JP5243785B2 - 太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 59
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 59
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 19
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 abstract description 15
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 210
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 35
- 230000008569 process Effects 0.000 description 33
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 8
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- DQXBYHZEEUGOBF-UHFFFAOYSA-N but-3-enoic acid;ethene Chemical compound C=C.OC(=O)CC=C DQXBYHZEEUGOBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 6
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 6
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 5
- LRUUNMYPIBZBQH-UHFFFAOYSA-N Methazole Chemical compound O=C1N(C)C(=O)ON1C1=CC=C(Cl)C(Cl)=C1 LRUUNMYPIBZBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 2
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 2
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 241000270322 Lepidosauria Species 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 229940050561 matrix product Drugs 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920013716 polyethylene resin Polymers 0.000 description 1
- -1 polyethylene vinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
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Description
1.太陽電池内の太陽電池セルの良否を判定可能な太陽電池検査装置であって、遮光空間で検査対象太陽電池に一定電流を供給する電源供給手段と前記電源供給手段により電源が供給された前記検査対象太陽電池セル毎にセルよりの発光光を撮影する撮影手段と、前記撮影手段で撮影したセル撮影画像を解析する解析手段と、前記解析手段の解析結果を可視表示する表示手段とを備え、前記解析手段は、前記撮影手段で撮影したセル撮影画像を強調処理することによりセル撮影画像の暗部の形状を解析してセルの良否判断を可能とすることを特徴とする。
4.前記解析手段は、マイクロクラックの検出判定を行うことで将来不良に発展するおそれのある太陽電池セルの状態を判定することもできる。
6.前記表示手段は、前記解析手段が問題があると判定した暗部を強調して表示したセル画像と、前記撮影手段で撮影したセル撮影画像とを同時に視認可能に表示することもできる。
まず本実施の形態例の検査装置が扱う検査対象100の例について説明する。
図6の平面図に示す様に、検査対象100である太陽電池パネルは角型の太陽電池セル28がリード線29により複数個直列に接続されたストリング25を形成し、さらにそのストリングを複数列リード線により接続した構成となっている。
さらに、角型の太陽電池セル28の例について説明する。図8は、太陽電池セルを受光面から見た平面図である。セルは薄板状のシリコン半導体の表面に電気を取り出すための電極であるバスバーが印刷されている。加えてシリコン半導体の表面には効率よく電流をバスバーに集めるためにバスバーと垂直方向にフィンガーと呼ばれる細い導体が印刷されている。
この薄膜式の代表的な構造例では、図7において下側に配置された透明なカバーガラスには、予め透明電極、半導体、裏面電極からなる発電素子が蒸着してある。
太陽電池セルの欠陥は、その発生原因によってその形状に特徴を有している。図9はフィンガーが断線した場合の暗部の特徴を示している。フィンガー断線の場合はこのようにフィンガーの方向に沿って長方形の暗部が現れる。
それに対してラミネート加工による圧縮や輸送中、およびモジュール製作工程中のハンドリングによる荷重や衝撃力に起因するクラックはバスバーの近辺には限らず領域Lにも発生する。このクラックは前述のハンダ付けによるクラックより寸法が大きくなる傾向がある。またこれらのクラックは半導体が硬くもろい物性を有しているため、折れ曲がった部分を持っているが、比較的単純な形状になる傾向がある。
図1の本発明に係る一発明の実施の形態例の太陽電池検査装置の概略構成を示すブロック図において、10は本実施の形態例の全体制御を司ると共に、本実施の形態例の太陽電池良否判定処理を実行する制御部であり、パーソナルコンピュータシステムで構成できる。20は制御部10で実行するプログラムや各種処理データを記憶するメモリ、30は検査対象の太陽電池パネルの良否判定の基準データが登録されている基準データファイルである。
(1)太陽電池セルに対する発光条件、
(2)セル間隔(カメラの移動ピッチ)、
(3)ストリング/マトリックスの場合のセル数(縦、横)、
(4)セル寸法情報(バスバー位置、角の面取り、フィンガーの配置、ディップ位置など)の設定情報
セルの寸法情報設定は、基本パターンの穴埋め方式と図形情報から設定する方式の両方法が設定可能であり、図形情報から設定する場合には図形情報としてDXF形式、BMP形式ファイルの対応しており、穴埋め方式の場合には例えばバスバーの本数が1本の場合、2本の場合、3本の場合など、複数のパターンを選択可能である。
(5)画像処理条件
(6)撮影条件
カメラ駆動機構800は、四角の箱形の暗室810の平らな上面811に、アクリル樹脂などの合成樹脂製又はガラス製の透明板812が取り付けられている。透明板812以外は、暗室810に光を入れないような遮光性の素材からなる構成にしている。透明板812と検査対象100との隙間は適宜遮光材で覆う必要がある。もっとも、上面811に検査対象100として太陽電池を載せた後、検査対象100を含む上面811の全体を、遮光手段で覆うことにすれば、上面811全体を透明板にしてもよい。上面以外の4つの側面と底面は全て遮光性の部材としている。上面811には、検査対象100の搬送をガイドする一対のガイド部材814が設けられている。
しかし、検査対象100の方が透明板より小さければ、隙間から光が暗室810内に入るので、遮光手段で覆う必要がある。覆う範囲は、最低で、透明板812と測定対象100との間に額縁状にできる隙間だけである。したがって、遮光手段は、最低で、この隙間を覆う大きさがあればよいことになる。
駆動機構のモータ832、842の回転制御によって、カメラ500は、太陽電池パネルにマトリックス状に配置されている太陽電池セルを1枚ずつ撮影し、図示しないパソコンなどからなる画像処理装置に画像データを送る。画像処理装置は、各太陽電池セルの画像から発光しない部分(暗部またはカゲ)を取り出して分析し、太陽電池セルごとの良否を判断し、全ての太陽電池セルについての良否の結果から、太陽電池パネル全体としての良否を判断する。
以上の構成を備える本実施の形態例の検査装置による太陽電池パネルの欠陥検査の方法を図3のフローチャートを参照して以下に説明する。
先ずステップS1において、図2に示す暗室810の上面811に検査対象100として太陽電池パネルを位置決め載置する。続くステップS3において、載置した検査対象の太陽電池パネルの端子部にプローブ75を接続して測定電流制御部70より電流を印加できるようにする。
次にステップS22において、検査対象の太陽電池パネルのセル毎に割り当てたシーケンス番号を一つカウントアップ(歩進)する。そして続くステップS24において、カウントアップしたシーケンス番号を調べ、検査対象の太陽電池パネルのすべてのセルに対する撮影及び判定処理が修了したか否かを調べる。すべてのセルに対する処理を終了していない場合にはステップS30に進み、位置決め機構制御部80に指示を出してカメラ位置決め機構800を制御してカメラ500を次のセル撮影位置に移動位置決めする。そしてステップS7に進み、次のセルに対する撮影処理及び判定処理を行う。
次に図4を参照して図3のステップS50に示す撮影画像処理の詳細を説明する。
画像処理は、まず撮影したセル画像に対して光量が少ない領域を抽出する。次に、抽出した光量の少ない領域又は形状を図9・図10・図11の太陽電池セルの欠陥のパターンに基づき画像処理する。画像処理条件は基準データファイル30に登録されており、以下の処理を順次行うことになる。
そして、検査対象がセル単体である場合にはセルの判定結果がそのまま製品としての総合判定結果となる。一方、検査対象がストリング、マトリックスの場合、製品としての良否の自動判定を以下の手順で行うこととしている。
本実施の形態例の太陽電池欠陥検査装置においては、撮影画像を解析して問題があると判定した暗部を、その表示部に強調表示する機能を有している。本太陽電池欠陥検査装置による自動判定を止め、図3のS18においてこの機能を使用して検査者が表示部を見て手動判定することもできる。検査者による手動判定の場合は、以下のとおりとなる。
検査者は、図3のステップS18において、検査者は強調表示した画像を見て良否判定結果キーボード400から指示入力する。なお、表示部600がタッチパネルである場合には、表示部600の表示画面にタッチすることで指示入力としても良い。
上述したステップS16の判定画像における欠陥部分を強調した画像とは、以上に説明した解析処理において撮影画像の暗部を解析した結果、バスバー部分などの本来的に発光しない部分に対応する暗部を除く、通常EL発光していなければならない部分が暗部として認識された場合には、以下の強調画像となる。
20 メモリ
30 基準データファイル
40 入出力制御部
50 カメラ制御部
70 測定電流制御部
75 プローブ
80 位置決め機構制御部
900 外部記憶装置
100 太陽電池パネル(検査対象)
500 カメラ
800 カメラ位置決め機構
810 暗室
811 検査装置の上面
812 透明板
830 y軸ガイド部
840 x軸ガイド部
832,842 駆動機構のモータ
814 ガイド部材
Claims (12)
- 太陽電池内の太陽電池セルの良否を判定可能な太陽電池検査装置であって、
遮光空間で検査対象太陽電池に一定電流を供給する電源供給手段と、
前記電源供給手段により電源が供給された前記検査対象太陽電池セル毎にセルよりの発光光を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影したセル撮影画像を解析する解析手段と、
前記解析手段の解析結果を可視表示する表示手段とを備え、
前記解析手段は、前記撮影手段で撮影したセル撮影画像を、前記欠陥を予め欠陥のタイプごとに分け、前記暗部の形状を、予め登録されている欠陥のタイプごとの閾値と比較することによって欠陥の有無及びタイプ別の判断をし、セル撮影画像の暗部の形状を解析してセルの良否を自動判定することを特徴とする太陽電池検査装置。 - 請求項1に記載の太陽電池検査装置であって、
前記表示手段は前記解析手段が問題があると判定した暗部を強調して表示することを特徴とする太陽電池検査装置。 - 前記撮影手段は、複数の太陽電池セルを連続して撮影し、前記解析手段は、前記撮影手段の撮影した隣接するセル間隔に対する良否判定も行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の太陽電池検査装置。
- 前記解析手段は、マイクロクラックの検出判定を行うことで将来不良に発展するおそれのある太陽電池セルの状態を判断可能とすることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の太陽電池検査装置。
- 前記解析手段は、セル撮影画像の暗部の形状に加えて暗部の方向及び位置も解析してセルの状態判断を行なうことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の太陽電池検査装置。
- 前記表示手段は、前記解析手段が問題があると判定した暗部を強調して表示したセル画像と、前記撮影手段で撮影したセル撮影画像とを同時に視認可能に表示可能とすることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の太陽電池検査装置。
- 請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の太陽電池検査装置における太陽電池欠陥判定方法であって、
遮光空間で検査対象太陽電池セルに一定電流を供給し、電源が供給されたことによる前記検査対象太陽電池セル毎にセルよりの発光光を撮影し、
前記撮影したセル撮影画像を、前記欠陥を予め欠陥のタイプごとに分け、前記暗部の形状を、予め登録されている欠陥のタイプごとの閾値と比較することによって欠陥の有無及びタイプ別の判断をし、セル撮影画像の暗部の形状を解析してセルの良否を自動判定することを特徴とする太陽電池欠陥判定方法。 - 請求項7に記載の太陽電池欠陥判定方法であって、
前記解析結果において問題があると判定した暗部を強調して表示することを特徴とする太陽電池欠陥判定方法。 - 前記太陽電池セルの撮影は、複数の太陽電池セルを連続して撮影し、セル撮影画像の暗部の判定は隣接するセル間隔に対しても行い、隣接するセルの配設状況の良否判定も行うことを特徴とする請求項7または請求項8に記載の太陽電池欠陥判定方法。
- 前記撮影画像の解析において、マイクロクラックの検出判定を行うことで将来不良に発展するおそれのある太陽電池セルの状態を判断可能とすることを特徴とする請求項7乃至請求項9に記載の太陽電池欠陥判定方法。
- 前記撮影画像の解析において、セル撮影画像の暗部の形状に加えて暗部の方向及び位置も解析してセルの状態判断を行なうことを特徴とする請求項7乃至請求項10のいずれかに記載の太陽電池欠陥判定方法。
- 前記問題があると判定した暗部を強調して表示したセル画像と、撮影したセル撮影画像とを同時に視認可能に表示可能とすることを特徴とする請求項7乃至請求項11のいずれかに記載の太陽電池欠陥判定方法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007339198A JP5243785B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | 太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 |
| KR1020107016953A KR20100112150A (ko) | 2007-12-28 | 2008-12-19 | 태양전지의 검사장치 및 태양전지의 결함판정방법 |
| PCT/JP2008/073895 WO2009084702A1 (ja) | 2007-12-28 | 2008-12-19 | 太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 |
| EP08868967A EP2234170A4 (en) | 2007-12-28 | 2008-12-19 | SOLAR BATTERY INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING SOLAR BATTERY DEFECT |
| CN2008801274961A CN101960612B (zh) | 2007-12-28 | 2008-12-19 | 太阳电池检查装置以及太阳电池缺陷判定方法 |
| US12/810,020 US20100266196A1 (en) | 2007-12-28 | 2008-12-19 | Photovoltaic devices inspection apparatus and method of determining defects in photovoltaic devices |
| TW097150148A TWI447827B (zh) | 2007-12-28 | 2008-12-22 | 太陽電池檢查裝置以及太陽電池缺陷判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007339198A JP5243785B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | 太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009164165A JP2009164165A (ja) | 2009-07-23 |
| JP5243785B2 true JP5243785B2 (ja) | 2013-07-24 |
Family
ID=40824415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007339198A Expired - Fee Related JP5243785B2 (ja) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | 太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20100266196A1 (ja) |
| EP (1) | EP2234170A4 (ja) |
| JP (1) | JP5243785B2 (ja) |
| KR (1) | KR20100112150A (ja) |
| CN (1) | CN101960612B (ja) |
| TW (1) | TWI447827B (ja) |
| WO (1) | WO2009084702A1 (ja) |
Families Citing this family (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8233723B2 (en) | 2007-12-06 | 2012-07-31 | Ebay Inc. | Image categorization based on comparisons between images |
| JP2010054365A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Nisshinbo Holdings Inc | 太陽電池の検査装置、太陽電池の検査方法、プログラム、太陽電池の検査システム |
| EP2284520A1 (en) * | 2009-07-28 | 2011-02-16 | David Marcos Muntal | Assembly for the inspection in a continuous manner of cells, strings and photovoltaic modules and inspection method thereof |
| WO2011016441A1 (ja) * | 2009-08-04 | 2011-02-10 | 国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学 | 太陽電池の評価方法、評価装置、メンテナンス方法、メンテナンスシステム、および太陽電池モジュールの製造方法 |
| TWI393202B (zh) * | 2009-12-08 | 2013-04-11 | Ind Tech Res Inst | 薄膜太陽能電池畫線缺陷檢測方法 |
| JP2011134764A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Mie Univ | 太陽電池の検査装置、太陽電池の検査方法およびプログラム |
| EP2378278B1 (en) * | 2010-04-19 | 2018-03-28 | Airbus Defence and Space GmbH | Method for screening of multi-junction solar cells |
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| CN102866143A (zh) * | 2011-07-08 | 2013-01-09 | 光达光电设备科技(嘉兴)有限公司 | 外延材料层的特性测试装置 |
| JP5015341B1 (ja) * | 2011-07-15 | 2012-08-29 | 株式会社エヌ・ピー・シー | 太陽電池の欠陥検査装置及び検査方法 |
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2007
- 2007-12-28 JP JP2007339198A patent/JP5243785B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-12-19 CN CN2008801274961A patent/CN101960612B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-12-19 US US12/810,020 patent/US20100266196A1/en not_active Abandoned
- 2008-12-19 EP EP08868967A patent/EP2234170A4/en not_active Withdrawn
- 2008-12-19 KR KR1020107016953A patent/KR20100112150A/ko not_active Ceased
- 2008-12-19 WO PCT/JP2008/073895 patent/WO2009084702A1/ja not_active Ceased
- 2008-12-22 TW TW097150148A patent/TWI447827B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2009084702A1 (ja) | 2009-07-09 |
| JP2009164165A (ja) | 2009-07-23 |
| TW200937553A (en) | 2009-09-01 |
| TWI447827B (zh) | 2014-08-01 |
| CN101960612A (zh) | 2011-01-26 |
| CN101960612B (zh) | 2013-08-21 |
| US20100266196A1 (en) | 2010-10-21 |
| EP2234170A4 (en) | 2012-09-05 |
| KR20100112150A (ko) | 2010-10-18 |
| EP2234170A1 (en) | 2010-09-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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