JP5447991B2 - Laser processing equipment - Google Patents
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Description
この発明は、レーザ光を被処理体に照射してレーザアニールなどの処理を行うレーザ処理装置に関するものである。 The present invention relates to a laser processing apparatus that performs processing such as laser annealing by irradiating an object to be processed with laser light.
フラットパネルディスプレイの基板などに用いられる半導体薄膜では、アモルファス膜を用いるものの他、結晶薄膜を用いるものが知られている。この結晶薄膜に関し、アモルファス膜をレーザ光によってアニールして結晶化させることにより製造する方法が提案されている。また、レーザアニール処理として、結晶質膜にレーザ光を照射して欠陥の除去や結晶性の改善などの改質を目的として行うものも知られている。 As a semiconductor thin film used for a flat panel display substrate or the like, a semiconductor thin film using an amorphous film or a crystalline thin film is known. With respect to this crystalline thin film, a method of manufacturing an amorphous film by annealing it with laser light and crystallization has been proposed. In addition, a laser annealing process is also known which is performed for the purpose of modifying defects such as removing defects and improving crystallinity by irradiating a crystalline film with laser light.
上記レーザアニールなどの処理では、大気の影響を除去して結晶化などに最適な雰囲気に制御する方法が採用されている。該雰囲気は窒素等の不活性ガス、真空等の他に、これら雰囲気に積極的に少量の酸素などを混合する方法も知られている。上記雰囲気調整のため、被処理体を処理室内に収容し、該収容室内の雰囲気を調整して処理室外部からレーザ光を導入して被処理体に照射する。しかし、処理室外部から処理室内部に被処理体を装入する際に、処理室の装入口などを開けることによって処理室内に大気が混入する。そのため処理室内の雰囲気調整(低酸素濃度など)を行うことが必要になるが、雰囲気が安定するまでに時間を要し生産性が低くなるという問題がある。このため、半導体用基板を搬入、搬出するためのロードロック室を処理室とは別に設けたレーザ処理装置が提案されている(例えば特許文献1参照)。 In the processing such as laser annealing, a method of removing the influence of the air and controlling it to an optimum atmosphere for crystallization or the like is employed. In addition to an inert gas such as nitrogen, a vacuum, etc., a method is also known in which a small amount of oxygen or the like is positively mixed in the atmosphere. In order to adjust the atmosphere, the object to be processed is accommodated in the processing chamber, the atmosphere in the accommodation chamber is adjusted, laser light is introduced from the outside of the processing chamber, and the object is irradiated. However, when the object to be processed is charged into the processing chamber from the outside of the processing chamber, the atmosphere is mixed into the processing chamber by opening the charging port of the processing chamber. Therefore, it is necessary to adjust the atmosphere in the processing chamber (such as a low oxygen concentration), but there is a problem that it takes time to stabilize the atmosphere and productivity is lowered. For this reason, a laser processing apparatus has been proposed in which a load lock chamber for loading and unloading a semiconductor substrate is provided separately from the processing chamber (see, for example, Patent Document 1).
該装置を図8に基づいて説明する。
処理室45には、被処理体100を装入して載置するステージ46が配置され、処理室45の天板には外部からレーザ光を導入する導入窓47が設けられている。処理室45には、ゲートバルブ44を介して搬送ロボット室43が接続され、さらに搬送ロボット室43には、ゲートバルブ42を介してロードロック室41が接続されている。ロードロック室41の外部には、ロードロック室41内に被処理体100を搬送する搬送ロボット40が配置される。
上記ロードロック室41、搬送ロボット室43、処理室45は、真空もしくは所定のガス雰囲気下でゲートバルブ42、44を介して連通する。
The apparatus will be described with reference to FIG.
The
The
上記装置の稼働においては、基板搬入時に、ゲートバルブ42、44を閉じた状態で、ロードロック室41のゲートバルブ(図示しない)を開けて搬送ロボット40によって被処理体100をロードロック室41内に搬入し、ロードロック室41のゲートバルブを閉じる。ゲートバルブ42、44を閉じた状態で、ロードロック室41を真空引きした後に、真空保持もしくは所定のガスを導入する。次いで、ゲートバルブ42を開いて被処理体100をロードロック室41から搬送ロボット室43に搬送し、さらにゲートバルブ44を開けて処理室45内に被処理体100を装入し、ロードロック室44を閉じてレーザアニールなどの処理を行う。これにより処理室45の雰囲気を維持したままで所望の処理を行うことが可能になる。
In the operation of the apparatus, when the substrate is loaded, the gate valve (not shown) of the
上記のようにロードロック室を設けた処理装置では、処理室は所定の雰囲気(例えば低酸素濃度の窒素雰囲気など)に維持され、被処理体の搬出、搬入に際してはロードロック室のみで雰囲気の置換を行えばよいので、処理室の雰囲気調整を必要とすることなく処理を行うことが可能になる。
しかし、該処理装置では、搬送ロボット室およびロードロック室を設けるためのコストが嵩み、また、処理室以外の設置スペースも大きく確保する必要がある。さらには、被処理体の搬出、搬入の度にロードロック室内の雰囲気を窒素ガスや不活性ガス等へ置換する為の時間やランニングコストが必要となり、また、被処理体を搬送するための時間も増大するという問題がある。
In the processing apparatus provided with the load lock chamber as described above, the processing chamber is maintained in a predetermined atmosphere (for example, a nitrogen atmosphere with a low oxygen concentration), and the atmosphere of the atmosphere can be maintained only in the load lock chamber when the workpiece is unloaded and loaded. Since replacement may be performed, processing can be performed without the need for adjusting the atmosphere in the processing chamber.
However, in this processing apparatus, the cost for providing the transfer robot chamber and the load lock chamber is high, and it is necessary to secure a large installation space other than the processing chamber. Furthermore, time and running costs are required to replace the atmosphere in the load lock chamber with nitrogen gas or inert gas each time the object is unloaded and loaded, and the time for conveying the object to be treated There is also a problem that increases.
この発明は、上記のような従来の課題を解決するためになされたもので、ロードロック室の設置を必要とすることなく処理装置内の雰囲気を短時間で安定化させることができるレーザ処理装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the conventional problems as described above, and is capable of stabilizing the atmosphere in the processing apparatus in a short time without requiring the installation of a load lock chamber. The purpose is to provide.
すなわち、本発明のレーザ処理装置のうち、第1の本発明は、被処理体を収容して調整された雰囲気下で該被処理体にレーザ光を照射する処理室と、該処理室内に外部からレーザ光を導く光学系と、を備え、
前記処理室は、前記処理室外部から前記処理室内部に前記被処理体を装入する開閉可能な装入口を有するとともに、前記処理室内部に、前記装入口に連なるロードエリアと、該ロードエリアに連なるレーザ光照射エリアと、前記被処理体を保持して前記ロードエリアと前記レーザ光照射エリアとの間で移動可能なステージと、前記ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る仕切部を有し、
前記仕切部は、前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間との間で前記被処理体の移動が可能であり、
前記仕切部は、前記処理室内で、前記装入口の下方側の内壁から内側に突出して前記ロードエリア側に位置した前記ステージの装入口側端部側に伸長して前記ステージとともに前記装入口側空間の下方または前記装入口側空間および前記レーザ光照射エリア側空間の下方を仕切る下方仕切壁と、前記処理室内で、前記装入口の両側方の内壁から内側に突出して前記レーザ光照射エリア側に伸長して前記装入口側空間の側方または前記装入口側空間および前記レーザ光照射エリア側空間の側方を仕切る側方仕切壁とを有することを特徴とする。
That is, among the laser processing apparatuses of the present invention, the first aspect of the present invention includes a processing chamber for irradiating the target object with laser light in an atmosphere adjusted to contain the target object, and an outside in the processing chamber. An optical system for guiding laser light from
The processing chamber has an openable and closable inlet for charging the object to be processed into the processing chamber from the outside of the processing chamber, a load area connected to the charging port in the processing chamber, and the load area A stage that can move between the load area and the laser light irradiation area while holding the object to be processed, a space on the loading port side, and the laser light irradiation. It has a partition that partitions it into the space on the area side,
The partition portion is Ri movement can der of the workpiece between the spout side space and the laser beam irradiation area side of the space,
The partition portion protrudes inward from an inner wall on the lower side of the loading port in the processing chamber and extends to an loading side end portion side of the stage located on the load area side, together with the stage. A lower partition wall that partitions a lower part of the space or the lower part of the inlet side space and the lower part of the laser light irradiation area; and in the processing chamber, the inner part protrudes inward from the inner walls on both sides of the inlet, so And a side partition wall partitioning the side of the inlet side space or the side of the inlet side space and the side of the laser light irradiation area side .
本発明によれば、処理室内にロードエリアとレーザ光照射エリアとを有し、ロードエリアを装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切ることで、被処理体を処理室内に搬入または処理室から搬出する際に装入口から混入する大気がレーザ光照射エリアに影響するのを極力低減する。
前記被処理体移動装置に被処理体を保持するステージを備えることにより、ロードエリアに装入する被処理体をステージ上に保持してそのままレーザ光照射エリアに移動させることができる。なお、ステージは被処理体を保持しない状態でも両エリア間で移動させることができる。
According to the present invention, there is a load area and a laser beam irradiation area in the processing chamber, and the object to be processed is divided into a space on the inlet side and a space on the laser beam irradiation area side by dividing the load area. Therefore, it is possible to reduce as much as possible the influence of the atmosphere mixed in from the inlet when carrying in or out of the processing chamber on the laser light irradiation area.
By providing the workpiece moving apparatus with a stage for holding the workpiece, the workpiece to be loaded in the load area can be held on the stage and moved to the laser light irradiation area as it is. Note that the stage can be moved between both areas even when the object to be processed is not held.
ロードエリアは、装入口に連なるようにして装入口に隣接して設けるのが望ましく、装入口とレーザ光照射エリアとの間にロードエリアが位置する。ロードエリアは、装入口から装入された被処理体が移動して保持されるエリアであり、処理に備えて被処理体が保持される保持ポジションを含む空間である。被処理体は、ロードエリアの保持ポジションにまで装入され、該ロードエリアからレーザ光照射エリアに移動されて所定の処理がなされる。
仕切部は、被処理体がロードエリアからレーザ光照射エリアに移動することが可能になっている。仕切部に開放部を設けておき該開放部を通して被処理体の移動を行うことができる。
仕切部に被処理体が移動可能な開放部を設けておくことで、ロードエリアからレーザ光照射エリアへの被処理体の移動を円滑に行うことができる。開放部としては、常時開放されているものであってもよく、開閉動作を伴うものであってもよい。また、ガスカーテンのように、被処理体の移動に伴って開放状態になるものであってもよい。
下方仕切壁の配置によって下方の空間を通してロードエリアの装入口側空間とレーザ光照射側空間とが連通するのを回避できる。
側方仕切壁の配置によって側方の空間を通してロードエリアの装入口側空間とレーザ光照射側空間とが連通するのを回避できる。
The load area is preferably provided adjacent to the loading port so as to be continuous with the loading port, and the load area is located between the loading port and the laser light irradiation area. The load area is an area in which the object to be processed inserted from the loading port is moved and held, and is a space including a holding position where the object to be processed is held in preparation for processing. The object to be processed is loaded up to the holding position of the load area, moved from the load area to the laser light irradiation area, and subjected to predetermined processing.
The partition portion allows the object to be processed to move from the load area to the laser light irradiation area. An opening can be provided in the partition, and the object to be processed can be moved through the opening.
By providing an opening in which the object to be processed can move in the partition part, the object to be processed can be smoothly moved from the load area to the laser light irradiation area. As an opening part, the thing always open | released may be sufficient and an opening / closing operation | movement may be accompanied. Moreover, it may be in an open state as the object to be processed moves, such as a gas curtain.
By arranging the lower partition wall, it is possible to avoid communication between the loading side space of the load area and the laser light irradiation side space through the lower space.
By arranging the side partition walls, it is possible to avoid communication between the loading side space of the load area and the laser light irradiation side space through the side space.
次に第2の本発明のレーザ処理装置は、前記第1の本発明において、前記仕切部が、前記ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る仕切壁を有することを特徴とする。 Next, in the laser processing apparatus of the second invention, in the first invention, the partition section partitions the load area into a space on the loading inlet side and a space on the laser light irradiation area side. It is characterized by having.
第3の本発明のレーザ処理装置は、前記第1の本発明において、前記仕切部は、前記ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る雰囲気ガスカーテンを有することを特徴とすることを特徴とする。 In the laser processing apparatus according to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the partition portion includes an atmospheric gas curtain that partitions the load area into a space on the loading inlet side and a space on the laser light irradiation area side. It is characterized by having.
仕切部としては、ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る仕切壁や雰囲気ガスを用いたガスカーテンなどを用いることができる。仕切壁やガスカーテンは仕切部全体に亘るものであってもよく、また、一部を仕切壁やガスカーテンで構成するものであってもよく、仕切壁とガスカーテンとを混在させるものであってもよい。 As the partition portion, a partition wall that partitions the load area into the space on the loading inlet side and the space on the laser light irradiation area side, a gas curtain using atmospheric gas, or the like can be used. The partition wall and the gas curtain may extend over the entire partition part, or a part of the partition wall and the gas curtain may be configured by the partition wall and the gas curtain, and the partition wall and the gas curtain are mixed. May be.
第4の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第3の本発明のいずれかにおいて、前記仕切部は、前記ロードエリアを、前記ロードエリアに装入された被処理体が保持される保持ポジション側空間と前記装入口側空間とに仕切るものであることを特徴とする。 A laser processing apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to any one of the first to third aspects of the present invention, wherein the partition portion holds the object to be processed inserted into the load area. It is characterized by partitioning into a holding position side space and the loading inlet side space.
仕切部による仕切位置は、本発明としては、ロードエリアを装入口側とレーザ光照射エリア側とに仕切るものであれば特に限定されないが、好適なものとして、前記ロードエリアに装入された被処理体が保持される保持ポジション側空間と装入口側空間とに仕切るものが例示される。保持ポジションとしては、通常は、ステージ上面で被処理体が保持された状態が保持ポジションとなる。したがって、上記仕切位置としては、ロードエリア内でステージが含まれる空間と、ステージが含まれない空間とに仕切るものが代表例となる。 The partitioning position by the partitioning part is not particularly limited as long as the present invention partitions the load area into the loading entrance side and the laser light irradiation area side. An example of partitioning into a holding position side space in which the processing body is held and an inlet side space is illustrated. As the holding position, the holding position is normally a state in which the workpiece is held on the upper surface of the stage. Therefore, a typical example of the partitioning position is a partitioning into a space where the stage is included and a space where the stage is not included in the road area.
第5の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第4の本発明のいずれかにおいて、前記仕切部で仕切られた前記装入口側空間に装入口側給気装置と装入口側排気装置とが通気可能に接続されていることを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the laser processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects of the present invention, wherein an inlet side air supply device and an inlet side exhaust device are provided in the inlet side space partitioned by the partition portion. And are connected in a breathable manner.
ロードエリアの装入口側空間には、給排気装置を接続するようにしてもよい。これにより装入口側空間における雰囲気調整を容易に行うことができる。装入口側給気装置では、窒素ガス、不活性ガスなどをロードエリアの装入口側空間に導入することができ、装入口側排気装置では、ロードエリアの装入口側空間の排気や真空引きなどを行うことができる。
ロードエリアの装入口側空間の雰囲気調整は、1)被処理体が処理室に搬入、搬出されるとき、2)処理中および3)被処理体が処理室内において搬送されるとき、それぞれの場合において上記給排気装置を用いて行うことができる。
An air supply / exhaust device may be connected to the load side space of the load area. This makes it possible to easily adjust the atmosphere in the inlet side space. In the inlet side air supply device, nitrogen gas, inert gas, etc. can be introduced into the inlet side space of the load area, and in the inlet side exhaust device, exhaust or vacuuming of the inlet side space in the load area, etc. It can be performed.
The atmosphere adjustment of the loading area in the load area is carried out in the following cases: 1) when the object to be processed is carried into and out of the processing chamber, 2) during processing, and 3) when the object to be processed is transported in the processing chamber. It can carry out using the said air supply / exhaust apparatus.
ロードエリアの装入口側空間を処理室内部に確保し給排気システムを設けることで、
1、ロードエリアの装入口側空間に給気を行うことで得られるシール構造により装入口外部より混入してくる大気量を抑えるとともに、処理室内部におけるロードエリアの装入口側空間外への大気混入を低減させる。
2、給排気によりロードエリアの装入口側空間に混入した大気雰囲気を短時間で窒素やその他の大気以外のレーザ処理に影響を与えにくい雰囲気に置換することができる。
上記により、大気混入によるレーザ光照射部雰囲気への影響を低減させることにより、照射部の雰囲気を短時間で安定化させることが可能となる。
By securing the load area on the loading area inside the processing chamber and installing a supply and exhaust system,
1. The amount of air entering from the outside of the inlet is suppressed by the seal structure obtained by supplying air to the inlet side space of the load area, and the atmosphere outside the inlet side space of the load area inside the processing chamber Reduce contamination.
2. The air atmosphere mixed in the loading / unloading side space of the load area by air supply / exhaust can be replaced in a short time with an atmosphere that does not easily affect nitrogen or other laser processing other than the air.
As described above, it is possible to stabilize the atmosphere of the irradiation unit in a short time by reducing the influence on the atmosphere of the laser beam irradiation unit due to air mixing.
第6の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第5の本発明のいずれかにおいて、前記レーザ光照射エリアに、照射エリア給気装置と照射エリア排気装置とが通気可能に接続されていることを特徴とする。 In the laser processing apparatus of the sixth aspect of the present invention, in any one of the first to fifth aspects of the present invention, an irradiation area supply device and an irradiation area exhaust device are connected to the laser light irradiation area so as to allow ventilation. It is characterized by being.
レーザ光照射エリアには、給排気装置を接続するようにしてもよい。これによりレーザ光照射エリアの雰囲気を極力一定に維持することができる。レーザ光照射エリアとロードエリアの装入口側空間に、それぞれ給排気装置を設けるようにしてもよい。 An air supply / exhaust device may be connected to the laser light irradiation area. Thereby, the atmosphere of a laser beam irradiation area can be maintained as constant as possible. An air supply / exhaust device may be provided in each of the laser beam irradiation area and the load entrance side space of the load area.
第7の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第6の本発明のいずれかにおいて、前記ロードエリアと前記レーザ光照射エリアとの間で前記被処理体を移動させる被処理体移送装置を前記処理室内部に備えることを特徴とする。 A laser processing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the processing object transfer apparatus according to any one of the first to sixth aspects of the present invention, wherein the object to be processed is moved between the load area and the laser light irradiation area. Is provided in the inside of the processing chamber.
ロードエリアに装入した被処理体は、処理室内部に備える被処理体移送装置によってレーザ光照射エリアに移動させることができる。また、必要に応じてレーザ光照射エリアからロードエリアに被処理体を移動させることができる。これにより、従来装置のように処理室外部にロードロック室から処理室に被処理体を移動させるための搬送ロボット室を設ける必要がない。 The target object loaded in the load area can be moved to the laser beam irradiation area by the target object transfer device provided in the processing chamber. Moreover, a to-be-processed object can be moved from a laser beam irradiation area to a load area as needed. Accordingly, it is not necessary to provide a transfer robot chamber for moving an object to be processed from the load lock chamber to the processing chamber outside the processing chamber unlike the conventional apparatus.
第8の本発明のレーザ処理装置は、前記第7の本発明において、前記被処理体移送装置は、前記被処理体を保持して前記ロードエリアと前記レーザ光照射エリアとの間で移動可能なステージを有していることを特徴とする。 According to an eighth aspect of the present invention, there is provided the laser processing apparatus according to the seventh aspect of the present invention, wherein the workpiece transfer device is movable between the load area and the laser beam irradiation area while holding the workpiece. It has a characteristic stage.
前記被処理体移動装置に被処理体を保持するステージを備えることにより、ロードエリアに装入する被処理体をステージ上に保持してそのままレーザ光照射エリアに移動させることができる。なお、ステージは被処理体を保持しない状態でも両エリア間で移動させることができる。 By providing the workpiece moving apparatus with a stage for holding the workpiece, the workpiece to be loaded in the load area can be held on the stage and moved to the laser light irradiation area as it is. Note that the stage can be moved between both areas even when the object to be processed is not held.
第8の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜7の本発明のいずれかにおいて、前記被処理体移送装置は、前記レーザ光照射エリアにおいて前記ステージを前記レーザ光に対し相対的に移動させることで前記レーザ光の走査を行うものであることを特徴とする。 Eighth laser processing apparatus of the present invention, in any one of the first to seventh invention, the object to be processed transfer device relatively moving the stage relative to the laser beam in the laser beam irradiation area In this case, the laser beam is scanned.
なお、被処理体をレーザ光で処理する際に、一般にレーザ光を走査しつつ処理することができる。本発明では、前記被処理体移送装置に備えるステージをレーザ光照射エリア側に移動させた後、該ステージを移動させることでレーザ光照射時の走査を行うようにしてもよい。これにより走査装置と被処理体を移送する装置とを兼用することができ、装置構成を簡易なものにすることができる。また、被処理体をロードエリアからレーザ光照射エリアに移動させる方向と、上記走査の方向とが同じ一軸方向とすれば、移動および走査のための装置構成を簡略にすることができ、また、処理室のスペースを有効に利用することができる。また、走査に際し、ステージを移動させて一部を退避させる際に、ステージの一部がロードエリア側の空間に位置するようにすれば、スペース効率がさらに向上する効果がある。 In addition, when processing a to-be-processed object with a laser beam, generally it can process, scanning a laser beam. In this invention, after moving the stage with which the said to-be-processed object transfer apparatus is provided to the laser beam irradiation area side, you may make it perform the scanning at the time of laser beam irradiation by moving this stage. Accordingly, the scanning device and the device for transferring the object to be processed can be used together, and the device configuration can be simplified. Further, if the direction in which the object to be processed is moved from the load area to the laser light irradiation area and the scanning direction are the same uniaxial direction, the apparatus configuration for movement and scanning can be simplified. The space in the processing chamber can be used effectively. Further, when the stage is moved and part of it is retracted during scanning, if a part of the stage is positioned in the space on the load area side, the space efficiency is further improved.
第9の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第8の本発明のいずれかにおいて、前記ステージは、前記ロードエリアの待機位置にある際に、該ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る仕切部の一部を構成することを特徴とする。 The laser processing apparatus according to a ninth aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to any one of the first to eighth aspects of the present invention, wherein when the stage is at the standby position of the load area, the load area is placed in the space on the inlet side. And a part of a partition that partitions the space into the laser light irradiation area side.
ステージを仕切部の一部として利用することで、仕切部の構成部分を簡略にすることができる。 By using the stage as a part of the partition part, the constituent parts of the partition part can be simplified.
第10の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第9の本発明のいずれかにおいて、前記仕切部は、前記ロードエリアを前記被処理体の装入方向前後方向において前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る前方仕切壁を有することを特徴とする。 The laser processing apparatus according to a tenth aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to any one of the first to ninth aspects of the present invention, wherein the partition portion is disposed on the loading side in the front-rear direction of the loading direction of the workpiece. It has a front partition wall which partitions into space and the space of the said laser beam irradiation area side, It is characterized by the above-mentioned.
仕切部は、ロードエリアを仕切るため、前記被処理体の装入方向前後方向において前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る前方仕切壁を有するものとすることができる。これにより、被処理体の装入方向においてロードエリアを前後に仕切ることができる。この前方仕切壁は、ロードエリアのうち、被処理体が装入されて保持される保持ポジション側の空間と、装入口側空間とを仕切る位置に配置するのが望ましい。これにより、保持ポジション側の空間、さらにはレーザ光照射エリア側の空間に被処理体の装入によって雰囲気が影響を受けるのを極力回避することができる。 The partition portion may have a front partition wall that partitions the load area into the space on the inlet side and the space on the laser light irradiation area side in the front-rear direction of the loading direction of the workpiece to partition the load area. . Thereby, a load area can be partitioned back and forth in the loading direction of the object to be processed. The front partition wall is desirably arranged at a position in the load area that partitions the space on the holding position side where the workpiece is inserted and held from the space on the inlet side. Thereby, it is possible to avoid as much as possible that the atmosphere is affected by the insertion of the object to be processed in the space on the holding position side, and further on the space on the laser light irradiation area side.
第11の本発明のレーザ処理装置は、前記第1〜第10の本発明のいずれかにおいて、前記仕切部を第1の仕切部として、前記ロードエリアと前記レーザ光照射エリアとを仕切る第2の仕切部を備えることを特徴とする。 A laser processing apparatus according to an eleventh aspect of the present invention is the laser processing apparatus according to any one of the first to tenth aspects of the present invention, wherein the partition section is used as a first partition section to partition the load area and the laser light irradiation area. The partition part is provided.
第2の仕切部によって装入口側の空間とレーザ光照射エリアとをより確実に仕切ることができる。 The space on the inlet side and the laser beam irradiation area can be more reliably partitioned by the second partitioning portion.
以上のように、本発明によれば、ロードエリア外における雰囲気への影響を低減させ、レーザ光照射エリアの雰囲気を短時間で安定した状態に制御可能となり、被処理体の処理時間削減につながり、かつ均一な非晶質半導体薄膜の結晶化が可能になるなど処理効果が向上する効果がある。
また、ロードロック室や搬送ロボット室などの設置が不要になり、スペース効率が向上する。さらに、ロードロック室の雰囲気調整のために必要な時間や雰囲気ガスの使用量の低減効果がある。
As described above, according to the present invention, the influence on the atmosphere outside the load area can be reduced, the atmosphere in the laser light irradiation area can be controlled in a stable state in a short time, and the processing time of the object to be processed can be reduced. In addition, there is an effect that the processing effect is improved, such as crystallization of a uniform amorphous semiconductor thin film becomes possible.
In addition, installation of a load lock room, a transfer robot room, and the like is unnecessary, and space efficiency is improved. Furthermore, there is an effect of reducing the time required for adjusting the atmosphere of the load lock chamber and the amount of atmospheric gas used.
以下に、本発明のレーザ処理装置1について添付図面に基づいて説明する。
図1は、レーザ処理装置1の正面断面を示す図であり、図2は平面断面図、図3は、左側面断面図である。
レーザ処理装置1は、処理室2と、該処理室2外にあるレーザ発振器3と該レーザ発振器3から出力されたレーザ光3aを整形して前記処理室2に導く光学系4を備えている。
また、処理室2には、光学系4の一部としてレーザ光3aを処理室2外部から処理室2内に導く導入窓5を有しており、導入窓5を通して導かれるレーザ光3aは、処理室2内に設けたシールドボックス6に設けた透過孔6aを通して被処理体100に照射される。シールドボックス6は、被処理体100の照射部分にシールドガスを吹き付けるものである。
Below, the
1 is a front sectional view of the
The
Further, the
処理室2の側壁2aには、装入口7が設けられており、該装入口7の開閉を行うゲートバルブ8が備えられている。装入口7が位置する側で処理室2の外部に搬送ロボット9が位置する。なお、この例では、ゲートバルブ8を処理室2の側壁側に設けたが、図1示で正面側に設けるなどの構成も可能である。
An
処理室2内には、被処理体100の装入方向に対し前後方向および左右方向に移動可能なステージ10が設置されており、該ステージ10は、移動装置11によって移動される。該移動装置11は本発明の被処理体移送装置としての役割を有している。ステージ10は、平面矩形形状を有しており、シールドボックス6よりも装入口7側に待機位置を有しており、装入口7との間に間隙を有している。シールドボックス6と待機位置との間では大きな隙間を有する必要ない。
待機位置のステージ10と装入口7との間の間隙量は本発明としては特に限定されるものではないが、例えば、100〜300mmを挙げることができる。装入口7から待機位置にあるステージ10の前方端に至るまでの空間がロードエリアAとなっており、ステージ10の前方端よりも前方側の空間がレーザ光照射エリアBになっている。
なお、待機位置にあるステージ10の上面が被処理体100の保持ポジションとなる。
A
The amount of the gap between the
Note that the upper surface of the
待機位置にあるステージ10の後方側には、該ステージ10の両側端部位置に、前後方向に沿った側面仕切壁12、12が板面を縦にして配置されている。側面仕切壁12は、上端面および後端面が処理室2の天板2bおよび処理室の側壁2aに隙間なく密着している。なお、装入口7は、両側の側面仕切壁12間に縦横ともに収まっている。また側面仕切壁12、12の前端は、ステージ10の後端面と僅かな隙間を有して位置している。側面仕切壁12の下端は、ステージ10の下端部のやや上方位置にまで伸長している。
側面仕切壁12、12は本発明の仕切部の一部を構成する。
On the rear side of the
The
また、側面仕切壁12、12間には、ステージ10の上面高さと略同じ高さに上面が位置する下方水平仕切壁13が板面を水平にして配置されており、下方水平仕切壁13は左右方向に伸長して左右方向両端面は、側面仕切壁12、12の内面に隙間なく密着している。下方水平仕切壁13は、本発明の下方仕切壁に相当する。
In addition, a lower
下方水平仕切壁13の前端は側面仕切壁12の前端にまで伸長している。したがって、下方水平仕切壁13の前端は、ステージ10の後端面と僅かな隙間を有している。
下方水平仕切壁13の後端は、側壁2a付近で装入口7の開口部分に達している。さらに下方水平仕切壁13の後端には、板面を縦にした後方縦仕切壁14が連続しており、後方縦仕切壁14は左右方向に伸長して左右方向両端面は側面仕切壁12、12の内面に隙間なく密着している。
The front end of the lower
The rear end of the lower
また、後方縦仕切壁14の後方面は、装入口7の開口の下方側を塞ぐとともに、その周囲で側壁2aに密着して側面仕切壁12の下端と同位置にまで下方に伸長している。この後方縦仕切壁14によって装入口7の下方側が塞がれている。後方縦仕切壁14で塞がれることなく開放されている装入口7において被処理体100の装入に必要な開口は確保されている。
下方水平仕切壁13および後方縦仕切壁14は、本発明の仕切部の一部を構成する。
Further, the rear surface of the rear
The lower
さらに側面仕切壁12の前端上部側では、側面仕切壁12、12間に、前方縦仕切壁15が板面を縦にして配置されており、前面縦仕切壁15の上端面は処理室2の天板2bに隙間なく密着している。また、前方縦仕切壁15は左右に伸長して左右方向両端面は側面仕切壁12、12の内面に隙間なく密着している。また、前面縦仕切壁15の下端は、下方水平仕切壁13の上面にまで至らず、該上面との間で隙間G1が確保されている。前方縦仕切壁15は、本発明の前方仕切壁に相当し、仕切部の一部を構成する。
前記隙間G1を通して被処理体100の移動が可能になっており、隙間G1は、仕切部の開放部を構成する。
Furthermore, on the upper side of the front end of the
The
上記側面仕切壁12、12、下方水平仕切壁13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁15によって、本発明の仕切部となる仕切壁が構成されている。該仕切壁は、酸素などによる汚染を受けにくい材質が望ましく、例えばアルマイト処理されたアルミニウム板を用いることができる。
The
上記側面仕切壁12、12、下方水平仕切壁13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁15で囲まれた空間は、ロードエリアAの装入口側空間A1となり、待機したステージ10上の空間がロードエリアAのレーザ光照射側空間A2となっている。したがって、ステージ10の上面は、仕切部の一部を構成している。また、この実施形態では、レーザ光照射側空間A2は、被処理体100の保持ポジション側空間になっている。
The space surrounded by the
なお、この形態では、ステージ10が左右方向に移動するが、仕切部の前端がステージ10よりも後方側に位置するため、移動するステージ10と仕切部とが干渉することはない。
なお、上記では仕切部は固定物として説明したが、仕切部を可動のものや可変形状のものによって構成することも可能である。
In this embodiment, the
In addition, although the partition part was demonstrated as a fixed thing above, it is also possible to comprise a partition part with the thing of a movable thing or a variable shape.
さらに、装入口側空間A1には、装入口側空間A1に窒素、アルゴンなどの雰囲気ガスを給気可能な装入口側給気ライン16と、装入口側空間A1内の雰囲気ガスを排気する装入口側排気ライン17とが接続されている。各ラインには、開閉弁16a、流量計16b、開閉弁17a、流量計17bが介設されている。装入口側給気ライン16と、開閉弁16a、流量計16bによって本発明の装入口側給気装置の一部を構成しており、装入口側排気ライン18と、開閉弁18a、流量計18bによって本発明の装入口側排気装置の一部を構成している。
装入口側空間A1に雰囲気ガスを給気することで、上記した仕切壁とステージ10との間の僅かな隙間からガスが外側に向けて吹き出されることでガスカーテンとしての機能が得られ、シールド性が向上する。したがって、仕切壁とステージ10との隙間は、ステージの移動を損なわない程度に極力小さくするのが望ましく、また、雰囲気ガスの給気によるガスカーテンの作用が十分に得られる程度に小さくすることが望ましい。
Furthermore, in the inlet side space A1, an inlet side
By supplying atmospheric gas to the inlet side space A1, the function as a gas curtain is obtained by blowing out gas from the slight gap between the partition wall and the
また、レーザ光照射エリアBには、レーザ光照射エリアB内に窒素、アルゴンなどの雰囲気ガスを給気可能な照射エリア給気ライン18と、レーザ光照射エリアB内の雰囲気ガスを排気する照射エリア排気ライン19とが接続されている。各ラインには、開閉弁18a、流量計18b、開閉弁19a、流量計19bが介設されている。照射エリア給気ライン18と、開閉弁18a、流量計18bによって本発明の照射エリア給気装置の一部を構成しており、照射エリア排気ライン19と、開閉弁19a、流量計19bによって本発明の照射エリア排気装置の一部を構成している。なお、装入口側の給排気装置のみを有し、照射エリアの給排気装置を有しないものであってもよい。
Further, the laser light irradiation area B is irradiated with an irradiation
次に、上記レーザ処理装置1の動作について説明する。
先ず、処理に先立ってステージ10を待機位置に移動させてゲートバルブ8を閉めておき、流量計16b、17b、18b、19bによって流量を調整しつつ、開閉弁16a、17a、18a、19aを開けて排気とともに雰囲気ガスを給気して処理室2内の雰囲気を調整する。
また、レーザ光照射エリアBに設けた照射エリア給気ライン18と照射エリア排気ライン19は、被処理体100の搬入、処理、被処理体の搬出に至るまで、給気および排気を継続したままにするのが望ましい。
Next, the operation of the
First, prior to processing, the
In addition, the irradiation
給気および排気によって各エリア内の雰囲気調整が完了すると、ゲートバルブ8を開け、搬送ロボット9によって被処理体100を装入口7からロードエリアA内の装入口側空間A1に装入し、さらに間隙G1を通して装入口側空間A1からレーザ光照射エリア側空間A2に被処理体100を装入してステージ10上の保持ポジションに載置、保持する。ゲートバルブ8を開ける際に、装入口側給気ライン16によって装入口側空間A1に給気のみを行って外部の大気が装入口側空間A1内に混入するのを防止するのが望ましい。この際に、装入口側空間A1のシールドが図られているため、装入口側空間A1に大気が混入しても、大気がレーザ光照射エリア側空間A2、さらにはレーザ光照射エリアBに容易に侵入することはない。
When the atmosphere adjustment in each area is completed by supplying and exhausting air, the
被処理体100をレーザ光照射エリア側空間A2の保持ポジションに装入した後、ゲートバルブ8を閉め、装入口側給気ライン16、照射エリア給気ライン18による給気と、装入口側排気ライン17、照射エリア排気ライン19による排気とを行って、処理室2内の雰囲気を安定化させる。この際に、レーザ光照射エリアBへの大気の混入は殆どなく、装入口側空間A1における雰囲気を安定化させるための時間程度で済むため、雰囲気安定化のための処理時間は短くなる。
After the
雰囲気の安定化後、ステージ10を移動装置11によって図1示左方に移動させる。この移動の途中で被処理体100の一部が照射位置に達するので、被処理体100が完全にレーザ光照射エリアBに移動する前にレーザ光の照射を開始することができる。レーザ光3aは、レーザ発振器3から出力され、光学系4および光学系4内の導入窓5、さらに処理室2内のシールドボックス6を通して、透過孔6aからレーザ光照射エリアB内に位置する被処理体100に照射される。
After stabilization of the atmosphere, the
ステージ10は、移動装置11によって前後方向に移動することでレーザ光3aが走査される。走査の際には、ステージ10はロードエリアA側への移動が可能になっており、ロードエリアA側の空間を利用することができる。
また、ステージ10を左右方向で移動させて走査位置を変更することで、被処理体100の全面に亘ってレーザ光照射による処理を行うことができる。該処理において、仕切壁はステージ10および被処理体100の移動に支障となることはない。
The
Further, by moving the
上記により被処理体100の処理を効率よく行うことができる。処理が完了した被処理体100は、ステージ10とともに移動装置11によってロードエリアA側に移動させ、装入口側空間給気ライン16によって装入口側空間A1側に給気のみを行った状態でゲートバルブ8を開け、搬送ロボット9によって処理室2外に搬出する。その後は、前記と同様に他の処理体100を搬入して同様の処理を行うことができる。
Thus, the
(実施形態2)
なお、上記実施形態では、側面仕切壁12は、待機位置にあるステージ10の後方端部近くに前端が位置してロードエリアを装入口側空間と、保持ポジション側空間と同様のレーザ光照射側空間に仕切るものについて説明したが、仕切部の前端位置を保持ポジション側空間内に設けるものであってもよい。この例を図5、6に基づいて説明する。図5は、処理室2を縦に断面した図であり、図6は、天板を省略した平面図である。
なお、前記実施形態と同様の構成については同一の符号を付してその説明を省略または簡略化する。
(Embodiment 2)
In the above-described embodiment, the
In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the structure similar to the said embodiment, and the description is abbreviate | omitted or simplified.
この例では、ステージ10の両側端部位置に、前後方向に沿った側面仕切壁20、20が板面を縦にして配置されている。側面仕切壁20、20は、前記側面仕切壁12、12と同様の形状を後方側に有し、前方側は、ステージ10の上面直上に下端が位置するようにして、保持ポジション側空間に伸長している。側面仕切壁20、20の上端面は処理室2の天板2bに隙間なく密着している。
側面仕切壁20の後方側では、待機したステージ10の後方近くに、上記実施形態と同様に下方水平仕切壁13が位置し、装入口7側に後方縦仕切壁14を有している。側面仕切板20の前方端は、ステージ10が移動する際にステージ10が最前方に位置したときに、ステージ10の後端と重ならない位置になっている。これによりステージ10が被処理体100を保持して左右に移動する際に側面仕切壁20と干渉することはない。
In this example,
On the rear side of the
側面仕切壁20の前端部には、前方縦仕切壁21を有している。前方縦仕切壁21は、上端面が処理室2の天板2bに隙間なく密着しており、さらに左右に伸長して左右の両端面が両側の側面仕切壁20内面と隙間なく密着している。前方縦仕切壁21は、本発明の前方仕切壁に相当する。
また、前方縦仕切壁21の下端と、ステージ10の上面との間には隙間G2が確保されている。前面縦仕切壁21は、本発明の仕切部の一部を構成する。
前記隙間G2を通して被処理体100の移動が可能になっており、隙間G2は、仕切部の開放部を構成する。
上記側面仕切板20、20、下方水平仕切板13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁21によって、本発明の仕切部となる仕切壁が構成されている。
A front
A gap G <b> 2 is secured between the lower end of the front
The
The
この実施形態においても、装入口7から待機位置にあるステージ10の前方端側に亘ってロードエリアAに割り当てられており、シールドボックス6側がレーザ光照射エリアBに割り当てられている。
側面仕切壁20、20、下方水平仕切壁13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁21で構成される仕切壁は、装入口7側空間の周囲を覆い、ロードエリアAを装入口側空間A3と、レーザ光照射エリア側空間A4とに仕切ってシールド性を得ている。
装入口側空間A3には、前記実施形態と同様に装入口側給気ライン16と装入口側排気ライン17が接続されており、装入口側給気ライン16からの給気によってガスカーテン作用を得てシールド性を向上させることができ、また、装入口側排気ライン17によって混入した大気を早期に排除することができる。また、レーザ光照射エリアBには、前記実施形態と同様に、レーザ光照射側給気ライン18とレーザ光照射側排気ライン19が接続されている。各ラインには、開閉弁18a、流量計18b、開閉弁19a、流量計19bが介設されている。
Also in this embodiment, the load area A is allocated from the
The partition wall composed of the
The inlet side
この実施形態においても、前記実施形態と同様にして処理室2内への被処理体100の搬入、レーザ光照射による処理、処理室2外への被処理体100の搬出を行うことができる。この際に、レーザ光照射エリアBの雰囲気をできるだけ維持するとともに、被処理体100の搬入、搬出に際し、短時間で雰囲気の安定化を図ることができる。
Also in this embodiment, the object to be processed 100 can be carried into the
(実施形態3)
上記各実施形態では、ロードエリアAを装入口側空間とレーザ光照射エリア側空間とに仕切る仕切部について説明したが、これに加えてロードエリアAとレーザ光照射エリアBとを仕切る第2の仕切部を備えるものであってもよい。
この実施形態3では、前記仕切部を第1の仕切部として、第2の仕切部を有しており、詳細を図7に基づいて説明する。図7は、処理室2を縦に断面した図である。
なお、前記各実施形態と同様の構成については同一の符号を付してその説明を省略または簡略化する。
(Embodiment 3)
In each of the above embodiments, the partition portion that partitions the load area A into the inlet side space and the laser light irradiation area side space has been described, but in addition to this, the second area that partitions the load area A and the laser light irradiation area B. You may provide a partition part.
In this
In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the structure similar to each said embodiment, and the description is abbreviate | omitted or simplified.
この形態では、ステージ10の両側端部位置に、前後方向に沿った側面仕切壁30、30が板面を縦にして配置されている。側面仕切部30は、後方側で側面仕切部12と同様の形状を有し、その前方側は、ステージ10の上面直上に下端が位置するようにして、ステージ10の前端側にまで伸長している。側面仕切壁30は、上端面が天板2bに隙間なく密着しており、後端面が側壁2aに隙間なく密着している。側面仕切壁30とステージ10の上面とは、ステージ10上に被処理体100を保持してステージ10が移動する際に、被処理体100と側面仕切壁30とが干渉しないように、ステージ10との間に最小限の隙間が確保されている。なお、図7示想像線で示すように、ステージ10に保持された被処理体100と干渉しない部分はステージ10と側面仕切壁30との隙間を部分的に小さくしてもよい。
側面仕切壁30の後方側では、待機したステージ10の後方端面近くに、上記実施形態と同様に下方水平仕切板13が位置し、装入口7側に後方縦仕切壁14が設けられている。また、下方水平仕切壁13の前方端直上に、前方縦仕切壁15が設けられている。前方縦仕切壁15は、上端面が天板2bに隙間なく密着しており、下方端は、下方水平仕切壁13上面との間で間隙G1を有している。
側面仕切壁30の装入口7からステージ10の後端部に至る範囲と、下方水平仕切壁13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁15は、第1の仕切部を構成する。
In this embodiment,
On the rear side of the
The range from the
また、側面仕切壁30の前端部に前方縦仕切壁31を有している。前方縦仕切壁31は、上端面が処理室2の天板2bに隙間なく密着しており、左右に伸長して左右両端面が両側の側面仕切壁30の内面に隙間なく密着している。また、前方縦仕切壁31の下端は、側面仕切壁30の下端位置と同じ位置になっている。前方縦仕切壁31は、本発明の前方仕切壁に相当する。
側面仕切壁30、前方縦仕切壁31およびステージ10は、本発明の第2の仕切部を構成している。
A front
The
この実施形態においても、装入口7から待機位置にあるステージ10の前方端側に亘ってロードエリアAに割り当てられており、シールドボックス6側がレーザ光照射エリアBに割り当てられている。
側面仕切壁30、30の後方側、下方水平仕切壁13、後方縦仕切壁14、前方縦仕切壁15で構成される第1の仕切部は、装入口7側空間の周囲を覆い、ロードエリアAを装入口側空間A1と、レーザ光照射エリア側空間A2とに仕切ってシールド性を得ている。さらに側面仕切壁30の前方部と、前方縦仕切壁31、ステージ10上面で構成される第2の仕切部は、処理室2内をロードエリアAとレーザ光照射エリアBとに仕切ってさらにシールド性を得ている。
装入口側空間A1は、前記各実施形態と同様に装入口側給気ラインからの給気によってガスカーテン作用を得てシールド性を向上させることができ、また、装入口側排気ラインによって混入した大気を早期に排除することができる。
Also in this embodiment, the load area A is allocated from the
The first partition part constituted by the rear side of the
The inlet side space A1 can obtain a gas curtain action by supplying air from the inlet side air supply line and improve the shielding performance in the same manner as in the above embodiments, and is mixed by the inlet side exhaust line. The atmosphere can be eliminated early.
以上、本発明について上記実施形態に基づいて説明を行ったが、本発明は上記実施形態の内容に限定されるものではなく、適宜の変更が可能である。 As mentioned above, although this invention was demonstrated based on the said embodiment, this invention is not limited to the content of the said embodiment, A suitable change is possible.
1 レーザ処理装置
2 処理室
3 レーザ発振器
4 光学系
6 シールドボックス
7 装入口
8 ゲートバルブ
9 搬送ロボット
10 ステージ
11 移動装置
12 側面仕切壁
13 下方水平仕切壁
14 後方縦仕切壁
15 前方縦仕切壁
16 装入口側給気ライン
17 装入口側排気ライン
18 照射エリア給気ライン
19 照射エリア排気ライン
20 側面仕切壁
21 前方縦仕切壁
30 側面仕切壁
31 前方縦仕切壁
31 前方縦仕切壁
A ロードエリア
A1 装入口側空間
A2 レーザ光照射側空間
A3 装入口側空間
A4 レーザ光照射側空間
B レーザ光照射エリア
100 被処理体
DESCRIPTION OF
Claims (11)
前記処理室は、前記処理室外部から前記処理室内部に前記被処理体を装入する開閉可能な装入口を有するとともに、前記処理室内部に、前記装入口に連なるロードエリアと、該ロードエリアに連なるレーザ光照射エリアと、前記被処理体を保持して前記ロードエリアと前記レーザ光照射エリアとの間で移動可能なステージと、前記ロードエリアを前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間とに仕切る仕切部を有し、
前記仕切部は、前記装入口側の空間と前記レーザ光照射エリア側の空間との間で前記被処理体の移動が可能であり、
前記仕切部は、前記処理室内で、前記装入口の下方側の内壁から内側に突出して前記ロードエリア側に位置した前記ステージの装入口側端部側に伸長して前記ステージとともに前記装入口側空間の下方または前記装入口側空間および前記レーザ光照射エリア側空間の下方を仕切る下方仕切壁と、前記処理室内で、前記装入口の両側方の内壁から内側に突出して前記レーザ光照射エリア側に伸長して前記装入口側空間の側方または前記装入口側空間および前記レーザ光照射エリア側空間の側方を仕切る側方仕切壁とを有することを特徴とするレーザ処理装置。 A processing chamber that irradiates the target object with laser light in an atmosphere adjusted to contain the target object; and an optical system that guides the laser beam from the outside into the processing chamber.
The processing chamber has an openable and closable inlet for charging the object to be processed into the processing chamber from the outside of the processing chamber, a load area connected to the charging port in the processing chamber, and the load area A stage that can move between the load area and the laser light irradiation area while holding the object to be processed, a space on the loading port side, and the laser light irradiation. It has a partition that partitions it into the space on the area side,
The partition portion is Ri movement can der of the workpiece between the spout side space and the laser beam irradiation area side of the space,
The partition portion protrudes inward from an inner wall on the lower side of the loading port in the processing chamber and extends to an loading side end portion side of the stage located on the load area side, together with the stage. A lower partition wall that partitions a lower part of the space or the lower part of the inlet side space and the lower part of the laser light irradiation area; and in the processing chamber, the inner part protrudes inward from the inner walls on both sides of the inlet, and the laser light irradiation area side And a side partition wall that extends to the side of the inlet side space or the side of the inlet side space and the side of the laser light irradiation area side .
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2011/058929 WO2011129282A1 (en) | 2010-04-12 | 2011-04-08 | Laser processing apparatus |
| CN201180018247.0A CN102834899B (en) | 2010-04-12 | 2011-04-08 | Laser machining device |
| KR1020127024497A KR101896949B1 (en) | 2010-04-12 | 2011-04-08 | Laser processing apparatus |
| JP2011086145A JP5447991B2 (en) | 2011-04-08 | 2011-04-08 | Laser processing equipment |
| TW100112641A TWI471914B (en) | 2010-04-12 | 2011-04-12 | Laser processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011086145A JP5447991B2 (en) | 2011-04-08 | 2011-04-08 | Laser processing equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012222139A JP2012222139A (en) | 2012-11-12 |
| JP5447991B2 true JP5447991B2 (en) | 2014-03-19 |
Family
ID=47273340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011086145A Active JP5447991B2 (en) | 2010-04-12 | 2011-04-08 | Laser processing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5447991B2 (en) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04356917A (en) * | 1991-06-03 | 1992-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Laser anneal apparatus |
| JP3175002B2 (en) * | 1997-05-07 | 2001-06-11 | 住友重機械工業株式会社 | Laser annealing equipment |
| JPH1197382A (en) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Japan Steel Works Ltd:The | Laser annealing equipment |
| JP2000021891A (en) * | 1998-06-26 | 2000-01-21 | Toshiba Corp | Substrate processing apparatus and method |
| JP3955592B2 (en) * | 2004-11-19 | 2007-08-08 | 住友重機械工業株式会社 | Processing apparatus and processing method |
-
2011
- 2011-04-08 JP JP2011086145A patent/JP5447991B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012222139A (en) | 2012-11-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A521 | Request for written amendment filed |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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