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JP5370085B2 - Substrate processing equipment - Google Patents
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JP5370085B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To readily obtain the state of a substrate processing apparatus that is used for manufacturing a substrate of a printed wiring board or the like; and to prevent decrease in operating rate of production facility by performing maintenance of the facility in a proper timely manner. <P>SOLUTION: The substrate processing apparatus includes: a means for carrying a substrate at a predetermined speed; a spray wand to which multiple spray nozzles are attached; a pump that supplies a processing liquid to the spray wand; and a pressure indicator provided at an optional position of a flow path in the pump and spray wand, and at an end point of the spray wand. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、各種電子機器等に使用される基板の処理装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate processing apparatus used in various electronic devices and the like.

近年、各種電子機器等に数多く使用されているプリント配線板は電子機器の小型化や多機能化に伴い、配線の高密度化とともに高い信頼性が要求されるようになってきている。   2. Description of the Related Art In recent years, printed wiring boards that are widely used in various electronic devices and the like have been required to have high reliability along with higher wiring density as electronic devices have become smaller and more multifunctional.

したがって以下に、従来のプリント配線板等の導体パターン形成に用いられる現像装置やエッチング装置、あるいは写真現像型のソルダレジストに用いられる現像装置等の製造装置においても、配線の高密度化に対応しうる装置構成が求められてきた。   Therefore, in the following, the development apparatus and etching apparatus used for forming a conductive pattern such as a conventional printed wiring board, or the manufacturing apparatus such as a development apparatus used for a photographic development type solder resist, can cope with higher wiring density. There has been a need for a device configuration that can be used.

以下に、従来の基板の処理装置、特にプリント配線板のエッチング装置について説明する。   Hereinafter, a conventional substrate processing apparatus, particularly a printed wiring board etching apparatus will be described.

図2は従来のプリント配線板の製造装置としてのエッチング装置の概略を示すものである。図2において、21はスプレーノズル、22はスプレー管、23は圧力計、24はポンプ、25はフィルター、26は送りローラー、27はバルブ、28はエッチングブース、29は基板である。   FIG. 2 shows an outline of an etching apparatus as a conventional printed wiring board manufacturing apparatus. In FIG. 2, 21 is a spray nozzle, 22 is a spray tube, 23 is a pressure gauge, 24 is a pump, 25 is a filter, 26 is a feed roller, 27 is a valve, 28 is an etching booth, and 29 is a substrate.

以上のように構成されたエッチング装置におけるプリント配線板のエッチング方法について、以下に説明する。   A method for etching a printed wiring board in the etching apparatus configured as described above will be described below.

まず、所定の大きさに切断された銅張積層板(図示せず)にスクリーン印刷法や写真法などによりエッチングレジストを形成した基板29をエッチングブース28内に基板の進行方向に対して平行またはある角度に配管された上面側および下面側のスプレー管22の間に送りローラー26上で所定の速度で搬送し、上下面に塩化第2銅などの処理液としてのエッチング液をスプレーノズル21から吹き付けてエッチングレジスト非形成部分の露出した銅を溶解し、導体パターンを得る。   First, a substrate 29 in which an etching resist is formed on a copper-clad laminate (not shown) cut to a predetermined size by a screen printing method, a photographic method, or the like is parallel to the traveling direction of the substrate in the etching booth 28 or Between the upper surface side and the lower surface side spray tube 22 piped at a certain angle, it is conveyed on the feed roller 26 at a predetermined speed, and an etching liquid as a processing liquid such as cupric chloride is applied from the spray nozzle 21 to the upper and lower surfaces. By spraying, the exposed copper in the portion where the etching resist is not formed is dissolved to obtain a conductor pattern.

その後、エッチングレジストの剥離や水洗・乾燥などの工程を経て銅張積層板より導体パターンを形成している。   Thereafter, a conductor pattern is formed from the copper clad laminate through processes such as peeling of the etching resist, washing with water, and drying.

なお、従来のプリント配線板の製造装置としての現像装置の構成の概要も上記のエッチング装置と同様である。   The outline of the configuration of the developing device as a conventional printed wiring board manufacturing apparatus is the same as that of the etching apparatus.

なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば特許文献1が知られている。   For example, Patent Document 1 is known as prior art document information related to the invention of this application.

特開平4−264793号公報JP-A-4-264793

上記に説明したように一般のエッチング装置は、エッチングブース内のエッチング液等の処理液中の異物を除去するために、ポンプ24とスプレー管22との間にフィルター25を備えている。そのフィルター25内に異物が充満し、一定限度を越えると圧力計の表示は下降する。   As described above, the general etching apparatus includes the filter 25 between the pump 24 and the spray tube 22 in order to remove foreign substances in the processing liquid such as the etching liquid in the etching booth. When the filter 25 is filled with foreign matter and exceeds a certain limit, the pressure gauge display is lowered.

一方、スプレーノズル21に異物が詰まった場合、圧力計23の圧力は上昇するが、エッチング液の流量は減少する。   On the other hand, when the spray nozzle 21 is clogged with foreign matter, the pressure of the pressure gauge 23 increases, but the flow rate of the etching solution decreases.

圧力のみで管理している場合は、圧力計23の表示を下げるためバルブ27を閉める方向に調整することとなるが、このとき益々基板上に吹き付けられる流量は減少してしまう、という相反する条件を設定してしまう可能性が生じる。   When the pressure is managed only by pressure, the valve 27 is adjusted to be closed in order to lower the display of the pressure gauge 23. At this time, the contradictory condition that the flow rate sprayed onto the substrate is gradually reduced. May be set.

さらに、スプレーノズル21に異物が詰まったうえに、フィルター25内にも異物が充満している状態が同時に発生した場合は、スプレーノズル21に異物が詰まることによる圧力の上昇傾向と、フィルター25内に異物が充満することによる圧力の下降傾向が均衡状態となって相殺され、圧力計23の表示は当初の正確な設定と同じ値を示す可能性がある。この場合、実際にはスプレーノズル21の詰まりによる流量の減少と、フィルター25の詰まりによる流量の減少により、基板上に吹き付けられるエッチング液の流量は著しく減少し、極端な場合は、銅の厚みを充分にエッチングするためのエッチング液の流量に達せず、銅残りの現象を生じてしまう可能性もある。   Furthermore, when the spray nozzle 21 is clogged with foreign matter and the filter 25 is also filled with foreign matter at the same time, the pressure rises due to the foreign matter clogging the spray nozzle 21, There is a possibility that the downward trend of the pressure due to the filling of foreign matter will be balanced out and canceled out, and the display of the pressure gauge 23 may show the same value as the initial accurate setting. In this case, the flow rate of the etching solution sprayed on the substrate is significantly reduced due to the decrease in the flow rate due to the clogging of the spray nozzle 21 and the decrease in the flow rate due to the clogging of the filter 25. In an extreme case, the thickness of the copper is reduced. There is a possibility that the flow rate of the etching solution for sufficient etching is not reached and a phenomenon of remaining copper occurs.

上記のような状況を防ぐため、従来は、フィルター25の定期的な点検と交換を行い、スプレーノズル21の清掃を行ってきた。   In order to prevent the above situation, the filter 25 has been regularly inspected and replaced, and the spray nozzle 21 has been cleaned.

しかしながら、一般にプリント配線板のエッチング液は40〜50℃の高温の状態で使用しかつ人体に有害な物質であり、スプレーノズル21の取り外し取り付け作業は極めて困難かつ危険を伴うものである。   However, in general, an etching solution for a printed wiring board is a substance that is used at a high temperature of 40 to 50 ° C. and is harmful to the human body, so that the operation for removing and attaching the spray nozzle 21 is extremely difficult and dangerous.

そこでエッチング液を一旦20〜25℃の常温に下げ、作業を行ってきたが、スプレーノズル21の詰まりを生産中に確認することは困難であり、とりあえず全てのスプレーノズル21の取り外し取り付け作業を行っていた。そのため作業効率が悪く設備メンテナンスに長時間を要し、生産設備の稼働率の低下を招いていた。   Therefore, the etching solution has been once lowered to room temperature of 20 to 25 ° C., and the operation has been performed. However, it is difficult to check the clogging of the spray nozzle 21 during production, and for the time being, all the spray nozzles 21 are removed and attached. It was. For this reason, the work efficiency is poor and it takes a long time for equipment maintenance, leading to a reduction in the operating rate of the production equipment.

本発明は上記従来の問題点を解決するもので、製造装置の製造コスト高騰を招くことなく簡便かつ普及が容易な基板の処理装置を提供するものであり、これによりプリント配線板等の製造装置としての処理装置の状態を容易に把握することができ、適切なタイミングで設備メンテナンスを行うことにより生産設備の稼働率の低下を防ぐとともに、処理不足による銅残り等品質上の問題を解決し、高密度・高精度のプリント配線板等の基板を歩留りよく生産することを目的とするものである。   The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and provides a substrate processing apparatus that is simple and easy to spread without causing an increase in manufacturing cost of the manufacturing apparatus, and thereby a manufacturing apparatus for printed wiring boards and the like. Can easily grasp the state of the processing equipment as well as prevent the decline in the operating rate of production equipment by performing equipment maintenance at an appropriate timing, and solve quality problems such as copper residue due to insufficient processing, The purpose is to produce a high-density, high-precision printed wiring board or the like with a high yield.

この目的を達成するために本発明は、基板を所定の速度で搬送する手段と、スプレーノズルを複数個取り付けたスプレー管と、処理液を前記スプレー管に供給するポンプとを備え、前記ポンプと前記スプレー管との流路の任意の位置と、スプレー管の終点の位置に圧力計を備えた基板の処理装置を用いることである。   In order to achieve this object, the present invention comprises means for transporting a substrate at a predetermined speed, a spray pipe having a plurality of spray nozzles attached thereto, and a pump for supplying a treatment liquid to the spray pipe. It is to use a substrate processing apparatus provided with a pressure gauge at an arbitrary position of a flow path with the spray tube and at an end point of the spray tube.

この構成により、プリント配線板等の基板の製造に用いる処理装置の状態を容易に把握することができ、適切なタイミングで設備メンテナンスを行うことにより生産設備の稼働率の低下を防ぐことができる。   With this configuration, it is possible to easily grasp the state of a processing apparatus used for manufacturing a substrate such as a printed wiring board, and it is possible to prevent a reduction in the operating rate of the production facility by performing facility maintenance at an appropriate timing.

また、製造装置のコスト上昇を防ぐのみならず、始点と終点を含むスプレー管全域の圧力を把握し管理することにより、スプレー圧力を重要な製造条件とする基板の処理の品質を保つことができ、プリント配線板等の基板の品質上の問題を解決し、高密度・高精度の基板を歩留りよく生産することができる。   In addition to preventing the cost of manufacturing equipment from increasing, it is possible to maintain the quality of substrate processing with spray pressure as an important manufacturing condition by grasping and managing the pressure across the entire spray tube, including the start and end points. It is possible to solve the problem of the quality of the substrate such as a printed wiring board and to produce a high density and high accuracy substrate with a high yield.

本発明の実施の形態における基板の処理装置の概略図Schematic of a substrate processing apparatus in an embodiment of the present invention 従来の基板の処理装置の概略図Schematic diagram of conventional substrate processing equipment

(実施の形態)
まず、本発明の実施の形態における基板の処理装置としてのエッチング装置について説明する。
(Embodiment)
First, an etching apparatus as a substrate processing apparatus in an embodiment of the present invention will be described.

本発明の実施の形態におけるエッチング装置の構成は、上面および下面からの両面同時にエッチングできるものであり、上面と下面の構成は基本的に同じである。   The structure of the etching apparatus according to the embodiment of the present invention is such that both surfaces from the upper surface and the lower surface can be etched simultaneously, and the structures of the upper surface and the lower surface are basically the same.

また、スプレーノズル、スプレーノズルを複数個取り付けて配管されたスプレー管、処理液をスプレー管に供給するポンプ、および基板を所定の速度で搬送する手段としての送りローラー、処理ブースとしてのエッチングブース等の構成は、従来と同様である。したがって、本実施の形態においては本発明の特徴のみを図面を用いて以下に説明する。   Also, spray nozzles, spray pipes that are installed with a plurality of spray nozzles, pumps that supply processing liquid to the spray pipes, feed rollers as means for transporting the substrate at a predetermined speed, etching booths as processing booths, etc. The configuration of is the same as the conventional one. Therefore, in the present embodiment, only features of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本実施の形態における基板の処理装置の概略図である。   FIG. 1 is a schematic diagram of a substrate processing apparatus in the present embodiment.

図1に示すように、本実施の形態における基板の処理装置の構成は、スプレーノズル1を複数個取り付けて配管された上面用のスプレー管2と、処理液を前記スプレー管2に供給するポンプ4と、ポンプ4とスプレー管2との流路の任意の位置に設けた圧力計3a、3bと、スプレー管の終点の位置に設けた圧力計3cとを備えている。   As shown in FIG. 1, the structure of the substrate processing apparatus in the present embodiment includes a spray pipe 2 for an upper surface provided with a plurality of spray nozzles 1 and a pipe, and a pump for supplying a processing liquid to the spray pipe 2. 4, pressure gauges 3 a and 3 b provided at arbitrary positions in the flow path between the pump 4 and the spray pipe 2, and a pressure gauge 3 c provided at the end point position of the spray pipe.

本実施の形態においては、複数のスプレー管2の個々の流路の任意の位置として圧力計3b、3cを設けた。   In the present embodiment, pressure gauges 3b and 3c are provided as arbitrary positions of individual flow paths of the plurality of spray tubes 2.

また、上記の圧力計3bは、スプレー管上の処理液の供給始点の位置であり、圧力計3dは、スプレー管上の処理液の供給始点の位置と、スプレー管の終点との間の位置である。   The pressure gauge 3b is the position of the treatment liquid supply start point on the spray tube, and the pressure gauge 3d is a position between the position of the treatment liquid supply start point on the spray tube and the end point of the spray tube. It is.

上記の圧力計3dは、それぞれのスプレー管上に単独のみで設置することも可能であるが、供給始点とスプレー管の終点との間の複数の位置に、圧力計の取り付け箇所を複数備え、夫々の位置に圧力計3dを備えた構造とすることもできる。これにより配管の長いスプレー管の状態を管理するうえで好都合である。   The above-mentioned pressure gauge 3d can be installed alone on each spray pipe, but includes a plurality of pressure gauge attachment points at a plurality of positions between the supply start point and the end point of the spray pipe, It can also be set as the structure provided with the pressure gauge 3d in each position. This is convenient for managing the state of the long spray pipe.

さらに、スプレー管2の終点の位置に備えた圧力計3cは、一定圧力に達した時点で、基板の処理装置の制御装置(図示せず)または警報装置(図示せず)へ信号を送信する手段を備えることが望ましい。   Further, the pressure gauge 3c provided at the position of the end point of the spray tube 2 transmits a signal to a control device (not shown) or an alarm device (not shown) of the substrate processing apparatus when a certain pressure is reached. It is desirable to provide means.

また、後述するスプレー管のスプレーノズルの状態のみを確認するために、ポンプ4とスプレー管2との流路の間に設けられたフィルター5に平行してポンプ4とスプレー管2との流路にフィルター5を介さないバイパス6の流路とバルブ7bを設けることが望ましい。   In addition, in order to confirm only the state of the spray nozzle of the spray pipe, which will be described later, the flow path between the pump 4 and the spray pipe 2 in parallel with the filter 5 provided between the flow path between the pump 4 and the spray pipe 2. It is desirable to provide the flow path of the bypass 6 and the valve 7b without the filter 5 therebetween.

以上のように構成された基板の処理装置について、実施事例を以下に説明する。   Examples of the substrate processing apparatus configured as described above will be described below.

(1)まず、フィルター5とスプレーノズル1を共に新品に交換したとき、あるいはフィルター5を新品に交換し、スプレーノズル1の穴詰まりの除去、清掃を終了したときにおけるスプレー管2の圧力を確認する。具体的には処理液をスプレー管2に供給するポンプ4を作動させたときにおける、供給始点とスプレー管の圧力計3bと終点の圧力計3cの表示を確認する。   (1) First, when the filter 5 and the spray nozzle 1 are both replaced with new ones, or when the filter 5 is replaced with a new one and the clogging of the spray nozzles 1 is removed and cleaning is finished, the pressure of the spray pipe 2 is confirmed. To do. Specifically, the display of the supply start point, the pressure gauge 3b of the spray pipe, and the pressure gauge 3c of the end point when the pump 4 for supplying the processing liquid to the spray pipe 2 is operated is confirmed.

この段階においては、フィルター5およびスプレーノズル1には異物等の詰まりはないため、以下の通りとなる。   At this stage, since the filter 5 and the spray nozzle 1 are not clogged with foreign matters, the following is obtained.

「始点の圧力計3bの表示圧力」>「終点の圧力計3cの表示圧力」
特に、「始点の圧力計3bの表示圧力」−「終点の圧力計3cの表示圧力」=P0
の値を確認しておく。
“Display pressure of start point pressure gauge 3b”> “Display pressure of end point pressure gauge 3c”
In particular, “display pressure of start point pressure gauge 3b” − “display pressure of end point pressure gauge 3c” = P0
Check the value of.

(2)次に、極端に異物が詰まった状態のスプレーノズル、あるいは使用するスプレーノズルの穴径の80%程度の穴径のスプレーノズルを一旦用意し、スプレー管2に取り付ける。このときの、「始点の圧力計3bの表示圧力」−「終点の圧力計3cの表示圧力」=P1
の値を確認する。
(2) Next, a spray nozzle that is extremely clogged with foreign matter or a spray nozzle having a hole diameter of about 80% of the hole diameter of the spray nozzle to be used is once prepared and attached to the spray tube 2. At this time, “the display pressure of the pressure gauge 3b at the start point” − “the display pressure of the pressure gauge 3c at the end point” = P1
Check the value of.

通常、スプレーノズルに異物が詰まった状態のとき、「始点の圧力計3bの表示圧力」と「終点の圧力計3cの表示圧力」との差は縮まり、P0>P1の関係となる。   Normally, when the spray nozzle is clogged with foreign matter, the difference between the “display pressure of the start point pressure gauge 3b” and the “display pressure of the end point pressure gauge 3c” is reduced, and the relationship of P0> P1 is established.

すなわち、フィルター5が新品であることを前提とすると、「終点の圧力計3cの表示圧力」は、初期(スプレーノズルの清掃直後)の値より高くなる。   That is, assuming that the filter 5 is new, the “display pressure of the pressure gauge 3c at the end point” is higher than the initial value (immediately after cleaning the spray nozzle).

(3)フィルター5が新品であることを前提とする場合の簡易的な方法として、バイパス6を設けて、スプレー管2の圧力を確認する方法がある。   (3) As a simple method when it is assumed that the filter 5 is new, there is a method of checking the pressure of the spray pipe 2 by providing a bypass 6.

この場合、フィルター5の詰まり具合に関係なくスプレー管2の状態を確認することができる。   In this case, the state of the spray tube 2 can be confirmed regardless of the degree of clogging of the filter 5.

特に、フィルター5とスプレーノズル1が共に詰まっている場合は、スプレーノズル1に異物が詰まることによる圧力の上昇傾向と、フィルター5内に異物が充満することによる圧力の下降傾向が均衡状態となって相殺され、圧力計の表示は当初の正確な設定と同じ値を示す可能性がある。   In particular, when both the filter 5 and the spray nozzle 1 are clogged, the increasing tendency of the pressure due to the clogging of the spray nozzle 1 and the decreasing tendency of the pressure due to the filling of the foreign substance in the filter 5 are balanced. The pressure gauge display may show the same value as the original exact setting.

このような場合においても、バルブ7cを閉じバルブ7bを全開して処理液をバイパス6を経由させることによりフィルター5の影響を排除し、スプレー管2の状態のみを確認することができる。   Even in such a case, the influence of the filter 5 can be eliminated by confirming only the state of the spray tube 2 by closing the valve 7c and fully opening the valve 7b to allow the processing liquid to pass through the bypass 6.

(4)実際のプリント配線板等の基板の生産現場における確認にあたっては、一定の生産期間あるいは基板の一定処理数毎に確認することが望ましい。   (4) When confirming actual printed wiring boards or the like at the production site, it is desirable to confirm at a certain production period or every certain number of treatments of the substrate.

スプレー管2の状態の確認にあたっては、上記のバイパス6を経由した場合における始点側の圧力計3bと終点側の圧力計3cの値を確認し、
「始点の圧力計3bの表示圧力」−「終点の圧力計3cの表示圧力」=P2
の値を確認する。
In confirming the state of the spray pipe 2, the values of the pressure gauge 3b on the start point side and the pressure gauge 3c on the end point side when passing through the bypass 6 are confirmed,
“Display pressure of start point pressure gauge 3b” − “Display pressure of end point pressure gauge 3c” = P2
Check the value of.

既述した新品の場合のP0と、極端な場合として80%詰まった場合のP1と生産現場におけるP2との比較において、通常は、P0>P2>P1となる。   In the comparison between P0 in the case of a new article described above, P1 in the case of 80% clogging as an extreme case, and P2 in the production site, usually P0> P2> P1.

P2の限界範囲においては、製品の歩留まりや生産性を考慮し設定する必要がある。   In the limit range of P2, it is necessary to set in consideration of product yield and productivity.

本実施の形態においては、P0とP1の中点を管理限界値とし、その値に達した時点でスプレーノズル1の交換または清掃を行うこととする。   In the present embodiment, the middle point of P0 and P1 is set as a control limit value, and the spray nozzle 1 is replaced or cleaned when that value is reached.

(5)また、フィルター5の管理においても、一定の生産期間あるいは基板の一定処理数毎に確認することが望ましい。日々の管理においては圧力計3a(最もポンプ側に近い)の値を目安とし、バルブ7aを全開した状態で交換時(新品時)から3〜5%圧力がダウンした場合に交換時期とする。   (5) In the management of the filter 5 as well, it is desirable to check for every certain production period or every certain number of substrates processed. In daily management, the value of the pressure gauge 3a (closest to the pump side) is used as a guide, and when the valve 7a is fully opened and the pressure is reduced by 3 to 5% from the time of replacement (new time), the replacement time is set.

なお、フィルター5の交換直後においては、バルブ7aの開閉の具合により、圧力計3aの値を所定の範囲内に調整する。フィルター5の交換直後は異物等の詰まりがないのでバルブ7aは若干閉じる方向で調節し、基板の処理数が増加し圧力計3aの値が低下した場合は、バルブ7aを開ける方向で調節する。   Immediately after replacement of the filter 5, the value of the pressure gauge 3a is adjusted within a predetermined range depending on how the valve 7a is opened and closed. Immediately after replacement of the filter 5, there is no clogging of foreign matter or the like, so the valve 7 a is adjusted in a slightly closing direction. When the number of substrates processed increases and the value of the pressure gauge 3 a decreases, the valve 7 a is adjusted in the opening direction.

以上のことから、プリント配線板等の製造装置として基板の処理装置の状態を容易に把握することができ、適切なタイミングで設備メンテナンスを行うことにより生産設備の稼働率の低下を防ぐことができ、処理装置の状態を安定して保つことができるため、基板への処理不足による銅残り等の品質上の問題を解決し、高密度・高精度のプリント配線板を歩留りよく生産することができる。   From the above, it is possible to easily grasp the state of the substrate processing equipment as a manufacturing equipment for printed wiring boards and the like, and it is possible to prevent a reduction in the operating rate of the production equipment by performing equipment maintenance at an appropriate timing. Because the state of the processing equipment can be kept stable, quality problems such as copper residue due to insufficient processing on the substrate can be solved, and high-density, high-precision printed wiring boards can be produced with high yield. .

なお、従来の課題を解決するために、流量計をスプレー管に設けて流量を管理することも考えられるが、プリント配線板等のエッチング工程や現像工程における製造条件において基板上へ処理液を噴射するときの圧力は重要な条件であり、圧力の把握のために圧力計は欠かすことができない処理装置の構成要素である。流量計のみではスプレー管の一地点を通過する処理液の流量を把握することはできるが、スプレー管全域の圧力を把握することはできない。   In order to solve the conventional problems, it may be possible to control the flow rate by installing a flow meter in the spray tube, but the processing liquid is sprayed onto the substrate under the manufacturing conditions in the etching process and development process of printed wiring boards and the like. Pressure is an important condition, and a pressure gauge is an indispensable component of the processing equipment for grasping the pressure. Although the flow meter alone can grasp the flow rate of the processing liquid passing through one point of the spray tube, it cannot grasp the pressure in the entire spray tube.

本発明は、流量計を追加して設けることによる製造装置のコスト上昇を防ぐのみならず、始点と終点を含むスプレー管全域の圧力を把握し管理することにより、スプレー圧力を重要な製造条件とする基板の処理の品質を保つことができるという効果を有する。   The present invention not only prevents an increase in the cost of the manufacturing apparatus due to the addition of a flow meter, but also grasps and manages the pressure of the entire spray tube including the start point and the end point, thereby making the spray pressure an important manufacturing condition. It is possible to maintain the quality of the substrate processing.

なお、本実施の形態においては、スプレー管2の配管方向は、基板の進行方向に平行またはある角度に配管されている事例を図面に示したが、スプレー管2の配管方向を基板の進行方向に対して垂直としてもよい。   In the present embodiment, the example in which the piping direction of the spray pipe 2 is piped parallel or at an angle to the traveling direction of the substrate is shown in the drawings, but the piping direction of the spray tube 2 is the traveling direction of the substrate. It may be perpendicular to.

また、基板を所定の速度で搬送する手段としての送りローラーは、水平搬送方式として示したが、基板を縦に搬送する縦型の処理装置としてもよい。   Further, the feed roller as means for transporting the substrate at a predetermined speed is shown as a horizontal transport method, but may be a vertical processing apparatus that transports the substrate vertically.

また、本実施の形態における基板の処理装置としてエッチング装置を事例に説明したが、感光性のドライフィルムの現像装置、あるいは写真現像型ソルダレジストの現像装置、あるいはドライフィルムの膜剥離装置であってもよく、本発明の効果はこれらの処理装置においても得ることができる。   Further, although the etching apparatus is described as an example of the substrate processing apparatus in the present embodiment, it is a photosensitive dry film developing apparatus, a photographic developing type solder resist developing apparatus, or a dry film film peeling apparatus. In addition, the effects of the present invention can also be obtained in these processing apparatuses.

さらにプリント配線板に限らず、処理液を基板上に噴射する方法を用いて現像やエッチング等の処理を行うその他の基板の製造においても本発明の処理装置は有効である。   Furthermore, the processing apparatus of the present invention is effective not only in the printed wiring board but also in the manufacture of other substrates that perform processing such as development and etching using a method of spraying a processing liquid onto the substrate.

本発明の基板の処理装置を用いることにより、プリント配線板等の製造に用いる処理装置の状態を容易に把握することができ、適切なタイミングで設備メンテナンスを行うことにより生産設備の稼働率の低下を防ぐとともに、プリント配線板等の基板の品質上の問題を解決し、高密度・高精度のプリント配線板を歩留りよく生産することができる。これにより、本発明の産業上の利用可能性は大きいといえる。   By using the substrate processing apparatus of the present invention, it is possible to easily grasp the state of the processing apparatus used for the production of printed wiring boards, etc., and to reduce the operating rate of production facilities by performing equipment maintenance at an appropriate timing. In addition, it is possible to solve the problem of the quality of the substrate such as the printed wiring board and to produce a high-density and high-precision printed wiring board with a high yield. Thereby, it can be said that the industrial applicability of the present invention is great.

1 スプレーノズル
2 スプレー管
3a〜3d 圧力計
4 ポンプ
5 フィルター
6 バイパス
7a〜7c バルブ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Spray nozzle 2 Spray pipe 3a-3d Pressure gauge 4 Pump 5 Filter 6 Bypass 7a-7c Valve

Claims (7)

基板を所定の速度で搬送する手段と、スプレーノズルを複数個取り付けたスプレー管と、処理液を前記スプレー管に供給するポンプとを備え、前記ポンプと前記スプレー管との流路の任意の位置と、スプレー管の終点の位置に圧力計を備えた基板の処理装置。 Means for transporting the substrate at a predetermined speed, a spray tube having a plurality of spray nozzles attached thereto, and a pump for supplying a treatment liquid to the spray tube, any position in the flow path between the pump and the spray tube And a substrate processing apparatus having a pressure gauge at the end point of the spray tube. 前記ポンプと前記スプレー管との流路の任意の位置は、スプレー管上の処理液の供給始点の位置であることを特徴とする請求項1に記載の基板の処理装置。 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein an arbitrary position of a flow path between the pump and the spray pipe is a position of a supply start point of the processing liquid on the spray pipe. 前記ポンプと前記スプレー管との流路の任意の位置は、スプレー管上の処理液の供給始点の位置と、前記供給始点とスプレー管の終点との間の位置であることを特徴とする請求項1に記載の基板の処理装置。 The arbitrary position of the flow path between the pump and the spray pipe is a position of a treatment liquid supply start point on the spray pipe and a position between the supply start point and the spray pipe end point. Item 2. The substrate processing apparatus according to Item 1. 前記供給始点とスプレー管の終点との間の複数の位置に、圧力計の取り付け箇所を複数備え、夫々の位置に圧力計を備えた請求項3に記載の基板の処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein a plurality of attachment points of pressure gauges are provided at a plurality of positions between the supply start point and an end point of the spray pipe, and a pressure gauge is provided at each position. スプレー管の終点の位置に備えた圧力計は、一定圧力に達した時点で、基板の処理装置の制御装置または警報装置へ信号を送信する手段を備えた請求項1に記載の基板の処理装置。 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pressure gauge provided at the position of the end point of the spray tube includes means for transmitting a signal to a control device or an alarm device of the substrate processing apparatus when a certain pressure is reached. . スプレー管は複数配管され、ポンプとスプレー管との流路の任意の位置は、個々のスプレー管の流路の任意の位置であることを特徴とする請求項1に記載の基板の処理装置。 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a plurality of spray pipes are provided, and an arbitrary position of a flow path between the pump and the spray pipe is an arbitrary position of a flow path of each spray pipe. 前記ポンプと前記スプレー管との流路の間にフィルターを介して連結され、かつ前記ポンプと前記スプレー管との流路は前記フィルターを介さないバイパスの流路とバルブとを備えていることを特徴とする請求項1に記載の基板の処理装置。 The flow path between the pump and the spray pipe is connected via a filter, and the flow path between the pump and the spray pipe includes a bypass flow path and a valve not passing through the filter. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the apparatus is a substrate processing apparatus.
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