JP4831483B2 - 露光装置及び露光方法 - Google Patents
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Description
以下、本発明に係る露光装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。ここで、図1乃至図7は本発明の実施の形態を示す図である。
2 チャック
3 ベース
7 ピン
10 ステージ
10A 一の作動位置
10B 他の作動位置
11x,11y レーザ照射測定部
15 露光マスク
20 光源
30 水平方向移動機構
31 X方向移動機構
36 Y方向移動機構
45 上下方向移動機構
50 基板
50A 一の領域
50B 他の領域
60 基板移動機構
81 基板配置工程
82 露光位置移動工程
83 第一露光工程
85 露光領域変更工程
86 第二露光工程
87 除去位置移動工程
89 完了基板除去工程
91 水平方向移動工程
92 降下工程
93 上昇工程
94 チルト補正工程
95 水平方向停止工程
LBx,LBy レーザ光
Claims (9)
- 照射光を照射する光源と、
光源の下方に配置された露光マスクと、
露光マスクの下方に設けられ、一の作動位置から他の作動位置まで水平方向に移動可能なステージとを備え、
ステージは、上下方向に移動自在であり、一の作動位置から他の作動位置まで移動する間、斜め下方に移動した後、斜め上方に移動して一の作動位置における高さ位置と同一の高さ位置に戻ることを特徴とする露光装置。 - ステージは、水平方向に移動自在な水平方向移動機構上に配置されることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- 水平方向移動機構は、水平方向のうち、一方向に移動するX方向移動機構と、水平方向のうち、当該一方向に直交する方向に移動するY方向移動機構とを有することを特徴とする請求項2記載の基板露光装置。
- ステージは、上下方向に移動自在な上下方向移動機構上に配置されることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- 水平方向移動機構上であって、ステージ側方に、バーミラーが設けられ、
当該バーミラー側方に、レーザ光を照射し、かつバーミラーから反射するレーザ光を受け、ステージ上に配置された基板の水平方向位置を検出するレーザ照射測定部を設けたことを特徴とする請求項2記載の基板露光装置。 - ステージは、ベースと、ベース上に配置されたチャックとを有することを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- ステージは、チャックを貫通して上下方向に延びる突出自在の複数のピンを有することを特徴とする請求項6記載の基板露光装置。
- ステージ近傍に、複数のピンによって持ち上げられた基板を、下方から支持して移動させる基板移動機構を備えたことを特徴とする請求項7記載の基板露光装置。
- 基板を、ステージ上に配置する基板配置工程と、
ステージを一の作動位置まで移動させ、ステージ上の基板の一の領域を露光マスク下方の露光位置に配置する露光位置移動工程と、
露光マスク下方の基板の一の領域を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第一露光工程と、
ステージを一の作動位置から他の作動位置まで移動させ、チャック上の基板の他の領域を露光マスク下方の露光位置に配置する露光領域変更工程と、
露光マスク下方の基板の他の領域を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第二露光工程とを備え、
ステージを一の作動位置から他の作動位置まで移動させる間、ステージは、斜め下方に移動した後、斜め上方に移動して一の作動位置における高さ位置と同一の高さ位置に戻ることを特徴とする基板露光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3320298B2 (ja) * | 1996-02-09 | 2002-09-03 | キヤノン株式会社 | 半導体露光装置およびこの装置を用いた半導体露光方法 |
| JP3526174B2 (ja) * | 1997-04-14 | 2004-05-10 | キヤノン株式会社 | 半導体露光装置およびデバイス製造方法 |
| JPH11295031A (ja) * | 1998-04-08 | 1999-10-29 | Canon Inc | 位置決めステージ装置とその位置計測方法および位置決めステージ装置を備えた露光装置ならびにデバイス製造方法 |
| JP4209254B2 (ja) * | 2003-05-22 | 2009-01-14 | 日本精工株式会社 | 近接露光装置のワークステージ |
-
2006
- 2006-08-24 JP JP2006228084A patent/JP4831483B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2008053453A (ja) | 2008-03-06 |
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