JP5329449B2 - 顕微鏡イメージングを実行する方法 - Google Patents
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Description
本出願は、2009年1月26日に出願された米国仮特許出願番号61/147,190号の優先権を主張する。
および
Claims (10)
- 周波数変調を使用する顕微鏡イメージングを実行する方法であって、
第1の広帯域範囲の光学周波数成分を含む第1のパルス列を提供する段階と、
第2の光学周波数を含む第2のパルス列を提供して、前記第1の広帯域範囲の周波数成分と前記第2の光学周波数との1組の差が、焦点体積内の試料の振動周波数と共鳴し、前記第2のパルス列が、前記第1のパルス列と同期されるようにする段階と、
前記第1の広帯域範囲の周波数成分の少なくともいくつかの周波数成分の光学特性をスペクトル的に修正して、試料から対象のスペクトル特徴を明確に検査しかつ前記試料から対象でない特徴からの情報を減少させるように成形される、成形された第1のパルス列を提供する段階と、
前記成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の一方の光学特性を、変調パルス列を提供する変調周波数で変調し、かつ前記成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の他方を非変調パルス列として提供する段階と、
前記変調パルス列と前記非変調パルス列を共通焦点体積の方に導き集束させる段階と、
前記変調パルス列を遮断することによって前記共通焦点体積内を透過または反射された前記非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の積分強度を検出する段階と、
前記共通焦点体積内の前記非変調パルス列と前記変調パルス列との非線形干渉により前記非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の前記積分強度の前記変調周波数での変調を検出する段階と、
前記第1のパルス列の前記広帯域範囲の周波数成分の少なくとも更に他の周波数成分の光学特性を更にスペクトル的に修正して更に成形された第1のパルス列を提供して、前記試料から前記対象スペクトル特徴と干渉する試料からのスペクトル特徴を明確に検査する段階と、
前記焦点体積内の前記更に成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の前記非線形干渉による前記非変調パルス列の実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出された変調を、前記焦点体積内の前記最初に成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の前記非線形干渉による非変調パルス列の実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出した変調から減算する段階と、
前記差を顕微鏡イメージング・システム用の画像の画素の信号として提供する段階と、
を含む方法。 - 少なくともいくつかの周波数成分の光学特性をスペクトル的に修正する前記段階と、前記成形された第1のパルス列と前第2のパルス列の一方の光学特性を変調して変調パルス列を提供する段階が、同じ装置によって実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記第1のパルス列の前記広帯域範囲の周波数成分の少なくとも更に他の周波数成分の光学特性を更にスペクトル的に修正する前記段階が、得られた実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出された変調を、前記非変調パルス列の実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出された変調から減算する段階の前に、スキャン領域全体に実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記第1のパルス列の前記広帯域範囲の周波数成分の少なくとも更に他の周波数成分の光学特性をスペクトル的に更に修正する前記段階と、得られた実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出された変調を、非変調パルス列の実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記検出された変調から減算する前記段階が、1つの画素に実行され、その後で次の画素がレーザ・スキャンされる、請求項1に記載の方法。
- 前記成形された第1のパルス列の前記広帯域範囲の周波数成分の少なくともいくつかの周波数成分の光学特性をスペクトル的に修正する前記段階が、振幅変調を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記成形された第1のパルス列の前記広帯域範囲の周波数成分の少なくともいくつかの周波数成分の光学特性をスペクトル的に修正する前記段階が、偏光変調を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記方法は、様々な変調周波数における様々なスペクトル・マスクを提供する段階と、前記様々な変調周波数に同調された複数のロックイン検出器を使用して複数の対象パルス列を検出して、複数の化学種が同時に検査されるようにする段階とを含む、請求項1に記載の方法。
- 顕微鏡イメージングを実行する方法であって、
a)第1の広帯域範囲の光学周波数成分を含む第1のパルス列を提供する段階と、
b)第2の光学周波数成分を含む第2のパルス列を提供して、前記第1の広帯域範囲の周波数成分と前記第2の光学周波数成分との1組の差が、焦点体積内の試料の振動周波数と共鳴し、前記第2のパルス列が前記第1のパルス列と同期されるようにする段階と、
c)前記第1の広帯域範囲の周波数成分の少なくともいくつかの周波数成分の光学特性をスペクトル的に修正して、前記第1のパルス列を成形し、成形された第1のパルス列を提供して試料から対象スペクトル特徴を検査するようにする段階と、
d)前記成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の一方の特性を変調周波数で変調して、変調パルス列を提供しかつ前記成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の他方を非変調パルス列として提供する段階と、
e)前記変調パルス列と前記非変調パルス列を共通焦点体積の方に導き集束させる段階と、
f)前記変調パルス列を遮断することによって、前記共通焦点体積内で透過または反射された前記非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の積分強度を検出する段階と、
g)前記共通焦点体積内の前記変調パルス列と前記非変調パルス列との非線形干渉による前記非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の前記積分強度の変調を前記変調周波数で検出する段階と、
h)前記第1の広帯域範囲の周波数成分の少なくともいくつかの周波数成分の光学特性を更にスペクトル的に変調して、前記第1のパルス列を、負に成形し、負に成形された第1のパルス列が提供され、前記試料から前記対象スペクトル特徴と干渉する試料からのスペクトル特徴が明確に検査されるようにする段階と、
i)前記負に成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の一方の特性を、更に他の変調パルス列を提供する変調周波数で変調して、前記成形された第1のパルス列と前記第2のパルス列の他方を更に他の非変調パルス列として提供する段階と、
j)前記更に他の変調パルス列と更に他の非変調パルス列を共通焦点体積の方に導き集束させる段階と、
k)前記更に他の変調パルス列を遮断することによって、前記共通焦点体積内で透過または反射された変調周波数で、更に他の非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の積分強度の変調を検出する段階と、
l)前記段階g)で検出された実質的にすべての前記光学周波数成分の前記積分強度の前記変調から、共通焦点体積内の前記更に他の変調パルス列と前記更に他の非変調パルス列の前記非線形干渉による前記更に他の非変調パルス列の実質的にすべての光学周波数成分の前記積分強度の変調を減算して差分信号を得る段階と、
m)前記差分信号に応じて前記顕微鏡イメージング・システム用の画像を提供する段階と、
を含む方法。 - 前記段階a)〜m)がそれぞれ、顕微鏡イメージング・システムにおける各画素に実行され、その後で前記段階a)〜m)がそれぞれ別の画素に実行される、請求項8に記載の方法。
- 前記段階a)〜g)がそれぞれ、顕微鏡イメージング・システムにおける各画素に実行され、その後で前記段階h)〜m)がそれぞれ各画素に実行される、請求項8に記載の方法。
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