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JP5475438B2 - Protection controller with integrated operation test function - Google Patents
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Description

本発明は、総合動作試験機能を備えた保護制御装置に関する。   The present invention relates to a protection control device having a comprehensive operation test function.

電力系統に発生する故障、いわゆる短絡、地絡故障等に対しては、電力系統を形成する送電線、変圧器、母線、発電機といった要素ごとに設置された保護制御装置が、その守備範囲内に発生した故障に対して動作し、当該の故障点を含む区間を遮断器の引き外しにより、残りの健全な電力系統から切り離しすることで、故障の除去が行われる。このため、保護制御装置に対しては正しい応動をすることが強く望まれている。   For faults that occur in the power system, so-called short-circuits, ground faults, etc., protection control devices installed for each element such as transmission lines, transformers, buses, and generators that form the power system are within the defensive range. The fault is removed by disconnecting the section including the fault point from the remaining healthy power system by tripping the circuit breaker. For this reason, it is strongly desired that the protective control device respond correctly.

しかるに、現在では、かかる保護制御装置は系統の電流、電圧情報をA/D変換し、ソフトウェア処理によって、系統故障を判別するアルゴリズムを搭載したディジタル型の保護制御装置が主流となっている。このため外部から見えにくいものであるだけに、その動作を検証しておくことが重要となる。   However, at present, such protection control devices are mainly digital protection control devices equipped with an algorithm for A / D converting system current and voltage information and determining system faults by software processing. For this reason, it is important to verify the operation because it is difficult to see from the outside.

以下、ディジタル型の保護制御装置の概略と、動作検証時の問題点について述べる。まず、特高向けのディジタル保護制御装置では、電力系統の電流、電圧情報を電気角30度や、高速なものでは3.75度といった周期でサンプリングし、いわゆる保護継電演算を実施し、系統の故障を検出する。   In the following, an outline of a digital protection control device and problems during operation verification will be described. First, in digital protection control devices for extra highs, the current and voltage information of the power system is sampled at a cycle of 30 degrees electrical angle and 3.75 degrees for high-speed ones, so-called protection relay operation is performed, and system failure Is detected.

さらに、機器の状態や他装置の状態等の入力条件及び、いくつかの保護継電演算結果の組み合わせにより構成されるシーケンスロジックを実施し、最終的な引き外し指令、いわゆるトリップ指令を出力する。   Furthermore, a sequence logic composed of a combination of input conditions such as the state of the device and the state of other devices and some protection relay calculation results is executed, and a final trip command, so-called trip command, is output.

このときディジタル型の保護制御装置は、装置画面に動作内容として系統故障の種類、動作した保護継電要素を表示すると同時に、通信やディジタル出力の接点渡しで遠方に通知する機能を有している。   At this time, the digital type protection control device has a function of displaying the type of system failure and the operated protective relay element as the operation contents on the device screen, and at the same time, notifying a remote person by communication or passing the digital output. .

さらに、保護制御装置における表示には、電力会社毎の装置の要求仕様により、装置の遮断器引き外し出力で表示する場合や、実際に遮断器が切れたことを確認した上で表示するものがある。後者の場合は機器の応答速度に依存するため、全てのケースを網羅する試験は困難である。   In addition, according to the required specifications of the device for each power company, the protection control device may display the circuit breaker trip output or display after confirming that the breaker has actually broken. is there. In the latter case, since it depends on the response speed of the device, it is difficult to test all the cases.

またディジタル技術の進歩により、1つの装置で複数の保護継電要素を搭載し、複数の遮断器を操作する装置や、保護、制御機能の一体となった装置などが製品化され、シーケンスロジックの論理も複雑かつ膨大になってきている。   Advances in digital technology have led to the commercialization of devices that incorporate multiple protective relay elements in one device, operate multiple circuit breakers, and devices with integrated protection and control functions. The logic is becoming complex and enormous.

機能の面では、系統事故発生時に保護継電要素が動作しトリップするミリ秒オーダーの機能から、再閉路や自動復旧機能などの数十秒から数分に掛けて実施する機能を備えている。   In terms of functions, it is equipped with functions that can be carried out over several tens of seconds to several minutes, such as a reclosing circuit and an automatic recovery function, from a function of millisecond order in which a protective relay element operates and trips when a system fault occurs.

このため、再閉路実施中に別回線を保護している保護制御装置による別遮断器の動作などの複雑かつ異なる時間オーダーの現象についても検証が必要となっている。   For this reason, it is necessary to verify even complicated and different time order phenomena such as operation of another circuit breaker by a protection control device protecting another line during reclosing.

係る保護制御装置の総合動作試験は、出荷時に模擬送電線やディジタルシミュレータにより実施されているが、検証設備は、規模が大きく試験にかかる工数も大きくなる。さらに、1つの保護制御装置で複合する機能がある場合、机上検討段階でシーケンスロジックの論理不良が疑われる場合でも、現実の装置では簡単に発生できないケースもあり、論理不良の摘出や修正の確認が困難な場合も少なくない。   The comprehensive operation test of the protection control device is carried out by a simulated power transmission line or a digital simulator at the time of shipment, but the verification facility is large in scale and requires a large number of man-hours for the test. In addition, if there is a function that is combined with one protection control device, even if a logic failure in the sequence logic is suspected at the desk study stage, it may not occur easily in the actual device. Is often difficult.

この点に関し、特許文献1には保護制御装置の外部に試験信号を発生する計算機を装備して動作試験を行なうことが記載されている。また、特許文献2には、系統安定化装置の内部に試験信号を発生する機能を含んだ装置が記載されている。   In this regard, Patent Document 1 describes that an operation test is performed by installing a computer that generates a test signal outside the protection control device. Patent Document 2 describes a device including a function for generating a test signal inside the system stabilizing device.

特開平8−317544号公報JP-A-8-317544 特開平2002−10493号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-10493

前述の様に、系統事故時における保護制御装置機能の総合的な試験を行うには、模擬送電線設備やディジタルシミュレータといった大規模な試験設備が必要である。この点、特許文献1,2の装置では大掛かりな設備を必要としない点での改善がなされている。   As described above, a large-scale test facility such as a simulated transmission line facility or a digital simulator is required to perform a comprehensive test of the protection control device function in the event of a system failure. In this regard, the devices disclosed in Patent Documents 1 and 2 have been improved in that large facilities are not required.

然しながら、近年の保護制御装置の機能の多機能化によって、ミリ秒オーダーの事象から、数分、数時間、あるいは数分後のミリ秒オーダーの事象といった各種時間オーダーの組み合わせでの検証が必要になってきている。   However, due to the multi-functionalization of protection control devices in recent years, it is necessary to verify various combinations of time orders, such as events in the order of milliseconds, events in the order of minutes, hours, or minutes later. It has become to.

また、上記の検証は、製品開発時のみならず、現地で発生する稀頻度の現象の対策を実施した際など現象の再現が困難な場合があり、また対策を実施するにしてもその効果の確認に労を要する場合が多くあった。   In addition, the above verification may be difficult to reproduce not only during product development, but also when implementing countermeasures against infrequent phenomena occurring locally, and even if countermeasures are implemented In many cases, confirmation required labor.

この点、特許文献1,2の装置では試験用入力を準備して試験を行なうことを開示したのみで、稀にではあるが、実際に発生する故障ケースとして、例えば地絡から短絡に至るような進展故障であるとか、回線間に跨る故障であるとかのことを考慮していない。入力を印加して動作した(しない)ことを確認したのみであって、このことも含めて電力系統で発生する複雑な連続事象の場合の試験装置としてどのように装置構成すべきかを記載していない。言い換えるならば、特許文献1,2の装置では単発故障事例のみを意識しており、総合試験を考えていない。   In this regard, the devices disclosed in Patent Documents 1 and 2 only disclose that a test input is prepared and a test is performed, but rarely, as a failure case that actually occurs, for example, from a ground fault to a short circuit. It does not take into account whether the failure is a sudden failure or is a failure across lines. It is only confirmed that it was operated (not) by applying an input, and this also describes how the device should be configured as a test device in the case of complex continuous events occurring in the power system. Absent. In other words, the devices of Patent Documents 1 and 2 are conscious of only a single failure case and do not consider a comprehensive test.

本発明は、これらに鑑み、特別な設備がなくともシーケンスロジックの総合的な動作確認を可能とするものである。   In view of the above, the present invention enables a comprehensive operation check of sequence logic without special equipment.

本発明では、電力系統のアナログ信号を取り込んでディジタル化した信号を用いて保護継電演算を行なう保護継電演算部、保護継電演算部からの複数信号を用いて出力を決定するシーケンスロジック部、シーケンスロジック部の出力を外部に出力する出力端子を含み、電力系統の遮断器の操作信号を与える第1と第2の演算装置、第1と第2の演算装置の動作試験のためにディジタル化した信号に変えて試験用入力を与える試験入力生成部、第1と第2の演算装置の出力端子のどちらにも電力系統の遮断器の操作を許可する信号が得られているときに、遮断器の操作を実行する引き外し回路から構成される総合動作試験機能付保護制御装置において、
第1と第2の演算装置内には、それぞれの出力端子から電力系統の遮断器の操作信号が与えられていることを確認するアンド回路と、アンド回路の出力で起動され遮断器の動作時間経過後に出力する遅延タイマとをそれぞれ備え、試験入力生成部による動作試験のときには、遅延タイマの出力を遮断器の動作信号としてシーケンスロジック部に与える。
In the present invention, a protection relay operation unit that performs a protection relay operation using a digital signal obtained by taking an analog signal of a power system, and a sequence logic unit that determines an output using a plurality of signals from the protection relay operation unit Including an output terminal for outputting the output of the sequence logic unit to the outside, and providing digital signals for the operation test of the first and second arithmetic devices for supplying an operation signal for the circuit breaker of the power system. A test input generation unit that provides a test input in place of the converted signal, and a signal that permits operation of the breaker of the power system is obtained at both of the output terminals of the first and second arithmetic units. In the protection control device with a comprehensive operation test function composed of a trip circuit for executing the operation of the circuit breaker,
In the first and second arithmetic units, an AND circuit for confirming that an operation signal for the circuit breaker of the power system is given from the respective output terminals, and an operating time of the circuit breaker that is activated by the output of the AND circuit Each of the delay timers outputs after the elapse of time, and when an operation test is performed by the test input generation unit, the output of the delay timer is given to the sequence logic unit as an operation signal of the circuit breaker.

また、第1と第2の演算装置の動作試験のために使用する設定情報を与える設定部を備えるのがよい。   It is preferable to provide a setting unit that provides setting information used for the operation test of the first and second arithmetic devices.

また、設定部は、試験ケースを選択する試験ケース選択部と、選択した試験ケースの時の試験入力生成部における試験用信号を、経過時刻での大きさと位相角の情報として設定、記憶する第1の設定記憶部とを含むのがよい。   The setting unit sets and stores the test case selection unit for selecting the test case and the test signal in the test input generation unit at the time of the selected test case as information on the magnitude and phase angle at the elapsed time. 1 setting storage unit.

また、設定部は、遅延タイマの模擬する遮断器の動作時間を、遮断器ごとに設定する第2の設定記憶部を含むのがよい。   The setting unit may include a second setting storage unit that sets the operation time of the circuit breaker simulated by the delay timer for each circuit breaker.

また、設定部は、試験ケースを選択する試験ケース選択部と、選択した試験ケースの時の前記試験入力生成部における試験用信号を、経過時刻での大きさと位相角の情報として設定、記憶する第1の設定記憶部と、遅延タイマの模擬する遮断器の動作時間を、遮断器ごとに設定する第2の設定記憶部を含むのがよい。   The setting unit sets and stores the test case selection unit for selecting a test case and the test signal in the test input generation unit at the time of the selected test case as information on the magnitude and phase angle at the elapsed time. It is preferable to include a first setting storage unit and a second setting storage unit that sets the operation time of the circuit breaker simulated by the delay timer for each circuit breaker.

本発明によれば、模擬試験送電設備のような機材がない場合であっても簡便にかつ広範囲の試験が行ないうる。   According to the present invention, even if there is no equipment such as a simulated test power transmission facility, a wide range of tests can be performed easily.

本発明の機能を実装した保護制御装置のブロック図である。It is a block diagram of the protection control apparatus which mounted the function of this invention. 保護制御装置と保護対象との関連を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the relationship between a protection control apparatus and protection object. 装置内部の処理基板内部のブロック図である。It is a block diagram inside the process board | substrate inside an apparatus. 本発明における処理が使用するデータの例である。It is an example of the data which the process in this invention uses. 遮断器の応答時間を設定するデータの例である。It is an example of the data which sets the response time of a circuit breaker. 本発明の演算処理フロー図の例である。It is an example of the arithmetic processing flowchart of this invention. 試験設定のヒューマンインターフェース画面の例である。It is an example of the human interface screen of a test setting. 試験データ作成のヒューマンインターフェース画面の例である。It is an example of the human interface screen of test data creation. 遮断器の応答時間設定をするヒューマンインターフェース画面の例である。It is an example of the human interface screen which sets the response time of a circuit breaker. 総合動作試験による進展故障のときの動作結果を表わす例である。It is an example showing the operation result at the time of the progress failure by a comprehensive operation test.

以下、本発明の実施例について説明する。 Examples of the present invention will be described below.

図2は保護制御装置と保護対象との関連を示したブロック図である。CT、VTはそれぞれ系統の電流、電圧情報を計測するための変流器、電圧変成器であり、これらからの出力は入力変換器4を介して保護制御装置Ryに取り込まれる。   FIG. 2 is a block diagram showing the relationship between the protection control device and the protection target. CT and VT are current transformers and voltage transformers for measuring system current and voltage information, respectively, and outputs from these are taken into the protection control device Ry via the input converter 4.

保護制御装置Ryには、主検出処理基板5と故障検出処理基板6が備えられている。これら処理基板5,6は保護継電演算を実施する主検出要素と、故障検出要素とで処理基板を分けるのが一般的である。   The protection control device Ry includes a main detection processing board 5 and a failure detection processing board 6. In general, these processing boards 5 and 6 are divided into a main detection element for performing a protective relay operation and a fault detection element.

主検出処理基板5内の主検出要素においては、その入力から保護継電演算を実施し、シーケンスロジックの条件が成立するときに、出力回路8に出力を与える。同様に故障検出処理基板6内の故障検出要素においても、その入力から保護継電演算を実施し、シーケンスロジックの条件が成立するときに、出力回路9に出力を与える。   The main detection element in the main detection processing board 5 performs a protective relay operation from its input and gives an output to the output circuit 8 when the sequence logic condition is satisfied. Similarly, also in the failure detection element in the failure detection processing board 6, the protection relay operation is performed from the input, and an output is given to the output circuit 9 when the sequence logic condition is satisfied.

10は、遮断器CBの引き外し回路であり、各検出基板内での判断が共に事故を検出し、出力回路8、9がともに出力したときに、遮断器CBの引き外し操作を実行して電力系統の事故を除去する。なお、一般的には、主検出要素と、故障検出要素における事故検出のための論理演算原理は別種類のものとされる。また、事故の回復後、再閉路機能のある保護制御装置Ryは、シーケンスロジックにて再閉路が実施され自動的に遮断器CBの投入を行う。   10 is a trip circuit for the circuit breaker CB. When the judgment in each detection board both detects an accident and the output circuits 8 and 9 output both, the trip circuit for the circuit breaker CB is executed. Eliminate power system accidents. In general, the principle of logic operation for detecting an accident in the main detection element and the failure detection element is different. Further, after recovery from the accident, the protection control device Ry having a reclosing function performs reclosing by the sequence logic and automatically turns on the circuit breaker CB.

遮断器CBの動作は、遮断器接点信号110として、保護制御装置Ryにフィードバックされる。フィードバックされる遮断器接点信号110としては、実際の遮断器CBの接点信号としても良く、あるいは保護制御装置Ryの遮断器引き外し回路の出力で代用する場合のいずれであってもよい。   The operation of the circuit breaker CB is fed back to the protection control device Ry as a circuit breaker contact signal 110. The circuit breaker contact signal 110 to be fed back may be an actual contact signal of the circuit breaker CB, or may be replaced with the output of the circuit breaker trip circuit of the protection control device Ry.

また同図の保護制御装置Ryには、ヒューマンインタフェース処理基板7が備えられており、各処理基板5、6、7と出力回路8、9の間には通信回線120が設置されている。この通信回線120を通じて各部のデータは共有されており、遮断器接点信号110などは、ヒューマンインタフェース処理基板7により、現地の表示がなされ、遠方に通知され、あるいは汎用PCで構成される別装置に送られる。   Further, the protection control device Ry of the figure is provided with a human interface processing board 7, and a communication line 120 is installed between the processing boards 5, 6, 7 and the output circuits 8, 9. The data of each part is shared through this communication line 120, and the breaker contact signal 110 and the like are displayed on-site by the human interface processing board 7, notified to a distant place, or sent to another device constituted by a general-purpose PC. Sent.

なお図示の例では、遠方への通知はヒューマンインタフェース処理基板7で行う例を示したが、専用の通信基板を用いる場合や、ディジタル出力によってテレコン等に接点で出力を渡す場合などがあり、装置によってさまざまである。   In the example shown in the figure, the notification to the distant place is shown by the human interface processing board 7, but there are cases where a dedicated communication board is used or the output is passed to the telecon or the like by a digital output, etc. It depends on.

図3は処理基板内部のブロック図であり、コンピュータで構成された演算装置CPUはバスBUSを経由してアナログディジタル変換器A/D、ランダムアクセスメモリRAM、不揮発性メモリROM、外部インターフェースIFと接続されている。   FIG. 3 is a block diagram of the inside of the processing board, and the arithmetic unit CPU constituted by a computer is connected to an analog / digital converter A / D, a random access memory RAM, a nonvolatile memory ROM, and an external interface IF via a bus BUS. Has been.

この回路により、アナログフィルタAFからアナログディジタル変換器A/Dを経由して入力された電力系統の電流や電圧のデータは、演算装置CPUに取り込まれる、演算装置CPUは保護継電演算、シーケンス演算を実施し、出力結果をI/OインターフェースIFから図2の出力回路8,9に出力する。なお、RAMは演算経過のワークとして格納される。不揮発性メモリROMには保護継電演算に使用する整定値等が格納されている。また、プログラムは演算装置CPU内部の不揮発性メモリROMに格納されている為、表記を省略したが、演算装置CPUの種別によってはプログラムを外部の不揮発性メモリROMに持つ必要がある。   With this circuit, current and voltage data of the power system input from the analog filter AF via the analog / digital converter A / D is taken into the arithmetic device CPU. The arithmetic device CPU performs the protective relay operation and the sequence operation. The output result is output from the I / O interface IF to the output circuits 8 and 9 in FIG. The RAM is stored as a work in progress. The non-volatile memory ROM stores a set value used for the protective relay operation. Since the program is stored in the nonvolatile memory ROM inside the arithmetic unit CPU, the description is omitted. However, depending on the type of the arithmetic unit CPU, it is necessary to have the program in an external nonvolatile memory ROM.

図1は本発明の主たる構成要件である演算装置CPUの内部機能を示したブロック図である。図1に示すように、演算装置CPUとしては主検出処理基板5用の演算装置CPU1と、事故検出処理基板6用の演算装置CPU2がある。これらの複数の演算装置CPUは、ハード構成上は同一構成とされている。本装置においては通常は、入力端子11で取り込んだ電力系統の電流や電圧のディジタルデータを、ディジタルフィルタ処理部16にてフィルタ処理し、保護継電演算部17において事故判定処理を実行し、シーケンス処理部18を介して出力端子19から、図2の出力回路8あるいは9に向けて出力する処理を継続的に実行している。また、シーケンス処理部18での処理に必要なディジタル入力を入力端子12から取り込んで使用している。   FIG. 1 is a block diagram showing the internal functions of the arithmetic unit CPU, which is a main component of the present invention. As shown in FIG. 1, there are an arithmetic unit CPU 1 for the main detection processing board 5 and an arithmetic unit CPU 2 for the accident detection processing board 6 as the arithmetic unit CPU. The plurality of arithmetic units CPU have the same configuration in terms of hardware configuration. In this apparatus, normally, the digital data of the current and voltage of the power system captured at the input terminal 11 is filtered by the digital filter processing unit 16, the accident determination processing is executed by the protective relay calculation unit 17, and the sequence Processing for outputting from the output terminal 19 to the output circuit 8 or 9 in FIG. 2 via the processing unit 18 is continuously performed. Further, the digital input necessary for the processing in the sequence processing unit 18 is taken in from the input terminal 12 and used.

これに対し、本発明においては入力切替回路14,15を設置し、入力端子11あるいは12からの入力信号に代えて、入力生成プログラム13からの診断信号に切り替えることができる機能を備えている。   On the other hand, in the present invention, the input switching circuits 14 and 15 are provided and provided with a function capable of switching to the diagnostic signal from the input generation program 13 instead of the input signal from the input terminal 11 or 12.

また、シーケンス処理部18を経由し出力端子19に至った信号は、実際の遮断器CBの応答時間に合わせた遅延タイマTを設けて、シーケンスロジックに入力できる様に構成している。なお、図の例では、各演算装置CPUの出力端子19の信号を遮断器CBの接点信号の代わりに用いているので、2組の出力端子19の信号の一致をアンド回路20で求めて遮断器CBの操作指令信号を模擬し、遮断器CBの操作完了までの時間を模擬する遅延タイマTの出力をもって遮断器CBの接点信号としている。   In addition, a signal that reaches the output terminal 19 via the sequence processing unit 18 is provided with a delay timer T that matches the actual response time of the circuit breaker CB, and can be input to the sequence logic. In the example shown in the figure, since the signal of the output terminal 19 of each arithmetic unit CPU is used instead of the contact signal of the circuit breaker CB, the coincidence of the signals of the two sets of output terminals 19 is obtained by the AND circuit 20 and interrupted. The operation command signal of the circuit breaker CB is simulated, and the output of the delay timer T that simulates the time until the operation of the circuit breaker CB is completed is used as the contact signal of the circuit breaker CB.

以上の説明では、遮断器の遮断動作を模擬することを想定しているが、同様にして遮断器投入時の投入動作を模擬することも容易に行ないうることは言うまでもない。   In the above description, it is assumed that the breaking operation of the circuit breaker is simulated, but it goes without saying that the closing operation when the breaker is turned on can also be simulated easily.

図7は、図2のヒューマンインタフェース処理基板7の処理の一部として実施されるモニタ画面を示している。図の例では、図1の演算装置CPUの試験のための設定画面が表示されている。試験設定画面には、試験ケース選択部70と、設定ボタン73と、実行ボタン74が表示されている。試験ケース選択部70には、更にケースボタン71と、その実行内容についてのコメント72が表示されている。   FIG. 7 shows a monitor screen implemented as part of the processing of the human interface processing board 7 of FIG. In the example shown in the figure, a setting screen for testing the arithmetic unit CPU in FIG. 1 is displayed. On the test setting screen, a test case selection unit 70, a setting button 73, and an execution button 74 are displayed. In the test case selection section 70, a case button 71 and a comment 72 about the execution contents are further displayed.

図7の設定画面の内容は、ケース1においては、地絡故障発生後、50ms後に短絡故障が発生したといういわゆる進展故障を想定している。ケース2は、地絡故障発生後、100ms後に短絡故障が発生という進展故障である。ケース3は、地絡故障発生後、200ms後に短絡故障発生という進展故障である。ケース4は、短絡故障発生後、50ms後に地絡故障が発生したものである。   The content of the setting screen in FIG. 7 assumes a so-called progress failure in which a short-circuit failure has occurred 50 ms after the occurrence of a ground fault in Case 1. Case 2 is a progressive failure in which a short-circuit failure occurs 100 ms after the occurrence of a ground fault. Case 3 is a progressive failure in which a short-circuit failure occurs 200 ms after the occurrence of a ground fault. Case 4 is a case where a ground fault has occurred 50 ms after the occurrence of a short-circuit fault.

例えばここでは、ケースボタン71でケース3を選択し、実行ボタン74の押下で試験を実施する。   For example, here, the case 3 is selected by the case button 71, and the test is performed by pressing the execution button 74.

また、試験ケースボタン71を選択したうえで、設定ボタン73を押下すると、図8に示す試験データの設定画面へ移行する。図8の設定画面は、今回選択したケース3の編集、設定用の画面であり、ページ切替部85で前頁を選ぶとケース2に戻り、次頁を選ぶとケース4の編集画面に移行する。また、設定内容をキャンセルするときにはキャンセルボタン87、終了するときには終了ボタン86を押下する。   When the test button 71 is pressed after selecting the test case button 71, the screen shifts to the test data setting screen shown in FIG. The setting screen of FIG. 8 is a screen for editing and setting of the case 3 selected this time. When the previous page is selected by the page switching unit 85, the screen returns to case 2, and when the next page is selected, the screen shifts to the editing screen of case 4. . A cancel button 87 is pressed to cancel the setting contents, and an end button 86 is pressed to end.

このケースでの設定内容は3種類あり、その一つが進展故障発生までの経過時間設定部81と、図1のアナログ入力として故障時のアナログ入力設定部80と、図1のディジタル入力として故障時のディジタル入力設定部84である。アナログ入力設定部80では、故障相の選択とそのときの故障電流や電圧をアナログ値設定部82で、故障電流の位相角を位相角設定部83で設定し、ディジタル入力設定部84で取り込むディジタル入力の種類を決定する。   There are three types of setting contents in this case, one of which is an elapsed time setting unit 81 until the occurrence of a progressive failure, an analog input setting unit 80 at the time of failure as an analog input in FIG. 1, and a failure time as a digital input in FIG. The digital input setting unit 84 of FIG. In the analog input setting unit 80, the failure phase is selected and the failure current and voltage at that time are set by the analog value setting unit 82, the phase angle of the failure current is set by the phase angle setting unit 83, and the digital input is set by the digital input setting unit 84. Determine the type of input.

図4は、このようにして設定された故障条件に基づくアナログやディジタル入力を表しており、上から、図7のケース1、ケース2、ケース3、ケース4のときの経過時間41、第1のアナログ入力42、第2のアナログ入力44、ディジタル入力43を示している。アナログ入力42と44は、各経過時刻での大きさ(ゲイン)と位相角で示されている。例えば、図7で選択したケース3の進展故障の場合のデータとしては、時刻100msで零相電圧が30ボルトになり、時刻110msで零相電圧が0ボルトに復帰することで地絡故障の発生を模擬し、その200ms後の時刻310msにおいて、今度はA相電流が10アンペアになり時刻360msでA相電流が0アンペアに復帰することで進展故障としての短絡故障の発生を模擬している。なお、データの最後には終了コードが記述されており、これにより試験データは終了する。このようにして設定されたケース3の進展故障の場合のデータは、図1の入力生成プログラム13に保存される。   FIG. 4 shows analog and digital inputs based on the failure conditions set in this way. From the top, the elapsed time 41 for the case 1, case 2, case 3, and case 4 in FIG. The analog input 42, the second analog input 44, and the digital input 43 are shown. The analog inputs 42 and 44 are indicated by magnitude (gain) and phase angle at each elapsed time. For example, the data in the case of the progressive failure in case 3 selected in FIG. 7 includes the occurrence of a ground fault when the zero phase voltage becomes 30 volts at time 100 ms and the zero phase voltage returns to 0 volts at time 110 ms. At time 310 ms, 200 ms after that, the A-phase current is now 10 amperes, and the A-phase current is returned to 0 amperes at time 360 ms, thereby simulating the occurrence of a short-circuit failure as a progressive failure. Note that an end code is described at the end of the data, and thus the test data ends. The data in the case of the progressive failure in case 3 set in this way is stored in the input generation program 13 in FIG.

なお、図4に示す機能で遮断器応答をカバーすることも可能であるが、その場合、保護継電動作の出力時間をあらかじめ知っておく必要があり、このように別途設定できる方が便利である。   It is also possible to cover the circuit breaker response with the function shown in FIG. 4, but in that case, it is necessary to know the output time of the protective relay operation beforehand. is there.

この場合に、入力生成プログラム13に保存された進展故障データは、アナログ波形的には、図10の零相電圧aと、A相電流bのように示される。つまり、零相電圧aは時刻t1からt2の間発生し、A相電流bは時刻t3からt4の間発生する。この場合に、図4の設定によれば、時刻t1からt2の間が10msであり、時刻t2からt3の間が200msであり、時刻t3からt4の間が50msである。また零相電圧aと、A相電流bの大きさはそれぞれ30ボルト、10アンペアである。なお、この例では、位相角は反映されていない。   In this case, the progress failure data stored in the input generation program 13 is expressed as an analog waveform as a zero-phase voltage a and an A-phase current b in FIG. That is, the zero-phase voltage a is generated from time t1 to t2, and the A-phase current b is generated from time t3 to t4. In this case, according to the setting in FIG. 4, the time between time t1 and t2 is 10 ms, the time between time t2 and t3 is 200 ms, and the time between time t3 and t4 is 50 ms. The magnitudes of the zero-phase voltage a and the A-phase current b are 30 volts and 10 amperes, respectively. In this example, the phase angle is not reflected.

以上の説明から明らかなように、本発明においては時刻と、その時刻での大きさと位相角の情報として試験信号が記憶されているので、大量のメモリを消費せずに、あらゆる時限の試験が可能となる。   As is clear from the above description, in the present invention, since the test signal is stored as information on the time, the magnitude and the phase angle at that time, the test of any time period can be performed without consuming a large amount of memory. It becomes possible.

また、図7の設定画面の一部には、図9の遮断器応答時間の設定画面もある。これは、図1の遅延タイマTにおいて、遮断器の遮断あるいは投入に要する時間を模擬する場合の、設定用の画面である。図9の設定画面において、左欄にはここで使用する遮断器が記述されており、遮断器CBごとに遮断出力ポジション91、投入出力ポジション92、状態ポジション93、応答遅延時間94、状態方向95が設定できる。   In addition, a part of the setting screen in FIG. 7 includes a setting screen for the circuit breaker response time in FIG. 9. This is a setting screen for simulating the time required for breaking or turning on the circuit breaker in the delay timer T of FIG. In the setting screen of FIG. 9, the circuit breaker used here is described in the left column. The circuit breaker output position 91, the closing output position 92, the state position 93, the response delay time 94, and the state direction 95 are described for each circuit breaker CB. Can be set.

図5は、この設定画面にて設定された遮断器の情報であり、遮断出力ポジション91、投入出力ポジション92、状態ポジション93、応答遅延時間94、状態方向95で設定された情報が、図5の遮断出力DO51、投入出力DO52、状態入力DI53、応答遅延時間54、取り込み方向55として記録される。   FIG. 5 shows circuit breaker information set in this setting screen. Information set in the cutoff output position 91, the closing output position 92, the state position 93, the response delay time 94, and the state direction 95 is shown in FIG. Are recorded as a cutoff output DO51, a closing output DO52, a status input DI53, a response delay time 54, and a capture direction 55.

ここで、遮断出力ポジション91、投入出力ポジション92、状態ポジション93の設定というのは、図1の出力端子19、あるいは入力端子12の基板上の位置を設定したものに他ならない。つまり、遮断器CB1の例で言えば、遮断出力をI/O基板1枚目の1bitから取り込み、投入出力をI/O基板2枚目の1bitから取り込み、状態入力をI/O基板2枚目の4bitから取り込み、遅延時間を50msに設定したことを意味する。   Here, the setting of the cutoff output position 91, the closing output position 92, and the state position 93 is nothing but setting the position of the output terminal 19 or the input terminal 12 of FIG. That is, in the example of the circuit breaker CB1, the interruption output is taken in from 1 bit of the first I / O board, the input is taken in from 1 bit of the second I / O board, and the state input is two I / O boards. It means that the 4th bit of the eye is taken in and the delay time is set to 50 ms.

なお、図5は、遮断器の応答を作成する別の配列を持ち、機器応答時間を切り替えられるようにしている。この場合、遮断器の入りを正論理とする場合と切りを正論理とする場合があり、装置により異なる為、これも切り替えられるようにする。   In addition, FIG. 5 has another arrangement | sequence which produces the response of a circuit breaker so that apparatus response time can be switched. In this case, there is a case where the circuit breaker is turned on with positive logic and a case where the breaker is turned on with positive logic.

図6に、以上述べた本発明装置における総合試験を実施するときの処理フロー図を示している。この図には、通常処理のフローと、総合試験実施時のフローが記述されている。   FIG. 6 shows a processing flow chart when the comprehensive test in the apparatus of the present invention described above is performed. In this figure, the flow of normal processing and the flow at the time of conducting a comprehensive test are described.

まず、ステップS61において、この処理周期が通常処理か、総合試験実施時かを判別する。なお、通常処理である場合には、図1の入力切替回路14,15が、入力端子11,12側にあり、総合試験実施時は、図1の入力切替回路14,15が、入力生成プログラム側にある。   First, in step S61, it is determined whether this processing cycle is a normal processing or a comprehensive test is being performed. In the case of normal processing, the input switching circuits 14 and 15 in FIG. 1 are on the input terminals 11 and 12 side, and during the comprehensive test, the input switching circuits 14 and 15 in FIG. On the side.

通常処理である場合(ステップS61の判断結果が「いいえ」)、ステップS62において、図1の入力端子11からアナログデータを取り込み、ステップS63において、図1のディジタルフィルタ処理部16におけるディジタルフィルタ処理を実施し、ステップS64において、図1の保護継電演算部17におけるリレー演算を実施する。   In the case of normal processing (the determination result in step S61 is “No”), in step S62, analog data is fetched from the input terminal 11 in FIG. 1, and in step S63, the digital filter processing in the digital filter processing unit 16 in FIG. In step S64, the relay calculation in the protection relay calculation unit 17 in FIG. 1 is performed.

引き続き、ステップS65において、図1の入力端子12からディジタルデータを取り込み、ステップS66において、図1のシーケンスロジック部18におけるシーケンス処理を実施し、ステップS67において、図1の出力端子19におけるDO出力処理を実施する。   Subsequently, in step S65, digital data is fetched from the input terminal 12 in FIG. 1, and in step S66, the sequence process in the sequence logic unit 18 in FIG. 1 is performed. In step S67, the DO output process in the output terminal 19 in FIG. To implement.

なお、通常処理時における以上の判断は、図1の2組の処理基板5と6の双方で実行され、図2の通信回線120を介して出力回路8,9に与えられ、事故時には遮断器CBの引き外し回路10を駆動する。   The above determination at the time of normal processing is executed by both of the two sets of processing boards 5 and 6 in FIG. 1 and is given to the output circuits 8 and 9 through the communication line 120 in FIG. The CB trip circuit 10 is driven.

総合試験を実施する時 (ステップS61の判断結果が「はい」)は、ステップS68において、今回が総合試験実施の初回であることを確認する。ステップS68で初回である場合には、テストケースの選択をおこなう。つまり、図7の設定画面において試験ケースとしてケース3の進展故障を選択し、図8の設定画面において経過時間、故障電流などの設定を行い、図7の実行ボタン74が押される。これによってアナログ入力の設定が完了し、初めて試験開始となる。   When the comprehensive test is performed (the determination result of step S61 is “Yes”), in step S68, it is confirmed that this is the first time for the comprehensive test. If it is the first time in step S68, a test case is selected. That is, the progress failure of case 3 is selected as the test case on the setting screen of FIG. 7, the elapsed time, the fault current, etc. are set on the setting screen of FIG. 8, and the execution button 74 of FIG. This completes the setting of analog input, and the test starts for the first time.

ステップS70では、確認時間をチェックしてステップS69の準備完了を待つ。実行ボタンが押されることで準備ができると、ステップS71において、入力パターン切替処理を行なう。ステップS72では、選択されている入力パターンに基づき、アナログデータを作成する。   In step S70, the confirmation time is checked and the completion of preparation in step S69 is awaited. When preparation is completed by pressing the execution button, input pattern switching processing is performed in step S71. In step S72, analog data is created based on the selected input pattern.

このとき、図1の入力生成プログラムからアナログデータを取り込み、ステップS63において、図1のディジタルフィルタ処理部16におけるディジタルフィルタ処理を実施し、ステップS64において、図1の保護継電演算部17におけるリレー演算を実施する。この場合のアナログデータは、図10の零相電圧a、A相電流bのように、時間間隔が相違して発生した進展故障の事例である。   At this time, the analog data is taken from the input generation program of FIG. 1, the digital filter processing in the digital filter processing unit 16 of FIG. 1 is performed in step S63, and the relay in the protective relay operation unit 17 of FIG. Perform the operation. The analog data in this case is an example of a progressive failure that occurs at different time intervals, such as the zero-phase voltage a and the A-phase current b in FIG.

引き続き、シーケンス処理(ステップS66)での処理を行なうために必要な、各種のディジタル的な情報の入力を行なう。まず、ステップS73において、図4のディジタルデータ43を取り込む。ディジタルデータ43は、試験期間中の各処理周期での「1」「0」の信号であり、時系列的な変化が記憶されている。   Subsequently, various digital information necessary for performing the processing in the sequence processing (step S66) is input. First, in step S73, the digital data 43 of FIG. 4 is captured. The digital data 43 is a signal of “1” and “0” in each processing cycle during the test period, and stores time-series changes.

次に、ステップS74とステップS75において、遮断器の出力条件を作成する。これは、図1の出力端子19からの出力が、演算装置CPU1,2の双方から得られ、アンド回路20で一致がとられてから、図5で定められた遅延時間(CB1の場合50ms)経過するまでの各時刻での接点情報であり、遮断器の遅延時間を模擬するための処理である。ステップS75ではアンド回路20で一致がとられたことを確認して、ステップS76では図1の遅延タイマTの時刻が経過したことを確認して、ステップS77において、図4のディジタルデータ43の記憶内容を上書する。これにより、この時刻以降は、次のシーケンス処理においては遮断器が開放されたという条件に変わる。   Next, in step S74 and step S75, an output condition of the circuit breaker is created. This is because the output from the output terminal 19 of FIG. 1 is obtained from both of the arithmetic units CPU1 and CPU2 and is matched by the AND circuit 20, and then the delay time determined in FIG. 5 (50 ms for CB1). This is contact information at each time until the elapsed time, and is a process for simulating the delay time of the circuit breaker. In step S75, it is confirmed that the AND circuit 20 has made a match. In step S76, it is confirmed that the time of the delay timer T in FIG. 1 has elapsed. In step S77, the digital data 43 in FIG. 4 is stored. Overwrite the contents. Thereby, after this time, it changes into the conditions that the circuit breaker was opened in the next sequence processing.

ステップS66では、以上のようにして得られたディジタル入力を使用して図1のシーケンスロジック部18におけるシーケンス処理を実施し、ステップS67において、図1の出力端子19におけるDO出力処理を実施する。   In step S66, the sequence processing in the sequence logic unit 18 in FIG. 1 is performed using the digital input obtained as described above. In step S67, the DO output processing in the output terminal 19 in FIG. 1 is performed.

本発明の総合動作試験においては、以上のようにしてアナログ、ディジタル入力が準備され、ディジタル装置内の健全性がチェックされるが、遮断器CBの動作を模擬して取り込むことによって、今まで行なえなかった幅広いディジタル装置範囲、あるいは長期間にわたる故障事象での試験がおこなえるようになった。   In the general operation test of the present invention, the analog and digital inputs are prepared as described above, and the soundness in the digital device is checked. However, this can be done by simulating the operation of the circuit breaker CB. It has become possible to test over a wide range of digital devices that did not exist, or with long-term failure events.

図10は、本発明の総合動作試験による進展故障のときの動作結果を表しており、事象としては時刻t1において地絡故障により零相電圧aが発生したが、所定時間後(時刻t2)に回復し、程なく時刻t3において今度は短絡故障が発生してA相電流bが生じたという進展故障に関するものである。   FIG. 10 shows an operation result at the time of a progressive failure according to the comprehensive operation test of the present invention. As an event, a zero-phase voltage a occurred due to a ground fault at time t1, but after a predetermined time (time t2). It is related to the progressive failure that has been recovered and that a short-circuit failure has occurred at time t3 and an A-phase current b has occurred.

係る送電線の故障事例は、稀にしか発生しない事象であるが、保護制御装置Ryとしては、このような場合にも正しく動作することを検証しておかなくてはならない。   Such a failure example of the transmission line is an event that occurs rarely, but it must be verified that the protection control device Ry operates correctly even in such a case.

まず、前半の地絡故障のとき主検出処理基板側の地絡過電圧リレーcは動作するが、過電流リレーdは動作せず、結果トリップ出力eには至らない。またこのとき、事故検出処理基板側の地絡過電圧リレーfは動作するが、過電流リレーgは動作しないが、シーケンス処理部の処理によって、トリップ出力hが得られる。このトリップ出力は、係属して保持される。   First, in the first half of the ground fault, the ground fault overvoltage relay c on the main detection processing board side operates, but the overcurrent relay d does not operate and the result trip output e is not reached. At this time, the ground fault overvoltage relay f on the accident detection processing board side operates, but the overcurrent relay g does not operate, but the trip output h is obtained by the processing of the sequence processing unit. This trip output is held pending.

その後、時刻t2で地絡故障が回復すると、地絡過電圧リレーcとfは復旧してしまう。   Thereafter, when the ground fault is recovered at time t2, the ground fault overvoltage relays c and f are recovered.

そして時刻t3で短絡故障が発生すると、地絡過電圧リレーcとfは動作しないが、過電流リレーdとgが動作する。主検出処理基板内のシーケンス処理部の処理においては、地絡過電圧リレーcは復旧してしまっているが、その動作内容は保持されているので、過電流リレーdが動作していることとの兼ね合いで、シーケンス処理部の処理によって、トリップ出力hが得られる。   When a short circuit failure occurs at time t3, the ground fault overvoltage relays c and f do not operate, but the overcurrent relays d and g operate. In the processing of the sequence processing unit in the main detection processing board, the ground fault overvoltage relay c has been recovered, but since the operation content is retained, the overcurrent relay d is in operation. In consideration, the trip output h is obtained by the processing of the sequence processing unit.

トリップ出力hとeが共に得られたことで、図6のフローチャートのステップS74,S75(図1のアンド回路20)の信号が「有り」に変わり、時刻t6で遮断器動作条件が成立する。ここからt5時間の経過を待って、遮断器が遮断されたことを模擬し、シーケンス処理部にこの条件変化を帰還させる。従って、総合試験装置の内部では、時刻t7に遮断器が遮断されたと認識する。   Since both the trip outputs h and e are obtained, the signals at steps S74 and S75 (AND circuit 20 in FIG. 1) in the flowchart of FIG. 6 change to “present”, and the circuit breaker operating condition is satisfied at time t6. After the elapse of t5 time from here, it is simulated that the circuit breaker is broken, and this condition change is fed back to the sequence processing unit. Accordingly, it is recognized that the circuit breaker is interrupted at time t7 within the comprehensive test apparatus.

以上説明したように、本発明では各種のアナログ、ディジタル入力を入力して試験を行い、その結果が如何なるものであったかを確認することで保護制御装置の応答動作を確認することができる。   As described above, in the present invention, various analog and digital inputs are input and a test is performed, and the response operation of the protection control device can be confirmed by confirming what the result is.

特に、あらかじめ系統事故の代表的な動作をメモリに登録しておくことで、シーケンスロジックの評価が容易に出来る。つまり、発生確率の稀な進展故障のようなものも模擬することが可能である。   In particular, it is possible to easily evaluate sequence logic by registering typical operations of system faults in a memory in advance. In other words, it is possible to simulate things such as rare failure with a rare occurrence probability.

また、遮断器などの外部機器の応答時間までをも考慮に入れているため、機器の違いによるシーケンスロジックの評価が出来る。図5に示したように、遮断器の応答時間は遮断器ごとにかなり相違するが、この点も高精度に模擬することができる。   In addition, since the response time of external equipment such as a circuit breaker is taken into consideration, the sequence logic can be evaluated depending on the equipment. As shown in FIG. 5, the response time of the circuit breaker is considerably different for each circuit breaker, but this point can also be simulated with high accuracy.

図4に示すように、試験用のアナログ入力信号を,時刻ごとの大きさと位相で表現する時刻設定方式による入力のため、大量のメモリを消費せずに、あらゆる時限の試験が可能となる。   As shown in FIG. 4, since the test analog input signal is input by a time setting method that expresses the magnitude and phase of each time, it is possible to perform tests of any time period without consuming a large amount of memory.

通常試験では出来ない、外部機器の不応動や想定外の遅延などに対応した設定が可能である。   Settings corresponding to external device refractory movements and unexpected delays, which are not possible in normal tests, are possible.

実機を用いている為、HI画面表示、遠方表示といった機能まで動作するため論理回路以外のソフトウェアの検証にもつながる。   Since the actual machine is used, functions such as HI screen display and distant display work, which leads to verification of software other than logic circuits.

本発明は、特別な設備がなくとも、保護制御装置の機能として、系統故障の模擬による総合動作試験機能を設け、保護継電演算やシーケンスロジックの総合動作による確認が容易に実施可能である。   Even if there is no special equipment, the present invention provides a comprehensive operation test function by simulating a system failure as a function of the protection control device, and can be easily confirmed by a protection relay calculation and a comprehensive operation of sequence logic.

また、系統事故発生時の保護制御装置の動作のみではなく、再閉路や自動復旧機能など比較的長時間に及ぶ機能までを総合的に検証可能とする。本機能により、シーケンスロジックの変更時に、容易に短時間で検証が実施可能とする。さらに、現地に於けるソフト変更時に動作確認試験を現地の遮断器を動作させることなく、機能確認が可能とする。   In addition, it is possible to comprehensively verify not only the operation of the protection control device when a system fault occurs, but also functions that take a relatively long time such as reclosing and automatic recovery functions. With this function, verification can be performed easily in a short time when the sequence logic is changed. In addition, the function check can be performed without operating the on-site circuit breaker when the software is changed on site.

本発明によれば、模擬試験送電設備のような機材がない場合であっても簡便にかつ広範囲の試験が行ないうるので、保護制御装置として高い信頼性を得ることができるので、幅広い利用が期待できる。   According to the present invention, even if there is no equipment such as a simulation test power transmission facility, a wide range of tests can be performed easily, so that high reliability can be obtained as a protection control device, and thus wide use is expected. it can.

11 入力端子
12 入力端子
13 入力生成プログラム
14 入力切替回路
15 入力切替回路
16 ディジタルフィルタ処理部
17 保護継電演算部
18 シーケンス処理部
19 出力端子
T 遅延タイマ
VT 電圧変成器
CT 変流器
CB 遮断器
4 入力変換器
5 主検出処理基板
6 故障検出処理基板
7 ヒューマンインターフェース処理基板
8 主検出用出力回路
9 故障検出用出力回路
10 引き外し回路
110 遮断器接点信号
120 通信回線
AF アナログフィルタ
A/D アナログディジタル変換器
CPU 演算装置
RAM ランダムアクセスメモリ
ROM 不揮発性メモリ
IF インターフェース回路
51 遮断出力DO
52 投入出力DO
53 状態入力DI
54 機器応答時間
55 取り込み方向
91 遮断出力ポジション
92 投入出力ポジション
93 状態入力ポジション
94 応答遅延時間
95 状態方向
70 試験ケース選択部
71 ケースボタン
72 コメント記入欄
73 設定ボタン
74 実行ボタン
80 アナログ入力設定部
81 経過時間設定部
82 アナログ値設定部
83 位相角設定部
84 ディジタル入力設定部
85 頁切替部
86 終了ボタン
87 キャンセルボタン
91 遮断出力ポジション
92 投入出力ポジション
93 状態入力ポジション
94 応答遅延時間
95 状態方向
11 Input terminal 12 Input terminal 13 Input generation program 14 Input switching circuit 15 Input switching circuit 16 Digital filter processing unit 17 Protection relay operation unit 18 Sequence processing unit 19 Output terminal T Delay timer VT Voltage transformer CT Current transformer CB Breaker 4 Input converter 5 Main detection processing board 6 Fault detection processing board 7 Human interface processing board 8 Main detection output circuit 9 Fault detection output circuit 10 Trip circuit 110 Breaker contact signal 120 Communication line AF Analog filter A / D Analog Digital converter CPU Arithmetic unit RAM Random access memory ROM Non-volatile memory IF Interface circuit 51 Cutoff output DO
52 Input output DO
53 Status input DI
54 Device response time 55 Capture direction 91 Cutoff output position 92 Input / output position 93 Status input position 94 Response delay time 95 Status direction 70 Test case selection section 71 Case button 72 Comment entry field 73 Setting button 74 Execution button 80 Analog input setting section 81 Elapsed time setting unit 82 Analog value setting unit 83 Phase angle setting unit 84 Digital input setting unit 85 Page switching unit 86 End button 87 Cancel button 91 Cutout output position 92 Input output position 93 State input position 94 Response delay time 95 State direction

Claims (5)

電力系統のアナログ信号を取り込んでディジタル化した信号を用いて保護継電演算を行なう保護継電演算部、該保護継電演算部からの複数信号を用いて出力を決定するシーケンスロジック部、該シーケンスロジック部の出力を外部に出力する出力端子を含み、電力系統の遮断器の操作信号を与える第1と第2の演算装置、該第1と第2の演算装置の動作試験のために前記ディジタル化した信号に代えて試験用入力を与える試験入力生成部、前記第1と第2の演算装置の前記出力端子のどちらにも前記電力系統の遮断器の操作を許可する信号が得られているときに、前記遮断器の操作を実行する引き外し回路から構成される総合動作試験機能付保護制御装置において、
前記第1と第2の演算装置内には、それぞれの前記出力端子から電力系統の遮断器の操作信号が与えられていることを確認するアンド回路と、該アンド回路の出力で起動され前記遮断器の動作時間経過後に出力する遅延タイマとをそれぞれ備え、前記の試験入力生成部による動作試験のときには、前記遅延タイマの出力を遮断器の動作信号としてシーケンスロジック部に与えることを特徴とする総合動作試験機能付保護制御装置。
A protection relay operation unit that performs a protection relay operation using a signal obtained by digitizing an analog signal of a power system, a sequence logic unit that determines an output using a plurality of signals from the protection relay operation unit, and the sequence A first and second arithmetic unit including an output terminal for outputting the output of the logic unit to the outside, and providing an operation signal for a circuit breaker of the power system; the digital unit for operation test of the first and second arithmetic units A signal permitting the operation of the circuit breaker of the electric power system is obtained at both the test input generation unit for giving a test input instead of the converted signal and the output terminals of the first and second arithmetic units. Sometimes, in the protection control device with a comprehensive operation test function composed of a trip circuit that executes the operation of the circuit breaker,
In each of the first and second arithmetic units, an AND circuit for confirming that an operation signal for a circuit breaker of a power system is given from each of the output terminals; A delay timer that outputs after the operation time of the circuit breaker, and outputs an output of the delay timer to the sequence logic unit as an operation signal of the circuit breaker during an operation test by the test input generation unit. Protection control device with operation test function.
請求項1記載の総合動作試験機能付保護制御装置において、
第1と第2の演算装置の動作試験のために使用する設定情報を与える設定部を備えることを特徴とする総合動作試験機能付保護制御装置。
In the protection control apparatus with a comprehensive operation test function according to claim 1,
A protection control device with a comprehensive operation test function, comprising: a setting unit that provides setting information used for an operation test of the first and second arithmetic devices.
請求項2記載の総合動作試験機能付保護制御装置において、
前記設定部は、試験ケースを選択する試験ケース選択部と、選択した試験ケースの時の前記試験入力生成部における試験用信号を、経過時刻での大きさと位相角の情報として設定、記憶する第1の設定記憶部とを含むことを特徴とする総合動作試験機能付保護制御装置。
In the protection control device with a comprehensive operation test function according to claim 2,
The setting unit sets and stores a test case selection unit for selecting a test case, and a test signal in the test input generation unit at the time of the selected test case as information on magnitude and phase angle at an elapsed time. A protection control device with a comprehensive operation test function.
請求項2記載の総合動作試験機能付保護制御装置において、
前記設定部は、前記遅延タイマの模擬する遮断器の動作時間を、遮断器ごとに設定する第2の設定記憶部を含むことを特徴とする総合動作試験機能付保護制御装置。
In the protection control device with a comprehensive operation test function according to claim 2,
The said setting part contains the 2nd setting memory | storage part which sets the operation time of the circuit breaker simulated by the said delay timer for every circuit breaker, The protection control apparatus with a comprehensive operation test function characterized by the above-mentioned.
請求項2記載の総合動作試験機能付保護制御装置において、
前記設定部は、試験ケースを選択する試験ケース選択部と、選択した試験ケースの時の前記試験入力生成部における試験用信号を、経過時刻での大きさと位相角の情報として設定、記憶する第1の設定記憶部と、前記遅延タイマの模擬する遮断器の動作時間を、遮断器ごとに設定する第2の設定記憶部を含むことを特徴とする総合動作試験機能付保護制御装置。
In the protection control device with a comprehensive operation test function according to claim 2,
The setting unit sets and stores a test case selection unit for selecting a test case, and a test signal in the test input generation unit at the time of the selected test case as information on magnitude and phase angle at an elapsed time. A protection control device with a comprehensive operation test function, comprising: a setting storage unit for 1 and a second setting storage unit for setting an operation time of the circuit breaker simulated by the delay timer for each circuit breaker.
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