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JP4797883B2 - Component mounting method - Google Patents
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  • Wire Bonding (AREA)

Description

本発明は、部品と、一面が該部品の一面よりも平坦度に劣る基材とを用意し、これら部品の一面と基材の一面とを対向させ、当該一面間を接合部材を介して接合してなる部品の実装方法に関し、特に、部品の一面と基材の一面との間に設けられる接合部材の配置方法に関する。   The present invention provides a component and a base material whose one surface is inferior in flatness to one surface of the component, one surface of the component and one surface of the base material are opposed to each other, and the one surface is bonded via a bonding member. In particular, the present invention relates to a method for arranging a joining member provided between one surface of a component and one surface of a base material.

従来より、この種の半導体装置としては、たとえば、部品としての半導体チップの一面と基材としてのセラミックよりなるパッケージの一面とを対向させるとともに、これら半導体チップとパッケージとを、両部材の間に介在する複数個の接合部材を介して接合してなるものが提案されている(たとえば、特許文献1〜4参照)。   Conventionally, as this type of semiconductor device, for example, one surface of a semiconductor chip as a component is opposed to one surface of a package made of ceramic as a base material, and the semiconductor chip and the package are placed between both members. What is joined via a plurality of intervening joining members has been proposed (see, for example, Patent Documents 1 to 4).

ここで、接合部材としては、導電性接着剤やバンプなどよりなるものが採用されている。そして、従来では、パッケージの一面上に、複数個の接合部材を1箇所ずつ塗布により配置し、その後、接合部材を介して半導体チップをパッケージ上に搭載して接合を行っていた。
特開平8−307043号公報 特開平9−181120号公報 特開平11−8270号公報 特開2000−208675号公報
Here, as the joining member, a member made of a conductive adhesive or a bump is employed. Conventionally, a plurality of bonding members are arranged on one surface of the package by coating, and then a semiconductor chip is mounted on the package via the bonding members and bonded.
JP-A-8-307043 JP-A-9-181120 Japanese Patent Laid-Open No. 11-8270 JP 2000-208675 A

しかしながら、従来のように、複数個の接合部材を1個ずつ塗布して配置する方法では、接合部材の配置に時間がかかってしまい、好ましくない。ここで、本発明者は、従来の一般的な金属マスクを用いた印刷法により、複数個の接合部材を一括して配置することを考えた。   However, the conventional method of applying and arranging a plurality of joining members one by one is not preferable because it takes time to arrange the joining members. Here, the present inventor has considered arranging a plurality of joining members collectively by a printing method using a conventional general metal mask.

図10は、本発明者の試作品を示すものであり、従来の印刷法に基づいて接合した半導体チップ10とパッケージ20との接合部の部分断面図である。図10に示されるように、パッケージ20の一面21には、複数個のパッケージ電極22が設けられ、半導体チップ10の一面11には、複数個のチップ電極12が設けられている。   FIG. 10 shows the prototype of the present inventor, and is a partial cross-sectional view of a joint portion between the semiconductor chip 10 and the package 20 joined based on a conventional printing method. As shown in FIG. 10, a plurality of package electrodes 22 are provided on one surface 21 of the package 20, and a plurality of chip electrodes 12 are provided on one surface 11 of the semiconductor chip 10.

そして、これらパッケージ20の一面21と半導体チップ10の一面11とが対向して配置され、各一面11、21におけるパッケージ電極22とチップ電極12とが位置あわせされている。そして、これら両電極12、22の間は、導電性接着剤よりなる接合部材J30により接続されている。   The one surface 21 of the package 20 and the one surface 11 of the semiconductor chip 10 are arranged to face each other, and the package electrode 22 and the chip electrode 12 on each surface 11, 21 are aligned. The electrodes 12 and 22 are connected by a joining member J30 made of a conductive adhesive.

ここで、半導体チップ10の一面11は非常に平坦であるものの、パッケージ20はセラミックの焼成体で形成されるため、焼成による収縮ばらつきなどによって、パッケージ20の一面21の高さばらつきTは、非常に大きいものとなる。つまり、パッケージ20の接合面である一面21の平坦度は、半導体チップ10の一面11の平坦度よりも劣るものである。   Here, although the one surface 11 of the semiconductor chip 10 is very flat, the package 20 is formed of a ceramic fired body, and therefore, the height variation T of the one surface 21 of the package 20 due to shrinkage variation due to firing is extremely high. It will be big. That is, the flatness of the one surface 21 that is the bonding surface of the package 20 is inferior to the flatness of the one surface 11 of the semiconductor chip 10.

具体的には、パッケージ20の一面21における高さばらつきTは、当該一面21の最も高い部位と最も低い部位との差として、15μm以上であった。この程度の高さばらつきTは、一般的な表面形状測定方法を用いて本発明者が検討したところ、通常のセラミックパッケージにおいて典型的な大きさである。   Specifically, the height variation T on the one surface 21 of the package 20 was 15 μm or more as the difference between the highest portion and the lowest portion of the one surface 21. The height variation T of this degree is a typical size in a normal ceramic package, as examined by the present inventor using a general surface shape measuring method.

このような高さばらつきTの大きなパッケージ20の一面21に、従来の印刷法によって接合部材30を配置した場合、図10に示されるように、パッケージ20の一面21において低い位置に存在するパッケージ電極22とこれに対向するチップ電極12との間では、接合部材30の高さが不足して接触がなされず、電気的な接合がなされない場合が起こりうる。   When the bonding member 30 is arranged on the one surface 21 of the package 20 having such a large height variation T by the conventional printing method, as shown in FIG. 10, the package electrode existing at a low position on the one surface 21 of the package 20. Between 22 and the chip electrode 12 opposite to this, there is a possibility that the joining member 30 is not high enough to be contacted and not electrically joined.

また、パッケージは、箱形など種々の形状を採るものであり、従来の印刷法では、硬い板状のマスクをパッケージの一面側の形状に合わせて配置することが難しいという問題も生じる。こうしたことから、従来では、1箇所ごとに接合部材を配置し、各接合部材の高さを接合に十分な程度に制御していた。   Further, the package takes various shapes such as a box shape, and there is a problem that it is difficult to arrange a hard plate-shaped mask in accordance with the shape on one side of the package by the conventional printing method. For these reasons, conventionally, a joining member is disposed at each location, and the height of each joining member is controlled to a level sufficient for joining.

なお、上記したような問題は、上述したセラミックよりなるパッケージに半導体チップをフリップチップ接合してなる実装方法に限られるものではなく、部品の一面よりも当該部品が搭載・接合される基材の接合面の方が、平坦度が劣るものであれば、共通して発生すると考えられる。   The above-described problems are not limited to the mounting method in which the semiconductor chip is flip-chip bonded to the above-described ceramic package, but the base material on which the component is mounted and bonded rather than one side of the component. If the flatness of the joint surface is inferior, it is considered that it occurs in common.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、部品の一面と部品の一面よりも平坦度が劣る基材の一面とを対向させ、これら両部材を、当該両部材の間に介在する複数個の接合部材を介して接合する部品の実装方法において、基材の接合面の高さばらつきが大きいものであっても、複数個の接合部材を一括して適切に配置できるようすることを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problem. One surface of a component and one surface of a base material having a lower flatness than one surface of the component are opposed to each other, and both the members are interposed between the two members. In a mounting method for components to be joined through a plurality of joining members, even if the height of the joining surface of the base material is large, a plurality of joining members can be appropriately arranged collectively. Objective.

上記目的を達成するため、本発明は、複数個の接合部材(30)と同じ配置パターンに形成された複数個の開口部(81)を有するマスク部材(80)と、このマスク部材(80)上に供給される接合部材(30)を広げるスキージ(K)とを用意し、
マスク部材(80)は、接合部材(30)を溜めておくことができる凹部を有する形状となっており、
キージ(K)は、回転軸(K1)と、この回転軸(K1)に固定されてこの回転軸(K1)とともに回転する複数のスキージ(K)とを有する構成となっており、
複数のスキージ(K)は、凹部内に回転可能に収容されており、
複数個の開口部(81)は凹部の底部に形成され、
複数個の接合部材(30)が配置されるべき部位に開口部(81)が位置するように、基材(20)の一面(21)上にマスク部材(80)の凹部の底部を配置するとともに、
このマスク部材(80)の凹部の底部を基材(20)の一面(21)に押し付けて、マスク部材(80)のうち基材(20)の一面(21)と対向する凹部の底部を当該一面(21)の起伏形状を承継するように変形させ、この状態で回転軸(K1)とともに複数のスキージ(K)を回転させることにより接合部材(30)をマスク部材(80)の凹部の底部上で広げて、接合部材(30)を、開口部(81)を介して基材(20)の一面(21)上に印刷することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a mask member (80) having a plurality of openings (81) formed in the same arrangement pattern as the plurality of joining members (30), and the mask member (80). Prepare a squeegee (K) that expands the joining member (30) supplied above,
The mask member (80) has a shape having a recess capable of storing the bonding member (30).
Scan Chigi (K), the rotation axis (K1), has a structure having a plurality of squeegee rotating (K) is fixed to the rotary shaft (K1) together with the rotary shaft (K1),
The plurality of squeegees (K) are rotatably accommodated in the recesses,
A plurality of openings (81) are formed at the bottom of the recess,
The bottom of the concave portion of the mask member (80) is disposed on one surface (21) of the base material (20) so that the opening (81) is positioned at a site where the plurality of joining members (30) are to be disposed. With
The bottom of the concave portion of the mask member (80) is pressed against one surface (21) of the base material (20), and the bottom of the concave portion facing the one surface (21) of the base material (20) of the mask member (80) By deforming so that the undulating shape of one surface (21) is inherited and rotating a plurality of squeegees (K) together with the rotating shaft (K1) in this state, the joining member (30) is bottom of the concave portion of the mask member (80). The bonding member (30) is printed on one surface (21) of the base material (20) through the opening (81).

それによれば、マスク部材(80)のうち基材(20)の接合面である一面(21)と対向する凹部の底部全体が当該一面(21)の高さばらつきによる起伏形状を承継するため、基材(20)の接合面である一面(21)の高さばらつきが大きいものであっても、複数個の接合部材(30)を印刷法により一括して適切に配置することができる。
これに加え、本発明では、マスク部材(80)が当該一面(21)の起伏形状を承継するように変形した状態で回転軸(K1)とともに複数のスキージ(K)を回転させることにより接合部材(30)をマスク部材(80)の凹部の底部上で広げるようにしている。
これによれば、マスク部材(80)の面積が狭いものであっても、スキージ(K)の移動スペースを極力抑えつつ、接合部材(30)をマスク部材(80)の凹部の底部上で効率的に広げて、基材(20)の一面(21)上に接合部材(30)を効率的に供給し印刷することができる。
According to it, since the whole bottom part of the recessed part which opposes the one surface (21) which is a joint surface of a base material (20) among mask members (80) inherits the undulation shape by the height variation of the said one surface (21), Even if the height variation of the one surface (21) that is the bonding surface of the base material (20) is large, the plurality of bonding members (30) can be appropriately arranged collectively by the printing method.
In addition, in the present invention, the joining member is obtained by rotating the plurality of squeegees (K) together with the rotating shaft (K1) in a state where the mask member (80) is deformed so as to inherit the undulating shape of the one surface (21). (30) is spread over the bottom of the recess of the mask member (80).
According to this, even if the area of the mask member (80) is small, the joining member (30) is efficiently placed on the bottom of the concave portion of the mask member (80) while suppressing the movement space of the squeegee (K) as much as possible. The joining member (30) can be efficiently supplied and printed on one surface (21) of the substrate (20).

上記特徴を有する本発明の実装方法においては、マスク部材(80)として、基材(20)への押し付け時に開口部(81)が狙いの開口面積となるように、開口部(81)の開口面積を当該狙いの開口面積よりも大きめにしたものを用いることが好ましい。それによれば、精度のよい接合部材(30)の配置が可能となる。 In the mounting method of the present invention having the above characteristics, the opening of the opening (81) is used as the mask member (80) so that the opening (81) has a target opening area when pressed against the substrate (20). It is preferable to use one having an area larger than the target opening area. According to this, it becomes possible to arrange the joining member (30) with high accuracy.

また、上記本発明の実装方法においては、基材(20)の一面(21)に存在する高さばらつきは、当該一面(21)における最も高い部位と最も低い部位との差として15μm以上のものを採用できる。また、部品としては半導体チップ(10)、基材としてはセラミックよりなるパッケージ(20)を採用できる。
In the mounting method of the present invention, the height variation existing on the one surface (21) of the substrate (20) is 15 μm or more as the difference between the highest portion and the lowest portion on the one surface (21). Can be adopted. Further, a semiconductor chip (10) can be used as the component, and a package (20) made of ceramic can be used as the base material.

なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in the claim and this column is an example which shows a corresponding relationship with the specific means as described in embodiment mentioned later.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, parts that are the same or equivalent to each other are given the same reference numerals in the drawings in order to simplify the description.

(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る部品の実装構造としての半導体装置S1の全体の概略断面構成を示す図であり、図2は、図1中の半導体装置S1の概略上面図であり、当該半導体装置S1において蓋26を取り外した状態を示している。
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing an overall schematic cross-sectional configuration of a semiconductor device S1 as a component mounting structure according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic top view of the semiconductor device S1 in FIG. In the semiconductor device S1, the lid 26 is removed.

[実装構造等]
この半導体装置S1は、大きくは、部品としての半導体チップ10と基材としてのパッケージ20とを接合部材30を介して電気的に接続するとともに、半導体チップ10をパッケージ20に収納したものである。
[Mounting structure, etc.]
The semiconductor device S1 is mainly configured by electrically connecting a semiconductor chip 10 as a component and a package 20 as a base material via a bonding member 30 and housing the semiconductor chip 10 in the package 20.

ここで、半導体チップ10は、通常の半導体プロセスにより形成されたシリコン半導体チップなどよりなる板状のものであり、具体的には、回路チップや、加速度や角速度などを検出するセンサチップなどとして構成されたものである。この半導体チップ10の一面11には、アルミニウム(Al)や金(Au)などよりなるチップ電極12が複数個設けられている。   Here, the semiconductor chip 10 is a plate-shaped member made of a silicon semiconductor chip or the like formed by a normal semiconductor process. Specifically, the semiconductor chip 10 is configured as a circuit chip or a sensor chip for detecting acceleration, angular velocity, or the like. It has been done. A plurality of chip electrodes 12 made of aluminum (Al), gold (Au), or the like are provided on one surface 11 of the semiconductor chip 10.

なお、接合部材30は、これら複数個のチップ電極12とこれに対向するパッケージ電極22との間に介在し、これら両電極12、22を電気的に接続している。これらパッケージ電極22および接合部材30の詳細については後述する。   The joining member 30 is interposed between the plurality of chip electrodes 12 and the package electrode 22 facing the chip electrodes 12, and electrically connects the electrodes 12 and 22. Details of the package electrode 22 and the bonding member 30 will be described later.

ここで、図2では、接合部材30は破線円にて示し、これによって接続された両電極12、22は省略してあるが、実際には、当該両電極12、22の位置は、図2に示される接合部材30の位置に対応している。   Here, in FIG. 2, the joining member 30 is indicated by a broken-line circle, and the electrodes 12 and 22 connected thereby are omitted, but in reality, the positions of the electrodes 12 and 22 are as shown in FIG. Corresponds to the position of the joining member 30 shown in FIG.

また、パッケージ20はセラミックを焼成してなるものである。ここでは、パッケージ20は、アルミナなどのセラミック層が複数積層された積層基板として構成されており、半導体チップ10を収納する空間となる開口部25を有するものである。このような積層基板は、セラミックのグリーンシートに、導電ペーストを印刷して配線パターンを形成した後、これらを積層して焼成することにより作製される。   The package 20 is formed by firing ceramic. Here, the package 20 is configured as a laminated substrate in which a plurality of ceramic layers such as alumina are laminated, and has an opening 25 serving as a space for housing the semiconductor chip 10. Such a multilayer substrate is manufactured by printing a conductive paste on a ceramic green sheet to form a wiring pattern, and then laminating and baking these.

このパッケージ20においては、図1および図2に示されるように、接合面21が備えられている。このパッケージ20の接合面21は、半導体チップ10が搭載される面であって半導体チップ10と電気的な接合を行う面である。ここでは、パッケージ20の開口部25の側面に段差が設けられており、この段差部分の面21が接合面21として構成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the package 20 includes a bonding surface 21. The bonding surface 21 of the package 20 is a surface on which the semiconductor chip 10 is mounted and is a surface that is electrically bonded to the semiconductor chip 10. Here, a step is provided on the side surface of the opening 25 of the package 20, and the surface 21 of the step portion is configured as the bonding surface 21.

そして、この接合面21には、複数個のパッケージ電極22が設けられている。このパッケージ電極22は、パッケージ20内部に位置するスルーホールとして構成された内層配線23を介して、パッケージ20の裏面(図1中の下面)側に位置する裏面電極24と電気的に接続されている。   A plurality of package electrodes 22 are provided on the bonding surface 21. The package electrode 22 is electrically connected to a back surface electrode 24 located on the back surface (lower surface in FIG. 1) side of the package 20 through an inner layer wiring 23 configured as a through hole located inside the package 20. Yes.

なお、これらパッケージ電極22および裏面電極24は、パッケージ20における表層の電極であって金などよりなるものであり、一方、内層配線23は、たとえばタングステンにニッケル金メッキを施したものよりなる。このようなパッケージ20における各電極や配線22〜24は、上記した積層基板の作製工程において通常の手法により形成することが可能である。   The package electrode 22 and the back electrode 24 are surface layer electrodes in the package 20 and are made of gold or the like. On the other hand, the inner layer wiring 23 is made of, for example, tungsten plated with nickel gold. Each electrode and wirings 22 to 24 in such a package 20 can be formed by a normal method in the manufacturing process of the laminated substrate described above.

そして、図1および図2に示されるように、本実施形態の半導体装置S1においては、半導体チップ10の一面11とパッケージ20の接合面21とが対向して配置されており、個々のチップ電極12とパッケージ電極22とが一致するように位置合わせされた状態となっている。このような状態で、半導体チップ10がパッケージ20の開口部25内に搭載されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, in the semiconductor device S1 of the present embodiment, one surface 11 of the semiconductor chip 10 and the bonding surface 21 of the package 20 are arranged to face each other, and each chip electrode 12 and the package electrode 22 are aligned so as to coincide with each other. In such a state, the semiconductor chip 10 is mounted in the opening 25 of the package 20.

そして、上述したが、互いに対向する個々のチップ電極12とパッケージ電極22との間には、それぞれ接合部材30が介在しており、この接合部材30により両電極12、22同士が電気的に接続されている。また、この接合部材30により、半導体チップ10は接合面21上に固定され支持されている。   As described above, the bonding member 30 is interposed between the chip electrode 12 and the package electrode 22 facing each other, and the electrodes 12 and 22 are electrically connected to each other by the bonding member 30. Has been. In addition, the semiconductor chip 10 is fixed and supported on the bonding surface 21 by the bonding member 30.

ここで、図3は、これらチップ電極12とパッケージ電極22との接合部材30を介した接合部の拡大断面図である。   Here, FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of the joint portion between the chip electrode 12 and the package electrode 22 through the joint member 30.

本実施形態では、パッケージ20を、セラミックを焼成してなるものとしているがゆえに、焼成前に比べてパッケージ20に収縮が発生する。そして、このとき、収縮ばらつき、特に、内層配線23などの異種材料が混在することによる収縮の差などに起因するばらつきが発生する。   In this embodiment, since the package 20 is formed by firing ceramic, the package 20 contracts compared to before firing. At this time, variation due to shrinkage occurs, particularly due to a difference in shrinkage caused by the presence of different materials such as the inner layer wiring 23.

それゆえ、本実施形態においても、上述したように、パッケージ20の接合面21には、高さばらつきTが存在する。図3では、接合面21に位置する複数個のパッケージ電極22のうち最も高い位置にあるパッケージ電極22aと、最も低い位置にあるパッケージ電極22bとが示されている。   Therefore, also in the present embodiment, the height variation T exists on the bonding surface 21 of the package 20 as described above. In FIG. 3, the package electrode 22a at the highest position among the plurality of package electrodes 22 located on the bonding surface 21 and the package electrode 22b at the lowest position are shown.

つまり、図3では、パッケージ20の接合面21における最も高い部位と最も低い部位との差として、当該接合面21における最大の高さばらつきTが示されており、この最大の高さばらつきTは、この種のセラミックパッケージの典型的な値として通常15μm以上になる。   That is, in FIG. 3, the maximum height variation T on the bonding surface 21 is shown as the difference between the highest portion and the lowest portion on the bonding surface 21 of the package 20, and this maximum height variation T is The typical value of this type of ceramic package is usually 15 μm or more.

一方、半導体チップ10の一面11の高さばらつきは、このパッケージ20の接合面21よりも1桁以上小さい。この高さばらつきは、一般的な表面形状測定方法により計測可能なものであり、高さばらつきが大きいものは平坦度に劣り、高さばらつきが小さいものは平坦度に優れるといえる。つまり、パッケージ20の接合面21は、これに対向する半導体チップ10の一面11よりも平坦度に劣るものである。   On the other hand, the height variation of the one surface 11 of the semiconductor chip 10 is smaller by one digit or more than the bonding surface 21 of the package 20. This height variation can be measured by a general surface shape measurement method. A large height variation is inferior in flatness, and a small height variation is excellent in flatness. That is, the bonding surface 21 of the package 20 is inferior in flatness to the one surface 11 of the semiconductor chip 10 facing the package 20.

接合部材30は、本実施形態では、導電性を有するシートを採用している。このようなシートは、エポキシ系樹脂などの熱硬化性樹脂に銀や銅などの導電性のフィラーを介在させシート状に成形したものであり、加熱により硬化して電気的・機械的な接合を行うものである。また、このようなシートよりなる接合部材30は、100℃以下で軟化するものが好ましい。   In the present embodiment, the bonding member 30 employs a conductive sheet. Such a sheet is formed into a sheet shape by interposing a conductive filler such as silver or copper in a thermosetting resin such as an epoxy resin, and is cured by heating to be electrically and mechanically joined. Is what you do. The joining member 30 made of such a sheet is preferably softened at 100 ° C. or lower.

そして、この接合部材30によりパッケージ20の接合面21に存在する高さばらつきTが吸収され、複数個の接合部材30のすべてにおいて、半導体チップ10の一面11とパッケージ20の接合面21とが適切に接合されている。   The bonding member 30 absorbs the height variation T present on the bonding surface 21 of the package 20, and the bonding surface 21 of the semiconductor chip 10 and the bonding surface 21 of the package 20 are appropriate in all of the plurality of bonding members 30. It is joined to.

つまり、本実施形態では、複数個のパッケージ電極22のうち最も高い位置にあるパッケージ電極22aと最も低い位置にあるパッケージ電極22bを含めて、すべてのパッケージ電極22が、それぞれに対向するチップ電極12に対して接合部材30を介して接触し、電気的に接続されている。   In other words, in the present embodiment, all the package electrodes 22 including the package electrode 22a at the highest position and the package electrode 22b at the lowest position among the plurality of package electrodes 22 are respectively opposed to the chip electrodes 12 facing each other. Are in contact with each other via a bonding member 30 and are electrically connected.

また、図1に示されるように、パッケージ20の開口部25には、蓋26が取り付けられている。この蓋26は、溶接やロウ付けなどにより形成された接合部26aを介してパッケージ20に固定されている。この蓋26は、金属、樹脂、セラミックなど何でもよく、そして、この蓋26によってパッケージ20の内部が封止され、半導体チップ10は外部から保護されている。   As shown in FIG. 1, a lid 26 is attached to the opening 25 of the package 20. The lid 26 is fixed to the package 20 via a joint portion 26a formed by welding or brazing. The lid 26 may be anything such as metal, resin, ceramic, and the inside of the package 20 is sealed by the lid 26, and the semiconductor chip 10 is protected from the outside.

[実装方法等]
次に、図4を参照して本実施形態の半導体装置S1における半導体チップ10のパッケージ20への実装方法について述べる。図4(a)〜(d)は、上記図3に対応した断面にて本実施形態の実装方法を示す工程図である。
[Mounting method etc.]
Next, a method for mounting the semiconductor chip 10 on the package 20 in the semiconductor device S1 of the present embodiment will be described with reference to FIG. 4A to 4D are process diagrams showing the mounting method of the present embodiment in a cross section corresponding to FIG.

つまり、図4においても、パッケージ20の接合面21に位置するパッケージ電極22のうち最も高い位置にあるパッケージ電極22aと、最も低い位置にあるパッケージ電極22bとが示され、高さばらつきTとして最大値が示されている。   That is, also in FIG. 4, the package electrode 22a at the highest position among the package electrodes 22 located on the bonding surface 21 of the package 20 and the package electrode 22b at the lowest position are shown, and the maximum height variation T is shown. Values are shown.

本実施形態の実装方法では、まず、上記図1および図2に示したような一面11に複数個のチップ電極12を有する部品としての半導体チップ10と、セラミックを焼成してなり接合面21に複数個のパッケージ電極22を有する基材としてのパッケージ20とを用意する。   In the mounting method of the present embodiment, first, the semiconductor chip 10 as a component having a plurality of chip electrodes 12 on one surface 11 as shown in FIG. 1 and FIG. A package 20 as a base material having a plurality of package electrodes 22 is prepared.

また、図4(a)に示されるように、本実施形態のシート状の接合部材30の素材として、シート状をなすシート部材31を用意する。このシート部材31は、後述する型50、60により打ち抜かれることで、この打ち抜かれた部分30が接合部材30となるものである。   As shown in FIG. 4A, a sheet-like sheet member 31 is prepared as a material for the sheet-like joining member 30 of the present embodiment. The sheet member 31 is punched by molds 50 and 60 described later, and the punched portion 30 becomes the joining member 30.

したがって、シート部材31は、上記した接合部材30と同様の導電性の樹脂シートよりなるものである。また、このシート部材31の厚さとしては、接合面21における最大の高さばらつきTと、接合性を確保するのに必要な高さとを、足し合わせた寸法が最低限必要な厚さである。   Therefore, the sheet member 31 is made of a conductive resin sheet similar to the above-described joining member 30. In addition, the thickness of the sheet member 31 is a minimum thickness required by adding the maximum height variation T on the joining surface 21 and the height necessary for ensuring the joining property. .

また、図4(a)、(b)に示されるように、複数個の開口部51を有する第1の型50と、第1の型50に組み合わされたときに各開口部51を貫通する複数個の突出部61を有する第2の型60とを用意する。   Also, as shown in FIGS. 4A and 4B, the first mold 50 having a plurality of openings 51 and each opening 51 penetrates when combined with the first mold 50. A second mold 60 having a plurality of protrusions 61 is prepared.

ここで、第1の型50において、開口部51は、パッケージ20の接合面21における複数個の接合部材30と同じ配置パターンに形成された貫通穴である。具体的に、この開口部51の配置パターンは、上記図2に示される接合部材30の配置パターンと同様のものである。   Here, in the first mold 50, the openings 51 are through holes formed in the same arrangement pattern as the plurality of joining members 30 on the joining surface 21 of the package 20. Specifically, the arrangement pattern of the openings 51 is the same as the arrangement pattern of the joining member 30 shown in FIG.

このような第1の型50および第2の型60としては、たとえば、第1の型50が開口
部51を有する金属製板状をなすものであり、第2の型60は、図4(b)、(c)に図示するように一面のうち各開口部51に対向する位置に突出部61が一体に設けられた金属製板状のものにできる。そして、これら両型50、60の組み合わせ時には、各突出部61がこれに対応する各開口部51を貫通するものである。
As such a 1st type | mold 50 and a 2nd type | mold 60, the 1st type | mold 50 makes the metal plate shape which has the opening part 51, for example, the 2nd type | mold 60 is FIG. As shown in FIGS. b) and (c), a metal plate-like shape in which the protrusions 61 are integrally provided at positions facing the respective openings 51 on one surface can be obtained. And when these both types 50 and 60 are combined, each protrusion part 61 penetrates each opening part 51 corresponding to this.

このような型50、60を用いて、本実装方法では、まず、各開口部51を覆うように第1の型50の上にシート部材31を載せる(図4(a)参照)。そして、図4(b)に示されるように、シート部材31の上方から、第2の型60を第1の型50に組み付けて突出部61を開口部51に貫通させる。それにより、開口部51の部分にてシート部材31を打ち抜く(シート打ち抜き工程)。   In this mounting method using such molds 50 and 60, first, the sheet member 31 is placed on the first mold 50 so as to cover each opening 51 (see FIG. 4A). Then, as shown in FIG. 4B, the second mold 60 is assembled to the first mold 50 from above the sheet member 31, and the protruding portion 61 is passed through the opening 51. Thereby, the sheet member 31 is punched out at the opening 51 (sheet punching step).

このとき、第2の型60の突出部61の長さは、第1の型50の開口部51の深さ(第1の型50の板厚)よりも大きいため、突出部61により打ち抜かれて当該突出部61の先端部に貼り付いているシート部材31の部分30は、第1の型50の上に残っているシート部材31とは、完全に切り離された状態となり、接合部材30として構成されることになる。   At this time, since the length of the protrusion 61 of the second mold 60 is larger than the depth of the opening 51 of the first mold 50 (the thickness of the first mold 50), it is punched out by the protrusion 61. Thus, the portion 30 of the sheet member 31 attached to the tip of the protruding portion 61 is completely separated from the sheet member 31 remaining on the first mold 50, and is used as the joining member 30. Will be composed.

次に、この図4(c)に示されるシート部材31を打ち抜いた状態にある両型50、60を、パッケージ20の接合面21の上に配置する。そして、突出部61の先端部によって、打ち抜かれた部分30すなわち接合部材30を、パッケージ20の接合面21のパッケージ電極22に押し付けて貼り付ける(シート貼り付け工程)。   Next, the two molds 50 and 60 in a state in which the sheet member 31 shown in FIG. 4C is punched are disposed on the bonding surface 21 of the package 20. Then, the punched portion 30, that is, the joining member 30 is pressed against the package electrode 22 on the joining surface 21 of the package 20 by the tip end portion of the protruding portion 61 (sheet pasting step).

なお、このシート貼り付け工程は、シート部材31の打ち抜かれた部分30を軟化させた状態にて行うことが好ましい。具体的には、この打ち抜かれた部分30の軟化は、第2の型60もしくはパッケージ20、またはこれらの両方を、ヒータなどによって当該軟化温度以上に加熱することにより行う。   In addition, it is preferable to perform this sheet | seat sticking process in the state which softened the part 30 by which the sheet | seat member 31 was punched out. Specifically, the punched portion 30 is softened by heating the second mold 60 and / or the package 20, or both of them to the softening temperature or higher by a heater or the like.

その後は、型50、60を、打ち抜かれたシート部材30すなわち接合部材30から剥がし、パッケージ20上から取り除く。それにより、図4(d)に示されるように、パッケージ20の接合面21に、複数個の接合部材30が配置された状態となる。   Thereafter, the molds 50 and 60 are peeled off from the punched sheet member 30, that is, the joining member 30, and removed from the package 20. Thereby, as shown in FIG. 4D, a plurality of joining members 30 are arranged on the joining surface 21 of the package 20.

次に、半導体チップ10の一面をパッケージ20の接合面21に対向させつつ、当該接合面21に貼り付けられたシート部材の部分30すなわち接合部材30を介して、当該接合面21上に半導体チップ10を搭載する(搭載工程)。   Next, with one surface of the semiconductor chip 10 opposed to the bonding surface 21 of the package 20, the semiconductor chip is placed on the bonding surface 21 via the sheet member portion 30 attached to the bonding surface 21, that is, the bonding member 30. 10 is mounted (mounting process).

その後、接合部材30の加熱による硬化を行う。この加熱条件は、一般的な熱硬化性樹脂よりなる接合部材における条件と同様である。こうして、複数個の接合部材30を介して半導体チップ10の一面11とパッケージ20の接合面21とが接合され、上記実装構造が完成する。その後は、上記蓋26の取付などを行うことで、本実施形態の半導体装置S1ができあがる。   Thereafter, the bonding member 30 is cured by heating. This heating condition is the same as that in a joining member made of a general thermosetting resin. In this way, the one surface 11 of the semiconductor chip 10 and the bonding surface 21 of the package 20 are bonded via the plurality of bonding members 30, and the mounting structure is completed. Thereafter, the semiconductor device S1 of this embodiment is completed by attaching the lid 26 and the like.

ところで、上記実装方法によれば、複数個の接合部材30すなわちシート部材31の打ち抜かれた部分30を、それぞれ、第2の型60の突出部61の先端部によってパッケージ20の接合面21に押し付けるようにしている。   By the way, according to the mounting method described above, the plurality of bonding members 30, that is, the punched portions 30 of the sheet member 31 are pressed against the bonding surface 21 of the package 20 by the distal end portion of the protruding portion 61 of the second mold 60. I am doing so.

そのため、上記したように、パッケージ20の接合面21に大きな高さばらつきTが存在していても、接合面21の全体において接合部材30が適切に貼り付く。また、この押し付けの度合(強弱)を制御することによって複数個の接合部材30の変形度合を制御すれば、これら接合部材30の高さを制御することができる。   Therefore, as described above, even when there is a large height variation T on the bonding surface 21 of the package 20, the bonding member 30 is appropriately attached to the entire bonding surface 21. Further, if the degree of deformation of the plurality of joining members 30 is controlled by controlling the degree of pressing (strength), the heights of the joining members 30 can be controlled.

また、第2の型60のすべての突出部61の先端面の水平度を、実質的に水平面に近いものとなるようにすれば、図4(d)に示されるように、各接合部材30の上面の高さを実質的に同一に揃えることができる。各接合部材30の上面は、高さばらつきが比較的少なく平坦な半導体チップ10の一面11と接合される面であるため、当該上面の高さを揃えることが重要である。   Further, if the level of the front end surface of all the protrusions 61 of the second mold 60 is substantially close to a horizontal plane, as shown in FIG. The heights of the upper surfaces of can be made substantially the same. Since the upper surface of each bonding member 30 has a relatively small height variation and is a surface bonded to one surface 11 of the flat semiconductor chip 10, it is important to align the height of the upper surface.

よって、本実施形態によれば、パッケージ20の接合面21の高さばらつきTが大きいものであっても、当該接合面21上に、複数個の接合部材30を一括して適切に配置することができる。   Therefore, according to this embodiment, even if the height variation T of the bonding surface 21 of the package 20 is large, the plurality of bonding members 30 are appropriately arranged on the bonding surface 21 in a lump. Can do.

特に、上述したように、この種のセラミックよりなるパッケージ20では、接合面21に存在する高さばらつきTは、当該接合面21における最も高い部位と最も低い部位との差として15μm以上のものが通常であり、この高さばらつきTが15μmよりも大きくなるにつれて、本実施形態の有効性が増していく。   In particular, as described above, in the package 20 made of this type of ceramic, the height variation T existing on the joint surface 21 is 15 μm or more as the difference between the highest part and the lowest part on the joint surface 21. Normally, as the height variation T becomes larger than 15 μm, the effectiveness of the present embodiment increases.

また、上記したが、本実施形態の実装方法において、シート貼り付け工程を、シート部材31の打ち抜かれた部分30を軟化させた状態にて行うようにすれば、当該打ち抜かれた部分30が、パッケージ20の接合面21に押し付けられるときに変形しやすくなる。その結果、各接合部材30の高さ制御が容易になる。また、軟化することにより接合部材30がパッケージ20の接合面21に貼り付きやすくなる。   Further, as described above, in the mounting method of the present embodiment, if the sheet attaching step is performed in a state where the punched portion 30 of the sheet member 31 is softened, the punched portion 30 is It becomes easy to be deformed when pressed against the joint surface 21 of the package 20. As a result, the height control of each joining member 30 becomes easy. Further, the softening makes it easy for the bonding member 30 to stick to the bonding surface 21 of the package 20.

なお、上記実装方法では、上記図4(b)に示される状態、すなわち型50、60によって打ち抜かれた状態のシート部材31を型50、60とともに、パッケージ20の接合面21上に配置して、シート貼り付け工程を行っている。つまり、シート打ち抜き工程とシート貼り付け工程とを別々の場所にて行っている。   In the mounting method, the sheet member 31 in the state shown in FIG. 4B, that is, the state punched by the molds 50 and 60, is arranged on the bonding surface 21 of the package 20 together with the molds 50 and 60. The sheet pasting process is performed. That is, the sheet punching process and the sheet attaching process are performed at different locations.

それに対して、あらかじめ、パッケージ20の接合面21において複数個の接合部材30が配置されるべき部位に開口部51が位置するように、パッケージ20の接合面21上に第1の型50を、配置した後に、上記のシート打ち抜き工程、シート貼り付け工程を連続して行ってもよい。   On the other hand, the first mold 50 is placed on the bonding surface 21 of the package 20 in advance so that the openings 51 are located at the portions where the plurality of bonding members 30 are to be disposed on the bonding surface 21 of the package 20. After the arrangement, the above-described sheet punching step and sheet pasting step may be performed continuously.

つまり、本実施形態では、シート部材31を載せた第1の型50を、パッケージ20の接合面21においてパッケージ電極22と第1の型50の開口部51とが一致するように、パッケージ20の上に配置し、この状態で、第2の型60による上記打ち抜き、上記貼り付けを行ってもよい。   That is, in the present embodiment, the first mold 50 on which the sheet member 31 is placed is placed on the package 20 so that the package electrode 22 and the opening 51 of the first mold 50 coincide with each other on the bonding surface 21 of the package 20. It is arranged on the top, and in this state, the punching and the pasting by the second die 60 may be performed.

それによれば、シート部材31の打ち抜きと打ち抜かれた部分30すなわち接合部材30のパッケージ20の接合面21への貼り付けとを連続して行うことができ、工程の簡略化が可能となる。   According to this, it is possible to continuously perform the punching of the sheet member 31 and the stamped portion 30, that is, the bonding member 30 to the bonding surface 21 of the package 20, and the process can be simplified.

さらに、本実施形態では、上記実装方法において、図4(b)に示される状態から、打ち抜かれた接合部材30とともに第2の型60を、第1の型50から、いったん外し、突出部61の先端部に接合部材30が貼り付いた状態の第2の型60のみを、パッケージ20の接合面21上に配置した後、当該接合面21に対して接合部材30を押しつけるようにしてもよい。 Furthermore, in the present embodiment, in the above mounting method, from the state shown in FIG. 4 (b), together with the joint member 30 punched second type 60, the first mold 50, once removed, the projecting portion 61 Only the second mold 60 in a state where the bonding member 30 is attached to the distal end portion thereof may be disposed on the bonding surface 21 of the package 20, and then the bonding member 30 may be pressed against the bonding surface 21. .

(第2実施形態)
図5(a)、(b)、(c)は、本発明の第2実施形態に係る半導体チップ10の基材20への実装方法を示す概略断面図である。本実施形態は、上記第1実施形態と同様に、シート部材31、第1および第2の型50、60を用いた実装方法を採用し、その一部を変形したものである。ここでは、相違点を中心に述べる。
(Second Embodiment)
5A, 5B, and 5C are schematic cross-sectional views showing a method for mounting the semiconductor chip 10 on the base material 20 according to the second embodiment of the present invention. As in the first embodiment, the present embodiment adopts a mounting method using the sheet member 31 and the first and second molds 50 and 60, and a part thereof is modified. Here, the differences will be mainly described.

本実施形態では、図5(c)に示されるように、半導体チップ10は、第1の半導体チップ10aと第2の半導体チップ10bとを備えるものである。また、基材20は、接合面21として、高さの異なる第1の接合面21aと第2の接合面21bとを備えるものである。   In the present embodiment, as shown in FIG. 5C, the semiconductor chip 10 includes a first semiconductor chip 10a and a second semiconductor chip 10b. Moreover, the base material 20 is provided with the 1st joining surface 21a and the 2nd joining surface 21b from which height differs as the joining surface 21. As shown in FIG.

そして、第1の半導体チップ10aは、その一面11を比較的高い第1の接合面21aに対向させ、第2の半導体チップ10bは、その一面11を比較的低い第2の接合面21bに対向させ、それぞれ接合部材30を介して接合されるものである。   The first semiconductor chip 10a has its one surface 11 opposed to the relatively high first bonding surface 21a, and the second semiconductor chip 10b has the one surface 11 opposed to the relatively low second bonding surface 21b. Are joined via the joining member 30.

ここで、基材20は、第1の接合面21aを構成する部分と第2の接合面21bを構成する部分との間に段差などを有することで両接合面21a、21bの高低差を実現する一体成形品であってもよいが、それぞれの接合面21a、21bを構成する部分が別々の部品であってもよい。   Here, the base material 20 has a level difference between the part constituting the first joining surface 21a and the part constituting the second joining surface 21b, thereby realizing a height difference between the joining surfaces 21a and 21b. However, the parts constituting the joint surfaces 21a and 21b may be separate parts.

この場合、本実施形態の基材20は、厚さや高さなどが異なる複数個の部品の集合体として構成される。具体的には、パッケージと回路基板との集合体を基板20として構成してもよく、この場合、パッケージの接合面と回路基板の接合面との高さを、互いに異なるものにできる。   In this case, the base material 20 of the present embodiment is configured as an assembly of a plurality of parts having different thicknesses and heights. Specifically, an assembly of a package and a circuit board may be configured as the board 20, and in this case, the height of the bonding surface of the package and the bonding surface of the circuit board can be made different from each other.

さらに、第1の接合面21a、第2の接合面21bのそれぞれ1つの面については、当該1つの面内にて上記第1実施形態に示したような高さばらつきが存在するものであり、各接合面21a、21bに対する高さばらつきの対策については、本実施形態においても、上記第1実施形態にて述べた方法を採用する。   Furthermore, for each of the first joining surface 21a and the second joining surface 21b, there is a height variation as shown in the first embodiment in the one surface, As a countermeasure for the height variation with respect to the respective joint surfaces 21a and 21b, the method described in the first embodiment is also adopted in this embodiment.

ここで、本実施形態では、各接合面21a、21bの高さは、上記高さばらつき以上に大きいものであり、このように高さが大きく異なる2種類の接合面21a、21bに、それぞれ、別々の半導体チップ10a、10bを、接合部材30を介して接合する実装方法を提供するものである。   Here, in the present embodiment, the height of each bonding surface 21a, 21b is larger than the above-described height variation. Thus, two types of bonding surfaces 21a, 21b having greatly different heights are respectively provided. A mounting method for joining separate semiconductor chips 10a and 10b via a joining member 30 is provided.

すなわち、本実施形態の実装方法では、図5に示されるように、第2の型60の複数個の突出部61を、互いの高さが異なる基材20の接合面21a、21bのうち高い方の第1の接合面21aに対応するものについては短くし、低い方の第2の接合面21bに対応するものについては長くしている。   That is, in the mounting method of the present embodiment, as shown in FIG. 5, the plurality of protrusions 61 of the second mold 60 are higher among the joint surfaces 21 a and 21 b of the base material 20 having different heights. The one corresponding to the first joining surface 21a is made shorter, and the one corresponding to the lower second joining surface 21b is made longer.

そして、本実装方法では、このような突出部61の長さを異ならせた第2の型60を用いて、上記第1実施形態と同様に、シート打ち抜き工程(図5(a)参照)、シート貼り付け工程(図5(b)参照)を行う。   And in this mounting method, using the 2nd type | mold 60 which varied the length of such a protrusion part 61, similarly to the said 1st Embodiment, a sheet | seat punching process (refer Fig.5 (a)), A sheet sticking step (see FIG. 5B) is performed.

その後は、基材20における各接合面21a、21bに、それぞれ半導体チップ10a、10bを、接合部材30を介して搭載し、接合部材30の硬化を行う。こうして、図5(c)に示されるような本実施形態の実装構造ができあがる。   Thereafter, the semiconductor chips 10a and 10b are mounted on the bonding surfaces 21a and 21b of the base member 20 via the bonding member 30, respectively, and the bonding member 30 is cured. Thus, the mounting structure of the present embodiment as shown in FIG. 5C is completed.

本実施形態の実装方法によれば、互いの高さの違う基材20の2つの接合面21a、21bに別々の部品10a、10bを搭載する場合であっても、各接合面21a、21b間で一括して複数個の接合部材30を配置することができる。   According to the mounting method of the present embodiment, even when separate components 10a and 10b are mounted on the two bonding surfaces 21a and 21b of the base material 20 having different heights, the distance between the bonding surfaces 21a and 21b is determined. A plurality of joining members 30 can be arranged at once.

また、各接合面21a、21bの1つ1つをみたときの実装については上記第1実施形態と同様の効果が得られる。このことについて、さらに述べておくと、上記高い方の接合面21aに対して複数個の接合部材30を配置する場合、第2の型60の突出部61のうち当該高い方の接合面21aに対応する複数個の突出部61の長さは、上記第1実施形態と同様に実質的に同一のものとする。   Moreover, the same effects as those in the first embodiment can be obtained with respect to the mounting when the bonding surfaces 21a and 21b are viewed one by one. This will be further described. When a plurality of joining members 30 are arranged with respect to the higher joining surface 21a, the higher joining surface 21a of the protrusions 61 of the second mold 60 is arranged. The corresponding lengths of the plurality of protrusions 61 are substantially the same as in the first embodiment.

また、上記低い方の接合面21bに対して複数個の接合部材30を配置する場合、第2の型60の突出部61のうち当該低い方の接合面21bに対応する複数個の突出部61の長さは、上記第1実施形態と同様に実質的に同一のものであって且つ上記高い方の接合面21aに対応する複数個の突出部61の長さよりも長いものとする。   Further, when a plurality of joining members 30 are arranged with respect to the lower joining surface 21 b, a plurality of projecting portions 61 corresponding to the lower joining surface 21 b among the projecting portions 61 of the second mold 60. The length is substantially the same as in the first embodiment, and is longer than the length of the plurality of protrusions 61 corresponding to the higher joint surface 21a.

このような第2の型60を用いることにより、各接合面21a、21bにおけるそれぞれの高さばらつきに対処した接合部材30の配置を可能としつつ、互いに高さの異なる接合面21aと21bとの間にて接合部材30を一括して配置することができる。   By using the second mold 60 as described above, it is possible to arrange the joining members 30 to cope with the respective height variations in the joining surfaces 21a and 21b, while the joining surfaces 21a and 21b having different heights are arranged. The joining member 30 can be collectively arranged in between.

(第3実施形態)
図6(a)、(b)、(c)は、本発明の第3実施形態に係る半導体チップ10のパッケージ20への実装方法を示す概略断面図である。本実施形態は、上記第1実施形態と同様に、高さばらつきを有するパッケージ10の接合面21上に、接合部材30を介して、半導体チップ10を接合する実装方法を提供するものである。
(Third embodiment)
6A, 6B, and 6C are schematic cross-sectional views illustrating a method of mounting the semiconductor chip 10 on the package 20 according to the third embodiment of the present invention. As in the first embodiment, the present embodiment provides a mounting method in which the semiconductor chip 10 is bonded to the bonding surface 21 of the package 10 having a height variation via the bonding member 30.

本実施形態の実装方法では、上記第1実施形態と同様に、部品としての半導体チップ10と、基材としてのパッケージ20とを用意する。また、図6に示されるように、パッケージ20の接合面21における複数個の接合部材30と同じ配置パターンに形成された複数個の突出部71を一面側に有する型部材70を用意する。この型部材70は、たとえば、上記第1実施形態における第2の型60と同様のものにできる。具体的には、上記複数個の突出部71が図6に図示するように型部材70に一体に設けられている。
In the mounting method of the present embodiment, a semiconductor chip 10 as a component and a package 20 as a base material are prepared as in the first embodiment. Further, as shown in FIG. 6, a mold member 70 having a plurality of projecting portions 71 formed in the same arrangement pattern as the plurality of joining members 30 on the joining surface 21 of the package 20 is prepared. For example, the mold member 70 can be the same as the second mold 60 in the first embodiment. Specifically, the plurality of protrusions 71 are integrally provided on the mold member 70 as shown in FIG.

そして、図6(a)に示されるように、この型部材70における各突出部71の先端部に接合部材30を取り付ける。接合部材30としては、上記第1実施形態に述べたシート部材31を切り取ったものを用いる。そして、これを各突出部71の先端部に貼り付けることにより、接合部材30の取り付けを行うようにすればよい。   Then, as shown in FIG. 6A, the joining member 30 is attached to the tip of each protrusion 71 in the mold member 70. As the joining member 30, a member obtained by cutting out the sheet member 31 described in the first embodiment is used. And what is necessary is just to make it attach the joining member 30 by affixing this on the front-end | tip part of each protrusion part 71. FIG.

また、本実施形態では、接合部材30として、上記したシート部材31を切り取ったものを用いる代わりに、導電性接着剤などの熱硬化可能な導電性ペーストを用い、これを、印刷やディスペンサ、ディッピングなどで塗布することにより、型部材70の各突出部71の先端部に取り付けてもよい。   In the present embodiment, instead of using the sheet member 31 cut out as the joining member 30, a heat curable conductive paste such as a conductive adhesive is used, and this is used for printing, dispenser, and dipping. You may attach to the front-end | tip part of each protrusion part 71 of the type | mold member 70 by apply | coating by.

このようにして、接合部材30の取付を行った後、図6(b)に示されるように、パッケージ20の接合面21と型部材70の一面とを対向させた状態で、パッケージ20の接合面21上に型部材70を配置し、続いて、型部材70の突出部71の先端部によって、接合部材30をパッケージ20の接合面21に押し付けて貼り付ける。   After attaching the joining member 30 in this way, the joining of the package 20 is performed with the joining surface 21 of the package 20 and one surface of the mold member 70 facing each other, as shown in FIG. The mold member 70 is disposed on the surface 21, and then the joining member 30 is pressed against the joining surface 21 of the package 20 by the tip of the protrusion 71 of the mold member 70 and pasted.

この接合部材30の貼り付けの際には、上記第1実施形態と同様に、接合部材30の軟化を行ってもよい。その後は、型部材70を接合部材30から剥がし、パッケージ20上から取り除くことにより、図6(c)に示されるように、パッケージ20の接合面21に、複数個の接合部材30が配置された状態となる。   When the bonding member 30 is attached, the bonding member 30 may be softened as in the first embodiment. Thereafter, the mold member 70 is peeled off from the bonding member 30 and removed from the package 20, whereby a plurality of bonding members 30 are arranged on the bonding surface 21 of the package 20, as shown in FIG. It becomes a state.

続いて、本実装方法では、図6では示さないが、半導体チップ10の一面11をパッケージ20の接合面21に対向させつつ、接合部材30を介して、パッケージ20の接合面21上に半導体チップ10を搭載する。   Subsequently, in this mounting method, although not shown in FIG. 6, the semiconductor chip 10 is placed on the bonding surface 21 of the package 20 via the bonding member 30 while the one surface 11 of the semiconductor chip 10 faces the bonding surface 21 of the package 20. 10 is mounted.

その後、上記第1実施形態と同様に、接合部材30の硬化を行うことで、本実施形態の実装構造が完成する。本実施形態の実装構造については、上記図3に示されるものと同様である。さらに、その後、上記蓋26の取付などを行うことで、本実施形態においても、上記図1に示されるのと同様の半導体装置ができあがる。   Thereafter, similarly to the first embodiment, the mounting member 30 is cured to complete the mounting structure of the present embodiment. The mounting structure of this embodiment is the same as that shown in FIG. Further, by subsequently attaching the lid 26 and the like, a semiconductor device similar to that shown in FIG. 1 is completed in this embodiment.

本実施形態によれば、複数個の接合部材30を、型部材70の突出部71の先端部によってパッケージ20の接合面21に押し付けるようにしているため、接合面21に大きな高さばらつきTが存在していても、接合面21の全体において接合部材30が適切に貼り付く。   According to the present embodiment, the plurality of joining members 30 are pressed against the joining surface 21 of the package 20 by the tip end portions of the projecting portions 71 of the mold member 70, so that the joint surface 21 has a large height variation T. Even if it exists, the joining member 30 adheres appropriately on the entire joining surface 21.

また、この押し付けの度合(強弱)を制御することによって各接合部材30の高さを制御できることや、型部材70のすべての突出部71の先端面の水平度により各接合部材30の上面の高さを同一に揃えられることについては、上記第1実施形態と同様である。したがって、本実施形態によっても、高さばらつきTが大きい接合面21であっても、複数個の接合部材30を一括して適切に配置することができる。   Further, the height of each joining member 30 can be controlled by controlling the degree (strength) of this pressing, and the height of the upper surface of each joining member 30 can be controlled by the level of the tip surfaces of all the protrusions 71 of the mold member 70. It is the same as that of the said 1st Embodiment that it can arrange equally. Therefore, even in the present embodiment, a plurality of joining members 30 can be appropriately disposed collectively even on the joining surface 21 having a large height variation T.

また、本実施形態の実装方法では、特に、接合部材30として、上記シート部材31を切り取ったものを用い、これを各突出部71の先端部に貼り付けることにより、接合部材30の取り付けを行うようにしている。そのため、接合部材30を各突出部71に塗布して取り付ける場合に比べて、各接合部材30の型部材70への取り付けが容易になり、作業効率の向上を図ることができるとともに、各接合部材30の形状を安定して形作ることが可能になる。   In the mounting method of the present embodiment, in particular, the bonding member 30 is attached by attaching the cut-out sheet member 31 to the tip of each protrusion 71 as the bonding member 30. I am doing so. Therefore, compared to the case where the joining member 30 is applied and attached to each protruding portion 71, the attachment of each joining member 30 to the mold member 70 can be facilitated, the work efficiency can be improved, and each joining member can be improved. 30 shapes can be formed stably.

(第4実施形態)
図7(a)、(b)、(c)は、本発明の第4実施形態に係る半導体チップ10の基材20への実装方法を示す概略断面図である。本実施形態は、上記第3実施形態と同様に、型部材70を用いた実装方法を採用し、その一部を変形したものである。ここでは、相違点を中心に述べる。
(Fourth embodiment)
7A, 7B, and 7C are schematic cross-sectional views illustrating a method of mounting the semiconductor chip 10 on the base material 20 according to the fourth embodiment of the present invention. As in the third embodiment, the present embodiment adopts a mounting method using a mold member 70 and is a part of the method. Here, the differences will be mainly described.

本実施形態では、上記第2実施形態と同様に、半導体チップ10として、第1の半導体チップ10aと第2の半導体チップ10bとを備えるものであり、これら両半導体チップ10a、10bのそれぞれが接合される基材20の接合面21は、互いに高さが異なる第1の接合面21aと、第2の接合面21bとよりなる。そして、このような条件において、上記第3実施形態に示される実装方法を適用するものである。   In the present embodiment, as in the second embodiment, the semiconductor chip 10 includes a first semiconductor chip 10a and a second semiconductor chip 10b, and each of the two semiconductor chips 10a and 10b is bonded. The bonding surface 21 of the base material 20 is composed of a first bonding surface 21a and a second bonding surface 21b having different heights. And the mounting method shown by the said 3rd Embodiment is applied on such conditions.

すなわち、本実施形態の実装方法では、図7に示されるように、型部材70の複数個の突出部71を、互いの高さが異なる基材20の接合面21a、21bのうち高い方の第1の接合面21aに対応するものについては短くし、低い方の第2の接合面21bに対応するものについては長くしている。   That is, in the mounting method according to the present embodiment, as shown in FIG. 7, the plurality of protrusions 71 of the mold member 70 are formed with the higher one of the joining surfaces 21 a and 21 b of the base material 20 having different heights. The one corresponding to the first joint surface 21a is shortened, and the one corresponding to the lower second joint surface 21b is lengthened.

そして、本実装方法では、このような突出部71の長さを異ならせた型部材70を用いて、上記第3実施形態と同様に、接合部材30の突出部71への取り付け(図7(a)参照)、接合部材30の貼り付け(図7(b)参照)を行い、各接合面21a、21bに複数個の接合部材30をそれぞれ配置する。   Then, in this mounting method, the mold member 70 having different lengths of the protrusions 71 is used to attach the joining member 30 to the protrusions 71 as in the third embodiment (FIG. 7 ( a), and bonding member 30 is affixed (see FIG. 7B), and a plurality of bonding members 30 are arranged on each bonding surface 21a, 21b.

その後は、基材20における各接合面21a、21bに、それぞれ半導体チップ10a、10bを、接合部材30を介して搭載し、接合部材30の硬化を行う。こうして、図7(c)に示されるような本実施形態の実装構造ができあがる。   Thereafter, the semiconductor chips 10a and 10b are mounted on the bonding surfaces 21a and 21b of the base member 20 via the bonding member 30, respectively, and the bonding member 30 is cured. Thus, the mounting structure of the present embodiment as shown in FIG. 7C is completed.

本実施形態の実装方法によれば、上記した第3実施形態の実装方法を用いて、互いの高さの違う基材20の2つの接合面21a、21bに別々の部品10a、10bを搭載する場合であっても、各接合面21a、21b間で一括して複数個の接合部材30を配置することができる。   According to the mounting method of this embodiment, the separate components 10a and 10b are mounted on the two joint surfaces 21a and 21b of the base material 20 having different heights using the mounting method of the third embodiment described above. Even if it is a case, the some joining member 30 can be arrange | positioned collectively between each joining surface 21a, 21b.

また、各接合面21a、21bの1つ1つをみたときの実装については上記第1実施形態と同様の効果が得られる。本実施形態におけるこの場合の具体的な方法については、上記第3実施形態に述べた方法を同様である。   Moreover, the same effects as those in the first embodiment can be obtained with respect to the mounting when the bonding surfaces 21a and 21b are viewed one by one. The specific method in this case in the present embodiment is the same as the method described in the third embodiment.

(第5実施形態)
図8(a)、(b)、(c)、(d)は、本発明の第5実施形態に係る半導体チップ10のパッケージ20への実装方法を示す概略断面図である。
(Fifth embodiment)
8A, 8B, 8C, and 8D are schematic cross-sectional views illustrating a method of mounting the semiconductor chip 10 on the package 20 according to the fifth embodiment of the present invention.

本実施形態は、上記第1実施形態と同様に、高さばらつきを有するパッケージ10の接合面21上に、接合部材30を介して、半導体チップ10を接合する実装方法を提供するものである。本実施形態は、主として、図8に示されるマスク部材80を用いてパッケージ20の接合面21上へ接合部材30を印刷して配置する方法である。   As in the first embodiment, the present embodiment provides a mounting method in which the semiconductor chip 10 is bonded to the bonding surface 21 of the package 10 having a height variation via the bonding member 30. This embodiment is mainly a method of placing the bonding member 30 on the bonding surface 21 of the package 20 by using the mask member 80 shown in FIG.

図8に示されるように、用意するマスク部材80は、パッケージ20の接合面21における複数個の接合部材30と同じ配置パターンに形成された複数個の開口部81を有する。ここで、このマスク部材80は、パッケージ20よりも低弾性な材料、たとえばシリコーン樹脂やゴムなどの材料よりなるものである。   As shown in FIG. 8, the prepared mask member 80 has a plurality of openings 81 formed in the same arrangement pattern as the plurality of bonding members 30 on the bonding surface 21 of the package 20. Here, the mask member 80 is made of a material having lower elasticity than the package 20, for example, a material such as silicone resin or rubber.

そして、このようなマスク部材80を、複数個の接合部材30が配置されるべき部位に開口部81が位置するように、具体的には、接合面21上のパッケージ電極22と開口部81とが一致するように、接合面21上に配置する。   Then, the mask member 80 is configured such that, specifically, the package electrode 22 and the opening 81 on the bonding surface 21 are positioned so that the opening 81 is located at a portion where the plurality of bonding members 30 are to be disposed. Are arranged on the joint surface 21 so as to match.

このとき、図8(b)に示されるように、マスク部材80を、パッケージ20の接合面21に押し付けて、マスク部材80が当該接合面21の起伏形状を承継するように変形させる。具体的には、マスク部材80における接合面21と対向する面が変形する。このことは、マスク部材80を、上述したような低弾性材料により構成されたものとすることにより可能である。   At this time, as shown in FIG. 8B, the mask member 80 is pressed against the bonding surface 21 of the package 20 so that the mask member 80 is deformed so as to inherit the undulating shape of the bonding surface 21. Specifically, the surface of the mask member 80 that faces the bonding surface 21 is deformed. This is possible by making the mask member 80 made of the low-elasticity material as described above.

それにより、マスク部材80の全体を、パッケージ20の接合面21に密着させ、図8(b)および(c)に示されるように、この状態で、熱硬化可能なペースト状の接合部材30を、開口部81を介して印刷する。この印刷は、通常のスクリーン印刷と同様に、スキージKを用いて行うことができる。   As a result, the entire mask member 80 is brought into close contact with the bonding surface 21 of the package 20, and as shown in FIGS. And printing through the opening 81. This printing can be performed using the squeegee K as in the case of normal screen printing.

こうして、図8(d)に示されるように、パッケージ20の接合面21に、複数個の接合部材30が配置された状態となる。続いて、図示しないが、半導体チップ10の一面11をパッケージ20の接合面21に対向させつつ、接合部材30を介して、パッケージ20の接合面21上に半導体チップ10を搭載する。   Thus, as shown in FIG. 8D, a plurality of joining members 30 are arranged on the joining surface 21 of the package 20. Subsequently, although not illustrated, the semiconductor chip 10 is mounted on the bonding surface 21 of the package 20 via the bonding member 30 while the one surface 11 of the semiconductor chip 10 is opposed to the bonding surface 21 of the package 20.

その後は、上記第1実施形態と同様に、接合部材30の硬化を行うことで、上記同様の実装構造が完成する。さらに、その後、上記蓋26の取付などを行うことで、本実施形態においても、上記図1に示されるのと同様の半導体装置ができあがる。   After that, the mounting structure similar to the above is completed by curing the joining member 30 as in the first embodiment. Further, by subsequently attaching the lid 26 and the like, a semiconductor device similar to that shown in FIG. 1 is completed in this embodiment.

ところで、従来の印刷法ではマスクは、硬い板状のものであり、高さばらつきが存在するパッケージの接合面の低い部位では高い部位に比べて、マスクと接合面とが大きく離れてしまい、適切な供給ができなかった。   By the way, in the conventional printing method, the mask is a hard plate-like shape, and the mask and the bonding surface are far apart in the lower part of the bonding surface of the package where the height variation exists compared to the high part. Could not be supplied.

それに対して、本実施形態の実装方法によれば、マスク部材80における接合面21と対向する面全体が接合面21の高さばらつきによる起伏形状を承継するため、高さばらつきが大きいパッケージ20の接合面21であっても、複数個の接合部材30を一括して適切に配置することができる。   On the other hand, according to the mounting method of the present embodiment, the entire surface of the mask member 80 that faces the bonding surface 21 inherits the undulating shape due to the height variation of the bonding surface 21. Even if it is the joining surface 21, the some joining member 30 can be arrange | positioned collectively appropriately.

ここで、本実装方法では、マスク部材80をパッケージ20の接合面21に押しつけて変形させたときに、開口部81の開口面積が変形前よりも小さくなる。この変形後の開口部81の様子は、図8(a)において破線にて示している。   Here, in this mounting method, when the mask member 80 is pressed against the bonding surface 21 of the package 20 and deformed, the opening area of the opening 81 is smaller than that before the deformation. The state of the opening 81 after the deformation is indicated by a broken line in FIG.

その対策として、本実施形態では、マスク部材80として、パッケージ20への押し付け時に開口部81が狙いの開口面積となるように、開口部81の開口面積を当該狙いの開口面積よりも大きめにしたものを用いることが好ましい。それにより、精度のよい接合部材30の配置が可能となる。   As a countermeasure, in this embodiment, as the mask member 80, the opening area of the opening 81 is made larger than the target opening area so that the opening 81 has a target opening area when pressed against the package 20. It is preferable to use one. Thereby, the arrangement of the joining member 30 with high accuracy becomes possible.

ここで、本実施形態において、マスク部材80による印刷に用いるスキージKは、通常のスクリーン印刷などに用いられるものと同様のものであってもよいが、特に、好適なスキージKについて、図9(a)、(b)を参照して述べておく。図9において、(a)は当該スキージKを用いた印刷工程を示す概略断面図であり、(b)は同じ印刷工程を示す概略平面図である。   Here, in the present embodiment, the squeegee K used for printing by the mask member 80 may be the same as that used for normal screen printing or the like. This will be described with reference to a) and (b). In FIG. 9, (a) is a schematic sectional view showing a printing process using the squeegee K, and (b) is a schematic plan view showing the same printing process.

図9に示されるように、マスク部材80は凹部を有する形状となっており、この凹部の底部に複数個の開口部(81)が形成されている。そして、マスク部材80の凹部の底部を、パッケージ20の接合面21上に配置し、図9(b)に示すようにマスク部材80の凹部の底部上に接合部材30をディスペンサなどによって供給する。そして、この接合部材30をマスク部材80の凹部内に収容されたスキージKを用いて広げることにより、マスク部材80の開口部81を介して、接合面21に接合部材30を配設する。 As shown in FIG. 9, the mask member 80 has a shape having a recess, and a plurality of openings (81) are formed at the bottom of the recess. And the bottom part of the recessed part of the mask member 80 is arrange | positioned on the joining surface 21 of the package 20, and the joining member 30 is supplied with a dispenser etc. on the bottom part of the recessed part of the mask member 80 as shown in FIG.9 (b) . Then, the joining member 30 is disposed on the joining surface 21 through the opening 81 of the mask member 80 by spreading the joining member 30 using the squeegee K accommodated in the recess of the mask member 80.

図9に示されるように、マスク部材80の中央に設けられた回転軸K1に対して、複数本のスキージKが固定されている。この回転軸K1はモータなどにより軸回りに回転するようになっている。このとき、回転軸K1の回転によりスキージKがマスク部材80の凹部内で回転し、接合部材30は、このスキージKの回転方向に沿ってマスク部材80の凹部の底部上に塗り広げられる。こうして、マスク部材80によるスクリーン印刷が行われる。 As shown in FIG. 9, a plurality of squeegees K are fixed to a rotation axis K <b> 1 provided at the center of the mask member 80. The rotation axis K1 is rotated around the axis by a motor or the like. At this time, the squeegee K is rotated in the recess of the mask member 80 by the rotation of the rotation shaft K1, and the joining member 30 is spread on the bottom of the recess of the mask member 80 along the rotation direction of the squeegee K. Thus, screen printing by the mask member 80 is performed.

この図9に示される方法によれば、マスク部材80の面積が狭いものであっても、スキージKの移動スペースを極力抑えつつ、接合部材30の効率的な供給が可能となる。   According to the method shown in FIG. 9, even if the area of the mask member 80 is small, the joining member 30 can be efficiently supplied while suppressing the movement space of the squeegee K as much as possible.

(他の実施形態)
なお、部品および基材としては、部品の一面よりも基材の一面の方が、平坦度が劣るものであればよく、上記した半導体チップ10とパッケージ20とに限定されるものではない。たとえば、回路基板を基材とし、種々の表面実装部品を部品として、導電性接着剤または導電性接着シートを介した接合を行うものであってもよい。
(Other embodiments)
In addition, as a component and a base material, the one surface of a base material should just be inferior in flatness rather than the one surface of a component, and is not limited to the above-mentioned semiconductor chip 10 and the package 20. FIG. For example, a circuit board may be used as a base material, and various surface mount components may be used as parts to perform bonding via a conductive adhesive or a conductive adhesive sheet.

本発明の第1実施形態に係る部品の実装構造としての半導体装置の全体概略断面図である。1 is an overall schematic cross-sectional view of a semiconductor device as a component mounting structure according to a first embodiment of the present invention. 図1中の半導体装置の概略上面図である。FIG. 2 is a schematic top view of the semiconductor device in FIG. 1. 図1に示される半導体装置における両電極間の接合部の拡大断面図である。It is an expanded sectional view of the junction part between both electrodes in the semiconductor device shown in FIG. 第1実施形態の実装方法を示す工程図である。It is process drawing which shows the mounting method of 1st Embodiment. 本発明の第2実施形態に係る実装方法を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the mounting method which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る実装方法を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the mounting method which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る実装方法を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the mounting method which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態に係る実装方法を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the mounting method which concerns on 5th Embodiment of this invention. 第5実施形態に係る印刷方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the printing method which concerns on 5th Embodiment. 本発明者の試作品を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows a prototype of this inventor.

符号の説明Explanation of symbols

10…部品としての半導体チップ、10a…第1の半導体チップ、
10b…第2の半導体チップ、11…半導体チップの一面、
20…基材としてのパッケージ、21…基材の接合面、21a…第1の接合面、
21b…第2の接合面、30…接合部材、打ち抜かれた部分、31…シート部材、
50…第1の型、51…第1の型の開口部、60…第2の型、
61…第2の型の突出部、70…型部材、71…型部材の突出部、
80…マスク部材、81…マスク部材の開口部。
10 ... Semiconductor chip as a part, 10a ... First semiconductor chip,
10b ... second semiconductor chip, 11 ... one side of the semiconductor chip,
20 ... Package as a substrate, 21 ... Bonding surface of substrate, 21a ... First bonding surface,
21b ... second joining surface, 30 ... joining member, punched portion, 31 ... sheet member,
50 ... 1st type | mold, 51 ... Opening part of 1st type | mold, 60 ... 2nd type | mold,
61 ... Projection part of the second mold, 70 ... Mold member, 71 ... Projection part of the mold member,
80: mask member, 81: opening of the mask member.

Claims (4)

部品(10)の一面(11)と前記部品(10)の一面(11)よりも平坦度が劣る基材(20)の一面(21)とを対向させるとともに、これら両部材(10、20)を、当該両部材(10、20)の間に介在する複数個の接合部材(30)を介して接合する部品の実装方法において、
前記複数個の接合部材(30)と同じ配置パターンに形成された複数個の開口部(81)を有するマスク部材(80)と、このマスク部材(80)上に供給される接合部材(30)を広げるスキージ(K)とを用意し、
前記マスク部材(80)は、前記接合部材(30)を溜めておくことができる凹部を有する形状となっており、
前記スキージ(K)は、回転軸(K1)と、この回転軸(K1)に固定されてこの回転軸(K1)とともに回転する複数のスキージ(K)とを有する構成となっており、
前記複数のスキージ(K)は、前記凹部内に回転可能に収容されており、
前記複数個の開口部(81)は前記凹部の底部に形成され、
前記複数個の接合部材(30)が配置されるべき部位に前記開口部(81)が位置するように、前記基材(20)の一面(21)上に前記マスク部材(80)の前記凹部の底部を配置するとともに、
このマスク部材(80)の前記凹部の底部を前記基材(20)の一面(21)に押し付けて、前記マスク部材(80)のうち前記基材(20)の一面(21)と対向する前記凹部の底部を当該一面(21)の起伏形状を承継するように変形させ、この状態で前記回転軸(K1)とともに前記複数のスキージ(K)を回転させることにより前記接合部材(30)を前記マスク部材(80)の前記凹部の底部上で広げて、前記接合部材(30)を、前記開口部(81)を介して前記基材(20)の一面(21)上に印刷することを特徴とする部品の実装方法。
The one surface (11) of the component (10) and the one surface (21) of the base material (20) having a lower flatness than the one surface (11) of the component (10) are opposed to each other, and both the members (10, 20). In a component mounting method in which a plurality of joining members (30) interposed between the two members (10, 20) are joined.
A mask member (80) having a plurality of openings (81) formed in the same arrangement pattern as the plurality of joining members (30), and a joining member (30) supplied on the mask member (80). Prepare a squeegee (K)
The mask member (80) has a shape having a recess capable of storing the joining member (30),
The squeegee (K) includes a rotation shaft (K1) and a plurality of squeegees (K) fixed to the rotation shaft (K1) and rotating together with the rotation shaft (K1).
The plurality of squeegees (K) are rotatably accommodated in the recesses,
The plurality of openings (81) are formed at the bottom of the recess,
The concave portion of the mask member (80) on one surface (21) of the base (20) so that the opening (81) is located at a portion where the plurality of joining members (30) are to be disposed. With the bottom of the
The bottom of the concave portion of the mask member (80) is pressed against one surface (21) of the base material (20), and the mask member (80) faces the one surface (21) of the base material (20). The bottom of the concave portion is deformed so as to inherit the undulating shape of the one surface (21), and in this state, the plurality of squeegees (K) are rotated together with the rotating shaft (K1), whereby the joining member (30) is The bonding member (30) is spread on the bottom of the concave portion of the mask member (80) and printed on the one surface (21) of the base material (20) through the opening (81). How to mount the parts.
前記マスク部材(80)として、前記基材(20)への押し付け時に前記開口部(81)が狙いの開口面積となるように、前記開口部(81)の開口面積を当該狙いの開口面積よりも大きめにしたものを用いることを特徴とする請求項に記載の部品の実装方法。 As the mask member (80), the opening area of the opening (81) is made larger than the opening area of the target so that the opening (81) has a target opening area when pressed against the base material (20). 2. The component mounting method according to claim 1 , wherein a larger one is used. 前記基材(20)の一面(21)に存在する高さばらつきは、当該一面(21)における最も高い部位と最も低い部位との差として15μm以上のものであることを特徴とする請求項1または2に記載の部品の実装方法。 The height variation existing on one surface (21) of the base material (20) is 15 μm or more as a difference between the highest portion and the lowest portion on the one surface (21). Or the mounting method of the components of 2 . 前記部品は半導体チップ(10)であり、前記基材はセラミックよりなるパッケージ(20)であることを特徴とする請求項1ないしのいずれか1つに記載の部品の実装方法。 The component is a semiconductor chip (10), the substrate component mounting method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a package consisting of ceramic (20).
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JP2000308997A (en) * 1999-04-28 2000-11-07 Hitachi Cable Ltd Adhesive tape bonding die for mounting semiconductor chips
JP2006108344A (en) * 2004-10-05 2006-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for forming solder printing mask and solder bump
JP4557821B2 (en) * 2005-06-30 2010-10-06 アスリートFa株式会社 Apparatus and method for arranging fine particles
JP4765804B2 (en) * 2006-07-14 2011-09-07 株式会社デンソー Manufacturing method of semiconductor device

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