JP5082684B2 - Peltier cooling type semiconductor X-ray detector - Google Patents
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Description
本発明は、ペルチェ冷却型半導体X線検出器に関し、さらに詳しくは、イオンポンプを備えたペルチェ冷却型半導体X線検出器において、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、イオンポンプを容易に起動可能にしたペルチェ冷却型半導体X線検出器に関する。 The present invention relates to a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector, and more particularly, in a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector equipped with an ion pump, even if the pressure in the vacuum vessel rises above the ion pump starting pressure. The present invention relates to a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector capable of easily starting an ion pump.
従来、X線検出のための半導体X線検出センサと、半導体X線検出センサを電子冷却するためのペルチェ素子と、半導体X線検出センサおよびペルチェ素子を収容する真空容器と、真空容器内を高真空にするための真空ポンプとを具備したX線検出器が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
半導体X線検出センサをペルチェ素子で冷却するペルチェ冷却型半導体X線検出器では、真空容器内の真空度が低下するとペルチェ素子の冷却能力が低下して半導体X線検出センサの温度が上昇し、検出性能が下がってしまう。そこで、上記従来のX線検出器では、真空ポンプを備えて、高真空を維持するようにしている。
この真空ポンプとしては、振動がなく小型であるという理由からイオンポンプを用いることが好ましい。
しかし、ペルチェ冷却型半導体X線検出器を長期間使用していないと、ガスが真空容器の内部で放出されたり外部から侵入してくるため、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力(例えば1Pa)より上昇してしまって、イオンポンプを起動できなくなり、この結果、ペルチェ冷却型半導体X線検出器を使用できなくなってしまう問題点があった。
そこで、本発明の目的は、イオンポンプを備えたペルチェ冷却型半導体X線検出器において、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、イオンポンプを容易に起動可能にしたペルチェ冷却型半導体X線検出器を提供することにある。
In a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector that cools a semiconductor X-ray detection sensor with a Peltier element, when the degree of vacuum in the vacuum vessel decreases, the cooling capacity of the Peltier element decreases and the temperature of the semiconductor X-ray detection sensor rises. Detection performance decreases. Therefore, the conventional X-ray detector includes a vacuum pump to maintain a high vacuum.
As this vacuum pump, it is preferable to use an ion pump because it is free from vibration and is compact.
However, if the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector is not used for a long period of time, the gas is released inside the vacuum vessel or enters from the outside. ), The ion pump cannot be started, and as a result, the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector cannot be used.
Therefore, an object of the present invention is to make it possible to easily start the ion pump even if the pressure in the vacuum vessel is higher than the starting pressure of the ion pump in the Peltier cooled semiconductor X-ray detector provided with the ion pump. The object is to provide a Peltier cooled semiconductor X-ray detector.
第1の観点では、本発明は、X線検出のための半導体X線検出センサと、前記半導体X線検出センサを電子冷却するためのペルチェ素子と、前記半導体X線検出センサおよび前記ペルチェ素子を収容する真空容器と、前記真空容器内を高真空にするためのイオンポンプと、前記真空容器内をイオンポンプ起動圧力以下にするための真空容器内冷却手段とを具備したことを特徴とするペルチェ冷却型半導体X線検出器を提供する。
上記第1の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器によるペルチェ冷却型半導体X線検出器では、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、真空容器内冷却手段を作動させることにより真空容器内のガスをコールドトラップし、真空容器内の圧力をイオンポンプ起動圧力以下にすることが出来る。従って、イオンポンプが起動可能となり、真空容器内の圧力を必要な高真空にすることが出来る。
なお、真空容器内の圧力をイオンポンプ起動圧力より下げる時にだけ真空容器内冷却手段を使えばよいから、真空容器内冷却手段の使用は非常時に限られ、ランニングコストを抑制することが出来る。
In a first aspect, the present invention provides a semiconductor X-ray detection sensor for X-ray detection, a Peltier element for electronically cooling the semiconductor X-ray detection sensor, the semiconductor X-ray detection sensor, and the Peltier element. A Peltier device comprising: a vacuum container to be housed; an ion pump for making the inside of the vacuum container a high vacuum; and a means for cooling the inside of the vacuum container to make the inside of the vacuum container not more than an ion pump starting pressure. A cooled semiconductor X-ray detector is provided.
In the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector using the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the first aspect, the vacuum vessel cooling means is operated even if the pressure in the vacuum vessel rises above the ion pump starting pressure. By doing so, the gas in the vacuum vessel can be cold trapped, and the pressure in the vacuum vessel can be made lower than the ion pump starting pressure. Accordingly, the ion pump can be started, and the pressure in the vacuum vessel can be set to a necessary high vacuum.
Since the vacuum container cooling means only needs to be used when the pressure in the vacuum container is lower than the ion pump starting pressure, the use of the vacuum container cooling means is limited to an emergency and the running cost can be suppressed.
第2の観点では、本発明は、前記真空容器内冷却手段は、液体窒素トラップであることを特徴とする前記第1の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器を提供する。
上記第2の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器では、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、液体窒素トラップに液体窒素を入れることにより真空容器内のガスをトラップし、真空容器内の圧力をイオンポンプ起動圧力以下にすることが出来る。従って、イオンポンプが起動可能となり、真空容器内の圧力を必要な高真空にすることが出来る。
なお、真空容器内の圧力をイオンポンプ起動圧力より下げる時にだけ液体窒素トラップを使えばよいから、液体窒素の使用は非常時に限られ、使用量が少なくて済み、ランニングコストを抑制することが出来る。
In a second aspect, the present invention provides the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the first aspect, wherein the vacuum vessel cooling means is a liquid nitrogen trap.
In the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the second aspect, even if the pressure in the vacuum vessel rises above the ion pump starting pressure, the gas in the vacuum vessel is changed by putting liquid nitrogen into the liquid nitrogen trap. It is possible to trap the pressure inside the vacuum vessel to be lower than the ion pump starting pressure. Accordingly, the ion pump can be started, and the pressure in the vacuum vessel can be set to a necessary high vacuum.
In addition, since it is sufficient to use a liquid nitrogen trap only when the pressure in the vacuum vessel is lowered below the ion pump starting pressure, the use of liquid nitrogen is limited to an emergency, and the amount used can be reduced, and the running cost can be suppressed. .
第3の観点では、本発明は、前記真空容器内冷却手段は、冷凍機接続手段であることを特徴とする前記第1の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器を提供する。
上記第3の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器では、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまい、イオンポンプが起動できなくなってしまったとき、液体窒素温度まで冷却可能な冷凍機を外部から接続し、真空容器内の冷凍機接続口が冷却されることにより、真空容器内のガスをコールドトラップし、真空容器内の圧力をイオンポンプ起動圧力以下にすることが出来る。従って、イオンポンプが起動可能となり、真空容器内の圧力を必要な高真空にすることが出来る。
In a third aspect, the present invention provides the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the first aspect, wherein the vacuum container cooling means is a refrigerator connecting means.
In the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the third aspect, when the pressure in the vacuum vessel rises above the ion pump starting pressure and the ion pump cannot be started, it can be cooled to the liquid nitrogen temperature. By connecting the refrigerator from the outside and cooling the refrigerator connection port in the vacuum vessel, the gas in the vacuum vessel can be cold trapped, and the pressure in the vacuum vessel can be made lower than the ion pump starting pressure. Accordingly, the ion pump can be started, and the pressure in the vacuum vessel can be set to a necessary high vacuum.
第4の観点では、本発明は、前記第3の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器において、前記真空容器内の冷凍機接続口の部分に吸着剤を取り付けたことを特徴とするペルチェ冷却型半導体X線検出器を提供する。
上記第4の観点によるペルチェ冷却型半導体X線検出器では、吸着剤が真空容器内のガスを吸着するため、真空容器内の圧力上昇を抑制することが出来る。また、液体窒素トラップを作動させた時は、吸着剤が液体窒素トラップで冷却され、高い効率でガスを吸着する。
In a fourth aspect, the present invention relates to a Peltier cooling characterized in that, in the Peltier cooling type semiconductor X-ray detector according to the third aspect, an adsorbent is attached to a part of a refrigerator connection port in the vacuum vessel. A type semiconductor X-ray detector is provided.
In the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector according to the fourth aspect, since the adsorbent adsorbs the gas in the vacuum vessel, the pressure increase in the vacuum vessel can be suppressed. Further, when the liquid nitrogen trap is operated, the adsorbent is cooled by the liquid nitrogen trap and adsorbs the gas with high efficiency.
本発明のペルチェ冷却型半導体X線検出器によれば、真空ポンプとしてイオンポンプを用いることが出来ると共に、真空容器内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、イオンポンプを容易に起動できるようになる。 According to the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector of the present invention, an ion pump can be used as a vacuum pump, and even if the pressure in the vacuum vessel rises higher than the ion pump starting pressure, the ion pump can be easily It can be started.
以下、図に示す実施例により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the embodiments shown in the drawings. Note that the present invention is not limited thereby.
図1は、実施例1に係るペルチェ冷却型半導体X線検出器100の構成を示す模式的断面図である。
このペルチェ冷却型半導体X線検出器100は、窓1から入射するX線を検出するための半導体X線検出センサ2と、半導体X線検出センサ2の出力信号を増幅するFET3と、半導体X線検出センサ2やFET3を冷却するための伝熱部材4および多段ペルチェ素子モジュール5と、多段ペルチェ素子モジュール5から排熱するためのヒートシンク6と、半導体X線検出センサ2や多段ペルチェ素子モジュール5などを収容する真空容器7と、真空容器7の真空度を高真空に維持するためのイオンポンプ8と、真空容器7内をイオンポンプ起動圧力以下にするための液体窒素トラップ9と、液体窒素トラップ9の真空容器7内の部分に取り付けた吸着剤10とを具備している。なお、液体窒素トラップ9は、本発明における真空容器内冷却手段に相当する。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration of a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 100 according to the first embodiment.
The Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 100 includes a semiconductor
半導体X線検出センサ2は、Si(Li)素子である。PINダイオード,SDD(Silicon Drift Detector)、高純度シリコン素子または高純度ゲルマニウム素子を用いてもよい。
The semiconductor
吸着剤10は、活性炭である。他の炭素系,シリカ系,アルミナ系などの吸着剤を用いてもよい。その他真空容器内に残存する物質を捕獲する機能を有する限りにおいて、吸着剤の材料及び構造を種々変更可能である。 The adsorbent 10 is activated carbon. Other adsorbents such as carbon, silica, and alumina may be used. In addition, the material and structure of the adsorbent can be variously changed as long as it has a function of capturing the substance remaining in the vacuum vessel.
ペルチェ冷却型半導体X線検出器100の組立てに際しては、予めベーキング処理を行った部品を組み付けた後、ベーキング処理を行いながら真空引きし、所定の真空度で封止する。 When the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 100 is assembled, the parts that have been previously baked are assembled and then evacuated while being baked, and sealed at a predetermined degree of vacuum.
実施例1のペルチェ冷却型半導体X線検出器100によれば、次の効果が得られる。
(1)振動がなく小型のイオンポンプを用いることが出来る。
(2)真空容器7の内部でガスが放出されたり、外部からガスが侵入してきても、真空容器7内に入れている吸着剤10により吸着されるので、真空度の経時的低下を遅くすることが出来る。
(3)真空容器7内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、液体窒素トラップ9に液体窒素Nを入れてイオンポンプ起動圧力以下にすることにより、イオンポンプ8を容易に起動できる。
(4)液体窒素トラップ9を作動させた時は、吸着剤10が液体窒素トラップ9で冷却され、高い効率でガスを吸着するから、真空容器7内の圧力をイオンポンプ起動圧力以下に下げる信頼性が増す。
According to the Peltier cooling type semiconductor X-ray detector 100 of the first embodiment, the following effects can be obtained.
(1) A small ion pump without vibration can be used.
(2) Even if gas is released inside the vacuum vessel 7 or gas enters from the outside, it is adsorbed by the adsorbent 10 contained in the vacuum vessel 7, thereby slowing down the degree of vacuum over time. I can do it.
(3) Even if the pressure in the vacuum vessel 7 rises above the ion pump starting pressure, the
(4) When the liquid nitrogen trap 9 is operated, the
図2は、実施例2に係るペルチェ冷却型半導体X線検出器200の構成を示す模式的断面図である。
このペルチェ冷却型半導体X線検出器200は、窓1から入射するX線を検出するための半導体X線検出センサ2と、半導体X線検出センサ2の出力信号を増幅するFET3と、半導体X線検出センサ2やFET3を冷却するための伝熱部材4および多段ペルチェ素子モジュール5と、多段ペルチェ素子モジュール5から排熱するためのヒートシンク6と、半導体X線検出センサ2や多段ペルチェ素子モジュール5などを収容する真空容器7と、真空容器7の真空度を高真空に維持するためのイオンポンプ8と、真空容器7内をイオンポンプ起動圧力以下にするための冷凍機接続口20と、冷凍機接続口20の真空容器7内の部分に取り付けた吸着剤21とを具備している。なお、冷凍機接続口20は、本発明における真空容器内冷却手段に相当する。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration of a Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 200 according to the second embodiment.
The Peltier cooled semiconductor X-ray detector 200 includes a semiconductor
半導体X線検出センサ2は、Si(Li)素子である。PINダイオード,SDD(Silicon Drift Detector)、高純度シリコン素子または高純度ゲルマニウム素子を用いてもよい。
The semiconductor
吸着剤21は、活性炭である。他の炭素系,シリカ系,アルミナ系などの吸着剤を用いてもよい。その他真空容器内に残存する物質を捕獲する機能を有する限りにおいて、吸着剤の材料及び構造を種々変更可能である。 The adsorbent 21 is activated carbon. Other adsorbents such as carbon, silica, and alumina may be used. In addition, the material and structure of the adsorbent can be variously changed as long as it has a function of capturing the substance remaining in the vacuum vessel.
ペルチェ冷却型半導体X線検出器200の組立てに際しては、予めベーキング処理を行った部品を組み付けた後、ベーキング処理を行いながら真空引きし、所定の真空度で封止する。 When assembling the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 200, after assembling parts that have been baked in advance, the parts are evacuated while being baked and sealed at a predetermined degree of vacuum.
実施例2のペルチェ冷却型半導体X線検出器200によれば、次の効果が得られる。
(1)振動がなく小型のイオンポンプを用いることが出来る。
(2)真空容器7の内部でガスが放出されたり、外部からガスが侵入してきても、真空容器7内に入れている吸着剤21により吸着されるので、真空度の経時的低下を遅くすることが出来る。
(3)真空容器7内の圧力がイオンポンプ起動圧力より上昇してしまっても、液体窒素温度まで冷却可能な冷凍機23を外部から接続し、真空容器内の冷凍機接続口20が冷却されることにより、真空容器内のガスをトラップし、イオンポンプ起動圧力以下にすることにより、イオンポンプ8を容易に起動できる。
(4)液体窒素温度まで冷却可能な冷凍機を外部から接続し、真空容器内の冷凍機接続口20が冷却された時は、吸着剤21が冷却され、高い効率でガスを吸着するから、真空容器7内の圧力をイオンポンプ起動圧力以下に下げる信頼性が増す。
According to the Peltier-cooled semiconductor X-ray detector 200 of the second embodiment, the following effects can be obtained.
(1) A small ion pump without vibration can be used.
(2) Even if gas is released inside the vacuum vessel 7 or gas enters from the outside, it is adsorbed by the adsorbent 21 contained in the vacuum vessel 7, thereby slowing down the degree of vacuum over time. I can do it.
(3) Even if the pressure in the vacuum vessel 7 rises above the ion pump starting pressure, the
(4) When a refrigerator that can be cooled to liquid nitrogen temperature is connected from the outside and the
以上本発明の実施例1、2について説明したが、本発明における真空容器内冷却手段として、前記真空容器内をイオンポンプ起動圧力以下にする機能を有する限りにおいて、他の公知の冷却手段を適宜採用することが出来る。
Although
本発明のペルチェ冷却型半導体X線検出器は、エネルギー分散型X線分析装置の検出器として利用することが出来る。 The Peltier-cooled semiconductor X-ray detector of the present invention can be used as a detector for an energy dispersive X-ray analyzer.
1 窓
2 半導体X線検出センサ
3 FET
4 伝熱部材
5 多段ペルチェ素子モジュール
6 ヒートシンク
7 真空容器
8 イオンポンプ
9 液体窒素トラップ
10 吸着剤
20 冷凍機接続口
23 冷凍機
100,200 ペルチェ冷却型半導体X線検出器
1
4 Heat transfer member 5 Multi-stage Peltier element module 6 Heat sink 7
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