JP4887842B2 - レーダ装置 - Google Patents
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Description
前記電磁波の照射方向からの反射波を受波する電磁波受波部と、
前記電磁波照射部の電磁波照射方向、および前記電磁波受波部の受波方向を所定の検出エリアの範囲で揺動させるスキャン部と、
前記揺動による角度刻みの照射方向毎に、前記電磁波照射部に電磁波を照射させてその反射波を前記電磁波受波部に受波させ、この反射波の受波強度の時間軸上でのピークに基づいて当該照射方向における反射点の距離を測定する制御部と、
を備えたレーダ装置であって、
前記制御部は、隣接する複数の照射方向のそれぞれに、略同一距離の反射点が存在するとき、反射点の受波強度が最大となる方向、およびその距離に物体が存在すると判定する判定処理、
前記検出エリアの端部の複数の照射方向のそれぞれに、略同一距離の反射点が存在し、かつその反射点の受波強度が前記検出エリアの端部に向けて上昇しているとき、前記検出エリアの外に物体が存在すると推定する推定処理、
前記判定処理で、略同方向、および同距離に複数回物体が存在すると判定されたとき、この判定処理の方向、および距離に物体が存在すると確定する確定処理を実行し、
前記推定処理で物体が存在すると推定された後、前記判定処理で、前記推定処理の反射点と略同一の距離で物体が存在すると前記確定処理の判定回数よりも少ない回数で判定されたとき、この判定処理の方向、および距離に物体が存在すると確定することを特徴とする。
LD(Laser Diode)駆動回路10は、制御回路11で生成された駆動信号に基づいて、LD12の発光を制御する。スキャナ13は、制御回路11の制御に基づいて、LD12により発生されたレーザ光を所定のスキャン範囲でスキャン(走査)させる。スキャナ13より出射されたレーザ光は、投光レンズを介して自車1の走行方向(前方)に出射される(図2(A)参照)。走査位置検出装置14は、スキャナ13におけるレーザ光のスキャン(走査)位置をそれぞれ検出して、制御回路11に出力する。
また、メモリ17には、上記計測の際に用いる一時的な変数の他に、検出した物体を判定する手順などのプログラムも記憶している。
図3において、制御回路11からの制御信号が、駆動回路30に入力される。駆動回路30は、入力された制御信号に基づき、駆動用コイル31に駆動電流を供給する。駆動用コイル31は、電流値に応じた磁界を発生し、設置されている図示しない永久磁石との間で、引力もしくは反力を生じるため、投光レンズ33と受光レンズ34を一体的に支持する支持部材(図示せず)を、それぞれ、水平方向に移動させる。支持部材は、板バネ32により、水平方向に移動自在に支持されている。したがって、支持部材(投光レンズ33と受光レンズ34)は、駆動電流により駆動用コイル31に発生した力と板バネ32に発生する反力がつりあう水平方向の位置に移動して、静止する。なお、各レンズの位置は図示していないセンサにより検出し、このセンサ出力を駆動回路30に入力することでサーボ機構を構成している。
図7は、制御回路11の全体処理フローを表す図である。
処理が開始されると、まずST1で、各検出領域に対する上述した測定動作(レーザ光の出射と受光、および受光レベルのデータ取得)を行う。ST2においては、全ての検出領域に対して測定動作が終了したか否か判断する。すなわち1フレーム分のデータを取得したか否かを判断する。全ての検出領域で測定動作が終了していればST3〜ST7の処理を順次実行し、全ての検出領域で測定動作が終了していなければST1に戻って次の検出領域について測定動作を繰り返す。
図8は、ST4の物体抽出、割り込み情報抽出処理を示すフローチャートである。まず、s11において、制御回路11は、各検出領域の受光レベルから検出エリアの受光レベル分布を算出する(図5(A)、図6(B)参照)。受光レベルの分布を作成した後、ピークの有無を判断する(s12)。例えば上述した連続波形を微分し、この微分値がプラスからマイナスに転じる頂点(微分値がゼロで極大となる点)をピークとすればよい。ピークが有れば、物体が存在するとして、その中心位置、幅を算出し、これを物体情報としてメモリ17に記録する(s13)。中心位置は、抽出したピークのデータに基づいて決定し、物体の幅は、閾値以上となる受光レベルのスキャン方向の幅から決定すればよい。
割り込み可能性=前回の値+Ka*ΔD+Kb*ΔE+Kc*ΔF
ここで、Ka、Kb、およびKcは、各項の重み付け係数である。ΔDは、受光レベルの変化量であり、検出エリア端における今回の割り込み情報の受光レベルから過去割り込み情報の受光レベルを減算した値である。ΔEは、検出領域幅の変化量であり、今回の割り込み情報の検出領域幅から過去割り込み情報の検出領域幅を減算した値である。ΔFは、面積値の変化量であり、今回の割り込み情報の面積値から過去割り込み情報の面積値を減算した値である。なお、割り込み可能性の初期値(前回の値が無い場合)は、割り込み情報が過去の物体情報と対応付けてられていなければゼロとなる。過去の物体と対応付けられていた場合、すなわちピーク消失直後に新規検出した割り込み情報の場合は後述する。
ピーク消失直後の割り込み可能性=Ka*ΔG+Kb*ΔH+Kc*ΔI
ここでKa、Kb、およびKcは、各項の重み付け係数である。ΔGは、新規に抽出した割り込み情報の受光レベルであり、検出エリア端部での受光レベルの値である。ΔEは、検出領域幅である。ΔFは、面積値である。物体が検出エリア外に移動して受光レベルの分布からピークを消失した場合、新規に割り込み情報を抽出するが、割り込み可能性を初期値を上記のように設定することで、検出エリア端から離れるにしたがって割り込み可能性が小さくなる。これにより、物体の検出エリア端からの角度を推定する。物体の距離については、対応付けられている過去の物体情報の距離から推定する。また、今回抽出した割り込み情報の物体の距離値から推定してもよい。検出エリア端からの角度と距離値により検出エリア外に出た物体の位置を推測する。また、検出エリア外に出た物体の幅は、過去の物体情報の幅を用いればよい。
Claims (3)
- 電磁波を照射する電磁波照射部と、
前記電磁波の照射方向からの反射波を受波する電磁波受波部と、
前記電磁波照射部の電磁波照射方向、および前記電磁波受波部の受波方向を所定の検出エリアの範囲で揺動させるスキャン部と、
前記揺動による角度刻みの照射方向毎に、前記電磁波照射部に電磁波を照射させてその反射波を前記電磁波受波部に受波させ、この反射波の受波強度の時間軸上でのピークに基づいて当該照射方向における反射点の距離を測定する制御部と、
を備えたレーダ装置であって、
前記制御部は、隣接する複数の照射方向のそれぞれに、略同一距離の反射点が存在するとき、反射点の受波強度が最大となる方向、およびその距離に物体が存在すると判定する判定処理、
前記検出エリアの端部の複数の照射方向のそれぞれに、略同一距離の反射点が存在し、かつその反射点の受波強度が前記検出エリアの端部に向けて上昇しているとき、前記検出エリアの外に物体が存在すると推定する推定処理、
前記判定処理で、略同方向、および同距離に複数回物体が存在すると判定されたとき、この判定処理の方向、および距離に物体が存在すると確定する確定処理を実行し、
前記推定処理で物体が存在すると推定された後、前記判定処理で、前記推定処理の反射点と略同一の距離で物体が存在すると前記確定処理の判定回数よりも少ない回数で判定されたとき、この判定処理の方向、および距離に物体が存在すると確定する、レーダ装置。 - 前記制御部は、前記推定処理における各反射点の距離が、過去の推定処理の反射点と略同一の距離である場合、
所定強度以上の反射点が存在する走査方向の幅、およびその幅における各反射点の受波強度の積算値と、過去の推定処理における所定強度以上の反射点が存在する走査方向の幅、およびその幅における各反射点の受波強度の積算値と、を比較して推定した物体の割り込み可能性を算出し、
前記割り込み可能性が所定値以上となった場合に、前記検出エリアの端部の近傍に物体が存在すると判定する請求項1に記載のレーダ装置。 - 前記制御部は、前記推定処理における反射点の距離が、過去の判定処理で判定した物体の距離と略同一の距離である場合、
前記推定処理で推定した物体の存在位置を、過去の判定処理で判定した物体の位置に基づいて推定する請求項1、または請求項2に記載のレーダ装置。
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