JP5383041B2 - 複合酸化物膜およびその製造方法、複合酸化物膜を含む誘電材料、圧電材料、コンデンサ、圧電素子並びに電子機器 - Google Patents
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Description
(1)基体表面に複合酸化物膜を形成する工程と、
前記複合酸化物膜を酸素分圧1×10−3Pa以下の雰囲気ガス中で400℃以上の温度で焼成する工程と、
を含む複合酸化物膜の製造方法。
(2)焼成が1×10−2Pa以下の真空中で行なわれる前記1に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(3)基体表面に複合酸化物膜を形成する工程が、基体表面に第一の金属元素を含む金属酸化物層を形成する工程と、
前記第一の金属酸化物層に第二の金属のイオンを含む溶液を反応させ、前記第一および第二の金属元素を含む複合酸化物膜を形成する工程と、
を含む前記1または2に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(4)前記複合酸化物膜形成後に、前記複合酸化物膜をpH5以下の酸性溶液で洗浄する工程を更に含む前記3に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(5)前記第一の金属が、チタンである前記3または4に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(6)前記第二の金属が、アルカリ土類金属または鉛である前記3乃至5のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(7)前記基体が、金属チタンまたはチタンを含む合金である前記3乃至6のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(8)前記金属酸化物層が、前記基体を陽極酸化することにより形成される前記7に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(9)前記第二の金属のイオンを含む溶液のpHが11以上である前記3乃至8のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(10)前記第一の金属酸化物層に前記第二の金属のイオンを含む溶液を40℃以上で反応させる前記3乃至9のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(11)前記第二の金属のイオンを含む溶液が、大気圧下または減圧下で、蒸発、昇華、熱分解のうちの少なくとも一つの手段で気体となる塩基性化合物を含む前記3乃至10のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(12)前記塩基性化合物が、有機塩基化合物である前記11に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(13)前記有機塩基化合物が、水酸化テトラメチルアンモニウムである前記12に記載の複合酸化物膜の製造方法。
(14)前記1乃至13のいずれか一項に記載の製造方法により製造された複合酸化物膜。
(15)チタンと、アルカリ土類金属または鉛とを含み、結晶子サイズが30nm以上である複合酸化物膜。
(16)金属チタンまたはチタンを含む合金表面に形成された前記15に記載の複合酸化物膜。
(17)前記金属チタンまたはチタンを含む合金が、厚さ5μm以上300μm以下の箔である前記16に記載の複合酸化物膜。
(18)前記金属チタンまたはチタンを含む合金が、平均粒径0.1μm以上20μm以下の粒子の焼結体である前記16に記載の複合酸化物膜。
(19)前記複合酸化物が、ペロブスカイト化合物を含む前記14乃至18のいずれか一項に記載の複合酸化物膜。
(20)前記14乃至19のいずれか一項に記載の複合酸化物膜を含む誘電材料。
(21)前記14乃至19のいずれか一項に記載の複合酸化物膜を含む圧電材料。
(22)前記20に記載の誘電材料を含むコンデンサ。
(23)前記21に記載の圧電材料を含む圧電素子。
(24)前記22に記載のコンデンサを含む電子機器。
(25)前記23に記載の圧電素子を含む電子機器。
ここでペロブスカイト化合物とは、一般にABX3で表される結晶構造を持ち、BaTiO3、PbZrO3、(PbxLa(1−x))(ZryTi(l−y))O3などが代表的なペロブスカイト化合物である。
この複合酸化物膜を有する基体をpH5以下の酸、好ましくはpH0以上4以下、更に好ましくはpH1以上4以下の酸に浸漬し、過剰なアルカリ土類金属の炭酸塩を溶解すると、化学量論組成に近い複合酸化膜が得られるため好ましい。上記不純物イオン除去後および酸浸漬処理後適宜乾燥する。乾燥は、通常室温〜150℃、1〜24時間行われる。乾燥の雰囲気は特に制限はなく、大気中または減圧中で行うことができる。
(実施例1)
厚み20μmの純度99.9%のチタン箔(株式会社サンクメタル製)を3.3mm幅に切断したものを13mmずつの長さに切り取り、この箔片の一方の短辺部を金属製ガイドに溶接により固定した。陽極酸化するために、固定していない端から7mmの箇所にポリイミド樹脂溶液(宇部興産株式会社製)を0.8mm幅に線状に描き、約180℃で30分乾燥させた。固定していないチタン箔の先端から塗布されたポリイミド樹脂までの部分を、5質量%リン酸水溶液中、電流密度30mA/cm2、陽極酸化電圧15V、温度40℃で120分間陽極酸化処理した後、水洗、乾燥した。次に20%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液(セイケム昭和株式会社製)に水酸化バリウム(日本ソルベイ株式会社製)を酸化チタン層のモル数の100倍のモル数溶解した溶液に100℃で4時間浸漬することで反応させた。X線回折により同定したところ立方晶のペロブスカイト構造であるチタン酸バリウムが生成していることがわかった。このチタン酸バリウム層を有する箔を0.1N硝酸に20℃で2時間浸漬した。熱処理は株式会社モトヤマ製雰囲気炉を用い、炉内を油拡散ポンプを用い1×10−3Paまで真空引き後800℃で30分間真空引きを続けながら加熱した。層厚はFIB装置により断面加工した試料をTEM観察し、0.15μmであることがわかった。
装置:X線回折装置(リガク電機製,ローターフレックス)、
測定角度:2θ;21°〜94°、
測定ステップ:0.02°、
解析法:リートベルト解析(RIETAN)。
この条件で測定した結果、チタン及びチタン酸バリウムが同定された。チタン酸バリウムの結晶子サイズは90nmであった。
装置:LCRメータ(株式会社エヌエフ回路設計ブロック製,ZM2353型)、
測定周波数:120Hz、
振幅:1V。
その結果静電容量は51μF/cm2と大きな値であった。
上記実施例1におけるチタン酸バリウム層を有する箔の熱処理を省略した以外は、実施例1と同様に製造し、チタン酸バリウム層を得た。このチタン酸バリウム層を実施例1同様の方法で測定したチタン酸バリウムの結晶子サイズは20nmであった。また、このチタン酸バリウム層を実施例1同様の方法で測定した静電容量は、6.1μF/cm2と実施例1に比べて極めて小さな値であった。
上記実施例1における熱処理を以下の通り行った以外は、実施例1と同様に製造し、チタン酸バリウム層を得た。熱処理は株式会社モトヤマ製雰囲気炉を用い、炉内を油拡散ポンプを用い1×10−4Paまで真空引き後バルブを閉じることで真空槽を油拡散ポンプと切り離した。その後、酸素ガスを1×10−3Paまで導入して止め900℃で30分間加熱した。層厚は0.15μmであった。チタン酸バリウムの結晶子サイズは110nmであった。静電容量は44μF/cm2と大きな値であった。
上記実施例1における熱処理を以下の通り行った以外は、実施例1と同様に製造し、チタン酸バリウム層を得た。熱処理は株式会社モトヤマ製雰囲気炉を用い、炉内を油拡散ポンプを用い1×10−4Paまで真空引き後バルブを閉じることで真空槽を油拡散ポンプと切り離した。その後、酸素ガスを1×10−2Paまで導入して止め900℃で30分間加熱した。層厚は0.15μmであった。チタン酸バリウムの結晶子サイズは130nmであった。静電容量はチタン酸バリウム層にひびがあるためか測定不能であった。また芯材であるチタンが脆化しており非常に扱いにくいものであった。
粒径10μmのチタン粉末を直径0.3mmのチタンワイヤーと共に成形後、真空中1500℃で焼結させ円盤状のチタン焼結体(10mmφ、厚さ約1mm、空孔率45%、平均細孔3μm)を得た。次に5質量%リン酸水溶液中、電流密度30mA/cm2、陽極酸化電圧15V、温度40℃で120分間陽極酸化処理した後、水洗、乾燥した。次に20%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液(セイケム昭和株式会社製)に水酸化バリウム(日本ソルベイ株式会社製)を酸化チタン層のモル数の100倍のモル数溶解した溶液に100℃で4時間浸漬することで反応させた。このチタン酸バリウム層を有する焼結体を0.1N硝酸に20℃で2時間浸漬した。熱処理比株式会社モトヤマ製雰囲気炉を用い、炉内を油拡散ポンプを用い1×10−3Paまで真空引き後800℃で30分間真空引きを続けながら加熱した。層厚は0.15μmであった。チタン酸バリウムの結晶子サイズは100nmであった。
このようにして得た誘電体まで形成したチタン焼結体のチタンワイヤーを正極とし電解液(10質量%アジビン酸アンモニウム水溶液)に浸漬し、負極として100mm×100mm×0.02mmのPt箔を、複合酸化物膜が形成されたサンプルと50mmの間隔をあけて電解液に浸漬し、以下の装置及び条件にて静電容量を測定した。
装置:LCRメータ(株式会社エヌエフ回路設計ブロック製,ZM2353型)、
測定周波数:120Hz、
振幅:1V。
その結果静電容量は1600μFと大きな値であった。
Claims (11)
- 基体表面に複合酸化物膜を形成する工程と、
前記複合酸化物膜を酸素分圧1×10-3Pa以下の雰囲気ガス中で400℃以上の温度で焼成する工程と、
を含む複合酸化物膜の製造方法であって、
前記の基体表面に複合酸化物膜を形成する工程が、基体表面に第一の金属元素を含む金属酸化物層を形成する工程と、前記金属酸化物層に第二の金属のイオンを含む溶液を反応させ、前記第一および第二の金属元素を含む複合酸化物膜を形成する工程とを含み、前記第一の金属がチタンである製造方法。 - 焼成が1×10-2Pa以下の真空中で行なわれる請求項1に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記複合酸化物膜形成後に、前記複合酸化物膜をpH5以下の酸性溶液で洗浄する工程を更に含む請求項1または2に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記第二の金属が、アルカリ土類金属または鉛である請求項1〜3のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記基体が、金属チタンまたはチタンを含む合金である請求項1〜4のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記金属酸化物層が、前記基体を陽極酸化することにより形成される請求項5に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記第二の金属のイオンを含む溶液のpHが11以上である請求項1〜6のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記金属酸化物層に前記第二の金属のイオンを含む溶液を40℃以上で反応させる請求項1〜7のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記第二の金属のイオンを含む溶液が、大気圧下または減圧下で、蒸発、昇華、熱分解のうちの少なくとも一つの手段で気体となる塩基性化合物を含む請求項1〜8のいずれか一項に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記塩基性化合物が、有機塩基化合物である請求項9に記載の複合酸化物膜の製造方法。
- 前記有機塩基化合物が、水酸化テトラメチルアンモニウムである請求項10に記載の複合酸化物膜の製造方法。
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|---|---|---|---|---|
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| US20170263384A1 (en) * | 2014-09-11 | 2017-09-14 | Showa Denko K.K. | Tungsten capacitor element and method for manufacturing same |
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| CN119768028B (zh) * | 2024-12-19 | 2025-10-28 | 上海交通大学 | 一种具有逐层互锁结构的柔性P(VDF-TrFE)/BaTiO3压电复合薄膜的制备方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60121276A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-06-28 | Sony Corp | Ti金属層とSrTiO↓3被膜よりなる複合体及びその製造方法 |
| JPH02289403A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-11-29 | Fujitsu Ltd | 高温超伝導薄膜の作成方法 |
| JPH1131857A (ja) * | 1997-07-14 | 1999-02-02 | Tokai Rubber Ind Ltd | 圧電体構造物およびその製造方法 |
| JPH1154710A (ja) * | 1997-08-07 | 1999-02-26 | Sony Corp | 誘電体薄膜およびその製造方法ならびにそれを用いたキャパシタ |
| JP2000299247A (ja) * | 1999-04-13 | 2000-10-24 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | チップコンデンサ |
| JP2002249865A (ja) * | 2000-12-19 | 2002-09-06 | Toho Titanium Co Ltd | チタン酸化被膜の形成方法およびチタン電解コンデンサ |
| JP2003206135A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-07-22 | Toho Titanium Co Ltd | 複合チタン酸化被膜およびチタン電解コンデンサ |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3724066A (en) * | 1968-09-20 | 1973-04-03 | Horizons Inc | Light amplifiers |
| US3663379A (en) * | 1969-07-01 | 1972-05-16 | Rohr Corp | Method and electrolytes for anodizing titanium and its alloys |
| US3925172A (en) * | 1972-02-14 | 1975-12-09 | American Cyanamid Co | Electrochemical oxidation and reduction |
| US5240590A (en) * | 1989-07-19 | 1993-08-31 | Seagate Technology, Inc. | Process for forming a bearing surface for aluminum alloy |
| TW533440B (en) * | 2000-12-19 | 2003-05-21 | Toho Titanium Co Ltd | Method for forming titanium oxide film and titanium electrolytic capacitor |
| US7431911B2 (en) * | 2001-07-04 | 2008-10-07 | Showa Denko K.K. | Barium titanate and production and process thereof |
| TW200302296A (en) * | 2001-11-12 | 2003-08-01 | Toho Titanium Co Ltd | Composite titanium oxide film and method for formation thereof and titanium electrolytic capacitor |
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Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60121276A (ja) * | 1983-12-05 | 1985-06-28 | Sony Corp | Ti金属層とSrTiO↓3被膜よりなる複合体及びその製造方法 |
| JPH02289403A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-11-29 | Fujitsu Ltd | 高温超伝導薄膜の作成方法 |
| JPH1131857A (ja) * | 1997-07-14 | 1999-02-02 | Tokai Rubber Ind Ltd | 圧電体構造物およびその製造方法 |
| JPH1154710A (ja) * | 1997-08-07 | 1999-02-26 | Sony Corp | 誘電体薄膜およびその製造方法ならびにそれを用いたキャパシタ |
| JP2000299247A (ja) * | 1999-04-13 | 2000-10-24 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | チップコンデンサ |
| JP2002249865A (ja) * | 2000-12-19 | 2002-09-06 | Toho Titanium Co Ltd | チタン酸化被膜の形成方法およびチタン電解コンデンサ |
| JP2003206135A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-07-22 | Toho Titanium Co Ltd | 複合チタン酸化被膜およびチタン電解コンデンサ |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| JPN6013024095; Chi-Shiung Hsi et al.: 'Dielectric Properties of Nanocrystalline Barium Titanate Thin Films Deposited by RF Magnetron Sputte' Jpn.J.Appl.Phys Vol.42,part1,No.2A, 2003, p544-548 * |
| JPN6013024097; Anke Dutschke et al.: 'Analysis of the phase content and Zr:Ti fluctuation phenomena in PZT sol-gel films with a nominal co' Journal of the European Ceramic Society Vol.24, 2004, p1579-1583 * |
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