JP5253124B2 - 多孔質シリカ粒子及びその製造方法 - Google Patents
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1)細孔容積が0.10〜0.25cc/gの範囲
2)細孔径分布(X軸:細孔径、Y軸:細孔容積を細孔径で微分した値)におけるピーク値の細孔径(D1)が2〜50nmの範囲
3)(D1)×0.75〜(D1)×1.25nmの範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積が、全細孔容積の80%以上
(A): 平均粒子径10〜50nmの球状シリカ微粒子の分散液を遠心分離処理し、粗大粒子を分離し、粒子径変動係数(CV値)を2〜10%の範囲に調整することにより粒子径分布が単分散な球状シリカ微粒子分散液とする工程
(B): 前工程の処理を行った球状シリカ微粒子分散液を含む噴霧液を気流中に噴霧して球状シリカ微粒子集合体を調製する工程
(C): 前工程で得られた球状シリカ微粒子集合体を温度150〜600℃の範囲で加熱処理する工程
(D): 前工程に続いて、該球状シリカ微粒子集合体を水および/または有機溶媒に分散させ、球状シリカ微粒子集合体の分散液を調製する工程
(E): 前工程で調製した球状シリカ微粒子集合体の分散液に、次のi)またはii)を添加することにより該球状シリカ微粒子集合体を表面処理する工程
i) 酸またはアルカリ
ii) 酸またはアルカリと、下記一般式で表される有機ケイ素化合物および/またはその部分加水分解物
一般式: RnSi(OR′)4-n
〔但し、RおよびR′は、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数1〜18のアリール基、ビニル基またはアクリル基から選ばれる炭化水素基であり、nは0、1、2または3の整数である。〕
(F): 前工程に続いて、球状シリカ微粒子集合体の分散液から、球状シリカ微粒子集合体を分離し、乾燥した後、大気圧下または減圧下、100〜300℃で加熱処理する工程
本発明に係る多孔質シリカ粒子は、内部に粒子間空隙構造を有する多孔質シリカ粒子であって、該多孔質シリカ粒子の平均粒子径(PD)が0.5〜50μm、比表面積が30〜250m2/gであり、更に該多孔質シリカ粒子が下記1)〜3)の要件を満たすものであることを特徴とする多孔質シリカ粒子。
1)細孔容積が0.10〜0.25cc/gの範囲
2)細孔径分布(X軸:細孔径、Y軸:細孔容積を細孔径で微分した値)におけるピーク値の細孔径(D1)が2〜50nmの範囲
3)(D1)×0.75〜(D1)×1.25nmの範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積が、全細孔容積の80%以上
本発明に係る多孔質シリカ粒子の粒子間空隙構造は、特に細孔径分布(X軸:細孔径、Y軸:細孔容積を細孔径で微分した値)におけるピーク値の細孔径(D1)が2〜50nmの範囲であり、さらに(D1)×0.75〜(D1)×1.25nmの範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積が、全細孔容積の80%以上をとるものである。これにより、触媒等が充分に分散して多孔質シリカ粒子に担持する傾向が促進される。また、触媒が担持した触媒担体に反応選択性を付与することができる。これについては、細孔を形成する粒子の形状が真球状で、かつ、粒子径が均一であり、形成される細孔も、細孔径が均一で、分散した状態で存在することが原因するものと推察される。
なお、当該細孔容積は、窒素を用いた定容量式ガス吸着法により、また、細孔分布、細孔径(ピーク値)は BJH法によって求めることができる。
前記細孔径(D1)が2nm未満の場合、必要な細孔容積を確保することが容易ではない。細孔径(D1)が25nmを超える場合は、粒子強度の低下が実用上問題となる場合がある。細孔径(D1)の範囲については、望ましくは3〜15nmの範囲が推奨される。
(D1)×0.75〜(D1)×1.25nmの範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積が、全細孔容積の80%未満の場合は、細孔径分布が不均一であり、応力が比較的大きな細孔に集中し、実用上強度が弱くなるなどの問題が生じ易くなる。前記全細孔容積に対する合計細孔容積の更に好適な割合として85%以上が推奨される。
本発明に係る多孔質シリカ粒子は、前記の通り球状シリカ微粒子の球状集合体から構成される。ここで球状シリカ微粒子の平均粒子径としては、10〜50nmの範囲が好適である。平均粒子径が10nm未満の場合は、粒子径が小さすぎて無機シリカ微粒子の間隙による細孔容積が低下し、担持用粒子としては、実用性が低下する。平均粒子径が50nmを越えると、細孔容積は大きくなるものの、微粒子同士の結合力が弱く、球状シリカ微粒子の集合体が得られ難い。球状シリカ微粒子の更に好ましい平均粒子径は10〜48nmの範囲である。
また、後記の「球状シリカ微粒子(a)」および「球状シリカ微粒子(b)」の場合も同様である。動的光散乱法による平均粒子径の測定方法については、実施例の[1A]「動的光散乱法による平均粒子径の測定方法」に記した。また、画像解析法による平均粒子径測定方法については、実施例の[5]「粒度分布の測定」にて記載した平均粒子径の測定方法により測定した。
本発明に係る多孔質シリカ粒子は、前記球状シリカ微粒子が集合してなる球状集合体が、所望により表面処理されていても構わない。表面処理については、前記細孔容積範囲、細孔径範囲を維持できる範囲で行われる必要がある。この様な表面処理により、粒子の強度を向上させることができる。
担体として使用する場合には、担持する物質との親和性を高め、担持力を高める効果がある。また、吸着材として使用する場合には、選択性を高め、目標とする吸着質の吸着効率を高める効果が期待される。
一般式: RnSi(OR′)4-n
〔但し、RおよびR′は、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数1〜18のアリール基、ビニル基またはアクリル基から選ばれる炭化水素基であり、nは0、1、2または3の整数である。〕
本発明の球状多孔質粒子の製造方法は、以下に述べる(A)、(B)および(C)の各工程を含むことを特徴とする。
平均粒子径10〜50nmの球状シリカ微粒子の分散液を調製し、遠心分離処理を行って、粗大粒子を分離し、粒子径変動係数(CV値)を2〜10%の範囲に調整することにより、粒子径分布が単分散相を示す球状シリカ微粒子分散液を調製する。
球状シリカ微粒子分散液を含む噴霧液を気流中に噴霧して球状シリカ微粒子集合体を調製する。該球状シリカ微粒子分散液の溶媒については、水または有機溶媒が使用される。有機溶媒としては、エタノール、プロパノール、ブタノールなどの1価アルコール、エチレングリコール等の多価アルコール等を用いることができる。
このときの乾燥温度は、球状シリカ微粒子分散液の濃度、処理速度等によっても異なるが、スプレードライヤーを使用する場合、例えば、スプレードライヤーの入口温度としては100〜300℃、出口温度40〜100℃などの条件が好ましい。また、更に好適には、入口温度210〜250℃、出口温度50〜55℃の範囲が推奨される。 噴霧速度については、噴霧装置の形状またはスケールにも依存するが、例えば、0.1L/時間〜3L/時間の範囲で行われる。
(B)工程で得られた球状シリカ微粒子集合体を、球状シリカ微粒子同士またはゲル成分との結合力を高めるために、150〜600℃の温度範囲で加熱処理する。加熱処理温度が150℃未満では結合力の向上効果が認められず、600℃を越えると球状シリカ微粒子集合体が収縮するおそれがあり、最終的に得られる球状多孔質粒子の空隙が小さくなり、好ましくない。
(C)工程で得られた球状シリカ微粒子集合体を、室温〜40℃まで放冷または冷却し、水および/または有機溶媒に分散させてその分散液を調製する。有機溶媒としては、エタノール、プロパノール、ブタノールなどの1価アルコール、エチレングリコール等の多価アルコール等を用いることができる。分散液の濃度は、球状シリカ微粒子集合体を酸化物に換算した濃度で0.1〜40重量%、特に0.5〜20重量%の範囲にあることが好ましい。他方、濃度が40重量%を越えると(D)工程において集合体同士が凝集し易くなるので好ましくない。
(D)工程で得られた集合体分散液に、次のi)またはii)を添加して球状シリカ微粒子集合体の外表面の表面処理を行う。
i) 酸またはアルカリ
ii) 酸またはアルカリと次の一般式で表される有機ケイ素化合物および/またはその部分加水分解物
一般式: RnSi(OR′)4-n
〔但し、RおよびR′は、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数1〜18のアリール基、ビニル基またはアクリル基から選ばれる炭化水素基であり、nは0、1、2または3の整数である。〕
さらに(E)工程で得られた球状シリカ微粒子集合体の分散液から、球状シリカ微粒子集合体分離し、乾燥した後、大気圧下または減圧下、100〜300℃で加熱処理して、多孔質シリカ粒子を得る。
球状シリカ微粒子の平均粒子径については、試料酸化物ゾルを0.58%アンモニア水にて希釈して、酸化物濃度1質量%に調整し、下記粒径測定装置を用いて平均粒子径を測定した。
レーザーパーティクルアナライザー(大塚電子社製、レーザー粒径解析システム:LP−510モデルPAR−III、測定原理: 動的光散乱法、測定角度90°、受光素子 光電子倍増管2インチ、測定範囲3nm〜5μm、光源 He-Neレーザー 5mW 632.8nm、温度調整範囲5〜90℃、温度調整方式ペルチェ素子(冷却)、セラミックヒーター(加熱)、セル 10mm角 プラスチックセル、測定対象:コロイド粒子)
なお、合成例2−1、合成例2−2および合成例2−3で調製した球状シリカ微粒子の平均粒子径については、後記[5]に記載した平均粒子径の測定方法により測定した。
多孔質シリカ粒子の平均粒子径については、まず、多孔質シリカ粒子の分散液(水または40質量%グリセリン溶媒、固形分濃度0.1〜5質量%)を超音波発生機(iuch社製、US-2型)に5分間分散する。更に、水またはグリセリンを加えて適度に濃度を調節した分散液より、ガラスセル(長さ10mm、幅10mm、高さ45cmのサイズ)に当該分散液を取り、遠心沈降式粒度分布測定装置(堀場製作所製:CAPA−700)を用いて平均粒子径を測定した。
また、球状シリカ微粒子の球状集合体の平均粒子径についても同様に測定した。
多孔質シリカ粒子の比重については、まず、試料10gをルツボに採取し、110℃で2時間乾燥させる。次いで、デシケーターにて冷却後、25mlピクノメーターに3〜4g入れ、蒸留水を加えて懸濁し、60mmHgにて1時間真空脱気を行った後に、25℃恒温槽にて温度調整する。ピクノメーターの標線まで蒸留水を加えて容量を調整し、ピクノメーターの容量(25ml)と蒸留水の容量(ml)の差から試料の容量(ml)を算出する。加えた試料の重量(g)と算出された容量(ml)から比重を求めた。
多孔質シリカ粒子の空隙率については、前記[2]で求めた比重を用いて、以下の式から算出した。
100−[前記[2]で求めた多孔質シリカ粒子の比重]/[シリカの比重]×100=空隙率(%)
透過型電子顕微鏡(株式会社日立製作所製、H−800)により、試料酸化物ゾルを倍率25万倍で写真撮影して得られる写真投影図における、任意の50個の粒子について、それぞれその最大径(DL)と、これと直交する短径(DS)との比(DS/DL)を測定し、それらの平均値を真球度とした。
走査型電子顕微鏡(日本電子株式会社製、JSM−5300型)を用いて粒子を撮影(倍率250,000倍)し、この画像の250個の粒子について、画像解析装置(旭化成株式会社製、IP−1000)を用いて、平均粒子径を測定し、粒子径分布に関する変動係数(CV値)を算定した。具体的には、粒子250個について、それぞれの粒子径を測定し、その値から平均粒子径および粒子径の標準偏差を求め、下記式から算定した。
変動係数(CV値)=(粒子径標準偏差(σ)/平均粒子径(Dn))×100(%)
多孔質シリカ粒子の細孔容積については、試料10gをルツボに取り、300℃で1時間乾燥後、デシケーターに入れて室温まで冷却した。ガラスセルに0.15g採取し、Belsorp mini II(日本ベル株式会社製)を使用して真空脱気しながら試料に窒素ガスを吸着後、脱着させ、得られた吸着等温線から、相対圧0.990の点での細孔容積を求め、またBJH法により、細孔径(ピーク値)を算出した。
シリカゾル(日揮触媒化成(株)製:Cataloid SI30、平均粒子径12nm、濃度30重量%)1667gを遠心分離機(株式会社コクサン製、連続高速遠心機H−660)のローター(型式:QNS、容量:1L)に連続的に注入し、7000Gにて400g/分の速度で通液し、液を連続して回収することにより、粗大粒子の遠心分離処理を行った。粗大粒子はローター内に沈殿した。
回収して得られたシリカゾルの水希釈品(シリカ濃度15質量%)2000gを陽イオン交換し、pH=2.0に調整した後、珪酸液(シリカ濃度4.8質量%)を、[シリカゾル中のシリカ]/[珪酸液中のシリカ]=9/1の比率になるように加え、さらにスラリー濃度が5%となるよう純水を添加して希釈し、攪拌してスラリーを調製した。
この粉体を450℃で3時間焼成して多孔質シリカ粒子を得た。この多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、(D1)×0.75〜(D1)×1.25[nm]の範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積、原料として使用した球状シリカ微粒子の平均粒子径と粒子径変動係数(CV値)、および、多孔質シリカ粒子の製造条件を表1に示した。実施例2〜4、と比較例1〜3についても、同様に測定した。
シリカゾルとして、日揮触媒化成(株)製:Cataloid SI40(平均粒子径17nm、シリカ濃度40重量%)の水希釈品(シリカ濃度30質量%)を用いた以外は、実施例1と同様にして、多孔質シリカ粒子を得た。この多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、細孔容積が最大となる細孔径の±25%が占める細孔容積を測定し、結果を表1に示した。
シリカゾルとして、日揮触媒化成(株)製:Cataloid SI50(平均粒子径25nm、濃度50重量%)の水希釈品(シリカ濃度30質量%)を用いたを用いた以外は、実施例1と同様にして、多孔質シリカ粒子を得た。この多孔質シリカ粒子のこの多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、細孔容積が最大となる細孔径の±25%が占める細孔容積を測定し、結果を表1に示した。
シリカゾルとして、日揮触媒化成(株)製:Cataloid SI-45P(平均粒子径45nm、濃度40重量%)の水希釈品(シリカ濃度30質量%)を用いた以外は、実施例1と同様にして、多孔質シリカ粒子を得た。この多孔質粒子50gをエタノール200gに分散し、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業社製;KBM-503)7.5gと、1%アンモニア水15gを加え、攪拌しながら50℃で15Hr加熱した。その後、多孔質粒子を分取し、150℃で乾燥した。この表面処理された多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、細孔容積が最大となる細孔径の±25%が占める細孔容積を測定し、結果を表1に示した。
特開昭61−270201号の実施例1の方法に基づき、珪酸ソーダ液と硫酸から調製したシリカ濃度30%、平均粒径7nmのシリカコロイド液を、市販の二流体ノズルの一方に5kg/hrの流量で供給し、他方に気体圧力を2Kg/Hrの流量で供給して、コロイド液を乾燥気流が流れる乾燥空間中に噴霧した。コロイド液が噴霧される乾燥空間の温度は40℃、湿度は5.8%であった。真球状で、平均粒子径8μm、粒度分布0.5〜16μmの粒子が得られた。この多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、細孔容積が最大となる細孔径の±25%が占める細孔容積を測定し、結果を表1に示した。
特開昭61−270201号の実施例2の方法に基づき、平均粒子径12nmのシリカコロイド液を調製した。この液を、シリカ濃度が5%になるように純水で調整し、スプレードライヤーに供し、入口温度240℃、出口温度が50〜55℃になるよう調整した乾燥気流中に、二流体ノズルの一方に2L/hrの流量で、他方のノズルに気体圧力を2kg/hrの流量で供給して噴霧乾燥し、球状シリカ微粒子集合体からなる粉体を得た。
シリカゾルとして、日揮触媒化成(株)製:Cataloid SI80P(平均粒子径80nm、濃度40重量%)の水希釈品(シリカ濃度30質量%)を用い、遠心処理条件を2120Gに変更した以外は、実施例1と同様にして、多孔質シリカ粒子を得た。この多孔質シリカ粒子のこの多孔質シリカ粒子の平均粒子径、比表面積、細孔容積、細孔径分布におけるピーク値の細孔径、細孔容積が最大となる細孔径の±25%が占める細孔容積を測定し、結果を表1に示した。
Claims (8)
- 内部に粒子間空隙構造を有する多孔質シリカ粒子であって、該多孔質シリカ粒子の平均粒子径(PD)が0.5〜50μm、比表面積が30〜250m2/gであり、更に該多孔質シリカ粒子が下記1)〜3)の要件を満たすものであることを特徴とする多孔質シリカ粒子。
1)細孔容積が0.10〜0.25cc/gの範囲
2)細孔径分布(X軸:細孔径、Y軸:細孔容積を細孔径で微分した値)におけるピーク値の細孔径(D1)が2〜50nmの範囲
3)(D1)×0.75〜(D1)×1.25nmの範囲内の細孔径を有する細孔の合計細孔容積が、全細孔容積の80%以上 - 前記多孔質シリカ粒子が、平均粒子径(D)10〜50nm、真球度0.9〜1の範囲、粒子径変動係数(CV値)が2〜10%の範囲にある球状シリカ微粒子であって、粒子径分布が単分散相を示す球状シリカ微粒子が集合した球状集合体からなることを特徴とする請求項1記載の多孔質シリカ粒子。
- 前記多孔質シリカ粒子の空隙率が5〜50%の範囲にあることを特徴とする請求項1または請求項2記載の多孔質シリカ粒子。
- 次の(A)、(B)、(C)、(D)、(E)及び(F)の各工程からなる請求項1〜請求項3の何れかに記載の多孔質シリカ粒子の製造方法。
(A): 平均粒子径10〜50nmの球状シリカ微粒子の分散液を遠心分離処理し、粗大粒子を分離し、粒子径変動係数(CV値)を2〜10%の範囲に調整することにより粒子径分布が単分散な球状シリカ微粒子分散液とする工程
(B): 前工程の処理を行った球状シリカ微粒子分散液を含む噴霧液を気流中に噴霧して球状シリカ微粒子集合体を調製する工程
(C): 前工程で得られた球状シリカ微粒子集合体を温度150〜600℃の範囲で加熱処理する工程
(D): 前工程に続いて、該球状シリカ微粒子集合体を水および/または有機溶媒に分散させ、球状シリカ微粒子集合体の分散液を調製する工程
(E): 前工程で調製した球状シリカ微粒子集合体の分散液に、次のi)またはii)を添加することにより該球状シリカ微粒子集合体を表面処理する工程
i) 酸またはアルカリ
ii) 酸またはアルカリと、下記一般式で表される有機ケイ素化合物および/またはその部分加水分解物
一般式: R n Si(OR′) 4−n
〔但し、RおよびR′は、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数1〜18のアリール基、ビニル基またはアクリル基から選ばれる炭化水素基であり、nは0、1、2または3の整数である。〕
(F): 前工程に続いて、球状シリカ微粒子集合体の分散液から、球状シリカ微粒子集合体を分離し、乾燥した後、大気圧下または減圧下、100〜300℃で加熱処理する工程 - 下記の(A)、(B)及び(C)の各工程を含む多孔質シリカ粒子の製造方法。
(A): 平均粒子径10〜50nmの球状シリカ微粒子の分散液を遠心分離処理し、粗大粒子を分離し、粒子径変動係数(CV値)を2〜10%の範囲に調整することにより粒子径分布が単分散な球状シリカ微粒子分散液とする工程
(B): 前工程の処理を行った球状シリカ微粒子分散液を含む噴霧液を気流中に噴霧して球状シリカ微粒子集合体を調製する工程
(C): 前工程で得られた球状シリカ微粒子集合体を温度150〜600℃の範囲で加熱処理する工程 - 前記(A)、(B)及び(C)工程に続いて、次の(D)、(E)及び(F)工程を行うことを特徴とする請求項5記載の多孔質シリカ粒子の製造方法。
(D): 前工程に続いて、該球状シリカ微粒子集合体を水および/または有機溶媒に分散させ、球状シリカ微粒子集合体の分散液を調製する工程
(E): 前工程で調製した球状シリカ微粒子集合体の分散液に、次のi)またはii)を添加することにより該球状シリカ微粒子集合体を表面処理する工程
i) 酸またはアルカリ
ii) 酸またはアルカリと、下記一般式で表される有機ケイ素化合物および/またはその部分加水分解物
一般式: RnSi(OR′)4−n
〔但し、RおよびR′は、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数1〜18のアリール基、ビニル基またはアクリル基から選ばれる炭化水素基であり、nは0、1、2または3の整数である。〕
(F): 前工程に続いて、球状シリカ微粒子集合体の分散液から、球状シリカ微粒子集合体を分離し、乾燥した後、大気圧下または減圧下、100〜300℃で加熱処理する工程 - 前記(B)工程で使用する噴霧液が、球状シリカ微粒子の他に珪酸液を含むものであることを特徴とする請求項5または請求項6の何れかに記載の多孔質シリカ粒子の製造方法。
- 請求項1〜3の何れかに記載の多孔質シリカ粒子からなる担体用粒子。
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