JP5098735B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

Description

本発明は光ディスク装置に関し、例えば１ビームＰＰ（Push Pull）法によりトラッキングエラー信号を生成し対物レンズのトラッキング制御を行う光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）やＣＤ（Compact Disc）等の光ディスクに対し、音楽コンテンツや映像コンテンツ、或いは各種データ等の情報を記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生するようになされたものが広く普及している。

実際上、光ディスク装置は、光ディスクの信号記録層に同心円状又は螺旋状に形成されたトラックに対して書込用の光ビームを照射することにより、所定形状のピットを形成して情報の記録を行い、また当該トラックに読出用の光ビームを照射してその反射光ビームを読み出すことにより、情報の再生を行うようになされている。

このとき光ディスク装置は、光ディスクからの反射光ビームの一部を検出して所定の信号処理を施すことにより、光ビームの照射位置と所望のトラックとのずれ量に応じたトラッキングエラー信号を生成する。さらに光ディスク装置は、生成したトラッキングエラー信号を基に当該光ビームの照射位置を制御して当該ずれ量を削減させる、いわゆるトラッキング制御を行うようになされている。

かかるトラッキングエラー信号の生成手法としては様々なものが提案されており、特に光ディスクからの反射光を基にプッシュプル信号を生成する手法は、記録可能なＢＤ−Ｒ（Recordable）メディアやＢＤ−ＲＥ（REwritable）メディアに対するトラッキングエラー信号を生成する際に用いられている。

例えば光ディスク装置のなかには、読出専用のＢＤ−ＲＯＭ（Read Only Memory）メディアについてはＤＰＤ（Differential Phase Detection）法を用い、ＢＤ−ＲメディアやＢＤ−ＲＥメディアについては１ビームＰＰ（Push Pull）法によりトラッキングエラー信号を生成するようになされたものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。

この光ディスク装置では、例えば図１に示すような複数の回折領域に分割されたホログラム２により、反射光ビームを当該回折領域ごとに所定角度で回折させて分割し、分割後の反射光ビームを図２に示すフォトディテクタ３へそれぞれ照射させる。

因みにホログラム２の回折領域２Ａ、２Ｂ、２Ｃ及び２Ｄには、いわゆるブレーズド型の回折格子がそれぞれ形成され、矢印で示した方向へ光ビームを回折させるようになされている。

フォトディテクタ３は、複数の検出領域３Ａ、３Ｂ、３Ｃ及び３Ｄにおいてそれぞれ光ビームの光量を検出し、検出信号Ｓ１Ａ、Ｓ１Ｂ、Ｓ１Ｃ及びＳ１Ｄを生成する。光ディスク装置は、当該検出信号Ｓ１Ａ、Ｓ１Ｂ、Ｓ１Ｃ及びＳ１Ｄ並びに所定の係数Ｋを用い、次に示す（１）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出する。

特開２００７−２１３７５４公報（第１５図）

しかしながら、かかる構成の光ディスク装置では、複数の記録層が形成されている光ディスクにおける所望の記録層に対し光ビームを照射した場合、他の記録層において当該光ビームが反射されることにより層間迷光が生じ、迷光ビームがフォトディテクタ３に照射される。

この迷光ビームは、ホログラム２により回折等された結果、図３に斜線で示すように、検出領域３Ａ、３Ｂ、３Ｃ及び３Ｄのうち、例えば検出領域３Ａ及び３Ｂの一部のみに迷光パターンＰＳとして照射される場合がある。

この場合、フォトディテクタ３により生成される検出信号Ｓ１Ａ及びＳ１Ｂには、迷光成分が含まれる。このため、光ディスク装置が算出するトラッキングエラー信号ＳＴＥ１は、光ビームの照射位置と所望のトラックとのずれ量を正しく表さないことになる。この結果、光ディスク装置は、トラッキング制御の精度を低下させてしまう。

ここで、迷光の光量が一定であるか又は光ビームの光量と当該迷光の光量との比率が一定の値であれば、当該光量又は当該比率を用いてトラッキングエラー信号ＳＴＥを補正することも考えられる。

しかしながら光ディスク各記録層における光ビームの反射率は、規格等による規定の範囲内で、光ディスクの製造メーカーや製品、或いは製造ロット等（以下、これらをまとめて光ディスクの種類と呼ぶ）により相違している。

これにより光ディスク装置では、各記録層において反射される反射光ビーム及び迷光ビームの強度が、光ディスクの種類によって相違することになる。

この結果、光ディスク装置では、迷光の光量若しくは光ビームの光量と当該迷光の光量との比率のいずれも一定の値とならず、トラッキングエラー信号ＳＴＥの補正が困難となり、結果的にトラッキング制御の精度を低下させてしまうという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクの層間迷光が生じる場合にも高精度にトラッキング制御を行い得る光ディスク装置を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明の光ディスク装置においては、光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層における、螺旋状又は同心円状に複数形成されたトラックのうち対象とする対象トラックに所定の光ビームを集光する対物レンズと、対物レンズを少なくともトラックと直交するトラッキング方向へ移動させるトラッキング移動部と、光ビームが記録層において反射されてなる反射光ビームを、対象トラックに対する光ビームの焦点のずれ量に応じて光量が変化するプッシュプル領域と対物レンズのトラッキング方向への変位量に応じて光量が変化するレンズシフト領域とに分割し、さらにそれぞれを対象記録層に形成されたトラックの走行方向に沿って内周側及び外周側に分割すると共に、当該プッシュプル領域と当該レンズシフト領域とで互いに相違する回折角度で回折させる反射光ビーム分割回折部と、反射光ビームのうち内周側及び外周側におけるプッシュプル領域成分をそれぞれ受光し光量を検出する内周側及び外周側のプッシュプル受光領域と、反射光ビームのうち内周側及び外周側におけるレンズシフト領域成分をそれぞれ受光し光量を検出する内周側及び外周側のレンズシフト受光領域とを有する受光部と、内周側及び外周側のプッシュプル受光領域における受光結果の差分でなるプッシュプル差分値と、内周側及び外周側のレンズシフト受光領域における受光結果の差分に所定の係数を乗じてなるレンズシフト差分値とを算出するプッシュプル差分値算出部と、光ディスクにおける対象記録層の反射率と対象記録層以外の他の記録層の反射率との比率を表す反射率比を取得する反射率比取得部と、プッシュプル差分値又はレンズシフト差分値に乗じるべき補正係数を反射率比と対応付けて予め記憶している記憶部から、光ディスクの反射率比に対応付けられている補正係数を読み出す補正係数読出部と、補正係数を乗じるべきプッシュプル差分値又はレンズシフト差分値に対し当該補正係数を乗じた上で当該プッシュプル差分値及び当該レンズシフト差分値の差分値を算出することにより、対象トラックからの光ビームの焦点のずれ量を表すトラッキングエラー信号を算出するトラッキングエラー信号算出部と、トラッキングエラー信号を基にトラッキング移動部により対物レンズをトラッキング方向へ移動させるトラッキング制御部とを設けるようにした。

これにより光ディスク装置は、光ビームが他の記録層において反射されてなる迷光ビームがプッシュプル受光領域とレンズシフト受光領域とのいずれかにかかるよう照射されたとしても、光ディスクの反射率比に応じた補正係数を用いることにより、レンズシフト差分値又はプッシュプル差分値を補正することができる。この結果、光ディスク装置は、迷光ビームの影響を排除したトラッキングエラー信号を生成することができる。

本発明によれば、光ディスク装置は、光ビームが他の記録層において反射されてなる迷光ビームがプッシュプル受光領域とレンズシフト受光領域とのいずれかにかかるよう照射されたとしても、光ディスクの反射率比に応じた補正係数を用いることにより、レンズシフト差分値又はプッシュプル差分値を補正することができる。この結果、迷光ビームの影響を排除したトラッキングエラー信号を生成することができ、かくして光ディスクの層間迷光が生じる場合にも高精度にトラッキング制御を行い得る光ディスク装置を実現できる。

以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）光ディスク装置の構成
光ディスク装置１０は、図４に示すように、制御部１１を中心に構成されており、例えばＢＤ方式の光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。

制御部１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１１Ａと、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ（Read Only Memory）１１Ｂと、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）１１Ｃとによって構成されており、光ディスク装置１０を統括制御するようになされている。

また制御部１１は、光ディスク１００が多層光ディスクである場合、情報を記録又は再生すべき記録層Ｙを対象記録層ＹＧとして選択するようになされている。

制御部１１は、光ディスク１００が装填されると、駆動制御部１２を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル（図示せず）に載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。また制御部１１は、駆動制御部１２を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、移動軸Ｇ１及びＧ２に沿って光ピックアップ１７を光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向であるトラッキング方向に大きく移動させる。

例えば制御部１１は、図示しない外部機器から情報の再生命令を取得した場合、光ピックアップ１７を制御することにより光ディスク１００へ光ビームを照射させると共に、当該光ビームが当該光ディスクの対象記録層ＹＧにより反射されてなる反射光ビームを検出させ、検出信号を生成させる。

このとき信号処理部１３は、検出信号を基に、光ディスク１００の記録層と光ビームの焦点とのフォーカス方向に関するずれ量を表すフォーカスエラー信号と、当該光ディスク１００の対象記録層ＹＧにおける所望トラックと当該光ビームの焦点とのトラッキング方向に関するずれ量を表すトラッキングエラー信号とを生成する。そして信号処理部１３は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を制御部１１及び駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を基に駆動信号を生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給する。２軸アクチュエータ１９は、駆動信号に従い、対物レンズ１８をフォーカス方向及びトラッキング方向へ駆動する（詳しくは後述する）。

かくして駆動制御部１２は、光ピックアップ１７における対物レンズ１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、光ビームの焦点を所望トラックに合わせ、また追従させるようになされている。

また信号処理部１３は、供給される検出信号に対し復調処理や復号化処理等の信号処理を施すことにより情報を再生し、これを制御部１１へ供給する。制御部１１は、再生命令を送出した外部機器に対してこの情報を送出するようになされている。

一方、制御部１１は、光ディスク１００に対し情報を記録する記録命令及び記録すべき記録情報を外部機器（図示せず）から取得した場合、当該記録情報を信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、記録情報に対し所定の符号化処理及び変調処理等を施すことにより記録信号を生成し、これを光ピックアップ１７へ供給する。

光ピックアップ１７は、後述するレーザダイオードへ記録信号を供給することにより、記録用の高い光強度でなる光ビームを出射させ、光ディスク１００の所望トラックに情報を記録する。

このように光ディスク装置１０は、光ディスク１００に対し光ビームを照射することにより、当該光ディスク１００に情報を記録し、また当該光ディス１００から情報を再生し得るようになされている。

（２）光ピックアップの構成
光ピックアップ１７は、図５に示すように、複数の光学部品の組み合わせにより構成されており、全体として光ビームを光ディスク１００（図４）に照射し、また反射光ビームを受光するようになされている。

実際上、光ピックアップ１７は、制御部１１（図４）の制御に基づき、レーザダイオード２１から直線偏光でなる出射光ビームＬ０を出射させ、１／２波長板２２により当該出射光ビームＬ０の偏光方向を所定の角度だけ回転させて偏光プリズム２３へ入射させる。

偏光プリズム２３の偏光膜２３Ｓは、光ビームの偏光方向に応じて反射率が相違するように構成されており、例えばＰ偏光の光ビームをほぼ全て透過すると共に、Ｓ偏光の光ビームをほぼ全て反射するようになされている。

すなわち偏光膜２３Ｓは、出射光ビームＬ０の大部分でなるＰ偏光成分を透過させ光ビームＬ１としてコリメータレンズ２６へ入射させると共に、当該出射光ビームＬ０の一部でなるＳ偏光成分を反射させてモニタ光ビームＬｍとしてレーザ光量モニタ用フォトディテクタ２４へ入射させる。

レーザ光量モニタ用フォトディテクタ２４は、モニタ光ビームＬｍを受光してその光量に応じたモニタ検出信号ＳＭＤを生成し、これを制御部１１へ送出する。このモニタ検出信号ＳＭＤは、レーザダイオード２１から実際に出射されている出射光ビームＬ０の光量に比例した値を表している。

制御部１１は、このモニタ検出信号ＳＭＤを基に、レーザダイオード２１から出射する出射光ビームＬ０の光量を所望の値とするよう制御する。

また光ピックアップ１７は、カップリングレンズ２５及びコリメータレンズ２６により光ビームＬ１の発散角を変換して平行光とし、立ち上げミラー２７により当該光ビームＬ１を反射して進行方向を約９０度折り曲げ、１／４波長板２８へ入射させる。

因みにカップリングレンズ２５は、コリメータレンズ２６における焦点距離を引き延ばすことにより、光ビームにおける瞳端強度の低下を防止するようになされている。

１／４波長板２８は、光ビームを直線偏光及び円偏光の間で相互変換するようになされている。すなわち１／４波長板２８は、例えばＰ偏光でなる光ビームＬ１を左円偏光に変換し、対物レンズ１８へ入射させる。対物レンズ１８は、光ビームＬ１を集光し光ディスク１００の記録層へ照射する。

ここで図６（Ａ）に示すように、光ディスク１００が２層の記録層Ｙ０及びＹ１を有しており、且つ光ディスク装置１０が記録層Ｙ０を対象記録層ＹＧとしている場合を想定する。

このとき光ビームＬ１は、対象記録層ＹＧである記録層Ｙ０において反射されることにより、円偏光における回転方向が反転されて右円偏光の反射光ビームＬ２となり、発散光として対物レンズ１８へ入射する。

対物レンズ１８は、反射光ビームＬ２を発散光から平行光に変換し、これを１／４波長板２８により円偏光から直線偏光に、すなわち右円偏光からＳ偏光に変換させた上で、コリメータレンズ２６へ入射させる。

反射光ビームＬ２は、コリメータレンズ２６及びカップリングレンズ２５を順次通過することにより収束光に変換され、偏光プリズム２３へ入射される。偏光プリズム２３は、偏光膜２３ＳにおいてＳ偏光でなる反射光ビームＬ２を反射させ、ホログラム回折素子３１へ入射させる。

ホログラム回折素子３１は、薄板状に構成されており、図７に示すように反射光ビームＬ２が入射される面にトラッキングサーボ用ホログラム４１が形成され、その反対面にフォーカスサーボ用ホログラム４２が形成されている。

因みにホログラム回折素子３１は、ガラス材料や透明な樹脂等、光透過率の高い材料により構成されている。

トラッキングサーボ用ホログラム４１は、図１と対応する図８（Ａ）に示すように、複数の領域に分割されている。

具体的にトラッキングサーボ用ホログラム４１は、光ディスク１００におけるトラックの走行方向と対応するｙ方向に関して大きく３分割されている。さらにトラッキングサーボ用ホログラム４１は、その中央部分が当該ｙ方向と直交するｘ方向に関して３分割されることにより回折領域４１Ｃ及び４１Ｄ並びに透過領域４１Ｅが形成されると共に、ｙ方向に関する両端部分がそれぞれｘ方向に関して２分割されることにより回折領域４１Ａ及び４１Ｂがそれぞれ形成されている。

図８（Ａ）におけるＱ１−Ｑ２断面及びＱ５−Ｑ６断面を図８（Ｂ）に示すように、回折領域４１Ａ及び４１Ｂには、それぞれブレーズド型の回折格子が形成されており、反射光ビームＬ２を−ｘ方向及び＋ｘ方向へそれぞれ比較的小さく回折させ、それぞれ反射光ビームＬ３Ａ及びＬ３Ｂとして出射するようになされている。

また図８（Ａ）におけるＱ３−Ｑ４断面を図８（Ｃ）に示すように、回折領域４１Ｄ及び４１Ｃにもそれぞれブレーズド型の回折格子が形成されており、反射光ビームＬ２を−ｘ方向及び＋ｘ方向へそれぞれ比較的大きく回折させることにより、それぞれ反射光ビームＬ３Ｄ及びＬ３Ｃとして出射するようになされている。

すなわち反射光ビームＬ３Ｄ及びＬ３Ｃは、反射光ビームＬ３Ａ及びＬ３Ｂよりも大きく回折された状態で出射されることになる。

一方、透過領域４１Ｅは、平坦に形成されており、反射光ビームＬ２を回折させることなくそのまま透過することにより、これを反射光ビームＬ３Ｅとして出射するようになされている。

ところで反射光ビームＬ２は、図９に示すように、その光軸に垂直なトラッキングサーボ用ホログラム４１上において、その投影面が全体的に略円形となっている。

この反射光ビームＬ２は、対物レンズ１７がトラッキング制御によりトラッキング方向（図中の−ｘ方向又は＋ｘ方向）へ移動された場合、すなわち対物レンズ１７がレンズシフトされた場合、当該移動に応じてトラッキングサーボ用ホログラム４１に対する照射位置を移動させることになる。

これにより反射光ビームＬ３Ａ、Ｌ３Ｂ、Ｌ３Ｃ及びＬ３Ｄの光量は、対物レンズ１８のレンズシフト量に応じて変化することになる。

また反射光ビームＬ２のうち斜線で示す部分、すなわち回折領域４１Ｃ及び４１Ｄを通過する部分は、光ディスク１００において光ビームＬ１と対象記録層ＹＧにおける所望トラックとのトラッキング方向に関するずれ量（以下これをトラッキングずれ量と呼ぶ）に応じて、それぞれの光量が増減する。

これにより反射光ビームＬ３Ｃ及びＬ３Ｄは、レンズシフト量及びトラッキングずれ量の双方に応じてそれぞれ光量が変化する。

これに対して反射光ビームＬ２のうち回折領域４１Ａ及び４１Ｂを通過する部分、すなわち反射光ビームＬ３Ａ、Ｌ３Ｂは、トラッキングずれ量の影響を受けることなく、対物レンズ１７のレンズシフト量に応じてその光量が変化することになる。

このようにトラッキングサーボ用ホログラム４１は、複数の回折領域４１Ａ、４１Ｂ、４１Ｃ及び４１Ｄ並びに透過領域４１Ｅにより反射光ビームＬ２をそれぞれ回折又は透過させることにより、反射光ビームＬ３Ａ、Ｌ３Ｂ、Ｌ３Ｃ、Ｌ３Ｄ及びＬ３Ｅ（以下、これらをまとめて反射光ビームＬ３と呼ぶ）として出射するようになされている。

フォーカスサーボ用ホログラム４２は、図１０に示すように所定の格子パターンでなる回折格子が形成されており、反射光ビームＬ３を回折させることにより、０次光でなる反射光ビームＬ４、＋１次光でなる反射光ビームＬ５及び−１次光でなる反射光ビームＬ６に分光し、それぞれをフォトディテクタ３２へ照射させるようになされている。

以下では、説明の都合上、反射光ビームＬ４のうち反射光ビームＬ３Ａ、Ｌ３Ｂ、Ｌ３Ｃ、Ｌ３Ｄ及びＬ３Ｅにそれぞれ対応する光ビームをそれぞれ反射光ビームＬ４Ａ、Ｌ４Ｂ、Ｌ４Ｃ、Ｌ４Ｄ及びＬ４Ｅと呼ぶ。

フォトディテクタ３２は、図１１に示すように、反射光ビームＬ４、Ｌ５及びＬ６が照射される照射面に複数の検出領域が形成されており、大きく分けて中央の検出領域群３２Ｕ１、当該検出領域群３２Ｕ１の−ｘ側及び＋ｘ側にそれぞれ設けられた検出領域群３２Ｕ２及び３２Ｕ３が設けられている。

検出領域群３２Ｕ１には、反射光ビームＬ４の光軸が通過する中心位置に長方形状の検出領域３２Ｅが設けられており、当該検出領域３２Ｅの−ｘ側及び＋ｘ側にそれぞれ長方形状の検出領域３２Ａ及び３２Ｂがそれぞれ設けられ、さらに検出領域３２Ａの−ｘ側及び検出領域３２Ｂの＋ｘ側にそれぞれ長方形状の検出領域３２Ｄ及び３２Ｃが設けられている。

実際上、反射光ビームＬ４Ａ、Ｌ４Ｂ、Ｌ４Ｃ、Ｌ４Ｄ及びＬ４Ｅは、それぞれ検出領域３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ、３２Ｄ及び３２Ｅへ照射され、ビームスポットＰ２Ａ、Ｐ２Ｂ、Ｐ２Ｃ、Ｐ２Ｄ及びＰ２Ｅを形成する。

フォトディテクタ３２は、検出領域３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ、３２Ｄ及び３２Ｅにおける受光量に応じて検出信号Ｓ２Ａ、Ｓ２Ｂ、Ｓ２Ｃ、Ｓ２Ｄ及びＳ２Ｅをそれぞれ生成し、これらを信号処理部１３（図４）へ送出する。

このときフォトディテクタ３２は、検出領域３２Ａ及び３２Ｂにおいてレンズシフト量に関する検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂを生成し、検出領域３２Ｄ及び３２Ｃにおいてトラッキングずれ量に関する検出信号Ｓ２Ｄ及びＳ２Ｃを生成することになる。

ここで、図１２（Ａ）にトラッキングサーボ用ホログラム４１及び反射光ビームＬ２を模式的に示すように、回折領域４１Ａ及び４１Ｂを通過する反射光ビームＬ２の光量同士の差分、すなわち検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂの差分をサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２とする。このサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２は、対物レンズ１８のレンズシフト量に応じた値となる。

また、回折領域４１Ｃ及び４１Ｄを通過する反射光ビームＬ２の光量同士の差分、すなわち検出信号Ｓ２Ｃ及びＳ２Ｄの差分をメインプッシュプル信号ＭＰＰ２とする。このメインプッシュプル信号ＭＰＰは、光ディスク１００の対象記録層ＹＧにおけるトラッキングずれ量に上述したレンズシフト量が重畳された値となる。

ここで、対物レンズ１８を強制的にトラッキング方向に往復移動させた際の、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２の波形を図１２（Ｂ）にそれぞれ示す。

この波形図からわかるように、光ディスク装置１０は、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２の信号レベルを揃えて差分を算出すれば、トラッキングずれ量のみに応じた信号、すなわちトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出できる。

そこで信号処理部１３（図４）は、基本的には、上述した（１）と対応する（２）式の演算をすることにより、１ビームＰＰ法によるトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出できることになる。

（２）式における振幅係数Ｋは、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２の振幅の比を基に得られる値となる。

光ディスク装置１０は、信号処理部１３から駆動制御部１２へトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を供給することにより、駆動制御部１２により当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ２を基に２軸アクチュエータ１９を駆動させ、対物レンズ１８のトラッキング制御を行うことができる。

一方、検出領域群３２Ｕ２及び３２Ｕ３（図１１）は、それぞれ比較的大きな長方形状に構成されており、さらにそれぞれｙ方向に関して３分割されている。

反射光ビームＬ５及びＬ６は、それぞれ検出領域群３２Ｕ２及び３２Ｕ３へ照射され、ビームスポット群Ｐ２Ｕ２及びＰ２Ｕ３をそれぞれ形成する。フォトディテクタ３２は、検出領域群３２Ｕ２及び３２Ｕ３の各検出領域における受光量に応じてそれぞれ検出信号を生成し、これらについても信号処理部１３（図４）へ送出する。

信号処理部１３は、ここで得られた検出信号を基に、スポットサイズディテクティング法に従った演算処理を行うことにより、フォーカスエラー信号ＳＦＥを生成し、駆動制御部１２へ供給する。駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥを基に２軸アクチュエータ１９を駆動させることにより、対物レンズ１８のフォーカス制御を行うようになされている。

このように光ピックアップ１７は、光ディスク１００に光ビームＬ１を照射すると共に、当該光ディスク１００において光ビームＬ１が反射されてなる反射光ビームＬ２をトラッキングサーボ用ホログラム４１及びフォーカスサーボ用ホログラム４２により分割及び回折させ、フォトディテクタ３２に複数設けられた検出領域によりそれぞれの光量を検出するようになされている。

（３）トラッキング制御
（３−１）迷光による影響の排除
ところで光ディスク装置１０では、図６（Ａ）と対応する図６（Ｂ）に示すように、記録層Ｙ１が対象記録層ＹＧであった場合、光ビームＬ１が対象記録層（すなわち記録層Ｙ１）において反射されることにより反射光ビームＬ２が生成され、当該光ビームＬ１が他の記録層Ｙ（すなわち記録層Ｙ０）において反射されることにより迷光ビームＬＳが生成される。

この迷光ビームＬＳは、トラッキングサーボ用ホログラム４１（図８）において分割及び回折された上でフォトディテクタ３２に照射される。この結果、フォトディテクタ３２には図１３（Ｂ）に示すような迷光パターンＰＳが形成される。

この図１３（Ｂ）からわかるように、対象記録層ＹＧが記録層Ｙ１であった場合、検出領域３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ及び３２Ｄには、一様に迷光パターンＰＳ０が照射されている。

このため光ディスク装置１０は、（２）式に従いトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出するだけで、迷光ビームＬＳの影響を受けることなくトラッキング制御を行うことができる。

一方、光ディスク装置１０は、図６（Ａ）に示したように、記録層Ｙ０が対象記録層ＹＧであった場合、光ビームＬ１が対象記録層（すなわち記録層Ｙ０）において反射されることにより反射光ビームＬ２が生成され、当該光ビームＬ１が他の記録層Ｙ（すなわち記録層Ｙ１）において反射されることにより迷光ビームＬＳが生成される。

この迷光ビームＬＳは、フォトディテクタ３２に照射され、図１３（Ａ）に示すような迷光パターンＰＳ１を形成する。

この図１３（Ａ）からわかるように、記録層Ｙ０が対象記録層ＹＧであった場合、迷光パターンＰＳ１は、その一部が検出領域３２Ａ及び３２Ｂに部分的にかかっているものの、検出領域３２Ｃ及び３２Ｄにはかかっていない。

すなわち検出領域３２Ａ及び３２Ｂにおける受光量に応じて生成される検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂは、迷光ビームＬＳの光量が重畳された値となるため、反射光ビームＬ４Ａ及びＬ４Ｂの光量そのものを表さないことになる。

ここで、検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂにそれぞれ含まれている迷光ビームＬＳの成分をそれぞれＳ２Ａｓ及びＳ２Ｂｓとした場合、トラッキングエラー信号ＴＥＳ２は次に示す（３）式により算出できる。

ところで、仮に反射光ビームＬ２と迷光ビームＬＳとの光量比が一定であれば、検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂにそれぞれにおける、反射光ビームＬ４Ａ及びＬ４Ｂの光量成分と迷光パターンＰＳの光量成分との比率が一定となる。

この場合、上述した（２）式において、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２を表す項とサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２を表す項との比率を調整することにより、当該迷光ビームＬＳの影響を排除できることになる。

すなわち、（３）式ではサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２を表す項において、迷光ビームＬＳに起因した成分である（Ｓ２Ａｓ−Ｓ２Ｂｓ）を減算した。ここで、サイドプッシュプル信号ＳＰＰ２を表す成分である（Ｓ２Ａ−Ｓ２Ｂ）と迷光ビームＬＳに起因した成分である（Ｓ２Ａｓ−Ｓ２Ｂｓ）との比率について検討する。この場合、減算ではなく所定の補正係数Ｋｓを乗算すること、すなわち次の（４）式のような演算処理によっても、同様に迷光ビームＬＳの成分を排除できることになる。

（３−２）光ディスクの各記録層における反射率の相違への対応
ところで光ディスク１００は、規格等によって各記録層における光反射率が許容範囲をもって規定されている。すなわち光ディスク１００は、製造メーカー、製品、型番や製造ロット等（以下、これらを種類と呼ぶ）相違する場合、当該規格等の規定範囲内において、各記録層における反射率がその種類ごとに相違する可能性がある。

このため光ディスク装置１０では、光ディスク１００による反射光ビームＬ２と迷光ビームＬＳとにおける光量の比率が、当該光ディスク１００の種類ごとに相違する可能性がある。

このことは、上述した（４）式において補正係数Ｋｓを一定の値に固定した場合、トラッキングエラー信号ＳＴＥ２から迷光ビームＬＳの影響を適切に排除し得ないことを意味している。

そこで光ディスク装置１０では、各記録層Ｙにおける反射率Ｒ同士の比率（以下これを反射率比ＲＴと呼ぶ）に応じて、迷光ビームＬＳの影響を適切に排除し得る補正係数Ｋｓを選択してトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出するようになされている。

具体的に光ディスク装置１０については、製造工場等において、各記録層Ｙにおける反射率Ｒが既知である、すなわち反射率比ＲＴが既知である光ディスク１００を用い、迷光ビームＬＳの影響を適切に排除し得る補正係数Ｋｓを求める。

さらに光ディスク装置１０は、種々の反射率比ＲＴを有する光ディスク１００について当該反射率比ＲＴと適切な補正係数Ｋｓとをそれぞれ対応付け、これを補正係数テーブルＴＢＬとして制御部１１内のＲＯＭ１１Ｂに記憶させるようになされている。

その後光ディスク装置１０は、ＢＤ−ＲＥでなる光ディスク１００を用いて情報の記録又は再生を行う場合、例えば光ディスク１００の内周側に設けられたＯＰＣ（Optimum Power Control）エリアを利用し、プルイン信号ＳＰＩの出力レベルを基に記録層Ｙにおける反射率を検出する。

ここでＯＰＣエリアは、光ディスク装置１０等により光ディスク１００に情報が記録される直前に、試験用の情報が記録され、当該試験用の情報が読み取られて光ビームの照射強度が調整された後、当該試験用の情報が消去されるようになされている。すなわちＯＰＣエリアは、記録開始直前以外は常に未記録状態となっており、記録層Ｙにおける本来の反射率を呈するようになされている。

またプルイン信号ＳＰＩとは、フォトディテクタ３２により生成した検出信号Ｓ２Ａ、Ｓ２Ｂ、Ｓ２Ｃ、Ｓ２Ｄ及びＳ２Ｅの和であるＲＦ信号を基に、ＬＰＦ（Low Pass Filter）等により低域成分を抽出した信号であり、反射光ビームＬ４全体の光量に相当するものである。

続いて光ディスク装置１０は、制御部１１において測定した反射率Ｒを基に反射率比ＲＴを算出した上で、当該反射率比ＲＴに対応した補正係数Ｋｓを補正係数テーブルＴＢＬから読み出し、これを信号処理部１３へ供給する。

信号処理部１３は、制御部１１から供給された補正係数Ｋｓを用いて（４）式に従った演算処理を行うことにより、迷光ビームＬＳの影響が排除されたトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。駆動制御部１２は、当該トラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基にトラッキング制御を行う。

かくして光ディスク装置１０は、光ディスク１００における反射率比ＲＴに対応した補正係数Ｋｓを取得し、当該補正係数Ｋｓを用いてトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出することにより、迷光ビームＬＳの影響を受けることなくトラッキング制御を行い得るようになされている。

（３−３）製造工程における各係数の算出
実際上、光ディスク装置１０は、製造工場等での製造工程において、ある程度組み立てられた後、光ディスク１００の各記録層Ｙについて振幅係数Ｋをそれぞれ求めると共に、制御部１１のＲＯＭ１１Ｂに補正係数テーブルＴＢＬを格納するようになされている。

因みに振幅係数Ｋは、光ピックアップ１７における各光学部品の取付状態等に応じて最適値が相違し、且つ記録層Ｙごとにも最適値が相違するため、光ディスク装置１０の各個体について、記録層Ｙごとに求められるようになされている。

（３−３−１）振幅係数の算出
光ディスク装置１０は、光ディスク１００の記録層Ｙごとに振幅係数Ｋを求める際、図１４に示すフローチャートに従い振幅係数算出処理手順ＲＴ１を実行するようになされている。

光ディスク装置１０は、制御部１１において所定の振幅係数算出プログラムを実行することにより振幅係数算出処理手順ＲＴ１を開始し、ステップＳＰ１へ移る。

ステップＳＰ１において制御部１１は、所定の測定用ディスクが装填されるのを待ち受け、次のステップＳＰ２へ移る。

ステップＳＰ２において制御部１１は、最初の対象記録層ＹＧを記録層Ｙ０とし、次のステップＳＰ３へ移る。ステップＳＰ３において制御部１１は、対物レンズ１８を繰り返しレンズシフトさせ、このときのメインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２をそれぞれ取得し、次のステップＳＰ４へ移る。

ステップＳＰ４において制御部１１は、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２における振幅の比率を基に、記録層Ｙ０における振幅係数Ｋ０を算出し、次のステップＳＰ５へ移る。

ステップＳＰ５において制御部１１は、次の対象記録層ＹＧを記録層Ｙ１とし、次のステップＳＰ６へ移る。ステップＳＰ６において制御部１１は、対物レンズ１８を繰り返しレンズシフトさせ、このときのメインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２をそれぞれ取得し、次のステップＳＰ７へ移る。

ステップＳＰ７において制御部１１は、メインプッシュプル信号ＭＰＰ２及びサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２における振幅の比率を基に、記録層Ｙ１における振幅係数Ｋ１を算出し、次のステップＳＰ８へ移る。

ステップＳＰ８において制御部１１は、振幅係数Ｋ０及びＫ１をＲＯＭ１１Ｂに格納し、次のステップＳＰ９へ移って振幅係数算出処理手順ＲＴ１を終了する。

（３−３−２）補正係数テーブルの生成
補正係数テーブルＴＢＬを生成する場合、予め各記録層Ｙにおける反射率Ｒ、すなわち反射率比ＲＴが判明している光ディスク１００Ｎを用いるようになされている。

このとき光ディスク装置１０では、振幅係数算出処理手順ＲＴ１におけるステップＳＰ２〜ＳＰ４と同様の処理を行うことにより、当該光ディスク１００Ｎの記録層Ｙ０についての最適な振幅係数Ｋ０Ｎを算出する。

ここで、所定の計算装置等を用いることにより、振幅係数算出処理手順ＲＴ１に従い既に算出した振幅係数Ｋと振幅係数Ｋ０Ｎとの比率等を基に、補正係数Ｋｓが得られる。

実際上、反射率比ＲＴが様々な値である複数の光ディスク１００Ｎについて、光ディスク装置１０によりそれぞれ振幅係数Ｋ０Ｎが算出され、また各振幅係数Ｋ０Ｎについて、計算装置により補正係数Ｋｓがそれぞれ算出される。

さらに計算装置は、各反射率ＲＴと各補正係数Ｋｓとを対応付けることにより、補正係数テーブルＴＢＬを生成する。この補正係数テーブルＴＢＬは、光ディスク装置１０の製造工程等において、制御部１１のＲＯＭ１１Ｂ等に予め格納されるようになされている。

因みに補正係数テーブルＴＢＬは、光ディスク装置１０の個体ごとではなく、各光ディスク装置１０で共通して使用されるようになされている。

（３−４）トラッキング制御
光ディスク装置１０は、製造工場等から出荷された後、実際に光ディスク１００に情報を記録し、又は当該光ディスク１００から情報を再生する場合、光ディスク１００の種類等に応じて、補正係数Ｋｓを適切に設定した上でトラッキング制御を行うようになされている。

（３−４−１）補正係数の設定
まず光ディスク装置１０は、装填されている光ディスク１００に適した補正係数Ｋｓを設定するべく、図１５に示すフローチャートに従い補正係数設定処理手順ＲＴ２を実行するようになされている。

光ディスク装置１０は、制御部１１において所定の補正係数設定プログラムを実行することにより補正係数設定処理手順ＲＴ２を開始し、ステップＳＰ１１へ移る。

ステップＳＰ１１において制御部１１は、光ディスク１００が装填されるのを待ち受け、当該光ディスク１００が装填されると次のステップＳＰ１２へ移る。

ステップＳＰ１２において制御部１１は、装填された光ディスク１００に対して所定の種類判別処理を行うことにより、当該光ディスク１００の種類（すなわちＢＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥのいずれであるか）を判別し、次のステップＳＰ１３へ移る。

ステップＳＰ１３において制御部１１は、装填された光ディスク１００がＢＤ−ＲＥメディアであるか否かを判定する。ここで肯定結果が得られると、このことはＢＤ−ＲＥメディアに適したトラッキング制御を行うために、補正係数Ｋｓを設定する必要があることを表しており、このとき制御部１１は次のステップＳＰ１４へ移る。

ステップＳＰ１４において制御部１１は、装填された光ディスク１００に合わせてサーボゲイン、オフセット、フォーカスバイアス、カバー補正等の各種調整及びキャリブレーション等を行い、次のステップＳＰ１５へ移る。

ステップＳＰ１５において制御部１１は、光ピックアップ１７をトラッキング方向へ移動させることにより、光ビームＬ１の焦点を光ディスク１００の内周側に設けられたＯＰＣエリアに合わせ、次のステップＳＰ１６へ移る。

ステップＳＰ１６において制御部１１は、各記録層ＹにおけるＯＰＣエリアに光ビームＬ１を照射することにより、各記録層Ｙについてプルイン信号ＳＰＩの出力レベルを検出し、次のステップＳＰ１７へ移る。

ステップＳＰ１７において制御部１１は、各記録層Ｙについて得たプルイン信号ＳＰＩにおける出力レベル同士の比率を算出することにより記録層Ｙ同士の反射率比ＲＴを求め、次のステップＳＰ１８へ移る。

ステップＳＰ１８において制御部１１は、算出した反射率比ＲＴに対応する補正係数Ｋｓを補正係数テーブルＴＢＬから読み出し、各記録層Ｙごとの振幅係数Ｋ０及びＫ１と共に当該補正係数Ｋｓを信号処理部１３へ送出する。その後制御部１１は、次のステップＳＰ１９へ移って補正係数設定処理手順ＲＴ２を終了する。

一方、ステップＳＰ１３において否定結果が得られると、このことは光ディスク１００が又はＢＤ−Ｒメディア又はＢＤ−ＲＯＭメディアであることを表しており、このとき制御部１１は、当該又はＢＤ−Ｒメディア又はＢＤ−ＲＯＭメディアに適したトラッキング制御を行うべく、ステップＳＰ１９へ移って補正係数設定処理手順ＲＴ２を終了する。

（３−４−２）トラッキングエラー信号の生成
光ディスク装置１０は、上述した補正係数設定処理手順ＲＴ２に従い、制御部１１から振幅係数Ｋ０及びＫ１並びに補正係数Ｋｓを信号処理部１３へ供給すると共に、対象記録層ＹＧが記録層Ｙ０又は記録層Ｙ１のいずれであるかについても、当該信号処理部１３へ通知するようになされている。

信号処理部１３は、対象記録層ＹＧが記録層Ｙ０である場合、上述した（４）式に振幅係数Ｋ０及び補正係数Ｋｓを適用した上でトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出する。

また信号処理部１３は、対象記録層ＹＧが記録層Ｙ１である場合、上述した（２）式に振幅係数Ｋ１を適用した上でトラッキングエラー信号ＳＴＥ２を算出する。

このように光ディスク装置１０は、対象記録層ＹＧが記録層Ｙ０であり、光ディスク１００における各記録層Ｙの反射率比ＲＴに応じて迷光ビームＬＳによる影響度合いが変化する場合であっても（図１３（Ａ））、補正係数Ｋｓを用いてトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を適切に補正することにより、高精度なトラッキング制御を行い得るようになされている。

（４）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１０は、その製造工程において、光ピックアップ１７等がある程度組み立てられた状態で、制御部１１により振幅係数算出処理手順ＲＴ１に従い、測定用光ディスクの記録層Ｙ０及びＹ１についてそれぞれ振幅係数Ｋ０及びＫ１を求め、これらをＲＯＭ１１Ｂに格納する。

また制御部１１は、予め様々な反射率比ＲＴを有する複数の光ディスク１００について補正係数Ｋｓが求められ、当該反射率比ＲＴと当該補正係数Ｋｓとが対応付けられ補正係数テーブルＴＢＬについても、ＲＯＭ１１Ｂに格納する。

その後光ディスク装置１０は、実際に光ディスク１００に対し情報を記録し又は当該光ディスク１００から情報を再生する際、当該光ディスク１００がＢＤ−ＲＥメディア又はＢＤ−Ｒメディアであれば、各記録層Ｙの反射率Ｒをそれぞれ測定して反射率比ＲＴを算出する。さらに光ディスク装置１０は、補正係数テーブルＴＢＬから当該反射率比ＲＴに対応付けられた補正係数Ｋｓを読み出す。

光ディスク装置１０は、光ディスク１００の記録層Ｙ０を対象記録層ＹＧとする際には、補正係数Ｋｓを用い（４）式に従ってトラッキング制御を行い、当該光ディスク１００の記録層Ｙ１を対象記録層ＹＧとする際には、補正係数Ｋｓを用いず（２）式に従ってトラッキング制御を行う。

従って光ディスク装置１０は、ＢＤ−ＲＥメディアでなる光ディスク１００の記録層Ｙ０を対象記録層ＹＧとする際、迷光ビームＬＳがフォトディテクタ３２の検出領域３２Ａ及び３２Ｂの一部に照射される。しかしながら光ディスク装置１０は、当該迷光ビームＬＳの影響が排除されたトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基に、１ビームＰＰ法により高精度なトラッキング制御を行うことができる。

この場合光ディスク装置１０は、反射率比ＲＴと補正係数Ｋｓとに関連性があることを利用し、予め当該反射率比ＲＴと当該補正係数Ｋｓとを対応付けて補正係数テーブルＴＢＬとして記憶しているので、光ディスク１００の反射率比ＲＴを取得するだけで、当該光ディスク１００に適した補正係数Ｋｓを読み出すことができる。

すなわち光ディスク装置１０は、市場に流通する様々な光ディスク１００における各記録層Ｙの反射率Ｒが規格等の範囲内でそれぞれ相違することにより、フォトディテクタ３２に照射される迷光ビームＬＳの影響度合いもそれぞれ相違する。このことにも拘わらず、光ディスク装置１０は、当該光ディスク１００の反射率比ＲＴから適切な補正係数Ｋｓを得ることにより、トラッキングエラー信号から迷光ビームＬＳの影響を排除できる。

このとき光ディスク装置１０は、各記録層Ｙについて、検出信号Ｓ２Ａ、Ｓ２Ｂ、Ｓ２Ｃ、Ｓ２Ｄ及びＳ２Ｅの和であるプルイン信号ＳＰＩにおける出力レベルを検出し当該出力レベル同士の比率を算出する、といった極めて容易な処理により反射率比ＲＴを得ることができ、専用のセンサや複雑な演算処理等を必要としない。

また光ディスク装置１０では、（４）式におけるサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２の項において、当該光ディスク装置１０の個体ごとの特性を反映して求められた振幅係数Ｋを乗じた値である「Ｋ×（Ｓ２Ｂ−Ｓ２Ａ）」に対し、さらに補正係数Ｋｓを乗じている。

これにより光ディスク装置１０では、補正係数Ｋｓを用いる場合であっても、当該光ディスク装置１０の個体ごとの特性を振幅係数Ｋにより吸収することができるので、当該補正係数Ｋｓを当該光ディスク装置１０ごとに個別に算出する必要がなく、当該光ディスク装置１０に共通する係数として用いることができる。

さらに光ディスク装置１０は、記録層Ｙ０又はＹ１のいずれを対象記録層ＹＧとするかに応じて、トラッキングエラー信号の算出に（４）式又は（２）式のいずれを用いるかを切り換える。このため光ディスク装置１０は、対象記録層ＹＧを記録層Ｙ１とする場合（図１３（Ｂ））のように反射率比ＲＴの相違により迷光ビームＬＳの影響が変化しない場合にまで補正係数Ｋｓを用いることがなく、トラッキング精度を却って低下させるおそれがない。

以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、予め様々な反射率比ＲＴを有する複数の光ディスク１００について求められた補正係数Ｋｓと当該反射率比ＲＴとが対応付けられた補正係数テーブルＴＢＬを制御部１１のＲＯＭ１１Ｂに記憶しておく。その後、光ディスク装置１０は、実際に光ディスク１００を用いた情報の記録又は再生を行う際、各記録層Ｙの反射率Ｒをそれぞれ測定して反射率比ＲＴを算出し、補正係数テーブルＴＢＬから当該反射率比ＲＴに対応付けられた補正係数Ｋｓを読み出す。続いて光ディスク装置１０は、光ディスク１００の記録層Ｙ０を対象記録層ＹＧとする際に、補正係数Ｋｓを用いた（４）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を算出してトラッキング制御を行う。これにより光ディスク装置１０は、迷光ビームＬＳがフォトディテクタ３２の検出領域３２Ａ及び３２Ｂの一部に照射されるものの、当該迷光ビームＬＳの影響が排除されたトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を基に、１ビームＰＰ法により高精度なトラッキング制御を行うことができる。

（５）他の実施の形態
なお上述した実施の形態においては、（２）式におけるサイドプッシュプル信号ＳＰＰ２を表す項に補正係数Ｋｓを乗じた（４）式によりトラッキングエラー信号を算出するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、（２）式におけるメインプッシュプル信号ＭＰＰ２を表す項に補正係数Ｋｓ２を乗じてトラッキングエラー信号を算出するようにしても良い。この場合、補正係数Ｋｓ２は補正係数Ｋｓの逆数とすれば良い。

また上述した実施の形態においては、トラッキングサーボ用ホログラム４１により反射光ビームＬ３Ｄ及びＬ３Ｃを比較的大きく回折させると共に反射光ビームＬ３Ａ及びＬ３Ｂを比較的小さく回折させるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、反射光ビームＬ３Ｄ及びＬ３Ｃを比較的小さく回折させると共に反射光ビームＬ３Ａ及びＬ３Ｂを比較的大きく回折させるようにしても良い。

この場合、フォトディテクタ３２の検出領域３２Ａ及び３２Ｂには反射光ビームＬ４Ｄ及びＬ４Ｃがそれぞれ照射され、フォトディテクタ３２の検出領域３２Ｄ及び３２Ｃには反射光ビームＬ４Ａ及びＬ４Ｂがそれぞれ照射される。すなわち検出信号Ｓ２Ａ及びＳ２Ｂは、主にトラッキングずれ量を表し、検出信号Ｓ２Ｄ及びＳ２Ｃは、主にレンズシフト量を表すことになる。一方で迷光ビームＬＳの照射パターンは図１３（Ａ）及び（Ｂ）と同様である。

そこでこの場合は、迷光ビームＬＳによる迷光パターンＰＳが検出領域にかかる側、すなわち上述した（２）式におけるメインプッシュプル信号ＭＰＰ２を表す項に補正係数Ｋｓを乗じるようにし、或いは補正係数Ｋｓを上述した実施の形態の逆数とするようにすれば良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００の記録層Ｙごとに光ビームの反射率Ｒを測定し、当該反射率Ｒ同士の比率を算出することにより反射率比ＲＴを取得するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。

一般に、光ディスク１００には、最初に情報を記録すべき記録層における最内周側等に設けられた所定の情報記録領域に、製造メーカー、製品、型番や製造ロット等のディスクを識別するための識別情報が記録されている。光ディスク装置１０は、この識別情報を読み取ることにより、光ディスク１００の種類を認識することができる。

そこで、例えば予め光ディスクの種類ごとに反射率比ＲＴを測定すると共に当該反射率比ＲＴに対応する補正係数Ｋｓを算出し、識別情報と当該補正係数Ｋｓとを対応付けてＲＯＭ１１Ｂ等に記憶しておくことができる。この場合、光ディスク装置１０は、光ディスク１００から読み出した識別情報を基に当該ＲＯＭ１１Ｂから補正係数Ｋｓを読み出すことができ、（４）式によりトラッキングエラー信号ＳＴＥ３を生成することができる。

さらには、これを上述した実施の形態と組み合わせても良く、例えば最初に識別情報を基に補正係数ＫｓをＲＯＭ１１Ｂから読み出すようにし、当該ＲＯＭ１１Ｂに記憶されていない識別情報であった場合にのみ反射率比ＲＴを算出して、当該反射率比ＲＴに対応する補正係数Ｋｓを読み出す等しても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００がＢＤ−ＲＥメディアであった場合にＯＰＣエリアを利用して各記録層Ｙの反射率比を求めて反射率比ＲＴを算出するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、光ディスク１００がＢＤ−Ｒメディアであった場合に、予め未記録であることが判明している所定の領域を利用し各記録層Ｙの反射率比を求めて反射率比ＲＴを算出する等しても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０がトラッキングエラー信号の生成手法として１ビームＰＰ法のみを利用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、特許文献１に記載されているように、光ディスク１００の種類に応じて、１ビームＰＰ法に対応したホログラム素子及びＤＰＤ法に対応したホログラム素子を切り換えて使用すると共にフォトディテクタ３２の受光領域を共通に使用するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、トラッキングサーボ用ホログラム４１を図８（Ａ）に示した分割パターンにより分割する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば特許文献１の図１１（Ｂ）に記載されているような分割パターンであっても良い。要は、トラッキングサーボ用ホログラム４１により、反射光ビームＬ２のうちトラッキングずれ量に応じて光量が変化する領域と、レンズシフト量に応じて光量が変化する領域とでそれぞれの光量を独立して検出し得るように分割し回折させ得れば良い。

さらに上述した実施の形態においては、（４）式における補正係数Ｋｓを光ディスク１００の反射率比ＲＴと対応付け補正係数テーブルＴＢＬとしてＲＯＭ１１Ｂに記憶するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、（３）式における迷光ビームＬＳに起因した成分である（Ｓ２Ａｓ−Ｓ２Ｂｓ）の値を反射率比ＲＴと対応付けて所定のテーブルに記憶しておき、光ディスク１００の反射率比ＲＴに応じて（Ｓ２Ａｓ−Ｓ２Ｂｓ）の値を読み出し、減算するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０の製造工程等において、ＲＯＭ１１Ｂに補正係数テーブルＴＢＬを格納するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、ＲＯＭ１１Ｂに代えてフラッシュメモリ等の書換可能な不揮発性メモリを制御部１１に設け、当該不揮発性メモリに補正係数テーブルＴＢＬを格納する等しても良い。この場合、不揮発性メモリの補正係数テーブルＴＢＬについては、例えば外部装置との通信手段を介して供給される更新データや光ディスク１００に記録された更新データ等を用いて更新するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０がＢＤメディアでなる光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、光ディスク装置１０がＤＶＤメディアやＣＤメディア等の種々のメディアでなる光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生するようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０が光ディスク１００を用いて情報の記録及び再生の双方を行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光ディスク装置１０が情報の記録又は再生のいずれか一方のみを行うようにしても良い。

さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００に２層の記録層Ｙが設けられている場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該光ディスク１００に３層以上の記録層Ｙが設けられていても良い。この場合、迷光ビームＬＳは主に隣接する記録層Ｙからの影響が大きいと考えられるため、３層以上ある記録層Ｙのうち互いに隣接する２層同士の反射率比ＲＴをそれぞれ測定すると共に当該反射率比ＲＴに対応する補正係数Ｋｓをそれぞれ求めた上で両者を対応付けて補正係数テーブルＴＢＬに格納するようにすれば良い。また光ディスク装置１０は、対象記録層ＹＧに応じて補正係数テーブルＴＢＬから補正係数Ｋｓを読み出せば良い。

さらに上述した実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ１８と、トラッキング移動部としての２軸アクチュエータ１９と、反射光ビーム分割回折部としてのトラッキングサーボ用ホログラム４１と、受光部としてのフォトディテクタ３２と、プッシュプル差分値算出部としての信号処理部１３と、反射率比取得部及び補正係数読出部としての制御部１１と、トラッキングエラー信号算出部としての信号処理部１３と、トラッキング制御部としての駆動制御部１２とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らない。すなわち本発明は、その他種々の回路構成でなる対物レンズと、トラッキング移動部と、反射光ビーム分割回折部と、受光部と、プッシュプル差分値算出部と、反射率比取得部と、補正係数読出部と、トラッキングエラー信号算出部と、トラッキング制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声、或いはコンピュータ用のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

ホログラムの構成を示す略線図である。 フォトディテクタにおける検出領域の配置を示す略線図である。 迷光ビームの照射の様子を示す略線図である。 光ディスク装置の全体構成を示す略線図である。 光ピックアップの構成を示す略線的斜視図である。 光ディスクによる光ビームの反射の説明に供する略線図である。 ホログラム回折素子の構成を示す略線図である。 トラッキングサーボ用ホログラムの構成を示す略線図である。 反射光ビームのトラッキングサーボ用ホログラムへの照射を示す略線図である。 フォーカスサーボ用ホログラムの構成を示す略線図である。 フォトディテクタの検出領域及びビームスポットの様子を示す略線図である。 メインプッシュプル信号及びサイドプッシュプル信号を示す略線図である。 迷光ビームの照射の様子を示す略線図である。 振幅係数算出処理手順を示す略線的フローチャートである。 補正係数設定処理手順を示す略線的フローチャートである。

符号の説明

１０……光ディスク装置、１１……制御部、１１Ｂ……ＲＯＭ、１２……駆動制御部、１３……信号処理部、１７……光ピックアップ、１８……対物レンズ、１９……２軸アクチュエータ、２１……レーザダイオード、３１……ホログラム回折素子、３２……フォトディテクタ、３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃ、３２Ｄ、３２Ｅ……検出領域、４１……トラッキングサーボ用ホログラム、４１Ａ、４１Ｂ、４１Ｃ、４１Ｄ……回折領域、１００……光ディスク、Ｙ０、Ｙ１……記録層、Ｌ１……光ビーム、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ４Ａ、Ｌ４Ｂ、Ｌ４Ｃ、Ｌ４Ｄ、Ｌ５、Ｌ６……反射光ビーム、Ｓ２Ａ、Ｓ２Ｂ、Ｓ２Ｃ、Ｓ２Ｄ……検出信号、Ｋ、Ｋ０、Ｋ１……振幅係数、Ｋｓ……補正係数、Ｒ……反射率、ＲＴ……反射率比、ＳＴＥ２、ＳＴＥ３……トラッキングエラー信号、ＭＰＰ２……メインプッシュプル信号、ＳＰＰ２……サイドプッシュプル信号。

Claims (5)

1. 光ディスクに複数設けられた記録層のうち対象とする対象記録層における、螺旋状又は同心円状に複数形成されたトラックのうち対象とする対象トラックに所定の光ビームを集光する対物レンズと、
   上記対物レンズを少なくとも上記トラックと直交するトラッキング方向へ移動させるトラッキング移動部と、
   上記光ビームが上記記録層において反射されてなる反射光ビームを、上記対象トラックに対する上記光ビームの焦点のずれ量に応じて光量が変化するプッシュプル領域と上記対物レンズのトラッキング方向への変位量に応じて光量が変化するレンズシフト領域とに分割し、さらにそれぞれを上記対象記録層に形成されたトラックの走行方向に沿って内周側及び外周側に分割すると共に、当該プッシュプル領域と当該レンズシフト領域とで互いに相違する回折角度で回折させる反射光ビーム分割回折部と、
   上記反射光ビームのうち内周側及び外周側における上記プッシュプル領域成分をそれぞれ受光し光量を検出する内周側及び外周側のプッシュプル受光領域と、上記反射光ビームのうち内周側及び外周側における上記レンズシフト領域成分をそれぞれ受光し光量を検出する内周側及び外周側のレンズシフト受光領域とを有する受光部と、
   内周側及び外周側の上記プッシュプル受光領域における受光結果の差分でなるプッシュプル差分値と、内周側及び外周側の上記レンズシフト受光領域における受光結果の差分に所定の係数を乗じてなるレンズシフト差分値とを算出するプッシュプル差分値算出部と、
   上記光ディスクにおける上記対象記録層の反射率と上記対象記録層以外の他の記録層の反射率との比率を表す反射率比を取得する反射率比取得部と、
   上記プッシュプル差分値又は上記レンズシフト差分値に乗じるべき補正係数を上記反射率比と対応付けて予め記憶している記憶部から、上記光ディスクの反射率比に対応付けられている上記補正係数を読み出す補正係数読出部と、
   上記補正係数を乗じるべき上記プッシュプル差分値又は上記レンズシフト差分値に対し当該補正係数を乗じた上で当該プッシュプル差分値及び当該レンズシフト差分値の差分値を算出することにより、上記対象トラックからの上記光ビームの焦点のずれ量を表すトラッキングエラー信号を算出するトラッキングエラー信号算出部と、
   上記トラッキングエラー信号を基に上記トラッキング移動部により上記対物レンズを上記トラッキング方向へ移動させるトラッキング制御部と
   を有する光ディスク装置。
2. 上記反射率比取得部は、
   上記光ディスクの上記記録層それぞれにおける未記録領域に対し上記光ビームを照射させ、このとき上記受光部によりそれぞれ検出した上記反射光ビームの光量を基に上記記録層ごとの反射率をそれぞれ求め、当該反射率同士の比率を上記反射率比とする
   請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 上記光ディスクは、
   書換型でなると共に、記録時における光ビームの強度を調整するためのＯＰＣ（Optimum Power Control）エリアが設けられ、
   上記反射率比取得部は、
   上記ＯＰＣエリアを上記未記録領域として上記光ビームを照射させる
   請求項２に記載の光ディスク装置。
4. 上記記憶部は、
   上記光ディスクについて予め測定された上記反射率比を、当該光ディスクを識別するために記録されている識別情報と対応付けて記憶し、
   上記反射率比取得部は、
   上記光ディスクから上記識別情報を読み取り、当該識別情報に対応付けて記憶されている上記反射率比を上記記憶部から読み出すことにより上記反射率比を取得する
   請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 上記受光部は、
   上記光ビームが所定の上記記録層を上記対象記録層としたときに上記迷光が上記プッシュプル受光領域又は上記レンズシフト受光領域に照射され、
   上記トラッキングエラー信号算出部は、
   上記所定の記録層を上記対象記録層とする場合、上記プッシュプル受光領域又は上記レンズシフト受光領域のうち上記光ビームが上記他の記録層において反射されてなる迷光が照射される受光領域の受光結果を基に得られた差分値に上記反射率比を乗じた上で両者の差分値を上記トラッキングエラー信号とし、
   上記他の記録層を上記対象記録層とする場合、上記プッシュプル差分値及び上記レンズシフト差分値の差分値を上記トラッキングエラー信号とする
   請求項１に記載の光ディスク装置。