JP4800804B2

JP4800804B2 - プローブおよび測定装置

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Publication number: JP4800804B2
Application number: JP2006069347A
Authority: JP
Inventors: 英樹冨山
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 2006-03-14
Filing date: 2006-03-14
Publication date: 2011-10-26
Anticipated expiration: 2026-03-14
Also published as: JP2007248133A

Description

本発明は、外側端子および内側端子を備えたプローブおよびそのプローブを備えて電気的パラメータを測定可能に構成された測定装置に関するものである。

この種のプローブとして、特開平７−１０４０２６号公報において出願人が開示した同軸型の測定プローブユニット（以下、単に「プローブ」ともいう）が知られている。このプローブは、筒状の測定プローブ（以下、「筒状プローブ」ともいう）とその内部にスライド可能に挿入された棒状の測定プローブ（以下、「棒状プローブ」ともいう）とを備え、両者を互いに絶縁して一体型に構成されている。
特開平７−１０４０２６号公報（第４頁、第４図）

ところが、上記のプローブには、、改善すべき以下の課題がある。すなわち、このプローブを含む従来のこの種のプローブでは、棒状プローブをスムーズにスライドさせるために、筒状プローブの先端部と棒状プローブの先端部との間に隙間が設けられている。このため、この隙間に異物が侵入してその異物によって棒状プローブのスムーズなスライド動作が阻害されるおそれがある。また、例えば、測定時における筒状プローブおよび棒状プローブの先端部と測定対象体との接触によって生じる金属片等の導電性を有する異物がこの隙間に侵入したときには、筒状プローブと棒状プローブとが短絡して、測定が困難となるおそれもある。さらに、この種のプローブでは、筒状プローブの先端部と棒状プローブの先端部との間に隙間が設けられているため、測定時において各先端部が測定対象体に接触している（押し付けられている）状態でプローブが引きずられたときには、棒状プローブの先端部が変形してスムーズなスライド動作が阻害されたり、棒状プローブの先端部が筒状プローブの先端部に接触したりするおそれもある。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、異物の侵入や変形に起因する動作不良および絶縁不良を防止し得るプローブを提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載のプローブは、導電性を有する筒状の外側端子と、当該外側端子と絶縁された状態で当該外側端子の内部にスライド可能に配設されると共に当該外側端子の基端部側から先端部側に向けて付勢されかつ外力が加えられていない状態においてその先端部が当該外側端子の当該先端部から突出する導電性を有する柱状の内側端子とを備えた電気的パラメータ測定用のプローブであって、前記内側端子の前記先端部には、当該内側端子のスライドに伴ってその外周面が前記外側端子の内周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュが配設され、当該ブッシュは、その先端面が前記内側端子の最先端部よりも前記外側端子の前記基端部側に位置すると共に前記外力が加えられていない状態において当該先端面の少なくとも一部が前記外側端子の前記先端部から突出するように構成されている。

また、請求項２記載のプローブは、導電性を有する柱状の内側端子と、当該内側端子と絶縁された状態でスライド可能に当該内側端子の外周側に配設されると共に前記内側端子の基端部側から先端部側に向けて付勢されかつ外力が加えられていない状態においてその先端部が当該内側端子の当該先端部から突出する導電性を有する筒状の外側端子とを備えた電気的検査用のプローブであって、前記外側端子の内周面には、当該外側端子のスライドに伴ってその内周面が前記内側端子の外周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュが配設され、当該ブッシュは、その先端面が前記外側端子の最先端部よりも前記内側端子の前記基端側に位置すると共に前記外力が加えられていない状態において当該先端面が当該内側端子の前記先端部よりも当該外側端子の当該最先端部側に位置するように構成されている。

また、請求項３記載の測定装置は、請求項１または２記載のプローブと、当該プローブを介して入力した信号に基づいて電気的パラメータを測定する測定部とを備えている。

請求項１記載のプローブによれば、内側端子のスライドに伴ってその外周面が外側端子の内周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュを内側端子の先端部に配設したことにより、測定時において内側端子が撓まされる向きに力が加えられたとしても、ブッシュの外周面が外側端子の内周面に当接するため、内側端子の変形を確実に防止することができる。このため、内側端子の変形に起因するプローブの動作不良や絶縁不良を確実に防止することができる。また、外側端子の内周面とブッシュの先端面とによって構成される空間内に金属片等の異物が侵入したとしても、外側端子の先端部側への内側端子のスライドに伴うブッシュのスライドによってその異物をプローブの外部に押し出すことができる。このため、異物の侵入に起因する動作不良および絶縁不良を確実に防止することができる。

また、このプローブによれば、その先端面が内側端子の最先端部よりも外側端子の基端部側に位置すると共に外力が加えられていない状態において先端面の少なくとも一部が外側端子の先端部から突出するようにブッシュを構成したことにより、内側端子の先端部に形成されている接触部を測定対象体に確実に接触させることができると共に、プローブを測定対象体から離反させたときに、外側端子の内周面とブッシュの先端面とによって構成される空間内に侵入した異物をプローブの外部に確実に押し出すことができる。

また、請求項２記載のプローブによれば、外側端子のスライドに伴ってその内周面が内側端子の外周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュを外側端子の内周面に配設したことにより、測定時において内側端子が撓まされる向きに力が加えられたとしても、内側端子の外周面が外側端子の内周面に配設されたブッシュの内周面に当接するため、内側端子の変形を確実に防止することができる。このため、内側端子の変形に起因するプローブの動作不良や絶縁不良を確実に防止することができる。また、ブッシュの内周面と内側端子の先端部とによって構成される空間内に金属片等の異物が侵入したとしても、内側端子の先端部によって異物をプローブの外部に押し出すことができる。このため、異物の侵入に起因する動作不良および絶縁不良を確実に防止することができる。

また、このプローブによれば、その先端面が外側端子の最先端部よりも内側端子の基端側に位置すると共に外力が加えられていない状態において先端面が内側端子の先端部よりも外側端子の最先端部側に位置するようにブッシュを構成したことにより、外側端子の先端部に形成されている接触部を測定対象体に確実に接触させることができると共に、プローブを測定対象体に押し付けたときに、ブッシュの内周面と内側端子の先端部とによって構成される空間内侵入した異物をプローブの外部に確実に押し出すことができる。

また、請求項３記載の測定装置によれば、上記のプローブを備えたことにより、プローブの不具合に起因して測定が困難となる事態を確実に防止することができる。

以下、本発明に係るプローブおよび測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、プローブ１００およびバッテリテスタ１の構成について、図面を参照して説明する。

図１に示すバッテリテスタ１は、本発明に係る測定装置の一例であって、バッテリ２００の内部抵抗（本発明における電気的パラメータの一例）の抵抗値を４端子法によって測定可能に構成されている。具体的には、バッテリテスタ１は、電源部２、プローブユニット３（図２参照）、電圧検出部４、ＲＡＭ５、操作部６、表示部７およびＣＰＵ８を備えて構成されている。電源部２は、測定用の交流電流Ｉｍを生成可能に構成されている。この場合、電源部２によって生成された交流電流Ｉｍは、図２に示すプローブユニット３のプローブ１００を介してバッテリ２００における一対の電極２０１，２０１に出力される。

プローブユニット３は、本体部３１，３１、ケーブル３２，３２・・、コネクタ３３，３３およびプローブ１００を備えて構成されている。本体部３１は、プローブ１００を取り付け可能な取り付け部を備えて構成されると共に、ケーブル３２を介してコネクタ３３に接続されている。コネクタ３３は、バッテリテスタ１の正面パネルに配設された差し込み口に差し込み可能に構成されて、差し込み口に差し込まれた状態において、ケーブル３２を介して電源部２および電圧検出部４と本体部３１に取り付けられたプローブ１００とを接続する。

プローブ１００は、本発明に係るプローブの一例であって、図３に示すように、全体として棒状に形成されている。この場合、プローブ１００は、図２に示すように、基端部１０１側が本体部３１の取り付け部に挿入されて、先端部１０２側が露出された状態で本体部３１に取り付けられる。また、プローブ１００は、図４に示すように、外側端子１１０、絶縁パイプ１２０，１３０、支持パイプ１４０、スプリング１５０、内側端子１６０およびブッシュ１７０を備えて構成されている。

外側端子１１０は、図３，４に示すように、金属等の導電性を有する材料によって円筒状（本発明における筒状の一例）に形成されている。この場合、外側端子１１０は、プローブ１００が本体部３１に取り付けられた状態において、ケーブル３２およびコネクタ３３を介して電源部２に接続される。絶縁パイプ１２０は、樹脂等の絶縁性を有する材料によって円筒状に形成されて、外側端子１１０の基端部１１１側に挿入されている。また、外側端子１１０における先端部１１２の先端面には、先端が鋭利な接触部１１３が形成されている。絶縁パイプ１３０は、樹脂等の絶縁性を有する材料によって円筒状に形成されて、外側端子１１０の内部に挿入されている。

支持パイプ１４０は、図４に示すように、金属等の導電性を有する材料によって有底円筒状に形成されて、基端部１４１を除く部位が外側端子１１０内に収容されている。また、支持パイプ１４０は、外側端子１１０に挿入された絶縁パイプ１２０，１３０の中心部を挿通するようにして配設されることにより、外側端子１１０に対して絶縁された状態で固定されている。この場合、支持パイプ１４０は、本体部３１に取り付けられた状態において、ケーブル３２およびコネクタ３３を介して電圧検出部４に接続される。スプリング１５０は、支持パイプ１４０内部の底部側（同図における右側）に配設されている。

内側端子１６０は、金属等の導電性を有する材料により、基端部１６１および中央部１６２よりも先端部１６３が大径の円柱状（本発明における柱状の一例）に形成されている。また、内側端子１６０における先端部１６３の先端面には、先端が鋭利な接触部１６４が形成されている。また、内側端子１６０は、基端部１６１および中央部１６２が支持パイプ１４０に挿入されることによって支持パイプ１４０によってスライド可能に支持（つまり、外側端子１１０の内部にスライド可能に配設）されると共に、支持パイプ１４０に対して電気的に接続されている。さらに、内側端子１６０は、支持パイプ１４０の内部に配設されているスプリング１５０によって外側端子１１０の基端部１１１側から先端部１１２側に向けて付勢されている。この場合、内側端子１６０は、図３，４に示すように、外力が加えられていない状態において、先端部１６３の一部（少なくとも接触部１６４）が外側端子１１０の先端部１１２（接触部１１３）から突出するようにその長さが規定されている。以上の構成により、内側端子１６０は、絶縁パイプ１２０，１３０および後述するブッシュ１７０によって外側端子１１０とは絶縁された状態で外側端子１１０の内部にスライド可能に配設されている。

ブッシュ１７０は、図５に示すように、樹脂等の絶縁性を有する材料によって全体として筒状に形成されて、内側端子１６０の先端部１６３に固定されている。また、ブッシュ１７０は、内側端子１６０のスライドに伴ってその外周面１７１が外側端子１１０の内周面１１４に接触した状態でスライド可能となるように、その外径が外側端子１１０における先端部１１２の内径よりもやや小径に形成されている。また、ブッシュ１７０は、同図に示すように、先端面１７２が内側端子１６０の最先端部よりも基端部１６１側に位置し、かつ内側端子１６０に外力が加えられていない状態において先端面１７２の少なくとも一部が外側端子１１０の先端部１１２（接触部１１３）から突出するようにその長さが規定されている。なお、内側端子１６０に外力が加えられていない状態において先端面１７２の全部が外側端子１１０の先端部１１２（接触部１１３）から突出するようにその長さを規定することもできる。

電圧検出部４は、例えばＡ／Ｄ変換回路（図示せず）を備えて構成され、ＣＰＵ８の制御に従い、バッテリ２００の電極２０１，２０１間に交流電流Ｉｍが供給されたときに生じる電極２０１，２０１間の電圧の電圧値Ｖを検出して、電圧値Ｖを示す電圧データＤｖを出力する。ＲＡＭ５は、ＣＰＵ８の制御に従い、バッテリ２００の抵抗値Ｒ（本発明におけるパラメータの測定値）を保存（記憶）する。操作部６は、図２に示すように、電源スイッチ６１および開始スイッチ６２などの各種のスイッチを備えて構成されると共に、バッテリテスタ１の正面パネルに配設されて、各スイッチの操作に対応する操作信号ＳｏをＣＰＵ８に出力する。

表示部７は、例えば、ＬＣＤパネルで構成されると共に、図２に示すように、バッテリテスタ１の正面パネルに配設されて、ＣＰＵ８の制御に従って測定値（抵抗値Ｒ）を表示する。ＣＰＵ８は、電圧検出部４と共に本発明における測定部を構成し、電圧検出部４から出力される電圧データＤｖに基づいてバッテリ２００の抵抗値Ｒを算出（測定）する。また、ＣＰＵ８は、算出した抵抗値ＲをＲＡＭ５に保存すると共に、その抵抗値Ｒを表示部７に表示させる。

次に、バッテリ２００の抵抗値Ｒをバッテリテスタ１を用いて測定する方法について、図面を参照して説明する。

まず、操作部６の電源スイッチ６１を操作する。この際に、ＣＰＵ８が、ＲＡＭ５を初期化してＲＡＭ５に保存されている各データを消去させる。次いで、開始スイッチ６２を操作する。この際に、操作部６が、開始スイッチ６２に対応する操作信号Ｓｏを出力し、ＣＰＵ８が、その操作信号Ｓｏに従って抵抗値測処理を実行する。この抵抗値測定処理では、ＣＰＵ８は、電源部２を制御して交流電流Ｉｍを生成させる。続いて、プローブ１００が取り付けられたプローブユニット３の本体部３１，３１をバッテリ２００の電極２０１，２０１に押し付ける。

この際に、図５に示すように、プローブ１００における内側端子１６０の先端部１６３に形成されている接触部１６４が電極２０１に接触し、次いで、本体部３１の押し付けによって内側端子１６０がプローブ１００の基端部１０１側に押圧されて、スプリング１５０の付勢力に抗して基端部１０１側に向けて（同図に示す矢印の方向に）スライドさせられる。また、内側端子１６０のスライドに伴い、内側端子１６０の先端部１６３に配設されているブッシュ１７０が、その外周面１７１を外側端子１１０の内周面１１４に接触した状態でスライドさせられる（摺動する）。このため、内側端子１６０の接触部１６４が電極２０１に接触している状態で押し付け方向と直交する方向にプローブ１００が引きずられて、内側端子１６０が撓まされる向きに力が加えられたとしても、ブッシュ１７０の外周面１７１が外側端子１１０の内周面１１４に当接して、内側端子１６０の変形が防止される。この結果、内側端子１６０のスムーズなスライドが維持されると共に、内側端子１６０の先端部１６３が外側端子１１０の内周面１１４に接触する事態（内側端子１６０と外側端子１１０との短絡（絶縁不良））が防止される。

次いで、図６に示すように、内側端子１６０のスライドによって外側端子１１０の先端部１１２が電極２０１に近接し、次いで先端部１１２に形成されている接触部１１３が電極２０１に接触する。これにより、プローブユニット３のプローブ１００の外側端子１１０を介して電源部２からの交流電流Ｉｍがバッテリ２００の電極２０１，２０１間に供給される。次いで、電圧検出部４が、交流電流Ｉｍの供給によって電極２０１，２０１間に生じる電圧の電圧値Ｖを検出して、その電圧値Ｖを示す電圧データＤｖを出力する。続いて、ＣＰＵ８は、電圧データＤｖに基づいてバッテリ２００の抵抗値Ｒを算出する。続いて、ＣＰＵ８は、算出した抵抗値ＲをＲＡＭ５に保存すると共に、表示部７を制御して、抵抗値Ｒを表示させる。

次に、電極２０１に対する本体部３１の押し付けを解除して、測定を終了する。この際に、図７に示すように、スプリング１５０による付勢力によって内側端子１６０の接触部１６４が電極２０１に接触した状態で外側端子１１０の接触部１１３が２０１から離反する。つまり、内側端子１６０がプローブ１００の先端部１０２側（外側端子１１０の先端部１１２側）に向けて相対的にスライドさせられる。また、内側端子１６０の先端部１６３に配設されているブッシュ１７０が、内側端子１６０のスライドに伴い、プローブ１００の先端部１０２側に向けてスライドさせられる。

ここで、図７に示すように、例えば、電極２０１に対するプローブ１００の押し付けの際に接触部１１３，１６４によって電極２０１が削り取られて生じた金属片等の異物Ｍが、外側端子１１０の内周面１１４と内側端子１６０の先端部１６３（接触部１６４）とによって構成される空間内に侵入したとしても、先端部１０２側へのブッシュ１７０の移動によってプローブ１００の外部に押し出される。このため、侵入した異物Ｍによって内側端子１６０のスムーズなスライド動作が阻害されたり、外側端子１１０と内側端子１６０とが短絡して測定が困難となったりする事態が防止される。

このように、このプローブ１００によれば、内側端子１６０の先端部１６３にブッシュ１７０を配設したことにより、測定時において内側端子１６０が撓まされる向きに力が加えられたとしても、ブッシュ１７０の外周面１７１が外側端子１１０の内周面１１４に当接するため、内側端子１６０の変形を確実に防止することができる。このため、内側端子１６０の変形に起因するプローブ１００の動作不良や絶縁不良を確実に防止することができる。また、外側端子１１０の内周面１１４とブッシュ１７０の先端面１７２とによって構成される空間内に金属片等の異物Ｍが侵入したとしても、先端部１０２側への内側端子１６０のスライドに伴うブッシュ１７０のスライドによってその異物Ｍをプローブ１００の外部に押し出すことができる。このため、異物Ｍの侵入に起因する動作不良および絶縁不良を確実に防止することができる。したがって、このプローブ１００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ１００の不具合に起因して測定が困難となる事態を確実に防止することができる。

また、このプローブ１００によれば、先端面１７２が内側端子１６０における接触部１６４の最先端部よりも外側端子１１０の基端部１１１側に位置するようにブッシュ１７０を構成したことにより、内側端子１６０の先端部１６３に形成されている接触部１６４を測定対象体に確実に接触させることができる。さらに、外力が加えられていない状態において先端面１７２の一部が外側端子１１０における接触部１１３の谷部から突出するようにブッシュ１７０を構成したことにより、プローブ１００を測定対象体から離反させたときに、外側端子１１０の内周面１１４とブッシュ１７０の先端面１７２とによって構成される空間内に侵入した異物Ｍをプローブ１００の外部に確実に押し出すことができる。したがって、このプローブ１００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ１００の不具合に起因して測定が困難となる事態をより確実に防止することができる。

次に、本発明に係るプローブの他の一例としてのプローブ３００について説明する。なお、プローブ１００と同じ構成および機能については重複する説明を省略する。プローブ３００は、図８に示すように、全体として棒状に形成されると共に、基端部３０１側が本体部３１の取り付け部に挿入されて先端部３０２側が露出された状態で本体部３１に取り付け可能に構成されている。また、プローブ３００は、図９に示すように、本体部３１０、絶縁パイプ３２０、内側端子３３０、スプリング３４０、外側端子３５０およびブッシュ３６０を備えて構成されている。

本体部３１０は、図８，９に示すように、金属等の導電性を有する材料によって円筒状に形成されている。絶縁パイプ３２０は、樹脂等の絶縁性を有する材料によって円筒状に形成されて、本体部３１０の基端部３１１側に挿入されている。内側端子３３０は、金属等の導電性を有する材料により、基端部３３１および中央部３３２よりも先端部３３３が大径の円柱状に形成されている。また、内側端子３３０における先端部３３３の先端面には、先端が鋭利な接触部３３４が形成されている。また、内側端子３３０は、本体部３１０に挿入された絶縁パイプ３２０の中心部を挿通するようにして配設されることにより、本体部３１０に対して絶縁された状態で固定されている。この場合、内側端子３３０は、プローブユニット３の本体部３１に取り付けられた状態において、ケーブル３２およびコネクタ３３を介して電圧検出部４に接続される。

スプリング３４０は、本体部３１０の中央部よりもやや先端部３１２側に配設されている。外側端子３５０は、金属等の導電性を有する材料によって円筒状に形成されている。また、外側端子３５０の先端部３５１には、先端が鋭利な接触部３５２が形成されている。また、外側端子３５０は、ブッシュ３６０によって内側端子３３０と絶縁された状態で、スライド可能に内側端子３３０の先端部３３３の外周側に配設されている。また、外側端子３５０は、スプリング３４０によって内側端子３３０の基端部３３１側から先端部３３３側に向けて付勢されている。この場合、外側端子３５０は、図９，１０に示すように、外力が加えられていない状態において、先端部３５１が内側端子３３０の先端部３３３（接触部３３４）から突出するようにその長さが規定されている。

ブッシュ３６０は、図１０に示すように、樹脂等の絶縁性を有する材料によって筒状に形成されて、外側端子３５０の内周面３５３に配設されている。また、ブッシュ３６０は、外側端子３５０のスライドに伴ってその内周面３６１が内側端子３３０における先端部３３３の外周面３３５に接触した状態でスライド可能に、その内径が内側端子３３０における先端部３３３の外径よりもやや大径に形成されている。また、ブッシュ３６０は、その先端面３６２が外側端子３５０の最先端部（接触部３５２の先端部）よりも内側端子３３０の基端部３３１側に位置すると共に外力が加えられていない状態において先端面３６２が内側端子３３０の先端部３３３よりも外側端子３５０の最先端部側に位置するように構成されている。

このプローブ３００を備えたバッテリテスタ１を用いて上記のバッテリ２００の抵抗値Ｒを測定する際には、上記したように操作部６を操作した後に、図１０に示すように、プローブ３００が取り付けられたプローブユニット３の本体部３１，３１をバッテリ２００の電極２０１，２０１に押し付ける。

この際に、図１０に示すように、プローブ３００における外側端子３５０の先端部３５１に形成されている接触部３５２が電極２０１に接触し、次いで、本体部３１の押し付けによって外側端子３５０がプローブ３００の基端部３０１側に押圧されて、スプリング３４０の付勢力に抗して基端部３０１側に向けて（同図に示す矢印の方向に）スライドさせられる。また、外側端子３５０のスライドに伴い、外側端子３５０の内周面３５３に配設されているブッシュ３６０の内周面３６１が内側端子３３０における先端部３３３の外周面３３５に接触した状態でブッシュ３６０がスライドさせられる。

次いで、図１１に示すように、外側端子３５０のスライドによって内側端子３３０の先端部３３３が電極２０１に近接し、続いて、図１２に示すように、先端部３３３に形成されている接触部３３４が電極２０１に接触する。ここで、図１１に示すように、例えば、ブッシュ３６０の内周面３６１と内側端子３３０の先端部３３３（接触部３３４）とによって構成される空間内に金属片等の異物Ｍが侵入したとしても、ブッシュ３６０の内周面３６１に先端部３３３の外周面３３５が接触した状態でブッシュ３６０がスライドさせられるため、先端部３３３によって異物Ｍがプローブ３００の外部に押し出される。このため、侵入した異物Ｍによって外側端子３５０のスムーズなスライド動作が阻害されたり、外側端子３５０と内側端子３３０とが短絡して測定が困難となったりする事態が防止される。次いで、電圧検出部４およびＣＰＵ８が上記したように動作することにより、表示部７にバッテリ２００の抵抗値Ｒが表示される。次に、電極２０１に対する本体部３１の押し付けを解除して、測定を終了する。

このように、このプローブ３００によれば、外側端子３５０の内周面３５３にブッシュ３６０を配設したことにより、測定時において内側端子３３０が撓まされる向きに力が加えられたとしても、内側端子３３０の外周面３３５が外側端子３５０の内周面３５３に配設されたブッシュ３６０の内周面３６１に当接するため、内側端子３３０の変形を確実に防止することができる。このため、内側端子３３０の変形に起因するプローブ３００の動作不良や絶縁不良を確実に防止することができる。また、ブッシュ３６０の内周面３６１と内側端子３３０の先端部３３３とによって構成される空間内に金属片等の異物Ｍが侵入したとしても、先端部３３３によって異物Ｍをプローブ３００の外部に押し出すことができる。このため、異物Ｍの侵入に起因する動作不良および絶縁不良を確実に防止することができる。したがって、このプローブ３００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ３００の不具合に起因して測定が困難となる事態を確実に防止することができる。

また、このプローブ３００によれば、その先端面３６２が外側端子３５０の最先端部よりも内側端子３３０の基端部３３１側に位置するようにブッシュ３６０を構成したことにより、外側端子３５０の先端部３５１に形成されている接触部３５２を測定対象体に確実に接触させることができる。さらに、外力が加えられていない状態において先端面３６２が内側端子３３０の先端部３３３よりも外側端子３５０の最先端部側に位置するようにブッシュ３６０を構成したことにより、プローブ３００を測定対象体に押し付けたときに、ブッシュ３６０の内周面３６１と内側端子３３０の先端部３３３とによって構成される空間内侵入した異物Ｍをプローブ３００の外部に確実に押し出すことができる。したがって、このプローブ３００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ３００の不具合に起因して測定が困難となる事態をより確実に防止することができる。

なお、内側端子１６０のスライドに伴ってスライドするブッシュ１７０を備えた構成例、および外側端子３５０のスライドに伴ってスライドするブッシュ３６０を備えた構成例について上記したが、図１３に示すように、スライドしないタイプのブッシュを備えた構成を採用することもできる。具体的には、同図に示すプローブ４００は、上記したプローブ１００のブッシュ１７０に代えて、ブッシュ４７０を備えて構成されている。この場合、ブッシュ４７０は、樹脂等の絶縁性を有する材料によって筒状に形成されて、外側端子１１０における先端部１１２の内周面１１４に配設されている。また、ブッシュ４７０は、内側端子１６０のスライド時において、内側端子１６０における先端部１６３の外周面１６５が内周面４７１に接触した状態でスライド可能に、先端部１６３の外径よりもその内径がやや大径に形成されている。また、ブッシュ４７０は、先端面４７２が外側端子１１０の最先端部（接触部１１３の先端部）よりも外側端子１１０の基端部１１１側に位置するようにその長さが規定されている。

このプローブ４００によれば、外側端子１１０における先端部１１２の内周面１１４にブッシュ４７０を配設したことにより、測定時に内側端子１６０が撓まされる向きに力が加えられたとしても、ブッシュ４７０の内周面４７１に内側端子１６０における先端部１６３の外周面１６５が当接するため、内側端子１６０の変形を確実に防止することができる。このため、内側端子１６０の変形に起因するプローブ４００の動作不良や絶縁不良を確実に防止することができる。また、ブッシュ４７０の内周面４７１と内側端子１６０の先端部１６３とによって構成される空間内に金属片等の異物Ｍが侵入したとしても、プローブ４００の先端部４０２側への内側端子１６０のスライドによってその異物Ｍをプローブ４００の外部に押し出すことができる。このため、異物Ｍの侵入に起因する動作不良および絶縁不良を確実に防止することができる。したがって、このプローブ４００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ４００の不具合に起因して測定が困難となる事態を確実に防止することができる。

また、このプローブ４００によれば、その先端面４７２が外側端子１１０の最先端部（接触部１１３の先端部）よりも外側端子１１０の基端部１１１側に位置するようにブッシュ４７０を構成したことにより、外側端子１１０の先端部１１２に形成されている接触部１１３を測定対象体に確実に接触させることができる。したがって、このプローブ４００を備えたバッテリテスタ１によれば、プローブ１００の接触不良起因して測定が困難となる事態を確実に防止することができる。

また、バッテリテスタ１をバッテリ２００の抵抗値を測定する例について上記したが、各種の測定対象体の抵抗値等を測定する場合においても上記と同様の効果を実現することができる。また、抵抗値に限定されず電気的パラメータを測定可能な測定装置に本発明を適用することができる。

バッテリテスタ１の構成を示す構成図である。バッテリテスタ１の正面図である。プローブ１００の側面図である。プローブ１００の断面図である。プローブ１００における先端部１０２の断面図である。プローブ１００における外側端子１１０の接触部１１３、および内側端子１６０の接触部１６４を電極２０１に接触させた状態の断面図である。プローブ１００を電極２０１から離反させた状態の断面図である。プローブ３００の側面図である。プローブ３００の断面図である。プローブ３００における先端部３０２の断面図である。プローブ３００を電極２０１に押し付けている状態の先端部３０２の断面図である。プローブ３００における外側端子３５０の接触部３５２、および内側端子３３０の接触部３３４を電極２０１に接触させた状態の断面図である。プローブ４００における先端部４０２の断面図である。

符号の説明

１バッテリテスタ
１バッテリテスタ
４電圧検出部
８ＣＰＵ
１００，３００，４００プローブ
１１０，３５０外側端子
１１１，３３１基端部
１１２，１６３，３３３，３５１先端部
１１４，３５３，３６１，４７１内周面
１２０，１３０，３２０絶縁パイプ
１５０，３４０スプリング
１６０，３３０内側端子
１６４，３５２接触部
１７０，３６０，４７０ブッシュ
１７１，３３５外周面
１７２，３６２先端面
Ｒ抵抗値

Claims

導電性を有する筒状の外側端子と、当該外側端子と絶縁された状態で当該外側端子の内部にスライド可能に配設されると共に当該外側端子の基端部側から先端部側に向けて付勢されかつ外力が加えられていない状態においてその先端部が当該外側端子の当該先端部から突出する導電性を有する柱状の内側端子とを備えた電気的パラメータ測定用のプローブであって、
前記内側端子の前記先端部には、当該内側端子のスライドに伴ってその外周面が前記外側端子の内周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュが配設され、当該ブッシュは、その先端面が前記内側端子の最先端部よりも前記外側端子の前記基端部側に位置すると共に前記外力が加えられていない状態において当該先端面の少なくとも一部が前記外側端子の前記先端部から突出するように構成されているプローブ。
導電性を有する柱状の内側端子と、当該内側端子と絶縁された状態でスライド可能に当該内側端子の外周側に配設されると共に前記内側端子の基端部側から先端部側に向けて付勢されかつ外力が加えられていない状態においてその先端部が当該内側端子の当該先端部から突出する導電性を有する筒状の外側端子とを備えた電気的検査用のプローブであって、
前記外側端子の内周面には、当該外側端子のスライドに伴ってその内周面が前記内側端子の外周面に接触した状態でスライドさせられる絶縁性を有するブッシュが配設され、当該ブッシュは、その先端面が前記外側端子の最先端部よりも前記内側端子の前記基端側に位置すると共に前記外力が加えられていない状態において当該先端面が当該内側端子の前記先端部よりも当該外側端子の当該最先端部側に位置するように構成されているプローブ。
請求項１または２記載のプローブと、当該プローブを介して入力した信号に基づいて電気的パラメータを測定する測定部とを備えている測定装置。