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JP4860596B2 - Thermal test equipment - Google Patents
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JP4860596B2 JP2007314262A JP2007314262A JP4860596B2 JP 4860596 B2 JP4860596 B2 JP 4860596B2 JP 2007314262 A JP2007314262 A JP 2007314262A JP 2007314262 A JP2007314262 A JP 2007314262A JP 4860596 B2 JP4860596 B2 JP 4860596B2
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Description

本発明は、高温環境と低温環境を交互に付与可能に構成して電子部品等の被試験体に対する熱試験を行う際に用いて好適な熱試験装置に関する。   The present invention relates to a thermal test apparatus suitable for use in performing a thermal test on a device under test such as an electronic component by alternately providing a high temperature environment and a low temperature environment.

一般に、電子部品は様々な環境で使用されるため、低温環境から高温環境までの所定の温度範囲における耐久性能が要求される。したがって、通常、新製品や新しい用途に使用される電子部品に対しては、高温環境と低温環境を交互に付与する熱試験や熱衝撃試験が行われる。   In general, since electronic components are used in various environments, durability performance in a predetermined temperature range from a low temperature environment to a high temperature environment is required. Therefore, a thermal test and a thermal shock test are usually performed on electronic parts used for new products and new applications, which alternately provide a high temperature environment and a low temperature environment.

従来、このような熱試験(熱衝撃試験)に用いる代表的な原理に基づく熱試験装置としては、加熱系と冷却系を別々の筺体内に設け、開閉弁で切換えることにより試験槽に対して熱風と冷風を選択的に供給して高温環境又は低温環境を得る方式と、加熱系と冷却系を同一筺体内に設け、加熱系と冷却系の動作を選択的にON(OFF)して高温環境又は低温環境を得る方式があり、前者の方式としては、特許文献1で開示される冷熱試験装置が知られており、後者の方式としては、特許文献2で開示される急速昇降温型冷熱試験装置が知られている。   Conventionally, as a thermal test apparatus based on a typical principle used in such a thermal test (thermal shock test), a heating system and a cooling system are provided in separate casings, and are switched by an on-off valve to the test tank. A method of obtaining a high temperature environment or a low temperature environment by selectively supplying hot air and cold air, and a heating system and a cooling system are provided in the same housing, and the operation of the heating system and the cooling system is selectively turned on (OFF) to a high temperature. There is a system for obtaining an environment or a low temperature environment. As the former system, a cooling / heating test apparatus disclosed in Patent Document 1 is known, and as the latter system, a rapid heating / cooling type cooling / heating system disclosed in Patent Document 2 is known. Test equipment is known.

特許文献1で開示される冷熱試験装置は、試験槽と、外気導入口を備えるとともに試験槽に気体供給口を介して接続されたファン設置槽と、試験槽に連通口を介して接続されるとともに試験槽に気体吸い込み口を介して接続された高温槽と、試験槽に気体供給口及び気体吸い込み口を介して接続された低温槽と、試験槽に設けた排気口と、連通口及び外気導入口に共通の開閉ダンパと、気体供給口及び気体吸い込み口の開閉ダンパと、気体供給口及び気体吸い込み口の開閉ダンパと、排気口の開閉ダンパとを備えて構成したものであり、また、特許文献2で開示される急速昇降温型冷熱試験装置は、装置筺体の上面に試験物載置板とその上面を覆う開閉可能な蓋体とを設けて、蓋体が閉じた状態で密閉された試験室を形成するようにし、試験物載置板に吸込口と吹出口を設け、試験物載置板の下側に、試験室の容量に対して充分大きな熱交換性能を有する冷却コイル及び加熱ヒータと、試験室内の空気を矢示のように循環させるファンと、これらを覆って空気の循環路を形成するカバーとを設け、冷却コイルに冷媒を循環させる冷凍機はカバーの外側に設けるとともに、ファンの回転と冷凍機及び加熱ヒータの動作を制御して試験室内の温度を急速に上昇または降下させるように構成したものである。
特開平6−082354号公報 特開平8−136442号公報
The cooling / heating test apparatus disclosed in Patent Document 1 includes a test tank, a fan-installed tank that includes an external air introduction port and is connected to the test tank via a gas supply port, and is connected to the test tank via a communication port. And a high-temperature bath connected to the test chamber via a gas suction port, a low-temperature bath connected to the test chamber via a gas supply port and a gas suction port, an exhaust port provided in the test chamber, a communication port and outside air Opening / closing damper common to the inlet, opening / closing damper of the gas supply port and gas suction port, opening / closing damper of the gas supply port and gas suction port, and opening / closing damper of the exhaust port, and The rapid heating / cooling type thermal testing apparatus disclosed in Patent Document 2 is provided with a test object mounting plate and an openable / closable lid that covers the upper surface of the apparatus housing, and is sealed with the lid closed. Test room to form and test The mounting plate is provided with a suction port and air outlet, and the cooling coil and heater with sufficient heat exchange performance with respect to the capacity of the test chamber and the air in the test chamber are indicated below the test sample mounting plate. A fan that circulates like this, and a cover that covers these to form an air circulation path, and a refrigerator that circulates the refrigerant through the cooling coil is provided outside the cover, and the rotation of the fan, the refrigerator, and the heater The operation is controlled so that the temperature in the test chamber is rapidly increased or decreased.
JP-A-6-082354 JP-A-8-136442

ところで、上述した従来の熱試験装置において、加熱系と冷却系を別々の筺体内に設ける方式(特許文献1)では、高温環境と低温環境を速やかに切換えることができる長所を有する反面、装置全体が大型化するとともに、加熱系と冷却系を常時動作させるため、電力消費も大きくなる短所を有しており、他方、加熱系と冷却系を同一筺体内に設ける方式(特許文献2)では、装置全体が小型化するとともに、加熱系と冷却系のいずれか一方を動作させるため、電力消費が小さくなる長所を有する反面、高温環境と低温環境を速やかに切換えることができない短所を有している。   By the way, in the conventional thermal test apparatus described above, the system (Patent Document 1) in which the heating system and the cooling system are provided in separate casings has the advantage of being able to quickly switch between the high temperature environment and the low temperature environment, but the entire apparatus. Since the heating system and the cooling system are always operated, there is a disadvantage that the power consumption becomes large. On the other hand, in the method of providing the heating system and the cooling system in the same housing (Patent Document 2), While the entire device is downsized and either the heating system or the cooling system is operated, it has the advantage of reducing power consumption, but it has the disadvantage that it cannot quickly switch between the high temperature environment and the low temperature environment. .

このように、従来の熱試験装置では、高温環境と低温環境を速やかに切換えることと、装置全体の小型化及び電力消費の低減を実現することの双方を満足させることが容易でなく、結局、一方の要請を満たした場合には、他方の要請を満たすことが困難になるという相反する問題があった。しかも、電子機器の小型化や高密度化と相俟って、電子部品がより小型化されるに至っているが、小型電子部品を対象とした最適化については何ら考慮されていないため、特に、小型電子部品の熱試験を行う場合には、電力消費等において無駄を生じるとともに、試験性能等においても臨機応変に対応できない問題があった。   As described above, in the conventional thermal test apparatus, it is not easy to satisfy both the rapid switching between the high temperature environment and the low temperature environment and the reduction of the overall apparatus size and the reduction of power consumption. When one request is satisfied, there is a conflicting problem that it becomes difficult to satisfy the other request. Moreover, along with the downsizing and higher density of electronic devices, electronic components have been further miniaturized, but since optimization for small electronic components has not been considered at all, When performing a thermal test of a small electronic component, there is a problem in that power consumption is wasted and the test performance and the like cannot be adapted flexibly.

本発明は、このような背景技術に存在する課題を解決した熱試験装置の提供を目的とするものである。   The object of the present invention is to provide a thermal test apparatus that solves such problems in the background art.

本発明は、上述した課題を解決するため、試験槽2の内部に収容した被試験体P…に少なくとも高温環境と低温環境を交互に付与可能に構成して被試験体P…に対する熱試験を行う熱試験装置1を構成するに際して、下方に突出するフィン部3f…を有するヒートシンク形の熱交換器3の上面にペルチェ素子を用いた少なくとも一つ以上のサーモモジュール4…を配し、かつこのサーモモジュール4…の上面に伝熱プレート5を配するとともに、この伝熱プレート5に対して開閉するカバー部6を設け、このカバー部6を閉じた際に伝熱プレート5を底面部2dとする試験槽2を構成する試験槽機構Maと、フィン部3f…が臨む熱交換室Ccと、この熱交換室Ccの下方に仕切壁部32を介して設けた冷却気体室Ca及びこの冷却気体室Caに冷却部7csを臨ませたスターリングクーラ7sを用いた冷却器7を有する気体冷却部15を備えるとともに、冷却気体室Caから第一通気口Caoを経て熱交換室Ccに至り、かつこの熱交換室Ccから第二通気口Caiを経て冷却気体室Caに至る循環送風路R,この循環送風路Rに冷却気体Acを循環送風する送風ファン16a,16b,及び熱交換室Ccと冷却気体室Ca間における循環送風路Rを開閉する開閉機構部18を有する送風部17を備える冷却機構Mbと、サーモモジュール4…及び冷却器7の作動を制御するコントローラ8とを具備してなることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention is configured so that at least a high-temperature environment and a low-temperature environment can be alternately applied to the device under test P accommodated in the inside of the test tank 2, and a thermal test for the device under test P ... is performed. In configuring the thermal test apparatus 1 to be performed, at least one or more thermo modules 4 using Peltier elements are arranged on the upper surface of the heat sink type heat exchanger 3 having fin portions 3f projecting downward. A heat transfer plate 5 is arranged on the upper surface of the thermo modules 4... And a cover portion 6 that opens and closes the heat transfer plate 5 is provided. When the cover portion 6 is closed, the heat transfer plate 5 is connected to the bottom surface portion 2 d. The test chamber mechanism Ma constituting the test chamber 2 to be performed, the heat exchange chamber Cc facing the fins 3f, the cooling gas chamber Ca provided below the heat exchange chamber Cc via the partition wall portion 32, and the cooling gas Room C The gas cooling unit 15 having the cooler 7 using the Stirling cooler 7s facing the cooling unit 7cs is provided, and the heat exchange chamber Cc is reached from the cooling gas chamber Ca through the first vent hole Cao. A circulation air passage R extending from the chamber Cc to the cooling gas chamber Ca through the second vent hole Cai, blower fans 16a and 16b for circulating the cooling gas Ac through the circulation air passage R, and the heat exchange chamber Cc and the cooling gas chamber Ca. A cooling mechanism Mb including a blower unit 17 having an opening / closing mechanism unit 18 that opens and closes a circulation air passage R therebetween, and a controller 8 that controls the operation of the thermomodule 4... And the cooler 7. To do.

この場合、発明の好適な態様により、試験槽機構Maには、サーモモジュール4…に加えて補助加熱部11を設けることができ、この補助加熱部11としては、少なくとも、サーモモジュール4…に並べて配したヒータ11a…を用いた補助加熱部,熱交換器3の内部に埋設した棒状のヒータ11b…を用いた補助加熱部,熱交換器3の内部に形成した気体通路11c…に加熱流体Ahを流通させる補助加熱部,の一又は二以上を用いることができる。また、熱交換器3に対して放冷用の気体Aaを送風する補助放冷部12を設けることもできる。一方、冷却機構Mbには、循環送風路Rに対して除湿空気又は不活性ガスを供給する気体供給部19を設けることができる。他方、試験槽機構Maは、カバー部6に、試験槽2の内部の空気を撹拌する撹拌機構部20を設けることにより、熱衝撃試験用の試験槽機構Maeとして構成することもできる。   In this case, according to a preferred aspect of the invention, the test tank mechanism Ma can be provided with the auxiliary heating unit 11 in addition to the thermo modules 4... As the auxiliary heating unit 11 at least in the thermo modules 4. The heating fluid Ah is supplied to the auxiliary heating unit using the heaters 11a arranged, the auxiliary heating unit using the rod-shaped heater 11b embedded in the heat exchanger 3, and the gas passage 11c formed inside the heat exchanger 3. One or two or more auxiliary heating parts that circulate can be used. Moreover, the auxiliary | assistant cooling part 12 which ventilates the gas Aa for cooling with respect to the heat exchanger 3 can also be provided. On the other hand, the cooling mechanism Mb can be provided with a gas supply unit 19 that supplies dehumidified air or inert gas to the circulation air passage R. On the other hand, the test tank mechanism Ma can also be configured as a test tank mechanism Mae for a thermal shock test by providing the cover section 6 with a stirring mechanism section 20 that stirs the air inside the test tank 2.

このような構成を有する本発明に係る熱試験装置1によれば、次のような顕著な効果を奏する。   According to the thermal test apparatus 1 according to the present invention having such a configuration, the following remarkable effects can be obtained.

(1) ヒートシンク形の熱交換器3の上面にペルチェ素子を用いたサーモモジュール4…を配し、かつこのサーモモジュール4…の上面に伝熱プレート5を配するとともに、この伝熱プレート5に対して開閉するカバー部6を設け、このカバー部6を閉じた際に伝熱プレート5を底面部2dとする試験槽2を構成する試験槽機構Maと、熱交換器3を冷却する冷却気体Acを得る冷却器7を用いた冷却機構Mbを備えてなるため、高温環境と低温環境を速やかに切換えることができることに加え、装置全体の小型化、更には電力消費の低減を図ることができる。   (1) A thermo module 4 using Peltier elements is arranged on the upper surface of the heat exchanger type heat exchanger 3, and a heat transfer plate 5 is arranged on the upper surface of the thermo module 4. On the other hand, a cover portion 6 that opens and closes is provided, and when this cover portion 6 is closed, a test tank mechanism Ma that constitutes the test tank 2 having the heat transfer plate 5 as the bottom surface portion 2d, and a cooling gas that cools the heat exchanger 3 Since the cooling mechanism Mb using the cooler 7 for obtaining Ac is provided, in addition to being able to quickly switch between a high temperature environment and a low temperature environment, it is possible to reduce the overall size of the apparatus and further reduce power consumption. .

(2) 冷却機構Mbには、冷却器7を構成するスターリングクーラ7s及びこのスターリングクーラ7sにより冷却した冷却気体Acを貯留する冷却気体室Caを有する気体冷却部15と、冷却気体室Caから第一通気口Caoを経て熱交換器3に至り、かつこの熱交換器3から第二通気口Caiを経て冷却気体室Caに至る循環送風路R、及びこの循環送風路Rに冷却気体Acを循環送風する送風ファン16a,16bを有する送風部17を設けたため、小型電子部品の熱試験を行う際の消費電力の無駄を回避できるとともに、小型電子部品に対する試験性能等に対して臨機応変に対応することができる。即ち、冷却出力は大きくできないものの急速冷却等の冷却性能に優れるという固有の特性を有するスターリングクーラ7sを利用することによって、特に小型電子部品を対象とした熱試験に最適となる。   (2) The cooling mechanism Mb includes a gas cooling unit 15 having a Stirling cooler 7s constituting the cooler 7 and a cooling gas chamber Ca for storing the cooling gas Ac cooled by the Stirling cooler 7s, and a cooling gas chamber Ca. A circulation air passage R that reaches the heat exchanger 3 through one vent hole Cao, and from the heat exchanger 3 to the cooling gas chamber Ca through the second vent hole Cai, and the cooling gas Ac circulates in the circulation air passage R. Since the blower unit 17 having the blower fans 16a and 16b for blowing air is provided, it is possible to avoid waste of power consumption when performing a thermal test of a small electronic component and to respond flexibly to a test performance for the small electronic component. be able to. That is, by using the Stirling cooler 7s having an inherent characteristic of being excellent in cooling performance such as rapid cooling although the cooling output cannot be increased, it is optimal for a thermal test particularly for a small electronic component.

(3) 冷却気体室Caは熱交換器3の下方に配したため、冷却気体Acが下方に溜まる性質を利用することにより、冷却気体Acの非使用時であっても、冷却気体Acが熱交換器3側に影響する不具合を回避できる。   (3) Since the cooling gas chamber Ca is arranged below the heat exchanger 3, the cooling gas Ac is heat exchanged even when the cooling gas Ac is not used by utilizing the property that the cooling gas Ac accumulates below. It is possible to avoid problems that affect the container 3 side.

(4) 送風部17には、熱交換器3と冷却気体室Ca間における循環送風路Rを開閉する開閉機構部18を設けたため、冷却気体Acの非使用時であっても、冷却気体Acが気体冷却部15から熱交換器3側へ漏れるのを確実に防止できる。   (4) Since the air blowing unit 17 is provided with the opening / closing mechanism 18 that opens and closes the circulation air passage R between the heat exchanger 3 and the cooling gas chamber Ca, the cooling gas Ac is used even when the cooling gas Ac is not used. Can be reliably prevented from leaking from the gas cooling unit 15 to the heat exchanger 3 side.

(5) 好適な態様により、試験槽機構Maに、サーモモジュール4…に加えて補助加熱部11を設ければ、昇温時には、サーモモジュール4…に加えて補助加熱部11を併用できるため、低温環境から高温環境に移行する際に急峻な温度上昇を実現することができ、より速やかに移行させることができる。   (5) According to a preferred embodiment, if the auxiliary heating unit 11 is provided in the test tank mechanism Ma in addition to the thermo modules 4..., The auxiliary heating unit 11 can be used in combination with the thermo modules 4. When shifting from a low temperature environment to a high temperature environment, a steep temperature rise can be realized, and the shift can be made more quickly.

(6) 好適な態様により、熱交換器3に対して放冷用の気体Aaを送風する補助放冷部12を設ければ、サーモモジュール4…による加熱モード時には、サーモモジュール4…の放冷側における放冷効果を高めることによりサーモモジュール4…の加熱能力をより高めることができる。   (6) According to a preferred embodiment, if the auxiliary cooling unit 12 for blowing the cooling gas Aa is provided to the heat exchanger 3, the thermo module 4 is allowed to cool in the heating mode by the thermo module 4. By increasing the cooling effect on the side, the heating capacity of the thermo modules 4 can be further increased.

(7) 好適な態様により、冷却機構Mbに、循環送風路Rに対して除湿空気又は不活性ガスを供給する気体供給部19を設ければ、常に循環送風路R内を最適圧に維持できるとともに、霜の発生を防止できる。   (7) If the gas supply part 19 which supplies dehumidified air or an inert gas with respect to the circulation ventilation path R is provided in the cooling mechanism Mb by a suitable aspect, the inside of the circulation ventilation path R can always be maintained at the optimal pressure. At the same time, generation of frost can be prevented.

(8) 好適な態様により、試験槽機構Maにおけるカバー部6に、試験槽2の内部の空気を撹拌する撹拌機構部20を設けることにより、熱衝撃試験用の試験槽機構Maeとして構成すれば、カバー部6以外の構成をそのまま利用して熱衝撃試験を行うことができる。したがって、例えば、熱衝撃試験用のカバー部をオプション扱いとして、カバー部6と交換可能に構成すれば、熱試験装置(熱衝撃試験装置)から熱衝撃試験装置(熱試験装置)に容易に変更できる。   (8) According to a preferred embodiment, by providing the cover unit 6 in the test tank mechanism Ma with the stirring mechanism unit 20 for stirring the air inside the test tank 2, the test tank mechanism Mae for the thermal shock test may be configured. The thermal shock test can be performed using the configuration other than the cover 6 as it is. Therefore, for example, if the cover for the thermal shock test is treated as an option and can be replaced with the cover 6, the thermal test device (thermal shock test device) can be easily changed to the thermal shock test device (thermal test device). it can.

次に、本発明に係る最良の実施形態を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。   Next, the best embodiment according to the present invention will be given and described in detail with reference to the drawings.

まず、本実施形態に係る熱試験装置1の構成について、図1〜図4を参照して具体的に説明する。   First, the configuration of the thermal test apparatus 1 according to the present embodiment will be specifically described with reference to FIGS.

熱試験装置1において、31は断熱性を有する機体であり、内部には、上下方向の中間位置に設けた仕切壁部32により仕切られた上側の熱交換室Ccと下側の冷却気体室Caを備える。また、仕切壁部32には、図1を正面とした場合、左側位置に第一通気口Caoを形成し、右側位置に第二通気口Caiを形成する。これにより、冷却気体室Ca,第一通気口Cao,熱交換室Cc及び第二通気口Caiは、後述する冷却気体Acが循環する循環送風路Rを構成するとともに、冷却気体室Caは、後述する熱交換器3よりも下方に配される。このように、冷却気体室Caを熱交換器3の下方に配すれば、冷却気体Acが下方に溜まる性質を利用することにより、冷却気体Acの非使用時であっても、冷却気体Acが熱交換器3側に影響する不具合を回避できる。したがって、冷却気体Acを遮断する開閉機構部などの設置を省略できるため、構成の簡略化を図れる利点がある。   In the thermal test apparatus 1, reference numeral 31 denotes a heat-insulating body, which includes an upper heat exchange chamber Cc and a lower cooling gas chamber Ca partitioned by a partition wall portion 32 provided at an intermediate position in the vertical direction. Is provided. Further, in the partition wall 32, when FIG. 1 is the front, the first vent hole Cao is formed at the left side position, and the second vent hole Cai is formed at the right side position. Thereby, while the cooling gas chamber Ca, the 1st ventilation port Cao, the heat exchange chamber Cc, and the 2nd ventilation port Cai comprise the circulation ventilation path R through which the cooling gas Ac mentioned later circulates, the cooling gas chamber Ca is mentioned later. It is arranged below the heat exchanger 3 that performs. As described above, if the cooling gas chamber Ca is arranged below the heat exchanger 3, the cooling gas Ac can be used even when the cooling gas Ac is not used by utilizing the property that the cooling gas Ac accumulates below. Problems that affect the heat exchanger 3 side can be avoided. Therefore, since the installation of the opening / closing mechanism for blocking the cooling gas Ac can be omitted, there is an advantage that the configuration can be simplified.

一方、機体31の上面中央には試験槽機構Maを配設する。この試験槽機構Maは機体31の上壁部を貫通して熱交換室Ccの内部に臨む。試験槽機構Maは、ヒートシンク形の熱交換器3を備える。熱交換器3は、熱伝導率の高い素材、例えば、アルミニウム素材等により一体形成し、図2に示すように、上面を平坦に形成した上板部3u及びこの上板部3uの下面から下方に突出する多数のフィン部3f…からなる。熱交換器3は、フィン部3f…が熱交換室Ccの内部に位置するように機体31に取付けるとともに、この際、フィン部3f…間のスリットが循環送風路Rに対して平行になるように配する。   On the other hand, a test tank mechanism Ma is disposed at the center of the upper surface of the body 31. The test tank mechanism Ma passes through the upper wall portion of the machine body 31 and faces the heat exchange chamber Cc. The test tank mechanism Ma includes a heat sink type heat exchanger 3. The heat exchanger 3 is integrally formed of a material having high thermal conductivity, such as an aluminum material, and as shown in FIG. 2, the upper plate portion 3u having a flat upper surface and a lower surface from the lower surface of the upper plate portion 3u. Is formed of a large number of fin portions 3f. The heat exchanger 3 is attached to the airframe 31 so that the fin portions 3f are located inside the heat exchange chamber Cc. At this time, the slits between the fin portions 3f are parallel to the circulation air passage R. To arrange.

また、図3に示すように、熱交換器3の上板部3uの上面には、ペルチェ素子を用いた複数のサーモモジュール4…を配設する。この際、サーモモジュール4…と上板部3u間には受熱プレート35を介在させる。受熱プレート35は、熱伝導率が高く、かつ熱膨張係数の小さい素材により形成したプレート材、例えば、カーボン素材により形成した厚さ3〜5〔mm〕のプレート材、或いはセラミックス素材により形成した厚さ0.6〜5〔mm〕のプレート材を用いる。サーモモジュール4…は上板部3uの上面に直接配設してもよいが、サーモモジュール4…を構成するペルチェ素子の下部には、通常、セラミックスが用いられることも多いため、ペルチェ素子の下部とほぼ同じ熱膨張係数の受熱プレート35を介在させることにより、熱交換器3側の熱収縮を受熱プレート35により遮断できる利点がある。したがって、このような受熱プレート35を用いることにより、ペルチェ素子の温度繰り返し耐久性をより向上させることができる。   3, a plurality of thermo modules 4 using Peltier elements are arranged on the upper surface of the upper plate portion 3u of the heat exchanger 3. At this time, the heat receiving plate 35 is interposed between the thermo modules 4... And the upper plate portion 3u. The heat receiving plate 35 is a plate material made of a material having a high thermal conductivity and a small thermal expansion coefficient, for example, a plate material made of a carbon material and having a thickness of 3 to 5 [mm], or a thickness made of a ceramic material. A plate material having a thickness of 0.6 to 5 [mm] is used. The thermo modules 4 may be directly disposed on the upper surface of the upper plate portion 3u. However, since ceramics are often used for the lower part of the Peltier elements constituting the thermo modules 4 ..., the lower parts of the Peltier elements are usually used. By interposing the heat receiving plate 35 having substantially the same thermal expansion coefficient as that of the heat receiving plate 35, there is an advantage that the heat receiving plate 35 can block the heat shrinkage on the heat exchanger 3 side. Therefore, by using such a heat receiving plate 35, the temperature repetition durability of the Peltier element can be further improved.

さらに、受熱プレート35の上面には、補助加熱部11を構成する複数のヒータ11a…をサーモモジュール4…に並べて配設する。このように、試験槽機構Maに、サーモモジュール4…に加えて補助加熱部11を設ければ、昇温時には、サーモモジュール4…に加えて補助加熱部11を併用できるため、低温環境から高温環境に移行する際に急峻な温度上昇を実現することができ、より速やかに移行させることができる利点がある。   Further, on the upper surface of the heat receiving plate 35, a plurality of heaters 11a constituting the auxiliary heating unit 11 are arranged side by side in the thermo modules 4. Thus, if the auxiliary heating unit 11 is provided in the test tank mechanism Ma in addition to the thermo modules 4..., The auxiliary heating unit 11 can be used in addition to the thermo modules 4. When shifting to the environment, there is an advantage that a steep temperature rise can be realized and the shift can be made more quickly.

一方、サーモモジュール4…の上面には伝熱プレート5を配設する。伝熱プレート5は、熱伝導率が高く、かつ熱膨張係数の小さい素材により形成する。したがって、伝熱プレート5は、厚さを除き、上述した受熱プレート35とほぼ同様に形成できる。例示の伝熱プレート5は、比熱が小さく、受熱プレート35よりも薄く形成したセラミックス素材を用いており、横幅寸法は90〜150〔mm〕程度の平板である。この伝熱プレート5は、試験槽2における実質的な底面部2dを構成し、上面には複数の小型電子部品(被試験体P…)を載置できる。サーモモジュール4…を構成するペルチェ素子の上部には、通常、セラミックスが用いられるため、伝熱プレート5にセラミックス素材を用いることにより、100〔℃〕程度の高温であっても、ペルチェ素子の反りと同程度となる。したがって、熱容量の小さい、良好な熱接触を維持できるとともに、熱負荷がひじょうに小さくなり、小さな投入電力でも温度変化を速めることができる。しかも、電気的には絶縁素材であるため、通電テストも良好に行うことができる。なお、上述したヒータ11a…と伝熱プレート5間には僅かな隙間を設け、ヒータ11a…と伝熱プレート5が直接接触しないように考慮する。これにより、ヒータ11a…により伝熱プレート5を加熱する際における均一性を高めることができる。また、上板部3uの上面には、受熱プレート35,サーモモジュール4…,ヒータ11a…及び伝熱プレート5の回りを囲む枠状の試験槽側壁ブロック36を固定する。この側壁ブロック36は、断熱性素材により形成し、伝熱プレート5に対しては上から密着させる。   On the other hand, a heat transfer plate 5 is disposed on the upper surface of the thermo modules 4. The heat transfer plate 5 is made of a material having a high thermal conductivity and a small thermal expansion coefficient. Therefore, the heat transfer plate 5 can be formed in substantially the same manner as the heat receiving plate 35 described above, except for the thickness. The illustrated heat transfer plate 5 uses a ceramic material that has a small specific heat and is thinner than the heat receiving plate 35, and is a flat plate having a lateral width of about 90 to 150 [mm]. The heat transfer plate 5 constitutes a substantial bottom surface portion 2d in the test tank 2, and a plurality of small electronic components (test object P ...) can be placed on the top surface. Since ceramics are usually used for the upper part of the Peltier elements constituting the thermo modules 4..., The use of a ceramic material for the heat transfer plate 5 makes it possible to warp the Peltier elements even at a high temperature of about 100 [° C.]. It becomes the same level as. Therefore, a good thermal contact with a small heat capacity can be maintained, the heat load is extremely reduced, and the temperature change can be accelerated even with a small input power. In addition, since it is an electrically insulating material, an energization test can be performed well. It should be noted that a slight gap is provided between the above-described heaters 11a ... and the heat transfer plate 5 so that the heaters 11a ... and the heat transfer plate 5 are not in direct contact with each other. Thereby, the uniformity at the time of heating the heat-transfer plate 5 with heater 11a ... can be improved. Further, a frame-like test tank side wall block 36 surrounding the heat receiving plate 35, the thermo modules 4,..., The heater 11a, and the heat transfer plate 5 is fixed to the upper surface of the upper plate portion 3u. The side wall block 36 is formed of a heat insulating material and is in close contact with the heat transfer plate 5 from above.

他方、機体31には、伝熱プレート5に対して開閉するカバー部6を付設する。カバー部6は、断熱性素材により形成したカバー部本体6m及びこのカバー部本体6mの後端を機体31の後上端において回動変位可能に支持するヒンジ部6hを備える。カバー部本体6mの下面には、試験槽2の内部空間の一部を形成する凹部37を設けるとともに、カバー部本体6mの下面であって、凹部37の外側位置には、当該凹部37の回りを囲むゴムグリップ38を取付ける。カバー部本体6mを断熱性素材により形成するとは、カバー部本体6m自身を断熱性素材により一体に形成する場合と、カバー部本体6mを非断熱性素材により形成し、このカバー部本体6mを別途の断熱性素材により覆うような場合も含む。これにより、カバー部本体6mを伝熱プレート5(側壁ブロック36)に対して昇降させることができ、下降させて閉じた際はゴムグリップ38が側壁ブロック36の上面に圧接し、伝熱プレート5を底面部2dとする密閉された試験槽2が構成されるとともに、上昇させて開いた際は、伝熱プレート5の上面に対して被試験体P…(小型電子部品)の出入れを行うことができる。   On the other hand, the body 31 is provided with a cover portion 6 that opens and closes with respect to the heat transfer plate 5. The cover portion 6 includes a cover portion main body 6m formed of a heat insulating material and a hinge portion 6h that supports the rear end of the cover portion main body 6m at the rear upper end of the machine body 31 so as to be capable of rotational displacement. A concave portion 37 that forms a part of the internal space of the test tank 2 is provided on the lower surface of the cover body 6m, and the lower surface of the cover body 6m is located around the concave portion 37 at an outer position of the concave portion 37. A rubber grip 38 is attached. Forming the cover main body 6m from a heat insulating material means that the cover main body 6m itself is integrally formed from a heat insulating material, and forming the cover main body 6m from a non-insulating material. This includes the case of covering with a heat insulating material. Thereby, the cover body 6m can be moved up and down with respect to the heat transfer plate 5 (side wall block 36). When the cover body 6m is lowered and closed, the rubber grip 38 comes into pressure contact with the upper surface of the side wall block 36. A closed test tank 2 having a bottom surface portion 2d is configured, and when it is lifted and opened, the test object P (small electronic component) is put in and out of the upper surface of the heat transfer plate 5. be able to.

また、機体31には、熱交換器3を冷却する冷却気体Acを得る冷却器7を用いた冷却機構Mbを配設する。冷却機構Mbは、冷却器7を構成するスターリングクーラ7s及びこのスターリングクーラ7sにより冷却した冷却気体Acを貯留する冷却気体室Caを有する気体冷却部15と、冷却気体室Caから第一通気口Caoを経て熱交換器3に至り、かつこの熱交換器3から第二通気口Caiを経て冷却気体室Caに至る循環送風路R、及びこの循環送風路Rに冷却気体Acを循環送風する送風ファン16a,16bを有する送風部17を備える。スターリングクーラ7sは、図2に示すように、冷却気体室Caの後壁面に取付け、突出する冷却部7csを機体31の側壁部を貫通させて冷却気体室Ca内に臨ませる。そして、冷却気体室Caの内部に配するヒートシンク形の冷却用フィン部39に結合する。なお、40は断熱部を示す。スターリングクーラ7sは、圧縮容器の中に作動ガスとしてヘリウムを封入するとともに、上下に往復動するピストンとディスプレーサを内蔵し、等温圧縮,等積冷却,等温膨張,等積加熱の行程を経て作動する。特に、スターリングクーラは、小型軽量であり、小容積であれば、25〔℃〕から−50〔℃〕まで1分間程度で急速冷却できる。スターリングクーラ7sとしては、例えば、「神栄株式会社製スターリングクーラ(型番:MA−SCUC08)」を用いることができる。このように、冷却出力は大きくできないものの急速冷却等の冷却性能に優れるという固有の特性を有するスターリングクーラ7sを利用することによって、特に小型電子部品を対象とした熱試験に最適となり、小型電子部品の熱試験を行う際の消費電力の無駄を回避できるとともに、小型電子部品に対する試験性能等に対して臨機応変に対応することができる利点がある。   Further, a cooling mechanism Mb using a cooler 7 that obtains a cooling gas Ac that cools the heat exchanger 3 is disposed in the body 31. The cooling mechanism Mb includes a Stirling cooler 7 s constituting the cooler 7, a gas cooling unit 15 having a cooling gas chamber Ca that stores the cooling gas Ac cooled by the Stirling cooler 7 s, and the first ventilation port Cao from the cooling gas chamber Ca. Through which the heat exchanger 3 reaches the heat exchanger 3 and through the second air vent Cai to the cooling gas chamber Ca, and the air blowing fan which circulates the cooling gas Ac through the air circulation passage R. The ventilation part 17 which has 16a, 16b is provided. As shown in FIG. 2, the Stirling cooler 7 s is attached to the rear wall surface of the cooling gas chamber Ca, and the protruding cooling portion 7 cs passes through the side wall portion of the airframe 31 and faces the cooling gas chamber Ca. And it couple | bonds with the heat sink type cooling fin part 39 distribute | arranged inside the cooling gas chamber Ca. Reference numeral 40 denotes a heat insulating part. The Stirling cooler 7s encloses helium as a working gas in a compression vessel and incorporates a piston and a displacer that reciprocate up and down, and operates through processes of isothermal compression, isothermal cooling, isothermal expansion, and isothermal heating. . In particular, the Stirling cooler is small and light, and with a small volume, it can be rapidly cooled from 25 [° C.] to −50 [° C.] in about 1 minute. As the Stirling cooler 7s, for example, “Sterling cooler (model number: MA-SCUC08) manufactured by Shinei Co., Ltd.” can be used. As described above, by using the Stirling cooler 7s having an inherent characteristic of being excellent in cooling performance such as rapid cooling although the cooling output cannot be increased, it is most suitable for a thermal test especially for small electronic components. This is advantageous in that it is possible to avoid waste of power consumption when performing the thermal test and to adapt flexibly to the test performance for small electronic components.

一方、送風部17を構成する送風ファン16a,16bは、機体31の上面であって試験槽機構Maの左右両側の位置に配設したモータ部41a,41bを備える。各モータ部41a,41bの回転シャフトには、ファンシャフト42a,42bの上端を連結するとともに、ファンシャフト42a,42bの下端側は、機体31の上壁部を貫通させて熱交換室Ccの内部に至らせる。そして、ファンシャフト42a,42bの先端(下端)に、ファン部43a,43bを取付け、ファン部43a,43bは、それぞれ第一通気口Cao,第二通気口Caiの真上に臨ませる。   On the other hand, the blower fans 16a and 16b constituting the blower unit 17 include motor units 41a and 41b disposed on the upper surface of the body 31 and on the left and right sides of the test tank mechanism Ma. The upper shafts of the fan shafts 42a and 42b are connected to the rotation shafts of the motor units 41a and 41b, and the lower ends of the fan shafts 42a and 42b pass through the upper wall portion of the airframe 31 and are inside the heat exchange chamber Cc. To reach. And fan part 43a, 43b is attached to the front-end | tip (lower end) of fan shaft 42a, 42b, and fan part 43a, 43b is made to face the 1st ventilation hole Cao and the 2nd ventilation hole Cai, respectively.

さらに、冷却機構Mbには、循環送風路Rに対して除湿空気又は不活性ガスを供給する気体供給部19を付設する。例示は窒素ガス(不活性ガス)を使用する。気体供給部19は、熱交換室Ccの一方に接続して窒素ガスを熱交換室Ccに供給可能な窒素ガス供給系45と、熱交換室Ccの他方に接続して窒素ガスを熱交換室Ccから排出可能な窒素ガス排出系51を備える。窒素ガス供給系45は、窒素ガス供給源46を備え、この窒素ガス供給源46は、電磁弁47及びオリフィス継手48を介して熱交換室Ccに接続する。49は電磁弁47の流出側の圧力を検出する圧力スイッチであり、この圧力スイッチ49により電磁弁47を制御する。一方、窒素ガス排出系51は、熱交換室Ccに接続したオリフィス継手52を、電磁弁53を介して大気に接続する。54はオリフィス継手52の流出側の圧力を検出する圧力スイッチであり、この圧力スイッチ54により電磁弁53を制御する。また、窒素ガス排出系51には、安全弁55を接続し、熱交換室Ccの内圧が異常圧(2〜2.5〔kPa〕)に達した場合に開作動させるとともに、微小径孔のオリフィス継手48,52を用いることにより急激な圧力変化を回避している。このように、冷却機構Mbに、循環送風路Rに対して除湿空気又は不活性ガスを供給する気体供給部19を設ければ、常に循環送風路R内を最適圧に維持できるとともに、霜の発生を防止できる利点がある。   Further, the cooling mechanism Mb is provided with a gas supply unit 19 for supplying dehumidified air or inert gas to the circulation air passage R. Illustrative uses nitrogen gas (inert gas). The gas supply unit 19 is connected to one of the heat exchange chambers Cc to supply a nitrogen gas to the heat exchange chamber Cc, and connected to the other of the heat exchange chambers Cc to connect the nitrogen gas to the heat exchange chamber. A nitrogen gas discharge system 51 that can discharge from Cc is provided. The nitrogen gas supply system 45 includes a nitrogen gas supply source 46, and this nitrogen gas supply source 46 is connected to the heat exchange chamber Cc via an electromagnetic valve 47 and an orifice joint 48. A pressure switch 49 detects the pressure on the outflow side of the electromagnetic valve 47, and the electromagnetic valve 47 is controlled by the pressure switch 49. On the other hand, the nitrogen gas discharge system 51 connects the orifice joint 52 connected to the heat exchange chamber Cc to the atmosphere via the electromagnetic valve 53. A pressure switch 54 detects the pressure on the outflow side of the orifice joint 52, and the solenoid valve 53 is controlled by the pressure switch 54. In addition, a safety valve 55 is connected to the nitrogen gas discharge system 51, and when the internal pressure of the heat exchange chamber Cc reaches an abnormal pressure (2 to 2.5 [kPa]), the safety valve 55 is opened. By using the joints 48 and 52, a sudden pressure change is avoided. Thus, if the gas supply part 19 which supplies dehumidification air or an inert gas with respect to the circulation ventilation path R is provided in the cooling mechanism Mb, while the inside of the circulation ventilation path R can always be maintained at the optimal pressure, There is an advantage that the occurrence can be prevented.

他方、図4に示すコントローラ8を備える。コントローラ8には、上述した気体供給部,19,サーモモジュール4…,ヒータ11a…,スターリングクーラ7s及び送風ファン16a,16bを接続する。コントローラ8は、マイクロコンピュータを搭載し、格納された制御プログラムに従って、サーモモジュール4…,ヒータ11a…,スターリングクーラ7s及び送風ファン16a,16bに対する作動制御(シーケンス制御)を行う。図5は、制御プログラムに従ってシーケンス制御される制御パターンを示す。   On the other hand, a controller 8 shown in FIG. 4 is provided. The controller 8 is connected to the gas supply unit 19, the thermo module 4, the heater 11 a, the Stirling cooler 7 s, and the blower fans 16 a and 16 b. The controller 8 is equipped with a microcomputer and performs operation control (sequence control) on the thermo modules 4..., The heaters 11 a..., The Stirling cooler 7 s and the blower fans 16 a and 16 b according to the stored control program. FIG. 5 shows a control pattern that is sequence-controlled in accordance with a control program.

次に、本実施形態に係る熱試験装置1の使用方法及び動作について、各図を参照しつつ図6に示すフローチャートに従って説明する。   Next, the usage method and operation | movement of the thermal test apparatus 1 which concern on this embodiment are demonstrated according to the flowchart shown in FIG. 6, referring each figure.

この熱試験装置1は、特に、小型電子部品の熱試験に用いて最適であり、以下、小型電子部品の熱試験を行う場合について説明する。まず、熱試験を行うに当たっては、試験槽2のカバー部6を開き、試験槽2の内部空間(試験室)に所定数の被試験体P…(小型電子部品)をセット、即ち、図3に示すように、伝熱プレート5の上に所定数の被試験体P…を載置する(ステップS1)。被試験体P…をセットしたなら、カバー部6を閉じてロックする。これにより、カバー部6のゴムグリップ38は側壁ブロック36の上面に圧接し、被試験体P…をセットした試験室が密閉される。なお、試験室が高温環境になり、内圧が高くなった場合には、圧接状態のゴムグリップ38と側壁ブロック36間から逃がすことができる。   This thermal test apparatus 1 is particularly suitable for use in a thermal test of a small electronic component, and hereinafter, a case where a thermal test of a small electronic component is performed will be described. First, when performing a thermal test, the cover 6 of the test tank 2 is opened, and a predetermined number of test pieces P (small electronic components) are set in the internal space (test chamber) of the test tank 2, that is, FIG. As shown in FIG. 2, a predetermined number of test objects P are placed on the heat transfer plate 5 (step S1). When the device under test P is set, the cover 6 is closed and locked. As a result, the rubber grip 38 of the cover 6 is pressed against the upper surface of the side wall block 36, and the test chamber in which the test object P is set is sealed. In addition, when the test chamber becomes a high temperature environment and the internal pressure becomes high, it can escape from between the rubber grip 38 and the side wall block 36 in the press contact state.

次いで、コントローラ8の作動スイッチをONにする。これにより、気体供給部19は作動状態となり、コントローラ8は、窒素ガス供給源46における不図示のバルブを開側に切換え、窒素ガスを循環送風路Rに封入する(ステップS2)。この際、初期段階では、電磁弁47,53を開側に切換制御し、窒素ガスの供給により循環送風路R内の空気を外部に排出するとともに、窒素ガスが循環送風路R内に満たされたなら、電磁弁47,53を閉じる。これにより、熱交換室Ccの内部は、50〜600〔Pa〕の微陽圧(設定圧)に維持される。即ち、熱交換室Ccの内圧が設定圧以下になれば、圧力スイッチ49により検出され、電磁弁47が開側に切換えられる。これにより、窒素ガス供給系45から循環送風路R内に窒素ガスが供給されて内圧を上昇させる。他方、熱交換室Ccの内圧が設定圧を超えれば、圧力スイッチ54により検出され、電磁弁53が開側に切換えられる。これにより、循環送風路R内の窒素ガスが窒素ガス排出系51を介して外部(大気)に排出されて内圧を下降させる。この結果、熱交換室Ccの内圧は、常に設定圧(微陽圧)に維持される。   Next, the operation switch of the controller 8 is turned ON. Thereby, the gas supply part 19 will be in an operation state, and the controller 8 will switch the valve | bulb not shown in the nitrogen gas supply source 46 to an open side, and will enclose nitrogen gas in the circulation ventilation path R (step S2). At this time, in the initial stage, the solenoid valves 47 and 53 are switched to the open side to discharge the air in the circulation air passage R to the outside by supplying nitrogen gas, and the nitrogen gas is filled in the circulation air passage R. If so, the solenoid valves 47 and 53 are closed. Thereby, the inside of the heat exchange chamber Cc is maintained at a slight positive pressure (set pressure) of 50 to 600 [Pa]. That is, when the internal pressure of the heat exchange chamber Cc becomes equal to or lower than the set pressure, the pressure switch 49 detects the pressure and the electromagnetic valve 47 is switched to the open side. As a result, nitrogen gas is supplied from the nitrogen gas supply system 45 into the circulation air passage R to increase the internal pressure. On the other hand, if the internal pressure of the heat exchange chamber Cc exceeds the set pressure, it is detected by the pressure switch 54 and the electromagnetic valve 53 is switched to the open side. As a result, the nitrogen gas in the circulation air passage R is discharged to the outside (atmosphere) through the nitrogen gas discharge system 51 to lower the internal pressure. As a result, the internal pressure of the heat exchange chamber Cc is always maintained at a set pressure (slight positive pressure).

さらに、コントローラ8はスターリングクーラ7sをONにする。これにより、スターリングクーラ7sは作動状態となり、冷却部7scにより冷却用フィン部39の冷却を行う(ステップS3)。この結果、冷却用フィン部39により冷却気体室Ca内の気体(窒素ガス)が冷却され、冷却気体Acが得られるとともに、この冷却気体Acは冷却気体室Ca内に貯留される。冷却気体室Caの温度は不図示の温度センサにより検出されるため、目標冷却温度に達したなら、コントローラ8は熱試験を開始する。   Further, the controller 8 turns on the Stirling cooler 7s. As a result, the Stirling cooler 7s is activated, and the cooling fin section 39 is cooled by the cooling section 7sc (step S3). As a result, the gas (nitrogen gas) in the cooling gas chamber Ca is cooled by the cooling fins 39 to obtain the cooling gas Ac, and the cooling gas Ac is stored in the cooling gas chamber Ca. Since the temperature of the cooling gas chamber Ca is detected by a temperature sensor (not shown), the controller 8 starts a thermal test when the target cooling temperature is reached.

熱試験は、図5に示す制御パターン、即ち、低温環境(−40〔℃〕)を低温設定時間だけ維持する冷却モードDcと、高温環境(+125〔℃〕)を高温設定時間だけ維持する加熱モードDhを交互に繰り返す制御パターンに従って実行する。図5中、Tsは試験槽2の内部温度、Trは冷却気体室Caの内部温度の傾向を示している。また、Zaは加熱モード時の+125〔℃〕期間、Zbは+125〔℃〕から−40〔℃〕への移行期間、Zcは冷却モード時の−40〔℃〕期間、Zdは−40〔℃〕から+125〔℃〕への移行期間をそれぞれ示す。   In the thermal test, the control pattern shown in FIG. 5, that is, the cooling mode Dc for maintaining the low temperature environment (−40 [° C.]) for the low temperature setting time and the heating for maintaining the high temperature environment (+125 [° C.]) for the high temperature setting time. The mode Dh is executed according to a control pattern that repeats alternately. In FIG. 5, Ts indicates the tendency of the internal temperature of the test chamber 2, and Tr indicates the tendency of the internal temperature of the cooling gas chamber Ca. Za is a +125 [° C.] period in the heating mode, Zb is a transition period from +125 [° C.] to −40 [° C.], Zc is a −40 [° C.] period in the cooling mode, and Zd is −40 [° C. ] To +125 [° C.] respectively.

冷却モードDcでは、サーモモジュール4…を冷却モードに通電制御する(ステップS4,S5)。同時に、送風ファン16a,16bをONにする(ステップS6)。これにより、サーモモジュール4…の上面が冷却され、伝熱プレート5を介して試験槽2の内部が低温環境になるとともに、サーモモジュール4…の下面からは放熱が行われる。この放熱は受熱プレート35を介して熱交換器3に伝達され、熱交換室Ccにおいて熱交換される。即ち、送風ファン16a,16bはそれぞれ逆方向に回転し、冷却気体室Caの冷却気体Acは、図1に示す点線矢印Fc…のように、第一通気口Caoを通して熱交換室Ccに至り、この後、第二通気口Caiを通して冷却気体室Caに至る循環送風路Rに沿って循環するため、熱交換器3は冷却気体Acにより冷却(熱交換)される。また、試験槽2の内部温度は、不図示の温度センサにより検出され、試験槽2の内部は、−40〔℃〕の冷却環境に維持される冷却モードDcによる温度制御が行われる(ステップS7)。この冷却モードDcは低温設定時間だけ行われる。そして、低温設定時間が経過したなら、コントローラ8は送風ファン16a,16bをOFFにする(ステップS8,S9)。   In the cooling mode Dc, energization control of the thermo modules 4... At the same time, the blower fans 16a and 16b are turned on (step S6). As a result, the upper surfaces of the thermo modules 4 are cooled, the inside of the test tank 2 is brought into a low temperature environment via the heat transfer plate 5, and heat is radiated from the lower surfaces of the thermo modules 4. This heat radiation is transmitted to the heat exchanger 3 via the heat receiving plate 35, and heat is exchanged in the heat exchange chamber Cc. That is, the blower fans 16a and 16b rotate in opposite directions, and the cooling gas Ac in the cooling gas chamber Ca reaches the heat exchange chamber Cc through the first vent hole Cao as indicated by the dotted arrow Fc shown in FIG. Thereafter, the heat exchanger 3 is cooled (heat exchanged) by the cooling gas Ac because it circulates along the circulation air passage R that reaches the cooling gas chamber Ca through the second vent hole Cai. The internal temperature of the test tank 2 is detected by a temperature sensor (not shown), and the inside of the test tank 2 is temperature-controlled by a cooling mode Dc that is maintained in a cooling environment of −40 [° C.] (step S7). ). This cooling mode Dc is performed only for the low temperature setting time. When the low temperature setting time has elapsed, the controller 8 turns off the blower fans 16a and 16b (steps S8 and S9).

冷却モードDcの終了により直ちに加熱モードDcに移行するため、コントローラ8は、サーモモジュール4…に対する通電方向を反転させ、加熱モードとなるように通電制御する(ステップS10,S4,S11,S12)。同時に、ヒータ11a…をONにする(ステップS13)。これにより、サーモモジュール4…及びヒータ11a…により伝熱プレート5が加熱される。この際、伝熱プレート5の温度は、不図示の温度センサにより検出され、伝熱プレート5が高温環境となる+125〔℃〕に達したなら、コントローラ8はヒータ11a…をOFFにする(ステップS14,S15)。この後、サーモモジュール4…のみの通電により、+125〔℃〕の高温環境に維持される加熱モードDhによる温度制御が行われる(ステップS16)。そして、高温設定時間が経過し、加熱モードDhが終了したなら直ちに冷却モードDcに移行する(ステップS17,S10,S4)。以上の冷却モードDcと加熱モードDhが所定の熱試験時間にわたって繰り返される。   Since the controller 8 immediately shifts to the heating mode Dc upon completion of the cooling mode Dc, the controller 8 reverses the energization direction to the thermomodules 4 and controls the energization so as to enter the heating mode (steps S10, S4, S11, S12). At the same time, the heaters 11a are turned on (step S13). Thus, the heat transfer plate 5 is heated by the thermo modules 4... And the heaters 11 a. At this time, the temperature of the heat transfer plate 5 is detected by a temperature sensor (not shown), and if the heat transfer plate 5 reaches +125 [° C.] where the heat transfer plate 5 becomes a high temperature environment, the controller 8 turns off the heaters 11a (step S1). S14, S15). Thereafter, temperature control is performed by the heating mode Dh maintained in a high temperature environment of +125 [° C.] by energizing only the thermo modules 4... (Step S16). And if high temperature setting time passes and heating mode Dh is complete | finished, it will transfer to cooling mode Dc immediately (step S17, S10, S4). The above cooling mode Dc and heating mode Dh are repeated over a predetermined thermal test time.

よって、このような本実施形態に係る熱試験装置1によれば、熱交換用の熱交換器3の上面にペルチェ素子を用いたサーモモジュール4…を配し、かつこのサーモモジュール4…の上面に伝熱プレート5を配するとともに、この伝熱プレート5に対して開閉するカバー部6を設け、このカバー部6を閉じた際に伝熱プレート5を底面部2dとする試験槽2を構成する試験槽機構Maと、熱交換器3を冷却する冷却気体Acを得る冷却器7を用いた冷却機構Mbを備えてなるため、高温環境と低温環境を速やかに切換えることができることに加え、装置全体の小型化、更には電力消費の低減を図ることができる。   Therefore, according to such a thermal test apparatus 1 according to the present embodiment, the thermo modules 4 using Peltier elements are arranged on the upper surface of the heat exchanger 3 for heat exchange, and the upper surface of the thermo module 4. The test plate 2 is provided with a heat transfer plate 5 and a cover portion 6 that opens and closes with respect to the heat transfer plate 5, and the heat transfer plate 5 serves as a bottom surface portion 2 d when the cover portion 6 is closed. In addition to being able to quickly switch between a high-temperature environment and a low-temperature environment, since there is provided a cooling mechanism Mb using a test tank mechanism Ma that performs cooling and a cooler 7 that obtains a cooling gas Ac that cools the heat exchanger 3, the apparatus The overall size can be reduced, and the power consumption can be reduced.

次に、本発明の変更実施形態に係る熱試験装置1について、図7〜図11を参照して説明する。   Next, a thermal test apparatus 1 according to a modified embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図7及び図8は、補助加熱部11の変更例を示す。図7に示す補助加熱部11は、ヒータ11a…の代わりに、熱交換器3の内部に埋設した棒状のヒータ11b…を用いたものであり、図7(a)に正面方向から見た断面構成を示すとともに、図7(b)に側面方向から見た構成を示す。この場合、カーボン素材等により形成したヒータブロック61に側面から複数の孔を開け、この孔に小型のヒータ11b…をそれぞれ差し込むことによりヒータユニット62を構成するとともに、このヒータユニット62を熱交換器3の上面に載置すればよい。   7 and 8 show a modification example of the auxiliary heating unit 11. The auxiliary heating unit 11 shown in FIG. 7 uses rod-shaped heaters 11b embedded in the heat exchanger 3 instead of the heaters 11a, and is a cross section viewed from the front in FIG. 7A. While showing a structure, the structure seen from the side surface direction is shown in FIG.7 (b). In this case, the heater block 61 formed of a carbon material or the like is formed with a plurality of holes from the side surface, and the small heaters 11b are respectively inserted into the holes to constitute the heater unit 62, and the heater unit 62 is replaced with a heat exchanger. 3 may be placed on the upper surface of the plate.

また、図8に示す補助加熱部11は、熱交換器3の内部に形成した気体通路11c…に加熱流体Ahを流通させるものである。この場合、65は外部に設けた加熱部であり、ヒータケース65cの内部にヒータ65hを内蔵して構成する。これにより、エアポンプ66を用いて常温空気をヒータケース65cの内部に一端側から供給すれば、ヒータケース65cの他端側からは加熱された加熱流体(加熱空気)Ahを得れるため、この加熱流体Ahをシリコン素材等により形成した供給チューブ67を介して気体通路11c…の一端に供給すればよい。なお、気体通路11c…の加熱流体Ahは、他端から排気チューブ68を介して排出される。この場合、加熱流体Ahの温度は、温度センサ69により検出し、温度制御器70により、加熱流体Ahの温度が60〜65〔℃〕になるようにヒータ65hをフィードバック制御する。加熱流体Ahは少ない風量で済むため、エアポンプ66は小型のダイヤフラムポンプで足りる。この変更例では、電気系の回路を温度変化の激しい試験槽2の近傍に配設しないため、漏電や故障等を回避する観点から有利となる。図8における補助加熱部11は補助冷却部としても利用できる。即ち、ヒータ65hをOFFにして気体通路11c…に常温の外気を供給すれば、高温状態の熱交換器3を冷却(余熱を除去)できるため、上述した冷却機構Mbの補助として用いることができる。   Moreover, the auxiliary heating part 11 shown in FIG. 8 distribute | circulates the heating fluid Ah to the gas channel | path 11c ... formed in the inside of the heat exchanger 3. As shown in FIG. In this case, 65 is a heating unit provided outside, and is configured by incorporating a heater 65h inside the heater case 65c. Accordingly, if normal temperature air is supplied into the heater case 65c from one end side using the air pump 66, a heated fluid (heated air) Ah can be obtained from the other end side of the heater case 65c. The fluid Ah may be supplied to one end of the gas passage 11c through a supply tube 67 formed of a silicon material or the like. The heating fluid Ah in the gas passages 11c is discharged from the other end via the exhaust tube 68. In this case, the temperature of the heating fluid Ah is detected by the temperature sensor 69, and the heater 65h is feedback-controlled by the temperature controller 70 so that the temperature of the heating fluid Ah becomes 60 to 65 [° C.]. Since the heating fluid Ah requires a small air volume, a small diaphragm pump is sufficient for the air pump 66. In this modified example, since an electric circuit is not disposed in the vicinity of the test tank 2 where the temperature changes drastically, it is advantageous from the viewpoint of avoiding electric leakage or failure. The auxiliary heating unit 11 in FIG. 8 can also be used as an auxiliary cooling unit. That is, by turning off the heater 65h and supplying ambient air to the gas passages 11c, the high-temperature heat exchanger 3 can be cooled (remaining heat is removed), and thus can be used as an auxiliary to the cooling mechanism Mb described above. .

図9は、熱交換器3に対して放冷用の気体Aaを送風する補助放冷部12を設けたものであり、加熱モード時に、熱交換器3の放冷能力を高めてサーモモジュール4…の加熱能力を上げることができる。なお、本明細書において、放冷とは、冷却された熱交換器3が温められる意味である。補助放冷部12は、図1の機体31において、第一通気口Cao,第二通気口Caiに付設して当該第一通気口Cao,第二通気口Caiをそれぞれ開閉するダンパ81a,81bを備える。この場合、ダンパ81a,81bは、不図示のソレノイド等により回動変位する。また、熱交換室Cc内の熱交換器3におけるフィン部3f…間のスリットの前後方向両側に位置する機体31の壁面には第一連通口82a,第二連通口82bをそれぞれ設けるとともに、第一連通口82a,第二連通口82bに、第二送風路Rsの両端がそれぞれ臨む送風路形成フレーム83を付設する。したがって、ダンパ81a,81bをそれぞれ90〔゜〕回動変位させることにより、第一通気口Cao,第二通気口Cai、又は第一連通口82a,第二連通口82bを、選択的に開閉できる。一方、送風路形成フレーム83の中途には、上下にフィン部を有するヒートシンク形の熱交換ユニット84を設け、上側を第二送風路Rsに臨ませ、下側を外気に臨ませる。85a,85bは第二送風路Rsに配した送風ファンである。   FIG. 9 is provided with an auxiliary cooling unit 12 that blows a cooling gas Aa to the heat exchanger 3, and in the heating mode, the cooling capacity of the heat exchanger 3 is increased and the thermo module 4 is increased. The heating ability can be increased. In the present specification, the term “cooling” means that the cooled heat exchanger 3 is warmed. The auxiliary cooling unit 12 includes dampers 81a and 81b which are attached to the first ventilation port Cao and the second ventilation port Cai and open and close the first ventilation port Cao and the second ventilation port Cai, respectively, in the airframe 31 of FIG. Prepare. In this case, the dampers 81a and 81b are rotationally displaced by a solenoid (not shown) or the like. In addition, the wall surface of the airframe 31 located on both sides in the front-rear direction of the slit between the fin portions 3f in the heat exchanger 3 in the heat exchange chamber Cc is provided with a first communication port 82a and a second communication port 82b, respectively. The air passage forming frame 83 is attached to the first air passage 82a and the second air passage 82b so that both ends of the second air passage Rs face each other. Accordingly, the dampers 81a and 81b are respectively rotated by 90 ° to selectively open and close the first vent hole Cao, the second vent hole Cai, or the first series of vent holes 82a and the second communication port 82b. it can. On the other hand, in the middle of the air passage forming frame 83, a heat sink type heat exchange unit 84 having fin portions on the upper and lower sides is provided, with the upper side facing the second air passage Rs and the lower side facing the outside air. Reference numerals 85a and 85b denote blower fans disposed in the second air passage Rs.

これにより、冷却モードでは、ダンパ81a,81bを変位させて、第一通気口Cao,第二通気口Caiを開き、かつ第一連通口82a,第二連通口82bを閉じれば、図1と同様の冷却モードを実行できる。これに対して、加熱モードでは、ダンパ81a,81bを変位させて、第一通気口Cao,第二通気口Caiを閉じ、かつ第一連通口82a,第二連通口82bを開くとともに、送風ファン85a,85bをONにすれば、第二送風路Rs内の気体は、熱交換ユニット84により温度が10〜35〔℃〕程度の常温付近に温められる。そして、温められた気体Aaは、点線矢印Faで示すように、第二送風路Rsに沿って循環し、熱交換器3に対する放冷(熱交換)が行われる。このように、熱交換器3に対して放冷用の気体Aaを送風する補助放冷部12を設ければ、サーモモジュール4…による加熱モード時には、サーモモジュール4…の放冷側における放冷効果を高めることによりサーモモジュール4…の加熱能力をより高めることができる利点がある。なお、図9における補助放冷部12は、冷却モード時には放熱用としても利用できる。また、ダンパ81a(81b)を、第一連通口82a(第二連通口82b)と第一通気口Cao(第二通気口Cai)の中間位置に位置させれば、第一連通口82a,第二連通口82b,第一通気口Cao及び第二通気口Caiを全て開放状態にして、急速放冷又は急速放熱することもできる。   Thus, in the cooling mode, if the dampers 81a and 81b are displaced to open the first vent hole Cao and the second vent hole Cai and close the first series of vent holes 82a and the second communication port 82b, FIG. A similar cooling mode can be performed. On the other hand, in the heating mode, the dampers 81a and 81b are displaced, the first vent hole Cao and the second vent hole Cai are closed, the first series of vent holes 82a and the second communication port 82b are opened, and air is blown. If the fans 85a and 85b are turned on, the gas in the second air passage Rs is warmed by the heat exchanging unit 84 to a temperature around 10 to 35 [° C.]. And the warmed gas Aa circulates along the 2nd ventilation path Rs as shown by the dotted line arrow Fa, and the heat exchanger 3 is left to cool (heat exchange). Thus, if the auxiliary cooler 12 that blows the gas Aa for cooling to the heat exchanger 3 is provided, in the heating mode by the thermo modules 4..., The cool on the cool side of the thermo modules 4. By increasing the effect, there is an advantage that the heating capacity of the thermo modules 4 can be further increased. The auxiliary cooling unit 12 in FIG. 9 can also be used for heat dissipation in the cooling mode. Further, if the damper 81a (81b) is positioned at an intermediate position between the first series opening 82a (second communication opening 82b) and the first ventilation opening Cao (second ventilation opening Cai), the first series opening 82a. , The second communication port 82b, the first ventilation port Cao and the second ventilation port Cai can all be opened to quickly cool or release heat.

図10は、送風部17に、熱交換器3と冷却気体室Ca間における循環送風路Rを開閉する開閉機構部18を設けたものである。即ち、機体31の上面であって試験槽機構Maの左右両側の位置にエアシリンダ91a,91bを配設するとともに、このエアシリンダ91a,91bの出力ロッドに連結した弁シャフト92a,92bを熱交換室Ccの内部に至らせる。そして、弁シャフト92a,92bの先端(下端)に、弁部93a,93bを取付け、この弁部93a,93bは、それぞれ第一通気口Cao,第二通気口Caiの真上に臨ませる。このように、送風部17に、熱交換器3と冷却気体室Ca間における循環送風路Rを開閉する開閉機構部18を設ければ、冷却気体Acの非使用時であっても、冷却気体Acが気体冷却部15から熱交換器3側へ漏れるのを確実に防止できる利点がある。   In FIG. 10, an opening / closing mechanism 18 that opens and closes the circulation air passage R between the heat exchanger 3 and the cooling gas chamber Ca is provided in the air blowing unit 17. That is, the air cylinders 91a and 91b are disposed on the upper surface of the body 31 on the left and right sides of the test tank mechanism Ma, and the valve shafts 92a and 92b connected to the output rods of the air cylinders 91a and 91b are heat exchanged. The interior of the chamber Cc is reached. And valve part 93a, 93b is attached to the front-end | tip (lower end) of valve shaft 92a, 92b, and this valve part 93a, 93b is made to face the 1st ventilation port Cao and the 2nd ventilation port Cai, respectively. Thus, if the opening / closing mechanism part 18 that opens and closes the circulation air passage R between the heat exchanger 3 and the cooling gas chamber Ca is provided in the air blowing part 17, the cooling gas is used even when the cooling gas Ac is not used. There exists an advantage which can prevent reliably that Ac leaks from the gas cooling part 15 to the heat exchanger 3 side.

図11は、試験槽機構Maにおけるカバー部6に、試験槽2の内部の空気を撹拌する撹拌機構部20を設けることにより、熱衝撃試験用の試験槽機構Maeとして構成したものである。この場合、撹拌機構部20は、カバー部6の上面に取付けたモータ95を備え、このモータ95の回転シャフトに連結した回転シャフト96を凹部37内に臨ませることにより、回転シャフト96先端(下端)に、撹拌用ファン97を取付ける。また、撹拌用ファン97の回転を妨げない位置には、ステンレス素材を用いたネットにより構成した上バケット98uを配設する。一方、伝熱プレート5の上面には、アルミニウム素材又は銅素材で形成したヒートシンク形の熱交換ブロック99を載置するとともに、この熱交換ブロック99の上に所定の隙間を開けて、ステンレス素材を用いたネットにより構成した下バケット98dを設置する。これにより、カバー部6を閉じれば、上バケット98uが下バケット98dを覆うため、下バケット98dに被試験体P…をセットし、撹拌用ファン97を回転させれば、被試験体P…に対する熱衝撃試験を行うことができる。このように、試験槽機構Maにおけるカバー部6に、試験槽2の内部の空気を撹拌する撹拌機構部20を設けることにより、熱衝撃試験用の試験槽機構Maeとして構成すれば、カバー部6以外の構成をそのまま利用して熱衝撃試験を行うことができる。したがって、例えば、熱衝撃試験用のカバー部をオプション扱いとして、カバー部6と交換可能に構成すれば、熱試験装置(熱衝撃試験装置)から熱衝撃試験装置(熱試験装置)に容易に変更できる。   FIG. 11 is configured as a test tank mechanism Mae for a thermal shock test by providing a stirring mechanism section 20 for stirring the air inside the test tank 2 in the cover section 6 of the test tank mechanism Ma. In this case, the stirring mechanism unit 20 includes a motor 95 attached to the upper surface of the cover unit 6, and the rotating shaft 96 connected to the rotating shaft of the motor 95 faces the recessed portion 37, so that the tip of the rotating shaft 96 (lower end) ) Is attached with a stirring fan 97. Further, an upper bucket 98 u formed of a net using a stainless material is disposed at a position where the rotation of the stirring fan 97 is not hindered. On the other hand, on the upper surface of the heat transfer plate 5, a heat sink type heat exchange block 99 formed of an aluminum material or a copper material is placed, and a predetermined gap is opened on the heat exchange block 99 so that a stainless steel material is placed. A lower bucket 98d constituted by the net used is installed. Thus, when the cover 6 is closed, the upper bucket 98u covers the lower bucket 98d, so that the DUT P is set in the lower bucket 98d and the agitating fan 97 is rotated. A thermal shock test can be performed. Thus, if it comprises as the test tank mechanism Mae for thermal shock tests by providing the stirring mechanism part 20 which stirs the air inside the test tank 2 in the cover part 6 in the test tank mechanism Ma, the cover part 6 The thermal shock test can be performed using the configuration other than that as it is. Therefore, for example, if the cover for the thermal shock test is treated as an option and can be replaced with the cover 6, the thermal test device (thermal shock test device) can be easily changed to the thermal shock test device (thermal test device). it can.

なお、図7〜図11に示す変更実施形態において、図1〜図6と同一部分(同一機能部分)には同一符号を付してその構成を明確にした。したがって、図7〜図11において、図1〜図6と同一部分(同一機能部分)の詳細な説明は省略する。   In addition, in the modified embodiment shown in FIGS. 7-11, the same code | symbol was attached | subjected to the same part (same functional part) as FIGS. 1-6, and the structure was clarified. Therefore, in FIGS. 7 to 11, detailed description of the same parts (same function parts) as those in FIGS. 1 to 6 is omitted.

以上、最良の実施形態について詳細に説明したが、本発明は、このような実施形態に限定されるものではなく、細部の構成,形状,素材,数量,数値等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更,追加,削除することができる。   Although the best embodiment has been described in detail above, the present invention is not limited to such an embodiment, and departs from the gist of the present invention in the detailed configuration, shape, material, quantity, numerical value, and the like. It can be changed, added, or deleted as long as it is not.

例えば、冷却気体Acとして窒素ガスを用いた場合を示したが、他の不活性ガスや除湿空気を用いてもよい。なお、この場合の除湿空気は、外部から除湿空気を封入する場合と、封入した通常の空気を機体31に内蔵した除湿装置により除湿する場合を含む。また、サーモモジュール4を構成するペルチュ素子は、例えば、二段重ねにより構成するなど、その構成は任意である。さらに、冷却器7としてスターリングクーラ7sを用いた場合を示したが、他の冷却器7の使用を排除するものではない。したがって、ペルチェ素子を利用した冷却器7であってもよい。一方、補助加熱部11は、例示した補助加熱部以外の加熱手段であってもよいし、必要により異なる複数の補助加熱部を組合わせることもできる。なお、本実施形態に係る熱試験装置1は、小型電子部品(被試験体P…)の熱試験に用いて最適であるが、小型電子部品のみならず試験槽2にセットできる各種中型及び大型の電子部品をはじめ、電子部品以外の各種部品や物品などの熱試験にも同様に利用することができる。   For example, although the case where nitrogen gas was used as the cooling gas Ac was shown, other inert gas or dehumidified air may be used. The dehumidified air in this case includes a case where dehumidified air is sealed from the outside and a case where the enclosed normal air is dehumidified by a dehumidifying device built in the body 31. Further, the Peltu elements constituting the thermo module 4 may be configured arbitrarily, for example, by being constituted by two-stage overlapping. Furthermore, although the case where the Stirling cooler 7s was used as the cooler 7 was shown, use of the other cooler 7 is not excluded. Therefore, the cooler 7 using a Peltier device may be used. On the other hand, the auxiliary heating unit 11 may be a heating means other than the illustrated auxiliary heating unit, or a plurality of different auxiliary heating units may be combined as necessary. Note that the thermal test apparatus 1 according to the present embodiment is optimal for use in a thermal test of small electronic components (device under test P...), But various medium and large sizes that can be set in the test tank 2 as well as small electronic components. In addition, it can be used in the same manner for thermal testing of various electronic parts and other parts and articles.

本発明の最良の実施形態に係る熱試験装置の一部断面正面図、A partial cross-sectional front view of a thermal test apparatus according to the best embodiment of the present invention, 同熱試験装置の一部断面側面図、A partial cross-sectional side view of the thermal test apparatus, 同熱試験装置における試験槽機構を拡大して示す断面正面図、Sectional front view showing enlarged test tank mechanism in the same thermal test apparatus, 同熱試験装置における制御系を示すブロック系統図、Block system diagram showing a control system in the thermal test apparatus, 同熱試験装置により熱試験を行う際における制御パターン図、Control pattern diagram when performing a thermal test with the same thermal test equipment, 同熱試験装置の使用方法及び動作を説明するためのフローチャート、A flow chart for explaining a method of use and operation of the thermal test apparatus; 本発明の変更実施形態に係る熱試験装置における補助加熱部の変更例を示し、(a)は正面方向から見た断面構成図、(b)は側面方向から見た構成図、The modification example of the auxiliary | assistant heating part in the thermal test apparatus which concerns on the modified embodiment of this invention is shown, (a) is the cross-sectional block diagram seen from the front direction, (b) is the block diagram seen from the side surface direction, 同熱試験装置における補助加熱部の他の変更例を示す一部断面正面図、A partial cross-sectional front view showing another modified example of the auxiliary heating unit in the same thermal test apparatus, 本発明の他の変更実施形態に係る熱試験装置であって補助放冷部の構成を含む一部断面正面図、It is a thermal test apparatus according to another modified embodiment of the present invention, a partial cross-sectional front view including the configuration of the auxiliary cooling unit, 本発明の他の変更実施形態に係る熱試験装置であって開閉機構部の構成を含む一部断面正面図、It is a thermal test apparatus according to another modified embodiment of the present invention, a partial cross-sectional front view including the configuration of the opening and closing mechanism part, 本発明の他の変更実施形態に係る熱試験装置であって熱衝撃試験用の試験槽機構を含む一部断面正面図、A partial cross-sectional front view including a test tank mechanism for a thermal shock test, which is a thermal test apparatus according to another modified embodiment of the present invention,

符号の説明Explanation of symbols

1:熱試験装置,2:試験槽,2d:試験槽の底面部,3:熱交換器,3f…:フィン部,4…:サーモモジュール,5:伝熱プレート,6:カバー部,7:冷却器,7s:スターリングクーラ,7cs:スターリングクーラの冷却部,8:コントローラ,11:補助加熱部,11a…:ヒータ,11b…:棒状のヒータ,11c…:気体通路,12:補助放冷部,15:気体冷却部,16a:送風ファン,16b:送風ファン,17:送風部,18:開閉機構部,19:気体供給部,20:撹拌機構部,32:仕切壁部,P…:被試験体,Ma:試験槽機構,Mb:冷却機構,Mae:熱衝撃試験用の試験槽機構,Ac:冷却気体,Ah:加熱流体,Aa:放冷用の気体,Ca:冷却気体室,Cao:第一通気口,Cai:第二通気口,Cc:熱交換室,R:循環送風路   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1: Thermal test apparatus, 2: Test tank, 2d: Bottom part of test tank, 3: Heat exchanger, 3f ...: Fin part, 4 ...: Thermo module, 5: Heat transfer plate, 6: Cover part, 7: Cooler, 7s: Stirling cooler, 7cs: Stirling cooler cooling unit, 8: Controller, 11: Auxiliary heating unit, 11a ...: Heater, 11b ...: Rod heater, 11c ...: Gas passage, 12: Auxiliary cooling unit 15: Gas cooling section, 16a: Blower fan, 16b: Blower fan, 17: Blower section, 18: Opening / closing mechanism section, 19: Gas supply section, 20: Stirring mechanism section, 32: Partition wall section, P ...: Covered Specimen, Ma: Test tank mechanism, Mb: Cooling mechanism, Mae: Test tank mechanism for thermal shock test, Ac: Cooling gas, Ah: Heated fluid, Aa: Cooling gas, Ca: Cooling gas chamber, Cao : First vent, Cai: Second vent, C : Heat exchange chamber, R: circulating air passage

Claims (6)

試験槽の内部に収容した被試験体に少なくとも高温環境と低温環境を交互に付与可能に構成して前記被試験体に対する熱試験を行う熱試験装置において、下方に突出するフィン部を有するヒートシンク形の熱交換器の上面にペルチェ素子を用いた少なくとも一つ以上のサーモモジュールを配し、かつこのサーモモジュールの上面に伝熱プレートを配するとともに、この伝熱プレートに対して開閉するカバー部を設け、このカバー部を閉じた際に前記伝熱プレートを底面部とする前記試験槽を構成する試験槽機構と、前記フィン部が臨む熱交換室と、この熱交換室の下方に仕切壁部を介して設けた冷却気体室及びこの冷却気体室に冷却部を臨ませたスターリングクーラを用いた冷却器を有する気体冷却部を備えるとともに、前記冷却気体室から第一通気口を経て前記熱交換室に至り、かつこの熱交換室から第二通気口を経て前記冷却気体室に至る循環送風路,この循環送風路に前記冷却気体を循環送風する送風ファン,及び前記熱交換室と前記冷却気体室間における循環送風路を開閉する開閉機構部を有する送風部を備える冷却機構と、前記サーモモジュール及び前記冷却器の作動を制御するコントローラとを具備してなることを特徴とする熱試験装置。   In a thermal test apparatus for performing a thermal test on the DUT by alternately providing a high temperature environment and a low temperature environment to the DUT accommodated in the test tank, a heat sink type having a fin portion protruding downward At least one thermo module using a Peltier element is arranged on the upper surface of the heat exchanger, and a heat transfer plate is arranged on the upper surface of the thermo module, and a cover portion that opens and closes to the heat transfer plate is provided. A test tank mechanism that constitutes the test tank having the heat transfer plate as a bottom surface portion when the cover portion is closed, a heat exchange chamber facing the fin portion, and a partition wall portion below the heat exchange chamber A cooling gas chamber provided via the cooling gas chamber and a gas cooling unit having a cooler using a Stirling cooler with the cooling unit facing the cooling gas chamber, and from the cooling gas chamber A circulation fan passage that leads to the heat exchange chamber through one vent hole and from the heat exchange chamber to the cooling gas chamber through a second vent hole, a blower fan that circulates and sends the cooling gas to the circulation fan passage, and A cooling mechanism including a blower having an opening / closing mechanism that opens and closes a circulation blower path between the heat exchange chamber and the cooling gas chamber; and a controller that controls the operation of the thermo module and the cooler. Thermal test equipment characterized by 前記試験槽機構は、前記サーモモジュールに加えて補助加熱部を備えることを特徴とする請求項1記載の熱試験装置。   The thermal test apparatus according to claim 1, wherein the test tank mechanism includes an auxiliary heating unit in addition to the thermo module. 前記補助加熱部は、少なくとも、前記サーモモジュールに並べて配したヒータを用いた補助加熱部,前記熱交換器の内部に埋設した棒状のヒータを用いた補助加熱部,前記熱交換器の内部に形成した気体通路に加熱流体を流通させる補助加熱部,の一又は二以上を用いることを特徴とする請求項2記載の熱試験装置。   The auxiliary heating unit is formed at least in the auxiliary heating unit using a heater arranged side by side in the thermo module, the auxiliary heating unit using a rod-shaped heater embedded in the heat exchanger, and the heat exchanger The thermal test apparatus according to claim 2, wherein one or two or more auxiliary heating parts for circulating a heating fluid through the gas passage are used. 前記熱交換器に対して放冷用の気体を送風する補助放冷部を備えることを特徴とする請求項1記載の熱試験装置。   The thermal test apparatus according to claim 1, further comprising an auxiliary cooling unit that blows a cooling gas to the heat exchanger. 前記冷却機構は、前記循環送風路に対して除湿空気又は不活性ガスを供給する気体供給部を備えることを特徴とする請求項1記載の熱試験装置。   The thermal test apparatus according to claim 1, wherein the cooling mechanism includes a gas supply unit that supplies dehumidified air or an inert gas to the circulation air passage. 前記試験槽機構は、前記カバー部に、前記試験槽の内部の空気を撹拌する撹拌機構部を設けることにより、熱衝撃試験用の試験槽機構として構成することを特徴とする請求項1記載の熱試験装置。   The said test tank mechanism is comprised as a test tank mechanism for thermal shock tests by providing the stirring mechanism part which stirs the air inside the said test tank in the said cover part. Thermal test equipment.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5378895B2 (en) * 2009-07-08 2013-12-25 チヨダエレクトリック株式会社 Pressure vessel
JP5552452B2 (en) * 2011-03-04 2014-07-16 パナソニック株式会社 Heating / cooling test method and heating / cooling test apparatus
CN102262100B (en) * 2011-04-22 2014-12-31 中国电力科学研究院 Novel thermal resistance and flow resistance test device for radiator
CN108872304B (en) * 2018-06-25 2019-04-09 西安交通大学 A steam generator inclined tube bundle heat transfer experimental device and method
CN109030557B (en) * 2018-10-15 2023-08-08 南京航空航天大学 Device and method for testing heat transfer performance of temperature control plate of power battery of electric automobile
EP3699515B1 (en) * 2019-02-20 2023-01-11 Weiss Technik GmbH Temperature-controlled chamber and method
CN115616027B (en) * 2022-10-13 2023-10-13 江苏瑞亿扬材料科技有限公司 PVC calendering membrane temperature resistance detection device and detecting system
CN118010786B (en) * 2024-04-09 2024-06-21 深圳市正天伟科技有限公司 Circuit board blind hole filling electroplating detection equipment and detection method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682354A (en) * 1992-08-31 1994-03-22 Tabai Espec Corp Low/high temperature exposing test device
JPH08136442A (en) * 1994-11-07 1996-05-31 Katoo:Kk Rapid temperature rise and fail type thermal shock test equipment
JPH1114697A (en) * 1997-06-23 1999-01-22 Crest:Kk Temperature controlled type product inspecting apparatus
JP3280923B2 (en) * 1998-11-02 2002-05-13 三洋電機株式会社 Heat shock testing machine
JP4321539B2 (en) * 2006-03-28 2009-08-26 住友電気工業株式会社 Device evaluation apparatus and device evaluation method
EP1850110A1 (en) * 2006-04-25 2007-10-31 Mettler-Toledo AG Measuring device for gravimetric moisture determination

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