Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP5260097B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP5260097B2 - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5260097B2
JP5260097B2 JP2008068988A JP2008068988A JP5260097B2 JP 5260097 B2 JP5260097 B2 JP 5260097B2 JP 2008068988 A JP2008068988 A JP 2008068988A JP 2008068988 A JP2008068988 A JP 2008068988A JP 5260097 B2 JP5260097 B2 JP 5260097B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
unit
seed
excitation
core
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008068988A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009220161A (ja
Inventor
年賢 難波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Amada Weld Tech Co Ltd
Original Assignee
Amada Miyachi Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Amada Miyachi Co Ltd filed Critical Amada Miyachi Co Ltd
Priority to JP2008068988A priority Critical patent/JP5260097B2/ja
Publication of JP2009220161A publication Critical patent/JP2009220161A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5260097B2 publication Critical patent/JP5260097B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

本発明は、被加工物にレーザ光を照射して所望のレーザ加工を施すレーザ加工装置に関する。
最近、ファイバレーザで生成したレーザ光を被加工物に照射して所望のレーザ加工を行うファイバレーザ加工装置が実用化されてきている。その中で、ファイバMOPA(Master Oscillator _ Power Amplifier)方式のファイバレーザ加工装置も注目されている。
ファイバMOPA方式は、特許文献1に開示されるように、所定の希土類元素を含むコアを有する光ファイバをレーザ増幅用に使用し、シード(種)レーザ発振部で生成した低出力のシードレーザ光を一端から該光ファイバのコアに入れて他端まで伝播させながら、コアを励起することによって、コアの中でシードレーザ光を高出力の加工用レーザ光に増幅または変換するものであり、光/光変換効率が高くてビームモードが安定している等の特長を有している。
ファイバMOPA方式において、シードレーザ発振部の活性媒質を光学的に励起するための励起光源は、半導体レーザつまりレーザダイオード(LD)が主流になっている。また、増幅用光ファイバのコアを光学的に励起するための励起光源にもレーザダイオードがよく使われている。
特開2007−253189
上記のようなファイバMOPA方式を採る従来のファイバレーザ加工装置は、加工用レーザ光の出力を所望の値または波形に制御するために、加工用レーザ光の出力を測定して、レーザ出力測定値をシードレーザ発振部にフィードバックし、活性媒質励起用のレーザダイオードに供給するLD駆動電流を可変制御するようにしている。シードレーザ発振部では、例えばQスイッチ等を用いて繰り返しパルスを発振出力している。そして、その繰り返しパルスの繰り返し周波数を変化させることがある。このように繰り返し周波数が変化する場合、シードレーザ発振部内のLD駆動電流をフィードバック制御によって可変制御する方式ではレーザ出力制御の応答速度や自由度が低くなるおそれがある。
加えて、上記のように、従来のこの種のファイバレーザ加工装置では、シードレーザ発振部の活性媒質や増幅用光ファイバのコアを光学的に励起するために複数のレーザダイオードを使用し、各レーザダイオードの出力の管理ないし制御をLD電流で行っている。これらのレーザダイオードは経時変化または経年劣化により個々の出力を低下させる。そこで、人(作業員、保守員等)がレーザパワー測定器を用いて随時または定期的に各レーザダイオードのLD出力を測定し、所望のレーザ出力を保つようにLD電流の調整を行っている。また、加工用レーザ光の出力が異常に低下して加工不良が出た場合も、人的作業によって各部のLD出力を測定して原因調査を行っている。このような人的作業は、メンテナンスの効率性や精度が良くなく、生産性の低下を来たす。
さらに、励起用のレーザダイオードは消耗品であり、定格の出力が得られなくなる前に交換する必要がある。この点に関して、従来のファイバレーザ加工装置は、励起用レーザダイオードの寿命または交換時機を告知するモニタリング機能がない。このため、人的作業によって各レーザダイオードの寿命または交換時機を累積使用時間等から推定している。しかし、レーザダイオードの寿命は個体差や使用環境によってばらつきがあり、一律に累積使用時間から各レーザダイオードの寿命を推し量るのは的確性に欠けていた。
本発明は、かかる従来技術の問題点に鑑みてなされたものであって、加工用レーザ出力の安定性および制御性を改善するファイバMOPA方式のレーザ加工装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、レーザ発振部、レーザ増幅部、励起部等の各部の機能または状態(性能、安全性、劣化状況等)について人的作業を不要とする診断機能を備え、メンテナンス性および生産性を向上させるファイバMOPA方式のレーザ加工装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の第1の観点におけるレーザ加工装置は、シードレーザ光を発振出力するシードレーザ発振部と、所定の希土類元素を含むコアを有し、前記シードレーザ発振部からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、前記増幅用光ファイバの一端から該増幅用光ファイバの中に入射して前記シードレーザ光を増幅させるためのコア励起用レーザ光を出力するファイバコア励起部と、前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、前記シードレーザ発振部より出射される前記シードレーザ光の出力を測定するシードレーザ出力測定部と、前記加工用レーザ光の出力を測定する加工用レーザ出力測定部と、前記加工用レーザ出力測定部より得られる加工用レーザ出力測定値が予め設定された指令値に一致するように前記ファイバコア励起部を制御する加工用レーザ出力制御部とを有する。
上記の装置構成においては、シードレーザ発振部で生成されるシードレーザ光の出力をシードレーザ出力測定部でモニタリングし、加工用レーザ出力の安定性および制御性を向上させることができる。たとえば、本発明の好適な一態様として、シードレーザ出力制御部によりシードレーザ発振部を制御して、シードレーザ出力測定値を予め設定された基準値に一致させることで、加工用レーザ出力の安定性を高めることができる。特に好適な一態様においては、シードレーザ発振部が、固体の活性媒質を含むレーザ共振器と、活性媒質を励起する活性媒質励起部とを有する。この場合、シードレーザ出力制御部は、シードレーザ出力測定値を基準値に一致させるように、活性媒質励起部を制御してよい。
また、好適な一態様においては、シードレーザ発振部が、レーザ共振器内で活性媒質と同一の光路上に配置されたQスイッチと、Qスイッチパルスのレーザ光を所定の繰り返し周波数で生成するようにQスイッチを駆動するQスイッチ駆動部とを有する。
また、好ましくは、活性媒質励起部が、活性媒質を励起するための活性媒質励起用レーザ光を発振出力する第1レーザダイオードと、この第1レーザダイオードに第1LD駆動電流を供給する第1LD電源とを有する。この場合、シードレーザ出力制御部は、シードレーザ出力測定値を基準値に一致させるように、第1LD電源を通じて第1LD駆動電流を制御する。第1レーザダイオードは、第1伝送用光ファイバを介して活性媒質に光学的に結合されてもよい。こうすれば、第1レーザダイオードから出力された活性媒質励起用レーザ光をレーザ発振器へ確実に入射することができる。また、伝送用光ファイバはシードレーザ発振部内において自在に曲げた状態で配設できるので、シードレーザ発振部を構成する要素、特に第1レーザダイオードとレーザ共振器の配置に自由度をもたせることができる。
また、上記第1の観点の装置構成においては、加工用レーザ光の出力を測定する加工用レーザ出力測定部と、この加工用レーザ出力測定部より得られる加工用レーザ出力測定値が予め設定された指令値に一致するようにファイバコア励起部を制御する加工用レーザ出力制御部とが更に設けられる。この場合、好ましくは、ファイバコア励起部が、コア励起用レーザ光を発振出力する第2レーザダイオードと、この第2レーザダイオードに第2LD駆動電流を供給する第2LD電源とを有する。そして、加工用レーザ出力制御部が、加工用レーザ出力測定値を指令値に一致させるように、第2LD電源を通じて第2LD駆動電流を制御する。かかる構成によれば、上記のように、シードレーザ発振部と、シードレーザ出力測定部と、シードレーザ出力制御部とを含むシードレーザ・パワーフィードバック機構によりシードレーザ光の出力を安定かつ正確に基準値に一致させているので、ファイバコア励起部を通じて加工用レーザ光の出力を指令値に一致または追従させるパワーフィードバック制御をより安定に高速化することができる。
なお、第2レーザダイオードは、第2伝送用光ファイバを介して活性媒質に光学的に結合されてもよい。こうすれば、第2レーザダイオードから出力されたコア励起用レーザ光を増幅用光ファイバへ確実に入射することができる。また、第2伝送用光ファイバは自在に曲げた状態で配設できるので、ファイバコア励起部と増幅用光ファイバとの配置に自由度をもたせることができる。
本発明の第2の観点におけるレーザ加工装置は、シードレーザ光を発振出力するための固体の活性媒質を含むレーザ共振器と、前記活性媒質を励起するための活性媒質励起用レーザ光を発振出力するレーザダイオードと、前記レーザダイオードにLD駆動電流を供給するLD電源と、所定の希土類元素を含むコアを有し、前記レーザ共振器からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、前記増幅用光ファイバの一端から該増幅用光ファイバの中に入射して前記シードレーザ光を増幅させるためのコア励起用レーザ光を出力するファイバコア励起部と、前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、前記レーザダイオードより出射される前記活性媒質励起用レーザ光の出力を測定する活性媒質励起用レーザ出力測定部と、前記活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる活性媒質励起用レーザ出力測定値が予め設定された上限値を超えないように、前記LD電源を制御する活性媒質励起用レーザ出力制御部とを有する。
上記の装置構成においては、レーザ共振器の活性媒質を励起するためのレーザダイオードの出力をシードレーザ出力測定部でモニタリングし、レーザ共振器ないしこれを励起する機構(レーザダイオード、LD電源等)の保護または安定性能の維持を図ることができる。さらに活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値を励起用レーザ出力制御部にフィードバックし、励起用レーザ出力測定値が予め設定された上限値を超えないように、励起用レーザ出力制御部がLD電源を制御する。これにより、過大な励起エネルギーでレーザ共振器の活性媒質が破損するのを未然に防ぐことができる。
また、好適な一態様として、励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値に基づいて、レーザダイオードの寿命または交換時機を告知するLD寿命告知部を備えてもよい。
また、好適な一態様においては、レーザ共振器より出射されるシードレーザ光の出力を測定するシードレーザ出力測定部と、この励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値とシードレーザ出力測定部より得られるシードレーザ出力測定値とに基づいて、LD電源、レーザダイオードおよびレーザ共振器の少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する診断部とが更に設けられる。該レーザダイオードは、伝送用の光ファイバを介してレーザ共振器の活性媒質に光学的に結合されてもよい。この場合、診断部は、伝送用光ファイバの正常/異常を診断することもできる。
本発明の第3の観点におけるレーザ加工装置は、シードレーザ光を発振出力するシードレーザ発振部と、所定の希土類元素を含むコアを有し、前記シードレーザ発振部からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、前記増幅用光ファイバのコアの中で前記シードレーザ光を増幅するために、前記コアを励起するためのコア励起用レーザ光を発振出力するレーザダイオードと、前記レーザダイオードにLD駆動電流を供給するLD電源と、前記レーザダイオードより出射される前記コア励起用レーザ光の出力を測定するコア励起用レーザ出力測定部とを有する。
上記の装置構成においては、増幅用光ファイバのコアを励起するためのレーザダイオードの出力を励起用レーザ出力測定部でモニタリングし、増幅用光ファイバ、レーザ共振器ないしこれを励起する機構(レーザダイオード、LD電源等)の保護または安定性能の維持を図ることができる。たとえば、好適な一態様として、励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値を励起用レーザ出力制御部にフィードバックし、励起用レーザ出力測定値が予め設定された上限値を超えないように、励起用レーザ出力制御部がLD電源を制御するようにしてよく、これによって過大な励起エネルギーでレーザ共振器の活性媒質が破損するのを未然に防ぐことができる。
また、好適な一態様として、励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値に基づいて、レーザダイオードの寿命または交換時機を告知するLD寿命告知部を備えてもよい。
また、好適な一態様においては、加工用レーザ光の出力を測定する加工用レーザ出力測定部と、この励起用レーザ出力測定部より得られる励起用レーザ出力測定値と加工用レーザ出力測定部より得られる加工用レーザ出力測定値とに基づいて、LD電源、レーザダイオードおよび増幅用光ファイバの少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する診断部とが更に備えられる。該レーザダイオードは、伝送用の光ファイバを介して増幅用光ファイバに光学的に結合されてよい。この場合、診断部は、伝送用光ファイバの正常/異常を診断することもできる。
本発明のレーザ加工装置によれば、上記のような構成および作用により、ファイバMOPA方式における加工用レーザ出力の安定性および制御性を改善することができる。さらに、レーザ発振部、レーザ増幅部、励起部等の各部の機能または状態(性能、安全性、劣化状況等)を人的作業を必要とせずに装置側で自動的に診断することが可能であり、メンテナンス性および生産性を向上させることができる。
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。
図1に、本発明の一実施形態におけるレーザ加工装置の構成を示す。このレーザ加工装置は、ファイバMOPA方式のファイバレーザ加工装置として構成されており、増幅用の光ファイバ(以下「アンプファイバ」と称する。)10、シードレーザ発振部12、ファイバコア励起部14、レーザ出射部16、加工テーブル18、制御部20、レーザ出力測定部22,24、LD出力測定部26,28等を備えている。
アンプファイバ10は、図示省略するが、希土類元素たとえばイッテルビウム(Yb)のイオンをドープしたたとえば石英からなるコアと、このコアを同軸に取り囲むたとえば石英からなるクラッドとを有しており、コアを後述するシードレーザ光SBの伝播光路とし、クラッドを後述するコア励起用レーザ光FBの伝播光路としている。このアンプファイバ10の長さは任意に、たとえば数mに選ばれてよい。
シードレーザ発振部12は、QスイッチパルスのYAGレーザ光(波長1064nm)を発振出力するレーザ共振器30を有している。このレーザ共振器30は、光学的に対向して配置された一対の共振器ミラー32,34の間に直線配列型でYAGロッド(活性媒質)36とQスイッチ38とを配置している。Qスイッチ38は、たとえば音響光学スイッチからなり、制御部20の制御の下でQスイッチドライバ40により所定の周波数でスイッチングされる。
シードレーザ発振部12は、YAGロッド36を励起するために端面励起方式の電気光学励起部42を有している。この電気光学励起部42は、ファイバカップリングLD44およびLD電源46等を備えている。ファイバカップングLD44は、制御部20の制御の下でLD電源46よりLD駆動電流I1を注入され、たとえば波長808nmのYAGロッド励起用レーザ光EBを連続発振で出力する。ファイバカップリングLD44で生成されたYAGロッド励起用レーザ光EBは、収束レンズ(図示せず)を介して伝送用の光ファイバ(以下、「伝送ファイバ」と称する。)48の一端面(入射端面)に入射し、伝送ファイバ48の中を伝搬してその他端面(出射端面)より放射状に出て、コリメートレンズおよび収束レンズ(図示せず)を通ってレーザ共振器30の中に入り、全反射ミラー32を裏側から透過してYAGロッド36の一端面に入射し、YAGロッド36を連続的または持続的にポンピングする。この連続ポンピングによりレーザ共振器30内にエネルギーを蓄積して(反転分布を生成して)Qスイッチ38をスイッチングさせると、ジャイアントパルス発振が起こって、ピークパワーのきわめて高いQスイッチパルスのYAGレーザ光がレーザ共振器30の出力ミラー34から出力される。なお、伝送ファイバ48は、たとえばSI(ステップインデックス)形ファイバであってよい。
この実施形態では、電気光学励起部42に付随して、ファイバカップリングLD44で生成されたYAGロッド励起用レーザ光EBのパワー(LD出力)を測定するために、ミラー50およびLD出力測定部26が設けられている。ミラー50は、伝送ファイバ48の入射端面の手前でYAGロッド励起用レーザ光EBのごく一部(たとえば1%)を反射する。LD出力測定部26は、光電変換素子および測定回路を有し、ミラー50からの反射光MEBを受光して電気信号に変換し、信号処理によってレーザ光EBのレーザ出力(LD出力)測定値を求める。LD出力測定部26で得られたLD出力測定値は、後述するモニタリングのために制御部20へ送られる。
上記のようにしてシードレーザ発振部12より発振出力されるQスイッチパルスのYAGレーザ光は、シードレーザ光SBとしてアンプファイバ10に導入される。図示省略するが、シードレーザ発振部12のレーザ出射口とアンプファイバ10の入射端面10aとの間に入射光学系のビームエクスパンダおよび収束レンズが配置されている。シードレーザ発振部12からのQスイッチパルスのシードレーザ光SBは、該ビームエクスパンダでビーム径を拡げてから該収束レンズを通ってアンプファイバ10の入射端面10a(より正確にはコアの入射端面)に集光入射するようになっている。
このファイバレーザ加工装置においては、後述するようにアンプファイバ10内でシードレーザ光SBを増幅して被加工物W向けの加工用レーザ光MBを生成するので、シードレーザ光SBのレーザ出力(実効値)を非常に低い値(たとえば1W程度)に設定することが可能であり、それに関連してシードレーザ発振部12を小出力の固体レーザとして構成し、特に電気光学励起部42に小出力のファイバカップリングLDを使用することができる。このように、シードレーザ発振部12は小出力のYAGレーザであり、しかも端面励起方式を採るので、シングルモードのシードレーザ光SBを容易に得ることができる。
この実施形態では、シードレーザ発振部12より発振出力されるシードレーザ光SBのパワーまたはレーザ出力を測定するために、ミラー52およびレーザ出力測定部24が設けられている。ミラー52は、シードレーザ発振部12より出射されたシードレーザ光SBの大部分を透過させ、そのごく一部(たとえば1%)を反射する。LD出力測定部24は、光電変換素子および測定回路を有しており、ミラー52からの反射光MSBを受光して電気信号に変換し、信号処理によってシードレーザ光SBのレーザ出力測定値を求める。LD出力測定部26で得られたシードレーザ出力測定値は、後述するレーザ出力制御およびモニタリングのために制御部20へ送られる。
ファイバコア励起部14は、ファイバカップリングLD54、LD電源56、伝送ファイバ58等を有している。ファイバカップリングLD54は、制御部20の制御の下でLD電源56よりLD駆動電流I2を注入され、たとえば波長980nmのコア励起用のレーザ光FBを連続発振で出力する。なお、ファイバカップリングLD54は、アンプファイバ10のコアをたとえば30〜80W程度の比較的高いパワーで励起できるように、LD素子を一次元または二次元に多数配列してなる比較的大規模なアレイ構造またはスタック構造を採るのが好ましい。
ファイバカップリングLD54より出射されたコア励起用レーザ光FBは、収束レンズ(図示せず)を通って伝送ファイバ58の一端面(入射端面)に集光入射する。伝送ファイバ58は、たとえばSI形ファイバからなり、LD54から取り込んだコア励起用レーザ光FBをアンプファイバ10の入射面10a付近まで伝送する。
伝送ファイバ58の他端面(出射端面)は、コリメートレンズ,収束レンズ(図示せず)および折り返しミラー60を介してアンプファイバ10の入射面10aに光学的に結合されている。折り返しミラー60は、伝送ファイバ58の出射側の光軸とアンプファイバ10の入射側の光軸とが交差する位置に所定の角度または向きで配置されており、コア励起光FBの波長に対して反射性の膜と加工用レーザ光MBの波長に対して非反射性の膜とをコーティングしている。伝送ファイバ58の出射端面から出射されたコア励起用レーザ光FBは、上記コリメートレンズで平行光にコリメートされ,上記収束レンズで集光させられ、折り返しミラー60で光路を直角に曲げてアンプファイバ10の入射端面10aに入射する。
この実施形態では、ファイバコア励起部14に付随して、ファイバカップリングLD54で生成されたコア励起用レーザ光FBのパワー(LD出力)を測定するために、ミラー62およびLD出力測定部28が設けられている。ミラー62は、伝送ファイバ58の入射端面の手前でコア励起用レーザ光FBのごく一部(たとえば1%)を反射する。LD出力測定部28は、光電変換素子および測定回路を有し、ミラー62からの反射光MFBを受光して電気信号に変換し、信号処理によってコア励起用レーザ光FBのレーザ出力測定値を求める。LD出力測定部28で得られたレーザ出力測定値は、後述するモニタリングのために制御部20へ送られる。
アンプファイバ10においては、上記のように、その入射端面10aに、シードレーザ発振部12からのQスイッチパルスのシードレーザ光SBとファイバコア励起部14からの連続発振のコア励起用レーザ光FBとが入射する。なお、後述するようにアンプファイバ10の反対側の端面10bにコア励起用レーザ光FBを入射させることも可能である。
アンプファイバ10において、シードレーザ光SBは、コアとクラッドとの境界面での全反射によって閉じ込められながらコアの中を軸方向にファイバ他端面(出射端面10b)側に向って伝搬する。一方、コア励起用レーザ光FBは、クラッド外周界面の全反射によって閉じ込められながらアンプファイバ10の中を軸方向に伝搬し、その伝搬中にコアを何度も横切ることでコア中のYbイオンを光励起する。こうして、シードレーザ光SBは、アンプファイバ10を伝搬する間に活性状態のコアの中で指令値(たとえば30W)のレーザ出力を有するまでに増幅され、高出力の加工用レーザ光MBとしてアンプファイバ10の出射端面10bより外へ出る。この加工用レーザ光MBは、シードレーザ光SBと同じ波長(1064nm)のYAGレーザ光である。
アンプファイバ10は、口径が10μm程度、長さが数メートル程度の細長いコアにシードレーザ光SBを閉じ込めて増幅するので、ビーム径が細くてビーム広がり角の小さな加工用レーザ光MBを取り出すことができる。しかも、アンプファイバ10の入射端面10aに入射したコア励起用レーザ光FBがアンプファイバ10の中で長い光路を伝搬する間に何度もコアを横切って励起エネルギーを使い果たすので、非常に高い効率で低出力(たとえば1W)のシードレーザ光SBを高出力(30W)の加工用レーザ光MBまで増幅することができる。
加えて、アンプファイバ10のコアは熱レンズ効果を起こさないため、ビームモードが非常に安定しており、特別な冷却は要らない。したがって、シードレーザ光SBのシングルモードをアンプファイバ10内でも安定に保ったまま増幅して、シングルモードの加工用レーザ光MBを得ることができる。
なお、コア励起用レーザ光FBは、アンプファイバ10内でそのレーザエネルギーを殆ど使い果たし、その光強度を相当減衰させた状態でアンプファイバ10の出射端面10bから外へ出る。アンプファイバ10を通り抜けたこの用済みの光FBを側方へ外すための折り返しミラー(図示せず)を配置してもよい。
上記のようにアンプファイバ10の出射端面10bより光軸上に出たQスイッチパルスの加工用レーザ光MBは、折り返しミラー64をまっすぐ透過し、たとえばベントミラー66で光路を変えて出射ユニット16に入る。
出射ユニット16には、ガルバノメータ・スキャナやfθレンズなどが収容されている。ガルバノメータ・スキャナは、直交する2方向に首振り運動の可能な一対の可動ミラーを有しており、制御部20の制御の下でシードレーザ発振部12のQスイッチング動作に同期して両可動ミラーの向きを所定角度に制御することで、アンプファイバ10からのQスイッチパルスの加工用レーザ光MBを加工テーブル18上の被加工物W表面の所望の位置に集光照射する。被加工物Wの表面に施されるマーキング加工は、典型的には文字や図形等を描画するものであるが、トリミング等の表面除去加工等も可能である。
この実施形態では、Qスイッチパルスの加工用レーザ光MBのレーザ出力を測定するために、上記折り返しミラー64およびレーザ出力測定部22が設けられている。ミラー64は、アンプファイバ10より出射された加工用レーザ光MBの大部分を透過させ、そのごく一部(たとえば1%)を反射する。レーザ出力測定部22は、光電変換素子および測定回路を有しており、ミラー64からの反射光MMBを受光して電気信号に変換し、信号処理によって加工用レーザ光MBのレーザ出力測定値を求める。LD出力測定部22で得られた加工用レーザ出力測定値は、後述するレーザ出力制御およびモニタリングのために制御部20へ送られる。
制御部20は、マイクロコンピュータで構成されてよく、入力・設定・演算等のデータ処理を行って装置全体ないし各部の制御を行い、キーボード等の入力部(図示せず)および液晶ディスプレイ等の表示部68からなるマン・マシン・インタフェースを介して人(作業員、保守員等)とデータまたは情報のやりとりを行う。
上記のように、このファイバレーザ加工装置は、加工用レーザ光MBのレーザ出力を測定するためのレーザ出力測定部22だけでなく、シードレーザ光SBのレーザ出力を測定するためのレーザ出力測定部24、YAGロッド励起用レーザ光EBのレーザ出力(LD出力)を測定するためのLD出力測定部26およびコア励起用レーザ光FBのレーザ出力(LD出力)を測定するためのLD出力測定部28も備えている。制御部20は、これら4つのレーザ出力(またはLD出力)測定部22,24,26,28で求められたレーザ出力(またはLD出力)測定値を所定のレーザ出力制御用またはモニタリング用のプログラムにかけて所定の演算処理を行い、演算結果にしたがって各部の動作の制御や所要のモニタ情報の表示出力を行う。
以下に、このファイバレーザ加工装置においてレーザ出力(またはLD出力)測定部22,24,26,28を用いる種種の機能について説明する。
第1に、このファイバレーザ加工装置は、レーザ出力測定部24を用いてシードレーザ光SBのレーザ出力を基準値に保持する機能を有している。より詳細には、シードレーザ発振部12より出射されたシードレーザ光SBのレーザ出力がレーザ出力測定部24で測定され、そのレーザ出力測定値が制御部20にフィードバックされる。制御部20は、レーザ共振器30で発振出力されるQスイッチパルスのシードレーザ光SBについてその繰り返し周波数に応じたレーザ出力基準値を設定しており、レーザ出力測定部24からのレーザ出力測定値が該レーザ出力基準値に一致するように、LD電源46を通じて、ファイバカップリングLD44に供給されるLD駆動電流I1の電流値を制御する。
すなわち、LD駆動電流I1の電流値を可変することで、ファイバカップリングLD44で生成されるYAGロッド励起用レーザ光EBの出力を可変し、ひいてはレーザ共振器30内の反転分布生成速度を可変し、シードレーザ光SBの出力(実効値または平均値)を可変することができる。ここで、シードレーザ光SBの出力は主としてQスイッチパルスの繰り返し周波数によって左右されるので、反転分布生成速度の可変調整は微調整に留まるものである。しかし、シードレーザ光SBの出力を安定かつ正確に基準値に一致させるうえで、上記のようなレーザ出力測定部24を用いるパワーフィードバック制御機構は不可欠なものである。例えばレーザ共振器の周囲温度の変化によってシードレーザ光SBの出力が変動することがあり、そのような環境の変化や外乱等に基づく動的なレーザ出力変動を抑制するうえでレーザ出力測定部24を用いたパワーフィードバック制御機構はきわめて有効である。
第2に、このファイバレーザ加工装置は、レーザ出力測定部22を用いて加工用レーザ光MBのレーザ出力を指令値に一致させる機能を有している。より詳細には、アンプファイバ10より出射された加工用レーザ光MBのレーザ出力がレーザ出力測定部22で測定され、そのレーザ出力測定値が制御部20にフィードバックされる。制御部20は、入力部より入力するレーザ加工条件の1つとして加工用レーザ光MBに対するレーザ出力指令値を設定しており、レーザ出力測定部22からのレーザ出力測定値が該レーザ出力指令値に一致するように、ファイバカップリングLD54に供給されるLD駆動電流I2の電流値をLD電源56を通じて制御する。
この場合、LD駆動電流I2の電流値を可変することで、ファイバカップリングLD54で生成されるコア励起用レーザ光FBの出力を可変し、ひいてはアンプファイバ10の中でシードレーザ光SBの出力(特にピークパワー)を増幅する度合い(増幅率)を可変し、加工用レーザ光MBの出力を可変することができる。このように、ピークパワーを可変して加工用レーザ光MBの出力を可変する方式は、レーザ出力制御の応答性に優れ、レーザ加工能力を向上させることができる。しかも、上記のようにシードレーザ・パワーフィードバック制御機構によりシードレーザ光SBの出力を安定かつ正確に基準値に一致させているので、ファイバコア励起部14を通じて加工用レーザ光MBの出力を指令値に一致または追従させるパワーフィードバック制御をより安定に高速化することができる。
第3に、このファイバレーザ加工装置は、LD出力測定部26を用いてシードレーザ発振部12における光学部品、特にレーザ共振器30内のYAGロッド(活性媒質)36を保護する機能を有している。より詳細には、ファイバカップリングLD54で生成されたYAGロッド励起用レーザ光EBの出力がレーザ出力測定部26で測定され、そのレーザ出力測定値が制御部20に与えられる。制御部20は、YAGロッド36に損傷を与えないLD出力の最大許容値を設定しており、YAGロッド励起用レーザ光EBの出力が最大許容値を超えないように監視する。たとえば、上記のようなシードレーザ・パワーフィードバック制御の中でYAGロッド励起用レーザ光EBの出力が上昇して最大許容値を超えそうになったときは、それ以上上昇しないようにLD電源46を制御する。
第4に、このファイバレーザ加工装置は、LD出力測定部26を用いてファイバカップリングLD44の寿命または交換時機を告知する機能を有している。より詳細には、制御部20は、LD電源46を通じてLD駆動電流I1を可変制御する際に、LD出力測定部26で得られるLD出力測定値をLD駆動電流指令値と対応させ、直線補間等を用いて図2に示すようなLD駆動電流−LD出力特性を求める。このLD駆動電流−LD出力特性の傾きKは、ファイバカップリングLD44の経時劣化が進むにつれてK1→K2→→K3・・と漸次的に小さくなる。そこで、経験値等に基づいてファイバカップリングLD44の寿命が尽きる直前の傾きKSを監視値として設定しておき、LD駆動電流−LD出力特性の傾きKがこの監視値KSまで低くなると、制御部20はこの時点でファイバカップリングLD44の寿命が間近いこと、つまり部品交換すべき時機に来ていることを表示出力(告知)する。このようなLD寿命告知機能によれば、ファイバカップリングLD44に個体差や使用環境の違いがあっても、的確な時機にLD部品交換を行うことができる。
第5に、このファイバレーザ加工装置は、レーザ出力測定部24およびLD出力測定部26を用いてシードレーザ発振部12におけるファイバカップリングLD44、LD電源46、レーザ共振器30の少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する機能を有している。より詳細には、レーザ出力測定部24より得られるシードレーザ測定値が異常に低下した場合、あるいは上記のようなシードレーザ・パワーフィードバック制御をかけても基準値になかなか達しない場合、制御部20は、LD電源46を通じてLD駆動電流I1の電流値を可変制御しつつ、LD出力測定部26で得られるLD出力測定値を検査する。検査の結果、LD出力測定値も異常に低下していたり、あるいは応答性がよくないときは、ファイバカップリングLD44またはLD電源46が性能劣化または故障していると判定する。LD出力測定値が正常または許容範囲内にあるときは、伝送ファイバ48ないしレーザ共振器30の何処かで不具合または不良があると判定する。そして、判定(診断)結果を表示部68を通じて表示出力する。
第6に、このファイバレーザ加工装置は、LD出力測定部28を用いてアンプファイバ10のコアを保護する機能を有している。より詳細には、ファイバカップリングLD54で生成されたコア励起用レーザ光FBの出力がレーザ出力測定部28で測定され、そのレーザ出力測定値が制御部20に与えられる。制御部20は、アンプファイバ10のコアに損傷を与えないLD出力の最大許容値を設定しており、コア励起用レーザ光FBの出力が最大許容値を超えないように監視する。たとえば、上記のような加工用レーザ・パワーフィードバック制御の中でコア励起用レーザ光FBの出力が上昇して最大許容値を超えそうになったときは、それ以上上昇しないようにLD電源56を制御する。
第7に、このファイバレーザ加工装置は、LD出力測定部28を用いてファイバカップリングLD54の寿命または交換時機を告知する機能を有している。より詳細には、制御部20は、LD電源56を通じてLD駆動電流I2を可変制御する際に、LD出力測定部28で得られるLD出力測定値をLD駆動電流指令値と対応させ、直線補間等を用いて図2に示すようなLD駆動電流−LD出力特性を求める。そして、電気光学励起部42におけるファイバカップリングLD44に対するのと全く同じ手法で、ファイバカップリングLD54の寿命が間近に迫っている時にその告知を行うことができる。
最後に、このファイバレーザ加工装置は、レーザ出力測定部22およびLD出力測定部28を用いてシードレーザ発振部120におけるファイバカップリングLD54、LD電源56、伝送ファイバ58、アンプファイバ10の少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する機能を有している。より詳細には、レーザ出力測定部22より得られる加工用レーザ測定値が異常に低下した場合、あるいは上記のような加工用レーザに対してパワーフィードバック制御をかけても基準値になかなか達しない場合、制御部20は、LD電源56を通じてLD駆動電流I2の電流値を可変制御しつつ、LD出力測定部26で得られるLD出力測定値を検査する。検査の結果、LD出力測定値も異常に低下していたり、あるいは応答性がよくないときは、ファイバカップリングLD54またはLD電源56が性能劣化または故障していると判定する。LD出力測定値が正常または許容範囲内にあるときは、伝送ファイバ58ないしアンプファイバ10の何処かで不具合または不良があると判定する。そして、判定(診断)結果を表示部68を通じて表示出力する。
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、上述した実施形態は本発明を限定するものではない。当業者にあっては、具体的な実施態様において本発明の技術思想および技術範囲から逸脱せずに種々の変形・変更を加えることが可能である。
たとえば、上記した実施形態はQスイッチング方式のレーザ加工装置に係るものであったが、本発明はQスイッチング方式に限定されるものではない。たとえば、シードレーザ発振部10のレーザ共振器30においてQスイッチ28を省く構成とし、制御部20の制御の下でLD電源46がファイバカップリングLD44に供給するLD駆動電流I1を任意のパルス波形に制御することで、シードレーザ発振部10にシードレーザ光SBとしてパルスレーザ光を生成させ、ひいてはアンプファイバ10からたとえばレーザ溶接用レーザ光MBとしてパルスレーザ光を取り出すことができる。
また、レーザ出射部16を、ガルバノメータ・スキャナおよびfθレンズからなるスキャニング機構に代えて、コリメートレンズ、シャッタおよび収束レンズ(図示せず)からなる固定出射型(非スキャニング型)に構成することも可能である。さらに、加工テーブル18にXYテーブル機構、昇降機構、θ回転機構等を設ける構成も可能である。
また、上記した実施形態はシードレーザ発振部12にYAGレーザを用いたが、他の形式または方式のレーザも使用可能であり、シードレーザ光および励起用レーザ光の波長も任意に選べる。伝送ファイバ48,58を省いて、ファイバカップリングLD44,54を普通のLDまたはLDアレイに置き換えることも可能である。
また、図1の実施形態では、ファイバコア励起部14から出射された励起用レーザ光FBは、シードレーザ光SBと一緒にアンプファイバ10の端面10aからファイバ内に入射する構成となっている。これに代えて、励起用レーザ光FBを反対側の端面10bからアンプファイバ10内に入射する構成としても良い。
本発明の一実施形態におけるファイバMOPA方式のファイバレーザ加工装置の構成を示すブロック図である。 実施形態においてファイバカップリングLDの寿命を判定する手法の一例を示す図である。
符号の説明
10 増幅用光ファイバ(アンプファイバ)
12 シードレーザ発振部
14 ファイバコア励起部
16 出射ユニット
20 制御部
22,24 レーザ出力測定部
26,28 LD出力測定部
30 レーザ共振器
42 電気光学励起部
44 ファイバカップリングLD
46 LD電源
48 伝送用光ファイバ(伝送ファイバ)
54 ファイバカップリングLD
56 LD電源
58 伝送用光ファイバ(伝送ファイバ)
68 表示部

Claims (19)

  1. シードレーザ光を発振出力するシードレーザ発振部と、
    所定の希土類元素を含むコアを有し、前記シードレーザ発振部からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、
    前記増幅用光ファイバの一端から該増幅用光ファイバの中に入射して前記シードレーザ光を増幅させるためのコア励起用レーザ光を出力するファイバコア励起部と、
    前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、
    前記シードレーザ発振部より出射される前記シードレーザ光の出力を測定するシードレーザ出力測定部と
    前記加工用レーザ光の出力を測定する加工用レーザ出力測定部と、
    前記加工用レーザ出力測定部より得られる加工用レーザ出力測定値が予め設定された指令値に一致するように前記ファイバコア励起部を制御する加工用レーザ出力制御部と
    を有するレーザ加工装置。
  2. 前記シードレーザ出力測定部より得られるシードレーザ出力測定値が予め設定された基準値に一致するように前記シードレーザ発振部を制御するシードレーザ出力制御部を有する請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 前記シードレーザ発振部が、固体の活性媒質を含むレーザ共振器と、前記活性媒質を励起する活性媒質励起部とを有し、
    前記シードレーザ出力制御部が、前記シードレーザ出力測定値を前記基準値に一致させるように、前記活性媒質励起部を制御する
    請求項2に記載のレーザ加工装置。
  4. 前記シードレーザ発振部が、
    前記レーザ共振器内で前記活性媒質と同一の光路上に配置されたQスイッチと、
    Qスイッチパルスのレーザ光を所定の繰り返し周波数で生成するように前記Qスイッチを駆動するQスイッチ駆動部と
    を有する請求項3に記載のレーザ加工装置。
  5. 前記活性媒質励起部が、前記活性媒質を励起するための活性媒質励起用レーザ光を発振出力する第1レーザダイオードと、この第1レーザダイオードに第1LD駆動電流を供給する第1LD電源とを有し、
    前記シードレーザ出力制御部が、前記シードレーザ出力測定値を前記基準値に一致させるように、前記第1LD電源を通じて前記第1LD駆動電流を制御する
    請求項3または請求項4に記載のレーザ加工装置。
  6. 前記第1レーザダイオードが、第1伝送用光ファイバを介して前記活性媒質に光学的に結合される請求項に記載のレーザ加工装置。
  7. 前記ファイバコア励起部が、前記コア励起用レーザ光を発振出力する第2レーザダイオードと、この第2レーザダイオードに第2LD駆動電流を供給する第2LD電源とを有し、
    前記加工用レーザ出力制御部が、前記加工用レーザ出力測定値を前記指令値に一致させるように、前記第2LD電源を通じて前記第2LD駆動電流を制御する
    請求項1〜6のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  8. 前記第2レーザダイオードが、第2伝送用光ファイバを介して前記増幅用光ファイバのコアに光学的に結合される、請求項に記載のレーザ加工装置。
  9. シードレーザ光を発振出力するための固体の活性媒質を含むレーザ共振器と、
    前記活性媒質を励起するための活性媒質励起用レーザ光を発振出力するレーザダイオードと、
    前記レーザダイオードにLD駆動電流を供給するLD電源と、
    所定の希土類元素を含むコアを有し、前記レーザ共振器からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、
    前記増幅用光ファイバの一端から該増幅用光ファイバの中に入射して前記シードレーザ光を増幅させるためのコア励起用レーザ光を出力するファイバコア励起部と、
    前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、
    前記レーザダイオードより出射される前記活性媒質励起用レーザ光の出力を測定する活性媒質励起用レーザ出力測定部と
    前記活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる活性媒質励起用レーザ出力測定値が予め設定された上限値を超えないように、前記LD電源を制御する活性媒質励起用レーザ出力制御部と
    を有するレーザ加工装置。
  10. 前記活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる活性媒質励起用レーザ出力測定値に基づいて、前記レーザダイオードの寿命または交換時機を告知するLD寿命告知部を有する請求項に記載のレーザ加工装置。
  11. 前記レーザ共振器より出射される前記シードレーザ光の出力を測定するシードレーザ出力測定部と、
    前記活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる活性媒質励起用レーザ出力測定値と前記シードレーザ出力測定部より得られるシードレーザ出力測定値とに基づいて、前記LD電源、前記レーザダイオードおよび前記レーザ共振器の少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する診断部と
    を有する請求項9または請求項10に記載のレーザ加工装置。
  12. 前記レーザダイオードが、伝送用の光ファイバを介して前記レーザ共振器内の活性媒質に光学的に結合される請求項11のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  13. 前記診断部が、前記活性媒質励起用レーザ出力測定部より得られる活性媒質励起用レーザ出力測定値と前記シードレーザ出力測定部より得られるシードレーザ出力測定値とに基づいて、前記LD電源、前記レーザダイオード、前記伝送用光ファイバおよび前記レーザ共振器の少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する請求項12に記載のレーザ加工装置。
  14. シードレーザ光を発振出力するシードレーザ発振部と、
    所定の希土類元素を含むコアを有し、前記シードレーザ発振部からの前記シードレーザ光を一端より前記コアの中に入れ、該シードレーザ光を増幅して他端より出す増幅用の光ファイバと、
    前記増幅用光ファイバの他端から出射したレーザ光を加工用レーザ光として出射するレーザ出射部と、
    前記増幅用光ファイバのコアの中で前記シードレーザ光を増幅するために、前記コアを励起するためのコア励起用レーザ光を発振出力するレーザダイオードと、
    前記レーザダイオードにLD駆動電流を供給するLD電源と、
    前記レーザダイオードより出射される前記コア励起用レーザ光の出力を測定するコア励起用レーザ出力測定部と
    を有するレーザ加工装置。
  15. 前記コア励起用レーザ出力測定部より得られるコア励起用レーザ出力測定値が予め設定された上限値を超えないように、前記LD電源を制御するコア励起用レーザ出力制御部を有する請求項14に記載のレーザ加工装置。
  16. 前記コア励起用レーザ出力測定部より得られるコア励起用レーザ出力測定値に基づいて、前記レーザダイオードの寿命または交換時機を告知するLD寿命告知部を有する請求項14または請求項15に記載のレーザ加工装置。
  17. 前記加工用レーザ光の出力を測定する加工用レーザ出力測定部と、
    前記コア励起用レーザ出力測定部より得られるコア励起用レーザ出力測定値と前記加工用レーザ出力測定部より得られる加工用レーザ出力測定値とに基づいて、前記LD電源、前記レーザダイオードおよび前記増幅用光ファイバの少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する診断部と
    を有する請求項1416のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  18. 前記レーザダイオードが、伝送用の光ファイバを介して前記増幅用光ファイバに光学的に結合される請求項1417のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  19. 前記診断部が、前記コア励起用レーザ出力測定部より得られるコア励起用レーザ出力測定値と前記シードレーザ出力測定部より得られるシードレーザ出力測定値とに基づいて、前記LD電源、前記レーザダイオード、前記伝送用光ファイバおよび前記増幅用光ファイバレーザの少なくとも1つについてその機能が正常であるのか異常であるのかを診断する請求項18に記載のレーザ加工装置。
JP2008068988A 2008-03-18 2008-03-18 レーザ加工装置 Expired - Fee Related JP5260097B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008068988A JP5260097B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 レーザ加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008068988A JP5260097B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 レーザ加工装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009220161A JP2009220161A (ja) 2009-10-01
JP5260097B2 true JP5260097B2 (ja) 2013-08-14

Family

ID=41237523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008068988A Expired - Fee Related JP5260097B2 (ja) 2008-03-18 2008-03-18 レーザ加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5260097B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011176116A (ja) * 2010-02-24 2011-09-08 Hitachi Zosen Corp レーザ媒質及びレーザ加工装置
JP5379782B2 (ja) * 2010-12-21 2013-12-25 古河電気工業株式会社 半導体レーザ駆動回路および光ファイバパルスレーザ装置
JP5435500B2 (ja) * 2010-12-24 2014-03-05 古河電気工業株式会社 半導体レーザ駆動回路および光ファイバパルスレーザ装置
JP5664913B2 (ja) * 2011-02-28 2015-02-04 オムロン株式会社 ファイバレーザ装置および出力監視方法
JP6077263B2 (ja) * 2012-10-16 2017-02-08 古河電気工業株式会社 レーザ装置
WO2014125597A1 (ja) * 2013-02-14 2014-08-21 三菱電機株式会社 レーザ加工装置、加工制御装置およびパルス周波数制御方法
JP6456250B2 (ja) * 2014-08-29 2019-01-23 三菱電機株式会社 レーザ装置およびレーザ加工機
JP6979758B2 (ja) * 2016-06-14 2021-12-15 浜松ホトニクス株式会社 レーザ発振器、及び、エラー検知方法
JP2019106513A (ja) * 2017-12-14 2019-06-27 株式会社キーエンス レーザ加工装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002319729A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Toshiba Corp レーザ光源装置
JP4688560B2 (ja) * 2005-04-28 2011-05-25 パナソニック電工Sunx株式会社 レーザ加工装置
JP5203573B2 (ja) * 2006-03-23 2013-06-05 ミヤチテクノス株式会社 レーザ加工装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009220161A (ja) 2009-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5260097B2 (ja) レーザ加工装置
JP5203573B2 (ja) レーザ加工装置
JP5354969B2 (ja) ファイバレーザ加工方法及びファイバレーザ加工装置
US9343865B2 (en) Laser device
JP2007190566A (ja) ファイバレーザ加工装置
JP5817215B2 (ja) 光増幅装置およびレーザ加工装置
CN103650262B (zh) 高功率脉冲光产生装置
US8693514B2 (en) Pulse generation method and laser light source apparatus
JP2017084964A (ja) レーザ光を合波して出力するレーザ発振器
JP2010115698A (ja) ファイバレーザ加工装置及びファイバレーザ加工方法
JP4957474B2 (ja) レーザマーキング装置
JP5918975B2 (ja) Mopa方式レーザ光源装置およびmopa方式レーザ制御方法
JP2011187825A (ja) ファイバレーザ装置およびファイバレーザ装置の制御方法
JP5288575B2 (ja) レーザ光源
JP2012079966A (ja) ファイバレーザ加工装置及び励起用レーザダイオード電源装置
JP4832730B2 (ja) 励起用半導体レーザ装置
JP5662770B2 (ja) ファイバレーザ装置
JP5024118B2 (ja) レーザ発振方法、レーザ、レーザ加工方法、及びレーザ測定方法
JP4676314B2 (ja) レーザ発振器及びレーザ発振器の劣化部品判定方法
US20240275118A1 (en) Single Pass Optical Amplifer
JP2012165010A (ja) レーザ光源
WO2019017171A1 (ja) レーザ装置、レーザ装置の光源の劣化度推定方法
JP2010278290A (ja) レーザ発生装置
JP2012186333A (ja) レーザ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110315

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120803

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121026

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130416

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130425

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160502

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5260097

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees