JP4859019B2 - X線回折装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係るX線回折装置の一実施形態を示している。このX線回折装置1は、適宜の物質を試料として測定を行う測定装置2と、キーボード、マウス等によって構成される入力装置3と、表示手段としての画像表示装置4と、印刷手段としてのプリンタ6と、CPU(Central Processing Unit)7と、RAM(Random Access Memory)8と、ROM(Read Only Memory)9と、外部記憶媒体としてのハードディスク11とを有する。これらの要素はバス12によって互いにつながれている。
この測定軸は、X線発生系20が試料Sを見込む角度θsを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θs移動系26が作動してX線発生系20を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、X線検出器23が試料Sを見込む角度θdを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θd移動系37が作動してX線検出器23を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、試料Sのあおり角度Rxを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Rx)が作動して試料SをRx方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、試料Sのあおり角度Ryを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Ry)が作動して試料SをRy方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、試料Sを垂直方向(すなわち、上下方向)へ平行移動させるときの測定軸である。この測定軸は、Z移動系31が作動して試料Sを垂直方向、すなわちZ方向へ平行移動させるときの基準となる軸のことである。
この測定軸は、試料Sを面内回転させるときの測定軸である。この測定軸は、φ移動系32が作動して試料Sを垂直軸線φを中心として回転移動させるときの基準となる軸のことである。
この測定軸は、試料Sに入射するX線に対する回折X線の成す角度2θを規定する測定軸である。回折角度2θは2θ=θs+θdによって決まる値であり、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
この測定軸は、試料Sに入射するX線の入射角度ωを規定する軸である。ω軸はθs軸と同じ測定軸のように感じられるが、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって規定される角度であるのに対し、角度ωは回折角度2θを保持したまま、その値を変化させなければならない。すなわち、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって変化させることができるのに対し、角度ωはθs移動系26とθd移動系37とを、θd=2θ−θsとなるように連動させることにより変化させることができる。このように動かしたとき、角度ωは角度θsに一致する。このような事情から、ω測定軸とθs測定軸とは互いに異なった測定軸として存在する。
この測定軸は、X線入射角度ωとX線回折角度2θとを互いに連動して変化させる際の基準となる軸である。この2θ/ω軸を基準とする角度値は、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
図8(a)においてθs=θd=5°に設定されている。つまり、2θ=10°に設定されている。このとき、ω=5°である。この状態から、図8(b)に示すように2θ=10°に保ったままでωを0°にすると、θsは5°から0°に変化し、θdは5°から10°に変化する。
0.05sec×0.1°÷60.0sec=0.000083°
である。0.000083°は駆動軸の物理的な最低ステップ幅(分解能×2=0.0002°)より小さいので、最低ステップ幅は0.0002°となる。
0.05sec×8.0°÷60.0sec=0.0066°
である。0.0066°は駆動軸の物理的な最低ステップ幅(分解能×2=0.0002°)より大きいので、最低ステップ幅は0.0066°となる。
60.0sec×0.1°÷0.05sec=120.0°/min
である。120.0°/minは駆動軸の物理的な最高スキャン速度(100.0°/min)より大きいので、最高スキャン速度は100.0°/minとなる。
60.0sec×0.001°÷0.05sec=1.2°/min
である。1.2°/minは駆動軸の物理的な最高スキャン速度(100.0°/min)より小さいので、最高スキャン速度は1.2°/minとなる。
例えば、図1の測定装置2は図2に示した構成のX線回折装置に限られず、他の任意の構成のX線回折装置とすることができる。また、入力用画像は図5に符号43で示すようなマニュアル制御画面43に限られず、必要に応じて、他の任意の構成の画像とすることができる。
4.画像表示装置(表示手段)、 11.ハードディスク(記憶手段)、 12.バス、
20.X線発生系、 21.試料支持装置、 22.X線源、 23.X線検出器、
24.モノクロメータ、 38.ポインタ、 41.メインフレーム、
43.マニュアル制御画面(入力用画面)、 44.測定実行のアイコン、
46.状態表示画面、 47.ポップアップ表示、 P1.X線プロファイル、
S.試料、 S0.発散規制スリット、 S1.スリット、 S2.受光スリット、
X0.水平軸線、 Z.垂直方向、 Rx,Ry.あおり移動
Claims (3)
- 複数の移動系の連動によって規定される測定軸を含む複数の測定軸を有すると共にそれら複数の測定軸のうちの1つを選択してその測定軸を基準としてX線要素を移動させて測定を行う測定手段と、
画像データに基づいて画面上に画像を表示する表示手段と、
該表示手段の画面内の領域を指定して入力を行う入力手段と、
前記1つの測定軸を選択するための入力を行うための測定軸入力領域、その1つの測定軸を基準とする前記X線要素の走査速度を入力するための走査速度入力領域、及び走査のステップ幅を入力するためのステップ幅入力領域の3つの領域を含む入力用画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、該表示手段の画面上に前記入力用画像を表示させる入力用画像生成表示手段と、
複数の移動系の連動によって規定される前記測定軸の1つが前記入力手段によって指示され、さらに前記入力手段によって前記走査速度が入力されたときに、前記ステップ幅入力領域に入力できるステップ幅の値の有効範囲を、指示された前記1つの測定軸を規定する前記複数の移動系及び入力された前記走査速度に応じて演算によって決める有効範囲データ生成手段と、
該有効範囲データ生成手段によって決められたステップ幅の有効範囲の値を含む画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、前記入力手段によって前記ステップ幅入力領域が指示された後の所定時間だけ前記表示手段の画面上に前記測定軸入力領域及び前記ステップ幅入力領域と同時にステップ幅の有効範囲を表示させる有効範囲用画像生成表示手段と
を有することを特徴とするX線回折装置。 - 請求項1記載のX線回折装置において、
前記有効範囲データ生成手段は、前記有効範囲に加えて、
(1)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するときの設定可能な角度走査最小ステップ幅、
(2)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な距離走査最小ステップ幅、
(3)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するか、又は当該1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な最低走査速度、
(4)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動することによって行われる測定の際の時間あたりの角度値で示される最高走査速度、及び
(5)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動することによって行われる測定の際の時間あたりの距離値で示される最高走査速度、
の(1)から(5)の少なくとも1つ又はそれらの少なくとも2つの組合せを演算によって決める
ことを特徴とするX線回折装置。 - 請求項1又は請求項2記載のX線回折装置において、
前記複数の移動系の連動によって規定される複数の測定軸は、
(1)X線発生系が試料を見込む角度θsを変化させるためのθs移動系とX線検出手段が試料を見込む角度θdを変化させるためのθd移動系との連動によって規定される軸であって、入射X線に対する回折角度2θを規定する2θ軸か、
(2)前記θs移動系と前記θd移動系とをθd=2θ−θsのように連動させたときのθsと同じ値の軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωを規定するω軸か、
(3)前記θs移動系と前記θd移動系との連動によって規定される軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωと試料で回折するX線の回折角度2θとを連動して変化させる際の基準となる2θ/ω軸か、のいずれかである
ことを特徴とするX線回折装置。
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