JP4912307B2 - センサ繰出し器用接点コネクタアセンブリ - Google Patents

Description

本発明は全体としてセンサ繰出し器用の接点コネクタアセンブリに関し、特に、流体中の、例えば血糖等の少なくとも１つの分析物濃度を測定するために使用されるようになされた接点コネクタアセンブリに関する。

体液中の分析物の測定は、診断および一定の生理的異常の維持においてきわめて重要である。例えば、乳酸塩、コレステロールおよびビリルビンは一定の個人においてモニタすべきである。特に、体液中のグルコースの測定は糖尿病の個人にとって重要とされ、その人の体液中のグルコース濃度を頻繁に調べて、その人の治療食におけるグルコース摂取量を調整しなければならない。本明細書における以下の開示は、グルコースの測定において助けとなる接点コネクタアセンブリを対象とするが、この接点コネクタアセンブリは適切な酵素を選択することによって他の分析物の測定用にも使用できることを理解されたい。

そのような検査の結果は、インスリンもしくは他にどんな薬剤を投与する必要があるかを判断するために使用できる。１つのタイプの血糖検査システムにおいては、血液試料等の流体を検査するために試験センサが使用される。

試験センサは血糖と反応するバイオセンシング材料もしくは試薬材料を含有する。センサの試験端は、検査中の流体、例えば、人の指を刺した後に指に溜まった血液中に置かれるようになされる。流体はセンサ内に試験端から試薬材料まで延在する毛管路内に毛管現象によって引き込まれることにより、検査される十分な量の流体がセンサ内に引き込まれる。流体は次いでセンサ内で試薬材料と化学的に反応し、その結果、検査中の流体のグルコース濃度を表す信号がセンサの後部もしくは接触端近傍に位置する接点領域に供給される。

センサ繰出し器を一層簡潔かつ一層信頼しうる機構として使用可能とする接点コネクタアセンブリを有することが望ましい。

一実施形態によれば、接点コネクタアセンブリは、複数の電気化学的試験センサを収容するセンサ繰出し器において使用されるようになされている。前記接点コネクタアセンブリは、少なくとも４つの電気接点と、ハウジングコネクタと、ベースコネクタと、可動機構とを備える。前記ハウジングコネクタは、少なくとも１つのハウジング隙間を形成する。前記少なくとも１つのハウジング隙間は、前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされる。前記ベースコネクタは、前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成する。前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方は、第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされる。前記可動機構は、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタの少なくとも一方に結合される。前記可動機構は、前記ベースコネクタまたは前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている。前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、両者が前記複数の試験センサの１つを保持するような態様で互いに結合される。前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第２ポジションにて、前記試験センサが両者から取り外し可能となるような態様で互いに結合される。

一実施形態によれば、センサ繰出し器は分析物濃度を測定するように構成される。前記センサ繰出し器は、複数の電気化学的試験センサと、カートリッジと、接点コネクタアセンブリとを備える。前記カートリッジは、複数の電気化学的試験センサを収容する。前記接点コネクタアセンブリは、少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタのうちの少なくとも一方に結合された可動機構とを含む。前記少なくとも１つのハウジング隙間は、前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされる。ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタの少なくとも一方は、第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされる。前記可動機構は、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされる。前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、両者が前記複数の試験センサの１つを保持するような態様で互いに結合され、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢する。前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第２ポジションにて、前記試験センサが両者から取り外されるのを可能となる態様で、互いに結合される。

１つの方法によれば、分析物濃度を測定するためにセンサ繰出し器が使用される。センサ繰出し器は、複数の電気化学的試験センサと、前記複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジと、接点コネクタアセンブリとを含む。前記接点コネクタアセンブリは、少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタの少なくとも一方に結合された可動機構とを含む。前記少なくとも１つのハウジング隙間は、前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされる。前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方は第１ポジションに置かれる。前記複数の試験センサの１つは、前記カートリッジから前記センサ受け間隙に再位置付けされ、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢するようにする。前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方は、前記可動機構によって前記第１ポジションから第２ポジションに移動される。流体は、少なくとも１つの分析物とともに前記複数の試験センサの前記１つに置かれる。前記少なくとも１つの分析物の前記濃度が測定される。

本発明に関しては、様々な変更および代替形式が生じる可能性があるが、本明細書では具体的実施形態を例として図面に示しかつ詳細に説明する。しかし、本発明は開示された特定の形式に限定することを意図するものではないと理解されたい。むしろ、本発明は、付属の特許請求範囲により画定される本発明の理念および保護範囲内に属する一切の変更、均等物、および代替物に及ぶものである。

本発明は複数の電気化学的試験センサを収容するセンサ繰出し器に使用される接点コネクタアセンブリを対象とする。電気化学的試験センサは、流体中の少なくとも１つの分析物の濃度を測定するために使用される。本発明の接点コネクタアセンブリを使用して測定ができる分析物は、グルコース、脂質プロファイル（コレステロール、トリグリセリド、ＬＤＬおよびＨＤＬ等）、ミクロアルブミン、ヘモグロビンＡ₁Ｃ、果糖、乳酸塩、もしくはビリルビンを含む。しかし、本発明はこれら特定の分析物を測定することに限らず、他の分析物濃度の測定を可能とすることも想定される。分析物は、例えば、全血試料、血清試料、血漿試料中、もしくはＩＳＦ（間質液）および尿等、他の体液中にも存在するであろう。

複数の試験センサが一般的に使い捨て可能なカートリッジに格納される。例えば、複数の試験センサをセンサパックに格納することが可能とされ、その場合には試験センサはそれぞれセンサキャビティ内にパッケージされる（ブリスタ型パック等）。センサ繰出し器２０内に置かれる使い捨て可能なカートリッジ１０の一例を図１に示す。使い捨て可能なカートリッジ１０はブリスタ型パックの一例である。カートリッジ１０は各センサキャビティ１４内に個別に格納される複数の試験センサ１２を含む。センサを個別に保持する他のセンサパックを使用可能とすることも想定される。図１の使い捨て可能なカートリッジ１０は、２００３年２月１３日に公開され、発明の名称を「Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｍｅｃｈａｎｉｓｍ ｆｏｒ ａ Ｂｌｏｏｄ Ｇｌｕｃｏｓｅ Ｓｅｎｓｏｒ−Ｄｉｓｐｅｎｓｉｎｇ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ」とする米国公開特許公報第２００３／００３２１９０号でさらに説明されている。

複数の試験センサを図２ａに示す使い捨て可能なカートリッジに積層することができる。図２ａに関し、使い捨て可能なカートリッジ５０は、ハウジング５２と、ばね５６により矢印Ａの方向に移動される複数の積層された試験センサ５４とを含む。カートリッジ５０は、積層された試験センサ５４を湿気から保護する複数のシール５８ａ、ｂも含む。試験センサ５４は、一度に１つずつ、間隙６０を介してカートリッジ５０から出る。使い捨て可能なカートリッジ５０は、図２ｂのセンサ繰出し器７０に格納できる。カートリッジ１０、５０以外の他のカートリッジを使用可能とすることも想定される。

図１および２ａのカートリッジ１０、５０は、様々なユーザの需要に対応するために、含まれる試験センサの数を変更できる。一般的に、カートリッジは約１０から約５０のセンサを収容し、より具体的には、約２５から約４０のセンサを収容する。試験センサの有効貯蔵期間および使用期限に限度があるため、検査頻度の少ないユーザはより頻繁に検査を行うユーザに対して、試験センサ数のより少ないカートリッジを所望することが多かろうと予想される。

カートリッジ内で使用される試験センサには一般的に、センサの前端もしくは試験端からセンサ内に置かれたバイオセンシングもしくは試薬材料に至る毛管路が設けられる。センサの試験端が流体中（人の指を刺した後に指に溜まった血液等）に置かれたときに、流体の一部が毛管現象によって毛管路内に引き込まれる。流体が次いでセンサ内の試薬材料と化学反応することによって、検査中の流体中の分析物（グルコース等）レベルを表す電気信号が供給され、次いで電気的アセンブリに伝達される。

グルコース濃度の測定に使用できる試薬材料はグルコース酸化酵素を含む。グルコース濃度を測定するために、グルコース脱水素酵素等、他の試薬材料を使用可能とすることも想定される。さらに、グルコースの測定に役立てるために、例えば、ピロロキノリンキノン・グルコースデヒドロゲナーゼおよびフェリシアン化カリウム等、他の試薬材料を使用可能とすることも想定される。選択された試薬は検査を行って分析物濃度を測定するために必要とされる流体の量および時間等の項目に影響を及ぼすであろう。

試験センサの一例を図３ａ、３ｂに示すが、これに限定はしない。図３ａ、３ｂは複数の毛管路７２、蓋７４、および複数の電極７６、７８、および８０を含む試験センサ７０を示す。複数の電極は、対極７６、検知電極７８、および作用（測定）電極８０を含む。図３ｂに示すように、試験センサ７０は試薬を含有する流体受け領域８２を含む。試薬を有する流体受け領域および試験センサの電極の作用は当業者には知られており、したがってさらに詳しく説明はしない。電気化学的試験センサの例は、その作用も含めて、例えば、第２００１／００４２６８３号として公開された米国特許出願および欧州特許第１１５２２３９号に見出されよう。他の電気化学的試験センサを使用可能とすることも想定される。

一実施形態によれば、複数の試験センサは自動補正するように適応している。自動補正する試験センサを有することは、センサ繰出し器で必要とされる部品を極減するので有利である。さらに、自動補正機能を有することは、それによってユーザが試験センサの製品ロットナンバーに関する情報を入力する必要をなくして製品ロットナンバーに関係する正しいプログラムを実行するので、望ましいこととされよう。しかし、複数の試験センサは自動補正する能力を有さない場合も想定される。

図４および５に関し、接点コネクタアセンブリ１００を一実施形態により示す。接点コネクタアセンブリ１００は試薬を有する試験センサとセンサ繰出し器の電子システムの間の接続を行うようになされる。センサ繰出し器に置かれたソフトウェアは電気信号を使用して流体の少なくとも１つの分析物濃度（血糖値等）を出力する。接点コネクタアセンブリ１００は少なくとも４つの電気接点１０２、ハウジングコネクタ１０４、ベースコネクタ１０６、および可動機構１０８を備える。

図４および５の接点コネクタアセンブリ１００は、厳密に５つの電気接点１０２ａ〜ｅを含む。接点コネクタアセンブリは厳密に４つの電気接点を有するか、あるいは６つまたはそれ以上の電気接点を有する場合も想定される。図５および６に示すように、電気接点１０２ａ〜ｅはそれぞれハウジングコネクタ１０４に固定される。電気接点１０２ａ〜ｅはハウジングコネクタ１０４内に位置付けされて試験センサと接触する。電気接点１０２ａ〜ｅはハウジングコネクタ１０４に固定されるが、電気接点１０２ａ〜ｅは試験センサに対して浮動可能とされ、その結果、電気接点と試験センサの間の接続がより良好となる。電気センサ１０２ａ〜ｅを浮動可能とすることにより、試験センサは位置付けされるときに十分な上向き圧力を電気センサ１０２ａ〜ｅに及ぼし、その結果、電気センサ１０２ａ−ｅは上向きに動かされる。電気接点１０２ａ〜ｅに関するポテンシャル運動の量は、図６ｂに間隔Ｄとして示す。電気接点と試験センサの間の向上した接続を維持するため、電気センサ１０２ａ〜ｅは、試験センサが電気接点に対して適切に位置付けされた後に試験センサに下向き圧力を維持するように形成されることが望ましい。

電気接点１０２ａ〜ｅは様々な材料により製作できるが、一般的には金属により製作される。電気接点の形成に使用可能な材料の一例は、ステンレススチールである。ニッケルめっきされたリン青銅もしくはニッケルめっきされたベリリウム銅等の他の金属を電気接点の形成に使用可能とすることも想定される。複数の電気接点１０２ａ〜ｅはスタンピングにより形成できる。さらに、複数の電気接点は図４に示すものと異なる形状にも形成できる。

一実施形態においては、電気接点１０２ａ〜ｅは電子プリント基板と通信するようになされる。そのような実施形態では、電気接点１０２ａ〜ｅは電子プリント基板に形成された開口に挿通されよう。電子プリント基板と電気接点１０２ａ〜ｅの間の電気的接触喪失を防止もしくは阻止するため、電気接点は一般的には電子プリント基板の所定位置に半田付けされる。

図４および６に示すように、ハウジングコネクタ１０４は、各電気接点１０２ａ〜ｅを受ける寸法に作られた複数のハウジング隙間もしくは開口１１０ａ〜ｅを形成する。ハウジング隙間１１０ａ〜ｅは、図４および６ではスロット状の形状である。電気接点１０２ａ〜ｅがハウジング隙間１１０ａ〜ｅ内に入った様子を図６ａ、ｃ、ｄに示す。ハウジングコネクタの隙間が図４および６に示した数より少ない場合も想定される。例えば、ハウジングコネクタは電気接点を受ける隙間を少なくとも１つとする場合もあろう。隙間数の少ないそのような実施形態は、電気接点同士を相互に電気的に離隔する必要からして、むしろ望ましくない場合もあろう。また、ハウジング隙間は図４および６に示したのとは別の形状とすることも想定される。

ハウジングコネクタ１０４は複数のボス１１２も含む。ボス１１２はセンサ繰出し器の電子プリント基板に形成された対応する開口内にスナップ係合するようになされる。接点コネクタアセンブリは別の形式で電子プリント基板に設置されることも想定される。

ハウジングコネクタ１０４はさらに、複数のベース接続受け部１１４、伸長部１１６、および複数の概ね三角形状のプラグ１１８を含む。各受け部１１４は開口１１４ａを形成する。図４および６に示すように、開口１１４ａはベースコネクタ１０６に形成された複数の柱状部１３０のそれぞれ１つを受ける寸法に作られる。図４、５ｂ、５ｄに示すように、ハウジングコネクタ１０４の伸長部１１６は可動機構１０８に形成された開口１５０に挿通するようになされる。ハウジングコネクタ１０４は一般的に高分子材料により製作される。ハウジングコネクタの形成に使用可能な高分子材料の一例はポリカーボネートである。ハウジングコネクタ１０４の形成に他の材料が使用されることも想定される。

図７ａ〜ｃに関し、ベースコネクタ１０６は複数の柱状部１３０、複数の概ね矩形状の脚部１３２、および叉状突部もしくは伸長部１３４を含む。柱状部１３０はハウジングコネクタ１０４に形成された開口１１４ａに挿通されるようになされる。柱状部１３０の数は、図７ａ〜ｃに示す数と異なることもあろう。柱状部は図７ａ〜ｃに示す形状と異なることも想定される。

図７ａ〜ｃの概ね矩形状の脚部１３２は、複数の概ね三角形状のプラグ１１８（図６ａ、ｃ、ｄ参照）のそれぞれにスナップ係合するようになされる。プラグ１１８は、ベースコネクタ１０６が第１ポジションから第２ポジションに移動し、尚同時にハウジングコネクタ１０４への結合を可能とするように設計される。ベースコネクタ１０６は図５ａ〜ｄに示すようにハウジングコネクタに結合される。

ベースコネクタ１０６の柱状部１３０および複数の脚部１３２は、ハウジングコネクタ１０４の受け部１１４および複数のプラグ１１８とともに作用して、ベースコネクタ１０６とハウジングコネクタ１０４を結合させる。ハウジングコネクタ１０４とベースコネクタ１０６が図５ａ、ｂに示すように結合されるときに、両者は複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙１４０ａを形成する。間隙１４０ａは、複数の試験センサの１つが静止可能なフロア１４２を有する。

図５ｂに示すように、ベースコネクタ１０６の叉状突部１３４は可動機構１０８に形成された開口１５２に挿通するようになされる。叉状突部１３４および開口１５２はスナップ係合嵌合を形成する。ベースコネクタおよび可動機構は他の方法によって止着することも想定される。

ベースコネクタ１０６は第１ポジション（図５ａ、ｂ）と第２ポジション（図５ｃ、ｄ）との間を移動するようになされる。第１ポジションでは、試験センサがカートリッジから間隙１４０ａ内に再位置付けされた後、検査中所定位置に保持される。一実施形態においては、センサ受け間隙１４０ａは、同間隙１４０ａの高さが試験センサの厚さとほぼ同じになる寸法に作られる。例えば、間隙１４０ａの高さは約０．３８１ｍｍ（１５ミル）とし、試験センサの厚さも約０．３８１ｍｍ（１５ミル）とすることができよう。間隙１４０ａの高さは試験センサの厚さとともに別の寸法とすることも想定される。

検査が終了した後に、使用済みの試験センサは取り外される。試験センサを取り外すには、一実施形態ではベースコネクタ１０６をハウジングコネクタ１０４に関して下げることによってベースコネクタ１０６を第２ポジションに移動させる。ベースコネクタ１０６が第２ポジションに移動されたときに、間隙が広がり始め（図５ｃ、ｄの１４０ｂ参照）、試験センサに対する挟持力が弱まる。試験センサの取外しを助勢するため、間隙１４０ｂはその高さが試験センサの厚さより大きい寸法に作られる。例えば、間隙１４０ｂの高さは約０．７６２ｍｍ（３０ミル）とし、試験センサの厚さは約０．３８１ｍｍ（１５ミル）としてよかろう。間隙１４０ｂの高さは別の寸法とすることも想定される。

間隙が広がることにより、例えばユーザはセンサ繰出し器を軽く叩く等して試験センサが重力によって出るようにすることによって試験センサを取り外すことができる。試験センサは、試験センサをセンサ繰出し器から掴み離す等、他の方法によって取り外すことが想定される。あるいは、ボタンを押すことによって試験センサがセンサ繰出し器から放出されるようにしてもよい。また、試験センサをセンサ繰出し器から枢動レバーもしくは引抜き機構によって取り外すことも想定される。

別の実施形態によれば、ベースコネクタに代えてハウジングコネクタをベースコネクタに対して上述説明したように第１ポジションと第２ポジションとの間で移動させるようにできる。そのような実施形態においては、ハウジングコネクタを第１および第２ポジションの間で移動させるように可動機構を適合させることができる。

ベースコネクタ１０６をハウジングコネクタに対して移動させるには、図４、５に示す可動機構１０８等の可動機構を使用することができる。図４、５の可動機構１０８はレバーもしくは枢動アームである。可動機構１０８はベースコネクタ１０６を第１ポジション（図５ａ、ｂ）と第２ポジション（図５ｃ、ｄ参照）の間で移動させる。可動機構を第１ポジションに維持するのを助勢するために、可動機構はバネもしくは他に適切な構成要素を含むことができる。

可動機構がハウジングコネクタ１０４およびベースコネクタ１０６両方に接続された状態を図５ａ〜ｄに示す。しかし、可動機構は厳密にハウジングコネクタおよびベースコネクタの一方に接続されることも想定される。例えば、可動機構はハウジングコネクタのみに接続され、ベースコネクタには接続されない場合もあろう。同様に、可動機構はベースコネクタのみに接続され、ハウジングコネクタには接続されない場合もあろう。そのような実施形態においては、ハウジングコネクタかベースコネクタか、いずれかが他方に対して移動されてセンサ受け間隙を形成する必要があろう。

可動機構１０８はベースコネクタをハウジングコネクタに対して移動中の状態が図示されている。可動機構はハウジングコネクタがベースコネクタに対して移動されるように接続されることも想定される。そのような実施形態においては、ベースコネクタに代えてハウジングコネクタが第１および第２ポジションの間で移動されるであろう。あるいは、ハウジングコネクタおよびベースコネクタ双方とも相互に対して移動させることもできる。そのような実施形態においては、ハウジングコネクタおよびベースコネクタ双方ともそれぞれの第１ポジションと第２ポジションとの間で移動されるであろう。

１つの方法によれば、センサ繰出し器は、複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジ（図１および２ａのカートリッジ１０、５０等）を含むようになされる。センサ繰出し器はユーザによって付勢され、その結果試験センサは少なくとも部分的にカートリッジから移動され、接点コネクタアセンブリの一部分に接触するように再位置付けされる。電気接点は試験センサの各導電性パッドに接触する。電気接点が各導電性パッドに接触した後に、電流が電子プリント基板に流れることが可能になる。

１つの方法によれば、センサ繰出し器のソフトウェアが電流を検出し、自動補正プログラムを実行する。自動補正プログラムが終了した後に、試験センサは少なくとも１つの分析物（血糖等）の濃度を検査するための流体を受け入れ可能となる。流体は試験センサに置かれ、ソフトウェアが流体試料中の分析物濃度を表示するためのカウントダウンを開始する。

試験センサをセンサ繰出し器から取り外すためには、可動機構が使用される。使用可能な可動機構の１つのタイプはレバーである。レバーは、例えばユーザが押すかあるいは引くことによって、ベースコネクタおよびハウジングコネクタの少なくとも一方が第２ポジションに移動可能になる。ベースコネクタおよびハウジングコネクタの少なくとも一方を第２ポジションに移動させることにより、より広い間隙がベースコネクタとハウジングコネクタの間に形成され、それによって試験センサがセンサ繰出し器から取外し可能になる。
代替実施形態Ａ
複数の電気化学的試験センサを収容するセンサ繰出し器において使用されるようになされた接点コネクタアセンブリであって、前記接点コネクタアセンブリは、
少なくとも４つの電気接点と、
少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタで、前記少なくとも１つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされるハウジングコネクタと、
前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するベースコネクタであって、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方が第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされる、ベースコネクタと、
前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタのうちの少なくとも一方に結合された可動機構であって、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている可動機構と、を備え、
前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタが前記複数の試験センサの１つを保持するような態様で互いに結合され、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第２ポジションにて、前記試験センサが該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタから取り外されるのを可能とするような態様で互いに結合されるようになされる接点コネクタアセンブリ。
代替実施形態Ｂ
前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされる実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｃ
前記少なくとも４つのハウジング隙間はスロットである実施形態Ｂのアセンブリ。
代替実施形態Ｄ
前記ハウジングコネクタは複数のボスおよび複数のベース接続受け部を備える実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｅ
前記ハウジングコネクタはさらに伸長部および複数のプラグを含み、前記複数のベース接続受け部のそれぞれは開口を形成する実施形態Ｄのアセンブリ。
代替実施形態Ｆ
前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合される実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｇ
前記可動機構はレバーである実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｈ
前記ベースコネクタは第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされ、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされる実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｉ
前記ベースコネクタは複数の柱状部と、複数の脚部と、叉状突部とを含む実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｊ
前記ハウジングコネクタは複数のプラグを含み、前記ベースコネクタは複数の脚部を含み、前記複数の脚部のそれぞれは前記複数のプラグのそれぞれ１つにスナップ係合するようになされる実施形態Ａのアセンブリ。
代替実施形態Ｋ
分析物濃度を測定するのに適合したセンサ繰出し器であって、前記センサ繰出し器は、
複数の電気化学的試験センサと、
前記複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジと、
少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタの少なくとも一方に結合された可動機構とを含む接点コネクタアセンブリであって、前記少なくとも１つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされ、ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタの少なくとも一方は第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされ、前記可動機構は前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションの間で移動させるようになされる接点コネクタアセンブリと、を備え、
前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタが前記複数の試験センサの１つを保持するような態様で互いに結合されるようになされ、かつ、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢するようになされ、
前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第２ポジションにて、前記試験センサが該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタから取り外されるのを可能とするような態様で互いに結合されるようになされる、センサ繰出し器。
代替実施形態Ｌ
前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされる実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｍ
前記少なくとも４つのハウジング隙間はスロットである実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｎ
前記ハウジングコネクタは複数のボスおよび複数のベース接続受け部を備える実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｏ
前記ハウジングコネクタはさらに伸長部および複数のプラグを含み、前記複数のベース接続受け部のそれぞれは開口を形成する実施形態Ｎのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｐ
前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合される実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｑ
前記可動機構はレバーである実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｒ
前記ベースコネクタは第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされ、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされ、前記第１ポジションにおける前記ベースコネクタは前記複数の試験センサの１つを保持するようになされ、前記第２ポジションにおける前記ベースコネクタは前記試験センサが該コネクタから取り外しできるようになされている実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｓ
前記ベースコネクタは複数の柱状部と、複数の脚部と、叉状突部とを含む実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｔ
前記ハウジングコネクタは複数のプラグを含み、前記ベースコネクタは複数の脚部を含み、前記複数の脚部のそれぞれは前記複数のプラグのそれぞれ１つにスナップ係合するようになされている実施形態Ｋのセンサ繰出し器。
代替実施形態Ｕ
分析物濃度を測定するためにセンサ繰出し器を使用する方法であって、
複数の電気化学的試験センサと、前記複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジと、接点コネクタアセンブリと、を含むセンサ繰出し器を提供するステップを含み、
前記接点コネクタアセンブリは、少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するように前記ハウジングコネクタに結合されるベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタのうちの少なくとも一方に結合された可動機構と、を含んでおり、
前記少なくとも１つのハウジング隙間は、前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされており、
さらに、
前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を第１ポジションに位置付けるステップと、
前記複数の試験センサの１つを前記カートリッジから前記センサ受け間隙に再位置づけし、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢するようにするステップと、
前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記可動機構によって前記第１ポジションから第２ポジションに移動させるステップと、
流体を少なくとも１つの分析物とともに前記複数の試験センサの前記１つに位置付けるステップと、
前記少なくとも１つの分析物の前記濃度を測定するステップと、
を含む実施形態Ｕの方法。
代替実施形態Ｗ
前記分析物はグルコースである実施形態Ｕの方法。
代替実施形態Ｘ
前記流体は血液である実施形態Ｕの方法。
代替実施形態Ｙ
前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされる実施形態Ｕの方法。
代替実施形態Ｚ
前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合される実施形態Ｕの方法。
代替実施形態ＡＡ
前記移動させるステップは、前記ベースコネクタを第１ポジションおよび第２ポジションの間で移動させるステップを含み、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させる実施形態Ｕの方法。

一実施形態による、挿入中のセンサパックを示す、開いた状態のセンサ繰出し器の斜視図である。 一実施形態による複数の積層された試験センサを有する使い捨て可能なカートリッジの正面図である。 図２ａのカートリッジを受けるようになされた、一実施形態によるセンサ繰出し器の正面図である。 図３ａは、蓋を含む、一実施形態による試験センサの図である。

図３ｂは、蓋のない図３ａの試験センサの図である。
本発明の一実施形態による接点コネクタアセンブリの分解図である。 第１ポジションにおける図４の接点コネクタアセンブリの終端図である。 第１ポジションにおける図４の接点コネクタアセンブリの終端図である。 第２ポジションにおける図４の接点コネクタアセンブリの終端図である。 第２ポジションにおける図４の接点コネクタアセンブリの終端図である。 図４の複数の電気接点を有するハウジングコネクタの平面図である。 図６ａの概ね６ｂ〜６ｂ線沿いに取った断面図である。 図４の複数の電気接点を有するハウジングコネクタの斜視図である。 図４の複数の電気接点を有するハウジングコネクタの斜視図である。 図７ａは、図４のベースコネクタの平面図である。

図７ｂは、図４のベースコネクタの上面斜視図である。
図７ｃは、図４のベースコネクタの底面斜視図である。

Claims (27)

1. 複数の電気化学的試験センサを収容するセンサ繰出し器において使用されるようになされた接点コネクタアセンブリであって、
   少なくとも４つの電気接点と、
   少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタであって、前記少なくとも１つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされているハウジングコネクタと、
   前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされているセンサ受け間隙を形成するベースコネクタであって、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方は第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされている、ベースコネクタと、
   前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタのうちの少なくとも一方に結合された可動機構であって、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている可動機構と、を備え、
   前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、前記複数の試験センサの１つを前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタが保持するような態様にて互いに結合され、かつ、第２ポジションにて、前記試験センサが前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタから取り外されるのを可能とするような態様にて互いに結合されている、接点コネクタアセンブリ。
2. 前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされる請求項１に記載のアセンブリ。
3. 前記少なくとも４つのハウジング隙間はスロットである請求項２に記載のアセンブリ。
4. 前記ハウジングコネクタは複数のボスおよび複数のベース接続受け部を備える請求項１に記載のアセンブリ。
5. 前記ハウジングコネクタは伸長部および複数のプラグをさらに含み、前記複数のベース接続受け部のそれぞれは開口を形成する請求項４に記載のアセンブリ。
6. 前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合されている請求項１に記載のアセンブリ。
7. 前記可動機構はレバーである請求項１に記載のアセンブリ。
8. 前記ベースコネクタが第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされており、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている請求項１に記載のアセンブリ。
9. 前記ベースコネクタは複数の柱状部と、複数の脚部と、叉状突部とを含む請求項１に記載のアセンブリ。
10. 前記ハウジングコネクタは複数のプラグを含み、前記ベースコネクタは複数の脚部を含み、前記複数の脚部のそれぞれは前記複数のプラグのそれぞれ１つにスナップ係合するようになされている請求項１に記載のアセンブリ。
11. 分析物濃度を測定するようになされたセンサ繰出し器であって、
    複数の電気化学的試験センサと、
    前記複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジと、
    少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記ハウジングコネクタに結合され、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタの少なくとも一方に結合された可動機構とを含む接点コネクタアセンブリにして、前記少なくとも１つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされており、前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方は第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされており、前記可動機構は前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている、接点コネクタアセンブリと、を備え、
    前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第１ポジションにて、該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタが前記複数の試験センサの１つを保持するような態様にて互いに結合され、かつ、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢するようになされており、
    前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタは、第２ポジションにて、前記試験センサが該ハウジングコネクタおよび該ベースコネクタから取り外されるのを可能とするような態様にて互いに結合されるようになされている、センサ繰出し器。
12. 前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされている請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
13. 前記少なくとも４つのハウジング隙間はスロットである請求項１２に記載のセンサ繰出し器。
14. 前記ハウジングコネクタは複数のボスおよび複数のベース接続受け部を備える請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
15. 前記ハウジングコネクタは伸長部および複数のプラグをさらに含み、前記複数のベース接続受け部のそれぞれは開口を形成する請求項１４に記載のセンサ繰出し器。
16. 前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合される請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
17. 前記可動機構はレバーである請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
18. 前記ベースコネクタが第１ポジションと第２ポジションとの間で移動するようになされており、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされており、前記第１ポジションにおける前記ベースコネクタは、前記複数の試験センサの１つを保持するようになされており、前記第２ポジションにおける前記ベースコネクタは、前記試験センサが該コネクタから取り外しできるようになされている請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
19. 前記ベースコネクタは複数の柱状部と、複数の脚部と、叉状突部とを含む請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
20. 前記ハウジングコネクタは複数のプラグを含み、前記ベースコネクタは複数の脚部を含み、前記複数の脚部のそれぞれは前記複数のプラグのそれぞれ１つにスナップ係合するようになされる請求項１１に記載のセンサ繰出し器。
21. 分析物濃度を測定するためにセンサ繰出し器を使用する方法であって、
    複数の電気化学的試験センサと、前記複数の電気化学的試験センサを収容するカートリッジと、接点コネクタアセンブリと、を含むセンサ繰出し器を提供するステップを含み、
    前記接点コネクタアセンブリは、少なくとも４つの電気接点と、少なくとも１つのハウジング隙間を形成するハウジングコネクタと、前記複数の試験センサの１つを受けるようになされたセンサ受け間隙を形成するように前記ハウジングコネクタに結合されるベースコネクタと、前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタのうちの少なくとも一方に結合された可動機構と、を含んでおり、
    前記少なくとも１つのハウジング隙間は、前記少なくとも４つの電気接点を受けるようになされており、
    さらに、
    前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を第１ポジションに位置付けるステップと、
    前記複数の試験センサの１つを前記カートリッジから前記センサ受け間隙に再位置づけし、前記複数の試験センサの前記１つが前記少なくとも４つの電気接点に接触して前記分析物濃度を測定するのを助勢するようにするステップと、
    前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方を前記可動機構によって前記第１ポジションから第２ポジションに移動させるステップと、
    流体を少なくとも１つの分析物とともに前記複数の試験センサの前記１つに位置付けるステップと、
    前記少なくとも１つの分析物の前記濃度を測定するステップと、
    を含む方法。
22. 前記ベースコネクタおよび前記ハウジングコネクタのうちの少なくとも一方が前記第２ポジションにあるときに前記複数の試験センサの前記１つを前記接点コネクタアセンブリから取り外すステップをさらに含む請求項２１に記載の方法。
23. 前記分析物はグルコースである請求項２１に記載の方法。
24. 前記流体は血液である請求項２１に記載の方法。
25. 前記ハウジングコネクタは少なくとも４つのハウジング隙間を形成し、前記少なくとも４つのハウジング隙間は前記少なくとも４つの電気接点のそれぞれ１つを受けるようになされている請求項２１に記載の方法。
26. 前記可動機構は前記ハウジングコネクタおよび前記ベースコネクタに結合されている請求項２１に記載の方法。
27. 前記移動させるステップは、前記ベースコネクタを第１ポジションと第２ポジションとの間で移動させるステップを含み、前記可動機構は前記ベースコネクタを前記第１ポジションと前記第２ポジションとの間で移動させるようになされている請求項２１に記載の方法。

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