JP5325848B2

JP5325848B2 - 光パルス試験装置および光伝送路試験方法

Info

Publication number: JP5325848B2
Application number: JP2010181282A
Authority: JP
Inventors: 達幸牧; 治山下
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2010-08-13
Filing date: 2010-08-13
Publication date: 2013-10-23
Anticipated expiration: 2030-08-13
Also published as: JP2012042231A; US8781264B2; US20120038909A1; CN102374930B; CN102374930A

Description

本発明は、光パルスを試験対象の光ファイバからなる光伝送路に入射し、その戻り光を受光して、光伝送路の試験を行う光パルス試験装置に関し、特に、試験対象の光伝送路のファイバの種類がシングルモードファイバ（ＳＭＦ）であってもマルチモードファイバ（ＭＭＦ）であっても光学系を含むハードウエアを変更することなしに試験できるようにするための技術に関する。

光伝送路を形成している光ファイバには、伝送損失が小さく長距離伝送に適したＳＭＦと、伝送損失は比較的大きいが安価で近距離伝送に適したＭＭＦとがある。

光ファイバは、コア部の周囲をより屈折率の小さいクラッド部で囲む同軸構造を有し、コア部に入射された光をクラッド部との境界部分で反射（あるいは屈折）させてその長さ方向に伝搬させるものであり、ＳＭＦは、コア部を通過する際の伝搬モード（通り道）が１つとなるように細い（一般に９．２μｍ）コアを有しており、ＭＭＦは、伝搬モードが複数となるように太い（一般的に５０μｍ、６２．５μｍ）コアを有している。

一方、光ファイバによる伝送路の試験を行うための光パルス試験装置は、図５に示すように、光源１１から出射された光パルスＰｉｎを、光カプラ１２を介してコネクタ１３に与え、コネクタ１３に接続された試験対象の光伝送路１に入射し、その光伝送路１からの戻り光（後方散乱光やフレネル反射光）Ｐｒを、コネクタ１３および光カプラ１２を介して受光器１４に入射させ、光パルスＰｉｎの入射タイミングから受光器１４で受光される戻り光Ｐｒの強度のデータを一定時間連続的に取得し、その取得データから、光伝送路１の障害発生の有無などを調べている。

ところで、上記したように、光伝送路１を形成している光ファイバは、遠距離伝搬用にはＳＭＦが使用され、近距離伝搬用にはＭＭＦが用いられているが、従来の光パルス試験装置では、そのコア径の違いにより、単一の試験装置でＳＭＦからなる光伝送路とＭＭＦからなる光伝送路の試験を行うことができなかった。

例えば、ＳＭＦ測定用の光パルス試験装置の場合、コネクタ１３の光ファイバのコアの接続部は、ＳＭＦのコア径に適したものに設計されており、このコネクタ１３に、コア径が格段に太いＭＭＦを接続した場合、光パルスの入射時には小さいコア径から大きいコア径への入射となって大きな損失は発生しないが、ＭＭＦからの戻り光には、大きいコア径から小さいコア径への入射となって無視できない損失が発生する。

逆に、ＭＭＦ測定用の光パルス試験装置の場合、コネクタ１３の光ファイバのコアの接続部は、ＭＭＦのコア径に適したものに設計されているので、このコネクタ１３にコア径が格段に細いＳＭＦを接続した場合には、光パルスをＳＭＦに入射する際に無視できない損失が発生する。

この種の問題を解決する技術として、ＭＭＦ測定用の光パルス試験装置において、出射光を低次モード励振することで、ＭＭＦからＳＭＦへの光入射時の損失を減少させ、さらに出射光の偏光を変化させることで、光路変換素子（上記光カプラ１２に相当）の偏光依存性による受光強度の揺らぎを防止するものが知られている（例えば、特許文献１）。

特開昭６３−１４２２３０号公報

しかしながら、上記技術は、基本的にＭＭＦ用の光パルス試験装置にＳＭＦの試験機能を付加したものであり、故障による被害が大きい長距離伝送用のＳＭＦの障害試験の精度という点で十分ではなかった。

また、試験装置内のファイバに機械的な力を連続的に与えている構造であり、構造が複雑で耐久性に問題があった。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、長距離伝送に用いるＳＭＦ用のものでありながら、ＭＭＦを用いた光伝送路の試験が簡易な構成で行える光パルス試験装置および光伝送路試験方法を提供することを目的としている。

前記目的を達成するために、本発明の請求項１の光パルス試験装置は、
光パルスを出射する光源（２１）と、
試験対象の光伝送路を接続するためのコネクタ（２３）と、
受光器（２５）と、
前記光源から出射された光パルスを受けて前記コネクタへ出射し、該コネクタに接続された光伝送路からの戻り光を前記コネクタを介して受け、前記受光器に入射する光カプラ（２２）と、
操作部（４０）と、
表示部（５０）と、
前記受光器の出力を受け、前記光源から光パルスが出射されたタイミングから前記受光器に入射される戻り光の強度のデータを連続的に取得し、該データと前記操作部によって指定された試験用パラメータとに基づいて、試験対象の光伝送路の距離に対する伝送特性を求めて前記表示部に表示する信号処理部（３０）とを有する光パルス試験装置において、
前記光源から前記光カプラまでの間、該光カプラから前記コネクタまでの間および前記光カプラから前記受光器までの間がそれぞれシングルモードファイバからなる光路（Ｆａ〜Ｆｃ）によって接続され、
前記信号処理部は、
試験対象の光伝送路の光ファイバの種類を、シングルモードファイバ、マルチモードファイバのいずれかに指定させるファイバ種類指定手段（３１ａ）と、
前記ファイバ種類指定手段によってシングルモードファイバが指定されたとき、該シングルモードファイバの屈折率を含み、該シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させるＳＭＦパラメータ指定手段（３１ｂ）と、
前記ファイバ種類指定手段によってマルチモードファイバが指定されたとき、該マルチモードファイバの屈折率を含み、該マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させるＭＭＦパラメータ指定手段（３１ｃ）とを含み、
前記シングルモードファイバが指定された時には、前記戻り光の強度データと前記ＳＭＦパラメータ指定手段によって指定された屈折率を含むパラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて前記表示部に表示し、前記マルチモードファイバが指定された時には、前記戻り光の強度データと前記ＭＭＦパラメータ指定手段によって指定された屈折率を含むパラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて前記表示部に表示するように構成され、
さらに、前記信号処理部には、
前記コネクタに対する試験対象の光伝送路の接続損失を求め、該接続損失が予め設定された許容範囲にあるか否かを判定する接続確認手段（３７）と、
前記接続確認手段が判定に用いる許容範囲を、前記ファイバ種類指定手段によって指定される光ファイバの違いに応じてシフトする許容範囲シフト手段（３８）とが設けられていることを特徴とする。

また、本発明の請求項２の光伝送路試験方法は、
試験対象の光伝送路を接続する段階と、
該光伝送路に対応した試験用パラメータを指定する段階と、
光パルスを前記光伝送路に出射する段階と、
前記光伝送路からの戻り光を受光する段階と、
前記光パルスが出射されたタイミングから前記戻り光の強度データを連続的に取得する段階と、
該強度データと前記試験用パラメータとに基づいて、前記光伝送路の距離に対する伝送特性を求めて表示する段階とを有する光伝送路試験方法において、
前記出射する段階は、前記光パルスをシングルモードファイバからなる光路を介して前記光伝送路に出射するようになっており、
前記受光する段階は、前記戻り光をシングルモードファイバからなる光路を介して受光するようになっており、
前記指定する段階は、
前記光伝送路の光ファイバの種類を、シングルモードファイバ、マルチモードファイバのいずれかに指定する段階と、
前記光ファイバの種類にシングルモードファイバが指定されたとき、該シングルモードファイバの屈折率を含み、該シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定する段階と、
前記光ファイバの種類にマルチモードファイバが指定されたとき、該マルチモードファイバの屈折率を含み、該マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定する段階とを含み、
前記表示する段階は、
前記シングルモードファイバが指定されたときには、前記戻り光の強度データと前記指定された屈折率を含む前記シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要な前記パラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて表示し、前記マルチモードファイバが指定されたときには、前記戻り光の強度データと前記指定された屈折率を含む前記マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要な前記パラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて表示するようになっており、
さらに、前記表示する段階は、
前記光伝送路の接続部における接続損失を求め、該接続損失が予め設定された許容範囲にあるか否かを判定する段階と、
前記判定に用いる許容範囲を、前記指定される光ファイバの違いに応じてシフトする段階とを含むことを特徴とする。

このように、本発明の光パルス試験装置および光伝送路試験方法は、試験対象の光伝送路を構成するファイバとしてシングルモードファイバが指定された場合には、光源から光伝送路に至る全光路にわたってシングルモードで光を伝搬させるので、長い距離の伝送路の障害検出を正確に行うことができ、しかも、試験対象の光伝送路を構成するファイバとしてマルチモードファイバが指定された場合であっても、そのマルチモードファイバの屈折率を含む試験に必要なパラメータを専用に設定できるので、マルチモードファイバからなる光伝送路の試験もハードウエアを何ら切り替えることなく行うことができる。

また、光伝送路の接続部における接続異常を調べている場合でも、指定されるファイバの種類に応じて、接続確認の判定基準となる許容範囲をシフトさせているから、コア径の違いによる損失があっても光伝送路の接続異常を正しく判定することができる。

本発明の実施形態の全体構成図実施形態のデータ取得の方法を説明するための図実施形態の測定結果の表示波形の一例を示す図コネクタ部分の損失を示す図光パルス試験装置の基本構成図

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した光パルス試験装置２０の全体構成図である。

図１に示しているように、光パルス試験装置波２０は、試験用の所定波長（例えば１５５０μｍ）、所定パルス幅の光パルスＰｉｎを、例えば半導体レーザからなる光源２１から所定周期で出射する。なお、光源２１が光パルスＰｉｎを出射するタイミング、周期、パルス幅は、後述する信号処理部３０によって設定されるものとする。

この光パルスＰｉｎは、シングルモードファイバ（ＳＭＦ）からなるＳＭＦ光路Ｆａを介して光カプラ２２に入射される。

光カプラ２２は、光源２１から出射された光パルスＰｉｎを受けて、ＳＭＦ光路Ｆｂを介してコネクタ２３へ出射し、そのコネクタ２３に接続された試験対象の光伝送路１へ光パルスＰｉｎを入射させ、その光パルスＰｉｎに対する光伝送路１からの戻り光Ｐｒ（フレネル反射光および後方散乱光）を、コネクタ２３およびＳＭＦ光路Ｆｂを介して受け、光パルスＰｉｎが入射される方向と異なる方向に出射し、ＳＭＦ光路Ｆｃを介して受光器２５に入射する。

受光器２５の出力信号は、増幅器２６によって増幅されてＡ／Ｄ変換器２７に入力され、所定のサンプリング周期でサンプリングされ、デジタルのデータ値Ｄに変換され、信号処理部３０に入力される。

信号処理部３０は、光源２１から光パルスＰが出射されたタイミングから、受光器２５に入射される戻り光Ｐｒの強度のデータＤを一定時間連続的に取得して図示しないメモリに記憶し、その記憶した一連のデータＤと、操作部４０によって予め指定された試験用パラメータとに基づいて、試験対象の光伝送路１の距離に対する伝送特性を求め、その特性を表示部５０に表示する。

ここで、信号処理部３０は、試験条件設定手段３１、データ取得手段３２、波形合成手段３３、時間・距離換算手段３４、特性表示手段３５、イベント検出手段３６、接続確認手段３７、許容範囲シフト手段３８を有している。

試験条件設定手段３１は、試験に必要な情報（測定対象のファイバ種や得座に必要なパラメータ）を操作部４０の操作によりユーザーに設定させるためのものであり、ファイバ種類指定手段３１ａ、ＳＭＦパラメータ指定手段３１ｂ、ＭＭＦパラメータ指定手段３１ｃを有している。

ファイバ種類指定手段３１ａは、試験対象の光伝送路１の光ファイバの種類をシングルモードファイバ（ＳＭＦ）、マルチモードファイバ（ＭＭＦ）のいずれかに指定させる。

ＳＭＦパラメータ指定手段３１ｂは、ファイバ種類指定手段３１ａによりＳＭＦが指定されたとき、そのＳＭＦの屈折率を含み、ＳＭＦを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させる。ＭＭＦパラメータ指定手段３１ｃも同様に、ファイバ種類指定手段３１ａによりＭＭＦが指定されたとき、そのＭＭＦの屈折率を含み、ＭＭＦを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させる。

これらのパラメータとしては、ファイバの屈折率、単位距離当たりのファイバ損失の規格値、伝送路の障害等の有無を判別するための損失のしきい値（イベントロス）、コネクタ２３部分の接続異常の有無を判別するための損失の許容範囲およびＳＭＦとＭＭＦのコア径の違いより発生する損失分ΔＬなどである。

データ取得手段３２は、光パルスＰｉｎを出射したタイミングから一定時間が経過するまでの間、Ａ／Ｄ変換器２７でサンプリングされたデータＤを図示しないメモリに記憶させるが、このデータ取得は、増幅器２６の利得を段階的に可変しながら光パルスを複数回出力して行う。

即ち、測定対象の光伝送路１の近端からの強い戻り光と遠端からの弱い戻り光の強度の比が大きい（例えば１００００倍以上）のに対し、例えば１０ビットのＡ／Ｄ変換器２７の出力ダイナミックレンジは１０００倍程度であり、単一レンジでは対応できない。

このため、例えば近傍域からの強い戻り光のデータを正しく得る場合には、Ａ／Ｄ変換器２７の入力側の利得を低くした状態（例えば３ｄＢ）で、光パルス入射時から一定時間経過するまでＡ／Ｄ変換器２７の出力を連続的に取得する。図２の（ａ）はこの近傍領域のデータＤａがＡ／Ｄ変換器２７の入力レンジにあって、且つノイズに埋もれていない状態を示している。

また、中間域の戻り光のデータを正しく得る場合には、Ａ／Ｄ変換器２７の入力側の利得をやや高くした状態（例えば１３ｄＢ）で、光パルス入射時から一定が経過するまでＡ／Ｄ変換器２７の出力を取得する。図２の（ｂ）はこの中間域のデータＤｂがＡ／Ｄ変換器２７の入力レンジにあって、且つノイズに埋もれていない状態を示している。

また、遠端域からの弱い戻り光のデータを正しく得る場合には、Ａ／Ｄ変換器２７の入力側の利得をさらに高くした状態（例えば２３ｄＢ）で、光パルス入射時から一定が経過するまでＡ／Ｄ変換器２７の出力を取得する。図２の（ｃ）はこの遠端域のデータＤｃがＡ／Ｄ変換器２７の入力レンジにあって、且つノイズに埋もれていない状態を示している。

なお、この例では、理解しやすいように３段階としたが、より多くの段階で利得を可変させてもよい。また、実際にはデータ平均化のために利得毎に複数回のデータ取得を行う。

このようにして利得毎の各波形データが得られた後、波形合成手段３３は、それらの波形データから飽和あるいはノイズに埋もれて不正確となっているデータを除いた正しいデータを抽出して、それぞれの利得分を補正（レベル軸のログ変換も行う）して時間軸上に組合せて近端から遠端までの波形を合成する。

この合成された波形は、時間軸上で定義されたものであり、伝送特性としては障害発生位置を特定するために時間軸から距離軸への変換が必要となる。

即ち、特性表示に必要な距離は、光速をｃ（ｍ／秒）、光パルス出射時からの時間をｔ（秒）、光伝送路１（光ファイバ）の屈折率をIORとすると、ｃ×ｔ／（２×IOR）で表される。

時間・距離換算手段３４は、この換算式に、前記したＳＭＦパラメータ指定手段３１ｂあるいはＭＭＦパラメータ指定手段３１ｃによって指定された屈折率を与えることで、いずれのファイバを用いた光伝送路に対しても、その特性波形の正しい距離軸を求める。

特性表示手段３５は、上記合成波形と換算された距離情報とに基づいて、試験対象の伝送路１の特性を、表示部５０の画面上に例えば図３のように表示する。

また、イベント検出手段３６は、上記のようにして得られた特性波形のデータから、予め指定されたイベントロスを超える損失が発生している位置（前後のデータの差分がしきい値を超えている位置）を検出し、これらの位置を例えば特性波形上に識別表示し、その損失をイベント位置に対応付けして一覧表示する（なお損失以外にフレネル反射によって戻り光強度が増加している位置もイベントとして検出する場合もある）。

また、接続確認手段３７は、コネクタ２３に試験対象の伝送路１が正しく接続されているか否かを調べるものであり、図４のように、特性波形の入力端における損失Ｌｉｎを調べ、その損失Ｌｉｎが予め指定された許容範囲にあるか否かを判定し、許容範囲に無いときには例えばアラーム情報を表示部５０に表示して、ユーザにこれを知らせる。

ここで、接続確認手段３７が判定に用いる許容範囲は、前記した試験条件設定手段３１において指定されたパラメータに含まれており、試験対象としてＳＭＦからなる伝送路が指定された場合、光源２１からコネクタ２３に至る光路はＳＭＦで形成されているので、コネクタ接続状態に異常がなければ、接続部分で発生する損失は小さく、上記許容範囲も比較的少ない値を中心に設定することができる。逆に、試験対象としてＭＭＦからなる伝送路が指定された場合、光源２１からコネクタ２３に至る光路はＳＭＦで形成されているので、コネクタ接続状態に異常がなくても、コア径の違いにより接続部分で無視できない損失が発生する。

許容範囲シフト手段３８は、このファイバの違いによる損失に対応できるように、ＭＭＦが指定されたときに接続確認手段３７が用いる許容範囲を、ＳＭＦとＭＭＦのコア系の違いによって発生する損失値ΔＬ分だけ低い方にシフトさせる。なお、この損失値ΔＬは、平均的なＳＭＦとＭＭＦのコア系の違いによって発生する損失値が初期設定されていて、ユーザが変更設定できるようになっている。

このように構成されているから、実施形態の光パルス試験装置２０は、試験対象の光伝送路１がＳＭＦからなる場合には、シングルモードによる光を伝搬させることで、長い距離の伝送路の障害検出を正確に行うことができ、しかも、試験対象の光伝送路１がＭＭＦからなる場合であっても、そのＭＭＦの屈折率を含む試験用のパラメータを専用に設定できるので、そのＭＭＦからなる光伝送路の試験も、光学系を含むハードウエアを何ら変更することなく行うことができる。

また、接続確認手段３７によってコネクタ２３に対する接続異常を調べている場合でも、指定されるファイバの種類に応じて、接続確認の判定基準となる許容範囲をシフトさせているから、コア径の違いによる損失があってもコネクタに対する接続異常を正しく判定することができる。

なお、上記光パルス試験装置２０によって行われる光伝送路試験方法は、上記説明から明らかなように、試験対象の光伝送路１をコネクタ２３に接続する段階と、その光伝送路１に対応した試験用パラメータを試験条件設定手段３１により指定する段階と、光パルスＰｉｎを光伝送路１に出射する段階と、光伝送路１からの戻り光Ｐｒを受光する段階と、光パルスＰｉｎが出射されたタイミングから戻り光Ｐｒの強度データＤを連続的に取得する段階と、取得した強度データと試験用パラメータとに基づいて、光伝送路１の距離に対する伝送特性を求めて表示する段階とを有し、光パルスＰｉｎをシングルモードファイバからなる光路（Ｆａ、Ｆｂ）を介して光伝送路１に出射し、戻り光Ｐｒをシングルモードファイバからなる光路（Ｆｂ、Ｆｃ）を介して受光するようになっており、基本的にはシングルモードファイバからなる光伝送路の試験に適したものとなっている。

ただし、パラメータを指定する段階として、ファイバ種類指定手段３１ａにより、光伝送路１の光ファイバの種類を、シングルモードファイバ、マルチモードファイバのいずれかに指定させ、光ファイバの種類にシングルモードファイバが指定されたとき、ＳＭＦパラメータ指定手段３１ｂにより、そのシングルモードファイバの屈折率を含み、そのシングルモードファイバを用いた光伝送路１の試験に必要なパラメータを指定させ、光ファイバの種類にマルチモードファイバが指定されたとき、ＭＭＦパラメータ指定手段３１ｃにより、そのマルチモードファイバの屈折率を含み、そのマルチモードファイバを用いた光伝送路１の試験に必要なパラメータを指定させる。

そして、光伝送路の特性を求めて表示する段階では、シングルモードファイバが指定されたときには、戻り光の強度データと指定された屈折率を含むシングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータとによって、距離に対する光伝送路１の伝送特性を求めて表示し、マルチモードファイバが指定されたときには、戻り光の強度データと指定された屈折率を含むマルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータとによって、距離に対する光伝送路１の伝送特性を求めて表示している。

したがって、前記したように、試験対象の光伝送路１がＳＭＦからなる場合には、シングルモードによる光を伝搬させることで、長い距離の伝送路の障害検出を正確に行うことができ、しかも、試験対象の光伝送路１がＭＭＦからなる場合であっても、そのＭＭＦの屈折率を含む試験用のパラメータを専用に設定できるので、そのＭＭＦからなる光伝送路の試験も、光学系を含むハードウエアを何ら変更することなく行うことができる。

また、伝送特性を表示する際に、接続確認手段３７により、光伝送路１の接続部における接続損失を求め、接続損失が予め設定された許容範囲にあるか否かを判定する段階を含むものにおいては、許容範囲シフト指定手段３８により、その判定に用いる許容範囲を、指定される光ファイバの違いに応じてシフトしているので、コア径の違いによる損失があっても光伝送路の接続部での接続異常を正しく判定することができる。

１……試験対象の光伝送路、２０……光パルス試験装置、２１……光源、２２……光カプラ、２３……コネクタ、２５……受光器、２６……増幅器、２７……Ａ／Ｄ変換器、３０……信号処理部、３１……試験条件設定手段、３１ａ……ファイバ種類指定手段、３１ｂ……ＳＭＦパラメータ指定手段、３１ｃ……ＭＭＦパラメータ指定手段、３２……データ取得手段、３３……波形合成手段、３４……時間・距離換算手段、３５……特性表示手段、３６……イベント検出手段、３７……接続確認手段、３８……許容範囲シフト手段、４０……操作部、５０……表示部、Ｆａ〜Ｆｃ……ＳＭＦ光路

Claims

光パルスを出射する光源（２１）と、
試験対象の光伝送路を接続するためのコネクタ（２３）と、
受光器（２５）と、
前記光源から出射された光パルスを受けて前記コネクタへ出射し、該コネクタに接続された光伝送路からの戻り光を前記コネクタを介して受け、前記受光器に入射する光カプラ（２２）と、
操作部（４０）と、
表示部（５０）と、
前記受光器の出力を受け、前記光源から光パルスが出射されたタイミングから前記受光器に入射される戻り光の強度のデータを連続的に取得し、該データと前記操作部によって指定された試験用パラメータとに基づいて、試験対象の光伝送路の距離に対する伝送特性を求めて前記表示部に表示する信号処理部（３０）とを有する光パルス試験装置において、
前記光源から前記光カプラまでの間、該光カプラから前記コネクタまでの間および前記光カプラから前記受光器までの間がそれぞれシングルモードファイバからなる光路（Ｆａ〜Ｆｃ）によって接続され、
前記信号処理部は、
試験対象の光伝送路の光ファイバの種類を、シングルモードファイバ、マルチモードファイバのいずれかに指定させるファイバ種類指定手段（３１ａ）と、
前記ファイバ種類指定手段によってシングルモードファイバが指定されたとき、該シングルモードファイバの屈折率を含み、該シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させるＳＭＦパラメータ指定手段（３１ｂ）と、
前記ファイバ種類指定手段によってマルチモードファイバが指定されたとき、該マルチモードファイバの屈折率を含み、該マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定させるＭＭＦパラメータ指定手段（３１ｃ）とを含み、
前記シングルモードファイバが指定された時には、前記戻り光の強度データと前記ＳＭＦパラメータ指定手段によって指定された屈折率を含むパラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて前記表示部に表示し、前記マルチモードファイバが指定された時には、前記戻り光の強度データと前記ＭＭＦパラメータ指定手段によって指定された屈折率を含むパラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて前記表示部に表示するように構成され、
さらに、前記信号処理部には、
前記コネクタに対する試験対象の光伝送路の接続損失を求め、該接続損失が予め設定された許容範囲にあるか否かを判定する接続確認手段（３７）と、
前記接続確認手段が判定に用いる許容範囲を、前記ファイバ種類指定手段によって指定される光ファイバの違いに応じてシフトする許容範囲シフト手段（３８）とが設けられていることを特徴とする光パルス試験装置。
試験対象の光伝送路を接続する段階と、
該光伝送路に対応した試験用パラメータを指定する段階と、
光パルスを前記光伝送路に出射する段階と、
前記光伝送路からの戻り光を受光する段階と、
前記光パルスが出射されたタイミングから前記戻り光の強度データを連続的に取得する段階と、
該強度データと前記試験用パラメータとに基づいて、前記光伝送路の距離に対する伝送特性を求めて表示する段階とを有する光伝送路試験方法において、
前記出射する段階は、前記光パルスをシングルモードファイバからなる光路を介して前記光伝送路に出射するようになっており、
前記受光する段階は、前記戻り光をシングルモードファイバからなる光路を介して受光するようになっており、
前記指定する段階は、
前記光伝送路の光ファイバの種類を、シングルモードファイバ、マルチモードファイバのいずれかに指定する段階と、
前記光ファイバの種類にシングルモードファイバが指定されたとき、該シングルモードファイバの屈折率を含み、該シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定する段階と、
前記光ファイバの種類にマルチモードファイバが指定されたとき、該マルチモードファイバの屈折率を含み、該マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要なパラメータを指定する段階とを含み、
前記表示する段階は、
前記シングルモードファイバが指定されたときには、前記戻り光の強度データと前記指定された屈折率を含む前記シングルモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要な前記パラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて表示し、前記マルチモードファイバが指定されたときには、前記戻り光の強度データと前記指定された屈折率を含む前記マルチモードファイバを用いた光伝送路の試験に必要な前記パラメータとによって、距離に対する前記光伝送路の伝送特性を求めて表示するようになっており、
さらに、前記表示する段階は、
前記光伝送路の接続部における接続損失を求め、該接続損失が予め設定された許容範囲にあるか否かを判定する段階と、
前記判定に用いる許容範囲を、前記指定される光ファイバの違いに応じてシフトする段階とを含むことを特徴とする光伝送路試験方法。