JP5002986B2 - Self-luminous display device, electronic device, burn-in correction device, and program - Google Patents
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Description
発明の一つの形態は、自発光表示パネルの焼き付き補正技術に関する。
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、電子機器、焼き付き補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
One embodiment of the present invention relates to a burn-in correction technique for a self-luminous display panel.
The invention proposed by the inventors has aspects such as a self-luminous display device, an electronic device, a burn-in correction device, and a program.
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機などの製品で広く普及している。現在、液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然として視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ELディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成することができる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
Flat panel displays are widely used in products such as computer displays, portable terminals, and television receivers. Currently, many liquid crystal display panels are used, but the narrow viewing angle and slow response speed continue to be pointed out.
On the other hand, an organic EL display formed of a self-luminous element can overcome the above-mentioned problems of viewing angle and responsiveness, and can achieve a thin form, high brightness, and high contrast that do not require a backlight. Therefore, it is expected as a next-generation display device that replaces the liquid crystal display.
ところで、有機EL素子その他の自発光素子には、発光量や発光時間に応じて劣化する特性がある。
一方で、自発光表示装置に表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域(固定表示領域)では、他の表示領域(動画表示領域)に比べて輝度劣化が早く進行する。
By the way, the organic EL element and other self-light-emitting elements have a characteristic of deteriorating according to the light emission amount and the light emission time.
On the other hand, the content of the image displayed on the self-luminous display device is not uniform. For this reason, the deterioration of the self-luminous element is likely to proceed partially. For example, in the time display area (fixed display area), the luminance degradation proceeds faster than in other display areas (moving image display areas).
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。
例えば特許文献1には、入力表示データ(階調値)を積算し、その積算値に対応する補正値をテーブルメモリより読み出す手法が開示されている。
At present, various methods are being studied for improving the “burn-in” phenomenon.
For example,
ところが、この種の補正手法では、積算値の算出や蓄積を実時間で実行するために、積算値の最大値に対応するバス幅の更に2倍のバス幅がデータの読み書きのために必要となる。 However, with this type of correction method, since the calculation and accumulation of the integrated value are executed in real time, a bus width twice as large as the bus width corresponding to the maximum integrated value is required for reading and writing data. Become.
そこで、発明者らは、少なくともデータ幅を大幅に削減できる焼き付き補正技術を提案する。
すなわち、複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルの焼き付きを補正する装置として、以下の各機能を組み合わせる補正技術を提案する。
(a)入力階調値を劣化量に変換する階調値/劣化量変換部
(b)フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部
(c)累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部
(d)短周期単位で算出される劣化量差の累積値を所定の長周期の蓄積期間蓄積する長周期劣化量蓄積部
(e)長周期劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、前記長周期の蓄積期間と同じに設定される将来期間としての補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部
(f)算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部
(g)前記短周期劣化量蓄積部から前記劣化量差算出部には、重み付けによりビット数が低減された累積値が出力される
(h)前記補正量算出部は、劣化量差の累積値Yを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β1を、補正期間t内に予測される基準画素の劣化率β2を用いて、β1=β2−Y/tとして求める
Therefore, the inventors propose a burn-in correction technique that can significantly reduce at least the data width.
That is, as a device for correcting burn-in of a display panel in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate, a correction technique that combines the following functions is proposed.
(A) gradation value / degradation amount conversion unit for converting input gradation value into deterioration amount (b) short period deterioration amount accumulation unit (c) for accumulating the accumulated value of the deterioration amount generated in frame units in a short period unit A deterioration amount difference calculation unit that calculates a deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel based on the accumulated value. (D) The accumulated value of the deterioration amount difference calculated in short cycle units is stored in a predetermined long cycle accumulation period. Long-period degradation amount accumulation unit to be accumulated (e) Correction as a future period set to be the same as the long-period accumulation period with a correction amount necessary for eliminating the difference in degradation amount accumulated in the long-period degradation amount accumulation unit Correction amount calculation unit for calculating based on the predicted deterioration amount within the period
(F) Degradation amount difference correction unit that corrects the gradation value of the corresponding pixel with the calculated correction amount. (G) The number of bits is reduced by weighting from the short period deterioration amount accumulation unit to the deterioration amount difference calculation unit. (H) The correction amount calculating unit predicts the deterioration rate β1 of the correction target pixel necessary for eliminating the cumulative value Y of the deterioration amount difference within the correction period t. Is obtained as β1 = β2−Y / t using the degradation rate β2
発明者らの提案する補正技術では、実時間での処理が要求される累積値の算出を短周期単位でのみ実行する。この累積値の算出時に使用するメモリ空間は小さくて済むのに加え、劣化量差の算出及びその累積値の算出に必要なデータの読み書きに時間的な余裕を持たせることができる。結果的にバス幅が読み書きされるデータ分だけになる。このため、焼き付き補正装置を構成するバス幅を大幅に小さくすることができる。 In the correction technique proposed by the inventors, calculation of a cumulative value that requires processing in real time is executed only in units of short cycles. In addition to a small memory space used when calculating the accumulated value, it is possible to provide a time margin for calculating the deterioration amount difference and reading / writing data necessary for calculating the accumulated value. As a result, the bus width is only the data to be read and written. For this reason, the bus width constituting the burn-in correction device can be significantly reduced.
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象の補正技術を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, a technique for correcting a burn-in phenomenon using the technical method according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification.
The embodiment described below is one embodiment of the present invention and is not limited thereto.
(A)有機ELディスプレイへの適用例
(A−1)全体構成
図1に、有機ELディスプレイの形態例を示す。有機ELディスプレイは、特許請求の範囲における「自発光表示装置」の一例である。
有機ELディスプレイ1は、焼き付き補正部3と有機ELパネルモジュール5で構成される。
(A) Application Example to Organic EL Display (A-1) Overall Configuration FIG. 1 shows a form example of an organic EL display. The organic EL display is an example of the “self-luminous display device” in the claims.
The
焼き付き補正部3は、特許請求の範囲における「焼き付き補正装置」に対応する。焼き付き補正部3は、補正対象画素と基準画素との間に発生した劣化量差の検出処理と、劣化量差を補正期間内に解消する補正処理とを交互に実行する処理デバイスである。
The burn-in
有機ELパネルモジュール5は、自発光素子に有機EL素子を使用する表示デバイスである。
有機ELパネルモジュール5は、有効表示領域とその駆動回路(データドライバ、スキャンドライバ等)で構成する。
有効表示領域には、有機EL素子がマトリクス状に配置される。なお、発光色は、R(赤)、G(緑)、B(青)の三色とする。これら三色を一組として表示上の1画素が形成されている。
The organic
The organic
In the effective display area, organic EL elements are arranged in a matrix. The emission colors are three colors of R (red), G (green), and B (blue). One pixel on the display is formed with these three colors as a set.
(A−2)焼き付き補正部3の基本構成
図2に、発明者らが提案する焼き付き補正部3の基本構成例を示す。
焼き付き補正部3は、階調値/劣化量変換部301、劣化量差算出部303、総劣化量蓄積部305、補正量算出部307及び劣化量差補正部309で構成する。
(A-2) Basic Configuration of Burn-in
The burn-in
階調値/劣化量変換部301は、有機ELパネルモジュール5に実際に供給される映像信号(階調値)を劣化量パラメータに変換する処理デバイスである。階調値を劣化量パラメータに変換するのは、現在実用化されている有機EL素子の劣化量が階調値に必ずしも比例しないためである。このため、階調値の積算値を基準として補正値を決定する特許文献1に示す焼き付き補正方法は、現時点において焼き付き補正の効果が限定的と言わざるを得ない。
The gradation value / degradation
そこで、階調値/劣化量変換部301を配置し、各発光色に対応する各画素の階調値を劣化量に変換する。この形態例では、階調値と有機EL素子の劣化量との関係を実験により求め、その対応関係データを一覧表として保存する。
図3に、階調値/劣化量変換テーブルの一例を示す。図3に示す階調値/劣化量変換テーブルの場合、階調値には劣化率と劣化量とが関連づけられて保存されている。劣化率とは、単位時間当たりの劣化量を意味する。従って、劣化量は、劣化率に発光時間tを乗算することで求めることができる。
Therefore, a gradation value / degradation
FIG. 3 shows an example of the gradation value / degradation amount conversion table. In the case of the gradation value / deterioration amount conversion table shown in FIG. 3, the deterioration rate and the deterioration amount are stored in association with the gradation value. The deterioration rate means a deterioration amount per unit time. Therefore, the deterioration amount can be obtained by multiplying the deterioration rate by the light emission time t.
劣化量差算出部303は、有効表示領域を構成する各画素(補正対象画素)と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素は、焼き付き補正の実行時に補正基準となる。この形態例の場合、有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光する画素を想定する。基準画素は表示パネル上に実際に用意しても良いし、信号処理によって仮想的に用意しても良い。
劣化量差算出部303は、補正対象画素の劣化量から基準画素の劣化量を減算し、その差分値を劣化量差として算出する。
The deterioration amount
The deterioration amount
例えば発光期間をt1、補正対象画素の劣化率α1、基準画素の劣化率α2とする場合、理論上の劣化量差Yは次式により算出することができる。
Y=(α1−α2)・t1
なお、劣化量差が正値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも進んでいることを意味する。一方、劣化量差が負値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも遅れていることを意味する。
For example, when the light emission period is t1, the deterioration rate α1 of the correction target pixel, and the deterioration rate α2 of the reference pixel, the theoretical deterioration amount difference Y can be calculated by the following equation.
Y = (α1-α2) · t1
When the deterioration amount difference is a positive value, it means that the deterioration of the correction target pixel is more advanced than the reference pixel. On the other hand, when the deterioration amount difference is a negative value, it means that the deterioration of the correction target pixel is behind the reference pixel.
総劣化量蓄積部305は、基準画素の劣化量の累積値と各画素(補正対象画素)の劣化量差の累積値とを保存する記憶領域又は記憶装置である。例えば、半導体メモリ、ハードディスク装置その他の磁気記憶媒体、光ディスクその他の光記憶媒体を使用する。
補正量算出部307は、画素毎に算出された劣化量差を補正期間(将来期間)内に解消するのに必要な補正量を、基準画素の予測劣化量に基づいて算出する処理デバイスである。
The total deterioration
The correction
図4に、補正量算出部307による補正量の算出原理を示す。図4は、補正期間t2内に、直前期間(劣化量差蓄積期間)t1で発生した劣化量差をゼロにするための条件を表している。なお、図4では、基準画素に対応する劣化量の推移を破線で示し、補正対象画素に対応する劣化量の推移を実線で示す。
補正期間t2の予測劣化率をβ2とする場合、補正対象画素の予測劣化率β1は、直前期間t1に発生した劣化量差Y(=(α1−α2)・t1)を用い、次式として表される。
β1=β2−Y/t2=β2−(α1−α2)・t1/t2
FIG. 4 shows the calculation principle of the correction amount by the correction
When the predicted deterioration rate β2 in the correction period t2 is β2, the predicted deterioration rate β1 of the correction target pixel is expressed by the following equation using the deterioration amount difference Y (= (α1−α2) · t1) generated in the immediately preceding period t1. Is done.
β1 = β2-Y / t2 = β2- (α1-α2) · t1 / t2
補正量算出部307は、階調値/劣化量変換テーブル(図3)を参照し、算出された劣化率β1に対応する階調値を求める。
なお、この階調値は、補正後の映像信号に求められる階調値である。補正量算出部307は、この階調値を満たすように補正対象画素の予測階調値からあるべき階調値(β1に対応する)を減算し、補正対象画素に対する補正量を算出する。
The correction
This gradation value is a gradation value required for the corrected video signal. The correction
例えば、予測階調値の方があるべき階調値よりも大きい場合には、補正値は負値になる。また、予測階調値の方があるべき階調値よりも小さい場合には、補正値は正値になる。
劣化量差補正部309は、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する処理デバイスである。例えば、劣化量差補正部309は、入力映像信号に階調値を加算する処理を実行する。
For example, when the predicted gradation value is larger than a certain gradation value, the correction value becomes a negative value. Further, when the predicted gradation value is smaller than a certain gradation value, the correction value becomes a positive value.
The deterioration amount
(A−3)システムの実現に必要となるメモリ容量とバス幅
焼き付き補正部3の実現に必要となるメモリ容量とバス幅を説明する。
以下では、100%輝度で有機ELパネルモジュール5を継続的に発光する場合における輝度劣化の半減期を3万時間とする。
(A-3) Memory Capacity and Bus Width Required for Realizing the System The memory capacity and bus width required for realizing the burn-in
In the following, the half-life of luminance deterioration when the organic
この場合、半減期分の総劣化量を蓄積するのに必要なデータ幅は以下の式で求めることができる。
まず、半減期に相当するフレーム数を求める。なお、1秒間当たりのフレーム数は60フレームとする。
半減期までのフレーム数=30000時間×60分×60秒×60フレーム
In this case, the data width necessary for accumulating the total deterioration amount for the half-life can be obtained by the following equation.
First, the number of frames corresponding to the half life is obtained. The number of frames per second is 60 frames.
Number of frames to half-life = 30000 hours x 60 minutes x 60 seconds x 60 frames
半減期は、輝度レベルが100%から50%に低下するのに要する期間をいう。従って、1フレーム当たりの輝度レベルの劣化量(%)は、次式で与えられる。
1フレーム当たりの劣化量(%)=50%÷(30000×60×60×60)
=7.716×10−9
Half-life refers to the period required for the luminance level to decrease from 100% to 50%. Accordingly, the luminance level deterioration amount (%) per frame is given by the following equation.
Deterioration amount per frame (%) = 50% ÷ (30000 × 60 × 60 × 60)
= 7.716 × 10 −9
ただし、この値は100%輝度が継続的に出力された場合の値であり、実際の映像信号は任意の階調値を採る。例えば、階調の分解能が256(8ビット)の場合、1フレーム当たりの劣化量(%)を表現するには、少なくとも次式で与えられるだけのビット幅が必要になる。
1フレーム当たりの劣化量(%)=7.716×10−9÷256
=3×10−11(40ビット幅)
However, this value is a value when 100% luminance is continuously output, and an actual video signal takes an arbitrary gradation value. For example, when the gradation resolution is 256 (8 bits), at least the bit width given by the following equation is required to express the deterioration amount (%) per frame.
Deterioration amount per frame (%) = 7.716 × 10 −9 ÷ 256
= 3 × 10 −11 (40-bit width)
すなわち、リアルタイム(1フレーム毎)で発生する劣化量の演算と蓄積には、40ビット幅のデータ処理が必要になる。
図5に、この処理動作を実現する処理デバイスとバス幅との関係を示す。
例えば階調値/劣化量変換部301と劣化量差算出部303との間には、基本発光色別に各40ビット、計120ビット分のデータ線が必要となる。
That is, 40-bit width data processing is required for calculating and accumulating the amount of deterioration that occurs in real time (every frame).
FIG. 5 shows the relationship between the processing device for realizing this processing operation and the bus width.
For example, between the gradation value / deterioration
また例えば、劣化量差算出部303と総劣化量蓄積部305との間には、基本発光色別にロード用とリード用の各40ビット、計240ビットが必要となる。2倍のデータ幅が必要になるのは、保存された劣化量差を計算処理する場所にまずロードし、計算された値を保存する読み書き処理を同時刻に実行するためである。このように、劣化量を保存する期間が長いほど、又は、階調の分解能が小さいほどデータ幅が大きくなり、システムが肥大化してしまう。
Further, for example, between the deterioration amount
(A−4)システムの改善例
そこで、発明者らは、メモリ容量とバス幅の大幅な削減を目的として、以下のシステム構成を有する焼き付き補正部を提案する。具体的には、総累積値の演算に先立って短周期単位の累積値を一旦演算する手法を採用する。
図6に、この種の処理手法を採用した焼き付き補正部500のシステム構成例を示す。なお、図6には、図2との対応部分に同一符号を付して示す。
(A-4) Improvement Example of System Accordingly, the inventors propose a burn-in correction unit having the following system configuration for the purpose of greatly reducing memory capacity and bus width. Specifically, a method of once calculating the cumulative value in short cycle units prior to the calculation of the total cumulative value is adopted.
FIG. 6 shows a system configuration example of a burn-in correction unit 500 that employs this type of processing method. In FIG. 6, the same reference numerals are given to the portions corresponding to FIG. 2.
焼き付き補正部500は、階調値/劣化量変換部301、劣化量差算出部503、総劣化量蓄積部305、補正量算出部307及び劣化量差補正部309で構成される。すなわち、焼き付き補正部500は、劣化量差算出部503を除き、図2に示す焼き付き補正部3と同じシステム構成を有している。
The burn-in correction unit 500 includes a gradation value / deterioration
劣化量差算出部503は、1分間劣化量蓄積処理部5031、1分間劣化量蓄積メモリ5033及び劣化量差圧縮部5035で構成する。
1分間劣化量蓄積処理部5031は、フレーム単位で発生する劣化量を1分間単位で累積演算する処理デバイスである。1分間単位の累積劣化量の算出には、1分間劣化量蓄積メモリ5033を使用する。リアルタイム処理が要求される累積劣化量の算出処理を1分単位で実行することでビット幅の削減を実現する。
これら1分間劣化量蓄積処理部5031と1分間劣化量蓄積メモリ5033の機能が、「特許請求の範囲」における「短周期劣化量蓄積部」に対応する。
The deterioration amount
The one-minute deterioration amount
The functions of the one-minute deterioration amount
劣化量差圧縮部5035は、ビット幅を圧縮した1分間単位の累積劣化量差について補正対象画素と基準画素との差分を算出する処理を実行する処理デバイスである。
この劣化量差圧縮部5035は、「特許請求の範囲」における「劣化量差算出部」に対応する。
The deterioration amount
The deterioration amount
劣化量差圧縮部5035と図2に示す劣化量差算出部303との最大の違いは、劣化量差の算出が1分間単位で実行される点である。また、劣化量差圧縮部5035は、更なるビット幅の削減のため、重み付け演算によりビット幅が圧縮された劣化量に基づいて劣化量差を算出する点でも劣化量差算出部303と異なる。
因みに、この形態例における総劣化量蓄積部305は、「特許請求の範囲」における「長周期劣化量蓄積部」として機能する。
The greatest difference between the deterioration amount
Incidentally, the total deterioration
(A−5)システムの実現に必要となるメモリ容量とバス幅
焼き付き補正部500の実現に必要となるメモリ容量とバス幅を説明する。
この場合も、100%輝度で有機ELパネルモジュール5を継続的に発光する場合における輝度劣化の半減期を3万時間とする。
従って、この場合も、半減期分の総劣化量を蓄積するのと同じデータ幅(40ビット)が最終的には必要となる。
(A-5) Memory Capacity and Bus Width Required for Realization of System The memory capacity and bus width required for realizing the burn-in correction unit 500 will be described.
Also in this case, the half-life of the luminance deterioration when the organic
Accordingly, in this case, the same data width (40 bits) as that for accumulating the total deterioration amount corresponding to the half-life is finally required.
ただし、短時間的な観点から見れば、実時間に計算しなければならないのは、このデータ幅の下位部分だけである。
従って、1分間劣化量蓄積メモリ5033は、1フレーム当たり劣化量(3×10−11(40ビット幅))を1分間分蓄積できるだけのメモリ容量を有していれば良い。
このメモリ容量は、1フレーム当たり劣化量のうち最小変化単位である“3”を、1分間分、すなわち60秒×60フレーム倍した値分のデータ幅に相当する。
具体的には、3×60秒×60フレーム=10800(14ビット幅)となる。
However, from a short-time perspective, only the lower part of this data width has to be calculated in real time.
Therefore, the one-minute deterioration
This memory capacity corresponds to a data width corresponding to a value obtained by multiplying “3”, which is the minimum change unit of the deterioration amount per frame, by one minute, that is, 60 seconds × 60 frames.
Specifically, 3 × 60 seconds × 60 frames = 10800 (14-bit width).
図7に、この処理動作を実現する処理デバイスとバス幅との関係を示す。
例えば1分間劣化量蓄積処理部5031と1分間劣化量蓄積メモリ5033との間には、基本発光色別にロード用とリード用の各14ビット、計84ビット分のデータ線が必要となる。
FIG. 7 shows the relationship between the processing device for realizing this processing operation and the bus width.
For example, between the one-minute deterioration amount
なお、1分間劣化量蓄積処理部5031は、一分間が経過する度に、各画素について算出された累積劣化量(短周期劣化量)を劣化量差圧縮部5035に出力する。この例の場合、更なるビット数の削減のため、重み付け処理により基本発光色当たりのビット数は14ビットから10ビットに削減される。
もっとも、データ量の削減により、誤差は当然発生する。しかし、1分間分の誤差量は、管理対象である総劣化量(30000時間分)に比べれば非常に短い時間であり、データ量の削減による誤差分は無視することができる。
The one-minute deterioration amount
However, an error naturally occurs due to the reduction of the data amount. However, the error amount for one minute is much shorter than the total deterioration amount (30000 hours) to be managed, and the error due to the reduction of the data amount can be ignored.
また、劣化量差圧縮部5035では、1分ごとに算出される10ビット幅の劣化量差を総劣化量蓄積部305から読み出した総劣化量(34ビット幅)に加算し、再び総劣化量蓄積部305に書き込む処理が実行される。
ここで、劣化量差圧縮部5035と総劣化量蓄積部305との間で実行されるデータの読み書きは、1分以内に時分割に実行される。従って、図7に示すように、ビット幅は総劣化量分のビット幅の2倍とはならない。
結果的に、劣化量差圧縮部5035と総劣化量蓄積部305の間のビット幅は、34ビット幅×3色分の102ビットで済む。
Further, the deterioration amount
Here, the reading and writing of data executed between the deterioration amount
As a result, the bit width between the deterioration amount
このように、総劣化量蓄積部305のメモリ容量は34ビット幅となり、図2の場合の各画素40ビット幅に比して小さく済む。
また、総劣化量蓄積部305と劣化量差圧縮部5035との接続に使用されるビット幅も240ビット幅から102ビット幅に大幅に削減されることになる。
As described above, the memory capacity of the total deterioration
In addition, the bit width used for connection between the total deterioration
(A−6)焼き付き現象の補正動作
続いて、焼き付き補正部500により実現される焼き付き補正動作を説明する。
図8に、焼き付き補正得500による補正動作の処理手順例を示す。焼き付き補正動作は、画素間の劣化量差が蓄積する期間とこれを補正する期間が交互に繰り返すことで実行される。
まず、階調値/劣化量変換部301において、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて階調値が検出される(S1)。
(A-6) Burn-in Correction Operation Next, the burn-in correction operation realized by the burn-in correction unit 500 will be described.
FIG. 8 shows an example of the processing procedure of the correction operation by the burn-in correction value 500. The burn-in correction operation is performed by alternately repeating a period in which a difference in deterioration amount between pixels is accumulated and a period in which the difference is corrected.
First, the gradation value / degradation
次に、階調値/劣化量変換部301は、補正対象画素と基準画素のそれぞれに対応する劣化率を図3に示す階調値/劣化量変換テーブルを用いて導出する。すなわち、補正対象画素の劣化率α1と基準画素の劣化率α2をそれぞれ導出する(S2)。なお、補正対象画素は、有効表示領域を構成する全画素が順番に又は並列的に指定される。
Next, the gradation value / degradation
フレーム単位で各画素の劣化量が導出される度、1分間劣化量蓄積処理部5031は、1分ごとに各画素に対応する劣化量の累積値を実時間で算出する(S3)。累積値の算出には、1分間劣化量蓄積メモリ5033が使用される。
1分単位の累積値が求まると、1分間劣化量蓄積処理部5031は、14ビット幅の劣化量を重み付けして圧縮し、10ビット幅の劣化量として劣化量差圧縮部5035に出力する。劣化量差圧縮部5035は、補正対象画素の劣化量と基準画素の劣化量との差分を算出し、1分単位の劣化量差を算出する(S4)。
When the deterioration amount of each pixel is derived in units of frames, the one-minute deterioration amount
When the accumulated value in units of 1 minute is obtained, the 1-minute degradation amount
更に、劣化量差圧縮部5035は、補正対象画素については前期間までに蓄積された劣化量差と新たに算出された1分単位の劣化量差とを加算し、測定期間内の総劣化量(累積劣化量差)を算出する(S5)。なお、基準画素については、前期間までに蓄積された劣化量と新たに算出された1分単位の劣化量とを加算し、測定期間内の総劣化量を算出する。
Further, the deterioration amount
やがて、蓄積期間t1が終了すると、補正量算出部307は、補正期間としての発光期間t2を決定する(S6)。発光期間t2は、任意の値を設定できる。ただし、あまり短いと単位時間内の補正量が大きくなり、画質を低下させる。従って、補正量が許容される範囲になることが望ましい。例えば、発光期間t2は蓄積期間t1と同じに設定する。
When the accumulation period t1 ends, the correction
この後、補正量算出部307は、発光期間t2に入力されるであろう基準画素の予測階調値に基づいて劣化率β2を導出する(S7)。
劣化率β2の導出により、補正対象画素の劣化率β1を算出するのに必要な全ての値(劣化量差Y、β2、発光期間t2)が確定する。
Thereafter, the correction
By deriving the deterioration rate β2, all values (deterioration amount differences Y, β2, light emission period t2) necessary for calculating the deterioration rate β1 of the correction target pixel are determined.
この後、補正量算出部307は、前述した補正条件式に従い、劣化量差を解消するのに必要な劣化率β1を求める(S8)。すなわち、β1=β2−Y/t2を用いて劣化率β1を算出する。
さらに、補正量算出部307は、導出された劣化率β1に対応する階調値を求める(S9)。
Thereafter, the correction
Further, the correction
次に、補正量算出部307は、求められた階調値を満たすように、補正対象画素の予測階調値に対する補正量を算出する(S10)。すなわち、補正量は、予測階調値に対して相対的に決定される。
このように決定された補正量で、劣化量差補正部309は、対応する補正対象画素の階調値を補正する。
Next, the correction
The deterioration amount
(A−7)形態例の効果
以上説明したように、この形態例で説明した有機ELディスプレイの場合には、発光輝度の低下を反映するパラメータである劣化率を用いて各画素の劣化量を測定するため、従来技術に比して発光特性の劣化量を正確に測定し、補正値を正確に決定することが可能になる。
(A-7) Effect of Embodiment As described above, in the case of the organic EL display described in this embodiment, the deterioration amount of each pixel is determined using a deterioration rate that is a parameter reflecting a decrease in light emission luminance. Therefore, it is possible to accurately measure the deterioration amount of the light emission characteristics and accurately determine the correction value as compared with the prior art.
加えて、各画素の発光色別の劣化量を1分単位で算出する手法を採用したことにより、リアルタイム処理が要求される信号処理部分のデータ幅の削減とメモリ容量の削減とを実現できる。
また、1分間劣化量蓄積処理部5031から劣化量差圧縮部5035に劣化量を与える際に、14ビット幅の劣化量を重み付けて10ビット幅に圧縮することにより、最終的に保存される劣化量を34ビット分に低減することができる。すなわち、メモリ容量を小さくできる。
In addition, by adopting a method of calculating the degradation amount of each pixel for each emission color in units of 1 minute, it is possible to realize a reduction in data width and a reduction in memory capacity of a signal processing portion that requires real-time processing.
In addition, when the deterioration amount is given from the deterioration amount
また、補正値の算出に必要な総劣化量の算出処理に必要な34ビット幅のデータの読み書きは、図9に示すように、1分間間隔で時分割に実行すれば良い。このため、劣化量差圧縮部5035と総劣化量蓄積部305の間のビット幅は劣化量の2倍にせずに済む。結果的にビット幅の大幅な削減を実現できる。
なお、この形態例のように劣化量を短周期と長周期の2段階で算出する処理手法は、簡易な信号処理により実現できる。従って、画面サイズが大型化する場合でも、表示パネル自体の生産難易度が上がることはなく、コストの増加もほとんど発生しない。このように、製造技術的にも効果的である。
Further, reading and writing of 34-bit width data necessary for the calculation processing of the total deterioration amount necessary for calculating the correction value may be executed in a time-sharing manner at intervals of one minute as shown in FIG. For this reason, the bit width between the deterioration amount
Note that the processing method for calculating the deterioration amount in two stages of a short cycle and a long cycle as in this embodiment can be realized by simple signal processing. Therefore, even when the screen size is increased, the production difficulty of the display panel itself is not increased, and the cost is hardly increased. Thus, it is also effective in terms of manufacturing technology.
(B)他の形態例
(a)前述の形態例では、劣化量差圧縮部5035から総劣化量蓄積部305との間で34ビット分の劣化量を一度に読み書きする場合について説明した。
しかし、34ビット幅の劣化量をより小さいデータ単位に分割して複数回に分けて送信し、受け手側で34ビット分の劣化量を再構築する手法を採用しても良い。
例えば、図10に示すように、34ビット幅の劣化量を8ビット単位に分割して5回に分けて送信し、受け手側で再構築する手法を採用しても良い。
(B) Other Embodiments (a) In the above embodiment, a case has been described in which the deterioration amount for 34 bits is read / written at once from the deterioration amount
However, a method may be employed in which the degradation amount of 34-bit width is divided into smaller data units and transmitted in multiple times, and the degradation amount for 34 bits is reconstructed on the receiver side.
For example, as shown in FIG. 10, a 34-bit width degradation amount may be divided into 8-bit units, transmitted in five times, and reconstructed on the receiver side.
この場合、劣化量差圧縮部5035から総劣化量蓄積部305との接続に必要なデータ線のビット数は、図11に示すように8ビット×3色分の計24ビットで済む。前述の例では、同一箇所のビット数が102ビットであったので、4分の1以下に削減できたことになる。
図12に、劣化量差圧縮部5035と総劣化量蓄積部305との間のデータの読み書きタイミング例を示す。
In this case, the number of bits of the data line necessary for connection from the deterioration amount
FIG. 12 shows an example of data read / write timing between the deterioration amount
(b)前述の形態例では、1分単位で算出された劣化量の累積値を重み付けしてビット幅を圧縮する場合について説明した。
しかし、ビット幅を圧縮せずに劣化量差を算出する場合にもビット幅の削減効果を実現できる。
図13に、焼き付き補正部700の基本構成例を示す。焼き付き補正部700は、階調値/劣化量変換部301、劣化量差算出部703、総劣化量蓄積部305、補正量算出部307及び劣化量差補正部309で構成する。
(B) In the above-described embodiment, the case where the bit width is compressed by weighting the accumulated value of the deterioration amount calculated in units of one minute has been described.
However, even when the deterioration amount difference is calculated without compressing the bit width, the effect of reducing the bit width can be realized.
FIG. 13 shows a basic configuration example of the burn-in correction unit 700. The burn-in correction unit 700 includes a gradation value / deterioration
なお、図13には、図6との対応部分に同一符号を付して示している。劣化量差算出処理部703の構成要素である劣化量差圧縮部5035が劣化量差算出部7031に置き換わっている点が違いである。
図14に、1分間劣化量蓄積処理部5031と劣化量差算出処理部7031との接続状態、並びに、劣化量差算出処理部7031と総劣化量蓄積処理部305との接続状態を示す。
In FIG. 13, the same reference numerals are given to the portions corresponding to FIG. 6. The difference is that a deterioration amount
FIG. 14 shows a connection state between the one-minute deterioration amount
この場合、劣化量差を圧縮していないため14ビット幅のデータが読み書きされることになるが、データの読み書きを時分割に実行することができるので、3色分でも42ビット及び120ビットで済む。
特に、劣化量差算出処理部7031と総劣化量蓄積部305を接続するビット幅は、図2のシステム構成の場合に比して半分となる。
このように、メモリ容量の削減はできないが、ビット幅の削減には非常に効果が期待できる。
In this case, since the deterioration amount difference is not compressed, 14-bit data is read and written. However, since data can be read and written in a time-sharing manner, even for three colors, 42 bits and 120 bits are used. That's it.
In particular, the bit width for connecting the deterioration amount difference
As described above, the memory capacity cannot be reduced, but a very effective reduction in the bit width can be expected.
(c)前述の形態例では、劣化量を一次的に蓄積する周期(すなわち、短周期)を1分として説明した。
しかし、短期的に劣化量を蓄積する期間は、秒単位や数分単位でも良い。この期間は、劣化量を蓄積する短周期劣化量蓄積部のメモリ容量との関係を通じて最適な値を決定することが望ましい。
(C) In the above-described embodiment, the period in which the deterioration amount is temporarily accumulated (that is, the short period) is described as 1 minute.
However, the period for accumulating the deterioration amount in the short term may be in seconds or in units of several minutes. During this period, it is desirable to determine an optimum value through the relationship with the memory capacity of the short period deterioration amount accumulation unit that accumulates the deterioration amount.
例えばメモリ容量が小さい場合には蓄積期間を短くし、メモリ容量が大きい場合には蓄積期間を長くする。劣化量の検出精度を高める場合には短期的な蓄積期間を短くし、劣化量の検出精度に余裕がある場合には短期的な蓄積期間を長くしても良い。
また、この期間は、劣化量や劣化量差の読み書きを時分割で実行するのに十分な時間だけ確保することが望ましい。読み書きを時分割で実行できる結果、ビット線数の削減を実現できる。
For example, when the memory capacity is small, the accumulation period is shortened, and when the memory capacity is large, the accumulation period is lengthened. The short-term accumulation period may be shortened when the deterioration amount detection accuracy is increased, and the short-term accumulation period may be lengthened when there is a margin in the deterioration amount detection accuracy.
In addition, it is desirable that this period is ensured for a time sufficient to read and write the deterioration amount and the deterioration amount difference in a time-sharing manner. As a result of reading and writing being performed in a time-sharing manner, the number of bit lines can be reduced.
(d)前述の形態例では、1分間劣化量蓄積処理部5031から劣化量差圧縮部5035に短期的な劣化量を読み出す際に重み付けによりデータ幅を小さくする場合について説明した。
しかし、1分間劣化量蓄積メモリ5033に劣化量を蓄積する際に重み付けによりデータ幅を小さくする手法を採用しても良い。
図15に、この場合におけるデータ線のビット幅の関係を示す。この場合、1分間劣化量蓄積メモリ5033のメモリ容量を小さいもので代用できる。
(D) In the above-described embodiment, the case where the data width is reduced by weighting when reading the short-term deterioration amount from the one-minute deterioration amount
However, a method of reducing the data width by weighting when the deterioration amount is stored in the one-minute deterioration
FIG. 15 shows the relationship between the bit widths of the data lines in this case. In this case, a small memory capacity of the one-minute deterioration
(e)前述の形態例では、各画素についての劣化量差や画面全体の平均階調値を発光色単位で算出する場合について説明した。
しかし、発光色別の階調値をグレースケール上の階調値に変換し、当該グレースケール上の階調値に対応する劣化量差や画面全体の平均階調値を算出する場合にも適用できる。
(E) In the above-described embodiment, the case where the deterioration amount difference for each pixel and the average gradation value of the entire screen are calculated in units of emission colors has been described.
However, it is also applicable to the case where the gradation value for each luminescent color is converted to the gradation value on the gray scale, and the deterioration amount difference corresponding to the gradation value on the gray scale or the average gradation value of the entire screen is calculated. it can.
(f)前述の形態例では、階調値/劣化量変換テーブルを1つだけ用意し、劣化量(率)と階調値との相互変換を実現する場合について説明した。
しかし、階調値と劣化率(量)が使用環境や材料特性等の影響により経時的に変化する可能性がある場合には、各条件に最適な複数通りの階調値/劣化量変換テーブルを選択的に使用する方法を採用しても良い。この場合、温度センサー、使用時間タイマーその他の検出デバイスを配置し、その検出結果に従って、各処理部で参照する階調値/劣化量変換テーブルを切り替えるようにしても良い。
(F) In the above-described embodiment, only one gradation value / deterioration amount conversion table is prepared, and the case where mutual conversion between the deterioration amount (rate) and the gradation value is realized has been described.
However, if there is a possibility that the gradation value and the deterioration rate (amount) change over time due to the influence of the usage environment, material characteristics, etc., a plurality of gradation value / degradation amount conversion tables that are optimal for each condition. You may employ | adopt the method of using selectively. In this case, a temperature sensor, a usage time timer, and other detection devices may be arranged, and the gradation value / degradation amount conversion table referred to by each processing unit may be switched according to the detection result.
(g)前述の形態例では、階調値/劣化量変換テーブルを1つだけ用意し、劣化量(率)と階調値との相互変換を実現する場合について説明した。
しかし、有機EL素子の発光特性の経時的な変化を検出するダミー画素を表示パネル内に配置し、その発光特性の経時的な変化を輝度検出センサーを通じて検出することで入出力関係を修正する仕組みを採用しても良い。
例えば、各階調値に対する全て又は一部の劣化率を検出し、その検出結果に従って各階調値に対応付ける劣化率(量)を算出する手法を採用しても良い。
(G) In the above-described embodiment, only one gradation value / deterioration amount conversion table is prepared and mutual conversion between the deterioration amount (rate) and the gradation value is realized.
However, a mechanism that corrects the input / output relationship by arranging dummy pixels in the display panel to detect changes over time in the light emission characteristics of the organic EL element and detecting changes over time in the light emission characteristics through a luminance detection sensor. May be adopted.
For example, a method may be employed in which all or part of the deterioration rate for each gradation value is detected, and the deterioration rate (amount) associated with each gradation value is calculated according to the detection result.
(h)前述の形態例では、基本原色がRGBの3色である場合について説明した。しかし、基本原色は補色を含めて4色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本原色の数だけ用意すれば良い。
(i)前述の形態例では、基本原色の発色形態について説明しなかったが、基本原色別に発光素子材料が異なる有機EL素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本原色を生成しても良い。
(H) In the above-described embodiment, the case where the basic primary colors are three colors of RGB has been described. However, the basic primary colors can also be applied when there are four or more colors including complementary colors. In this case, it is only necessary to prepare as many dummy pixels as the number of these basic primary colors.
(I) In the above-described embodiment, the basic primary color development mode has not been described. However, an organic EL element having a different light emitting element material for each basic primary color may be prepared, or a color filter method or a color conversion method may be used. A basic primary color may be generated.
(j)前述の形態例では、自発光表示装置の一例として有機ELディスプレイパネルを例示したが、他の自発光表示装置にも適用できる。例えば、FED(field emission display) 、無機ELディスプレイパネル、LEDパネルその他にも適用できる。 (J) Although the organic EL display panel is illustrated as an example of the self-luminous display device in the above-described embodiment, the present invention can also be applied to other self-luminous display devices. For example, the present invention can be applied to FED (field emission display), inorganic EL display panel, LED panel, and the like.
(k)前述の形態例では、焼き付き補正量の補正方法として階調値を劣化量パラメータに変換し、基準画素との劣化量の差がなくなるように焼き付き補正値を決定する場合について説明した。
しかし、焼き付き補正値の算出処理には、周知の処理技術も含めて任意の手法を採用できる。
(K) In the above-described embodiment, as a method for correcting the burn-in correction amount, the case where the gradation value is converted into the deterioration amount parameter and the burn-in correction value is determined so as to eliminate the difference in the deterioration amount from the reference pixel has been described.
However, any method including a known processing technique can be adopted for the burn-in correction value calculation process.
(l)前述の形態例では、階調値/劣化量変換部301に有機ELパネルモジュール5に供給される映像信号をフィードバックし、各補正対象画素に対応する劣化量を算出する場合について説明した。
しかし、劣化量差補正部309に入力される映像信号や劣化量差補正部309による補正後の映像信号を、階調値/劣化量変換部301に与えて劣化量を算出しても良い。
(L) In the above-described embodiment, the case where the video signal supplied to the organic
However, the degradation amount may be calculated by giving the video signal input to the degradation amount
(m)前述の形態例では、基準画素として有効表示領域を構成する全画素の平均輝度値で発光する画素を採用する場合について説明した。
しかし、劣化量の収束目的となる基準画素は、平均輝度値に限らない。例えば、画素単位で累積した劣化量の最も小さい画素や劣化量の最も大きい画素を基準画素とする手法を採用しても良い。どのような画素又は階調値を補正値を決定する際に基準値とするかは、実装システムによる。
(M) In the above-described embodiment, a case has been described in which a pixel that emits light with an average luminance value of all the pixels constituting the effective display area is used as the reference pixel.
However, the reference pixel for which the deterioration amount is converged is not limited to the average luminance value. For example, a method may be adopted in which the pixel having the smallest deterioration amount accumulated in pixel units or the pixel having the largest deterioration amount is used as the reference pixel. Which pixel or gradation value is used as the reference value when determining the correction value depends on the mounting system.
(n)前述の形態例では、焼き付き補正部500及び700を有機ELディスプレイ1に搭載する場合について説明した。
しかし、焼き付き補正部500及び700は、自発光表示措置を搭載又は制御する様々な電子機器に搭載できる。
例えば、コンピュータ、印刷装置、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゲーム機器、携帯情報端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型ゲーム機、電子書籍等)、時計、画像再生装置(例えば、光ディスク装置、ホームサーバー)に搭載できる。
(N) In the above-described embodiment, the case where the burn-in correction units 500 and 700 are mounted on the
However, the burn-in correction units 500 and 700 can be mounted on various electronic devices that mount or control the self-luminous display measures.
For example, a computer, a printing device, a video camera, a digital camera, a game device, a portable information terminal (a portable computer, a mobile phone, a portable game machine, an electronic book, etc.), a clock, an image reproducing device (for example, an optical disc device, a home) Server).
なお、いずれの電子機器の場合にも、筐体と、信号処理部(MPU)と、外部インターフェースとを共通構成とし、商品形態に応じた周辺装置が組み合わされて構成される。
例えば、携帯電話機その他の通信機能を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、送受信回路やアンテナを有する。図15(A)に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器1001は、信号処理部1003、操作部1005、通信部1007、表示パネル1009で構成する。
In any electronic device, the casing, the signal processing unit (MPU), and the external interface are configured in common, and the peripheral devices according to the product form are combined.
For example, an electronic device having a communication function such as a cellular phone has a transmission / reception circuit and an antenna in addition to the above-described structure. FIG. 15A shows a schematic configuration example of this type of electronic apparatus. In this example, the
また例えば、ゲーム機や電子書籍その他の記憶媒体を有する電子機器であれば、前述の構成に加え、記憶媒体の駆動回路等を有する。図15(B)に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器1101は、信号処理部1103、操作部1105、媒体駆動部1107、表示パネル1109で構成する。
Further, for example, an electronic device having a storage device such as a game machine, an electronic book, or the like has a drive circuit for the storage medium in addition to the above structure. FIG. 15B illustrates a schematic configuration example of this type of electronic device. In this example, the
また例えば、印刷装置であれば、前述の構成に加え、印刷ユニットを搭載する。印刷ユニットは、印刷方式に応じて最適なものを搭載する。印刷方式には、例えばレーザー方式、インクジェット方式その他がある。図16(A)に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器1201は、信号処理部1203、操作部1205、印刷ユニット1207、表示パネル1209で構成する。
For example, in the case of a printing apparatus, a printing unit is mounted in addition to the above-described configuration. The optimum printing unit is installed according to the printing method. Examples of the printing method include a laser method and an ink jet method. FIG. 16A illustrates a schematic configuration example of this type of electronic device. In this example, the
また例えば、ビデオカメラやデジタルカメラであれば、前述の構成に加え、カメラユニットや撮像された映像データを記憶媒体に保存するための書き込み回路を搭載する。図16(B)に、この種の電子機器の概略構成例を示す。この例の場合、電子機器1301は、信号処理部1303、操作部1305、撮像部1307、表示パネル1309で構成する。
For example, in the case of a video camera or a digital camera, in addition to the above-described configuration, a camera unit and a writing circuit for storing captured video data in a storage medium are mounted. FIG. 16B illustrates a schematic configuration example of this type of electronic device. In this example, the
(o)前述の形態例では、焼き付き補正機能を機能的な側面から説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとしてもソフトウェアとしても実現できる。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(p)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
(O) In the above-described embodiment, the burn-in correction function has been described from the functional aspect, but it goes without saying that an equivalent function can be realized as hardware or software.
Further, not only all of these processing functions are realized by hardware or software, but some of them may be realized by using hardware or software. That is, a combination of hardware and software may be used.
(P) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and application examples created based on the description of the present specification are also conceivable.
1 有機ELディスプレイ
3 焼き付き補正部
5 有機ELパネルモジュール
301 階調値/劣化量変換部
303 劣化量差算出部
305 総劣化量蓄積部
307 補正量算出部
309 劣化量差補正部
500 焼き付き補正部
503 劣化量差算出部
5031 1分間劣化量蓄積処理部
5033 1分間劣化量蓄積メモリ
5035 劣化量差圧縮部
700 焼き付き補正部
703 劣化量差算出部
7031 劣化量差算出処理部
DESCRIPTION OF
Claims (15)
入力階調値を劣化量に変換する階調値/劣化量変換部と、
フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を所定の長周期の蓄積期間蓄積する長周期劣化量蓄積部と、
前記長周期劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、前記長周期の蓄積期間と同じに設定される将来期間としての補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を有し、
前記短周期劣化量蓄積部から前記劣化量差算出部には、重み付けによりビット数が低減された累積値が出力され、
前記補正量算出部は、劣化量差の累積値Yを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β1を、補正期間t内に予測される基準画素の劣化率β2を用いて、β1=β2−Y/tとして求める
自発光表示装置。 In a self-luminous display device having a display panel in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix on a substrate,
A gradation value / degradation amount conversion unit for converting an input gradation value into a deterioration amount;
A short period deterioration amount accumulating unit for accumulating a cumulative value of a short period unit of the deterioration amount generated in frame units;
A deterioration amount difference calculation unit that calculates a deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel based on the accumulated value;
A long-period deterioration amount accumulation unit that accumulates a cumulative value of deterioration amount differences calculated in short-cycle units and accumulates a predetermined long-cycle accumulation period;
A correction amount necessary for eliminating the difference in deterioration amount accumulated in the long-period deterioration amount accumulation unit is calculated based on a predicted deterioration amount within a correction period as a future period set to be the same as the long-period accumulation period. A correction amount calculation unit to perform,
A deterioration amount difference correction unit that corrects the gradation value of the corresponding pixel with the calculated correction amount, and
From the short period deterioration amount accumulation unit to the deterioration amount difference calculation unit, a cumulative value in which the number of bits is reduced by weighting is output ,
The correction amount calculation unit uses the deterioration rate β1 of the correction target pixel necessary to eliminate the accumulated value Y of the deterioration amount difference, and the deterioration rate β2 of the reference pixel predicted within the correction period t. A self-luminous display device determined as β2-Y / t .
前記短周期単位は分単位である自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The self-luminous display device in which the short period unit is a minute unit.
前記短周期単位は、劣化量差の累積値を算出する際に実行されるデータの読み書きを時分割で実行するのに十分な時間だけ確保する自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The short cycle unit is a self-luminous display device that secures a time sufficient to read and write data in a time-sharing manner when calculating a cumulative value of deterioration amount differences.
前記短周期単位は、劣化量の蓄積に使用する記憶容量に応じて設定する自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The short cycle unit is a self-luminous display device set in accordance with a storage capacity used for accumulation of deterioration amount.
前記短周期劣化量蓄積部は、重み付けによりビット数を低減した累積値を蓄積する自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The short-period deterioration amount accumulation unit is a self-luminous display device that accumulates accumulated values in which the number of bits is reduced by weighting.
前記劣化量差算出部と前記長周期劣化量蓄積部は、劣化量差の累積値の算出に際し、データの読み書きを時分割で実行する自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The self-luminous display device in which the deterioration amount difference calculation unit and the long-period deterioration amount accumulation unit execute reading and writing of data in a time division manner when calculating a cumulative value of the deterioration amount difference.
前記基準画素は、有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光する画素である自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The self-luminous display device, wherein the reference pixel is a pixel that emits light at an average gradation value of all the pixels constituting the effective display area.
前記基準画素は、同色で発光する自発光素子毎に設定される自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The reference pixel is a self-luminous display device set for each self-luminous element that emits light of the same color.
個々の階調値に対応する劣化量は、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる自発光表示装置。 The self-luminous display device according to claim 1,
The self-luminous display device in which the deterioration amount corresponding to each gradation value is given as a value obtained by converting the actually measured amount of decrease in luminance when light emission by each gradation value continues for a certain period.
入力階調値を劣化量に変換する階調値/劣化量変換部と、
フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を所定の長周期の蓄積期間蓄積する長周期劣化量蓄積部と、
前記長周期劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、前記長周期の蓄積期間と同じに設定される将来期間としての補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を有し、
前記短周期劣化量蓄積部から前記劣化量差算出部には、重み付けによりビット数が低減された累積値が出力され、
前記補正量算出部は、劣化量差の累積値Yを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β1を、補正期間t内に予測される基準画素の劣化率β2を用いて、β1=β2−Y/tとして求める
電子機器。 In an electronic device including a display panel and a computer system in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix on a substrate,
A gradation value / degradation amount conversion unit for converting an input gradation value into a deterioration amount;
A short period deterioration amount accumulating unit for accumulating a cumulative value of a short period unit of the deterioration amount generated in frame units;
A deterioration amount difference calculation unit that calculates a deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel based on the accumulated value;
A long-period deterioration amount accumulation unit that accumulates a cumulative value of deterioration amount differences calculated in short-cycle units and accumulates a predetermined long-cycle accumulation period;
A correction amount necessary for eliminating the difference in deterioration amount accumulated in the long-period deterioration amount accumulation unit is calculated based on a predicted deterioration amount within a correction period as a future period set to be the same as the long-period accumulation period. A correction amount calculation unit to perform,
A deterioration amount difference correction unit that corrects the gradation value of the corresponding pixel with the calculated correction amount, and
From the short period deterioration amount accumulation unit to the deterioration amount difference calculation unit, a cumulative value in which the number of bits is reduced by weighting is output ,
The correction amount calculation unit uses the deterioration rate β1 of the correction target pixel necessary to eliminate the accumulated value Y of the deterioration amount difference, and the deterioration rate β2 of the reference pixel predicted within the correction period t. Electronic equipment calculated as β2-Y / t .
前記電子機器は、可搬型の端末装置である電子機器。 The electronic device according to claim 10 ,
The electronic device is an electronic device that is a portable terminal device.
前記電子機器は、印刷ユニットを搭載する印刷装置である電子機器。 The electronic device according to claim 10 ,
The electronic apparatus is an electronic apparatus that is a printing apparatus equipped with a printing unit.
前記電子機器は、撮像素子を搭載する撮像装置である電子機器。 The electronic device according to claim 10 ,
The electronic device is an electronic device that is an image pickup apparatus equipped with an image pickup device.
入力階調値を劣化量に変換する階調値/劣化量変換部と、
フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を所定の長周期の蓄積期間蓄積する長周期劣化量蓄積部と、
前記長周期劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、前記長周期の蓄積期間と同じに設定される将来期間としての補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を有し、
前記短周期劣化量蓄積部から前記劣化量差算出部には、重み付けによりビット数が低減された累積値が出力され、
前記補正量算出部は、劣化量差の累積値Yを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β1を、補正期間t内に予測される基準画素の劣化率β2を用いて、β1=β2−Y/tとして求める
焼き付き補正装置。 In a burn-in correction apparatus that corrects burn-in of a display panel in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix on a substrate,
A gradation value / degradation amount conversion unit for converting an input gradation value into a deterioration amount;
A short period deterioration amount accumulating unit for accumulating a cumulative value of a short period unit of the deterioration amount generated in frame units;
A deterioration amount difference calculation unit that calculates a deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel based on the accumulated value;
A long-period deterioration amount accumulation unit that accumulates a cumulative value of deterioration amount differences calculated in short-cycle units and accumulates a predetermined long-cycle accumulation period;
A correction amount necessary for eliminating the difference in deterioration amount accumulated in the long-period deterioration amount accumulation unit is calculated based on a predicted deterioration amount within a correction period as a future period set to be the same as the long-period accumulation period. A correction amount calculation unit to perform,
A deterioration amount difference correction unit that corrects the gradation value of the corresponding pixel with the calculated correction amount, and
From the short period deterioration amount accumulation unit to the deterioration amount difference calculation unit, a cumulative value in which the number of bits is reduced by weighting is output ,
The correction amount calculation unit uses the deterioration rate β1 of the correction target pixel necessary to eliminate the accumulated value Y of the deterioration amount difference, and the deterioration rate β2 of the reference pixel predicted within the correction period t. Burn-in correction device calculated as β2-Y / t .
入力階調値を劣化量に変換する処理と、
フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する処理と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する処理と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を所定の長周期の蓄積期間蓄積する処理と、
前記処理で蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、前記長周期の蓄積期間と同じに設定される将来期間としての補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する処理と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する処理と
をコンピュータに実行させ、
前記短周期単位の累積値を蓄積する処理から前記劣化量差を算出する処理には、重み付けによりビット数が低減された累積値が出力され、
前記補正量を算出する処理は、劣化量差の累積値Yを解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β1を、補正期間t内に予測される基準画素の劣化率β2を用いて、β1=β2−Y/tとして求める
プログラム。 As a process for correcting burn-in of a display panel in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix on a substrate,
A process of converting the input tone value into a deterioration amount;
A process of accumulating a cumulative value of short-period units of deterioration amount generated in frame units;
A process of calculating a deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel based on the accumulated value;
A process of accumulating a cumulative value of the deterioration amount difference calculated in short cycle units for a predetermined long cycle accumulation period;
A process of calculating a correction amount necessary for eliminating the deterioration amount difference accumulated in the processing based on a predicted deterioration amount within a correction period as a future period set to be the same as the long-period accumulation period;
Processing to correct the gradation value of the corresponding pixel with the calculated correction amount,
In the process of calculating the deterioration amount difference from the process of accumulating the short cycle unit accumulated value, the accumulated value in which the number of bits is reduced by weighting is output ,
The process of calculating the correction amount uses the deterioration rate β1 of the correction target pixel necessary to eliminate the accumulated value Y of the deterioration amount difference, and the deterioration rate β2 of the reference pixel predicted within the correction period t, Program obtained as β1 = β2−Y / t .
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