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JP5065862B2 - Luminous flux measuring device - Google Patents
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Description

本発明は光束測定装置に関するもので、特に各種光学機器で使用される平行光束の平行度を精密に測定し、平行光束の品質を統一して精度向上を図るようにしたものである。
The present invention relates to an optical flux measurement device, particularly those precisely measure the parallelism of the parallel light beam to be used in various optical devices, and in FIG Re so that the accuracy by unifying the quality of the parallel beam.

平行光束を利用した光学機器は多種なものが実用化されている。例えばオートコリメータや各種パターンを露光する装置の照明系などが知られている。これらの機器では平行光束の平行精度が高くなれば機器全体の精度が向上するため、各種の工夫をして高精度平行光束が得られるようにしている。例えば複数のレンズ群を使用して平行光束を得るようにしている場合、その複数レンズ群の光軸合わせを如何にして精度よく行うかということは光束の平行精度向上化の具体的手段の1つとなっている。
また複数のレンズ同士やレンズ群同士の球面収差対策、機器全体の熱対策などを行って平行光束の精度向上を図るようにしているものでは、特定のレンズやレンズ群を光軸方向に移動させたり、その移動方法を管理することで対処するようにしているものもある(特許文献1、2)。また光走査装置や各種の露光装置では、露光面(投影面)に投影される像の大きさを平行光束中の前側部(光源側)と後側部(露光面側)で計測し、大小の比較によって平行性の精度を判断するという簡単な方法も採用されている。さらに特許文献3のように振動や温度変化など外乱の影響を受けにくくした角度測定装置も知られている。この特許文献3によるものは被測定物の第1反射面に向けて平行光束LEを出射し、その反射光を第1反射面21に対し直角に配置した第2反射面22に向かわせ、第2反射面22からの反射光が結像位置に達したとき、結像位置でのずれ量dを求めて被測定物の傾斜角とするようにしている。
特開2005−316068号公報 特開平9−138373号公報 特開平9−113243号公報
A wide variety of optical devices using parallel light beams have been put into practical use. For example, an autocollimator and an illumination system of an apparatus that exposes various patterns are known. In these devices, if the parallel accuracy of the parallel light beam is increased, the accuracy of the entire device is improved. Therefore, various devices are used to obtain a highly accurate parallel light beam. For example, when a parallel light beam is obtained by using a plurality of lens groups, how to accurately align the optical axes of the plurality of lens groups is one of the specific means for improving the parallel accuracy of the light beam. It has become one.
In addition, in order to improve the accuracy of parallel light flux by taking measures against spherical aberration between multiple lenses or lens groups and heat countermeasures for the entire device, a specific lens or lens group is moved in the optical axis direction. Some of them are managed by managing the movement method (Patent Documents 1 and 2). In the optical scanning device and various exposure apparatuses, the size of the image projected on the exposure surface (projection surface) is measured at the front side (light source side) and rear side (exposure surface side) in the parallel light flux. A simple method is also adopted in which the accuracy of parallelism is determined by comparing the above. Furthermore, an angle measuring device is also known that is less susceptible to disturbances such as vibrations and temperature changes as in Patent Document 3. According to this Patent Document 3, a parallel light beam LE is emitted toward the first reflecting surface of the object to be measured, and the reflected light is directed to the second reflecting surface 22 arranged at right angles to the first reflecting surface 21, When the reflected light from the two reflecting surfaces 22 reaches the imaging position, the amount of deviation d at the imaging position is obtained to obtain the tilt angle of the object to be measured.
JP 2005-31068 A JP-A-9-138373 JP-A-9-113243

しかしこれら従来のものはいずれも平行光束を得るために採用したレンズ、或いはレンズ群を通過した光束全体の平行性を論じているだけで、1つの平行光束中の光軸に直行する平面における複数個所を分割して、分割した夫々の平行性を論じるということは行われていない。そのため例えば1つのレンズを通過する平行光束のレンズ入射面における右側光束と、左側光束、その中間部光束が同じような平行度を保っているかということを測定し、比較することは出来なかった。このことは各種光学機器で使用される平行光束の品質を統一し、その信頼性について正確に保証するということが難しい状況にあった。
However, each of these conventional ones only discusses the parallelism of the entire light beam that has passed through the lens or lens group employed to obtain a parallel light beam, and a plurality of them in a plane perpendicular to the optical axis in one parallel light beam. It is not done to divide the location and discuss the parallelism of each division. The right of the light beam in the lens entrance surface of the parallel light beam passing through the for example one lens, the left side of the light beam, measured that either the middle part beams is kept similar parallelism, it could not be compared It was. This has made it difficult to unify the quality of the parallel light flux used in various optical instruments and to guarantee its reliability accurately.

従って本発明の課題は上記問題を解決して各種光学機器で使用される平行光束を光軸に直行する平面で複数に分割して抽出し、抽出した複数光束の夫々の平行性を測定できるようにすることである。それによって例えば任意のレンズを通過した平行光束のレンズ面における右側光束も左側光束も、その中間部光束も同じように平行度を測定し比較出来るようにる。また、それによって複数レンズの光軸合わせの簡単化や、球面収差についても検討できるようにして、全体として被検体となる光学機器からの平行光束の品質を統一し、信頼性を向上できるようにすることである。
Accordingly, an object of the present invention is to solve the above problems and extract a parallel light beam used in various optical devices by dividing it into a plurality of planes perpendicular to the optical axis and measure the parallelism of the extracted light beams. Is to do. Right of the light beam also the left of the light beam in which the lens surfaces of the parallel light beam passing through any lens example also, the intermediate portion light beam also ing to be compared by measuring the parallelism in the same way. In addition, this makes it possible to simplify the optical axis alignment of multiple lenses and to study spherical aberration, so that the quality of the collimated light beam from the optical device that is the subject as a whole can be unified and the reliability can be improved. It is to be.

上記課題を解決するため本発明は、
光学ユニットからの光束に対して直交するよう設置され、前記光学ユニットにおける中心光軸位置と周辺複数位置にピンホールを設けたピンホール板と、ピンホール板の後方に各ピンホール画像を投影できるよう配置した受光部とを収容した測光ユニットと、前記ピンホール板に設けた各ピンホールを通過した、前記中心光軸と平行光束前記受光部に投影される位置の座標を受光部上の原点として記憶する原点メモリと、前記測光ユニットにおける各受光部からの信号を表示する表示部と、前記測光ユニットにおける各受光部からの信号を、前記原点メモリに記憶した各原点が表示部上の理想原点となるよう表示位置制御する制御ユニットとを備え、前記表示部に表示される前記理想原点と各ピンホール画像との表示位置の位置差により、前記光学ユニットを通過した光束の中心光軸に対する平行度を確認出来るようにしたことを特徴とする。
そしてこの光束測定装置において、前記測光ユニットにおける受光部は前記ピンホール板における各ピンホールに対応して設けられ、前記制御ユニットは、それぞれの受光部における原点が表示部上で共通原点として重ねて表示されるよう、受光部からの信号の表示制御を行うことを特徴とする、及び、前記ピンホール板の各ピンホールに対応して設置した受光部をPSD(Position Sensitive Device)で構成したことを特徴とする。
また本発明は、前記測光ユニットにおける受光部は、前記ピンホール板における各ピンホール画像をすべて投影できるよう配置した1つのCCD(Charge Coupled Device)で構成され、前記制御ユニットは、各ピンホールに対応した原点が前記表示部上の理想原点位置となるよう表示位置制御しながら前記受光部からの信号の表示制御を行うことを特徴とする。
さらに本発明は前記光学ユニットと測光ユニットの一方を、相手方に対して回転できるようにしたことを特徴とする
In order to solve the above problems, the present invention
It is installed so as to orthogonal to the optical beam from the optical unit, a pinhole plate provided with pin holes in the central optical axis position and the peripheral multiple positions in the optical unit, each pinhole image behind the pinhole plate A photometric unit containing a light receiving unit arranged so as to be able to project , and coordinates of a position where a light beam parallel to the central optical axis that has passed through each pinhole provided in the pinhole plate is projected onto the light receiving unit. An origin memory for storing the origin on the unit, a display unit for displaying a signal from each light receiving unit in the photometry unit, and each origin stored in the origin memory for a signal from each light receiving unit in the photometry unit is displayed. A control unit that controls the display position so that it is the ideal origin on the part, and the positional difference between the ideal origin displayed on the display part and each pinhole image Ri, characterized in that to be able verify parallelism with respect to the central optical axis of the light beam that has passed through the optical unit.
In this light beam measuring apparatus, the light receiving unit in the photometric unit is provided corresponding to each pinhole in the pinhole plate, and the control unit is configured such that the origin of each light receiving unit is overlapped as a common origin on the display unit. The display control of the signal from the light receiving unit is performed so that it is displayed, and the light receiving unit installed corresponding to each pinhole of the pinhole plate is configured by PSD (Position Sensitive Device) It is characterized by.
According to the present invention, the light receiving unit in the photometric unit is configured by one CCD (Charge Coupled Device) arranged so that all the pinhole images on the pinhole plate can be projected, and the control unit is provided in each pinhole. The display control of the signal from the light receiving unit is performed while the display position is controlled so that the corresponding origin becomes the ideal origin position on the display unit .
The present invention, one of the optical unit and the metering unit, characterized in that to be able to rotate relative to the other party.

本発明は光源からの光を被検体となる光学ユニットで平行光束とし、複数のピンホールを持つピンホール板経由で受光部に向かわせ、ピンホール通過光束信号として表示部に伝えて表示する。このとき被検体からの平行光束はピンホール板のピンホール数に応じた数に分割して抽出され受光部に向かうようになり、夫々のピンホール通過光束が正確な平行光束であれば、そのピンホール通過光束信号は表示部の決められた1つの表示原点に重畳して表示させることが出来る。ピンホール通過光束の平行性に不具合があれば、そのピンホール通過光束信号は重畳点より外れて表示される。本発明ではこの表示されたピンホール通過光束を表示部で確認しながら光学ユニットの内部を調整するなどして、ピンホール通過光束信号が一箇所に重畳して表示されるように調整できるようにしたものである。それによって不具合光束を発生する光学ユニットは表示部を確認しながら容易に調整することができる。また表示部に表示されたずれ量を計測すればピンホール通過光束毎の平行度を測定することが出来る。これらによってこれまで捉えることの困難であった被検体から出力された1つの平行光束を、複数に分割抽出して夫々について測定することが出来るようになり、例えば被検体内のレンズ面における右側を通過した光束も、左側を通過した光束も、中間部を通過した光束も、同じように平行度を測定し比較することが出来る。また被検体に複数レンズやレンズ群を使用した場合には、各レンズやレンズ群のずれ量と方向が分かるので、光軸合わせの簡単化や球面収差の補正などについても検討することが出来る。そして全体として被検体としての光学機器から出力される平行光束の品質を統一し、信頼性の高いものとすることができる。
In the present invention , light from a light source is converted into a parallel light beam by an optical unit as a subject, directed to a light receiving unit via a pinhole plate having a plurality of pinholes, and transmitted to a display unit as a pinhole passing light beam signal for display. . At this time, the parallel luminous flux from the subject is extracted by being divided into a number corresponding to the number of pinholes of the pinhole plate and is directed to the light receiving unit. If each pinhole passing luminous flux is an accurate parallel luminous flux, The pinhole passing light beam signal can be displayed superimposed on one display origin determined by the display unit. If there is a defect in the parallelism of the light beam passing through the pinhole, the light signal passing through the pinhole is displayed out of the overlapping point. In the present invention, by adjusting the inside of the optical unit while checking the displayed pinhole passing light beam on the display unit, the pinhole passing light beam signal can be adjusted so as to be displayed superimposed on one place. Ru Monodea you. Accordingly, the optical unit that generates the defective light beam can be easily adjusted while checking the display unit. Further, by measuring the amount of deviation displayed on the display unit, the parallelism for each pinhole passing light beam can be measured. Thus, it becomes possible to divide and extract one parallel light beam output from the subject, which has been difficult to capture until now, and measure each of them. For example, the right side of the lens surface in the subject can be measured. The parallelism can be measured and compared in the same manner for the light flux that has passed through, the light flux that has passed through the left side, and the light flux that has passed through the intermediate portion. In addition, when a plurality of lenses or lens groups are used for the subject, the amount and direction of displacement of each lens or lens group can be known, so that simplification of optical axis alignment and correction of spherical aberration can be studied. As a whole, the quality of the parallel luminous flux output from the optical device as the subject can be unified, and the reliability can be made high.

以下にこの発明による光束測定装置について添付図面に基づいて説明する。 A light flux measuring apparatus according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

図1は本発明による光束測定装置を示した全体構成概略図で、被検体としての光学ユニット1には図2で説明する光源2と、この光源2からの光を平行光束にするコリメータレンズ3が収容されている。コリメータレンズ3を通過した平行光束は測光ユニット4に向かう。この測光ユニット4にはやはり図2で説明するピンホール板5と、ピンホール板5に設けた複数のピンホール6を通過した光束が投影される受光部7が収容される。受光部7に投影された光束はピンホール通過光束信号として制御ユニット8から表示部9に伝えられ表示される。この表示されたピンホール通過光束を確認して光学ユニット1からの平行光束の平行度を判定する。光学ユニット1には駆動部10が付随して設置されていて、これを動作すると測光ユニット4のピンホール板5に対するコリメータレンズ3位置を光軸方向に移動する。   FIG. 1 is a schematic diagram showing the overall configuration of a light beam measuring apparatus according to the present invention. A light source 2 described in FIG. Is housed. The parallel light flux that has passed through the collimator lens 3 is directed to the photometric unit 4. The photometric unit 4 also accommodates a pinhole plate 5 which will be described with reference to FIG. 2 and a light receiving portion 7 onto which a light beam passing through a plurality of pinholes 6 provided in the pinhole plate 5 is projected. The light beam projected on the light receiving unit 7 is transmitted from the control unit 8 to the display unit 9 and displayed as a pinhole passing light beam signal. The parallel light flux from the optical unit 1 is determined by confirming the displayed pinhole passing light flux. A drive unit 10 is attached to the optical unit 1 and operates to move the position of the collimator lens 3 with respect to the pinhole plate 5 of the photometry unit 4 in the optical axis direction.

図2は図1の光学ユニット1と測光ユニット4を説明する図である。レーザ光源2からのレーザ光はレンズ11、ピンホール12を通過してコリメータレンズ3に向かい、平行光束となって測光ユニット4内のピンホール板5に向かう。ピンホール板5は光学ユニット1からの平行光束に対して直交するよう設置され、図2Bのピンホール板5正面図のように複数のピンホール6が設けられる。ピンホール6が配置される位置は、この例では中心光軸13位置(6a)と、この中心光軸13位置を中心として対称となる周辺位置(6b〜6e)にピッチpで対を成して複数個所に配置されている。このようなピンホール6を通過したコリメータレンズ3からの平行光束は、ピンホール6に対応した受光部7に向かう。つまり各ピンホール6を通過する光束と対向するコリメータレンズ部分が測光点3a〜3eとなり、この測光点3a〜3eからの光束がピンホール6a〜6eを通過してピンホール通過光束14a〜14eとなって受光部7に向かう。
FIG. 2 is a diagram illustrating the optical unit 1 and the photometry unit 4 of FIG. Laser light from the laser light source 2 passes through the lens 11 and the pinhole 12 toward the collimator lens 3, and becomes a parallel light beam toward the pinhole plate 5 in the photometric unit 4. The pinhole plate 5 is installed so as to be orthogonal to the parallel light flux from the optical unit 1, and a plurality of pinholes 6 are provided as shown in the front view of the pinhole plate 5 in FIG. 2B. In this example, the position where the pinhole 6 is disposed is paired with a central optical axis 13 position (6a) and a peripheral position (6b to 6e) which is symmetric about the central optical axis 13 position with a pitch p. Are arranged at multiple locations. The parallel luminous flux from the collimator lens 3 that has passed through the pinhole 6 is directed to the light receiving unit 7 corresponding to each pinhole 6. That is, the collimator lens portions facing the light beams passing through the pinholes 6 become photometric points 3a to 3e, and the light beams from the photometric points 3a to 3e pass through the pinholes 6a to 6e and become pinhole-passing light beams 14a to 14e. It goes to the light receiving unit 7.

受光部7はピンホール板5の後方に、ピンホール板5と平行に配置され、ピンホール6毎に対応して設置したPSD(Position Sensitive Device)などで構成される。この例では5つのピンホール6a〜6eに対応して5つのPSD7a〜7eが設置され、測光点3a〜3eからのピンホール通過光束14a〜14eがそれぞれ対応するPSD7a〜7eに向かって投影される。各PSD7a〜7eが受光したピンホール通過光束14a〜14eはピンホール通過光束信号(以下、ピンホール画像信号という)となって制御ユニット8に伝えられる。制御ユニット8内には受光部7からの信号を受けて各種処理する信号処理回路やA/D変換回路などが収容されるが、これらは一般的なものなので説明は省略する。また制御ユニット8内には各PSD7a〜7eと対応する原点メモリが収容されているが、その説明は後述する。制御ユニット8に伝えられたピンホール画像信号は図1の表示部9に伝えられて表示される。
光学ユニット1内に設置されるコリメータレンズ3は鏡筒15などに収容され、鏡筒15は駆動部10と連結している。この駆動部10を動作すると鏡筒15は光軸13方向に移動し、ピンホール板5に対するコリメータレンズ3位置を変更する。またコリメータレンズ3は図2の例では単眼のレンズとして示してあるが、複数枚のレンズで構成されているものや、複数枚のレンズ群が複数組で構成されているものもある。また光学ユニット1内には図示したもの以外にも各種絞りやその他の必要とする光学部材が収容される場合もあるが、そられは一般的なものなのでは全て省略する。
The light receiving unit 7 is arranged behind the pinhole plate 5 in parallel with the pinhole plate 5 and is configured by PSD (Position Sensitive Device) installed corresponding to each pinhole 6. In this example, five PSDs 7a to 7e are installed corresponding to the five pinholes 6a to 6e, and the pinhole passing light beams 14a to 14e from the photometry points 3a to 3e are projected toward the corresponding PSDs 7a to 7e, respectively. . Pinhole passing light fluxes 14a to 14e received by the PSDs 7a to 7e are transmitted to the control unit 8 as pinhole passing light flux signals (hereinafter referred to as pinhole image signals). The control unit 8 accommodates a signal processing circuit, an A / D conversion circuit, and the like that receive signals from the light receiving unit 7 and perform various processing. Further, the control unit 8 accommodates origin memories corresponding to the PSDs 7a to 7e, which will be described later. The pinhole image signal transmitted to the control unit 8 is transmitted to and displayed on the display unit 9 of FIG.
The collimator lens 3 installed in the optical unit 1 is accommodated in a lens barrel 15 or the like, and the lens barrel 15 is connected to the drive unit 10. When the driving unit 10 is operated, the lens barrel 15 moves in the direction of the optical axis 13 and changes the position of the collimator lens 3 with respect to the pinhole plate 5. The collimator lens 3 is shown as a monocular lens in the example of FIG. 2, but there is a lens composed of a plurality of lenses and a lens group composed of a plurality of lens groups. The optical unit 1 may contain various diaphragms and other necessary optical members in addition to those shown in the drawing, but these are general ones and are omitted.

図3は、各ピンホール6を通過した中心光軸13に平行な光束が、受光部7を構成するピンホール6毎に対応して設置したPSDなどの素子7a〜7eのどこに投影されるか確認するため、図1の光学ユニット1に代わって予め設置される投光ユニット16と測光ユニット4を説明する図で、測光ユニット4の受光部7に投光ユニット16からの光束を投影し、その投影位置座標を制御ユニット8内の原点メモリに表示原点として記憶させるものである。この投光ユニット16には投光部17と、この投光部17をX、Y方向に平行移動させるための駆動部18、19と、この駆動部18、19と投光部17間を連結している精密送り機構20などが収容されている。投光部17にはレーザ光源21、レンズ22、ピンホール23などが収容され、駆動部18、19、送り機構20によってレーザ光源21からのレーザ光が測光ユニット4のピンホール板5に設けた各ピンホール6位置と対応できるよう用意される。図の例では投光部17はピンホール板5のピンホール6bと対応する位置に設定されていて、その通過光束24bは受光部(PSD)7bに投影される。このとき光束24bは、図2における中心光軸13に平行な光束として、PSD7bの中心座標位置、例えば「X0、Y0」位置に投影されるよう受光部7bの設置位置や投光部17の位置が調整される。しかし調整誤差などによって例えば「X−1、Y+1」が受光部7bの投影点位置になってしまうことも予測される。このような投影点位置になった場合でも、その位置「X−1、Y+1」が表示原点として制御ユニット8内の原点メモリに記憶される。
FIG. 3 shows where the luminous flux parallel to the central optical axis 13 that has passed through each pinhole 6 is projected on the elements 7 a to 7 e such as PSDs installed corresponding to each pinhole 6 constituting the light receiving unit 7. In order to confirm, the light projecting unit 16 and the light metering unit 4 which are installed in advance instead of the optical unit 1 of FIG. 1 are described, and the light beam from the light projecting unit 16 is projected onto the light receiving unit 7 of the light metering unit 4, The projection position coordinates are stored in the origin memory in the control unit 8 as the display origin. The light projecting unit 16 includes a light projecting unit 17, driving units 18 and 19 for translating the light projecting unit 17 in the X and Y directions, and a connection between the driving units 18 and 19 and the light projecting unit 17. The precision feed mechanism 20 is stored. The light projecting unit 17 accommodates a laser light source 21, a lens 22, a pinhole 23, and the like, and laser light from the laser light source 21 is provided on the pinhole plate 5 of the photometry unit 4 by the driving units 18 and 19 and the feeding mechanism 20. It is prepared so as to correspond to each pinhole 6 position. In the illustrated example, the light projecting unit 17 is set at a position corresponding to the pinhole 6b of the pinhole plate 5, and the passing light beam 24b is projected onto the light receiving unit (PSD) 7b. At this time, the light beam 24 b is projected as a light beam parallel to the central optical axis 13 in FIG. 2 at the center coordinate position of the PSD 7 b, for example, the “X0, Y0” position, and the position of the light receiving unit 7 b or the position of the light projecting unit 17. Is adjusted. However, it is also predicted that, for example, “X−1, Y + 1” will be the projection point position of the light receiving unit 7b due to an adjustment error or the like. Even in such a projection point position, the position “X−1, Y + 1” is stored in the origin memory in the control unit 8 as the display origin.

次に投光部17を17aで示した位置に平行移動し、ピンホール6aと対応する位置に設定する。すると投光部17からの出力光はピンホール6aを通過して光束24aとなりPSD7aに投影される。このとき送り機構20は出力光24bと24aが平行となるよう正確に管理される。こうして投光部位置17aやPSD7aの設定位置が調整され、PSD7a上の投影点位置が、例えば「X0、Y0」として求められると、その位置「X0、Y0」が表示原点として制御ユニット8内の原点メモリに記憶される。同様に投光部17を17cで示した位置に平行移動し、ピンホール6cと対応する位置に設定する。すると投光部17からの出力光はピンホール6cを通過して光束24cとなり、光束24b、24aと平行な光束としてPSD7cに投影される。このとき投光部の位置17cやPSD7aの設定位置を調整した後であってもPSD7c上の投影点位置が、例えば「X−1、Y−2」であったとすると、その位置が表示原点として制御ユニット8内の原点メモリに記憶される。以下同じようにしてピンホール6d、6eと対応する位置に投光部17を設定し、表示原点を求めて原点メモリに記憶する。
投光ユニット16の具体的内部構造や測光ユニット4との連結方法、コリメータレンズ3を収容した鏡筒15の光学ユニット1への装着方法など、具体的機構については一般的なものを採用するものとして、ここではその説明を省略する。
Next, the light projecting portion 17 is translated to a position indicated by 17a and set to a position corresponding to the pinhole 6a. Then, the output light from the light projecting unit 17 passes through the pinhole 6a, becomes a light beam 24a, and is projected onto the PSD 7a. At this time, the feed mechanism 20 is accurately managed so that the output lights 24b and 24a are parallel. Thus, when the projection position 17a and the setting position of the PSD 7a are adjusted and the projection point position on the PSD 7a is obtained as, for example, “X0, Y0”, the position “X0, Y0” is used as the display origin in the control unit 8. Stored in the origin memory. Similarly, the light projecting unit 17 is translated to the position indicated by 17c and set to a position corresponding to the pinhole 6c. Then, the output light from the light projecting unit 17 passes through the pinhole 6c to become a light beam 24c, and is projected onto the PSD 7c as a light beam parallel to the light beams 24b and 24a. If the projection point position on the PSD 7c is, for example, “X-1, Y-2” even after adjusting the position 17c of the light projecting unit or the setting position of the PSD 7a, the position is set as the display origin. It is stored in the origin memory in the control unit 8. In the same manner, the light projecting unit 17 is set at a position corresponding to the pinholes 6d and 6e, and the display origin is obtained and stored in the origin memory.
General mechanisms such as a specific internal structure of the light projecting unit 16, a connection method with the photometric unit 4, and a method of mounting the lens barrel 15 containing the collimator lens 3 to the optical unit 1 are adopted. The description thereof is omitted here.

以上説明したような受光部7の投影位置と表示原点の関係を図4の説明図を用いて更に説明する。図4AはPSD7a〜7eに投光部17からの出力光24a〜24eが理想的な形で投影される状態を示しており、図4BはPSD7a〜7e上の実際の投影点25a〜25eを示している。図4Cは制御ユニット8内に収容される原点メモリ26a〜26eの記憶内容を示している。図4A、図4BにおいてPSD7a〜7eの四角形はそれぞれのPSDの受光面を示し、一点鎖線の交点は受光面の中心を示している。例えば図4BのPSD7aの位置「X0、Y0」に投影され投影点25aは、その値「X0、Y0」が図4Cの原点メモリ26aに記憶され表示原点となる。また図4BのPSD7bの位置「X−1、Y+1」に投影された光束24bの投影点25bは、その値「X−1、Y+1」が図4Cの原点メモリ26bに記憶され表示原点となる。同様にPSD7cの位置「X−1、Y−2」に投影された光束24cの投影点25cは、その値「X−1、Y−2」が原点メモリ26cに記憶され表示原点となる。同じように投影点25d、25eの値が原点メモリ26d、26eに記憶され、表示原点となる。尚、図4Cでは原点メモリ26a〜26eを夫々別個のものとして示してあるが、1つのメモリ内の別エリアに夫々記憶すると解すべきである。
The relationship between the projection position of the light receiving unit 7 and the display origin as described above will be further described with reference to the explanatory diagram of FIG. 4A shows a state in which the output lights 24a to 24e from the light projecting unit 17 are projected onto the PSDs 7a to 7e in an ideal form, and FIG. 4B shows actual projection points 25a to 25e on the PSDs 7a to 7e. ing. FIG. 4C shows the stored contents of the origin memories 26 a to 26 e housed in the control unit 8. 4A and 4B, the squares of PSDs 7a to 7e indicate the light receiving surfaces of the respective PSDs, and the intersection of the alternate long and short dash lines indicates the center of the light receiving surface. For example the projection point 25a is projected to the position "X0, Y0" in PSD7a in Figure 4B, the display origin the value "X0, Y0" is stored in the origin memory 26a of FIG. 4C. The position of PSD7b in Figure 4B "X-1, Y + 1" projection point 25b of the light beam 24b projected on becomes the value "X-1, Y + 1" is stored in the origin memory 26b in FIG. 4C display origin . Projection point 25c of the projected light beam 24c similarly to the position of PSD7c "X-1, Y-2" will display the origin the value "X-1, Y-2" is stored in the home memory 26c. Similarly, the values of the projection points 25d and 25e are stored in the origin memories 26d and 26e and become the display origin. In FIG. 4C , the origin memories 26a to 26e are shown as separate ones, but it should be understood that they are stored in different areas in one memory.

図5は制御ユニット8により、原点メモリ26に記憶された表示原点に基づいて表示部9の表示画面9aに投影点25をピンホール画像27として表示したときの説明図である。制御ユニット8は、図4Bに示した受光部7a〜7eのデータを表示部9の同一位置に重ねて表示する制御を行い、図5Aは受光部7a〜7eの受光面の中心(図4Bの一点鎖線の交点)が重なるよう、画面9aに各原点メモリ25a〜25eからの値に基づいてピンホール画像27を表示した状態を示している。そのため、例えば画像27aは画面9aの中心座標位置「X0、Y0」に表示され、画像27bは画面9aの「X−1、Y+1」位置に表示され、・・・画像27eは画像27aの「X0、Y0」位置に重なって表示されている。しかしこのままでは、ピンホール通過光束14が光軸に平行でないとき、どの程度平行でないかを判定するのが難しいため、制御ユニット8はこの図5Aのような各原点メモリ26からの表示座標位置を、同じ中心座標位置「X0、Y0」上に全ピンホール画像27が重畳して表示されるよう座標位置を変更する。つまり制御ユニット8は各原点メモリ26の値にX、Yの補正用オフセット値(図4Cに対応した値)を加算して、同図Bのように全ピンホール画像27a〜27eを同じ座標位置「X0、Y0」に重畳して表示されるよう調整する。例えば原点メモリ26bの値には「+1、−1」を、原点メモリ26dには「0、−1」を加算して両者とも表示画面9aの「X0、Y0」位置が原点としてピンホール画像27が表示されるよう調整する。こうして図5Aのように画面9aに分散して表示されたピンホール画像27は、図5Bのように画面9aの中心部1ヶ所「X0、Y0」に重畳して表示されるようになる。この基準となる「X0、Y0」を表示原点(または理想原点)称する。尚、図5で28は画面9aに表示した識別用の十字線である。
FIG. 5 is an explanatory diagram when the projection point 25 is displayed as the pinhole image 27 on the display screen 9 a of the display unit 9 based on the display origin stored in the origin memory 26 by the control unit 8 . The control unit 8 performs control to display the data of the light receiving units 7a to 7e shown in FIG. 4B so as to overlap each other on the display unit 9, and FIG. 5A illustrates the center of the light receiving surface of the light receiving units 7a to 7e (FIG. 4B). The pinhole image 27 is displayed on the screen 9a based on the values from the origin memories 25a to 25e so that the intersections of the alternate long and short dashed lines overlap . Therefore, for example, the image 27a is displayed at the center coordinate position “X0, Y0” of the screen 9a, the image 27b is displayed at the “X-1, Y + 1” position of the screen 9a, and the image 27e is “X0” of the image 27a. , Y0 "position. However, since it is difficult to determine how much the pinhole passing light beam 14 is not parallel to the optical axis in this state , the control unit 8 determines the display coordinate position from each origin memory 26 as shown in FIG. 5A. The coordinate positions are changed so that all the pinhole images 27 are superimposed and displayed on the same center coordinate position “X0, Y0”. That is, the control unit 8 adds the X and Y correction offset values (values corresponding to FIG. 4C) to the values of the respective origin memories 26, and makes all the pinhole images 27a to 27e have the same coordinate position as shown in FIG. Adjustment is performed so that the image is superimposed on “X0, Y0”. For example, “+1, −1” is added to the value of the origin memory 26b, and “0, −1” is added to the origin memory 26d, and both are set to the “X0, Y0” position on the display screen 9a as the origin. Adjust so that is displayed. Thus, the pinhole image 27 dispersedly displayed on the screen 9a as shown in FIG. 5A is displayed superimposed on one central portion “X0, Y0” of the screen 9a as shown in FIG. 5B. The reference “X0, Y0” is referred to as a display origin (or ideal origin) . In FIG. 5, reference numeral 28 denotes a crosshair for identification displayed on the screen 9a.

以上のようにして投光ユニット16から出力される基準の平行光束24a〜24eを用いて予め原点メモリ26に表示原点を記憶し、表示画面9aの表示原点「X0、Y0」位置に全ピンホール画像27を重畳して表示出来る様にしたら、図3の投光ユニット16全体を外して被検体としての光学ユニット1を測光ユニット4に関連付けて装着する。この被検体としての光学ユニット1には、図2で説明したようにコリメータレンズ3などが収容されているから、光学ユニット1からの光束はピンホール6を通過し光束14a〜14eとしてPSD7a〜7e上に投影される。   As described above, the display origin is stored in the origin memory 26 in advance using the reference parallel light beams 24a to 24e output from the light projecting unit 16, and all the pinholes are displayed at the display origin “X0, Y0” position on the display screen 9a. If the image 27 can be superimposed and displayed, the entire light projecting unit 16 in FIG. 3 is removed and the optical unit 1 as the subject is attached in association with the photometric unit 4. Since the collimator lens 3 and the like are accommodated in the optical unit 1 as the subject as described with reference to FIG. 2, the light flux from the optical unit 1 passes through the pinhole 6 and PSDs 7a to 7e as the light fluxes 14a to 14e. Projected on top.

このときの光学ユニット1と測光ユニット4の関係を示したのが図6の説明図である。図6Aは測光ユニット4に対する光学ユニット1内コリメータレンズ3の位置を説明する図、図6Bはピンホール画像のPSD7上の投影点25を説明する図、図6Cは表示画面9a上のピンホール画像27を説明する図である。図Aにおいて光学ユニット1内のコリメータレンズ3はピンホール板5に対してL1の距離に設定されている。このコリメータレンズ3を通過した光束は夫々のピンホール6を経て5つに分割抽出され、対応するPSD7a〜7eに向かう。このとき、コリメータレンズ3を通過した光束が光軸に対して平行でない(例えば光軸から離れる方向に向かっている)場合、ピンホール板5とコリメータレンズ3は距離L1の位置にあるので、コリメータレンズ3からの光束は図3で説明したピンホール通過光束24a〜24eとは変化して、光束24bは29b1となってその方向を変更し、光束24cは29c1となってその方向を変更し、光束24dは29d1、光束24eは29e1となって夫々方向を変更し、一様に拡がる光束となってPSD7b、7c、7d、7eに向かう。
この拡がり光束29b1〜29e1を図では、光束24b〜24eの投影点に対し距離d1だけ変化した状態として示してある。中心部の光束24aは変わることなく24aとしてPSD7aに向かい投影される。図6Bは距離d1だけ変化してピンホール画像が投影されたPSD7a〜7eを表しているが、説明を簡明化するためここで示したPSD7a〜7eは、図5BのようにPSDからの画像位置信号に前記したオフセット値を加算し、それぞれの原点(一点鎖線の交点)が表示原点となる状態で示してありその上で距離L1によって発生するずれd1を与えた投影点25a、25b1〜25e1として示してある。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the relationship between the optical unit 1 and the photometry unit 4 at this time. 6A is a diagram for explaining the position of the collimator lens 3 in the optical unit 1 with respect to the photometry unit 4, FIG. 6B is a diagram for explaining a projection point 25 on the PSD 7 of the pinhole image , and FIG. 6C is a pinhole image on the display screen 9a. FIG. In FIG. A, the collimator lens 3 in the optical unit 1 is set at a distance L1 with respect to the pinhole plate 5. The light beam that has passed through the collimator lens 3 is divided and extracted into five via the respective pinholes 6 and directed to the corresponding PSDs 7a to 7e. At this time , when the light beam that has passed through the collimator lens 3 is not parallel to the optical axis (for example, in a direction away from the optical axis), the pinhole plate 5 and the collimator lens 3 are located at a distance L1. The luminous flux from the lens 3 changes from the pinhole passing luminous fluxes 24a to 24e described in FIG. 3, the luminous flux 24b becomes 29b1 and changes its direction, and the luminous flux 24c becomes 29c1 and changes its direction. The luminous flux 24d is 29d1 and the luminous flux 24e is 29e1, and the directions are changed, and the luminous flux spreads uniformly and travels toward PSDs 7b, 7c, 7d, and 7e.
In the figure, the spread light beams 29b1 to 29e1 are shown as being changed by a distance d1 with respect to the projection points of the light beams 24b to 24e. The central light beam 24a is projected toward the PSD 7a as 24a without changing. FIG. 6B shows PSDs 7a to 7e on which pinhole images are projected by changing by the distance d1, but for simplification of explanation, PSDs 7a to 7e shown here are image positions from the PSD as shown in FIG. 5B. by adding the offset value mentioned above to the signal, it is shown in a state in which each of the origin (the intersection of the dashed line) is displayed origin projection point 25a gave a deviation d1 generated by the distance L1 thereon, 25B1~25e1 It is shown as

こうして各PSD7b〜7eにずれd1を持って投影されたピンホール通過光束による投影点25b1〜25e1の信号は、制御ユニット8によって表示部9に送られ、その画面9aに表示される。この表示された状態を示したのが図6Cである。この図6Cにおいては前記したように、コリメータレンズ3を通過した光束が光軸に対して平行でない(例えば光軸から離れる方向に向かっている)場合を示していて、各ピンホール画像27b1〜27e1は図Bのずれ量d1相当分だけ中心画像27a(表示原点)から分散して表示される。
上記のように被検体としての光学ユニット1内コリメータレンズ3がピンホール板5に対してL1の位置に設定されると、コリメータレンズ3を通過した光束は中心光束24aを除いて図3の基準平行光束24b〜24eから一様に拡がる方向の光束29b1〜29e1に変化する。それに伴って表示画面9aでは表示原点27aに重畳して表示されるべきピンホール画像27b1〜27e1は分散して表示される。この表示された画面9aを確認してコリメータレンズ3からの射出光束が平行状態にないと判定する。そして制御ユニット8は表示原点27aからのずれ量d1を測定するが、測定に際しては各原点メモリ26に記憶されている表示原点や表示位置補正用のオフセット値を参照して行われる。
Thus, the signals of the projection points 25b1 to 25e1 by the pinhole passing light beams projected on the PSDs 7b to 7e with the deviation d1 are sent to the display unit 9 by the control unit 8 and displayed on the screen 9a. This displayed state is shown in FIG. 6C. In FIG. 6C, as described above, a case where the light beam that has passed through the collimator lens 3 is not parallel to the optical axis (for example, is directed away from the optical axis) is shown, and each pinhole image 27b1 to 27e1 is shown. Are dispersed from the center image 27a (display origin) by the amount corresponding to the shift amount d1 in FIG.
When the collimator lens 3 in the optical unit 1 as the subject is set at the position L1 with respect to the pinhole plate 5 as described above, the light beam that has passed through the collimator lens 3 is the reference in FIG. 3 except for the central light beam 24a. It changes from the parallel light beams 24b to 24e to the light beams 29b1 to 29e1 in the direction of spreading uniformly. Accordingly, on the display screen 9a, the pinhole images 27b1 to 27e1 to be displayed superimposed on the display origin 27a are displayed in a dispersed manner. By confirming the displayed screen 9a, it is determined that the light beam emitted from the collimator lens 3 is not in a parallel state. The control unit 8 measures the amount of deviation d1 from the display origin 27a. The measurement is performed with reference to the display origin stored in each origin memory 26 and the offset value for display position correction.

以上のようにしてL1位置に設定されたコリメータレンズ3からの光束を画面9aで確認し、中心光束24aを除く全周辺光束29b1〜29e1からの投影点25b1〜25e1画像が予め定めた表示原点と異なる位置に表示されていると確認したら、設定したコリメータレンズ3の位置不良と判定し、被検体1の調整を要求する。この要求にこたえるため図1の駆動部10を動作しレンズ鏡筒15を光軸13に沿って移動し、ピンホール板5側に近づけていく。この近づいた状態を示したのが図7である。 As described above, the light beam from the collimator lens 3 set at the L1 position is confirmed on the screen 9a, and the projected points 25b1 to 25e1 images from all the peripheral light beams 29b1 to 29e1 excluding the central light beam 24a If it is confirmed that they are displayed at different positions, it is determined that the set collimator lens 3 is in a poor position, and adjustment of the subject 1 is requested. In order to meet this requirement, the driving unit 10 in FIG. 1 is operated to move the lens barrel 15 along the optical axis 13 and approach the pinhole plate 5 side. FIG. 7 shows this approaching state.

この図7は図6と同様に光学ユニット1内コリメータレンズ3の位置と測光ユニット4の位置関係を説明するもので、図Aにおいてコリメータレンズ3はピンホール板5に対してL2(L1>L2)の距離に設定された例となっていて、このコリメータレンズ3を通過した光束は各ピンホール6を経て5つに分割抽出され、対応するPSD7a〜7eに向かう。このときピンホール板5とコリメータレンズ3は距離L2の位置にあるので、コリメータレンズ3を通過した光束が光軸に対して平行でなく、例えば前記図6の場合と逆に光軸に近づく方向に向かっている場合、図6で説明したピンホール通過光束29b1〜29e1とは変化して、光束29b1は29b2となって方向を変更し、光束29c1は29c2、光束29d1は29d2、光束29e1は29e2となってその方向を変更し、一様に収束される光束となって各PSD7b、7c、7d、7eに向かう。この収束光束29b2〜29e2を図では光束24b〜24eの投影点に対し距離d2だけ変化した状態として示してある。中心部の光束24aはそのまま24aとしてPSD7aに向かい投影される。
この投影点25b2〜25e2が変化したPSD7b〜7eを示したのが図7Bである。この図7Bも図6Bと同様にオフセット値を加算した投影点25に、L2位置のコリメータレンズ3によって発生したずれd2を与えた投影点25a、25b2〜25e2として示してある。
7 illustrates the positional relationship between the position of the collimator lens 3 in the optical unit 1 and the photometry unit 4 as in FIG. 6. In FIG. A, the collimator lens 3 is L2 (L1> L2 with respect to the pinhole plate 5). In this example, the luminous flux that has passed through the collimator lens 3 is divided and extracted into five via each pinhole 6 and travels toward the corresponding PSDs 7a to 7e. At this time, since the pinhole plate 5 and the collimator lens 3 are located at a distance L2, the light beam that has passed through the collimator lens 3 is not parallel to the optical axis, and is, for example, a direction approaching the optical axis as opposed to the case of FIG. If towards, changing the pin hole passing beam 29b1~29e1 described in FIG. 6, the light beam 29b1 changes the direction becomes 29b2, the light beam 29c1 is 29C2, the light beam 29d1 is 29D2 light beam 29e1 is 29e2 The direction is changed, and the light flux is uniformly converged and directed to each PSD 7b, 7c, 7d, 7e. The converged light beams 29b2 to 29e2 are shown as being changed by a distance d2 with respect to the projection points of the light beams 24b to 24e. The central light beam 24a is projected as it is toward the PSD 7a.
FIG. 7B shows PSDs 7b to 7e in which the projection points 25b2 to 25e2 are changed. 7B is also shown as projection points 25a and 25b2 to 25e2 in which the deviation d2 generated by the collimator lens 3 at the L2 position is given to the projection point 25 to which the offset value is added as in FIG. 6B.

尚、図7Bで明らかなように各PSD7b〜7e上での投影点25b2〜25e2位置は、図6Bの場合と中心点25aを境として逆方向になっている。例えば図6Bの投影点25b1は図上の中心点より上側に位置しているのに対し、図7Bの投影点25b2は中心点25aの下側に位置している。同様に図6Bの投影点25e1は中心点25aの右側に位置しているのに対し、図7Bの投影点25e2は中心点25aの左側に位置して投影されている。これはコリメータレンズ3の設定位置がL1からL2に移動したことによるものである。 As is apparent from FIG. 7B, the positions of the projection points 25b2 to 25e2 on the PSDs 7b to 7e are opposite to those in FIG. 6B with respect to the center point 25a. For example, the projection point 25b1 in FIG. 6B is located above the center point in the figure, whereas the projection point 25b2 in FIG. 7B is located below the center point 25a. Similarly, the projection point 25e1 in FIG. 6B is located on the right side of the center point 25a, while the projection point 25e2 in FIG. 7B is projected on the left side of the center point 25a. This is because the setting position of the collimator lens 3 has moved from L1 to L2.

こうして各PSD7b〜7eにずれd2を持って投影された投影点25b2〜25e2は、制御ユニット8によって表示部9に送られ、その画面9aに表示される。この表示された状態を示したのが図7Cである。この図7Cにおいて各ピンホール画像27b2〜27e2は図Bのずれ量d2相当分だけ中心画像27a(表示原点)から分散して表示される。
上記のようにコリメータレンズ3がピンホール板5に対してL2の位置に設定されると、コリメータレンズ3を通過した光束は中心光束24aを除いて図3の基準平行光束24b〜24eから一様に収束する方向の光束29b2〜29e2に変化する。それに伴って表示画面9aでは表示原点27aに重畳して表示されるべきピンホール画像27b2〜27e2が分散して表示される。この表示された画面9aを確認してコリメータレンズ3からの光束は平行状態にないと判定する。そして制御ユニット8は表示原点27aからのずれ量d2を計測するが、測定に際しては各原点メモリ26に記憶されている表示原点や表示位置補正用のオフセット値を参照して行われる。
The projection points 25b2 to 25e2 thus projected onto the PSDs 7b to 7e with the deviation d2 are sent to the display unit 9 by the control unit 8 and displayed on the screen 9a. This displayed state is shown in FIG. 7C. In FIG. 7C, the pinhole images 27b2 to 27e2 are displayed while being dispersed from the central image 27a (display origin) by an amount corresponding to the shift amount d2 in FIG.
When the collimator lens 3 is set at the position L2 with respect to the pinhole plate 5 as described above, the light beam that has passed through the collimator lens 3 is uniform from the reference parallel light beams 24b to 24e in FIG. 3 except for the central light beam 24a. Changes to light beams 29b2 to 29e2 in a direction converging to. Accordingly, on the display screen 9a, pinhole images 27b2 to 27e2 to be displayed superimposed on the display origin 27a are displayed in a dispersed manner. By confirming the displayed screen 9a, it is determined that the light flux from the collimator lens 3 is not in a parallel state. The control unit 8 measures the amount of deviation d2 from the display origin 27a, and the measurement is performed with reference to the display origin stored in each origin memory 26 and the offset value for display position correction.

以上のようにしてL2位置に設定されたコリメータレンズ3からの光束を画面9aで確認し、中心光束24aを除く全光束29b2〜29e2からの投影点25b2〜25e2が、予め定めた表示原点25aと異なる位置に表示されていると確認したら、被検体としてのコリメータレンズ3の設定位置が不良であると判定する。そして図2の駆動部10を動作してレンズ鏡筒15を光軸13に沿って移動し、ピンホール板5から遠ざかる方向に移動していく。この状態を示したのが図8の説明図である。 As described above, the light beam from the collimator lens 3 set at the L2 position is confirmed on the screen 9a, and the projection points 25b2 to 25e2 from the total light beams 29b2 to 29e2 excluding the central light beam 24a are the predetermined display origin 25a. If it is confirmed that they are displayed at different positions, it is determined that the set position of the collimator lens 3 as the subject is defective. 2 is operated to move the lens barrel 15 along the optical axis 13 and move away from the pinhole plate 5. FIG. 8 is an explanatory diagram showing this state.

この図8は、図6、7と同様に光学ユニット1内コリメータレンズ3の位置と測光ユニット4の関係を説明する図ある。コリメータレンズ3が図Aのようにピンホール板5に対してLn(L1>Ln>L2)の距離に設定されると、コリメータレンズ3を通過した光束は各ピンホール6を経て5つに分割抽出され、対応するPSD7a〜7eに向かう。このとき図7で示したピンホール通過光束29b2〜29e2は徐々に図3の基準通過光束24b〜24eに近づいていく。そのためPSD7b〜7e上の投影点25b2〜25e2も、図8Bのように徐々に原点位置25aに近づいていく。図8Bでは図7Bの各投影点25b2〜25e2を夫々2つの×で表記して原点25aに近づいていく状態を表している。各投影点25b2〜25e2が中心の表示原点25aに近づいていく過程は、図8Cの表示画面9aでピンホール画像27b2〜27e2が原点27aに近づいていくことで確認できる。この図8Cにおいても移動していく画像27b2〜27e2を表すため2つの×を用いている。 FIG. 8 is a diagram for explaining the relationship between the position of the collimator lens 3 in the optical unit 1 and the photometric unit 4 as in FIGS. When the collimator lens 3 is set at a distance of Ln (L1> Ln> L2) with respect to the pinhole plate 5 as shown in FIG. A, the light beam that has passed through the collimator lens 3 is divided into five through each pinhole 6. Extracted and headed to the corresponding PSD 7a-7e. At this time, the pinhole passing light beams 29b2 to 29e2 shown in FIG. 7 gradually approach the reference passing light beams 24b to 24e in FIG. Therefore, the projection points 25b2 to 25e2 on the PSDs 7b to 7e also gradually approach the origin position 25a as shown in FIG. 8B. In FIG. 8B, each projection point 25b2 to 25e2 in FIG. 7B is represented by two crosses and represents a state of approaching the origin 25a. The process in which the projection points 25b2 to 25e2 approach the central display origin 25a can be confirmed by the pinhole images 27b2 to 27e2 approaching the origin 27a on the display screen 9a in FIG. 8C. In FIG. 8C, two crosses are used to represent the moving images 27b2 to 27e2.

こうして表示画面9aの十字線28交点位置に全ピンホール画像27a〜27eが重畳して表示されたとき、駆動部10の動作を止めコリメータレンズ3を収容した鏡筒15の位置を光学ユニット1に対して固定する。つまりピンホール板5に対して距離Lnの位置にコリメータレンズ3が設定されたとき、このコリメータレンズ3から分割出力された光束は基準ピンホール通過光束24と一致して、分割抽出された5本の出力光束はみな平行光束になったと判断される。そしてこのコリメータレンズ3を収容した光学ユニット1の測光点3a〜3eの夫々はその精度が保障されたものとして光束の測定作業を終了する。
上記説明してきた例は光学ユニット1と測光ユニット4の関係を、コリメータレンズ3とピンホール板5間の距離Lで調整するものとなっている。即ち、図6の距離L1を図7の距離L2としたり、或いは図8の距離Lnとすることで光学ユニット1と測光ユニット4の関係を調整するものであった。しかしこのような例だけでなくコリメータレンズ3の設置角度の変更や、レンズが複眼構成の場合はその各レンズ間の距離を変更するようにしても前記Lと同様な調整を実施することが出来る。そして角度の変更やレンズ間の距離の変更を実施しても、その変更過程は順次表示画面で確認出来るから、前記距離Lの調整と同様に扱うことが出来る。従がって本願で距離Lの調整という表現にはコリメータレンズの角度変更やレンズ間の距離の変更を含むものとし、光学ユニット1の内部を調整すると表現する。こうして調整され測定作業が終了して検査合格となった光学ユニット1は、例えばオートコリメータなどに組み込まれて使用される。
Thus, when all the pinhole images 27a to 27e are superimposed and displayed at the intersection of the cross line 28 on the display screen 9a, the operation of the drive unit 10 is stopped and the position of the lens barrel 15 containing the collimator lens 3 is set to the optical unit 1. Fix against. That is, when the collimator lens 3 is set at a position of the distance Ln with respect to the pinhole plate 5, the luminous flux divided and output from the collimator lens 3 coincides with the reference pinhole passing luminous flux 24 and is divided and extracted. It is determined that all of the output light beams become parallel light beams. Then, each of the photometric points 3a to 3e of the optical unit 1 that accommodates the collimator lens 3 is assumed to have guaranteed accuracy, and the light flux measurement operation is completed.
In the example described above, the relationship between the optical unit 1 and the photometric unit 4 is adjusted by the distance L between the collimator lens 3 and the pinhole plate 5. That is, the relationship between the optical unit 1 and the photometric unit 4 is adjusted by setting the distance L1 in FIG. 6 to the distance L2 in FIG. 7 or the distance Ln in FIG. However, in addition to such an example, the same adjustment as in the above L can be performed even if the installation angle of the collimator lens 3 is changed or the distance between the lenses is changed when the lens has a compound eye configuration. . Even if the angle or the distance between the lenses is changed, the change process can be sequentially confirmed on the display screen, so that it can be handled in the same manner as the adjustment of the distance L. Therefore, in the present application, the expression “adjustment of the distance L” includes the change of the angle of the collimator lens and the change of the distance between the lenses, and is expressed as adjusting the inside of the optical unit 1. The optical unit 1 that has been adjusted in this way and passed the inspection work and passed the inspection is used by being incorporated into an autocollimator, for example.

上記の例は図2Bで説明したピンホール6b〜6eの位置が中心ピンホール6aを中心として対称となる位置にあり、図6、7で説明したずれ量d1、d2の発生が各光束29とも一定になっている場合であった。しかしこのピンホール通過光束29のうち、一部に変化が生じているようなとき、例えば図6の光束29c1のずれの方向が反対でその量がd2、図7の光束29c2のずれの方向が反対でその量がd1になるようなときも発生する。このような場合、光束29c1、29c2と対応する表示画面9a上の画像27c1、27c2は、図8Cで中心表示原点27aから外れた位置に表示される。この表示によって距離L1位置にあるときのコリメータレンズ3測光点3cと、距離L2位置にあるときのコリメータレンズ3測光点3cに何らかの加工誤差や傷、ごみの付着などが発生していると判断出来る。また画面9a上での表示原点27aとずれ画像27c1、c2間の距離を測定すればd1、d2の値を測定することができる。このように表示画面9aを確認することでコリメータレンズ3からの射出光束中、例えば右側部光束、左側部光束、中間部光束というように分割抽出して平行度を測定し比較することが出来、光軸合わせなども容易に実施することができる。   In the above example, the positions of the pinholes 6b to 6e described with reference to FIG. 2B are symmetric with respect to the central pinhole 6a, and the deviations d1 and d2 described with reference to FIGS. It was a case where it was constant. However, when a part of the pinhole passing light beam 29 is changed, for example, the direction of deviation of the light beam 29c1 in FIG. 6 is opposite, the amount thereof is d2, and the direction of deviation of the light beam 29c2 in FIG. On the other hand, it also occurs when the amount is d1. In such a case, the images 27c1 and 27c2 on the display screen 9a corresponding to the light beams 29c1 and 29c2 are displayed at positions deviating from the central display origin 27a in FIG. 8C. From this display, it can be determined that some processing errors, scratches, dust adhesion, and the like have occurred at the collimator lens 3 photometry point 3c at the distance L1 position and the collimator lens 3 photometry point 3c at the distance L2 position. . If the distance between the display origin 27a on the screen 9a and the shifted images 27c1 and c2 is measured, the values of d1 and d2 can be measured. By confirming the display screen 9a in this way, it is possible to measure and compare the parallelism by dividing and extracting, for example, the right side beam, the left side beam, and the middle beam from the collimating lens 3 in the emitted light beam, Optical axis alignment and the like can be easily performed.

以上のようにしてコリメータレンズ3の設定位置が光学ユニット1内で固定されたら、その光学ユニット1を外して次の被検体となる光学ユニット1を測光ユニット4に取り付ける。そして図6、7、8で説明したような動作を行ってコリメータレンズ3からの射出光束についてチェックし、ずれ量dと方向を測定する。 When the setting position of the collimator lens 3 is fixed in the optical unit 1 as described above, the optical unit 1 is removed and the optical unit 1 as the next subject is attached to the photometric unit 4. Then, the operation described with reference to FIGS. 6, 7, and 8 is performed to check the emitted light beam from the collimator lens 3, and the deviation d and the direction are measured.

図9はピンホール板5の変形例を示したものである。図2Bの例では中心ピンホール6aを中心としてピッチpでピンホール6b〜6eを設けた例となっている。この図9ではさらに6f〜6iのピンホールを設けたものとしてある。この例のようにピンホール6の数を増やし、それに対応して受光部7を設置すれば、それだけ多くの測光点を得ることが出来る。そして図2Bやこの図9の例のように中心ピンホール6aを中心として対称となる位置に複数のピンホール6を設置しておけば、コリメータレンズ3の中心部周辺複数個所で、対称位置同士での精度を比較することが出来る。従がって例えばコリメータレンズ3の球面収差の精度について検討することが出来る。 FIG. 9 shows a modification of the pinhole plate 5. In the example of FIG. 2B, pinholes 6b to 6e are provided at a pitch p with the center pinhole 6a as the center. In FIG. 9, 6f-6i pinholes are further provided. If the number of pinholes 6 is increased as in this example and the light receiving portions 7 are installed correspondingly, the photometric points can be obtained as much. If a plurality of pinholes 6 are installed at positions that are symmetric with respect to the center pinhole 6a as shown in FIG. 2B and the example of FIG. The accuracy can be compared. Accordingly, for example, the accuracy of the spherical aberration of the collimator lens 3 can be examined.

図10は実施例2を説明する図で、図2、6などと同じ要素には同じ番号を付してある。コリメータレンズ3Aは図2、6などのそれに比して直径が小型となっていて、若しくはコリメータレンズ3Aからの射出光束のうち、測光点3b、3e間の径が小さくなっている。このようなコリメータレンズ3Aを通過した光束は測光ユニット4のピンホール板5に向かう。このピンホール板5には図2Bと同様に複数のピンホール6(例えば6a〜6e)が設けられているが、その配列ピッチは図2Bのpより小さくなってコリメータレンズ3Aと対応出来るようになっている。ピンホール6を通過した光束24a〜24eは1つのCCDで構成した受光部7Aに向かう。CCD7Aが受光したピンホール6通過光束24a〜24eはピンホール画像信号となって制御ユニット8に送られ、表示部9に表示される。   FIG. 10 is a diagram for explaining the second embodiment. The same elements as those in FIGS. The diameter of the collimator lens 3A is smaller than that in FIGS. 2 and 6 or the diameter of the light beam emitted from the collimator lens 3A is small between the photometric points 3b and 3e. The light beam that has passed through the collimator lens 3 </ b> A is directed to the pinhole plate 5 of the photometric unit 4. The pinhole plate 5 is provided with a plurality of pinholes 6 (for example, 6a to 6e) as in FIG. 2B, but the arrangement pitch is smaller than p in FIG. 2B so that it can correspond to the collimator lens 3A. It has become. The light beams 24a to 24e that have passed through the pinhole 6 are directed to the light receiving unit 7A configured by one CCD. The pinhole 6 passing light beams 24 a to 24 e received by the CCD 7 A are sent to the control unit 8 as pinhole image signals and displayed on the display unit 9.

図11は受光部としてのCCD7Aを説明する図である。このCCD7Aは直径を小型としたコリメータレンズ3Aに対応するため単一のCCDで構成され、図6Aのような複数PSD7a〜7eを配置するスペースを縮小している。このような受光部7Aに図3に基づく基準ピンホール通過光束24a〜24e(光軸に平行な光束)を投影すると、図の黒丸印のような投影点25a〜25eが得られる。但し、この各黒丸投影点25は図3で説明した理論値としての望ましい位置(表示原点(理想原点)「X0、Y0」)に相当する位置として示してある。例えば図11のCCD7Aの左上隅をX0、Y0としたとき、理論投影点25bは「X11、Y4」、25dは「X4、Y11」、25aは「X11、Y11」、・・・25cは「X11、Y21」としてある。図ではこの理論投影点座標を各投影点25と対応して設けられる原点メモリ26b、26d、26a、26e、26c内に欄31として示した。しかし投光ユニット16による実際の基準ピンホール通過光束24a〜24e(光軸に平行な光束)がCCD7Aに投影されたとき、その各投影点25は×印のように誤差が生じることも予想される。例えば投影点25bは「X10、Y5」、・・・25dは「X4、Y12」、・・・25cは「X10、Y20」。この実際の投影点座標(×印)を参考までに図11の原点メモリ26a〜26eの欄32に示した。
FIG. 11 is a diagram for explaining a CCD 7A as a light receiving unit. This CCD 7A is constituted by a single CCD to correspond to the collimator lens 3A having a small diameter, and the space for arranging the plurality of PSDs 7a to 7e as shown in FIG. 6A is reduced. When the reference pinhole passing light beams 24a to 24e (light beams parallel to the optical axis) based on FIG. 3 are projected onto the light receiving portion 7A, projection points 25a to 25e as indicated by black circles in the figure are obtained. However, each black circle projection point 25 is shown as a position corresponding to a desirable position (display origin (ideal origin) “X0, Y0”) as the theoretical value described in FIG. For example, when the upper left corner of the CCD 7A in FIG. 11 is X0 and Y0, the theoretical projection point 25b is “X11, Y4”, 25d is “X4, Y11”, 25a is “X11, Y11”,. , Y21 ". In the drawing, the theoretical projection point coordinates are shown as a column 31 in origin memories 26b, 26d, 26a, 26e, and 26c provided corresponding to the projection points 25. However, when the actual reference pinhole passing light beams 24a to 24e (light beams parallel to the optical axis) by the light projecting unit 16 are projected onto the CCD 7A, it is expected that each projection point 25 will have an error as indicated by a cross. The For example, the projection point 25b is "X10, Y5", ... 25d is "X4, Y12", ... 25c is "X10, Y20". The actual projection point coordinates (x marks) are shown in the column 32 of the origin memories 26a to 26e in FIG. 11 for reference.

表示原点(黒丸印)が求められ、基準ピンホール通過光束24a〜24eによる実際の投影がCCD7Aに行われると(×印)、制御ユニット8は各表示原点(黒丸印)に対する(×印)のオフセット値を求め、それを(×印)投影点座標に加算して原点メモリ26に夫々記憶する。これで制御ユニット8の制御により、(×印)は(黒丸印)と一致するよう表示させることができ、算出されたオフセット値はずれ量を求めるときに利用される。
こうして表示原点が求められ、それが各原点メモリ26に記憶されると、図3の投光ユニット16を図10の光学ユニット1と取り替える。そして図6で説明したようにコリメータレンズ3とピンホール板5間の距離をL1に設定して、ピンホール通過光束24a〜24eをCCD7Aに投影する。この投影点25a〜25eが例えば図11の(△印)のよう投影点25b「X10、Y4」、25d「X3、Y10」、25a「X11、Y12」、25e「X21、Y10」、25c「X11、Y21」であれば制御ユニット8は、前記したオフセット値を加え、25bを「X11、Y3」、25dを「X3、Y9」、25aを「X11、Y12」、25eを「X21、Y10」、25cを「X12、Y22」る。この投影点(△印)による画像を表示画面9aに表示したときの例が図12である。
When the display origin (black circle mark) is obtained and the actual projection by the reference pinhole passing light beams 24a to 24e is performed on the CCD 7A (x mark), the control unit 8 has (x mark) for each display origin (black circle mark). An offset value is obtained, added to the projection point coordinates (×), and stored in the origin memory 26, respectively. As a result, under the control of the control unit 8, the (x mark) can be displayed so as to coincide with the (black circle mark), and the calculated offset value is also used when obtaining the deviation amount.
When the display origin is obtained and stored in each origin memory 26, the light projecting unit 16 in FIG. 3 is replaced with the optical unit 1 in FIG. Then, as described with reference to FIG. 6, the distance between the collimator lens 3 and the pinhole plate 5 is set to L1, and the pinhole passing light beams 24a to 24e are projected onto the CCD 7A. The projection points 25a to 25e are, for example, as indicated by (Δ) in FIG. 11 , the projection point 25b is “X10, Y4”, 25d is “X3, Y10”, 25a is “X11, Y12”, and 25e is “X21, Y10”. , 25c is “X11, Y21” , the control unit 8 adds the above-described offset value, 25b is “X11, Y3”, 25d is “X3, Y9”, 25a is “X11, Y12”, 25e "X21, Y10", you and 25c as "X12, Y22". FIG. 12 shows an example when an image by this projection point (Δ mark) is displayed on the display screen 9a.

図12において画面9aには、5つの表示原点(黒丸印)とピンホール画像27a〜27e(△印)が表示されている。図6Cの例では1つの表示原点27aと、その周辺に複数の画像27b1〜27e1が表示されているが、この図12の例では5つの表示原点(黒丸印)と5つのピンホール画像(△印)が表示される。この表示画面9aを確認しながら図10の駆動部10を動作し、コリメータレンズ3Aを光軸13に沿って移動し、ピンホール板5との距離L2の方向に縮めていく。すると画像点(△印)は徐々に表示原点(黒丸印)方向に近づいていき、距離Lnの付近で両者は一致して重畳表示される。この重畳表示を画面9aで確認したら、コリメーレンズ3Aの測光点3a〜3eから射出された5本の光束は、みな平行状態にあると判断する。もし画像点(△印)と表示原点(黒丸印)が一致しない光束が発生すれば、それはコリメータレンズ3Aの対応する測光点に球面収差などの誤差や傷などがあると判断する。また一致しない(△印)と(黒丸印)の表示画像間のずれ量dは制御ユニット8で測定できるが、その方向も同時に確認することが出来る。
以上のようにしてコリメータレンズ3Aの設定位置が光学ユニット1内で固定されたら、その光学ユニット1を取り外して次の被検体となる光学ユニット1を測光ユニット4に取り付ける。そして図6、7、8で説明したような動作を行ってコリメータレンズ3Aからの射出光束についてチェックし、ずれ量dと方向を測定する。
In FIG. 12, the screen 9a displays five display origins (black circles) and pinhole images 27a to 27e (Δ marks). In the example of FIG. 6C, one display origin 27a and a plurality of images 27b1 to 27e1 are displayed around the display origin 27a. In the example of FIG. 12, five display origins (black circles) and five pinhole images (Δ Is displayed. While confirming the display screen 9a operates the driving unit 10 of FIG. 10, moves along the collimator lens 3A to the optical axis 13, will shorten the distance between the pinhole plate 5 in the direction of L2. Then, the image point (Δ mark) gradually approaches the display origin (black circle mark) direction, and they are displayed in a superimposed manner in the vicinity of the distance Ln. When this superimposed display is confirmed on the screen 9a, it is determined that all five light beams emitted from the photometric points 3a to 3e of the collimator lens 3A are in a parallel state. If a light beam whose image point (Δ mark) and display origin (black circle mark) do not coincide with each other is generated, it is determined that there is an error such as spherical aberration or a flaw at the corresponding photometry point of the collimator lens 3A. Further, the shift amount d between the display images that do not coincide (Δ mark) and (black circle mark) can be measured by the control unit 8, but the direction can also be confirmed at the same time.
When the setting position of the collimator lens 3A is fixed in the optical unit 1 as described above, the optical unit 1 is removed and the optical unit 1 as the next subject is attached to the photometric unit 4. Then, the operation described with reference to FIGS. 6, 7, and 8 is performed to check the emitted light beam from the collimator lens 3A, and the shift amount d and the direction are measured.

図13は実施例3の説明図である。図において光学ユニット1aは駆動部35の動作で回転軸36を中心として回転する。光学ユニット1a内には図2、6、10のようにコリメータレンズ3が収容されていて、測光ユニット4には図2、6のようなピンホール板5と受光部7が収容されている。光学ユニット1aが回転するとコリメータレンズ3が回転し、コリメータレンズ3が回転するとピンホール板5の各ピンホール6と対応する測光点3a〜3eの位置も回転する。この回転で新たな測光点、例えば図13Bのように3b1と3b2、3d1と3d2、・・・3e1と3e2を得ることが出来る。測光点が増えれば測光光束24の数も増えるので、測定の密度を高めることが出来る。また図5Bで説明した表示原点27を定めるときも比較するサンプル数が増えることになるので平均化した原点位置とすることが出来る。
上記のように光学ユニット1aの回転はコリメータレンズ3の回転であるから、コリメータレンズ3だけを中心光軸13を中心として駆動部35で回転させるようにしてもよい。
FIG. 13 is an explanatory diagram of the third embodiment. In the figure, the optical unit 1 a rotates around the rotation shaft 36 by the operation of the drive unit 35. The collimator lens 3 is accommodated in the optical unit 1a as shown in FIGS. 2, 6 and 10, and the pinhole plate 5 and the light receiving part 7 as shown in FIGS. When the optical unit 1a rotates, the collimator lens 3 rotates, and when the collimator lens 3 rotates, the positions of the photometric points 3a to 3e corresponding to the pinholes 6 of the pinhole plate 5 also rotate. By this rotation, new photometric points, for example, 3b1 and 3b2, 3d1 and 3d2,... 3e1 and 3e2 can be obtained as shown in FIG. As the number of photometry points increases, the number of photometry light beams 24 also increases, so that the measurement density can be increased. Also, when the display origin 27 described with reference to FIG. 5B is determined, the number of samples to be compared increases, so that the averaged origin position can be obtained.
As described above, since the rotation of the optical unit 1 a is the rotation of the collimator lens 3, only the collimator lens 3 may be rotated by the drive unit 35 around the central optical axis 13.

図14は図13の変形例を示す説明図で光学ユニット1を回転する代わりに測光ユニット4aを回転するようにしたものである。図において測光ユニット4aは駆動部35の動作で回転軸36を中心として回転する。測光ユニット4aには図2、6、10のようにピンホール板5、受光部7が収容されているから、測光ユニット4aの回転はピンホール板5、受光部7の回転となる。ピンホール板5が回転すると、図13のコリメータレンズ3が回転した場合と同じように測光点3a〜3eを増加したのと同等の結果が得られる。図14Bではピンホール板5が回転したことで得られる新たなピンホール例として6b1と6b2、6d1と6d2、・・・6e1と6e2を示している。この新たなピンホール6b1〜6e2と対応するコリメータレンズ3の位置が新測光点となる。
この図14の例では測光ユニット4a全体が回転するようになっているのでピンホール板5と受光部7は一体になって回転する。そのためピンホール6b〜6eの位置が6b1と6b2、6d1と6d2、・・・6e1と6e2のように変化しても、受光部7も一緒に回転するので作業に支障は生じない。逆に図10の例のように1つの受光部7Aを使用するようにしたときは、測光ユニット4aは固定したままでピンホール板5だけを回転すればよい。また測光ユニット4a全体を回転させるときは図14Cのようにピンホール板5のピンホール6a、6h1〜6hn配置をランダムにすることができる。この場合、コリメータレンズ3の測光点はピンホール6の配置にあわせたランダムなものとなり、それが回転することで新測光点を求めることになる。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing a modification of FIG. 13 in which the photometry unit 4a is rotated instead of the optical unit 1 rotating. In the figure, the photometric unit 4a rotates around the rotation shaft 36 by the operation of the drive unit 35. Since the photometric unit 4a contains the pinhole plate 5 and the light receiving portion 7 as shown in FIGS. 2, 6, and 10, the rotation of the photometric unit 4a is the rotation of the pinhole plate 5 and the light receiving portion 7. When the pinhole plate 5 is rotated, the same result as that obtained by increasing the photometric points 3a to 3e is obtained as in the case where the collimator lens 3 of FIG. 13 is rotated. In FIG. 14B, 6b1 and 6b2, 6d1 and 6d2,... 6e1 and 6e2 are shown as new pinhole examples obtained by rotating the pinhole plate 5. The position of the collimator lens 3 corresponding to the new pinholes 6b1 to 6e2 becomes a new photometric point.
In the example of FIG. 14, since the entire photometric unit 4a is rotated, the pinhole plate 5 and the light receiving portion 7 are rotated together. Therefore, even if the positions of the pinholes 6b to 6e are changed as 6b1 and 6b2, 6d1 and 6d2,... 6e1 and 6e2, the light-receiving unit 7 rotates together, so that the work is not hindered. Conversely, when one light receiving portion 7A is used as in the example of FIG. 10, only the pinhole plate 5 needs to be rotated while the photometric unit 4a is fixed. When the entire photometric unit 4a is rotated, the pinholes 6a and 6h1 to 6hn of the pinhole plate 5 can be arranged randomly as shown in FIG. 14C. In this case, the photometry point of the collimator lens 3 is random according to the arrangement of the pinhole 6, and a new photometry point is obtained by rotating it.

上記実施例3のように光学ユニット1と測光ユニット4の一方を、相手方に対して回転できるようにしたことによって測光点を増加することが出来る。それもピンホール通過光束としてコリメータレンズ3から分割抽出される測光点位置を任意に選び出すことが出来る。   As in the third embodiment, one of the optical unit 1 and the photometric unit 4 can be rotated with respect to the counterpart, thereby increasing the photometric point. It is also possible to arbitrarily select a photometric point position divided and extracted from the collimator lens 3 as a light beam passing through a pinhole.

以上、光学ユニット1を被検体としてその出力光束を分割抽出し、その分割抽出した夫々について平行性を測定するようにした装置について説明してきた。ただ光学ユニット1と測光ユニット4の接続方法、コリメータレンズ3の光軸方向への移動機構、投光部のXY精密移動手段などは、本発明と直接関係ないものとして説明を省略してある。これらは一般的なものを採用すればよい。また図1などで説明した制御部8や表示部9は一般のパソコンに置き換えることが出来る。   As described above, the apparatus in which the optical unit 1 is the subject and the output light beam is divided and extracted, and the parallelism is measured for each of the divided and extracted pieces has been described. However, the connection method between the optical unit 1 and the photometric unit 4, the moving mechanism of the collimator lens 3 in the optical axis direction, the XY precision moving means of the light projecting unit, etc. are not described here because they are not directly related to the present invention. These may be general ones. The control unit 8 and the display unit 9 described in FIG. 1 and the like can be replaced with a general personal computer.

測定装置の全体構成を示した説明用の概略図。Schematic for description which showed the whole structure of the measuring apparatus. 図1の光学ユニットと測光ユニットを説明する図。The figure explaining the optical unit and photometry unit of FIG. 投光ユニットと測光ユニットを説明する図。The figure explaining a light projection unit and a photometry unit. 受光部投影点位置と表示原点の関係を説明する図。The figure explaining the relationship between a light-receiving part projection point position and a display origin. 表示画面に表示される画像の説明図。Explanatory drawing of the image displayed on a display screen. 光学ユニットと測光ユニットの関係を説明する図。The figure explaining the relationship between an optical unit and a photometry unit. 光学ユニットと測光ユニットの関係を説明する図。The figure explaining the relationship between an optical unit and a photometry unit. 光学ユニットと測光ユニットの関係を説明する図。The figure explaining the relationship between an optical unit and a photometry unit. ピンホール板の例を示した図。The figure which showed the example of the pinhole board. 実施例2を説明するための説明図Explanatory drawing for demonstrating Example 2. FIG. CCDで構成した受光部の説明図。Explanatory drawing of the light-receiving part comprised with CCD. 表示部の画面に表示される画像の説明図。Explanatory drawing of the image displayed on the screen of a display part. 実施例3を説明するための説明図Explanatory drawing for demonstrating Example 3. FIG. 実施例3を説明するための説明図Explanatory drawing for demonstrating Example 3. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・光学ユニット 2・・・光源 3・・・コリメータレンズ 4・・・測光ユニット 5・・・ピンホール板 6・・・ピンホール 7・・・受光部 8・・・制御ユニット 9・・・表示部 13・・・中心光軸 14・・・ピンホール通過光束 15・・・鏡筒 16・・・投光ユニット 17・・・投光部 24・・・コリメータレンズ射出光束 25・・・投影点 26・・・原点メモリ 27・・・ピンホール画像

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical unit 2 ... Light source 3 ... Collimator lens 4 ... Photometry unit 5 ... Pinhole board 6 ... Pinhole 7 ... Light-receiving part 8 ... Control unit 9. ··· Display unit 13 ··· Center optical axis 14 ··· Pinhole passing beam 15 ··· Lens barrel 16 ··· Projection unit 17 ··· Projection unit 24 · · · Collimator lens exiting beam 25 ···・ Projection point 26 ... Origin memory 27 ... Pinhole image

Claims (5)

光学ユニットからの光束に対して直交するよう設置され、前記光学ユニットにおける中心光軸位置と周辺複数位置にピンホールを設けたピンホール板と、ピンホール板の後方に各ピンホール画像を投影できるよう配置した受光部とを収容した測光ユニットと、
前記ピンホール板に設けた各ピンホールを通過した、前記中心光軸と平行光束前記受光部に投影される位置の座標を受光部上の原点として記憶する原点メモリと、
前記測光ユニットにおける各受光部からの信号を表示する表示部と、
前記測光ユニットにおける各受光部からの信号を、前記原点メモリに記憶した各原点が表示部上の理想原点となるよう表示位置制御する制御ユニットとを備え、
前記表示部に表示される前記理想原点と各ピンホール画像との表示位置の位置差により、前記光学ユニットを通過した光束の中心光軸に対する平行度を確認出来るようにしたことを特徴とする光束測定装置。
It is installed so as to orthogonal to the optical beam from the optical unit, a pinhole plate provided with pin holes in the central optical axis position and the peripheral multiple positions in the optical unit, each pinhole image behind the pinhole plate A photometric unit containing a light receiving unit arranged to project ,
An origin memory that stores, as an origin on the light receiving unit, coordinates of a position where a light beam parallel to the central optical axis that has passed through each pin hole provided on the pin hole plate is projected on the light receiving unit;
A display unit for displaying a signal from each light receiving unit in the photometric unit;
A control unit for controlling the display position so that the origin stored in the origin memory is the ideal origin on the display unit, the signal from each light receiving unit in the photometric unit;
The light beam characterized in that the parallelism with respect to the central optical axis of the light beam that has passed through the optical unit can be confirmed by the difference in display position between the ideal origin displayed on the display unit and each pinhole image. measuring device.
前記測光ユニットにおける受光部は前記ピンホール板における各ピンホールに対応して設けられ、前記制御ユニットは、それぞれの受光部における原点が表示部上で共通原点として重ねて表示されるよう、受光部からの信号の表示制御を行うことを特徴とする請求項1に記載した光束測定装置。The light receiving unit in the photometric unit is provided corresponding to each pinhole in the pinhole plate, and the control unit is configured so that the origin of each light receiving unit is displayed as a common origin on the display unit. The light flux measuring apparatus according to claim 1, wherein display control of a signal from is performed. 前記ピンホール板の各ピンホールに対応して設置した受光部をPSD(Position Sensitive Device)で構成したことを特徴とする請求項1または2に記載した光束測定装置。 Optical flux measurement apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that to constitute a light receiving portion which is disposed in correspondence with each pin hole of the pin hole plate with PSD (Position Sensitive Device). 前記測光ユニットにおける受光部は、前記ピンホール板における各ピンホール画像をすべて投影できるよう配置した1つのCCD(Charge Coupled Device)で構成され、前記制御ユニットは、各ピンホールに対応した原点が前記表示部上の理想原点位置となるよう表示位置制御しながら前記受光部からの信号の表示制御を行うことを特徴とする請求項1に記載した光束測定装置。The light receiving unit in the photometric unit is composed of a single CCD (Charge Coupled Device) arranged so that all the pinhole images on the pinhole plate can be projected, and the control unit has an origin corresponding to each pinhole. 2. The light flux measuring apparatus according to claim 1, wherein display control of a signal from the light receiving unit is performed while controlling the display position so as to be an ideal origin position on the display unit. 前記光学ユニットと測光ユニットの一方を、相手方に対して回転できるようにしたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載した光束測定装置。
The one of the optical unit and the light measuring unit, the light flux measuring device as claimed in any one of claims 1 to 4, characterized in that to be able to rotate relative to the other party.
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