JP4902170B2

JP4902170B2 - Inspection system

Info

Publication number: JP4902170B2
Application number: JP2005306979A
Authority: JP
Inventors: 修廣瀬
Original assignee: Ishida Co Ltd
Current assignee: Ishida Co Ltd
Priority date: 2005-10-21
Filing date: 2005-10-21
Publication date: 2012-03-21
Anticipated expiration: 2025-10-21
Also published as: JP2007114092A

Description

本発明は、物品を検査する検査システムに関する。 The present invention relates to an inspection system for inspecting an article.

食品等の商品の生産ラインにおいては、商品に異物が混入している場合、包装容器内に必要な添付品が含まれていない場合、又は商品に割れ欠けがある場合等にそのような不良商品が出荷されることを防止するために、Ｘ線検査装置や金属検査装置等の検査装置により商品の検査がなされることがある。 In product production lines, such as food, if the foreign matter in the product is mixed, if it contains no accompanying products required packaging container, or such defects when such is chipped cracked product Product Product may be inspected by an inspection device such as an X-ray inspection device or a metal inspection device.

特許文献１には、医薬品の包装容器内に能書等の添付品が添付されているか否かを検査するＸ線検査装置が開示されている。このＸ線検査装置では、能書が添付される予定位置が考慮された上で、Ｘ線画像に能書が写りやすい方向からＸ線が照射されたり、Ｘ線画像上の能書が添付される予定位置に対してのみ画像処理が施されたりして、添付品の有無の判断が容易になるように工夫されている。 Patent Document 1 discloses an X-ray inspection apparatus that inspects whether or not an accessory such as a written book is attached in a pharmaceutical packaging container. In this X-ray inspection apparatus, X-rays are emitted from the direction in which a written book is easily captured in an X-ray image, or a written book on an X-ray image is attached in consideration of the planned position where the written book is attached. that was or image processing is performed only for the predetermined position, the determination of the presence or absence of an accessory is devised so as to facilitate.

このように、従来より、検査対象となる物品全体に一律の検査条件を適用するのではなく、物品全体の中の特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用する検査方法が提案されている。
特開平９−１５９７７０号公報 Thus, conventionally, an inspection method has been proposed in which a uniform inspection condition is not applied to an entire article to be inspected, but an inspection condition different from other parts is applied to a specific part in the entire article. ing.
JP-A-9-159770

しかしながら、特許文献１のＸ線検査装置を利用するためには、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき部位を予め指定する必要がある。従って、例えば、どの部位に異物が混入しているのかを予測できないような商品について異物の混入を検査する場合には、特許文献１のＸ線検査装置を利用することは困難である。 However, in order to use the X-ray inspection apparatus disclosed in Patent Document 1, it is necessary to previously specify a part to which inspection conditions different from other parts should be applied in the entire article to be inspected. Therefore, for example, when inspecting contamination of a product for which it is impossible to predict in which part the contaminant is mixed, it is difficult to use the X-ray inspection apparatus of Patent Document 1.

本発明の課題は、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することを可能にし、物品を効率よく検査することができる検査システムを提供することにある。 The problem of the present invention is that even in a case where a specific part to which inspection conditions different from other parts should be applied cannot be designated in advance in the entire article to be inspected. An object of the present invention is to provide an inspection system capable of applying inspection conditions different from those of other parts to a part and efficiently inspecting an article.

第１発明に係る検査システムは、上流側検査装置と、下流側検査装置とを備える。上流側検査装置は、物品に含まれる金属を検査する。下流側検査装置は、上流側検査装置よりも物品の搬送方向下流側に位置する。下流側検査装置は、物品の指定部位と指定部位以外の物品の非指定部位とに異なる検査条件を適用して、物品を検査する。指定部位は、上流側の金属検査装置による物品の検出結果に基づいて指定される。 The inspection system according to the first invention includes an upstream inspection device and a downstream inspection device. The upstream inspection device inspects the metal contained in the article. The downstream inspection device is located downstream of the upstream inspection device in the conveyance direction of the article. The downstream inspection apparatus inspects the article by applying different inspection conditions to the designated part of the article and the non-designated part of the article other than the designated part. The designated portion is designated based on the detection result of the article by the upstream metal inspection apparatus.

この検査システムでは、検査対象となる物品が上流側の金属検査装置において検査された後、同じ物品が下流側検査装置においても検査される。そして、下流側検査装置では、上流側の金属検査装置による物品の検査結果に基づいて、物品全体の中で他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位、すなわち、金属が検出された部位が指定される。これにより、この検査システムでは、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することが可能になり、物品を効率よく検査することができる。 In this inspection system, after an article to be inspected is inspected in an upstream metal inspection apparatus, the same article is also inspected in a downstream inspection apparatus. The downstream inspection apparatus detects a specific part to which inspection conditions different from other parts should be applied in the entire article , that is, metal , based on the inspection result of the article by the upstream metal inspection apparatus. The designated part is specified. Thereby, in this inspection system, even in a case where a specific part to which an inspection condition different from other parts should be applied in the entire article to be inspected cannot be designated in advance. Inspection conditions different from those of other parts can be applied to a specific part, and the article can be inspected efficiently.

第２発明に係る検査システムは、第１発明に係る検査システムであって、下流側検査装置は、Ｘ線源と、Ｘ線受光部と、画像処理部とを有するＸ線検査装置である。Ｘ線源は、物品にＸ線を照射する。Ｘ線受光部は、Ｘ線源からのＸ線を受光する。画像処理部は、Ｘ線受光部により受光されたＸ線に基づいてＸ線画像を生成し、Ｘ線画像上の指定部位と非指定部位とに異なる検査条件を適用してＸ線画像に画像処理を施す。 Inspection system according to the second invention is an inspection system according to the first invention, the downstream-side inspection device is an X-ray examination apparatus comprising an X-ray source, the X-ray receiving unit, and an image processing unit. The X-ray source irradiates the article with X-rays. The X-ray light receiving unit receives X-rays from the X-ray source. The image processing unit generates an X-ray image based on the X-rays received by the X-ray light receiving unit, and applies different inspection conditions to the designated site and the non-designated site on the X-ray image to generate an image on the X-ray image. Apply processing.

この検査システムでは、下流側のＸ線検査装置において物品のＸ線画像が生成され、生成されたＸ線画像に画像処理が施されることにより、物品が検査される。このとき、下流側のＸ線検査装置では、上流側の金属検査装置による物品の検査結果に基づいて、Ｘ線画像上の物品の部位ごとに異なる検査条件が適用されて画像処理が施される。例えば、異物として金属の混入が検査される場合であれば、上流側の金属検査装置において金属の混入が検出された部位に対しては、その他の部位に対するよりもより多くのリソースを必要とするより高度な画像処理アルゴリズムを適用したり、異物の判定に利用される閾値をより低く設定したりすること等が可能になる。これにより、この検査システムでは、物品のＸ線画像に効率良く画像処理を施すことができる。 In this inspection system, an X-ray image of an article is generated in an X-ray inspection apparatus on the downstream side, and the article is inspected by performing image processing on the generated X-ray image. At this time, in the downstream X-ray inspection apparatus, image processing is performed by applying different inspection conditions for each part of the article on the X-ray image based on the inspection result of the article by the upstream metal inspection apparatus. . For example, if metal contamination is to be inspected as a foreign object , more resources are required for the part where metal contamination is detected in the upstream metal inspection apparatus than for other parts. It is possible to apply a more advanced image processing algorithm, set a threshold value used for foreign object determination, or the like. Thereby, in this inspection system, it is possible to efficiently perform image processing on the X-ray image of the article.

第３発明に係る検査システムは、第２発明に係る検査システムであって、画像処理部は、上述の画像処理が施されたＸ線画像を指定部位が明示された態様で出力する。 An inspection system according to a third aspect of the present invention is the inspection system according to the second aspect of the present invention, wherein the image processing unit outputs the X-ray image subjected to the above-described image processing in a form in which the designated part is clearly indicated.

この検査システムでは、上流側の金属検査装置による検査結果と下流側のＸ線検査装置による検査結果とを重ね合わせた画像が出力される。これにより、この検査システムの利用者は、検査システム全体の検査結果を視覚的に把握することができる。
なお、本発明において、「金属」とは、金属だけでなく、脱酸素剤等の金属の性質を有する物質も含むものとする。 In this inspection system, an image obtained by superimposing the inspection result by the upstream metal inspection apparatus and the inspection result by the downstream X-ray inspection apparatus is output. Thereby, the user of this inspection system can grasp the inspection result of the whole inspection system visually.
In the present invention, the “metal” includes not only a metal but also a substance having metal properties such as an oxygen scavenger.

一般的に、Ｘ線検査装置では、検査対象となる物品にＸ線透過方向に厚みのない異物が混入していた場合、異物を透過したことによるＸ線の減衰は殆どなく、そのような異物はＸ線画像上には殆ど現れない可能性がある。さらに、物品にＸ線透過方向に厚みのある異物が混入していたとしても、Ｘ線透過方向から見た異物の大きさが非常に小さいような場合には、異物がＸ線画像上に写し出されたとしても誤差として処理されてしまう可能性がある。 Generally, in an X-ray inspection apparatus, when an object to be inspected contains a foreign substance having a thickness in the X-ray transmission direction, the X-ray is hardly attenuated due to the transmission of the foreign substance. May hardly appear on the X-ray image. Furthermore, even if a foreign object having a thickness in the X-ray transmission direction is mixed in the article, if the size of the foreign object viewed from the X-ray transmission direction is very small, the foreign object is projected on the X-ray image. Even if it is, it may be processed as an error.

そのような場合でも、この検査システムでは、上流側に金属検査装置が配置され、下流側にＸ線検査装置が配置される構成となっている。金属検査装置は、Ｘ線検査装置では検出されにくい薄い異物であっても金属であれば、高感度に検出することができる。これにより、この検査システムでは、検査対象となる物品全体の中で金属検査装置により金属の混入が検出された部位については、Ｘ線検査装置によりその他の部位よりも詳細に検査することが可能になり、金属を高感度に検出することができる。 Even in such a case, this inspection system has a configuration in which the metal inspection apparatus is disposed on the upstream side and the X-ray inspection apparatus is disposed on the downstream side. The metal inspection apparatus can detect a thin foreign object that is difficult to detect with an X-ray inspection apparatus with high sensitivity if it is metal. As a result, in this inspection system, it is possible to inspect a part of the entire article to be inspected in which metal contamination is detected by the metal inspection apparatus in more detail than other parts by the X-ray inspection apparatus. Thus, the metal can be detected with high sensitivity.

第４発明に係る検査システムは、第２発明又は第３発明に係る検査システムであって、金属検出装置は、送信コイルと、受信コイルと、信号生成部とを有する。送信コイルは、交番磁界を発生させる。受信コイルは、交番磁界内に配置される。信号生成部は、受信コイルを流れる電流の波形に基づいて金属検出信号を生成する。画像処理部は、物品を仮想的に複数の部位に分割し、分割された複数の部位ごとの体積をＸ線受光部により受光されたＸ線に基づいて算出し、算出された体積で信号生成部により生成された金属検出信号を正規化し、正規化された金属検出信号に基づいて指定部位を指定する。 Inspection system according to the fourth invention is an inspection system according to the second invention or the third invention, the metal detecting device includes a transmitting coil, a receiving coil, and a signal generator. The transmission coil generates an alternating magnetic field. The receiving coil is disposed in an alternating magnetic field. The signal generator generates a metal detection signal based on the waveform of the current flowing through the receiving coil. The image processing unit virtually divides the article into a plurality of parts, calculates a volume for each of the divided parts based on the X-rays received by the X-ray light receiving unit, and generates a signal with the calculated volume The metal detection signal generated by the unit is normalized, and the designated portion is designated based on the normalized metal detection signal.

例えば、精肉を検査する場合を想定する。この場合、精肉中の血液に含まれる鉄分等の金属は、金属検査装置から出力される金属検出信号に影響を与える。従って、検査対象となる物品によっては、物品に異物として含まれる金属を検出するに際して、物品本体の性質により検査の精度が低下する虞がある。 For example, assume that meat is being inspected. In this case, metals such as iron contained in the blood in the meat will affect the metal detection signal output from the metal inspection apparatus. Therefore, depending on the article to be inspected, when detecting a metal contained in the article as a foreign substance, the accuracy of the inspection may be lowered due to the properties of the article main body.

第４発明に係る検査システムでは、金属検査装置から出力される金属検出信号が、検査対象となる物品の体積により正規化される。そして、正規化された金属検出信号に基づいて、物品全体の中で金属が含まれると判定される部位が指定される。これにより、この検査システムでは、物品本体が金属検出信号に与える影響を最小化して、物品に異物として含まれる金属をより高感度に検出することができる。 In the inspection system according to the fourth aspect of the invention, the metal detection signal output from the metal inspection apparatus is normalized by the volume of the article to be inspected. And based on the normalized metal detection signal, the site | part determined that a metal is contained in the whole article is designated. Thereby, in this inspection system, it is possible to minimize the influence of the article main body on the metal detection signal and detect the metal contained in the article as a foreign substance with higher sensitivity.

第５発明に係る検査システムは、上流側の金属検査装置と、下流側のＸ線検査装置を備える。下流側のＸ線検査装置は、上流側の金属検査装置による検査結果に基づいて、物品における金属が検出された部位を指定し、その指定部位と非指定部位とで異なる検査条件を適用して物品を検査する。 An inspection system according to a fifth aspect of the invention includes an upstream metal inspection apparatus and a downstream X-ray inspection apparatus. The downstream X-ray inspection apparatus designates a part where metal is detected in the article based on the inspection result of the upstream metal inspection apparatus, and applies different inspection conditions to the designated part and the non-designated part. Inspect the article .

この下流側のＸ線検査装置では、上流側の金属検査装置において検査された後の物品が検査される。そして、上流側検査装置による物品の検査結果に基づいて、物品全体の中で他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位、すなわち、金属の混入が検出された部位が指定される。これにより、この下流側のＸ線検査装置では、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することが可能になり、物品を効率よく検査することができる。 In this downstream X-ray inspection apparatus, the article after being inspected by the upstream metal inspection apparatus is inspected. Then, based on the inspection result of the article by the upstream inspection apparatus, a specific part to which an inspection condition different from other parts should be applied in the whole article , that is, a part where metal contamination is detected is specified. The Thereby, in this X-ray inspection apparatus on the downstream side , in a case where a specific part to which inspection conditions different from other parts should be applied cannot be designated in advance in the entire article to be inspected. However, inspection conditions different from those of other parts can be applied to such a specific part, and the article can be inspected efficiently.

本発明に係る検査システムによれば、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することが可能になり、物品を効率よく検査することができる。 According to the inspection system of the present invention, even in a case where a specific part to which inspection conditions different from other parts should be applied cannot be designated in advance in the entire article to be inspected. Inspection conditions different from those of other parts can be applied to such a specific part, and the article can be inspected efficiently.

以下、図１〜１０を参照して、本発明の一実施形態に係る検査システム１を説明する。 Hereinafter, with reference to FIGS. 1-10, the test | inspection system 1 which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated.

＜検査システム１の構成＞
図１は、検査システム１の外観図を示す。検査システム１は、図１に示すように、金属検査装置１０及びＸ線検査装置２０を備えており、食品等の商品の生産ラインにおいて商品の品質検査を行うためのものである。なお、図１において、後述する振分機構７０は省略されている。 <Configuration of inspection system 1>
FIG. 1 shows an external view of the inspection system 1. As shown in FIG. 1, the inspection system 1 includes a metal inspection device 10 and an X-ray inspection device 20, and is for performing quality inspection of products in a production line for products such as food. In FIG. 1, a distribution mechanism 70 described later is omitted.

検査システム１の検査対象となる物品Ｐは、金属検査装置１０の搬送コンベア１１上及びＸ線検査装置２０の搬送コンベア２２上を矢印Ａの向きに搬送される。搬送コンベア１１及び搬送コンベア２２は、略同じ高さとなるように略水平に設置されており、物品Ｐは、搬送コンベア１１上から搬送コンベア２２上へ滑らかに移動する。 The article P to be inspected by the inspection system 1 is conveyed in the direction of arrow A on the conveyor 11 of the metal inspection apparatus 10 and the conveyor 22 of the X-ray inspection apparatus 20. The conveyor 11 and the conveyor 22 are installed substantially horizontally so as to have substantially the same height, and the article P moves smoothly from the conveyor 11 to the conveyor 22.

金属検査装置１０は、搬送コンベア１１上を搬送される物品Ｐに金属（脱酸素剤等の金属の性質を有する物質を含む。以下、同じ。）が含まれるか否かを検査する。Ｘ線検査装置２０は、搬送コンベア２２上を搬送される物品ＰにＸ線を照射して物品ＰのＸ線画像１００（図１０（ｂ）参照）を生成し、金属検査装置１０による物品Ｐの検査結果に基づいてＸ線画像１００に画像処理を施すことにより、物品Ｐに異物が含まれるか否かを検査する。 The metal inspection apparatus 10 inspects whether or not an article P conveyed on the conveyor 11 includes a metal (including a substance having a metal property such as an oxygen scavenger, the same applies hereinafter). The X-ray inspection apparatus 20 generates an X-ray image 100 (see FIG. 10B) of the article P by irradiating the article P conveyed on the conveyor 22 with X-rays, and the article P by the metal inspection apparatus 10 The X-ray image 100 is subjected to image processing based on the inspection result, thereby inspecting whether or not the article P contains foreign matter.

（金属検査装置１０の構成）
金属検査装置１０は、図２に示すように、搬送コンベア１１、金属検出部１２、光電センサ１６及び制御部３０を備えており、図３及び図４に示すように、搬送コンベア１１によって複数の物品Ｐを連続的に搬送しながら、物品Ｐに金属が含まれるか否かを検査する。 (Configuration of metal inspection apparatus 10)
As shown in FIG. 2, the metal inspection apparatus 10 includes a conveyor 11, a metal detector 12, a photoelectric sensor 16, and a controller 30, and a plurality of conveyors 11 are used by the conveyor 11 as shown in FIGS. 3 and 4. While the article P is continuously conveyed, it is inspected whether or not the article P contains metal.

〔搬送コンベア１１〕
搬送コンベア１１は、駆動ローラによって無端状のベルトを回転させながら、ベルト上に載置された物品Ｐを矢印Ａ（図１，図３，図４参照）の向きに搬送する。搬送コンベア１１の搬送速度は、制御部３０により、搬送コンベア２２の搬送速度と同じになるように制御されている。 [Conveyor 11]
The conveyor 11 conveys the article P placed on the belt in the direction of arrow A (see FIGS. 1, 3, and 4) while rotating the endless belt by the driving roller. The transport speed of the transport conveyor 11 is controlled by the control unit 30 to be the same as the transport speed of the transport conveyor 22.

〔金属検出部１２〕
金属検出部１２は、図１に示すように、上部ヘッド１２ａ及び下部ヘッド１２ｂを備えており、搬送コンベア１１によって搬送される物品Ｐに含まれる金属を検出する。 [Metal detector 12]
As shown in FIG. 1, the metal detection unit 12 includes an upper head 12 a and a lower head 12 b, and detects metal contained in the article P conveyed by the conveyance conveyor 11.

上部ヘッド１２ａは、下部ヘッド１２ｂとともに搬送コンベア１１の中央部分を挟み込むように配置されている。そして、上部ヘッド１２ａは、図４に示すように、送信コイル１３を内部に備えている。送信コイル１３は、金属検出部１２に含まれる発振回路３７（図２参照）から電流が印加されると、下部ヘッド１２ｂを含む領域に交番磁界を発生させる。 The upper head 12a is arranged so as to sandwich the central portion of the transport conveyor 11 together with the lower head 12b. And the upper head 12a is equipped with the transmission coil 13 inside, as shown in FIG. When a current is applied from the oscillation circuit 37 (see FIG. 2) included in the metal detection unit 12, the transmission coil 13 generates an alternating magnetic field in a region including the lower head 12b.

一方、下部ヘッド１２ｂは、図４に示すように、内部に２つの受信コイル１４ａ，１４ｂを備えている。すなわち、受信コイル１４ａ，１４ｂは、送信コイル１３によって形成される交番磁界内に配置されている。また、受信コイル１４ａと受信コイル１４ｂとは、同様の構成を有しており、送信コイル１３の中央線に対して対称な位置に配置されている。従って、交番磁界が送信コイル１３を流れる電流の影響のみを受けて形成される場合には、２つの受信コイル１４ａ，１４ｂ内を流れる電流の波形は釣り合うことになる。 On the other hand, as shown in FIG. 4, the lower head 12b includes two receiving coils 14a and 14b therein. That is, the receiving coils 14 a and 14 b are arranged in an alternating magnetic field formed by the transmitting coil 13. The reception coil 14 a and the reception coil 14 b have the same configuration, and are disposed at positions symmetrical with respect to the center line of the transmission coil 13. Therefore, when the alternating magnetic field is formed only by the influence of the current flowing through the transmission coil 13, the waveforms of the currents flowing through the two reception coils 14a and 14b are balanced.

ところが、金属を含む物品Ｐが交番磁界内を通過する場合には、金属が交番磁界に影響を及ぼすため、２つの受信コイル１４ａ，１４ｂ内を流れる電流の波形に差分が生じる。このとき、金属検出部１２に含まれる検波・フィルタ回路３６（図２参照）は、２つの受信コイル１４ａ，１４ｂを流れる電流の波形の差分を検出して、金属検出信号を生成する。続いて、金属検出部１２に含まれるＡ／Ｄ変換回路３８（図２参照）は、検波・フィルタ回路３６から金属検出信号を受け取り、Ａ／Ｄ変換した後、制御部３０に送る。これにより、金属検出部１２は、搬送コンベア１１上を通過する物品Ｐに含まれる金属を容易に検出することができる。 However, when the article P containing metal passes through the alternating magnetic field, the metal affects the alternating magnetic field, so that a difference occurs in the waveform of the current flowing in the two receiving coils 14a and 14b. At this time, the detection / filter circuit 36 (see FIG. 2) included in the metal detection unit 12 detects a difference between waveforms of currents flowing through the two reception coils 14a and 14b, and generates a metal detection signal. Subsequently, the A / D conversion circuit 38 (see FIG. 2) included in the metal detection unit 12 receives the metal detection signal from the detection / filter circuit 36, performs A / D conversion, and then sends it to the control unit 30. Thereby, the metal detection part 12 can detect the metal contained in the articles | goods P which pass on the conveyance conveyor 11 easily.

〔光電センサ１６〕
光電センサ１６は、図３に示すように、搬送コンベア１１を介して対向する発光素子１６ａ及び受光素子１６ｂを有している。発光素子１６ａ及び受光素子１６ｂは、金属検出部１２の上部ヘッド１２ａ及び下部ヘッド１２ｂの直上流側であって、搬送コンベア１１の側方に配置されている。発光素子１６ａは、受光素子１６ｂに向けて光を照射し、受光素子１６ｂは、発光素子１６ａから照射された光を受光する。但し、物品Ｐが発光素子１６ａと受光素子１６ｂとの間を搬送コンベア１１により搬送されている間は、発光素子１６ａから照射された光は物品Ｐにより遮光されることになる。つまり、発光素子１６ａから照射された光が物品Ｐによって遮光されるタイミングを計測することにより、交番磁界の形成された検査領域を物品Ｐが通過するタイミングを測定することができる。 [Photoelectric sensor 16]
As shown in FIG. 3, the photoelectric sensor 16 includes a light emitting element 16 a and a light receiving element 16 b that are opposed to each other via the transport conveyor 11. The light emitting element 16 a and the light receiving element 16 b are arranged on the upstream side of the upper head 12 a and the lower head 12 b of the metal detection unit 12 and on the side of the conveyor 11. The light emitting element 16a emits light toward the light receiving element 16b, and the light receiving element 16b receives the light emitted from the light emitting element 16a. However, while the article P is being transported between the light emitting element 16a and the light receiving element 16b by the transport conveyor 11, the light emitted from the light emitting element 16a is blocked by the article P. That is, by measuring the timing at which the light irradiated from the light emitting element 16a is blocked by the article P, the timing at which the article P passes through the inspection region where the alternating magnetic field is formed can be measured.

〔制御部３０〕
制御部３０は、図２に示すように、バスライン３２、ＣＰＵ３１、Ｉ／Ｏインターフェース３３、ＲＯＭ３４及びＲＡＭ３５を備えている。 [Control unit 30]
As illustrated in FIG. 2, the control unit 30 includes a bus line 32, a CPU 31, an I / O interface 33, a ROM 34, and a RAM 35.

ＣＰＵ３１は、バスライン３２を介して、Ｉ／Ｏインターフェース３３、ＲＯＭ３４及びＲＡＭ３５に接続されており、さらに、Ｉ／Ｏインターフェース３３を介して、搬送コンベア１１及び光電センサ１６に接続されている。これにより、ＣＰＵ３１は、ＲＯＭ３４等に格納されている各種プログラムをＲＡＭ３５に読み出して実行することにより、金属検査装置１０を構成する各部１１，１２，１６の動作を制御することができる。また、ＣＰＵ３１は、バスライン３２を介して、金属検出部１２の発振回路３７及びＡ／Ｄ変換回路３８にも接続されている。これにより、ＣＰＵ３１は、発振回路３７が送信コイル１３に電流を印加する動作を制御するとともに、受信コイル１４ａ，１４ｂを流れる電流の波形に基づいて生成される金属検出信号をＡ／Ｄ変換回路３８から受け取ることができる。 The CPU 31 is connected to the I / O interface 33, the ROM 34 and the RAM 35 via the bus line 32, and further connected to the transport conveyor 11 and the photoelectric sensor 16 via the I / O interface 33. Thereby, CPU31 can control operation | movement of each part 11,12,16 which comprises the metal test | inspection apparatus 10 by reading the various programs stored in ROM34 etc. to RAM35 and executing it. The CPU 31 is also connected to the oscillation circuit 37 and the A / D conversion circuit 38 of the metal detection unit 12 via the bus line 32. As a result, the CPU 31 controls the operation of the oscillation circuit 37 for applying a current to the transmission coil 13, and generates a metal detection signal generated based on the waveform of the current flowing through the reception coils 14a and 14b. Can be received from.

また、Ｉ／Ｏインターフェース３３は、図２に示すように、Ｘ線検査装置２０のＩ／Ｏインターフェース５３に接続されている。これにより、制御部３０は、Ｘ線検査装置２０の制御部５０（図６参照）と信号をやりとりすることができ、Ａ／Ｄ変換回路３８から受け取ったＡ／Ｄ変換された金属検出信号を制御部５０に送る等している。 The I / O interface 33 is connected to the I / O interface 53 of the X-ray inspection apparatus 20 as shown in FIG. Thus, the control unit 30 can exchange signals with the control unit 50 (see FIG. 6) of the X-ray inspection apparatus 20, and the A / D converted metal detection signal received from the A / D conversion circuit 38 is transmitted. The data is sent to the control unit 50.

（Ｘ線検査装置２０の構成）
Ｘ線検査装置２０の搬送コンベア２２上には、図５に示すように、金属検査装置１０で検査された後の物品Ｐが搬送コンベア１１により連続的に運ばれてくる。 (Configuration of X-ray inspection apparatus 20)
As shown in FIG. 5, the articles P after being inspected by the metal inspection apparatus 10 are continuously carried by the conveyor 11 on the conveyor 22 of the X-ray inspection apparatus 20.

Ｘ線検査装置２０は、搬送コンベア２２によって複数の物品Ｐを連続的に搬送しながら、物品ＰにＸ線を照射してＸ線画像１００（図１０（ｂ）参照）を生成する。そして、Ｘ線検査装置２０は、金属検査装置１０による物品Ｐの検査結果を受け取り、その検査結果に基づいてＸ線画像１００に後述する画像処理を施すことにより、物品Ｐに異物が含まれるか否かを検査する。 The X-ray inspection apparatus 20 generates an X-ray image 100 (see FIG. 10B) by irradiating the article P with X-rays while continuously conveying the plurality of articles P by the conveyor 22. Then, the X-ray inspection apparatus 20 receives the inspection result of the article P by the metal inspection apparatus 10 and performs image processing to be described later on the X-ray image 100 based on the inspection result, so that the article P contains foreign matter. Check for no.

Ｘ線検査装置２０による物品Ｐの検査結果は、Ｘ線検査装置２０の下流側に配置される振分機構７０（図５参照）に送られる。振分機構７０は、Ｘ線検査装置２０において物品Ｐに異物が含まれないと判定された場合には、物品Ｐをそのまま正規のラインコンベア８０へと搬送する。一方、Ｘ線検査装置２０において物品Ｐに異物が含まれると判定された場合には、下流側の端部を回転軸とする振分機構７０のアーム７０ａが搬送路を遮るように回動する。これにより、異物が含まれると判定された物品Ｐは、搬送路から外れた位置に配置された不良品回収箱９０によって回収される。 The inspection result of the article P by the X-ray inspection apparatus 20 is sent to a distribution mechanism 70 (see FIG. 5) arranged on the downstream side of the X-ray inspection apparatus 20. If the X-ray inspection apparatus 20 determines that the article P does not contain foreign matter, the distribution mechanism 70 conveys the article P to the regular line conveyor 80 as it is. On the other hand, when it is determined that the X-ray inspection apparatus 20 Ru contains foreign matter article P is rotated so as arms 70a of the sorting mechanism 70 to the rotation axis of the downstream end blocks the conveying path To do. As a result, the article P determined to contain foreign substances is collected by the defective article collection box 90 arranged at a position off the conveyance path.

Ｘ線検査装置２０は、図１に示すように、シールドボックス２１、搬送コンベア２２、遮蔽ノレン２５及びタッチパネル機能付きのモニタ２６を備えており、さらに、図６に示すように、Ｘ線照射器２３、Ｘ線ラインセンサ２４、コンベアモータ２２ｆ、ロータリエンコーダ２２ｇ、光電センサ２７及び制御部５０を備えている。なお、Ｘ線照射器２３、Ｘ線ラインセンサ２４、コンベアモータ２２ｆ、ロータリエンコーダ２２ｇ、光電センサ２７及び制御部５０は、シールドボックス２１の内部に収容されている。 As shown in FIG. 1, the X-ray inspection apparatus 20 includes a shield box 21, a transfer conveyor 22, a shielding noh 25, and a monitor 26 with a touch panel function. Further, as shown in FIG. 23, an X-ray line sensor 24, a conveyor motor 22f, a rotary encoder 22g, a photoelectric sensor 27, and a control unit 50. The X-ray irradiator 23, the X-ray line sensor 24, the conveyor motor 22 f, the rotary encoder 22 g, the photoelectric sensor 27, and the control unit 50 are accommodated inside the shield box 21.

〔シールドボックス２１〕
シールドボックス２１の両側面には、図１に示すように、物品Ｐをシールドボックス２１内に搬入し、又はシールドボックス２１内から搬出するための開口２１ａが形成されている。開口２１ａは、図１に示すように、シールドボックス２１の外部へのＸ線の漏洩を防止するために、遮蔽ノレン２５によって塞がれている。遮蔽ノレン２５は、鉛を含むゴム製のノレン部分を有しており、物品Ｐが搬入又は搬出される際に物品Ｐによって押しのけられる。 [Shield box 21]
As shown in FIG. 1, openings 21 a for carrying the article P into the shield box 21 or carrying it out from the shield box 21 are formed on both side surfaces of the shield box 21. As shown in FIG. 1, the opening 21 a is closed by a shielding noll 25 in order to prevent leakage of X-rays to the outside of the shielding box 21. The shielding nolen 25 has a rubber nolene portion containing lead, and is pushed away by the article P when the article P is carried in or out.

また、シールドボックス２１の正面上部には、モニタ２６の他、キーの差し込み口や電源スイッチが配置されている。 In addition to the monitor 26, a key insertion slot and a power switch are arranged on the upper front portion of the shield box 21.

〔搬送コンベア２２〕
搬送コンベア２２は、図１に示すように、シールドボックス２１の両側面に形成された開口２１ａを貫通するように配置されている。そして、搬送コンベア２２は、コンベアモータ２２ｆ（図６参照）によって駆動される駆動ローラによって無端状のベルトを回転させながら、ベルト上に載置された物品Ｐを矢印Ａの向きに搬送する。搬送コンベア２２の搬送速度は、操作者が入力した設定速度になるように、制御部５０によるコンベアモータ２２ｆのインバータ制御によって細かく制御される。 [Conveyor 22]
The conveyance conveyor 22 is arrange | positioned so that the opening 21a formed in the both sides | surfaces of the shield box 21 may be penetrated, as shown in FIG. Then, the conveyor 22 conveys the article P placed on the belt in the direction of arrow A while rotating the endless belt by a driving roller driven by a conveyor motor 22f (see FIG. 6). The conveyance speed of the conveyance conveyor 22 is finely controlled by the inverter control of the conveyor motor 22f by the control unit 50 so as to be the set speed input by the operator.

また、コンベアモータ２２ｆには、ロータリエンコーダ２２ｇが装着されており、搬送コンベア２２の搬送速度を検出して制御部５０に送る。 Further, a rotary encoder 22g is attached to the conveyor motor 22f, and the conveying speed of the conveying conveyor 22 is detected and sent to the control unit 50.

〔Ｘ線照射器２３〕
Ｘ線照射器２３は、図７に示すように、搬送コンベア２２の上方に配置されており、下方のＸ線ラインセンサ２４に向けて扇状の照射範囲ＫにＸ線を照射する。 [X-ray irradiator 23]
As shown in FIG. 7, the X-ray irradiator 23 is disposed above the transport conveyor 22 and irradiates the fan-shaped irradiation range K with X-rays toward the lower X-ray line sensor 24.

〔Ｘ線ラインセンサ２４〕
Ｘ線ラインセンサ２４は、図７に示すように、搬送コンベア２２の下方に配置されており、物品Ｐや搬送コンベア２２を透過したＸ線を検出する。Ｘ線ラインセンサ２４は、図８に示すように、搬送コンベア２２の搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置された複数の画素２４ａから構成されている。 [X-ray line sensor 24]
As shown in FIG. 7, the X-ray line sensor 24 is disposed below the conveyor 22 and detects X-rays that have passed through the article P and the conveyor 22. As shown in FIG. 8, the X-ray line sensor 24 is composed of a plurality of pixels 24 a that are horizontally arranged in a straight line in a direction orthogonal to the transport direction of the transport conveyor 22.

なお、図８は、Ｘ線検査装置２０内におけるＸ線の照射状態と、その時のＸ線ラインセンサ２４を構成する各画素２４ａにおいて検出されるＸ線量を示すグラフとを示している。 FIG. 8 shows an X-ray irradiation state in the X-ray inspection apparatus 20 and a graph showing the X-ray dose detected in each pixel 24a constituting the X-ray line sensor 24 at that time.

〔モニタ２６〕
モニタ２６は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。また、モニタ２６は、タッチパネル機能を有しており、金属検査装置１０及びＸ線検査装置２０の初期設定や金属検査装置１０及びＸ線検査装置２０の動作に関する動作パラメータの入力等を操作者に促す画面を表示する。 [Monitor 26]
The monitor 26 is a full dot display liquid crystal display. Further, the monitor 26 has a touch panel function, and allows an operator to perform initial setting of the metal inspection apparatus 10 and the X-ray inspection apparatus 20 and input of operation parameters related to the operation of the metal inspection apparatus 10 and the X-ray inspection apparatus 20. Display a prompt screen.

また、モニタ２６は、後述する最終的な出力画像２００を表示する。これにより、操作者は、物品Ｐに含まれる異物の有無、場所、大きさを視覚的に認識することができる。 The monitor 26 displays a final output image 200 described later. Thus, the operator can visually recognize the presence, location, and size of the foreign matter contained in the article P.

〔光電センサ２７〕
光電センサ２７は、Ｘ線ラインセンサ２４の直上流側であって搬送コンベア２２の側方に配置されている点を除き、光電センサ１６と同様の構成を有しており、物品ＰがＸ線ラインセンサ２４の位置にくるタイミングを測定することができる。 [Photoelectric sensor 27]
The photoelectric sensor 27 has the same configuration as that of the photoelectric sensor 16 except that the photoelectric sensor 27 is disposed on the upstream side of the X-ray line sensor 24 and on the side of the transport conveyor 22, and the article P is an X-ray. The timing at which the position of the line sensor 24 comes can be measured.

〔制御部５０〕
制御部５０は、図６に示すように、バスライン５２、ＣＰＵ５１、Ｉ／Ｏインターフェース５３、ＲＯＭ５４、ＲＡＭ５５及びコンパクトフラッシュ（登録商標）（以下、ＣＦ）５６を備えている。 [Control unit 50]
As shown in FIG. 6, the control unit 50 includes a bus line 52, a CPU 51, an I / O interface 53, a ROM 54, a RAM 55, and a compact flash (registered trademark) (hereinafter CF) 56.

ＣＰＵ５１は、バスライン５２を介して、Ｉ／Ｏインターフェース５３、ＲＯＭ５４、ＲＡＭ５５及びＣＦ５６に接続されており、さらに、Ｉ／Ｏインターフェース５３を介して、コンベアモータ２２ｆ、ロータリエンコーダ２２ｇ、Ｘ線照射器２３、Ｘ線ラインセンサ２４、モニタ２６、光電センサ２７及び振分機構７０に接続されている。これにより、ＣＰＵ５１は、ＲＯＭ５４やＣＦ５６に格納されている各種プログラムをＲＡＭ５５に読み出して実行することにより、Ｘ線検査装置２０を構成する各部２２ｆ，２２ｇ，２３，２４，２６，２７や振分機構７０の動作を制御することができる。 The CPU 51 is connected to the I / O interface 53, the ROM 54, the RAM 55, and the CF 56 via the bus line 52, and further, via the I / O interface 53, the conveyor motor 22f, the rotary encoder 22g, and the X-ray irradiator. 23, the X-ray line sensor 24, the monitor 26, the photoelectric sensor 27, and the distribution mechanism 70. As a result, the CPU 51 reads out various programs stored in the ROM 54 and the CF 56 to the RAM 55 and executes them to thereby execute the units 22f, 22g, 23, 24, 26, 27 constituting the X-ray inspection apparatus 20 and the distribution mechanism. 70 operations can be controlled.

また、Ｉ／Ｏインターフェース５３は、図６に示すように、金属検査装置１０のＩ／Ｏインターフェース３３に接続されている。これにより、制御部５０は、金属検査装置１０の制御部３０と信号をやりとりすることができ、Ａ／Ｄ変換された金属検出信号を金属検査装置１０の制御部３０から受け取るとともに、モニタ２６のタッチパネルを介して操作者から入力された金属検査装置１０の動作に関する動作パラメータを制御部３０に送る等している。このように、制御部５０は、Ｉ／Ｏインターフェース３３，５３を介して金属検査装置１０の制御部３０と信号をやりとりすることにより、Ｘ線検査装置２０の動作を制御するとともに、金属検査装置１０の動作も制御し、検査システム１全体の動作を制御している。 Further, the I / O interface 53 is connected to the I / O interface 33 of the metal inspection apparatus 10 as shown in FIG. Thus, the control unit 50 can exchange signals with the control unit 30 of the metal inspection apparatus 10, receives the A / D converted metal detection signal from the control unit 30 of the metal inspection apparatus 10, and Operation parameters relating to the operation of the metal inspection apparatus 10 input from the operator via the touch panel are sent to the control unit 30. In this way, the control unit 50 controls the operation of the X-ray inspection apparatus 20 by exchanging signals with the control unit 30 of the metal inspection apparatus 10 via the I / O interfaces 33 and 53, and at the same time, the metal inspection apparatus. The operation of 10 is also controlled, and the operation of the entire inspection system 1 is controlled.

ＣＦ５６は、検査システム１を動作させるためのプログラムを格納している。このプログラムには、後述される画像処理ルーチンＲ１，Ｒ２が含まれる。また、ＣＦ５６は、異物が含まれると判定された不良商品に対応するＸ線画像１００（図１０（ｂ）参照）や、Ｘ線画像１００に画像処理ルーチンＲ１，Ｒ２により画像処理が施されることにより生成される最終的な出力画像２００（図１０（ｅ）参照）等を保存蓄積する。また、ＣＦ５６は、リムーバブルメディアであり、Ｘ線検査装置２０に挿脱自在に取り付けられている。そのため、Ｘ線検査装置２０からＣＦ５６に保存蓄積されているＸ線画像１００や検査結果等を取り出すことや、ＣＦ５６に格納されているプログラムを更新することも容易になっている。 The CF 56 stores a program for operating the inspection system 1. This program includes image processing routines R1 and R2 described later. Further, the CF 56 performs image processing on the X-ray image 100 (see FIG. 10B) corresponding to the defective product determined to contain foreign matter, or the X-ray image 100 by the image processing routines R1 and R2. The final output image 200 (see FIG. 10E) and the like generated by this is stored and accumulated. The CF 56 is a removable medium and is detachably attached to the X-ray inspection apparatus 20. Therefore, it is also easy to take out the X-ray image 100 stored in the CF 56, the inspection result, etc. from the X-ray inspection apparatus 20 and update the program stored in the CF 56.

また、制御部５０は、モニタ２６へのデータ表示を制御する表示制御回路、モニタ２６のタッチパネルからのキー入力データを取り込むキー入力回路、プリンタ等の他機器との接続を可能にする外部接続端子としてのＵＳＢポート等を備えている。 The control unit 50 also includes a display control circuit that controls data display on the monitor 26, a key input circuit that captures key input data from the touch panel of the monitor 26, and an external connection terminal that enables connection with other devices such as a printer. As a USB port.

（検査システム１の動作）
検査システム１は、操作者によりモニタ２６のタッチパネルを介して物品Ｐの検査の開始命令が入力されると、物品Ｐの検査を開始する。以下、物品Ｐが精肉Ｍである場合を例に、図９を参照して、検査システム１の動作を説明する。 (Operation of inspection system 1)
The inspection system 1 starts inspection of the article P when an operator inputs an inspection start instruction for the article P via the touch panel of the monitor 26. Hereinafter, the operation of the inspection system 1 will be described with reference to FIG. 9 taking the case where the article P is the meat M as an example.

ステップＳ１では、金属検査装置１０により、精肉Ｍに金属が含まれるか否かが検査される。具体的には、精肉Ｍが、搬送コンベア１１により交番磁界の形成される検査領域内を搬送される。このとき、光電センサ１６により、精肉Ｍが検査領域を通過するタイミングが測定され、金属検出部１２により、金属検出信号が生成される。制御部３０は、精肉Ｍが検査領域を通過するタイミングと金属検出信号とを制御部５０に送る。制御部５０は、制御部３０から受け取ったこれらの情報に基づいて、金属検出信号を示す関数Ｓ（Ｘ）（図１０（ａ）参照）を算出する。ここで、Ｘは、精肉Ｍの搬送方向の長さ位置を表す。また、金属検査装置１０により検査された後の精肉Ｍは、搬送コンベア１１によってＸ線検査装置２０の搬送コンベア２２上に搬送される。 In step S <b> 1, the metal inspection apparatus 10 inspects whether the meat M contains a metal. Specifically, the meat M is conveyed in the inspection area where an alternating magnetic field is formed by the conveyor 11. At this time, the timing at which the meat M passes the inspection region is measured by the photoelectric sensor 16, and a metal detection signal is generated by the metal detection unit 12. The control unit 30 sends the timing when the meat M passes the inspection region and the metal detection signal to the control unit 50. Based on the information received from the control unit 30, the control unit 50 calculates a function S (X) (see FIG. 10A) indicating a metal detection signal. Here, X represents the length position of the meat M in the conveyance direction. The meat M after being inspected by the metal inspection apparatus 10 is transported onto the transport conveyor 22 of the X-ray inspection apparatus 20 by the transport conveyor 11.

次に、ステップＳ２では、Ｘ線検査装置２０により、精肉Ｍとその背景領域とを含むＸ線画像１００（図１０（ｂ）参照）が生成される。具体的には、精肉Ｍが、搬送コンベア２２によりＸ線の照射範囲Ｋ内を搬送される。このとき、制御部５０は、光電センサ２７からの信号を受け取り、精肉Ｍが扇状のＸ線の照射範囲Ｋを通過するときに、Ｘ線ラインセンサ２４からＸ線透過信号（図８参照）を細かい時間間隔で取得する。そして、制御部５０は、それらのＸ線透過信号に基づいて、精肉Ｍとその背景部分とを含むＸ線画像１００を生成する。すなわち、制御部５０は、Ｘ線ラインセンサ２４の各画素２４ａから細かい時間間隔をあけて各時刻のデータを取得して、それらのデータを時間経過順につなぎ合わせることにより、精肉Ｍとその背景部分とを含む２次元画像を生成する。 Next, in step S2, the X-ray inspection apparatus 20 generates an X-ray image 100 (see FIG. 10B) including the meat M and the background region. Specifically, the meat M is transported in the X-ray irradiation range K by the transport conveyor 22. At this time, the control unit 50 receives a signal from the photoelectric sensor 27, and sends an X-ray transmission signal (see FIG. 8) from the X-ray line sensor 24 when the meat M passes through the fan-shaped X-ray irradiation range K. Get at fine time intervals. And the control part 50 produces | generates the X-ray image 100 containing the meat M and the background part based on those X-ray transmission signals. That is, the control unit 50 acquires the data of each time from each pixel 24a of the X-ray line sensor 24 with a fine time interval, and connects the data in order of time passage so that the meat M and its background portion Is generated.

次に、ステップＳ３では、制御部５０は、Ｘ線ラインセンサ２４からのＸ線透過信号に基づいて、精肉Ｍの体積を算出する。具体的には、制御部５０は、ステップＳ２で生成されたＸ線画像１００上において精肉Ｍを示す部分１０１と背景領域を示す部分１０２とを切り分け、矢印Ｂ（図３参照）に示す方向の精肉Ｍの幅を算出する。ここで、矢印Ｂに示す方向は、搬送コンベア１１，２２によって精肉Ｍが搬送される搬送方向と直交する方向である。また、制御部５０は、Ｘ線ラインセンサ２４からのＸ線透過信号に基づいて、Ｘ線の減衰の程度を判断し、精肉ＭのＸ線透過方向の厚みを算出する。続いて、制御部５０は、仮想的に精肉Ｍを搬送方向に複数の微小部位に分割し、分割された微小部位ごとの体積を算出された精肉Ｍの幅及び厚みに基づいて算出することにより、精肉Ｍに含まれる長さ位置Ｘ付近における微小部位の体積を示す関数Ｖ（Ｘ）（図１０（ｃ）参照）を算出する。 Next, in step S <b> 3, the control unit 50 calculates the volume of the meat M based on the X-ray transmission signal from the X-ray line sensor 24. Specifically, the control unit 50 separates the portion 101 indicating the meat M and the portion 102 indicating the background region on the X-ray image 100 generated in step S2, and the direction indicated by the arrow B (see FIG. 3). The width of the meat M is calculated. Here, the direction indicated by the arrow B is a direction orthogonal to the transport direction in which the meat M is transported by the transport conveyors 11 and 22. Further, the control unit 50 determines the degree of X-ray attenuation based on the X-ray transmission signal from the X-ray line sensor 24 and calculates the thickness of the meat M in the X-ray transmission direction. Subsequently, the control unit 50 virtually divides the meat M into a plurality of minute parts in the transport direction, and calculates the volume for each divided minute part based on the calculated width and thickness of the meat M. Then, a function V (X) (see FIG. 10C) indicating the volume of the minute part in the vicinity of the length position X included in the meat M is calculated.

次に、ステップＳ４において、制御部５０は、ステップＳ１で生成された金属検出信号をステップＳ３で算出された精肉Ｍの体積で正規化する。具体的には、制御部５０は、金属検出信号を示す関数Ｓ（Ｘ）を精肉Ｍに含まれる長さ位置Ｘ付近における微小部位の体積を示す関数Ｖ（Ｘ）で割ることにより、正規化された金属検出信号を示す関数Ｎ（Ｘ）（図１０（ｄ）参照）を算出する。 Next, in step S4, the control unit 50 normalizes the metal detection signal generated in step S1 with the volume of the meat M calculated in step S3. Specifically, the control unit 50 normalizes by dividing the function S (X) indicating the metal detection signal by the function V (X) indicating the volume of the minute part near the length position X included in the meat M. A function N (X) (see FIG. 10D) indicating the detected metal detection signal is calculated.

次に、ステップＳ５では、制御部５０は、正規化された金属検出信号に基づいて、精肉Ｍ全体の中で金属が含まれると判定される部位２０２（図１０（ｅ）参照）を指定する。具体的には、正規化された金属検出信号を示す関数Ｎ（Ｘ）の値と所定の閾値Ｔ１（図１０（ｄ）参照）との大小関係が判断され、Ｎ（Ｘ）＞Ｔ１を満たす範囲Ｘ３＜Ｘ＜Ｘ４に対応する精肉Ｍの部位２０２（図１０（ｅ）参照）には金属が含まれ、Ｎ（Ｘ）≦Ｔ１を満たす範囲Ｘ１≦Ｘ≦Ｘ３又はＸ４≦Ｘ≦Ｘ２に対応する精肉Ｍの部位２０１，２０３（図１０（ｅ）参照）には金属が含まれないと判定される。 Next, in step S5, the control unit 50 designates a portion 202 (see FIG. 10E) that is determined to contain metal in the whole meat M based on the normalized metal detection signal. . Specifically, the magnitude relationship between the value of the function N (X) indicating the normalized metal detection signal and a predetermined threshold T1 (see FIG. 10D) is determined, and N (X)> T1 is satisfied. The portion 202 (see FIG. 10E) of the meat M corresponding to the range X3 <X <X4 contains metal, and the range X1 ≦ X ≦ X3 or X4 ≦ X ≦ X2 that satisfies N (X) ≦ T1 is satisfied. It is determined that the corresponding portions 201 and 203 of the meat M (see FIG. 10E) do not contain metal.

ここで、図１０（ａ）に示される金属検出信号を示す関数Ｓ（Ｘ）と、図１０（ｄ）に示される正規化された金属検出信号を示す関数Ｎ（Ｘ）とを比較すると、正規化される前の関数Ｓ（Ｘ）には、ピークがＰ１，Ｐ２と２つ存在しているのに対し、正規化された後の関数Ｎ（Ｘ）には、ピークがＰ３の１つしかないことが分かる。これは、関数Ｓ（Ｘ）においてピークＰ２の現れた長さ位置Ｘ付近に対応する部位では、実際には金属の混入がみられないにもかかわらず、精肉Ｍの体積が大きくなっているため、精肉Ｍ中の血液に含まれる鉄分等の金属の影響が過大になったことが原因であると推定される。このように、金属検出信号を精肉Ｍの体積で正規化することにより、精肉Ｍ本体が金属検出信号に与える影響を打ち消すことができる。 Here, when the function S (X) indicating the metal detection signal shown in FIG. 10A and the function N (X) indicating the normalized metal detection signal shown in FIG. 10D are compared, The function S (X) before normalization has two peaks P1 and P2, while the function N (X) after normalization has one peak P3. I understand that there is only one. This is because the volume of the meat M is large at the site corresponding to the vicinity of the length position X where the peak P2 appears in the function S (X), although no metal is actually mixed. It is estimated that the cause is that the influence of metals such as iron contained in the blood in the meat M is excessive. Thus, by normalizing the metal detection signal with the volume of the meat M, the influence of the meat M body on the metal detection signal can be canceled.

次に、ステップＳ６では、制御部５０は、Ｘ線画像１００に画像処理を施して最終的な出力画像２００（図１０（ｅ）参照）を生成する。このとき、制御部５０は、ステップＳ５において金属が含まれるとして指定された部位２０２とそれ以外の部位２０１，２０３とにそれぞれ異なる画像処理ルーチンＲ１，Ｒ２を適用する。具体的には、制御部５０は、Ｘ線画像１００上の部位２０１，２０３に画像処理ルーチンＲ１により画像処理を施し、Ｘ線画像１００上の部位２０２に画像処理ルーチンＲ２により画像処理を施す。ここで、画像処理ルーチンＲ２は、画像処理ルーチンＲ１よりも複雑なアルゴリズムを実装しており、制御部５０において実行される際により多くのリソースを要し、また、より多くの時間を要するプログラムである。制御部５０は、画像処理ルーチンＲ１，Ｒ２により画像処理が施されたＸ線画像１００に部位２０２を囲む輪郭線を付加することにより、最終的な出力画像２００を生成する。すなわち、最終的な出力画像２００では、部位２０２がステップＳ５において金属が含まれると判定された部位であることが明示されている。 Next, in step S6, the control unit 50 performs image processing on the X-ray image 100 to generate a final output image 200 (see FIG. 10E). At this time, the control unit 50 applies different image processing routines R1 and R2 to the part 202 designated as containing metal in step S5 and the other parts 201 and 203, respectively. Specifically, the control unit 50 performs image processing on the parts 201 and 203 on the X-ray image 100 by the image processing routine R1 and performs image processing on the part 202 on the X-ray image 100 by the image processing routine R2. Here, the image processing routine R2 is a program that implements a more complex algorithm than the image processing routine R1, requires more resources when executed by the control unit 50, and requires more time. is there. The control unit 50 generates a final output image 200 by adding a contour line surrounding the region 202 to the X-ray image 100 subjected to the image processing by the image processing routines R1 and R2. That is, in the final output image 200, it is clearly indicated that the part 202 is a part that is determined to contain metal in step S5.

ここで、図１０（ｂ）に示されるＸ線画像１００と、図１０（ｅ）に示される最終的な出力画像２００とを比較すると、画像処理が施される前のＸ線画像１００には現れていなかった異物Ｆ２が、画像処理が施された後の最終的な出力画像２００には現れていることが分かる。異物Ｆ２は、金属検出信号に基づいて金属が含まれると判定された部位２０２に含まれているため、金属であると推定される。一方、異物Ｆ１は、金属検出信号に基づいて金属が含まれないと判定された部位２０３に含まれているため、石やガラス等、金属以外の異物であると推定される。 Here, when the X-ray image 100 shown in FIG. 10B is compared with the final output image 200 shown in FIG. 10E, the X-ray image 100 before image processing is obtained. It can be seen that the foreign matter F2 that did not appear appears in the final output image 200 after the image processing. The foreign matter F 2 is because it is in a region 202 which is determined to contain a metal on the basis of a metal detection signal is presumed to be a metal. On the other hand, the foreign matter F 1 is included in the portion 203 determined not to contain metal based on the metal detection signal, and thus is estimated to be a foreign matter other than metal such as stone or glass.

次に、ステップＳ７では、制御部５０は、ステップＳ６で生成された最終的な出力画像２００に基づいて、精肉Ｍに異物が含まれるか否かを判定する。図１０（ｅ）に示される例では、２つの異物Ｆ１，Ｆ２が検出されるため、精肉Ｍには異物が含まれると判定されることになる。なお、制御部５０による異物が含まれるか否かの判定処理には、画像２００に含まれる各画素の濃度を所定の濃度Ｄ１を基準として２値化して、所定の濃度Ｄ１よりも暗い画素を異物として検出する２値化処理や、画像２００に含まれる各画素についてその周囲の画素の濃度の平均値との差をとり、孤立した濃度の高い領域を抽出して異物として検出する微分処理等を用いることができる。但し、これらの判定処理は、画像２００のうち、部位２０２を囲む輪郭線に対応する画素には適用されないものとする。 Next, in step S7, the control unit 50 determines whether or not the meat M contains a foreign substance based on the final output image 200 generated in step S6. In the example shown in FIG. 10 (e), since two foreign substances F1 and F2 are detected, it is determined that the meat M contains foreign substances. In the determination process of whether or not a foreign substance is included by the control unit 50, the density of each pixel included in the image 200 is binarized with reference to a predetermined density D1, and pixels darker than the predetermined density D1 are selected. Binarization processing for detecting as a foreign object, differential processing for extracting an isolated high-density region and detecting it as a foreign object by taking a difference from the average density of surrounding pixels for each pixel included in the image 200 Can be used. However, it is assumed that these determination processes are not applied to the pixels corresponding to the contour line surrounding the part 202 in the image 200.

次に、ステップＳ８では、制御部５０は、ステップＳ７において精肉Ｍに異物が含まれると判定された場合に、その物品が正規のラインコンベア８０に搬送されることを防止するために、振分機構７０のアーム７０ａを回動させて搬送路を遮る。その結果、異物が含まれると判定された精肉Ｍは、搬送路から外れて不良品回収箱９０によって回収される。 Next, in step S8, the control unit 50 distributes the article in order to prevent the article from being conveyed to the regular line conveyor 80 when it is determined in step S7 that the meat M contains foreign matter. The arm 70a of the mechanism 70 is rotated to block the conveyance path. As a result, the meat M that has been determined to contain foreign matter is removed from the transport path and collected by the defective product collection box 90.

次に、ステップＳ９では、制御部５０は、ステップＳ６で生成された最終的な出力画像２００をモニタ２６に表示する。これにより、検査システム１の操作者は、精肉Ｍに含まれる異物Ｆ１，Ｆ２の有無、場所、大きさを視覚的に認識することができる。 Next, in step S9, the control unit 50 displays the final output image 200 generated in step S6 on the monitor 26. Thereby, the operator of the inspection system 1 can visually recognize the presence, location, and size of the foreign matters F1 and F2 included in the meat M.

＜特徴＞
（１）
検査システム１では、検査対象となる物品Ｐは、上流側にある金属検査装置１０において検査された後、続いて下流側にあるＸ線検査装置２０においても検査される。このとき、制御部５０は、金属検査装置１０による物品Ｐの検査結果に基づいて、物品Ｐ全体の中で金属が含まれると判定される部位２０２を指定する。これにより、検査システム１では、検査対象となる物品Ｐ全体の中で、他の部位２０１，２０３とは異なる検査条件が適用されるべき部位２０２を予め指定することができないような場合にも、部位２０２にその他の部位２０１，２０３とは異なる検査条件を適用することが可能になっている。 <Features>
(1)
In the inspection system 1, the article P to be inspected is inspected by the metal inspection apparatus 10 on the upstream side, and then also inspected by the X-ray inspection apparatus 20 on the downstream side. At this time, based on the inspection result of the article P by the metal inspection apparatus 10, the control unit 50 designates a part 202 that is determined to contain metal in the entire article P. Thereby, in the inspection system 1, even in the case where the part 202 to which the inspection condition different from the other parts 201 and 203 should be applied in the entire article P to be inspected cannot be designated in advance. It is possible to apply inspection conditions different from those of the other parts 201 and 203 to the part 202.

特に、検査システム１では、Ｘ線画像１００上の部位２０２に、その他の部位２０１，２０３に適用される画像処理ルーチンＲ１よりも高度な画像処理アルゴリズムを実装する画像処理ルーチンＲ２が適用される。このように、物品ＰのＸ線画像１００には、画像処理が効率良く施されるようになっている。 In particular, in the inspection system 1, an image processing routine R2 that implements a higher image processing algorithm than the image processing routine R1 applied to the other parts 201 and 203 is applied to the part 202 on the X-ray image 100. As described above, the X-ray image 100 of the article P is efficiently subjected to image processing.

（２）
検査システム１では、金属検査装置１０による検査結果とＸ線検査装置２０による検査結果とを重ね合わせた最終的な出力画像２００がモニタ２６に表示される。これにより、操作者は、検査システム１全体の検査結果を視覚的に把握することができるようになっている。 (2)
In the inspection system 1, a final output image 200 in which the inspection result by the metal inspection apparatus 10 and the inspection result by the X-ray inspection apparatus 20 are superimposed is displayed on the monitor 26. Thereby, the operator can grasp | ascertain visually the test result of the test | inspection system 1 whole.

（３）
検査システム１では、上流側に金属検査装置１０が配置され、下流側にＸ線検査装置２０が配置されている。金属検査装置１０は、Ｘ線検査装置２０では検出されにくい薄い異物であっても金属であれば高感度に検出することが可能である。このため、検査システム１では、金属検査装置１０により金属の混入が検出された部位２０２については、Ｘ線検査装置２０によりその他の部位２０１，２０３よりも詳細に検査することにより、Ｘ線画像１００に現れていた異物Ｆ１だけでなく、Ｘ線画像１００には現れなかった異物Ｆ２も検出することができるようになっている。 (3)
In the inspection system 1, a metal inspection apparatus 10 is disposed on the upstream side, and an X-ray inspection apparatus 20 is disposed on the downstream side. The metal inspection apparatus 10 can detect a thin foreign object that is difficult to be detected by the X-ray inspection apparatus 20 with high sensitivity if it is metal. For this reason, in the inspection system 1, the X-ray image 100 is obtained by inspecting the part 202 where the metal contamination is detected by the metal inspection apparatus 10 in more detail than the other parts 201 and 203 by the X-ray inspection apparatus 20. It is possible to detect not only the foreign matter F1 that appeared in FIG. 5 but also the foreign matter F2 that did not appear in the X-ray image 100.

（４）
検査システム１では、金属検査装置１０から出力される金属検出信号が検査対象となる物品Ｐの体積により正規化され、正規化された金属検出信号に基づいて金属が含まれるか否かの判定がされている。このため、精肉Ｍのように、金属検出信号に影響を与える傾向にある物品Ｐが検査対象とされる場合であっても、そうした影響を最小化して、物品Ｐに異物として含まれる金属をより高感度に検出することができるようになっている。 (4)
In the inspection system 1, the metal detection signal output from the metal inspection apparatus 10 is normalized by the volume of the article P to be inspected, and it is determined whether or not the metal is included based on the normalized metal detection signal. Has been. For this reason, even when the article P that tends to affect the metal detection signal, such as the meat M, is an object to be inspected, such influence is minimized, and the metal contained in the article P as a foreign substance is reduced. It can be detected with high sensitivity.

＜変形例＞
（１）
上記実施形態では、上流側に金属検査装置１０が配置され、下流側にＸ線検査装置２０が配置される構成となっているが、上流側及び下流側の双方又は一方に別の検査装置が配置されてもよい。 <Modification>
(1)
In the above embodiment, the metal inspection apparatus 10 is disposed on the upstream side and the X-ray inspection apparatus 20 is disposed on the downstream side, but another inspection apparatus is provided on both or one of the upstream side and the downstream side. It may be arranged.

例えば、上流側にカメラが設置され、下流側にＸ線検査装置が配置される構成とすることも可能である。この場合、検査システム１は、物品Ｐに異物が含まれるか否かの検査だけでなく、包装内に必要な物品Ｐが含まれているか否かや物品Ｐに割れ欠けがないか否か等の検査にも利用することができる。 For example, a configuration in which a camera is installed on the upstream side and an X-ray inspection apparatus is arranged on the downstream side may be employed. In this case, the inspection system 1 not only inspects whether or not the article P contains foreign matter, but also whether or not the necessary article P is included in the packaging, whether or not the article P has cracks, etc. It can also be used for inspection.

（２）
上記実施形態では、金属検査装置１０により金属が含まれると判定された部位２０２に対しては、その他の部位２０１，２０３に対するよりもより複雑な画像処理アルゴリズムを実装する画像処理ルーチンＲ２が施されているが、本発明はこの態様に限定されない。 (2)
In the above embodiment, the image processing routine R2 that implements a more complicated image processing algorithm than that for the other portions 201 and 203 is applied to the portion 202 determined to contain metal by the metal inspection apparatus 10. However, the present invention is not limited to this embodiment.

例えば、金属検査装置１０により指定された部位２０２とその他の部位２０１，２０３とに異なるパラメータを用いて画像処理を行うことができる。すなわち、最終的な出力画像２００上において部位２０２のみを拡大したり、最終的な出力画像２００上の部位２０２についてのみ解像度を上げたり等も可能である。また、異物が含まれるか否かの判定処理に際して、使用される閾値などを変えることも可能である。 For example, image processing can be performed using different parameters for the part 202 specified by the metal inspection apparatus 10 and the other parts 201 and 203. That is, it is possible to enlarge only the part 202 on the final output image 200, or to increase the resolution only for the part 202 on the final output image 200. It is also possible to change the threshold value used in the determination process of whether or not a foreign object is included.

（３）
上記実施形態では、金属検出信号を示す関数Ｓ（Ｘ）を精肉Ｍに含まれる微小部位の体積を示す関数Ｖ（Ｘ）で割ることにより、金属検出信号を物品Ｐの体積で正規化している。しかしながら、本発明はこの態様に限定されず、関数の除算による方法の他、金属検出信号に含まれる物品Ｐ自体に含まれる金属の影響を打ち消すことができる任意の計算方法が利用され得る。 (3)
In the above embodiment, the metal detection signal is normalized by the volume of the article P by dividing the function S (X) indicating the metal detection signal by the function V (X) indicating the volume of the minute part contained in the meat M. . However, the present invention is not limited to this mode, and any calculation method capable of canceling the influence of the metal contained in the article P itself contained in the metal detection signal can be used in addition to the method based on the function division.

本発明は、検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することを可能にし、物品を効率よく検査することができるという効果を有し、物品を検査する検査システム及び検査装置として有用である。 In the present invention, even in a case where a specific part to which inspection conditions different from other parts are to be applied cannot be designated in advance in the entire article to be inspected, It is possible to apply inspection conditions different from those of other parts, and has an effect that the article can be inspected efficiently, and is useful as an inspection system and inspection apparatus for inspecting the article.

本発明の一実施形態に係る検査システム１の外観図。1 is an external view of an inspection system 1 according to an embodiment of the present invention. 金属検査装置１０の構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing a configuration of a metal inspection apparatus 10. FIG. 金属検査装置１０を示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing the metal inspection apparatus 10. 金属検査装置１０を示す正面図。The front view which shows the metal test | inspection apparatus 10. FIG. Ｘ線検査装置２０の前後を示す平面図。The top view which shows the front and back of the X-ray inspection apparatus 20. FIG. Ｘ線検査装置２０の構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing a configuration of an X-ray inspection apparatus 20. FIG. Ｘ線検査装置２０において物品ＰにＸ線が照射される状態を示す図。The figure which shows the state in which X-rays are irradiated to the article | item P in the X-ray inspection apparatus 20. FIG. Ｘ線検査の原理を示す模式図。The schematic diagram which shows the principle of a X-ray inspection. 本発明の一実施形態に係る検査システム１の動作を示すフローチャート。The flowchart which shows operation | movement of the test | inspection system 1 which concerns on one Embodiment of this invention. （ａ）金属検出信号を示す図。（ｂ）物品Ｐと背景領域とを含むＸ線画像１００を示す図。（ｃ）物品Ｐの体積を示す図。（ｄ）物品Ｐの体積により正規化された金属検出信号を示す図。（ｅ）最終的な出力画像２００を示す図。(A) The figure which shows a metal detection signal. (B) The figure which shows the X-ray image 100 containing the articles | goods P and a background area | region. (C) The figure which shows the volume of the articles | goods P. FIG. (D) The figure which shows the metal detection signal normalized by the volume of the article | item P. FIG. (E) The figure which shows the final output image 200. FIG.

１検査システム
１０金属検査装置
１２金属検出部
１３送信コイル
１４ａ，１４ｂ受信コイル
２０Ｘ線検査装置
２３Ｘ線照射器（Ｘ線源）
２４Ｘ線ラインセンサ（Ｘ線受光部）
３６検波・フィルタ回路
３８Ａ／Ｄ変換回路
５０制御部（画像処理部）
１００Ｘ線画像
２００最終的な出力画像
２０１，２０３非指定部位
２０２指定部位
Ｐ物品
Ｒ１，Ｒ２画像処理ルーチン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection system 10 Metal inspection apparatus 12 Metal detection part 13 Transmitting coils 14a and 14b Reception coil 20 X-ray inspection apparatus 23 X-ray irradiator (X-ray source)
24 X-ray line sensor (X-ray detector)
36 Detection / Filter Circuit 38 A / D Conversion Circuit 50 Control Unit (Image Processing Unit)
100 X-ray image 200 Final output image 201, 203 Non-designated part 202 Designated part P Article R1, R2 Image processing routine

Claims

An upstream inspection device for inspecting articles;
Positioned downstream of the upstream inspection device in the conveyance direction of the article, the designated portion of the article designated based on the inspection result of the article by the upstream inspection device, and a non-designated portion other than the designated portion And applying a different inspection condition to the downstream inspection device for inspecting the article,
An inspection system comprising a,
The upstream inspection device is a metal inspection device that inspects whether or not the article contains metal,
The designated site is a site containing metal in the article.
Inspection system .

The downstream inspection apparatus is
An X-ray source for irradiating the article with X-rays;
An X-ray light receiving unit for receiving X-rays from the X-ray source;
An X-ray image is generated based on the X-ray received by the X-ray light receiving unit, and different inspection conditions are applied to the designated part and the non-designated part on the X-ray image. An image processing unit for processing;
An X-ray inspection apparatus having
The inspection system according to claim 1.

The image processing unit outputs the X-ray image on which the image processing has been performed in a form in which the designated site is clearly specified.
The inspection system according to claim 2.

The metal inspection apparatus is
A transmission coil that generates an alternating magnetic field;
A receiving coil disposed in the alternating magnetic field;
A signal generator that generates a metal detection signal based on a waveform of a current flowing through the receiving coil;
Have
The image processing unit virtually divides the article into a plurality of parts, and calculates a volume for each of the divided parts based on the X-rays received by the X-ray light receiving unit. Normalizing the metal detection signal generated by the signal generation unit with the volume, and specifying the designated portion based on the normalized metal detection signal;
The inspection system according to claim 2 or 3 .

A metal inspection device for inspecting the presence or absence of metal contained in the article;
Based on the inspection result of the article by the metal inspection device, located on the downstream side of the metal inspection device with respect to the conveyance direction of the article, the part containing the metal is designated in the article, An X-ray inspection apparatus that inspects the article by applying different inspection conditions to a designated part;
An inspection system comprising: