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JP5409502B2 - 電子部品装着装置、電子部品装着方法及び基板高さデータ編集装置 - Google Patents
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JP5409502B2 - 電子部品装着装置、電子部品装着方法及び基板高さデータ編集装置 - Google Patents

電子部品装着装置、電子部品装着方法及び基板高さデータ編集装置 Download PDF

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Description

本発明は、高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着装置、電子部品装着方法、及び高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定する測定位置に係る基板高さ計測位置データ編集装置に関する。
吸着ノズルが部品供給装置より電子部品を取り出してプリント基板上に装着する電子部品装着装置は、例えば特許文献1などに開示されている。そして、一般に、極小電子部品においては、装着動作の際にプリント基板の反りによって、装着されずに持ち帰りや、電子部品の割れや半田の飛散が発生することがある。このため、レーザ変位計などのプリント基板の高さレベルの測定装置を用いて、この測定結果に基づいて、装着の際に吸着ノズルの下降制御を行っている。
特開2006−286707号公報 特開2008−166472号公報
しかし、基板の高さレベルを測定する場合に、予め測定する測定位置を定めていても、この測定位置では、好ましくない場合もある。例えば、この測定位置に誤りがある場合や、既に上流の電子部品装着装置において電子部品を装着していて、その既に装着した電子部品とその下流の電子部品装着装置において測定する場合の測定位置とが近すぎたり、重なっている場合などには、正しく測定できず、この測定位置では好ましくない場合もある。
そこで本発明は、基板における適切な測定位置において、基板の高さ測定を行えるようにすることを目的とする。
このため第1の発明は、高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着装置において、
前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する装着データを格納する第1記憶手段と、
前記電子部品の種類毎にこの電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データを格納する第2記憶手段と、
前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データを格納する第3記憶手段と、
前記第1記憶手段に格納された前記装着データ、前記第2記憶手段に格納された前記部品データ及び前記第3記憶手段に格納された前記計測位置データに基づいて装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示し、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示するモニタと、
このモニタに表示された不要な測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去する消去手段と、
前記モニタに表示された測定位置を移動したい測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する変更手段とを設け、
前記モニタに、前記消去手段による不要な測定点グラフィックスの消去と前記移動手段による移動したい測定点グラフィックスの移動とを選択可能なメニューボックスを表示し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には前記消去手段により不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には前記変更手段により移動したい測定点グラフィックスに対応する前記計測位置データを変更することを特徴とする
第2の発明は、高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着装置において、
前記基板装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する装着データを格納する第1記憶手段と、
前記電子部品の種類毎にこの電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データを格納する第2記憶手段と、
前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データを格納する第3記憶手段と、
前記第1記憶手段に格納された前記装着データ、前記第2記憶手段に格納された前記部品データ及び前記第3記憶手段に格納された前記計測位置データに基づいて装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを及び計測位置に測定点グラフィックスを表示するモニタと、
このモニタに表示された測定位置を移動したい測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する変更手段と
を設けたことを特徴とする。
第2の発明は、第1の発明において、前記基板の種類毎に、前記装着データは前記第1記憶手段に格納され、前記計測位置データは前記第3記憶手段に格納されることを特徴とする。
また第3の発明は、高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着方法において、
前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する前記装着データ、各電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データ及び前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データに基づいて、モニタに表示された基板での装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示させ、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示させ、
前記モニタに表示された不要な測定点グラフィックス、或いは測定位置を移動したい測定点グラフィックスを選択し、
前記モニタに表示され、不要な測定点グラフィックスの消去と移動したい測定点グラフィックスの移動との何れかを選択可能なメニューボックスを操作して前記消去と前記移動との何れかを選択し、
前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には、選択された不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には、選択された移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する
ことを特徴とする。
第4の発明は、高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定する測定位置に係る基板高さ計測位置データ編集装置において、
前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する装着データを格納する第1記憶手段と、
前記電子部品の種類毎にこの電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データを格納する第2記憶手段と、
前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データを格納する第3記憶手段と、
前記第1記憶手段に格納された前記装着データ、前記第2記憶手段に格納された前記部品データ及び前記第3記憶手段に格納された前記計測位置データに基づいて装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示し、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示するモニタと、
前記モニタに表示された不要な測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去する消去手段と、
前記モニタに表示された測定位置を移動したい測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する変更手段と
を備え、
前記モニタに、前記消去手段による不要な測定点グラフィックスの消去と前記移動手段による移動したい測定点グラフィックスの移動とを選択可能なメニューボックスを表示し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には前記消去手段により不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には前記変更手段により移動したい測定点グラフィックスに対応する前記計測位置データを変更する
ことを特徴とする。
本発明は、基板における適切な測定位置において、基板の高さ測定を行うことができ、電子部品の装着の際に、基板の反りに対応した吸着ノズルの下降制御を行うことができ、また、モニタには、測定点の「削除」と「移動」を選択できるメニューボックスが表示されるので、作業者は、表示されたメニューボックスにより削除か移動かを容易に選択することができ、測定位置の削除と移動とを容易に行うことができる
以下図に基づき、プリント基板上に電子部品を装着するための生産ラインを構成する電子部品装着装置について、実施の形態を説明する。図1は電子部品装着装置1の平面図で、該装着装置1の機台2上には種々の電子部品を夫々その部品取出し部(部品吸着取出位置)に1個ずつ供給する部品供給ユニット3が複数並設されている。対向する部品供給ユニット3群の間には、供給コンベア4、位置決め部5及び排出コンベア6が設けられている。前記供給コンベア4は上流側装置より受けた基板としてのプリント基板Pを前記位置決め部5に搬送し、位置決め部5で図示しない位置決め機構により位置決め固定された該基板P上に電子部品が装着された後、排出コンベア6に搬送され、この排出コンベア6を介して下流装置に搬送する。
8A、8BはX方向に長い一対のビームであり、夫々Y軸モータ9の駆動によりネジ軸10を回転させ、左右一対のガイド11に沿ってプリント基板Pや部品供給ユニット3の部品吸着取出位置上方を個別にY方向に移動する。
各ビーム8A、8Bにはその長手方向、即ちX方向にX軸モータ12によりガイド(図示せず)に沿って移動する装着ヘッド7A、7Bが夫々設けられている。各装着ヘッド7A又は7Bには2本の吸着ノズル17A、17B又は17C、17Dを上下動させるための上下軸モータ13がそれぞれ2個搭載され、また鉛直軸周りに回転させるためのθ軸モータ14がそれぞれ搭載されている。従って、2個の装着ヘッド7A、7Bの各吸着ノズルはX方向及びY方向に移動可能であり、垂直線回りに回転可能で、かつ上下動可能となっている。
16は部品認識カメラで、部品保持具としての吸着ノズル17A、17B、17C、17Dに吸着保持された電子部品を撮像する。18は前記装着ヘッド7A、7Bに設けられたレーザ変位計などの高さレベル測定装置で、レーザ光をプリント基板Pに照射して、その反射光を受光することにより前記位置決め部5で位置決めされたプリント基板Pの高さレベルを測定する。
次に、図2の制御ブロック図において、電子部品装着装置1の各要素はCPU(セントラル・プロセッシング・ユニット)30が統括制御しており、この制御に係るプログラムを格納するROM(リ−ド・オンリー・メモリ)31及び各種データを格納するRAM(ランダム・アクセス・メモリ)32がバスライン33を介して接続されている。また、CPU30には操作画面等を表示するモニタ34及び該モニタ34の表示画面に形成された入力手段としてのタッチパネルスイッチ35がインターフェース36を介して接続されている。また、前記Y軸モータ9等が駆動回路38、インターフェース36を介して前記CPU30に接続されている。また、入力手段としてのマウス39を使用して、或いはタッチパネルスイッチ35を押圧操作することにより、各種設定をすることができる。
前記RAM32には、プリント基板Pの生産ラインを構成する1台の電子部品装着装置1の電子部品の装着に係る装着データがプリント基板Pの種類毎に記憶されており、その装着順序毎(ステップ番号毎)に、プリント基板P内での各電子部品の装着座標であるX座標、Y座標及び角度情報や、各部品供給ユニット3の配置番号情報等が格納されている。
なお、この電子部品装着装置1のみが扱う装着データの他、生産ラインとして複数台の電子部品装着装置1を並設した場合にあっては、このプリント基板Pに装着される全ての電子部品の装着に係る装着データ、言い換えると、並設された全ての各電子部品装着装置の各装着データの和(図3参照)から構成された装着データも前記RAM32に格納されている。なお、説明の便宜上、簡略して4個の電子部品を装着するための装着データとしている。
また、前記RAM32には、この電子部品装着装置1の前記各部品供給ユニット3の部品供給ユニット配置番号に対応した各電子部品の種類の情報、即ち部品配置データが格納されているが、生産ラインとして複数台の電子部品装着装置1を並設した場合にあっては、この複数台の電子部品装着装置1毎の配置データ(3台の電子部品装着装置を例とした配置データを図4に示す。)が前記RAM32に格納されている。
更には、全ての電子部品装着装置において装着される電子部品の部品ID毎に電子部品のX方向、Y方向の長さ、電子部品を収納する収納テープの種類等に関する部品ライブラリデータ(図5参照)が格納されている。
また、前記プリント基板Pの反りなどによるプリント基板Pにおける位置によって高さレベルが区々となり得るが、前記RAM32にはプリント基板Pの種類毎に複数の高さレベルの測定位置データ(基板ID「001」の測定位置を示す図6参照)も格納されている。なお、説明の便宜上、簡略して4個の電子部品に対応して4つの測定位置としており、この測定位置は、例えばX方向、Y方向に等間隔に設定され、その測定位置データが格納されている。
37はインターフェース36を介して前記CPU30に接続される認識処理装置で、前記部品認識カメラ16により撮像して取込まれた画像の認識処理が該認識処理装置37にて行われ、CPU30に処理結果が送出される。即ち、CPU30は部品認識カメラ16により撮像された画像を認識処理(位置ずれ量の算出など)するように指示を認識処理装置37に出力すると共に、認識処理結果を認識処理装置37から受取るものである。
以上の構成により、後述する装着データを作成する際や、プリント基板の機種切替えの際などに、プリント基板Pの高さレベルの測定位置に関して設定する動作について、以下図7に示すフローチャートに基づき説明する。先ず、作業管理者がマウス39やタッチパネルスイッチ35を押圧操作してモニタ34にメニュー選択画面を表示させ、プリント基板Pの高さレベルの測定位置に関する設定メニューを選択する(ステップS01)。次いで、これから設定するプリント基板Pを選択すると、CPU30はこのプリント基板P、プリント基板P上に装着される複数の電子部品の部品グラフィックスDG及び測定点の測定点グラフィックスMG(円の中心が測定位置の中心を、円の大きさが測定点(半径が例えば2mmの大きさ)を図8に示すように、モニタ34に表示させる(ステップS02)。
即ち、CPU30は選択されたプリント基板Pに対応する装着データ(図3参照)や、この選択されたプリント基板Pに装着される電子部品に係る部品ライブラリデータ(図4)や、このプリント基板Pの高さレベルの測定位置データ(図6参照)をRAM32から読み出して、プリント基板P上に装着される複数の電子部品の部品グラフィックスDG及び測定点の測定点グラフィックスMGをモニタ34に表示させる(図8参照)。
従って、作業管理者は、マウス39を操作して、複数の不要な測定点を削除したり、補正が必要な測定点の位置を補正設定することができる。即ち、初めに、作業管理者は、図8に示すような画面を見て、不要な測定点があるか否かを判断する(ステップS03)。次に、不要な測定点が無いと判断するとステップS04に移るが、不要な測定点が有ると判断すると不要な測定点を選択(指定)し(ステップS05)、その不要な測定点を削除する動作(ステップS06)を必要な測定点だけ繰り返す。
具体的には、例えば図8の右上の測定点グラフィックスMG1が部品グラフィックスDG1上にあって重なっているので、この測定点グラフィックスMG1を不要と判断した場合には、作業管理者はマウス39を操作してカーソルを測定点グラフィックスMG1上に移動させた後、左クリックすると、「削除」と「移動」を選択できるメニューボックスが画面表示されるので、マウス39を操作してカーソルをこの表示された「削除」上に移動させて右クリックすると、CPU30はこの測定点グラフィックスMG1を削除するように制御する。従って、RAM32に格納されたこのプリント基板Pの高さレベルの測定位置データから測定点MG1に関するデータが削除される。
この場合は、既に上流の電子部品装着装置において部品グラフィックスDG1に対応する電子部品がこのプリント基板P上に装着されていて、その既に装着済み電子部品の位置とその下流の本電子部品装着装置1において測定する場合の測定位置とが重なっている場合には、削除前の測定位置では好ましくないので、削除するものである。即ち、測定点グラフィックスMG1は、クリックすることにより測定点のデータを削除することができる入力操作スイッチ部になっている。
なお、複数の隣り合った不要な測定位置があった場合には、前記マウス39の操作により、表示されている複数の測定位置を選択範囲として囲み、同時にこの複数の測定位置を削除するようにしてもよい。
そして、この削除によって、もはや不要な測定点が無いと判断するとステップS04に移り、次に作業管理者は測定位置の補正が必要な測定点があるか否かを判断する。この場合、例えば図8の左上の測定点グラフィックスMG2が部品グラフィックスDG2に近すぎて、この測定点MG2の測定位置の補正が必要と判断した場合には、作業管理者はマウス39を操作してカーソルを測定点MG2上に移動させた後、左クリックしてこの測定点グラフィックスMG2を選択し(ステップS07)、その補正が必要な測定点を補正する動作(ステップS08)を必要な測定点だけ繰り返す。
具体的には、前述したように、測定点グラフィックスMG2を選択(指定)すると、「削除」と「移動」を選択できるメニューボックスが画面表示されるので、作業管理者はマウス39を操作してカーソルをこの表示された「移動」上に移動させて右クリックすると、CPU30はX方向、Y方向毎に移動量を入力できるボックスを表示するように制御する。
従って、同時に表示されたタッチパネルスイッチ35の「テンキー」スイッチ部、「+」スイッチ部及び「−」スイッチ部の押圧操作によって、X方向、Y方向毎に移動量を入力できる。この場合、各方向毎に「+」方向(プラスの意で、X方向については画面の右方向、Y方向については画面の上方向を意味する。)、「−」方向(マイナスの意で、X方向については画面の左方向、Y方向については画面の下方向を意味する。)への移動量が入力され、タッチパネルスイッチ35の「決定」スイッチ部が押圧操作されると、移動された測定位置のデータがRAM32に書き替え格納されるように制御される。また、測定位置のデータの書き替えに応じて測定点グラフィックスMG2の表示位置も変更され、移動して変更された測定位置を確認することができる。
即ち、測定点グラフィックスMG2は、クリックして選択し移動させることにより測定点のデータを変更することができる入力操作スイッチ部になっている。以上のように、それぞれの測定点グラフィックスは測定点を削除することができるスイッチ部となっているとともに、測定点の位置を変更することができるスイッチ部ともなっている。
なお、図8において、マウス39を操作してカーソルを測定点グラフィックスMG2上に移動させて選択した後、ドラッグしたままカーソルを移動させることに伴って測定点グラフィックスMGを任意の方向に移動させ、移動位置に応じて測定位置のデータが変更されるようにしてもよい。
そして、高さレベル測定装置18はレーザ光をプリント基板Pに照射して、その反射光を受光することによりプリント基板Pの高さレベルを測定するものであるが、照射した光と受けた光のとの間にある角度があるので、測定点と電子部品とが近すぎて測定できない、例えば2mm程度離れていないと測定できない場合でも、図8における測定点グラフィックスMGの半径は、2mmであるので、その移動量はこの画面において憶測できるので、適切な移動量に設定することができる。
この場合は、既に上流の電子部品装着装置において部品グラフィックスDG2に対応する電子部品がこのプリント基板P上に装着されていて、その既に装着済み電子部品の位置とその下流の本電子部品装着装置1において測定する場合の測定位置とが近すぎている場合には、移動前の測定位置では好ましくないので、移動するものである。
以上のように、プリント基板Pの高さレベルの測定位置に関する設定を終了すると、適切なプリント基板Pの高さレベルの測定が行え、電子部品の装着時にこの測定結果に基づいて、吸着ノズル17A、17B、17C、17Dに対応する上下軸モータ13に対してCPU30による下降制御がなされることとなる。この場合、装着部品1個について対応する1つの測定点における測定結果を適用してもよいし、装着部品1個について対応する複数の測定点における測定結果に基づいて適用してもよく、この場合この複数の測定点における高さレベルの平均値などを適用することも考えられる。
このプリント基板Pの生産動作について説明すると、先ずプリント基板Pが上流側装置(図示せず)より受継がれて供給コンベア4上に存在すると、供給コンベア4上のプリント基板Pを位置決め部5へ移動させる。
このとき、基板搬送方向における基準としての位置規制装置の位置決めピン(図示せず)に当該プリント基板Pが係止して停止することとなる。そして、Zクランプ機構(図示せず)が作動して、プリント基板Pの高さ方向のレベルを一定として、プリント基板Pの上下方向の位置決めをすることができ、3次元方向の位置決めをして固定することができる。
更に、バックアップベース(図示せず)の複数の凹溝に生産すべきプリント基板Pに必要なバックアップピンが挿入されており、該バックアップベースの上昇により、このバックアップピンがプリント基板Pの裏面に当接し、該基板Pを水平に保持するように押し上げ支持する。
このようにして、プリント基板Pの位置決め動作が終了するが、この位置決めされたことがCPU30により判断されると、CPU30はRAM32に格納された当該プリント基板Pに対応した1番目の高さレベルの測定位置を読取って、X軸モータ12及びY軸モータ9を制御して高さレベル測定装置18を1番目の測定位置上方へ移動させる。
そして、高さレベル測定装置18が前記位置決め部5で位置決めされたプリント基板Pの1番目の測定位置における高さレベルを測定し、前記CPU30はこの1番目の測定位置における高さレベルをRAM32に格納する。次に、同様に、CPU30はRAM32に格納された2番目及び3番目(1つ削除したため)の高さレベルの測定位置を読取って、X軸モータ12及びY軸モータ9を制御して高さレベル測定装置18をこの測定位置上方へ移動させる。
以上のように、前述した全て(3個)の測定点に対応する測定結果がRAM32に格納されることとなるので、電子部品の装着時にこの測定結果に基づいて吸着ノズル17A、17B、17C、17Dの下降制御がCPU30によりなされる。
従って、位置決め部5に搬送されたプリント基板P上にRAM32に格納された装着データに従い、吸着ノズル17A、17B、17C、17の何れかが装着すべき電子部品を所定の部品供給ユニット3から吸着して取出し、部品認識カメラ16上方を通過して、前記吸着ノズルに吸着保持された各電子部品を撮像し、認識処理装置37で認識処理し、その結果に基づいて装着データの装着座標に部品認識結果を加味して位置ずれを補正しつつ、それぞれ電子部品をプリント基板P上に装着するが、前記電子部品の装着位置に対応する前記プリント基板Pの高さレベルの前述した測定結果に基づいて、吸着ノズル17A、17B、17C、17Dに対応する上下軸モータ13に対してCPU30による下降制御がなされることとなる。即ち、上方に反っている場合には下降量を減らし、逆に下方に反っている場合には下降量を増やす。
なお、プリント基板Pの高さレベルを測定するタイミングは、位置決めしたプリント基板P上に電子部品を装着する前に、この生産するプリント基板P毎に行うようにしたが、これに限らず、種々の測定タイミングに適用でき、例えばプリント基板Pの機種切替えに伴い、この機種切替え後の最初に生産するプリント基板Pに対して行ってもよく、生産するプリント基板Pの所定枚数毎や、生産時間の所定時間毎に行うようにしてもよい。
従って、本発明はプリント基板Pの高さ測定位置を変更するようにして、適切な測定位置とすることができ、電子部品の装着の際に、プリント基板の反りに対応した吸着ノズルの下降制御を行うことができ、確実にプリント基板P上に装着できるので装着されない場合の持ち帰りや、電子部品の割れや半田の飛散が発生することを防止できる。
以上のように本発明の実施態様について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。
電子部品自動装着装置の平面図である。 制御ブロック図である。 装着データを示す図である。 部品配置データを示す図である。 部品ライブラリデータを示す図である。 基板ID「001」の測定座標データを示す図である。 フローチャートを示す図である。 モニタに表示された画面を示す図である。
1 電子部品装着装置
5 位置決め部
7A、7B 装着ヘッド
17A、B、C、D 吸着ノズル
18 高さレベル測定装置
30 CPU
32 RAM
34 モニタ
35 タッチパネルスイッチ
39 マウス
P プリント基板

Claims (4)

  1. 高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着装置において、
    前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する装着データを格納する第1記憶手段と、
    前記電子部品の種類毎にこの電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データを格納する第2記憶手段と、
    前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データを格納する第3記憶手段と、
    前記第1記憶手段に格納された前記装着データ、前記第2記憶手段に格納された前記部品データ及び前記第3記憶手段に格納された前記計測位置データに基づいて装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示し、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示するモニタと、
    このモニタに表示された不要な測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去する消去手段と、
    前記モニタに表示された測定位置を移動したい測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する変更手段とを設け、
    前記モニタに、前記消去手段による不要な測定点グラフィックスの消去と前記移動手段による移動したい測定点グラフィックスの移動とを選択可能なメニューボックスを表示し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には前記消去手段により不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には前記変更手段により移動したい測定点グラフィックスに対応する前記計測位置データを変更することを特徴とする電子部品装着装置。
  2. 前記基板の種類毎に、前記装着データは前記第1記憶手段に格納され、前記計測位置データは前記第3記憶手段に格納されることを特徴とする請求項1に記載の電子部品装着装置。
  3. 高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定し、この測定結果に基づいて、部品保持具が部品供給装置より電子部品を取り出して前記基板上に装着する際に、前記部品保持具の下降制御を行う電子部品装着方法において、
    前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する前記装着データ、各電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データ及び前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データに基づいて、モニタに表示された基板での装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示させ、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示させ、
    前記モニタに表示された不要な測定点グラフィックス、或いは測定位置を移動したい測定点グラフィックスを選択し、
    前記モニタに表示され、不要な測定点グラフィックスの消去と移動したい測定点グラフィックスの移動との何れかを選択可能なメニューボックスを操作して前記消去と前記移動との何れかを選択し、
    前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には、選択された不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には、選択された移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する
    ことを特徴とする電子部品装着方法。
  4. 高さレベル測定装置により基板の高さレベルを測定する測定位置に係る基板高さ計測位置データ編集装置において、
    前記基板に装着される全ての電子部品に関してどの電子部品をどの位置に装着するかに関する装着データを格納する第1記憶手段と、
    前記電子部品の種類毎にこの電子部品のサイズを含む特徴に関する部品データを格納する第2記憶手段と、
    前記基板の高さレベルを計測するための複数の計測位置に関する計測位置データを格納する第3記憶手段と、
    前記第1記憶手段に格納された前記装着データ、前記第2記憶手段に格納された前記部品データ及び前記第3記憶手段に格納された前記計測位置データに基づいて装着位置に前記各電子部品の部品グラフィックスを表示し、且つ、計測位置に測定点グラフィックスを表示するモニタと、
    前記モニタに表示された不要な測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去する消去手段と、
    前記モニタに表示された測定位置を移動したい測定点グラフィックスの選択に応じて前記第3記憶手段に格納されたこの移動したい測定点グラフィックスに対応する計測位置データを変更する変更手段と
    を備え、
    前記モニタに、前記消去手段による不要な測定点グラフィックスの消去と前記移動手段による移動したい測定点グラフィックスの移動とを選択可能なメニューボックスを表示し、前記メニューボックスで前記測定点グラフィックスの消去が選択された場合には前記消去手段により不要な測定点グラフィックスに対応する計測位置データを消去し、前記測定点グラフィックスの移動が選択された場合には前記変更手段により移動したい測定点グラフィックスに対応する前記計測位置データを変更する
    ことを特徴とする基板高さ計測位置データ編集装置。
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