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JP5223594B2 - Manufacturing method of flat display panel - Google Patents
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Description

本発明は、有機エレクトロルミネッセンス(EL)ディスプレイパネル、液晶ディスプレイ(LCD)パネル、プラズマディスプレイパネル(PDP)等のフラットディスプレイパネルの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a flat display panel such as an organic electroluminescence (EL) display panel, a liquid crystal display (LCD) panel, or a plasma display panel (PDP).

有機ELディスプレイパネル、液晶ディスプレイ(LCD)パネル、プラズマディスプレイパネル(PDP)等のフラットディスプレイパネルを製造する際には、ガラス基板上に表示素子を形成する目的で熱処理が実施される。たとえば、有機ELディスプレイパネルを製造する際には、成膜したシリコンを結晶化させる目的で600〜800℃の温度での熱処理が実施される。LCDパネルを製造する際には、LCDパネルを駆動するための薄膜トランジスタ(TFT)をガラス基板上に形成する目的で実施される成膜工程の中で250〜450℃の温度での熱処理が実施される。PDPを製造する際には、プラズマ発光セルを形成する目的で450〜650℃の温度での熱処理が実施される。
これらガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理の際にガラス基板で発生するコンパクション(熱収縮)が、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼすことが問題となっている。なお、ここで言うコンパクションとは、加熱処理の際にガラス構造の緩和によって発生するガラスの熱収縮であり、コンパクションの程度はガラスの熱収縮率で表わされる。コンパクションの算出方法については、後述する実施例に示す。
When manufacturing flat display panels such as an organic EL display panel, a liquid crystal display (LCD) panel, a plasma display panel (PDP), etc., heat treatment is performed for the purpose of forming a display element on a glass substrate. For example, when manufacturing an organic EL display panel, heat treatment is performed at a temperature of 600 to 800 ° C. for the purpose of crystallizing the deposited silicon. When manufacturing an LCD panel, a heat treatment at a temperature of 250 to 450 ° C. is performed in a film forming process for the purpose of forming a thin film transistor (TFT) for driving the LCD panel on a glass substrate. The When manufacturing a PDP, heat treatment is performed at a temperature of 450 to 650 ° C. for the purpose of forming a plasma light emitting cell.
The problem is that compaction (heat shrinkage) generated in the glass substrate during the heat treatment performed for the purpose of forming display elements on these glass substrates adversely affects the display quality of the flat display panel to be manufactured. Yes. The compaction referred to here is the heat shrinkage of the glass caused by the relaxation of the glass structure during the heat treatment, and the degree of compaction is expressed by the heat shrinkage rate of the glass. A method for calculating the compaction will be described in an example described later.

p−SiTFT(多結晶シリコンベースのTFT)製造工程でのガラス基板のコンパクションを低減する方法として、ガラス基板が熱処理される温度と同様の温度で該ガラス基板を予め熱処理(以下、「プレアニール」という。)することが知られている(特許文献1参照)。   As a method for reducing the compaction of the glass substrate in the manufacturing process of the p-Si TFT (polycrystalline silicon base TFT), the glass substrate is preliminarily heat-treated (hereinafter referred to as “pre-annealing”) at a temperature similar to the temperature at which the glass substrate is heat-treated. (See Patent Document 1).

国際公開WO2007/095115号パンフレットInternational Publication WO2007 / 095115 Pamphlet

しかしながら、単に熱処理される温度と同様の温度でプレアニールしてガラス基板のコンパクションを低減する方法は、次のような問題点を有することを本願発明者らは見出した。
(1)ガラスの物性(具体的には、熱特性)によってはコンパクションを十分低減することができず、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼす場合がある。
(2)また、プレアニール時間によってはコンパクションを十分低減することができず、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼす場合がある。
(3)また、プレアニール後の冷却条件によってはコンパクションを十分低減することができず、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼす場合がある。
本発明は、上記した従来技術の問題点を解決するため、ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理の際にガラス基板で発生するコンパクションを低減することができ、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響が及ぶことがないフラットディスプレイパネルの製造方法を提供することを目的とする。
However, the present inventors have found that the method of reducing the compaction of the glass substrate by pre-annealing at a temperature similar to the temperature at which heat treatment is performed has the following problems.
(1) Depending on the physical properties (specifically, thermal characteristics) of the glass, compaction cannot be sufficiently reduced, and the display quality of the manufactured flat display panel may be adversely affected.
(2) Further, depending on the pre-annealing time, the compaction cannot be sufficiently reduced, which may adversely affect the display quality of the manufactured flat display panel.
(3) Further, depending on the cooling conditions after pre-annealing, the compaction cannot be sufficiently reduced, and the display quality of the manufactured flat display panel may be adversely affected.
In order to solve the above-described problems of the prior art, the present invention can reduce the compaction generated in the glass substrate during heat treatment performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate, and is manufactured. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a flat display panel that does not adversely affect the display quality of the flat display panel.

本願発明者らは、上記の目的を達成するため鋭意検討した結果、製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼさない程度までコンパクションを低減するためには、ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理条件に対応させてプレアニール条件を設定する必要があることを見出した。
本発明は、上記の知見に基づいてなされたものであり、ガラス基板をプレアニールする工程、および、前記ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程と、を有するフラットディスプレイパネルの製造方法であって、
前記熱処理工程でのガラス基板の昇温後の温度をT1(℃)(但し、T1は前記ガラス基板の歪点Ts(℃)以上徐冷点Ta(℃)以下。)、該ガラス基板を該T1(℃)に保持する時間をt1(h)(但し、t1 ≧ 10(1.518logη-20.3 -c/100)。式中、ηは該T1(℃)における該ガラスの粘性(dPa・s)、cは前記熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションの目標値(許容可能な上限値)(ppm)。)、該T1(℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr1(℃/min)とし、
前記プレアニール工程でのガラス基板の昇温後の温度をT2(℃)、該ガラス基板を該T2(℃)に保持する時間をt2(h)、該T2(℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr2(℃/min)とするとき、
下記(1)〜(3)を満たすように、前記プレアニール工程を実施することを特徴とするフラットディスプレイパネルの製造方法を提供する。
2 =T1 (1)
2 =r1 (2)
2 ≧t1 (3)
As a result of diligent studies to achieve the above object, the inventors of the present application formed a display element on a glass substrate in order to reduce the compaction to such an extent that the display quality of the manufactured flat display panel is not adversely affected. The present inventors have found that it is necessary to set pre-annealing conditions corresponding to the heat treatment conditions performed for the purpose.
The present invention has been made on the basis of the above knowledge, and includes a step of pre-annealing a glass substrate and a heat treatment step performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate. A manufacturing method comprising:
The temperature after raising the temperature of the glass substrate in the heat treatment step is T 1 (° C.) (where T 1 is not less than the strain point Ts (° C.) of the glass substrate and not more than the annealing point Ta (° C.)), the glass substrate. Is maintained at T 1 (° C.) for t 1 (h) (where t 1 ≧ 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) , where η is the temperature of the glass at T 1 (° C.). Viscosity (dPa · s), c is a target value (acceptable upper limit) (ppm) of compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step, and the glass substrate is heated to 200 ° C. from T 1 (° C.). The cooling rate when cooling to r 1 (° C./min)
The temperature after raising the temperature of the glass substrate in the pre-annealing step is T 2 (° C.), the time for holding the glass substrate at T 2 (° C.) is t 2 (h), and the glass from the T 2 (° C.) When the cooling rate when cooling the substrate to 200 ° C. is r 2 (° C./min),
A flat display panel manufacturing method is provided, wherein the pre-annealing step is performed so as to satisfy the following (1) to (3).
T 2 = T 1 (1)
r 2 = r 1 (2)
t 2 ≧ t 1 (3)

本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法によれば、ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理の際にガラス基板に生じるコンパクションを製造されるフラットディスプレイパネルの表示品位に悪影響を及ぼさない程度まで低減することができる。このため、本発明の方法により製造されるフラットディスプレイパネルは表示品位に優れることが期待される。また、フォトリソグラフィプロセスの成膜時の露光補正工程の時間短縮や、補正マスクが不要になる等、製造コスト削減に貢献できる。   According to the flat display panel manufacturing method of the present invention, the compaction generated in the glass substrate during the heat treatment performed for the purpose of forming the display element on the glass substrate is adversely affected on the display quality of the flat display panel manufactured. It can be reduced to a certain extent. For this reason, the flat display panel manufactured by the method of the present invention is expected to be excellent in display quality. In addition, it can contribute to the reduction of the manufacturing cost, such as shortening the time of the exposure correction process at the time of film formation in the photolithography process and eliminating the need for a correction mask.

以下、本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法について説明する。
本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法は、ガラス基板をプレアニールする工程(以下、「プレアニール工程」という。)、および、ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程(以下、「熱処理工程」という。)と、を有する。ここで、熱処理工程は、フラットパネルディスプレイパネルを製造する際に通常実施される手順であり、具体的な熱処理の目的はフラットディスプレイパネルの種類によって異なる。例えば、有機ELディスプレイパネルを製造する場合、成膜したシリコンを結晶化させる目的で熱処理が実施される。LCDを製造する場合、LCDパネルを駆動するための薄膜トランジスタ(TFT)をガラス基板上に形成する目的で実施される成膜工程の中で熱処理が実施される。PDPを製造する場合、プラズマ発光セルを形成する目的で熱処理が実施される。
Hereinafter, the manufacturing method of the flat display panel of this invention is demonstrated.
The flat display panel manufacturing method of the present invention includes a step of pre-annealing a glass substrate (hereinafter, referred to as “pre-annealing step”) and a heat treatment step (hereinafter, referred to as “pre-annealing step”) for the purpose of forming a display element on the glass substrate. A heat treatment step). Here, the heat treatment step is a procedure that is usually performed when manufacturing a flat panel display panel, and the specific purpose of the heat treatment varies depending on the type of the flat display panel. For example, when manufacturing an organic EL display panel, heat treatment is performed for the purpose of crystallizing the deposited silicon. When manufacturing an LCD, a heat treatment is performed in a film forming process performed for the purpose of forming a thin film transistor (TFT) for driving an LCD panel on a glass substrate. When manufacturing a PDP, a heat treatment is performed for the purpose of forming a plasma light emitting cell.

本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法では、熱処理工程でのガラス基板の昇温後の温度T1(℃)が、ガラス基板の歪点Ts(℃)以上徐冷点Ta(℃)以下である。T1(℃)がガラス基板の徐冷点Ta(℃)超であると、熱処理時のガラス基板の変形量が大きく、ガラス基板に大きなうねりを生じさせてフラットディスプレイパネルの製造に支障をきたす。一方、T1(℃)が歪点Ts(℃)未満であると、プレアニールに要する時間が長くなり、製造コストが増加する。
また、ガラス基板をT1(℃)に保持する時間t1(h)が下記式を満たす。
1 ≧ 10(1.518logη-20.3 -c/100)
式中、ηは該T1(℃)における該ガラスの粘性(dPa・s)であり、歪点(Ts)におけるガラスの粘性を1014.5(dPa・s)とし、徐冷点(Ta)におけるガラスの粘性を1013.0(dPa・s)として、アレニウス回帰することで求めることができる。
また、cは前記熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションの目標値(許容可能な上限値)(ppm)である。
1が上式を満たさないと、コンパクションを目標値まで低減することが困難となる。
熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションの目標値(許容可能な上限値)は、フラットパネルディスプレイパネルの種類によって異なるが、有機ELディスプレイパネルの場合、50ppm以下であることが好ましく、20ppm以下であることがより好ましく、10ppm以下であることがさらに好ましい。
In the flat display panel manufacturing method of the present invention, the temperature T 1 (° C.) after the glass substrate is heated in the heat treatment step is not less than the strain point Ts (° C.) of the glass substrate and not more than the annealing point Ta (° C.). . If T 1 (° C.) is higher than the annealing point Ta (° C.) of the glass substrate, the deformation amount of the glass substrate during heat treatment is large, causing large undulations in the glass substrate and hindering the production of flat display panels. . On the other hand, when T 1 (° C.) is less than the strain point Ts (° C.), the time required for pre-annealing becomes long, and the manufacturing cost increases.
Further, the time t 1 (h) for holding the glass substrate at T 1 (° C.) satisfies the following formula.
t 1 ≧ 10 (1.518logη-20.3 -c / 100)
In the formula, η is the viscosity (dPa · s) of the glass at the T 1 (° C.), the viscosity of the glass at the strain point (Ts) is 10 14.5 (dPa · s), and at the annealing point (Ta). The viscosity of the glass is 10 13.0 (dPa · s) and can be obtained by Arrhenius regression.
C is a target value (acceptable upper limit) (ppm) of compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step.
If t 1 does not satisfy the above equation, it is difficult to reduce the compaction to the target value.
The target value (acceptable upper limit value) of compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step varies depending on the type of flat panel display panel, but in the case of an organic EL display panel, it is preferably 50 ppm or less, and 20 ppm or less. It is more preferable that it is 10 ppm or less.

本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法では、プレアニール工程でのガラス基板の昇温後の温度をT2(℃)、ガラス基板をT2(℃)に保持する時間をt2(h)、T2(℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr2(℃/min)とするとき、下記(1)〜(3)を満たすようにプレアニール工程を実施する。
2 =T1 (1)
2 =r1 (2)
2 ≧t1 (3)
式(2)中のr1は、熱処理工程の際にT1(℃)からガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度(℃/min)である。ここで、冷却速度r1、r2をそれぞれ温度T1、T2から200℃まで冷却する際の冷却速度とする理由は、200℃以上がコンパクションに影響しうる温度と考えられるからである。
なお、t1、t2は、製造コスト等を考慮すると100時間以下が好ましく、24時間以下がより好ましく、12時間以下がさらに好ましく、6時間以下が特に好ましい。
また、プレアニール工程の際のガラス基板の昇温速度、すなわち、ガラス基板の温度をT2(℃)まで上昇させる際の昇温速度は、熱処理工程でのガラス基板の昇温速度、すなわち、ガラス基板の温度をT1(℃)まで上昇させる際の昇温速度と特に一致させる必要はないが、両者の差が±30%以内であることが好ましく、±10%以内であることがより好ましく、両者が一致することが特に好ましい。
In the manufacturing method of the flat display panel of the present invention, temperature T 2 (° C.) after raising the temperature of the glass substrate in the pre-annealing step, the time for holding the glass substrate to T 2 (℃) t 2 ( h), T When the cooling rate when cooling the glass substrate from 2 (° C.) to 200 ° C. is r 2 (° C./min), the pre-annealing step is performed so as to satisfy the following (1) to (3).
T 2 = T 1 (1)
r 2 = r 1 (2)
t 2 ≧ t 1 (3)
R 1 in the formula (2) is T 1 during the heat treatment step cooling rate during cooling from (℃) a glass substrate to 200 ℃ (℃ / min). Here, the reason why the cooling rates r 1 and r 2 are the cooling rates when cooling from temperatures T 1 and T 2 to 200 ° C., respectively, is that 200 ° C. or higher is considered to be a temperature that can affect compaction.
Note that t 1 and t 2 are preferably 100 hours or less, more preferably 24 hours or less, further preferably 12 hours or less, and particularly preferably 6 hours or less in consideration of production costs and the like.
Further, the rate of temperature rise of the glass substrate during the pre-annealing step, that is, the rate of temperature rise when raising the temperature of the glass substrate to T 2 (° C.) is the rate of temperature rise of the glass substrate in the heat treatment step, ie glass Although it is not necessary to coincide with the heating rate when raising the temperature of the substrate to T 1 (° C.), the difference between the two is preferably within ± 30%, more preferably within ± 10%. It is particularly preferred that the two match.

本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法では、上述した手順でプレアニール工程および熱処理工程を実施することで、熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションを目標値以下に抑制することができる。   In the method for manufacturing a flat display panel according to the present invention, by performing the pre-annealing step and the heat treatment step according to the above-described procedure, the compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step can be suppressed to a target value or less.

本発明において、ガラス基板を構成するガラスは特に限定されず、フラットパネルディスプレイパネルに用いられるものから幅広く選択することができる。具体的には、ソーダライムガラスのようなアルカリ含有ガラス、無アルカリガラス、高歪点ガラス等が挙げられる。これらの材料の中から、製造されるフラットディスプレイパネルに応じて好適な材料を適宜選択すればよい。例えば、有機ELディスプレイパネル、LCDパネルを製造する場合、無アルカリガラスを用いることがTFT半導体シリコンへのアルカリ拡散によるトランジスタ性能低下抑止の観点から好ましい。PDPを製造する場合、高電気抵抗のアルカリ含有ガラス等を用いることが、プラズマ生成電極でのアルカリ生成物の生成抑止や電極間絶縁性の破壊防止の観点から好ましい。   In the present invention, the glass constituting the glass substrate is not particularly limited and can be widely selected from those used for flat panel display panels. Specific examples include alkali-containing glass such as soda lime glass, alkali-free glass, and high strain point glass. What is necessary is just to select a suitable material suitably from these materials according to the flat display panel manufactured. For example, when manufacturing an organic EL display panel or an LCD panel, it is preferable to use non-alkali glass from the viewpoint of suppressing deterioration in transistor performance due to alkali diffusion into the TFT semiconductor silicon. When manufacturing PDP, it is preferable to use high-resistance alkali-containing glass or the like from the viewpoints of inhibiting generation of alkali products at the plasma generation electrode and preventing breakdown of interelectrode insulation.

また、本発明のガラス基板は、ガラス原料を溶融ガラスに加熱溶解し、該溶融ガラスを板ガラスに成形し徐冷して、その後所定の寸法に切断されたものである。板ガラスの成形、徐冷方法は、通常の方法であれば、特に限定されない。例えば、フロート法で板ガラスに成形し徐冷することや、ダウンドロー法で板ガラスに成形し徐冷することで得ることができる。
ガラス基板の寸法は、製造されるフラットディスプレイパネルに応じて適宜選択されるが、収縮率が同じでも縮み量の絶対値は基板寸法に比例するため、大型基板ほど収縮率の低減は重要となる。有機ELディスプレイパネルの場合、一辺が好ましくは700mm以上、より好ましくは900mm以上、さらに好ましくは1100mm以上である。
The glass substrate of the present invention is obtained by heating and melting a glass raw material in molten glass, forming the molten glass into a plate glass, slowly cooling it, and then cutting it into a predetermined dimension. The method for forming and slow cooling the plate glass is not particularly limited as long as it is a normal method. For example, it can be obtained by forming into a sheet glass by the float method and gradually cooling, or by forming into a sheet glass by the down draw method and gradually cooling.
The size of the glass substrate is appropriately selected according to the flat display panel to be manufactured. However, even if the shrinkage rate is the same, the absolute value of the shrinkage amount is proportional to the substrate size. . In the case of an organic EL display panel, one side is preferably 700 mm or more, more preferably 900 mm or more, and further preferably 1100 mm or more.

本発明のフラットディスプレイパネルの製造方法では、上述したプレアニール工程および熱処理工程以外に、フラットディスプレイパネルを製造するうえで必要となる他の工程が実施される。このような他の工程は製造されるフラットディスプレイパネルの種類に従って行われるが、本発明では特に限定されない。
有機ELディスプレイパネルを製造する場合に必要となる工程の一例としては、アモルファスシリコン形成工程、結晶化(ポリシリコン化)工程、ゲート絶縁膜形成工程、ゲート線メタル形成工程、イオン注入工程、活性化アニール工程、層間膜形成工程、信号線メタル形成工程、パッシベーション膜形成工程、有機平坦化膜形成工程、透明画素電極形成工程が挙げられる。ここで、活性化アニール工程は、比較的高温での複数の熱処理が行われるため、本発明での熱処理工程に該当する。
In the method for manufacturing a flat display panel according to the present invention, in addition to the pre-annealing step and the heat treatment step described above, other steps necessary for manufacturing the flat display panel are performed. Such other steps are performed according to the type of flat display panel to be manufactured, but are not particularly limited in the present invention.
Examples of processes required for manufacturing an organic EL display panel include an amorphous silicon formation process, a crystallization (polysiliconization) process, a gate insulating film formation process, a gate line metal formation process, an ion implantation process, and activation. Examples include an annealing process, an interlayer film forming process, a signal line metal forming process, a passivation film forming process, an organic planarizing film forming process, and a transparent pixel electrode forming process. Here, the activation annealing step corresponds to the heat treatment step in the present invention because a plurality of heat treatments are performed at a relatively high temperature.

以下、実施例を用いて本発明をさらに説明する。
実施例では、有機ELディスプレイパネルを製造する際の熱処理工程を想定して、以下の条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。なお、ガラス基板としては、歪点(Ts)が670℃、徐冷点(Ta)が725℃の無アルカリガラスでフロート成形後に徐冷された寸法100mm×20mm×0.7mmの板ガラスを使用する。
(実施例1)
下記条件で熱処理工程を実施することを想定してプレアニール工程の条件を設定する。
熱処理工程
ガラス基板の昇温後の温度T1:700℃
1(℃)からガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度r1:100℃/分
700℃のガラスの粘性ηは1013.66(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが10ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=2.17時間となることから、ガラス基板をT1(℃)に保持する時間t1を2.5時間とする。
プレアニール工程
ガラス基板の昇温後の温度T2:700℃
2(ガラス基板をT2(℃) に保持する時間):2.5時間
2(℃)からガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr2:100℃/分
上記の条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
なお、熱処理工程の際に発生するコンパクションは以下の手順で算出する。
プレアニール後、ガラス基板の表面に圧痕を長辺方向に2箇所、間隔A(A=約90mm)で打つ。次に熱処理工程実施後の圧痕間距離を測定し、その距離をBとする。このようにして得たA、Bから下記式を用いてコンパクション(c)を求める。なお、A、Bは測長が可能な光学顕微鏡を用いて測定する。
c[ppm]=(A−B)/A×106
上記の手順で求められるコンパクションは10ppm以下となり、目標値を満たす。
The present invention will be further described below using examples.
In the embodiment, assuming the heat treatment step when manufacturing the organic EL display panel, the pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions. As the glass substrate, a plate glass having dimensions of 100 mm × 20 mm × 0.7 mm, which is annealed after float forming with non-alkali glass having a strain point (Ts) of 670 ° C. and a slow cooling point (Ta) of 725 ° C. .
Example 1
The pre-annealing process conditions are set assuming that the heat treatment process is performed under the following conditions.
Temperature T 1 of the temperature was raised heat treatment <br/> glass substrate: 700 ° C.
The cooling rate r 1 when cooling the glass substrate from T 1 (° C.) to 200 ° C .: 100 ° C./min The viscosity η of the glass at 700 ° C. is 10 13.66 (dPa · s), so the target value c of the compaction is In the case of 10 ppm, since 10 (1.518 log η-20.3 −c / 100) = 2.17 hours, the time t 1 for holding the glass substrate at T 1 (° C.) is set to 2.5 hours.
Pre-annealing step Temperature T 2 after the glass substrate is heated: 700 ° C.
t 2 (Time for holding the glass substrate at T 2 (° C.)): 2.5 hours The cooling rate when cooling the glass substrate to 200 ° C. from T 2 (° C.) is r 2 : 100 ° C./min. A pre-annealing step and a heat treatment step are performed.
The compaction generated during the heat treatment process is calculated according to the following procedure.
After pre-annealing, two indentations are made on the surface of the glass substrate in the long side direction at intervals A (A = about 90 mm). Next, the distance between the indentations after the heat treatment step is measured, and the distance is B. The compaction (c) is obtained from A and B thus obtained using the following equation. A and B are measured using an optical microscope capable of measuring length.
c [ppm] = (A−B) / A × 10 6
The compaction obtained by the above procedure is 10 ppm or less, which satisfies the target value.

(実施例2)
下記条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
熱処理工程
1:710℃
1:100℃/分
710℃のガラスの粘性ηは1013.39(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが10ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=0.84時間となることから、t1を1時間とする。
プレアニール工程
2:710℃
2:1時間
2:100℃/分
実施例1と同様の手順で熱処理工程の際にガラス基板で発生したコンパクションを求める。コンパクションは10ppm以下となり、目標値を満たす。
(Example 2)
The pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions.
Heat treatment step T 1 : 710 ° C.
r 1 : 100 ° C./min Since the viscosity η of the glass at 710 ° C. is 10 13.39 (dPa · s), when the target value c of the compaction is 10 ppm, 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) = 0 Since it is 84 hours, t 1 is set to 1 hour.
Pre-annealing step T 2 : 710 ° C.
t 2 : 1 hour r 2 : 100 ° C./min The compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step is obtained in the same procedure as in Example 1. Compaction is 10 ppm or less, which satisfies the target value.

(実施例3)
下記条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
熱処理工程
1:720℃
1:100℃/分
720℃のガラスの粘性ηは1013.13(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが10ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=0.34時間となることから、t1を0.5時間とする。
プレアニール工程
2:720℃
2:1時間
2:100℃/分
実施例1と同様の手順で熱処理工程の際にガラス基板で発生したコンパクションを求める。コンパクションは10ppm以下となり、目標値を満たす。
(Example 3)
The pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions.
Heat treatment step T 1 : 720 ° C.
r 1 : 100 ° C./min Since the viscosity η of the glass at 720 ° C. is 10 13.13 (dPa · s), when the target value c of the compaction is 10 ppm, 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) = 0 Since t is 34 hours, t 1 is set to 0.5 hours.
Pre-annealing step T 2 : 720 ° C.
t 2 : 1 hour r 2 : 100 ° C./min The compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step is obtained in the same procedure as in Example 1. Compaction is 10 ppm or less, which satisfies the target value.

(実施例4)
下記条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
熱処理工程
1:690℃
1:100℃/分
690℃のガラスの粘性ηは1013.93(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが50ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=2.22時間となることから、t1を3時間とする。
プレアニール工程
2:690℃
2:3時間
2:100℃/分
実施例1と同様の手順で熱処理工程の際にガラス基板で発生したコンパクションを求める。コンパクションは50ppm以下となり、目標値を満たす。
Example 4
The pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions.
Heat treatment step T 1 : 690 ° C.
r 1 : 100 ° C./min Since the viscosity η of the glass at 690 ° C. is 10 13.93 (dPa · s), when the target value c of the compaction is 50 ppm, 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) = 2 Since it is 22 hours, t 1 is 3 hours.
Pre-annealing step T 2 : 690 ° C.
t 2 : 3 hours r 2 : 100 ° C./min The compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step is obtained in the same procedure as in Example 1. Compaction is 50 ppm or less, which satisfies the target value.

(実施例5)
下記条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
熱処理工程
1:700℃
1:100℃/分
700℃のガラスの粘性ηは1013. 66(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが50ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=0.86時間となることから、t1を1時間とする。
プレアニール工程
2:700℃
2:1時間
2:100℃/分
実施例1と同様の手順で熱処理工程の際にガラス基板で発生したコンパクションを求める。コンパクションは50ppm以下となり、目標値を満たす。
(Example 5)
The pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions.
Heat treatment step T 1 : 700 ° C.
r 1 : 100 ° C./min Since the viscosity η of the glass at 700 ° C. is 10 13. 66 (dPa · s), when the compaction target value c is 50 ppm, 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) = 0.86 hours, so t 1 is 1 hour.
Pre-annealing process T 2 : 700 ° C
t 2 : 1 hour r 2 : 100 ° C./min The compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step is obtained in the same procedure as in Example 1. Compaction is 50 ppm or less, which satisfies the target value.

(実施例6)
下記条件でプレアニール工程および熱処理工程を実施する。
熱処理工程
1:720℃
1:100℃/分
710℃のガラスの粘性ηは1013.39(dPa・s)となるので、コンパクションの目標値cが50ppmである場合、10(1.518logη-20.3 -c/100)=0.335時間となることから、t1を0.5時間とする。
プレアニール工程
2:720℃
2:1時間
2:100℃/分
実施例1と同様の手順で熱処理工程の際にガラス基板で発生したコンパクションを求める。コンパクションは50ppm以下となり、目標値を満たす。
(Example 6)
The pre-annealing step and the heat treatment step are performed under the following conditions.
Heat treatment step T 1 : 720 ° C.
r 1 : 100 ° C./min Since the viscosity η of the glass at 710 ° C. is 10 13.39 (dPa · s), when the target value c of the compaction is 50 ppm, 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) = 0 Since t is 335 hours, t 1 is set to 0.5 hours.
Pre-annealing step T 2 : 720 ° C.
t 2 : 1 hour r 2 : 100 ° C./min The compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step is obtained in the same procedure as in Example 1. Compaction is 50 ppm or less, which satisfies the target value.

Claims (4)

ガラス基板をプレアニールする工程、および、前記ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程と、を有するフラットディスプレイパネルの製造方法であって、
前記フラットディスプレイパネルが、有機エレクトロルミネッセンス(EL)ディスプレイパネルであり、前記ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程は、成膜したシリコンを結晶化させる目的で実施される熱処理であり、
前記熱処理工程での前記ガラス基板の昇温後の温度をT1(℃)(但し、T1は前記ガラス基板の歪点Ts(℃)以上徐冷点Ta(℃)以下、かつ、600〜800℃)、該ガラス基板を該T1(℃)に保持する時間をt1(h)(但し、t1 ≧ 10(1.518logη-20.3 -c/100)。式中、ηは該T1(℃)における該ガラスの粘性(dPa・s)、cは前記熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションの目標値(許容可能な上限値)(ppm)。)、該T1(℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr1(℃/min)とし、
前記プレアニール工程でのガラス基板の昇温後の温度をT2(℃)、該ガラス基板を該T2(℃)に保持する時間をt2(h)、該T2(℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をr2(℃/min)とするとき、
下記(1)〜(3)を満たすように、前記プレアニール工程を実施することを特徴とするフラットディスプレイパネルの製造方法。
2 =T1 (1)
2 =r1 (2)
2 ≧t1 (3)
A step of pre-annealing a glass substrate, and a heat treatment step performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate, and a method for producing a flat display panel,
The flat display panel is an organic electroluminescence (EL) display panel, and the heat treatment performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate is a heat treatment performed for the purpose of crystallizing the deposited silicon. And
The temperature after raising the temperature of the glass substrate in the heat treatment step is T 1 (° C.) (where T 1 is not less than the strain point Ts (° C.) of the glass substrate and not more than the annealing point Ta (° C.) , and 600 to 800 ° C. ), and the time for holding the glass substrate at T 1 (° C.) is t 1 (h) (where t 1 ≧ 10 (1.518 log η−20.3 −c / 100) , where η is the T 1 Viscosity (dPa · s) of the glass at (° C.), c is a target value (acceptable upper limit value) (ppm) of compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step, and T 1 (° C.) The cooling rate when cooling the glass substrate to 200 ° C. from r 1 (° C./min),
The temperature after raising the temperature of the glass substrate in the pre-annealing step is T 2 (° C.), the time for holding the glass substrate at T 2 (° C.) is t 2 (h), and the glass from the T 2 (° C.) When the cooling rate when cooling the substrate to 200 ° C. is r 2 (° C./min),
The method for producing a flat display panel, wherein the pre-annealing step is performed so as to satisfy the following (1) to (3).
T 2 = T 1 (1)
r 2 = r 1 (2)
t 2 ≧ t 1 (3)
ガラス基板をプレアニールする工程、および、前記ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程と、を有するフラットディスプレイパネルの製造方法であって、A step of pre-annealing a glass substrate, and a heat treatment step performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate, and a method for producing a flat display panel,
前記フラットディスプレイパネルが、プラズマディスプレイパネル(PDP)であり、前記ガラス基板上に表示素子を形成する目的で実施される熱処理工程は、プラズマ発光セルを形成する目的で実施される熱処理であり、The flat display panel is a plasma display panel (PDP), and the heat treatment step performed for the purpose of forming a display element on the glass substrate is a heat treatment performed for the purpose of forming a plasma light emitting cell,
前記熱処理工程での前記ガラス基板の昇温後の温度をTThe temperature after the temperature rise of the glass substrate in the heat treatment step is T 11 (℃)(但し、T(℃) (However, T 11 は前記ガラス基板の歪点Ts(℃)以上徐冷点Ta(℃)以下、かつ、450〜650℃)、該ガラス基板を該TIs a strain point Ts (° C.) or more and an annealing point Ta (° C.) or less and 450 to 650 ° C. of the glass substrate). 11 (℃)に保持する時間をt(T) is the time to hold 11 (h)(但し、t(H) (however, t 11 ≧ 10 ≧ 10 (1.518logη-20.3 -c/100)(1.518logη-20.3 -c / 100) 。式中、ηは該T. Where η is the T 11 (℃)における該ガラスの粘性(dPa・s)、cは前記熱処理工程の際にガラス基板で発生するコンパクションの目標値(許容可能な上限値)(ppm)。)、該TThe viscosity (dPa · s) of the glass at (° C.), c is a target value (acceptable upper limit) (ppm) of compaction generated in the glass substrate during the heat treatment step. ), T 11 (℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をrThe cooling rate when cooling the glass substrate to 200 ° C. from (° C.) r 11 (℃/min)とし、(° C / min)
前記プレアニール工程でのガラス基板の昇温後の温度をTThe temperature after the temperature rise of the glass substrate in the pre-annealing step is T 22 (℃)、該ガラス基板を該T(° C.), the glass substrate is 22 (℃)に保持する時間をt(T) is the time to hold 22 (h)、該T(H) the T 22 (℃)から該ガラス基板を200℃まで冷却する際の冷却速度をrThe cooling rate when cooling the glass substrate to 200 ° C. from (° C.) r 22 (℃/min)とするとき、(C / min)
下記(1)〜(3)を満たすように、前記プレアニール工程を実施することを特徴とするフラットディスプレイパネルの製造方法。The method for producing a flat display panel, wherein the pre-annealing step is performed so as to satisfy the following (1) to (3).
T 22 =T = T 11 (1)  (1)
r 22 =r = R 11 (2)  (2)
t 22 ≧t ≧ t 11 (3)  (3)
前記コンパクションの目標値(許容可能な上限値)cが50ppmであることを特徴とする請求項1または2に記載のフラットディスプレイパネルの製造方法。The flat display panel manufacturing method according to claim 1, wherein a target value (allowable upper limit value) c of the compaction is 50 ppm. 前記ガラス基板が無アルカリガラス基板である請求項1〜3のいずれかに記載のフラットディスプレイパネルの製造方法。   The method for producing a flat display panel according to claim 1, wherein the glass substrate is an alkali-free glass substrate.
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