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JP4825637B2 - Semiconductor chip pickup device - Google Patents
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Description

この発明は粘着シートに貼着された半導体チップをピックアップするピックアップ装置に関する。   The present invention relates to a pickup device that picks up a semiconductor chip attached to an adhesive sheet.

半導体ウエハをさいの目状に切断して形成された半導体チップは粘着シートに貼られており、この半導体チップを基板にボンディングする場合には吸着ノズルによって上記粘着シートから1つずつピックアップするようにしている。   The semiconductor chips formed by cutting the semiconductor wafer into dice are pasted on the adhesive sheet, and when the semiconductor chips are bonded to the substrate, they are picked up one by one from the adhesive sheet by the suction nozzle. .

半導体チップを粘着シートからピックアップする場合、従来は特許文献1に示されるように、吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップが貼着された粘着シートの、上記半導体チップの周辺部をバックアップ体の上面によって吸着保持するとともに、その半導体チップを下面側から先端が鋭利な突き上げピンによって突き上げる。それによって、上記半導体チップを上記粘着シートから分離させ、上記吸着ノズルによってピックアップするということが行なわれていた。
特開2002−100644号公報
When picking up a semiconductor chip from an adhesive sheet, conventionally, as shown in Patent Document 1, the periphery of the semiconductor chip of the adhesive sheet to which the semiconductor chip picked up by the suction nozzle is attached is covered by the upper surface of the backup body. While adsorbing and holding, the semiconductor chip is pushed up from the lower surface side by a push-up pin having a sharp tip. Accordingly, the semiconductor chip is separated from the pressure-sensitive adhesive sheet and picked up by the suction nozzle.
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-1000064

ところで、最近では半導体チップの厚さが50μm以下と非常に薄い場合がある。そのように薄い半導体チップを突き上げピンの鋭利な先端によって突き上げると、その先端が当たった箇所には応力が集中することになる。そのため、半導体チップは突き上げピンから受ける応力によって破損してしまうということがあった。   By the way, recently, the thickness of a semiconductor chip may be as thin as 50 μm or less. When such a thin semiconductor chip is pushed up by a sharp tip of a push pin, stress is concentrated at a location where the tip hits. For this reason, the semiconductor chip may be damaged by the stress received from the push-up pin.

応力集中による半導体チップの破損を防止するためには突き上げピンによる半導体チップの突き上げ速度を遅くするということが考えられる。しかしながら、突き上げピンの突き上げ速度を遅くすると、ピックアップ速度も遅くなり、生産性の低下を招くということがあったり、突き上げ速度を遅くしても半導体チップが薄い場合にはその損傷を確実に防止することが難しいということがあった。   In order to prevent damage to the semiconductor chip due to stress concentration, it is conceivable to slow down the semiconductor chip push-up speed by the push-up pin. However, if the push-up speed of the push-up pin is slowed down, the pick-up speed is also slowed, which may lead to a decrease in productivity, and even if the push-up speed is slowed down, damage to the semiconductor chip is surely prevented. It was difficult.

この発明は、半導体チップを破損させることなく粘着シートから確実にピックアップすることができるようにしたピックアップ装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a pickup device that can reliably pick up from an adhesive sheet without damaging a semiconductor chip.

この発明は、粘着シートの上面に貼着された半導体チップをピックアップする半導体チップのピックアップ装置であって、
上面が上記粘着シートの下面のピックアップされる上記半導体チップの周辺部分に対応する部分を吸着保持する吸着面に形成されたバックアップ体と、
このバックアップ体内に上下方向に駆動可能に設けられ上記粘着シートのピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分の下面を押圧して上記半導体チップを上記バックアップ体の上面から押し上げる押し上げ体と、
ピックアップされる上記半導体チップの上面を吸着保持し上記押し上げ体によって押し上げられた上記半導体チップを上記粘着シートからピックアップするピックアップ手段を具備し、
上記押し上げ体は、上記粘着シートを介して上記半導体チップを押し上げたときに、上記粘着シートに生じる張力によって周辺部分が下方へ弾性変形する柔らかさの弾性材料によって形成されていることを特徴とする半導体チップのピックアップ装置にある。
This invention is a semiconductor chip pick-up device for picking up a semiconductor chip attached to the upper surface of an adhesive sheet,
A backup body formed on an adsorption surface that adsorbs and holds a portion corresponding to the peripheral portion of the semiconductor chip to be picked up on the lower surface of the adhesive sheet;
A push-up body that is provided in the backup body so as to be driven in the vertical direction and presses the lower surface of the portion to which the semiconductor chip to be picked up of the adhesive sheet is stuck to push up the semiconductor chip from the upper surface of the backup body;
Pickup means for picking up the semiconductor chip picked up by the push-up body from the adhesive sheet by sucking and holding the upper surface of the semiconductor chip to be picked up,
The push-up body is formed of a soft elastic material whose peripheral portion is elastically deformed downward by a tension generated in the pressure-sensitive adhesive sheet when the semiconductor chip is pushed up through the pressure-sensitive adhesive sheet. A semiconductor chip pickup device.

上記押し上げ体の上面には、周囲が上記半導体チップの外形よりも小さな環状壁によって囲まれた凹部が形成されていて、この凹部内には上記押し上げ体によって上記半導体チップを押し上げたときに、上記粘着シートの張力によって上記押し上げ体の周辺部以外の部分が弾性変形するのを制限する保持板が設けられていることが好ましい。   The upper surface of the push-up body is formed with a recess surrounded by an annular wall smaller than the outer shape of the semiconductor chip, and when the semiconductor chip is pushed up by the push-up body in the recess, It is preferable that a holding plate that restricts elastic deformation of a portion other than the peripheral portion of the push-up body due to the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet is provided.

上記保持板の厚さ寸法は、上記凹部の深さ寸法と同じ若しくはそれ以下であることが好ましい。   The thickness dimension of the holding plate is preferably equal to or less than the depth dimension of the recess.

上記保持板は円形若しくは楕円形であって、その上端縁は面取り加工されていることが好ましい。   The holding plate is preferably circular or elliptical, and the upper edge thereof is preferably chamfered.

上記押し上げ体の上面の上記環状壁の外側の部分は、下方に向かって傾斜した傾斜面に形成されていることが好ましい。   It is preferable that an outer portion of the annular wall on the upper surface of the push-up body is formed as an inclined surface inclined downward.

上記押し上げ体の上面の少なくとも上記環状壁の上端面及び上記傾斜面は低摩擦面に形成されていることが好ましい。   It is preferable that at least the upper end surface of the annular wall and the inclined surface on the upper surface of the push-up body are formed as a low friction surface.

軸方向に上下駆動される押し上げ軸を有し、この押上げ軸の上端には上面に上記押し上げ体が取付けられるとともに、上記押し上げ体の下端面の周辺部が外方へ突出する大きさの取付け盤が設けられていることが好ましい。   There is a push-up shaft that is driven up and down in the axial direction, and the push-up body is attached to the upper surface of the push-up shaft, and the peripheral portion of the lower end surface of the push-up body is protruded outward. It is preferable that a board is provided.

上記半導体チップは矩形状であって、上記押し上げ体の上面に設けられた上記環状壁は上記半導体チップよりも小さな矩形状であることが好ましい。   It is preferable that the semiconductor chip has a rectangular shape, and the annular wall provided on the upper surface of the push-up body has a rectangular shape smaller than the semiconductor chip.

この発明によれば、半導体チップを粘着シートからピックアップするとき、粘着シートの半導体チップの周辺部に位置する部分を吸着保持し、その半導体チップを、粘着シートに生じる張力で弾性変形する柔らかさの押し上げ体によって押し上げるようにした。   According to this invention, when the semiconductor chip is picked up from the adhesive sheet, the portion of the adhesive sheet located on the periphery of the semiconductor chip is sucked and held, and the semiconductor chip is elastically deformed by the tension generated in the adhesive sheet. It was pushed up by the pusher.

そのため、半導体チップに局部的な応力が加わって損傷するのを防止することができるばかりか、押し上げ体が粘着シートの張力によって弾性変形することで、その弾性変形によって粘着シートが半導体チップから剥がれ易くなるから、半導体チップのピックアップを確実に行なうことができる。   Therefore, it is possible not only to prevent the semiconductor chip from being damaged due to local stress, but also because the push-up body is elastically deformed by the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet, the pressure-sensitive adhesive sheet is easily peeled off from the semiconductor chip by the elastic deformation. Therefore, the semiconductor chip can be reliably picked up.

以下、この発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
図1に示すピックアップ装置はバックアップユニット10を備えている。このバックアップユニット10はバックアップ体1を備えている。このバックアップ体1は、図示しないウエハリングに張設された粘着シート2の下面側に対向して設けられ、図示しないZ駆動源によってZ方向において、後述するごとくバックアップ体1の上面が粘着シート2の下面に接触する位置と、粘着シート2から離れた位置との間で駆動されるようになっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
The pickup apparatus shown in FIG. 1 includes a backup unit 10. The backup unit 10 includes a backup body 1. The backup body 1 is provided opposite to the lower surface side of an adhesive sheet 2 stretched on a wafer ring (not shown), and the upper surface of the backup body 1 is adhesive sheet 2 as described later in the Z direction by a Z drive source (not shown). It is driven between a position in contact with the lower surface of the sheet and a position away from the adhesive sheet 2.

上記粘着シート2の上面には半導体ウエハをさいの目状に分割した複数の矩形状の半導体チップ3が貼着されている。上記ウエハリングは図示しないX及びY駆動源によって水平方向に駆動されるようになっている。   A plurality of rectangular semiconductor chips 3 obtained by dividing a semiconductor wafer into dice-like shapes are attached to the upper surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 2. The wafer ring is driven in the horizontal direction by an X and Y drive source (not shown).

それによって、粘着シート2に貼着された半導体チップ3はバックアップユニット10に対してX及びY方向に位置決め可能となっている。なお、バックアップユニット10に代わり、ウエハリングをZ方向に駆動するようにしてもよく、要はウエハリングとバックアップユニット10とが相対的にX、Y及びZ方向に駆動されるようになっていればよい。   Thereby, the semiconductor chip 3 attached to the adhesive sheet 2 can be positioned in the X and Y directions with respect to the backup unit 10. Instead of the backup unit 10, the wafer ring may be driven in the Z direction. In short, the wafer ring and the backup unit 10 are relatively driven in the X, Y, and Z directions. That's fine.

上記粘着シート2の上面側で、上記バックアップユニット10の上方にはピックアップ手段を構成する吸着ノズル体4が設けられている。この吸着ノズル体4は、図示しないX、Y及びZ駆動源によってX、Y及びZ方向に駆動されるピックアップ軸5を有する。このピックアップ軸5の下端面には凸部6が設けられている。   On the upper surface side of the pressure-sensitive adhesive sheet 2, a suction nozzle body 4 constituting pickup means is provided above the backup unit 10. The suction nozzle body 4 has a pickup shaft 5 that is driven in the X, Y, and Z directions by an X, Y, and Z drive source (not shown). A convex portion 6 is provided on the lower end surface of the pickup shaft 5.

上記ピックアップ軸5には先端を上記凸部6の端面に開口させた吸引孔7が軸方向に沿って形成されている。この吸引孔7は図示しない吸引ポンプに接続されている。上記凸部6にはゴムや軟質の合成樹脂などの弾性材料によって形成された上部吸着ノズル8が着脱可能に取着されている。この上部吸着ノズル8には一端が上記吸引孔7に連通し、他端が先端面に開口したノズル孔9が形成され、さらに下面は平坦面8aに形成されている。   The pickup shaft 5 is formed with a suction hole 7 whose tip is opened at the end face of the convex portion 6 along the axial direction. The suction hole 7 is connected to a suction pump (not shown). An upper suction nozzle 8 made of an elastic material such as rubber or soft synthetic resin is detachably attached to the convex portion 6. The upper suction nozzle 8 is formed with a nozzle hole 9 having one end communicating with the suction hole 7 and the other end opened to the tip surface, and further having a lower surface formed on a flat surface 8a.

なお、上記ピックアップ軸5をZ方向に駆動するZ駆動源としてはボイスコイルモータなどを用い、吸着ノズル体4による押圧荷重を一定制御できるようにすることが好ましい。   In addition, it is preferable to use a voice coil motor or the like as a Z drive source for driving the pickup shaft 5 in the Z direction so that the pressing load by the suction nozzle body 4 can be controlled to be constant.

上記バックアップ体1は、図2と図4に示すように下端面が開放し上面に矩形状の開口部12が開口形成された円筒状をなしている。ここで、開口部12は、図4に鎖線で示すピックアップの対象となる矩形状の半導体チップ3よりもわずかに小さな矩形状に形成されている。つまり、開口部12は半導体チップ3と相似形状に形成されている。   As shown in FIGS. 2 and 4, the backup body 1 has a cylindrical shape in which a lower end surface is opened and a rectangular opening 12 is formed on the upper surface. Here, the opening 12 is formed in a rectangular shape slightly smaller than the rectangular semiconductor chip 3 to be picked up, which is indicated by a chain line in FIG. That is, the opening 12 is formed in a similar shape to the semiconductor chip 3.

上記バックアップ体1の上面には、上記開口部12を囲む3つの環状溝14a〜14cが同心的に形成されている。3つの環状溝14a〜14cはバックアップ体1の径方向に沿って形成された2つの連通溝15によって連通している。連通溝15は、ピックアップ予定の半導体チップ3の対向する2辺(端部)と平行に、かつその辺より外側に位置するように形成されている。   Three annular grooves 14 a to 14 c surrounding the opening 12 are concentrically formed on the upper surface of the backup body 1. The three annular grooves 14 a to 14 c are communicated with each other by two communication grooves 15 formed along the radial direction of the backup body 1. The communication groove 15 is formed so as to be parallel to and opposite to the two opposite sides (end portions) of the semiconductor chip 3 to be picked up.

なお、図示しないが、バックアップ体1の上面にはさらに連通溝15を半導体チップ3の他の対向する2辺と平行に、かつその辺より外側に位置するように形成してもよい。   Although not shown, the communication groove 15 may be further formed on the upper surface of the backup body 1 so as to be parallel to and opposite to the other two opposite sides of the semiconductor chip 3.

最も内側に位置する環状溝14aには周方向に90度間隔で4つの吸引孔16aがバックアップ体1の上部壁を厚さ方向に貫通して形成されている。さらに、この環状溝14aの直径は、ピックアップする半導体チップ3の対角線長さより大きく設定されている。   Four suction holes 16a are formed in the innermost annular groove 14a at intervals of 90 degrees in the circumferential direction so as to penetrate the upper wall of the backup body 1 in the thickness direction. Further, the diameter of the annular groove 14a is set larger than the diagonal length of the semiconductor chip 3 to be picked up.

2番目の環状溝14bには周方向に180度間隔で2つの吸引孔16bが形成されている。各環状溝14a〜14cと連通溝15には上記吸引孔16a,16bを介して後述するように吸引力が作用する。なお、環状溝14a〜14c、吸引孔16a,16bは図4だけに示し、他の図では省略している。   Two suction holes 16b are formed in the second annular groove 14b at intervals of 180 degrees in the circumferential direction. A suction force acts on each of the annular grooves 14a to 14c and the communication groove 15 through the suction holes 16a and 16b as described later. The annular grooves 14a to 14c and the suction holes 16a and 16b are shown only in FIG. 4 and omitted in other drawings.

図2に示すように上記バックアップ体1の下端開口には円柱状の閉塞部材21が一端部を気密に嵌合させて設けられている。この閉塞部材21の中心部には軸方向に貫通する挿通孔22が穿設されている。この挿通孔22には押し上げ手段を構成する押し上げ軸23がスライド可能かつ挿通孔22の下端部に設けられたOリング24によって気密に保持されている。   As shown in FIG. 2, a cylindrical closing member 21 is provided at the lower end opening of the backup body 1 with one end thereof being airtightly fitted. An insertion hole 22 penetrating in the axial direction is formed in the central portion of the closing member 21. A push-up shaft 23 constituting a push-up means is slidably held in the insertion hole 22 and is airtightly held by an O-ring 24 provided at the lower end portion of the insertion hole 22.

上記押し上げ軸23の上記閉塞部材21の上端面から突出した上端には矩形状の取付け盤25が設けられている。この取付け盤25の上面の中央部には円柱状の凸部26が設けられている。この凸部26にはゴムや合成樹脂などの軟質な弾性材料で作られた押し上げ体27が着脱可能に取着されている。なお、押し上げ体27の軟質度合は後述する。   A rectangular mounting board 25 is provided on the upper end of the push-up shaft 23 protruding from the upper end surface of the closing member 21. A columnar convex portion 26 is provided at the center of the upper surface of the mounting plate 25. A push-up body 27 made of a soft elastic material such as rubber or synthetic resin is detachably attached to the convex portion 26. The degree of softness of the push-up body 27 will be described later.

上記押し上げ軸23には吸引孔28が軸方向に沿って形成されている。この吸引孔28の上端は上記取付け盤25に設けられた凸部26の上面に開口し、下端は上記押し上げ軸23の側面に開口している。   A suction hole 28 is formed in the push-up shaft 23 along the axial direction. The upper end of the suction hole 28 opens on the upper surface of the convex portion 26 provided on the mounting board 25, and the lower end opens on the side surface of the push-up shaft 23.

上記押し上げ体27にはノズル孔29が上下方向に貫通して形成されている。このノズル孔29は、上記押し上げ体27を上記凸部26に取着すると、下端が上記凸部26の吸引孔28に連通する。   A nozzle hole 29 is formed in the push-up body 27 so as to penetrate in the vertical direction. The nozzle hole 29 communicates with the suction hole 28 of the protrusion 26 at the lower end when the push-up body 27 is attached to the protrusion 26.

図3(a)に示すように、上記押し上げ体27の平面形状は矩形状であって、上面には押し上げ体27の平面形状よりも小さな矩形状の環状壁31によって囲まれた凹部32が形成されている。上記環状壁31がなす矩形は上記半導体チップ3よりも小さな矩形状となっている。   As shown in FIG. 3A, the planar shape of the push-up body 27 is rectangular, and a concave portion 32 surrounded by a rectangular annular wall 31 smaller than the planar shape of the push-up body 27 is formed on the upper surface. Has been. The rectangle formed by the annular wall 31 is smaller than the semiconductor chip 3.

上記押し上げ体27の上面の、上記環状壁31の外側の部分は下方に向かって傾斜した傾斜面33に形成されている。なお、押し上げ体27の上面である、上記傾斜面33、凹部32及び環状壁31の表面は摩擦係数の低い樹脂をコーティングしたり、成形時にスキン層を形成するなどして低摩擦面に形成されている。   The outer surface of the annular wall 31 on the upper surface of the push-up body 27 is formed as an inclined surface 33 inclined downward. Note that the surfaces of the inclined surface 33, the concave portion 32, and the annular wall 31, which are the upper surface of the push-up body 27, are formed on a low friction surface by coating a resin having a low friction coefficient or forming a skin layer during molding. ing.

上記凹部32内には楕円形や円形、この実施の形態では楕円形の支持板35が保持固定されている。この支持板35は、たとえばフッ素樹脂などの上記押し上げ体27よりも硬い弾性材料によって上記凹部32の深さ寸法と同等或いはそれよりも薄い厚さに形成されていて、上記押し上げ体27に形成されたノズル孔29と対応する部分には厚さ方向に貫通する連通孔36が形成されている。さらに、支持板35の上端縁は図3(b)と図6に示すように面取り加工されてテーパ面35aに形成されている。   An elliptical or circular support plate 35 in this embodiment is held and fixed in the recess 32. The support plate 35 is formed on the push-up body 27 by an elastic material harder than the push-up body 27 such as a fluororesin, for example, with a thickness equal to or less than the depth dimension of the recess 32. A communication hole 36 penetrating in the thickness direction is formed in a portion corresponding to the nozzle hole 29. Further, the upper edge of the support plate 35 is chamfered to form a tapered surface 35a as shown in FIGS.

図2に示すように、上記バックアップ体1の下部開口を閉塞した閉塞部材21には吸引孔41が形成されている。この吸引孔41は一端を上記閉塞部材21の上端面、つまりバックアップ体1の内部空間に開口させ、他端を上記閉塞部材21の外周面に開口させている。   As shown in FIG. 2, a suction hole 41 is formed in the closing member 21 that closes the lower opening of the backup body 1. One end of the suction hole 41 is opened at the upper end surface of the closing member 21, that is, the internal space of the backup body 1, and the other end is opened at the outer peripheral surface of the closing member 21.

図1に示すように、上記閉塞部材21に形成された吸引孔41と、上記押し上げ軸23に形成された吸引孔28は配管43を介して吸引ポンプ42に接続されている。この吸引ポンプ42が作動すると、上記バックアップ体1の上面に開口した吸引孔16a,16b及び連通溝15を介して環状溝14a〜14cに吸引力が生じるとともに、押し上げ軸23に形成された吸引孔28を介して押し上げ体27のノズル孔29にも吸引力が生じる。   As shown in FIG. 1, the suction hole 41 formed in the closing member 21 and the suction hole 28 formed in the push-up shaft 23 are connected to a suction pump 42 via a pipe 43. When the suction pump 42 is operated, suction forces are generated in the annular grooves 14a to 14c through the suction holes 16a and 16b and the communication groove 15 opened on the upper surface of the backup body 1, and suction holes formed in the push-up shaft 23 are formed. A suction force is also generated in the nozzle hole 29 of the push-up body 27 through 28.

上記環状溝14a〜14cに吸引ポンプ42の吸引力が作用すると、バックアップ体1の上面は半導体チップ3が貼着された貼着シート2の下面を吸着保持する吸着面となる。つまり、バックアップ体1の上面は、上記粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3の周囲に位置する部分である、上記粘着シート2の上記開口部12の周囲に位置する部分を吸着保持する。   When the suction force of the suction pump 42 acts on the annular grooves 14a to 14c, the upper surface of the backup body 1 becomes an adsorption surface that adsorbs and holds the lower surface of the adhesive sheet 2 to which the semiconductor chip 3 is adhered. That is, the upper surface of the backup body 1 sucks and holds the portion of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 that is positioned around the opening 12, which is the portion of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 that is positioned around the semiconductor chip 3 to be picked up.

また、押し上げ体27のノズル孔29に吸引力が作用すると、環状壁31によって囲まれた凹部32内が負圧になるから、押し上げ体27は上記粘着シート2の上記バックアップ体1の開口部12に対向位置する部分の下面を吸着保持する。つまり、粘着シート2はピックアップされる半導体チップ3の下面に対応する部分と、開口部12の周囲に位置する部分とがそれぞれ吸着保持されるようになっている。   Further, when a suction force acts on the nozzle hole 29 of the push-up body 27, the inside of the concave portion 32 surrounded by the annular wall 31 becomes negative pressure, so that the push-up body 27 has the opening 12 of the backup body 1 of the adhesive sheet 2. The lower surface of the portion facing the surface is sucked and held. That is, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is configured such that a portion corresponding to the lower surface of the semiconductor chip 3 to be picked up and a portion positioned around the opening 12 are adsorbed and held.

図1に示すように、上記押し上げ軸23の上記閉塞部材21の下端面から突出した下端部にはカムフォロア45が回転可能に設けられている。このカムフォロア45は、図示しない駆動源によって矢印方向に回転駆動されるカム46の外周面に当接している。したがって、カム46が回転駆動されれば、上記押し上げ軸23が上下方向に駆動されるから、この上下方向の動きに上記押し上げ体27が連動する。   As shown in FIG. 1, a cam follower 45 is rotatably provided at a lower end portion of the push-up shaft 23 protruding from the lower end surface of the closing member 21. The cam follower 45 is in contact with the outer peripheral surface of a cam 46 that is rotationally driven in the direction of the arrow by a drive source (not shown). Therefore, if the cam 46 is driven to rotate, the push-up shaft 23 is driven in the vertical direction, and the push-up body 27 is interlocked with the movement in the vertical direction.

上記カムフォロア45が上記カム46の下死点に当たり、押し上げ軸23が下降位置にあるとき、上記押し上げ体27は上端面である、環状壁31の上端面をバックアップ体1の上面の吸着面よりもわずかに下方に位置させている。   When the cam follower 45 hits the bottom dead center of the cam 46 and the push-up shaft 23 is in the lowered position, the push-up body 27 is the upper end surface. The upper end surface of the annular wall 31 is higher than the suction surface on the upper surface of the backup body 1. Located slightly below.

カム46が回転してその上死点にカムフォロア45が当たり、押し上げ軸23が上昇位置にあるときには、上記押し上げ体27は環状壁31の上端面が上記バックアップ体1の吸着面から上方へ所定寸法、たとえば0.5mm程度突出するよう設定されている。
なお、吸着ノズル体4、バックアップユニット10などの駆動制御は、図示しない制御装置によって後述するように動作が制御される。
When the cam 46 rotates and the cam follower 45 hits the top dead center and the push-up shaft 23 is in the raised position, the push-up body 27 has a predetermined dimension in which the upper end surface of the annular wall 31 is upward from the suction surface of the backup body 1. For example, it is set to protrude about 0.5 mm.
The drive control of the suction nozzle body 4 and the backup unit 10 is controlled by a control device (not shown) as described later.

つぎに、上記構成のピックアップ装置の作用を図5(a)〜(d)と図6を参照しながら説明する。
図1に示すようにバックアップ体1を、その上面が粘着シート2の下面に接触する位置まで上昇させたならば、図示しないウエハリングによって粘着シート2をX、Y方向に駆動し、ピックアップする半導体チップ3をバックアップ体1の開口部12の上方に位置決めする。つまり、半導体チップ3の中心が開口部12の中心に一致するよう位置決めする。
Next, the operation of the pickup device having the above configuration will be described with reference to FIGS. 5 (a) to 5 (d) and FIG.
As shown in FIG. 1, when the backup body 1 is raised to a position where the upper surface thereof contacts the lower surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 2, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is driven in the X and Y directions by a wafer ring (not shown) and picked up. The chip 3 is positioned above the opening 12 of the backup body 1. That is, positioning is performed so that the center of the semiconductor chip 3 coincides with the center of the opening 12.

ピックアップされる半導体チップ3を位置決めしたならば、図5(a)に示すように吸着ノズル体4を下降させてその下端に設けられた上部吸着ノズル8の下端の平坦面8aによってピックアップする半導体チップ3の上面を吸着する。このとき、吸着ノズル体4は、所定の荷重で半導体チップ3を押圧する。また、押し上げ体27の上面は粘着シート2の下面よりもわずかに下方に位置している。   When the semiconductor chip 3 to be picked up is positioned, the suction nozzle body 4 is lowered as shown in FIG. 5A and picked up by the flat surface 8a at the lower end of the upper suction nozzle 8 provided at the lower end thereof. 3 is adsorbed. At this time, the suction nozzle body 4 presses the semiconductor chip 3 with a predetermined load. Further, the upper surface of the push-up body 27 is positioned slightly below the lower surface of the adhesive sheet 2.

上部吸着ノズル8を下降させて半導体チップ3の上面を吸着保持すると同時に、吸引ポンプ42を作動させる。それによって、バックアップ体1の内部空間が減圧され、その上面の環状溝14a〜14cと連通溝15に吸引力が生じるから、その吸引力によって粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3の周囲に位置する部分がバックアップ体1の吸着面(上面)に吸着保持される。   The upper suction nozzle 8 is lowered to suck and hold the upper surface of the semiconductor chip 3 and at the same time, the suction pump 42 is operated. As a result, the internal space of the backup body 1 is depressurized, and suction force is generated in the annular grooves 14a to 14c and the communication groove 15 on the upper surface thereof, so that the suction sheet is positioned around the semiconductor chip 3 picked up by the adhesive sheet 2 The part to be sucked is held by suction on the suction surface (upper surface) of the backup body 1.

このとき、バックアップ体1の開口部12にも吸引力が発生し、この開口部12に対向位置する半導体チップ3が粘着シート2を介してバックアップ体1の内部に吸引される。   At this time, a suction force is also generated in the opening 12 of the backup body 1, and the semiconductor chip 3 positioned opposite to the opening 12 is sucked into the backup body 1 through the adhesive sheet 2.

しかしながら、半導体チップ3は開口部12よりもわずかに大きな矩形状である。そのため、押し上げ体27によって半導体チップ3の下面が吸着保持される前に、バックアップ体1の開口部12に吸引力が生じても、この開口部12に対向位置する半導体チップ3は周辺部がバックアップ体1の上面の開口部12の周辺部分に係合して保持される。そのため、半導体チップ3は、バックアップ体1内に生じる吸引力によって粘着シート2とともに開口部12内へ吸引されて変形し、損傷するということが防止される。   However, the semiconductor chip 3 has a rectangular shape slightly larger than the opening 12. Therefore, even if a suction force is generated in the opening 12 of the backup body 1 before the lower surface of the semiconductor chip 3 is sucked and held by the push-up body 27, the periphery of the semiconductor chip 3 facing the opening 12 is backed up. The body 1 is held in engagement with the peripheral portion of the opening 12 on the upper surface of the body 1. Therefore, the semiconductor chip 3 is prevented from being deformed by being sucked into the opening 12 together with the adhesive sheet 2 by the suction force generated in the backup body 1.

つぎに、図5(b)に示すように押し上げ軸23を上昇させる。それによって、押し上げ軸23の上端に設けられ上記吸引ポンプ42の吸引力が作用した押し上げ体27の凹部32によって、ピックアップされる半導体チップ3の下面が粘着シート2を介して吸着保持される。つまり、ピックアップされる半導体チップ3は、粘着シート2を介してそれぞれ弾性材料によって形成された上部吸着ノズル8と押し上げ体27によって上下面が挟持される。   Next, the push-up shaft 23 is raised as shown in FIG. Thereby, the lower surface of the semiconductor chip 3 to be picked up is adsorbed and held via the adhesive sheet 2 by the recess 32 of the push-up body 27 provided at the upper end of the push-up shaft 23 and applied with the suction force of the suction pump 42. That is, the upper and lower surfaces of the semiconductor chip 3 to be picked up are sandwiched between the upper suction nozzle 8 and the push-up body 27 that are each formed of an elastic material via the adhesive sheet 2.

なお、押し上げ体27によって粘着シート2の下面を吸着保持するタイミングは、上部吸着ノズル8によってピックアップされる半導体チップ3が上昇するときに吸着保持するようにしてもよく、その順序は限定されるものでない。   Note that the timing at which the lower surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is sucked and held by the push-up body 27 may be sucked and held when the semiconductor chip 3 picked up by the upper suction nozzle 8 is lifted, and the order is limited. Not.

ピックアップされる半導体チップ3の上下面を上部吸着ノズル8と押し上げ体27によって挟持した状態で保持したならば、図5(c)に示すように押し上げ軸23を上昇させる。押し上げ軸23を上昇させると、その上端に設けられた押し上げ体27は図6に拡大して示すように粘着シート2を引き伸ばして台形の山形状に変形させながら、上記半導体チップ3をバックアップ体1の吸着面から押し上げる。このとき、吸着ノズル体4は押し上げ軸23の上昇に連動して上昇する。   If the upper and lower surfaces of the semiconductor chip 3 to be picked up are held while being sandwiched between the upper suction nozzle 8 and the push-up body 27, the push-up shaft 23 is raised as shown in FIG. When the push-up shaft 23 is raised, the push-up body 27 provided at the upper end of the push-up shaft 27 stretches the adhesive sheet 2 and deforms it into a trapezoidal mountain shape as shown in FIG. Push up from the adsorption surface. At this time, the suction nozzle body 4 rises in conjunction with the rise of the push-up shaft 23.

半導体チップ3が押し上げられて粘着シート2が山形状に引き伸ばされると、この粘着シート2の変形によって生じた張力が上記押し上げ体27の周辺部に作用する。押し上げ体27は柔らかな弾性材料によって形成されている。   When the semiconductor chip 3 is pushed up and the adhesive sheet 2 is stretched in a mountain shape, the tension generated by the deformation of the adhesive sheet 2 acts on the peripheral portion of the push-up body 27. The push-up body 27 is made of a soft elastic material.

そのため、押し上げ体27の周辺部に粘着シート2の張力が加わると、その張力によって押し上げ体27の周辺部が下方へ弾性変形させられることになるから、その変形と粘着シート2に生じた張力とで、粘着シート2は半導体チップ3の周辺部のうち、角部から剥離が始まり、その剥離は中心部に向かって進行してゆくことになる。   Therefore, when the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is applied to the peripheral portion of the push-up body 27, the peripheral portion of the push-up body 27 is elastically deformed downward by the tension. Thus, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 starts to peel from the corner portion of the peripheral portion of the semiconductor chip 3, and the peeling proceeds toward the center portion.

つまり、粘着シート2は、この粘着シート2に生じる張力と、その張力による押し上げ体27の弾性変形とによって半導体チップ3の下面から円滑かつ確実に剥離されることになる。   That is, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is smoothly and reliably peeled from the lower surface of the semiconductor chip 3 by the tension generated in the pressure-sensitive adhesive sheet 2 and the elastic deformation of the push-up body 27 due to the tension.

押し上げ体27の周辺部は、押し上げ体27が押し上げ軸23によって上昇させられて粘着シート2に張力が発生すると、その張力の発生から所定時間遅延して弾性変形する。つまり、押し上げ体27は半導体チップ3を押し上げながら緩やかに弾性変形してゆく。   When the push-up body 27 is raised by the push-up shaft 23 and the tension is generated in the pressure-sensitive adhesive sheet 2, the peripheral portion of the push-up body 27 is elastically deformed with a predetermined time delay from the generation of the tension. That is, the push-up body 27 is gently elastically deformed while pushing up the semiconductor chip 3.

そのため、半導体チップ3を押し上げると、粘着シート2が半導体チップ3の周辺部から急激に剥離されるということがなく、緩やかに剥離されることになるから、剥離の際に半導体チップ3の周辺部に衝撃を与え、その周辺部を損傷させるのが防止される。   Therefore, when the semiconductor chip 3 is pushed up, the adhesive sheet 2 is not peeled off suddenly from the peripheral part of the semiconductor chip 3 but is gently peeled off. It is possible to prevent the peripheral portion from being damaged by giving an impact to the surface.

上記押し上げ体27の上面に設けられた環状壁31は半導体チップ3よりも小さな矩形状である。そのため、粘着シート2は、半導体チップ3の周辺部の全長にわたってほぼ均一に剥離されることになる。   The annular wall 31 provided on the upper surface of the push-up body 27 has a rectangular shape smaller than the semiconductor chip 3. Therefore, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 is peeled almost uniformly over the entire length of the peripheral portion of the semiconductor chip 3.

上記押し上げ体27の凹部32には、押し上げ体27に比べて硬い弾性材料によって形成された支持板35が設けられている。そのため、粘着シート2の剥離は半導体チップ3の下面周縁から上記支持板35の周縁に到達した時点で終了する。   A support plate 35 made of an elastic material that is harder than that of the push-up body 27 is provided in the recess 32 of the push-up body 27. Therefore, the peeling of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 ends when it reaches the periphery of the support plate 35 from the periphery of the lower surface of the semiconductor chip 3.

つまり、粘着シート2の張力による押し上げ体27の弾性変形は、支持板35の周辺部では比較的容易に生じるが、支持板35が設けられた部分では、この支持板35の硬さによって阻止される。   That is, the elastic deformation of the push-up body 27 due to the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet 2 occurs relatively easily in the peripheral portion of the support plate 35, but is blocked by the hardness of the support plate 35 in the portion where the support plate 35 is provided. The

そのため、半導体チップ3の下面の中心部分は上記支持板35によって変形することなく支持されるから、押し上げ体27が粘着シート2の張力によって圧縮変形する柔らかな弾性材料によって形成されていても、半導体チップ3が全体的に大きく湾曲変形して損傷するのを防止することができる。   Therefore, since the central portion of the lower surface of the semiconductor chip 3 is supported by the support plate 35 without being deformed, even if the push-up body 27 is formed of a soft elastic material that is compressed and deformed by the tension of the adhesive sheet 2, the semiconductor It is possible to prevent the chip 3 from being greatly curved and damaged as a whole.

上記押し上げ体27を押し上げ軸23の上端に取付けた取付け盤25は、上記押し上げ体27の下面の周辺部が上記取付け盤25の周辺部から外方に突出するよう、押し上げ体27の下端面よりも小さな面積に形成されている。   The mounting plate 25 having the push-up body 27 attached to the upper end of the push-up shaft 23 is arranged from the lower end surface of the push-up body 27 so that the peripheral portion of the lower surface of the push-up body 27 protrudes outward from the peripheral portion of the mounting plate 25. Is also formed in a small area.

そのため、押し上げ体27の周辺部が粘着シート2の張力を受けると、押し上げ体27の周辺部の上記取付け盤25から外方へ突出した部分は図6に27aで示すように上記取付け盤25に制限を受けることなく、下方へ容易に弾性変形する。   Therefore, when the peripheral portion of the push-up body 27 receives the tension of the adhesive sheet 2, the portion of the peripheral portion of the push-up body 27 that protrudes outward from the mounting plate 25 is transferred to the mounting plate 25 as shown by 27a in FIG. Easily elastically deforms downward without being restricted.

つまり、上記押し上げ体27が上記粘着シート2の張力を受けたとき、上記取付け盤25は上記押し上げ体27の周辺部が弾性変形するのを阻止することがほとんどないから、そのことによっても半導体チップ3の下面からの粘着シート2の剥離が確実かつ円滑に行なわれることになる。   That is, when the push-up body 27 receives the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet 2, the mounting plate 25 hardly prevents the peripheral portion of the push-up body 27 from being elastically deformed. The pressure-sensitive adhesive sheet 2 is peeled off from the lower surface of 3 reliably and smoothly.

上記押し上げ体27の上面は低摩擦面に形成されている。そのため、粘着シート2の張力によって押し上げ体27の周辺部が弾性変形させられるとき、押し上げ体27の傾斜面33や環状壁31の上端面に対して粘着シート2が円滑に滑る。その結果、押し上げ体27の周辺部は粘着シート2によって円滑かつ確実に弾性変形させられるから、そのことによっても半導体チップ3から粘着シート2を円滑に剥離することができる。   The upper surface of the push-up body 27 is formed as a low friction surface. Therefore, when the peripheral portion of the push-up body 27 is elastically deformed by the tension of the pressure-sensitive adhesive sheet 2, the pressure-sensitive adhesive sheet 2 smoothly slides with respect to the inclined surface 33 of the push-up body 27 and the upper end surface of the annular wall 31. As a result, the peripheral portion of the push-up body 27 is smoothly and reliably elastically deformed by the pressure-sensitive adhesive sheet 2, so that the pressure-sensitive adhesive sheet 2 can be smoothly peeled from the semiconductor chip 3.

上記支持板35は押し上げ体27に形成された凹部32の深さ寸法と同等以下の厚さ寸法であるとともに、楕円形状に形成されており、しかも支持板35の上端縁は面取り加工されてテーパ面35aとなっている。   The support plate 35 has a thickness dimension equal to or less than the depth dimension of the concave portion 32 formed in the push-up body 27 and is formed in an elliptical shape, and the upper end edge of the support plate 35 is chamfered and tapered. It becomes the surface 35a.

そのため、これらのことによって、半導体チップ3を押し上げ体27によって押し上げるとき、上記支持板35が粘着シート2を介して半導体チップ3の下面を鋭利な部分で強く押圧するということがないから、支持板35が押し上げ体27よりも硬い弾性材料で形成されていても、支持板35によって半導体チップ3を損傷させるのを防止できる。   For this reason, when the semiconductor chip 3 is pushed up by the push-up body 27, the support plate 35 does not strongly press the lower surface of the semiconductor chip 3 with a sharp portion via the adhesive sheet 2. Even if 35 is made of an elastic material harder than the push-up body 27, the support plate 35 can prevent the semiconductor chip 3 from being damaged.

しかも、半導体チップ3は弾性材料によって形成された上部吸着ノズル8と押し上げ体27によって弾性的に挟持されているから、押し上げられる半導体チップ3に加わる応力が緩和されるため、その半導体チップ3が損傷し難いということもある。   In addition, since the semiconductor chip 3 is elastically sandwiched between the upper suction nozzle 8 formed of an elastic material and the push-up body 27, stress applied to the pushed-up semiconductor chip 3 is relieved, so that the semiconductor chip 3 is damaged. Sometimes it is difficult.

半導体チップ3を押し上げ体27によってバックアップ体1の上面から上方へ押し上げたならば、図5(d)に示すように上部吸着ノズル8を上昇させる。このとき、押し上げ体27は、ノズル孔29に作用する吸引力によって粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3の下面に対応する部分を吸着保持している。   If the semiconductor chip 3 is pushed upward from the upper surface of the backup body 1 by the push-up body 27, the upper suction nozzle 8 is raised as shown in FIG. At this time, the push-up body 27 sucks and holds a portion corresponding to the lower surface of the semiconductor chip 3 picked up by the adhesive sheet 2 by the suction force acting on the nozzle hole 29.

そのため、上昇する上部吸着ノズル8の吸引力と、押し上げ体27の吸引力がそれぞれピックアップされる半導体チップ3から粘着シート2を剥離する力として作用することになる。   Therefore, the suction force of the upper suction nozzle 8 that rises and the suction force of the push-up body 27 act as forces for peeling the adhesive sheet 2 from the semiconductor chip 3 that is picked up.

したがって、半導体チップ3を従来のように単に上部吸着ノズル8によって吸着してピックアップするだけの場合に比べ、約2倍の力を剥離のために作用させることができるから、上記半導体チップ3を容易に、しかも確実にピックアップすることが可能となる。   Therefore, compared to the conventional case where the semiconductor chip 3 is simply picked up by being picked up by the upper suction nozzle 8, about twice as much force can be applied for peeling, so that the semiconductor chip 3 can be easily formed. In addition, it is possible to reliably pick up.

つまり、上部吸着ノズル8は半導体チップ3を上方へ持ち上げ、押し上げ体27は粘着シート2を下方へ引く。そのため、半導体チップ3に貼着した粘着シート2の残りの部分である、上記支持板35に対応する部分が上記半導体チップ3から剥離されることになるから、上記半導体チップ3が上部吸着ノズル8によって粘着シート2からピックアップされることになる。   That is, the upper suction nozzle 8 lifts the semiconductor chip 3 upward, and the push-up body 27 pulls the adhesive sheet 2 downward. Therefore, the portion corresponding to the support plate 35, which is the remaining portion of the adhesive sheet 2 adhered to the semiconductor chip 3, is peeled off from the semiconductor chip 3, so that the semiconductor chip 3 is attached to the upper suction nozzle 8. Is picked up from the adhesive sheet 2.

上記一実施の形態では、カムを用いて押し上げ軸を上下動させるようにしたが、シリンダなど、他の駆動源を用いるようにしてもよい。また、上部吸着ノズルと押し上げ体の平面形状は矩形状だけに限られず、円形状などであってもよく、その点は限定されるものでない。   In the above-described embodiment, the push-up shaft is moved up and down using the cam. However, other drive sources such as a cylinder may be used. Further, the planar shape of the upper suction nozzle and the push-up body is not limited to a rectangular shape, but may be a circular shape, and the point is not limited.

また、バックアップ体の開口部は半導体チップよりもわずかに小さな矩形状としたが、半導体チップよりも大きく形成してもよく、その点も限定されることはない。   Further, although the opening of the backup body has a rectangular shape slightly smaller than the semiconductor chip, it may be formed larger than the semiconductor chip, and the point is not limited.

また、押し上げ部材にノズル孔、支持板に連通孔、押し上げ軸に吸引孔を形成して半導体チップをピックアップするときに粘着シートのその半導体チップが貼着された部分の下面を吸引するようにしたが、半導体チップを押し上げ部材によって押し上げたときに、粘着シートが押し上げ部材の上面から離れない程度の張力を有し、半導体チップが押し上げ体の上面でずれ動くようなことがなければ、上記押し上げ部材によって粘着シートを吸引しなくてもよい。つまり、押し上げ部材にノズル孔、支持板に連通孔、押し上げ軸に吸引孔などを形成しなくともよい。   Also, when picking up a semiconductor chip by forming a nozzle hole in the push-up member, a communication hole in the support plate, and a suction hole in the push-up shaft, the lower surface of the part of the adhesive sheet to which the semiconductor chip is attached is sucked However, when the semiconductor chip is pushed up by the push-up member, the pressure-sensitive adhesive sheet has a tension that does not separate from the upper surface of the push-up member, and the push-up member does not move on the upper surface of the push-up body. It is not necessary to suck the adhesive sheet. That is, it is not necessary to form a nozzle hole in the push-up member, a communication hole in the support plate, and a suction hole in the push-up shaft.

この発明の一実施の形態を示すピックアップ装置の概略的構成図。1 is a schematic configuration diagram of a pickup device showing an embodiment of the present invention. バックアップ体の縦断面図。The longitudinal cross-sectional view of a backup body. (a)は押し上げ体の斜視図、(b)は同じく縦断面図。(A) is a perspective view of a push-up body, (b) is a longitudinal sectional view. バックアップ体の吸着面を示す平面図。The top view which shows the adsorption | suction surface of a backup body. (a)〜(d)は半導体チップをピックアップするときの動作を順次示した説明図。(A)-(d) is explanatory drawing which showed sequentially the operation | movement when picking up a semiconductor chip. ピックアップされる半導体チップを下部吸着ノズルによって押し上げた状態を拡大して示した断面図。Sectional drawing which expanded and showed the state which pushed up the semiconductor chip picked up by the lower suction nozzle.

符号の説明Explanation of symbols

1…バックアップ体、2…粘着シート、3…半導体チップ、4…吸着ノズル体(ピックアップ手段)、8…上部吸着ノズル、12…開口部、16a,16b…吸引孔、23…押し上げ軸、27…押し上げ体、31…環状溝、32…凹部、33…傾斜面、35…支持板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Backup body, 2 ... Adhesive sheet, 3 ... Semiconductor chip, 4 ... Adsorption nozzle body (pickup means), 8 ... Upper adsorption nozzle, 12 ... Opening part, 16a, 16b ... Suction hole, 23 ... Push-up shaft, 27 ... Push-up body, 31 ... annular groove, 32 ... recess, 33 ... inclined surface, 35 ... support plate.

Claims (8)

粘着シートの上面に貼着された半導体チップをピックアップする半導体チップのピックアップ装置であって、
上面が上記粘着シートの下面のピックアップされる上記半導体チップの周辺部分に対応する部分を吸着保持する吸着面に形成されたバックアップ体と、
このバックアップ体内に上下方向に駆動可能に設けられ上記粘着シートのピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分の下面を押圧して上記半導体チップを上記バックアップ体の上面から押し上げる押し上げ体と、
ピックアップされる上記半導体チップの上面を吸着保持し上記押し上げ体によって押し上げられた上記半導体チップを上記粘着シートからピックアップするピックアップ手段を具備し、
上記押し上げ体は、上記粘着シートを介して上記半導体チップを押し上げたときに、上記粘着シートに生じる張力によって周辺部分が下方へ弾性変形する柔らかさの弾性材料によって形成されていることを特徴とする半導体チップのピックアップ装置。
A semiconductor chip pickup device for picking up a semiconductor chip attached to the upper surface of an adhesive sheet,
A backup body formed on an adsorption surface that adsorbs and holds a portion corresponding to the peripheral portion of the semiconductor chip to be picked up on the lower surface of the adhesive sheet;
A push-up body that is provided in the backup body so as to be driven in the vertical direction and presses the lower surface of the portion to which the semiconductor chip to be picked up of the adhesive sheet is stuck to push up the semiconductor chip from the upper surface of the backup body;
Pickup means for picking up the semiconductor chip picked up by the push-up body from the adhesive sheet by sucking and holding the upper surface of the semiconductor chip to be picked up,
The push-up body is formed of a soft elastic material whose peripheral portion is elastically deformed downward by a tension generated in the pressure-sensitive adhesive sheet when the semiconductor chip is pushed up through the pressure-sensitive adhesive sheet. Semiconductor chip pickup device.
上記押し上げ体の上面には、周囲が上記半導体チップの外形よりも小さな環状壁によって囲まれた凹部が形成されていて、この凹部内には上記押し上げ体によって上記半導体チップを押し上げたときに、上記粘着シートの張力によって上記押し上げ体の周辺部以外の部分が弾性変形するのを制限する保持板が設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体チップのピックアップ装置。   The upper surface of the push-up body is formed with a recess surrounded by an annular wall smaller than the outer shape of the semiconductor chip, and when the semiconductor chip is pushed up by the push-up body in the recess, 2. The pick-up device for a semiconductor chip according to claim 1, further comprising a holding plate for restricting elastic deformation of a portion other than the peripheral portion of the push-up body due to the tension of the adhesive sheet. 上記保持板の厚さ寸法は、上記凹部の深さ寸法と同じ若しくはそれ以下であることを特徴とする請求項2記載の半導体チップのピックアップ装置。   3. The semiconductor chip pickup device according to claim 2, wherein a thickness dimension of the holding plate is equal to or less than a depth dimension of the concave portion. 上記保持板は円形若しくは楕円形であって、その上端縁は面取り加工されていることを特徴とする請求項2記載の半導体チップのピックアップ装置。   3. The pick-up device for a semiconductor chip according to claim 2, wherein the holding plate is circular or elliptical, and an upper end edge thereof is chamfered. 上記押し上げ体の上面の上記環状壁の外側の部分は、下方に向かって傾斜した傾斜面に形成されていることを特徴とする請求項2記載の半導体チップのピックアップ装置。   3. The semiconductor chip pick-up device according to claim 2, wherein an outer portion of the annular wall on the upper surface of the push-up body is formed as an inclined surface inclined downward. 上記押し上げ体の上面の少なくとも上記環状壁の上端面及び上記傾斜面は低摩擦面に形成されていることを特徴とする請求項4記載の半導体チップのピックアップ装置。   5. The semiconductor chip pick-up device according to claim 4, wherein at least an upper end surface and an inclined surface of the annular wall on the upper surface of the push-up body are formed as a low friction surface. 軸方向に上下駆動される押し上げ軸を有し、この押上げ軸の上端には上面に上記押し上げ体が取付けられるとともに、上記押し上げ体の下端面の周辺部が外方へ突出する大きさの取付け盤が設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体チップのピックアップ装置。   There is a push-up shaft that is driven up and down in the axial direction, and the push-up body is attached to the upper surface of the push-up shaft, and the peripheral portion of the lower end surface of the push-up body is protruded outward. 2. The semiconductor chip pickup device according to claim 1, further comprising a board. 上記半導体チップは矩形状であって、上記押し上げ体の上面に設けられた上記環状壁は上記半導体チップよりも小さな矩形状であることを特徴とする請求項2記載の半導体チップのピックアップ装置。   3. The semiconductor chip pick-up device according to claim 2, wherein the semiconductor chip has a rectangular shape, and the annular wall provided on the upper surface of the push-up body has a rectangular shape smaller than the semiconductor chip.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101683398B1 (en) * 2015-10-02 2016-12-07 주식회사 프로텍 Apparatus and Method for Chip Detaching
JP2019029650A (en) * 2017-07-26 2019-02-21 芝浦メカトロニクス株式会社 Semiconductor chip pickup device, semiconductor chip mounting apparatus and mounting method
JP7154106B2 (en) * 2018-10-29 2022-10-17 芝浦メカトロニクス株式会社 Pick-up device and mounting device for electronic components
KR102635493B1 (en) * 2020-11-04 2024-02-07 세메스 주식회사 Apparatus for transferring die in bonding equipment and method thereof
JP7633203B2 (en) * 2022-03-29 2025-02-19 東レエンジニアリング株式会社 Thrust-up head and thrust-up device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3976541B2 (en) * 2001-10-23 2007-09-19 富士通株式会社 Semiconductor chip peeling method and apparatus
TWI283906B (en) * 2001-12-21 2007-07-11 Esec Trading Sa Pick-up tool for mounting semiconductor chips
JP2004186352A (en) * 2002-12-03 2004-07-02 Renesas Technology Corp Semiconductor device and its manufacturing method
JP2005302932A (en) * 2004-04-09 2005-10-27 M Tec Kk Chip separation apparatus

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