JP5440211B2 - 光伝送装置および導通試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、光伝送装置および導通試験方法に関する。

近年、光通信ネットワークとして、波長分割多重（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）方式を採用したＷＤＭネットワークの構築が進められている。ＷＤＭネットワークでは、波長多重されるチャンネルの分岐または挿入を行うための光伝送装置がノードとして適宜配置される。

特に、地域（メトロ）網におけるＷＤＭネットワークにおいては、光伝送装置をリング状や格子状に多数配置するようなネットワーク構成を採用する場合が多い。そして、今後のネットワーク規模の拡大に伴って、ＷＤＭネットワーク内に配置される光伝送装置がさらに増加することが予測されている。

一方、光伝送装置内には種々の光コンポーネントが配置され、これら光コンポーネント間は、光ファイバ等の光伝送路で互いに接続されている。このため、ＷＤＭネットワーク内に配置される光伝送装置が増加することによって、光伝送装置内の光コンポーネント間を接続する光伝送路の数が急増することとなる。このように光伝送路の数が急増すれば、装置の保守や運用のために必要となる光伝送路についての導通試験が煩雑なものとなる。

そこで、装置内の光伝送路についての導通試験を効率化するための技術が種々検討されている。例えば、増幅器から放出される自然放出光（ＡＳＥ光：Amplified Spontaneous Emission）を利用する従来技術が知られている。かかる従来技術では、光伝送装置が、増幅器からのＡＳＥ光を装置内の全ての光伝送路に向けて出力し、各光伝送路に配置したＰＤ（Photodiode）によりＡＳＥ光の光パワーを検出することで、装置内の全光伝送路の光導通確認を行う。

特開２００６−３３３１３６号公報

ところで、上述した従来技術では、光伝送路の光導通確認を行う際に、増幅器に励起光を供給し、増幅器から放出されるＡＳＥ光をＰＤで検出できる程度まで増幅している。このため、ＷＤＭ信号光が増幅器にそのまま入力されれば、増幅器に供給される励起光によりＡＳＥ光だけでなくＷＤＭ信号光も増幅され、その結果、通信に支障が生じる。一方で、ＷＤＭ信号光の入力を一旦停止することも考えられるが、ＷＤＭ信号光の入力を一旦停止することは、通信の安定性を阻害することになる。

開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであって、装置内の光伝送路についての導通試験を通信の安定性を保持しつつ行うことができる光伝送装置および導通試験方法を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するため、本願に開示する光伝送装置は、入力される波長多重信号光を増幅する増幅器と、前記増幅器によって増幅された波長多重信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する第１の出力部と、前記増幅器で発生する自然放出光のうち、前記第１の出力部によって選択されていない波長帯の第１の自然放出光及び／又は前記波長多重信号光の波長帯以外の波長帯の第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を前記複数の光伝送路のうち予め定めた非運用経路へ出力する第２の出力部と、前記第２の出力部によって前記非運用経路へ出力された集積光を用いて、前記非運用経路の導通状態を判定する判定部とを備えた。

本願の開示する光伝送装置の一つの態様によれば、装置内の光伝送路についての導通試験を通信の安定性を保持しつつ行うことができるという効果を奏する。

図１は、実施例１に係る光伝送装置の構成を示すブロック図である。 図２は、第２の出力部による処理の一例を説明するための図である。 図３は、実施例２に係る光伝送装置の構成を示すブロック図である。 図４は、閾値ＤＢの一例を示す図である。 図５は、図３に示した光分岐挿入部の構成を示すブロック図である。 図６は、実施例２に係るＭＥＭＳミラー装置の構成を示す外観図である。 図７は、ＭＥＭＳミラー装置の動作を説明するための図である。 図８は、ＭＥＭＳミラー装置の変形例を示す図である。 図９は、実施例２に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートである。 図１０は、実施例２に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートであり、具体的には図９中の光分岐挿入部の光分岐部と光挿入部間を繋ぐ光伝送路の導通試験の処理手順に関するフローチャートである。 図１１は、実施例２に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートであり、具体的には図９中の光分岐挿入部の光挿入部と後段増幅器間を繋ぐ光伝送路の導通試験の処理手順に関するフローチャートである。 図１２は、実施例３に係る光伝送装置が備えた光分岐挿入部の構成を示すブロック図である。 図１３は、実施例３に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートである。 図１４は、実施例３に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートであり、具体的には図１３中の光分岐挿入部の光分岐部と光挿入部間を繋ぐ光伝送路の導通試験の処理手順に関するフローチャートである。 図１５は、実施例３に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートであり、具体的には図１３中の光分岐挿入部の光挿入部と後段増幅器間を繋ぐ光伝送路の導通試験の処理手順に関するフローチャートである。 図１６は、実施例４に係る光伝送装置の構成を示すブロック図である。 図１７は、実施例４に係る閾値ＤＢの一例を示す図である。

以下に、本願の開示する光伝送装置および導通試験方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。

まず、実施例１に係る光伝送装置の構成について説明する。本実施例に係る光伝送装置は、例えば、ＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing）ネットワークにおける中継装置（ノード）として配置され、波長多重されるチャンネルの分岐または挿入を行うための光分岐挿入（OADM：Optical add-drop multiplexer）装置である。

なお、以下では、ＯＡＤＭ装置からなる光伝送装置内に配置された光伝送路の導通試験を行う例について説明するが、これに限られない。少なくとも前段増幅器とともに、ＷＤＭ信号光を分離して伝送させるような経路を備えた光伝送装置であれば、本発明を適用することができる。

図１は、実施例１に係る光伝送装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、本実施例に係る光伝送装置１は、増幅器２と、第１の出力部３と、第２の出力部４と、判定部５とを有する。

増幅器２は、入力される波長多重信号光（ＷＤＭ信号光）を増幅する。第１の出力部３は、増幅器２によって増幅されたＷＤＭ信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する。

第２の出力部４は、増幅器２で発生するＡＳＥ光のうち、第１の出力部３によって選択されてない波長帯の第１のＡＳＥ光及び／又はＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を予め定めた非運用経路へ出力する。

図２は、第２の出力部４による処理の一例を説明するための図である。なお、図２では、縦軸が光パワーを示し、横軸が波長を示す。また、第１の出力部３によって波長λａが選択され運用経路へ出力されたものとする。第２の出力部４は、増幅器２で発生するＡＳＥ光のうち、第１の出力部３によって選択されてない波長帯の第１のＡＳＥ光Ｐ及び／又はＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光Ｑを集積することで得られる集積光を予め定めた非運用経路へ出力する。

図１の説明に戻って、判定部５は、第１の出力部３によって運用経路へ出力された信号光を用いて運用経路の導通状態を判定するとともに、第２の出力部４によって非運用経路へ出力された集積光を用いて非運用経路の導通状態を判定する。

このように、光伝送装置１は、増幅器２からのＡＳＥ光のうち、運用経路へ出力されない波長帯の第１のＡＳＥ光及び／又はＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力し、非運用経路の導通状態を判定する。このため、光伝送装置１によれば、増幅器２からのＡＳＥ光をＰＤ等の検出器で検出可能な程度まで増幅する必要がなくなり、運用経路へ出力中のＷＤＭ信号光を停止することなく非運用経路の導通確認を行うことが可能となる。その結果、光伝送装置１によれば、装置内の光伝送路についての導通試験を通信の安定性を保持しつつ行うことができる。

次に、実施例２に係る光伝送装置について説明する。実施例２に係る光伝送装置は、内部の光コンポーネント間を繋ぐための光伝送路を複数備え、これら光伝送路のうち予め定めた運用経路へＷＤＭ信号光を出力する。そして、実施例２に係る光伝送装置は、増幅器からのＡＳＥ光のうち、運用経路へ出力されない波長帯の第１のＡＳＥ光及びＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力し、非運用経路の導通状態を判定する。

このように、実施例２に係る光伝送装置は、ＡＳＥ光を集積した集積光を利用して非運用経路の導通状態を判定するので、運用経路へ出力中のＷＤＭ信号光を停止することなく非運用経路の導通確認を行うことが可能となる。その結果、実施例２に係る光伝送装置１は、装置内の光伝送路についての導通試験を通信の安定性を保持しつつ容易に行うことができる。

図３は、実施例２に係る光伝送装置１０の構成を示すブロック図である。図３に示すように、実施例２に係る光伝送装置１０は、前段増幅器１１と、光分岐挿入部１２、１３と、後段増幅器１４、１５と、判定部１６と、記憶部１７とを有する。

このうち、光コンポーネントである前段増幅器１１、光分岐挿入部１２、１３、後段増幅器１４、１５は、光ファイバ等の光伝送路によりそれぞれ接続されている。すなわち、前段増幅器１１と光分岐挿入部１２における後述の光分岐部１２ａとは、光伝送路２０により接続されている。光分岐部１２ａと光分岐挿入部１２における後述の光挿入部１２ｂとは、光伝送路２１により接続されている。光挿入部１２ｂと後段増幅器１４とは、光伝送路２２により接続されている。光分岐部１２ａと光分岐挿入部１３の光挿入部１３ｂとは、光伝送路２３により接続されている。光分岐挿入部１３の光挿入部１３ｂと後段増幅器１５とは、光伝送路２４により接続されている。

また、光伝送路２０〜２４のうち、光伝送路２０、２１、２２は、ＷＤＭ信号光が入力される運用経路として予め設定されており、光伝送路２３、２４は、ＷＤＭ信号光が入力されない非運用経路として予め設定されている。

また、光伝送路２０〜２４の一端には、ＰＤ（Photodiode）２０ａ〜２４ａがそれぞれ設置され、他端には、ＰＤ２０ｂ〜２４ｂがそれぞれ設置されている。ＰＤ２０ａ〜２４ａ、ＰＤ２０ｂ〜２４ｂは、光伝送路２０〜２４を通る光の光パワーを光伝送路２０〜２４の両端で検出し、検出した光パワーを判定部１６へ出力する。

前段増幅器１１は、前段側の光伝送装置から光伝送装置１０へ入力されるＷＤＭ信号光を増幅する。光分岐挿入部１２は、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光を所定波長の信号光に分岐する光分岐部１２ａと、光分岐部１２ａによって分岐されたＷＤＭ信号光に対して所定波長の信号光を挿入する光挿入部１２ｂとを有する。

図３の例では、光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａは、前段増幅器１１から光伝送路２０を介して入力されるＷＤＭ信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路である光伝送路２１へ出力し、非運用経路である光伝送路２３へは出力しない。光挿入部１２ｂは、光分岐部１２ａによって分岐がされたＷＤＭ信号光に対して所定波長の信号光の挿入を行い運用経路である光伝送路２２へ出力する。

また、光分岐部１２ａは、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として選択されていない波長帯の第１のＡＳＥ光及び／又はＷＤＭ信号光の波長帯以外の第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路である光伝送路２３へ出力する。また、光分岐挿入部１３の光挿入部１３ｂは、第１のＡＳＥ光及び／又は第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路である光伝送路２４へ出力する。なお、光分岐挿入部１２、１３の詳細な構成については後述する。後段増幅器１４は、光分岐挿入部１２から光伝送路２２を介して入力されるＷＤＭ信号光を増幅し、下流側に設置された次ノードの光伝送装置（図示せず）へ出力する。

判定部１６は、前段増幅器１１、光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａ及び光挿入部１２ｂから運用経路である光伝送路２０、光伝送路２１及び光伝送路２２にそれぞれ出力されたＷＤＭ信号光を用いて、光伝送路２０、光伝送路２１及び光伝送路２２の導通状態を判定する。具体的には、判定部１６は、光伝送路２０へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２０の両端のＰＤ２０ａ、２０ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２０の導通状態を判定する。また、判定部１６は、光伝送路２１へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２１の両端のＰＤ２１ａ、２１ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２１の導通状態を判定する。同様に、判定部１６は、光伝送路２２へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２２の両端のＰＤ２２ａ、２２ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２２の導通状態を判定する。

また、判定部１６は、光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａ及び光分岐挿入部１３の光挿入部１３ｂから非運用経路である光伝送路２３及び光伝送路２４へ出力された集積光を用いて、光伝送路２３及び光伝送路２４の導通状態を判定する。具体的には、判定部１６は、光伝送路２３へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２３の両端のＰＤ２３ａ、２３ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２３の導通状態を判定する。同様に、判定部１６は、光伝送路２４へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２４の両端のＰＤ２４ａ、２４ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２４の導通状態を判定する。

記憶部１７は、判定部１６による判定処理に必要なデータを格納する。記憶部１７は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory)、 ＲＯＭ（Read Only Memory)、フラッシュメモリ (flash memory)などの半導体メモリ素子、または、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、光ディスクなどの記憶装置である。記憶部１７は、特に、閾値ＤＢ１７ａを有する。

閾値ＤＢ１７ａは、判定部１６が光伝送路へ出力されるＷＤＭ信号光や集積光の光パワーを閾値判定する際に判定部１６によって参照されるＰＤの閾値を記憶する。閾値ＤＢ１７ａの一例を図４に示す。

図４に示すように、閾値ＤＢ１７ａは、光伝送路ＩＤ（identification）、波長、上流側アンプ数、ＰＤ閾値を対応付けて記憶する。光伝送路ＩＤは、光伝送路を識別するための識別情報を示す。波長数は、光伝送路に予め設定された波長の多重数を示す。上流側アンプ数は、光伝送路よりも上流側に設置された中継装置のアンプ（増幅器）の数を示す。ＰＤ閾値は、光伝送路の両端に設置されたＰＤの閾値の範囲（上限値及び下限値）を示す。

次に、図３に示した光分岐挿入部１２、１３の詳細な構成について説明する。図５は、図３に示した光分岐挿入部１２の構成を示すブロック図である。なお、光分岐挿入部１３の構成は、光分岐挿入部１２の構成と同様であるため、その説明を省略する。

図５に示すように、光分岐挿入部１２は、光分岐部１２ａと、光挿入部１２ｂとを有する。光分岐部１２ａは、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光を所定波長の信号光に分岐する。光挿入部１２ｂは、光分岐部１２ａによって分岐されたＷＤＭ信号光に対して所定波長の信号光を挿入する。

光分岐部１２ａ及び光挿入部１２ｂは、分波器（ＤＭＵＸ：Demultiplexer）３１ａ、３１ｂと、波長選択スイッチ部３２と、可変減衰器（ＶＯＡ：Variable Optical Attenuator）３３と、合波器（ＭＵＸ：Multiplexer）３４と、制御部３５とを有する。

ＤＭＵＸ３１ａは、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光を波長毎に分離する。また、ＤＭＵＸ３１ａは、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として使用していない波長帯の第１のＡＳＥ光を波長毎に分離する。ＤＭＵＸ３１ｂは、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を波長毎に分離する。

波長選択スイッチ部３２は、ＤＭＵＸ３１ａによって分離された各波長の信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路（図３の例では光伝送路２１）に接続されたＭＵＸ３４へ出力する。また、波長選択スイッチ部３２は、ＤＭＵＸ３１ａによって分離された各波長の第１のＡＳＥ光とＤＭＵＸ３１ｂによって分離された各波長の第２のＡＳＥ光とを集積した集積光を非運用経路（図３の例では光伝送路２３）に接続されたＭＵＸ３４へ出力する。

ＶＯＡ３３は、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の信号光の信号レベルを適宜調整する。また、ＶＯＡ３３は、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の集積光を透過又は遮断する。ＭＵＸ３４は、ＶＯＡ３３からの各波長の信号光及び集積光を波長多重し、運用経路（図３の例では光伝送路２１）及び非運用経路（図３の例では光伝送路２３）へそれぞれ出力する。

制御部３５は、光分岐部１２ａや光挿入部１２ｂの全体を制御する制御部である。制御部３５は、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ (Field Programmable Gate Array)などの集積回路、または、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）などの電子回路である。

例えば、制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路に接続されたＭＵＸ３４へ出力する。また、制御部３５は、運用経路や非運用経路にて各波長の信号光の光パワーをＯＣＭ（Optical Channel Monitor）により検出し、その検出結果を利用してＶＯＡ３３を制御し、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の信号レベルを適宜調整する。また、制御部３５は、ＶＯＡ３３を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の集積光をＭＵＸ３４へ向けて透過又は遮断させる。

このように、ＤＭＵＸ３１ａ、３１ｂ、波長選択スイッチ部３２、ＶＯＡ３３、ＭＵＸ３４及び制御部３５は、協働することで、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路へ出力する。さらに、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として選択されていない波長帯の第１のＡＳＥ光及びＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路へ出力する。

ところで、上述した光分岐部１２ａ及び光挿入部１２ｂでは、ＤＭＵＸ３１ａ、３１ｂ、波長選択スイッチ部３２、ＶＯＡ３３、ＭＵＸ３４及び制御部３５における各機能はさまざまな手段によって実現可能であるが、一般的にはＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）ミラーを用いて実現される。以下、かかるＭＥＭＳミラー装置について説明する。図６は、実施例２に係るＭＥＭＳミラー装置の構成を示す外観図であり、図７は、ＭＥＭＳミラー装置の動作を説明するための図である。

図６及び図７に示すように、ＭＥＭＳミラー装置４０は、コリメータ４１と、回折格子４２と、レンズ４３と、ＭＥＭＳミラーアレイ４４と、装置制御部４５とを有する。コリメータ４１は、平行光をつくるための光学機器である。

回折格子４２は、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光を波長毎に分離する。また、回折格子４２は、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として使用していない波長帯の第１のＡＳＥ光及びＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を波長毎に分離する。レンズ４３は、回折格子４２からＭＥＭＳミラーアレイ４４に出力される各信号光や各ＡＳＥ光の焦点を調整するためのレンズである。

ＭＥＭＳミラーアレイ４４は、ＷＤＭ信号光の波長帯に対応した複数のＭＥＭＳミラー４４ａとＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯のＡＳＥ光に対応した複数のＭＥＭＳミラー４４ｂとを備える。そして、ＭＥＭＳミラーアレイ４４は、ＭＥＭＳミラー４４ａ、４４ｂの角度を調整することで、各波長の信号光が出力される運用経路や各波長のＡＳＥ光が出力される非運用経路を切り替える。

装置制御部４５は、ＭＥＭＳミラー装置４０の全体を制御する制御部である。例えば、装置制御部４５は、ＭＥＭＳミラーアレイ４４のＭＥＭＳミラー４４ａ、４４ｂの回転角度を制御することで、回折格子４２によって分離された各波長のＡＳＥ光を集積して集積光を生成し、集積光を非運用経路へ出力する。また、装置制御部４５は、運用経路や非運用経路にて各波長の信号光の光パワーをＯＣＭで検出し、その検出結果を利用してＭＥＭＳミラー４４ａの回転角度を制御することで、運用経路へ出力される各波長の信号光の信号レベルを適宜調整する。また、装置制御部４５は、ＭＥＭＳミラー４４ａ、４４ｂの回転角度を制御することで、集積光を非運用経路へ向けて透過又は遮断させる。

なお、図７に示したＭＥＭＳミラー装置４０において、ＭＥＭＳミラーアレイ４４の各ＭＥＭＳミラー４４ｂを、図８に示すように、互いに密着状態で配置してもよい。このように、各ＭＥＭＳミラー４４ｂを密着させたＭＥＭＳミラー装置４０は、ＭＥＭＳミラー４４ｂどうしの隙間から漏洩するＡＳＥ光を削減することができ、より高い光パワーを持ったＡＳＥ光を集積することができる。なお、図８は、ＭＥＭＳミラー装置４０の変形例を示す図である。

次に、実施例２に係る光伝送装置１０による導通試験の処理手順について説明する。図９〜図１１は、実施例２に係る光伝送装置１０による導通試験の処理手順を示すフローチャートである。

図９に示すように、まず、光伝送装置１０は、導通試験を開始する旨をユーザへ通知する（ステップＳ１１）。続いて、光伝送装置１０の判定部１６は、光伝送装置１０に含まれる複数の光伝送路から、前段増幅器１１と光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａとを繋ぐ光伝送路を選定する（ステップＳ１２）。ここでは、判定部１６は、前段増幅器１１と光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａとを繋ぐ光伝送路として、運用経路である光伝送路２０（図３参照）を選定したものとする。

そして、判定部１６は、光伝送路２０へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２０の両端のＰＤ２０ａ、２０ｂから取得し（ステップＳ１３）、記憶部１７に格納された閾値ＤＢ１７ａから光伝送路２０に対応した光伝送路ＩＤを用いてＰＤ閾値を読み出す（ステップＳ１４）。

そして、判定部１６は、２つの光パワー（ＰＤ値）がＰＤ閾値の範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲内であると判定すると（ステップＳ１５肯定）、判定部１６は、光伝送路２０の導通状態が正常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ１６）。そして、判定部１６は、光分岐挿入部１２、１３の光分岐部１２ａ、１３ａと光挿入部１２ｂ、１３ｂ間を繋ぐ光伝送路の導通試験を行う（ステップＳ１７）。なお、ステップＳ１７の処理については後に説明する。

一方、２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲外であると判定すると（ステップＳ１５否定）、判定部１６は、光伝送路２０の導通状態が異常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ１８）。

ステップＳ１７の処理及びステップＳ１８の処理を終了すると、判定部１６は、前段増幅器１１と光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａとを繋ぐ光伝送路を全て選定したか否かを判定する（ステップＳ１９）。全て選定していない場合には（ステップＳ１９否定）、判定部１６は、上述したステップＳ１２に戻り、ステップＳ１２〜ステップＳ１９の処理を繰り返す。一方、全て選定した場合には（ステップＳ１９肯定）、判定部１６は、試験結果をユーザへ通知する（ステップＳ２０）。

次に、図１０を用いて、ステップＳ１７の処理について説明する。図１０に示すように、判定部１６は、光伝送装置１０に含まれる複数の光伝送路から、光分岐挿入部１２、１３の光分岐部１２ａ、１３ａと光挿入部１２ｂ、１３ｂ間を繋ぐ光伝送路を選定する（ステップＳ３１）。ここでは、判定部１６は、光分岐挿入部１２、１３の光分岐部１２ａ、１３ａと光挿入部１２ｂ、１３ｂ間を繋ぐ光伝送路として、運用経路である光伝送路２１又は非運用経路である光伝送路２３（図３参照）を選定したものとする。

続いて、判定部１６は、選定された光伝送路が運用経路であるか否かを判定する（ステップＳ３２）。運用経路でない（すなわち、非運用経路である）と判定部１６によって判定された場合（ステップＳ３２否定）、光分岐部１２ａの制御部３５は、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力する（ステップＳ３３）。すなわち、光分岐部１２ａの制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路である光伝送路２３へ出力する。また、光分岐部１２ａの制御部３５は、ＶＯＡ３３を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を透過させる（ステップＳ３４）。

選定された光伝送路が運用経路である場合（ステップＳ３２肯定）、或いは、ステップＳ３４の処理を終えた場合、判定部１６は、光伝送路へ出力された光の光パワーを光伝送路の両端のＰＤから取得する（ステップＳ３５）。すなわち、判定部１６は、運用経路である光伝送路２１へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２１の両端のＰＤ２１ａ、２１ｂから取得する。或いは、判定部１６は、非運用経路である光伝送路２３へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２３の両端のＰＤ２３ａ、２３ｂから取得する。

そして、判定部１６は、記憶部１７に格納された閾値ＤＢ１７ａから光伝送路２１又は光伝送路２３に対応した光伝送路ＩＤを用いてＰＤ閾値を読み出す（ステップＳ３６）。そして、判定部１６は、２つの光パワー（ＰＤ値）がＰＤ閾値の範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ３７）。２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲内であると判定すると（ステップＳ３７肯定）、判定部１６は、光伝送路２１又は光伝送路２３の導通状態が正常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ３８）。そして、判定部１６は、光分岐挿入部１２，１３の光挿入部１２ｂ、１３ｂと後段増幅器１４、１５間を繋ぐ光伝送路の導通試験を行う（ステップＳ３９）。なお、ステップＳ３９の処理については後に説明する。

一方、２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲外であると判定すると（ステップＳ３７否定）、判定部１６は、光伝送路２１又は光伝送路２３の導通状態が異常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ４０）。

ステップＳ３９の処理、或いは、ステップＳ４０の処理を終了すると、光分岐部１２ａの制御部３５は、ＶＯＡ３３を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を遮断する（ステップＳ４１）。

続いて、判定部１６は、光分岐挿入部１２、１３の光分岐部１２ａ、１３ａと光挿入部１２ｂ、１３ｂ間を繋ぐ光伝送路を全て選定したか否かを判定する（ステップＳ４２）。全て選定していない場合には（ステップＳ４２否定）、判定部１６は、上述したステップＳ３１に戻り、ステップＳ３１〜ステップＳ４２の処理を繰り返す。一方、全て選定した場合には（ステップＳ４２肯定）、判定部１６は、ステップＳ１７の処理を終了する。

次に、図１１を用いて、ステップＳ３９の処理について説明する。図１１に示すように、判定部１６は、光伝送装置１０に含まれる複数の光伝送路から、光分岐挿入部１２，１３の光挿入部１２ｂ、１３ｂと後段増幅器１４、１５間を繋ぐ光伝送路を選定する（ステップＳ５１）。ここでは、判定部１６は、光分岐挿入部１２，１３の光挿入部１２ｂ、１３ｂと後段増幅器１４、１５間を繋ぐ光伝送路として、運用経路である光伝送路２２又は非運用経路である光伝送路２４（図３参照）を選定したものとする。

続いて、判定部１６は、選定された光伝送路が運用経路であるか否かを判定する（ステップＳ５２）。運用経路でない（すなわち、非運用経路である）と判定部１６によって判定された場合（ステップＳ５２否定）、光挿入部１３ｂの制御部３５は、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力する（ステップＳ５３）。すなわち、光挿入部１３ｂの制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路である光伝送路２４へ出力する。また、光挿入部１３ｂの制御部３５は、ＶＯＡ３３を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を透過させる（ステップＳ５４）。このとき前のステップＳ３３、Ｓ３４によって第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光が上流側の光伝送路２３へ出力されている。

選定された光伝送路が運用経路である場合（ステップＳ５２肯定）、或いは、ステップＳ５４の処理を終えた場合、判定部１６は、光伝送路へ出力された光の光パワーを光伝送路の両端のＰＤから取得する（ステップＳ５５）。すなわち、判定部１６は、運用経路である光伝送路２２へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２２の両端のＰＤ２２ａ、２２ｂから取得する。或いは、判定部１６は、非運用経路である光伝送路２４へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２４の両端のＰＤ２４ａ、２４ｂから取得する。

そして、判定部１６は、記憶部１７に格納された閾値ＤＢ１７ａから光伝送路２２又は光伝送路２４に対応した光伝送路ＩＤを用いてＰＤ閾値を読み出す（ステップＳ５６）。そして、判定部１６は、２つの光パワー（ＰＤ値）がＰＤ閾値の範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ５７）。２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲内であると判定すると（ステップＳ５７肯定）、判定部１６は、光伝送路２２又は光伝送路２４の導通状態が正常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ５８）。

一方、２つの光パワーがＰＤ閾値の範囲外であると判定すると（ステップＳ５７否定）、判定部１６は、光伝送路２２又は光伝送路２４の導通状態が異常であると判定し、その旨の情報を試験結果として所定の記憶部に格納する（ステップＳ５９）。

ステップＳ５８の処理、或いは、ステップＳ５９の処理を終了すると、判定部１６は、光分岐挿入部１２，１３の光挿入部１２ｂ、１３ｂと後段増幅器１４、１５間を繋ぐ光伝送路を全て選定したか否かを判定する（ステップＳ６０）。全て選定していない場合には（ステップＳ６０否定）、判定部１６は、上述したステップＳ５１に戻り、ステップＳ５１〜ステップＳ６０の処理を繰り返す。一方、全て選定した場合には（ステップＳ６０肯定）、判定部１６は、処理をステップＳ６１に移行する。

ステップＳ６１において、光分岐部１２ａの制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、非運用経路である光伝送路２３に対する集積光の出力を解除する。さらに、光挿入部１３ｂの制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、非運用経路である光伝送路２４に対する集積光の出力を解除する（ステップＳ６１）。そして、光挿入部１３ｂの制御部３５は、ＶＯＡ３３を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を遮断し（ステップＳ６２）、ステップＳ３９の処理を終了する。

上述してきたように、実施例２に係る光伝送装置１０は、光伝送路を複数備え、これら複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へＷＤＭ信号光を出力する。そして、光伝送装置１０は、前段増幅器１１からのＡＳＥ光のうち、運用経路へ出力されない波長帯の第１のＡＳＥ光及びＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力し、非運用経路の導通状態を判定する。

このため、実施例２に係る光伝送装置１０によれば、運用経路へ出力中のＷＤＭ信号光を停止することなく非運用経路の導通確認を行うことが可能となる。その結果、実施例２に係る光伝送装置１０によれば、装置内の光伝送路についての導通試験を通信の安定性を保持しつつ容易に行うことができる。

また、実施例２に係る光伝送装置１０では、ＤＭＵＸ３１ａ、３１ｂ、波長選択スイッチ部３２、ＶＯＡ３３、ＭＵＸ３４及び制御部３５における各機能を１つのＭＥＭＳミラー装置４０で実現することもできる。すなわち、ＭＥＭＳミラー装置４０の回折格子４２が、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を波長ごとに分離する。さらに、ＭＥＭＳミラーアレイ４４が、複数のＭＥＭＳミラーの角度を調整し、回折格子４２で分離された各波長の第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光が出力される非運用経路を切り替える。

このため、実施例２に係る光伝送装置１０によれば、装置内の光伝送路についての導通試験を実行するための構成を簡素化することができ、その結果、装置全体を小型化することができる。

また、実施例２に係る光伝送装置１０では、ＭＥＭＳミラー装置４０が備えたＭＥＭＳミラーアレイ４４の各ＭＥＭＳミラー４４ｂを互いに密着状態で配置してもよい。これにより、実施例２に係る光伝送装置１０では、ＭＥＭＳミラー４４ｂどうしの隙間から漏洩するＡＳＥ光を削減することができ、より高い光パワーを持ったＡＳＥ光を非運用経路に対して集積することができる。その結果、実施例２に係る光伝送装置１０では、非運用経路の導通試験をより高精度に行うことができる。

また、実施例２に係る光伝送装置１０では、判定部１６が、非運用経路へ出力された集積光の光パワーを非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、非運用経路の導通状態を判定する。このため、実施例２に係る光伝送装置１０によれば、一般的な検出精度のＰＤで集積光の光パワーを検出することができ、検出精度の高い特別なＰＤを準備する必要がないため、非運用経路の導通試験を低コストで行うことができる。

次に、実施例３に係る光伝送装置について説明する。なお、既に説明した構成と同じものについては同一の符号を付し、その説明を省略する。

実施例３に係る光伝送装置は、実施例２に示した光伝送装置１０と比較して、光分岐挿入部の構成が簡素化されている。図１２は、実施例３に係る光伝送装置が備えた光分岐挿入部の構成を示すブロック図である。

図１２に示すように、実施例３に係る光分岐挿入部は、光分岐部５１ａと、光挿入部５１ｂとを有する。光分岐部５１ａは、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光を所定波長の信号光に分岐する。光挿入部５１ｂは、光分岐部５１ａによって分岐されたＷＤＭ信号光に対して所定波長の信号光を挿入する。

光分岐部５１ａは、ＤＭＵＸ３１ａ、３１ｂと、波長選択スイッチ部３２と、ＶＯＡ５２と、ＭＵＸ３４と、制御部３５とを有する。一方、光挿入部５１ｂは、ＤＭＵＸ３１ａと、波長選択スイッチ部５３と、ＶＯＡ５４と、ＭＵＸ５５と、制御部５６とを有する。

光分岐部５１ａのＶＯＡ５２は、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の信号光の信号レベルを適宜調整する。また、ＶＯＡ５２は、波長選択スイッチ部３２から出力された各波長の集積光（第１のＡＳＥ光を集積した集積光）を透過又は遮断する。

光挿入部５１ｂの波長選択スイッチ部５３は、ＤＭＵＸ３１ａによって分離された各波長の信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路（図３の例では光伝送路２２）に接続されたＭＵＸ５５へ出力する。また、波長選択スイッチ部５３は、ＤＭＵＸ３１ａによって分離された各波長の第１のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路（図３の例では光伝送路２４）に接続されたＭＵＸ５５へ出力する。

ＶＯＡ５４は、波長選択スイッチ部５３から出力された各波長の信号光の信号レベルを適宜調整する。また、ＶＯＡ５４は、波長選択スイッチ部５３から出力された各波長の集積光を透過又は遮断する。ＭＵＸ５５は、ＶＯＡ５４からの各波長の信号光及び集積光を波長多重し、運用経路（図３の例では光伝送路２２）及び非運用経路（図３の例では光伝送路２４）へそれぞれ出力する。

制御部５６は、光挿入部５１ｂの全体を制御する制御部である。例えば、制御部５６は、波長選択スイッチ部５３を制御して、第１のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路に接続されたＭＵＸ５５へ出力する。また、制御部５６は、運用経路や非運用経路にて各波長の信号光の光パワーをＯＣＭにより検出し、その検出結果を利用してＶＯＡ５４を制御し、波長選択スイッチ部５３から出力された各波長の信号レベルを適宜調整する。また、制御部５６は、ＶＯＡ５４を制御して、波長選択スイッチ部５３から出力された各波長の集積光をＭＵＸ５５へ向けて透過又は遮断させる。

このように光分岐部５１ａのＤＭＵＸ３１ａ、３１ｂ、波長選択スイッチ部３２、ＶＯＡ５２、ＭＵＸ３４及び制御部３５は、協働することで、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路へ出力する。さらに、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として選択されていない波長帯の第１のＡＳＥ光及びＷＤＭ信号光の波長帯以外の波長帯の第２のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路へ出力する。

一方、光挿入部５１ｂのＤＭＵＸ３１ａ、波長選択スイッチ部５３、ＶＯＡ５４、ＭＵＸ５５及び制御部５６は、協働することで、前段増幅器１１によって増幅されたＷＤＭ信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を運用経路へ出力する。さらに、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として選択されていない波長帯の第１のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路へ出力する。

次に、実施例３に係る光伝送装置による導通試験の処理手順について説明する。図１３〜図１５は、実施例３に係る光伝送装置による導通試験の処理手順を示すフローチャートである。なお、ここでは、実施例２で図９を用いて既に説明した処理手順と同様の処理手順（ステップＳ７１〜Ｓ７６、Ｓ７８〜Ｓ８０）については、その詳細な説明を省略する。

図１３に示すように、導通試験が開始され光伝送路２０の導通状態が正常であると判定されると（ステップＳ７１〜Ｓ７６）、判定部１６は、光分岐挿入部の光分岐部５１ａと光挿入部５１ｂ間を繋ぐ光伝送路の導通試験を行う（ステップＳ７７）。その後、前段増幅器１１と光分岐挿入部の光分岐部５１ａとを繋ぐ光伝送路を全て選定された場合に試験結果がユーザへ通知される（ステップＳ７８〜ステップＳ８０）。

次に、図１４を用いて、ステップＳ７７の処理について説明する。なお、ここでは、実施例２で図１０を用いて既に説明した処理手順と同様の処理手順（ステップＳ９１〜Ｓ９３、Ｓ９５〜Ｓ９８、Ｓ１００、Ｓ１０２）については、その詳細な説明を省略する。

図１４に示すように、第１のＡＳＥ光及び第２のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力すると（ステップＳ９３）、光分岐部５１ａの制御部３５は、ＶＯＡ５２を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を透過させる（ステップＳ９４）。

また、光伝送路２１又は光伝送路２３の導通状態が正常であると判定すると（ステップＳ９８）、判定部１６は、光分岐挿入部の光挿入部５１ｂと後段増幅器１４、１５間を繋ぐ光伝送路の導通試験を行う（ステップＳ９９）。なお、ステップＳ９９の処理については後に説明する。

また、ステップＳ９９の処理、或いは、ステップＳ１００の処理を終了すると、光分岐部５１ａの制御部３５は、ＶＯＡ５２を制御して、波長選択スイッチ部３２から出力された集積光を遮断する（ステップＳ１０１）。

次に、図１５を用いて、ステップＳ９９の処理について説明する。なお、ここでは、実施例２で図１１を用いて既に説明した処理手順と同様の処理手順（ステップＳ１１１〜Ｓ１１２、Ｓ１１５〜Ｓ１２０）については、その説明を省略する。

図１５に示すように、光伝送路が運用経路でない（すなわち、非運用経路である）場合（ステップＳ１１２否定）、光挿入部５１ｂの制御部５６は、第１のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路へ出力する（ステップＳ１１３）。すなわち、光挿入部５１ｂの制御部５６は、波長選択スイッチ部５３を制御して、第１のＡＳＥ光を集積した集積光を非運用経路である光伝送路２４へ出力する。また、光挿入部５１ｂの制御部５６は、ＶＯＡ５４を制御して、波長選択スイッチ部５３から出力された集積光を透過させる（ステップＳ１１４）。

また、ステップＳ１２０の処理が終了した後、光分岐部５１ａの制御部３５は、波長選択スイッチ部３２を制御して、非運用経路である光伝送路２３に対する集積光の出力を解除する。さらに、光挿入部５１ｂの制御部５６は、波長選択スイッチ部５３を制御して、非運用経路である光伝送路２４に対する集積光の出力を解除する（ステップＳ１２１）。そして、光挿入部５１ｂの制御部５６は、ＶＯＡ５４を制御して、波長選択スイッチ部５３から出力された集積光を遮断し（ステップＳ１２２）、ステップＳ９９の処理を終了する。

上述してきたように、実施例３に係る光伝送装置では、光挿入部５１ｂが、前段増幅器１１で発生するＡＳＥ光のうち、ＷＤＭ信号光として選択されていない波長帯の第１のＡＳＥ光を集積することで得られる集積光を非運用経路へ出力する。

このため、実施例３に係る光伝送装置によれば、第１のＡＳＥ光の光パワーが第２のＡＳＥ光の光パワーと比して充分に強い場合に、第１のＡＳＥ光を集積した集積光のみを利用して非運用経路の導通試験を行うことができる。したがって、実施例３に係る光伝送装置によれば、第１のＡＳＥ光の光パワーが第２のＡＳＥ光の光パワーと比して充分に強い場合に、第２のＡＳＥ光を集積するための部位を光挿入部５１ｂから省略することができ、装置の低コスト化を図ることができる。

上記実施例２では、非運用経路へ出力された集積光の光パワーを非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーを閾値判定することで導通状態を判定したが、取得した２つの光パワーの差を閾値判定することで導通状態を判定してもよい。そこで、実施例４では、非運用経路へ出力された集積光の光パワーを非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーの差を閾値判定することで導通状態を判定する光伝送装置について説明する。

まず、実施例４に係る光伝送装置の構成を説明する。図１６は、実施例４に係る光伝送装置６０の構成を示すブロック図である。なお、以下では、既に説明した構成と同じものについては同一の符号を付し、その説明を省略する。図１６に示すように、光伝送装置６０は、図３に示した光伝送装置１０が有する判定部１６と記憶部１７との代わりに、判定部６１と記憶部６２とを新たに有する。

判定部６１は、前段増幅器１１、光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａ及び光挿入部１２ｂから運用経路である光伝送路２０、光伝送路２１及び光伝送路２２にそれぞれ出力されたＷＤＭ信号光を用いて、光伝送路２０、光伝送路２１及び光伝送路２２の導通状態を判定する。具体的には、判定部６１は、光伝送路２０へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２０の両端のＰＤ２０ａ、２０ｂから取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２０の導通状態を判定する。また、判定部６１は、光伝送路２１へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２１の両端のＰＤ２１ａ、２１ｂから取得し、取得した２つの光パワーの差が所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２１の導通状態を判定する。同様に、判定部６１は、光伝送路２２へ出力されたＷＤＭ信号光の光パワーを光伝送路２２の両端のＰＤ２２ａ、２２ｂから取得し、取得した２つの光パワーの差が所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２２の導通状態を判定する。

また、判定部６１は、光分岐挿入部１２の光分岐部１２ａ及び光分岐挿入部１３の光挿入部１３ｂから非運用経路である光伝送路２３及び光伝送路２４へ出力された集積光を用いて、光伝送路２３及び光伝送路２４の導通状態を判定する。具体的には、判定部６１は、光伝送路２３へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２３の両端のＰＤ２３ａ、２３ｂから取得し、取得した２つの光パワーの差が所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２３の導通状態を判定する。同様に、判定部６１は、光伝送路２４へ出力された集積光の光パワーを光伝送路２４の両端のＰＤ２４ａ、２４ｂから取得し、取得した２つの光パワーの差が所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、光伝送路２４の導通状態を判定する。

記憶部６２は、判定部６１による判定処理に必要なデータを格納し、特に、閾値ＤＢ６２ａを有する。閾値ＤＢ６２ａは、判定部６１が光伝送路へ出力されるＷＤＭ信号光や集積光の光パワーの差を閾値判定する際に判定部６１によって参照されるＰＤの閾値を記憶する。閾値ＤＢ６２ａの一例を図１７に示す。

図１７に示すように、閾値ＤＢ６２ａは、光伝送路ＩＤ、ＰＤ閾値を対応付けて記憶する。光伝送路ＩＤは、光伝送路を識別するための識別情報を示す。ＰＤ閾値は、光伝送路の両端に設置されたＰＤの差の閾値の範囲（上限値及び下限値）を示す。

上述してきたように、実施例４に係る光伝送装置６０では、非運用経路へ出力された集積光の光パワーを非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーの差を閾値判定することで、非運用経路の導通状態を判定する。

このため、実施例４によれば、非運用経路の両端における光パワーの相対差を用いて非運用経路の導通状態を判定することができ、事後的に波長数の増減や設置アンプ数の増減が行われ、光パワーの絶対値が変動しても、安定的に導通試験を行うことができる。

（他の実施例）
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において、種々の異なる実施例にて実施することもできる。

例えば、上記実施例２では、光伝送装置１０が２つの光分岐挿入部１２、１３を有する例について説明したが、光伝送装置１０が３つ以上の光分岐挿入部を有してもよい。

また、上記実施例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともできる。この他、上記文章中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。

また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。

なお、本実施例で説明した各処理は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することによって実現することができる。このプログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することができる。また、このプログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。

以上の実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

（付記１）入力される波長多重信号光を増幅する増幅器と、
前記増幅器によって増幅された波長多重信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する第１の出力部と、
前記増幅器で発生する自然放出光のうち、前記第１の出力部によって選択されていない波長帯の第１の自然放出光及び／又は前記波長多重信号光の波長帯以外の波長帯の第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を前記複数の光伝送路のうち予め定めた非運用経路へ出力する第２の出力部と、
前記第１の出力部によって前記運用経路へ出力された信号光を用いて前記運用経路の導通状態を判定するとともに、前記第２の出力部によって前記非運用経路へ出力された集積光を用いて前記非運用経路の導通状態を判定する判定部と
を備えたことを特徴とする光伝送装置。

（付記２）前記増幅器によって増幅された波長多重信号光を所定波長の信号光に分岐する光分岐部と、前記光分岐部によって分岐された前記波長多重信号光に対して所定波長の信号光を挿入する光挿入部とを有する複数の光分岐挿入部をさらに備え、
前記第２の出力部は、各前記光分岐挿入部における前記光分岐部及び前記光挿入部にそれぞれ設けられており、
前記光分岐部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光分岐部と他の光分岐挿入部における前記光挿入部とを結ぶ前記非運用経路へ出力し、
前記他の光分岐挿入部における前記光挿入部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光挿入部と当該光挿入部よりも後段側の他の装置とを結ぶ前記非運用経路へ出力することを特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記３）前記増幅器によって増幅された波長多重信号光を所定波長の信号光に分岐する光分岐部と、前記光分岐部によって分岐された前記波長多重信号光に対して所定波長の信号光を挿入する光挿入部とを有する複数の光分岐挿入部をさらに備え、
前記第２の出力部は、各前記光分岐挿入部における前記光分岐部及び各前記光挿入部にそれぞれ設けられており、
前記光分岐部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光分岐部と他の光分岐挿入部における前記光挿入部とを結ぶ前記非運用経路へ出力し、
前記他の光分岐挿入部における前記光挿入部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光挿入部と当該光挿入部よりも後段側の他の装置とを結ぶ前記非運用経路へ出力することを特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記４）前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を波長ごとに分離する回折格子と、前記回折格子によって分離された各波長の前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を反射すると共に、角度を制御されることによって各波長の前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光が出力される前記非運用経路を切り替えるミラーを複数有するミラーアレイとを備えたことを特徴とする付記１〜３のいずれか一つに記載の光伝送装置。

（付記５）前記第２の出力部は、前記ミラーアレイの各前記ミラーを互いに密着状態で配置していることを特徴とする付記４に記載の光伝送装置。

（付記６）前記判定部は、前記第２の出力部によって前記非運用経路へ出力された集積光の光パワーを前記非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーが所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、前記非運用経路の導通状態を判定することを特徴とする付記１〜５のいずれか一つに記載の光伝送装置。

（付記７）前記判定部は、前記第２の出力部によって前記非運用経路へ出力された集積光の光パワーを前記非運用経路の両端で取得し、取得した２つの光パワーの差が所定の閾値範囲内であるか否かを判定することで、前記非運用経路の導通状態を判定することを特徴とする付記１〜５のいずれか一つに記載の光伝送装置。

（付記８）入力される波長多重信号光を増幅する増幅工程と、
前記増幅工程によって増幅された波長多重信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する第１の出力工程と、
前記増幅工程で発生する自然放出光のうち、前記第１の出力工程によって選択されていない波長帯の第１の自然放出光及び／又は前記波長多重信号光の波長帯以外の波長帯の第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を複数の光伝送路のうち予め定めた非運用経路へ出力する第２の出力工程と、
前記第１の出力工程によって前記運用経路へ出力された信号光を用いて前記運用経路の導通状態を判定するとともに、前記第２の出力工程によって前記非運用経路へ出力された集積光を用いて前記非運用経路の導通状態を判定する判定工程と
を含んだことを特徴とする光伝送装置の導通試験方法。

１、１０、６０ 光伝送装置
２ 増幅器
３ 第１の出力部
４ 第２の出力部
５、１６、６１ 判定部
１１ 前段増幅器
１２、１３ 光分岐挿入部
１２ａ、１３ａ、５１ａ 光分岐部
１２ｂ、１３ｂ、５１ｂ 光挿入部
１４、１５ 後段増幅器
１７、６２ 記憶部
２０〜２４ 光伝送路
３１ａ、３１ｂ ＤＭＵＸ
３２、５３ 波長選択スイッチ部
３３、５２、５４ ＶＯＡ
３４、５５ ＭＵＸ
３５、５６ 制御部
４０ ＭＥＭＳミラー装置
４１ コリメータ
４２ 回折格子
４３ レンズ
４４ ＭＥＭＳミラーアレイ
４４ａ、４４ｂ ＭＥＭＳミラー
４５ 装置制御部

Claims (6)

1. 入力される波長多重信号光を増幅する増幅器と、
   前記増幅器によって増幅された波長多重信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する第１の出力部と、
   前記増幅器で発生する自然放出光のうち、前記第１の出力部によって選択されていない波長帯の第１の自然放出光及び／又は前記波長多重信号光の波長帯以外の波長帯の第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を前記複数の光伝送路のうち予め定めた非運用経路へ出力する第２の出力部と、
   前記第１の出力部によって前記運用経路へ出力された信号光を用いて前記運用経路の導通状態を判定するとともに、前記第２の出力部によって前記非運用経路へ出力された集積光を用いて前記非運用経路の導通状態を判定する判定部と
   を備えたことを特徴とする光伝送装置。
2. 前記増幅器によって増幅された波長多重信号光を所定波長の信号光に分岐する光分岐部と、前記光分岐部によって分岐された前記波長多重信号光に対して所定波長の信号光を挿入する光挿入部とを有する複数の光分岐挿入部をさらに備え、
   前記第２の出力部は、各前記光分岐挿入部における前記光分岐部及び前記光挿入部にそれぞれ設けられており、
   前記光分岐部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光分岐部と他の光分岐挿入部における前記光挿入部とを結ぶ前記非運用経路へ出力し、
   前記他の光分岐挿入部における前記光挿入部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光挿入部と当該光挿入部よりも後段側の他の装置とを結ぶ前記非運用経路へ出力することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
3. 前記増幅器によって増幅された波長多重信号光を所定波長の信号光に分岐する光分岐部と、前記光分岐部によって分岐された前記波長多重信号光に対して所定波長の信号光を挿入する光挿入部とを有する複数の光分岐挿入部をさらに備え、
   前記第２の出力部は、各前記光分岐挿入部における前記光分岐部及び各前記光挿入部にそれぞれ設けられており、
   前記光分岐部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光分岐部と他の光分岐挿入部における前記光挿入部とを結ぶ前記非運用経路へ出力し、
   前記他の光分岐挿入部における前記光挿入部に設けられた前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光を集積することで得られる集積光を、前記光挿入部と当該光挿入部よりも後段側の他の装置とを結ぶ前記非運用経路へ出力することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
4. 前記第２の出力部は、前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を波長ごとに分離する回折格子と、前記回折格子によって分離された各波長の前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光を反射すると共に、角度を制御されることによって各波長の前記第１の自然放出光及び前記第２の自然放出光が出力される前記非運用経路を切り替えるミラーを複数有するミラーアレイとを備えたことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の光伝送装置。
5. 前記第２の出力部は、前記ミラーアレイの各前記ミラーを互いに密着状態で配置していることを特徴とする請求項４に記載の光伝送装置。
6. 入力される波長多重信号光を増幅する増幅工程と、
   前記増幅工程によって増幅された波長多重信号光から所定の波長を選択し、選択した波長の信号光を複数の光伝送路のうち予め定めた運用経路へ出力する第１の出力工程と、
   前記増幅工程で発生する自然放出光のうち、前記第１の出力工程によって選択されていない波長帯の第１の自然放出光及び／又は前記波長多重信号光の波長帯以外の波長帯の第２の自然放出光を集積することで得られる集積光を複数の光伝送路のうち予め定めた非運用経路へ出力する第２の出力工程と、
   前記第１の出力工程によって前記運用経路へ出力された信号光を用いて前記運用経路の導通状態を判定するとともに、前記第２の出力工程によって前記非運用経路へ出力された集積光を用いて前記非運用経路の導通状態を判定する判定工程と
   を含んだことを特徴とする光伝送装置の導通試験方法。

Images