JP5098067B2 - Quantification standardized microscope equipment - Google Patents
Quantification standardized microscope equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP5098067B2 JP5098067B2 JP2007054950A JP2007054950A JP5098067B2 JP 5098067 B2 JP5098067 B2 JP 5098067B2 JP 2007054950 A JP2007054950 A JP 2007054950A JP 2007054950 A JP2007054950 A JP 2007054950A JP 5098067 B2 JP5098067 B2 JP 5098067B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- index
- pixel
- sample
- block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000011002 quantification Methods 0.000 title claims description 41
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 245
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 197
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 95
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 60
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 46
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 12
- 241000894006 Bacteria Species 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 43
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 27
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 24
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 20
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 19
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 18
- 210000000265 leukocyte Anatomy 0.000 description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 12
- 244000005700 microbiome Species 0.000 description 11
- 241000194017 Streptococcus Species 0.000 description 9
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 9
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 8
- 208000005888 Periodontal Pocket Diseases 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 7
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 5
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 241000194019 Streptococcus mutans Species 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 241000193830 Bacillus <bacterium> Species 0.000 description 2
- 241000588653 Neisseria Species 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 2
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 2
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 description 2
- 210000000981 epithelium Anatomy 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 241000238876 Acari Species 0.000 description 1
- 241000304886 Bacilli Species 0.000 description 1
- 241000669069 Chrysomphalus aonidum Species 0.000 description 1
- 241000605861 Prevotella Species 0.000 description 1
- 241001135221 Prevotella intermedia Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000002902 bimodal effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 210000003743 erythrocyte Anatomy 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 210000000214 mouth Anatomy 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000008363 phosphate buffer Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 210000003296 saliva Anatomy 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
本発明は、顕微鏡計測における定量化などに関する技術である。
The present invention is a technique related to quantification in microscopic measurement.
従来の定量化技術は、血球計算盤のようにスライドグラスやカバーグラスに格子が印記されており、この格子の範囲と、深さにより定量化がなされていた。
In the conventional quantification technique, a grid is marked on a slide glass or a cover glass like a hemocytometer, and the quantification is performed based on the range and depth of the grid.
従来の定量化技術は、スライドグラスやカバーグラスに格子を印記する必要があった。そのため格子間隔を変更するには、別の格子を印記したスライドグラスやカバーグラスを用意しないといけなく、同一試料にて種々の格子を使用できなかった。またスライドグラスやカバーグラスに格子を印記するために製造に手間がかかったり、それゆえに非常に高価であった。さらに格子以外の定量化技術はなかった。
Conventional quantification techniques required the marking of a grid on a slide glass or cover glass. Therefore, in order to change the lattice spacing, it is necessary to prepare a slide glass or cover glass on which another lattice is marked, and various lattices cannot be used with the same sample. In addition, since the grid is marked on the slide glass or the cover glass, it takes a lot of time for manufacturing, and therefore, it is very expensive. Furthermore, there was no quantification technique other than the lattice.
1〔請求項1の手段〕
請求項1の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段とを
備える事を特徴とする。
2〔請求項2の手段〕
請求項2の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段とを、
備える事を特徴とする。
3〔請求項3の手段〕
請求項3の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段と
前記電子格子と前記試料画像を重ね合わせるための重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)とを、
備える事を特徴とする。
4〔請求項4の手段〕
請求項4の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とする。
5〔請求項5の手段〕
請求項5の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標をもとに指標座標を検出する座標検出手段と、
前記指標により得られた絶対位置情報と、
または、
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報と、
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報と、
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とする。
6〔請求項6の手段〕
請求項6の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などよりの採取試料を定量化するための採取定量手段として連円探針を備えることを特徴とする。
7〔請求項7の手段〕
請求項7の定量化規格化顕微鏡装置は、
特定の細菌を認識するための画像認識手段を備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
1 [Means of Claim 1]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 1 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
The coordinates of the point index are (index) a coordinate detection means that uses either the center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels.
It is characterized by providing.
2 [Means of claim 2]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 2 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on the index position information from the coordinate detection means means;
It is characterized by providing.
3 (Means of claim 3)
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 3 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on index position information from the coordinate detection means means;
Overlaying means (overlap means) for superimposing the electron lattice and the sample image,
It is characterized by providing.
4 (Means of claim 4)
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 4 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grating having a constant pitch installed in the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the image, or
Using any one or a combination of (absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid ,
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
It is characterized by providing.
5 (Means of Claim 5)
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 5 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grid having a constant pitch installed in the XY stage means and at least one point index installed in the XY stage means;
Coordinate detection means for detecting index coordinates based on the point index;
Absolute position information obtained by the index;
Or
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid, the number of correction grids slightly different from the number of blocks in the block image is captured as a video, whereby the imaging pixel pitch and the index (pixel) block image are captured. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the beat image obtained by the amount of the deviation due to the slight deviation of the pitch,
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change in the correction grid;
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
It is characterized by providing.
6 (Means of claim 6)
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 6 is:
A continuous probe is provided as a collection and quantification means for quantifying a sample collected from a living body or the like.
7 (Means of Claim 7)
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 7 is:
A quantification standardized microscope apparatus comprising an image recognition means for recognizing a specific bacterium.
1〔請求項1の作用および効果〕
請求項1の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段とを
備える事を特徴とするので、
従来の位置決め精度の分解能Rより小さな分解能が得られる。これにより位置決め精度、各種試料計測が向上する。
2〔請求項2の作用および効果〕
請求項2の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段とを、
備える事を特徴とするので、
従来の位置決め精度の分解能Rより小さな分解能が得られる。これにより位置決め精度が向上する。またその精度のよい位置情報より得られた電子格子により、試料の位置、形状、深さなどの計測がより精度よくできる。
3〔請求項3の作用および効果〕
請求項3の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段と
前記電子格子と前記試料画像を重ね合わせるための重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)とを、
備える事を特徴とするので、
従来の位置決め精度の分解能Rより小さな分解能が得られる。これにより位置決め精度が向上する。またその精度のよい位置情報より得られた電子格子により、試料画像との対比による計測が、さらに精度よくできる。
4〔請求項4の作用および効果〕
請求項4の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とするので、
電子格子補正手段により従来の位置決め精度の分解能Rより、1桁程度以上の小さな分解能が得られる。これにより位置決め精度、各種試料計測が向上する。
5〔請求項5の作用および効果〕
請求項5の定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標をもとに指標座標を検出する座標検出手段と、
前記指標により得られた絶対位置情報と、
または、
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報と、
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報と、
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とするので、
電子子格子補正手段と光点追跡指標検出により従来の位置決め精度の分解能Rより、1桁程度以上の小さな分解能と、位置決めのスムーズ性、容易性などが得られる。これにより位置決め精度、各種試料計測、操作性などが向上する。
6〔請求項6の作用および効果〕
定量化規格化顕微鏡装置は、
生体などよりの採取試料を定量化するための採取定量手段として連円探針を備えることを特徴とするので、連円による定量的かつ連続的にサンプリングされた試料により、体積、細胞個数、個数速度などが定量的に計測できる。
7〔請求項7の作用および効果〕
請求項7の定量化規格化顕微鏡装置は、
特定の細菌を認識するための画像認識手段を備えることを特徴とするので、
P.I.やStmなどを始めとした、特定の細菌が計測、検査、診断できる。
旧 発明の作用および効果
1〔請求項1の作用および効果〕
請求項1の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は、
指標手段と
指標検出手段と
を備える事を特徴とするので、
定量計測できる。この定量計測により試料の長さ、面積、数、大きさ、速度、加速度、動きなどの種々な情報が得られる。
さらに
指標検出手段により試料ステージの位置を検出できる。
これにより試料位置に対応した画像をいつでも検出、検索できる。
2〔請求項2の作用および効果〕
請求項2の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は、
前記指標手段などや、指標検出手段などを使用するなどして、
微生物、組織、赤血球、白血球などの被観察物にける(定量)計測を行う定量計測手段を備える事を特徴とするので、(定量)計測ができる。
この定量計測により試料の長さ、面積、数、大きさ、速度、加速度、動きなどの種々な情報が得られる。特に1次元または2次元での計測を精度良く計測できる。
3〔請求項3の作用および効果〕
請求項3の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は
深さが既知のカバーグラスまたはスライドグラスのいずれかを備えた3次元定量計測手段を備えるので、密度などの3次元定量計測ができる。
4〔請求項4の作用および効果〕
請求項4の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は
試料の厚みを計測できる厚み計測手段を備えた3次元定量計測手段を備える事を特徴とするので、密度などの3次元定量計測ができる。
5〔請求項5の作用および効果〕
請求項5の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は
電子格子補正手段を備えるので、さらに精度の高い定量計測ができる。
さらに、いちいち格子付きのカバーグラスや格子付きのスライドグラスを使用しなくてもよい。これによりランニングコストも低いし、格子による位相の乱れや画質の低下もない。
6〔請求項6の作用および効果〕
請求項6の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は、
採取定量手段を備えることを特徴とするので、採取物が定量化されているので、さらに精度が上がる。また採取定量手段の採取形状により歯周ポケットの液相(流動、半流動も含む)とプラーク相(層)を選択し採取できる。また歯周ポケットの任意の位置からの試料採取もできる。
さらに定量的なサンプリングができる。
これにより母集団の絶対値などを計測できるので、さらに精度が上がる。
7〔請求項7の作用および効果〕
請求項7の定量化規格化(位相差)顕微鏡装置は、
少なくとも蛍光手段または分光手段などによる電磁波分析あるいは、運動分析手段による運動分析などによる性状手段を備えることを特徴とするので、微生物などの観察物の性状(分光特性、蛍光特性、運動特性など)にて、試料画像中の微生物などの観察物を特定する事ができる。
1 [Operation and effect of claim 1]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 1 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
The center of gravity of the last converging blocks of the coordinates of the point indicators (indicators) point tracking means (device), so it characterized that and a coordinate detection unit to use either of the individual pixels,
A resolution smaller than the resolution R of the conventional positioning accuracy can be obtained. This improves positioning accuracy and various sample measurements.
2 [Operation and effect of claim 2]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 2 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on the index position information from the coordinate detection means means;
Since it is characterized by providing,
A resolution smaller than the resolution R of the conventional positioning accuracy can be obtained. This improves the positioning accuracy. Further, the position, shape, depth, and the like of the sample can be measured with higher accuracy by using the electronic lattice obtained from the accurate position information.
3 [Operation and effect of claim 3]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 3 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on index position information from the coordinate detection means means;
Overlaying means (overlap means) for superimposing the electron lattice and the sample image,
Since it is characterized by providing,
A resolution smaller than the resolution R of the conventional positioning accuracy can be obtained. This improves the positioning accuracy. In addition, measurement by comparison with the sample image can be performed with higher accuracy by the electron grid obtained from the position information with high accuracy.
4 [Operation and effect of claim 4]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 4 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grating having a constant pitch installed in the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the image, or
Using any one or a combination of (absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid ,
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
Since it is characterized by providing,
The electronic lattice correction means can obtain a resolution of about one digit smaller than the conventional resolution R of the positioning accuracy. This improves positioning accuracy and various sample measurements.
5 [Operation and effect of claim 5]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 5 is:
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grid having a constant pitch installed in the XY stage means and at least one point index installed in the XY stage means;
Coordinate detection means for detecting index coordinates based on the point index;
Absolute position information obtained by the index;
Or
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid, the number of correction grids slightly different from the number of blocks in the block image is captured as a video, whereby the imaging pixel pitch and the index (pixel) block image are captured. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the beat image obtained by the amount of the deviation due to the slight deviation of the pitch,
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change in the correction grid;
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
Since it is characterized by providing,
By using the electron lattice correction means and the light spot tracking index detection, it is possible to obtain a resolution that is smaller by one digit or more than the conventional resolution R of positioning accuracy, smoothness and ease of positioning. This improves positioning accuracy, various sample measurements, operability, and the like.
6 [Operation and effect of claim 6]
Quantification standardized microscope equipment
Since, characterized in that it comprises a continuous circular probe as a collecting quantitative means to quantify the collected samples from such organism, by quantitative and continuously sampled samples by continuous circle, volume, cell number, the number Speed can be measured quantitatively.
7 [Operation and effect of claim 7]
The quantified standardized microscope apparatus according to claim 7 is:
Since it is equipped with image recognition means for recognizing specific bacteria ,
P. I. Specific bacteria such as and Stm can be measured, tested, and diagnosed.
Action and Effect 1 of the Old Invention [Action and Effect of Claim 1]
The quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to claim 1 is:
Since it is characterized by comprising index means and index detection means,
Quantitative measurement is possible. By this quantitative measurement, various information such as the length, area, number, size, speed, acceleration, and movement of the sample can be obtained.
Further, the position of the sample stage can be detected by the index detection means.
Thereby, an image corresponding to the sample position can be detected and searched at any time.
2 [Operation and effect of claim 2]
The quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to claim 2 is:
By using the index means, the index detection means, etc.
Since it is characterized by comprising quantitative measurement means for performing (quantitative) measurement on an observation object such as microorganisms, tissues, red blood cells, and white blood cells, (quantitative) measurement can be performed.
By this quantitative measurement, various information such as the length, area, number, size, speed, acceleration, and movement of the sample can be obtained. In particular, one-dimensional or two-dimensional measurement can be measured with high accuracy.
3 [Operation and effect of claim 3]
Since the quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to the third aspect includes a three-dimensional quantitative measurement means provided with either a cover glass or a slide glass having a known depth, three-dimensional quantitative measurement such as density can be performed.
4 [Operation and effect of claim 4]
The quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to claim 4 is characterized by comprising a three-dimensional quantitative measurement means provided with a thickness measurement means capable of measuring the thickness of the sample, so that three-dimensional quantitative measurement such as density can be performed. .
5 [Operation and effect of claim 5]
Since the quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to the fifth aspect includes the electronic lattice correction means, more accurate quantitative measurement can be performed.
Furthermore, it is not necessary to use a cover glass with a lattice or a slide glass with a lattice. As a result, the running cost is low, and there is no phase disturbance or image quality degradation due to the grating.
6 [Operation and effect of claim 6]
The quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to claim 6 is:
Since the collection quantification means is provided, the accuracy is further improved because the collected material is quantified. In addition, the liquid phase (including flow and semi-flow) and plaque phase (layer) of the periodontal pocket can be selected and collected according to the collection shape of the collection and quantification means. Samples can also be collected from any position in the periodontal pocket.
Furthermore, quantitative sampling is possible.
As a result, the absolute value of the population can be measured, which further increases the accuracy.
7 [Operation and effect of claim 7]
The quantification standardization (phase difference) microscope apparatus according to claim 7 is:
Since it is characterized by having at least electromagnetic wave analysis by fluorescence means or spectroscopic means, or property means by motion analysis by motion analysis means, etc., it is suitable for the properties (spectral characteristics, fluorescence characteristics, motion characteristics, etc.) of observation objects such as microorganisms. Thus, an observation object such as a microorganism in the sample image can be specified.
本発明の定量化規格化顕微鏡装置を、図1〜図8に示す実施例または変形例に基づき説明する。
Quantification normalized microscope apparatus of the present invention, will be described with reference to embodiments or variations shown in FIGS. 1-8.
〔実施例の構成〕
図1において定量化規格化顕微鏡装置は、
電子格子手段を少なくとも備える。
[Configuration of Example]
Quantification normalized microscope apparatus in Fig. 1,
At least an electronic lattice means is provided.
[動作]
電源をONにすると
試料映像に電子格子が表示される。図4下図、図8など
[Operation]
When the power is turned on, an electronic grid is displayed on the sample image. 4 lower figure, FIG. 8, etc.
[効果]
電子格子により、試料の大きさなどがわかる。
[effect]
The size of the sample can be determined by the electron lattice.
[変形例]
電子格子以外に、定規状のスケール、分度器状のスケール、円形スケール、三角スケール、円弧スケール、多角スケールなどの電子スケールを表示しても良い。
また後述の電子格子補正手段を備えて格子の精度、動きなどを改善しても良い。
[Modification]
In addition to the electronic lattice, an electronic scale such as a ruler scale, a protractor scale, a circular scale, a triangular scale, an arc scale, and a polygon scale may be displayed.
In addition, an electronic lattice correction means described later may be provided to improve the accuracy and movement of the lattice.
第1実施例の定量化規格化顕微鏡装置は、少なくとも定量計測手段をを備える。
Quantification normalized microscope apparatus of the first embodiment is provided with at least quantitatively measuring means.
[第1実施例の形態]
第1実施例は、定量化規格化顕微鏡装置による定量化計測を実施の形態とする。
[First Embodiment]
The first embodiment is directed to embodiments quantification measurement by quantification normalized microscope apparatus.
[構成]
図1における定量化規格化位相差顕微鏡装置は、
定量計測手段を備える事を特徴とする。
[Constitution]
The quantified standardized phase contrast microscope apparatus in FIG.
It is characterized by having a quantitative measurement means .
ここで定量計測手段は、少なくとも
Here, the quantitative measurement means is at least
試料画像に対する電子格子情報を得るための指標となる指標手段を試料ステージ手段に備え、さらに被計測物である試料を保持する試料保持手段を有する事を特徴とする前記試料ステージ手段(望ましくは、X一方向、X−Yにおける2方向、またはX−Y−Zの3方向などに位置を可変できるステージが望ましい。)と、
前記試料ステージ(手段)に備えられている指標(手段)を検出し、その指標に基づき試料映像に電子格子を描画(生成)するための電子格子情報などを検出する指標検出手段と
前記電子格子情報(主に試料映像に対する電子格子の絶対的位置情報または相対的位置情報)に従い、試料映像に対して特定の大きさ、形の電子格子を発生させる電子格子手段と
前記試料ステージ(手段)に保持された前記試料を撮影する試料撮像手段と
前記試料映像を撮影し画像表示する(画素)ブロック画像手段と
前記電子格子と前記試料画像を重ね合わせるための重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)
とを備える事を特徴とする。
The sample stage means (preferably, provided with an index means serving as an index for obtaining electronic lattice information for a sample image, and further having a sample holding means for holding a sample as an object to be measured. A stage whose position can be changed in one direction of X, two directions in XY, or three directions of XYZ is desirable).
Index detecting means for detecting an index (means) provided in the sample stage (means) and detecting electronic lattice information for drawing (generating) an electronic lattice on a sample image based on the index ;
An electron lattice means for generating an electron lattice of a specific size and shape for the sample image according to the electron lattice information (mainly absolute position information or relative position information of the electron lattice with respect to the sample image);
Sample imaging means for imaging the sample held on the sample stage (means);
(Pixel) block image means for photographing the sample video and displaying the image ;
Superposition means (overlap means) for superimposing the electron lattice and the sample image
It is characterized by having.
実施例1においては、
試料ステージの指標を検出する指標検出手段は、少なくとも、
試料ステージに描かれた(印記された)指標手段と、
指標を撮影する指標撮像手段(ここではCCDカメラ)と、
指標撮像手段からの映像を(画素)ブロック画像にする(画素)ブロック画像手段
(キャプチャー手段(A/D変換手段)を使用)と、
前記(画素)ブロック画像に映っている指標の座標(指標が写っている画素またはブロック画像における特定の画素または特定のブロック画像)を検出する既知の座標検出手段(この情報は、電子格子の相対位置情報や絶対位置情報となる。)と、
を備える。
In Example 1,
The index detection means for detecting the index of the sample stage is at least:
Indicator means drawn (marked) on the sample stage;
Index imaging means for imaging the index (CCD camera here),
(Pixel) block image means for converting the image from the index imaging means into a (pixel) block image
(Using capture means (A / D conversion means));
Known coordinate detection means for detecting the coordinates of the index shown in the (pixel) block image (the pixel in which the index is shown or a specific pixel or a specific block image in the block image) Position information and absolute position information)
Is provided.
指標手段は、光点、描画点、穴、線、面、格子(必要に応じて補正格子を含む。)などからなり、それら指標は、指標撮像素子が撮像した映像において、背景画と指標を分離できる指標であればどのような物でも良い。そして指標は、カラーであってもモノクロであってもよい。カラーの場合は、複数の指標を容易に分離して使用できる利点がある。またモノクロの場合は、高分解能を得られやすい。
そして指標は、光点の様に電磁波を輻射する能動的な指標であっても良いし、また描画点のような自身からは何も輻射しない受動的な指標であっても良い。受動的な指標は、普遍的にて保守が簡単である。また能動的指標は、外乱に強い場合が多く、さらに特殊な信号、一例として、信号を搬送することができるので、一例としてステージがある閾値以上動いた場合、格子映像が定まった場合、大きな移動範囲を連続的に計測する中継として使用したり、など毎に信号を送り、動作を制御するのに使用しても良い。
ここでは、試料ステージに印記した点を使用した。
The indicator means includes a light spot, a drawing point, a hole, a line, a surface, a grid (including a correction grid if necessary), etc., and these indexes are used to display a background image and an index in an image captured by the index imaging device. Any index can be used as long as it can be separated. The index may be color or monochrome. In the case of color, there is an advantage that a plurality of indicators can be easily separated and used. In the case of monochrome, it is easy to obtain high resolution.
The index may be an active index that radiates electromagnetic waves like a light spot, or may be a passive index that radiates nothing from itself, such as a drawing point. Passive indicators are universal and easy to maintain. In addition, active indicators are often resistant to disturbances and can carry special signals, for example, signals. For example, if the stage moves beyond a certain threshold, if the grid image is fixed, it moves greatly. It may be used as a relay that continuously measures the range, or may be used to control the operation by sending a signal every time.
Here, the points marked on the sample stage were used.
指標撮像手段は、CCDカメラを使用した。CMOSでもビジコン、サチコンなど撮像手段ならどのような物でも良い。そしてその映像を(画素)ブロック画像手段が、(画素)ブロック画像にする。具体的な一例としては、キャプチャー手段(A/D変換手段)を使用し、後述の一例として720×480ドットの(画素)ブロック画像とする。
A CCD camera was used as the index imaging means . Any imaging means such as a CMOS, a vidicon, or a saticon can be used. Then, the (pixel) block image means converts the video into a (pixel) block image . As a specific example, a capture unit (A / D conversion unit) is used, and a (pixel) block image of 720 × 480 dots is used as an example described later.
前記(画素)ブロック画像の映像に映っている指標の座標を検出する既知の座標検出手段は、前記カメラ映像に存在する指標(光点)を検出する既知の(指標)光点追跡手段(装置)などで指標の座標値を検出する。
この時、既知の光点追跡手段(装置)の1ブロックは、指標撮像手段における映像画素(A/D変換後の最終データとしての画像)3画素以上を1ブロックとして設定し、少なくとも最終収束ブロックにおいては、分解能と視野の関係において、のぞましくは4ブロックまたは、9ブロック程度の構成を採用し、このブロックに対する特定の位置座標、ここでは一例としてブロック中の重心位置の座標を位置座標として使用する。その座標を後述電子格子の計測範囲格子の格子座標に対応させた。
The known coordinate detecting means for detecting the coordinates of the index reflected in the video of the (pixel) block image is a known (index) light spot tracking means (apparatus) for detecting the index (light spot) present in the camera video. ) Etc. to detect the coordinate value of the indicator.
At this time, as one block of the known light spot tracking means (device), 3 pixels or more of image pixels (image as final data after A / D conversion) in the index imaging means are set as one block, and at least the final convergence block In terms of the relationship between resolution and field of view, a configuration of preferably 4 blocks or 9 blocks is adopted, and a specific position coordinate for this block, here, as an example, the position of the center of gravity in the block is the position coordinate. Use as The coordinates were made to correspond to the lattice coordinates of the measurement range lattice of the electronic lattice described later.
この時、この(指標)座標は、既知のキャプチャー手段(A/D変換手段)により変換された画素(A/D変換後の最終データとしての画像)またはドットの集合画像の位置座標を採用した。一例として720×480ドットのキャプチャーなら、(x、y)による2次元直交座標を使用し、原点(0,0)から(720,480)の最高点までの画素の座標である。この時、前記ブロックの重心位置を、この座標値に対応させた。もちろん重心でなくてもよく、一例としてブロックを構成するいづれかの画素の座標値にしてもよい。
At this time, as the (index) coordinates, the position coordinates of a pixel (image as final data after A / D conversion) converted by a known capture means (A / D conversion means) or a collective image of dots are adopted. . For example, in the case of 720 × 480 dot capture, the two-dimensional orthogonal coordinates by (x, y) are used, and the coordinates of the pixel from the origin (0, 0) to the highest point of (720, 480). At this time, the position of the center of gravity of the block was made to correspond to this coordinate value. Of course, it does not have to be the center of gravity, and as an example, it may be the coordinate value of any pixel constituting the block.
ここで、試料映像を画像表示する(画素)ブロック画像手段は、
一例として顕微鏡対物レンズ(ここでは、DIN規格40倍、10倍、20倍、100倍、80倍、60倍のいづれかの対物レンズ)とCCDカメラ(ここでは、1/3インチCCD)などの規格化された試料撮像手段からの試料映像を表示手段にて表示できる映像とする。
規格化されていない試料撮像手段を使用しても良いが、互換性のある前記規格化された試料撮像手段がお薦めで効果的である。なおここでは、特に断りのない場合は、40倍の対物レンズ+1/3インチCCDを使用する。
Here, the (pixel) block image means for displaying the sample video image is:
Microscope objective lens as an example (here, DIN standard 40 times, 10 times, 20 times, 100 times, 80 times, 60 times the Izure of the objective lens) (here, 1/3 inches CCD) and a CCD camera standards such as The sample image from the sampled image pickup means is an image that can be displayed on the display means.
Although non-standardized sample imaging means may be used, the standardized sample imaging means that is compatible is recommended and effective. Here, unless otherwise noted, a 40 × objective lens + 1/3 inch CCD is used.
そして試料撮像手段からの映像を(画素)ブロック画像手段が、同一のキャプチャー手段(A/D変換手段)を使用し、キャプチャー(A/D変換)した画像も同様に720×480ドットの画像とした。そして、
試料映像の視野は、125μm×92μmにて、約0.174μm×約0.192μmの画素ピッチを採用した。(DIN40倍の対物レンズ+1/3インチCCDを使用時)
Then, the image captured from the sample imaging means is captured by the (pixel) block image means using the same capture means (A / D conversion means), and the image captured (A / D conversion) is also an image of 720 × 480 dots. did. And
The field of view of the sample image was 125 μm × 92 μm, and a pixel pitch of about 0.174 μm × about 0.192 μm was adopted. (When using a DIN 40x objective lens + 1/3 inch CCD)
そして指標映像の視野は、ズームレンズにて調整し、12500μm×9200μmに設定した。(一つの指標における移動許容範囲)
この12.5mm×9.2mmは、電子格子の範囲となる。(指標映像の視野範囲でもある。)汎用カバーグラスの18mm×18mmの半分強の面積をカバーしている。
ここで、この範囲を広げるために3カ所程度に指標をおくと良い。一例として、赤、青、緑の指標を間隔25mm程度で印記するなどである。
The field of view of the index image was adjusted with a zoom lens and set to 12,500 μm × 9200 μm. (Moving tolerance in one indicator)
This 12.5 mm × 9.2 mm is the range of the electron lattice. (It is also the visual field range of the index image.) Covers an area of a little over 18 mm × 18 mm of general-purpose cover glass.
Here, in order to widen this range, it is advisable to set indices at about three places. As an example, red, blue, and green indexes are marked with an interval of about 25 mm.
ここでは試料撮像手段と指標撮像手段との両者の違いは、レンズなど光学系の違いのみとした。またここでは、試料撮像手段と指標撮像手段は、同一平面にたいしてその撮像素子面が平行に設置されている。もちろん2つの撮像手段の位置関係が既知であれば、どのような位置関係でも良い。
Here, the difference between the sample imaging means and the index imaging means is only the difference in the optical system such as a lens. Further, here, the sample image pickup means and the index image pickup means are installed such that their image pickup element surfaces are parallel to the same plane. Of course, any positional relationship may be used as long as the positional relationship between the two imaging means is known.
そして電子格子を電子格子手段が発生させる。
具体的には、まず格子間隔すなわち格子の1辺を、ここでは50μmとした。もちろん任意の大きさの格子を発生させても良い。
The electron lattice means generates the electron lattice .
Specifically, first, the lattice interval, that is, one side of the lattice was set to 50 μm here. Of course, a lattice of any size may be generated.
そして、一例としてx方向には、原点からXn= n・{G/(F/Hr)}として、原点から順次、格子線を描画してゆく。Gは、格子の一辺の大きさ、Fは視野長、Hrは、水平方向解像度。Ynの場合は、Hrは、Vr(垂直方向解像度)である。nは、正の整数で、n本目の格子線を表す。
一例としXn=50/(125/720)=288(ドット)など間隔に線を記憶手段などに既知の線分描画手段などにて描画する。
同様に、y方向には、一例としてYn= n・{G/(F/Vr)}とし、一例としてYn=50/(92/480)=261(ドット)間隔に線を記憶手段などに既知の線分描画手段などにて描画する。
ここで使用する記憶手段は、試料画像と同じ解像度を有する同じ配列の画素またはブロック画像を有する記憶手段を使用した。もちろん重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)を兼用するということで、試料画像と同じ記憶手段に描画してもよい。さらに違う解像度の場合は、両者を整合する画像整合手段や解像度整合手段(解像度調整手段)を使用してもよい。
ここで、あらかじめ試料の基準位置と指標の基準位置を整合させて試料映像と指標映像の原点あわせを行っておく。具体的な一例としては、図2のごとく原点(0,0)を定めてその原点時に指標が位置するときに、スライドグラスの左端に視野中央が位置するように指標または指標撮像手段をX−Y方向に移動させて調整する。これは設計時に定め、製造時に前記一例のごとく決められた原点に製造されていればよい。
As an example, in the x direction, grid lines are sequentially drawn from the origin as Xn = n · {G / (F / Hr)} from the origin. G is the size of one side of the lattice, F is the field length, and Hr is the horizontal resolution. In the case of Yn, Hr is Vr (vertical resolution). n is a positive integer and represents the nth lattice line.
As an example, lines are drawn at intervals such as Xn = 50 / (125/720) = 288 (dots) by a known line segment drawing means in the storage means.
Similarly, in the y direction, Yn = n · {G / (F / Vr)} is taken as an example, and Yn = 50 / (92/480) = 261 (dots) is taken as an example. Draw with line segment drawing means.
As the storage means used here, the storage means having the same arrangement of pixels or block images having the same resolution as the sample image was used. Of course, the superimposing means (overlap means) may also be used, so that the image may be drawn on the same storage means as the sample image. In the case of different resolutions, image matching means or resolution matching means (resolution adjustment means) for matching the two may be used.
Here, the reference positions of the sample image and the index image are aligned in advance by aligning the reference position of the sample and the reference position of the index. As a specific example, when the origin (0, 0) is determined as shown in FIG. 2 and the index is positioned at the origin, the index or index imaging means is set to X− so that the center of the visual field is positioned at the left end of the slide glass. Move and adjust in the Y direction. This is determined at the time of design and may be manufactured at the origin determined as in the above example at the time of manufacture.
この場合、記憶手段は、主記憶でも良いが、画像ボードなどの描画様記憶手段であってもよいし、オーバーレイ用の記憶手段でも良い。
そしてその前記電子格子を重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)が前記試料画像に重ね合わせて表示手段に表示する。
重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)は、
前記(画素)ブロック画像手段からの試料映像と前記電子格子手段からの電子格子を重ね合わせる。そして重ね合わせた映像を記憶手段に記憶したり、表示手段に表示したりする。
In this case, the storage means may be main storage, but may be drawing-like storage means such as an image board, or overlay storage means.
The superposing means (overlap means) superimposes the electron lattice on the sample image and displays it on the display means.
The overlapping means (overlap means)
The sample image from the (pixel) block image means and the electron lattice from the electron lattice means are superimposed. The superimposed video is stored in the storage means or displayed on the display means.
ここで、表示手段も同様な解像度の表示手段を使用してもよいが、より高解像度の表示手段を使用してもよい。その時は、表示手段の解像度と試料画像の解像度、および電子格子画像の解像度を整合する画像整合手段を使用する。これらは、既知のGUI(グラフィックユーザーインターフェイス)にて実現してもよい。さらに試料画像と指標画像は、前記倍率が違う場合においても、また同じ場合においても、その比率は一定に設定できるが、表示画像と、前記2画像(試料画像と指標画像)は、比率が変動する場合がある。これらを調整する(解像度)調整手段を重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)が備えても良い。
Here, the display means may use a display means with the same resolution, but may use a display means with a higher resolution. At that time, image matching means for matching the resolution of the display means, the resolution of the sample image, and the resolution of the electronic lattice image is used. These may be realized by a known GUI (graphic user interface). Further, the ratio of the sample image and the index image can be set constant even when the magnification is different or the same, but the ratio of the display image and the two images (the sample image and the index image) varies. There is a case. The superimposing means (overlap means) may be provided with (resolution) adjusting means for adjusting these.
この時、試料ステージを移動させ指標映像の指標の座標を1ドットx方向に移動させると、試料映像の格子は、x方向に100ドット移動する。(試料ステージがx方向に17μm程度移動する。)
同様に指標映像の指標が1ドットy方向にずれると、試料映像の格子は、y方向に100ドット移動する。(y方向に20μm程度移動する。)
At this time, when the sample stage is moved and the index coordinates of the index image are moved in the 1-dot x direction, the lattice of the sample image moves 100 dots in the x-direction. (The sample stage moves about 17 μm in the x direction.)
Similarly, when the index of the index image is shifted by 1 dot in the y direction, the lattice of the sample image moves 100 dots in the y direction. (Moves about 20 μm in the y direction.)
[変形例]
もちろん指標映像の総画素数を増やせば、増やすほどスムーズに格子は移動する。この一例においては、試料撮像手段の10000倍程度の画素を有すると最大限スムーズに格子は、移動する。一方指標映像の倍率を上げてもスムーズに移動するが、同一画素数の撮像素子を採用すれば、視野(格子範囲)が狭くなる。
[Modification]
Of course, if the total number of pixels of the index video is increased, the grid moves more smoothly as the number is increased. In this example, the grid moves as smoothly as possible when it has about 10,000 times as many pixels as the sample imaging means. On the other hand, even if the magnification of the index image is increased, it moves smoothly, but if an image sensor with the same number of pixels is employed, the field of view (grid range) becomes narrower.
ここでこの断続的な動きを、画素を増加せずにでも対応できるように
電子格子補正手段を使用しても良い。
Here, this intermittent movement can be handled without increasing the number of pixels.
Electronic lattice correction means may be used.
電子格子補正手段は、一例として指標映像を構成する(画素)ブロック画像のブロックまたは画素のピッチとやや違うピッチを有する(補正)格子または(補正)線群を試料ステージの指標に近接または指標と重ねて備える。(カラー撮像手段であれば、色を変えて指標と補正格子を分離しても良い。)
これは、一例として(画素)ブロック画像において10画素または10ブロックの長さに対して、映像にして9画素または9ブロック分(に対する実)の長さの補正格子または補正線群9本(一例として黒5本、白4本、両端は、背景色)を試料ステージに補正格子として印記しておく。すると、1画素または1ブロック指標が移動する間に、(画素)ブロック画像の10画素または10ブロックの個々の画素または個々のブロックに順次、補正格子からの映像値が移り変わってゆく。
As an example, the electronic lattice correction means includes a (correction) lattice or a (correction) line group having a slightly different pitch from the block or pixel pitch of the (pixel) block image constituting the index image. Prepare it again. (If it is a color imaging means, the index and the correction grid may be separated by changing the color.)
As an example, for a length of 10 pixels or 10 blocks in a (pixel) block image, nine correction grids or nine correction line groups (as an example) have a length of 9 pixels or 9 blocks (actual). 5 black, 4 white, and the background color at both ends are marked as a correction grid on the sample stage. Then, while one pixel or one block index moves, the video value from the correction grid sequentially changes to each pixel or each block of 10 pixels or 10 blocks of the (pixel) block image.
この条件においては、指標が1画素(1ブロック)動くうちに、すなわち約1/10画素づつまたは約1/10ブロックづつ指標が動く毎に、補正格子の映像の振幅値において、1画素または1ブロック毎にピーク値が(画素の振幅値の中央を0とすると、−ピークとプラスピークが交互に1画素または1ブロックづつ移動していく。)動いてゆく。このピーク値の移動量をもって電子格子の移動量とすれば、1/10毎程度のなめらかな移動量を得ることができる。すなわち、補正格子と画素(ブロック画像)との間に生じるピーク値の1移動量は、この条件にて指標画素の1/10程度の移動量に相当し、この移動量を補正格子手段が移動情報として電子格子手段に伝達し、電子格子を動かすのである。具体的には、指標画素の1移動量は、ここでは、17.5μmで、補正格子手段を使用した時の1移動量は、1.75μmである。かなり電子格子の移動がスムーズとなるのが判る。
前記例では10画素程度であるが、もちろん補正格子は、連続に視野いっぱいに印記してもよいなど、その描画本数に制限はない。またS/N比が許される限度まで補正格子の分解能を上げても良いのはいうまでもない。
Under this condition, every time the index moves by one pixel (one block), that is, every time the index moves by about 1/10 pixel or about 1/10 block, the amplitude value of the image of the correction grid is 1 pixel or 1 The peak value moves for each block (when the center of the amplitude value of the pixel is 0, the-peak and the plus peak are alternately moved by one pixel or one block). If the movement amount of the peak value is used as the movement amount of the electronic lattice, a smooth movement amount of about 1/10 can be obtained. That is, one movement amount of the peak value generated between the correction grid and the pixel (block image) corresponds to about 1/10 of the movement amount of the index pixel under this condition, and the correction grid means moves this movement amount. Information is transmitted to the electronic lattice means to move the electronic lattice. Specifically, the amount of movement of the index pixel is 17.5 μm here, and the amount of movement when the correction grid means is used is 1.75 μm. It can be seen that the movement of the electron lattice is quite smooth.
Although the number of pixels is about 10 in the above example, there is no limitation on the number of lines of the correction grid. It goes without saying that the resolution of the correction grating may be increased to the limit where the S / N ratio is allowed.
この電子格子補正手段を使用して、電子格子手段(電子格子の形や大きさを決める事が出来る。)が上記ピーク値を記憶手段上にてつなぎ大きな格子を描画しても良い。これは、電子格子補正手段が相対的な指標検出手段となり、相対的な座標検出(位置検出)を行う事例である。すなわち試料映像に対する電子格子の相対的位置情報を生成する事である。
一例として前記条件の場合、指標画像にて10画素で1本の線が出現し、この時前記指標撮像手段と試料撮像手段の倍率の違いが100対1であるので、175μm格子が試料映像に描かれることになるので、もし50μmの格子を電子格子手段に指示がだされていれば、50/175=0.286の倍率(縮小倍率)をかけて50μmの格子を試料画像に描画する。(この場合は、相対位置情報の提供となる場合が多い。)
この場合、格子の番号や格子の座標などの(絶対)位置情報が不要なら(絶対)位置を検出する指標は不要であるので、試料ステージに(絶対)位置検出用の指標を印記しなくても良い。
Using this electronic lattice correcting means , the electronic lattice means (which can determine the shape and size of the electronic lattice) may connect the peak values on the storage means to draw a large lattice. This is an example in which the electronic lattice correction unit serves as a relative index detection unit and performs relative coordinate detection (position detection). That is, the relative position information of the electron lattice with respect to the sample image is generated.
As an example, in the case of the above condition, a single line appears in 10 pixels in the index image, and at this time, the difference in magnification between the index imaging unit and the sample imaging unit is 100 to 1, so that a 175 μm grid is included in the sample image. Therefore, if a 50 μm grid is instructed to the electronic grid means, a 50 μm grid is drawn on the sample image by multiplying by 50/175 = 0.286 (reduction magnification). (In this case, the relative position information is often provided.)
In this case, if (absolute) position information such as the grid number or grid coordinates is not required, an index for detecting the (absolute) position is not necessary. Therefore, the (absolute) position detection index is not marked on the sample stage. Also good.
ここで位置情報が必要なら、前記指標により同様に決定してもよいし、また補正格子に空間周波数の変化する補正格子を使用し(絶対)位置情報を得ても良い。この場合、電子格子補正手段が(絶対)位置を検出するタイプの指標検出手段となる。
Here, if position information is necessary, it may be determined in the same manner based on the index, or (absolute) position information may be obtained by using a correction grid whose spatial frequency changes as the correction grid. In this case, the electronic lattice correction means is a type of index detection means for detecting the (absolute) position.
なおy方向も同様に設定すればよいが、正方画素で等間隔サンプリングなら同じとなる。また正方画素(等間隔サンプリング)でない場合は、縦横比を修正する縦横比修正手段にて縦横比を修正し表示手段では、正方格子としても良い。
Note that the y direction may be set in the same manner, but the same is true for square pixels and equally spaced sampling. If the pixel is not a square pixel (equal interval sampling), the aspect ratio may be corrected by the aspect ratio correcting means for correcting the aspect ratio, and the display means may be a square lattice.
ここで、指標座標は、指標座標補正手段によりレンズの歪みを補正した座標を使用するのが望ましい。これは既知のレンズ補正手段を少なくとも備える。
Here, as the index coordinates, it is desirable to use coordinates obtained by correcting lens distortion by the index coordinate correcting means. This comprises at least known lens correction means .
[動作]
図2のごとく、
一例として歯周ポケットから試料を定量採取可能な定量採取手段である縦溝探針(図6)、連円探針(図7)、あるいは定性採取のNo9の探針などを使用し、歯垢(プラーク相またはプラーク層)や液状成分(液相)などの試料をスライドグラスに採取して、必要なら水にて希釈し(常に一定量にて希釈するのが望ましい。)、そして必要ならカバーグラスにて試料を圧接し、試料ステージに載せる。そして試料撮像手段にて試料を撮影する。
そして電源をONにすると、
図4上図のごとく表示手段に試料映像が映し出される。
[Operation]
As shown in FIG.
As an example, a longitudinal groove probe (FIG. 6), a continuous circle probe (FIG. 7), or a qualitative sampling No. 9 probe, which is a quantitative sampling means capable of quantitatively collecting a sample from a periodontal pocket, is used. Samples (plaque phase or plaque layer) or liquid components (liquid phase) are collected in a glass slide, diluted with water if necessary (it is always desirable to dilute at a constant volume), and covered if necessary. Press the sample with a glass and place it on the sample stage. Then, the sample is photographed by the sample imaging means.
And when you turn on the power,
The sample image is displayed on the display means as shown in the upper diagram of FIG.
さらに電子格子をONにすると、図4下図や図8のごとく試料画像と同じ尺度の大きさの電子格子が電子的に映像に描画される。試料の長ささが50μmなら格子の一辺と同じ長さに写る。
When the electronic lattice is further turned ON, an electronic lattice having the same scale size as the sample image is electronically drawn on the video as shown in the lower diagram of FIG. 4 and FIG. If the length of the sample is 50 μm, it appears as the same length as one side of the grating.
そして試料ステージを動かすと、それに伴い試料の観察位置が動く。それとともに指標位置も同様に動き、それに従い電子格子も前記条件に従い動く。 一例としてはXμm、X軸に動くと、電子格子は、Xμm(条件によっては断続的にである。)、X軸に動く。Y軸も同様である。これは術者には、カバーグラスやスライドグラスに格子が描画されているのと同じ様に格子と試料中の微生物などが観察される。
When the sample stage is moved, the observation position of the sample is moved accordingly. At the same time, the index position moves in the same manner, and the electronic lattice moves in accordance with the above conditions. As an example, when moved to X μm and the X axis, the electron lattice moves to the X axis by X μm (intermittently depending on conditions). The same applies to the Y axis. This means that the surgeon observes the lattice and microorganisms in the sample in the same manner as the lattice is drawn on the cover glass or slide glass.
そして、格子の中の白血球を手動にて個数を数えメモしたり、または計測範囲設定手段が前記指標座標値に指定された格子内にて、既知の自動個数計測手段を使用し自動的に個数を数えてもよい。またただ眺めるだけでも良い。 必要なら大きさ、長さ、体積などを電子格子を使用して計測しても良い。
Then, manually count the number of white blood cells in the lattice and write it down, or the measurement range setting means automatically uses the known automatic number counting means within the lattice designated by the index coordinate values. May be counted. You can just look at it. If necessary, size, length, volume, etc. may be measured using an electronic grid.
[効果]
白血球などの構造物の大きさ、長さ、形などが計測(2次元計測または2次元定量計測)できる。
[effect]
The size, length, shape, etc. of structures such as leukocytes can be measured (two-dimensional measurement or two-dimensional quantitative measurement).
すなわち2次元定量計測や2次元定性計測ができる。
That is, two-dimensional quantitative measurement and two-dimensional qualitative measurement can be performed.
ここで、前記のDIN40倍対物レンズ+1/3インチCCDなどによる規格化試料撮像手段を使用すれば、映像が規格化されているので、どこで、だれが計測しても互換性がある。これにより医師間における診断誤差が極めて少なくなる。
Here, if the standardized sample imaging means such as the DIN 40 × objective lens + 1/3 inch CCD is used, the video is standardized, so that anyone can measure wherever it is compatible. This greatly reduces diagnostic errors between doctors.
また従来は、スライドグラスやカバーグラスに格子がインキされていた。この場合、スライドグラスやカバーグラスにいちいちインキしないといけないので大変(手間)である。また非常に高価であったが、本発明により従来の安価なスライドグラスやカバーグラスを使用できる。 さらにまた格子の形、大きさは、どのような形、大きさにも設定できる。一例としては、3角形以上の多角形格子などである。
Conventionally, a grid is inked on a slide glass or a cover glass. In this case, it is very troublesome because it is necessary to ink the slide glass and the cover glass one by one. Moreover, although it was very expensive, the conventional cheap slide glass and cover glass can be used by this invention. Furthermore, the shape and size of the lattice can be set to any shape and size. An example is a polygonal lattice of triangles or more.
[変形例]
上記実施例では、試料の調整を特に行っていないが、
歯垢をスライドグラスに採取して、一定量の希釈液、一例として生食、リン酸緩衝液、(人工)唾液、(人工)組織液または水3μl〜6μl程度、一例として水3μlにて希釈し(常に一定量にて希釈するのが望ましい。)、そしてカバーグラスにて試料を圧接するとさらに良い。
[Modification]
In the above embodiment, the sample is not particularly adjusted.
Collect plaque in a slide glass and dilute with a certain amount of diluent, for example, raw food, phosphate buffer, (artificial) saliva, (artificial) tissue fluid or about 3 μl to 6 μl of water, for example, 3 μl of water (for example) It is desirable to always dilute with a constant amount.) And it is better to press the sample with a cover glass.
また、試料が歯肉溝内の液相(流動、半流動成分を含む)を連円探針(図7)などにて採取した場合は、希釈する必要がない場合がある。その場合は、希釈液を気にすることはない。
Further, when the sample is obtained by collecting the liquid phase (including fluid and semi-fluid components) in the gingival crevice with a continuous probe (FIG. 7) or the like, it may not be necessary to dilute. In that case, don't worry about the diluent.
さらに上記実施例では、一般的なスライドグラス、カバーグラスを使用したが、特殊なスライドグラス、カバーグラスを使用しても良い。
Further, in the above embodiment, a general slide glass and cover glass are used, but a special slide glass and cover glass may be used.
具体的な一例としては、図5などの深さ一定スライドグラスである。これを使用し、前記格子の単位格子あたりの白血球など指標の数と、この深さによって単位体積あたりの指標物の数(白血球数)などが計算してもよい。 (圧接条件が同一になりやすい利点もある。)
A specific example is a slide glass with a constant depth as shown in FIG. Using this, the number of indices such as white blood cells per unit lattice of the lattice and the number of index objects per unit volume (the number of white blood cells) may be calculated based on this depth. (There is also an advantage that the pressure contact conditions are likely to be the same.)
また上記実施例では、電子格子を使用したが、図8のごとく格子に前記座標位置を表示する座標提示手段を備えて、表示画像に座標を表示しても良い。この例では、x座標値の最大値は、720/2.88=250であり、y座標値の最大値は、480/2.61=183である。座標位置の表示は、格子のどこでもよいし、また表示文字は透過色を使用してもよいし、また非透過色を使用してもよい。また画面の隅など画面のどこに表示してもよいし、またセカンドモニターに表示してもい。
In the above embodiment, an electronic grid is used. However, coordinate presenting means for displaying the coordinate position on the grid as shown in FIG. 8 may be provided to display the coordinates on the display image. In this example, the maximum value of the x coordinate value is 720 / 2.88 = 250, and the maximum value of the y coordinate value is 480 / 2.61 = 183. The coordinate position may be displayed anywhere on the grid, and the display character may use a transparent color or a non-transparent color. It can also be displayed anywhere on the screen, such as the corner of the screen, or on a second monitor.
この場合、座標提示手段をONにすると現在の格子の座標が示される。(一例として図8や図4下図)
In this case, when the coordinate presenting means is turned on, the coordinates of the current grid are shown. (As an example, the lower figure of FIG.
そして座標提示手段をOFFにすると座標値が消え、そして電子格子をOFFにすると電子格子が消え、試料映像のみとなる。(図4上図)
When the coordinate presenting means is turned off, the coordinate value disappears, and when the electronic lattice is turned off, the electronic lattice disappears and only the sample image is displayed. (Upper figure of Figure 4)
第2実施例の定量化規格化顕微鏡装置は、少なくとも3次元定量計測手段をを備える。
Quantification normalized microscope apparatus of the second embodiment is provided with at least three-dimensional quantitative measuring means.
[第2実施例の形態]
第3実施例は、定量化規格化顕微鏡装置による3次元定量計測を実施の形態とする。
[Second Embodiment]
The third embodiment is directed to embodiments of the three-dimensional quantitative measurement by quantification normalized microscope apparatus.
[構成]
実施例1の構成に加え
3次元(定量)計測手段は、少なくとも深さ手段を備える。
[Constitution]
In addition to the configuration of Example 1
The three-dimensional (quantitative) measuring means includes at least a depth means .
さらに試料が希釈されている場合は、
希釈率手段を備える。
希釈されていない場合は、不要である。
If the sample is diluted further,
A dilution rate means is provided.
If it is not diluted, it is not necessary.
ここで深さ手段は、
1 深さ一定スライドグラス、深さ一定カバーグラス、深さが既知のスライドグラス、深さが既知のカバーグラスによる既知の深さを記憶または入力記憶する手段を使用する深さ手段の場合。ここで深さ既知のスライドグラスには、格子位置に対して深さが既知となっているものを含む、すなわち場所により深さが異なっても、その位置が特定できるものである。
2 深さ、すなわち試料の厚さを計測する厚さ計を少なくとも備える深さ手段の場合。
以上1,2の各手段におけるいづれかまたはその組み合わせなどにより実現される。
Here, the depth means is
1 Depth means using a constant depth slide glass, a constant depth cover glass, a slide glass with a known depth, and a means for storing or inputting and storing a known depth by a cover glass with a known depth. Here, the slide glass whose depth is known includes a glass whose depth is known with respect to the lattice position, that is, the position can be specified even if the depth differs depending on the location.
2 In the case of depth means comprising at least a thickness meter for measuring the depth, that is, the thickness of the sample.
This is realized by any one of the above means 1 and 2 or a combination thereof.
具体的な一例において、前記深さ手段の1の場合の一例として前記深さ一定カバーグラスなどを使用し深さが既知となっている場合などは、深さ手段に、この深さ値をキーボードなどにて入力しておく。具体的な一例としては、15μmなどである。
In a specific example, if the depth is known by using the constant depth cover glass or the like as an example of the case of the depth means 1, the depth value is input to the depth means. Enter in A specific example is 15 μm or the like.
そして、この格子の辺は、前記電子格子手段から既知となっている。ここでは、一例として50μmである。ここで、いくつの格子中の指標物を計測するかは、統計的な母集団推定にしたがうのが良い。
よって、単位体積あたりの白血球の数がわかる。
The sides of the lattice are known from the electronic lattice means. Here, it is 50 μm as an example. Here, it is better to follow the statistical population estimation to determine how many index objects are measured.
Therefore, the number of white blood cells per unit volume is known.
[動作]
実施例1の装置と同じく電源をONにして、実施例1と同じ動作を行い、さらに次の動作を追加する。 すなわち具体的な追加動作一例として
図8において、
1格子(50μ×50μm)における白血球数は、8個である。
次に深さ手段にキーボードなどにて深さ入力する。ここでは15μmを入力する。
[Operation]
As with the apparatus of the first embodiment, the power is turned on, the same operation as that of the first embodiment is performed, and the following operation is further added. That is, as a specific example of additional operation
In FIG.
The number of white blood cells in one lattice (50 μ × 50 μm) is 8.
Next, the depth is input to the depth means using a keyboard or the like. Here, 15 μm is input.
ここで、試料が希釈されている場合は、希釈率手段が希釈率を計算するが、ここでは希釈しておらず、1を入力するか、もしくは希釈率手段を使用しない。
Here, when the sample is diluted, the dilution rate means calculates the dilution rate, but here, it is not diluted and 1 is input or the dilution rate means is not used.
以上の結果、単位体積あたりの数、すなわち密度が算出され、表示手段などにて表示される。すなわち
深さ手段からの深さ値と電子格子手段からの格子寸法にて前記の例においては、密度は
密度手段が 2.13×10−4(個/μm3)と計算し、それを表示手段が
2.13×105個/ mm3
と表示するなどである。
さらに血液中の白血球を計測すると、正常値は4,000〜8,000個/ mm3 なので、50μm辺の格子で深さ15μmの6面体中においては、1.5〜3×10−1個見える事になる。これは、10視野見ると1.5〜3個の白血球が観察される事である。この程度の数であると統計学的サンプルを行う必要があるのはいうまでもない。(後述の母集団推定手段の採用が望ましい。)このように血液中の白血球密度を計測することもできる。
As a result, the number per unit volume, that is, the density is calculated and displayed on the display means. Ie
In the above example with the depth value from the depth means and the grid dimensions from the electron grid means, the density is
The density means calculates 2.13 × 10 −4 (pieces / μm 3 ), and the display means
2.13 × 10 5 / mm 3
And so on.
Further, when the white blood cells in the blood are measured, the normal value is 4,000 to 8,000 / mm 3 , and thus 1.5 to 3 × 10 −1 in a hexahedron having a grid of 50 μm and a depth of 15 μm. You will see it. This means that 1.5 to 3 white blood cells are observed when viewing 10 fields of view. Needless to say, it is necessary to perform a statistical sample for this number. (Adopting population estimation means described later is desirable.) In this way, the density of white blood cells in blood can also be measured.
試料が希釈されていない場合は、希釈率手段を使用しなくても定量ができるのは言うまでもない。特にプラーク相(層)は、希釈が必要である場合がほとんどであり、液相は、採取料が少ないとき、特に希釈が必要な場合が多い。
Needless to say, if the sample is not diluted, the sample can be quantified without using the dilution rate means. In particular, the plaque phase (layer) often needs to be diluted, and the liquid phase often needs to be diluted particularly when the collection fee is small.
[効果]
これらは、3次元定量計測や3次元定性計測などができる事を意味している。
すなわち具体的な一例として単位体積あたりの白血球の数がわかる。微生物や構造物、組織なども同様に単位体積あたりの数がわかる。
また定性採取のNo9の探針の採取量を計測でき、結果として定量計測とできる。
[effect]
These mean that three-dimensional quantitative measurement and three-dimensional qualitative measurement can be performed.
That is, as a specific example, the number of white blood cells per unit volume is known. Similarly, the number of microorganisms, structures, tissues, etc. per unit volume is known.
In addition, the amount collected by the No. 9 probe for qualitative sampling can be measured, and as a result, quantitative measurement can be performed.
[変形例]
前記深さ手段は、深さ一定カバーグラスによるものであったが、各種厚さ計(レーザー、静電容量、差動トランスなど)を使用して試料の厚さを計測し自動入力や手動入力する深さ手段を使用してもよい。
この前記深さ手段の2の場合の一例として、カバーグラスもスライドグラスも最も安価で汎用的な極々一般的なカバーグラスや汎用的な極々一般的なスライドグラスを使用できる。
[Modification]
The depth means was a cover glass with constant depth, but various thickness gauges (laser, capacitance, differential transformer, etc.) were used to measure the thickness of the sample for automatic or manual input. Depth means may be used.
As an example of the case of the depth means 2, it is possible to use a cover glass and a slide glass that are the cheapest and versatile extremely general cover glasses and general and extremely general slide glasses.
具体的な一例としては、
カバーグラスをスライドグラスに載せて厚み計測手段にて厚みを計測し、試料を挟んで厚みを計測し、その差分を厚みにするなどである。この場合、前記厚み計測手段がUSBなどにてコンピュータに接続されている場合は、自動に深さ手段に深さが記憶されている。またこの場合、試料ひとつひとつに厚さが計測される。
As a specific example,
For example, the cover glass is placed on a slide glass, the thickness is measured by the thickness measuring means, the thickness is measured with the sample sandwiched, and the difference is set to the thickness. In this case, when the thickness measuring means is connected to a computer by USB or the like, the depth is automatically stored in the depth means. In this case, the thickness is measured for each sample.
さらに厚み計測手段が試料ステージ上などに設置されている場合、電子格子上にて厚さ計測ができるので、電子格子と厚さとの計測データ(行列)が使用できる。この場合、カバーグラスの「」しなり」「たわみ」などにてカバーグラスの面内に厚さ変動があっても精度良く深さが計測される。これは深さ一定スライドグラスのみでも定量化は可能だが深さ一定スライドグラスを使用した場合に使用しても有効で、さらに精度が上昇する。
これらも3次元定量計測手段の一例である。
Further, when the thickness measuring means is installed on the sample stage or the like, the thickness can be measured on the electronic lattice, so that measurement data (matrix) of the electronic lattice and the thickness can be used. In this case, the depth is accurately measured even if there is a thickness variation in the surface of the cover glass due to “” bending ”or“ deflection ”of the cover glass. This can be quantified only with a slide glass with a constant depth, but it is effective even when a slide glass with a constant depth is used, and the accuracy further increases.
These are also examples of three-dimensional quantitative measurement means.
[総合変形例]
上記実施例にいづれかまたはその組み合わせを、加えあるいは、変形し、
[General modification]
Add or modify any of the above embodiments or combinations thereof,
電子格子に番号を表示する番号表示手段を備えても良い。前記ブロックに番号(ここでは、座標値)を対応させておき、その番号を記憶手段に記憶し、番号表示手段のスイッチにて表示、非表示する。
番号表示手段をONにすると、格子毎に番号が表示される。(図8)
You may provide the number display means which displays a number on an electronic lattice. A number (here, coordinate value) is associated with the block, the number is stored in the storage means, and displayed or hidden by a switch of the number display means.
When the number display means is turned on, a number is displayed for each grid. (Fig. 8)
電子格子に長さ値を表示する長さ表示手段を採用しても良い。格子毎や、前記スケールに長さ値を対応させた数値が記憶手段に記憶されており、長さ表示手段のスイッチにて長さ値が表示される。
長さ表示手段をONにすると、長さ値(長さスケール)が表示され、試料の長さを計測できる。
You may employ | adopt the length display means which displays a length value on an electronic lattice. A numerical value corresponding to a length value for each lattice or the scale is stored in the storage means, and the length value is displayed by a switch of the length display means.
When the length display means is turned on, the length value (length scale) is displayed, and the length of the sample can be measured.
ここで前記電子格子に番号を表示する番号表示手段からの番号をランダムに表示し、その番号毎にサンプリング(計測)をしてゆく、無作為抽出手段を備えても良い。(図8)この時、計測する格子番号に対応する計測範囲設定手段に伝達され計測値が記憶される。
Here, it is possible to provide a random extraction means for randomly displaying numbers from the number display means for displaying numbers on the electronic lattice and sampling (measuring) each number. (FIG. 8) At this time, the measurement value is transmitted to the measurement range setting means corresponding to the grid number to be measured and stored.
さらにまた、前記無作為抽出を行う毎に、ヒストグラムや平均、偏差、サンプリング数、信頼度のいづれかひとつ、またはその組み合わせを表示する母集団推定手段を備えても良い。これは、最低限必要なサンプリングを認知でき、サンプリング(計測)を最低限にて中止する事ができ合理的である。(図8)
Furthermore, a population estimation means for displaying one or a combination of a histogram, an average, a deviation, a sampling number, and a reliability each time the random sampling is performed may be provided. This is reasonable because the minimum necessary sampling can be recognized and the sampling (measurement) can be stopped at a minimum. (Fig. 8)
試料ステージの位置は、マグネスケールや作動トランスや位置検出が行えるステッピングモーターなど既存の位置検出手段を使用して電子格子の位置情報としても良い。その場合は、本発明よりほとんどが高価で、機構が複雑になりやすくまた大がかりとなりやすいが代用はできる。
また試料にレーザーを照射し、そのスペックルの速度を積分し、位置を検出するレーザースペックルによる位置検出手段を使用し電子格子の位置情報としても良い。この場合は、指標や指標撮像手段そして指標検出手段は不要となる。
本発明の実施例1は、これらの位置検出(手段)による電子格子位置あわせのための手段をのぞく一例である。
The position of the sample stage may be the position information of the electronic grid using existing position detecting means such as a magnescale, an operating transformer, or a stepping motor capable of detecting the position. In that case, most of the present invention is more expensive than the present invention, and the mechanism is likely to be complicated and large, but a substitute can be made.
Further, the position information of the electron lattice may be obtained by irradiating the sample with a laser, integrating the speckle speed, and using a position detecting means by laser speckle for detecting the position. In this case, an index, an index imaging unit, and an index detection unit are unnecessary.
The first embodiment of the present invention is an example excluding the means for aligning the electron grid by the position detection (means).
前記実施例に採取定量手段を使用してもよい。
具体的には、
1 連円探針(連ドーナッツ状探針)(図7)
2 縦溝探針(図6)
3 歯周ポケット用スポイト
のいづれかまたは、その組み合わせを使用する。
A sampling and quantification means may be used in the embodiment.
In particular,
1. Continuous circle probe (continuous donut-shaped probe) (Figure 7)
2 Vertical groove probe (Fig. 6)
3 Dropper for periodontal pocket
Or any combination of these.
1を使用すれば、歯周ポケット内の液状成分(流動、半流動成分)すなわち液相、内縁上皮のバイオゾーン(組織相または組織層)、歯根面の縁下プラーク(プラーク層またはプラーク相)のいづれかまたはその組み合わせにて試料を定量採取できるので、それらの前述診断が定量的にできる。またポケット底からポケット開口部までの深部の試料と浅部の試料を、円内の試料のみを断続的に採取し断続的サンプリングしたり、または、円内と連続した円の表面に連続する試料を採取し連続的にサンプリングできる。
1, the liquid component (fluid, semi-fluid component) in the periodontal pocket, ie, the liquid phase, the biozone of the inner epithelium (tissue phase or tissue layer), the submarine plaque (plaque layer or plaque phase) of the root surface Since the sample can be quantitatively collected by any one or a combination thereof, the aforementioned diagnosis can be quantitatively performed. In addition, samples in the deep part and the shallow part from the pocket bottom to the pocket opening can be sampled intermittently by sampling only the sample in the circle, or continuous on the surface of the circle continuous with the circle. Can be sampled continuously.
2を使用すれば、歯周ポケット内の液状成分(流動成分、半流動成分を含む)すなわち液相、内縁上皮のバイオゾーン(組織相または組織層)、歯根面の縁下プラーク(プラーク層またはプラーク相)のいづれかまたはその組み合わせにて試料を定量採取できるので、それらの前述診断が定量的にできる。またポケット底からポケット開口部までの深部の試料と浅部の試料を連続的にサンプリングできる。
2, the liquid component (including fluid component and semi-fluid component) in the periodontal pocket, that is, the liquid phase, the biozone of the inner epithelium (tissue phase or tissue layer), the submarine plaque (plaque layer or Since the sample can be quantitatively collected in any one of the plaque phases) or a combination thereof, the aforementioned diagnosis can be quantitatively performed. Further, it is possible to continuously sample a deep sample and a shallow sample from the pocket bottom to the pocket opening.
3を使用すれば、歯周ポケット内の液状成分(流動成分、半流動成分を含む)すなわち液相を定量採取できるので、それらの前述診断が定量的にできる。またポケット底からポケット開口部までの特定の部位の液相をスポット的に採取できる。また連続吸引においては、連続した試料が、断続吸引においては断続した試料が採取できる。
3 can be used to quantitatively collect liquid components (including fluid components and semi-fluid components) in the periodontal pocket, that is, the liquid phase, so that the aforementioned diagnosis can be quantitatively performed. Moreover, the liquid phase of a specific part from the pocket bottom to the pocket opening can be spot-collected. In continuous suction, continuous samples can be collected, and in intermittent suction, intermittent samples can be collected.
また規格化試料撮像手段一例として、
映像伝達手段がデジタルの場合、すなわちCCD1画素毎を直接A/D変換して得られた信号を使用する場合は、DIN規格対物レンズ40倍に約7μmドットCCD画素(ピッチ)を使用したCCDの画素(ピッチ)で規格化しても良い。また、
少なくとも映像伝達手段が既存のアナログビデオ信号を使用する場合においては、DIN規格対物レンズ40倍に後述の最終的なサンプリング画素で規格化した規格化試料撮像手段を使用しても良いし、前記1/3インチCCDとDIN規格対物レンズ40倍とでの規格でもよい。この2つは、幅を持たせて同じ規格としても良い。さらにCCDの画素とキャプチャーのサンプリング条件、ビデオ信号の処理タイミングなどを全て考慮したサンプリング画素で規格化した場合は、以下のごとくである。
As an example of standardized sample imaging means ,
When the image transmission means is digital, that is, when a signal obtained by directly A / D converting each pixel of the CCD is used, a CCD using a CCD pixel (pitch) of about 7 μm dots for a DIN standard objective lens 40 times is used. You may normalize by a pixel (pitch). Also,
At least when the video transmission means uses an existing analog video signal, the DIN standard objective lens 40 times may use a standardized sample imaging means standardized by a final sampling pixel to be described later. A standard with a 3 inch CCD and a DIN standard objective lens 40 times may be used. The two may have the same standard with a width. Furthermore, when standardization is performed with sampling pixels that take into account all of the CCD pixels, capture sampling conditions, video signal processing timing, and the like, the following is performed.
ここで、キャプチャーした画像における1画素の条件として0.175μm画素ピッチ(前記CCD画素では7μm程度で40倍DIN規格レンズ使用時)の画像とした場合、この画素条件にて480iDV規格を採用すると、40倍DIN規格の対物レンズの場合、視野が126μm×84μm程度である。さらにPAL規格の720×512でゆくと、126μm×90μm程度である。ちなみに本顕微鏡視野(40倍DIN規格の対物レンズ)は、125μm×92μmにて、0.174μm×0.19μmの画素ピッチを採用した。垂直画素がやや大きいのは、CCDの画素の大きさとCCDの画素数と480iDV規格の480ライン(キャプチャーボードのサンプリング条件)あるいは、NTSC規格などに制限されているからである。また少なくとも水平(x方向)にての規格としても良い。もちろん前記条件を満たすCCDの画素ピッチ、伝送系の帯域などが必要なのは言うまでもない。
Here, when an image having a 0.175 μm pixel pitch (when the CCD pixel is about 7 μm and using a 40 × DIN standard lens) is used as a condition for one pixel in the captured image, when the 480 iDV standard is adopted under this pixel condition, In the case of a 40 × DIN standard objective lens, the field of view is about 126 μm × 84 μm. Furthermore, when it goes to 720 × 512 of the PAL standard, it is about 126 μm × 90 μm. Incidentally, this microscope field of view (40 × DIN standard objective lens) employs a pixel pitch of 0.174 μm × 0.19 μm at 125 μm × 92 μm. The reason why the vertical pixels are slightly larger is that they are limited to the size of the CCD pixels, the number of CCD pixels, 480 lines of the 480iDV standard (capture board sampling conditions), or the NTSC standard. Further, it may be a standard at least in the horizontal direction (x direction). Of course, it goes without saying that the pixel pitch of the CCD satisfying the above conditions, the bandwidth of the transmission system, and the like are necessary.
ここでこの規格にさらに詳細な規格として、CCDカメラからの出力信号をS−Video(以上)出力やデジタル出力によりハイビジョンやDVD規格である480iと同等とした規格化試料撮像手段として使用しても良い。この場合全世界規模で医師間の診断誤差が減少する。
Here, as a more detailed standard than this standard, the output signal from the CCD camera may be used as a standardized sample imaging means in which the output signal from the CCD camera is equivalent to the high-vision or DVD standard 480i by S-Video (or higher) output or digital output. good. In this case, diagnosis errors between doctors are reduced on a global scale.
一般的なアナログ版の位相差顕微鏡の規格は、DIN規格40倍の有限焦点対物レンズにS−Video出力の1/3インチCCDカメラが最適と思われる。水平解像度は、480以上で、さらに512本以上で、525本が最ものぞましい。(720×480以上の分解能をカメラが有する事が好ましい。 さらに可能なら720×512以上、そして525本が最も望ましい。)
ここでキャプチャーボードは、720×480から720×525画素でのサンプリングが最適と思われる。もちろん、さらに高分解能、広い視野が確保できる条件は、多々存在するが、最も広く普及しているビデオ規格に対応できる規格が上記の40倍DIN対物レンズ+1/3CCD+S−Video+720×480キャプチャー規格である。ゆえにもっとも多くの人々が、同一の画像にて診断、意見交換ができるので価値がある。
The standard analog phase contrast microscope standard seems to be optimal for a 1/3 inch CCD camera with S-Video output for a finite focal length objective lens with a DIN standard of 40 times. The horizontal resolution is 480 or more, 512 or more, and 525 is the most desirable. (It is preferable that the camera has a resolution of 720 × 480 or more. If possible, 720 × 512 or more and 525 are most desirable.)
Here, it is considered that the capture board is optimally sampled at 720 × 480 to 720 × 525 pixels. Of course, there are many conditions that can ensure a higher resolution and a wider field of view, but the standard that can handle the most widely used video standard is the 40 × DIN objective lens + 1/3 CCD + S-Video + 720 × 480 capture standard. . Therefore, it is valuable because most people can diagnose and exchange opinions with the same image.
将来的にはさらに高分解能、高視野の規格の策定が望まれる事は言うまでもない。
Needless to say, in the future, it will be desirable to develop standards with higher resolution and higher field of view.
前記電子格子手段の描画画像は、4角形を採用したが、多角形や不定形の格子でも良い。
被計測物に形状を合わせた特定形状の格子でもよい。一例として歯肉溝に浸潤した白血球なら多くは丸いので、丸の格子でも良い。
この場合は、指標物の形状に設定できるので、誤差の少ないサンプリングなどができる。
The drawing image of the electronic lattice means is a quadrangular shape, but it may be a polygonal or irregular lattice.
A lattice having a specific shape matching the shape of the object to be measured may be used. As an example, many white blood cells infiltrated into the gingival sulcus are round, so a round lattice may be used.
In this case, since it can be set to the shape of the index object, sampling with less error can be performed.
この定量化規格化顕微鏡装置は、どのような試料、指標に適用してもよい。
The quantification normalized microscope apparatus, what sample may be applied to the index.
本発明の実施例または変形例は、全てハードウェアにて製作しても良いし、またソフトウェアで置き換え可能な部分は、置き換えても良い。
The embodiment or modification of the present invention may be manufactured entirely by hardware, or a portion replaceable by software may be replaced.
本発明の実施例または変形例は単独で実施しても良いし、また組み合わせて実施しても良い。また他の用途に使用しても良い。また上記手段に関しても、術者や製造者が取捨選択し使用、製造するなど単独あるいはどのような組み合わせの構成をなしてもよい。
一例として、本発明である定量化規格化顕微鏡装置において定量計測手段の変形一例の一つである画像認識手段(画像認識手段は、少なくとも画像の大きさ、形による相関を求める相関手段を備える。)を選択し、さらに蛍光手段または分光手段を組み込むなどして、組み合わせるなどである。
ここでの画像認識手段は、一種の定量計測手段である。すなわち、本発明である定量化規格化顕微鏡装置は、少なくとも画像認識手段(定量計測手段の一つ)を備え、さらに蛍光手段、分光手段、運動分析手段などの性状手段を組み込む事を特徴とするので、微生物などの観察物の大きさ、形、性状(分光特性、蛍光特性、運動特性など)にて、試料画像中の微生物などの観察物を特定する事ができる。
The embodiments or modifications of the present invention may be implemented singly or in combination. Moreover, you may use for another use. In addition, the above means may be configured alone or in any combination, such as an operator or manufacturer selecting, using, and manufacturing.
As an example, the image recognition unit (image recognition means deformation is one example of a quantitative measuring means in quantifying standardized microscope apparatus is the invention, at least the image size, the correlation means for obtaining correlation by the form And the like, and further, by combining fluorescent means or spectroscopic means.
The image recognition means here is a kind of quantitative measurement means. That is, quantification normalized microscope apparatus is the present invention comprises at least the image recognition means (a quantitative measurement means), further fluorescent means, spectroscopic means, characterized by incorporating the properties means such as a motion analysis unit Therefore, the observation object such as microorganisms in the sample image can be specified by the size, shape, and properties (spectral characteristics, fluorescence characteristics, movement characteristics, etc.) of the observation objects such as microorganisms.
この組み合わせの具体的一例では、
プレボテラ インターメディアの大きさを計測すると短桿菌形状にて、
成熟した株にて
長さ 1.7μm前後から2.3μm前後 (未熟な時1μ前後)
幅 3.5μm前後から4.6μm前後 (未熟な時1μ前後)
にて前記大きさの短桿菌形状の空間フィルターなどにて相関などを計算する相関手段と
紫外線波長300nmから400nm未満程度にて試料を励起し、試料画像においては、可視光線のみを表示する蛍光手段とを備える。ここでプレボテラ インターメディアは、赤色の発光(蛍光)をする。
そして前記採取定量手段などにて口腔内から採取された試料を前記定量化規格化顕微鏡装置により試料画像Aとする、ここで、さらに前記波長にて試料を照射励起し、その画像を試料画像Bとする。そしてその画像Aを画像認識手段が前記大きさの短桿菌(領域または形)による相関係数にて相関性ありとした短桿菌領域を、つぎに画像Bに重ね、かさなった画像Bの領域を画像認識手段が赤色フィルター処理手段にて前記画像Aの短桿菌領域を選択表示してゆく。(選択表示とは、一例として条件に一致した画像を特定の形状にて囲み線で囲んだり、色をつけたりすることなどである。ここでは、特定の形状は、前記サイズでの短桿菌形状である。) ここで、使用する画像は、Bのみでも選択可能だが、背景画像などとの分離などで画像Aを使用するほうが見やすいので、ここでは画像Aと画像Bを使用した。
すると、かなりの確率にてプレボテラ インターメディアのみの画像を見ることができる。
この時、この画像が確認されている短桿菌赤色部分を、画像認識手段が、位相差顕微像に切り替えたり、位相差顕微像に蛍光像を重ねたり、背景画像から抽出して、観察しても良い。さらにまたこの赤色の発光強度の強弱を計測して、プレボテラ インターメディアの活動指数としてもよい。
In a specific example of this combination,
Prebotella Intermedia size is measured in the form of short bacillus,
In mature strains, the length is about 1.7 μm to about 2.3 μm (about 1 μm when immature)
Width from around 3.5μm to around 4.6μm (around 1μ when immature)
Correlation means for calculating the correlation with a short filter of the above-mentioned size, etc. and fluorescence means for exciting the sample at an ultraviolet wavelength of about 300 nm to less than 400 nm and displaying only visible light in the sample image With. Here, Prevoterra Intermedia emits red light (fluorescence).
And the sample image A sample taken from the oral cavity by the quantification normalized microscope apparatus in such the collection dosing means, here, further samples were excited radiation at said wavelength, sample the image Let it be image B. Then, the image recognition means superimposes the short gonococcus region which is correlated with the correlation coefficient by the size bacterium (region or shape) on the image B, and then superimposes the image B on the image B. The image recognizing means selectively displays the short gonococcus region of the image A by the red filter processing means. (Selection display is, for example, surrounding an image that matches a condition with a specific shape with a surrounding line, coloring it, etc. Here, the specific shape is a short bacillus shape with the above size. Here, the image to be used can be selected only by B. However, since it is easier to see the image A for separation from the background image or the like, the image A and the image B are used here.
Then, it is possible to see images of only Prevoterra intermedia with a considerable probability.
At this time, the image-recognizing means switches the phase contrast microscopic image, or superimposes the fluorescent image on the phase contrast microscopic image, extracts it from the background image, and observes the red portion of the short bacilli that has been confirmed. Also good. Furthermore, the intensity of this red light emission intensity may be measured and used as the Prevoterra Intermedia activity index.
また他例として、本発明である定量化規格化顕微鏡装置に画像認識手段と分光手段とを組み込み組み合わせてもよい。画像認識手段は、一種の定量計測手段である。(画像認識手段は、少なくとも画像の大きさ、形などによる相関を求める相関手段を備える。)
ここで分光手段の使用波長を約1038cmー1または、約1033cmー1などとし、この波長のみ吸収される吸収画像B(前記プレボテラ インターメディアと処理は同様)とストレプトコッカスミュータンスと大きさ(1μmの球状)、形(約1μm球状で約0.5μm程度間隔の連鎖形状もしくは数珠状による連鎖球菌形状)における画像Aの相関とで、前記プレボテラインターメディアの時と同じく画像認識手段が、試料画像A(位相差顕微鏡画像)をマーキングや選択するなどする。するとこのマーキングまたは選択表示された部分が、かなりの確率にてストレプトコッカス ミュータンスである。画像の使用は、プレボテラ インターメディア同様、画像Bのみでもよいが、画像Aを併用するのが望ましい。
また他のストレプトコッカス属の波長である約1018cmー1を使用して、他のストレプトコッカス属を選択表示しても良い。すなわち、
ストレプトコッカス サリバリウスの場合は、約1048cm−1、
ストレプトコッカス サングイスの場合は、約1018cmー1
をそれぞれ使用し特定しても良い。また、
ストレプトコッカス ミィテスのように2峰性のピークの場合は、約1038cmー1と約1024cmー1を同等に抽出することにより分離しても良い。また1024cmー1ピークが1038cmー1ピークに対して同等ならストレプトコッカス ミィテスとしたり、1038cmー1ピークを赤、約1024cmー1ピークを青で識別して、黄色をストレプトコッカス ミィテス、赤をストレプトコッカスミュータンスとして識別しても良い。
また試料の保持条件からくる水分量により変動する場合があるので、既知の検量手段による水分補正手段にて水分による変動を補正しても良い。
As another example, may be combined incorporate an image recognition means and separating means to quantify normalized microscope device is present invention. The image recognition means is a kind of quantitative measurement means. (The image recognition means includes correlation means for obtaining a correlation based on at least the size and shape of the image.)
Here, the wavelength used for the spectroscopic means is about 1038 cm-1 or about 1033 cm-1, etc., and the absorption image B (same processing as the Prevoterra intermedia), Streptococcus mutans and size (1 μm) are absorbed only at this wavelength. Sphere), and the correlation of the image A in the shape (a chain shape of about 1 μm sphere and an interval of about 0.5 μm or a streptococcus shape in the form of a bead), the image recognition means, as in the case of the Prevotella intermedia, For example, A (phase contrast microscope image) is marked or selected. Then, the marked or selected portion is a Streptococcus mutans with a considerable probability. The image may be used only for the image B as in the Prebotella intermedia, but it is desirable to use the image A together.
Further, another Streptococcus genus may be selected and displayed using about 1018 cm−1 which is the wavelength of another Streptococcus genus. That is,
In the case of Streptococcus sarivarius, about 1048 cm-1,
In the case of Streptococcus sanguisu, about 1018cm-1
May be used to identify each. Also,
In the case of a bimodal peak such as Streptococcus mites, it may be separated by extracting about 1038 cm-1 and about 1024 cm-1 equally. If the 1024cm-1 peak is equivalent to the 1038cm-1 peak, the Streptococcus mitisses is identified, the 1038cm-1 peak is identified as red, the 1024cm-1 peak is identified as blue, the yellow is Streptococcus mitithus, and the red is Streptococcus mutans. It may be identified.
In addition, since there may be a change depending on the amount of water that comes from the sample holding condition, the change due to moisture may be corrected by a moisture correction unit using a known calibration unit.
ここで、運動性微生物は、運動分析手段にて特定の運動にて抽出しても良い。
一例として、移動速度を既知の速度分析手段にて分析し、前述画像認識手段が、運動性微生物の形と大きさを分析し、運動性微生物をマーキングまたは選択表示するなどである。
Here, the motile microorganism may be extracted by a specific exercise by the exercise analysis means.
As an example, the moving speed is analyzed by a known speed analyzing means, and the image recognizing means analyzes the shape and size of the motile microorganism and marks or selectively displays the motile microorganism.
もちろん前記プレボテラ属やストレプトコッカス属の定量計測において、さらに第2の定量計測として前記計測範囲格子や深さ一定カバーグラス手段などとともに使用し、密度を計測しても良い。
Of course, in the quantitative measurement of the genus Prevotella or Streptococcus, it may be used as a second quantitative measurement together with the measurement range lattice, the constant depth cover glass means, or the like to measure the density.
他の用途に使用に使用する例としては、指標検出手段により試料ステージの位置を検出できるので、これをオブジェクトマーカーとして利用してもよいなどである。また他の例としては、計測対象を微生物ではなく金属組織、有機化合物、無機化合物などどのような物質に使用しても良いなどである。
As an example used for other purposes, the position of the sample stage can be detected by the index detection means, and this may be used as an object marker. As another example, the measurement object may be used for any substance such as a metal structure, an organic compound, and an inorganic compound instead of a microorganism.
試料の定量化、そして規格化ができるので、顕微鏡検査における的確な検査、観察、診査などができる。そしてそれに基づく診断、処置ができる。
Since the sample can be quantified and standardized, accurate inspection, observation, examination, etc. can be performed in the microscopic examination. And diagnosis and treatment based on it.
Claims (7)
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段とを
備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
Quantification standardized microscope equipment
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
The coordinates of the point index are (index) a coordinate detection means that uses either the center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels.
A quantified standardized microscope device characterized by comprising.
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段とを、
備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
Quantification standardized microscope equipment
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on the index position information from the coordinate detection means means;
A quantified standardized microscope device characterized by comprising.
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標の座標を(指標)光点追跡手段(装置)の最終収束ブロックの重心、個々の画素のいづれかを使用する座標検出手段と
前記座標検出手段手段からの指標位置情報をもとに電子格子を発生させる電子格子手段と
前記電子格子と前記試料画像を重ね合わせるための重ね合わせ手段(オーバーラップ手段)とを、
備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
Quantification standardized microscope equipment
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
At least one point index installed on the XY stage means;
A coordinate detection means that uses the coordinates of the point index as the (index) center of gravity of the final convergence block of the light spot tracking means (device) or individual pixels;
An electron grid means for generating an electron grid based on index position information from the coordinate detection means means;
Overlaying means (overlap means) for superimposing the electron lattice and the sample image,
A quantified standardized microscope device characterized by comprising.
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
Quantification standardized microscope equipment
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grating having a constant pitch installed in the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the image, or
Using any one or a combination of (absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid ,
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
A quantified standardized microscope device characterized by comprising.
生体などからの採取試料を保持しかつ、前記試料の各部を観察するために少なくともXY方向に移動させるXYステージ手段と
前記試料からの試料画像情報を撮像する試料撮像手段と
前記試料撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る試料(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置された指標を撮像するための指標撮像手段と
前記指標撮像手段からの分解能単位からなる画素から構成される2次元の画像ブロックを得る指標(画素)ブロック画像手段と
前記XYステージ手段に設置されるピッチ一定の補正格子と
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、
ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段により、
前記両(画素)ブロック画像は、
前記指標画素ブロックに撮像された前記補正格子から電子格子補正手段により得られた前記Xステージ手段のx方向におけるビート画像の振幅間隔に基づき電子格子手段が格子間隔として前記試料画素ブロックに対して行われる間隔設定を、
Yステージにおけるy方向に対しても同様に設定することにより得られる前記両画素ブロック相互の相対的な位置決めによる機構と、
前記ピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報から得られる前記両画素ブロック相互の
絶対的な位置決めにより構成される機構
とのいづれかまたはその組み合わせを構成される機構 において
前記XYステージ手段に設置されたピッチ一定の補正格子と
前記XYステージ手段に設置された少なくとも1個の点指標と
前記点指標をもとに指標座標を検出する座標検出手段と、
前記指標により得られた絶対位置情報と、
または、
前記補正格子を撮像した前記指標(画素)ブロック画像において、ブロック画像のブロック数に対して、若干数の異なる補正格子数を映像として撮像する事により、撮像画素ピッチと前記指標(画素)ブロック画像ピッチが若干ずれることにより、前記ずれの分により得られるビート画像の振幅を捕らえる事により得られた高分解能な相対的位置情報と、
または、
前記補正格子に空間周波数の変化するピッチ変化補正格子を使用し前記同様に得られた指標画像からの(絶対)位置情報と、
のいづれかまたはその組み合わせを使用し、
少なくとも位置決めの分解能を向上させるため、または/と、
少なくとも電子格子の分解能を向上させるたの電子格子補正手段とを、
備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
Quantification standardized microscope equipment
An XY stage means for holding a sample collected from a living body and moving it at least in the XY direction in order to observe each part of the sample;
Sample imaging means for imaging sample image information from the sample, and a sample (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels consisting of resolution units from the sample imaging means and the XY stage means Index image capturing means for capturing the imaged index, and index (pixel) block image means for obtaining a two-dimensional image block composed of pixels comprising resolution units from the index image capturing means;
A correction grid having a constant pitch installed on the XY stage means;
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid,
By taking a slightly different number of correction grids as a video image with respect to the number of blocks in the block image, the image pickup pixel pitch and the index (pixel) block image pitch are slightly shifted, resulting in the beat obtained by the shift amount. High-resolution relative position information obtained by capturing image amplitude
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change as the correction grid
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
At least by the electron lattice correction means to improve the resolution of the electron lattice,
The both (pixel) block images are
Based on the amplitude interval of the beat image in the x direction of the X stage means obtained by the electronic lattice correction means from the correction grid imaged on the index pixel block, the electronic grid means performs a grid interval on the sample pixel block. The interval setting
A mechanism based on relative positioning between the two pixel blocks obtained by setting in the same way for the y direction in the Y stage ;
A mechanism constituted by absolute positioning of the two pixel blocks obtained from (absolute) position information from the index image obtained in the same manner using the pitch change correction grid.
In a mechanism comprising either or a combination of
A correction grid having a constant pitch installed in the XY stage means and at least one point index installed in the XY stage means;
Coordinate detection means for detecting index coordinates based on the point index;
Absolute position information obtained by the index;
Or
In the index (pixel) block image obtained by imaging the correction grid, the number of correction grids slightly different from the number of blocks in the block image is captured as a video, whereby the imaging pixel pitch and the index (pixel) block image are captured. High-resolution relative position information obtained by capturing the amplitude of the beat image obtained by the amount of the deviation due to the slight deviation of the pitch,
Or
(Absolute) position information from the index image obtained in the same manner as described above using a pitch change correction grid having a spatial frequency change in the correction grid;
Use one or a combination of
At least to improve positioning resolution or / and
An electron lattice correction means for improving the resolution of at least the electron lattice,
A quantified standardized microscope device characterized by comprising.
生体などよりの採取試料を定量化するための採取定量手段として連円探針を備えることを特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。
The quantified standardized microscope apparatus according to any one of claims 1 to 5,
A quantification standardized microscope apparatus comprising a continuous probe as a collection and quantification means for quantifying a sample collected from a living body or the like.
特定の細菌を認識するための画像認識手段を備える事を特徴とする定量化規格化顕微鏡装置。A quantification standardized microscope apparatus comprising an image recognition means for recognizing a specific bacterium.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007054950A JP5098067B2 (en) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | Quantification standardized microscope equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007054950A JP5098067B2 (en) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | Quantification standardized microscope equipment |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008216086A JP2008216086A (en) | 2008-09-18 |
| JP2008216086A5 JP2008216086A5 (en) | 2009-04-23 |
| JP5098067B2 true JP5098067B2 (en) | 2012-12-12 |
Family
ID=39836293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007054950A Expired - Fee Related JP5098067B2 (en) | 2007-03-06 | 2007-03-06 | Quantification standardized microscope equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5098067B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012194002A (en) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Toho Gas Co Ltd | Measurement system |
| JP2017134115A (en) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | オリンパス株式会社 | Microscope device, and image display program |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57184918A (en) * | 1981-05-08 | 1982-11-13 | Natl Aerospace Lab | Measurement of fine displacement |
| JPS5952706A (en) * | 1982-09-20 | 1984-03-27 | Shimadzu Corp | Displacement measurement method |
| JPS63290916A (en) * | 1987-05-22 | 1988-11-28 | Tokyo Koku Keiki Kk | Optical linear scale device |
| JPH04295709A (en) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Ricoh Co Ltd | Interferometric measurement device and interference fringe image information acquisition method |
| JPH0599623A (en) * | 1991-10-03 | 1993-04-23 | Omron Corp | Displacement measuring apparatus |
| JP2675500B2 (en) * | 1992-12-09 | 1997-11-12 | 株式会社江川 | Light spot tracking device |
| JPH07200141A (en) * | 1993-12-29 | 1995-08-04 | Wacom Co Ltd | Optical position detecting device, optical coordinate input device, and optical position detecting method |
| JPH09147780A (en) * | 1995-11-17 | 1997-06-06 | Hitachi Ltd | Image synthesizing method and scanning electron microscope used therefor |
| JPH10103917A (en) * | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Nikon Corp | Position measurement device |
| JP2000155268A (en) * | 1998-11-19 | 2000-06-06 | Sony Corp | Magnifying observation device |
| JP2001041799A (en) * | 1999-07-30 | 2001-02-16 | Canon Inc | Droplet volume measurement method, volume measurement device, and storage medium |
| JP3705976B2 (en) * | 1999-12-01 | 2005-10-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | Analysis / observation equipment |
| JP2003092246A (en) * | 2001-09-17 | 2003-03-28 | Canon Inc | Alignment mark, alignment apparatus and method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| JP2003329673A (en) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Microdent:Kk | Health measurement examination device, method |
| KR101068078B1 (en) * | 2004-01-30 | 2011-09-28 | 가부시키가이샤 모리텍스 | Data recording method to an imaging device, an imaging lens, and an imaging lens |
-
2007
- 2007-03-06 JP JP2007054950A patent/JP5098067B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2008216086A (en) | 2008-09-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7009491B2 (en) | Methods and devices for asset inspection | |
| JP6030837B2 (en) | Method and apparatus for displaying a three-dimensional view of the surface of an observation object | |
| JP6895382B2 (en) | A method and device for displaying a two-dimensional image of an object to be viewed at the same time as an image for drawing a three-dimensional shape of the object to be viewed. | |
| WO2021212932A1 (en) | Method and device for acquiring chlorophyll fluorescence three-dimensional distribution information of crop canopy | |
| CN105050473A (en) | Image processing device, endoscopic device, program and image processing method | |
| JP5706233B2 (en) | Steel component identification device and program thereof | |
| CN112236705A (en) | Analyzer for 3D analysis of medical samples with the aid of a light field camera | |
| US9645381B2 (en) | Multi-surface optical 3D microscope | |
| CN103617611A (en) | Automatic threshold segmentation detection method for center and size of light spot | |
| CN100392403C (en) | A method for automatically counting the number of white blood cells in blood microscopic images | |
| JP2018533722A (en) | Method and apparatus for measuring features on or near a subject | |
| JP2007260273A (en) | Swallowing function evaluation device | |
| CN106483130A (en) | A kind of detection method of rice disease and its automatic detection device | |
| CN111121643A (en) | Method and system for measuring road width | |
| JP5098067B2 (en) | Quantification standardized microscope equipment | |
| KR101117916B1 (en) | Ultrasound system and method for detecting sagittal view | |
| JP5642997B2 (en) | Ultrasound system and method for providing multiple slice images | |
| EP4056123A1 (en) | Three-dimensional diagnostic system | |
| CN103099622B (en) | A kind of body steadiness evaluation methodology based on image | |
| CN102999904B (en) | Plane-based micro-nano object image tilt correction method | |
| JPH05329133A (en) | Detection method of feature of figure for surface of skin | |
| CN116091456A (en) | Road visibility detection method | |
| KR100286434B1 (en) | Apparatus and Method of measuring the surface state for analyzing colour and the shape in three dimension | |
| KR20140142452A (en) | Scale that measures the area of human | |
| CN119359640B (en) | Large-span steel structure deflection monitoring method based on machine vision and MEAN SHIFT clustering algorithm |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090311 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090311 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110428 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110531 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110728 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110920 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111121 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120814 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120904 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |