JP5098306B2 - 露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 - Google Patents
露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5098306B2 JP5098306B2 JP2006315513A JP2006315513A JP5098306B2 JP 5098306 B2 JP5098306 B2 JP 5098306B2 JP 2006315513 A JP2006315513 A JP 2006315513A JP 2006315513 A JP2006315513 A JP 2006315513A JP 5098306 B2 JP5098306 B2 JP 5098306B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- reflective optical
- optical element
- exposure
- temperature control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
D. Tichenor, et al., SPIE2437(1995)292
具体的な実施例において、図2に示すような温調装置91,93,96を相互に連結する連結部材46,47は、十分に熱伝導を抑制するよう工夫しているものの、熱の授受はゼロではなかった。このため、各温調装置91,93,96の設定温度を相互作用も考慮したものとした。ここで、第1ミラー71は、最上流であるので照射熱が多く、ペルチェ素子91bは、十分な放熱ができるよう輻射板91aを当初の設定温度から1℃だけ低温側に冷却制御した。また、中間の第3ミラー73用のペルチェ素子93bについては、輻射板93aを当初の設定温度どおりに冷却制御した。一方で、第6ミラー76は、最下流であり照射熱が少なく、単独の系で考えた場合、ペルチェ素子96bは、輻射板96aを当初の設定温度から0.1℃だけ低温側に冷却すればよかった。しかし、実際の試験的な運転では、連結部材46,47等の存在により、輻射板91aや輻射板93aが輻射板96aから熱を奪うためか、輻射板96aは、当初の設定温度から0.2℃も過剰に冷却されてしまった。そのため、ペルチェ素子96bを加熱側に制御して0.1℃分の加熱を行い、当初の設定温度から0.1℃だけ冷却した状態を維持できるような制御を制御装置37に行わせた。結果的に、全てのミラー71,73,76を目標通りの温度に維持することができた。
以上は、露光装置10やこれを用いた露光方法の説明であったが、このような露光装置10を用いることによって、半導体デバイスやその他のマイクロデバイスを高い集積度で製造するためのデバイス製造方法を提供することができる。具体的に説明すると、マイクロデバイスは、図3に示すように、マイクロデバイスの機能や性能設計等を行う工程(S101)、この設計工程に基づいてマスクMAを作製する工程(S102)、デバイスの基材である基板すなわちウェハWAを準備する工程(S103)、前述した実施形態の露光装置10によりマスクMAのパターンをウェハWAに露光する露光処理過程(S104)、一連の露光やエッチング等を繰り返しつつ素子を完成するデバイス組立工程(S105)、組立後のデバイスの検査工程(S106)等を経て製造される。なお、デバイス組立工程(S105)には、通常、ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工程等が含まれる。
Claims (14)
- 露光光によって転写用のマスクを照明する照明光学系と、
前記マスクのパターン像を感応基板上に形成する投影光学系と、を有する露光装置において、
前記照明光学系と前記投影光学系との少なくとも一方に含まれる複数の反射光学素子のうち第1反射光学素子の温度を調整する第1温調装置と、
前記複数の反射光学素子のうち前記第1反射光学素子に隣接する第2反射光学素子の温度を調整する第2温調装置と、を備え、
前記第2温調装置は、前記第1反射光学素子の温度調整に伴って変化する前記第2反射光学素子の温度を調整することを特徴とする
露光装置。 - 前記第2温調装置は、前記第1反射光学素子の冷却に伴う付随的な冷却を相殺するように、前記第2反射光学素子の温度を調整することを特徴とする請求項1記載の露光装置。
- 前記第2温調装置は、
前記第1温調装置が前記第1反射光学素子を冷却したときは、前記第2反射光学素子を加熱して温度を調整し、
前記第1温調装置が前記第1反射光学素子を加熱したときは、前記第2反射光学素子を冷却して温度を調整することを特徴とする請求項1または請求項2記載の露光装置。 - 極端紫外線を発生する光源装置をさらに備え、前記照明光学系は、前記光源装置からの極端紫外線を露光光として前記マスクに導く請求項1から請求項3のいずれか一項記載の露光装置。
- 前記第1反射光学素子は、前記第2反射光学素子に比較して動作時の発熱量が多い請求項1から請求項4のいずれか一項記載の露光装置。
- 前記第1及び第2反射光学素子は、裏面同士が互いに対向するように配置されており、前記第1温調装置は、前記第1反射光学素子の背面側に固定されている第1温調板を有し、前記第2温調装置は、前記第2反射光学素子の背面側に配置されている第2温調板を有する請求項1から請求項5のいずれか一項記載の露光装置。
- 前記第2温調装置は、前記第2温調板との間で熱の授受を行うペルチェ素子と、当該ペルチェ素子を所定温度に保つ流体循環型の温度調整部とを含む請求項6記載の露光装置。
- 前記第1及び第2温調装置は、前記第1及び第2反射光学素子を非接触でそれぞれの温度を調整する請求項1から請求項7のいずれか一項記載の露光装置。
- 前記第1及び第2温調装置は、互いに連結されている請求項1から請求項8のいずれか一項記載の露光装置。
- 前記第1温調装置の動作と前記第2温調装置の動作とを調和的に制御する制御装置をさらに備える請求項1から請求項9のいずれか一項記載の露光装置。
- 請求項1から請求項10の露光装置を用いるデバイス製造方法。
- 露光光によって転写用のマスクを照明する照明光学系と、前記マスクのパターン像を感応基板上に形成する投影光学系とを用いた露光方法であって、
前記照明光学系と前記投影光学系との少なくとも一方に含まれる複数の反射光学素子のうち第1反射光学素子の温度を調整する工程と、
前記複数の反射光学素子のうち前記第1反射光学素子に隣接する第2反射光学素子の温度を調整する工程と、を有し、
前記第2反射光学素子の温度を調整する工程は、前記第1反射光学素子の温度調整に伴って変化する前記第2反射光学素子の温度を調整することを特徴とする露光方法。 - 前記第2反射光学素子の温度を調整する工程は、前記第1反射光学素子の冷却に伴う付随的な冷却を相殺するように、前記第2反射光学素子の温度を調整することを特徴とする請求項12記載の露光方法。
- 前記第2反射光学素子の温度を調整する工程は、
前記第1反射光学素子の温度を調整する工程で前記第1反射光学素子を冷却したときは、前記第2反射光学素子を加熱して温度を調整し、
前記第1反射光学素子の温度を調整する工程で前記第1反射光学素子を加熱したときは、前記第2反射光学素子を冷却して温度を調整することを特徴とする請求項12または請求項13記載の露光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006315513A JP5098306B2 (ja) | 2006-11-22 | 2006-11-22 | 露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006315513A JP5098306B2 (ja) | 2006-11-22 | 2006-11-22 | 露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008130895A JP2008130895A (ja) | 2008-06-05 |
| JP5098306B2 true JP5098306B2 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=39556413
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006315513A Expired - Fee Related JP5098306B2 (ja) | 2006-11-22 | 2006-11-22 | 露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5098306B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2169464A1 (en) * | 2008-09-29 | 2010-03-31 | Carl Zeiss SMT AG | Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11243052A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-09-07 | Nikon Corp | 露光装置 |
| JP2004029314A (ja) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Nikon Corp | 光学素子冷却装置、光学素子冷却方法及び露光装置 |
| JP2004247438A (ja) * | 2003-02-13 | 2004-09-02 | Canon Inc | 冷却装置 |
| JP2005055553A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-03-03 | Nikon Corp | ミラー、温度調整機構付きミラー及び露光装置 |
| JP4218475B2 (ja) * | 2003-09-11 | 2009-02-04 | 株式会社ニコン | 極端紫外線光学系及び露光装置 |
| JP2005109158A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Canon Inc | 冷却装置及び方法、それを有する露光装置、デバイスの製造方法 |
| JP2006222198A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Canon Inc | 露光装置 |
-
2006
- 2006-11-22 JP JP2006315513A patent/JP5098306B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2008130895A (ja) | 2008-06-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102756397B1 (ko) | 리소그래피 장치의 물체를 유지하는 척과 클램프 및 리소그래피 장치의 클램프에 의해 유지되는 물체의 온도를 제어하는 방법 | |
| US10191395B2 (en) | Thermal conditioning unit, lithographic apparatus and device manufacturing method | |
| US8817229B2 (en) | Method of cooling an optical element, lithographic apparatus and method for manufacturing a device | |
| CN102047151B (zh) | 辐射系统、辐射收集器、辐射束调节系统、用于辐射系统的光谱纯度滤光片以及用于形成光谱纯度滤光片的方法 | |
| US20040051984A1 (en) | Devices and methods for cooling optical elements in optical systems, including optical systems used in vacuum environments | |
| JP5732257B2 (ja) | リソグラフィ装置、デバイス製造方法およびコンピュータ読取可能媒体 | |
| US7397531B2 (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
| WO2007122856A1 (ja) | 光学素子冷却装置および露光装置 | |
| US9366977B2 (en) | Semiconductor microlithography projection exposure apparatus | |
| US20050157284A1 (en) | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby | |
| JP2004247438A (ja) | 冷却装置 | |
| JP4532835B2 (ja) | 冷却装置、それを有する光学部材並びに露光装置 | |
| JP2007142190A (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
| TW200527499A (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
| JP4305003B2 (ja) | Euv光学系及びeuv露光装置 | |
| JP5446984B2 (ja) | ミラー温調装置、光学系、及び露光装置 | |
| JP5098306B2 (ja) | 露光装置、デバイス製造方法、及び露光方法 | |
| JP2004080025A (ja) | 冷却装置及び方法、当該冷却装置を有する露光装置 | |
| JP2004336026A (ja) | 温度調節装置及びそれを有する露光装置、デバイスの製造方法 | |
| JP2004335585A (ja) | 冷却装置及び方法、当該冷却装置を有する露光装置、デバイスの製造方法 | |
| JP2006135203A (ja) | 輻射温調部材および露光装置 | |
| NL2005692A (en) | Method of cooling an optical element, lithographic apparatus and method for manufacturing a device. |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090924 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100922 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111031 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111108 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120110 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120828 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120910 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5098306 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |