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JP4927510B2 - 電気部品用ソケット及び電気部品の検査システム - Google Patents
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JP4927510B2 - 電気部品用ソケット及び電気部品の検査システム - Google Patents

電気部品用ソケット及び電気部品の検査システム Download PDF

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Description

この発明は、電気部品を収容するソケット本体と、電気部品と接触する導通用コンタクトピンと、ソケット本体に対して上下動自在に設けられて導通用コンタクトピンを弾性変形させる操作部材とを有する電気部品用ソケット、及び、電気部品の検査システムに関するものである。
従来、電気部品を収容するソケット本体と、電気部品と接触する導通用コンタクトピンと、ソケット本体に対して上下動自在に設けられて導通用コンタクトピンを弾性変形させる操作部材とを有する電気部品用ソケットがある。
このような電気部品用ソケットによって電気部品を検査する場合には、電気部品用ソケットを基板上に配置して、ハンドラーによって、操作部材に形成された電気部品の挿入貫通孔から電気部品を挿入し、操作部材でコンタクトピンを弾性変形させ、電気部品と基板との電気的接続を図ることが行われている。
このような電気部品用ソケットに関する発明として特許文献1に記載されたようなものがある。特許文献1には、「電気部品を収容するソケット本体と、電気部品と接触する導通用コンタクトピンと、ソケット本体に対して上下動自在に設けられて導通用コンタクトピンを弾性変形させる操作部材とを有する電気部品用ソケットであって、ソケット本体が基板上に配設された電気部品用ソケット。」が記載されている。
また、特許文献1には、「ソケット本体に導通用コンタクトピンが取付けられ、導通用コンタクトピンの弾性部(バネ部16e)の先端には、操作部材に形成された押圧部から押圧される被押圧部(操作片16i)が上方に向けて延設されると共に、電気部品の収容状態で電気部品の上面側に形成された端子に接触する導通用接触部(可動側接触部16d)が設けられた電気部品用ソケット。」が記載されている。
特開2002−190361号公報
しかしながら、特許文献1に記載された発明では、ソケット本体を基板上に配置する構成であったから、電気部品を検査するときに、ソケット本体の縦方向の寸法に基板の厚み分が加わるので縦方向に余分に場所を取る。
また、特許文献1に記載された発明では、電気部品であるCCD(固体撮像素子、以下同じ)を検査する場合に問題がある。CCDは、表面に、光を導入する光導入面が形成され、裏面から側面に渡って、光から変換された電気を通す端子が設けられている。そして、従来、光源を使用してCCDを検査するときに、光導入面を上方に向けてソケット本体に収容して光源により上方から光を照射することが行われていた。この場合に、CCDを移動させるハンドラーも、ソケット本体の上方に配置されることになるから、電気部品用ソケットの上方に機器が集中する。そのために、例えば、光源による光の照射範囲をハンドラーが遮断してしまわないように光源とハンドラーとを配置する必要があり、電気部品用ソケットを多く配設することができないので、一度に検査可能なCCDの検査数が少なくなる虞があった。
そこで、この発明は、基板がソケット本体の下側に配置されないで、基板の厚みの分、上下方向の寸法を短くできる電気部品用ソケットを提供することを課題とする。
また、この発明の他の課題は、電気部品用ソケットの配設ピッチを短くできて、一度に検査可能なCCDの検査数を増加させることができる電気部品の検査システムを提供することである。
かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、電気部品を収容するソケット本体と、前記電気部品と接触する導通用コンタクトピンと、前記ソケット本体に対して上下動自在に設けられて前記導通用コンタクトピンを弾性変形させる操作部材とを有する電気部品用ソケットであって、前記ソケット本体が基板の下面に取付けられると共に、前記操作部材が前記基板に形成された貫通孔を介して前記基板の上側に位置しており、かつ、前記操作部材は、その下方移動時には、前記基板の前記貫通孔内に挿入されて下方に移動するように形成されており、前記ソケット本体に前記導通用コンタクトピンが取付けられ、該導通用コンタクトピンの弾性部が前記基板の下側に位置し、前記弾性部の先端部には、前記操作部材に形成された第1押圧部にて押圧される第1被押圧部が上方に向けて延設されると共に、前記電気部品の収容状態で前記電気部品の上面に形成された端子に接触する導通用接触部が設けられた電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の構成に加え、前記ソケット本体に前記電気部品の位置決めを行う位置決め用ピンが取付けられ、該位置決め用ピンの弾性部が前記基板の下側に位置し、該弾性部の先端部には、前記操作部材に形成された第2押圧部にて押圧される第2被押圧部が上方に向けて延設されると共に、前記電気部品の収容状態で前記電気部品の側面に接触する位置決め用接触部が設けられていることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の構成に加え、前記操作部材が下降されると、前記位置決め用ピンが前記第2押圧部による押圧力を解除され、前記位置決め用接触部が前記電気部品の側面に接触した後に、前記導通用コンタクトピンが前記第1押圧部による押圧力を解除され、前記導通用接触部が前記電気部品の側面に接触するように構成されたことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項2又は3に記載の構成に加え、前記導通用コンタクトピン及び/又は位置決め用ピンは、前記ソケット本体によって支持される被支持部を有し、該被支持部は、前記基板と前記ソケット本体との間に介在されることを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の構成に加え、前記導通用コンタクトピンの前記被支持部の下部には、前記ソケット本体に形成された挿嵌孔に対して挿嵌される挿嵌部が形成され、該挿嵌部が前記挿嵌孔に挿嵌されることによって前記導通用コンタクトピンが前記ソケット本体に固定されると共に、前記導通用コンタクトピンの前記被支持部の上部には、前記基板に形成された挿嵌孔に対して挿嵌されるリード部が形成され、該リード部が前記挿嵌孔に挿嵌されることによって前記導通用コンタクトピンが前記ソケット本体に固定されることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、前記ソケット本体に、上下方向に貫通孔が形成された貫通壁が設けられると共に、該貫通壁の上端に、前記電気部品を収容する段差部が形成された請求項1乃至5の何れか一つに記載の電気部品用ソケットと、前記ソケット本体の下方に配置されて前記貫通孔を通して前記電気部品に向けて照射される光源とを備え、前記電気部品が、光を導入する光導入面と、光から変換された電気を通す端子が設けられた端子面とを有するCCDであり、該CCDの前記光導入面が下方を向くように設けられる電気部品の検査システムとしたことを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、ソケット本体が基板の下面に取付けられると共に、操作部材が前記基板に形成された貫通孔を介して基板の上側に位置しており、かつ、操作部材は、その下方移動時には、基板の貫通孔内に挿入されて下方に移動するように形成されている。従って、基板がソケット本体の下側に配置されないことから、基板の厚みの分、上下方向の寸法を短くできる。
請求項2に記載の発明によれば、ソケット本体に電気部品の位置決めを行う位置決め用ピンが取付けられ、位置決め用ピンの弾性部が基板の下側に位置し、弾性部の先端部には、操作部材に形成された第2押圧部にて押圧される第2被押圧部が上方に向けて延設されると共に、電気部品の収容状態で電気部品の側面に接触する位置決め用接触部が設けられている。従って、電気部品が、側面側から位置決め用ピンで固定されて位置決めされるようにすることができる。
請求項3に記載の発明によれば、操作部材が下降されると、位置決め用ピンが第2押圧部による押圧力を解除され、位置決め用接触部が電気部品の側面に接触した後に、導通用コンタクトピンが第1押圧部による押圧力を解除され、導通用接触部が電気部品の側面に接触するように構成された。そのため、位置決め用ピンによって、電気部品が正確に位置決めされた状態とした上で、導通用コンタクトピンによって、電気部品と基板との電気的接続を図ることができる。従って、導通用コンタクトピンによる電気部品と基板との電気的接続の検査が、より正確に行えるようにすることができる。
請求項4に記載の発明によれば、導通用コンタクトピン及び/又は位置決め用ピンは、ソケット本体によって支持される被支持部を有し、被支持部は、基板とソケット本体との間に介在される。従って、被支持部が、基板とソケット本体との間に介在されるから、導通用コンタクトピンや位置決め用ピンの配置が安定する。
請求項5に記載の発明によれば、導通用コンタクトピンの被支持部の下部には、ソケット本体に形成された挿嵌孔に対して挿嵌される挿嵌部が形成され、該挿嵌部が挿嵌孔に挿嵌されることによって導通用コンタクトピンがソケット本体に固定されると共に、導通用コンタクトピンの被支持部の上部には、基板に形成された挿嵌孔に対して挿嵌されるリード部が形成され、該リード部が挿嵌孔に挿嵌されることによって導通用コンタクトピンがソケット本体に固定される。従って、導通用コンタクトピンが、被支持部の上側と下側との両方で位置決めされて、導通用コンタクトピンの配置が、更に安定する。
請求項6に記載の発明によれば、電気部品の検査システムは、ソケット本体に、上下方向に貫通孔が形成された貫通壁が設けられると共に、該貫通壁の上端に、電気部品を収容する段差部が形成された請求項1乃至5の何れか一つに記載の電気部品用ソケットと、ソケット本体の下方に配置されて貫通孔を通して電気部品に向けて照射される光源とを備え、電気部品が、光を導入する光導入面と、光から変換された電気を通す端子が設けられた端子面とを有するCCDであり、該CCDの光導入面が下方を向くように設けられる。そのため、電気部品用ソケットの上側にハンドラーを配置してCCDの移動をすると共に、電気部品用ソケットの下側に光源を配置してCCDに対して照射することができ、電気部品用ソケットの上側にハンドラーと光源との両方が集中して配置されることがないようにすることができる。従って、電気部品用ソケットの配設ピッチを短くできて、一度に検査可能なCCDの検査数を増加させることができる。また、光源と電気部品との間の距離を小さくすることができる。
以下、この発明の実施の形態について説明する。
図1(A),(B)乃至図6は、この発明の実施の形態を示す。
まず、構成を簡単に説明すると、「電気部品」としてのCCD1の検査システム8は、図1(A),(B)で示すように、電気部品用ソケット10と、ソケット本体11に形成された貫通孔11q−1の下方に配置されて、貫通孔11q−1を通してCCD1に向けて光が照射される光源2とを備える。
電気部品用ソケット10は、図1(A),(B)で示すように、CCD1を収容するソケット本体11と、CCD1と接触する導通用コンタクトピン30X〜30Z(図2(A)〜(C)参照)と、位置決め用ピン31(図3参照)と、ソケット本体11に対して上下動自在に設けられて導通用コンタクトピン30X〜30Z及び位置決め用ピン31を弾性変形させる操作部材12とを有する。また、電気部品用ソケット10は、図1(A),(B)で示すように、ソケット本体11が基板13の下面から取付けられると共に、操作部材12が基板13に形成された貫通孔13aを介して基板13の上側に位置するように設けられる。
導通用コンタクトピン30Xは、導電性を有する板材がプレス加工により形成され、図2(A)で示すように、ソケット本体11に支持される被支持部30aと、被支持部30aの下部に形成される「挿嵌部」である位置決め部30bと、被支持部30aの上部における外側寄りの部位から上方に向けて延びるリード部30c−1と、被支持部30aの内側方から延設されて下方に延びる弾性部位取付部30dと、この弾性部位取付部30dの下部で横方向から上方向へと湾曲して延設される「弾性部」である略円弧状弾性部30eと、略円弧状弾性部30eの先端に設けられて操作部材12に形成された「第1押圧部」である導通用押圧部12qにより押圧されるように上方に向けて延設される「第1被押圧部」である被押圧部30fとを有する。また、導通用コンタクトピン30Xでは、略円弧状弾性部30eの先端に設けられて、被支持部30aと反対側に延びる導通用接触部30gを有する。また、導通用コンタクトピン30Yは、図2(B)で示すように、被支持部30aの上部における中央寄りの部位から上方に向けて延びるリード部30c−2を形成されており、その他の構成に関しては、導通用コンタクトピン30Xと同様である。さらに、導通用コンタクトピン30Zは、図2(C)で示すように、被支持部30aの上部における内側寄りの部位から上方に向けて延びるリード部30c−3を形成されており、その他の構成に関しては、導通用コンタクトピン30Xと同様である。
位置決め用ピン31は、導電性を有する板材がプレス加工により形成され、図3で示すように、ソケット本体11に支持される被支持部31aと、被支持部31aの下部に形成される「挿嵌部」である位置決め部31bと、被支持部31aの内側方から延設されて下方に延びる弾性部位取付部31dと、この弾性部位取付部31dの下部で横方向から上方向へと湾曲して延設される「弾性部」である略円弧状弾性部31eと、略円弧状弾性部31eの先端に設けられて操作部材12に形成された「第2押圧部」である位置決め用押圧部12rにより押圧されるように上方に向けて延設される「第2被押圧部」である被押圧部31fとを有する。また、位置決め用ピン31では、略円弧状弾性部31eの先端に設けられて、被支持部31aと反対側に延びる位置決め用接触部31gを有する。なお、位置決め用ピン31は、導通用コンタクトピン30におけるリード部30c−1〜30c−3がないものと同一の形状をしている。従って、被支持部30aと被支持部31a、位置決め部30bと位置決め部31b、弾性部位取付部30dと弾性部位取付部31d、略円弧状弾性部30eと略円弧状弾性部31e、被押圧部30fと被押圧部31f、導通用接触部30gと位置決め用接触部31gの関係は、同一形状である。
ソケット本体11では、図4の右方及び左方に複数のピン30X〜30Z,31が示されるが、導通用コンタクトピン30X〜30Zが並べて配設された箇所の外側に、位置決め用ピン31が配設されている。そして、その2本の位置決め用ピン31によって、CCD1の側面の両端部が押圧されてCCD1が位置決めされることとなっている。
また、ソケット本体11では、図4の上方及び下方に複数のピン30X〜30Z,31が示されるが、4本の導通用コンタクトピン30X〜30Zが並べて両端部側から配設された箇所の内側に、位置決め用ピン31が配設されている。そして、その2本の位置決め用ピン31の間には、更に、導通用コンタクトピン30Yが配設されている。従って、2本の位置決め用ピン31によって、CCD1の側面の中央部近傍が押圧されてCCD1が位置決めされることとなっている。
位置決め用接触部31gの位置は、図1(A),(B)で示すように、導通用接触部30gの位置よりも低く設定されている。すなわち、導通用コンタクトピン30における略円弧状弾性部30eの基端の高さM(図1(A)参照)と、位置決め用ピン31における略円弧状弾性部31eの基端の高さN(図1(B)参照)との関係は、M>Nである。位置決め用ピン31と導通用コンタクトピン30とは、リード部30c−1〜30c−3以外の構成に関しては、同一の形状をしているので、導通用接触部30gがCCD1の端子面1aに当接し、位置決め用接触部31gがCCD1の側面に当接する。
ソケット本体11は、図1(A),(B)で示すように、中央寄りにCCD1(図6参照)を支持するCCD支持部11pが設けられ、外側方寄りにピン30X〜30Z,31(図2、図3参照)のリード部30c,31cを支持するリード支持部11aが設けられている。
CCD支持部11pは、図1(A),(B)で示すように、ソケット本体11の裏面の中央寄りに、上下方向に貫通孔11q−1が形成された貫通壁11qが設けられ、貫通壁11qの上端には、CCD1を載置する段差部11rが形成されている。
また、リード支持部11aは、図1(A),(B)で示すように、ソケット本体11の裏面の外側寄りに、凹部11bが設けられている。この凹部11bは、縦方向に形成された縦壁部11cと、この縦壁部11cと繋がって横方向に形成された天井部11dとからなる。そして、この天井部11dには、ピン30X〜30Z,31の位置決め部30b,31b(図2、図3参照)を挿嵌される位置決め部挿嵌孔11eが形成されている。そして、ピン30X〜30Z,31の被支持部30a,31aの下部に形成された位置決め部30b,31bは、ソケット本体11に形成された位置決め部挿嵌孔11eに対して挿嵌され、ピン30X〜30Z,31がソケット本体11に固定される。
操作部材12は、CCD1を挿入するために、略中央寄りに貫通孔12p−1が形成された電気部品挿入貫通壁12pが設けられている。また、操作部材12の裏面には、導通用接触部30gを押圧する「第1押圧部」である導通用押圧部12qと、位置決め用接触部31gを押圧する「第2押圧部」である位置決め用押圧部12rとが形成されている。
導通用押圧部12qは、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被押圧部30fが摺動する2つの傾斜面12q−1,12q−2を有する。電気部品挿入貫通壁12pの下部からは、図1(A)で示すように、第1導通ピン摺動傾斜面12q−1が傾斜して延設され、第1導通ピン摺動傾斜面12q−1の下部からは、図1(A)で示すように、第2導通ピン摺動傾斜面12q−2が更に傾斜して延設される。また、第1導通ピン摺動傾斜面12q−1と第2導通ピン摺動傾斜面12q−2との間には、角部12q−3が形成されている。
図1(A)で示すように、第1導通ピン摺動傾斜面12q−1の鉛直方向に対する傾斜角Eよりも、第2導通ピン摺動傾斜面12q−2の鉛直方向に対する傾斜角Fの方が大きく形成されている。
また、位置決め用押圧部12rは、位置決め用ピン31の被押圧部31fが摺動する2つの傾斜面12r−1,12r−2を有する。電気部品挿入貫通壁12pの下部からは、図1(B)で示すように、第1位置決めピン摺動傾斜面12r−1が傾斜して延設され、第1位置決めピン摺動傾斜面12r−1の下部からは、図1(B)で示すように、第2位置決めピン摺動傾斜面12r−2が更に傾斜して延設される。また、第1位置決めピン摺動傾斜面12r−1と第2位置決めピン摺動傾斜面12r−2との間には、角部12r−3が形成されている。
図1(B)で示すように、第1位置決めピン摺動傾斜面12r−1の鉛直方向に対する傾斜角Gよりも、第2位置決めピン摺動傾斜面12r−2の鉛直方向に対する傾斜角Hの方が大きく形成されている。
前述してきた4つの傾斜面12q−1,12q−2,12r−1,12r−2の傾斜角E,F,G,Hの大小関係は、傾斜角E<傾斜角G<傾斜角F<傾斜角Hとなっている。このようなことから、操作部材12が上昇されると、位置決め用ピン31が位置決め用押圧部12rによる押圧力を解除されて、位置決め用接触部31gがCCD1の側面に接触した後に、導通用コンタクトピン30X〜30Zが導通用押圧部12qによる押圧力を解除されて、導通用接触部30gがCCD1の上面に接触するように構成されている。
基板13は、図5で示すように、操作部材12が通される貫通孔13aが形成されており、また、基板13は、前述した導通用コンタクトピン30X〜30Zの被支持部30aの上部に形成されたリード部30c−1〜30c−3が挿嵌されるリード挿嵌孔13bが形成されている。そして、リード部30c−1〜30c−3がリード挿嵌孔13bに挿嵌されることによって導通用コンタクトピン30X〜30Zがソケット本体11に固定されるようになっている。また、基板13は、図5で示すように、円形の基板固定穴13cが形成されており、この基板固定穴13cが図1(A),(B)で示すようにソケット本体11に設けられた円柱突部11fに挿通されることによって、ソケット本体11に固定されるようになっている。
また、図1(A),(B)で示すように、ソケット本体11の上側に、導通用コンタクトピン30X〜30Zと位置決め用ピン31が取付けられている。そして、基板13とソケット本体11との間に、導通用コンタクトピン30X〜30Zと位置決め用ピン31の被支持部30a,31aが介在されている。このため、基板13の下側に、導通用コンタクトピン30X〜30Zの略円弧状弾性部30eと位置決め用ピン31の略円弧状弾性部31eとが位置するようになっている。
ICソケット10で検査されるCCD1は、図6で示すように、光を導入する光導入面1bと、変換された電気を通す端子1pが設けられた端子面1aとを有する。そして、CCD1の光導入面1bが下方を向くように設けられる。
次に、この発明の実施の形態に係るCCD1の検査システム8による検査方法について図1(A),(B)を参照しながら述べる。
まず、CCD1をソケット本体11に収容する場合には、操作部材12を下降させて行く。そうすると、導電用コンタクトピン30X〜30Zが導通用押圧部12qによって押圧されてCCD支持部11p側から退避して行き、その後に、位置決め用ピン31が位置決め用押圧部12rによって押圧されてCCD支持部11p側から退避して行く。そして、図示しないハンドラーでCCD1をCCD支持部11pに形成された段差部11rに収容し、電気部品用ソケット10の下方から、光源2でCCD1の光導入面1bに向けて光を照射する。
それから、操作部材12を上昇させると、第1位置決めピン摺動傾斜面12r−1が、位置決め用ピン31の被押圧部31fの先端に対して摺動し、位置決め用ピン31の被押圧部31fが、ソケット本体11の中央寄りの方へと変位して行く。
この一方で、第1導通ピン摺動傾斜面12q−1が、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被押圧部30fの先端に対して摺動し、角部12q−3が導通用コンタクトピン30の被押圧部30fの先端に対して摺動し、第2導通ピン摺動傾斜面12q−2が、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被押圧部30fの先端に対して摺動し、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被押圧部30fが、ソケット本体11の中央寄りの方へと変位して行く。
その後、位置決め用ピン31の被押圧部31fが角部12r−3を乗り越えたときに、位置決め用接触部31gがCCD1の側面に接触する。ただし、このときは、導通用接触部30gはCCD1の端子面1aの端子1pに接触していない。
この後、更に操作部材12を上昇させると、第2位置決めピン摺動傾斜面12r−2が被押圧部31fに対して摺動し、位置決め用ピン31がCCD1の側面に対する固定力を強めて行く。これと共に、第2導通ピン摺動傾斜面12q−2が被押圧部30fに対して摺動し、導通用接触部30gがCCD1の端子面1aの端子1pに接触する。
このようにして、電気部品用ソケット10では、操作部材12を上昇させる過程で、位置決め用ピン31の位置決め用接触部31gの方が、導電用コンタクトピン30X〜30Zの導通用接触部30gよりも、早くCCD1に接触できることとなっている。
このような電気部品用ソケット10によれば、ソケット本体11が基板13の下面に取付けられると共に、操作部材12が基板13に形成された貫通孔13aを介して基板13の上側に位置している。従って、基板13がソケット本体11の下側に配置されないことから、基板13の厚みの分、CCD1の検査に上下方向に場所を取らないで済ませることができる。
また、ソケット本体11にCCD1の位置決めを行う位置決め用ピン31が取付けられ、位置決め用ピン31の略円弧状弾性部31eが基板13の下側に位置し、略円弧状弾性部31eの先端部には、操作部材12に形成された位置決め用押圧部12rにて押圧される位置決め用押圧部12rが上方に向けて延設されると共に、CCD1の収容状態でCCD1の側面に接触する位置決め用接触部31gが設けられている。従って、CCD1が、側面側から位置決め用ピン31で固定されて位置決めされるようにすることができる。
さらに、操作部材12が下降されると、位置決め用ピン31が位置決め用押圧部12rによる押圧力を解除されて、位置決め用接触部31gがCCD1の側面に接触した後に、導通用コンタクトピン30X〜30Zが導通用押圧部12qによる押圧力を解除されて、導通用接触部30gがCCD1の端子面1aに接触するように構成された。そのため、位置決め用ピン31によって、CCD1が正確に位置決めされた状態とした上で、導通用コンタクトピン30X〜30Zによって、CCD1と基板13との電気的接続を図ることができる。従って、導通用コンタクトピン30X〜30ZによるCCD1と基板13との電気的接続の検査が、より正確に行えるようにすることができる。
また、導通用コンタクトピン30X〜30Zや位置決め用ピン31は、ソケット本体11によって支持される被支持部30a,31aを有し、被支持部30a,31aは、基板13とソケット本体11との間に介在される。従って、被支持部30a,31aが、基板13とソケット本体11との間に介在されるから、ピン30X〜30Z,31の配置が安定する。
さらに、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被支持部30aの下部には、ソケット本体11に形成された位置決め部挿嵌孔11eに対して挿嵌される位置決め部30bが形成され、位置決め部30bが位置決め部挿嵌孔11eに挿嵌されることによって導通用コンタクトピン30X〜30Zがソケット本体11に固定されると共に、導通用コンタクトピン30X〜30Zの被支持部30aの上部には、基板13に形成されたリード挿嵌孔13bに対して挿嵌されるリード部30c−1〜30c−3が形成され、リード部30c−1〜30c−3がリード挿嵌孔13bに挿嵌されることによって導通用コンタクトピン30X〜30Zがソケット本体11に固定される。従って、ピン30X〜30Zが、被支持部30aの上側と下側との両方で位置決めされて、ピン30X〜30Zの配置が、更に安定する。
また、CCD1の検査システム8は、ソケット本体11に、上下方向に貫通孔11q−1が形成された貫通壁11qが設けられると共に、貫通壁11qの上端に、CCD1を収容する段差部11rが形成された電気部品用ソケット10と、ソケット本体11の下方に配置されて貫通孔11q−1を通してCCD1に向けて照射される光源2とを備え、CCD1が、光を導入する光導入面1bと、変換された電気を通す端子が設けられた端子面1aとを有し、CCD1の光導入面1bが下方を向くように設けられる。そのため、電気部品用ソケット10の上側にハンドラーを配置してCCD1の移動をすると共に、電気部品用ソケット10の下側に光源2を配置してCCD1に対して照射することができ、電気部品用ソケット10の上側にハンドラーと光源2との両方が集中して配置されることがないようにすることができる。従って、一度に検査可能なCCD1の検査数を増加させることができる。また、光源2とCCD1との間の距離を小さくすることができる。
なお、この発明の実施の形態によれば、位置決め用ピン31の配設位置が特定されていたが、上記実施の形態に限定されない。位置決め用ピン31によってCCD1が位置決めされるのであれば、位置決め用ピン31の配置は、適宜変更することが可能である。例えば、CCD1の4つの側面全てにおける両端に位置決め用ピン31の位置決め用接触部31gが接触されるように、位置決め用接触部31gの配置を変えることも可能である。
また、この発明の実施の形態では、電気部品用ソケット10に収容されるのは、CCD1であったが、上記実施の形態に限定されない。CCD1以外にも、図示しないICパッケージに対する位置決めや、ICパッケージと基板13とを電気的に接続させて試験することに利用することが可能である。
この発明の実施の形態1に係る電気部品の検査システムの構成を示し、導通用コンタクトピンがCCDの端子面に接触する状態を示す端面図である。 この発明の実施の形態1に係る電気部品の検査システムの構成を示し、位置決め用ピンがCCDの側面に接触する状態を示す端面図である。 同実施の形態に係る導通用コンタクトピンの構成を示し、(A)は、リード部が被支持部の上部における外側の部位に延設されている構成を示す正面図であり、(B)は、リード部が被支持部の上部における中央の部位に延設されている構成を示す正面図であり、(C)は、リード部が被支持部の上部における内側の部位に延設されている構成を示す正面図である。 同実施の形態に係る位置決め用ピンの正面図である。 同実施の形態に係る電気部品用ソケットの平面図である。 同実施の形態に係る基板の平面図である。 同実施の形態に係る電気部品用ソケットで検査対象を示し、(A)は、CCDの平面図であり、(B)は、CCDの正面図であり、(C)は、CCDの側面図であり、(D)は、CCDの裏面図である。
符号の説明
1 CCD(電気部品)
1a 端子面
1b 光導入面
1p 端子
2 光源
8 CCDの検査システム(電気部品の検査システム)
10 電気部品用ソケット
11 ソケット本体
11q 貫通壁
11q-1 貫通孔
11r 段差部
12 操作部材
12p 電気部品挿入貫通壁
12p-1 貫通孔
12q 導通用押圧部(第1押圧部)
12r 位置決め用押圧部(第2押圧部)
13 基板
30X〜30Z 導通用コンタクトピン
31 位置決め用ピン
30a,31a 被支持部
30b,31b 位置決め部(挿嵌部)
30c,31c リード部
30d,31d 弾性部位取付部
30e,31e 略円弧状弾性部(弾性部)
30f 被押圧部(第1被押圧部)
31f 被押圧部(第2被押圧部)
30g 導通用接触部
31g 位置決め用接触部

Claims (6)

  1. 電気部品を収容するソケット本体と、前記電気部品と接触する導通用コンタクトピンと、前記ソケット本体に対して上下動自在に設けられて前記導通用コンタクトピンを弾性変形させる操作部材とを有する電気部品用ソケットであって、
    前記ソケット本体が基板の下面に取付けられると共に、前記操作部材が前記基板に形成された貫通孔を介して前記基板の上側に位置しており、かつ、前記操作部材は、その下方移動時には、前記基板の前記貫通孔内に挿入されて下方に移動するように形成されており、
    前記ソケット本体に前記導通用コンタクトピンが取付けられ、該導通用コンタクトピンの弾性部が前記基板の下側に位置し、前記弾性部の先端部には、前記操作部材に形成された第1押圧部にて押圧される第1被押圧部が上方に向けて延設されると共に、前記電気部品の収容状態で前記電気部品の上面に形成された端子に接触する導通用接触部が設けられたことを特徴とする電気部品用ソケット。
  2. 前記ソケット本体に前記電気部品の位置決めを行う位置決め用ピンが取付けられ、該位置決め用ピンの弾性部が前記基板の下側に位置し、該弾性部の先端部には、前記操作部材に形成された第2押圧部にて押圧される第2被押圧部が上方に向けて延設されると共に、前記電気部品の収容状態で前記電気部品の側面に接触する位置決め用接触部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電気部品用ソケット。
  3. 前記操作部材が上昇されると、前記位置決め用ピンが前記第2押圧部による押圧力を解除され、前記位置決め用接触部が前記電気部品の側面に接触した後に、前記導通用コンタクトピンが前記第1押圧部による押圧力を解除され、前記導通用接触部が前記電気部品の上面に接触するように構成されたことを特徴とする請求項2に記載の電気部品用ソケット。
  4. 前記導通用コンタクトピン及び/又は位置決め用ピンは、前記ソケット本体によって支持される被支持部を有し、該被支持部は、前記基板と前記ソケット本体との間に介在されることを特徴とする請求項2又は3に記載の電気部品用ソケット。
  5. 前記導通用コンタクトピンの前記被支持部の下部には、前記ソケット本体に形成された挿嵌孔に対して挿嵌される挿嵌部が形成され、該挿嵌部が前記挿嵌孔に挿嵌されることによって前記導通用コンタクトピンが前記ソケット本体に固定されると共に、前記導通用コンタクトピンの前記被支持部の上部には、前記基板に形成された挿嵌孔に対して挿嵌されるリード部が形成され、該リード部が前記挿嵌孔に挿嵌されることによって前記導通用コンタクトピンが前記ソケット本体に固定されることを特徴とする請求項4に記載の電気部品用ソケット。
  6. 前記ソケット本体に、上下方向に貫通孔が形成された貫通壁が設けられると共に、該貫通壁の上端に、前記電気部品を収容する段差部が形成された請求項1乃至5の何れか一つに記載の電気部品用ソケットと、前記ソケット本体の下方に配置されて前記貫通孔を通して前記電気部品に向けて照射される光源とを備え、前記電気部品が、光を導入する光導入面と、光から変換された電気を通す端子が設けられた端子面とを有するCCDであり、該CCDの前記光導入面が下方を向くように設けられることを特徴とする電気部品の検査システム。
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JPH0254948A (ja) * 1988-08-20 1990-02-23 Fujitsu Ltd 光半導体素子測定用プローブカード
JP2739031B2 (ja) * 1992-12-08 1998-04-08 三菱電機株式会社 半導体装置用ソケット
JP3842037B2 (ja) * 2000-12-21 2006-11-08 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP2004055408A (ja) * 2002-07-22 2004-02-19 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケット
JP4348725B2 (ja) * 2004-03-25 2009-10-21 Smk株式会社 電子部品取付用ソケット

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