JP5457628B2 - 半導体装置及びそのタイミング制御方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
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- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
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- H—ELECTRICITY
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Description
12 フォール用コマンドラッチ部
13 メモリ動作制御部
14 ドライバ部
15 ソーストランジスタ部
21 ソーストランジスタドライバ
22 フォール用コマンドデコーダー
41 主電源線
42 副電源線
43 プルアップ側ソーストランジスタ
44 主接地線
45 副接地線
46 プルダウン側ソーストランジスタ
47 メモリ制御回路
Claims (8)
- 入力信号を受ける内部回路と、該内部回路への電力供給を制御する電源制御手段とを備えた半導体装置において、
クロックの立ち上がりに応じて前記入力信号を出力する入力手段と、
該入力手段から出力された前記入力信号を分岐させる分岐手段と、
該分岐手段により分岐させた一の信号に応じて前記電源制御手段を駆動し、前記内部回路へ電力を供給する駆動手段と、
前記クロックの立ち下りに応じて前記分岐手段により分岐させた他の信号をラッチし、前記内部回路へ供給するラッチ手段と、
を備えることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1に記載された半導体装置において、
前記内部回路がメモリ制御回路であり、前記入力信号がメモリ制御用の内部コマンド信号であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項2に記載された半導体装置において、
前記入力手段が、パッド入力信号から前記内部コマンド信号を生成するコマンドデコーダーであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3に記載された半導体装置において、
前記ラッチ手段がDラッチ回路、スルーラッチ回路又は前記コマンドデコーダーとは別のコマンドデコーダーであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至4に記載された半導体装置において、
前記電源制御手段が高電位側電源及び低電位側電源にそれぞれ接続されるプルアップ側ソーストランジスタ及びプルダウン側ソーストランジスタであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項5に記載された半導体装置において、
前記駆動手段がプルアップ側ソーストランジスタ及びプルダウン側ソーストランジスタにそれぞれ対応する一対のドライバーであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項5に記載された半導体装置において、
前記駆動手段がプルアップ側ソーストランジスタ及びプルダウン側ソーストランジスタに共通に接続された一つのドライバーであることを特徴とする半導体装置。 - 入力信号を受ける内部回路と、該内部回路への電力供給を制御する電源制御手段とを備えた半導体装置のタイミング制御方法において、
クロックの立ち上がりに応じて前記入力信号を入力手段より出力させるステップと、
該入力手段から出力された前記入力信号を分岐手段により分岐させるステップと、
前記分岐手段により分岐させた一の信号に応じて前記電源制御手段を駆動することにより前記内部回路へ電力を供給するステップと、
前記クロックの立ち下りに応じて前記分岐手段により分岐させた他の信号をラッチすることにより前記内部回路へ供給するステップと、
を含むことを特徴とするタイミング制御方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007279520A JP5457628B2 (ja) | 2007-10-26 | 2007-10-26 | 半導体装置及びそのタイミング制御方法 |
| US12/257,758 US8134405B2 (en) | 2007-10-26 | 2008-10-24 | Semiconductor device and timing control method for the same |
| US14/207,015 USRE46141E1 (en) | 2007-10-26 | 2014-03-12 | Semiconductor device and timing control method for the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007279520A JP5457628B2 (ja) | 2007-10-26 | 2007-10-26 | 半導体装置及びそのタイミング制御方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014002331A Division JP2014130674A (ja) | 2014-01-09 | 2014-01-09 | 半導体装置及びそのタイミング制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009110568A JP2009110568A (ja) | 2009-05-21 |
| JP5457628B2 true JP5457628B2 (ja) | 2014-04-02 |
Family
ID=40582048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007279520A Expired - Fee Related JP5457628B2 (ja) | 2007-10-26 | 2007-10-26 | 半導体装置及びそのタイミング制御方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US8134405B2 (ja) |
| JP (1) | JP5457628B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5742508B2 (ja) * | 2011-06-27 | 2015-07-01 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体メモリ、システムおよび半導体メモリの動作方法 |
| JP2014130674A (ja) * | 2014-01-09 | 2014-07-10 | Ps4 Luxco S A R L | 半導体装置及びそのタイミング制御方法 |
| US10254782B2 (en) * | 2016-08-30 | 2019-04-09 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses for reducing clock path power consumption in low power dynamic random access memory |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5408144A (en) * | 1993-01-07 | 1995-04-18 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuits with power reduction mechanism |
| US5381455A (en) * | 1993-04-28 | 1995-01-10 | Texas Instruments Incorporated | Interleaved shift register |
| JP3645593B2 (ja) * | 1994-09-09 | 2005-05-11 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置 |
| TW324101B (en) * | 1995-12-21 | 1998-01-01 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit and its working method |
| JPH11328955A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体回路装置 |
| JP4390305B2 (ja) | 1999-01-04 | 2009-12-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
| JP4190140B2 (ja) | 2000-09-04 | 2008-12-03 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 同期式半導体記憶装置、及びその入力情報のラッチ制御方法 |
| CN100380811C (zh) * | 2002-12-13 | 2008-04-09 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件和使用该半导体器件的显示器件 |
| US6876252B2 (en) * | 2003-06-28 | 2005-04-05 | International Business Machines Corporation | Non-abrupt switching of sleep transistor of power gate structure |
| JP3900126B2 (ja) * | 2003-08-18 | 2007-04-04 | ソニー株式会社 | 論理処理回路、半導体デバイス及び論理処理装置 |
| JP4683833B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2011-05-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 機能回路及びその設計方法 |
| US6917232B2 (en) * | 2003-12-10 | 2005-07-12 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for generating a quadrature clock |
| DE602004013918D1 (de) * | 2004-04-07 | 2008-07-03 | Sgs Thomson Microelectronics | Hochgeschwindigkeitsprüfung von integrierten Schaltungen |
| KR100636676B1 (ko) * | 2005-02-03 | 2006-10-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전압 생성 제어회로 및 이를 이용한 내부전압 생성회로 |
| JP4261507B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2009-04-30 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | クロックネットワークの消費電力低減回路 |
| US7284169B2 (en) * | 2005-12-08 | 2007-10-16 | Micron Technology, Inc. | System and method for testing write strobe timing margins in memory devices |
| US7400175B2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-07-15 | Fujitsu Limited | Recycling charge to reduce energy consumption during mode transition in multithreshold complementary metal-oxide-semiconductor (MTCMOS) circuits |
| JP5256840B2 (ja) * | 2008-04-30 | 2013-08-07 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 論理回路 |
-
2007
- 2007-10-26 JP JP2007279520A patent/JP5457628B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-10-24 US US12/257,758 patent/US8134405B2/en not_active Ceased
-
2014
- 2014-03-12 US US14/207,015 patent/USRE46141E1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| USRE46141E1 (en) | 2016-09-06 |
| US8134405B2 (en) | 2012-03-13 |
| US20090108897A1 (en) | 2009-04-30 |
| JP2009110568A (ja) | 2009-05-21 |
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Legal Events
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|
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|
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