JP4875927B2 - Resin molding equipment - Google Patents
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Description
本発明は、モールド金型の樹脂モールド領域をリリースフィルムにより被覆し、封止樹脂とともに被成形品を圧縮成形して樹脂モールドする樹脂モールド装置に関する。 The present invention relates to a resin mold apparatus that covers a resin mold region of a mold with a release film and compresses and molds a molded product together with a sealing resin.
リードフレームや配線基板に半導体チップが搭載された被成形品を樹脂モールドする樹脂モールド方法としては、ポットに供給された封止樹脂を金型ランナゲートを通じてキャビティへ充填するトランスファーモールド方法やキャビティの所定量の封止樹脂を供給して圧縮成形する方法などがある。金型構造が簡易で、多数個取りが可能であり、しかもスクラップとなる不要樹脂を減らして成形できる圧縮成形用の樹脂モールド装置が好適に用いられている。
近年、半導体装置の小型化、高密度実装化が進行し、POP(Package・On・Package)タイプの半導体装置が製造されている。この半導体装置は、半導体チップが搭載された基板どうしを積層して電気的導通をとるため、端子間の接続を考慮すると樹脂モールド部の厚さをできるだけ薄くなるように成形したいというニーズがある。 In recent years, miniaturization and high-density mounting of semiconductor devices have progressed, and POP (Package / On / Package) type semiconductor devices have been manufactured. In this semiconductor device, since the substrates on which the semiconductor chips are mounted are stacked to be electrically connected, there is a need to form the resin mold portion as thin as possible considering the connection between the terminals.
本発明は上記従来技術の課題を解決し、樹脂モールド部の厚さを基板の厚さ範囲内に収めて封止する樹脂モールド装置を提供することにある。 An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to provide a resin mold apparatus that seals the resin mold portion within the thickness range of the substrate.
本発明は上記目的を達成するため、次の構成を備える。
即ち、第1の手段は、モールド金型に封止樹脂とともに被成形品を搬入して圧縮成形する樹脂モールド装置において、被成形品の基板周縁部を支持して前記モールド金型内に搬入されるキャリアと、金型クランプ面の樹脂モールド領域がリリースフィルムにより被覆され、半導体チップが搭載された基板凹部に所定量の封止樹脂が供給された被成形品をクランプする前記モールド金型を備え、前記モールド金型のクランプ動作により基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止することを特徴とする。
尚、被成形品は、樹脂基板に基板凹部が形成されたものであってもよいし、リードフレームの裏面側に粘着フィルムが粘着されて半導体チップが搭載されるダイパッドからインナーリード部にわたって基板凹部が形成されているものでもいずれでもよい。
In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, the first means is a resin molding apparatus for carrying a compression molding by carrying the molded product together with the sealing resin into the mold die, and carrying the substrate peripheral portion of the molded product into the mold die. And a mold for clamping a molded product in which a predetermined amount of sealing resin is supplied to a substrate recess on which a semiconductor chip is mounted, the resin mold region of the mold clamping surface being covered with a release film. A predetermined amount of sealing resin supplied to the substrate recess is pressed by the clamping operation of the mold die to seal the semiconductor chip disposed in the substrate recess within the substrate plate thickness range.
The molded product may be a resin substrate with a substrate recess formed thereon, or a substrate recess extending from the die pad on which the adhesive film is adhered to the back side of the lead frame to mount the semiconductor chip to the inner lead portion. Either of them may be formed.
また、第2の手段は、モールド金型に封止樹脂とともに被成形品を搬入して圧縮成形する樹脂モールド装置において、被成形品の基板周縁部を支持して前記モールド金型内に搬入されるキャリアと、金型クランプ面の樹脂モールド領域がリリースフィルムにより被覆され、対向する金型クランプ面にシール材が設けられ、半導体チップが搭載された基板凹部に所定量の封止樹脂が供給された被成形品をクランプする前記モールド金型と、前記モールド金型のクランプ動作に伴ってシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧する減圧機構を備え、前記モールド金型のクランプ動作によりシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧機構により減圧しながら基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止することを特徴とする。 Further, the second means is a resin molding apparatus for carrying in the compression molding by carrying the molded product together with the sealing resin into the mold die, and carrying the substrate peripheral portion of the molded product into the mold die. The carrier mold and the resin mold region of the mold clamping surface are covered with a release film, a sealing material is provided on the opposing mold clamping surface, and a predetermined amount of sealing resin is supplied to the substrate recess on which the semiconductor chip is mounted. And a pressure reducing mechanism for depressurizing a resin mold region closed by the sealing material in accordance with the clamping operation of the molding die, and the sealing material by the clamping operation of the molding die. The semiconductor mold region disposed in the substrate recess is pressed by pressing a predetermined amount of the sealing resin supplied to the substrate recess while reducing the pressure of the resin mold region closed by the pressure reducing mechanism. Characterized by sealing the chip with the substrate thickness ranges.
上述した樹脂モールド装置を用いれば、モールド金型は、クランプ動作により基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止するので、半導体装置の樹脂モールド部の厚さを基板と略同等まで薄型化することができる。よって、POPタイプの半導体装置の小型化に寄与することができる。
また、モールド金型は、被成形品をクランプする前にシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧機構により減圧しながら基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止するので、封止樹脂にボイドが発生することなく成形品質を向上させることができる。
以上の樹脂モールド装置を用いれば、成形品質の高い成形品の多数個取りに適しているため生産性が向上し、封止樹脂に成形品ゲートランナなどの不要樹脂が発生しないので金型メンテナンスや離型後の後処理工程も簡略化できる。
If the above-mentioned resin molding apparatus is used, the mold mold presses a predetermined amount of sealing resin supplied to the substrate recess by the clamping operation, and seals the semiconductor chip arranged in the substrate recess within the substrate plate thickness range. Therefore, the thickness of the resin mold part of the semiconductor device can be reduced to substantially the same as that of the substrate. Therefore, it is possible to contribute to downsizing of the POP type semiconductor device.
Further, the mold mold presses a predetermined amount of the sealing resin supplied to the substrate recess while reducing the pressure of the resin mold region closed by the sealing material before clamping the molded product by the decompression mechanism. Since the semiconductor chip arranged on the substrate is sealed in the substrate plate thickness range, the molding quality can be improved without generating voids in the sealing resin.
By using the above resin molding equipment, productivity is improved because it is suitable for taking a large number of molded products with high molding quality, and unnecessary resin such as molded product gate runners is not generated in the sealing resin. The post-processing process after mold release can also be simplified.
以下、本発明に係る樹脂モールド装置の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。樹脂モールド装置は、モールド金型に封止樹脂とともに被成形品を搬入して圧縮成形する装置を例示して説明する。 Hereinafter, a preferred embodiment of a resin mold device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The resin molding apparatus will be described by exemplifying an apparatus that carries a molded product together with a sealing resin into a mold and performs compression molding.
[第1実施例]
図1において、キャリア1は被成形品(ワーク)Wの基板周縁部を支持してモールド金型内に搬入される。キャリア1は基板を支持する段付部2が設けられたセットプレート3と、基板周縁部及びセットプレート3に重ね合わせてワークWを挟み込む押さえプレート4を有する。ワークWは、例えばリードフレーム5の裏面側に粘着テープ(ポリイミドテープなど)6が粘着されたものや樹脂基板が用いられる。リードフレーム5の場合には、半導体チップ7が搭載されるダイパッドからインナーリード部5aにわたって段付部がプレス加工或いはエッチング加工により形成されている。このリードフレーム5の形状と粘着テープ6により全体として基板凹部8が形成されている。半導体チップ7はインナーリード部5aとワイヤボンディング接続されている。また、樹脂基板の場合にはエッチング加工或いは切削加工などにより基板凹部が形成されたものであってもよい。
[First embodiment]
In FIG. 1, a carrier 1 is carried into a mold while supporting a substrate peripheral portion of a product (work) W. The carrier 1 has a
ワークWは、キャリア1と共にモールド金型に搬入される前に、基板凹部8に所定量の封止樹脂9が供給される。封止樹脂9は固形樹脂、粉状樹脂、顆粒状樹脂、液状樹脂のいずれでもよく、基板凹部8を封止する容量分が供給される。固形樹脂以外は、予め基板凹部8に応じて計量されて供給される。封止樹脂9のワークWへの供給は、当該ワークWをモールド金型へ搬入する前であっても、搬入した後のいずれであってもよい。
A predetermined amount of sealing resin 9 is supplied to the
モールド金型は上型10と下型11を備えている。上型10は、上型ベース12に上型ブロック13が設けられている。上型ブロック13には押圧ブロック14がスプリング15によりフローティング支持されている。押圧ブロック14と上型ブロック13との間にはシール材16が設けられている。スプリング15は、押圧ブロック14が上型ブロック13と常時当接するように付勢している。
The mold includes an
押圧ブロック14のクランプ面にはキャリア1との干渉を回避するセット凹部17が設けられている。また、押圧ブロック14に設けられた摺動孔14aには、可動ブロック18が設けられている。この可動ブロック18はワークWの基板凹部8に対向してフローティング支持されている。即ち、可動ブロック18は、上型ブロック13の型開閉方向に移動可能に支持されたガイドロッド19の下端に固定されている。ガイドロッド19の上端には可動ブロック18の下降位置を規制するフランジ20が一体に設けられている。フランジ20と上型ブロック13との間にはスプリング21が挿入されており、ガイドロッド19及び可動ブロック18は常時下方に向けて付勢されている。可動ブロック18は封止樹脂9が供給された基板凹部8へ進入して押圧し、樹脂量のばらつきをスプリング21の撓みにより吸収するようになっている。
A
上型10のクランプ面、即ち押圧ブロック14、可動ブロック18のクランプ面には樹脂モールド領域を覆うリリースフィルム22が吸着支持されている。リリースフィルム22は、所定の耐熱性及び封止樹脂9との剥離性、柔軟性を備えたフィルム材が用いられる。
上型ブロック13にはシール材16によって囲まれた領域内と金型外部とを連通する流路23が形成されており、押圧ブロック14のクランプ面と金型外部とを連通する流路24が各々設けられている。各流路23、24は金型外に設けられる真空吸引装置25、26に接続されている。真空吸引装置25、26を作動させることで、可動ブロック18と摺動孔14aの隙間や流路24を通じてエア吸引され、リリースフィルム22は、上型10のクランプ面、即ち押圧ブロック14、可動ブロック18のクランプ面に吸着保持されるようになっている。
A
The
下型11は、下型ベース27に下型支持ブロック28が設けられている。下型支持ブロック28は、キャリア1に挟み込まれたワークWが図示しないガイドピンによって位置決めされて支持される。下型支持ブロック28のクランプ面には、キャリア1との干渉を回避するセット凹部29が設けられている。また、下型支持ブロック28のクランプ面と金型外部とを連通する流路30が設けられている。流路30は金型外に設けられる真空吸引装置31に接続されている。真空吸引装置31を作動させることで、流路30を通じてワークWがエア吸引されて位置決めされる。
In the
キャリア1の構成について、図3(a)(b)を参照して説明する。図3(a)はセットプレート3の平面図である。図3(b)はその側面図、図3(c)は押さえプレート4の平面図である。セットプレート3は矩形枠体状に形成されており、内周側縁部に基板厚さ分(リードフレーム5及びポリイミドテープ6の厚さ分)の段付部2が形成されている。図3(a)において、樹脂モールド領域が破線Mによって表示されている。押さえプレート4は平板状の枠体に形成されており、コーナー部にガイド孔32が設けられている。セットプレート3のコーナー部にはガイド孔32に挿入するガイドピン33が突設されている。セットプレート3の段付部2にワークWが支持された状態で押さえプレート4を重ね合わせ、ガイドピン33がガイド孔32に嵌め込まれてワークWが保持される。
The structure of the carrier 1 is demonstrated with reference to Fig.3 (a) (b). FIG. 3A is a plan view of the
尚、ワークWとしては、図4(a)(b)のように、リードフレーム5に半導体チップ7が搭載され、インナーリード部5aとワイヤボンディング接続された個片化された基板であってもよいし、図5(a)(b)のようにリードフレーム5に半導体チップ7がマトリクス状に配置され、各半導体チップ7がインナーリード部5aとワイヤボンディング接続された基板のいずれであってもよい。
As shown in FIGS. 4A and 4B, the workpiece W may be an individual substrate in which the
次にワークWを樹脂モールドするモールド動作の一例について説明する。
図1において、型開きしたモールド金型の上型クランプ面には、リリースフィルム22が吸着保持されている。キャリア1に支持されたワークWは、基板凹部8に例えば液状樹脂が計量されてポッティングにより供給されて、モールド金型へ搬入される。ワークWは下型11の下型支持ブロック28に位置決めされて載置され、真空吸引装置31を作動させて吸着保持される。このとき、キャリア1は、上型10のセット凹部17及び下型11のセット凹部29に収容されて、金型クランプ面と干渉することがない。
Next, an example of a molding operation for resin-molding the workpiece W will be described.
In FIG. 1, a
次に、図2において、上型10が下降して押圧ブロック14と支持ブロック28とでワークWをクランプする。このとき、可動ブロック18は半導体チップ7に所定量の封止樹脂9が供給された基板凹部8を押圧して当該基板凹部8に配置された半導体チップ7を基板板厚範囲で封止する。このとき、封止樹脂9の樹脂量のばらつきはスプリング21の撓みにより吸収される。封止樹脂9が熱硬化した後、型開きし、キャリア1と共にワークを取り出す。
このように、半導体装置の樹脂モールド部の厚さを基板と略同等まで薄型化することができる。よって、POPタイプの半導体装置の小型化に寄与することができる。また、封止樹脂9に成形品ゲートランナなどの不要樹脂が発生しないので金型メンテナンスや離型後の後処理工程も簡略化できる。
Next, in FIG. 2, the
Thus, the thickness of the resin mold part of the semiconductor device can be reduced to substantially the same as that of the substrate. Therefore, it is possible to contribute to downsizing of the POP type semiconductor device. In addition, since unnecessary resin such as a molded product gate runner is not generated in the sealing resin 9, it is possible to simplify the mold maintenance and post-processing steps after the mold release.
[第2実施例]
次に樹脂モールド装置の他例について図6及び図7を参照して説明する。
図6において、モールド金型の概略構成は、第1実施例と同様であるので、以下では異なる構成を中心に説明する。本実施例は、モールド金型のクランプ動作に伴ってシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧する減圧機構を備えている。具体的には、ワークWが位置決めされて支持される下型支持ブロック28のクランプ面に、当該ワークWの周囲を囲んでシール材34が設けられている。また、下型支持ブロック28のクランプ面と金型外部とを連通する流路35が設けられている。流路35は金型外に設けられる真空吸引装置36に接続されている。押圧ブロック14がシール材34を押接して樹脂モールド領域が閉止された状態で真空吸引装置36を作動させることで樹脂モールド空間を減圧するようになっている。
[Second Embodiment]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described with reference to FIGS.
In FIG. 6, since the schematic configuration of the mold is the same as that of the first embodiment, the following description focuses on the different configurations. The present embodiment is provided with a pressure reducing mechanism for reducing the pressure of the resin mold region closed by the sealing material in accordance with the clamping operation of the mold. Specifically, a sealing
図7(a)(b)において、モールド金型の上型クランプ面には、リリースフィルム22が吸着保持されている。キャリア1に支持されたワークWは、基板凹部8に例えば液状樹脂が計量されてポッティングにより供給されて、モールド金型へ搬入される。ワークWとしては、図7(a)のように、リードフレーム5に半導体チップ7が搭載され、インナーリード部5aとワイヤボンディング接続された個片化された基板であってもよいし、マトリクス基板であってもよい。
7A and 7B, the
図7(b)において、押圧ブロック14がシール材34を押接して閉止された状態で真空吸引装置36を作動させることで樹脂モールド空間を減圧しながら、可動ブロック18が所定量の封止樹脂9が供給された基板凹部8を押圧して樹脂モールドされる。これによって、基板凹部8に配置された半導体チップ7を基板板厚範囲で封止することができるうえに、封止樹脂9にボイドが発生することなく成形品質を向上させることができる。
In FIG. 7B, the
尚、上述した実施例では、ワークWは半導体チップ7が基板とワイヤボンディング接続された場合を例示したが、半導体チップ7が基板とフリップチップ接続したワークWについても適用できる。
In the above-described embodiment, the work W is exemplified by the case where the
W ワーク
1 キャリア
2 段付部
3 セットプレート
4 押さえプレート
5 リードフレーム
5a インナーリード部
6 粘着テープ
7 半導体チップ
8 基板凹部
9 封止樹脂
10 上型
11 下型
12 上型ベース
13 上型ブロック
14 押圧ブロック
14a 摺動孔
15、21 スプリング
16 シール材
17、29 セット凹部
18 可動ブロック
19 ガイドロッド
20 フランジ
22 リリースフィルム
23、24、30 流路
25、26、31 真空吸引装置
27 下型ベース
28 下型支持ブロック
32 ガイド孔
33 ガイドピン
W Work 1
Claims (4)
被成形品の基板周縁部を支持して前記モールド金型内に搬入されるキャリアと、
金型クランプ面の樹脂モールド領域がリリースフィルムにより被覆され、半導体チップが搭載された基板凹部に所定量の封止樹脂が供給された被成形品をクランプする前記モールド金型を備え、
前記モールド金型のクランプ動作により基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止することを特徴とする樹脂モールド装置。 In a resin mold apparatus that carries a molded product together with a sealing resin into a mold and compresses it,
A carrier that supports the peripheral edge of the substrate of the molded product and is carried into the mold,
The mold mold surface is coated with a release film, and includes a mold for clamping a molded product in which a predetermined amount of sealing resin is supplied to a substrate recess on which a semiconductor chip is mounted,
A resin molding apparatus characterized in that a predetermined amount of sealing resin supplied to a substrate recess is pressed by a clamping operation of the mold die to seal a semiconductor chip disposed in the substrate recess within a substrate plate thickness range. .
前記モールド金型のクランプ動作により可動ブロックが所定量の封止樹脂が供給された基板凹部を押圧して封止することを特徴とする請求項1記載の樹脂モールド装置。 The mold mold includes a pressing block that is floatingly supported by the mold block and formed with a set recess that avoids interference between the carrier and the mold clamping surface, and a sliding hole of the pressing block that faces the substrate recess. A movable block supported in a floating manner and a support block for positioning and supporting a molded product,
2. The resin molding apparatus according to claim 1, wherein the movable block presses and seals the concave portion of the substrate to which a predetermined amount of sealing resin is supplied by the clamping operation of the mold.
被成形品の基板周縁部を支持して前記モールド金型内に搬入されるキャリアと、
金型クランプ面の樹脂モールド領域がリリースフィルムにより被覆され、対向する金型クランプ面にシール材が設けられ、半導体チップが搭載された基板凹部に所定量の封止樹脂が供給された被成形品をクランプする前記モールド金型と、
前記モールド金型のクランプ動作に伴ってシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧する減圧機構を備え、
前記モールド金型のクランプ動作によりシール材に閉止された樹脂モールド領域を減圧機構により減圧しながら基板凹部に供給された所定量の封止樹脂を押圧して当該基板凹部に配置された半導体チップを基板板厚範囲で封止することを特徴とする樹脂モールド装置。 In a resin mold apparatus that carries a molded product together with a sealing resin into a mold and compresses it,
A carrier that supports the peripheral edge of the substrate of the molded product and is carried into the mold,
A molded product in which the resin mold region of the mold clamping surface is covered with a release film, a sealing material is provided on the opposing mold clamping surface, and a predetermined amount of sealing resin is supplied to the substrate recess on which the semiconductor chip is mounted The mold mold for clamping,
A pressure reducing mechanism for reducing the pressure of the resin mold region closed by the sealing material in accordance with the clamping operation of the mold,
A semiconductor chip disposed in the substrate recess is pressed by pressing a predetermined amount of the sealing resin supplied to the substrate recess while the resin mold region closed by the sealing material by the clamping operation of the mold die is decompressed by the decompression mechanism. A resin mold apparatus for sealing in a substrate plate thickness range.
前記モールド金型のクランプ動作により押圧ブロックがシール材に押接して樹脂モールド領域が閉止された状態で真空吸引装置を作動させ、樹脂モールド空間を減圧しながら可動ブロックが基板凹部に供給された封止樹脂を押圧して封止することを特徴とする請求項3記載の樹脂モールド装置。 The mold mold includes a pressing block that is floatingly supported by the mold block and formed with a set recess that avoids interference between the carrier and the mold clamping surface, and a sliding hole of the pressing block that faces the substrate recess. A movable block that is supported in a floating manner, a support block in which a molded product is positioned and supported, and a sealing material that surrounds the molded product is provided, and a flow path that communicates the clamp surface of the support block and the outside of the mold. Equipped with a vacuum suction device that connects to the outside of the mold,
The vacuum block is operated with the pressure block pressed against the sealing material and the resin mold region is closed by the clamping operation of the mold, and the movable block is supplied to the substrate recess while reducing the resin mold space. 4. The resin molding apparatus according to claim 3, wherein the sealing resin is pressed and sealed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006154508A JP4875927B2 (en) | 2006-06-02 | 2006-06-02 | Resin molding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006154508A JP4875927B2 (en) | 2006-06-02 | 2006-06-02 | Resin molding equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007320222A JP2007320222A (en) | 2007-12-13 |
| JP4875927B2 true JP4875927B2 (en) | 2012-02-15 |
Family
ID=38853414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006154508A Expired - Fee Related JP4875927B2 (en) | 2006-06-02 | 2006-06-02 | Resin molding equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4875927B2 (en) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5027451B2 (en) * | 2006-06-16 | 2012-09-19 | Towa株式会社 | Resin sealing molding method of semiconductor chip |
| JP5349033B2 (en) * | 2008-12-22 | 2013-11-20 | アピックヤマダ株式会社 | Spring unit and mold |
| JP5663785B2 (en) * | 2010-12-17 | 2015-02-04 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding method and resin molding apparatus |
| JP6891048B2 (en) * | 2017-06-02 | 2021-06-18 | アピックヤマダ株式会社 | Resin mold mold and resin mold equipment |
| TWI787417B (en) * | 2018-02-09 | 2022-12-21 | 日商山田尖端科技股份有限公司 | Mold for compression molding and compression molding device |
| JP7277935B2 (en) * | 2020-04-28 | 2023-05-19 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding equipment |
| JP7277936B2 (en) | 2020-04-28 | 2023-05-19 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding equipment |
| JP2025032602A (en) * | 2023-08-28 | 2025-03-12 | アピックヤマダ株式会社 | Compression molding apparatus and compression molding method |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09187831A (en) * | 1996-01-08 | 1997-07-22 | Toshiba Corp | Resin-sealed compression molding apparatus and method |
| JP2001015646A (en) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Mitsumi Electric Co Ltd | IC package substrate |
| JP2003115506A (en) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Towa Corp | Resin sealing method and resin sealing device |
| JP4262468B2 (en) * | 2002-10-30 | 2009-05-13 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding method, resin molding apparatus, and support jig used therefor |
| JP4834407B2 (en) * | 2006-01-17 | 2011-12-14 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding method and resin molding apparatus |
-
2006
- 2006-06-02 JP JP2006154508A patent/JP4875927B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2007320222A (en) | 2007-12-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090317 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111027 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111128 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |