JP5183183B2 - Static eliminator - Google Patents
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Description
本発明は、例えば帯電した半導体ウェーハやガラス基板から静電気を除去したり、クリーンルーム内を除電する除電装置に関する。 The present invention relates to a static eliminator that removes static electricity from, for example, a charged semiconductor wafer or glass substrate, or neutralizes a clean room.
半導体ウェーハやガラス基板は搬送中にローラなどとの接触によって静電気が発生しやすく、静電気によって表面に微細なゴミなどが付着しやすい。このため、従来から除電バーを用いているが、スパークが発生して製品歩留りの低下を招いている。そこで、電荷を帯びた微細な水滴を帯電した対象物に接触させて除電することが特許文献1〜5に提案されている。 Semiconductor wafers and glass substrates are prone to static electricity due to contact with rollers during transportation, and fine dust or the like tends to adhere to the surface due to static electricity. For this reason, although the static elimination bar has been used conventionally, sparks are generated and the product yield is reduced. In view of this, Patent Documents 1 to 5 propose to remove charges by bringing a charged fine water droplet into contact with a charged object.
特許文献1には、振動子の振動周波数を調製することで、0.5〜50μmの大きさのイオン化された水滴を発生させ、この微小な水滴を帯電物質の除電に用いることが記載されている。 Patent Document 1 describes that ionized water droplets having a size of 0.5 to 50 μm are generated by adjusting the vibration frequency of the vibrator, and the minute water droplets are used for static elimination of a charged substance. Yes.
特許文献2には、高純度の水を二流体ノズルに供給し、加圧空気または加圧窒素とともに噴出させることで、帯電した微小な水滴とし、この微小な水滴を帯電物質に接触させて除電することが記載されている。
In
特許文献3には、二流体ノズルの先端に環状誘電電極を配置し、この環状誘電電極の中を微小な水滴を通過させることで、微小な水滴を帯電させる内容が開示されている。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-228561 discloses a content in which a minute water droplet is charged by disposing an annular dielectric electrode at the tip of a two-fluid nozzle and passing the minute water droplet through the annular dielectric electrode.
特許文献4には、超音波霧化現象を利用して微小ミストの生成と帯電を同時に行い、得られた微小ミストを帯電体に吹きつけて除電する内容が開示されている。
特許文献5には、二流体ノズルを用いて平均粒径が1〜10μmの帯電した微小ミストを発生させることが記載されている。特に、噴霧粒径が1〜10μmのように超微小の場合には、帯電体の除電を行う際に、帯電体を濡らすことがないと記載されている。
帯電した微小な水滴によって除電を行う場合には、除電に寄与した水滴が除電対象物に付着して除電対象物の表面を濡らすおそれがある。 In the case of performing static elimination with charged fine water droplets, there is a possibility that water droplets contributing to static elimination may adhere to the static elimination object and wet the surface of the static elimination object.
特許文献5によれば、噴霧粒径が超微小(1〜10μm)であれば、帯電体を濡らすことがないと記載されているが、常に上記の粒径の噴霧粒子とすることが困難であり、また液晶用ガラス基板や半導体ウェーハの表面に膜や回路を形成する場合には、若干でも水滴が残ることは好ましくなく、水滴の大きさのみに頼ることは信頼性に欠けることになる。 According to Patent Document 5, it is described that if the spray particle size is very small (1 to 10 μm), the charged body is not wetted, but it is difficult to always make the spray particles having the above particle size. In addition, when forming a film or a circuit on the surface of a glass substrate for liquid crystal or a semiconductor wafer, it is not preferable that some water droplets remain, and it is not reliable to rely only on the size of the water droplets. .
上記課題を解決するため本発明に係る除電装置は、電荷を帯びた微細な水滴を帯電した対象物に向けて噴出するノズルの一部またはノズルの近傍に、前記ノズルから噴出され除電を行った水滴を吸引する吸引手段が設けられた構成とした。 In order to solve the above-described problems, the static eliminator according to the present invention performs static elimination by ejecting fine water droplets having a charge from a part of the nozzle that ejects toward a charged object or in the vicinity of the nozzle. A suction means for sucking water droplets was provided.
前記水滴は純水に限らず、揮発しやすい溶剤などが添加されたものでもよい。 The water droplets are not limited to pure water, and may be added with a solvent that easily volatilizes.
前記微細な水滴の噴出及び吸引は同一の配管を介して行うようにしてもよい。また前記ノズルとしては通常のノズルの他にスリットノズルでもよく、配置例としては、ノズルと吸引手段とをセットにして除電対象物の上下に配置することが考えられる。 The fine water droplets may be ejected and sucked through the same pipe. Further, the nozzle may be a slit nozzle in addition to a normal nozzle. As an arrangement example, it is conceivable that the nozzle and suction means are set as a set and disposed above and below the static elimination object.
更にノズルは移動可能としてもよい。移動のパターンとしては一定の範囲での往復動などが考えられる。このようなパターンとすることで、一箇所に水滴が集中して供給されることを防ぐことができる。 Further, the nozzle may be movable. As the movement pattern, reciprocation within a certain range can be considered. By setting it as such a pattern, it can prevent that a water droplet concentrates and is supplied to one place.
本発明に係る除電装置によれば、従来の除電バーに比べてスパークが発生するおそれはなく、また、除電後の微細な水滴が除電対象物の表面に残ることがないので、乾燥工程を後工程として追加する必要もない。 According to the static eliminator according to the present invention, there is no possibility of generating sparks as compared with the conventional static eliminator bar, and fine water droplets after static elimination do not remain on the surface of the static elimination object. There is no need to add it as a process.
以下に本発明を実施するための実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明に係る除電装置を適用したガラス基板搬送ラインの平面図、図2は同搬送ラインの側面図、図3は除電装置の拡大図、図4は図3のA−A方向矢視図、図5は除電装置を構成するノズルの拡大断面図である。 Embodiments for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a plan view of a glass substrate transfer line to which the static eliminator according to the present invention is applied, FIG. 2 is a side view of the transfer line, FIG. 3 is an enlarged view of the static eliminator, and FIG. 4 is an arrow AA in FIG. FIG. 5 is an enlarged sectional view of a nozzle constituting the static eliminator.
ガラス基板搬送ラインはフレーム1,1間に搬送方向と直交する方向の軸2…を等間隔で複数回転自在に支持し、これら軸2の一端にプーリ3を設け、図示しないチェーンやギヤを介して、複数の軸2…が同期して回転するようにしている。
The glass substrate transport line supports a plurality of
また各軸2にはガラス基板Wの下面に接触してガラス基板Wを搬送するローラ4が取り付けられている。
Each
前記複数の軸2…のうち所定の軸2の長さを調製することで、平面視で搬送方向と斜めになる軸のない空白領域5を設け、この空白領域5の部分にエアーナイフ6を配置し、ガラス基板W裏面に洗浄の際に残っている水滴などを除去するようにしている。なお、ガラス基板W表面に残っている水滴などの除去には、ガラス基板W上方に設けたエアーナイフ(図示せず)により行うことができる。
By adjusting the length of the
そして、前記エアーナイフ6の下流側で軸2,2間に本発明の除電装置7を配置している。除電装置7は搬送方向と直交する方向を長手方向としたスリット状の開口を有するノズル8をガラス基板Wの上方と下方に配置して構成される。
And the
本実施例にあっては、スリット状の開口を分離板9で2つに分け、一方を帯電した微細な水滴mの噴出口10とし、他方を除電を行った後の水滴mの吸引口11としている。
In the present embodiment, the slit-shaped opening is divided into two by the
因みに、噴出口10の上流側には粒径10μm以下の水滴を生成する超音波振動装置と、この超音波振動装置によって生成された微細な水滴を帯電させるための電極が配置されている。
Incidentally, an ultrasonic vibration device that generates water droplets having a particle diameter of 10 μm or less and an electrode for charging fine water droplets generated by the ultrasonic vibration device are disposed on the upstream side of the
また、図6に示すように水滴mの噴出口10と水滴mの吸引口11とを別々に配置してもよい。但し、この場合は噴出口10と吸引口11との距離を水滴を吸引可能な距離にする。また、ガラス基板Wの搬送方向を基準として、噴出口10を上流側に、吸引口11を下流側に配置することが望ましい。
Moreover, as shown in FIG. 6, you may arrange | position the ejection opening 10 of the water drop m, and the suction opening 11 of the water drop m separately. However, in this case, the distance between the
図7は本発明に係る除電装置を適用したクールプレートの平面図、図8はクールプレートの吸引孔の部分の拡大断面図であり、この実施例では、クールプレート20の表面に吸引兼噴出ノズル21を所定の間隔で開口している。
FIG. 7 is a plan view of a cool plate to which the static eliminator according to the present invention is applied, and FIG. 8 is an enlarged sectional view of a suction hole portion of the cool plate. In this embodiment, a suction and jet nozzle is formed on the surface of the
吸引兼噴出ノズル21は真空ポンプにつながるとともに、帯電した微細な水滴の供給源にもつながっており、これらをバルブによって切り替えている。即ち、ガラス基板を吸引する場合には、真空ポンプにつなげ、除電する場合には水滴の供給源につなげ、吸引兼噴出ノズル21からガラス基板下面に向けて帯電した微細な水滴を吹き付けるようにしている。
The suction and
但し、上記の除電の際に全ての吸引兼噴出ノズル21から帯電した微細な水滴を噴出せずに、隣接する一方のノズル21から水滴を噴出し、他方のノズルは真空ポンプにつなげ除電が終了した水滴を吸引するようにする。
However, at the time of the above-mentioned static elimination, all the suction and
1…搬送ラインのフレーム、2…軸、3…プーリ、4…ローラ、5…空白領域、6…エアーナイフ、7…除電装置、8…ノズル、9…分離板、10…帯電した微細な水滴の噴出口、11…除電を行った後の水滴の吸引口、20…クールプレート、21…吸引兼噴出ノズル、m…水滴、W…ガラス基板。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Frame of conveyance line, 2 ... Shaft, 3 ... Pulley, 4 ... Roller, 5 ... Blank area, 6 ... Air knife, 7 ... Static elimination device, 8 ... Nozzle, 9 ... Separation plate, 10 ... Fine charged water droplet , 11 ... Water droplet suction port after static elimination, 20 ... Cool plate, 21 ... Suction and jet nozzle, m ... Water droplet, W ... Glass substrate.
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