the charged voltage was low, and the high voltage pulse breakdown test showed a high value.

一方、実施例のGL試料は、比較例1のGL試料と同じ30.0kVの高電圧パルスを放電させても、GL表面に放電跡が残るだけであり、絶縁破壊は生じなかった。また、絶縁破壊が生じる電圧は、導電性GL層が単層である比較例2のGL試料と比較して、10kV以上高かった。   On the other hand, when the GL sample of the example was discharged with the same high voltage pulse of 30.0 kV as the GL sample of Comparative Example 1, only a discharge trace remained on the GL surface, and no dielectric breakdown occurred. The voltage at which dielectric breakdown occurs was 10 kV or more higher than that of the GL sample of Comparative Example 2 in which the conductive GL layer was a single layer.

このように、実施例のGL試料は、導電性GL層が第一の上引き導電性GL層及び第二の上引き高導電性GL層という多層構造であることによって、帯電しにくいだけでなく、万が一、高電圧パルスが発生した場合であっても、絶縁破壊されにくく、比較例5のGL試料と同等の性能を有することが確認された。   As described above, the GL sample of the example is not only difficult to be charged because the conductive GL layer has a multilayer structure of the first overlying conductive GL layer and the second overlying highly conductive GL layer. In the unlikely event that a high voltage pulse occurs, it was confirmed that the dielectric breakdown was difficult and the performance was equivalent to that of the GL sample of Comparative Example 5.

また、比較例5のGL試料では、導電性GL層の厚みが0.1mmであるのに対して、実施例のGL試料は0.4mmであるため、比較例5に比べ導電性GL層の耐食性(寿命)を長くすることができる。   Further, in the GL sample of Comparative Example 5, the thickness of the conductive GL layer is 0.1 mm, whereas the GL sample of the Example is 0.4 mm. Therefore, the corrosion resistance of the conductive GL layer compared to Comparative Example 5 ( Life) can be extended.

なお、比較例5のGL試料について、導電性GL層の厚みを0.4mmに変更することは可能であるが、導電性物質として貴金属を利用しているために、製造コストが高くなってしまう。実施例のGL試料においては、表層となる第二の導電性GL層に添加する導電性物質が安価であるため、製造コストを抑えつつ、導電性GL層の厚みを厚くすることができ、その結果、導電性GL層の寿命を長くすることができる。   In addition, about the GL sample of the comparative example 5, although it is possible to change the thickness of an electroconductive GL layer to 0.4 mm, since a noble metal is utilized as an electroconductive substance, manufacturing cost will become high. In the GL sample of the example, since the conductive material added to the second conductive GL layer as the surface layer is inexpensive, the thickness of the conductive GL layer can be increased while suppressing the manufacturing cost. As a result, the lifetime of the conductive GL layer can be extended.

次に、各GL試料表面を撮影した写真を、図2に示す。比較例1は濃紺色、比較例4及び比較例5は黒色の表面となった。このため、比較例1、比較例4及び比較例5のGL試料は、GL構造物を作成した際に、構造物内部が暗くなり、洗浄性の確認やGL層の破損状況など点検しにくいものとなった。   Next, the photograph which image | photographed each GL sample surface is shown in FIG. Comparative Example 1 had a dark blue color, and Comparative Examples 4 and 5 had a black surface. For this reason, the GL samples of Comparative Example 1, Comparative Example 4 and Comparative Example 5 become dark when the GL structure is created, and it is difficult to check the cleanability and the GL layer damage status. It became.

これに対し実施例1、比較例2及び比較例3は表面が薄色であるため、GL構造物を作成した際に、構造物内部が明るく、洗浄性の確認やGL層の破損状況の点検がし易いものとなった。   On the other hand, since Example 1, Comparative Example 2 and Comparative Example 3 have a light surface, when the GL structure is created, the inside of the structure is bright and the cleaning property is confirmed and the GL layer is inspected for damage. It became easy to do.

上述したように、本発明の多層導電性GLは、特許文献3に開示されている導電性GLと同様、帯電しにくく、絶縁破壊が生じにくいことに加えて、表面が薄色であるためにGL製構造物に用いた場合に、内部を目視によって観察し易いという特徴を有する。また、GL表面に二酸化ルテニウムのような高導電性物質を添加したガラスフリットを用いて線又は数字等を施工すれば、帯電防止効果に影響することなくGL製構造物内部に目盛りを設けることも可能であり、内容物の体積を確認するのに便利である。   As described above, the multi-layer conductive GL of the present invention, like the conductive GL disclosed in Patent Document 3, is not easily charged and hardly causes dielectric breakdown, and also has a light surface. When used in a GL structure, the interior is easily observed visually. Also, if lines or numbers are constructed using a glass frit with a highly conductive material such as ruthenium dioxide on the GL surface, a scale may be provided inside the GL structure without affecting the antistatic effect. It is possible and convenient for checking the volume of the contents.

また、本発明の多層導電性GLは、最表層の第二の上引き導電性GL層を厚く施工すれば、製造コストを抑制しつつ、GLの耐久性及び耐摩耗性を向上させることができる。しかも、最表層の第二の導電性GL層が摩耗して薄くなると、下層である第一の上引き導電性GL層の黒色が目視できるようになるため、使用期限が近づいたことを予知することもできる。この場合、再度第一の導電性GL層を施工することにより、多層導電性GLとして再生することも可能である。   In addition, the multilayer conductive GL of the present invention can improve the durability and wear resistance of the GL while suppressing the manufacturing cost if the outermost conductive GL layer of the outermost layer is thickly applied. . In addition, when the outermost second conductive GL layer is worn and thinned, the black color of the first upper conductive GL layer, which is the lower layer, becomes visible, so it is predicted that the expiration date has approached. You can also In this case, it is also possible to regenerate the multilayer conductive GL by applying the first conductive GL layer again.

このように、本発明の多層導電性GLは、GL機器、GL容器等のGL製構造物に施工することにより、経済性及び安全性の高い製品のGL製造に利用することが可能である。   Thus, the multilayer conductive GL of the present invention can be used for GL production of a product with high economic efficiency and safety by being applied to a GL structure such as a GL device or a GL container.

本発明の多層導電性GLの一例の断面図である。It is sectional drawing of an example of the multilayer electroconductive GL of this invention. 本発明の実施例及び比較例1〜5のGL試料表面を撮影した写真である。It is the photograph which image | photographed the GL sample surface of the Example of this invention and Comparative Examples 1-5.

Claims (16)

金属基材上に、ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した下引き通常グラスライニング層と、
ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した上引き通常グラスライニング層と、 ガラスフリットに第一の導電性物質を添加して焼成した第一の上引き導電性グラスライニング層と、
ガラスフリットに前記第一の導電性物質と異なる第二の導電性物質を添加して焼成した第二の上引き導電性グラスライニング層との少なくとも四層のグラスライニング層を備えることを特徴とする多層導電性グラスライニング。
A subbing normal glass lining layer fired without adding a conductive material to a glass frit on a metal substrate,
An overlying normal glass lining layer fired without adding a conductive material to the glass frit, a first overlying conductive glass lining layer fired with the first conductive material added to the glass frit, and
A glass frit is provided with at least four glass lining layers including a second overlying conductive glass lining layer that is fired by adding a second conductive material different from the first conductive material to the glass frit. Multi-layer conductive glass lining.
前記第一の導電性物質がインジウム化合物、アンチモン化合物、貴金属又は貴金属化合物であり、
前記第二の導電性物質がアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン、酸化スズ、アンチモン含有酸化スズをコートした硫酸バリウム、リン含有酸化スズ又は酸化スズをコートした硫酸バリウムのいずれかである請求項1に記載の多層導電性グラスライニング。
The first conductive material is an indium compound, an antimony compound, a noble metal or a noble metal compound;
The second conductive material is any one of titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide, tin oxide, barium sulfate coated with antimony-containing tin oxide, phosphorus-containing tin oxide, or barium sulfate coated with tin oxide. 2. The multilayer conductive glass lining according to 1.
前記インジウム化合物が酸化インジウム又は酸化スズ含有酸化インジウムであり、前記アンチモン化合物が酸化アンチモン、又は酸化アンチモン含有酸化スズであり、前記貴金属又は貴金属化合物が白金、銀、二酸化ルテニウム又は二酸化イリジウムのいずれかである請求項2に記載の多層導電性グラスライニング。   The indium compound is indium oxide or tin oxide-containing indium oxide, the antimony compound is antimony oxide, or antimony oxide-containing tin oxide, and the noble metal or noble metal compound is any one of platinum, silver, ruthenium dioxide, or iridium dioxide. The multilayer conductive glass lining according to claim 2. 前記第一の導電性物質が二酸化ルテニウムであり、前記第二の導電性物質がアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン又は酸化スズである請求項1乃至3のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニング。   The multilayer conductive material according to any one of claims 1 to 3, wherein the first conductive material is ruthenium dioxide, and the second conductive material is titanium oxide or tin oxide coated with antimony-containing tin oxide. Glass lining. ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対するアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタンの添加量が6重量%以上30重量%以下である請求項4に記載の多層導電性グラスライニング。   5. The addition amount of ruthenium dioxide to the glass frit is 2% by weight to 15% by weight, and the addition amount of titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide to the glass frit is 6% to 30% by weight. The multilayer conductive glass lining described. ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対する酸化スズの添加量が10重量%以上20重量%以下である請求項4に記載の多層導電性グラスライニング。   The multilayer conductive glass lining according to claim 4, wherein the amount of ruthenium dioxide added to the glass frit is 2 wt% to 15 wt%, and the amount of tin oxide added to the glass frit is 10 wt% to 20 wt%. . 表層側の前記第二の上引き導電性グラスライニング層の厚みが、下層側の前記第一の上引き導電性グラスライニング層の厚みよりも大きい請求項1乃至6のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニング。   7. The thickness according to claim 1, wherein a thickness of the second overlaid conductive glass lining layer on the surface layer side is larger than a thickness of the first overlaid conductive glass lining layer on the lower layer side. Multi-layer conductive glass lining. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニングから構成される多層導電性グラスライニング製構造物。   A structure made of a multilayer conductive glass lining comprising the multilayer conductive glass lining according to any one of claims 1 to 7. ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した下引き通常グラスライニング層と、
ガラスフリットに導電性物質を添加せずに焼成した上引き通常グラスライニング層と、
ガラスフリットに第一の導電性物質を添加して焼成した第一の上引き導電性グラスライニング層と、
ガラスフリットに前記第一の導電性物質とは異なる第二の導電性物質を添加して焼成した第二の上引き導電性グラスライニング層との少なくとも四層のグラスライニング層を金属基材上に施工する多層導電性グラスライニングの施工方法。
An undercoating normal glass lining layer fired without adding a conductive material to the glass frit;
Overcoating normal glass lining layer baked without adding conductive material to glass frit,
A first overlying conductive glass lining layer fired by adding a first conductive material to a glass frit; and
At least four glass lining layers including a second overlying conductive glass lining layer that is baked by adding a second conductive material different from the first conductive material to the glass frit on the metal substrate. Construction method of multilayer conductive glass lining to be constructed.
前記第一の導電性物質がインジウム化合物、アンチモン化合物、貴金属又は貴金属化合物であり、
前記第二の導電性物質がアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン、酸化スズ、アンチモン含有酸化スズをコートした硫酸バリウム、リン含有酸化スズ又は酸化スズをコートした硫酸バリウムのいずれかである請求項9に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。
The first conductive material is an indium compound, an antimony compound, a noble metal or a noble metal compound;
The second conductive material is any one of titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide, tin oxide, barium sulfate coated with antimony-containing tin oxide, phosphorus-containing tin oxide, or barium sulfate coated with tin oxide. The construction method of the multilayer electroconductive glass lining of 9.
前記インジウム化合物が酸化インジウム又は酸化スズ含有酸化インジウムであり、前記アンチモン化合物が酸化アンチモン、又は酸化アンチモン含有酸化スズであり、前記貴金属又は貴金属化合物が白金、銀、二酸化ルテニウム又は二酸化イリジウムのいずれかである請求項10に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   The indium compound is indium oxide or tin oxide-containing indium oxide, the antimony compound is antimony oxide, or antimony oxide-containing tin oxide, and the noble metal or noble metal compound is any one of platinum, silver, ruthenium dioxide, or iridium dioxide. The construction method of the multilayer conductive glass lining according to claim 10. 前記第一の導電性物質が二酸化ルテニウムであり、前記第二の導電性物質がアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタン又は酸化スズである請求項9乃至11のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   12. The multilayer conductive material according to claim 9, wherein the first conductive material is ruthenium dioxide, and the second conductive material is titanium oxide or tin oxide coated with antimony-containing tin oxide. How to make a glass lining. ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対するアンチモン含有酸化スズをコートした酸化チタンの添加量が6重量%以上30重量%以下である請求項12に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   The amount of ruthenium dioxide added to the glass frit is 2% by weight to 15% by weight, and the amount of titanium oxide coated with antimony-containing tin oxide to the glass frit is 6% by weight to 30% by weight. The construction method of the multilayer electroconductive glass lining of description. ガラスフリットに対する二酸化ルテニウムの添加量が2重量%以上15重量%以下であり、ガラスフリットに対する酸化スズの添加量が10重量%以上20重量%以下である請求項12記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   The multilayer conductive glass lining according to claim 12, wherein the addition amount of ruthenium dioxide to the glass frit is 2 wt% or more and 15 wt% or less, and the addition amount of tin oxide to the glass frit is 10 wt% or more and 20 wt% or less. Construction method. 表層側の前記第二の上引き導電性グラスライニング層の厚みを、下層側の前記第一の上引き導電性グラスライニング層の厚みよりも厚く施工する請求項9乃至14のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   The thickness of the second overlaid conductive glass lining layer on the surface layer side is set to be larger than the thickness of the first overlaid conductive glass lining layer on the lower layer side. The construction method of the multilayer electroconductive glass lining of description. ガラスフリットに添加する前記第二の導電性物質の平均粒子径が、0.2μm以下である請求項9乃至15のいずれか1項に記載の多層導電性グラスライニングの施工方法。   The method for applying a multilayer conductive glass lining according to any one of claims 9 to 15, wherein an average particle size of the second conductive material added to the glass frit is 0.2 µm or less.
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