JP5410444B2 - 画像センサアレイ、増強画像センサアレイ、電子打ち込み増倍型画像センサアレイ装置、及び、そのような画像センサアレイ用の画素センサ素子 - Google Patents
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Claims (16)
- 電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、
真空槽と、
照射された画像光に曝されたときに前記真空槽の中に電子を放出する光電陰極と、
前記光電陰極から電子像を受像するように該光電陰極と対向配置された陽極の方向へ、前記光電陰極から放出された電子を加速させることにより、動作中に前記電子を前記陽極に衝突させて前記陽極の表面付近で電子正孔対を発生させる電界生成手段と、
前記電子正孔対の電子を電気信号として受け取る画像センサアレイと
を備え、
前記画像センサアレイは、表面領域に沿って配列された複数の画素センサ素子を有し、指定されたビデオフレームレートで画像に相当する一連のビデオフレームを生成し出力するものであり、
前記複数の画素センサ素子は、各々が前記ビデオフレームレートに相当する時間で分割された期間を有するビデオフレーム要素を前記電気信号から生成するとともに、複数の前記ビデオフレーム要素から単一のビデオフレームを構成する
前記複数の画素センサ素子の各々は、前記ビデオフレーム要素を構成する信号を保持する少なくとも1つの記憶素子を含み、
前記記憶素子に保持された信号は、当該記憶素子を含む前記画素センサ素子を1ビデオフレーム期間内にリセットさせるリセット電圧として使用される
ことを特徴とする画像センサアレイ装置。 - 請求項1に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、
前記ビデオフレーム要素の当該期間は、外部制御信号により決定されるものであり、
前記外部制御信号は、前記画素センサ素子の全部または一部に供給される
ことを特徴とする画像センサアレイ装置。 - 請求項2に記載の画像センサアレイ装置であって、前記外部制御信号は、当該画像センサアレイに結像される外部イベントと同期して供給されることを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 請求項3に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、前記外部イベントは、前記ビデオフレームレートで分割された期間内に含まれる特有の画像情報を有することを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 請求項1から4のうちのいずれか1項に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、
前記複数の画素センサ素子の各々は、第1トランジスタ、第2トランジスタ、第3トランジスタ、第4トランジスタ、第5トランジスタ及び第6トランジスタを備え、
前記第1トランジスタは、電源電圧に作動的に接続された第1の接続ノードと、前記電気信号が入力される接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第2トランジスタは、前記第3トランジスタの第2の接続ノードに接続された第1の接続ノードと、前記第4トランジスタ及び前記記憶素子の双方の第1の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第3トランジスタは、前記電源電圧に接続された第1の接続ノードと、前記第2トランジスタの当該第1の接続ノードに接続された当該第2の接続ノードと、前記電気信号が入力される当該接続ノードに接続されたゲートノードとを有し、
前記第4トランジスタは、前記第2トランジスタの当該第2の接続ノードに作動的に接続された第1の接続ノードと、前記画素センサ素子の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記記憶素子は、前記第2トランジスタの当該第2の接続ノードと前記第4トランジスタの当該第1の接続ノードとに作動的に接続された第1の接続ノードを有し、
前記第5トランジスタは、前記記憶素子の当該第1の接続ノードに作動的に接続されたゲートノードと、前記第6トランジスタの第1の接続ノードに作動的に接続された第1の接続ノードと、前記電源電圧に作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第6トランジスタは、前記第5トランジスタの当該第1の接続ノードに接続された当該第1の接続ノードと、前記電気信号が入力される当該第1の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有する
ことを特徴とする画像センサアレイ装置。 - 請求項5に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、
前記第1トランジスタのゲートノードと前記第2トランジスタのゲートノードと前記第6トランジスタのゲートノードとは、それぞれ、前記第1トランジスタ、前記第2トランジスタ及び前記第6トランジスタを個別に駆動するリセット回路の接続ノードと接続されており、
前記第4トランジスタのゲートノードは、前記画像センサアレイの読み出し回路に接続されている
ことを特徴とする画像センサアレイ装置。 - 請求項5または6に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、前記記憶素子は、少なくとも1つのキャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 請求項7に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、前記記憶素子は、MOS型キャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 請求項7に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、前記記憶素子は、MIM型キャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 請求項7から9のうちのいずれか1項に記載の電子打ち込み増倍型の画像センサアレイ装置であって、前記記憶素子は、遮光層を含むことを特徴とする画像センサアレイ装置。
- 表面領域に沿って配列された複数の画素センサ素子を備える画像センサアレイであって、
前記複数の画素センサ素子の各々は、入射光に応じた電気信号を生成し出力する受光素子と、前記画素センサ素子の境界で発生した電子電荷を収集する電荷収集素子とのうちのいずれか一方を備えるとともに、前記画素センサ素子内で信号を保持する少なくとも1つの記憶素子と、第1トランジスタ、第2トランジスタ、第3トランジスタ、第4トランジスタ、第5トランジスタ及び第6トランジスタとを備え、
前記第1トランジスタは、電源電圧に作動的に接続された第1の接続ノードと、前記受光素子及び前記電荷収集素子のいずれか一方の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第2トランジスタは、前記第3トランジスタの第2の接続ノードに接続された第1の接続ノードと、前記第4トランジスタ及び前記記憶素子の双方の第1の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第3トランジスタは、前記電源電圧に接続された第1の接続ノードと、前記第2トランジスタの当該第1の接続ノードに接続された当該第2の接続ノードと、前記受光素子及び前記電荷収集素子のうちのいずれか一方の当該接続ノードに接続されたゲートノードとを有し、
前記第4トランジスタは、前記第2トランジスタの当該第2の接続ノードに作動的に接続された第1の接続ノードと、前記画素センサ素子の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記記憶素子は、前記第2トランジスタの当該第2の接続ノードと前記第4トランジスタの当該第1の接続ノードとに作動的に接続された第1の接続ノードを有し、
前記第5トランジスタは、前記記憶素子の当該第1の接続ノードに作動的に接続されたゲートノードと、前記第6トランジスタの第1の接続ノードに作動的に接続された第1の接続ノードと、前記電源電圧に作動的に接続された第2の接続ノードとを有し、
前記第6トランジスタは、前記第5トランジスタの当該第1の接続ノードに接続された当該第1の接続ノードと、前記受光素子及び前記電荷収集素子のいずれか一方の当該第1の接続ノードに作動的に接続された第2の接続ノードとを有する
ことを特徴とする画像センサアレイ。 - 請求項11に記載の画像センサアレイであって、
前記第1トランジスタのゲートノードと前記第2トランジスタのゲートノードと前記第6トランジスタのゲートノードとは、それぞれ、前記第1トランジスタ、前記第2トランジスタ及び前記第6トランジスタを個別に駆動するリセット回路の接続ノードと接続されており、
前記第4トランジスタのゲートノードは、前記画像センサアレイの読み出し回路に接続されている
ことを特徴とする画像センサアレイ。 - 請求項11または12に記載の画像センサアレイであって、前記記憶素子は、少なくとも1つのキャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ。
- 請求項13に記載の画像センサアレイであって、前記記憶素子は、MOS型キャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ。
- 請求項13に記載の画像センサアレイであって、前記記憶素子は、MIM型キャパシタを含むことを特徴とする画像センサアレイ。
- 請求項13から15のうちのいずれか1項に記載の画像センサアレイであって、前記記憶素子は、遮光層を含むことを特徴とする画像センサアレイ。
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|---|---|---|---|---|
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| US6657178B2 (en) * | 1999-07-20 | 2003-12-02 | Intevac, Inc. | Electron bombarded passive pixel sensor imaging |
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| JP3558589B2 (ja) * | 2000-06-14 | 2004-08-25 | Necエレクトロニクス株式会社 | Mos型イメージセンサ及びその駆動方法 |
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