JP5115584B2 - 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 - Google Patents
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Description
に要する時間を短縮することができる。したがって、本発明によれば、迅速かつ高精度な測定を実現することができる。
また、接着部材を用いて試料をシート部材間に仮固定することによって、シート部材に外力を作用させるまでの間、試料とシート部材とを一体に取り扱うことができる。また、シート部材に外力を作用させた後は、その外力によって試料がシート部材間に固定されるため、シート部材から接着部材が配置されたシート部材の一部を切り離す。
の断面に所定の屈折率を有する媒質結晶を当接させつつ、赤外線を媒質結晶を介して試料に照射するステップとを備える。試料をシート部材間に配置するステップは、シート部材間の一部に配置した接着部材によって、試料をシート部材間に仮固定するステップを含む。試料の測定方法は、試料に測定用の断面を得るステップの前に、外力を作用させた状態のシート部材から、接着部材が配置されたシート部材の一部を切り離すステップをさらに備える。
また好ましくは、シート部材は、試料とは異なる材質から形成される。このように構成された試料の断面形成方法によれば、試料の両側に配置されるシート部材に起因して試料の測定精度が低下することを防止できる。
また好ましくは、シート部材は、樹脂材料から形成される。このように構成された試料の断面形成方法によれば、シート部材と試料との密着性を向上させることで、試料をシート部材間により強固に固定することができる。また、試料に測定用の断面を得るステップ時にシート部材の端部を容易に除去することができる。したがって、試料の測定をより迅速かつ高精度に実施することができる。
Claims (5)
- 減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料に測定用の断面を形成するための試料の断面形成方法であって、
試料をシート部材間に配置するステップと、
前記シート部材に対してその両側から試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、前記シート部材の端部を試料ごと除去することによって、試料に測定用の断面を得るステップとを備え、
前記試料をシート部材間に配置するステップは、前記シート部材間の一部に配置した接着部材によって、試料を前記シート部材間に仮固定するステップを含み、
前記試料に測定用の断面を得るステップの前に、前記外力を作用させた状態の前記シート部材から、前記接着部材が配置された前記シート部材の一部を切り離すステップをさらに備える、試料の断面形成方法。 - 前記シート部材に外力を作用させるステップは、前記シート部材の両側に挟持部材を配置し、前記挟持部材を互いに近接させることによって、前記シート部材に試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップを含む、請求項1に記載の試料の断面形成方法。
- 前記シート部材の両側に挟持部材を配置するステップは、試料を挟み込んだ前記シート部材の一部が前記挟持部材間から突出するように、前記シート部材の両側に前記挟持部材を配置するステップを含み、
前記試料に測定用の断面を得るステップは、前記挟持部材間から突出する位置で前記シート部材の端部を試料ごと除去するステップを含む、請求項2に記載の試料の断面形成方法。 - 請求項2または3に記載の試料の断面形成方法において用いられる試料の固定用治具であって、
前記シート部材の両側に配置される前記挟持部材と、
前記挟持部材に連結され、前記挟持部材間の距離が変化するように前記挟持部材を移動させる移動機構部とを備える、試料の固定用治具。 - 減衰全反射法を利用した赤外分光法による試料の測定方法であって、
試料をシート部材間に配置するステップと、
前記シート部材に対してその両側から試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、前記シート部材の端部を試料ごと除去することによって、試料に測定用の断面を得るステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、試料の測定用の断面に所定の屈折率を有する媒質結晶を当接させつつ、赤外線を前記媒質結晶を介して試料に照射するステップとを備え、
前記試料をシート部材間に配置するステップは、前記シート部材間の一部に配置した接着部材によって、試料を前記シート部材間に仮固定するステップを含み、
前記試料に測定用の断面を得るステップの前に、前記外力を作用させた状態の前記シート部材から、前記接着部材が配置された前記シート部材の一部を切り離すステップをさらに備える、試料の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP2011242327A JP2011242327A (ja) | 2011-12-01 |
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ID=45409124
Family Applications (1)
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| JP2010116229A Active JP5115584B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5115584B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6253905B2 (ja) * | 2013-07-11 | 2017-12-27 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | 試料ホルダ、顕微分析方法および試料作成方法 |
| JP6213722B2 (ja) * | 2013-08-28 | 2017-10-18 | 株式会社島津テクノリサーチ | 観察試料固定器具 |
| JP6901846B2 (ja) * | 2016-12-09 | 2021-07-14 | 株式会社トクヤマ | 分光学的手法による形態観察方法 |
| WO2020068259A1 (en) * | 2018-09-30 | 2020-04-02 | Agilent Technologies, Inc. | Sacrificial clamp for preparation of thin specimens for infrared microscopy |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4984780U (ja) * | 1972-11-13 | 1974-07-23 | ||
| JPS5517479A (en) * | 1978-07-25 | 1980-02-06 | Kobe Steel Ltd | Polishing method for test piece for metal microscope and test piece |
| JPS6021435A (ja) * | 1983-07-15 | 1985-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 観察用サンプルの製造方法 |
| JP3048418B2 (ja) * | 1990-07-06 | 2000-06-05 | 株式会社豊田中央研究所 | 赤外線全反射吸収測定装置および結晶体 |
| JPH09205122A (ja) * | 1996-01-29 | 1997-08-05 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の解析方法および解析装置 |
| JP2003098076A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Konica Corp | 赤外吸収スペクトル測定方法及び装置 |
| JP4136911B2 (ja) * | 2003-11-27 | 2008-08-20 | 株式会社島津製作所 | 赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 |
| JP2005164547A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Jiyasuko Eng Kk | 薄膜スライサ |
| JP2008076345A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Toppan Printing Co Ltd | 顕微鏡観察用固定治具 |
| JP3147841U (ja) * | 2008-11-04 | 2009-01-22 | 雅浩 中村 | 超簡単ミクロトーム |
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2010
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| JP2011242327A (ja) | 2011-12-01 |
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