本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更することができる。従って、本発明は以下に示す実施の形態及び実施例の記載内容に限定して解釈されるものではない。例えば、以下に述べる各実施の形態及び各実施例の特徴的部分を組み合わせて実施することが可能である。なお、以下に説明する本発明の構成において、同じものを指す符号は異なる図面間で共通して用いる。
(実施の形態1)
本発明に係る下面出射(ボトムエミッション)型表示装置の断面構造について、4つの場合に大別して、図面を参照して説明する。なお、以下に記載する本実施の形態において、トランジスタ上に設けられ、主にバリア機能を有する第1の絶縁膜12は、できるだけ形成するのが望ましいが、省略することも可能である。このように、本発明の構成において、第1の絶縁膜12を省略する場合には、以下に述べる「第2の絶縁膜13」、「第3の絶縁膜14」は、適宜、「第1の絶縁膜13」、「第2の絶縁膜14」と読み替えるものとする。
第1の構成の表示装置は、基板10上に設けられたソース/ドレイン領域15、16を有するトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた発光素子を有する(図1(A)参照)。
基板10は、ガラスや石英、プラスチック等からなる絶縁表面を有する基板である。トランジスタ11は、代表的には、電界効果型のトランジスタであり、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極の3つの端子を有する。電界効果型のトランジスタとして、例えば、TFT(薄膜トランジスタ)を用いる。トランジスタ11の導電型に制約はなく、Pチャネル型とNチャネル型のどちらのタイプを用いてもよい。なお、ソース電極とドレイン電極は、その電極の電位に従って定められるものであるため、以下には、ソース電極又はドレイン電極のことをソースドレイン電極と表記する。
第1の絶縁膜12は、酸化珪素膜、窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜(SiOxNy膜)(x>y)(x、yは正の整数)、酸素を含む窒化珪素膜(SiNxOy膜)(x>y)(x、yは正の整数)などの無機材料からなる。第1の絶縁膜12は、バリア膜としての機能もあり、トランジスタ11に対する不純物の侵入を防止する。第1の絶縁膜12は、できるだけ形成するのが望ましい。
また、第2の絶縁膜13は、有機材料を主成分として構成され、遮光性を有している。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、振とう機や超音波振動器等を用いて、アクリル、ポリイミドなどの有機樹脂材料やシロキサンなどの有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加して撹拌した後、必要に応じて濾過を行い、その後、スピンコート法で形成する。なお、本明細書においてシロキサンは、シリコンと酸素との結合で骨格構造が構成され、置換基として、少なくとも水素を含む有機基(例えばアルキル基や芳香族炭化水素など)を有する。また、置換基としてさらにフルオロ基を有していてもよい。また、有機材料にカーボンや金属粒子を添加する際は、均一に混合されるように、界面活性剤や分散剤などを添加してもよい。また、カーボンを添加する際は、カーボン粒子の濃度が重量パーセントで5〜15%となるように、その添加量を調節するとよい。また、スピンコート法で形成した後の薄膜をそのまま用いてもよいが、硬化を目的とした焼成を行ってもよい。成膜された薄膜の透過率と反射率は、共に0%、又はほぼ0%に近い値となる。
ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。この第1の開口部は、レジスト等を用いて、第2の絶縁膜13をエッチングすることによって形成することができる。または、インクジェット法などの液滴吐出法によって、第2の絶縁膜13を選択的に形成することによって、第1の開口部を形成しても良い。さらに、その第1の開口部を埋めるように、第2の絶縁膜13上に第3の絶縁膜14が形成されている。なお、第3の絶縁膜14としては、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂を用いることができる。なお、第2の絶縁膜13と第3の絶縁膜14は、いずれも有機樹脂を主成分として構成されるが、その材質は、同じでも異なっていても良い。また、これらの材質は、上記に限定されるものではない。
第3の絶縁膜14は、少なくとも、第2の絶縁膜13に設けられた第1の開口部を埋める役割をすればよく、第2の絶縁膜13上の全面に形成されている必要はない。図示する構成では、第2の絶縁膜13上の全面に、第3の絶縁膜14を形成した。このように、第2の絶縁膜13上の全面に第3の絶縁膜14を形成する場合には、第3の絶縁膜14は、カーボン粒子等を含む第2の絶縁膜13よりも絶縁性に優れるため、トランジスタ11から供給される電流が、画素電極19以外にリークすることを防止することができる。
なお、第1の開口部のみに第3の絶縁膜14を形成する場合には、第2及び第3の絶縁膜によって形成される絶縁膜の表面が平坦性を有するように、別途平坦化処理を行っても良い。
なお、上記の構成では3層の絶縁膜の積層膜が設けられているが、本発明はこの構成に制約されない。2層の積層膜を設けてもよいし、4層以上の積層膜を設けてもよい。但し、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とし、1層は開口部を有する有機材料からなる遮光性を有する膜とする。そして、バリア膜は、トランジスタ11に接するように設ける。
このように、遮光性を有する絶縁膜(図1(A)では、第2の絶縁膜13)が設けられていることにより、電界発光層20から発光される光のうち、迷光となる光が遮断され、外部に均一な光が供給される。また、第2の絶縁膜13は、トランジスタ11を完全に覆うように形成されるのが望ましい。これによって、トランジスタ11の半導体層への光のリークを防止することができ、光によるトランジスタの特性の劣化を防止することができる。
第1乃至第3の絶縁膜及びトランジスタのゲート絶縁膜には、第2の開口部が設けられ、ソース/ドレイン配線17、18が形成される。これにより、トランジスタ11と、画素電極19とが接続される。ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。この材料は、電気抵抗値が3.0〜5.0Ωcmと低いのが、特徴の一つである。
ここで、アルミニウム(以下、「Al」と称する。)をソース/ドレイン配線として用いた場合、画素電極であるITOとAlが接触して、Alの腐食が発生してしまうという問題がある。ただし、このような場合であっても、Al(又はAl−Si合金)をチタン(以下、「Ti」と称する。)又は窒化チタン(TiN)で挟んだ積層構造をすることにより、ITOとの良好なコンタクトを獲得することができる。例えば、基板側からTi、Al、Tiの順に積層する構造とすればよい。これに対し、Al−C合金又はAl−C−Ni合金等は、その酸化還元電位がITO等の透明導電膜のそれと非常に近似しているため、積層構造としなくとも(Ti又は窒化チタン等で挟持しなくとも)ITO等とのダイレクトコンタクトが可能である。ソース/ドレイン配線17、18は、上記合金からなるターゲット材を用い、スパッタリング法を用いて形成することができる。また、上記合金に対し、レジストをマスクとしてエッチングを行う際には、ウエットエッチングによって行うのがよい。この場合、エッチャントとしては、酢酸、硝酸、燐酸、及び水を含む混酸、またはアルカリ現像液等を用いることができる。
また、ソース/ドレイン配線17、18は、画素電極19の上方、又は画素電極19と同じ層に設けられる。図示する構成では、ソース/ドレイン配線17、18は、画素電極19の上方に乗り上げるように設けられている。すなわち、画素電極19を形成した後に、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。なお、トランジスタ11のソース電極に接続する配線がソース配線であり、トランジスタ11のドレイン電極に接続する配線がドレイン配線であるが、上記の通り、トランジスタ11のソース電極とドレイン電極は、その電極の電位の関係により定められるものであるため、ここでは、ソース配線又はドレイン配線のことをソース/ドレイン配線と表記する。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23(土手やバンクとも呼ばれる)と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極21を有する。ここで、画素電極19は、透光性を有する材料を用いる。例えば、酸化インジウムスズ(ITO:Indium Tin Oxide)、ITOに酸化珪素を含有させたITSO、酸化亜鉛(ZnO:Zinc Oxide)、ガリウムを添加した酸化亜鉛(GZO)、酸化インジウムに2〜20wt%の酸化亜鉛を混合したターゲットを用いて形成された酸化インジウム亜鉛(IZO:Indium Zinc Oxide)等を用いることができる。
なお、画素電極19と、電界発光層20との間に、珪素、酸化珪素、窒化珪素等のバリア層を挟持させてもよい。これにより、発光効率が上昇する。一方、対向電極21は、反射性を有し、仕事関数の小さい材料を用いるのがよい。例えば、Ca、Al、CaF、MgAg、AlLi等を用いることができる。
なお、隔壁層23の側面形状については特に制限はないが、望ましくは、図1等に示すように、S字状を有しているのがよい。換言すれば隔壁層23の側面において、変曲点を有するような構造とするのが望ましい。これにより、電界発光層20及び対向電極21のカバレッジを向上させることができる。
なお、発光素子22は、単数の層で構成しても良いし、複数の層を積層させて構成しても良い。複数の層で構成する場合、トランジスタ側(画素電極側)から見て順に、(1)陽極、ホール(正孔)注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、陰極、(2)陽極、ホール注入層、発光層、電子輸送層、陰極、(3)陽極、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層、陰極、(4)陽極、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、ホールブロッキング層、電子輸送層、陰極、(5)陽極、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、ホールブロッキング層、電子輸送層、電子注入層、陰極等の素子構造とすればよい。これは、所謂順積みと呼ばれる構造で、画素電極19は陽極(正孔注入電極ともいう)として機能する。
一方、トランジスタ側(画素電極側)から見て、陰極が先に来る場合には、逆積みと呼ばれ、画素電極19は陰極(電子注入電極ともいう)として機能する。
発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極21の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極21が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、陽極として機能する画素電極19側に出射し、透光性を有する画素電極19を透過して、矢印で示すように基板10の方向に出射する。つまり、下面出射(ボトムエミッション)が行われる。
第2の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた発光素子22を有する(図1(B)参照)。
構成の概要は、第1の構成の表示装置とほぼ同じであり、同様の材料を用いて構成することができる。ただし、画素電極19がソース/ドレイン配線18の上側に形成される点で異なる。すなわち、ソース/ドレイン配線17、18を形成した後に、画素電極19が形成されている。
また、第2の絶縁膜13に、電界発光層20からの光を通過させるための第1の開口部を形成した後に、さらに、第2の絶縁膜13をエッチングする際のレジスト等又は残存する第2の絶縁膜13をマスクとして、トランジスタ11のゲート絶縁膜28及び下地絶縁膜27をエッチングしてもよい。これにより、より明るい光を電界発光層20から取り出すことができる。なお、第2の絶縁膜13、ゲート絶縁膜28、下地絶縁膜27のエッチングは、同一工程によって行っても良いし、別工程で行っても良い。エッチング用ガスとしては、Cl2、BCl3、SiCl4もしくはCCl4などを代表とする塩素系ガス、CF4、SF6、NF3、CHF3などを代表とするフッ素系ガス、あるいはO2を用いることができるが、これらに限定されるものではない。なお、該エッチングは、大気圧プラズマを利用してもよい。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極21を有する。発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極21の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極21が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、陽極として機能する画素電極19側に出射し、透光性を有する画素電極19を透過して、矢印で示すように基板10の方向に出射する。つまり、下面出射(ボトムエミッション)が行われる。
第3の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた積層構造を有する第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための開口部と、第2の絶縁膜13の第1の開口部に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた、透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び対向電極21からなる発光素子22を有する。また、第1の絶縁膜12に設けられた第2の開口部を介して、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。また、第2の絶縁膜13に設けられた第3の開口部を介して、画素電極19が形成されている(図1(C)参照)。
ここで、第1の絶縁膜12は、無機材料からなる積層構造を有しており、バリア膜として機能する。例えば、酸素を含む窒化珪素膜と、窒素を含む酸化珪素膜の積層構造からなる。勿論、この構造に限定されるものではなく、他に、窒化珪素や酸化珪素等を用いることができる。また、3層以上の構造としてもよい。但し、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とすることが望ましい。特に、窒素を含む無機材料(酸素を含む窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜も含まれる)を用いることにより、トランジスタに混入する不純物の低減が期待できる。また、第2の絶縁膜13は有機材料からなり、遮光性を有する。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、アクリル、ポリイミド、シロキサン等の有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加したものを用いる。また、第2の絶縁膜13として、2層以上の積層膜を設けてもよいが、積層膜のうちの1層は、有機材料からなる遮光性を有する膜とする。ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。それとは別に、第2の絶縁膜13には、画素電極19が形成される第3の開口部が形成される。第1及び第3の開口部は、同時に形成するのが望ましい。
さらに、第2の絶縁膜13に設けられた第1の開口部を埋めるように第3の絶縁膜14が形成されている。第3の絶縁膜14としは、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、を用いることができる。なお、第3の絶縁膜14は、少なくとも、第2の絶縁膜13に設けられた開口部を埋める役割をすればよく、第2の絶縁膜13上の全面に形成されている必要はない。図示する構成では、第2の絶縁膜13に設けられた第1の開口部のみに、第3の絶縁膜14を形成した。このように、開口部のみに第3の絶縁膜14を形成する場合には、第2及び第3の絶縁膜によって形成される絶縁膜の表面が平坦性を有するように、別途平坦化処理を行っても良い。
第1乃至第3の絶縁膜及びトランジスタのゲート絶縁膜には、開口部が設けられ、ソース/ドレイン配線17、18が形成される。これにより、トランジスタ11のソース/ドレイン領域16と、画素電極19とが接続される。ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。
また、画素電極19は、第2の絶縁膜13に設けられた第3の開口部を介して、ソース/ドレイン配線18に接続される。なお、上述したAl−C合金、Al−C−Ni合金等は、反射性に優れていることも特徴の一つである。ただし、透光性を有する程度に薄膜化することにより、画素電極19として採用することができる。この場合、ソース/ドレイン配線と、材質を共通のものとすることができ、コンタクトはさらに良好になる。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極21を有する。発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極21の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極21が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から発せられる光は、陽極として機能する画素電極19側に出射する。つまり、下面出射が行われる。
第4の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び対向電極21からなる発光素子22を有する。また、第1の絶縁膜12及び第2の絶縁膜13に設けられた第2の開口部を介して、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。また、第3の絶縁膜14に設けられた第3の開口部を介して、接続配線24が形成されており、さらに接続配線24に接して画素電極19が形成されている(図1(D)参照)。
ここで、第1の絶縁膜12は、無機材料からなり、バリア膜として機能する。例えば、窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸素を含む窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜等からなる。第1の絶縁膜12は、積層構造とすることもできるが、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とすることが望ましい。また、第2の絶縁膜13は有機材料からなり、遮光性を有する。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、アクリル、ポリイミド、シロキサン等の有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加したものを用いる。ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。それとは別に、第2の絶縁膜13には、ソース/ドレイン配線が形成される第2の開口部が形成される。第1及び第2の開口部は、同時に形成するのが望ましい。また、第2の絶縁膜13として、2層以上の積層膜を設けてもよいが、積層膜のうちの1層は、有機材料からなる遮光性を有する膜とする。
また、第2の絶縁膜13に、電界発光層20からの光を通過させるための第1の開口部を形成した後に、さらに、第2の絶縁膜13をエッチングする際のレジスト等又は残存する第2の絶縁膜13をマスクとして、トランジスタ11のゲート絶縁膜28及び下地絶縁膜27をエッチングしてもよい。これにより、より明るい光を電界発光層20から取り出すことができる。なお、第2の絶縁膜13、ゲート絶縁膜28、下地絶縁膜27のエッチングは、同一工程によって行っても良いし、別工程で行っても良い。
ソース/ドレイン配線17、18及び第2の絶縁膜13上には、第3の絶縁膜14が形成されている。第3の絶縁膜14としては、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、を用いることができる。第3の絶縁膜14は、透光性を有する材料を用いる限り、積層構造としても良い。
第3の絶縁膜14には第3の開口部が設けられており、ソース/ドレイン配線18に接続される接続配線24が形成されている。さらに、接続配線24上に、画素電極19が形成されている。接続配線24と画素電極19の積層順序は、図示したものに限定されない。また、図示した構成においては、接続配線24を介して、ソース/ドレイン配線18と画素電極19とを接続したが、第3の構成と同様に、第3の絶縁膜14に設けられた開口部を介して、直接、ソース/ドレイン配線18と、画素電極19とを接続しても良い。
ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。また、接続配線24についても、同様の材料を用いることができる。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極21を有する。発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極21の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極21が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から発せられる光は、陽極として機能する画素電極19側に出射する。つまり、下面出射が行われる。
上述した図1(A)〜(D)に示す第1〜第4の構成を有するボトムエミッション型表示装置は、遮光性を有する絶縁膜が設けられていることにより、迷光により、1画素に相当する発光領域の輪郭がぼやけたりする影響を抑制することができる。つまり、遮光性を有する絶縁膜が迷光を吸収するために、1画素に相当する発光領域の輪郭が明瞭なものとなり、高精細な画像を表示することができる。また、遮光膜の配置により迷光による影響を抑制することができ、小型化、軽量化、薄型化が実現される。
(実施の形態2)
本発明に係る両面出射(デュアルエミッション)型表示装置の断面構造について、4つの場合に大別して、図面を参照して説明する。なお、本実施の形態において、トランジスタ上に設けられる、主にバリア機能を有する第1の絶縁膜12は、できるだけ形成するのが望ましいが、省略することも可能である。このように、本発明の構成において、第1の絶縁膜12を省略する場合には、以下に述べる「第2の絶縁膜13」、「第3の絶縁膜14」は、適宜、「第1の絶縁膜13」、「第2の絶縁膜14」と読み替えるものとする。
第5の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた、透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び透光性を有する対向電極25からなる発光素子22と、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25のうち少なくとも一つに接して設けられた、遮光性を有する膜26を含む隔壁層を有する(図2(A)参照)。
基板10は、ガラスや石英、プラスチック等からなる絶縁表面を有する基板である。トランジスタ11は、電界効果型のトランジスタであり、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極の3つの端子を有する。トランジスタ11の導電型に制約はなく、Pチャネル型とNチャネル型のどちらのタイプを用いてもよい。
第1の絶縁膜12は、酸化珪素膜、窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜、酸素を含む窒化珪素膜などの無機材料からなる。第1の絶縁膜12は、バリア膜としての機能もあり、トランジスタ11に対する不純物の侵入を防止する。また、第2の絶縁膜13は、有機材料を主成分として構成され、遮光性を有している。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、振とう機や超音波振動器等を用いて、アクリル、ポリイミドなどの有機樹脂材料やシロキサンなどの有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加して撹拌した後、必要に応じて濾過を行い、その後、スピンコート法で形成する。なお、有機材料にカーボン粒子や金属粒子を添加する際は、均一に混合されるように、界面活性剤や分散剤などを添加してもよい。また、カーボン粒子を添加する際は、カーボン粒子の濃度が重量パーセントで5〜15%となるように、その添加量を調節するとよい。また、スピンコート法で形成した後の薄膜をそのまま用いてもよいが、硬化を目的とした焼成を行ってもよい。成膜された薄膜の透過率と反射率は、共に0%、又はほぼ0%に近い値となる。
ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。この第1の開口部は、レジスト等を用いて、第2の絶縁膜13をエッチングすることによって形成することができる。または、インクジェット法などの液滴吐出法によって、第2の絶縁膜13を選択的に形成することによって、第1の開口部を形成しても良い。
また、第2の絶縁膜13に、電界発光層20からの光を通過させるための第1の開口部を形成した後に、さらに、第2の絶縁膜13をエッチングする際のレジスト等又は残存する第2の絶縁膜13をマスクとして、トランジスタ11のゲート絶縁膜28及び下地絶縁膜27をエッチングしてもよい。これにより、より明るい光を電界発光層20から取り出すことができる。なお、第2の絶縁膜13、ゲート絶縁膜28、下地絶縁膜27のエッチングは、同一工程によって行っても良いし、別工程で行っても良い。
さらに、その第1の開口部を埋めるように、第2の絶縁膜13上に第3の絶縁膜14が形成されている。なお、第3の絶縁膜14としては、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、を用いることができる。なお、第2の絶縁膜13と第3の絶縁膜14は、いずれも有機樹脂を主成分をして構成されるが、その材質は、同じでも異なっていても良い。また、これらの材質は、上記に限定されるものではない。第3の絶縁膜14は、少なくとも、第2の絶縁膜13に設けられた第1の開口部を埋める役割をすればよく、第2の絶縁膜13上の全面に形成されている必要はない。図示する構成では、第2の絶縁膜13上の全面に、第3の絶縁膜14を形成した。このように、第2の絶縁膜13上の全面に第3の絶縁膜14を形成する場合には、第3の絶縁膜14は、カーボン粒子等を含む第2の絶縁膜13よりも絶縁性に優れるため、トランジスタ11から供給される電流が、画素電極19以外にリークすることを防止することができる。なお、第1の開口部のみに第3の絶縁膜14を形成する場合には、第2及び第3の絶縁膜によって形成される絶縁膜の表面が平坦性を有するように、別途平坦化処理を行っても良い。
なお、上記の構成では3層の絶縁膜の積層膜が設けられているが、本発明はこの構成に制約されない。2層の積層膜を設けてもよいし、4層以上の積層膜を設けてもよい。但し、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とし、1層は開口部を有する有機材料からなる遮光性を有する膜とする。そして、バリア膜は、トランジスタ11に接するように設ける。
このように、遮光性を有する絶縁膜(図2(A)では、第2の絶縁膜13)が設けられていることにより、電界発光層20から発光される光のうち、迷光となる光が遮断され、外部に均一な光が供給される。また、第2の絶縁膜13は、トランジスタ11を完全に覆うように形成されるのが望ましい。これによって、トランジスタ11の半導体層への光のリークを防止することができ、光によるトランジスタの特性の劣化を防止することができる。
第1乃至第3の絶縁膜及びトランジスタのゲート絶縁膜には、第2の開口部が設けられ、ソース/ドレイン配線17、18が形成される。これにより、トランジスタ11と、画素電極19とが接続される。ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。また、ソース/ドレイン配線17、18は、画素電極19の上方、又は画素電極19と同じ層に設けられる。図示する構成では、ソース/ドレイン配線17、18は、画素電極19の上方に乗り上げるように設けられている。すなわち、画素電極19を形成した後に、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極25を有する。ここで、隔壁層としては、透光性を有する隔壁層23及び遮光性を有する隔壁層26が積層されて設けられている(図2(A))。なお、両隔壁層の順序は、図示したものに限定されない。また、隔壁層23も遮光性を有する隔壁層としても良い。また、遮光性を有する隔壁層26一層のみの構造としても良い。隔壁層23、26には、電界発光層20が形成されるための第3の開口部が設けられている。この第3の開口部は、レジスト等を用いて、隔壁層23、26をエッチングすることによって形成することができる。または、インクジェット法などの液滴吐出法によって、隔壁層23、26を選択的に形成することによって、第3の開口部を形成しても良い。
透光性を有する隔壁層23としては、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、透明な無機材料を用いることができる。また、遮光性を有する隔壁層26としては、アクリル、ポリイミドなどの有機樹脂材料やシロキサンなどの有機材料に、カーボン粒子や金属粒子を添加したものを用いることができる。ただし、ソース/ドレイン配線17、18や、画素電極19に接する部分には、電流のリークを防止するために、カーボンや金属粒子を含む隔壁層をできるだけ設けないようにするのが望ましい。すなわち、図示するように、絶縁性が高く、かつ透光性を有する有機材料又は無機材料を設けた後に、遮光性を有する隔壁層26を形成するのが望ましい。いずれにせよ、本発明に係るデュアルエミッション型表示装置においては、遮光性を有する隔壁層26を用いた場合には、上面出射される光のうち、迷光を吸収することができ、迷光により画素間の輪郭がぼやけたりする影響を抑制することができる。つまり、遮光性を有する隔壁層が迷光を吸収するために、画素間の輪郭が明瞭なものとなり、高精細な画像を表示することができる。また、遮光膜の配置により迷光による影響を抑制することができ、小型化、軽量化、薄型化が実現される。
ここで、画素電極19は、透光性を有する材料を用いる。例えば、ITO、ITSO、ZnO、GZO、IZO等を用いることができる。なお、画素電極19と、電界発光層20との間に、珪素、酸化珪素、窒化珪素等のバリア層を挟持させてもよい。これにより、発光効率が上昇する。一方、対向電極25としては、発光層からの光を透過させるべく、1〜10nmのアルミニウム薄膜、もしくはLiを微量に含むアルミニウム膜等を用いることができる。
発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極25が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、画素電極19及び対向電極25の両側に出射し、透光性を有する両電極を透過して、矢印で示すように出射する。つまり、両面出射(デュアルエミッション)が行われる。
なお、画素電極19を陰極として機能させ、かつ、対向電極25を陽極として機能させ、その間に電界発光層20を挟持させた逆積み構造を採用することもできる。この場合、画素電極19としては、発光層からの光を透過させるべく、1〜10nmのアルミニウム薄膜、もしくはLiを微量に含むアルミニウム膜等を用いることができる。一方、対向電極25としては、ITO、ITSO、ZnO、GZO、IZO等を用いることができる。また、この場合、トランジスタの極性を順積みの場合の極性と反対にすればよい。逆積み構造を採用した場合であっても、電界発光層20の両側の電極は、いずれも透光性を有しているため、両面出射の発光装置を実現することができる。
第6の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた、透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び透光性を有する対向電極25からなる発光素子22と、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25のうち少なくとも一つに接して設けられた、遮光性を有する膜を含む隔壁層を有する(図2(B)参照)。
構成の概要は、第5の構成の表示装置とほぼ同じであり、同様の材料を用いて構成することができる。ただし、画素電極19がソース/ドレイン配線18の上側に形成される点で異なる。すなわち、ソース/ドレイン配線17、18を形成した後に、画素電極19が形成されている。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23及び遮光性を有する隔壁層26と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極25を有する。ここで、隔壁層としては、透光性を有する隔壁層23及び遮光性を有する隔壁層26が積層されて設けられている。そして、遮光性を有する隔壁層26は、隔壁層23の上面のみならず、その側面にも形成されている(図2(B))。図示された構成とする方法の一例を説明する。まず、隔壁層23を、レジスト等を用いたパターニング又は液滴吐出法によって選択的に形成した後、遮光性を有する隔壁層26を画素電極19及び隔壁層23の全面に形成する。その後、遮光性を有する隔壁層26を、隔壁層23の側面に隔壁層26の一部が残存するように、パターニング形成する。なお、両隔壁層の順序は、図示したものに限定されない。また、隔壁層23も遮光性を有する隔壁層としても良い。また、遮光性を有する隔壁層26一層のみの構造としても良い。
透光性を有する隔壁層23としては、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、透明な無機材料を用いることができる。また、遮光性を有する隔壁層としては、アクリル、ポリイミドなどの有機樹脂材料やシロキサンなどの有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加したものを用いることができる。ただし、ソース/ドレイン配線17、18や、画素電極19に接する部分には、電流のリークを防止するために、カーボンや金属粒子を含む隔壁層をできるだけ設けないようにするのが望ましい。すなわち、図示するように、絶縁性が高く、かつ透光性を有する有機材料又は無機材料を設けた後に、遮光性を有する隔壁層26を形成するのが望ましい。いずれにせよ、本発明に係るデュアルエミッション型表示装置においては、遮光性を有する隔壁層26を用いた場合には、上面出射される光のうち、迷光を吸収することができ、迷光により画素間の輪郭がぼやけたりする影響を抑制することができる。つまり、遮光性を有する隔壁層が迷光を吸収するために、画素間の輪郭が明瞭なものとなり、高精細な画像を表示することができる。また、遮光膜の配置により迷光による影響を抑制することができ、小型化、軽量化、薄型化が実現される。
発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極25が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、画素電極19及び対向電極25の両側に出射し、透光性を有する両電極を透過して、矢印で示すように出射する。つまり、両面出射(デュアルエミッション)が行われる。
なお、画素電極19を陰極として機能させ、かつ、対向電極25を陽極として機能させ、その間に電界発光層20を挟持させた逆積み構造を採用することもできる。この場合、トランジスタの極性を順積みの場合の極性と反対にすればよい。逆積み構造を採用した場合であっても、電界発光層20の両側の電極は、いずれも透光性を有しているため、両面出射の発光装置を実現することができる。
第7の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13の開口部に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた、透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び透光性を有する対向電極25からなる発光素子22と、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25のうち少なくとも一つに接して設けられた、遮光性を有する膜を含む隔壁層を有する。また、第1の絶縁膜12に設けられた第2の開口部を介して、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。また、第2の絶縁膜13に設けられた第3の開口部を介して、画素電極19が形成されている(図2(C)参照)。
ここで、第1の絶縁膜12は、無機材料からなる積層構造を有しており、バリア膜として機能する。例えば、酸素を含む窒化珪素膜と、窒素を含む酸化珪素膜の積層構造からなる。勿論、この構造に限定されるものではなく、他に、窒化珪素や酸化珪素等を用いることができる。また、3層以上の構造としてもよい。但し、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とすることが望ましい。特に、窒素を含む無機材料(酸素を含む窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜も含まれる)を用いることにより、トランジスタに混入する不純物の低減が期待できる。また、第2の絶縁膜13は有機材料からなり、遮光性を有する。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、アクリル、ポリイミド、シロキサン等の有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加したものを用いる。また、第2の絶縁膜13として、2層以上の積層膜を設けてもよいが、積層膜のうちの1層は、有機材料からなる遮光性を有する膜とする。ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。それとは別に、第2の絶縁膜13には、画素電極19が形成される第3の開口部が形成される。第1及び第3の開口部は、同時に形成するのが望ましい。さらに、その第2の絶縁膜13に形成された第1の開口部を埋めるように、第3の絶縁膜14が形成されている。第3の絶縁膜14としては、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、を用いることができる。なお、第3の絶縁膜14は、少なくとも、第2の絶縁膜13に設けられた第1の開口部を埋める役割をすればよく、第2の絶縁膜13上の全面に形成されている必要はない。図示する構成では、第2の絶縁膜13の第1の開口部のみに、第3の絶縁膜14を形成した。このように、第1の開口部のみに第3の絶縁膜14を形成する場合には、第2及び第3の絶縁膜によって形成される絶縁膜の表面が平坦性を有するように、別途平坦化処理を行っても良い。
ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極25を有する。発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極25が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、画素電極19及び対向電極25の両側に出射し、透光性を有する両電極を透過して、矢印で示すように出射する。つまり、両面出射(デュアルエミッション)が行われる。なお、図示する構成では、隔壁層23としては透明な有機材料を用いたが、第5又は第6の構成のように、遮光性を有する有機樹脂との積層構造としても良い。
なお、画素電極19を陰極として機能させ、かつ、対向電極25を陽極として機能させ、その間に電界発光層20を挟持させた逆積み構造を採用することもできる。この場合、トランジスタの極性を順積みの場合の極性を反対にすればよい。逆積み構造を採用した場合であっても、電界発光層20の両側の電極は、いずれも透光性を有しているため、両面出射の発光装置を実現することができる。
第8の構成の表示装置は、基板10上に設けられたトランジスタ11と、トランジスタ11上に設けられた第1の絶縁膜12と、第1の絶縁膜12上に設けられた遮光性を有する第2の絶縁膜13と、第2の絶縁膜13に設けられた光を通過させるための第1の開口部と、第2の絶縁膜13に接して設けられた第3の絶縁膜14と、第3の絶縁膜14上に設けられた、透光性を有する画素電極19、電界発光層20及び透光性を有する対向電極25からなる発光素子22と、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25のうち少なくとも一つに接して設けられた、遮光性を有する膜を含む隔壁層を有する。また、第1の絶縁膜12及び第2の絶縁膜13に設けられた第2の開口部を介して、ソース/ドレイン配線17、18が形成されている。また、第3の絶縁膜14に設けられた第3の開口部を介して、接続配線24が形成されており、さらに接続配線24に接して画素電極19が形成されている(図2(D)参照)。
ここで、第1の絶縁膜12は、無機材料からなり、バリア膜として機能する。例えば、窒化珪素膜、酸化珪素膜、酸素を含む窒化珪素膜、窒素を含む酸化珪素膜等からなる。第1の絶縁膜12は、積層構造とすることもできるが、積層膜のうちの1層は、無機材料からなるバリア膜とすることが望ましい。また、第2の絶縁膜13は有機材料からなり、遮光性を有する。また、第2の絶縁膜13として、2層以上の積層膜を設けてもよいが、積層膜のうちの1層は、有機材料からなる遮光性を有する膜とする。第2の絶縁膜13に用いる遮光性を有する膜は、アクリル、ポリイミド、シロキサン等の有機材料に、カーボンや、遮光性を有する金属の粒子を添加したものを用いる。ここで、遮光性を有する第2の絶縁膜13には、後に形成される電界発光層20から発光される光を通すために、第1の開口部が設けられている。それとは別に、第2の絶縁膜13には、ソース/ドレイン配線が形成される第2の開口部が形成される。第1及び第2の開口部は、同時に形成するのが望ましい。また、第2の絶縁膜13として、2層以上の積層膜を設けてもよいが、積層膜のうちの1層は、有機材料からなる遮光性を有する膜とする。ソース/ドレイン配線17、18及び第2の絶縁膜13上には、第3の絶縁膜14が形成されている。第3の絶縁膜14としては、透光性を有する材料からなる。例えば、ポリイミド、アクリル、ポリアミド等の感光性又は非感光性の有機材料や、シロキサン等の耐熱性有機樹脂、を用いることができる。第3の絶縁膜14は、透光性を有する材料を用いる限り、積層構造としても良い。
第3の絶縁膜14には第3の開口部が設けられており、ソース/ドレイン配線18に接続される接続配線24が形成されている。さらに、接続配線24上に、画素電極19が形成されている。接続配線24と画素電極19の積層順序は、図示したものに限定されない。また、図示した構成においては、接続配線24を介して、ソース/ドレイン配線18と画素電極19とを接続したが、第3の構成と同様に、第3の絶縁膜14に設けられた第3の開口部を介して、直接、ソース/ドレイン配線18と、画素電極19とを接続しても良い。
ソース/ドレイン配線17、18は、アルミニウム及び炭素を含む合金を用いるのが望ましい。また、この合金に、ニッケル、コバルト、鉄、珪素等を含有させても良い。これらの含有率は、例えば、炭素を0.1〜3.0原子%、ニッケル、コバルト、鉄のうち少なくとも一種以上の元素を0.5〜7.0原子%、珪素を0.5〜2.0原子%とするのがよい。また、接続配線24についても、同様の材料を用いることができる。
また、上記構成の表示装置は、画素電極19の端部を囲む隔壁層23と、画素電極19に接するように設けられた電界発光層20と、電界発光層20に接するように設けられた対向電極25を有する。発光素子22は、画素電極19、電界発光層20及び対向電極25の積層体に相当し、図示する発光素子22の構造は、陽極として機能する画素電極19、電界発光層20、陰極として機能する対向電極25が順に積層された、順積み構造を採用している。この場合、発光素子22から出射される光は、画素電極19及び対向電極25の両側に出射し、透光性を有する両電極を透過して、矢印で示すように出射する。つまり、両面出射(デュアルエミッション)が行われる。なお、図示する構成では、隔壁層23としては透明な有機材料を用いたが、第5又は第6の構成のように、遮光性を有する有機樹脂との積層構造としても良い。
なお、画素電極19を陰極として機能させ、かつ、対向電極25を陽極として機能させ、その間に電界発光層20を挟持させた逆積み構造を採用することもできる。この場合、トランジスタの極性を順積みの場合の極性を反対にすればよい。逆積み構造を採用した場合であっても、電界発光層20の両側の電極は、いずれも透光性を有しているため、両面出射の発光装置を実現することができる。
なお、上記第7の構成(図2(C)参照)によれば、トランジスタ11上に第1の絶縁膜12を設け、第2の絶縁膜12上に第2の絶縁膜13を設け、第2の絶縁膜13に接して第3の絶縁膜14を設け、第2の絶縁膜13に設けられた開口部を介して、ソース/ドレイン配線18に接続する画素電極19を設けている。また、上記第8の構成(図2(D)参照)に示す構成によれば、トランジスタ11上に第1の絶縁膜12を設け、第1の絶縁膜12上に第2の絶縁膜13を設け、第2の絶縁膜13上に第3の絶縁膜14を設け、第3の絶縁膜14に設けられた第3の開口部を介して、ソース/ドレイン配線18に接続する接続配線24を設け、接続配線24に接する画素電極19を設けている。または、接続配線24を設けずに、第3の絶縁膜14に設けられた第3の開口部を介して、ソース/ドレイン配線18と直接接続する画素電極19を設けている。このような構成にすると、画素電極19を設ける領域は、ソース/ドレイン配線17、18が配置された領域に制限されることがない。つまり、画素電極19を設ける領域のマージンが広がるため、特に、両面出射のうち、上面出射の開口率の向上を図ることができる。また、高開口率を実現すると、光を発する面積の増加に伴い、駆動電圧を下げて、消費電力を削減することができる。
上述した図2(A)〜(D)に示す第5〜第8の構成を有するデュアルエミッション型表示装置は、少なくとも下面出射される側に、遮光性を有する絶縁膜が設けられていることにより、迷光により、画素間の輪郭がぼやけたりする影響を抑制することができる。つまり、遮光性を有する絶縁膜が迷光を吸収するために、画素間の輪郭が明瞭なものとなり、高精細な画像を表示することができる。勿論、本発明は、デュアルエミッション型表示装置であるから、上面出射される側にも、遮光性を有する絶縁膜(ここでは、隔壁層26)を設け、迷光をカットするのが望ましい。そして、この構造はデュアルエミッション型のみならず、トップエミッション型の表示装置に適用することも勿論可能であり、この場合、基板10として、上述したガラスや石英、プラスチック等からなる絶縁表面を有する基板の他に、シリコン基板や金属基板を用いることもできる。このように本発明は、遮光膜の配置により迷光による影響を抑制することができ、小型化、軽量化、薄型化が実現される。
本発明の表示装置は、メモリや処理回路などの機能回路やアンテナコイルを搭載することで、非接触でデータの送受信が可能なIDカードとして用いることができる。そのようなIDカードの構成の一例について図面を参照して説明する。
図9(A)に、本発明に係る表示装置を内蔵したIDカードの一形態を示す。図9(A)に示すIDカードは、非接触で端末装置のリーダ/ライタとデータの送受信を行う非接触型である。101はカード本体であり、102はカード本体101に搭載されている表示装置の画素部に相当する。
図9(B)に、図9(A)に示したカード本体101に含まれるカード基板103の構成を示す。カード基板103には、薄膜の半導体膜で形成されたIDチップ104と、上記実施の形態又は実施例に係る表示装置105とが貼り合わされている。IDチップ104と表示装置105は共に別途用意された基板上において形成された後、カード基板103上に転写されたものである。転写方法としては、多数のTFTからなる薄膜集積回路を基板上に作製した後、該薄膜集積回路を基板から剥離し、小型真空ピンセット等を用いてカード基板103に貼り付ける方法や、UV光照射法を用いてカード基板103に選択的に貼り付ける方法などがある。また、表示装置における画素部や駆動回路部についても、同様に行うことができる。IDチップ104と表示装置105とを含む、薄膜の半導体膜を用いて形成され、なおかつ形成後にカード基板に転写される部分を、薄膜部107と呼ぶ。
またカード基板103には、TFTを用いて作製された集積回路106が実装されている。集積回路106の実装の仕方は、特に限定されるものではなく、公知のCOG方法やワイヤボンディング方法、或いはTAB方法などを用いることができる。集積回路106は、薄膜部107と、カード基板103に形成された配線108を介して電気的に接続されている。
またカード基板103上には、集積回路106と電気的に接続されたアンテナコイル109が形成されている。アンテナコイル109により、端末装置との間のデータの送受信を、電磁誘導を用いて非接触で行うことができるので、非接触型のIDカードは接触型に比べてIDカードが物理的な磨耗による損傷を受けにくい。さらに非接触型のIDカードは、非接触にて情報の管理を行うタグ(無線タグ)としても用いることができる。非接触型のIDカードは、同じく非接触で情報の読み取りができるバーコードに比べて、管理可能な情報量が飛躍的に高い。また情報を読み取ることができる端末装置との間の距離を、バーコードを用いた場合に比べて長くすることができる。
なお図9(B)では、アンテナコイル109をカード基板103上に形成した例を示しているが、別途作製しておいたアンテナコイルをカード基板103に実装するようにしても良い。例えば銅線などをコイル状に巻き、100μm程度の厚さを有する2枚のプラスチックフィルムの間に該銅線を挟んでプレスしたものを、アンテナコイルとして用いることができる。また、薄膜集積回路の中に、アンテナコイルを作りこんでおいても良い。また、図9(B)では、1つのIDカードにアンテナコイル109が1つだけ用いられているが、アンテナコイル109が複数用いられていても良い。
なお、図9では表示装置105を搭載したIDカードの形態を示しており、表示装置105を設けることで、顔写真のデータを表示装置において表示させることができ、印刷法を用いた場合に比べて顔写真のすり替えを困難にすることができる。また顔写真以外の情報を表示することができ、IDカードの高機能化を実現することができる。
なおカード基板103には、可撓性を有するプラスチック基板を用いることができる。プラスチック基板としては、極性基のついたノルボルネン樹脂からなるARTON:JSR製を用いることができる。また、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)、ナイロン、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリスルホン(PSF)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリアリレート(PAR)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリイミドなどのプラスチック基板を用いることができる。
なお、本実施例では、IDチップと薄膜集積回路との間の電気的な接続は、図9において示した形態に限定されない。例えば、カード基板上に形成された配線を介すのではなく、IDチップの端子と薄膜集積回路の端子とを異方性の導電性樹脂やハンダなどで直接接続するようにしても良い。
また図9において、薄膜集積回路と、カード基板に形成された配線との間の接続は、ワイヤボンディング法、ソルダーボールを用いたフリップチップ法で接続しても良いし、異方性の導電性樹脂やハンダなどで直接接続しても良いし、その他の方法を用いて接続しても良い。
次に、非接触型のIDカードにおける、IDチップと薄膜集積回路の機能的な構成の一形態について説明する。図10に、非接触型のIDカードのブロック図を示す。
120は入力用アンテナコイルであり、121は出力用アンテナコイルである。また122は入力用インターフェースであり、123は出力用インターフェースである。なお各種アンテナコイルの数は、図10に示した数に限定されない。入力用アンテナコイル120によって、端末装置から入力された交流の電源電圧や各種信号は、入力用インターフェース122において復調されたり直流化されたりした後、バス128を介して、CPU114、ROM115、RAM116、EEPROM117、コプロセッサ118、コントローラ119などの各種回路に供給される。そして上記各種回路において処理または生成された信号は、出力用インターフェース123において変調され、出力用アンテナコイル121によって端末装置に送られる。
ここで、入力用インターフェース122は、整流回路124と、復調回路125とが設けられている。入力用アンテナコイル120から入力された交流の電源電圧は、整流回路124において整流化され、直流の電源電圧として上記各種回路に供給される。また、入力用アンテナコイル120から入力された交流の各種信号は、復調回路125において復調される。そして復調されることで波形整形された各種信号は、各種回路に供給される。
また、出力用インターフェース123は、変調回路126と、アンプ127とが設けられている。各種回路から出力用インターフェース123に入力された各種信号は、変調回路126において変調され、アンプ127において増幅または緩衝増幅された後、出力用アンテナコイル121から端末装置に送られる。なお、図10に示す各種回路は一形態を示したものに過ぎず、IDカードに搭載される各種回路は上記回路に限定されない。
図10では、CPU114によって、IDカードの全ての処理が制御されており、ROM115には、CPU114において用いられる各種プログラムが記憶されている。コプロセッサ118は、メインとなるCPU114の働きを助ける副プロセッサであり、RAM116は端末装置との間の通信時のバッファとして機能する他、データ処理時の作業エリアとしても用いられる。そしてEEPROM117は、信号として入力されたデータを定められたアドレスに記憶する。なお、顔写真などの画像データを、書き換え可能な状態で記憶させるならばEEPROM117に記憶し、書き換えが不可能な状態で記憶させるならばROM115に記憶する。また別途画像データの記憶用のメモリを用意しておいても良い。
コントローラ119は、画像データを含む信号に表示装置105の仕様に合わせてデータ処理を施し、ビデオ信号として表示装置105に供給する。またコントローラ119は、入力用インターフェース122から入力された電源電圧や各種信号をもとに、Hsync信号、Vsync信号、クロック信号CLK、交流電圧(AC Cont)等を生成し、表示装置105に供給する。
表示装置105には、表示素子が各画素に設けられた画素部102と、前記画素部102に設けられた画素を選択する走査線駆動回路112と、選択された画素にビデオ信号を供給する信号線駆動回路113とが設けられている。
なお、図10では、非接触型のIDカードを形成する一例としてアンテナコイルを用いた例を示したが、非接触型のIDカードはこれに限定されず、発光素子や光センサ等を用いて光でデータの送受信を行うようにしても良い。
図10では、整流回路124、復調回路125、変調回路126などのアナログ回路を含む入力用インターフェース122及び出力用インターフェース123を、集積回路106に形成する。また、CPU114、ROM115、RAM116、EEPROM117、コプロセッサ118、コントローラ119などの各種回路を、IDチップ104で形成したが、本構成は一例であり、この構成に限定されない。例えばGPSなどの機能を有していても良い。また、集積回路106は、従来のように、シリコンウエハ上に形成したが、IDチップ104と同様に、TFTを用いた薄膜集積回路としてもよい。
なお図10では、端末装置のリーダ/ライタから電源電圧が供給されている例について示したが、これに限定されない。例えば、IDカードに太陽電池や、リチウム電池等の超薄型の電池を内蔵した構成としても良い。また、本実施例では、非接触型IDカードを例に挙げて説明したが、勿論、IDカードに設けられた接続端子と端末装置のリードライタとを電気的に接続し、データの送受信を行う接触型のIDカードについても、本発明に係る表示装置を搭載することは可能である。
上記構成を有するIDカードは、運転免許証、身分証明証などに用いることができる。
また、印刷法によりIDカードに顔写真を転写していた場合、偽造により、比較的容易に顔写真のすり替えを行うことができるが、本発明の場合は、顔写真のすり替えを容易に行うことができない。従って、偽造を防止してセキュリティ性を確保し、また、顔写真以外の画像を表示することができるために、高付加価値化、多機能化を実現する。なお、本実施例は、上記実施の形態及び他の実施例と自由に組み合わせることができる。