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JP4974268B2 - Resistance paste and thick film resistor manufacturing method - Google Patents
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Description

本発明は、鉛を含まない厚膜抵抗体を形成するための抵抗ペースト、および、該抵抗ペーストを用いた厚膜抵抗器の製造方法に関する。   The present invention relates to a resistance paste for forming a thick film resistor not containing lead, and a method of manufacturing a thick film resistor using the resistance paste.

従来、厚膜抵抗体を形成するための抵抗ペーストとして、Pb2Ru2O6.5等の鉛を含有した導電材料を含むペーストが一般に用いられている。しかしながら、鉛は環境汚染の原因となることから、鉛を含まない抵抗ペーストが提案されている(例えば、特許文献1)。
特開平8−253342公報
Conventionally, as a resistance paste for forming a thick film resistor, a paste containing a conductive material containing lead such as Pb 2 Ru 2 O 6.5 has been generally used. However, since lead causes environmental pollution, a resistance paste not containing lead has been proposed (for example, Patent Document 1).
JP-A-8-253342

厚膜抵抗体用の抵抗ペーストに関して、低いシート抵抗値(1kΩ/□以下)の抵抗体は、導電材料としてRuO2を用いることで得ることが可能であり、上記低いシート抵抗値の領域は鉛を含まない(鉛フリー)の抵抗ペーストを用いて実現できる。しかし、それよりも高いシート抵抗値を得るための適当な鉛フリーの導電材料の候補は絞られておらず、尚且つ厚膜抵抗体としての特性を満足する抵抗材料は見出されていない。ここでいう厚膜抵抗体としての特性とは、所要の抵抗値が得られると共に、例えば抵抗温度係数(TCR)が±100(10-6/K)程度の範囲内であること等である。 Regarding resistor paste for thick film resistors, resistors with a low sheet resistance (1 kΩ / □ or less) can be obtained by using RuO 2 as the conductive material. This can be realized by using a lead-free resistance paste. However, candidates for a suitable lead-free conductive material for obtaining a higher sheet resistance value have not been narrowed down, and a resistance material that satisfies the characteristics as a thick film resistor has not been found. The characteristic as a thick film resistor here is that a required resistance value is obtained and, for example, a resistance temperature coefficient (TCR) is in a range of about ± 100 (10 −6 / K).

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、厚膜抵抗体を形成するための抵抗ペーストとして、鉛を含まないものであると共に、高いシート抵抗値が得られ、且つ良好な特性が得られる抵抗ペーストを提供することを目的とする。また、上記鉛を含まない抵抗ペーストを用いた、鉛フリーの厚膜抵抗器の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and as a resistance paste for forming a thick film resistor, it does not contain lead, has a high sheet resistance value, and has good characteristics. It aims at providing the resistance paste obtained. It is another object of the present invention to provide a method for manufacturing a lead-free thick film resistor using the above-described resistance paste containing no lead.

上記課題を解決するため、本発明の抵抗ペーストは、Bi3Ru3O11 のみからなる導電材料と、鉛を含まないガラス材料と、ビヒクルと、を混練したことを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems, the resistive paste of the present invention is characterized by kneading a conductive material made only of Bi 3 Ru 3 O 11, a glass material not containing lead, and a vehicle.

また、本発明の厚膜抵抗器の製造方法は、Bi3Ru3O11 のみからなる導電材料と、鉛を含まないガラス材料と、ビヒクルと、を混練した抵抗ペーストを準備し、前記抵抗ペーストをセラミック基板に所定パターンで印刷し、前記抵抗ペーストが印刷されたセラミック基板を、850℃未満を上限とする温度で焼成することを特徴とする。 Further, the method for manufacturing a thick film resistor of the present invention provides a resistance paste prepared by kneading a conductive material composed only of Bi 3 Ru 3 O 11, a glass material not containing lead, and a vehicle. Is printed in a predetermined pattern on the ceramic substrate, and the ceramic substrate on which the resistance paste is printed is fired at a temperature lower than 850 ° C.

上記本発明によれば、Bi3Ru3O11からなる導電材料を用いることにより、従来の鉛を含む抵抗材料(Pb2Ru2O6.5等)と同等の高いシート抵抗値(1kΩ/□以上)と、良好なTCR特性が得られる。従って、上記抵抗ペーストを用いることで、良好な電気的特性を有すると共に鉛フリーの厚膜抵抗器を製造することができる。 According to the present invention, by using a conductive material made of Bi 3 Ru 3 O 11, a high sheet resistance value (1 kΩ / □ or more) equivalent to that of a conventional lead-containing resistance material (Pb 2 Ru 2 O 6.5, etc.) ) And good TCR characteristics can be obtained. Therefore, by using the above-mentioned resistance paste, it is possible to manufacture a lead-free thick film resistor having good electrical characteristics.

以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して説明する。なお、各図中、同一の機能を有する部材または要素には同一の符号を付して、その重複した説明を省略する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In addition, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the member or element which has the same function, and the duplicate description is abbreviate | omitted.

図1は、本発明の一実施形態の抵抗ペーストの製造工程を示す。鉛フリーの厚膜抵抗器であって、高いシート抵抗値(1kΩ/□以上)が得られると共に、TCR特性が0に近いものが要求されている。そこで0に近いTCR値が得られると共に、鉛フリーで高いシート抵抗値が得られる抵抗材料としてBi3Ru3O11に着目し、これを用いて抵抗ペーストを作製した。 FIG. 1 shows a process for producing a resistance paste according to an embodiment of the present invention. A lead-free thick film resistor is required which has a high sheet resistance (1 kΩ / □ or more) and a TCR characteristic close to zero. Therefore, attention was paid to Bi 3 Ru 3 O 11 as a resistance material that can obtain a TCR value close to 0 and lead-free and high sheet resistance, and a resistance paste was produced using this.

導電材料として、Bi3Ru3O11を用い、ガラス材料として、Bi2O3-SiO2-B2O3系ガラスを用い、ビヒクルとして、エチルセルロース、α−テルピネオール、テキサノールを用いる。導電材料30wt%、ガラス材料70wt%とし、これにビヒクルを適量添加し、3本ロールを用いて混練して抵抗ペーストを得る。導電材料とガラス材料の比率は、完成品の抵抗値に応じて調整可能である。特性や加工性等を考慮すると導電材料は10wt%〜70wt%とすることが望ましい。 Bi 3 Ru 3 O 11 is used as the conductive material, Bi 2 O 3 —SiO 2 —B 2 O 3 glass is used as the glass material, and ethyl cellulose, α-terpineol, and texanol are used as the vehicle. The conductive material is 30 wt% and the glass material is 70 wt%. An appropriate amount of vehicle is added thereto, and kneaded using three rolls to obtain a resistance paste. The ratio between the conductive material and the glass material can be adjusted according to the resistance value of the finished product. Considering characteristics, workability, etc., the conductive material is desirably 10 wt% to 70 wt%.

また、ガラス組成物は鉛フリーであれば特に限定はなく、SiO2−B2O3をベースにBi2O3、CaO、SrO、BaO、ZnO、Al2O3、TiO2、ZrO、MnO、NiO等の酸化物を添加したもので良い。ビヒクルはエチルセルロースを用いたが、この種の厚膜抵抗ペーストに通常用いられるものがいずれも使用可能である。 The glass composition is not particularly limited as long as it is lead-free, based on SiO 2 -B 2 O 3 , Bi 2 O 3 , CaO, SrO, BaO, ZnO, Al 2 O 3 , TiO 2 , ZrO, MnO Further, an oxide such as NiO may be added. As the vehicle, ethyl cellulose was used, but any of those usually used for this type of thick film resistance paste can be used.

なお、抵抗ペーストには、抵抗値・TCR・熱膨張率調整剤として、CuO、TiO2、ZnO、MgO、MnO、V2O5、Al2O3、ZrO、Fe2O3等を添加しても良い。 Note that the resistor pastes, resistance · TCR · thermal expansion modifier, CuO, TiO 2, ZnO, MgO, MnO, V 2 O 5, Al 2 O 3, ZrO, and Fe 2 O 3 or the like is added May be.

Bi3Ru3O11は、有機体の酸化のための触媒などとして用いられているものであり、Bi3Ru3O11を得る工程例については下記の方法が知られている(”Bismuth Ruthenium Oxides, Neutron Diffraction and Photoelectron Spectroscopic Study of Bi3Ru2O7 and Bi3Ru3O11.” G.R.Facer, Aust. J. Chem, 1993, 46, 1897-1907)。 Bi 3 Ru 3 O 11 is used as a catalyst for oxidation of organic substances, and the following method is known as an example of a process for obtaining Bi 3 Ru 3 O 11 (“Bismuth Ruthenium”). Oxides, Neutron Diffraction and Photoelectron Spectroscopic Study of Bi 3 Ru 2 O 7 and Bi 3 Ru 3 O 11. ”GRFacer, Aust. J. Chem, 1993, 46, 1897-1907).

すなわち、RuO2、Bi2O3粉末を湿式混合し、大気雰囲気で、
450℃ 48時間 → 650℃ 48時間 → 750℃ 96時間
の焼成を行い、固相反応により、Bi3Ru3O11を形成する。粉末化は各加熱処理の間に行われる。
That is, RuO 2 and Bi 2 O 3 powders are wet-mixed in an air atmosphere,
Firing is performed at 450 ° C. for 48 hours → 650 ° C. for 48 hours → 750 ° C. for 96 hours, and Bi 3 Ru 3 O 11 is formed by solid phase reaction. Powdering is performed during each heat treatment.

本発明者等は、検討の結果、Bi3Ru3O11のさらに好ましい作製方法を見出した。図2は、本発明者により見出されたBi3Ru3O11を得る工程例を示す。
まず、前処理としてRuO2粉末を1000±5℃で2時間加熱処理する。
次に、上記前処理したRuO2粉末と、Bi2O3粉末とを、2:1の割合で湿式混合する。そして、大気雰囲気で、
450±5℃ 48時間焼成 → 室温まで冷却 → 750±5℃ 48時間焼成 → 室温まで冷却、粉末化、
の処理を行なう。これにより、Bi3Ru3O11粉末が得られる。なお、昇温・降温共に5℃/minの速度で行った。
As a result of studies, the present inventors have found a more preferable method for producing Bi 3 Ru 3 O 11 . FIG. 2 shows an example of a process for obtaining Bi 3 Ru 3 O 11 found by the present inventors.
First, as a pretreatment, RuO 2 powder is heat-treated at 1000 ± 5 ° C. for 2 hours.
Next, the pretreated RuO 2 powder and Bi 2 O 3 powder are wet-mixed at a ratio of 2: 1. And in the atmosphere,
450 ± 5 ° C for 48 hours → Cool to room temperature → 750 ± 5 ° C for 48 hours → Cool to room temperature, powdered
Perform the following process. Thereby, Bi 3 Ru 3 O 11 powder is obtained. The temperature increase / decrease was performed at a rate of 5 ° C./min.

本発明者等が見出したBi3Ru3O11の作製方法によれば、従来の方法における650℃での焼成工程を省くことができる。従って、全体としての焼成処理工程が短くなるため、製造コスト等において優れている。 According to the method for producing Bi 3 Ru 3 O 11 found by the present inventors, the firing step at 650 ° C. in the conventional method can be omitted. Therefore, since the baking process as a whole is shortened, the manufacturing cost is excellent.

Bi3Ru3O11を作製する場合の注意点として、Bi3Ru3O11を作製する過程で、Bi2Ru2O7が生成されてしまうことである。本発明者等が見出した方法においては、予めRuO2を1000℃で加熱処理することにより、粒成長がおきてRuO2の粒径が大きくなるため、混合過程での反応が鈍くなり、Bi2Ru2O7とはならずBi3Ru3O11が作製されやすくなったものと考えられる。 As a side note when making Bi 3 Ru 3 O 11, in the process of producing a Bi 3 Ru 3 O 11, it is that the Bi 2 Ru 2 O 7 are produced. In the method of the present inventors have found, in advance RuO 2 by heat treatment at 1000 ° C., since the particle size of the RuO 2 becomes larger every grain growth, reaction in the mixing process is slow, Bi 2 It is considered that Bi 3 Ru 3 O 11 is easily produced instead of Ru 2 O 7 .

次に、上記抵抗ペーストを用いてサンプルを作製し、各サンプルについて、固定抵抗器として用いた場合の特性評価を行なった。作製したサンプルは、セラミック基板上に、0.5mm×0.5mm四方、厚さ5〜10μmの抵抗体パターンをスクリーン印刷により形成し、650〜850℃の範囲で温度を変えて焼成したものである。作製したサンプルのシート抵抗値とTCRと焼成温度を表1に示した。なお、焼成時間はすべて10分である。

Figure 0004974268
Next, samples were prepared using the above-described resistance paste, and the characteristics of each sample when used as a fixed resistor were evaluated. The prepared sample was formed by forming a resistor pattern of 0.5 mm x 0.5 mm square and 5 to 10 µm thick on a ceramic substrate by screen printing, and firing at a temperature in the range of 650 to 850 ° C. is there. Table 1 shows the sheet resistance value, TCR, and firing temperature of the prepared sample. In addition, all baking time is 10 minutes.
Figure 0004974268

サンプル1は、シート抵抗値が1364.3Ω/□であり、比較的高いシート抵抗値であるが、TCRは335.6(10-6/K)と高いため、固定抵抗器として好ましい特性は得られなかった。 Sample 1 has a sheet resistance value of 1364.3 Ω / □ and a relatively high sheet resistance value. However, since TCR is as high as 335.6 (10 −6 / K), a favorable characteristic as a fixed resistor is obtained. I couldn't.

サンプル2〜5は、1kΩ/□以上の比較的高いシート抵抗値が得られ、TCRも±150(10-6/K)の範囲に該当する値が得られ、固定抵抗器として使用可能な特性が得られた。TCRは±100(10-6/K)の範囲を若干超えているが、TCR調整剤を添加することで調整が可能である。 Samples 2 to 5 have a relatively high sheet resistance value of 1 kΩ / □ or more, and TCR values within the range of ± 150 (10 -6 / K), which can be used as fixed resistors. was gotten. Although the TCR slightly exceeds the range of ± 100 (10 −6 / K), it can be adjusted by adding a TCR adjuster.

サンプル6、7は、高いシート抵抗値が得られたが、TCRにおいて大きな負の値が得られ、固定抵抗器としては好ましくない。以上より、抵抗器特性からみて固定抵抗器として使用可能なものはサンプル2〜5であった。   Samples 6 and 7 obtained a high sheet resistance value, but obtained a large negative value in TCR, which is not preferable as a fixed resistor. From the above, samples 2 to 5 were usable as fixed resistors in view of the resistor characteristics.

次に、抵抗体成分の状態を確認するため、各サンプルについて粉末X線解析(XRD)による解析を行なった結果、以下のとおりであった。
サンプル1、2についてはBi3Ru3O11が検出されず、RuO2が検出された。これは抵抗体の焼成温度が高温であったため、Bi3Ru3O11が分解してRuO2が生成されたものと推測できる。
Next, in order to confirm the state of the resistor component, each sample was analyzed by powder X-ray analysis (XRD), and the results were as follows.
For samples 1 and 2, Bi 3 Ru 3 O 11 was not detected, but RuO 2 was detected. Since the firing temperature of the resistor was high, it can be assumed that Bi 3 Ru 3 O 11 was decomposed and RuO 2 was generated.

サンプル3、4は、RuO2の生成が確認されたが、焼成温度が比較的低いため、Bi3Ru3O11も残存しており、RuO2への分解を抑制しているものと考えられる。
サンプル5は、僅かにRuO2の生成が確認されたが、大部分でBi3Ru3O11が残存しており、RuO2への分解をほぼ抑制しているものと考えられる。
サンプル6、7は、RuO2への分解を抑制し、ほぼBi3Ru3O11相のみの存在が確認できる。しかし、抵抗体焼成温度としては低いため、ガラスと抵抗材料の成膜が不十分でありガラス単体の特性が大きくTCRに表れてしまったものと考えられる。
In Samples 3 and 4, it was confirmed that RuO 2 was produced. However, since the firing temperature was relatively low, Bi 3 Ru 3 O 11 also remained, and it is considered that decomposition into RuO 2 was suppressed. .
In sample 5, the production of RuO 2 was slightly confirmed, but most of Bi 3 Ru 3 O 11 remains, and it is considered that decomposition into RuO 2 is substantially suppressed.
In Samples 6 and 7, decomposition into RuO 2 was suppressed, and the presence of almost only Bi 3 Ru 3 O 11 phase could be confirmed. However, since the resistor firing temperature is low, it is considered that the film formation of the glass and the resistance material is insufficient, and the characteristics of the glass alone appear greatly in the TCR.

以上の粉末X線解析(XRD)による解析結果から、Bi3Ru3O11の分解を抑制するために、抵抗体の焼成条件が大きく影響することが分かる。つまり、RuO2への分解を十分に抑制するには850℃を超えない温度で焼成することによって、比較的高いシート抵抗値が得られ、且つ良好なTCR特性を持つ固定抵抗器が作製可能である。 From the analysis result by the above powder X-ray analysis (XRD), it can be seen that the firing conditions of the resistor greatly affect the decomposition of Bi 3 Ru 3 O 11 . In other words, in order to sufficiently suppress the decomposition to RuO 2 , firing at a temperature not exceeding 850 ° C. can provide a relatively high sheet resistance value and a fixed resistor having good TCR characteristics can be produced. is there.

従って、850℃よりも低い温度範囲で抵抗体の焼成を行い、後の工程ではこれを越える温度を加えることなく抵抗器を作製することが必要である。また、低い焼成温度では、導電材料とガラス材料の濡れが不十分であり、抵抗体としての機能を果たさない。このため、700℃よりも高温で抵抗体を焼成することが望ましい。   Therefore, it is necessary to perform the firing of the resistor in a temperature range lower than 850 ° C., and to produce the resistor without applying a temperature exceeding this in the subsequent steps. Further, at a low firing temperature, the conductive material and the glass material are not sufficiently wetted and do not function as a resistor. For this reason, it is desirable to bake the resistor at a temperature higher than 700 ° C.

次に、本発明の抵抗ペーストを用いた厚膜固定抵抗器の製造方法について、図3を参照して説明する。まず、アルミナなどのセラミック基板を準備する。セラミック基板は多数個取りできる基板であり、あらかじめ1次分割溝、2次分割溝が形成されている。   Next, the manufacturing method of the thick film fixed resistor using the resistance paste of this invention is demonstrated with reference to FIG. First, a ceramic substrate such as alumina is prepared. A large number of ceramic substrates can be obtained, and primary division grooves and secondary division grooves are formed in advance.

次に、下面電極を形成する。すなわち、セラミック基板に、下面電極をスクリーン印刷により印刷する。電極材料は、Ag系、またはAg-Pd系ペーストを用いる。印刷後850℃で10分間焼成する。次に、上面電極をセラミック基板に、スクリーン印刷により印刷する。電極材料は、Ag系、またはAg-Pd系ペーストを用い、印刷後850℃で10分間焼成して、上面電極を形成する。   Next, a bottom electrode is formed. That is, the lower surface electrode is printed on the ceramic substrate by screen printing. As the electrode material, an Ag-based or Ag-Pd-based paste is used. Bake at 850 ° C. for 10 minutes after printing. Next, the upper surface electrode is printed on the ceramic substrate by screen printing. As the electrode material, an Ag-based or Ag-Pd-based paste is used, and after printing, baked at 850 ° C. for 10 minutes to form a top electrode.

次に、抵抗体を形成する。セラミック基板の上面電極間に、上面電極同士を接続するように前記Bi3Ru3O11を含む抵抗ペーストをスクリーン印刷により、所定パターンに従って印刷する。印刷特性は、従来のビヒクルを使うため、変わらない。抵抗体を印刷した後、850℃未満を上限とする温度で焼成する。焼成温度が850℃よりも高いと、Bi3Ru3O11の分解が進み、RuO2成分が増大し、好ましくない。また、焼成温度が700℃以下であると、導電材とガラス材の結合状態が十分でなく、負の大きなTCRとなり、好ましくない。 Next, a resistor is formed. A resistor paste containing Bi 3 Ru 3 O 11 is printed according to a predetermined pattern by screen printing so as to connect the upper surface electrodes between the upper surface electrodes of the ceramic substrate. Printing characteristics remain the same because conventional vehicles are used. After the resistor is printed, it is fired at a temperature having an upper limit of less than 850 ° C. When the calcination temperature is higher than 850 ° C., decomposition of Bi 3 Ru 3 O 11 proceeds and the RuO 2 component increases, which is not preferable. Further, if the firing temperature is 700 ° C. or lower, the bonding state between the conductive material and the glass material is not sufficient, and a large negative TCR is not preferable.

次に、抵抗値をトリミングにより調整する。これは、レーザ光により抵抗体に切込みを形成して、所望する抵抗値になるように調整する。そして、抵抗体を覆うように保護膜を形成する。保護膜は、例えばエポキシ系樹脂を用いる。保護膜をスクリーン印刷、塗布等により形成した後、200℃程度に加熱して硬化させる。保護膜としてガラスを用いた場合には、ガラス焼成のため高温にする必要があり、抵抗体の変成を促す可能性がある。このため、保護膜としてはエポキシ系樹脂を用いることが好ましい。   Next, the resistance value is adjusted by trimming. This is adjusted by forming a notch in the resistor with a laser beam to obtain a desired resistance value. Then, a protective film is formed so as to cover the resistor. For example, an epoxy resin is used for the protective film. After forming the protective film by screen printing, coating or the like, it is heated to about 200 ° C. and cured. When glass is used as the protective film, it is necessary to raise the temperature for firing the glass, and there is a possibility of promoting the transformation of the resistor. For this reason, it is preferable to use an epoxy resin as the protective film.

次に、セラミック基板を1次分割溝に沿って分割し、短冊状の基板を得る。そして、短冊状にセラミック基板を分割することにより露出した端面に金属膜を形成することにより、上面電極と下面電極とを接続する。例えば、成膜法としてはスパッタリング法を用い、Ni-Cr系金属材料を端面に被着する。さらに、端面電極が形成された短冊状基板を、2次分割溝に沿って分割し、チップ単体を得る。そして、上面電極、下面電極および端面電極の表面にめっき層を形成する。材料としては鉛フリーのSn系はんだ材料を用いることが望ましい。   Next, the ceramic substrate is divided along the primary dividing groove to obtain a strip-shaped substrate. And a metal film is formed in the end surface exposed by dividing | segmenting a ceramic substrate in strip shape, and an upper surface electrode and a lower surface electrode are connected. For example, a sputtering method is used as a film forming method, and a Ni—Cr-based metal material is deposited on the end face. Further, the strip-shaped substrate on which the end face electrodes are formed is divided along the secondary dividing grooves to obtain a single chip. Then, plating layers are formed on the surfaces of the upper surface electrode, the lower surface electrode, and the end surface electrode. As the material, it is desirable to use a lead-free Sn-based solder material.

以上の厚膜抵抗器の製造方法によれば、Bi3Ru3O11を含む抵抗ペーストを用いて厚膜抵抗体を形成するので、1kΩ/□以上の比較的高いシート抵抗値が得られ、TCRも±150(10-6/K)の範囲の値が得られ、固定抵抗器として使用可能な特性が得られる。そして、Bi3Ru3O11を含む抵抗ペーストは、鉛フリーであるので、環境上の問題がない。これにより、厚膜抵抗器の比較的シート抵抗値の高いものも、鉛を含むペーストを使うことなく、所望の電気的特性を得ることができる。 According to the method for manufacturing a thick film resistor described above, since a thick film resistor is formed using a resistor paste containing Bi 3 Ru 3 O 11 , a relatively high sheet resistance value of 1 kΩ / □ or more is obtained. The TCR also has a value in the range of ± 150 (10 −6 / K), and a characteristic that can be used as a fixed resistor is obtained. And since the resistance paste containing Bi 3 Ru 3 O 11 is lead-free, there is no environmental problem. Thereby, even a thick film resistor having a relatively high sheet resistance value can obtain desired electrical characteristics without using a paste containing lead.

これまで本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技術的思想の範囲内において種々異なる形態にて実施されてよいことは言うまでもない。   Although one embodiment of the present invention has been described so far, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be implemented in various forms within the scope of the technical idea.

本発明の一実施形態の抵抗ペーストを示す図である。It is a figure which shows the resistance paste of one Embodiment of this invention. 本発明のBi3Ru3O11を得る工程例を示すフロー図である。The example process of obtaining a Bi 3 Ru 3 O 11 of the present invention is a flow diagram showing. 本発明の抵抗ペーストを用いた厚膜固定抵抗器の製造方法を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the thick film fixed resistor using the resistance paste of this invention.

Claims (4)

Bi3Ru3O11 のみからなる導電材料と、
鉛を含まないガラス材料と、
ビヒクルと、
を混練したことを特徴とする抵抗ペースト。
A conductive material consisting only of Bi 3 Ru 3 O 11 ;
Lead-free glass material,
With the vehicle,
A resistance paste characterized by kneading.
前記Bi3Ru3O11からなる導電材料は、予め1000±5℃で2時間加熱前処理したRuO2粉末とBi2O3粉末を2:1の割合で湿式混合し、前記混合したRuO2とBi2O3の混合粉末を大気雰囲気450±5℃で48時間焼成後に室温まで冷却し、さらに750℃±5℃で48時間焼成後に室温まで冷却して粉末化したものであることを特徴とする請求項1に記載の抵抗ペースト。 Conductive material made of the Bi 3 Ru 3 O 11 has a RuO 2 powder were pretreated 2 hours heating at a pre-1000 ± 5 ° C., the Bi 2 O 3 powder 2: wet mixed in a ratio of 1, and the mixed RuO The mixed powder of 2 and Bi 2 O 3 is cooled to room temperature after firing at 450 ± 5 ° C. for 48 hours in air, and further cooled to room temperature after firing at 750 ° C. ± 5 ° C. for 48 hours. The resistance paste according to claim 1, wherein Bi3Ru3O11 のみからなる導電材料と、鉛を含まないガラス材料と、ビヒクルと、を混練した抵抗ペーストを準備し、
前記抵抗ペーストをセラミック基板に所定パターンで印刷し、
前記抵抗ペーストが印刷されたセラミック基板を、850℃未満を上限とする温度で焼成することを特徴とする厚膜抵抗器の製造方法。
Prepare a resistance paste kneaded with conductive material consisting only of Bi 3 Ru 3 O 11, glass material not containing lead, and vehicle,
Printing the resistance paste in a predetermined pattern on a ceramic substrate;
A method of manufacturing a thick film resistor, comprising firing the ceramic substrate on which the resistance paste is printed at a temperature of less than 850 ° C. as an upper limit.
前記焼成する温度は、700℃を超えることを特徴とする請求項に記載の厚膜抵抗器の製造方法。 The method for manufacturing a thick film resistor according to claim 3 , wherein the firing temperature exceeds 700 ° C.
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