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JP5403697B2 - Circuit board impact test apparatus and circuit board impact test method - Google Patents
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JP5403697B2 - Circuit board impact test apparatus and circuit board impact test method - Google Patents

Circuit board impact test apparatus and circuit board impact test method Download PDF

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Description

本発明は回路基板の衝撃試験装置、及び回路基板の衝撃試験方法に関する。 The present invention relates to a circuit board impact test apparatus and a circuit board impact test method.

従来、PC(パーソナルコンピュータ)等に使用されているメイン回路基板(M/B)の動作障害に注目すると、部品の半田付け状態の不良や、コネクタ、ソケットの接触具合(接触マージン)等の不良に起因すると思われる不具合(間欠的に発生する不具合)が存在している。
これらの不具合には、通常の使用環境では発生頻度が低いため、検査で障害を検出されることがないままに推移し、ユーザ先において障害が発生して再修理が要請されるケースが存在する。
Focusing on the operation failure of the main circuit board (M / B) used in PCs (personal computers) and the like, the soldering state of components and the contact condition (contact margin) of connectors and sockets are poor. There is a problem (problem that occurs intermittently) that seems to be caused by the problem.
Since these failures occur less frequently in normal usage environments, there are cases in which failures are detected without being detected by inspection, and failures occur at the user's site and re-repair is requested. .

このような接触マージン不足による障害を減らし、再修理を減らす対策としては、タッピングテスト等を実施する方法も用いられているが、この方法では、間歇的な障害発生に対処すべく、長時間に渡る検査が必要な場合も有る。よって、このような長時間に渡る検査を人手を介して行う方法は効率的な方法ではなく、また個人差の存在や、疲労の蓄積により、回路基板に加える打撃力や打撃ポイントが変化するため、検出能力に不安定さが生じ、また、過度の打撃力による二次障害の発生等も懸念されている。   As a measure to reduce such troubles due to insufficient contact margin and reduce re-repair, a method such as tapping test is also used, but this method takes a long time to deal with intermittent trouble occurrence. Sometimes cross-checking is necessary. Therefore, the method of performing such a long-term inspection manually is not an efficient method, and the impact force and impact point applied to the circuit board change due to the existence of individual differences and the accumulation of fatigue. Instability in detection capability occurs, and there are concerns about the occurrence of secondary damage due to excessive striking force.

この分野の公知例技術としては、例えば、特許文献1には、従来の不具合解析用加振装置が、通電した被解析装置を試験台に固定して、被解析装置全体を振動させたときに発生する不具合から被解析装置のどの箇所に接触不良が発生しているかを推測するので、接触不良箇所の特定までに時間を要することが多かったことに対処する技術が開示されている。具体的には、加振部の駆動力により長手方向に沿って振動される加振棒の先端に接触部を設け、この接触部を解析箇所に押し当てて、解析箇所毎に振動試験を行う構成としている。   As a known example technique in this field, for example, in Patent Document 1, a conventional failure analysis vibration device fixes an energized analyzed device to a test bench and vibrates the entire analyzed device. Since it is inferred from which trouble in which part of the device to be analyzed the contact failure has occurred, a technique for dealing with the fact that it often took time to identify the contact failure portion is disclosed. Specifically, a contact portion is provided at the tip of a vibration bar that is vibrated along the longitudinal direction by the driving force of the vibration portion, and this contact portion is pressed against an analysis location, and a vibration test is performed for each analysis location. It is configured.

また、例えば、特許文献2には、電子部品への影響がなく、簡便に電子部品の振動疲労による寿命を計測できる電子部品の振動電子部品の寿命計測方法が開示されている。具体的には、電子部品が実装された基板を試験片として電子部品が振動疲労寿命となるまで電子部品の近傍位置における基板の歪量を計測しながら、振動条件を変えて繰り返し振動試験を行い、歪量及び振動疲労寿命の相関関係をデータベースとして、製品に装着された基板における電子部品の近傍位置の歪量を歪ゲージによって測定し、該測定された歪量に基づいてデータベースから電子部品の振動疲労寿命を推定するものとしている。   Further, for example, Patent Document 2 discloses a method for measuring the lifetime of a vibrating electronic component that can easily measure the lifetime due to vibration fatigue of the electronic component without affecting the electronic component. Specifically, using the board on which the electronic component is mounted as a test piece, repeated vibration tests are performed under varying vibration conditions while measuring the amount of strain on the board near the electronic component until the electronic component reaches the vibration fatigue life. Then, using the correlation between the strain amount and the vibration fatigue life as a database, the strain amount in the vicinity of the electronic component on the substrate mounted on the product is measured with a strain gauge, and the electronic component is calculated from the database based on the measured strain amount. The vibration fatigue life is estimated.

また、例えば、特許文献3には、タッピング試験装置の打鍵条件を自由に設定して自動的に試験を行い、正確な試験結果を得ることを意図した技術が開示されている。具体的には、歪みゲージが、1又は2以上の打鍵ユニット毎に設けられ、打鍵ユニットが試験対象物を打鍵することにより生じる歪みを検出する。条件入力部は打鍵ユニット毎の打鍵条件を入力する。打鍵制御部は、条件入力部から入力された打鍵条件に従って打鍵ユニットを制御して試験対象物に対する複数回の打鍵動作を繰り返して行い、歪みゲージの出力に基づいて各打鍵動作における打鍵の圧力を制御し、歪みゲージの出力が所定の場合に打鍵動作を停止するものとしている。   Further, for example, Patent Document 3 discloses a technique intended to automatically set a keying condition of a tapping test apparatus to automatically perform a test and obtain an accurate test result. Specifically, a strain gauge is provided for each one or two or more key pressing units, and detects a strain generated when the key pressing unit keys the test object. The condition input unit inputs a key pressing condition for each key pressing unit. The keystroke control unit controls the keystroke unit according to the keystroke condition input from the condition input unit, and repeatedly performs a keystroke operation on the test object a plurality of times, and determines the keystroke pressure in each keystroke operation based on the output of the strain gauge. The keystroke operation is stopped when the output of the strain gauge is controlled.

特開2008−216052号公報JP 2008-216052 A 特開2010−122114号公報JP 2010-122114 A 特開平8−261879号公報JP-A-8-261879

ところで、前述のとおり、PC等の製品に搭載されるメイン回路基板等の診断や、その修理業務にあっては、日々、品質向上を図る努力が実施されており、よって、これら製品については、接触不良等に起因して間歇的に発生する障害についても、そのまま出荷させない程の、高い検査品質が求められている。
接触不良等のような接触マージン系の障害検出手法として従来から行われている方法としては、前述のとおり、振動試験、タッピング試験などが知られている。この振動試験とは、振動試験機と呼ばれる上下左右に振動する台のついた装置に、被試験物をセットし、被試験物全体を振動させることで内部の部品を揺さぶり、接触の度合いや半田等の接合状態を試験するものである。また、前述のタッピング試験とは、被試験物全体ではなく被試験物上に予め設定されたタッピングポイントと呼ばれる不具合の出易い場所をタッピングハンマー等の打撃器具で直接打撃することで、接合不良や接触不良による動作不具合をピンポイントで検出する手法である。
By the way, as mentioned above, in the diagnosis and repair work of main circuit boards and the like mounted on products such as PCs, efforts are being made every day to improve quality. There is a demand for high inspection quality that prevents intermittent failures caused by poor contact or the like.
As a conventional method for detecting a contact margin failure such as a contact failure, a vibration test and a tapping test are known as described above. This vibration test is a device called a vibration tester that has a platform that vibrates vertically and horizontally. The test object is set, and the entire test object is vibrated to shake the internal components. Etc. are to be tested. Further, the tapping test described above means that a defective portion called a tapping point, which is preset on the DUT rather than the entire DUT, is hit directly with a hitting instrument such as a tapping hammer, thereby causing poor bonding or This is a technique for pinpointing an operation failure due to contact failure.

ところが、振動試験の場合、試験装置自体が大きく、また、試験に際しては振動により被試験物が飛び出さないように固定することが必要になるなどの手間を要し、手軽に、通常の試験・修理ラインでは運用することができないといった問題点が有る。
このため、通常、試験・修理ライン等での振動系試験と言えば、先ずはタッピング試験を選択することになる。
例えば、量産工場のように同一機種が大量に流れている所では、製造ライン上に電動や空気圧等の動力を利用したハンマーを組み込んだ自動タッピング試験機を設置して人手を排除することができる。
しかし、本発明の回路基板の試験装置の検査対象であるM/B等のプリント配線板修理をメインとするリペア業務においては、どうしても取り扱い製品が多品種小ロットになり、作業機種変更が頻繁に発生するといった事情が有る。
However, in the case of a vibration test, the test equipment itself is large, and it is necessary to fix the DUT so that it does not pop out due to vibration during the test. There is a problem that it cannot be used in the repair line.
For this reason, generally speaking, a vibration system test on a test / repair line or the like first selects a tapping test.
For example, in a place where the same model is flowing in large quantities such as a mass production factory, an automatic tapping tester incorporating a hammer using electric power or pneumatic power can be installed on the production line to eliminate manpower. .
However, in repair work, mainly repairing printed wiring boards such as M / B, which are the inspection targets of the circuit board testing apparatus of the present invention, the products handled are inevitably small lots of various types, and the working models are frequently changed. There are circumstances that occur.

以上のことから、機種変更の度に治具上のハンマー位置を修正する工数が必要な試験機では、通常の検査は使用できず、人力によりタッピングを行うことが通例となっている。
しかしながら、人力によるタッピングでは、打撃力の大きさや叩く位置等に個人差が生じるため、不良個所の検出精度にも自ずから違いが生じる恐れがある上、手元が狂って打撃を許されない場所に当たったり、過度な衝撃力が加えられることによって、二次障害へと繋がる危険性も否定できないといった問題点が有る。
From the above, in a testing machine that requires man-hours to correct the hammer position on the jig every time the model is changed, normal inspection cannot be used, and tapping is usually performed manually.
However, when tapping with human power, there are individual differences in the magnitude of the striking force and the position where it is struck, so there may be a difference in the detection accuracy of defective parts, and there is a risk that the hand will be mad and will not be allowed to hit. However, there is a problem in that it is impossible to deny the risk of causing a secondary failure by applying an excessive impact force.

さらに、間歇障害等のように、エラー現象が再現しにくい障害の場合は、かなり長時間に渡って同じ強さのタッピング試験を継続する必要が有るが、このような長時間に渡る試験作業を人間が実施することは困難であるといった問題点が有る。
このため手軽に扱えて、簡単な治具で設置できると共に、打撃と動作判定を自動で実施できるツールの開発が本発明に際しての課題であった。
なお、前述の特許文献1記載の技術は、本発明と趣旨や目的が同様であるため、一見して本発明と酷似しているかのように見えるが、以下の点で異なっている。
即ち、前述の特許文献1記載の技術では、加振部と呼ばれる物の駆動方式が、リニアモーターとボイスコイルモータとを含むサーボモータ、及び油圧駆動機構のいずれか、といった定義(請求項2)がなされており、接触部、加振棒が長手方向に沿って振動するとの記述が見られる。
Furthermore, in the case of an error that is difficult to reproduce, such as an intermittent failure, it is necessary to continue the tapping test with the same strength for a considerably long time. There is a problem that it is difficult for humans to implement.
For this reason, the development of a tool that can be easily handled and installed with a simple jig and that can automatically perform striking and motion determination has been a problem in the present invention.
The technique described in Patent Document 1 is similar in spirit and purpose to the present invention, and at first glance appears to be very similar to the present invention, but differs in the following points.
That is, in the technique described in Patent Document 1, the definition of the drive method of the object called the vibration unit is either a servo motor including a linear motor and a voice coil motor, or a hydraulic drive mechanism (Claim 2). There is a description that the contact portion and the vibrating bar vibrate along the longitudinal direction.

さらに、前述の特許文献1記載の技術には、この加振棒による振動試験を行うことが記載されており、これらの点から、この公知の装置は、小型の加振器であることが判る。これに対し、本発明のアクチュエータハンマーは、内蔵しているネオジムマグネットに取り付けられているカーボンシャフトが駆動電流により発生した推進力で前進し、先端のインパクトチップに衝突することで衝撃力を発生させる構成である。これは即ち通常のハンマーを模した動作であり、「振動」のような弱い衝撃を発生させる構成ではなく、強い衝撃を発生させる構成である。従って、本発明に係る先端のインパクトチップが前後方向にフリーになっていることは、振動のような弱い衝撃を発生させるためではなく、単純に遊びを取ることによって衝撃力を倍加させるための構成である。前述の特許文献1記載の技術は、明らかに、これとは同様の効果を有していないと考えられる。   Furthermore, the technique described in the above-mentioned Patent Document 1 describes that a vibration test is performed using this vibrating rod. From these points, it can be seen that this known device is a small-sized vibrator. . On the other hand, the actuator hammer of the present invention has a configuration in which a carbon shaft attached to a built-in neodymium magnet moves forward with a propulsive force generated by a drive current and generates an impact force by colliding with an impact tip at the tip. It is. In other words, this is an operation simulating a normal hammer, and is not a configuration that generates a weak impact such as “vibration”, but a configuration that generates a strong impact. Accordingly, the fact that the tip impact tip according to the present invention is free in the front-rear direction is not for generating a weak impact such as vibration, but for simply doubling the impact force by taking play. It is. Obviously, the technique described in Patent Document 1 described above does not have the same effect.

また、本発明との相違点として、前述の特許文献1記載の技術は、サーボモータの使用を前提にしており、このため、駆動回路の複雑化と高価格化とを招来する点が問題点として挙げられる。
これに比べて、本発明に係るアクチュエータハンマーは、普通のハンマーを代替する構成要素であり、さらに、その制御方法は、衝撃力の多寡を、駆動電流の流れる量(電流×時間)でもって制御する方法であるので、実質的には単純なスイッチ機能を設けるだけで十分であり、製造コストが非常に安価となる。
Further, as a difference from the present invention, the technique described in Patent Document 1 described above is based on the use of a servo motor, and this causes a problem that the drive circuit is complicated and expensive. As mentioned.
Compared to this, the actuator hammer according to the present invention is a component that replaces an ordinary hammer, and the control method controls the amount of impact force with the amount of drive current (current x time). Therefore, it is substantially sufficient to provide a simple switch function, and the manufacturing cost is very low.

なお、前述の特許文献1記載の技術では、駆動機構の詳細が記載されていないために不明であるが、発生する振動は、単振動のような波形の振動と推定される、何故なら、人手によって保持する方法では、加振部を完全に固定できないので、加振棒がリニアモータ・ボイスコイルモータにて強力に駆動されたとしても立ち上がりが鋭く、持続時間の短い衝撃波形を得ることは、人手の方が動いてしまうことにより、困難となるからである。   In the technique described in Patent Document 1, the details of the drive mechanism are not described, and thus it is unknown. However, the generated vibration is estimated as a vibration having a waveform like a simple vibration. In the method of holding by, because the excitation unit can not be fixed completely, even if the excitation rod is driven strongly by a linear motor / voice coil motor, the rise is sharp, and it is possible to obtain an impact waveform with a short duration, This is because it becomes difficult when the human hand moves.

これに対比して、本発明に係るアクチュエータハンマーは、連続した振動を発生する構成ではなく、単発の衝撃力を発生させる構成である。勿論、或る程度の周期を有する繰り返し運動は可能であるが、本発明に係るアクチュエータハンマーの基本動作は単発の動作である。しかしながら、これでも、インパクトチップを基板に押し当てることで、立ち上がりの鋭い衝撃波形を得ることができる。ちなみに、従来から、揺すっても平気だが、弾くと接触不良が発生する場合が知られており、よって、振動を加えるよりも、衝撃を加える方が、接触不良等の検出力がより高くなることが知られている。   In contrast, the actuator hammer according to the present invention is not configured to generate continuous vibration, but configured to generate a single impact force. Of course, repetitive motion having a certain period is possible, but the basic operation of the actuator hammer according to the present invention is a single operation. However, even in this case, an impact waveform having a sharp rise can be obtained by pressing the impact chip against the substrate. By the way, it has been known that even if you shake it, it has been known that contact failure will occur if you play it, so that it will have higher detection power such as contact failure when applying impact than applying vibration. It has been known.

次に、前述の特許文献2記載の技術は、基板に実装された電子部品が振動によって疲労し、破壊するまでの寿命を測定する技術であり、振動等の印加により、回路動作に不具合が発生するか否かの検査を目的とはしていないという点が本発明とは異なる点である。
また、前述の特許文献2記載の技術は、振動を加え続ける振動耐久試験であり、本発明のような単発の打撃試験とは明らかに形態が異なるものである。
Next, the technique described in Patent Document 2 described above is a technique for measuring the life until an electronic component mounted on a board is fatigued by vibration and destroyed, and a problem occurs in circuit operation due to application of vibration or the like. This is a point different from the present invention in that it is not intended to check whether or not to do so.
The technique described in Patent Document 2 described above is a vibration endurance test in which vibration is continuously applied, and is clearly different in form from the single shot test as in the present invention.

次に、前述の特許文献3記載の技術は、本発明と原理を同じくする技術ではあるが、装置の構成が異なる。また、前述の特許文献3記載の技術の目的は打鍵による耐久試験であり、このため、打鍵ユニットが試験対象物を打鍵することにより生じる歪みを歪みゲージで検出することにより、アラームの発生を検知し、ひいては、筐体の破壊を検知する構成となっている。
これに対比し、本発明では、アラーム発生の検知手段として、例えば、メモリアドレスのカウントアップが一瞬でも停止したらこれを検出する技術を採用している。
即ち、本発明は、これまでのパソコン(PC)等のメイン基板(M/B)における接触マージンを試験するタッピング検査の不都合を解消することを意図したものであり、即ち、従来は、打撃印加等を、人手を介して行うために、個人の力量による差が大きくて、試験動作が不安定となっていた不都合を解消することを意図している。
Next, the technique described in Patent Document 3 described above is a technique having the same principle as the present invention, but the configuration of the apparatus is different. The purpose of the technique described in Patent Document 3 is a durability test by keystroke. For this reason, the occurrence of an alarm is detected by detecting distortion caused by the keystroke unit keying the test object with a strain gauge. As a result, the destruction of the casing is detected.
In contrast to this, in the present invention, for example, a technique for detecting when the memory address count-up stops even for a moment is used as an alarm generation detection means.
That is, the present invention is intended to eliminate the disadvantage of the tapping inspection for testing the contact margin on the main board (M / B) such as a personal computer (PC) so far. Therefore, it is intended to eliminate the inconvenience that the test operation is unstable due to a large difference due to individual ability.

なお、本発明を可能にしたのは、一定の打撃力と衝撃波形とを安定的に発生する小型のアクチュエータハンマーを開発したことによるものである。
これにより、人手に頼らない安定したタッピングが可能となり、人手に頼る場合の打撃不足や過剰入力による回路部品の破損事故等を無くすことができた。
また、小型のアクチュエータハンマーの開発に併せて、M/Bの動作状況監視機も開発したので、この2つを組み合わせることで接触マージン試験の自動化が可能となり、見逃し防止や間歇障害対応の長時間試験も可能となった。これらの開発により、接触マージン不足による障害を検出する衝撃試験の精度向上と省力化とが共に可能となったのである。
よって、本発明によれば、PC等のM/B単体を含むPWB(プリント配線ボード)のタッピングテストにおいて手動タッピングと動作チェック作業とを、コストの安い簡単な装置で機械化できることになる。
The present invention is made possible by the development of a small actuator hammer that stably generates a constant striking force and impact waveform.
As a result, stable tapping that does not rely on manpower is possible, and it is possible to eliminate damage caused by insufficient hitting or circuit component damage due to excessive input when relying on manpower.
In addition to the development of a small actuator hammer, we have also developed an M / B operation status monitor. By combining these two, it becomes possible to automate the contact margin test and prevent oversight and prevent intermittent failures. Testing is also possible. With these developments, it has become possible to improve the accuracy and save labor of impact tests that detect failures due to insufficient contact margins.
Therefore, according to the present invention, manual tapping and operation check work can be mechanized with a simple device at low cost in a tapping test of a PWB (printed wiring board) including a single M / B such as a PC.

本発明の目的は、上述した課題を解決する回路基板の衝撃試験装置、及び回路基板の衝撃試験方法を提供することにある。 An object of the present invention, the impact test apparatus for circuit board to solve the problems described above, and Ru near to provide an impact test method of the circuit board.

上記課題を解決するために、本発明の第1の形態と、回路基板の衝撃試験装置であって少なくとも回路基板を含む被試験対象が搭載されることによって、パソコンとしての機能を持つようになる試験装置と、試験装置を制御する制御装置とを備え、試験装置は、機械的な衝撃を発生させると共に、当該衝撃を被試験対象に伝達するアクチュエータハンマーと、当該試験装置の動作を監視する監視手段とを有し、制御装置は、アクチュエータハンマーの打撃強度を含む設定を入力する設定手段と、設定に従ってアクチュエータハンマーの動作を制御する制御手段と、少なくとも監視手段から通知される情報に基づいて、試験装置の動作状況判定する動作判定手段と、動作判定手段の判定結果を含む衝撃試験の進行状況を表示する表示手段とを有する。 In order to solve the above problems, the Ru good to the first aspect of the present invention, there is provided a shock test device of the circuit board, by which the test object is mounted including at least the circuit board, the function as PC comprising a test device which will have, a control device for controlling the test apparatus, the test apparatus, which both generates a mechanical shock, an actuator hammer for transmitting those the impact to be tested, of the test device Monitoring means for monitoring the operation, and the control device is notified from at least the monitoring means , setting means for inputting the setting including the impact strength of the actuator hammer, control means for controlling the operation of the actuator hammer according to the setting, and based on the information, the operation judging means for judging the operating status of the test device, a display for displaying the progress of the impact tests, including the determination result of the operation determination means That having a and stage.

本発明の第2の形態と、回路基板の衝撃試験方法であって少なくとも回路基板を含む被試験対象が搭載されることによって、パソコンとしての機能を持つようになる試験装置を制御する制御装置が、機械的な衝撃を発生させると共に、当該衝撃を被試験対象に伝達するアクチュエータハンマーの打撃強度を含む設定を入力する設定段階と、制御装置が、設定に従ってアクチュエータハンマーの動作を制御する制御段階と、試験装置が、当該試験装置の動作を監視する監視段階と、制御装置が、少なくとも試験装置から通知される情報に基づいて、試験装置の動作状況判定する動作判定段階と、制御装置が、動作判定段階における判定結果を含む衝撃試験の進行状況を表示する表示段階とを備える。 When Ru good to a second embodiment of the present invention, there is provided a impact test method of the circuit board, at least by which the test object is mounted including a circuit board, controls the test apparatus comes to have a function as a personal computer a control device for, along with to generate a mechanical impact, a setting step of inputting a set comprising a striking intensity of the actuator hammer which transmits those the impact to be tested, the control device, the operation of the actuator hammer according to the setting and a control step of controlling, testing apparatus, and a monitoring step of monitoring the operation of the test apparatus, control apparatus, the operation determination step based on the information to be notified from at least the test device, to determine the operating status of the test device , controller, Ru and a display step of displaying the progress of the impact tests, including the determination result in operation determination step.

以上説明したように、本発明の回路基板の衝撃試験装置によれば、従来は人手による目測と力加減とを用いて行っていたタッピング試験のハンマー打撃動作を、アクチュエータハンマーに代替させ、その動作のチェックを動作判定回路で代替するので、打撃ミスや障害の見落としといったエラーが防止できることに加えて、夜間エージング等の長時間再現試験にも対応可能となるので、間歇障害等の発生頻度が低い障害であっても、検知性能を向上させることが可能となり、ひいては、製品の出荷時品質の向上に資することができる効果が有る。   As described above, according to the impact test apparatus for a circuit board of the present invention, the hammer hitting operation of the tapping test that has been conventionally performed by manual measurement and force adjustment is replaced with an actuator hammer, and the operation is performed. Since the operation check circuit replaces this check, in addition to preventing errors such as missed strikes and oversight of failures, it can also be used for long-term reproduction tests such as night-time aging, so the frequency of intermittent failures is low. Even if it is a failure, it is possible to improve the detection performance, and as a result, there is an effect that can contribute to improvement of the quality at the time of shipment of the product.

本発明の実施形態に係る回路基板の衝撃試験装置の全体構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the whole structure of the impact test apparatus of the circuit board which concerns on embodiment of this invention. アクチュエータハンマー100の構成を示す構成図であり、図2(a)はアクチュエータハンマー100の詳細構成、図2(b)はアクチュエータハンマー100を駆動する駆動電流の波形を、それぞれ示すものである。FIG. 2A is a configuration diagram showing the configuration of the actuator hammer 100, FIG. 2A shows the detailed configuration of the actuator hammer 100, and FIG. 2B shows the waveform of the drive current that drives the actuator hammer 100. FIG. 本発明の実施形態に係る回路基板の動作を示すフローチャート図であり、図3(a)は制御装置10の制御動作、図3(b)は機能試験用ソフトウェア23の試験動作を、それぞれ示すものである。FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the circuit board according to the embodiment of the present invention, FIG. 3A shows the control operation of the control device 10, and FIG. 3B shows the test operation of the function test software 23, respectively. It is.

本実施形態に係る回路基板の衝撃試験装置では、コイルと磁石を使った手持ちの小型自動打撃装置(「アクチュエータハンマー」と呼称する)を使用する。
また、これに併せて、駆動回路と動作判定回路を内蔵した制御装置と、機能試験用テストプログラム等で構成した接触マージン自動試験ツールも構成要素としている。
以下、本発明の回路基板の衝撃試験装置、回路基板の衝撃試験方法、アクチュエータハンマー、及びコンピュータプログラムについて、図面を参照して詳細に説明する。
In the circuit board impact testing apparatus according to the present embodiment, a hand-held small automatic impacting apparatus (referred to as an “actuator hammer”) using a coil and a magnet is used.
In addition to this, a control device incorporating a drive circuit and an operation determination circuit, and an automatic contact margin test tool configured by a function test program or the like are also constituent elements.
Hereinafter, a circuit board impact test apparatus, a circuit board impact test method, an actuator hammer, and a computer program according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施形態に係る回路基板の衝撃試験装置の全体構成を示す構成図である。
同図において、本実施形態の回路基板の衝撃試験装置は、制御装置10と、試験装置20とを備えて構成される。
制御装置10は、試験装置20との接続を行うUSB接続部11と、USB接続部11を介して得られる情報により試験装置20の動作状況を判定する動作判定部12と、後述するアクチュエータハンマー100の動作を制御するハンマー駆動部13と、打撃強度や自動・手動等の設定を入力する設定入力部14と、入力されたデータを表示したり動作の判定結果等を表示したりする表示部16と、制御装置10全体の動作を制御する中央制御部15と、を備える。なお、この他に、オプショナルな構成要素として、任意個数の増設ハンマー駆動部19を備えることができる。
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a circuit board impact test apparatus according to an embodiment of the present invention.
In the same figure, the circuit board impact test apparatus of the present embodiment comprises a control apparatus 10 and a test apparatus 20.
The control device 10 includes a USB connection unit 11 that performs connection with the test device 20, an operation determination unit 12 that determines an operation state of the test device 20 based on information obtained via the USB connection unit 11, and an actuator hammer 100 described later. A hammer driving unit 13 for controlling the operation of the motor, a setting input unit 14 for inputting settings such as impact strength and automatic / manual, and a display unit 16 for displaying the input data and the result of the operation determination. And a central control unit 15 that controls the operation of the entire control device 10. In addition, an optional number of additional hammer drive units 19 can be provided as optional components.

試験装置20は、実際の打撃力等を発生させるアクチュエータハンマー100と、該ハンマーを制御装置10と接続する接続ケーブル101と、試験装置20の動作を監視する機能試験用ソフトウェア23と、機能試験用ソフトウェア23と制御装置10とを接続するUSBケーブル21と、を備えて構成される。
なお、この他に、オプショナルな構成要素として、任意個数の増設アクチュエータハンマー100’を備えることができる。
また、この実施形態では、タッピングテストのターゲットは、被試験対象30である。
この被試験対象30は、当然ながら試験装置20の構成には属さないが、この被試験対象30を試験装置20に搭載することで、全体として試験装置20のPCとしての機能を持つようになるのである。
The test apparatus 20 includes an actuator hammer 100 that generates an actual striking force, a connection cable 101 that connects the hammer to the control apparatus 10, a function test software 23 that monitors the operation of the test apparatus 20, and a function test. A USB cable 21 that connects the software 23 and the control device 10 is provided.
In addition, an optional number of additional actuator hammers 100 ′ can be provided as optional components.
In this embodiment, the target of the tapping test is the test target 30.
Of course, the test object 30 does not belong to the configuration of the test apparatus 20, but by mounting the test object 30 on the test apparatus 20, the test apparatus 30 has a function as a PC of the test apparatus 20 as a whole. It is.

図2は、アクチュエータハンマー100の構成を示す構成図であり、図2(a)はアクチュエータハンマー100の詳細構成、図2(b)はアクチュエータハンマー100を駆動する駆動電流の波形を、それぞれ示すものである。
ハンマーボディ104の内部には、打撃力発生用のネオジムマグネット111と、該マグネットに接続されたカーボンシャフト105と、カーボンシャフト105を支えるフッ素樹脂スリーブ103と、カーボンシャフト105が打ち付けるフッ素樹脂プレート106と、ネオジムマグネット111の定位置を保持するコイルバネ108とを内蔵する。
2 is a block diagram showing the configuration of the actuator hammer 100, FIG. 2 (a) shows the detailed configuration of the actuator hammer 100, and FIG. 2 (b) shows the waveform of the drive current that drives the actuator hammer 100, respectively. It is.
Inside the hammer body 104, a neodymium magnet 111 for generating impact force, a carbon shaft 105 connected to the magnet, a fluororesin sleeve 103 that supports the carbon shaft 105, a fluororesin plate 106 that the carbon shaft 105 strikes, and a neodymium magnet. A coil spring 108 that holds a fixed position 111 is incorporated.

なお、前後に移動可動に取り付けられたフッ素樹脂プレート106の裏側には、打撃ポイント用のインパクトチップ107が装着される。但し、該チップは、カーボンシャフト105とは結合されていない。ネオジムマグネット111が接着している辺りのハンマーボディ104の外側には、トリガボタン109と、マグネットワイヤ102とが装着されている。
ハンマーボディ104自体の材質は、例えば、内側をフッ素樹脂でコーティングしたガラス繊維強化樹脂のチューブであって良い。
マグネットワイヤ102は、均一な巻き方でなく、ネオジムマグネット111の進行方向に向かって巻き数が多くなるように設定されている。これは磁力がコイル端面で大きくなるようにすることで、推力をより大きくするためである。
An impact tip 107 for a hitting point is mounted on the back side of the fluororesin plate 106 that is movably attached back and forth. However, the tip is not coupled to the carbon shaft 105. A trigger button 109 and a magnet wire 102 are attached to the outside of the hammer body 104 around which the neodymium magnet 111 is bonded.
The material of the hammer body 104 itself may be, for example, a glass fiber reinforced resin tube whose inner side is coated with a fluororesin.
The magnet wire 102 is set so that the number of turns increases in the traveling direction of the neodymium magnet 111, not the uniform winding method. This is to increase the thrust force by increasing the magnetic force at the coil end face.

ハンマー駆動部13から、マグネットワイヤ102に、設定に従って送出される駆動電流(例えば、図2(a)に示すハンマー用1の波形)が流れると、該ワイヤのコイルの巻き数と流れる電流との積に比例した磁界が発生する。
この発生した磁界中に置かれているネオジムマグネット111は、発生した磁界の強さに応じた力を受け、移動を開始する。
この移動するネオジムマグネット111には、カーボンシャフト105が取り付けられており、これがフッ素樹脂プレート106に激突し、打撃力を発生させる。
When a drive current (for example, the waveform for hammer 1 shown in FIG. 2A) sent from the hammer drive unit 13 to the magnet wire 102 according to the setting flows, the number of turns of the coil of the wire and the flowing current A magnetic field proportional to the product is generated.
The neodymium magnet 111 placed in the generated magnetic field receives a force corresponding to the strength of the generated magnetic field and starts moving.
A carbon shaft 105 is attached to the moving neodymium magnet 111, and the carbon shaft 105 collides with the fluororesin plate 106 to generate a striking force.

以下、図1,2を参照しながら、本実施形態の回路基板の衝撃試験装置の機能を、その使用方法を交えて説明する。
まず、本衝撃試験装置の試験準備に関する機能を、必要な操作を交えて説明する。
被試験対象30(タッピング検査の対象被試験物)は、ここでは便宜的にPCのプリント板を示すような形状になっているが、その形状には特に意味はない。被試験対象30としては、任意の回路部品や製品が可能であり、例えば、PC全体、プリント板機能試験用治具等もタッピング検査の対象被試験物とすることが可能である。
The function of the circuit board impact test apparatus of this embodiment will be described below with reference to FIGS.
First, the functions related to the test preparation of the impact test apparatus will be described together with necessary operations.
The object under test 30 (the object to be tested for tapping inspection) has a shape that shows a PC printed board for convenience, but the shape has no particular meaning. The circuit under test 30 can be any circuit component or product. For example, the entire PC, a printed board function test jig, or the like can be used as a test object for tapping inspection.

この実施形態では、基本的に試験装置20上では機能試験用ソフトウェア23が動作する必要があるため、OSが起動してPCとして機能することが前提である。該前提の上で、発生頻度の低いマージン系障害であっても検出可能となるのである。
各治具の接続と、アクチュエータハンマー100の用意とが完了した後、制御装置10に備えられた設定入力部14の試験モード設定を、自動、若しくは手動(操作者が手で保持する方法)に設定する。
通常の出荷検査等にあっては、該試験モード設定を手動に設定し、また、長時間エージングの場合等では自動に設定することが好ましい。
In this embodiment, the function test software 23 basically needs to operate on the test apparatus 20, and therefore it is assumed that the OS starts and functions as a PC. Based on this assumption, it is possible to detect even a margin type failure with a low occurrence frequency.
After the connection of each jig and the preparation of the actuator hammer 100 are completed, the test mode setting of the setting input unit 14 provided in the control device 10 is automatically or manually (a method in which the operator holds it by hand). Set.
In normal shipping inspection, etc., it is preferable to set the test mode setting to manual, and to set it automatically in the case of long-term aging.

次に、設定入力部14の打撃間隔設定では、打撃発生間隔のインタバル時間を設定する。
表示部16は、LED等の表示器により構成するものとする。この表示部16では、入力された情報を表示器に表示するので、前述の設定入力が正しく行われたか否かを確認することができる。
以上までが前準備であり、一旦設定しておけば、以後は何かの設定値を変更する必要が生じるまでは、同様の設定は不要となる。
次に、試験装置20に機能試験用ソフトウェア23を記録する記録媒体をセットし、電源を投入する、装置が起動して機能試験用ソフトウェア23が動作を開始すると、表示部16の表示器に、「タッピングテスト中」の表示が示されるので、これにて試験準備を完了する。
Next, in the setting of the hit interval of the setting input unit 14, an interval time of the hit occurrence interval is set.
The display part 16 shall be comprised by indicators, such as LED. Since the display unit 16 displays the input information on the display, it can be confirmed whether or not the above-described setting input has been performed correctly.
The above is the preparation, and once it is set, the same setting is unnecessary until any setting value needs to be changed thereafter.
Next, a recording medium for recording the function test software 23 is set in the test apparatus 20, and the power is turned on. When the apparatus is activated and the function test software 23 starts operating, the display unit 16 displays The display “Tapping test in progress” is displayed, and the test preparation is completed.

以下、本衝撃試験装置の試験機能を、必要な操作を交えて説明する。
制御装置10のスタートボタンを押すと、試験がスタートする。ここで、設定入力部14の試験モード設定が自動モードに設定されている場合は、アクチュエータハンマー100が動作を開始する。
他方、設定入力部14の試験モード設定が手動モードに設定されている場合は、操作者は、アクチュエータハンマー100を自分の手で持ち、タッピングポイントに押し当てたインパクトチップ107が少し内側へ戻るのことを確認する。
Hereinafter, the test function of the impact test apparatus will be described with necessary operations.
When the start button of the control device 10 is pushed, the test starts. Here, when the test mode setting of the setting input unit 14 is set to the automatic mode, the actuator hammer 100 starts operation.
On the other hand, when the test mode setting of the setting input unit 14 is set to the manual mode, the operator holds the actuator hammer 100 with his / her hand and the impact chip 107 pressed against the tapping point returns slightly inward. Make sure.

操作者は、位置ずれが生じないようにアクチュエータハンマー100を保持して、ハンマーボディ104の側面に付いているトリガーボタン109を押すと、アクチュエータハンマー100が動作してタッピングが行われる。
操作者がトリガーボタン109を押し続けると、打撃間隔設定で設定したインタバルでもって打撃動作を繰り返す。
この試験中は、表示部16の動作LEDは正常動作を示す緑色を点灯するが、万一打撃用の電流が流れない等の障害が発生した場合は、赤色が点滅し、アラート表示する。
自動モードで試験中に試験を中止する場合は、再度、スタートボタンを押すことでアクチュエータハンマー100は動作を停止し、動作LEDは消灯する。
また、エラーが発生した場合にもアクチュエータハンマー100の動作は停止するが、この場合はエラー表示LEDが赤色点灯して障害発生を知らせる。
When the operator holds the actuator hammer 100 so as not to be displaced and presses the trigger button 109 on the side surface of the hammer body 104, the actuator hammer 100 operates to perform tapping.
When the operator continues to press the trigger button 109, the hitting operation is repeated with the interval set in the hitting interval setting.
During this test, the operation LED of the display unit 16 lights up in green indicating normal operation, but in the unlikely event that a current such as a current for blow does not flow, red flashes and an alert is displayed.
When the test is stopped during the test in the automatic mode, the operation of the actuator hammer 100 is stopped by pressing the start button again, and the operation LED is turned off.
Also, when an error occurs, the operation of the actuator hammer 100 is stopped. In this case, the error display LED is lit in red to notify the occurrence of a failure.

試験装置20上で動作している機能試験用ソフトウェア23は、メモリアクセス、数値演算、USB通信の各機能と、それらの動作の瞬間的な変調を高精度に検出することを目的としたソフトウェアであり、即ち、タッピングテストに特化したソフトウェアである。例えば、メモリアクセスの異常については、機能試験用ソフトウェア23は、メモリアドレスのカウントアップが一瞬でも停止したらこれを検出する。
障害が発生すると、機能試験用ソフトウェア23は、試験装置20のディスプレイ(図示は省略)にエラー表示を行って、エラーLog(図示は省略)に記録し、また、USB通信を行って、エラーが出たことを動作判定部12に通知する。さらに、動作判定部12が表示部16に対し、エラー表示LEDを点灯させることで障害の発生を知らせる。
USB接続部11と、動作判定部12とでは、他にも、回線が遮断されたり、データ化けを起こしたりする障害等も監視しており、これらの障害が発生したならば、表示部16のエラー表示LEDを点灯させる。
さらに、エラー表示も不可能なほどの深刻な障害が発生した場合は、OSのエラーLog等にて現象の確認を行うことが可能であるので、このような深刻な障害の場合にも、障害内容を判別することができる。
The function test software 23 operating on the test apparatus 20 is software intended to detect each function of memory access, numerical calculation, USB communication, and instantaneous modulation of these operations with high accuracy. Yes, that is, software specialized for tapping tests. For example, regarding the memory access abnormality, the function test software 23 detects this when the memory address count-up stops even for a moment.
When a failure occurs, the function test software 23 displays an error on the display (not shown) of the test apparatus 20 and records the error in an error log (not shown). The operation determination unit 12 is notified of the exit. Further, the operation determination unit 12 notifies the display unit 16 of the occurrence of a failure by turning on an error display LED.
In addition, the USB connection unit 11 and the operation determination unit 12 monitor other failures such as line disconnection or data corruption. If these failures occur, the display unit 16 Turn on the error display LED.
Furthermore, when a serious failure that cannot be displayed is possible, it is possible to confirm the phenomenon with an OS error log or the like. The contents can be determined.

図3は、本発明の実施形態に係る回路基板の動作を示すフローチャート図であり、図3(a)は制御装置10の制御動作、図3(b)は機能試験用ソフトウェア23の試験動作を、それぞれ示すものである。
まず、図1,2を参照しながら、図3(a)のフローチャートを使用して、制御装置10の制御動作について説明する。
まず、ステップA20〜A23では、制御装置10は、ステップA11〜A14において、操作者が手動にて各設定を行った後、表示部16のLED等の表示器に、それら各設定に対応する情報を表示させる。
次に、ステップA15では、制御装置10は、操作者が手動にてテスト開始のスタートボタンを押したことを契機として試験動作を開始する。
次に、ステップA16では、制御装置10は、USB接続部11を介して試験装置20との通信を開始する。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the circuit board according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 (a) shows the control operation of the control device 10, and FIG. 3 (b) shows the test operation of the function test software 23. , Respectively.
First, the control operation of the control device 10 will be described using the flowchart of FIG.
First, in Steps A20 to A23, after the controller 10 performs each setting manually in Steps A11 to A14, information corresponding to each setting is displayed on a display unit such as an LED of the display unit 16. Is displayed.
Next, in step A15, the control device 10 starts the test operation when the operator manually presses the start button for starting the test.
Next, in step A <b> 16, the control device 10 starts communication with the test device 20 via the USB connection unit 11.

次に、ステップA17では、制御装置10は、USB接続が認識され、通信が開始されると、動作判定部12において接続完了のフラグを立て、ステップA18に進む。また、USB接続が認識できない場合は、ステップA24に移る。
ステップA18では、制御装置10は、自動モードの場合であれば、ハンマー駆動部13を介して、予め入力された設定に従ってアクチュエータハンマー100へ駆動電流を供給する。また、制御装置10は、手動モードの場合には、トリガボタン109の押下を監視しながら待機し、トリガボタン109が押下されると、予め入力された設定に従ってアクチュエータハンマー100へ駆動電流を供給する。
Next, in step A17, when the USB connection is recognized and communication is started, the control device 10 sets a connection completion flag in the operation determination unit 12, and proceeds to step A18. If the USB connection cannot be recognized, the process proceeds to step A24.
In step A18, in the case of the automatic mode, the control device 10 supplies a drive current to the actuator hammer 100 via the hammer drive unit 13 according to a preset setting. Further, in the case of the manual mode, the control device 10 waits while monitoring the depression of the trigger button 109, and when the trigger button 109 is depressed, supplies a drive current to the actuator hammer 100 according to a previously input setting. .

以上の各動作により、アクチュエータハンマー100へ駆動電流が供給されると、アクチュエータハンマー100が駆動されてタッピングテストを開始する。
ステップA19では、制御装置10の動作判定部12は、ハンマー駆動部13に実装されているセンサを介してアクチュエータハンマー100に供給される駆動電流を監視し、該駆動電流が正常の場合は表示部16の動作LEDを緑色に点灯させると共にステップA18に戻る(即ち、再度のスタートボタンが押されるか、若しくはエラーが検出されるまで上記の一連の処理を繰り返すことになる)。また、駆動電流が、検出できない場合や、異常値を示す場合はステップA25に移る。
ステップA24では、制御装置10は、表示部16にエラー表示LEDを赤点滅にするよう指示する。
ステップA25では、制御装置10は、表示部16に動作LEDを赤色に点滅させる。
以上の動作中は、機能試験用ソフトウェア23とUSB接続部11とは、動作判定部12の機能により、試験装置20の動作の監視を継続的に行う。
When a drive current is supplied to the actuator hammer 100 by the above operations, the actuator hammer 100 is driven and a tapping test is started.
In step A19, the operation determination unit 12 of the control device 10 monitors the drive current supplied to the actuator hammer 100 via the sensor mounted on the hammer drive unit 13, and if the drive current is normal, the display unit The 16 operation LEDs are lit in green and the process returns to step A18 (that is, the above-described series of processing is repeated until the start button is pressed again or an error is detected). If the drive current cannot be detected or if an abnormal value is indicated, the process proceeds to step A25.
In step A24, the control device 10 instructs the display unit 16 to make the error display LED blink red.
In step A25, the control device 10 causes the display unit 16 to blink the operation LED in red.
During the above operation, the function test software 23 and the USB connection unit 11 continuously monitor the operation of the test apparatus 20 by the function of the operation determination unit 12.

次に、図1,2、及び図3(a)を参照しながら、図3(b)のフローチャートを使用して、機能試験用ソフトウェア23の試験動作について説明する。
まず、ステップB10にて、機能試験用ソフトウェア23は、試験装置20の上で制御を実行する準備を行う。
次に、ステップB11にて、機能試験用ソフトウェア23は、試験装置20に搭載しているメモリに対するアクセスを開始する。具体的には、例えば、例えば、アドレスシフト等のメモリに対するテストを行い、この後、データに不整合が発生していないことを確認する。
次に、ステップB12にて、機能試験用ソフトウェア23は、ステップB11の確認で、データに不整合が発生していたか否かを検証し、データ不整合が発生した場合は、ステップB18に移る。また、データ不整合が発生していない場合は、ステップB13に移る。
Next, a test operation of the function test software 23 will be described with reference to FIGS. 1 and 2 and FIG. 3A using the flowchart of FIG.
First, in step B10, the function test software 23 prepares to execute control on the test apparatus 20.
Next, in step B <b> 11, the function test software 23 starts access to the memory installed in the test apparatus 20. Specifically, for example, a memory test such as an address shift is performed, and thereafter, it is confirmed that no inconsistency occurs in the data.
Next, in step B12, the function test software 23 verifies whether or not data inconsistency has occurred in the confirmation in step B11. If data inconsistency has occurred, the function test software 23 proceeds to step B18. If no data inconsistency has occurred, the process proceeds to step B13.

ステップB13では、機能試験用ソフトウェア23は、USB接続部11との間で、例えばデータのループバックテスト等を行い、この際、データに不整合が発生しないことを確認する。
ステップB14では、機能試験用ソフトウェア23は、ステップB13の確認で、データに不整合が発生していなかったか否かを検証し、データに不整合が発生していた場合はステップB18に移る。また、データに不整合が発生していなかった場合はステップB15に進む。
ステップB15では、機能試験用ソフトウェア23は、CPU(図示は省略)を介して、例えば、浮動小数点演算等を行いながら、USBメモリとの間でデータ転送を行う。また、その結果、データに不整合が発生しないことを確認する。
In step B13, the function test software 23 performs, for example, a data loopback test with the USB connection unit 11, and confirms that no inconsistency occurs in the data.
In step B14, the functional test software 23 verifies whether or not inconsistency has occurred in the data in the confirmation in step B13. If inconsistency has occurred in the data, the process proceeds to step B18. If no inconsistency occurs in the data, the process proceeds to step B15.
In step B15, the function test software 23 performs data transfer with the USB memory via the CPU (not shown) while performing, for example, floating point calculation. As a result, it is confirmed that no inconsistency occurs in the data.

ステップB16では、機能試験用ソフトウェア23は、ステップB15の確認で、データに不整合が発生していなかったか否かを検証し、データに不整合が発生していた場合はステップB18に移る。また、データに不整合が発生していなかった場合はステップB17に進む。
ステップB17では、機能試験用ソフトウェア23は、一連の検査が正常と確認されたことにより、正常終了のフラグを立てる。その後、制御装置10のスタートボタンが押されたことを示す情報がUSB通信で通知されるか、若しくはエラーが検出されるまで、ステップB11に戻して、上記の一連の処理を繰り返す。
ステップB18では、機能試験用ソフトウェア23は、データに不整合が発生した場合として、エラーLogを発行し、可能であればUSB通信で動作判定部12へエラーを通知する。
In step B16, the function test software 23 verifies whether or not inconsistency has occurred in the data in the confirmation in step B15. If inconsistency has occurred in the data, the process proceeds to step B18. If no inconsistency occurs in the data, the process proceeds to step B17.
In step B17, the function test software 23 sets a normal end flag when a series of tests are confirmed to be normal. Thereafter, the process returns to step B11 until the information indicating that the start button of the control device 10 has been pressed is notified by USB communication or an error is detected, and the above-described series of processing is repeated.
In step B18, the function test software 23 issues an error Log when data inconsistency occurs, and notifies the operation determination unit 12 of the error through USB communication if possible.

本実施形態によれば、従来は人手による目測と力加減とを用いて行っていたタッピング試験のハンマー打撃動作を、アクチュエータハンマーが代替し、その動作のチェックを動作判定回路で代替する。これにより、打撃ミスや障害の見落としといったエラーが防止できることに加えて、夜間エージング等の長時間再現試験にも対応可能となるので、間歇障害等の発生頻度が低い障害であっても、検知性能が向上し、その結果、製品の出荷品質の向上に資することができる。より具体的には、以下の効果を有する。   According to this embodiment, the hammer hitting operation of the tapping test that has been conventionally performed using manual measurement and force adjustment is replaced by the actuator hammer, and the operation check is replaced by the operation determination circuit. In addition to preventing errors such as missed hits and oversight of faults, it can also be used for long-term reproduction tests such as night-time aging. As a result, it can contribute to the improvement of the shipping quality of the product. More specifically, it has the following effects.

(1) 設定された出力で衝撃を安定して発生することができる。
(2) 打撃手段としては、自動、手動切り替え式のいずれもが可能であり、打撃周期は変更が可能である。
(3) 動作判定部12の機能により、瞬停や誤動作を自動検出することができる。
(4) アクチュエータハンマーは小型のため、使用時に、手持ちにすることも、或いは治具により設置することも、いずれもが可能である。
(5) 従来の装置よりも小型で、取り扱いが容易になるため、複数のアクチュエータハンマーを使用することが可能となる。
(1) The impact can be generated stably with the set output.
(2) The hitting means can be either automatic or manual switching, and the hitting cycle can be changed.
(3) The function of the operation determination unit 12 can automatically detect a momentary power failure or malfunction.
(4) Since the actuator hammer is small, it can be either held by hand or installed with a jig.
(5) Since it is smaller than a conventional device and easy to handle, a plurality of actuator hammers can be used.

なお、本発明に係る回路基板の衝撃試験装置の各構成要素の処理の少なくとも一部をコンピュータ制御により実行するものとし、かつ、上記処理を、図3のフローチャートで示した手順によりコンピュータに実行せしめるプログラムは、半導体メモリを始め、CD−ROMや磁気テープなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納して配付してもよい。そして、少なくともマイクロコンピュータ、パーソナルコンピュータ、汎用コンピュータを範疇に含むコンピュータが、上記の記録媒体から上記プログラムを読み出して、実行するものとしてもよい。   Note that at least a part of the processing of each component of the circuit board impact testing apparatus according to the present invention is executed by computer control, and the above processing is executed by the computer according to the procedure shown in the flowchart of FIG. The program may be distributed by storing it in a computer-readable recording medium such as a semiconductor memory, a CD-ROM, or a magnetic tape. A computer including at least a microcomputer, a personal computer, and a general-purpose computer may read and execute the program from the recording medium.

10 制御装置
11 USB接続部
12 動作判定部
13 ハンマー駆動部
14 設定入力部
15 中央制御部
16 表示部
19 増設ハンマー駆動部
20 試験装置
21 USBケーブル
23 機能試験用ソフトウェア
30 被試験装置
100 アクチュエータハンマー
101 接続ケーブル
102 マグネットワイヤ
103 フッ素樹脂スリーブ
104 ハンマーボディ
105 カーボンシャフト
106 フッ素樹脂プレート
107 インパクトチップ
108 コイルバネ
109 トリガボタン
111 ネオジムマグネット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Control apparatus 11 USB connection part 12 Operation | movement determination part 13 Hammer drive part 14 Setting input part 15 Central control part 16 Display part 19 Additional hammer drive part 20 Test apparatus 21 USB cable 23 Software for function test 30 Device under test 100 Actuator hammer 101 Connection cable 102 Magnet wire 103 Fluororesin sleeve 104 Hammer body 105 Carbon shaft 106 Fluororesin plate 107 Impact tip 108 Coil spring 109 Trigger button 111 Neodymium magnet

Claims (6)

少なくとも回路基板を含む被試験対象が搭載されることによって、パソコンとしての機能を持つようになる試験装置と、
前記試験装置を制御する制御装置と
を備え、
前記試験装置は、
機械的な衝撃を発生させると共に、当該衝撃を前記被試験対象に伝達するアクチュエータハンマーと、
当該試験装置の動作を監視する監視手段と
を有し、
前記制御装置は、
前記アクチュエータハンマーの打撃強度を含む設定を入力する設定手段と、
前記設定に従って前記アクチュエータハンマーの動作を制御する制御手段と、
少なくとも前記監視手段から通知される情報に基づいて、前記試験装置の動作状況判定する動作判定手段と、
前記動作判定手段の判定結果を含む衝撃試験の進行状況を表示する表示手段と
有する回路基板の衝撃試験装置。
A test device that has a function as a personal computer by mounting a device under test including at least a circuit board;
A control device for controlling the test device;
With
The test apparatus comprises:
Together to generate a mechanical impact, an actuator hammer for transmitting those the impact the to be tested,
Monitoring means for monitoring the operation of the test apparatus;
Have
The controller is
Setting means for inputting settings including impact strength of the actuator hammer;
Control means for controlling the operation of the actuator hammer according to the setting;
Based on the information notified from at least the monitoring means, and operation determining means for determining the operating status of the test device,
Impact test apparatus for circuit board that have a display means for displaying the progress of the impact tests, including determination results of said operation determination means.
前記監視手段は、前記試験装置のメモリの動作を監視し、異常があれば、その旨を、前記動作判定手段へ通知するThe monitoring means monitors the operation of the memory of the test apparatus, and if there is an abnormality, notifies the fact to the operation determining means.
請求項1に記載の回路基板の衝撃試験装置。The circuit board impact test apparatus according to claim 1.
前記アクチュエータハンマー、保持具又は操作者の手によって保持され、操作者の手によって保持される場合に、当該アクチュエータハンマーを始動させるトリガーボタンを具備する
請求項1又は2に記載の回路基板の衝撃試験装置。
It said actuator hammer is thus held in the hand of the holder or operator, when held by the operator's hand, comprising a trigger button for starting the actuator hammer
The impact test apparatus for a circuit board according to claim 1 or 2.
前記設定手段は、前記アクチュエータハンマーが保持具又は操作者の手のいずれによって保持されて試験が行われるのかを示す試験モードを更に含む設定を入力するThe setting means inputs a setting further including a test mode indicating whether the actuator hammer is held by a holder or an operator's hand and the test is performed.
請求項3に記載の回路基板の衝撃試験装置。The circuit board impact test apparatus according to claim 3.
前記アクチュエータハンマーは、駆動電流に応じて生起される磁界によって駆動される
請求項1から3のいずれか一項に記載の回路基板の衝撃試験装置。
It said actuator hammer impact test apparatus for circuit board according to any one of claims 1 3 which is driven by a magnetic field is caused in response to the drive current.
少なくとも回路基板を含む被試験対象が搭載されることによって、パソコンとしての機能を持つようになる試験装置を制御する制御装置が、機械的な衝撃を発生させると共に、当該衝撃を前記被試験対象に伝達するアクチュエータハンマーの打撃強度を含む設定を入力する設定段階と、
前記制御装置が、前記設定に従って前記アクチュエータハンマーの動作を制御する制御段階と、
前記試験装置が、当該試験装置の動作を監視する監視段階と、
前記制御装置が、少なくとも前記試験装置から通知される情報に基づいて、前記試験装置の動作状況判定する動作判定段階と、
前記制御装置が、前記動作判定段階における判定結果を含む衝撃試験の進行状況を表示する表示段階
備える回路基板の衝撃試験方法。
By under test is mounted, including at least a circuit board, a control apparatus for controlling a test apparatus comes to have a function as a personal computer, which both generates a mechanical shock, the object to be tested with those the impact A setting stage for inputting settings including the impact strength of the actuator hammer to be transmitted to
Wherein the controller, and a control step of controlling the operation of said actuator hammer in accordance with the setting,
A monitoring stage in which the test apparatus monitors the operation of the test apparatus;
Wherein the controller, an operation determination step based on the information notified from at least the testing device to determine the operating status of the test device,
Wherein the controller, display phase and impact test method for the circuit board Ru with a to display the progress of impact test, including a determination result in the operation determination step.
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