JP5145209B2 - Vacuum processing equipment - Google Patents
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Description
真空処理の技術分野に関し、特に、大気中から真空雰囲気に複数の基板を搬入する技術に関する。 The present invention relates to the technical field of vacuum processing, and in particular, to a technology for carrying a plurality of substrates from the atmosphere into a vacuum atmosphere.
従来から、基板を真空雰囲気中で一枚ずつ処理する枚葉式の真空処理装置が広く用いられているが、太陽電池などの技術分野では、小型の基板に対して成膜処理が行われるため、複数枚の基板を一緒に処理して処理速度を向上させたいという要求がある。 Conventionally, a single-wafer type vacuum processing apparatus that processes substrates one by one in a vacuum atmosphere has been widely used. However, in a technical field such as a solar cell, a film forming process is performed on a small substrate. There is a demand to improve the processing speed by processing a plurality of substrates together.
この場合、各基板を処理する際に、ハンドとピンとの間で基板を受け渡し、ハンドから真空処理室内の載置台上に基板を移載しようとすると、基板の枚数に応じてピンが増えるため、載置台上に形成するピンが出入りする穴も増加し、載置台中にヒータを設けることも困難となり、また、基板と載置台との間の接触面積が減少する。また、小径の基板がピン上から脱落する虞もある。 In this case, when processing each substrate, when the substrate is transferred between the hand and the pin and the substrate is transferred from the hand onto the mounting table in the vacuum processing chamber, the number of pins increases according to the number of the substrates. The number of holes through which the pins formed on the mounting table go in and out increases, making it difficult to provide a heater in the mounting table, and the contact area between the substrate and the mounting table decreases. In addition, there is a possibility that the small-diameter substrate falls off from the pins.
複数の基板をトレイ上に配置し、トレイを一枚の基板と見て搬送すると、従来と同じ構造の装置が使用でき、脱落の問題も解消できるが、トレイを基板と一緒に大気中に取り出すと大気が吸着し、トレイと共に基板を真空雰囲気中に搬入すると、トレイから吸着ガスが放出される。
また、トレイも一緒に成膜処理されるため、トレイに薄膜が付着し、パーティクル発生を防止するため、トレイの洗浄が必要となる。
When multiple substrates are placed on a tray and transported with the tray viewed as a single substrate, a device with the same structure as before can be used and the problem of dropping off can be solved, but the tray is taken out together with the substrate to the atmosphere. When the substrate is carried into the vacuum atmosphere together with the tray, the adsorbed gas is released from the tray.
In addition, since the film is formed together with the tray, a thin film adheres to the tray and it is necessary to clean the tray in order to prevent generation of particles.
真空雰囲気中で基板を搬送する装置は例えば下記文献に記載されている。
本発明は上記従来技術の問題を解決するために創作されたものであり、複数枚の基板を大気雰囲気から真空槽内に一緒に移動させる技術を課題とする。 The present invention was created in order to solve the above-described problems of the prior art, and an object thereof is a technique for moving a plurality of substrates together from an atmospheric atmosphere into a vacuum chamber.
上記課題を解決するために本発明は、処理用真空槽と、前記処理用真空槽にそれぞれ接続された搬入用真空槽と搬出用真空槽とを有し、前記搬入用真空槽と前記処理用真空槽と前記搬出用真空槽とを真空排気し、前記搬入用真空槽に配置された複数の基板を前記処理用真空槽に移動させて前記処理用真空槽内で真空処理した後、前記搬出用真空槽に移動させる真空処理装置であって、前記搬入用真空槽と前記搬出用真空槽には、行列状に配置された複数の基板を非接触の状態で吸着する吸着部と、前記吸着部を上下移動させる吸着部移動装置と、が設けられ、前記吸着部に吸着される前記基板の行数と同数の細長の指部が、前記基板の行間隔と同間隔で同方向に水平面内に配置されたハンド部と、前記ハンド部を、前記指部が前記吸着部に吸着される前記基板の各行の真下で静止する第一の移載位置と、前記処理用真空槽内の所定の第二の移載位置の間を往復移動させるハンド移動装置とがそれぞれ設けられ、前記処理用真空槽には、前記ハンド部よりも低い位置に配置され、複数の基板を載置可能な載置台と、前記載置台の表面に形成され、前記指部が伸びる方向と同方向に延設された前記指部よりも一本以上多い溝と、前記各溝の伸びる方向と同方向に延設され、前記各溝内にそれぞれ静止可能な複数の横棒と、前記横棒を前記溝内の位置と前記指部表面の高さよりも高い位置との間で上下移動させる上下移動装置と、が設けられ、前記指部の幅は、隣接する溝に配置される前記横棒間の隙間よりも小さく形成され、前記指部が前記第二の移載位置で静止したときに、前記指部は横棒間の隙間の真上に位置するように形成された真空処理装置である。
また本発明は、前記吸着部は、鉛直下方に向けられた吸着面と、前記吸着面に形成され、吸着する前記基板と同間隔の行列状に配置された複数の凹部と、前記各凹部内に複数個ずつ配置され、気体の噴出が可能な噴出孔と、前記凹部の外側に配置された突起とを有する真空処理装置である。
また本発明は、前記上下移動装置は、前記載置台の外部に位置して前記横棒の端部に鉛直に取り付けられ、前記横棒を上下移動させる支持部を有する真空処理装置である。
In order to solve the above-described problems, the present invention includes a processing vacuum chamber, a loading vacuum chamber and an unloading vacuum chamber respectively connected to the processing vacuum chamber, and the loading vacuum chamber and the processing vacuum chamber. The vacuum chamber and the unloading vacuum chamber are evacuated, a plurality of substrates arranged in the loading vacuum chamber are moved to the processing vacuum chamber, and vacuum processing is performed in the processing vacuum chamber, and then the unloading is performed. A vacuum processing apparatus for moving to a vacuum chamber for suction, wherein the suction vacuum chamber for transporting and the vacuum chamber for unloading are each provided with a suction portion for sucking a plurality of substrates arranged in a matrix in a non-contact state; A suction part moving device for moving the part up and down, and the same number of elongated fingers as the number of rows of the substrate to be sucked by the suction part in a horizontal plane in the same direction at the same interval as the row interval of the substrate. intake and placed hand portion, the front Symbol hand portion, the finger portion is the suction portion A first transfer position that is stationary immediately below each row of the substrate and a hand moving device that reciprocates between a predetermined second transfer position in the processing vacuum chamber, The processing vacuum chamber is disposed at a position lower than the hand unit, and can be mounted on a mounting table on which a plurality of substrates can be mounted, and is formed on the surface of the mounting table, and extends in the same direction as the finger unit extends. One or more grooves than the provided fingers, a plurality of horizontal bars extending in the same direction as the direction in which each of the grooves extends, and each of the horizontal bars being stationary in each of the grooves; And a vertical movement device that moves up and down between a position inside and a position higher than the height of the finger surface, and the width of the finger is a gap between the horizontal bars arranged in adjacent grooves And when the finger is stationary at the second transfer position, the finger A vacuum processing apparatus which is formed so as to be positioned directly above the gap between the bars.
Further, according to the present invention, the suction portion includes a suction surface directed vertically downward, a plurality of recesses formed in the suction surface and arranged in a matrix with the same interval as the substrate to be suctioned, and the inside of each recess A vacuum processing apparatus having a plurality of nozzles arranged on each of the nozzles and capable of jetting gas and a protrusion disposed outside the recess.
Further, the present invention is the vacuum processing apparatus according to the present invention, wherein the vertical movement device is located outside the mounting table and is vertically attached to an end portion of the horizontal bar, and has a support portion that moves the horizontal bar up and down.
本発明は、処理用真空槽と、前記処理用真空槽に接続された搬入用真空槽とを有し、前記搬入用真空槽と前記処理用真空槽を真空排気し、前記搬入用真空槽に配置された複数の基板を前記処理用真空槽に移動させて前記処理用真空槽内で真空処理する真空処理装置であって、前記搬入用真空槽には、行列状に配置された複数の基板を非接触の状態で吸着する吸着部と、前記吸着部を上下移動させる吸着部移動装置と、が設けられ、前記吸着部に吸着される前記基板の行数と同数の細長の指部が、前記基板の行間隔と同間隔で同方向に水平面内に配置されたハンド部と、前記ハンド部を、前記指部が前記吸着部に吸着される前記基板の各行の真下で静止する第一の移載位置と、前記処理用真空槽内の所定の第二の移載位置の間を往復移動させるハンド移動装置とがそれぞれ設けられ、前記処理用真空槽には、前記ハンド部よりも低い位置に配置され、複数の基板を載置可能な載置台と、前記載置台の表面に形成され、前記指部が伸びる方向と同方向に延設された前記指部よりも一本以上多い溝と、前記各溝の伸びる方向と同方向に延設され、前記各溝内にそれぞれ静止可能な複数の横棒と、前記横棒を前記溝内の位置と前記指部表面の高さよりも高い位置との間で上下移動させる上下移動装置と、が設けられ、前記指部の幅は、隣接する溝に配置される前記横棒間の隙間よりも小さく形成され、前記指部が前記第二の移載位置で静止したときに、前記指部は横棒間の隙間の真上に位置するように形成された真空処理装置であってもよい。
また、本発明は、基板の行数よりも多い指部を有していてもよいし、また、指部が一本であってもよい。
The present invention has a processing vacuum tank and a loading vacuum tank connected to the processing vacuum tank, and the loading vacuum tank and the processing vacuum tank are evacuated to the loading vacuum tank. A vacuum processing apparatus for moving a plurality of arranged substrates to the processing vacuum chamber and performing vacuum processing in the processing vacuum chamber, wherein the plurality of substrates arranged in a matrix in the loading vacuum chamber An adsorbing part that adsorbs the adsorbing part in a non-contact state, and an adsorbing part moving device that moves the adsorbing part up and down, and the same number of elongated fingers as the number of rows of the substrate adsorbed to the adsorbing part, a hand portion with a line the same interval as the substrate arranged in the same direction in a horizontal plane, the front Symbol hand portion, first to the finger rests beneath the row of the substrate to be attracted to the suction unit Between the transfer position and a predetermined second transfer position in the processing vacuum chamber. Each of which is provided at a position lower than the hand unit, and is formed on the surface of the mounting table. One or more grooves that extend in the same direction as the direction in which the fingers extend, and a plurality of grooves that extend in the same direction as the direction in which each of the grooves extends and can rest in each of the grooves A horizontal bar, and a vertical movement device for moving the horizontal bar up and down between a position in the groove and a position higher than the height of the finger surface, and the width of the finger is defined by an adjacent groove. So that when the finger portion is stationary at the second transfer position, the finger portion is positioned directly above the gap between the horizontal bars. It may be a formed vacuum processing apparatus.
Further, the present invention may have more finger parts than the number of rows on the substrate, or may have one finger part.
基板表面が一貫して上方に向けられており、成膜面である表面が吸着装置や搬送装置に接触しない。
複数の基板がトレイを用いずに一緒に搬送されるから、真空処理の効率が高く、また、トレイの清掃が不要である。
The surface of the substrate is consistently directed upward, and the surface that is the film formation surface does not contact the suction device or the transport device.
Since a plurality of substrates are transported together without using a tray, the efficiency of vacuum processing is high, and cleaning of the tray is unnecessary.
図1の符号10は、本発明の真空処理装置である。
この真空処理装置10は、搬入受渡室102aと、処理室103と、搬出受渡室102bとを有している。搬入受渡室102aと、処理室103と、搬出受渡室102bは、搬入用真空槽112aと、処理用真空槽113と、搬出用真空槽112bとをそれぞれ有している。
The
搬入用真空槽112aと処理用真空槽113とは搬入用仕切弁123によって接続され、処理用真空槽113と搬出用真空槽112bとは搬出用仕切弁124によって接続されている。
搬入用真空槽112aと大気雰囲気との間には搬入用扉122が設けられ、搬出用真空槽112bと大気雰囲気との間には搬出用扉125が設けられている。
The carry-in
A carry-in
各真空槽112a、112b、113には、真空排気装置181a、181b、182がそれぞれ接続されており、搬入用扉122と搬出用扉125を閉じ、真空排気装置181a、181b、182によって各真空槽112a、112b、113内を真空排気して真空雰囲気にすると、搬入用及び搬出用仕切弁123、124を開閉することで、処理用真空槽113の真空雰囲気を維持した状態で、搬入用真空槽112aと搬出用真空槽112bとを処理用真空槽113に接続できるように構成されている。
他方、搬入用仕切弁123と搬出用仕切弁124を閉じた状態で、搬入用扉122と搬出用扉125を開け、乾燥大気又はN2ガスを導入すると、処理用真空槽113内部の真空雰囲気を維持した状態で、搬入用真空槽112aの内部と搬出用真空槽112bの内部を乾燥した大気雰囲気(又はN2雰囲気)にすることができる。
On the other hand, when the carry-in
ここでは、搬入用扉122と搬出用扉125の外側には、大気雰囲気に置かれた搬入室101aと搬出室101bがそれぞれ配置されており、搬入用扉122と搬出用扉125が開けられると、搬入用真空槽112aの内部と搬出用真空槽112bの内部は、それぞれ搬入室101aの内部と搬出室101bの内部に接続されるようになっている。
Here, outside the carry-in
搬入室101a内と搬出室101b内には、第一、第二の大気側搬入装置141がそれぞれ配置されている。第一、第二の大気側搬入装置141は、基板を載置可能な移動板145と、移動板145を水平方向に移動させる移動装置143を有しており、図2に示すように、搬入室101a内の第一の大気側搬入装置141の移動板145上に基板31を行列状に配置し、搬入用扉122を開けて搬入受渡室102aの搬入用真空槽112aの内部に移動板145を搬入する。
In the carry-in
搬入受渡室102aの内部には、第一の吸着装置131aと第一の搬送装置151aが設けられている。
搬出受渡室102bの内部にも、第二の吸着装置131bと第二の搬送装置151bが設けられており、第一の吸着装置131aと第二の吸着装置131bは同じ構成であり、同じ部材には同じ符号を付して一緒に説明する。
第一、第二の吸着装置131a、131bは、吸着部135と、吸着部135を上下移動させる吸着部移動装置133とを有している。
A
A
The first and
図3に示すように、行列状の基板31が移動板145上に配置されて搬入用真空槽112a内部に搬入されると、移動板145は、吸着部135本体の下方位置で静止される。
吸着部135の鉛直下方を向いた吸着面137には、基板31より小径の凹部136が複数個形成されており、図15に示すように、各凹部136の内周面には、凹部136一個毎にそれぞれ複数個の気体噴出孔138が配置され、各凹部136の外側には、凹部136一個毎に複数個の突起170が配置されている。
As shown in FIG. 3, when the matrix-
A plurality of
各凹部136は行列状に配置されており、移動板145上の基板31は、凹部136の行列と同じ行列状に配置されている。凹部136の行列と基板の行列は、水平面内で同方向に向けられており、各凹部136の真下位置に基板31が一枚ずつ配置される位置で移動板145は停止される。
その状態で吸着部移動装置133によって吸着部135を下降させると、凹部136が基板31に接近する。
The
In this state, when the
図13は、一枚の基板の拡大図である。この基板31は、太陽電池用の基板であり、正方形の四隅が円形の一部を形成するように丸められている。
ここでは突起170は凹部136毎に四個ずつ設けられており、各凹部136周辺の突起170は、凹部136に基板31が接近したときに、基板31の四辺に近接した四辺よりも外側位置に配置されるように形成されている。
FIG. 13 is an enlarged view of one substrate. This
Here, four
従って、基板31に凹部136が接近すると、図16に示すように基板31は突起170の間に入り込む。
吸着部135の降下は、突起170間に基板31が入った後、吸着面が基板31の表面に接触する前に停止される。
Accordingly, when the
The lowering of the
搬入用真空槽112aの外部には気体供給系172が設けられており、この気体供給系172から各気体噴出孔138に気体が供給されると、基板31と吸着部135が非接触の状態で、基板31と凹部136の間に気体が噴出される。気体噴出孔138からの気体の噴出方向は、半径方向とは垂直な方向であり、一個の凹部136の縁の円周上では気体は円周の同一方向に噴出される。
A
この気体により基板31には回転力が印加されるが、基板31の一部が突起170に当接し、回転は制止される。基板31が停止した状態では基板31表面と凹部136表面との間で気体の渦139が形成され、凹部136内が負圧になり、大気圧との差圧によって基板31が凹部136に吸着される。
Although a rotational force is applied to the
このとき、基板31と吸着面137との間には、噴出気体の流束が形成されており、基板31が吸着面に接触しようとすると圧縮された流束の反発力によって押し戻され、基板31は吸着面と接触しないで凹部136に吸着された状態が維持される。
At this time, a flux of ejected gas is formed between the
従って、図4に示すように、吸着部移動装置133によって吸着部135を上方に移動させると、各基板31は凹部136に非接触の状態で、吸着部135に吸着されて吸着部135と一緒に上方に移動されるので、基板31は移動板145上から除去される。
Therefore, as shown in FIG. 4, when the
第一、第二の搬送装置151a、151bは、ハンド部155と、ハンド部155を水平方向に移動させるハンド移動装置153を有している。ハンド部155は、搬入用真空槽112aや搬出用真空槽112b内に搬入される移動板145の下方に位置しており、移動板145が搬入用真空槽112a内や搬出用真空槽112b内から除去されると、吸着部135の真下に位置している。
The first and
ハンド部155には、図14(a)に示すような、行列状に配置された凹部136の行の数又は列の数と同じ本数の指部156が設けられている。各指部156は細長に形成され、凹部136の行又は列が伸びる方向と同方向に延設されている。
The
ここでは基板31は、搬入用真空槽112aから搬出用真空槽112bに、処理用真空槽113を通って向きを変えずに移動しており、凹部136の行又は列の一方が基板31の移動方向に沿って配置され、他方がそれと直角の方向に沿って配置されており、凹部136及び基板31の行列のうち、基板31の移動方向を行とすると、各指部156は行に沿った方向に延設されている。
Here, the
基板31の各行の真下を第一の移載位置とすると、ハンド部155は、指部156が第一の移載位置に位置するように静止している。
その状態で吸着部135が降下すると、一行中の基板31が一本の指部156に接近する。吸着部移動装置133は、基板31が指部156に接触するか接触する直前に停止するように制御されており、その状態で気体の噴出が停止され、吸着が解除されると、図14(b)に示すように、一行中の基板31が一本の指部156上に乗り、図5に示すように、基板31がハンド部155上に載置される。
When the first transfer position is directly below each row of the
When the
吸着装置135への基板31の吸着は、搬入用真空槽112a内や搬出用真空槽112b内が大気圧又はそれに近い圧力の状態で行われており、搬入用真空槽112a内の第一の吸着装置131aの吸着が解除された後、搬入用真空槽112aと搬入室101aの間の搬入用扉122が閉じられ、搬入用真空槽112a内が真空排気される。
The adsorption of the
処理用真空槽113は真空雰囲気に置かれており、搬入用真空槽112a内が所定圧力に真空排気され、処理室103用真空槽と同程度の圧力になった後、搬入用仕切弁123が開き、ハンド移動装置153によってハンド部155を移動させ、搬入用仕切弁123を通して処理用真空槽113内に搬入する。なお、ハンド部155は、アーム部154を介して、ハンド移動装置153に接続されており、アーム部154は真空槽内をスライド移動し、ハンド部155はアーム部154上をアーム部154に対してスライド移動することで、搬入用真空槽112aや搬出用真空槽112b内から処理用真空槽113にハンド部155を進入及び退去できるようになっている。
The processing
処理用真空槽113内には、載置台165と移載機構161とが設けられている。
図17に示すように、移載機構161は、指部156よりも一本以上多い本数の横棒162と、各横棒162の端部に一本ずつ接続された支持部163と、前記支持部163を上下移動させる上下移動装置164とを有している。
A mounting table 165 and a
As shown in FIG. 17, the
各支持部163は鉛直に配置され、各横棒162は支持部163によって支持されており、上下移動装置164が支持部163を上下移動させると、各横棒162は支持部163と共に上下移動する。
各横棒162は指部156の伸びる方向と同方向に延設されており、水平面内で互いに平行に離間して配置されている。
Each
Each
ハンド部155が処理用真空槽113に進入する前に、横棒162はハンド部155よりも低い位置に位置しており、図6に示すように、ハンド部155は、ハンド移動装置153により、指部156が横棒162と横棒162の隙間の真上に位置するように静止される。
Before the
横棒162がハンド部155の指部156の間を通って、ハンド部155の下方から上方に移動できるハンド部155の位置を第二の移載位置とすると、第二の移載位置は、平面図の図18(a)とその側面図の図18(b)に示すように、指部156が、横棒162と横棒162の間の隙間の真上に位置する位置である。
Assuming that the position of the
また、第二の移載位置は、指部156がハンド部155本体に接続された根本である掌部157が、横棒162部よりも、各ハンド部155のハンド移動装置153が配置された真空槽に近い位置である。
横棒162の幅は、指部156と指部156の隙間の幅よりも小さく形成されており、横棒162が上昇したときに横棒162は、掌部157に衝突せず指部156の間を通って指部156よりも上方に移動できる。
Further, the second transfer position is such that the
The width of the
図14(b)に示すように、各基板31は指部156の幅よりも大きく、各基板31の両側の一部が指部156からはみ出して配置されており、横棒162が下方から上昇すると、一本の指部156上の各基板31の裏面は、指部156の片側に露出した部分が同じ横棒162に接触し、他の片側に露出した部分が他の同じ横棒162に接触する。
As shown in FIG. 14B, each
図7に示すように横棒162が指部156の表面よりも上方に移動すると、一本の指部156上に載置されていた一行中の基板31は、二本の横棒162上に乗る。
このように各基板31が横棒162に移載されると、各基板31は指部156から離間しており、指部156は横棒162の支持部163の間に位置しており、ハンド部155を搬入用真空槽112a内に戻すとともに、横棒162をハンド部155が静止していた位置よりも下方に移動させることができる。
As shown in FIG. 7, when the
When each
横棒162の下方への移動先には載置台165が配置されている。
この載置台165は、横棒162の延伸方向と同じ方向の長さが横棒162よりも短く形成されており、各横棒162の端部に取り付けられた支持部163は、載置台165の外部に位置し、載置台165には支持部163を挿通させる貫通孔は形成されていない。
A mounting table 165 is disposed at a position where the
The mounting table 165 is formed so that the length in the same direction as the extending direction of the
平面図の図19(a)とその側面図の図19(b)に示すように、各横棒162の真下位置には、溝168がそれぞれ形成されている。各溝168は、横棒162よりも短く、両端が載置台165の外周に開口しており、横棒162が降下すると、各横棒162は溝168の内部に進入する。
As shown in FIG. 19A of the plan view and FIG. 19B of the side view thereof, a
溝168は、進入する横棒162の厚み以上の深さに形成されており、図8と平面図の図20(a)とその側面図の図20(b)に示すように、横棒162の表面が載置台165の表面以下の高さになるまで降下すると、横棒162上の各基板31の裏面は載置台165表面と接触する。
The
載置台165の内部にはヒータ166が配置されており、予めこのヒータ166に通電して発熱させ、載置台165を昇温させておくと、載置台165に接触した基板31は載置台165からの熱伝導によって加熱される。横棒162をハンド部155の下方に位置させるとき、横棒162を溝168内に収容し、昇温させておき、基板31の裏面を溝168内の横棒162と接触させると、基板31は横棒162からの熱伝導によっても加熱される。
A
載置台165の上方には、シャワープレート171が配置されている。処理用真空槽113の外部にはガス導入系が配置されており、第一の搬送装置151aのハンド部155を搬入用真空槽112a内に戻し、搬入用仕切弁123を閉じて搬入用真空槽112aと処理用真空槽113とを分離し、ガス導入系からシャワープレート171に薄膜の原料ガスを供給し、シャワープレート171から処理用真空槽113内に原料ガスを散布させながらシャワープレート171に電圧を印加すると、載置台165上の基板31表面の上方で原料ガスのプラズマが形成され、化学反応により基板31表面に薄膜が形成される。
A
ここでは原料ガスとして、Siを含む化合物のガスとそれと反応する化合物のガスが供給され、処理用真空槽113内では基板31表面にSiの薄膜が形成される。
他方、搬入用真空槽112a側では、ハンド部155が搬入用真空槽112a内に戻って搬入用仕切弁123が閉じられた後、搬入用真空槽112a内に大気が導入され、搬入用扉122が開けられる。
Here, as a source gas, a compound gas containing Si and a compound gas reacting therewith are supplied, and a Si thin film is formed on the surface of the
On the other hand, on the side of the
搬入室101a内の大気側搬送ロボットには、新しい基板32が行列状に配置されて移動板145に乗せられており、その移動板145が搬入用真空槽112a内に搬入され、処理用真空槽113内で基板31表面に薄膜が成長している間に、上述したように、基板32は移動板145上からハンド部155の指部156上に移載され、移動板145が搬入室101aに戻された後、搬入用扉122が閉じられ、未処理の基板32がハンド上に配置されたまま、搬入用真空槽112a内が真空排気される。
処理用真空槽113内では、基板31表面に所定膜厚の薄膜が形成されたら、電圧を停止してプラズマを消滅させる。
次に、横棒162を上昇させ、載置台165表面から横棒162上に基板31を移載し、搬出用真空槽112b内のハンド部155の移動高さよりも高い位置で静止させる。
In the
Next, the
次に、図9に示すように、搬出用仕切弁124を開け、搬出用真空槽112b内のハンド部155を処理用真空槽113内に移動させる。
横棒162を支持する支持部163は横棒162の両端位置で横棒162に取り付けられているため、搬出用真空槽112b内の第二の搬送装置151bのハンド部155は、指部156が根本位置から先端に伸びる方向が、搬入用真空槽112a内の第一の搬送装置151aのハンド部155の指部156とは逆向き、すなわち、第二の搬送装置151bのハンド部155が処理用真空槽113内に移動したときに、搬出用真空槽112bに近い方が根本の掌部157にされており、処理用真空槽113に進入すると、指部156が支持部163の間を通って横棒162間の隙間の下方まで移動し、指部156の根本部分が支持部163に当接する前に停止する。
Next, as shown in FIG. 9, the carry-out
Since the
横棒162上では基板31の両端が横棒162上に乗せられており、その状態で横棒162を降下させると、図10に示すように、各基板31は、中央部分が指部156上に乗る。
このように、横棒162上から第二の搬送装置151bのハンド部155上に基板31が移載された後、ハンド部155は、基板31を乗せた状態で横棒162上から移動し、搬出用真空槽112b内に戻り、搬出用仕切弁124は閉じられる。
Both ends of the
As described above, after the
このとき、未処理の基板32は、第一の搬送装置151aのハンド上に乗せられて待機しており、搬入用真空槽112a内が所定圧力まで真空排気された後、搬入用仕切弁123が開けられ、上記と同様の手順により、行列状に配置された未成膜の基板32が載置台165上に配置され、薄膜の形成が開始される。
At this time, the
第二の搬送装置151bのハンド部155は、薄膜を形成した基板31を配置した状態で、第二の吸着装置131bの真下に位置しており、搬出用仕切弁124を閉じた後、搬出用真空槽112b内に大気を導入し、大気圧になった後、搬出用扉125を開け、第二の吸着装置131bを降下させて、指部156上の基板31を非接触で吸着部135に吸着する。
The
図11に示すように、第二の吸着装置131bの吸着部135を上方に移動させた後、搬出用扉125を開け、搬出室101bから搬出用真空槽112b内に第二の大気側搬入装置141の移動板145を挿入し、吸着装置の真下に位置させる。
As shown in FIG. 11, after moving the
吸着装置を降下させ、基板31の裏面が移動板145と接触するか又はその直前のときに降下を停止させ、吸着を解除すると図12に示すように、基板31は移動板145上に乗せられ、移動板145を搬出室101bに戻すと、真空処理が行われた基板31を真空処理装置10の外部に取り出すことができる。
When the suction device is lowered and the lowering is stopped when the back surface of the
このとき、処理用真空槽113内では、搬入された基板32の表面に薄膜が成長されており、この薄膜が所定膜厚に形成された後、上記と同じ手順によって、搬出室101bに搬送され、真空処理装置10の外部に取り出され、他方、処理用真空槽113内には、搬入室101aから搬入された基板33が真空処理される。
At this time, in the
このように、本発明はトレイを使用せずに複数の基板を一緒に真空処理することが可能であり、トレイ洗浄は不要であり、また、ピンの先端上に基板を配置しないので、基板が脱落する危険性も少ない。
なお、上記実施例では、真空処理が基板上に薄膜を形成する成膜処理であったが、本発明はそれに限定されるものではなく、真空雰囲気内で行われる真空処理を広く含む。
As described above, the present invention can vacuum-process a plurality of substrates together without using a tray, does not require tray cleaning, and does not place a substrate on the tip of a pin. There is little risk of dropping off.
In the above embodiment, the vacuum process is a film forming process for forming a thin film on the substrate. However, the present invention is not limited to this, and widely includes a vacuum process performed in a vacuum atmosphere.
112a……搬入用真空槽 113……処理用真空槽
112b……搬出用真空槽 133……吸着部移動装置
135……吸着部 136……凹部 170……突起
138……噴出孔 153……ハンド移動装置 155……ハンド部
162……横棒 163……支持部 164……上下移動装置
165……載置台 168……溝
31……基板
112a …… Vacuum chamber for loading 113 …… Vacuum chamber for processing 112b …… Vacuum chamber for unloading 133 …… Suction
Claims (3)
前記搬入用真空槽と前記搬出用真空槽には、
行列状に配置された複数の基板を非接触の状態で吸着する吸着部と、
前記吸着部を上下移動させる吸着部移動装置と、
が設けられ、
前記吸着部に吸着される前記基板の行数と同数の細長の指部が、前記基板の行間隔と同間隔で同方向に水平面内に配置されたハンド部と、
前記ハンド部を、前記指部が前記吸着部に吸着される前記基板の各行の真下で静止する第一の移載位置と、前記処理用真空槽内の所定の第二の移載位置の間を往復移動させるハンド移動装置とがそれぞれ設けられ、
前記処理用真空槽には、
前記ハンド部よりも低い位置に配置され、複数の基板を載置可能な載置台と、
前記載置台の表面に形成され、前記指部が伸びる方向と同方向に延設された前記指部よりも一本以上多い溝と、
前記各溝の伸びる方向と同方向に延設され、前記各溝内にそれぞれ静止可能な複数の横棒と、
前記横棒を前記溝内の位置と前記指部表面の高さよりも高い位置との間で上下移動させる上下移動装置と、
が設けられ、
前記指部の幅は、隣接する溝に配置される前記横棒間の隙間よりも小さく形成され、
前記指部が前記第二の移載位置で静止したときに、前記指部は横棒間の隙間の真上に位置するように形成された真空処理装置。 A vacuum chamber for processing, a vacuum chamber for loading and a vacuum chamber for unloading respectively connected to the vacuum chamber for processing, and vacuuming the vacuum chamber for loading, the vacuum chamber for processing, and the vacuum chamber for unloading A vacuum processing apparatus that evacuates and moves a plurality of substrates disposed in the loading vacuum chamber to the processing vacuum chamber, vacuums the substrate in the processing vacuum chamber, and then moves the substrate to the unloading vacuum chamber. And
In the carrying-in vacuum tank and the carrying-out vacuum tank,
An adsorbing portion that adsorbs a plurality of substrates arranged in a matrix in a non-contact state;
A suction part moving device for moving the suction part up and down;
Is provided,
Fingers of the same number of elongated rows of the substrate to be attracted to the suction unit, and a hand portion disposed in a horizontal plane in the same direction in a row the same interval as the substrate,
The front Symbol hand portion, a first transfer position where the finger is still beneath the row of the substrate to be attracted to the suction portion, of the predetermined second transfer position of the processing vacuum tank And a hand moving device that reciprocates between them,
In the processing vacuum chamber,
Placed at a position lower than the hand unit, a mounting table capable of mounting a plurality of substrates,
One or more grooves formed on the surface of the mounting table and extending in the same direction as the direction in which the finger portion extends, and more than one groove,
A plurality of horizontal bars extending in the same direction as the direction in which each of the grooves extends, and capable of resting in each of the grooves,
A vertical movement device for moving the horizontal bar up and down between a position in the groove and a position higher than the height of the finger surface;
Is provided,
The width of the finger is formed smaller than the gap between the horizontal bars arranged in adjacent grooves,
A vacuum processing apparatus formed such that when the finger portion is stationary at the second transfer position, the finger portion is positioned directly above a gap between horizontal bars.
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