Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP5488360B2 - Spectrofluorometer - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP5488360B2 - Spectrofluorometer - Google Patents

Spectrofluorometer Download PDF

Info

Publication number
JP5488360B2
JP5488360B2 JP2010205339A JP2010205339A JP5488360B2 JP 5488360 B2 JP5488360 B2 JP 5488360B2 JP 2010205339 A JP2010205339 A JP 2010205339A JP 2010205339 A JP2010205339 A JP 2010205339A JP 5488360 B2 JP5488360 B2 JP 5488360B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peak
light
wavelength
sample
indicating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010205339A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012063148A (en
Inventor
康之 渡邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2010205339A priority Critical patent/JP5488360B2/en
Publication of JP2012063148A publication Critical patent/JP2012063148A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5488360B2 publication Critical patent/JP5488360B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

本発明は、試料に励起光を照射したときに生ずる蛍光を測定する分光蛍光光度計に関する。   The present invention relates to a spectrofluorometer that measures fluorescence generated when a sample is irradiated with excitation light.

基底状態の分子に光を照射すると、分子はエネルギーレベルの高い励起状態に遷移する。そして、励起状態の分子は、エネルギーの一部を振動や熱により失った後、光放射による失活により基底状態に戻る。このときに分子が発する光が蛍光である。
そこで、分子が発する蛍光がどのようなものであるかを検討するために、設定励起波長λEX1の光を試料に照射し、そのときに試料から放出されるスペクトル(光の波長分布)を測定する分光蛍光光度計が開発されている(例えば、特許文献1参照)。
When light is emitted to a molecule in the ground state, the molecule transitions to an excited state having a high energy level. The excited state molecules lose part of their energy due to vibration or heat, and then return to the ground state due to deactivation due to light emission. At this time, the light emitted from the molecule is fluorescence.
Therefore, in order to examine what the fluorescence emitted by the molecule is, the sample is irradiated with light of the set excitation wavelength λ EX1 and the spectrum (light wavelength distribution) emitted from the sample at that time is measured. A spectrofluorometer has been developed (see, for example, Patent Document 1).

図5は、従来の分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。
分光蛍光光度計101は、設定励起波長λEX1の光を出射する光源部10と、試料Sが配置される試料室20と、スペクトルを測定する検出部30と、分光蛍光光度計101全体を制御するコンピュータ150とを備える。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a conventional spectrofluorometer.
The spectrofluorometer 101 controls the light source unit 10 that emits light having a set excitation wavelength λ EX1 , the sample chamber 20 in which the sample S is disposed, the detection unit 30 that measures the spectrum, and the entire spectrofluorometer 101. And a computer 150.

光源部10は、白色光を出射する高輝度のキセノンランプやフラッシュランプ等の光源11と、白色光を波長分解して設定励起波長λEX1の光を試料Sに対して照射する凹面回折格子12aを有する励起分光器12と、励起側スリット13と、ミラー15と、モニタ検出器14(Si−PDまたは光電子増倍管)とを備える。凹面回折格子12aは、コンピュータ150によって回転されるようになっており、任意の設定励起波長λEX1の光を試料Sに対して照射することができるようになっている。 The light source unit 10 includes a light source 11 such as a high-brightness xenon lamp or a flash lamp that emits white light, and a concave diffraction grating 12a that wavelength-decomposes white light and irradiates the sample S with light having a set excitation wavelength λ EX1. The excitation spectroscope 12 which has this, the excitation side slit 13, the mirror 15, and the monitor detector 14 (Si-PD or a photomultiplier tube) are provided. The concave diffraction grating 12a is rotated by the computer 150 so that the sample S can be irradiated with light having an arbitrary set excitation wavelength λ EX1 .

検出部30は、試料Sから放出される光を波長分解して目的波長λの光を光検出器32に対して出射する凹面回折格子31aを有する蛍光分光器31と、目的波長λの光強度を検出する光検出器(光電子増倍管)32と、蛍光側スリット34とを備える。凹面回折格子31aは、コンピュータ150によって回転されるようになっており、任意の目的波長λの光を光検出器32に対して出射することができるようになっている。これにより、凹面回折格子31aは、コンピュータ150によって回転されながら、所定領域の目的波長λの光を光検出器32に対して出射すれば、スペクトルを測定することができるようになっている。 The detection unit 30 wavelength-decomposes the light emitted from the sample S and emits light having a target wavelength λ n to the photodetector 32, and a fluorescence spectrometer 31 having a concave diffraction grating 31a and a target wavelength λ n . A photodetector (photomultiplier tube) 32 for detecting the light intensity and a fluorescence side slit 34 are provided. Concave diffraction grating 31a is adapted to be rotated by the computer 150, and is capable of emitting light of an arbitrary target wavelength lambda n to light detector 32. As a result, the concave diffraction grating 31a can measure the spectrum by emitting light of the target wavelength λ n in a predetermined region to the photodetector 32 while being rotated by the computer 150.

コンピュータ150においては、CPU(制御部)151とメモリ154とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置52と、表示装置53とが連結されている。また、CPU151が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部10を制御する光源部制御部151aと、光検出器32からの光強度信号を取得する光検出器制御部151bと、表示装置53にスペクトルを表示する表示制御部151cとを有する。   The computer 150 includes a CPU (control unit) 151 and a memory 154, and an input device 52 having a keyboard, a mouse, and the like, and a display device 53 are connected to each other. Further, the functions processed by the CPU 151 will be described as a block. A light source control unit 151 a that controls the light source unit 10, a photodetector control unit 151 b that acquires a light intensity signal from the photodetector 32, and the display device 53. And a display control unit 151c for displaying the spectrum.

このような分光蛍光光度計101によれば、分析者が試料Sの分析を実行する際には、入力装置52を用いて光源部制御部151aを制御することにより、試料Sに対して設定励起波長λEX1(例えば、350nm)の光を照射する。光検出器制御部151bは、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を目的波長範囲(例えば、300nm〜800nm)で取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。
そして、試料Sの分析を実行することが終了すると、表示制御部151cは、表示装置53にスペクトルを表示する。図6は、得られたスペクトルの一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。
According to such a spectrofluorometer 101, when an analyst performs analysis of the sample S, the excitation is set for the sample S by controlling the light source unit controller 151a using the input device 52. Irradiation with light having a wavelength λ EX1 (for example, 350 nm) is performed. The photodetector control unit 151b is emitted from the sample S by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in a target wavelength range (for example, 300 nm to 800 nm) while rotating the concave diffraction grating 31a. Get the spectrum.
When the analysis of the sample S is completed, the display control unit 151c displays the spectrum on the display device 53. FIG. 6 is a diagram illustrating an example of the obtained spectrum. The vertical axis is the light intensity, and the horizontal axis is the wavelength.

特開平10−160673号公報JP-A-10-160673

しかしながら、分光蛍光光度計101で得られるスペクトルには、図6に示すように350.1nmのピークAと397.0nmのピークBと450.1nmのピークCと700.5nmのピークDとが現れている。つまり、蛍光を示すピークに加え、試料Sを励起するために用いた設定励起波長λEX1と同じ波長λEX1のレーリー散乱光を示すピークや、レーリー散乱光の高次光を示すピークや、分子の振動に起因するストークスラマン散乱光を示すピークが現れることがある。分子は、エネルギーの一部を振動や熱により失った後に、光放射による失活により基底状態に戻るため、光放射によるエネルギーは励起エネルギーよりも小さくなるので、蛍光を示すピークは設定励起波長λEX1よりも長波長側に現れる。ところが、ストークスラマン散乱光を示すピークも、同じように長波長側に現れる。また、レーリー散乱光の高次光を示すピークも長波長側に現れる。すなわち、分光蛍光光度計101で得られるスペクトルには、図6に示すように複数のピークA〜Dが重なりあって複雑になることがあった。よって、分析者は図6に示すスペクトルを一見して、蛍光を示すピークがA〜Dのいずれであるのかがわからないことがあった。 However, in the spectrum obtained by the spectrofluorometer 101, a peak A of 350.1 nm, a peak B of 397.0 nm, a peak C of 450.1 nm, and a peak D of 700.5 nm appear as shown in FIG. ing. That is, in addition to the peak indicating fluorescence, the peak indicating the Rayleigh scattered light having the same wavelength λ EX1 as the set excitation wavelength λ EX1 used for exciting the sample S, the peak indicating the higher-order light of the Rayleigh scattered light, and the vibration of the molecule In some cases, a peak indicating Stokes Raman scattering light due to the above appears. Since a molecule loses a part of its energy due to vibration or heat and then returns to the ground state by deactivation due to light emission, the energy due to light emission is smaller than the excitation energy, so the peak that shows fluorescence is at the set excitation wavelength λ Appears on the longer wavelength side than EX1 . However, a peak indicating Stokes Raman scattering light also appears on the long wavelength side in the same manner. In addition, a peak indicating higher-order light of Rayleigh scattered light also appears on the long wavelength side. That is, the spectrum obtained by the spectrofluorometer 101 may be complicated by overlapping a plurality of peaks A to D as shown in FIG. Therefore, the analyst may have a glance at the spectrum shown in FIG. 6 and may not know which of the peaks A to D indicates the fluorescence.

ここで、図6に示すスペクトルには、設定励起波長λEX1のレーリー散乱光を示すピークAと、波長λEX1×2のレーリー散乱光の2次光を示すピークDと、蛍光を示すピークBと、ストークスラマン散乱光を示すピークCとが現れている。しかし、分析者が蛍光を示すものであると判断したピークが、実際には蛍光を示すものでなく、レーリー散乱光を示すピークA、Dやストークスラマン散乱光を示すピークCであることがあった。 Here, the spectrum shown in FIG. 6 includes a peak A indicating Rayleigh scattered light having a set excitation wavelength λ EX1 , a peak D indicating secondary light of Rayleigh scattered light having a wavelength λ EX1 × 2, and a peak B indicating fluorescence. And a peak C indicating Stokes Raman scattering light appears. However, the peak judged by the analyst to indicate fluorescence may not be actually fluorescence, but may be peaks A and D indicating Rayleigh scattered light and peak C indicating Stokes Raman scattered light. It was.

本件発明者らは、上記課題を解決するために、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別する識別方法について検討を行った。
まず、得られたスペクトルにおけるピークが、設定励起波長λEX1に基づいて、レーリー散乱光を示すピークであるか否かを判定する一次判定を実行することを見出した。具体的には、設定励起波長λEX1を参照することにより、設定励起波長λEX1と同じ波長λEX1のピークがあれば、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、さらに設定励起波長λEX1のn倍である波長λEX1×nのピークがあれば、レーリー散乱光のn次光を示すピークであることを示唆する表示を行う。なお、一次判定では、レーリー散乱光を示すピーク以外のピークは、蛍光を示すピークである可能性を示唆する表示を行うこととする。
In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have determined whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence, a peak indicating Rayleigh scattered light, or a peak indicating Stokes Raman scattered light. We examined the identification method to identify whether there is.
First, it was found that a primary determination for determining whether or not a peak in the obtained spectrum is a peak indicating Rayleigh scattered light based on the set excitation wavelength λ EX1 was performed. Specifically, by referring to the setting excitation wavelength lambda EX1, if the same wavelength lambda EX1 peak and setting the excitation wavelength lambda EX1, to display suggesting that a peak indicating the Rayleigh scattered light, further setting If there is a peak with a wavelength λ EX1 × n which is n times the excitation wavelength λ EX1 , a display indicating that the peak indicates the nth-order light of Rayleigh scattered light is performed. In the primary determination, a peak other than the peak indicating Rayleigh scattered light is displayed to indicate the possibility of being a peak indicating fluorescence.

次に、レーリー散乱光を示すピーク以外のピークが、設定励起波長λEX1を変えた際におけるピークの波長位置の変化に基づいて、蛍光を示すピークであるか否かを判定する二次判定を実行することを見出した。ここで、試料Sに対して照射する設定励起波長λEX1をより長波長となる設定励起波長λEX2に変えると、蛍光を示すピークの波長位置は変化しないが、ストークスラマン散乱光を示すピークの波長位置は長波長側にシフトすることがわかっている。図7は、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化の一例を示す図である。図7に示すように、設定励起波長λEX1を、(λEX1+5)nmと、(λEX1+10)nmと、(λEX1+15)nmと、(λEX1+20)nmとなるように順に変えていくと、蛍光を示すピークの波長位置は、変化していない。一方、ストークスラマン散乱光を示すピークの波長位置は、長波長側にシフトしている。
よって、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Sに照射し、そのときに試料Sから放出されるスペクトルを測定する。そして、複数のスペクトル間でのピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、複数のスペクトル間でのピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
なお、二次判定を実行する際に、試料Sから放出される目的波長範囲300nm〜800nmのスペクトルを測定すると測定時間がかかる。そこで、二次判定を実行する際には、必要最小限の目的波長範囲のスペクトルを測定することにより、非常に短い測定時間で効率よく明確にピークを識別することも見出した。
Next, a secondary determination for determining whether or not a peak other than the peak indicating Rayleigh scattered light is a peak indicating fluorescence based on a change in the wavelength position of the peak when the set excitation wavelength λ EX1 is changed. Found to do. Here, when the set excitation wavelength λ EX1 irradiated to the sample S is changed to the longer set excitation wavelength λ EX2 , the peak wavelength position indicating fluorescence does not change, but the peak indicating Stokes Raman scattered light is not changed. It is known that the wavelength position shifts to the long wavelength side. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of changes in peak wavelength positions between a plurality of spectra. As shown in FIG. 7, the set excitation wavelength λ EX1 is changed in order so that (λ EX1 +5) nm, (λ EX1 +10) nm, (λ EX1 +15) nm, and (λ EX1 +20) nm. As it goes on, the wavelength position of the peak showing fluorescence does not change. On the other hand, the wavelength position of the peak indicating Stokes Raman scattering light is shifted to the long wavelength side.
Therefore, the sample S is irradiated with light having wavelengths λ EX2 , λ EX3 ,... Different from the set excitation wavelength λ EX1 stepwise to the long wavelength side, and the spectrum emitted from the sample S at that time is measured. . And if the wavelength position of the peak between multiple spectra is shifted to the long wavelength side, a display suggesting that it is a peak indicating Stokes Raman scattering light is performed, and the wavelength position of the peak between multiple spectra If is not shifted, a display suggesting that it is a peak indicating fluorescence is performed.
Note that, when performing the secondary determination, if a spectrum in the target wavelength range of 300 nm to 800 nm emitted from the sample S is measured, it takes measurement time. Therefore, it has also been found that when performing a secondary determination, a peak is efficiently and clearly identified in a very short measurement time by measuring a spectrum in the minimum target wavelength range.

また、レーリー散乱光のn次光を示すピークと、蛍光を示すピークとが重なることがある。図8は、得られたスペクトルの一例を示す図である。図8(a)に示すスペクトルには、設定励起波長λEX1のレーリー散乱光を示すピークと、波長λEX1×2のレーリー散乱光の2次光を示すピークとが現れている。そして、波長λEX1×2のレーリー散乱光の2次光を示すピークと、蛍光を示すピークとが重なっている。よって、分析者は図8(a)に示すスペクトルを見ても、蛍光を示すピークがわからなかった。
そこで、最適なレーリーカットフィルタを用いて、レーリー散乱光を示すピークを除去することを見出した。ここで、蛍光分光器31の前方に、遮断波長(例えば、(λEX1+10)nm)以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを配置すると、得られるスペクトルにおいて、設定励起波長λEX1のレーリー散乱光を示すピークと、波長λEX1×2のレーリー散乱光の2次光を示すピークとを除去することができることがわかっている。よって、図8(b)に示すように、設定励起波長λEX1を参照して、遮断波長以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを配置する。これにより、図8(c)に示すようなスペクトルが得られる。
なお、二次判定を実行する場合には、図9に示すように、遮断波長がそれぞれ異なる複数のレーリーカットフィルタを備えておき、λEX1、λEX2、λEX3、・・・で指定する各遮断波長のうち、設定励起波長より長波長側で且つ最も励起波長との波長数の差が小さいレーリーカットフィルタを、複数のレーリーカットフィルタから選択して使用するとより正確に判定を行うことができる。
In addition, the peak indicating the nth-order light of the Rayleigh scattered light may overlap with the peak indicating fluorescence. FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the obtained spectrum. In the spectrum shown in FIG. 8A, a peak indicating the Rayleigh scattered light having the set excitation wavelength λ EX1 and a peak indicating the secondary light of the Rayleigh scattered light having the wavelength λ EX1 × 2 appear. And the peak which shows the secondary light of the Rayleigh scattered light of wavelength (lambda) EX1 * 2 and the peak which shows fluorescence have overlapped. Therefore, even when the analyst looks at the spectrum shown in FIG.
Therefore, it has been found that the peak indicating the Rayleigh scattered light is removed by using an optimal Rayleigh cut filter. Here, when a Rayleigh cut filter that blocks light having a cutoff wavelength (for example, (λ EX1 +10) nm) or less is arranged in front of the fluorescence spectrometer 31, Rayleigh scattered light having a set excitation wavelength λ EX1 in the obtained spectrum. And a peak indicating the secondary light of the Rayleigh scattered light having the wavelength λ EX1 × 2 can be removed. Therefore, as shown in FIG. 8B, with reference to the set excitation wavelength λ EX1 , a Rayleigh cut filter that blocks light having a cutoff wavelength or less is arranged. Thereby, a spectrum as shown in FIG. 8C is obtained.
When executing the secondary determination, as shown in FIG. 9, a plurality of Rayleigh cut filters having different cutoff wavelengths are provided, and each specified by λ EX1 , λ EX2 , λ EX3,. Of the cut-off wavelengths, a Rayleigh cut filter that is longer than the set excitation wavelength and has the smallest difference in the number of wavelengths from the excitation wavelength can be selected more accurately by selecting from a plurality of Rayleigh cut filters. .

すなわち、本発明の分光蛍光光度計は、白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、前記試料が配置される試料室と、前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示と、前記蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行ったピークについては、当該表示とともに二次判定を実行するための表示を前記表示装置に行い、さらに、前記制御部は、前記入力装置で二次判定を実行するピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、前記光検出器で前記目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、複数のスペクトルを取得し、前記複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、前記指定されたピークがストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を前記表示装置に行うようにしている。
ここで、「設定励起波長」とは、分析者等によって分析前に予め決められた任意の波長であり、例えば、350nm等となる。
また、「目的波長領域」とは、分析者等によって分析前に予め決められた任意の波長領域であり、例えば、300nm〜800nm等となる。
That is, the spectrofluorometer of the present invention includes a light source that emits white light and an excitation spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes the white light and irradiates the sample with light having a set excitation wavelength. A fluorescence spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes light emitted from the sample and emits light of a target wavelength to a photodetector; and A detection unit comprising a photodetector for detecting light intensity; and a control unit for acquiring a spectrum by detecting the light intensity in a target wavelength region by the photodetector by controlling the excitation spectrometer; A spectrofluorometer comprising a display device and an input device, wherein the control unit, based on the set excitation wavelength, each peak in the obtained spectrum is a peak indicating Rayleigh scattered light, or fluorescent also Display and suggesting either could be a peak indicating the Raman light, for said fluorescent or peak was displayed suggesting the possibility that a peak indicating the Raman light, the secondary judgment together with the display In addition, the control unit performs stepwise light with a wavelength different from the set excitation wavelength by designating a peak for executing the secondary determination with the input device. In addition to irradiating the sample on the longer wavelength side, the light detector detects the light intensity in the wavelength region that is narrower than the target wavelength region and includes the wavelength of the specified peak, thereby acquiring a plurality of spectra. Based on the change in the wavelength position of the peak among the plurality of spectra, the designated peak is a peak indicating Stokes Raman scattering light or a peak indicating fluorescence. The display suggesting either a click so that performed on the display device.
Here, the “set excitation wavelength” is an arbitrary wavelength determined in advance by an analyst or the like before analysis, and is, for example, 350 nm or the like.
The “target wavelength region” is an arbitrary wavelength region determined in advance by an analyst or the like before analysis, and is, for example, 300 nm to 800 nm.

以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるかを識別することができる。   As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, it is possible to identify whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Rayleigh scattered light.

(他の課題を解決するための手段および効果)
また、上記発明において、前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別することができる。
(Means and effects for solving other problems)
In the above invention, the control unit controls the fluorescence spectrometer to irradiate the sample with light having a wavelength different from the set excitation wavelength in a stepwise manner to the long wavelength side, and to emit a plurality of spectra. Based on the change in the wavelength position of the peak between multiple spectra, a display indicating either a peak indicating Stokes Raman scattering light or a peak indicating fluorescence is performed. May be.
As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, it is possible to identify whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Stokes Raman scattering light.

また、上記発明において、前記制御部は、前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得するようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。
Further, in the above invention, the control unit irradiates the sample with a light having a wavelength different from the set excitation wavelength stepwise to the long wavelength side when a peak is designated by the input device. In doing so, the spectrum may be acquired by detecting the light intensity in a wavelength region that is narrower than the target wavelength region and includes the wavelength of the designated peak by the photodetector.
As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, it is possible to quickly identify whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Stokes Raman scattering light. it can.

また、本発明の分光蛍光光度計は、白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、前記試料が配置される試料室と、前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、前記検出部は、前記蛍光分光器の前方に、前記遮断波長以下の光を遮断するレーリーカットフィルタを備え、前記レーリーカットフィルタの遮断波長は、前記設定励起波長より長波長側であるようにしている。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、レーリー散乱光を示すピークを除去することができ、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであることを識別することができる。
The spectrofluorometer of the present invention also includes a light source that emits white light and an excitation spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes the white light and irradiates the sample with light having a set excitation wavelength. A fluorescence spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes light emitted from the sample and emits light of a target wavelength to a photodetector; and A detection unit comprising a photodetector for detecting light intensity; and a control unit for acquiring a spectrum by detecting the light intensity in a target wavelength region by the photodetector by controlling the excitation spectrometer; A spectrofluorophotometer comprising a display device and an input device, wherein the detection unit includes a Rayleigh cut filter that blocks light below the cutoff wavelength in front of the fluorescence spectrometer, and blocks the Rayleigh cut filter. The wavelength is From serial setting excitation wavelength so that a long wavelength side.
As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, the peak showing Rayleigh scattered light can be removed, and the peak in the obtained spectrum can be identified as the peak showing fluorescence. .

また、上記発明において、前記制御部は、前記蛍光分光器を制御することにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、複数のスペクトルを取得し、複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、ストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を行うようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを識別することができる。
In the above invention, the control unit controls the fluorescence spectrometer to irradiate the sample with light having a wavelength different from the set excitation wavelength in a stepwise manner to the long wavelength side, and to emit a plurality of spectra. Based on the change in the wavelength position of the peak between multiple spectra, a display indicating either a peak indicating Stokes Raman scattering light or a peak indicating fluorescence is performed. May be.
As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, it is possible to identify whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Stokes Raman scattering light.

そして、上記発明において、前記制御部は、前記入力装置でピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射する際に、前記光検出器で目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得するようにしてもよい。
以上のように、本発明の分光蛍光光度計によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。
さらに、上記発明において、前記検出部は、前記遮断波長がそれぞれ異なる複数のレーリーカットフィルタを備え、前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、前記検出部を制御することにより、複数のレーリーカットフィルタから一のレーリーカットフィルタを選択して、前記蛍光分光器の前方にレーリーカットフィルタを配置するようにしてもよい。
And in the said invention, when the said control part irradiates a sample by changing the light of the wavelength different from the said setting excitation wavelength to the long wavelength side stepwise by designating a peak with the said input device, A spectrum may be acquired by detecting the light intensity in a wavelength region that is narrower than the target wavelength region and includes a specified peak wavelength by a photodetector.
As described above, according to the spectrofluorometer of the present invention, it is possible to quickly identify whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Stokes Raman scattering light. it can.
Furthermore, in the above invention, the detection unit includes a plurality of Rayleigh cut filters each having a different cutoff wavelength, and the control unit controls the detection unit based on the set excitation wavelength, thereby providing a plurality of Rayleigh filters. One Rayleigh cut filter may be selected from the cut filters, and the Rayleigh cut filter may be disposed in front of the fluorescence spectrometer.

実施形態1に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a spectrofluorometer according to Embodiment 1. FIG. 得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the acquired spectrum and an identification table. 得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the acquired spectrum and an identification table. 実施形態2に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the spectrofluorometer which concerns on Embodiment 2. FIG. 従来の分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the conventional spectrofluorimeter. 得られたスペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the acquired spectrum. 複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the change of the wavelength position of the peak between several spectra. 得られたスペクトルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the acquired spectrum. 複数のレーリーカットフィルタを説明するための図である。It is a figure for demonstrating several Rayleigh cut filters.

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The present invention is not limited to the embodiments described below, and includes various modes without departing from the spirit of the present invention.

<実施形態1>
図1は、実施形態1に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。なお、分光蛍光光度計101と同様のものについては、同じ符号を付している。
分光蛍光光度計1は、設定励起波長λEX1の光を出射する光源部10と、試料Sが配置される試料室20と、スペクトルを測定する検出部30と、分光蛍光光度計1全体を制御するコンピュータ50とを備える。
<Embodiment 1>
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a spectrofluorometer according to the first embodiment. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the thing similar to the spectrofluorometer 101. FIG.
The spectrofluorometer 1 controls the light source unit 10 that emits light having a set excitation wavelength λ EX1 , the sample chamber 20 in which the sample S is disposed, the detection unit 30 that measures the spectrum, and the entire spectrofluorometer 1. And a computer 50.

コンピュータ50においては、CPU(制御部)51とメモリ54とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置52と、表示装置53とが連結されている。また、CPU51が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部10を制御する光源部制御部51aと、光検出器32からの光強度信号を取得する光検出器制御部51bと、表示装置53にスペクトルを表示する表示制御部51cと、表示装置53に識別表を表示する識別表表示制御部51dとを有する。   The computer 50 includes a CPU (control unit) 51 and a memory 54, and an input device 52 having a keyboard, a mouse, and the like, and a display device 53 are connected to each other. Further, the functions processed by the CPU 51 will be described in a block form. A light source control unit 51a that controls the light source unit 10, a photodetector control unit 51b that acquires a light intensity signal from the photodetector 32, and a display device 53. A display control unit 51c for displaying the spectrum and an identification table display control unit 51d for displaying the identification table on the display device 53.

このような分光蛍光光度計1によれば、分析者が試料Sの分析を実行する際には、入力装置52を用いて光源部制御部51aを制御することにより、試料Sに対して設定励起波長λEX1(例えば、350nm)の光を照射する。光検出器制御部51bは、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を目的波長範囲300nm〜800nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。
そして、試料Sの分析を実行することが終了すると、表示制御部51cは、表示装置53にスペクトルを表示する。また、識別表表示制御部51dは、一次判定を実行することで、設定励起波長λEX1を参照することにより、設定励起波長λEX1と同じ波長λEX1のピークがあれば、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、さらに設定励起波長λEX1のn倍である波長λEX1×nのピークがあれば、レーリー散乱光のn次光を示すピークであることを示唆する表示を行う識別表を表示する。
According to such a spectrofluorometer 1, when an analyst performs analysis of the sample S, the excitation is set for the sample S by controlling the light source unit control unit 51a using the input device 52. Irradiation with light having a wavelength λ EX1 (for example, 350 nm) is performed. The photodetector control unit 51b acquires the spectrum emitted from the sample S by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in the target wavelength range of 300 nm to 800 nm while rotating the concave diffraction grating 31a. To do.
Then, when the analysis of the sample S is completed, the display control unit 51 c displays the spectrum on the display device 53. Further, the identification table display control unit 51d refers to the set excitation wavelength λ EX1 by executing the primary determination, and indicates the Rayleigh scattered light if there is a peak of the same wavelength λ EX1 as the set excitation wavelength λ EX1. Display indicating that it is a peak, and if there is a peak with a wavelength λ EX1 × n that is n times the set excitation wavelength λ EX1 , a display indicating that the peak indicates the n-order light of Rayleigh scattered light The identification table for performing is displayed.

図2は、得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。図2に示すスペクトルには、350.1nmのピークAと397.0nmのピークBと450.1nmのピークCと700.5nmのピークDとが現れている。また、図2に示す識別表には、設定励起波長λEX1のピークAは、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、波長λEX1×2のピークDは、レーリー散乱光の2次光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークBは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行い、ピークCは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行っている。なお、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆したものについては、二次判定を実行するための表示「△印」も行われている。 FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the obtained spectrum and the identification table. The vertical axis is the light intensity, and the horizontal axis is the wavelength. In the spectrum shown in FIG. 2, a peak A of 350.1 nm, a peak B of 397.0 nm, a peak C of 450.1 nm, and a peak D of 700.5 nm appear. Further, the identification table shown in FIG. 2 displays that the peak A of the set excitation wavelength λ EX1 indicates that it is a peak indicating Rayleigh scattered light, and the peak D of the wavelength λ EX1 × 2 indicates Rayleigh scattered light. Display indicating that it is a peak indicating secondary light, peak B is indicating that it may be a peak indicating fluorescence or Raman light, and peak C is a peak indicating fluorescence or Raman light. The display suggests the possibility of being. In addition, the indication “Δ mark” for performing the secondary determination is also performed for those that suggest the possibility of a peak indicating fluorescence or Raman light.

さらに、識別表表示制御部51dは、分析者が入力装置52を用いて所定のピークについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Sに照射し、そのときに試料Sから放出される狭波長範囲(λpeak−30nm)〜(λpeak+50nm)のスペクトルを測定する。そして、ピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
例えば、まず、分析者が入力装置52を用いて397.0nmのピークBについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5の光を10nmごと5段階で長波長側に変えて試料Sに照射する。光検出器制御部51bは、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を狭波長範囲370nm〜450nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしないので、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
Further, when the analyst determines that the analyst performs the secondary determination for the predetermined peak using the input device 52, the identification table display control unit 51d has wavelengths λ EX2 , λ EX3 ,... Different from the set excitation wavelength λ EX1. Is irradiated to the sample S in a stepwise manner to the long wavelength side, and a spectrum in a narrow wavelength range (λ peak −30 nm) to (λ peak +50 nm) emitted from the sample S at that time is measured. If the peak wavelength position is shifted to the longer wavelength side, a display indicating that the peak is indicative of Stokes Raman scattering light is performed. If the peak wavelength position is not shifted, the peak indicating fluorescence is displayed. Display to suggest that there is.
For example, first, when the analyst determines that the secondary determination is performed on the peak B of 397.0 nm using the input device 52, the wavelengths λ EX2 , λ EX3 ,..., Λ EX5 different from the set excitation wavelength λ EX1. The sample S is irradiated to the long wavelength side in 5 steps every 10 nm. The photodetector control unit 51b acquires the spectrum emitted from the sample S by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in a narrow wavelength range of 370 nm to 450 nm while rotating the concave diffraction grating 31a. To do. And since the wavelength position of a peak does not shift, the display which suggests that it is a peak which shows fluorescence is performed.

次に、分析者が入力装置52を用いて450.1nmのピークCについて二次判定を実行すると判断したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5の光を10nmごと5段階で長波長側に変えて試料Sに照射する。光検出器制御部51bは、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を狭波長範囲420nm〜500nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしたので、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
図3は、得られたスペクトルと識別表との一例を示す図である。縦軸は光強度であり、横軸は波長である。図3に示すスペクトルには、350.1nmのピークAと397.0nmのピークBと450.1nmのピークCと700.5nmのピークDとが現れている。また、図3に示す識別表には、設定励起波長λEX1のピークAは、レーリー散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークBは、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークCは、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、波長λEX1×2のピークDは、レーリー散乱光の2次光を示すピークであることを示唆する表示を行っている。なお、図2に示す蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆したものについては、二次判定を実行したことを示すための表示「済み」も行われている。
Next, when the analyst determines that the secondary determination is performed on the peak C of 450.1 nm using the input device 52, the wavelength λ EX2 , λ EX3 ,..., Λ EX5 is different from the set excitation wavelength λ EX1 . The sample S is irradiated with light at 10-nm increments in five steps on the long wavelength side. The photodetector control unit 51b acquires the spectrum emitted from the sample S by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in a narrow wavelength range of 420 nm to 500 nm while rotating the concave diffraction grating 31a. To do. And since the wavelength position of the peak shifted, the display which suggests that it is a peak which shows Stokes Raman scattering light is performed.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the obtained spectrum and the identification table. The vertical axis is the light intensity, and the horizontal axis is the wavelength. In the spectrum shown in FIG. 3, a peak A of 350.1 nm, a peak B of 397.0 nm, a peak C of 450.1 nm, and a peak D of 700.5 nm appear. In addition, the identification table shown in FIG. 3 displays that the peak A of the set excitation wavelength λ EX1 indicates that it is a peak indicating Rayleigh scattered light, and that peak B is a peak indicating fluorescence. Display indicating that peak C is a peak indicating Stokes Raman scattering light, and peak D of wavelength λ EX1 × 2 is a peak indicating secondary light of Rayleigh scattered light. A suggestion is displayed. In addition, about the thing which suggested the possibility of being the peak which shows the fluorescence or Raman light shown in FIG. 2, the display "completed" for showing that secondary determination was performed is also performed.

以上のように、本実施形態の分光蛍光光度計1によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。   As described above, according to the spectrofluorometer 1 of the present embodiment, the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence, a peak indicating Rayleigh scattered light, or Stokes Raman scattered light. Whether it is a peak can be identified in a short time.

<実施形態2>
図4は、実施形態2に係る分光蛍光光度計の一例を示す概略構成図である。なお、分光蛍光光度計101と同様のものについては、同じ符号を付している。
分光蛍光光度計201は、設定励起波長λEX1の光を出射する光源部10と、試料Sが配置される試料室20と、スペクトルを測定する検出部230と、分光蛍光光度計201全体を制御するコンピュータ250とを備える。
<Embodiment 2>
FIG. 4 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a spectrofluorometer according to the second embodiment. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the thing similar to the spectrofluorometer 101. FIG.
The spectrofluorometer 201 controls the light source unit 10 that emits light of the set excitation wavelength λ EX1 , the sample chamber 20 in which the sample S is disposed, the detection unit 230 that measures the spectrum, and the entire spectrofluorometer 201. And a computer 250.

コンピュータ250においては、CPU(制御部)251とメモリ54とを備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置52と、表示装置53とが連結されている。また、CPU251が処理する機能をブロック化して説明すると、光源部10を制御する光源部制御部251aと、光検出器32からの光強度信号を取得する光検出器制御部251bと、表示装置53にスペクトルを表示する表示制御部251cと、表示装置53に識別表を表示する識別表表示制御部251dとを有する。   The computer 250 includes a CPU (control unit) 251 and a memory 54, and an input device 52 having a keyboard, a mouse, and the like, and a display device 53 are connected to each other. Further, the functions processed by the CPU 251 will be described as a block. A light source control unit 251 a that controls the light source unit 10, a photodetector control unit 251 b that acquires a light intensity signal from the photodetector 32, and the display device 53. And a display control unit 251c for displaying the spectrum, and an identification table display control unit 251d for displaying the identification table on the display device 53.

検出部230は、試料Sから放出される光を波長分解して目的波長λの光を光検出器32に対して出射する凹面回折格子31aを有する蛍光分光器31と、目的波長λの光強度を検出する光検出器(光電子増倍管)32と、蛍光側スリット34と、遮断波長以下の光を遮断する複数(例えば、5枚)のレーリーカットフィルタ233とを備える。複数のレーリーカットフィルタ233は、遮断波長がそれぞれ異なっており、コンピュータ250によって選択されるようなっており、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に配置することができるようになっている。このとき、コンピュータ250は、例えば、設定励起波長λEX1に基づいて、蛍光分光器31の前方に、遮断波長(例えば、(λEX1+10)nm)以下の光を遮断するレーリーカットフィルタ233を配置する(図9参照)。 The detection unit 230 wavelength-decomposes the light emitted from the sample S and emits the light having the target wavelength λ n to the photodetector 32, and the fluorescence spectrometer 31 having the concave diffraction grating 31a and the light having the target wavelength λ n . It includes a photodetector (photomultiplier tube) 32 that detects light intensity, a fluorescence side slit 34, and a plurality of (for example, five) Rayleigh cut filters 233 that block light having a cutoff wavelength or less. The plurality of Rayleigh cut filters 233 have different cutoff wavelengths and are selected by the computer 250, so that an arbitrary Rayleigh cut filter 233 can be disposed in front of the fluorescence spectrometer 31. Yes. At this time, for example, based on the set excitation wavelength λ EX1 , the computer 250 arranges a Rayleigh cut filter 233 that blocks light having a cutoff wavelength (for example, (λ EX1 +10) nm) or less in front of the fluorescence spectrometer 31. (See FIG. 9).

このような分光蛍光光度計201によれば、分析者が試料Sの分析を実行する際には、入力装置52を用いて光源部制御部251aを制御することにより、試料Sに対して設定励起波長λEX1(例えば、350nm)の光を照射する。光検出器制御部251bは、設定励起波長λEX1に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に配置して、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を目的波長範囲300nm〜800nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。 According to such a spectrofluorometer 201, when an analyst performs analysis of the sample S, the excitation is set for the sample S by controlling the light source control unit 251a using the input device 52. Irradiation with light having a wavelength λ EX1 (for example, 350 nm) is performed. Based on the set excitation wavelength λ EX1 , the photodetector control unit 251b arranges an arbitrary Rayleigh cut filter 233 in front of the fluorescence spectrometer 31 and rotates the concave diffraction grating 31a while rotating the concave diffraction grating 31a. The spectrum emitted from the sample S is acquired by acquiring the light intensity signal in the target wavelength range of 300 nm to 800 nm.

そして、試料Sの分析を実行することが終了すると、表示制御部251cは、表示装置53にスペクトルを表示する。識別表表示制御部251dは、所定のピークについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・の光を段階的に長波長側に変えて試料Sに照射し、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に配置しながら、そのときに試料Sから放出される狭波長範囲(λpeak−30nm)〜(λpeak+50nm)のスペクトルを測定する。そして、ピークの波長位置が長波長側にシフトしたのであれば、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークの波長位置がシフトしないのであれば、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
例えば、まず、397.0nmのピークBについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5の光を10nmごと5段階で長波長側に変えて試料Sに照射する。光検出器制御部251bは、設定励起波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に配置して、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を狭波長範囲370nm〜450nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしないので、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
Then, when the analysis of the sample S is completed, the display control unit 251c displays the spectrum on the display device 53. When the identification table display control unit 251d determines to execute the secondary determination for the predetermined peak, the light of the wavelengths λ EX2 , λ EX3 ,... Different from the set excitation wavelength λ EX1 is gradually changed to the long wavelength side. The sample S is irradiated, and an arbitrary Rayleigh cut filter 233 is placed in front of the fluorescence spectrometer 31, and the narrow wavelength range (λ peak −30 nm) to (λ peak +50 nm) emitted from the sample S at that time is Measure the spectrum. If the peak wavelength position is shifted to the longer wavelength side, a display indicating that the peak is indicative of Stokes Raman scattering light is performed. If the peak wavelength position is not shifted, the peak indicating fluorescence is displayed. Display to suggest that there is.
For example, first, when it is determined that the secondary determination is performed on the peak B of 397.0 nm, light of wavelengths λ EX2 , λ EX3 ,..., Λ EX5 different from the set excitation wavelength λ EX1 is increased in five steps every 10 nm. The sample S is irradiated with the wavelength side. Light detector control unit 251b is set excitation wavelength lambda EX2, lambda EX3, · · ·, based on lambda EX5, and place any Rayleigh cut filter 233 in front of the fluorescent spectroscope 31, a concave diffraction grating 31a The spectrum emitted from the sample S is acquired by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in the narrow wavelength range of 370 nm to 450 nm while rotating. And since the wavelength position of a peak does not shift, the display which suggests that it is a peak which shows fluorescence is performed.

次に、450.1nmのピークCについて二次判定を実行すると判定したときには、設定励起波長λEX1と異なる波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5の光を10nmごと5段階で長波長側に変えて試料Sに照射する。光検出器制御部251bは、設定励起波長λEX2、λEX3、・・・、λEX5に基づいて、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に配置して、凹面回折格子31aを回転させながら、光検出器32からの光強度信号を狭波長範囲420nm〜500nmで取得していくことで、試料Sから放出されるスペクトルを取得する。そして、ピークの波長位置がシフトしたので、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行う。
その結果、識別表には、ピークBは、蛍光を示すピークであることを示唆する表示を行い、ピークCは、ストークスラマン散乱光を示すピークであることを示唆する表示を行っている。
Then, when it is determined to execute the secondary determination for the peak C of 450.1nm is set excitation wavelength lambda EX1 different wavelengths lambda EX2, lambda EX3, · · ·, long wavelength 10nm every five levels the light of lambda EX5 The sample S is irradiated on the side. Light detector control unit 251b is set excitation wavelength lambda EX2, lambda EX3, · · ·, based on lambda EX5, and place any Rayleigh cut filter 233 in front of the fluorescent spectroscope 31, a concave diffraction grating 31a The spectrum emitted from the sample S is acquired by acquiring the light intensity signal from the photodetector 32 in the narrow wavelength range of 420 nm to 500 nm while rotating. And since the wavelength position of the peak shifted, the display which suggests that it is a peak which shows Stokes Raman scattering light is performed.
As a result, in the identification table, a display indicating that the peak B is a peak indicating fluorescence is performed, and a display indicating that the peak C is a peak indicating Stokes Raman scattering light is performed.

以上のように、実施形態の分光蛍光光度計1によれば、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、ストークスラマン散乱光を示すピークであるかを短時間で識別することができる。   As described above, according to the spectrofluorometer 1 of the embodiment, it is possible to identify in a short time whether the peak in the obtained spectrum is a peak indicating fluorescence or a peak indicating Stokes Raman scattering light. Can do.

<他の実施形態>
(1)上述した分光蛍光光度計1では、まず一次判定を実行し、そして分析者が入力装置52を用いて二次判定を実行する構成を示したが、一次判定を実行すると自動的に二次判定を実行する構成としてもよい。
(2)上述した分光蛍光光度計201では、任意のレーリーカットフィルタ233を蛍光分光器31の前方に自動的に配置する構成を示したが、最適なレーリーカットフィルタの種類を表示装置に表示し、分析者がレーリーカットフィルタを配置する構成としてもよい。
<Other embodiments>
(1) In the spectrofluorometer 1 described above, the primary determination is first performed, and the analyst performs the secondary determination using the input device 52. However, when the primary determination is performed, the first determination is automatically performed. It is good also as a structure which performs a next determination.
(2) In the spectrofluorometer 201 described above, the configuration in which the arbitrary Rayleigh cut filter 233 is automatically arranged in front of the fluorescence spectrometer 31 is shown, but the optimum type of the Rayleigh cut filter is displayed on the display device. The analyzer may arrange a Rayleigh cut filter.

本発明は、分光蛍光光度計等に好適に利用できる。   The present invention can be suitably used for a spectrofluorometer and the like.

10 光源部
11 光源
12 励起分光器
12a 凹面回折格子
20 試料室
30 検出部
31 蛍光分光器
31a 凹面回折格子
32 光検出器
51 制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Light source part 11 Light source 12 Excitation spectrometer 12a Concave diffraction grating 20 Sample chamber 30 Detection part 31 Fluorescence spectroscope 31a Concave diffraction grating 32 Photodetector 51 Control part

Claims (1)

白色光を出射する光源と、当該白色光を波長分解して設定励起波長の光を試料に対して照射する回折格子を有する励起分光器とを備える光源部と、
前記試料が配置される試料室と、
前記試料から放出される光を波長分解して目的波長の光を光検出器に対して出射する回折格子を有する蛍光分光器と、目的波長の光強度を検出する光検出器とを備える検出部と、
前記励起分光器を制御することにより、前記光検出器で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部と、
表示装置及び入力装置とを備える分光蛍光光度計であって、
前記制御部は、前記設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光またはラマン光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示と、前記蛍光またはラマン光を示すピークである可能性を示唆する表示を行ったピークについては、当該表示とともに二次判定を実行するための表示を前記表示装置に行い、
さらに、前記制御部は、前記入力装置で二次判定を実行するピークが指定されることにより、前記設定励起波長と異なる波長の光を段階的に長波長側に変えて試料に照射するとともに、前記光検出器で前記目的波長領域より狭く、指定されたピークの波長を含む波長領域の光強度を検出させることで、複数のスペクトルを取得し、
前記複数のスペクトル間でのピークの波長位置の変化に基づいて、前記指定されたピークがストークスラマン散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークであるかのいずれかを示唆する表示を前記表示装置に行うことを特徴とする分光蛍光光度計。
A light source unit comprising: a light source that emits white light; and an excitation spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes the white light and irradiates the sample with light having a set excitation wavelength;
A sample chamber in which the sample is disposed;
A detection unit comprising a fluorescence spectrometer having a diffraction grating that wavelength-decomposes light emitted from the sample and emits light of a target wavelength to a photodetector, and a photodetector that detects light intensity of the target wavelength When,
By controlling the excitation spectroscope, the light detector detects the light intensity in the target wavelength region, thereby obtaining a spectrum;
A spectrofluorometer comprising a display device and an input device,
The control unit may determine whether each peak in the obtained spectrum based on the set excitation wavelength is a peak indicating Rayleigh scattered light, or a peak indicating fluorescence or Raman light. For the display that suggests the display and the peak that performed the display suggesting the possibility of being a peak indicating the fluorescence or Raman light, the display device performs a display for performing secondary determination together with the display,
Furthermore, the control unit is configured to irradiate the sample by changing the light having a wavelength different from the set excitation wavelength stepwise to the long wavelength side by designating a peak for performing the secondary determination with the input device, By detecting the light intensity of the wavelength region that is narrower than the target wavelength region and includes the wavelength of the specified peak with the photodetector, a plurality of spectra are acquired,
An indication indicating whether the designated peak is a peak indicating Stokes Raman scattering light or a peak indicating fluorescence based on a change in wavelength position of peaks between the plurality of spectra. The spectrofluorometer characterized by performing the above-mentioned on the display device .
JP2010205339A 2010-09-14 2010-09-14 Spectrofluorometer Expired - Fee Related JP5488360B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010205339A JP5488360B2 (en) 2010-09-14 2010-09-14 Spectrofluorometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010205339A JP5488360B2 (en) 2010-09-14 2010-09-14 Spectrofluorometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012063148A JP2012063148A (en) 2012-03-29
JP5488360B2 true JP5488360B2 (en) 2014-05-14

Family

ID=46059031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010205339A Expired - Fee Related JP5488360B2 (en) 2010-09-14 2010-09-14 Spectrofluorometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5488360B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101535494B1 (en) * 2014-06-16 2015-07-09 서울대학교산학협력단 Method and apparatus for high speed raman analysis using unit area patching
CN113466158B (en) * 2021-08-12 2024-05-17 江苏省计量科学研究院(江苏省能源计量数据中心) Quick detection method for metering performance of optical filter

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH073366B2 (en) * 1988-02-24 1995-01-18 株式会社日立製作所 Spectrofluorometer
JPH04127039A (en) * 1990-09-19 1992-04-28 Hitachi Ltd Identification of material by fluorescent spectrum
JPH08145796A (en) * 1994-11-25 1996-06-07 Hitachi Ltd 3D spectrum display
JPH10160673A (en) * 1996-12-04 1998-06-19 Kinousui Kenkyusho:Kk Raman spectral device
JP2000074836A (en) * 1998-08-31 2000-03-14 Hitachi Electronics Eng Co Ltd DNA base sequencer
JP2001289881A (en) * 2000-04-04 2001-10-19 Shimadzu Corp Peak detection method
JP3730547B2 (en) * 2001-08-23 2006-01-05 株式会社日立製作所 Fluorescence peak detection method and spectrofluorometer
JP4760579B2 (en) * 2006-07-10 2011-08-31 株式会社島津製作所 Identity determination program
JP3132835U (en) * 2007-04-09 2007-06-21 株式会社島津製作所 3D measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012063148A (en) 2012-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102985807B (en) Flow type particle analysis device and flow type particle analysis method
JP6635363B2 (en) Method for discriminating tumor site, device for discriminating tumor site
JP2016528489A (en) Measurement of parameters of cut rough
JP2010190730A (en) Method of correlation spectroscopic analysis and device for correlation spectroscopic analysis
RU2015132842A (en) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING CONCENTRATION
CN103890564B (en) Methods and laboratory equipment for quantitative optical measurements
JP6413759B2 (en) Optical analyzer
CN102680450A (en) Measurement apparatus and measurement method
WO2013190618A1 (en) Spectrophotofluorometer
JP5488360B2 (en) Spectrofluorometer
CN104422516B (en) Wavelength calibration method for monochromator, and spectrophotometer
KR20170052256A (en) Apparatus and method for measuring concentration of material
JP6507757B2 (en) Foreign substance analyzer
JP6760494B2 (en) Control software for spectrofluorometers, spectroscopic measurement methods, and spectrofluorometers
US8873040B2 (en) Raman apparatus and method for real time calibration thereof
JP5033531B2 (en) Spectrofluorometer
JP2006317371A (en) Emission spectroscopy analysis method and emission spectroscopy analyzer
JP5902883B2 (en) Spectrofluorometer
JP4754888B2 (en) Emission spectroscopy analysis method and emission spectroscopy analyzer
JP6314872B2 (en) Method for determining the number of fluorescent components contained and a spectrofluorometer using the method for determining the number of fluorescent components contained
JP2024078963A (en) Wavelength calibration method and atomic absorption spectrophotometer
WO2014175363A1 (en) Component-concentration measurement device and method
JP6541949B2 (en) Spectrofluorometer and method of acquiring three-dimensional fluorescence spectrum using the same
JP5397352B2 (en) Fluorescence spectrophotometer
JP4626572B2 (en) Optical emission spectrometer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130121

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131003

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131227

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140128

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140210

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5488360

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees