Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP5289224B2 - Inspection device - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP5289224B2 - Inspection device - Google Patents

Inspection device Download PDF

Info

Publication number
JP5289224B2
JP5289224B2 JP2009173516A JP2009173516A JP5289224B2 JP 5289224 B2 JP5289224 B2 JP 5289224B2 JP 2009173516 A JP2009173516 A JP 2009173516A JP 2009173516 A JP2009173516 A JP 2009173516A JP 5289224 B2 JP5289224 B2 JP 5289224B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
inspection
base
slide block
inspection apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009173516A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011027995A (en
Inventor
和弘 山内
裕樹 斉藤
康晃 小山内
豪 澤田
剛大 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2009173516A priority Critical patent/JP5289224B2/en
Publication of JP2011027995A publication Critical patent/JP2011027995A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5289224B2 publication Critical patent/JP5289224B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

本発明は、液晶パネル等の検査対象板の点灯検査中に行う手押し検査の際に生じる不具合を解消した検査装置に関するものである。   The present invention relates to an inspection apparatus that eliminates problems that occur during a manual push inspection performed during a lighting inspection of an inspection target plate such as a liquid crystal panel.

検査装置においては、例えば液晶パネルの点灯検査中に、この液晶パネルをオペレータが手で押して点灯状態を検査する工程がある。この検査工程においては、プローブユニットに取り付けられたプローブブロックの先端のプローブを、液晶パネルの各端子に接触させてこの液晶パネルを点灯させた状態で、液晶パネルをオペレータが手で押して点灯状態を検査する。しかしこの場合、液晶パネルは、オペレータによって手で押されることで僅かに撓む。これにより、プローブと端子とが互いにずれてしまうことがある。そして、プローブと端子とが互いにずれてしまえば、点灯試験ができなくなってしまうため、液晶パネルを確実に固定する必要がある。   In the inspection apparatus, for example, during the lighting inspection of the liquid crystal panel, there is a step of inspecting the lighting state by pressing the liquid crystal panel by an operator by hand. In this inspection process, the probe at the tip of the probe block attached to the probe unit is brought into contact with each terminal of the liquid crystal panel so that the liquid crystal panel is lit. inspect. However, in this case, the liquid crystal panel is slightly bent by being manually pressed by the operator. Thereby, a probe and a terminal may shift mutually. And if a probe and a terminal shift | deviate mutually, a lighting test will become impossible, Therefore It is necessary to fix a liquid crystal panel reliably.

検査装置において液晶パネルを固定する例としては、特許文献1に記載の液晶パネル用検査ステージがある。この液晶パネル用検査ステージは、四角形の液晶パネルの4つの辺のうちの隣り合う2つの辺を受けて支持するためにワークテーブルのパネル受け面から突出する第1および第2のストッパ手段と、これらのストッパ手段に対向して設けられて前記液晶パネルの各辺を両ストッパ手段に当接させるべく液晶パネルを押圧する押圧手段とを備えている。これにより、パネル受け面上において液晶パネルの4つの辺を、各ストッパ手段と各押圧手段により押圧して支持し、液晶パネルを安定した状態で正確に検査することができる。   As an example of fixing a liquid crystal panel in an inspection apparatus, there is a liquid crystal panel inspection stage described in Patent Document 1. The liquid crystal panel inspection stage includes first and second stopper means protruding from the panel receiving surface of the work table to receive and support two adjacent sides of the four sides of the rectangular liquid crystal panel; A pressing means is provided to face the stopper means and presses the liquid crystal panel so that each side of the liquid crystal panel comes into contact with both stopper means. Thus, the four sides of the liquid crystal panel can be pressed and supported by the stopper means and the pressing means on the panel receiving surface, and the liquid crystal panel can be accurately inspected in a stable state.

また、特許文献2に記載の液晶表示パネルの検査装置では、検査ステージの傾きを抑える手段が設けられている。即ち、プローブが液晶表示パネルの端子に接触して押圧されたときに、このプローブによって偏荷重が検査ステージに作用しても、そのときの検査ステージの傾きを抑えて、液晶表示パネルとプローブとの位置ずれを可能な限り小さくするための押圧手段が設けられている。この押圧手段は、プローブに起因する荷重と同じ荷重を反対の箇所に作用させる手段である。即ち、押圧手段は、液晶表示パネルの表示領域を挟んで、プローブの作用箇所の反対に位置する箇所に、プローブに起因する荷重と同じ荷重を作用させる。これにより、プローブの荷重に起因する検査ステージの傾きが押圧手段による偏荷重により押えられ、液晶表示パネルとプローブとの位置ずれが小さくなる。   Further, the liquid crystal display panel inspection apparatus described in Patent Document 2 is provided with means for suppressing the inclination of the inspection stage. That is, when the probe touches the terminal of the liquid crystal display panel and is pressed against the inspection stage by this probe, the inclination of the inspection stage at that time is suppressed, and the liquid crystal display panel and the probe are There is provided a pressing means for minimizing the positional deviation. This pressing means is a means for applying the same load as the load caused by the probe to the opposite location. In other words, the pressing means applies the same load as the load caused by the probe to a position located opposite to the position where the probe is applied across the display area of the liquid crystal display panel. Thereby, the inclination of the inspection stage due to the load of the probe is suppressed by the uneven load by the pressing means, and the positional deviation between the liquid crystal display panel and the probe is reduced.

特開平11−14956号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-14756 特開平10−333111号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-333111

ところが、従来の検査装置では、パネルの点灯検査中の前記手押し検査によるパネルの位置ズレを解消することができなかった。   However, in the conventional inspection apparatus, the panel position shift due to the manual push inspection during the panel lighting inspection cannot be eliminated.

特許文献1の固定手段による固定では、液晶パネルの対向する各辺から互いに押圧して支持する構成であるため、パネル面に垂直な方向に対しては、ストッパ手段や押圧手段以外の部分では固定されていない。このため、オペレータによる手押し検査が行われると、パネルがそのパネル面に垂直な方向に位置ズレを起こしてパネルの端子とプローブとの接触に影響を与え、点灯不良の原因になる。   The fixing by the fixing means of Patent Document 1 is a configuration in which the liquid crystal panel is pressed and supported from the opposite sides of the liquid crystal panel, and is fixed at portions other than the stopper means and the pressing means in the direction perpendicular to the panel surface. It has not been. For this reason, when a manual push inspection is performed by an operator, the panel is displaced in a direction perpendicular to the panel surface, affecting the contact between the panel terminal and the probe, and causing a lighting failure.

また、特許文献2の検査装置では、検査ステージの傾きを抑える手段が設けられているが、この手段によって、オペレータによる手押し検査の際に、オペレータの手押しに起因する荷重と同じ荷重を反対の箇所に作用させることも考えられるが、現実的ではない。オペレータが任意の位置を手で押す場合は、端子とプローブがずれないようにバランスのとれた位置を特定することが難しい上に、その位置に移動して押す装置も複雑で大がかりになり現実的ではない。   Further, in the inspection apparatus of Patent Document 2, a means for suppressing the inclination of the inspection stage is provided. By this means, the same load as the load caused by the operator's hand pressing is applied to the opposite place during the hand pressing inspection by the operator. Although it is possible to act on it, it is not realistic. When an operator presses an arbitrary position by hand, it is difficult to specify a balanced position so that the terminal and the probe do not shift, and the device that moves to that position and presses it becomes complicated and large, making it realistic is not.

本発明は、上述の問題点を解決するためになされたものであり、オペレータによる手押し検査の際に、パネルの端子とプローブとのズレを防止する検査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an inspection device that prevents a panel terminal and a probe from being misaligned during a manual push inspection by an operator.

前記課題を解決するために本発明に係る検査装置は、検査対象板を検査する検査装置において、前記検査対象板に接触して検査信号を印可するプローブユニットを備え、当該プローブユニットが、装置のフレーム側に固定されるプローブベースと、基端が当該プローブベースに支持され、先端に備えたプローブを前記検査対象板の各端子に臨ませて正確に位置決めして支持するプローブブロックと、前記検査対象板を支持してこの検査対象板のズレを防止する位置ズレ防止機構とを備え、前記位置ズレ防止機構が、前記検査対象板に当接して当該検査対象板を弾性的に支持する弾性支持機構と、当該弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で付勢する付勢機構と、全体を支持するサスペンションベースと、当該サスペンションベースを前記プローブベースの任意の位置に直接取り付けて固定する固定機構と、スライド機構によって前記サスペンションベースにスライド可能に支持されると共に先端部に前記弾性支持機構を支持してこの弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で当接させるスライドブロックとを備えたことを特徴とする。
In order to solve the above problems, an inspection apparatus according to the present invention is an inspection apparatus that inspects an inspection target plate, and includes a probe unit that contacts the inspection target plate and applies an inspection signal. A probe base that is fixed to the frame side, a probe block that is supported by the probe base, the probe block provided at the distal end facing each terminal of the inspection object plate, and the probe block that is accurately positioned and supported; An elastic support that supports a target plate and prevents a displacement of the inspection target plate, and the positional displacement prevention mechanism elastically supports the inspection target plate by contacting the inspection target plate A mechanism, a biasing mechanism that biases the elastic support mechanism to the inspection target plate with a set pressure, a suspension base that supports the whole, and the suspension base A fixing mechanism that is directly attached and fixed to an arbitrary position of the lobe base; and a sliding mechanism that is slidably supported by the suspension base and that supports the elastic supporting mechanism at a tip portion thereof. And a slide block that is brought into contact with a set pressure .

前記位置ズレ防止機構で検査対象板を支持してこの検査対象板のズレを防止するため、オペレータによる手押し検査の際に、パネルの端子とプローブとのズレを確実に防止して、点灯検査を行うことができる。   In order to prevent the displacement of the inspection object plate by supporting the inspection object plate by the position displacement prevention mechanism, the displacement between the panel terminal and the probe is surely prevented during the manual push inspection by the operator, and the lighting inspection is performed. It can be carried out.

本発明の実施形態に係る位置ズレ防止機構を示す側面断面図であって、図7のA−A線矢視断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the position shift prevention mechanism which concerns on embodiment of this invention, Comprising: It is AA arrow sectional drawing of FIG. 本発明の実施形態に係る検査装置を示す正面図である。It is a front view which shows the inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るプローブユニット及びワークテーブルの部分を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the part of the probe unit which concerns on embodiment of this invention, and a work table. 本発明の実施形態に係るプローブユニット及びワークテーブルの部分を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the part of the probe unit which concerns on embodiment of this invention, and a work table. 本発明の実施形態に係るプローブユニット及びワークテーブルの部分を示す平面図である。It is a top view which shows the part of the probe unit and worktable which concern on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る位置ズレ防止機構を示す側面断面図であって、図7のB−B線矢視断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the position shift prevention mechanism which concerns on embodiment of this invention, Comprising: It is BB arrow sectional drawing of FIG. 本発明の実施形態に係る位置ズレ防止機構を示す平面図である。It is a top view which shows the position shift prevention mechanism which concerns on embodiment of this invention. 本発明の第1変形例を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the 1st modification of this invention. 本発明の第2変形例を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the 2nd modification of this invention. 本発明の第2変形例を示す要部拡大断面図である。It is a principal part expanded sectional view which shows the 2nd modification of this invention.

以下、本発明の実施形態に係る検査装置について、添付図面を参照しながら説明する。ここでは、検査装置と搬送装置を備えた検査装置において、検査対象板として液晶パネルを検査する場合を例に説明する。   Hereinafter, an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Here, an example in which a liquid crystal panel is inspected as an inspection target plate in an inspection apparatus including an inspection apparatus and a transport apparatus will be described as an example.

検査装置1は、液晶パネル2を検査するための装置である。検査装置1は図2に示すように主に、検査状況等が表示されるモニタ4と、液晶パネル2の受け渡しをするローダ部5と、液晶パネル2を検査する検査部6とから構成されている。   The inspection device 1 is a device for inspecting the liquid crystal panel 2. As shown in FIG. 2, the inspection apparatus 1 mainly includes a monitor 4 on which an inspection status is displayed, a loader unit 5 that delivers the liquid crystal panel 2, and an inspection unit 6 that inspects the liquid crystal panel 2. Yes.

モニタ4は、検査装置1の全体的な動作状況や検査の進行状況等を表示するための装置である。モニタ4は、検査部6の近傍の、作業者が見やすい位置に設置されている。   The monitor 4 is a device for displaying the overall operation status of the inspection apparatus 1 and the progress of the inspection. The monitor 4 is installed in the vicinity of the inspection unit 6 at a position that is easy for the operator to see.

ローダ部5は、液晶パネル2を、検査部6及び外部装置との間で受け渡しするための装置である。ローダ部5はセットステージ(図示せず)を備えて構成されている。このセットステージは、外部から搬入された液晶パネル2を受け取り、検査部6へ送ると共に、検査が終了した検査部6からの液晶パネル2を受け取り、外部へ搬出する装置である。セットステージは、液晶パネル2を支持してXYZθ方向に移動する機構を備えて液晶パネル2の位置調整を行うようになっている。セットステージは、液晶パネル2の位置を調整して、この液晶パネル2を検査部6へ搬送したり、外部装置との間で受け渡ししたりする。   The loader unit 5 is a device for transferring the liquid crystal panel 2 between the inspection unit 6 and an external device. The loader unit 5 includes a set stage (not shown). This set stage is a device that receives the liquid crystal panel 2 carried in from the outside, sends it to the inspection unit 6, and receives the liquid crystal panel 2 from the inspection unit 6 that has been inspected, and carries it out to the outside. The set stage includes a mechanism that supports the liquid crystal panel 2 and moves in the XYZθ directions to adjust the position of the liquid crystal panel 2. The set stage adjusts the position of the liquid crystal panel 2 and transports the liquid crystal panel 2 to the inspection unit 6 or transfers it to / from an external device.

検査部6は、ローダ部5から受け渡された液晶パネル2を直接検査するための装置である。検査部6は、図3〜5に示すように、XYZθステージ8と、ワークテーブル9と、プローブユニット10とを備えている。   The inspection unit 6 is a device for directly inspecting the liquid crystal panel 2 delivered from the loader unit 5. As illustrated in FIGS. 3 to 5, the inspection unit 6 includes an XYZθ stage 8, a work table 9, and a probe unit 10.

XYZθステージ8は、液晶パネル2を位置合わせして液晶パネル2の各端子(図示せず)と後述する各プローブ18とを互いに整合させ接触させるための装置である。XYZθステージ8は、ワークテーブル9を、XYZ方向へ移動させる機能と、θ方向に回転させる機能とを備えている。XYZθステージ8内には、液晶パネル2を下側から照らすバックライト11が設けられている。   The XYZθ stage 8 is an apparatus for aligning the liquid crystal panel 2 and aligning and contacting each terminal (not shown) of the liquid crystal panel 2 and each probe 18 described later. The XYZθ stage 8 has a function of moving the work table 9 in the XYZ direction and a function of rotating the work table 9 in the θ direction. A backlight 11 that illuminates the liquid crystal panel 2 from below is provided in the XYZθ stage 8.

ワークテーブル9は、液晶パネル2を直接支持するためのテーブルである。ワークテーブル9は、ワークテーブルベース12を介してXYZθステージ8に取り付けられている。これにより、ワークテーブル9に載置された液晶パネル2は、XYZθステージ8によってXYZ軸方向へ移動され、θ方向へ回転されるようになっている。   The work table 9 is a table for directly supporting the liquid crystal panel 2. The work table 9 is attached to the XYZθ stage 8 via a work table base 12. Thus, the liquid crystal panel 2 placed on the work table 9 is moved in the XYZ axis direction by the XYZθ stage 8 and rotated in the θ direction.

プローブユニット10は、液晶パネル2に接触して検査信号を印可するための装置である。プローブユニット10は主に、プローブベース14と、プローブブロック15と、位置ズレ防止機構16とから構成されている。   The probe unit 10 is a device for applying an inspection signal in contact with the liquid crystal panel 2. The probe unit 10 mainly includes a probe base 14, a probe block 15, and a positional deviation prevention mechanism 16.

プローブベース14は、検査装置1のフレーム(図示せず)側に固定される部材である。プローブベース14は、検査装置1のフレーム側に固定されて、プローブブロック15等を堅固に支持する。   The probe base 14 is a member that is fixed to the frame (not shown) side of the inspection apparatus 1. The probe base 14 is fixed to the frame side of the inspection apparatus 1 and firmly supports the probe block 15 and the like.

プローブブロック15は、その先端(下端)に備えたプローブ18を、ワークテーブル9に載置された液晶パネル2の各端子に臨ませて正確に位置決めして支持するための部材である。プローブブロック15は、液晶パネル2の端子配列に応じた数だけ取り付けられる。図2においては多数のプローブブロック15が取り付けられているが、図3においては2つだけ取り付けられている。本発明は、プローブブロック15の取り付け数が少ない場合に特に効果的である。   The probe block 15 is a member for accurately positioning and supporting the probe 18 provided at the tip (lower end) of the probe block 15 so as to face each terminal of the liquid crystal panel 2 placed on the work table 9. The probe blocks 15 are attached in the number corresponding to the terminal arrangement of the liquid crystal panel 2. Although many probe blocks 15 are attached in FIG. 2, only two are attached in FIG. The present invention is particularly effective when the number of attached probe blocks 15 is small.

プローブブロック15は主に、支持部20と、プローブ組立体21とを備えて構成されている。前記支持部20は、その基端側が前記プローブベース14に支持された状態で、その先端側でプローブ組立体21を支持する。前記プローブ組立体21は、支持部20で支持された状態で、その先端側でプローブ18を支持する。プローブ組立体21は、各プローブ18を、正確に支持して液晶パネル2の各端子に電気的にそれぞれ接触させて、検査信号を液晶パネル2の回路(図示せず)に印加させる。このプローブブロック15としては、種々の構成のものを用いることができる。また、支持部20には、プローブ組立体21を上下にスライドできるようにスライド機構が設けられ、プローブ組立体21の下端部のプローブ18を任意に上下できるようになっている。これにより、複数のプローブブロック15等との間で、プローブ18の位置を調整できるようになっている。   The probe block 15 mainly includes a support portion 20 and a probe assembly 21. The support portion 20 supports the probe assembly 21 on the distal end side in a state where the proximal end side is supported by the probe base 14. The probe assembly 21 supports the probe 18 on the distal end side while being supported by the support portion 20. The probe assembly 21 accurately supports each probe 18 and electrically contacts each terminal of the liquid crystal panel 2 to apply an inspection signal to a circuit (not shown) of the liquid crystal panel 2. As the probe block 15, those having various configurations can be used. Further, the support unit 20 is provided with a slide mechanism so that the probe assembly 21 can be slid up and down, and the probe 18 at the lower end of the probe assembly 21 can be arbitrarily moved up and down. Thereby, the position of the probe 18 can be adjusted between the plurality of probe blocks 15 and the like.

プローブ18は、液晶パネル2の回路の端子に直接接触する部材である。プローブ18は、複数本並列に並べてプローブ組立体21に一体的に支持されている。   The probe 18 is a member that directly contacts a terminal of a circuit of the liquid crystal panel 2. A plurality of probes 18 are arranged in parallel and are integrally supported by the probe assembly 21.

位置ズレ防止機構16は、液晶パネル2を支持してこの液晶パネル2のズレを防止するための装置である。位置ズレ防止機構16は、プローブブロック15を挟んでその両側位置に設けられている。位置ズレ防止機構16は、任意の位置であって、液晶パネル2がずれない位置に1又は複数設けられている。位置ズレ防止機構16の取り付け位置は、液晶パネル2の大きさ等の諸条件によって異なるため、個別に設置位置を特定する。   The misalignment prevention mechanism 16 is a device for supporting the liquid crystal panel 2 and preventing the misalignment of the liquid crystal panel 2. The misalignment prevention mechanism 16 is provided on both side positions with the probe block 15 in between. One or a plurality of misalignment prevention mechanisms 16 are provided at any position where the liquid crystal panel 2 is not displaced. Since the attachment position of the displacement prevention mechanism 16 varies depending on various conditions such as the size of the liquid crystal panel 2, the installation position is specified individually.

この位置ズレ防止機構16は、図1,6,7に示すように、サスペンションベース23と、固定機構24と、サスペンションプレート25と、スライド機構26と、スライドブロック27と、付勢機構28と、弾性支持機構29とを備えて構成されている。   As shown in FIGS. 1, 6, and 7, the positional deviation prevention mechanism 16 includes a suspension base 23, a fixing mechanism 24, a suspension plate 25, a slide mechanism 26, a slide block 27, an urging mechanism 28, An elastic support mechanism 29 is provided.

サスペンションベース23は、位置ズレ防止機構16全体を支持するための部材である。サスペンションベース23は、ほぼ直方体状に形成され、その下側に固定機構24が固定され、上側にサスペンションプレート25が固定される。   The suspension base 23 is a member for supporting the entire misalignment prevention mechanism 16. The suspension base 23 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape, a fixing mechanism 24 is fixed to the lower side, and a suspension plate 25 is fixed to the upper side.

固定機構24は、サスペンションベース23をプローブベース14の任意の位置に直接取り付けて固定するための機構である。固定機構24は、下側板部31と、上側板部32と、固定ネジ33とから構成されている。   The fixing mechanism 24 is a mechanism for directly attaching and fixing the suspension base 23 to an arbitrary position of the probe base 14. The fixing mechanism 24 includes a lower plate portion 31, an upper plate portion 32, and a fixing screw 33.

下側板部31は、プローブベース14に下側から当接するための板材である。下側板部31は、スペーサ部35によってサスペンションベース23との間に一定の隙間を空けた状態でサスペンションベース23側に一体的に形成されている。これにより、下側板部31は、スペーサ部35によってサスペンションベース23との間に一定の隙間を空けた状態でサスペンションベース23側に一体的に形成されている。   The lower plate portion 31 is a plate material for contacting the probe base 14 from below. The lower plate portion 31 is integrally formed on the suspension base 23 side with a certain gap between the lower plate portion 31 and the suspension base 23 by the spacer portion 35. Thus, the lower plate portion 31 is integrally formed on the suspension base 23 side with a certain gap between the lower plate portion 31 and the suspension base 23 by the spacer portion 35.

上側板部32は、プローブベース14に上側から当接するための板材である。上側板部32は、サスペンションベース23側に支持されて、プローブベース14の上側面に押圧されるようになっている。   The upper plate portion 32 is a plate material for contacting the probe base 14 from the upper side. The upper plate portion 32 is supported on the suspension base 23 side and is pressed against the upper side surface of the probe base 14.

固定ネジ33は、上側板部32をプローブベース14に押し付けてサスペンションベース23をプローブベース14に固定するための部材である。サスペンションベース23にはネジ穴36が設けられている。固定ネジ33は、このネジ穴36にねじ込まれている。この固定ネジ33は、その先端が上側板部32に回転可能に連結されている。これにより、固定ネジ33がネジ穴36にねじ込まれることで、この固定ネジ33によって上側板部32が押し下げられて、下側板部31との間にプローブベース14を挟んで固定するようになっている。下側板部31と上側板部32の当接面は平面状に形成されている。これにより、互いに平面のプローブベース14の上下両側面と、下側板部31及び上側板部32の平面状の当接面とが、任意の位置で当接して互いに圧接される。これにより、サスペンションベース23を、プローブベース14の任意の位置で固定できるようになっている。   The fixing screw 33 is a member for pressing the upper plate portion 32 against the probe base 14 and fixing the suspension base 23 to the probe base 14. The suspension base 23 is provided with a screw hole 36. The fixing screw 33 is screwed into the screw hole 36. The tip of the fixing screw 33 is rotatably connected to the upper plate portion 32. As a result, the fixing screw 33 is screwed into the screw hole 36, whereby the upper plate portion 32 is pushed down by the fixing screw 33, and the probe base 14 is sandwiched between and fixed to the lower plate portion 31. Yes. The contact surfaces of the lower plate portion 31 and the upper plate portion 32 are formed in a flat shape. Thus, the upper and lower side surfaces of the planar probe base 14 and the planar contact surfaces of the lower plate portion 31 and the upper plate portion 32 are brought into contact with each other and pressed against each other. As a result, the suspension base 23 can be fixed at an arbitrary position of the probe base 14.

サスペンションプレート25は、スライドブロック27を吊り下げた状態で支持するための部材である。サスペンションプレート25は、平板状に形成され、その基端側がサスペンションベース23の上側面に固定されている。これにより、サスペンションプレート25の先端側は、サスペンションベース23から張り出した状態になっている。スライドブロック27は、このサスペンションプレート25の張り出し部分に支持されている。   The suspension plate 25 is a member for supporting the slide block 27 in a suspended state. The suspension plate 25 is formed in a flat plate shape, and the base end side thereof is fixed to the upper side surface of the suspension base 23. Thereby, the front end side of the suspension plate 25 is in a state of protruding from the suspension base 23. The slide block 27 is supported by the projecting portion of the suspension plate 25.

スライド機構26は、サスペンションベース23に対してスライドブロック27をスライド可能に支持するための機構である。スライド機構26は、サスペンションベース23に縦方向へ向けて固定されたリニアガイドレール38と、このリニアガイドレール38にスライド可能に支持されたスライダ39によって構成されている。スライダ39は、スライドブロック27に固定されている。これにより、スライドブロック27が上下方向にスライド可能に支持されている。   The slide mechanism 26 is a mechanism for slidably supporting the slide block 27 with respect to the suspension base 23. The slide mechanism 26 includes a linear guide rail 38 that is fixed to the suspension base 23 in the vertical direction, and a slider 39 that is slidably supported by the linear guide rail 38. The slider 39 is fixed to the slide block 27. Thus, the slide block 27 is supported so as to be slidable in the vertical direction.

スライドブロック27は、その先端部(下端部)に弾性支持機構29を支持して、この弾性支持機構29を液晶パネル2に設定圧力で当接させるための部材である。スライドブロック27は、スライド機構26によって上下にスライド可能に支持されている。   The slide block 27 is a member for supporting an elastic support mechanism 29 at its tip (lower end) and bringing the elastic support mechanism 29 into contact with the liquid crystal panel 2 with a set pressure. The slide block 27 is supported by the slide mechanism 26 so as to be slidable up and down.

付勢機構28は、スライドブロック27を設定圧力で下方へ付勢するための機構である。この付勢機構28は、調整ネジ41と、支持用スプリング42とから構成されている。   The urging mechanism 28 is a mechanism for urging the slide block 27 downward with a set pressure. The urging mechanism 28 includes an adjustment screw 41 and a support spring 42.

調整ネジ41は、スライドブロック27の高さ(位置)を調整する高さ調整手段である。この調整ネジ41は、サスペンションプレート25のネジ穴43に挿入されている。ネジ穴43にはネジ山が設けられていない。これにより、調整ネジ41は、ネジ穴43に回転自在に挿入されている。調整ネジ41の先端部(下端部)は、スライドブロック27にねじ込まれている。これにより、調整ネジ41がスライドブロック27を設定位置で支持している。さらに、調整ネジ41を回転させることで、スライドブロック27の位置を調整できるようになっている。   The adjustment screw 41 is a height adjustment unit that adjusts the height (position) of the slide block 27. The adjustment screw 41 is inserted into the screw hole 43 of the suspension plate 25. The screw hole 43 is not provided with a thread. Thereby, the adjustment screw 41 is rotatably inserted into the screw hole 43. The tip (lower end) of the adjustment screw 41 is screwed into the slide block 27. Thereby, the adjustment screw 41 supports the slide block 27 at the set position. Furthermore, the position of the slide block 27 can be adjusted by rotating the adjustment screw 41.

支持用スプリング42は、調整ネジ41の両側に2つ設けられている。支持用スプリング42は、スライドブロック27に2つ設けられたスプリング穴45にそれぞれ挿入されている。支持用スプリング42は、スプリング穴45に挿入された状態で、その上端部がサスペンションプレート25側に当接されて、スライドブロック27を設定圧力で下方へ付勢するようになっている。サスペンションプレート25側には、スプリング穴45に対応する位置にスプリング穴46が設けられている。このスプリング穴46にはスプリング受け47が挿入されており、支持用スプリング42はこのスプリング受け47に当接してスライドブロック27を下方へ付勢している。スプリング受け47は、スプリング押さえ板48で固定されている。   Two supporting springs 42 are provided on both sides of the adjusting screw 41. The support springs 42 are respectively inserted into spring holes 45 provided in the slide block 27. When the support spring 42 is inserted into the spring hole 45, the upper end of the support spring 42 is brought into contact with the suspension plate 25, and the slide block 27 is urged downward with a set pressure. On the suspension plate 25 side, a spring hole 46 is provided at a position corresponding to the spring hole 45. A spring receiver 47 is inserted into the spring hole 46, and the support spring 42 abuts against the spring receiver 47 to urge the slide block 27 downward. The spring receiver 47 is fixed by a spring pressing plate 48.

これにより、調整ネジ41でスライドブロック27の位置が調整され、2つの支持用スプリング42でスライドブロック27が下方へ設定圧力で押圧されるようになっている。さらに、調整ネジ41でスライドブロック27の位置を上下させて支持用スプリング42の寸法を変えることで、付勢力を自由に設定できるようになっている。具体的には、調整ネジ41をねじ込んでスライドブロック27を上昇させて支持用スプリング42を縮めると、付勢力は強くなり、調整ネジ41を緩めてスライドブロック27を下降させて支持用スプリング42を伸ばすと、付勢力は弱くなる。これにより、弾性支持機構29の液晶パネル2への押圧力を自由に設定できるようになっている。このとき、弾性支持機構29の下端部と、プローブ18の下端部とが位置調整される。具体的には、プローブブロック15でプローブ18の上下方向の位置が調整されて、弾性支持機構29の下端部と、プローブ18の下端部とが位置調整されるようになっている。このとき、弾性支持機構29の下端部が、プローブ18の下端部よりも下側に位置するように設定されている。これにより、ワークテーブル9に支持された液晶パネル2がXYZθステージ8上昇されると、最初に弾性支持機構29が液晶パネル2に当接して変形して液晶パネル2をずれないように支持する。次いで、プローブ18が液晶パネル2の各端子に接触して検査が行われるようになっている。   Thereby, the position of the slide block 27 is adjusted by the adjusting screw 41, and the slide block 27 is pressed downward by the set pressure by the two support springs 42. Further, the biasing force can be freely set by changing the dimension of the support spring 42 by moving the position of the slide block 27 up and down with the adjusting screw 41. Specifically, when the adjustment screw 41 is screwed in to raise the slide block 27 and the support spring 42 is contracted, the urging force becomes stronger, the adjustment screw 41 is loosened and the slide block 27 is lowered to lower the support spring 42. When stretched, the biasing force becomes weaker. Thereby, the pressing force to the liquid crystal panel 2 of the elastic support mechanism 29 can be freely set. At this time, the lower end of the elastic support mechanism 29 and the lower end of the probe 18 are adjusted in position. Specifically, the vertical position of the probe 18 is adjusted by the probe block 15 so that the lower end of the elastic support mechanism 29 and the lower end of the probe 18 are adjusted. At this time, the lower end portion of the elastic support mechanism 29 is set to be positioned below the lower end portion of the probe 18. Thus, when the liquid crystal panel 2 supported by the work table 9 is raised, the elastic support mechanism 29 first contacts the liquid crystal panel 2 and deforms to support the liquid crystal panel 2 so as not to be displaced. Next, the probe 18 is in contact with each terminal of the liquid crystal panel 2 for inspection.

弾性支持機構29は、液晶パネル2を支持するための部材である。弾性支持機構29は、支持板部50と、弾性部材51とから構成されている。支持板部50は、弾性部材51を支持するための板材である。支持板部50は、スライドブロック27の下端部にネジ52で一体的に取り付けられている。撓まない支持板部50の先端部に、弾性的に変形する弾性部材51が取り付けられている。   The elastic support mechanism 29 is a member for supporting the liquid crystal panel 2. The elastic support mechanism 29 includes a support plate portion 50 and an elastic member 51. The support plate portion 50 is a plate material for supporting the elastic member 51. The support plate portion 50 is integrally attached to the lower end portion of the slide block 27 with a screw 52. An elastic member 51 that is elastically deformed is attached to the tip of the support plate 50 that does not flex.

弾性部材51は、液晶パネル2を固定して支持するための部材である。弾性部材51は、長方体状に形成され、支持板部50の先端部に取り付けられている。弾性部材51は、弾性を有すると共に摩擦係数の高い部材で構成されている。具体的には、シリコンゴム等の弾性体で構成されている。これにより、弾性部材51は、液晶パネル2の縁部の表面に当接して変形することで、広い面積で液晶パネル2に接触して、この液晶パネル2のずれを抑えて支持するようになっている。   The elastic member 51 is a member for fixing and supporting the liquid crystal panel 2. The elastic member 51 is formed in a rectangular shape and is attached to the distal end portion of the support plate portion 50. The elastic member 51 is composed of a member having elasticity and a high friction coefficient. Specifically, it is composed of an elastic body such as silicon rubber. As a result, the elastic member 51 comes into contact with the surface of the edge of the liquid crystal panel 2 and deforms, so that the elastic member 51 comes into contact with the liquid crystal panel 2 in a wide area, and supports the liquid crystal panel 2 while suppressing the displacement. ing.

以上のように構成された検査装置1の動作は次のようになっている。なお、検査装置1の全体的な動作は、通常の検査装置と同様であるため、ここでは、本願発明の特徴部分を中心に説明する。   The operation of the inspection apparatus 1 configured as described above is as follows. The overall operation of the inspection apparatus 1 is the same as that of a normal inspection apparatus, and therefore, here, the description will focus on the features of the present invention.

まず、位置ズレ防止機構16は、プローブベース14の任意位置に取り付けられる。具体的には、固定ネジ33が緩められて固定機構24の上側板部32が上昇され、プローブベース14への固定が解除される。次いで、位置ズレ防止機構16が任意の位置に移動されて、固定ネジ33がねじ込まれる。これにより、上側板部32が下方へ移動されて、プローブベース14をこの上側板部32と下側板部31とで上下両側から挟んで固定する。   First, the displacement prevention mechanism 16 is attached to an arbitrary position of the probe base 14. Specifically, the fixing screw 33 is loosened, the upper plate portion 32 of the fixing mechanism 24 is raised, and the fixing to the probe base 14 is released. Next, the displacement prevention mechanism 16 is moved to an arbitrary position, and the fixing screw 33 is screwed. As a result, the upper plate portion 32 is moved downward, and the probe base 14 is sandwiched and fixed between the upper plate portion 32 and the lower plate portion 31 from both the upper and lower sides.

検査過程においては、ワークテーブル9に液晶パネル2が載置され、XYZθステージ8でワークテーブル9が上昇されて、液晶パネル2にプローブユニット10が当接される。   In the inspection process, the liquid crystal panel 2 is placed on the work table 9, the work table 9 is raised by the XYZθ stage 8, and the probe unit 10 is brought into contact with the liquid crystal panel 2.

このとき、プローブユニット10のプローブ18と液晶パネル2の各端子とが整合するように位置調整されて互いに接触されるが、このとき、プローブ18の端子への接触とほぼ同時に、弾性支持機構29の弾性部材51が液晶パネル2の縁部に当接される。これにより、弾性部材51が変形しながら液晶パネル2の縁部に広い面積で接触して、弾性部材51が液晶パネル2を支持する。このとき、支持用スプリング42は、調整ネジ41でその押圧力が調整されており、弾性部材51が設定圧力で押されて大きな摩擦力で液晶パネル2の縁部を支持している。これと同時に、弾性部材51が、スライドブロック27を介して支持用スプリング42によって下方へ設定圧力で押圧されているため、弾性部材51は、液晶パネル2を大きな摩擦力で確実に支持して、液晶パネル2のずれを防止する。   At this time, the position of the probe 18 of the probe unit 10 and each terminal of the liquid crystal panel 2 are adjusted so as to be aligned with each other and contact each other. At this time, the elastic support mechanism 29 is almost simultaneously with the contact with the terminal of the probe 18. The elastic member 51 is brought into contact with the edge of the liquid crystal panel 2. Thereby, the elastic member 51 contacts the edge of the liquid crystal panel 2 over a wide area while deforming, and the elastic member 51 supports the liquid crystal panel 2. At this time, the pressing force of the supporting spring 42 is adjusted by the adjusting screw 41, and the elastic member 51 is pressed by the set pressure to support the edge of the liquid crystal panel 2 with a large frictional force. At the same time, since the elastic member 51 is pressed downward at a set pressure by the support spring 42 via the slide block 27, the elastic member 51 reliably supports the liquid crystal panel 2 with a large frictional force, The liquid crystal panel 2 is prevented from shifting.

この状態で、オペレータが液晶パネル2を手で押す。これにより、液晶パネル2は、その表面に垂直方向にずれるが、プローブ18の接触した端子の部分は位置ズレ防止機構16で確実に支持されて、ずれないようになっているため、プローブ18が液晶パネル2の各端子からずれるのを防止する。   In this state, the operator pushes the liquid crystal panel 2 by hand. As a result, the liquid crystal panel 2 is displaced in the direction perpendicular to the surface thereof, but the portion of the terminal in contact with the probe 18 is securely supported by the misalignment prevention mechanism 16 so that it does not shift. This prevents the terminals of the liquid crystal panel 2 from being displaced.

これにより、オペレータが液晶パネル2を手で押すことによる、点灯不具合を確実に防止することができる。この結果、点灯検査に対する信頼性を向上させることができる。   Thereby, it is possible to reliably prevent a lighting failure caused by the operator pressing the liquid crystal panel 2 by hand. As a result, the reliability with respect to the lighting inspection can be improved.

また、位置ズレ防止機構16は、任意の数を任意の位置に容易に取り付けることができるため、液晶パネル2を確実に支持することができる。   In addition, since any number of the misalignment prevention mechanisms 16 can be easily attached to any position, the liquid crystal panel 2 can be reliably supported.

さらに、位置ズレ防止機構16は、プローブベース14に容易に取り付けることができるため、既存の検査装置に対しても、そのまま用いることができる。   Furthermore, since the misalignment prevention mechanism 16 can be easily attached to the probe base 14, it can be used as it is for an existing inspection apparatus.

なお、前記実施形態では、位置ズレ防止機構16の固定機構24の上側板部32を下方へ押圧する手段として固定ネジ33を用いたが、ネジの変わりにレバーを用いても良い。即ち、レバーを倒すという1つの動作だけで上側板部32を下方へ押圧して簡単に固定でき、レバーを起こすという1つの動作だけで簡単に固定解除できる簡易固定機構を用いても良い。この簡易固定機構49は具体的には、図8に示すように、レバー55と、カム56と、押え棒57と、スプリング58とから構成される。   In the embodiment, the fixing screw 33 is used as means for pressing the upper plate portion 32 of the fixing mechanism 24 of the positional deviation prevention mechanism 16 downward. However, a lever may be used instead of the screw. That is, a simple fixing mechanism that can be simply fixed by pressing the upper plate portion 32 downward by only one operation of tilting the lever and can be easily released by only one operation of raising the lever may be used. Specifically, as shown in FIG. 8, the simple fixing mechanism 49 includes a lever 55, a cam 56, a presser bar 57, and a spring 58.

レバー55は、カム56を回動させるための棒材である。レバー55は、カム56に一体的に取り付けられている。カム56は、押え棒57を押し下げるための部材である。カム56は、レバー55と共に、支持板59に回転可能に支持されている。支持板59はカム56を挟んで2つサスペンションベース23に一体的に取り付けられている。レバー55とカム56とは設定角度で互いに連結されており、レバー55が回動されてサスペンションベース23に当接した状態で、固定されるようになっている。即ち、カム56は、スプリング58が押え棒57を押し上げる力によって図8中の右方向に自由に回転される状態(実線の状態)から、押え棒57の押し上げられる力によって図8中の左方向に回転される状態になったとき、レバー55がサスペンションベース23に当接してカム56が左方向に回転できず、固定されるようになっている。   The lever 55 is a bar for rotating the cam 56. The lever 55 is integrally attached to the cam 56. The cam 56 is a member for pushing down the presser bar 57. The cam 56 is rotatably supported on the support plate 59 together with the lever 55. Two support plates 59 are integrally attached to the suspension base 23 with the cam 56 interposed therebetween. The lever 55 and the cam 56 are connected to each other at a set angle, and are fixed in a state in which the lever 55 is rotated and is in contact with the suspension base 23. That is, the cam 56 is rotated freely in the right direction in FIG. 8 by the force by which the spring 58 pushes up the presser bar 57 (solid line state), and leftward in FIG. 8 by the force by which the presser bar 57 is pushed up. In this state, the lever 55 comes into contact with the suspension base 23 and the cam 56 cannot be rotated leftward and is fixed.

さらに、カム56の大きさ及びレバー55とカム56の角度は、レバー55がサスペンションベース23に当接したときに、上側板部32がプローブベース14に強い力で押圧されるように設定されている。これにより、レバー55が回動されてサスペンションベース23に当接したときに、カム56が押え棒57を押して上側板部32をプローブベース14に強い力で押圧してサスペンションベース23をプローブベース14に固定すると共に、カム56が図8中の左方向に回転される状態になって、レバー55がサスペンションベース23に当接した状態で、固定されるようになっている。   Further, the size of the cam 56 and the angle between the lever 55 and the cam 56 are set so that the upper plate portion 32 is pressed against the probe base 14 with a strong force when the lever 55 comes into contact with the suspension base 23. Yes. As a result, when the lever 55 is rotated and comes into contact with the suspension base 23, the cam 56 pushes the presser bar 57 and presses the upper plate portion 32 against the probe base 14 with a strong force, thereby pushing the suspension base 23 to the probe base 14. In addition, the cam 56 is rotated in the left direction in FIG. 8, and the lever 55 is fixed in a state where the lever 55 is in contact with the suspension base 23.

押え棒57は、サスペンションベース23のネジ穴36に昇降自在に通されて、上側板部32を支持するための部材である。押え棒57は、ネジ穴36に通された状態で昇降することで、上側板部32を上下に移動させるようになっている。押え棒57の上端にはフランジ部57Aが形成されている。このフランジ部57Aは、スプリング58で上方へ付勢された状態でカム56に当接して、このカム56で押し下げられるようになっている。スプリング58は、ネジ穴36に挿入された状態で、フランジ部57Aをその下側面から上方へ付勢するための部材である。このスプリング58は、フランジ部57Aを上方へ付勢することで、押え棒57に下端部に連結された上側板部32を上方へ持ち上げるようになっている。   The presser bar 57 is a member that is passed through the screw hole 36 of the suspension base 23 so as to be movable up and down and supports the upper plate part 32. The presser bar 57 is moved up and down while being passed through the screw hole 36 to move the upper plate part 32 up and down. A flange portion 57 </ b> A is formed at the upper end of the presser bar 57. The flange portion 57 </ b> A abuts on the cam 56 while being biased upward by the spring 58, and is pushed down by the cam 56. The spring 58 is a member for urging the flange portion 57 </ b> A upward from the lower side surface in a state where the spring 58 is inserted into the screw hole 36. The spring 58 urges the flange portion 57 </ b> A upward to lift the upper plate portion 32 connected to the presser bar 57 at the lower end portion upward.

この構成により、レバー55を立てることで(図8の実線の状態)、フランジ部57Aがスプリング58で上方へ押し上げられて、押え棒57の下端の上側板部32が上方へ押し上げられる。これにより、位置ズレ防止機構16の固定が解除される。   With this configuration, when the lever 55 is raised (the state of the solid line in FIG. 8), the flange portion 57A is pushed upward by the spring 58, and the upper plate portion 32 at the lower end of the presser bar 57 is pushed upward. Thereby, the fixing of the misalignment prevention mechanism 16 is released.

次いで、位置ズレ防止機構16をプローブベース14に対してずらして任意の位置に移動させ、レバー55を倒してサスペンションベース23に当接させるだけで、カム56がフランジ部57Aを押し下げて、押え棒57の下端の上側板部32をプローブベース14の上側面に押し付ける。   Subsequently, the cam 56 pushes down the flange portion 57A and moves the presser bar by simply moving the position prevention mechanism 16 with respect to the probe base 14 and moving it to an arbitrary position, and tilting the lever 55 to contact the suspension base 23. The upper plate portion 32 at the lower end of 57 is pressed against the upper surface of the probe base 14.

これと同時に、上側板部32がプローブベース14の上側面に押し付けられるときの反発力や、スプリング58の付勢力で、カム56が図8中の左回転方向に付勢されて、ロックされる。   At the same time, the cam 56 is urged counterclockwise in FIG. 8 by the repulsive force when the upper plate portion 32 is pressed against the upper side surface of the probe base 14 and the urging force of the spring 58 and locked. .

これにより、位置ズレ防止機構16をプローブベース14に容易に取り付けることができ、容易に固定することができるようになる。   As a result, the misalignment prevention mechanism 16 can be easily attached to the probe base 14 and can be easily fixed.

さらに、位置ズレ防止機構16は、プローブベース14に容易に取り付けることができるため、現場においてオペレータが必要な個数の位置ズレ防止機構16を容易に設置することができる。また、検査対象が変更されたとき、即ち、寸法の異なる液晶パネル2に変更されたときなど、液晶パネル2を支持する力を調整し直す必要が生じた場合でも、位置ズレ防止機構16の取り外しや追加が容易にできるため、現場においてオペレータが容易に対応することができるようになる。   Furthermore, since the misalignment prevention mechanism 16 can be easily attached to the probe base 14, the number of misalignment prevention mechanisms 16 required by the operator at the site can be easily installed. Further, even when it is necessary to readjust the force for supporting the liquid crystal panel 2 when the inspection object is changed, that is, when the liquid crystal panel 2 has a different size, the displacement prevention mechanism 16 is removed. Since it can be added easily, the operator can easily cope with the situation on site.

なお、簡易固定機構49においてスプリング58は、設けない場合もある。このスプリング58は、位置ズレ防止機構16をプローブベース14に対して付け替えるときに、押え棒57及び上側板部32を持ち上げるためのものであり、支障がなければ、スプリング58を設けない態様もあり得る。この場合、押え棒57のフランジ部57Aが挿入される凹部の深さを、押え棒57の上下動が小さくなるように設定し、上側板部32の外側端部(図8中の右側端部)の下側角部にテーパを付けて、上側板部32と下側板部31との間にプローブベース14が容易に嵌り込めるようにする。   Note that the spring 58 may not be provided in the simple fixing mechanism 49. The spring 58 is for lifting the presser bar 57 and the upper plate 32 when the displacement prevention mechanism 16 is replaced with respect to the probe base 14, and there is a mode in which the spring 58 is not provided if there is no problem. obtain. In this case, the depth of the recess into which the flange portion 57A of the presser bar 57 is inserted is set so that the vertical movement of the presser bar 57 is reduced, and the outer end portion of the upper plate portion 32 (the right end portion in FIG. 8). ) So that the probe base 14 can be easily fitted between the upper plate portion 32 and the lower plate portion 31.

また、前記実施形態では、スライドブロック27の高さ調整手段として調整ネジ41を用いたが、レバーで調整するようにしても良い。即ち、レバーを倒したり起こしたりするだけでスライドブロック27の高さを容易に調整できる簡易高さ調整手段54を設けても良い。この簡易高さ調整手段54は具体的には、図9,10に示すように、レバー61と、カム62と、円筒体63と、スプリング64とから構成する。ここで、レバー61とカム62は、前記レバー55及びカム56と同様の機能を有する。円筒体63は、調整ネジ41を上下に移動させるための部材である。円筒体63は、ネジ穴43に上下動可能に装着されて、調整ネジ41を支持している。スプリング64は、円筒体63を上方へ付勢するための部材である。スプリング64は、ネジ穴43の底部と円筒体63との間に装着されて、円筒体63を上方へ付勢している。   Moreover, in the said embodiment, although the adjustment screw 41 was used as a height adjustment means of the slide block 27, you may make it adjust with a lever. That is, simple height adjusting means 54 that can easily adjust the height of the slide block 27 by simply tilting or raising the lever may be provided. Specifically, as shown in FIGS. 9 and 10, the simple height adjusting means 54 includes a lever 61, a cam 62, a cylindrical body 63, and a spring 64. Here, the lever 61 and the cam 62 have the same functions as the lever 55 and the cam 56. The cylindrical body 63 is a member for moving the adjustment screw 41 up and down. The cylindrical body 63 is mounted in the screw hole 43 so as to be movable up and down and supports the adjustment screw 41. The spring 64 is a member for biasing the cylindrical body 63 upward. The spring 64 is mounted between the bottom of the screw hole 43 and the cylindrical body 63 and urges the cylindrical body 63 upward.

この構成により、レバー61を上方へ回動させると、カム62が図9中の実線の状態になって、円筒体63がスプリング64で押し上げられ、スライドブロック27が上方へ移動される。また、レバー61を下方へ回動させてサスペンションプレート25に当接させると、カム62が図9中の点線の状態になって、円筒体63を押し下げられ、スライドブロック27が下方へ移動される。   With this configuration, when the lever 61 is rotated upward, the cam 62 is in the state of the solid line in FIG. 9, the cylindrical body 63 is pushed up by the spring 64, and the slide block 27 is moved upward. Further, when the lever 61 is rotated downward and brought into contact with the suspension plate 25, the cam 62 is in the state of the dotted line in FIG. 9, the cylindrical body 63 is pushed down, and the slide block 27 is moved downward. .

このとき、カム62の寸法、形状は、スライドブロック27の移動量に合わせて設定される。   At this time, the size and shape of the cam 62 are set in accordance with the amount of movement of the slide block 27.

これにより、容易にスライドブロック27の高さを調整することができるようになる。   Thereby, the height of the slide block 27 can be easily adjusted.

さらに、スライドブロック27の高さを容易に調整できるため、高く上げて作用状態とし、下げて液晶パネル2を支持する作用状態とすることもできる。この2つの状態を容易に切り替えることができるため、複数の位置ズレ防止機構16をプローブベース14の任意の位置にそれぞれ取り付けておいて、任意の位置の位置ズレ防止機構16を選択的に使用して液晶パネル2を支持するようにしても良い。これにより、液晶パネル2を支持する力を容易に調整することができる。また、液晶パネル2の寸法が変わっても、容易に対応することができる。作用状態と作用状態の位置は複数設定しても良い。即ち、レバー61の角度を複数段階に調整してスライドブロック27の高さを複数設定し、スライドブロック27を複数段階に位置調整するようにしてもよい。   Furthermore, since the height of the slide block 27 can be easily adjusted, the slide block 27 can be raised to the working state and lowered to the working state for supporting the liquid crystal panel 2. Since these two states can be easily switched, a plurality of positional deviation prevention mechanisms 16 are respectively attached to arbitrary positions of the probe base 14, and the positional deviation prevention mechanisms 16 at arbitrary positions are selectively used. The liquid crystal panel 2 may be supported. Thereby, the force which supports the liquid crystal panel 2 can be adjusted easily. Moreover, even if the dimensions of the liquid crystal panel 2 change, it can be easily handled. A plurality of action states and positions of action states may be set. That is, the angle of the lever 61 may be adjusted in a plurality of stages to set a plurality of heights of the slide block 27, and the position of the slide block 27 may be adjusted in a plurality of stages.

なお、ここでは、簡易高さ調整手段54を、レバー61と、カム62と、円筒体63と、スプリング64とから構成したが、リンク機構で構成しても良い。即ち、レバー61をリンク機構でスライドブロック27に連結しても良い。この場合、レバー61を起こせば、リンク機構で直接連結されたスライドブロック27が、レバー61の回動に連動して上がって待機状態になり、レバー61を倒せば、スライドブロック27が下がって作用状態になる。レバー61を倒した状態での角度は正確に制御され、弾性部材51が液晶パネル2の縁部に確実に当接されるように設定される。通常、レバー61がサスペンションプレート25の上側面に当接した状態で、レバー61が固定されて弾性部材51が液晶パネル2の縁部に当接するように設定される。また、レバー61を倒した設定角度で確実に固定できるように、既存のレバー固定手段を組み込んでもよい。この場合も、レバー61の角度を複数段階に調整してスライドブロック27の高さを複数設定し、スライドブロック27の待機状態及び作用状態の位置を複数段階に調整するようにしてもよい。   Here, the simple height adjusting means 54 is configured by the lever 61, the cam 62, the cylindrical body 63, and the spring 64, but may be configured by a link mechanism. That is, the lever 61 may be connected to the slide block 27 by a link mechanism. In this case, if the lever 61 is raised, the slide block 27 that is directly connected by the link mechanism is lifted in conjunction with the rotation of the lever 61 and enters a standby state. If the lever 61 is tilted, the slide block 27 is lowered. It becomes a state. The angle in a state where the lever 61 is tilted is accurately controlled, and is set so that the elastic member 51 is surely brought into contact with the edge of the liquid crystal panel 2. Normally, the lever 61 is fixed and the elastic member 51 is set to contact the edge of the liquid crystal panel 2 in a state where the lever 61 is in contact with the upper side surface of the suspension plate 25. Further, an existing lever fixing means may be incorporated so that the lever 61 can be reliably fixed at a set angle where the lever 61 is tilted. Also in this case, the angle of the lever 61 may be adjusted in a plurality of steps to set a plurality of heights of the slide block 27, and the standby state and the action state of the slide block 27 may be adjusted in a plurality of steps.

また、前記各変形例では、前記レバー55とレバー61とを個別に設けた例を説明したが、両方とも同時に設けても良いことは言うまでもない。   Moreover, although the said each modification demonstrated the example which provided the said lever 55 and the lever 61 separately, it cannot be overemphasized that both may be provided simultaneously.

本発明は、プローブブロック15のプローブ18を液晶パネル2の各端子に接触させて検査するときの、液晶パネル2のずれを防止するための位置ズレ防止機構16を備えた点に特徴があるため、プローブブロック15やプローブ18等の構造や形状等は問わない。種々のプローブブロック15、プローブ18を備えた種々の検査装置1に対して、位置ズレ防止機構16を適用することができる。   The present invention is characterized in that it includes a misalignment prevention mechanism 16 for preventing displacement of the liquid crystal panel 2 when the probe 18 of the probe block 15 is in contact with each terminal of the liquid crystal panel 2 for inspection. The structure and shape of the probe block 15 and the probe 18 are not limited. The misalignment prevention mechanism 16 can be applied to various inspection apparatuses 1 including various probe blocks 15 and probes 18.

1:検査装置、2:液晶パネル、4:モニタ、5:ローダ部、6:検査部、8:XYZθステージ、9:ワークテーブル、10:プローブユニット、11:バックライト、12:ワークテーブルベース、14:プローブベース、15:プローブブロック、16:位置ズレ防止機構、18:プローブ、20:支持部、21:プローブ組立体、23:サスペンションベース、24:固定機構、25:サスペンションプレート、26:スライド機構、27:スライドブロック、28:付勢機構、29:弾性支持機構、31:下側板部、32:上側板部、33:固定ネジ、35:スペーサ部、36:ネジ穴、38:リニアガイドレール、39:スライダ、41:調整ネジ、42:支持用スプリング、43:ネジ穴、45:スプリング穴、46:スプリング穴、47:スプリング受け、48:スプリング押さえ板、49:簡易固定機構、50:支持板部、51:弾性部材、54:簡易高さ調整手段、55:レバー、56:カム、57:押え棒、57A:フランジ部、58:スプリング、59:支持板、61:レバー、62:カム、63:円筒体、64:スプリング。   1: inspection device, 2: liquid crystal panel, 4: monitor, 5: loader unit, 6: inspection unit, 8: XYZθ stage, 9: work table, 10: probe unit, 11: backlight, 12: work table base, 14: Probe base, 15: Probe block, 16: Position shift prevention mechanism, 18: Probe, 20: Support part, 21: Probe assembly, 23: Suspension base, 24: Fixing mechanism, 25: Suspension plate, 26: Slide Mechanism: 27: Slide block, 28: Biasing mechanism, 29: Elastic support mechanism, 31: Lower plate part, 32: Upper plate part, 33: Fixing screw, 35: Spacer part, 36: Screw hole, 38: Linear guide Rail, 39: Slider, 41: Adjustment screw, 42: Spring for support, 43: Screw hole, 45: Spring hole, 46: Spring Hole: 47: spring support, 48: spring pressing plate, 49: simple fixing mechanism, 50: support plate, 51: elastic member, 54: simple height adjusting means, 55: lever, 56: cam, 57: presser Rod, 57A: flange portion, 58: spring, 59: support plate, 61: lever, 62: cam, 63: cylindrical body, 64: spring.

Claims (9)

検査対象板を検査する検査装置において、
前記検査対象板に接触して検査信号を印可するプローブユニットを備え、
当該プローブユニットが、装置のフレーム側に固定されるプローブベースと、基端が当該プローブベースに支持され、先端に備えたプローブを前記検査対象板の各端子に臨ませて正確に位置決めして支持するプローブブロックと、前記検査対象板を支持してこの検査対象板のズレを防止する位置ズレ防止機構とを備え、
前記位置ズレ防止機構が、前記検査対象板に当接して当該検査対象板を弾性的に支持する弾性支持機構と、当該弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で付勢する付勢機構と、全体を支持するサスペンションベースと、当該サスペンションベースを前記プローブベースの任意の位置に直接取り付けて固定する固定機構と、スライド機構によって前記サスペンションベースにスライド可能に支持されると共に先端部に前記弾性支持機構を支持してこの弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で当接させるスライドブロックとを備えたことを特徴とする検査装置。
In the inspection device that inspects the inspection target plate,
A probe unit that applies an inspection signal in contact with the inspection object plate,
The probe unit is fixed to the frame side of the device, and the base end is supported by the probe base, and the probe provided at the tip faces each terminal of the inspection object plate and is accurately positioned and supported. A probe block, and a displacement prevention mechanism that supports the inspection object plate and prevents displacement of the inspection object plate,
An elastic support mechanism for elastically supporting the inspection target plate by abutting on the inspection target plate, and a biasing mechanism for urging the elastic support mechanism to the inspection target plate with a set pressure; A suspension base that supports the whole, a fixing mechanism that directly attaches and fixes the suspension base to an arbitrary position of the probe base, and a slide mechanism that is slidably supported by the suspension base and that is elastically supported at the distal end. An inspection apparatus comprising: a slide block that supports the mechanism and causes the elastic support mechanism to abut against the inspection object plate with a set pressure .
請求項1に記載の検査装置において、
前記付勢機構が、前記スライドブロックの位置を調整する調整ネジと、前記スライドブロックを設定圧力で付勢する支持用スプリングとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1 ,
2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the urging mechanism includes an adjustment screw that adjusts the position of the slide block and a support spring that urges the slide block with a set pressure.
請求項1に記載の検査装置において、
前記固定機構が、前記プローブベースに下側から当接する下側板部と、前記プローブベースに上側から当接する上側板部と、前記上側板部を前記プローブベースに押し付けて前記サスペンションベースを前記プローブベースに固定する固定ネジとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1 ,
The fixing mechanism includes a lower plate portion that comes into contact with the probe base from below, an upper plate portion that comes into contact with the probe base from above, and the upper plate portion that presses the probe base against the probe base so that the suspension base is moved to the probe base. An inspection apparatus comprising a fixing screw for fixing to an inspection device.
請求項1に記載の検査装置において、
前記固定機構が、前記サスペンションベースを前記プローブベースに簡単に固定、固定解除できる簡易固定機構によって構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1 ,
The inspection apparatus, wherein the fixing mechanism is constituted by a simple fixing mechanism capable of easily fixing and releasing the suspension base to and from the probe base.
請求項4に記載の検査装置において、
前記簡易固定機構が、前記プローブベースに下側から当接する下側板部と、前記プローブベースに上側から当接する上側板部と、前記上側板部を前記プローブベースに押し付けて前記サスペンションベースを前記プローブベースに固定するカムと、当該カムを回動させるレバーとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 4 ,
The simple fixing mechanism includes a lower plate portion that comes into contact with the probe base from the lower side, an upper plate portion that comes into contact with the probe base from the upper side, and presses the upper plate portion against the probe base so that the suspension base is moved to the probe base. An inspection apparatus comprising a cam fixed to a base and a lever for rotating the cam.
請求項1に記載の検査装置において、
前記スライドブロックに接続されて、当該スライドブロックの高さを調整する簡易高さ調整手段をさらに設けたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1 ,
An inspection apparatus further comprising a simple height adjusting means connected to the slide block for adjusting the height of the slide block.
請求項1に記載の検査装置において、
前記付勢機構が、前記スライドブロックの位置を調整するカムと、当該カムを回動させるレバーと、前記スライドブロックを設定圧力で付勢する支持用スプリングとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1 ,
The biasing mechanism includes a cam that adjusts the position of the slide block, a lever that rotates the cam, and a support spring that biases the slide block with a set pressure. Inspection device to do.
請求項1に記載の検査装置において、
前記位置ズレ防止機構が、全体を支持するサスペンションベースと、当該サスペンションベースを前記プローブベースの任意の位置に直接取り付けて固定する固定機構と、スライド機構によって前記サスペンションベースにスライド可能に支持されると共に先端部に前記弾性支持機構を支持してこの弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で当接させるスライドブロックと、当該スライドブロックの先端部に支持されて前記検査対象板に当接して当該検査対象板を弾性的に支持する弾性支持機構と、リンク機構で前記スライドブロックに連結されて少なくとも待機状態と作用状態の2箇所の位置に高さを調整する簡易高さ調整手段とを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 1,
The misalignment prevention mechanism is supported by the suspension base by a suspension base that supports the whole, a fixing mechanism that directly attaches and fixes the suspension base to an arbitrary position of the probe base, and a slide mechanism that is slidable. A slide block that supports the elastic support mechanism at the front end portion and makes the elastic support mechanism contact the inspection target plate with a set pressure, and is supported by the front end portion of the slide block and contacts the inspection target plate. An elastic support mechanism that elastically supports the inspection target plate; and a simple height adjustment unit that is connected to the slide block by a link mechanism and adjusts the height to at least two positions of a standby state and an action state. An inspection apparatus characterized by being configured.
請求項8に記載の検査装置において、
前記簡易高さ調整手段が、回動させて前記スライドブロックの高さを調整するレバーと、当該レバーを前記スライドブロックに連結するリンク機構とを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
The inspection apparatus according to claim 8 , wherein
The inspection apparatus, wherein the simple height adjusting means includes a lever that rotates to adjust the height of the slide block, and a link mechanism that connects the lever to the slide block.
JP2009173516A 2009-07-24 2009-07-24 Inspection device Active JP5289224B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009173516A JP5289224B2 (en) 2009-07-24 2009-07-24 Inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009173516A JP5289224B2 (en) 2009-07-24 2009-07-24 Inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011027995A JP2011027995A (en) 2011-02-10
JP5289224B2 true JP5289224B2 (en) 2013-09-11

Family

ID=43636817

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009173516A Active JP5289224B2 (en) 2009-07-24 2009-07-24 Inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5289224B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107957635B (en) * 2017-12-11 2024-04-09 苏州精濑光电有限公司 Macroscopic detection equipment with probe pressfitting

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09281001A (en) * 1996-04-08 1997-10-31 Nippon Maikuronikusu:Kk Liquid crystal display panel inspection equipment
JP3428855B2 (en) * 1997-04-16 2003-07-22 株式会社エンプラス Socket for electrical components
JP2002040383A (en) * 2000-07-19 2002-02-06 Display Technologies Inc Inspection tool for liquid crystal display device
JP2006023139A (en) * 2004-07-07 2006-01-26 Micronics Japan Co Ltd LCD panel inspection equipment
JP2008185570A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Micronics Japan Co Ltd Probe unit and inspection device
JP5193506B2 (en) * 2007-06-06 2013-05-08 株式会社日本マイクロニクス Probe unit and inspection device
JP5046764B2 (en) * 2007-07-09 2012-10-10 株式会社日本マイクロニクス Probe assembly
JP2009162692A (en) * 2008-01-09 2009-07-23 Micronics Japan Co Ltd Probe device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011027995A (en) 2011-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4860242B2 (en) Probe device
CN102232190A (en) Probe card
JP3715160B2 (en) Probing apparatus and semiconductor device manufacturing method
KR102033886B1 (en) Contating socket for display panel test jig
JP5826466B2 (en) Probe card parallel adjustment mechanism and inspection device
JP5137336B2 (en) Movable probe unit mechanism and electrical inspection device
KR100664777B1 (en) Parts mounting device and parts mounting method
KR102149703B1 (en) Variable width inspection apparatus according to size of display panel
TWI389229B (en) Probe card adjustment mechanism and probe device
JP5289224B2 (en) Inspection device
KR100995811B1 (en) Probe unit for fine positioning of the probe
KR20240156351A (en) Testing apparatus and testing method
JP7476926B2 (en) Inspection fixture
KR101014780B1 (en) Probe unit
JP4246010B2 (en) Inspection device
KR101212649B1 (en) Probe Unit and Inspection Apparatus
KR100862887B1 (en) Flatness control assembly, electrical inspection apparatus comprising the same and flatness control method using the same
JP3110608B2 (en) Display panel inspection equipment
KR20010091982A (en) Socket for inspecting display panel
JP2006019537A (en) Probe device
JP4385403B2 (en) IC handler device
JP2012083156A (en) Probe unit and checkup apparatus
JP2008101938A (en) Inspection device
JP2627393B2 (en) Display panel prober
KR101000750B1 (en) Clamp Stage

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120608

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130510

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130528

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130604

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5289224

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250