JP4875891B2 - 耐電圧試験装置 - Google Patents

Description

本発明は耐電圧試験装置に関し、さらに詳しく言えば、不合格判定とされた場合の不良品解析を行いやすくした耐電圧試験装置に関するものである。

電気・電子機器の安全性および信頼性を評価するパラメータとしては、第１に電気絶縁性があげられる。絶縁は事故防止のための重要な要素であり、そのため、ＩＥＣ規格，ＵＬ規格，電気用品安全法などの各種安全規格により、その試験方法が規定されている。

試験電圧や試験時間は製品ごとに決められているが、基本的には、電圧発生部より製品（被試験体）の電極端子間に所定の試験電圧（一般的には交流電圧）を印加し、そのとき被試験体に流れる試験電流（漏れ電流）Ｉａを測定して、あらかじめ設定されている閾値Ｉｂと比較し、Ｉａ＜Ｉｂ（もしくはＩａ≦Ｉｂ）であればＰＡＳＳ（合格）判定とし、Ｉａ≧Ｉｂ（もしくはＩａ＞Ｉｂ）であればＦＡＩＬ（不合格）判定とする。

図５に従来一般的に行われている耐電圧試験のフローチャートを示す。まず、ユーザーによって被試験体に印加する「試験電圧」，合否判定基準となる「試験電流の閾値」および「試験時間」が設定されたのち、試験が開始される。この試験中、測定部により被試験体に流れる試験電流Ｉａが測定され、試験電流Ｉａと試験電流の閾値Ｉｂとの大小関係が判断される。

その結果、Ｉａ＜Ｉｂであれば、試験時間が経過するまで試験を継続し、試験時間経過後にＰＡＳＳ判定を出す。これに対して、Ｉａ≧Ｉｂであれば、試験時間の経過を待つことなくその時点で試験を停止してＦＡＩＬ判定を出す。
特開２００３−２８９１５号公報

試験電流の閾値Ｉｂを設定する場合、通常では安全をみて絶縁破壊に至る電流値よりも低めに設定される。一例として、絶縁破壊に至る電流値が４０ｍＡであるとして、試験電流の閾値Ｉｂが２０ｍＡに設定されると、上記従来例では、試験電流Ｉａがこれをわずかに上回った場合（例えば２０．１ｍＡ）でも、試験を停止してＦＡＩＬ判定が出される。

ＰＡＳＳかＦＡＩＬかだけを選別するのであれば、上記のように試験電流Ｉａが閾値Ｉｂをわずかに上回った場合でも試験を停止することに問題はないが、ＦＡＩＬ判定が出されたとき、どの程度の試験電流Ｉａが流れてＦＡＩＬ判定となったのかを知ることができない。

すなわち、閾値Ｉｂをわずかに超えてＦＡＩＬ判定になったのか、閾値Ｉｂを大きく超える試験電流Ｉａが流れてＦＡＩＬ判定になったのかを判断できないため、その不良品の解析を行う場合には、閾値Ｉｂを設定し直して再度試験を行う必要がある。

この点を解決するには、ＦＡＩＬ判定時に、そのときの試験電流値を表示するようにすればよい。しかしながら、通常、試験電流値の表示には平均値が用いられるため、ＦＡＩＬ判定時にその時点で試験が停止してしまうと平均値演算が間に合わず、したがってＦＡＩＬ判定時に試験電流値を表示することはできない。

したがって、本発明の課題は、耐電圧試験において、ＦＡＩＬ判定とされた場合、どの程度の試験電流が流れてＦＡＩＬ判定となったのかを解析しやすくすることにある。

上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、被試験体に対して所定の試験電圧を印加する電圧発生部と、上記試験電圧の印加により上記被試験体に流れる試験電流を測定する測定部と、制御部と、上記制御部に少なくとも試験電圧値，試験時間および合否判定基準となる試験電流の閾値を設定する試験条件入力部と、試験結果を表示する表示部とを含み、上記試験条件入力部より設定される各試験条件に基づいて上記制御部により上記電圧発生部が制御され、上記測定部にて測定される上記試験電流の値により上記被試験体の耐電圧特性を検査する耐電圧試験装置において、上記試験条件入力部より上記制御部に対して、上記試験電流の閾値とは別に上記試験電流の閾値よりも大きな試験停止電流値が設定可能であり、上記制御部は、試験開始後から上記試験条件入力部から設定された上記試験時間の間、上記測定部にて測定される上記試験電流を監視し、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも小さい場合には、上記試験時間経過後、上記表示部に合格判定を出力する第１ルーチンを実行し、上記試験電流が上記試験停止電流値よりも大きい場合には、上記試験時間の経過を待つことなく、上記試験電流が上記試験停止電流値よりも大きいと判定された時点で試験を停止して上記表示部に不合格判定を出力する第２ルーチンを実行し、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい場合には、上記試験時間が終了するまで試験を継続して上記表示部に不合格判定を出力する第３ルーチンを実行することを特徴としている。

請求項２に記載の発明は、上記請求項１において、上記制御部は、上記第２ルーチンの場合、上記表示部に上記試験時間の経過前に試験を停止したことを意味する表示を出力し、上記第３ルーチンの場合、上記表示部に上記試験時間まで試験を継続したことを意味する表示を出力することを特徴としている。

請求項３に記載の発明は、上記請求項１または２において、上記制御部は、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい場合に実行される上記第３ルーチンにおいて、上記試験時間の終了時点で、上記試験電流が上記試験電流の閾値より小さくなった場合でも、上記表示部に不合格判定を出力することを特徴としている。

請求項４に記載の発明は、上記請求項１ないし３のいずれか１項において、上記制御部は、上記試験時間中に、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも小さい合格判定期間と、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい不合格判定期間の双方が含まれる場合には、上記試験時間が終了するまで試験を継続して上記表示部に非断定的不合格判定を出力することを特徴としている。

請求項５に記載の発明は、上記請求項１ないし４のいずれか１項において、上記制御部は、上記試験停止電流値を所定の料率をもって上記試験電流の閾値と連動して設定することを特徴としている。

請求項１に記載の発明によれば、合否判定基準となる試験電流の閾値と、それよりも大きな試験停止電流値とが設定され、被試験体に流れる試験電流が試験電流の閾値よりも大きいとき不合格（ＦＡＩＬ）判定が出されるが、試験電流が試験停止電流値よりも大きい場合には、その時点で試験を停止するのに対して、試験電流が試験電流の閾値よりも大きく、かつ、試験停止電流値よりも小さい場合には、試験時間が終了するまで試験が継続されるため、これによりＦＡＩＬ判定時における試験電流が、試験停止電流値よりも小さいのか、試験停止電流値よりも大きいのかを区別することができ、不良品の解析を行いやすくなる。

請求項２に記載の発明によれば、第２ルーチンの場合には、表示部に試験時間の経過前に試験を停止したことを意味する表示が出力され、第３ルーチンの場合には、表示部に試験時間まで試験を継続したことを意味する表示が出力されるため、例えばユーザーが試験装置に付きっきりでなくても、その表示を見ることにより、ＦＡＩＬ判定時における試験電流が、試験停止電流値よりも小さいのか、試験停止電流値よりも大きいのかを即座に認識することができる。

請求項３に記載の発明によれば、試験電流が試験電流の閾値よりも大きく、かつ、試験停止電流値よりも小さい場合に実行される第３ルーチンにおいて、試験時間の終了時点で、試験電流が試験電流の閾値より小さくなった場合でも、表示部に不合格判定が出力されることにより、一旦耐圧不良を示した被試験体を見逃すことなく不合格判定とすることができ、信頼性の高い耐電圧試験を行うことができる。

請求項４に記載の発明によれば、試験時間中に、試験電流が試験電流の閾値よりも小さい合格判定期間と、試験電流が試験電流の閾値よりも大きく、かつ、試験停止電流値よりも小さい不合格判定期間の双方が含まれる場合には、試験時間が終了するまで試験を継続して表示部に非断定的不合格判定が出力されるため、ユーザーに対して、被試験体が一時的に耐圧不良となった原因の一つとして、試験条件や操作方法などの見直しを示唆することができる。

また、請求項５に記載の発明によれば、試験停止電流値が所定の料率をもって試験電流の閾値と連動して設定されるため、試験の都度、試験停止電流値を設定する手間を省くことができる。

次に、図１ないし図４により本発明のいくつかの実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図１は本発明による耐電圧試験装置の一例を示す概略的なブロック図，図２は本発明の第１実施形態に係る動作フローチャート，図３および図４は本発明の第２実施形態，第３実施形態に係る動作フローチャートである。

図１に示すように、この耐電圧試験装置は、被試験体ＥＵＴに対して所定の試験電圧を印加する電圧発生部１１と、その試験電圧の印加により被試験体ＥＵＴに流れる試験電流Ｉａを測定する測定部１２と、制御部１３と、制御部１３に試験条件を与える入力部１４と、試験結果を表示する表示部１５および試験結果を図示しないパソコンなどの外部機器に送信するための出力部１６とを備える。

被試験体ＥＵＴは、電気・電子機器，電子部品，電子材料などであってよく、図示しない一対の電極端子間に電圧発生部１１より試験電圧が印加される。耐電圧試験装置では、電圧発生部１１に交流電源が用いられるのが一般的であるが、場合によっては、直流電源が用いられてもよい。試験電圧は、被試験体ＥＵＴごとに決められる。

測定部１２は、被試験体ＥＵＴの試験電流Ｉａが流される電流検出抵抗と、電流検出抵抗に生ずる電圧降下を測定する電圧計（ともに図示しない）とにより構成することができる。制御部１３には、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）やマイクロコンピュータなどが用いられてよい。

制御部１３には、入力部１４より各種の試験条件が設定されるが、本発明によると、その試験条件には、試験電圧，試験時間，合否判定基準となる試験電流の閾値Ｉｂのほかに、試験停止電流値Ｉｃが含まれる。入力部１４には、キーボードなどの操作盤が用いられてよい。

この試験停止電流値Ｉｃは、試験電流の閾値Ｉｂよりも大きな値であって、好ましくは被試験体ＥＵＴが明らかに絶縁破壊を起こすであろうと判断される電流値が採用される。なお、試験停止電流値Ｉｃは、各被試験体ＥＵＴごとに設定されてもよいが、一律に試験電流の閾値Ｉｂの例えば５０％増のように、所定の料率をもって試験電流の閾値Ｉｂと連動して設定することもできる。

制御部１３は、測定部１２から入力される試験電流Ｉａと試験電流の閾値Ｉｂとの大小関係および試験電流Ｉａと試験停止電流値Ｉｃとの大小関係を判定する。すなわち、Ｉａ＜ＩｂであればＰＡＳＳ（合格）判定とし、Ｉｂ≦Ｉａ≦ＩｃであればＦＡＩＬ（不合格）判定とするが、この場合試験は試験時間終了まで続行する。Ｉａ＞Ｉｃであれば、ＦＡＩＬ判定とし、その時点で電圧発生部１１を出力を止めて試験を停止する。

なお、上記のように大小関係を判定する場合、等号の付け方は上記の例に限定されず、別の例として、Ｉａ≦Ｉｂ，Ｉｂ＜Ｉａ＜Ｉｃ，Ｉａ≧ＩｃもしくはＩａ≦Ｉｂ，Ｉｂ＜Ｉａ≦Ｉｃ，Ｉａ＞Ｉｃなどのようにしてもよい。

表示部１５には、液晶表示パネルやプラズマディスプレイが好ましく採用されるが、プリンタが用いられてもよい。また、出力部１６は所定のプロトコルで外部機器と通信できるものであれば、いずれも採用されてよい。

次に、図２のフローチャートにしたがって、本発明の第１実施形態の動作例について説明する。まず、試験前の準備として、ステップＳＴ２１〜ＳＴ２４で、試験電圧，試験電流の閾値Ｉｂ，試験時間，試験停止電流値Ｉｃを設定する。なお、ステップＳＴ２１〜ＳＴ２４は順不同である。耐電圧試験において、試験時間は通常１分程度である。

ステップＳＴ２５で試験が開始されると、ステップＳＴ２６で被試験体ＥＵＴに流れる試験電流Ｉａが検出（測定）され、次段のステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂかを判断する。その結果がＮＯでＩａ＜Ｉｂであれば、ステップＳＴ２８で試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過していなければステップＳＴ２６に戻り、Ｉａ＜Ｉｂの状態で試験時間が経過した場合には、ステップＳＴ２９で表示部１５にＰＡＳＳ（合格）判定を表示し、試験を終了する。

上記ステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂの場合には、ステップＳＴ３０に移行して表示部１５にＦＡＩＬ判定を行う。そして、ステップＳＴ３１でＩａ≧Ｉｃかを判断し、その結果がＹＥＳでＩａ≧Ｉｃの場合には、ステップＳＴ３２で表示部１５にＦＡＩＬ（不合格）判定とともにＩａ≧Ｉｃであることを表示し、その時点で試験を終了（強制停止）する。

上記ステップＳＴ３１の判断結果がＮＯでＩａ＜Ｉｃであれば、ステップＳＴ３３で試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過していなければステップＳＴ２６に戻り、Ｉａ＜Ｉｃの状態で試験時間が経過した場合には、ステップＳＴ３４で表示部１５にＦＡＩＬ判定とともに試験時間経過後であることを表示して、試験を終了する。

このようにして、第１実施形態によれば、ＦＡＩＬ判定がなされた場合、上記ステップＳＴ３２，ＳＴ３４での表示により、試験電流Ｉａが試験停止電流値Ｉｃよりも小さいのか、試験停止電流値Ｉｃよりも大きいのかを区別することができ、上記従来例のように、閾値Ｉｂを設定し直して再度試験を行う必要がなくなる。

なお、上記の例では、ステップＳＴ３２でＩａ≧Ｉｃであることを表示するようにしているが、これとともにもしくはこれに代えて試験時間経過前の試験停止であることを表示してもよい。また、ステップＳＴ３４では試験時間経過後であることを表示するようにしているが、これとともにもしくはこれに代えてＩｂ＜Ｉａ＜Ｉｃであることを表示してもよい。

さらには、ステップＳＴ３２，ＳＴ３４においてＦＡＩＬ判定のみを表示させてもよく、この場合には、ユーザーは試験時間の長短、すなわち試験終了が試験時間経過前であるか試験時間満了によるものであるかによって、試験電流Ｉａが試験停止電流値Ｉｃよりも小さいか、大きいかを判断することになる。

次に、図３のフローチャートにしたがって、本発明の第２実施形態の動作例について説明する。この第２実施形態においても、上記第１実施形態と同じく、ステップＳＴ２１〜〜ＳＴ２４で、試験電圧，試験電流の閾値Ｉｂ，試験時間，試験停止電流値Ｉｃを設定する。なお、ステップＳＴ２１〜ＳＴ２４は順不同であってよい。ステップＳＴ２５で試験が開始されると、ステップＳＴ２６で被試験体ＥＵＴに流れる試験電流Ｉａが検出（測定）され、次段のステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂかを判断する。

上記ステップＳＴ２７での判断がＮＯでＩａ＜Ｉｂであれば、ステップＳＴ２８ａで試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過するまでステップＳＴ２６，ステップＳＴ２７を繰り返し実行する。これに対して、上記ステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂの場合、この第２実施形態では、ステップＳＴ２９ａでＦＡＩＬフラグを立てたのち、ステップＳＴ３０ａでＩａ≧Ｉｃかを判断する。

上記ステップＳＴ３０ａでの判断がＹＥＳでＩａ≧Ｉｃの場合には、ステップＳＴ３３ａで表示部１５にＦＡＩＬ判定とともに、上記第１実施形態と同様にＩａ≧Ｉｃであることを表示し、その時点で試験を終了（強制停止）する。

上記ステップＳＴ３０ａの判断結果がＮＯでＩａ＜Ｉｃであれば、ステップＳＴ２８ａで試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過していなければステップＳＴ２６に戻る。そして、試験時間が経過した時点で、ステップＳＴ３１ａでＦＡＩＬフラグが立っているかどうかを判断する。

上記ステップＳＴ３１ａでの判断がＮＯでＦＡＩＬフラグが立っていない場合、ステップＳＴ３２ａで表示部１５にＰＡＳＳ判定を表示し、試験を終了する。これに対して、上記ステップＳＴ３１ａでの判断がＹＥＳでＦＡＩＬフラグが立っているときには、ステップＳＴ３３ａで表示部１５にＦＡＩＬ判定とともに、この場合には上記第１実施形態と同様に試験時間経過後であることを表示して、試験を終了する。

上記第２実施形態によれば、試験電流Ｉａが試験電流の閾値Ｉｂよりも大きい場合、ステップＳＴ２９ａで必ずＦＡＩＬフラグが立てられるため、試験電流Ｉａが試験停止電流値Ｉｃよりも小さい場合で、試験時間経過後に何らかの原因で試験電流Ｉａが試験電流の閾値Ｉｂよりも小さくなったとしても、ＰＡＳＳ判定が行われず、ＦＡＩＬ判定がなされることにより、一旦耐圧不良を示した被試験体を見逃すことなく不合格判定とすることができ、信頼性の高い耐電圧試験を行うことができる。

次に、図４のフローチャートにしたがって、本発明の第３実施形態の動作例について説明する。この第３実施形態においても、上記第１実施形態と同じく、ステップＳＴ２１〜〜ＳＴ２４で、試験電圧，試験電流の閾値Ｉｂ，試験時間，試験停止電流値Ｉｃを設定する。なお、ステップＳＴ２１〜ＳＴ２４は順不同であってよい。ステップＳＴ２５で試験が開始されると、ステップＳＴ２６で被試験体ＥＵＴに流れる試験電流Ｉａが検出（測定）され、次段のステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂかを判断する。

上記ステップＳＴ２７での判断がＮＯでＩａ＜Ｉｂの場合、この第３実施形態では、ステップＳＴ２７ｂでＰＡＳＳフラグを立てたのち、ステップＳＴ２８ｂで試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過するまでステップＳＴ２６，ステップＳＴ２７を繰り返し実行する。

これに対して、上記ステップＳＴ２７でＩａ≧Ｉｂの場合、この第３実施形態においても、上記第２実施形態と同じく、ステップＳＴ２９ｂでＦＡＩＬフラグを立てたのち、ステップＳＴ３０ｂでＩａ≧Ｉｃかを判断する。

上記ステップＳＴ３０ｂでの判断がＹＥＳでＩａ≧Ｉｃの場合には、ステップＳＴ３４ｂで表示部１５にＦＡＩＬ判定とともに、上記第１実施形態と同様にＩａ≧Ｉｃであることを表示し、その時点で試験を終了（強制停止）する。

上記ステップＳＴ３０ｂの判断結果がＮＯでＩａ＜Ｉｃであれば、ステップＳＴ２８ｂで試験時間が経過したかを判断し、試験時間が経過していなければステップＳＴ２６に戻る。そして、試験時間が経過した時点で、ステップＳＴ３１ｂでＰＡＳＳフラグとＦＡＩＬフラグの両フラグが立っているかどうかを判断する。

上記ステップＳＴ３１ｂでの判断がＮＯでＰＡＳＳフラグ，ＦＡＩＬフラグの両フラグが立っていない場合には、次のステップＳＴ３２ｂでＰＡＳＳフラグのみが立っているかどうかを判断する。その結果がＹＥＳで、ＰＡＳＳフラグのみが立っている場合には、ステップＳＴ３３ｂで表示部１５にＰＡＳＳ判定を表示して試験を終了する。

これに対して、上記ステップＳＴ３２ｂでの結果がＮＯで、ＰＡＳＳフラグが立てられていないときには、ステップＳＴ３４ｂで表示部１５にＦＡＩＬ判定とともに、この場合には上記第１実施形態と同様に試験時間経過後であることを表示して試験を終了する。

また、上記ステップＳＴ３１ｂでの判断がＹＥＳでＰＡＳＳフラグ，ＦＡＩＬフラグの両フラグが立っている場合には、ステップＳＴ３５ｂで表示部１５にグレー判定を表示して試験を終了する。

このグレー判定時は、試験時間中に、試験電流Ｉａが試験電流の閾値Ｉｂよりも小さい合格判定期間と、試験電流Ｉａが試験電流の閾値Ｉｂよりも大きく、かつ、試験停止電流値Ｉｃよりも小さい不合格判定期間の双方が含まれていることを意味し、不合格判定の原因が被試験体ＥＵＴにあるのか、試験条件や操作方法などにあるのか特定できないことから、非断定的不合格判定ということができる。

したがって、このグレー判定により、ユーザーに対して、被試験体ＥＵＴが一時的に耐圧不良となった原因の一つとして、試験条件や操作方法などの見直しを示唆することができる。

なお、試験終了後に、表示部１５に例えば最初にＦＡＩＬ判定とされたときの電流値，試験中の最大値，試験終了時の電流値などを表示させることもできる。また、本発明の耐電圧試験装置は単機能の機器として製品化されてもよいし、他の測定機能を有する電気測定器の一つの機能として組み込まれてもよい。

本発明による耐電圧試験装置の一例を示す概略的なブロック図。 本発明の第１実施形態に係る動作例を示すフローチャート。 本発明の第２実施形態に係る動作例を示すフローチャート。 本発明の第３実施形態に係る動作例を示すフローチャート。 従来の耐電圧試験装置の動作例を示すフローチャート。

符号の説明

１１ 電圧発生部
１２ 測定部
１３ 制御部
１４ 入力部
１５ 表示部
１６ 出力部

Claims (5)

1. 被試験体に対して所定の試験電圧を印加する電圧発生部と、上記試験電圧の印加により上記被試験体に流れる試験電流を測定する測定部と、制御部と、上記制御部に少なくとも試験電圧値，試験時間および合否判定基準となる試験電流の閾値を設定する試験条件入力部と、試験結果を表示する表示部とを含み、上記試験条件入力部より設定される各試験条件に基づいて上記制御部により上記電圧発生部が制御され、上記測定部にて測定される上記試験電流の値により上記被試験体の耐電圧特性を検査する耐電圧試験装置において、
   上記試験条件入力部より上記制御部に対して、上記試験電流の閾値とは別に上記試験電流の閾値よりも大きな試験停止電流値が設定可能であり、
   上記制御部は、試験開始後から上記試験条件入力部から設定された上記試験時間の間、上記測定部にて測定される上記試験電流を監視し、
   上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも小さい場合には、上記試験時間経過後、上記表示部に合格判定を出力する第１ルーチンを実行し、
   上記試験電流が上記試験停止電流値よりも大きい場合には、上記試験時間の経過を待つことなく、上記試験電流が上記試験停止電流値よりも大きいと判定された時点で試験を停止して上記表示部に不合格判定を出力する第２ルーチンを実行し、
   上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい場合には、上記試験時間が終了するまで試験を継続して上記表示部に不合格判定を出力する第３ルーチンを実行することを特徴とする耐電圧試験装置。
   
2. 上記制御部は、上記第２ルーチンの場合、上記表示部に上記試験時間の経過前に試験を停止したことを意味する表示を出力し、上記第３ルーチンの場合、上記表示部に上記試験時間まで試験を継続したことを意味する表示を出力することを特徴とする請求項１に記載の耐電圧試験装置。
3. 上記制御部は、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい場合に実行される上記第３ルーチンにおいて、上記試験時間の終了時点で、上記試験電流が上記試験電流の閾値より小さくなった場合でも、上記表示部に不合格判定を出力することを特徴とする請求項１または２に記載の耐電圧試験装置。
4. 上記制御部は、上記試験時間中に、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも小さい合格判定期間と、上記試験電流が上記試験電流の閾値よりも大きく、かつ、上記試験停止電流値よりも小さい不合格判定期間の双方が含まれる場合には、上記試験時間が終了するまで試験を継続して上記表示部に非断定的不合格判定を出力することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の耐電圧試験装置。
5. 上記制御部は、上記試験停止電流値を所定の料率をもって上記試験電流の閾値と連動して設定することを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の耐電圧試験装置。
   

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